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C 7551-3

:2011

(1)

目  次

ページ

序文 

1

1

  適用範囲

1

2

  引用規格

1

3

  用語及び定義 

2

4

  一般的安全要求事項

5

4.1

  一般的要求事項

5

4.2

  表示

5

4.3

  口金

5

4.4

  セルフシールドハロゲン電球の最大紫外放射

6

4.5

  低電圧低封入圧ハロゲン電球のガス圧 

6

4.6

  電圧区分 又は のセルフシールドハロゲン電球の寿命末期の安全性 

6

4.7

  照明器具設計のための参考情報

6

5

  検査

6

5.1

  検査

6

附属書 A(規定)包装容器への図記号(ピクトグラム) 

7

附属書 B(規定)低封入圧ハロゲン電球の封入ガス圧測定方法 

9

附属書 C(参考)照明器具設計のための参考情報

10

附属書 D(規定)設計試験の適合条件

14

附属書 E(参考)ハロゲン電球のガラス球温度の測定方法 

15

附属書 F(規定)セルフシールドハロゲン電球(記号付き以外)の強制破損試験方法

16

附属書 JA(規定)セルフシールドハロゲン電球(記号付き)の寿命末期の安全性確認方法

18

参考文献

20

附属書 JB(参考)JIS と対応国際規格との対比表 

21


C 7551-3

:2011

(2)

まえがき

この規格は,工業標準化法第 14 条によって準用する第 12 条第 1 項の規定に基づき,社団法人日本電球

工業会(JELMA)及び財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格を改正す

べきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工業規格である。

これによって,JIS C 7551-3:2005 は改正され,この規格に置き換えられた。

この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。

この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意

を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実

用新案権に関わる確認について,責任はもたない。

JIS C 7551

の規格群には,次に示す部編成がある。

JIS

C

7551-1

第 1 部:一般照明用白熱電球

JIS

C

7551-2

第 2 部:一般照明用白熱電球と互換性のあるハロゲン電球

JIS

C

7551-3

第 3 部:ハロゲン電球(自動車用を除く)


日本工業規格

JIS

 C

7551-3

:2011

白熱電球類の安全仕様−

第 3 部:ハロゲン電球(自動車用を除く)

Incandescent lamps-Safety specifications-

Part 3: Tungsten halogen lamps (non-vehicle)

序文 

この規格は,2008 年に第 1.2 版として発行された IEC 60432-3 を基とし,技術的内容を変更して作成し

た日本工業規格である。

なお,この規格で側線又は点線の下線を施してある箇所及び

附属書 JA は,対応国際規格を変更してい

る事項である。変更の一覧表にその説明を付けて,

附属書 JB に示す。

適用範囲 

この規格は,次の用途に使用する定格電圧 250 V 以下のハロゲン電球の安全性及び互換性について規定

する。ただし,非常時用照明器具用,自動車用,航空機用及びそれに類する用途のハロゲン電球は,この

規格の適用範囲外とする。

a) 

光学機器用(映画映写用及びスチール写真用電球を含む。

b) 

舞台・スタジオ・写真用

c) 

一般照明用両口金形

d) 

特殊用

e) 

一般照明用片口金形

f) 

舞台照明用

この規格は,JIS C 7551-2 で規定する,一般照明用白熱電球に直接代替可能な片口金一般照明用ハロゲ

ン電球は対象としない。

注記 1  ハロゲン電球の性能に関する要求事項は,JIS C 7527 に規定する。

注記 2  この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。

IEC 60432-3:2008

,Incandescent lamps−Safety specifications−Part 3: Tungsten-halogen lamps

(non-vehicle)(MOD)

なお,対応の程度を表す記号“MOD”は,ISO/IEC Guide 21-1 に基づき,

“修正している”

ことを示す。

引用規格 

次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの

引用規格は,その最新版(追補を含む。

)を適用する。


2

C 7551-3

:2011

JIS C 7551-1

  白熱電球類の安全仕様−第 1 部:一般照明用白熱電球

注記  対応国際規格:IEC 60432-1:2005,Incandescent lamps−Safety specifications−Part 1: Tungsten

filament lamps for domestic and similar general lighting purposes(MOD)

JIS C 7551-2

  白熱電球類の安全仕様−第 2 部:一般照明用白熱電球と互換性のあるハロゲン電球

JIS C 7709-0

  電球類の口金・受金及びそれらのゲージ並びに互換性・安全性  第 0 部:電球類の口金・

受金及びそれらのゲージ類の総括的事項

注記  対応国際規格:IEC 60061-4,Lamp caps and holders together with gauges for the control of

interchangeability and safety Part 4: Guidelines and general information(MOD)

JIS C 7709-1

  電球類の口金・受金及びそれらのゲージ並びに互換性・安全性  第 1 部:口金

注記  対応国際規格:IEC 60061-1,Lamp caps and holders together with gauges for the control of

interchangeability and safety Part 1: Lamp caps(MOD)

JIS C 7709-3

  電球類の口金・受金及びそれらのゲージ並びに互換性・安全性  第 3 部:ゲージ

注記  対応国際規格:IEC 60061-3,Lamp caps and holders together with gauges for the control of

interchangeability and safety Part 3: Gauges(MOD)

JIS Z 8113

  照明用語

注記  対応国際規格:IEC 60050-845:1987,International Electrotechnical Vocabulary. Lighting(MOD)

JIS Z 8812

  有害紫外放射の測定方法

用語及び定義 

この規格で用いる主な用語及び定義は,JIS C 7551-1JIS C 7551-2 及び JIS Z 8113 によるほか,次によ

る。

3.1 

ハロゲン電球(tungsten halogen lamp)

フィラメントがタングステンであって,ハロゲン元素又はハロゲン化合物を含むガス入り電球。

3.2 

片口金形ハロゲン電球(single-capped tungsten halogen lamp)

単一の口金をもつハロゲン電球。

3.3 

両口金形ハロゲン電球(double-capped tungsten halogen lamp)

各々の端部に口金をもつハロゲン電球。

3.4 

低電圧ハロゲン電球(extra low voltage tungsten halogen lamp)

定格電圧が 50 V 未満のハロゲン電球。

注記 ELV ハロゲン電球と略称する。

3.5 

低電圧低封入圧ハロゲン電球(extra low voltage low-pressure tungsten halogen lamp)

点灯中のガス圧が 2.5×10

5

Pa(2.5 bar)未満で,かつ,定格電圧が 12 V 以下のハロゲン電球。

3.6 

セルフシールドハロゲン電球(self-shielded tungsten halogen lamp)

電球自体に安全施策が盛り込まれており,照明器具に保護シールドが不要なハロゲン電球。


3

C 7551-3

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セルフシールドハロゲン電球の分類:

−  前面ガラス付き反射形又は二重管形で保護機能のあるハロゲン電球…K 記号付き

−  低電圧低封入圧ハロゲン電球…S 記号付き

−  JIS C 7551-2 に準拠した商用電圧ハロゲン電球

−  常温でのガス圧が 3.0×10

5

Pa 程度でこの規格の該当条項に準拠した商用電圧ハロゲン電球…P 記号付

3.7 

外管(outer envelope)

透明又は半透明で内側にハロゲン電球を内管としてもつ外囲。

注記  外管は,前面ガラス付きの反射鏡を含む。

3.8 

定格電圧(rated voltage)

関連する規格に規定した,又は製造業者若しくは責任ある販売業者が公表した電圧又は電圧範囲。

注記  電圧を電圧範囲で表示した場合,その電球はその範囲内でのいかなる電圧で使用してもよい。

3.9 

試験電圧(test voltage)

電球の性能を試験する場合の印加電圧。その他の規定がない場合は定格電圧。

注記  電圧を電圧範囲で表示した場合,その他の規定がない場合は電圧範囲の平均値を試験電圧とす

る。

3.10 

定格消費電力(rated wattage)

電球を規定の条件で点灯した場合の,製造業者又は責任ある販売業者が公表している電球の電力値。

3.11 

定格電流(rated current)

電球を規定の条件で点灯した場合の,製造業者又は責任ある販売業者が公表している電球の電流値。

3.12 

試験電流(test current)

電球の性能を試験する場合の印加電流。その他の規定がない場合は定格電流。

3.13 

有害紫外放射束(specific effective radiant UV power)

ハロゲン電球からの単位光束当たりの有害紫外放射の実効放射束。単位は,ミリワット毎キロルーメン

(mW/klm)で表す。

反射形ハロゲン電球の場合は,単位照度当たりの有害紫外放射照度。単位は,ミリワット毎平方メート

ルキロルクス[mW/(m

2

・klx)]で表す。

注記 1  有害紫外線強度(照度)は,電球の分光分布に米国産業衛生官会議(ACGIH)から公表され

ている作用波長を重み付けて得られる。これは,世界保健機関(WHO)によって確認され,

世界放射線防御協会(IRPA)によって推奨されている。

注記 2 ACGIH は American Conference of Governmental Industrial Hygienists の略称。

IRPA は International Radiation Protection Association の略称。


4

C 7551-3

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3.14 

最高許容封止部温度(maximum pinch temperature)

電球の点灯中耐えるように設計した,点灯中における電球の封止部(シール部)の最高温度。

3.15 

最高口金接点又は口金ピン部の最高許容温度(maximum lamp cap-contact, base-pin or base-post temperature)

電球の点灯中耐えるように設計した,点灯中における口金接点,口金ピン又は電球の封止部(シール部)

の最高許容温度。

3.16 

最高口金温度(maximum cap temperature)

電球の点灯中耐えるように設計した,電球の口金周辺の部品が許容できる最高温度。

3.17 

最高反射鏡外周部温度(maximum reflector-rim temperature)

電球の点灯中耐えるように設計した,前面ガラスと反射鏡との接着部の最高温度。

3.18

種別(group)

(対応国際規格の規定を不採用とした。

3.19

形式(type)

(対応国際規格の規定を不採用とした。

3.20

ファミリー(family)

(対応国際規格の規定を不採用とした。

3.21

設計試作時検査(design test)

(対応国際規格の規定を不採用とした。

3.22

形式検査(periodic test)

(対応国際規格の規定を不採用とした。

3.23

稼動時検査(running test)

(対応国際規格の規定を不採用とした。

3.24

ロット(batch)

(対応国際規格の規定を不採用とした。

3.25 

全生産品(whole production)

(対応国際規格の規定を不採用とした。

 

3.26 

アーク断線(breakdown)


5

C 7551-3

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電球のガラス球内の最も電位差の大きい 2 点間で生じるプラズマ放電。定格電流の 5 倍(検討中)を超

えた場合にアーク断線が生じたとみなす。

3.26A 

保護シールド 

万一ハロゲン電球が破損した場合,ハロゲン電球のガラス破片が照明器具外へ飛散することを防ぐため

のもの(例えば,ガラスカバー,金網など)及び紫外放射を防止するもの。

一般的安全要求事項 

4.1 

一般的要求事項 

ハロゲン電球は,通常の使用で,最終使用者及び周囲に危険がないように設計し,かつ,製造しなけれ

ばならない。

4.2 

表示 

4.2.1

電球への表示 

電球への表示は,次の事項を読みやすく,かつ,消えないように表示しなければならない。

a) 

製造業者名,責任ある販売業者名又はそのいずれかの商標若しくはその略号。

b) 

定格電力。

“W”又は“ワット”で表す。

c) 

定格電圧又は定格電圧範囲。

“V”又は“ボルト”で表す。

また,その試験方法は,JIS C 7551-1 の A.1(表示)による。

4.2.2 

付加情報及び表示

電球の最小包装容器などによって,包装容器の外部から見えるように,次の情報を表示する。

a)

照明器具に保護シールドを取り付ける必要がある電球の場合には,A.1 に示す図記号を表示すること

が望ましい。

b)

(照明器具に保護シールドを必要としない)セルフシールドハロゲン電球の場合には,A.2 に示す図

記号を表示しなければならない。

注記  JIS C 7551-2 に規定する電球の場合には適用しない。

c)

ダイクロイックミラー形反射鏡付き電球の場合には,A.3 に示す図記号を表示することが望ましい。

d)

定格電圧が 50 V∼250 V の両口金形電球の場合には,必ず照明器具の電源を切り離してから電球の取

付け又は取外しを行わなければならないことを示す警告の注意書き,又は A.4 に示す図記号を表示し

なければならない。

4.3 

口金 

4.3.1 

一般事項 

一般照明用片口金形低電圧ハロゲン電球用に設計された口金を,定格電圧 50 V 以上の一般照明用ハロゲ

ン電球に使用してはならない。

注記  一般照明用片口金形低電圧ハロゲン電球用の口金の例としては,G4,GU4,GY4,GX5.3,GU5.3,

G6.35,GY6.35,GU7 及び G53 がある。

GU10 口金は,アルミニウム膜付き反射鏡をもつ電球だけに用いる。G9 及び GU10 又は GZ10 口金は,

セルフシールドハロゲン電球だけに用いる。

4.3.2 

口金の沿面距離 

接点間又は口金の接点と金属シェルとの間の最小沿面距離は,JIS C 7709-0 に規定する寸法を満足しな

ければならない。


6

C 7551-3

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4.3.3 

寸法 

口金付きハロゲン電球では,JIS C 7709-1 に規定する寸法を満足する口金を用いなければならない。ま

た,JIS C 7709-3 に規定するゲージによって確認する。

4.4 

セルフシールドハロゲン電球の最大紫外放射 

セルフシールドハロゲン電球の単位光束当たりの有害紫外放射束は,2 mW/klm を超えてはならない。

反射形ハロゲン電球の単位照度当たりの有害紫外線放射照度は,2 mW/(m

2

・klx)を超えてはならない。測定

方法は,JIS Z 8812 による。

4.5 

低電圧低封入圧ハロゲン電球のガス圧 

片口金形低電圧低封入圧ハロゲン電球の点灯中のガス圧は,次の要求を満足しなければならない。測定

方法は,

附属書 による。

a)

冷間時のガス圧が 10

5

 Pa 以下

b)

電球の内容積が 1 cm

3

以下

c)

定格消費電力が 100 W 以下

4.6 

電圧区分 又は のセルフシールドハロゲン電球の寿命末期の安全性 

セルフシールドハロゲン電球の寿命末期の安全性は,

附属書 又は附属書 JA による。

4.7 

照明器具設計のための参考情報 

附属書 によることが望ましい。

検査 

5.1 

検査 

検査は,同一試験品を箇条 4

附属書 A,附属書 BJIS C 7551-1 の附属書 A(各種の試験方法),附属

書 D(強制破損試験)及び附属書 E(点灯破損試験の手順)に規定する方法で次の項目について行い,箇

条 に適合しなければならない。

a)

表示

1)

表示の読みやすさ

2)

表示の耐久性

3)

必要な表示の有無

b)

口金に対する一般事項

c)

感電に対する保護

d)

口金の沿面距離

e)

口金の寸法

f)

セルフシールドハロゲン電球の最大紫外放射

g)

低電圧低封入圧ハロゲン電球のガス圧

h)

電圧区分 B 又は C のセルフシールドハロゲン電球の寿命末期の安全性


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C 7551-3

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附属書 A

(規定)

包装容器への図記号(ピクトグラム)

ハロゲン電球の包装容器に表示する図記号の高さは 5 mm 以上,文字の高さは 2 mm 以上でなければな

らない。

A.1 

器具への保護シールドが必要なハロゲン電球 

この図記号は,照明器具に保護シールドを必要とするハロゲン電球であることを示している。

A.2 

セルフシールドハロゲン電球 

この図記号は,照明器具に保護シールドを必要としないことを示している。

A.3 

ダイクロイックミラー形反射鏡付きハロゲン電球 

この図記号の表示は,ハロゲン電球を不適合な照明器具に用い,このために生じる過熱事故を防止する

ための安全対策である。

注記  ガラス球の形状については,ハロゲン電球の形状によって変わる。


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C 7551-3

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A.4 

商用電圧両口金形ハロゲン電球 

この図記号は,照明器具の電源を切り離してから電球の取付け又は取外しを行わなければならないこと

を示している。


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附属書 B

(規定)

低封入圧ハロゲン電球の封入ガス圧測定方法

測定方法は,次による。

a)

電球の管壁に,ほぼ 0.5 mm の厚さを残す程度まで,最大直径 1 mm の穴を超音波ドリルによってあけ

る。

b)

電球を 15  ℃の水の中に最大水深 30 cm まで沈め,その後水気を拭き取り,質量 G

1

(g)をはかる。

c)

電球を再度水中に沈め,既にあけておいた穴を貫通させる

1)

。電球内の圧力が外部と等しくなったと

き,内部のガスが逃げないように注意しながら水中から引き上げ,その後水気を拭き取り,質量 G

2

 (g)

をはかる。

1)

  管壁の穴を貫通させるときには,ガラス片を全て集めるよう注意する。

d)

電球を再度水中に入れ,注射器で管内を水で満たし,水気を拭き取り,質量 G

3

(g)をはかる。

e)

常温における封入ガス圧力 P(Pa)を,次の式によって求める。

H

L

V

P

×

=

 

ここに,

V

大気圧時の封入ガス量(cm

3

V

G

3

G

2

2)

L

電球内容積(cm

3

L

G

3

G

1

2)

H

大気圧(Pa)

2)

15  ℃,1 013×10

5

 Pa(760 mmHg)の条件下では,1 L の水の質量は 1 kg である。


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C 7551-3

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附属書 C 
(参考)

照明器具設計のための参考情報

C.1 

一般 

ハロゲン電球を使用するために,照明器具は C.2C.12 に従って設計することが望ましい。

C.2 

保護シールド 

ハロゲン電球用器具(セルフシールドハロゲン電球を除く。

)には,保護シールド(例えば,ガラスカバ

ー,金網など)を備えることが望ましい。

注記  セルフシールドハロゲン電球の例を,3.6 に示す。

C.3 

セルフシールドハロゲン電球用器具 

セルフシールドハロゲン電球用器具には,A.2 に示す図記号を表示することが望ましい。

注記  この図記号は,従来の電球用器具には該当しない。 

C.4 

ダイクロイックミラー形反射鏡付きハロゲン電球用照明器具 

照明器具の設計は,ダイクロイックミラー形反射鏡付きのハロゲン電球(熱の大部分を後方へ放射)と

アルミ反射鏡付きのハロゲン電球(熱の大部分を前方へ放射)との熱挙動の違いを考慮に入れて,設計す

ることが望ましい。反射形 GZ10 口金付き電球用器具の場合,両方の電球に適合するように設計すること

が望ましい。

4.2.2

に従って表示されたダイクロイックミラー形反射形ハロゲン電球は,専用器具で使用する。これら

の電球は,アルミ反射鏡付きのハロゲン電球と同じガラス球形状をしており,一般的な照明器具で使用す

ると,過熱の危険がある。照明器具への表示条件は,JIS C 8105-1 による。

C.5 

口金と受金との適合 

一般照明用片口金形低電圧ハロゲン電球用の受金は,定格電圧 50 V 以上の一般照明電球用器具に使用し

ないほうがよい。

注記 1  一般照明用片口金形低電圧ハロゲン電球用の口金の例としては,G4,GU4,GY4,GX5.3,

GU5.3,G6.35,GY6.35,GU7 及び G53 がある。

注記 2  我が国では,定格電圧 50 V 以上の一部の光学機器用ハロゲン電球において,G6.35 口金が使

用されている。

C.6 

直列点灯 

一般照明用片口金形低電圧ハロゲン電球は,直列で使用してはならない(直列専用に設計され,かつ,

電球製造業者によって認められた場合を除く。

。ただし,電球の電圧又は電流を適切に制限する回路を使

用する場合は,その限りではない。

C.7 

外部ヒュ−ズ 

C.7.1 

一般照明用片口金形低電圧ハロゲン電球 

定格電圧 24 V 以上 50 V 未満の一般照明用片口金形低電圧ハロゲン電球は,常に

表 C.1 に示すヒューズ


11

C 7551-3

:2011

を直列接続して点灯することが望ましい。

この場合,ヒューズは,変圧器/コンバータの 2 次側(電球側)回路側に入れることが望ましい。

表 C.1−一般照明用片口金形低電圧ハロゲン電球のヒューズの定格値 

電球

ヒューズの定格電流

a)

定格電圧

定格電力 A

V W

 20

2.0

 50

4.0

24 75

6.3

 100

6.3

 150

10.0

b)

注記  その他の定格電力及び定格電圧のハロゲン電球用のヒューズの定格値については,検討中。 

a)

  高遮断容量の 250 V“速動形”ミニチュアヒューズ(JIS C 6575-2 参照)

b)

  JIS C 6575-2 では規定していないが,一般的に使用されている。 

C.7.2 

舞台・スタジオ・写真用ハロゲン電球 

舞台・スタジオ・写真用ハロゲン電球は,

表 C.2 に示すヒューズを直列接続して点灯することが望まし

い。

表 C.2−舞台・スタジオ・写真用ハロゲン電球のヒューズの定格値

電球

ヒューズの定格電流

定格電圧

定格電力

A

V W

a) b) 

100∼135  500

6.3

200∼250

4.0

100∼135  600

6.3

200∼250

4.0

100∼109

10.0

 c)

 10.0

110∼135  650

6.3

6.0

200∼250

4.0

4.0

100∼135  800

10.0

 c)

 10.0

200∼250

6.3

6.0

100∼109

− 16.0

110∼135

1

000

10.0

 c)

 10.0

200∼250

6.3

6.0

200∼250

1

250

10.0

 c)

 10.0

100∼135

− 25.0

200∼219

2

000

− 16.0

220∼250

− 10.0

110∼135

− 50.0

200∼219

5

000

− 35.0

220∼250

− 25.0

110∼135

10

000

− 100.0

200∼250

− 50.0

a)

  高遮断容量の 250 V“速動形”ミニチュアヒューズ(JIS C 6575-2 参照)

b)

 500

V の“速動形”D ヒューズ(IEC 60269-3-1 参照)

c)

  JIS C 6575-2 では規定していないが,一般的に使用されている。


12

C 7551-3

:2011

C.8 

セルフシールドハロゲン電球の最高許容ガラス球温度 

セルフシールドハロゲン電球の最高許容ガラス球温度は,使用中の状態で

表 C.3 に示す値を超えないほ

うがよい。

この許容温度を守ることによって,ガラス球の劣化を避けることができる。

表 C.3−最高許容ガラス球温度 

電球の定格電力

最高許容ガラス球温度

W

  20 以下 600 
 20 超え 50 以下

検討中

 50 超 900

測定の条件及び方法は,

附属書 による。

C.9 

セルフシールドハロゲン電球の最高許容封止部温度 

関連するデータシートに記載がない場合,セルフシールドハロゲン電球の封止部温度は,350  ℃を超え

ないほうがよい。

封止部温度の測定方法については,JIS C 7802 の規定による。

C.10 

口金接点又は口金ピン部の最高許容温度 

関連するデータシートに記載していない限り,点灯時の口金接点又は口金ピン部の温度は,次に示す最

高許容温度を超えないほうがよい。測定は,受金及び電気的に接続している口金部位で行う。測定の条件

及び方法は,

附属書 による。

注記 1  この測定は,照明器具の検査時に行われる受金の温度上昇試験と組み合わせて行ってもよい。

受金の接点とピンとの間の温度差は,通常無視してよい。

注記 2  電球受金の動作温度測定点は,口金及び電気的に接触する箇所とする。

a)

低電圧用 形口金  この項は,G4,GU4,GX5.3,GU5.3,GY6.35 及びこれと類似の口金をもつ一般

照明用ハロゲン電球について記載する。

点灯時の口金ピン温度は,

表 C.4 に示す値を超えないほうがよい。

表 C.4−最高許容ピン温度 

定格消費電力

最高許容ピン温度

W

   20 以下 220 
 20 超え 50 未満 250 
 50 以上 300

b)

商用電圧用 形口金  この項は,GU7,GU10,GZ10 及びこれと類似の口金をもつ一般照明用ハロゲ

ン電球について記載する。点灯時の口金ピン温度は,250  ℃を超えないほうがよい。

c)

B

形及び 形口金  一般照明用片口金低電圧ハロゲン電球の口金については,電気的接触部で測定し

た温度が,

表 C.5 に示す値を超えないほうがよい。測定は,口金及び電気的に接触している受金部位


13

C 7551-3

:2011

で行う。

表 C.5−最高許容接点部温度 

口金

最高許容接点部温度

EZ10

検討中

B15d/BA15d 250

商用電源で使用される一般照明用片口金ハロゲン電球で,B15d などの口金を使用したものについての温

度は,口金外周部で測定し,JIS C 7551-2 

附属書 C(照明器具設計のための参考情報)に示す値を超え

ないほうがよい。

注記 E11 口金については,検討中である。

C.11 

最高許容反射鏡外周部温度 

前面ガラス付き反射形ハロゲン電球の点灯時の最高許容反射鏡外周部温度は,

表 C.6 に示す値を超えな

いほうがよい。測定の条件及び方法については,

附属書 に示す。

表 C.6−最高許容反射鏡外周部温度 

反射鏡

定格電圧

定格電力

最高許容温度

直径

口金 V  W

mm

35 GU4/GZ4  12 12,20,35 220 
51 GU5.3/GX5.3  12

20,35 180

51 GU5.3/GX5.3 12 50,65,75 220 
51 GU7  12 20,35 180 
51 GU7  12 50,65 220 
51 GU10/GZ10

50∼250 50

240

64 GU10/GZ10

50∼250 75

240

C.12 

水に対する保護 

この規格が対象とする全ての電球は,水(例えば,水滴,水しぶきなど)に対しては,IPX1(JIS C 0920

参照)又はそれ以上の照明器具によって保護することが望ましい。

注記 IP 番号の X は,省略された数字であることを示し,二桁の適切な数字は,照明器具に表示され

る。


14

C 7551-3

:2011

附属書 D 
(規定)

設計試験の適合条件

(規定内容は,我が国と考え方が違うため不採用とした。


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C 7551-3

:2011

附属書 E

(参考)

ハロゲン電球のガラス球温度の測定方法

E.1 

測定条件 

C.8

で記載したガラス球温度は,次の関連する照明器具又は装置の規定によって測定する。

a)

光学機器用電球は,JIS C 9335-2-56 の箇条 11(温度上昇)による。

b)

舞台・スタジオ・写真用,

一般照明用両口金形,

一般照明用片口金形及び舞台照明用電球は,JIS C 8105-2

規格群による。

c)

特殊用電球は,検討中である。

E.2 

測定方法 

最も簡単なガラス球温度測定方法としては,赤外線温度計を用いる方法がある。

この方法が適用できない場合は,熱電対による方法を用いる。

注記 1  熱電対の接点とガラス球との接触は非常に重要なので,ばね,接着剤などを用いて密着させ

てもよい。熱電対及び接着剤を用いることに関する詳細な内容は,JIS C 7802 による。

注記 2  熱電対自体及び接着剤(用いる場合)は,放射による熱を多少は吸収するので,チャート式

レコーダを接続することが望ましい。温度が安定したらハロゲン電球の電源を切る。温度は

すぐに降下するが,約 0.5 秒間後から温度降下の割合は安定する。時間対温度曲線のこの安

定部分から外挿することによって,電源を切った瞬間の真の温度を決定する。


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C 7551-3

:2011

附属書 F

(規定)

セルフシールドハロゲン電球(P 記号付き以外)の強制破損試験方法

F.1 

試験回路及び装置 

試験回路は,次の事項を満足しなければならない。

− 50

Hz 又は 60 Hz で,定格電圧の±2 %以内の精度で試験電圧を印加できる主電源。

−  ヒューズは,定格電圧 220 V∼250 V の電球では 25 A 以上のもの,220 V 以下の電球では 15 A(検討

中)のものとする。

試験する電球に安全カバーをかぶせる。

フィラメントを断線させるために,適切な出力のレーザを用いる。落下試験機,衝撃試験機,振動試験

機などを用いてもよい。

注記  レーザとしては,例えば,ネオジウムガラス・レーザがある。

以上の要求を満たす,ヒューズ及び配線を含む全回路のインダクタンス並びに抵抗は,次の条件を満足

しなければならない。

a)

定格電圧 200 V∼250 V の電球

抵抗(Ω)

: 0.4∼0.45

インダクタンス(mH)

: 0.6∼0.65

b)

定格電圧 100 V∼150 V の電球

抵抗(Ω)

: 0.3∼0.35

インダクタンス(mH)

: 0.6∼0.65

電流を測定するには,記録時間が 1 秒間以上,時間の分解能が 0.1 ms 以下,電流の分解能が 0.1 A 以下

の電流測定装置を導入しなければならない。ただし,最大電流範囲は 500 A 以下でなければならない。

F.2 

試験方法 

JIS C 7551-2

の A.2(試験方法)によるほか,次による。

F.2.1 

レーザを用いる場合 

試験する電球をソケットに入れ,安全カバーをかぶせる。カバーの小さな孔からレーザビームでフィラ

メントを狙う。定格電圧で電球を点灯し,温度が十分安定した後,レーザパルスを当てる。

フィラメントの断線が起こらなかった場合,レーザの出力を上げてもう一度試験し,フィラメントの断

線が起こるまでこれを続ける。

注記 1  ハロゲン電球のガラス球表面仕上げ,又は外管の構造に邪魔されてビームの焦点が合わない

場合は,特別に試験品を用意してもよい。

アーク放電を起こさなかった電球は除外して,新しい電球を試験する。

注記 2  アーク放電を起こさないでフィラメントが断線した場合,レーザの的になった場所のちょう

ど上の最適な電位差をもつ位置に的を変えることで,より簡単にアーク放電を起こすことが

できる。この場所では,蒸発したタングステンがアーク放電を起こすのを助長する。

F.2.2 

落下試験機,衝撃試験機,振動試験機などを用いる場合 

レーザの代替装置として落下試験機,衝撃試験機,振動試験機などを用いる場合は,試験する電球をソ


17

C 7551-3

:2011

ケットに入れ,安全カバーをかぶせる。定格電圧で電球を点灯し,温度が十分安定した後,落下試験機,

衝撃試験機,振動試験機などを用いてフィラメントに負荷を与えて断線させる。

フィラメントの断線が起こらなかった場合には,試験サンプルを交換し,負荷を高める,又はもう一度

試験し,フィラメントが断線するまでこれを続ける。

F.3 

検査及び評価方法 

JIS C 7551-2

の A.3(検査及び評価)によるほか,次による。

F.3.1

  試験の後,個々の電球について,次のことを確認しなければならない。 

a)

ガラス球に異常がある。

b)

ガラス球が口金から外れている。

c)

差込み形口金(B 形)の場合,頂部の接点とシェル部とで短絡している。

電球にこれらの不具合があれば,不適合とする。

F.3.2

  電圧区分 C の G9 口金付きの電球では,アーク放電の電流の曲線を分析する。そのためには,全て

の電流値を,正の値に変換しなければならない。

結果の曲線は,高さ 200 A 及び時間 2 ms で形成する最初の四角形,並びに高さ 10 A 及び時間 5 ms で形

成する次の四角形を超えてはならない。

電流曲線が上記の範囲に収まらない場合,電球は不適合とする。

上記の曲線は,片口金形の電球を製造する経験によるものである。両口金形の電球では,時間は検討中

である。

注記  その他の口金及び電圧区分 B の試験は,検討中である。 


18

C 7551-3

:2011

附属書 JA

(規定)

セルフシールドハロゲン電球(P 記号付き)の寿命末期の安全性確認方法

JA.1 

試験回路及び装置 

試験回路は,次を満足しなければならない(試験システム例:

図 JA.1)。

a) 50

Hz 又は 60 Hz で,電球の定格電圧の−2 %の以内の主電源。

b)

試験する電球に,安全カバーをかぶせる。

c)

電球の点灯方向は,水平又は垂直とする。

d)

点灯回路内には,アーク持続時間を測定するためのオシロスコープを挿入する。

e)

フィラメントを断線させるために,落下試験機,衝撃試験機,振動試験機,レーザなどを用いる。

JA.2 

試験方法 

試験するハロゲン電球をソケットに入れ,安全カバーをかぶせる。

まず,定格電圧でハロゲン電球を点灯し,温度が十分安定した後,フィラメントを断線させる。フィラ

メントは,1 回の衝撃で断線させることとし,1 回で切れなかった場合は,試験サンプルを交換する。フィ

ラメントを断線させる方法は,落下試験機,衝撃試験機,振動試験機,レーザなどを用いる。

図 JA.1−試験システム例 

JA.3 

評価方法 

試験後に,次の評価方法で評価を行う。

a)

フィラメントが断線してからアーク発生,ガラス球破損又は消弧するまでの様子を,高速ビデオシス

テム,オシロスコープなどで観察し,アークが持続する時間を測定する。

b)

測定した各サンプルのアーク持続時間を基に,信頼度曲線を求める。

なお,評価サンプルは,20 個以上とする。

c)

求めた信頼度曲線が,

表 JA.1 の値であることを確認する。


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C 7551-3

:2011

表 JA.1−セルフシールドハロゲン電球(記号付き)の安全性評価基準 

残存率

%

アーク持続時間

ms

周波数 60 Hz 時

周波数 50 Hz 時

0 10 以下 12 以下

50

5 以下

  6 以下


20

C 7551-3

:2011

参考文献

JIS C 0920

  電気機械器具の外郭による保護等級(IP コード)

JIS C 6575-2

  ミニチュアヒューズ−第 2 部:管形ヒューズリンク

注記  対応国際規格:IEC 60127-2,Miniature fuses−Part 2: Cartridge fuse-links(MOD)

JIS C 7527

  ハロゲン電球(自動車用を除く)−性能仕様

注記  対応国際規格:IEC 60357,Tungsten halogen lamps (non vehicle)−Performance specifications

(MOD)

JIS C 7802

  石英ランプの封止部温度測定方法

注記  対応国際規格:IEC 60682,Standard method of measuring the pinch temperature of quartz-tungsten-

halogen lamps(MOD)

JIS C 8105-1

  照明器具−第 1 部:安全性要求事項通則

注記  対応国際規格:IEC 60598-1,Luminaires−Part 1: General requirements and tests(MOD)

JIS C 8105-2

(規格群)  照明器具

注記  対応国際規格:IEC 60598-2 (all parts),Luminaires

JIS C 9335-2-56

  家庭用及びこれに類する電気機器の安全性−第 2-56 部:プロジェクタ及びこれに類

する機器の個別要求事項

注記  対応国際規格:IEC 60335-2-56,Household and similar electrical appliances−Safety−Part 2-56:

Particular requirements for projectors and similar appliances(IDT)

IEC 60269-3

,Low-voltage fuses−Part 3: Supplementary requirements for fuses for use by unskilled persons

(fuses mainly for household and similar applications)−Examples of standardized systems of fuses A to F


21

C 7551-3

:2011

附属書 JB

(参考)

JIS

と対応国際規格との対比表

JIS C 7551-3:2011

  白熱電球類の安全仕様−第 3 部:ハロゲン電球(自動車用を除

く)

IEC 60432-3:2008

  Incandescent lamps−Safety specifications−Part 3: Tungsten-halogen

lamps (non-vehicle)

(I) JIS の規定 (III)

国際規格の規定 (IV)

JIS

と国際規格との技術的差異の箇条ご

との評価及びその内容

箇 条 番 号
及び題名

内容

(II) 
国 際 規

格番号

箇 条
番号

内容

箇条ごと
の評価

技術的差異の内容

(V) JIS と国際規格との技術的差異の
理由及び今後の対策

1  適 用 範

定格電圧 250 V 以下
のハロゲン電球の安
全性及び互換性につ

いて規定。

 1.1

JIS

とほぼ同じ。

追加

非常時用照明器具用,自動車用,
航空機用及びそれに類する用途の
ハロゲン電球は,適用範囲外とし

た。

自動車用及びそれに類する用途のハ
ロゲン電球はその他の JIS,航空機用
は灯器仕様書で規定している。また,

JIS C 7527

に適用範囲を合わせてき

た経緯があり,今回の改正でも適用
範囲を合わせた。

追加

注記 1 で,性能は JIS C 7527 で規
定するものとした。

性能は,JIS C 7527 で規定している
ため。

2  引 用 規

3  用 語 及
び定義

19 用語を定義。   1.3

26 用語を定義。

変更

JIS C 7527

JIS C 7551-1 及び JIS 

C 7551-2

と重複している用語及び

定義がある。

技術的差異はない。

4  一般的 
安全要求 
事項

4.2.1

2.2.1

表示の有無及び読みやすさ
は,目視で確認する。 
水に湿らせた柔らかい布

で 15 秒表示部分をこす
る。

変更

試験方法は JIS C 7551-1 の附属書
A によることとした。

技術的差異はない。

21

C

 7551-3


20
1

1


22

C 7551-3

:2011

(I) JIS の規定 (III)

国際規格の規定 (IV)

JIS

と国際規格との技術的差異の箇条ご

との評価及びその内容

箇 条 番 号

及び題名

内容

(II) 
国 際 規
格番号

箇 条

番号

内容

箇条ごと

の評価

技術的差異の内容

(V) JIS と国際規格との技術的差異の
理由及び今後の対策

4.2.2

2.2.2

“wrapping or container”に

表示と規定。

変更

“最小包装容器などによって,包

装容器の外部から見えるように”
と変更。

消費者への周知を促すために,表示

場所を明確にした。

4  一般的 
安 全 要 求
事 項 ( 続
き)

変更

器具への保護シールドが必要なハ

ロゲン電球,及びダイクロイック
ミラー形反射鏡付きハロゲン電球
で,図記号表示義務規定を推奨範

囲に変更。

安全性の観点から表示は必要である

が,電球は小形であることが特徴の
一つで,包装容器も小形のものが多
い。このため表示しにくいこともあ

り,今後“義務規定”とするかは,
検討が必要である。

 4.3.3

寸法

2.3.3

IEC 60061-1

に規定のない

口金は,製造業者の仕様書
によって確認すると規定。

削除

規格に規定のない口金に関する規
定は削除した。

今後,IEC に修正意見を出す予定。 

 4.4

セ ル フ シ ー ル ド

ハロゲン電球の最大
紫外放射

 2.4

分光分布を測定し,評価す
ると規定。

変更

JIS Z 8812

によると規定。

技術的な差異はない。

 4.6

電圧区分 B 又は C

のセルフシールドハ

ロゲン電球の寿命末
期の安全性

 2.6

JIS

とほぼ同じ。

選択

IEC

規格の方法は附属書 F で規定

し,我が国の固有方法として附属

書 JA を追加し,いずれかの方法
によるとした。

安全性評価方法が,我が国固有の方
法と異なるため。

 
 
 
 
 
 

22

C

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20
1

1


23

C 7551-3

:2011

(I) JIS の規定 (III)

国際規格の規定 (IV)

JIS

と国際規格との技術的差異の箇条ご

との評価及びその内容

箇 条 番 号

及び題名

内容

(II) 
国 際 規
格番号

箇 条

番号

内容

箇条ごと

の評価

技術的差異の内容

(V) JIS と国際規格との技術的差異の
理由及び今後の対策

5  検査

3

認証機関による認証方式

を含めて規定。 

変更

試験項目に対するロット構成が

IEC

規格と異なる。

商習慣の差異,ロット構成法の違い

による品質保証システムの相違があ
り,我が国には IEC 規格に規定され
た認証機関による認証制度がない。

我 が 国 で は 安 全 性 評 価 に 平 均 値
(AQL)で管理する方法はなじまな
い。を減数し,c=0 の判定基準を

IEC

に提案する予定。

附属書 A 
(規定)

A.3

Annex 
A

JIS

とほぼ同じ。 

削除

ダイクロイックミラー形反射鏡付
きハロゲン電球の包装容器に表示

す る 図 記 号 の 意 匠 文 言 “ COOL 
BEAM”を削除。

当 該文 言が 商標 登録 され てい る た
め,削除した。

附属書 C 
(参考)

C.5  口金と受金との
適合

 Annex

C

JIS

とほぼ同じ。

追加

一部の光学機器用ハロゲン電球と
して,G6.35 口金付きを注記に記
載。

我が国において広く普及しているた
め,注記で追加した(IEC へ追加提
案したが,否決された。

 C.10

口金接点又は口

金ピン部の最高許容
温度

 Annex

C

JIS

とほぼ同じ。

追加

“a)  低電圧用 G 形口金”及び“b) 
商用電圧用 G 形口金”において,
“及びこれと類似の口金をもつ一

般照明用ハロゲン電球”と追記し
た。

多種多様の製品が存在する。安全性
確保のため追加した。

附属書 D 
(規定)

IEC

規格を不採用

Annex 
D

削除

不採用

箇条 5 の相違によって,削除した。

附属書 F

(規定)

セルフシールドハロ

ゲン電球(P 記号付き
以外)の強制破損試験
方法

 Annex

F

JIS

とほぼ同じ。

変更

レーザを用いる方法のほか,落下

試験機,衝撃試験機,振動試験機
などを用いてもよいこととした。

箇条 5 の相違による。

23

C

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20
1

1


24

C 7551-3

:2011

(I) JIS の規定 (III)

国際規格の規定 (IV)

JIS

と国際規格との技術的差異の箇条ご

との評価及びその内容

箇 条 番 号

及び題名

内容

(II) 
国 際 規
格番号

箇条

番号

内容

箇条ごと

の評価

技術的差異の内容

(V) JIS と国際規格との技術的差異の
理由及び今後の対策

附属書 JA

(規定)

セルフシールドハロ

ゲン電球(P 記号付
き)の寿命末期の安全
性確認方法

追加

レーザよりも簡便な試験方法を

追加。また,評価基準が異なる。

我が国の固有の確認方法を規定。

参考文献

この規格で参照して
いる JIS 及び IEC 
格を記載。

− Bibliography で,12 件を記

載。

変更

対応する JIS で記載。

技術的問題はない。

JIS

と国際規格との対応の程度の全体評価: IEC 60432-3:2008,MOD

注記 1  箇条ごとの評価欄の用語の意味は,次による。

    −  削除……………… 国際規格の規定項目又は規定内容を削除している。 
    −  追加……………… 国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。

    −  変更……………… 国際規格の規定内容を変更している。 
    −  選択……………… 国際規格の規定内容とは異なる規定内容を追加し,それらのいずれかを選択するとしている。

注記 2  JIS と国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は,次による。

    −  MOD……………  国際規格を修正している。

 
 
 
 

24

C

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20
1

1