>サイトトップへ >このカテゴリの一覧へ

C 7618-1

:2008

(1)

目  次

ページ

序文

1

1

  一般事項

1

1.1

  適用範囲

1

1.2

  引用規格

1

1.3

  用語及び定義

2

2

  安全要求事項

3

2.1

  一般事項

3

2.2

  表示

3

2.3

  口金の機械的要求事項

3

2.4

  絶縁抵抗

4

2.5

  耐電圧

4

2.6

  充電部の露出

5

2.7

  耐熱性及び耐燃焼性

5

2.8

  口金の沿面距離

5

2.9

  ランプの口金温度上昇

6

2.10

  雑音防止用コンデンサ

6

2.11

  照明器具設計のための指示(参考)

6

2.12

  安定器設計のための指示

6

3

  評価

6

3.1

  一般事項

6

3.2

  製造業者の記録による全生産品の評価

7

3.3

  個々の検査についての製造業者記録に基づく評価

8

3.4

  ロットの不合格条件

8

3.5

  全生産品検査の抜取方法

8

3.6

  ロット検査の抜取方法

8

附属書 A(規定)口金の構造及び接合に関する評価試験

13

附属書 B(規定)最大口金温度上昇値及びその測定方法

15

附属書 C(参考)照明器具設計のための指示

17

附属書 D(規定)設計試作時検査の判定条件

18

附属書 E(規定)ピン・電極結線図

19

附属書 F(規定)ランプの非互換性のための要求事項

20

附属書 G(規定)加熱試験の温度

21

附属書 H(規定)安定器設計のための指示

22

附属書 JA(規定)包装の表示

23

附属書 JB(規定)評価

25


C 7618-1

:2008

(2)

ページ

附属書 JC(参考)JIS と対応する国際規格との対比表

27


C 7618-1

:2008

(3)

まえがき

この規格は,工業標準化法第 14 条によって準用する第 12 条第 1 項の規定に基づき,社団法人日本電球

工業会 (JELMA) 及び財団法人日本規格協会 (JSA) から,工業標準原案を具して日本工業規格を改正すべ

きとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工業規格である。こ

れによって,JIS C 7618-1 : 1999 は改正され,この規格に置き換えられた。

この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。

この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に

抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許

権,出願公開後の特許出願,実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に係る確認について,責任は

もたない。

JIS C 7618

の規格群には,次に示す部編成がある。

JIS

C

7618-1

第 1 部:安全仕様

JIS

C

7618-2

第 2 部:性能規定


C 7618-1

:2008

(4)

白      紙


日本工業規格

JIS

 C

7618-1

:2008

片口金蛍光ランプ−

第1部:安全仕様

Single-capped fluorescent lamps

Part 1 : Safety specifications

序文

この規格は,1999 年に第 2 版として発行された IEC 61199 を基に作成した日本工業規格であるが,一部

我が国の実状に即したため,技術的内容を変更して作成した日本工業規格である。

なお,この規格で側線又は点線の下線を施してある箇所は,対応国際規格を変更している事項である。

変更の一覧表にその説明を付けて,

附属書 JC に示す。

1

一般事項

1.1

適用範囲

この規格は,一般照明用片口金蛍光ランプの安全性を規定するもので,対象は,2G7, 2GX7, GR8, 2G10,

G10q

,GR10q,GRX10q,GU10q,GX10q,GZ10q,GY10q,2G11,G23,GX23,G24,GX24,及び GX32

口金付ランプとする。

注記 1  この規格は,安全性についての合否判定だけを規定するもので,光束,光源色,始動特性,

電気特性及び寿命特性については規定していない。これらについては,JIS C 7618-2 を参照。

注記 2  この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。

IEC 61199 : 1999

,Single-capped fluorescent lamps−Safety specifications (MOD)

なお,対応の程度を表す記号 (MOD) は,ISO/IEC Guide 21 に基づき,修正していること

を示す。

1.2

引用規格

次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの

引用規格のうちで,西暦年を付記してあるものは,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追補を含む。

は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は,その最新版(追補を含む。

)を適用する。

JIS B 7507

  ノギス

JIS C 0920

  電気機械器具の外郭による保護等級(IP コード)

注記  対応国際規格:IEC 60529,Degrees of protection provided by enclosures (IP Code) (IDT)

JIS C 1302

  絶縁抵抗計

JIS C 7618-2

  片口金蛍光ランプ(環形を含む)−第 2 部:性能規定

注記  対応国際規格:IEC 60901,Single-capped fluorescent lamps−Performance specifications (MOD)

JIS C 7709

(規格群)  電球類の口金・受金及びそれらのゲージ並びに互換性・安全性

注記  対応国際規格:IEC 60061,Lamp caps and holders together with gauges for the control of


2

C 7618-1

:2008

interchangeability and safety (on line data base) (MOD)

JIS C 60695-2-10 : 2004

  耐火性試験−電気・電子−グローワイヤ試験装置及び一般試験方法

注記  対応国際規格:IEC 60695-2-10,Fire hazard testing−Part 2-10 : Glowing/hot-wire based test

methods

−Glow-wire apparatus and common test procedure (IDT)

JIS Z 8113

  照明用語

JIS Z 9015-1

  計数値検査に対する抜取検査手順−第 1 部:ロットごとの検査に対する AQL 指標型抜

取検査方式

1.3

用語及び定義

この規格で用いる主な用語及び定義は,JIS Z 8113 によるほか,次による。

1.3.1

片口金蛍光ランプ  (single-capped fluorescent lamp)

その発光の大部分が,放電から発生する紫外放射が蛍光物質を励起することによって得られる,一つの

口金付低圧水銀放電ランプ。片口金蛍光ランプには,環形,コンパクト形,及び二重環形がある。

1.3.2

種別  (group)

電気特性,陰極特性,寸法及び始動方法が同じランプの区分。

1.3.3

形式  (type)

同じ種別で,光学特性及び光源色が同じランプの区分。

1.3.4

ファミリー  (family)

材料,部品,ランプ径,使用方法などが共通のランプ種別。

1.3.5

定格ランプ電力  (nominal wattage)

ランプに表示されたワット数。

1.3.6

設計試作時検査  (design test)

関連する要求項目について,あるファミリー,種別,又は幾つかの種別の設計を確認するために行う検

査。

1.3.7

形式検査  (periodic test)

その製品のばらつきが,設計の範囲内にあるかを定期的に繰返し確認する一連の検査。

1.3.8

稼動時検査  (running test)

品質評価のデータを提出するため,高い頻度で繰返し行う検査。

1.3.9

ロット  (batch)

合否判定の試験に使用するために特定されたあるファミリー又は種別のすべてのランプ。

1.3.10

全生産品  (whole production)


3

C 7618-1

:2008

製造業者のリストに載せてある,この規格を適用したすべての形式のランプの 12 か月間の生産品。

1.3.10A

大きさの区分

寸法及び点灯回路に互換性があるランプを区分する数字。JIS C 7618-2

附属書 参照。

2

安全要求事項

2.1

一般事項

ランプは,普通に使用されたとき,使用者及び周囲に対して危険を及ぼさないように設計,製造されて

いなければならない。

合否判定は,規定のすべての試験を実施して行う。

2.2

表示

2.2.1

製品の表示

ランプには,見やすく,容易に消えない方法で,次の事項を表示する。

a)

形式

b)

製造業者名若しくは責任ある販売業者名,又はその略号

c)

定格ランプ電力(W,watts,若しくはワット)

,又はランプを特定できる英数字,記号

d)

大きさの区分(形)

(ただし,大きさの区分と定格ランプ電力が異なるものだけ)

2.2.2

ランプ表示の合否判定は,次による。

a)

目視によって,表示の有無,内容及び明りょうさを検査する。

b)

新品ランプで,表示の消えにくさを次の方法で試験する。

ランプ表示を,水でぬらした滑らかな布で 15 秒間(1 秒間 1 往復程度の速さ)

,手でこする。

この試験後,判読できなければならない。

2.2.2A

包装の表示

包装の表示は,

附属書 JA による。

2.3

口金の機械的要求事項

2.3.1

構造及び接合

口金及びガラス管は,ランプの使用中に外れないような構造に組み立てられていなければならない。

合否判定は,

附属書 の試験による。

口金には,試験の後,安全性を損なう損傷があってはならない。

2.3.2

口金の寸法要求事項

2.3.2.1

ランプには,JIS C 7709-1 に規定する口金を使用しなければならない。

2.3.2.2

適合性は JIS C 7709-3 に規定するゲージ,若しくは JIS B 7507 に規定するノギス又はこれらと同

等以上の精度をもつ測定器によって確認する。

表 に参照シートを示す。


4

C 7618-1

:2008

表 1JIS C 7709 の参照シート

口金の種類

シート No.

JIS C 7709-1

口金

JIS C 7709-3

ゲージ

2GX7 7004-103

7006-102

2G7 7004-102  7006-102

2G11 1-64  3-64-1

∼2

G10q 1-38  3-38-1

∼2

2G10 7004-118  7006-118

GR8 7004-68

7006-68A

,68B,68E

GR10q 7004-77

7006-77A

,68B,68E

GRX10q 1-48 3-48-1

∼2

GX10q 1-53

3-53-1

∼5

GY10q 1-60

3-60-1

∼5

G23 1-45  3-45-1

∼2

GX23 1-55  3-55-1

∼2

G24 1-46  3-46-1

∼3

GX24 1-56  3-56-1

∼3

GX32 7004-87

7006-87

GU10q 1-38B 3-38B-1

∼3

GZ10q 1-38A 3-38-1

∼2

2.3.3

口金ピンの接続及び誤使用防止構造

2.3.3.1

口金ピンの接続

4

本ピン口金の場合,ピンとランプ電極との接続は,

附属書 による。

合否判定は,関連するピンの導通試験,ランプの点灯試験,及び/又は目視検査による。

2.3.3.2

誤使用防止構造

類似したランプとの誤使用を防止するための口金/キー構造は,JIS C 7618-2 に合致しなければならな

い。

附属書 には,ある安定器で動作するランプを設計する場合に使用する口金/キーに対する指針を示

す。

合否判定は,適切な測定器システム及び/又は目視検査による。

2.4

絶縁抵抗

2.4.1

口金の金属部と,すべてのピンをお互いに接続した部分との絶縁抵抗は,2 M

Ω以上とする。

2.4.2

口金が絶縁性の材質でできている場合,この試験は,すべてのピンをお互いに接続した部分と,金

属はくで覆った口金部分との間で行い,絶縁抵抗は,2 M

Ω以上とする。

なお,金属はくは,JIS C 7709-2 に示す最小寸法の受金に接続したときに人が触れるおそれがある口金

部分を覆うこととする。

2.4.3

合否判定は,JIS C 1302 に規定する直流 500 V の絶縁抵抗計で測定して行う。

2.5

耐電圧

2.5.1

2.4

に示す部分間での耐電圧試験中に,フラッシオーバ又は絶縁破壊が起こってはならない。

2.5.2

合否判定は,50 Hz 又は 60 Hz のほぼ正弦波の交流 1 500 V の電圧を,1 分間印加し,判定する。最

初は半分以下の電圧を加え,その後速やかに規定電圧まで上げる。電圧降下を伴わないグロー放電は,不

良とはしない。


5

C 7618-1

:2008

2.6

充電部の露出

2.6.1

充電部から絶縁されている金属部分に漏電してはならない。

2.6.2

ピン以外は,いかなる充電部も口金から突き出してはならない。

2.6.3

合否判定は,適切な測定及び/又は目視検査による。さらに,器材の定期的な日常点検及び検査の

有効性の確認を実施しなくてはならない。

2.7

耐熱性及び耐燃焼性

2.7.1

口金に使う絶縁材料は,耐熱性のものとする。

2.7.2

合否判定は,次の試験による。

2.7.2.1

口金は,恒温槽で

附属書 に示す温度で 168 時間試験する。試験後,口金は,次の要求事項を満

足しなければならない。

a)  2.4

及び 2.5 の規定を満足する。

b)

目視で確認できる口金ピンの緩み,き裂,膨張又は収縮があってはならない。

c)

口金の寸法は,2.3.2 の規定を満足しなければならない。

2.7.2.2

試料は,

図 G .1 の装置によってボールプレッシャ試験を行う。試験する部分の表面を水平にして,

直径 5 mm の鋼球を 20 N の力で押し付ける。試験する面が曲がるようであれば,この鋼球を押し付ける部

分を水平に保持する。

この試験は,恒温槽で 125  ℃±5  ℃の温度で行う。

1

時間後,鋼球を取り外して押し付けられたあとを測定する。その直径は 2 mm 以下でなければならな

い。

セラミック材質には,この試験は行わない。

2.7.3

口金の絶縁部材は,異常過熱に対し耐燃焼性がなければならない。

2.7.4

合否判定は,次の試験による。

試験温度 650  ℃でグローワイヤ(赤熱棒押し付け)試験を行う。試験装置は,JIS C 60695-2-10 の規定

による。

試験材料を保持具に鉛直に取り付け,1 N の力でグローワイヤを押し付ける。試料の上端から 15 mm 以

上離れた場所が望ましい。グローワイヤは,試料の中へ 7 mm 以上入り込まないようにする。30 秒後,試

料をグローワイヤから引き離す。

試料のいかなる火炎又は赤熱も,グローワイヤから引き離して 30 秒以内に消えなければならない。燃焼

又は溶融した試料の小片で,試料の下 200 mm±5 mm に置いた 5 層からなる 1 枚の薄葉紙が発火してはな

らない。

グローワイヤの温度及び加熱電流は,試験開始前に 1 分間以上一定にしておく。この間,熱放射が試料

に影響を及ぼさないように配慮しなければならない。グローワイヤの温度は,被覆された細い線径の熱電

対を用いて測定する。熱電対の構造及び校正については,JIS C 60695-2-10 による。

注記  次の危険に対し,試験員の安全及び健康に配慮する。

−  爆発又は火災

−  煙及び毒性生成物の吸入

−  毒性残留物

2.8

口金の沿面距離

2.8.1

ピンと口金の金属部分(もしあれば)間との最小沿面距離は,JIS C 7709-0 の要求事項に合致して

いなければならない。関連する口金シート No.は,

表 に示す。


6

C 7618-1

:2008

2.8.2

合否判定は,最も沿面距離の短い位置での測定による。

2.9

ランプの口金温度上昇

2.9.1

スタータ形ランプの周囲温度からの口金温度上昇値は,

表 B.2 に規定する値を超えてはならない。

2.9.2

合否判定は,

附属書 で規定する方法によって行う。合否判定条件は,D.4 による。

2.9.3

例えば,同じ基本構造で,同じ口金をもつランプファミリーの中の一つのランプ種別の口金温度上

昇が最大であることが分かっている場合,このランプ種別についての試験だけで,その他のすべての同種

の口金付きランプファミリーに対する試験を省略することができる。

2.10

雑音防止用コンデンサ

スタータ内蔵形ランプは,次の要求事項を満足するラジオ雑音防止用のコンデンサを装備していなけれ

ばならない。

2.10.1

耐湿性

コンデンサには,耐湿性がなければならない。合否判定は,次の試験による。

耐湿性試験を行う前に,コンデンサを次の耐湿性試験設定周囲温度の

0

4

  ℃の温度範囲で 4 時間以上放置

しておかなければならない。

相対湿度 91 %∼95 %,周囲温度 20  ℃∼30  ℃の間の任意の値で,±1  ℃の雰囲気に 48 時間置いた後,

直ちに直流 2 000 V を 1 分間印加し,絶縁破壊があってはならない。

試験電圧は,コンデンサの両極にかけ,初めは規定値の半分以下の電圧とし,徐々に規定値まで上げる。

2.10.2

耐火性

コンデンサには,耐火性がなければならない。

合否判定は,次の試験による。

コンデンサ単独で交流電圧を加え,絶縁破壊が起こるまで徐々に昇圧していく。これに用いる電源は,

短絡容量約 1 kVA でなければならない。その後,コンデンサを,そのランプに適合した誘導形安定器に直

列に接続し,安定器の定格電圧で 5 分間動作させなければならない。

この 5 分間にコンデンサから炎又は火花が出てはならない。

2.11

照明器具設計のための指示(参考)

附属書 参照。

2.12

安定器設計のための指示

附属書 による。

3

評価

3.1

一般事項

この箇条は,最終完成品の検査記録の組合せによる全生産品評価を基とし,製造業者がこの規格を満足

している製品であることを示すために使用しなければならない方法を規定する。3.23.3 及び 3.5 では,

製造業者の記録による評価の詳細を規定する。

特定のロット (Batch) だけを認証する場合の抜取方法の詳細は,3.4 及び 3.6 で規定する。ロット検査に

は,不合格品が含まれていることを前提としている。ある安全要求事項がロット検査で確認できなかった

場合,また製造業者側に過去の確認データがない場合は,そのロット検査は,ロット評価の目的には使用

できない。

評価に関しては,3.2 から 3.6 に代えて

附属書 JB を用いてもよい。


7

C 7618-1

:2008

3.2

製造業者の記録による全生産品の評価

3.2.1

製造業者は,

生産品が 3.3 の個々の規定を満足している証拠を示さなければならない。

製造業者は,

この目的のために,生産品についてこの規格の要求条件に関する既に行った検査結果を,提出できるよう

にしなければならない。

3.2.2

検査結果は,作業記録から引き出されるため,それ自体では,直ちに決められた様式にはまとめら

れない。

3.2.3

一般に,品質評価は,個々の工場が 3.3 の諸項目について合格判定基準を満足しているかどうかで

行われる。しかし,同じ品質管理体制であれば,幾つかの工場をまとめてもよい。

3.2.4

製造業者は,製造工場ごとに認証範囲のランプをランプファミリー,種別又は形式などのリストな

どによって明示しなければならない。リストアップされたすべてのランプが対象となる。追加又は削除の

通知は,いつでも行える。

3.2.5

検査結果を提示するに当たり,製造業者は,

表 の第 4 欄に従って,異なるランプファミリー,種

別又は形式でまとめてもよい。

全生産品評価は,製造業者側の品質管理手法が最終検査に対して品質管理システムを満足していること

を要求する。製造業者は,工程間検査及び試験にも基づく品質管理システムの枠組の範囲で,最終完成品

検査の代替としての工程間検査によって規格の要求に従ってもよい。

3.2.6

製造業者は,

表 の第 5 欄に示すそれぞれの項目について,十分な検査記録を提供しなければなら

ない。

3.2.7

製造業者の記録で,不合格の数は

表 の第 6 欄に示す合格品質水準 (AQL) の規定に対応した表 3

又は

表 に示す限度値を超えてはならない。

3.2.8

評価に対する見直しの期間は,事前に決定された年に限る必要はなく,見直しの日付の直前の連続

12

か月であればよい。

3.2.9

規定された基準をかつては満足していたが,現在は満足しなくなっている製造業者は,次のことを

示すことができれば,この規格に適合する。

a)

検査記録にその傾向が認められてきた後,直ちにその状況を改善する行動が取られてきた場合。

b)

規定の合格水準が,次の期間内に再度確立された場合。

1)  2.3.1

と 2.9 に対しては 6 か月

2)

その他の項に対しては 1 か月

a)

と b)  に従って,正しい対策が行われたと認められたとき,合格していないこれらのランプファミリ

ー,種別又は形式の不合格期間についての検査記録は,12 か月間の合計から除く。正しい対策が行われた

期間の検査記録は残す。

3.2.10

製造業者は,3.2.5 で許容する種別でまとめて行う検査の結果のある項目で不合格になった場合,

もし追加の試験によってその問題が特定のファミリー,

種別又は形式だけに存在することを示せたときは,

すべてのランプファミリー,種別又は形式を不合格としなくてもよい。この場合,これらを 3.2.9 に従っ

て処理するか,又は製造業者が規格に適したと考えているファミリー,種別又は形式のリストから削除す

る。

3.2.11  3.2.10

の規定に従って,リスト(3.2.4 参照)からファミリー,種別又は形式が削除された場合,

2

の不合格の発生した欄で規定する年間最低抜取数に等しい数のランプについての検査で,満足のいく結

果が得られたときは,復活させることができる。このサンプルは短期間内に収集しなければならない。


8

C 7618-1

:2008

3.2.12

新製品の場合,既存のランプファミリー,種別又は形式と共通の特徴があると考えられ,生産が開

始された後,

直ちに抜取計画にその新製品が取り入れられれば,

合格しているものとみなすことができる。

共通の特徴のないものは,生産開始前に検査をしなければならない。

3.3

個々の検査についての製造業者記録に基づく評価

表 は,各項目の規定に基づき,検査の内容及び関連する情報を規定している。

設計試作時検査は,物理的構造,機械的構造,材料又は関連する生産品を作る製造過程に実質的な変化

が起こったときだけ必要となる。

検査は,

それらの特性が変化によって影響を受けるときだけ要求される。

3.4

ロットの不合格条件

検査本数に関係なく,

表 と附属書 に規定する項目のいずれかで,限度不良数になったロットは不合

格になる。したがって,検査途中のある項目で不良数が規定の数になった時点で,そのロットは直ちに不

合格になる。

3.5

全生産品検査の抜取方法

3.5.1

表 の条件を適用する。

3.5.2

全生産品の稼動時検査は,生産日に少なくとも 1 日 1 回は行わなければならない。それらは工程間

検査でもよい。

表 の条件が満たされるならば,検査ごとに検査回数が異なってもよい。

3.5.3

全生産品検査は,

表 の 5 欄に示される条件を下回らない範囲で,ランダムに抜き取った試料で行

う。ある検査のために抜き取ったランプを,他の検査に必ずしも使用する必要はない。

3.5.4

製造業者は,充電部の露出(2.6 参照)に関する全生産品検査については,継続的に 100 %検査し

ていることを証明しなければならない。

3.6

ロット検査の抜取方法

3.6.1

検査のためのランプは,適切に説明できるように互いに合意した方法に従って選ばなくてはならな

い。最小 10 区分以上からなるロットの総区分の約 1/3 から,できるだけランダムに選択する。

3.6.2

ランプ破損の場合に備えて,検査する本数のほかに多少のランプを追加しておかなくてはならない。

これらの追加ランプは,必要な場合に検査規定数量を満足させるための補足にだけ用いる。

破損したランプを交換しても検査結果が何も変わらない場合,そしてそれ以降の検査に必要なランプ本

数がまだあるならば,交換する必要はない。

もし交換したのであれば,壊れたランプは検査用として含めない。

3.6.3

ロット検査のランプの試料数

少なくとも 500 本以上とする(

表 参照)。

3.6.4

検査の順序

検査は,

表 の一覧表の項目順に 2.6(充電部の露出)までを実行する。それ以降の検査ではランプに損

傷の可能性があるので,各検査試料は最初の試料から別にとる。


9

C 7618-1

:2008

表 2−検査記録,抜取個数及び合格品質水準  (AQL)  のグループ分け

5

最少累計抜取数

1

項目番号

2

検査内容

3

検査の種類

4

検査結果を累計でき
るランプ種別

ランプ 
年間継続
生産

ランプ 
間欠生産

6

合格品質 
水準

(AQL)

a)

 %

2.2.2 a) 

表示の識別性

稼動時検査

同一なつ(捺)印法
を使用する全品

200 32  2.5

2.2.2 b) 

表示の耐久性

形式検査

同一なつ(捺)印法
を使用する全品

 50

20

2.5

2.3.1

(必要に応

附属書 A

も参照)

初期の口金の構造と
接合

形式検査 
又は 
設計試作時

検査

同一接合方式とバル
ブ径を共有するファ
ミリーの全品

125

又は D.1
参照

80

又は D.1
参照

 0.65

加熱後の口金の構造

と接合

設計試作時

検査

同一接合方式とバル

ブ径を共有するファ
ミリーの全品

D.1

参照

D.1

参照

2.3.2.2 

口金寸法

形式検査

同一接合方式とバル

ブ径を共有するファ
ミリーの全品

 32

32

2.5

2.3.3.1 

口金ピンと電極結線  形式検査

グループとタイプで

125 80

0.65

2.3.3.2

(必要なら)

誤使用防止構造

形式検査

グループとタイプで

125 80

0.65

2.4 

絶縁抵抗

設計試作時

検査

同一口金を同一ラン

プ寸法とともに使用
する全品

D.2

参照

D.2

参照

2.5 

耐電圧

設計試作時

検査

同一口金を用いるす

べてのファミリーで

D.2

参照

D.2

参照

2.6 

充電部の露出

全数検査

グループとタイプで

2.7.2 

耐熱性

設計試作時
検査

全ファミリーで

D.3

参照

D.3

参照

2.7.4 

耐燃焼性

設計試作時
検査

全ファミリーで

D.3

参照

D.3

参照

2.8 

口金の沿面距離

設計試作時
検査

全ファミリーで

D.3

参照

D.3

参照

2.9 

ランプの口金温度上

設計試作時
検査

2.9.3

の試験に供する

ランプ

D.4

参照

D.4

参照

2.10 

雑音防止用コンデン
サ試験

設計試作時
検査

同一コンデンサを用
いる全ファミリーで

D.3

参照

D.3

参照

a)

AQL

については,JIS Z 9015-1 による。


10

C 7618-1

:2008

表 3−合格判定数  AQL=  0.65 %

ランプ検査数量

(製造業者記録による)

合格判定個数

ランプ検査数量

(製造業者記録による)

合格判定数

%

80

1

2

001

1.03

81

∼ 125

2

2

100

1.02

126

∼ 200

3

2

400

1.00

201

∼ 260

4

2

750

0.98

261

∼ 315

5

3

150

0.96

316

∼ 400

6

3

550

0.94

401

∼ 500

7

4

100

0.92

501

∼ 600

8

4

800

0.90

601

∼ 700

9

5

700

0.88

701

∼ 800

10

6

800

0.86

801

∼ 920

11

8

200

0.84

921

∼ 1

040

12

10

000

0.82

1 041

∼ 1

140

13

13

000

0.80

1 141

∼ 1

250

14

17

500

0.78

1 251

∼ 1

360

15

24

500

0.76

1 361

∼ 1

460

16

39

000

0.74

1 461

∼ 1

570

17

69

000

0.72

1 571

1 680

18

145 000

0.70

1 681

1 780

19

305 000

0.68

1 781

1 890

20

1 000 000

0.67

1 891

∼ 2

000

21


11

C 7618-1

:2008

表 4−合格判定数  AQL 2.5 %

ランプ検査数量

(製造業者記録による)

合格判定個数

%

ランプ検査数量

(製造業者記録による)

合格判定数

%

20

1

001

3.65

21

∼ 32

2

1

075

3.60

33

∼ 50

3

1

150

3.55

51

∼ 65

4

1

250

3.50

66

∼ 80

5

1

350

3.45

81

∼ 100

6

1

525

3.40

101

∼ 125

7

1

700

3.35

126

∼ 145

8

1

925

3.30

146

∼ 170

9

2

200

3.25

171

∼ 200

10

2

525

3.20

201

∼ 225

11

2

950

3.15

226

∼ 255

12

3

600

3.10

256

∼ 285

13

4

250

3.05

286

∼ 315

14

5

250

3.00

316

∼ 335

15

6

400

2.95

336

∼ 360

16

8

200

2.90

361

∼ 390

17

11

000

2.85

391

∼ 420

18

15

500

2.80

421

∼ 445

19

22

000

2.75

446

∼ 475

20

34

000

2.70

476

∼ 500

21

60

000

2.65

501

∼ 535

22

110

000

2.60

536

∼ 560

23

500

000

2.55

561

∼ 590

24

1

000

000

2.54

591

∼ 620

25

621

∼ 650

26

651

∼ 680

27

681

∼ 710

28

711

∼ 745

29

746

∼ 775

30

776

∼ 805

31

806

∼ 845

32

846

∼ 880

33

881

∼ 915

34

916

∼ 955

35

956

∼ 1

000

36


12

C 7618-1

:2008

表 5−ロット検査時抜取試料数及び不合格判定個数

該当項目

検査内容

供試ランプ数

不合格となる不良数

2.2.2 a) 

表示の識別性 200 11

2.2.2 b) 

表示の耐久性 50 4

2.3.1 

初期の口金構造及び接合 125

3

2.3.2.2 

口金寸法 32

3

2.3.3.1 

口金ピン及び電極結線 125

3

2.3.3.2 

誤使用防止構造 125

3

2.4 

絶縁抵抗

D.2

を適用

2.5 

耐電圧

D.2

を適用

2.6 

充電部の露出 500  1

2.3.1 

加熱後の口金構造及び接合

D.1

を適用

2.7.2 

耐熱性

D.3

を適用

2.7.4 

耐燃焼性

D.3

を適用

2.8 

口金の沿面距離

D.3

を適用

2.9 

ランプの口金温度上昇

試験適用せず

2.10 

雑音防止用コンデンサ

D.3

を適用

参考文献  JIS C 8105-1  照明器具−第 1 部:安全性要求事項通則

注記  対応国際規格:IEC 60598-1,Luminaires−Part 1 : General requirements and tests (MOD)


13

C 7618-1

:2008

附属書 A

規定)

口金の構造及び接合に関する評価試験

序文

この附属書は,口金の構造及び接合に関する評価試験について規定する。

A.1

GR8

G10qGU10qGZ10q 及び GR10q 口金

A.1.1

初期

ランプを受金に装着したり,取り出したりするときに,口金のかん合部が外れる可能性がある場合は,

次の試験を設計試作時検査として行う。判定条件は D.1 による。外れる可能性がある口金部分に徐々に張

力をかけ,80 N で 1 分間保持しなければならない。試験後も口金の安定性は損なわれてはならない。JIS C 

0920

に規定する試験指が充電部に触れるすき間などがあってはならない。

口金の構造を損なうような張力のかけ方をしてはならない。必要な場合には,製造業者と試験機関との

合意のうえ,特別のサンプルを用意してもよい。

G10q

,GZ10q 付きランプについては,次の形式検査を追加しなければならない。口金はバルブ面となす

公称角度

α

を中心とし,少なくとも±5°は容易に回転しなければならない。最大回転角の状態でリード線

が短絡してはならない。最もすき間が開く位置に回したときでも,試験指が充電部に触れる所まで入って

はならない。

A.1.2

加熱後

ランプを

附属書 に規定した温度で,2 000 h±50 h 恒温槽で加熱した後,A.1.1 に規定のすべての試験

を設計試作時検査として行う。

判定条件は,D.1 による。

A.2

2G7

2GX7GX10qGRX10qGY10q2G102G11G23GX23G24GX24 及び GX32 口金

A.2.1

初期

次の形式検査によって判定する。

ガラス管と口金は,40 N の軸方向の張力で緩んではならない,かつ 3 Nm の曲げモーメントで緩んでは

ならない。これらの試験は,張力と曲げモーメントが同時に加わらないように行う。曲げは,口金に最も

近い部分のガラス管部分を,ガラス管部分に均一に力が加わるような方法でつかみ,加える。支点は,口

金基準面(受金との合わせ面)にする。張力及び曲げモーメントは急にかけないで,ゼロから規定値まで

徐々に上げていく。

A.2.2

加熱後

ランプを

附属書 に規定した温度で,2 000 h±50 h 恒温槽で加熱した後,口金に張力と曲げモーメント

を加える試験を行う。規定値については,検討中である。

判定条件は,D.1 による。

A.3

GX10q

GY10qGRX10qG23GX23G24 及び GX24 口金

A.3.1

初期口金ねじり試験


14

C 7618-1

:2008

口金胴部とランプ着脱時に保持される部分との間にねじりモーメントを徐々に加え,

2 Nm

のねじりモー

メントに耐えなければならない。

A.3.2

加熱後の口金ねじり試験

恒温槽で,120  ℃±5  ℃の温度で 2 000 h±50 h 加熱した後,口金胴部とランプ着脱時に保持される部分

との間にねじりモーメントを徐々に加え,0.6 Nm のねじりモーメントに耐えなければならない。


15

C 7618-1

:2008

附属書 B

規定)

最大口金温度上昇値及びその測定方法

序文

この附属書は,最大口金温度上昇値及びその測定方法について規定する。

B.1

一般的試験条件

B.1.1

ランプは,25  ℃±5  ℃の無風状態の中で,鉛直(口金上方)に細いナイロン糸でつるして点灯す

る。

B.1.2

試験に用いるランプは,通常製品ではあるが陰極の効力のない,いわゆるエミッタなしで特別に作

られたものとする。

B.1.3

電気的接続には,断面 1 mm

2

±5 %の銅線を用い,口金ピンに直接接続する。

B.1.4

ランプは,相当する試験用安定器を用い定格電圧の 1.1 倍で試験する。

B.1.5

スタータ回路は,短絡しなければならない。すなわち,

(両)電極は直列接続する。

B.1.6

この試験は,温度が安定点に達するまで継続する。

B.1.7

必要ならば,口金の表面に温度測定装置(熱電対など)が確実に取り付けられるような処置を講じ

る。

B.2

個々の試験条件

B.2.1

2G7

2GX7GX10qGRX10qGY10q2G102G11G23GX23G24GX24 及び GX32 

金の場合

温度上昇は,

表 B.1 に示す口金基準面からガラス管方向に,距離 離れた口金表面温度で,最も温度の

高い位置を測定する。

表 B.1−測定

口金

距離 X  mm

2G7, 2GX7

8

(参考値)

GX10q, GY10q, GRX10q

8

G23, GX23

8

2G10

,2G11, G24,GX24

12

(参考値)

GX32 16

(参考値)

G10q

検討中

B.2.2

GR8

GR10q 及び G10q 口金の場合

B.2.2.1

GR8

及び GR10q 口金(10 W 以外のすべて)

温度上昇は,2 本のガラス管から等距離にあって,かつ,ガラス管の軸と交差する口金表面の直線上の

点で測定する。

B.2.2.2

GR10q

口金(10 W  

温度上昇は,ピン裏側の口金表面中央で測定する。


16

C 7618-1

:2008

B.2.2.3

G10q

口金

検討中である。

表 B.2−口金温度上昇限度値

口金

定格ランプ電力

W

口金温度上昇限度

K

G23, G24, GX23, GX24, GX32

すべて 75

2G7, 2GX7, 2G10, 2G11

すべて 75

GX10q

すべて 75

GY10q

すべて 95

GRX10q

すべて 75

G10q

すべて

検討中

GR8 16

45

GR8 28

35

GR10q 10,

28, 38

35

GR10q 16,

21

45


17

C 7618-1

:2008

附属書 C 

参考)

照明器具設計のための指示

序文

この附属書は,照明器具設計のための指示について記載するものであって,規定の一部ではない。

C.1

ランプを安全に点灯するための指針

ランプを安全に点灯するためには,C.2 及び C.3 の事柄を守ることが望ましい。

C.2

異常点灯時の口金温度の最大値

照明器具設計者は,ランプの異常点灯時において,口金温度が

表 C.1 に示す口金最大温度を超えないこ

とを確認する。

規定のランプを使いスタータ回路を短絡して,すなわち,2 本の電極を直列接続した状態で,照明器具

を試験する。

測定点は,B.2 による。

合否判定は,JIS C 8105-1 に規定する試験による。

表 C.1−最大口金温度

口金

定格ランプ電力 W  最大口金温度  ℃

参考値

G23, G24, GX23, GX24, GX32

すべて 140

2G7, 2GX7, 2G10, 2G11

すべて 140

GX10q, GY10q, GRX10q

すべて 140

G10q

すべて 120

GR8

すべて 110

GR10q

すべて 110

C.3

口金/受金・誤使用防止キー

照明器具設計者は,取り付けられている受金が,正しいランプ/安定器の組合せの誤使用防止キー構造

であることを確認する。

合否判定は,目視検査による。


18

C 7618-1

:2008

附属書 D 

規定)

設計試作時検査の判定条件

序文

この附属書は,形式検査にも適用できる。

D.1

口金の構造及び接合(2.3.1 による。)

試験は,a)  又は b)  のいずれかによる。

a)

試料数:32          不良が 2 以上の場合は不合格とする。

b)

試料数 10 個に対して不合格品がない場合は,合格とする。

D.2

絶縁抵抗及び耐電圧(2.4 及び 2.5 による。)

試験は,a)  又は b)  のいずれかによる。

a)

それぞれの試験は個々に判定する。

1

回目の試料数:125    不良が 2 以上の場合は不合格とする。不良が 1 ならばもう 1 回試験する。

2

回目の試料数:125(新たにサンプリングしたもの)    不良が 2 以上の場合は不合格とする。これ

は 1 回目の不良も含めた数。

b)

試料数 20 に対して不合格品がない場合は,合格とする。

D.3

耐熱性(2.7.2 による。),耐燃焼性(2.7.4 による。),口金の沿面距離(2.8 による。),雑音防止用コ

ンデンサ(2.10 による。)

それぞれの試験は,個々に判定する。

1

回目の試料数:5    不良が 0 の場合は,合格とする。不良が 2 以上の場合は不合格とする。不良が 1

ならばもう一度試験する。

2

回目の試料数:5(新たにサンプリングしたもの)    不良が 2 以上の場合は不合格とする。これは 1

回目の不良を含めた数。

D.4

ランプの口金温度上昇(2.9.2 による。)

1

回目の試料数:5    すべての試料の温度上昇値が規格値よりも 5  K以上低ければ合格とし,2 回目の

試験は行わない。口金温度上昇値が

表 B.2 の規定値を超える不良が 2 以上の場合は不合格とする。それ以

外の場合はもう 1 回試験する。

2

回目の試料数:5(新たにサンプリングしたもの)    1 回目の試料を含め 2 以上の口金温度上昇値が

表 B.2 の規定値を超える場合は不合格とする。

D.5

その他

設計試作時検査において D.1 から D.4 以外の検査項目については,1 個のサンプルにて確認を行う。


19

C 7618-1

:2008

附属書 E

規定)

ピン・電極結線図


20

C 7618-1

:2008

附属書 F

規定)

ランプの非互換性のための要求事項

序文

この附属書は,ランプの非互換性のための要求事項について規定する。

スタータ内蔵形又は非内蔵形で,ランプの口金温度にとって最もやっかいな問題が起こるのは,電極を

通して予熱電流が流れ続ける場合である。これは寿命末期にランプが始動しないときに起こる。

したがって,口金が耐熱限度以上の高温になるような最大予熱電流を流す安定器にランプを接続しては

ならない。ある種の口金には,似たような口金を使った異なったランプが器具に間違って装着されること

を防ぐため,互換できない特徴を付与する必要がある。

ある種のランプには,口金/受金にキー構造を付けている。

表 F.1 には,口金/受金に対する許容最大

予熱電流を示す。

表 F.1 には,キー構造の付いていないものもあるが,これは現在のランプ・安定器のいかなる組合せで

も最大予熱電流を超えることがないことを意味している。

将来,より高い予熱電流のランプ及び/又は安定器が導入されて,不安全問題が起こらないように

表 F.1

には最大予熱電流の限度値が示されている。

これらの口金/受金を使って新しいランプを設計する場合,この関係を守らなければならない。

表 F.1−最大予熱電流

口金

最大予熱電流 A

2G7, G23

0.240

2GX7, GX23

0.530

G10q 1.100

2G10, 2G11, GR8, GR10q

0.780

GX10q, GRX10q-2

0.580

GRX10q-3

0.730

GRX10q-4

1.100

GY10q-4  1.100 
GY10q-5  0.800 
GY10q-6  0.830

G24-1  0.280 
G24-2  0.380 
G24-3  0.550

GX24-1

a) 

0.250

 b)

GX24-2

a)

 0.320

 b)

GX24-3

a)

 0.480

 b)

GX24-4

a)

 0.480

 b)

GX32-1  0.650 
GX32-2  0.850 
GX32-3  1.080

GU10q

a)

 0.800

 b)

GZ10q

a)

 0.800

 b)

a)

高周波点灯ランプ用金口

b)

予熱条件で t≧2.0 秒の規定値を示す。


21

C 7618-1

:2008

附属書 G 

規定)

加熱試験の温度

序文

この附属書は,口金温度上昇試験について規定する。

表 G.1−試験温度

口金

定格ランプ電力 W

温度  ℃

参考値

G23, G24, GX23, GX24, GX32

すべて 160

2G7, 2GX7, 2G10, 2G11

すべて 160

GX10q, GY10q, GRX10q

すべて 160

G10q

すべて 140

GR8

すべて 130

GR10q 10

140

GR10q

16, 21, 28, 38

130

GU10q, GZ10q

すべて 160

図 G .1−ボールプレッシャ試験装置


22

C 7618-1

:2008

附属書 H 

規定)

安定器設計のための指示

序文

この附属書は,安定器設計のための指示について規定する。

H.1

ランプを安全に動作させるための指針

ランプを安全に動作させるために,安定器は H.2 の事柄を守ることが望ましい。

H.2

異常動作条件下でのランプ端部温度

安定器は,ランプが始動しない場合に,ランプ端部の過熱を引き起こすような陰極予熱の継続をさせて

はならない。また,ランプが動作している間に,片側の陰極が消耗したり,壊れた場合(部分整流)には,

安定器の適切な対策によって,ランプ端部の過熱を防止しなければならない。


23

C 7618-1

:2008

附属書 JA

規定)

包装の表示

序文

この附属書は,2.2.2A に基づいて規定するもので,対応国際規格にはない事項である。

JA.1

適用範囲

最小包装容器には,JA.2 の一般的事項,及び JA.3 に記された注意事項のうち,必要な項目の要旨を表

示する。

JA.2

一般的事項

a)

形式

b)

製造業者名又は責任ある販売業者若しくはその略号

c)

定格ランプ電力(W,watts,若しくはワット)

,又はランプを特定できる英数字,記号

d)

大きさの区分(形)

(ただし,大きさの区分と定格ランプ電力が異なるものだけ)

JA.3

注意事項

JA.3.1

表示の仕方

表示の場所

使用者の見やすい場所

文字の大きさ

指示文章の文字 1.2

mm

以上

区分及び図記号 5

mm

以上

JA.3.2

表示内容

No.

区分

図記号

指示文章

理由

措置

適用品種

1

警告

取付け,取外しや器具清掃のときは,必ず電源
を切ってください。

感電の原因となります。

感電

2

注意

器具に取り付けるときは,ランプホルダでラン
プを強くはじかないでください。

破損の原因となることがあります。

破損・けが

環 形 ラ ン

3

注意

器具の引きひもを強くはじいたり,ランプにか

らませないでください。 
破損の原因となることがあります。

破損・けが

4

注意

防水形の器具に使用する場合は,器具に適合し
た管径のランプを使用してください。 
防水効果がなくなり,漏電の原因となることが

あります。

漏電

器具に適合した
ランプ管径を確
認してください。

5

注意

落としたり,物をぶつけたり,

(荷重をかけた

り)

,無理な力を加えたり,きずをつけたりし

ないでください。 
(特に器具の清掃のときは,ご注意ください。

破損した場合,けがの原因となることがありま
す。

破損・落下・

けが


24

C 7618-1

:2008

No.

区分

図記号

指示文章

理由

措置

適用品種

6

注意

引火する危険性の雰囲気(ガソリン,可燃性ス
プレー,シンナー,ラッカー,粉じんなど)で
使用しないでください。

火災や爆発の原因となる場合があります。

火災・爆発

防爆構造の器具
を使用してくだ
さい。

7

注意

適合した器具(ソケット,安定器,グロースタ
ータなど)で指定されたワット数のランプを必

ず使用してください。 
過熱や発煙の原因となることがあります。

過熱・発煙

器具に表示して
ある適合ランプ

種別(大きさ)を
確認してくださ
い。

8

注意

点灯中や点灯直後は,ランプが熱いので手や肌
などをふれないでください。

やけどの原因となることがあります。

やけど

交換や清掃は十
分に冷えてから

行ってください。

9

注意

使用済のランプは割らずに破棄してください。

(ランプを割ると)ガラス破片が飛散し,けが
の原因となることがあります。

けが(ガラス

破片飛散)

10

注意

雨や水滴のかかる状態や,湿度の高いところで
使用しないでください。 
破損の原因となることがあります。

破損・短寿命
落下・絶縁不
良・けが

防水構造の器具
を使用してくだ
さい。

11

注意

ソケット(及びランプホルダ)に確実に取り付
けてください。ランプの落下,

(接触不良によ

る過熱,発煙)の原因となることがあります。

落下・破損・
けが・不点灯
過熱・発煙

ソケットのガタ
や間隔を十分確
かめてください。

12

注意

紙や布でおおったり,燃えやすいものに近づけ
ないでください。

火災の原因となることがあります。

火災・器具過

13

注意

酸などの腐食性雰囲気のところでは,一般器具

によるランプの使用はしないでください。 
漏電や落下の原因となることがあります。

口金腐食・漏

電・落下

耐食構造の器具

を使用してくだ
さい。

14

注意

振動や衝撃のあるところでは,

(一般器具によ

る)ランプの使用はしないでください。 
落下の原因となることがあります。

破損・落下・
けが・不点灯
過熱

耐震構造を考慮
した設計にして
ください。

15

注意

塗料などを塗らないでください。 
ランプが過熱し,破損の原因となることがあり
ます。

過熱・破損・
けが

カラーランプを
使用してくださ
い。

16

注意

粉じんの多いところでは,一般器具によるラン
プの使用はしないでください。

器具の過熱の原因となることがあります。

器具過熱・短
寿命

防じん(塵)構造
の器具を使用し

てください。

17

注意

退色を極度にさけたい場合には,使用しないで

ください。

被 照 射 物 の

退色

退色防止用ラン

プを使用してく
ださい。

18

注意

口金は(多少動くように作ってありますが)無
理に回さないでください。 
破損の原因となることがあります。

破損・けが

環形ランプ


25

C 7618-1

:2008

附属書 JB

規定) 
評価

JB.1

一般事項

この附属書は,評価方法について規定する。

JB.2

検査

JB.2.1

設計試作時検査

設計試作時検査は,箇条 に規定する方法で次の項目について行う。

a)

表示の識別性

b)

表示の耐久性

c)

初期の口金の構造と接合

d)

加熱後の口金の構造と接合

e)

初期口金ねじり試験

f)

加熱後の口金ねじり試験

g)

口金寸法

h)

口金ピン及び電極結線

i)

誤使用防止構造

j)

絶縁抵抗

k)

耐電圧

l)

充電部の露出

m)

耐熱性

n)

耐燃焼性

o)

口金の沿面距離

p)

ランプの口金温度上昇

q)

雑音防止用コンデンサ試験

JB.2.2

形式検査

形式検査は,箇条 に規定する方法で次の項目について行う。

a)

表示の識別性

b)

表示の耐久性

c)

初期の口金の構造と接合

d)

初期口金ねじり試験

e)

口金寸法

f)

口金ピン及び電極結線

g)

誤使用防止構造

h)

充電部の露出

JB.2.3

受渡検査

受渡検査は,要求がある場合に限り抜取検査で行い,検査試料数及び合格判定個数は,受渡当事者間で


26

C 7618-1

:2008

協議のうえ,決定する。

a)

口金寸法

b)

初期口金ねじり試験

JB.2.4

抜取検査方法

設計試作時検査及び形式検査での,試料の大きさ及び合否判定は,

表 JB.1 による。

表 JB.1−試料の大きさ,合格判定個数及び合格判定基準

検査項目

試料の大きさ

n

(本)

合格判定個数

c

(本)

合格判定基準

a)

表示の識別性

2.2.2 a)

による。

b)

表示の耐久性

 5

2.2.2 b)

による。

c)

初期の口金の構造と接合

d)

加熱後の口金の構造と接

2.3.1

による。

(A.1A.2)

e)

初期口金ねじり試験

f)

加熱後の口金ねじり試験

(A.3)

g)

口金寸法

2.3.2.2

による。

h)

口金ピンと電極結線

2.3.3.1

による。

i)

誤使用防止構造

2.3.3.2

による。

j)

絶縁抵抗

2.4

による。

k)

耐電圧

10

2.5

による。

l)

充電部の露出

2.6

による。

m)

耐熱性

2.7.2

による。

n)

耐燃焼性

2.7.4

による。

o)

口金の沿面距離

2.8

による。

p)

ランプの口金温度上昇

5

0

2.9

による。


27

C 7618-1

:2008

附属書 JC

参考)

JIS

と対応する国際規格との対比表

JIS C 7618-1 : 2008

  片口金蛍光ランプ−第 1 部:安全仕様

IEC 61199 : 1999

,Single-capped fluorescent lamps−Safety specifications

(

Ⅰ) JIS の規定

(

Ⅲ)  国際規格の規定

(

Ⅳ)  JIS と国際規格との技術的差異の箇条

ごとの評価及びその内容

箇条番号及

び名称

内容

(

Ⅱ)

国際
規格
番号

箇条番号

内容

箇条ごと

の評価

技術的差異の内容

(

Ⅴ)  JIS と国際規格との技術的差

異の理由及び今後の対策

1.1

適用範

一般照明用片口金蛍光
ランプについて規定。

 1.1

一般照明用片口金蛍光ラ
ンプについて規定。

追加

GRX10q, GU10q, GZ10q

を追

加。

国内品種を追加。 
市場実績が大きく,変更が不可能。

1.2

引用規

1.3

用語及

び定義

主な用語及び定義。   2.1

主な用語の定義。

追加

大きさの区分を追加。

差異の理由は本体の差異の内容に
よる。

2.2

表示

製品の表示内容,試験
及び包装の表示。

 2.2

製 品 の 表 示 内 容 及 び 試
験。

追加

形式,大きさの区分を追加。 
包装の表示を追加。

市場混乱の防止。 
安全性の確保のため必す(須)

2.3

口金の

機械的要求
事項

口金及びガラス管の初
期,加熱後の口金接着
強さ,口金の寸法,口

金ピンの接続及び誤使
用防止構造。

 2.3

口 金 及 び ガ ラ ス 管 の 初
期,加熱後の口金接着強
さ,口金の寸法,口金ピ

ンの接続及び誤使用防止
構造。

追加

口金寸法確認に測定器を追加。
合否判定にランプの点灯試験
を追加。

合理的試験方法を明確化。

2.8

口金の

沿面距離

ピンと口金の金属部品
間との沿面距離。

 2.8

ピンと口金の金属部品間
との沿面距離。

変更

IEC 60061-1

を IEC 60061-4 

相当する JIS C 7709-0 に変更。

IEC

規格の誤記。

附属書A 
(規定)口
金の構造及

び接合に関
する評価試

口金の接合強度に関す
る試験方法。

 Annex

A

口金の接合強度に関する
試験方法。

追加 GRX10q,GU10q,GZ10q,を

追加。

GX10q

,GY10q,GRX10q,G23,

GX23

,G24,GX24 について,

口金ねじり試験を追加。

国内品種への対応。 
日本固有の回転式受金に対応。 
市場実績が大きく,変更が不可能。

電気用品安全法との整合。

27

C

 761

8-

1


2

008


28

C 7618-1

:2008

(

Ⅰ) JIS の規定

(

Ⅲ)  国際規格の規定

(

Ⅳ)  JIS と国際規格との技術的差異の箇条

ごとの評価及びその内容

箇条番号及
び名称

内容

(

Ⅱ)

国際
規格

番号

箇条番号

内容

箇条ごと
の評価

技術的差異の内容

(

Ⅴ)  JIS と国際規格との技術的差

異の理由及び今後の対策

附属書 B

(規定)最
大口金温度
上昇値及び

その測定方

口金温度上昇試験の試

験方法。

 Annex

B

口金温度上昇試験の試験

方法。

追加

変更

GRX10q

を追加。

表 B.1 の検討中を参考値に変
更。

国内品種への対応。

市場実績が大きく,変更が不可能。

附属書 C 
(参考)照
明器具設計

のための指

照明器具設計時に注意
すべき事項。

 Annex

C

照明器具設計時に注意す
べき事項。

追加

変更

GRX10q

を追加。

表 C.1 の検討中を参考値に変

更。

国内品種への対応。 
市場実績が大きく,変更が不可能。

附属書 D 
(規定) 
設計試作時

検査の判定
条件

設計試作時検査の各項
目の試料数及び判定個
数。

 Annex

D

設計試作時検査の各項目
の試料数及び判定個数。

追加

不合格数が 0 のときの試料数
を追加。

日 本 で は 安 全 性 評 価 に 平 均 値

(AQL)

で管理する方法はなじまな

い。IEC への提案を検討する。

附属書 E 
(規定) 
ピン・電極

結線図

ピン及び電極の結線を
図示。

 Annex

E

ピン及び電極の結線を図
示。

追加 GRX10q,GU10q,GZ10q を追

加。

国内品種への対応。 
市場実績が大きく,変更が不可能。

附属書 F
(規定)ラ

ンプの非互
換性のため
の要求事項

スタータ形ランプの寿
命末期時異常過熱防止

の互換性設計条件。

 Annex

F

スタータ形ランプの寿命
末期時異常過熱防止の互

換性設計条件。

追加

変更

G10q

,GX10q,GRX10q,

GU10q

,GY10q,GZ10q を追加。

GX24

を G24 と分離。

国内品種への対応。

市場実績が大きく,変更が不可能。

附属書 G
(規定)加

熱試験の温

耐熱性評価のための試
験条件。

 Annex

G

耐熱性評価のための試験
条件。

追加 
変更

GRX10q

,GU10q,GZ10q を追

加。

検討中を参考値に変更。

国内品種への対応。 
市場実績が大きく,変更が不可能。

28

C

 761

8-

1


2

008


29

C 7618-1

:2008

(

Ⅰ) JIS の規定

(

Ⅲ)  国際規格の規定

(

Ⅳ)  JIS と国際規格との技術的差異の箇条

ごとの評価及びその内容

箇条番号及
び名称

内容

(

Ⅱ)

国際
規格

番号

箇条番号

内容

箇条ごと
の評価

技術的差異の内容

(

Ⅴ)  JIS と国際規格との技術的差

異の理由及び今後の対策

附属書 JA

(規定) 
包装の表示

最小包装容器に表示す

る事項。

追加

国際規格には規定なし。

国内における消費者保護志向の高

まりと,使用環境の多様化によっ
て,製造物責任の面から不可欠。

附属書

JB

(規定)

評価

評 価 方 法 に 関 す る 事
項。

追加

国際規格には規定なし。

認証機関による制度体制がないこ
とと,商慣習の差異,ロット構成
の違いによる品質保証システムの

相違のため。

JIS

と国際規格との対応の程度の全体評価:IEC 61199 : 1999,MOD

注記 1  箇条ごとの評価欄の用語の意味は,次による。

    −  追加……………… 国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。

    −  変更……………… 国際規格の規定内容を変更している。

注記 2  JIS と国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は,次による。

    −  MOD……………  国際規格を修正している。

29

C

 761

8-

1


2

008