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C 62246-1-1

:2016

(1)

目  次

ページ

序文  

1

1

  適用範囲  

1

2

  引用規格  

1

3

  用語及び定義  

2

3.1

  リードスイッチの特性分類に関する用語及び定義  

2

3.2

  品質評価検査に関する用語及び定義  

3

3.3

  検査に関する用語及び定義  

3

4

  試験の計画  

3

4.1

  試験の手順に対する一般要求事項 

3

4.2

  形式試験(開発・設計段階)  

3

4.3

  品質評価検査(生産)  

3

4.4

  検査ロット  

4

4.5

  検査間隔  

4

4.6

  試験及び検査の標準条件  

4

4.7

  試験ジグの取付け  

4

4.8

  試験及び検査の一般要求事項  

4

5

  リードスイッチの特性値  

27

5.1

  リードスイッチの基本特性値  

27

5.2

  標準試験コイル番号  

28

5.3

  接点データ  

28

5.4

  環境性データ  

33

6

  信頼性−故障率データ  

33

7

  表示 

33

7.1

  リードスイッチの表示  

33

7.2

  包装箱の表示  

34

附属書 A(規定)標準試験コイルでの配置  

35

附属書 B(規定)特性分類品  

36

附属書 C(参考)適用事例  

37

附属書 JA(参考)JIS と対応国際規格との対比表  

39


C 62246-1-1

:2016

(2)

まえがき

この規格は,

工業標準化法第 12 条第 1 項の規定に基づき,

一般社団法人日本電気制御機器工業会

(NECA)

及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出

があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が制定した日本工業規格である。

この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。

この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意

を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実

用新案権に関わる確認について,責任はもたない。

JIS C 62246

の規格群には,次に示す部編成がある。

JIS C 62246-1

  第 1 部:品目別通則

JIS C 62246-1-1

  第 1-1 部:品質評価及び試験方法


日本工業規格

JIS

 C

62246-1-1

:2016

リードスイッチ−

第 1-1 部:品質評価及び試験方法

Reed switches-Part 1-1: Detail specification-Quality assessment

序文 

この規格は,2013 年に第 1 版として発行された IEC 62246-1-1 を基とし,技術的内容を変更して作成し

た日本工業規格である。

なお,この規格で点線の下線を施してある箇所は,対応国際規格を変更している事項である。変更の一

覧表にその説明を付けて,

附属書 JA に示す。

適用範囲 

この規格は,JIS C 62246 の規格群の個別規格(品質評価及び試験方法)であり,一般用及び産業用途に

使用するリードスイッチの要求事項及び試験項目について規定する。

この規格は,JIS C 62246-1 と併用して用いる。

この規格は,JIS C 62246-1,及び JIS C 62246-1 の仕様から由来した個別規格に使用する適切な試験手順

から選定し,それらで構成している。

リードスイッチの品種は,特性値及び試験項目に従って規定する。

注記 1  水銀入りリードスイッチは,環境問題からこの規格の適用範囲から除いている。

注記 2  この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。

IEC 62246-1-1:2013

,Reed switches−Part 1-1: Generic specification−Quality assessment(MOD)

なお,対応の程度を表す記号“MOD”は,ISO/IEC Guide 21-1 に基づき,

“修正している”

ことを示す。

引用規格 

次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの

引用規格は,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追補を含む。

)は適用しない。

JIS C 6575-2:2013

  ミニチュアヒューズ−第 2 部:管形ヒューズリンク

注記  対応国際規格:IEC 60127-2:2003,Miniature fuses−Part 2: Cartridge fuse-links(MOD)

JIS C 60068-2-6:2010

  環境試験方法−電気・電子−第 2-6 部:正弦波振動試験方法(試験記号:Fc)

注記  対応国際規格:IEC 60068-2-6:2007,Environmental testing−Part 2-6: Tests−Test Fc: Vibration

(sinusoidal)

(IDT)

JIS C 60068-2-11:1989

  環境試験方法(電気・電子)塩水噴霧試験方法

注記  対応国際規格:IEC 60068-2-11:1981,Basic environmental testing procedures−Part 2-11: Tests−

Test Ka: Salt mist(IDT)


2

C 62246-1-1

:2016

JIS C 60068-2-14:2011

  環境試験方法−電気・電子−第 2-14 部:温度変化試験方法(試験記号:N)

注記  対応国際規格:IEC 60068-2-14:2009,Environmental testing−Part 2-14: Tests−Test N: Change of

temperature(IDT)

JIS C 60068-2-20:2010

  環境試験方法−電気・電子−第 2-20 部:試験−試験 T−端子付部品のはんだ

付け性及びはんだ耐熱性試験方法

注記  対応国際規格:IEC 60068-2-20:2008,Environmental testing−Part 2-20: Tests−Test T: Test

methods for solderability and resistance to soldering heat of devices with leads(IDT)

JIS C 60068-2-21:2009

  環境試験方法−電気・電子−第 2-21 部:試験−試験 U:端子強度試験方法

注記  対応国際規格:IEC 60068-2-21:2006,Environmental testing−Part 2-21: Tests−Test U: Robustness

of terminations and integral mounting devices(IDT)

JIS C 60068-2-78:2004

  環境試験方法−電気・電子−第 2-78 部:高温高湿(定常)試験方法

注記  対応国際規格:IEC 60068-2-78:2001,Environmental testing−Part 2-78: Tests−Test Cab: Damp

heat, steady state(IDT)

JIS C 62246-1:2016

  リードスイッチ−第 1 部:品目別通則

注記  対応国際規格:IEC 62246-1:2015,Reed switches−Part 1: Generic specification(IDT)

JIS E 4031:2013

  鉄道車両用品−振動及び衝撃試験方法

注記  対応国際規格:IEC 61373:2010,Railway applications−Rolling stock equipment−Shock and

vibration tests(MOD)

用語及び定義 

主な用語及び定義は,JIS C 62246-1 の箇条 によるほか,次による。

3.1 

リードスイッチの特性分類に関する用語及び定義 

3.1.1 

品種(type)

製造業者が指定した仕様(寸法,接点構成,接点耐圧,開閉容量,封入ガスの種類など)によって分類

される製品。

3.1.2 

特性分類品(variant)

規定の特性をもつ品種内でのバリエーション。

注記  特性分類品の種類については,附属書 及び附属書 を参照。

3.1.3 

リードスイッチ(reed switch)

一対の磁性材料を各々弾性的に可動できるように,その一部をプレス加工した線材に適切な重なり及び

間隔をもたせ,封着用ガラス管に封入した磁気で駆動するスイッチ。

3.1.4 

高耐圧形リードスイッチ(high voltage vacuum reed switch)

高い電圧を開閉するためハーメチックシール管内を真空又は加圧して封着したリードスイッチ。

3.1.5 

重負荷形リードスイッチ(heavy-duty reed switch)

より大きな接点開閉容量をもつリードスイッチ。


3

C 62246-1-1

:2016

注記  一対の接点チップ又は磁極部と通電部とを完全に分離させ,接点チップ及び戻しばねを接点片

に追加したリードスイッチ。

3.2 

品質評価検査に関する用語及び定義 

3.2.1 

ルーチン検査(routine test)

出荷時に,各々のリードスイッチに行う適合検査。

3.2.2 

ロットごとの検査(lot-by-lot test)

月に 1 回以上,定期的に量産中の製品から抜き取ったリードスイッチのサンプルに行う検査。

3.2.3 

定期検査(periodic test)

サブグループ C1 の場合は年に 1 回以上,サブグループ C4 の場合は 2 年に 1 回以上,定期的に量産中の

製品から抜き取ったリードスイッチのサンプルに行う検査。

注記 1  定期検査の結果は,技術的な特性が確保されていることを確認するために使用する。

注記 2  サブグループは 4.5 を参照。

3.3 

検査に関する用語及び定義 

3.3.1 

検査水準,IL(inspection level)

ロット又はバッチの生産数量とサンプル数量との関係によって決定される検査量。

注記  ロットからの抜取サンプル数量は,検査水準の厳しさによって決まる。

3.3.2 

合格品質水準,AQL(acceptance quality level)

連続したロットの抜取検査で許容される工程平均の上限の品質水準。

試験の計画 

4.1 

試験の手順に対する一般要求事項 

試験の手順は,JIS C 62246-1 の箇条 6(試験及び測定方法)による。

4.2 

形式試験(開発・設計段階) 

形式試験の手順は,次による。

−  サンプリング及び試験の計画は,

表 及び表 によって行う。

−  規定する試験及びその順序は遵守しなければならない。

−  他に規定がない場合は,

表 及び表 に規定する試験は遵守しなければならない。

4.3 

品質評価検査(生産) 

製品は,出荷検査,抜取検査及び定期検査によって確認する。

品質評価検査を含む各検査は,次による。

−  グループ A:ルーチン検査

−  グループ A 及び B:ロットごとの検査

−  グループ C:定期検査

この個別規格に規定がない場合は,

表 の全ての検査を遵守しなければならない。

サブグループが含むルーチン検査,ロットごとの検査及び定期検査で,検査の順序は遵守しなければな


4

C 62246-1-1

:2016

らない。破壊検査(表中において記号 D)を行ったサンプルは,出荷してはならない。非破壊検査(表中

において記号 ND)を行ったサンプルは,出荷してもよい。

4.4 

検査ロット 

品質評価検査のサンプル数量は,1 か月間に生産するリードスイッチの量によって決定する。

4.5 

検査間隔 

検査間隔は,次のサブグループに分けて実施する。

−  サブグループ A0:  出荷時

−  サブグループ A4 及び B1:  月当たり 1 回以上

−  サブグループ C1:  年当たり 1 回以上

−  サブグループ C4:  2 年ごとに 1 回以上

4.6 

試験及び検査の標準条件 

全ての試験及び検査は,他に規定がない場合,JIS C 62246-1 の 6.3(試験の標準条件)に従い,標準試

験の条件で実施しなければならない。

4.7 

試験ジグの取付け 

リードスイッチの衝撃及び振動試験時に取り付けるジグは,試験に影響してはならない。

4.8 

試験及び検査の一般要求事項 

全ての試験及び検査は,他に規定がない場合,

表 で示す試験コイル番号を使用しなければならない。

個別規格に規定がない場合は,製造業者が接点の極性を規定しなければならない。


5

C 62246-1-1

:2016

表 1−品質評価検査方法 

グループ A 
サブグループ A0

全ての試験項目:全数検査

試験

番号

試験項目

試験の手順,試験条件など

特性要求事項:次に適合しな

ければならない。

A0-1

目 視 及 び 寸

法検査

(ND)

JIS C 62246-1

の 6.4(目視検査その他)による。

表 及び JIS C 62246-1 の 6.1
(試験及び測定方法に関す
る要求事項)による。

A0-2

機能試験 
(ND)

JIS C 62246-1

の 6.5(機能試験)の手順 1 による。

測定点及び標準試験コイル番号:

表 による。

感動値:

飽和値:  感動値の 150 % 
開放値:

接点測定電流(代表)

:  10 mA,24 V DC 以下

表 による。

A0-3

接触抵抗

(ND)

JIS C 62246-1

の 6.7(接触抵抗)による。

測定点:接点を閉じた端子間

初期値は,

表 による。

標準試験コイル番号:

試験コイル電圧:  感動値の 150 % 
最大試験電圧:  6 V DC 又は 6 V AC

最大試験電流:  1 A

表 による。

A0-4

耐電圧試験

(ND)

JIS C 62246-1

の 6.8(耐電圧試験)による。

測定点及び試験電圧:

試験時間:  1 min 
注記  詳細仕様に規定する高い電圧による短時間試験を行っ

てもよい。

表 による。 
最大リーク電流:  0.5 mA

A0-5

動作時間

(ND)

JIS C 62246-1

の 6.10(動作時間)による。

測定点及び標準試験コイル番号:

表 による。

試験コイル電圧:  感動値の 150 %

1)

動作時間

2)

復帰時間

3)

動作時のバウンス時間

接点の測定電流(代表)

:  10 mA,24 V DC 以下

表 による。

A0-6

気密度試験 
(ND)

JIS C 62246-1

の 6.21(気密度試験)による。

測定点及び標準試験コイル番号:

表 による。

重負荷形リードスイッチ:アーク遮断時間

試験コイル電圧:  感動値の 150 % 
試験電圧:  100 V DC∼110 V DC

試験電流:  0.5 A∼0.55 A

試験回数:  3 回 
リードスイッチ,高耐圧形:リーク試験

表 による。


6

C 62246-1-1

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表 1−品質評価検査方法(続き) 

サブグループ A4(周期検査対象:検査ロットは 1 か月当たりの生産量を対象とする。

試験

番号

試験項目

試験の手順,試験条件など IL

AQL

特性要求事項

1

目 視 及 び 寸
法検査

(ND)

JIS C 62246-1

の 6.4(目視検査その他)による。 S4

1.0

表 及び JIS C 62246-1
の 6.1(試験及び測定方

法に関する要求事項)に

よる。

2

機能試験

(ND)

JIS C 62246-1

の 6.5(機能試験)の手順 1 による。

測定点及び標準試験コイル番号:

表 による。 

感動値:

飽和値:  感動値の 150 %

開放値: 
接点測定電流(代表)

:  10 mA,24 V DC 以下

表 による。 

3

接触抵抗

(ND)

JIS C 62246-1

の 6.7(接触抵抗)による。

測定点:接点を閉じた端子間

初期値は,

表 による。

標準試験コイル番号:

試験コイル電圧:  感動値の 150 %

最大試験電圧:  6 V DC 又は 6 V AC 
最大試験電流:  1 A

表 による。

4

耐電圧試験

(ND)

JIS C 62246-1

の 6.8(耐電圧試験)による。

測定点及び試験電圧: 
試験時間:  1 min 
注記  詳細仕様に規定する高い電圧による短時間試

験を行ってもよい。

表 による。 
最大リーク電流: 
0.5 mA

5

動作時間 
(ND)

JIS C 62246-1

の 6.10(動作時間)による。

測定点及び標準試験コイル番号:

表 による。

試験コイル電圧:  感動値の 150 %

1)

動作時間

2)

復帰時間

3)

動作時のバウンス時間

接点測定電流(代表)

:  10 mA,24 V DC 以下

表 による。

6

気密度試験

(ND)

JIS C 62246-1

の 6.21(気密度試験)による。

測定点及び標準試験コイル番号:

表 による。

重負荷形リードスイッチ:アーク遮断時間

試験コイル電圧:  感動値の 150 %

試験電圧:  100 V DC∼110 V DC 
試験電流:  0.5 A∼0.55 A

試験回数:  3 回

リードスイッチ,高耐圧形:リーク試験

表 による。


7

C 62246-1-1

:2016

表 1−品質評価検査方法(続き) 

サブグループ B1(周期検査対象:検査ロットは 1 か月当たりの生産量を対象とする。

試験

番号

試験項目

試験の手順,試験条件など IL

AQL

特性要求事項

7

接 触 信 頼 性
試験

(D)

JIS C 62246-1

の 6.28(接触信頼性)による。 S3

2.5

リードスイッチ及び標準試験コイル番号:

試験コイル電圧:  感動値の 150 % 
コイル保護:  規定しない

通電率:  50 %

表 による。

接点負荷条件:

表 による。

取付条件:

表 による。試験中,毎
回チェックをする。

最終測定項目:

試験 3−接触抵抗

表 による。

試験 2−機能試験

表 による。

サブグループ C1(周期:1 年)

試験
番号

試験項目

試験の手順,試験条件など

抜取数

合否判定 
の故障数

特性要求事項

8

端子強度 
(D)

JIS C 62246-1

の 6.12(端子強度)による。

JIS C 60068-2-21 に準拠)

手順:  試験 Ua

1

−張力

最終測定項目:

6 0

表 による。 
 
端子部に破損又は抜け

がない。

試験 1−目視検査

割れ目又は他の悪化が
ない。

試験 2−機能試験

表 による。

試験 6−封着性

表 による。

9

はんだ付け

(D)

JIS C 62246-1

の 6.13(はんだ付け性及びは

んだ耐熱性)による。 
JIS C 60068-2-20,試験 Ta,方法  1 に準拠)

温度:  (250±5)℃

試験時間:  (2±0.5)s 
適用部位:  ガラス封着部から 5 mm 
 
JIS C 62246-1

の 6.13 による。

JIS C 60068-2-20,試験 Ta,方法 2 に準拠)

温度:  (350±5)℃

試験時間:  (3±0.5)s 
適用部位 :  ガラス封着部から 5 mm

最終測定項目:

5 0

拡大鏡で見たとき,浸せ

きした表面は 95 %新し
いはんだで覆われてい

る。残りの 5 %は小さな

ピンホールだけを含ん
でもよい。

試験 1−目視検査

割れ目又は他の悪化が

ない。

試験 2−機能試験

表 による。

試験 6−封着性

表 による。


8

C 62246-1-1

:2016

表 1−品質評価検査方法(続き) 

サブグループ C1(周期:1 年)

試験

番号

試験項目

試験の手順,試験条件など

抜取数

合否判定

の故障数

特性要求事項

10

急 激 な 温 度
変化

(D)

JIS C 62246-1

の 6.16(急激な温度変化)に

よる。

JIS C 60068-2-14 に準拠)

低温度: 
−50  ℃:重負荷形リードスイッチ

−40  ℃ :リードスイッチ及び高耐圧形リー

ドスイッチ

高温度: 
100  ℃:重負荷形リードスイッチ 
125  ℃:リードスイッチ及び高耐圧形リード

スイッチ

暴露時間: 
20 min:重負荷形リードスイッチ 
30 min:リードスイッチ及び高耐圧形リード

スイッチ

置換え時間: 
1 min:重負荷形リードスイッチ 
15 min:リードスイッチ及び高耐圧形リード

スイッチ

試験サイクル数: 
10 回:重負荷形リードスイッチ 
5 回:リードスイッチ及び高耐圧形リードス

イッチ

最終測定項目:

6 0

試験 4−耐電圧試験

表 による。

試験 2−機能試験

表 による。

試験 3−接触抵抗

表 による。

試験 1−目視検査

割れ目又は他の悪化が
ない。

試験 6−封着性

表 による。


9

C 62246-1-1

:2016

表 1−品質評価検査方法(続き) 

サブグループ C1(周期:1 年)

試験

番号

試験項目

試験の手順,試験条件など

抜取数

合否判定

の故障数

特性要求事項

11

振動 
(D)

機能確認

JIS C 62246-1

の 6.18(振動)による。 6

0

接点開の状態で,10  μs
以上のチャタリングが

ない。

リードスイッチ及び標準試験コイル番号:

試験コイル電圧:  感動値の 150 %

表 による。

取付方向:

可動接点は交差する方

向に配置する。

振動条件:

適用:  3 軸方向 
1 軸当たりの掃引回数:  3 回 
掃引率:  1 min 当たり 1 オクターブ±10 %

総試験時間:  約 30 min 
接点測定電流:  24 V DC,10 mA 以下

最終測定項目:

表 による。

試験 1−目視検査

割れ目又は他の悪化が

ない。

試験 2−機能試験

表 による。

試験 6−封着性

表 による。

12

電 気 的 耐 久

性試験

(D)

JIS C 62246-1

の 6.22(電気的耐久性)によ

る。

6 0

リードスイッチ及び標準試験コイル番号:

試験コイル電圧:  感動値の 150 % 
コイル保護回路:  規定しない

通電率:  50 %

表 による。

接点負荷条件:

表 による。

監視条件:

表 による。 
試験中,各サイクルでチ

ェックをする。

最終測定項目:

試験 3−接触抵抗

適用する場合:

表 による。

試験 2−機能試験

表 による。

試験 4−耐電圧試験

表 による。


10

C 62246-1-1

:2016

表 1−品質評価検査方法(続き) 

サブグループ C4(周期:2 年に 1 回以上)

試験

番号

試験項目

試験の手順,試験条件など

抜取数

合否判定

の故障数

特性要求事項

13

衝撃 
(D)

機能確認

JIS C 62246-1

の 6.19(衝撃)による。 6

0

接点開の状態で,10  μs
以上のチャタリングが

ない。

リードスイッチ及び標準試験コイル番号:

試験コイル電圧:  感動値の 150 %

表 による。

取付方向:

可動接点は交差する方

向に配置する。

衝撃条件:

適用:  3 方向 
衝撃回数:  18 回

(1 方向当たり正負各々3 回)

衝撃時間:  11 ms 
接点測定電流:  10 m A,24 V DC 以下

最終測定項目:

表 による。

試験 1−目視検査

割れ目又は他の悪化が

ない。

試験 2−機能試験

表 による。

試験 6−封着性

表 による。

14

機 械 的 耐 久

性試験

(D)

JIS C 62246-1

の 6.23(機械的耐久性)によ

る。

20 1

破損部分がない。

リードスイッチ及び標準試験コイル番号:

試験コイル電圧:  感動値の 150 % 
コイル保護回路:  規定しない

通電率:  50 % 
1 秒当たりの動作回数:  50 回∼60 回 
間欠測定点: 
1×10

6

,3×10

6

,5×10

6

,7×10

6

,1×10

7

3×10

7

,5×10

7

,7×10

7

及び 1×10

8

表 による。

接触不良の限界:

感動値の±20 %変化:

重負荷形リードスイッ

感動値の±15 %変化:

リードスイッチ及び高
耐圧形リードスイッチ

開離不良の限界:

開放値の 50 %変化:

重負荷形リードスイッ

チ 
開放値の 30 %変化:

リードスイッチ及び高

耐圧形リードスイッチ

試験 3−接触抵抗

表 による。

試験 2−機能試験

表 による。


11

C 62246-1-1

:2016

表 1−品質評価検査方法(続き) 

サブグループ C4(周期:  2 年に 1 回以上)

試験

番号

試験項目

試験の手順,試験条件など

抜取数

合否判定

の故障数

特性要求事項

15

投 入 電 流 容
量試験

(D)

JIS C 62246-1

の 6.30(投入電流容量試験)

による。

6 0

リードスイッチ及び標準試験コイル番号: 
試験コイル電圧:  感動値の 150 %

表 による。

重 負 荷 形 リ

ー ド ス イ ッ

チだけ

コイル保護回路:  規定しない

投入負荷条件:

表 による。

監視条件: 
監視時間:  t

1

=400 ms,τ

1

=50 ms

試験中,毎回チェックを
する。

試験 3−接触抵抗 
適用する場合:

表 による。

試験 2−機能試験

表 による。

試験 4−耐電圧試験

表 による。

16

遮 断 電 流 容
量試験

(D)

JIS C 62246-1

の 6.31(遮断電流容量試験)

による。

6 0

リードスイッチ及び標準試験コイル番号: 
試験コイル電圧:  感動値の 150 %

表 による。

重 負 荷 形 リ

ー ド ス イ ッ

チだけ

コイル保護回路:  規定しない

遮断負荷条件:

表 による。

監視条件: 
監視時間:  t

2

=400 ms,τ

2

=50 ms

試験中,毎回チェックを
する。

試験 3−接触抵抗 
適用する場合:

表 による。

試験 2−機能試験

表 による。

試験 4−耐電圧試験

表 による。

17

耐 サ ー ジ 電
圧試験

(D)

JIS C 62246-1

の 6.25(耐サージ電圧試験)

による。

3 0

試験電圧:  3 000 V 
試験電圧波形:  1.2/50 μs

表 による。

重 負 荷 形 リ

ー ド ス イ ッ

チ の 特 性 分
類 B だけ

パルス回数:  6 回(正負各々3 回)

最終測定項目:

試験 1−目視検査

割れ目又は他の悪化が

ない。

試験 2−機能試験

表 による。

試験 4−耐電圧試験

表 による。


12

C 62246-1-1

:2016

表 2−品質評価試験 

試験
番号

試験項目

試験の手順,試験条件など

抜取数

合否判定 
の故障数

特性要求事項

1

目視及び
寸法検査

(ND)

JIS C 62246-1

の 6.4(目視検査その他)による。

170 0

表 及 び JIS C 
62246-1

の 6.1(試験

及び測定方法に関す

る要求事項)による。

2

機能試験 
(ND)

JIS C 62246-1

の 6.5(機能試験)の手順 1 による。

測定点及び標準試験コイル番号:

表 による。

感動値:

飽和値:  感動値の 150 % 
開放値:

接点測定電流:  10 mA,24 V DC 以下

表 による。

3

接触抵抗

(ND)

JIS C 62246-1

の 6.7(接触抵抗)による。

測定点:  閉じた接点の端子間

初期値は,

表 によ

る。

標準試験コイル番号:

試験コイル電圧:  感動値の 150 % 
試験電圧:  6 V DC 又は 6 V AC 以下

試験電流:  1 A 以下

表 による。

4

耐電圧試

(ND)

JIS C 62246-1

の 6.8(耐電圧試験)による。

測定点及び試験電圧:

試験時間:  1 min 
注記  詳細仕様に規定する高い電圧による短時間

試験を行ってもよい。

表 による。 
最大リーク電流: 
0.5 mA

5

動作時間 
(ND)

JIS C 62246-1

の 6.10(動作時間)による。

測定点及び標準試験コイル番号: 
試験コイル電圧:  感動値の 150 %

表 による。

動作時間: 
復帰時間:

動作時バウンス時間:

接点測定電流:  10 mA,24 V DC 以下

表 による。

6

気密度試

(ND)

JIS C 62246-1

の 6.21(気密度試験)による。

測定点及び標準試験コイル番号:

表 による。

重負荷形リードスイッチ:アーク遮断時間

試験コイル電圧:  感動値の 150 % 
試験電圧:  100 V DC∼110 V DC

試験電流:  0.5 A∼0.55 A

試験回数:  3 回 
リードスイッチ,高耐圧形:リーク試験

表 による。

7

残留磁気 
試験

(ND)

JIS C 62246-1

の 6.6(残留磁気試験)による。 6  0

測定点及び標準試験コイル番号:

表 による。

飽和値:  感動値の 150 %

感動開始値 1 
飽和値(反対の極性)

:  感動値の 150 %

感動開始値 2

残留値:10 %以下


13

C 62246-1-1

:2016

表 2−品質評価試験(続き) 

試験 
番号

試験項目

試験の手順,試験条件など

抜取数

合否判定 
の故障数

特性要求事項

8

絶 縁 抵 抗
試験

(ND)

JIS C 62246-1

の 6.9(絶縁抵抗)による。 6

0

測定点及び試験電圧:

表 による。

9

接 点 ス テ

ィ ッ キ ン

(ND)

熱 に よ る
接 点 ス テ

ィ ッ キ ン

JIS C 62246-1

の 6.11.1.1(復帰時間及び動作時間の

変化)による。

6 0

測定点及び標準試験コイル番号:

カテゴリ温度の上限: 
150  ℃:重負荷形リードスイッチ 
125  ℃:リードスイッチ

表 による。

飽和値:  感動値の 150 %

試験期間:  24 h 以上 
最大許容値: 

許容値:10 %以下

JIS C 62246-1

の 6.11.2(磁気による接点スティッ

キング)による。

磁 気 に よ

る 接 点 ス
テ ィ ッ キ

ング

測定点及び標準試験コイル番号:

開閉頻度:  1 s 当たり 10 回

表 による。

駆動パルスの最大最小限界:  感動値の 200 %及び
100 % 
試験サイクル数:  5

開離不良ゼロ

開離不良を決定する最小接触抵抗値:

表 による。

10

端子強度 
(D)

JIS C 62246-1

の 6.12(端子強度)による。

JIS C 60068-2-21 に準拠)

手順:  試験 Ua

1

−引張り

最終測定項目:

6 0

表 による。 
端 子 部 に 破 損 又 は 緩

みがない。

試験 1−目視検査

割 れ 目 又 は 他 の 悪 化
がない。

試験 2−機能試験

表 による。

試験 6−封着性

表 による。

11

は ん だ 付

け 
(D)

JIS C 62246-1

の 6.13(はんだ付け性及びはんだ耐

熱性)による。 
JIS C 60068-2-20,試験 Ta,方法 1 に準拠)

温度:  (250±5)℃

期間:  (2±0.5)s 
測定点:  ガラス封着部から 5 mm 
 
JIS C 62246-1

の 6.13 による。

JIS C 60068-2-20,試験 Ta,方法 2 に準拠)

温度:  (350±5)℃

期間:  (3±0.5)s 
測定点:  ガラス封着部から 5 mm

最終測定項目:

6 0

拡大鏡で見たとき,浸

せきした表面は 95 %
新 し い は ん だ で 覆 わ

れている。残りの 5 %

は 小 さ な ピ ン ホ ー ル
だけを含んでよい。

試験 1−目視検査

割 れ 目 又 は 他 の 悪 化

がない。

試験 2−機能試験

表 による。

試験 6−封着性

表 による。


14

C 62246-1-1

:2016

表 2−品質評価試験(続き) 

試験
番号

試験項目

試験の手順,試験条件など

抜取数

合否判定 
の故障数

特性要求事項

12

耐候性シ
ーケンス

(D)

JIS C 62246-1

の 6.14(耐候性シーケンス)による。

乾燥高温:JIS C 62246-1 の 6.14.2(耐候性シーケ

ンス試験の方法)による。

6 0

測定点及び標準試験コイル番号:

高温温度:

表 による。

200  ℃:重負荷形リードスイッチ 
125  ℃:リードスイッチ及び高耐圧形リードスイ
ッチ

暴露時間:  16 h

回復時間:  4 h 
乾熱暴露の最後の 2 h:  接触抵抗の監視 
1 秒当たりのサイクル数:  2 
通電率:  1:1 
接点間試験電圧:  最大 6 V DC 又は AC

接点通電電流:  最大 1 A

乾熱暴露試験終了前: 
試験 2−機能試験

温湿度サイクル:JIS C 62246-1 の 6.14.2 による。

温度:  55  ℃ 
回復時間:  4 h 
 
低温:JIS C 62246-1 の 6.14.2 による。 
低温温度:

表 による。

−50  ℃:重負荷形リードスイッチ

−40  ℃:リードスイッチ及び高耐圧形リードスイ

ッチ 
暴露時間:  2 h

低温暴露試験終了前:

試験 2−機能試験 
温湿度サイクル:JIS C 62246-1 の 6.14.2 による。

温度:  55  ℃

回復時間:  4 h

表 による。

最終測定項目:

試験 4−耐電圧試験

表 による。

試験 2−機能試験

表 による。

試験 3−接触抵抗

表 による。

試験 1−目視検査

割れ目又は他の悪化
がない。

試験 6−封着性

表 による。


15

C 62246-1-1

:2016

表 2−品質評価試験(続き) 

試験
番号

試験項目

試験の手順,試験条件など

抜取数

合否判定 
の故障数

特性要求事項

13

温湿度,
定常状態

(D)

JIS C 62246-1

の 6.15(温湿度,定常状態)による。

JIS C 60068-2-78 に準拠)

高温温度: 
200  ℃:重負荷形リードスイッチ 
125  ℃:リードスイッチ及び高耐圧形リードスイ
ッチ

放置時間:  10 d 
最終測定項目:

6 0

試験 4−耐電圧試験

表 による。

試験 2−機能試験

表 による。

試験 3−接触抵抗

表 による。

試験 1−目視検査

割れ目又は他の悪化

がない。

試験 6−封着性 
試験 11−はんだ付け性

表 による。

14

急激な温
度変化

(D)

JIS C 62246-1

の 6.16(急激な温度変化)による。

JIS C 60068-2-14 に準拠)

低温温度:  −50  ℃

高温温度:  100  ℃ 
暴露時間:  20 min

置換え時間:  1 min

試験サイクル数:  10 
最終測定項目:

6 0

試験 4−耐電圧試験

表 による。

試験 2−機能試験

表 による。

試験 3−接触抵抗

表 による。

試験 1−目視検査

割れ目又は他の悪化

がない。

試験 6−封着性

表 による。

15

塩水噴霧

(D)

JIS C 62246-1

の 6.17(塩水噴霧)による。

JIS C 60068-2-11 に準拠) 
濃度:  質量分率 (5±1) % 
pH 値:  6.5∼7.2 
温度:  35  ℃ 
暴露時間: 
168 h:重負荷形リードスイッチ 
24 h:リードスイッチ及び高耐圧形リードスイッ

最終測定項目:

6 0

試験 4−耐電圧試験

表 による。

試験 2−機能試験

表 による。

試験 3−接触抵抗

表 による。

試験 1−目視検査

割れ目又は他の悪化
がない。

試験 6−封着性

表 による。


16

C 62246-1-1

:2016

表 2−品質評価試験(続き) 

試験
番号

試験項目

試験の手順,試験条件など

抜取数

合否判定 
の故障数

特性要求事項

16

振動 
(D)

機能確認

JIS C 62246-1

の 6.18(振動)による。 6

0

接点開の状態で,10 
μs 以上のチャタリン
グがない。

リードスイッチ及び標準試験コイル番号:

試験コイル電圧:  感動値の 150 %

表 による。

取付方向: 
 
振動条件:

適用:  3 軸方向

可動接点は交差する

方向に配置する。

掃引回数:  1 方向当たり 3 回

掃引率:  1 min 当たり 1 オクターブ±10 % 
総試験時間:  約 30 min

接点測定電流:  24 V DC,10 mA 以下

最終測定項目:

表 による。

試験 1−目視検査

割れ目又は他の悪化

がない。

試験 2−機能試験

表 による。

試験 6−封着性

表 による。

振動

(D) 
耐久性

JIS C 62246-1

の 6.18(振動)による。 6

0

リードスイッチ及び標準試験コイル番号:

試験コイル電圧:  感動値の 150 %

表 による。

取付方向: 
 
振動条件:

適用:  3 方向

周波数:  5 Hz∼150 Hz 
掃引回数:  1 方向当たり 3 回

掃引率:  1 min 当たり 1 オクターブ±10 %

試験時間:  1 方向当たり 5 h 以上 
最大最小値:

垂直方向:  7.90 m/s

2

左右方向:  3.5 m/s

2

上下方向:  5.50 m/s

2

接点測定電流:  24 V DC,10 mA 以下

最終測定項目:

可動接点は交差する

方向に配置する。

試験 1−目視検査

割れ目又は他の悪化

がない。

試験 2−機能試験

表 による。

試験 6−封着性

表 による。


17

C 62246-1-1

:2016

表 2−品質評価試験(続き) 

試験
番号

試験項目

試験の手順,試験条件など

抜取数

合否判定 
の故障数

特性要求事項

17

衝撃 
(D)

機能確認

JIS C 62246-1

の 6.19(衝撃)による。 6

0

接点開の状態で,10 
μs 以上のチャタリン
グがない。

リードスイッチ及び標準試験コイル番号:

試験コイル電圧:  感動値の 150 %

表 による。

取付方向:

可動接点は交差する

方向に配置する。

衝撃条件: 
適用:  3 方向

衝撃回数:  18 回(1 方向当たり正負 3 回)

衝撃時間:  11 ms 
接点測定電流:  24 V DC,10 mA 以下

最終測定項目:

表 による。

試験 1−目視検査

割れ目又は他の悪化

がない。

試験 2−機能試験

表 による。

試験 6−封着性

表 による。

衝撃

(D)

耐久性

JIS C 62246-1

の 6.19(衝撃)による。 6

0

割れ目又は他の悪化

がない。

リードスイッチ及び標準試験コイル番号:

試験コイル電圧:  感動値の 150 %

表 による。

取付方向:

可動接点は交差する

方向に配置する。

衝撃条件:

適用:  3 方向 
衝撃回数:  18 回(1 方向当たり正負 3 回)

衝撃時間:  11 ms

最終測定項目:

表 による。

試験 1−目視検査

表 による。

試験 2−機能試験

表 による。

試験 6−封着性

表 による。

18

電気的耐

久性

(D)

JIS C 62246-1

の 6.22(電気的耐久性)による。 6  0

リードスイッチ及び標準試験コイル番号:

試験コイル電圧:  感動値の 150 %

コイル保護:  規定しない 
通電率:  50 %

表 による。

接点負荷条件:

表 による。

監視条件:

表 による。 
試験中,毎回チェック

をする。

最終測定項目:

試験 3−接触抵抗

適用する場合:

表 による。

試験 2−機能試験

表 による。

試験 4−耐電圧試験

表 による。


18

C 62246-1-1

:2016

表 2−品質評価試験(続き) 

試験
番号

試験項目

試験の手順,試験条件など

抜取数

合否判定 
の故障数

特性要求事項

19

機械的耐
久性

(D)

JIS C 62246-1

の 6.23(機械的耐久性)による。 20  1 折れ部分等がない。

リードスイッチ及び標準試験コイル番号: 
試験コイル電圧:  感動値の 150 %

コイル保護:  規定しない

通電率:  50 % 
1 s 当たりの動作回数:  50 回∼60 回 
間欠測定点: 
1×10

6

,3×10

6

,5×10

6

,7×10

6

1×10

7

,3×10

7

,5×10

7

,7×10

7

及び

1×10

8

表 による。

接触不良の限界:

感 動 値 の ± 20 % 変

化:  重負荷形リード

スイッチ 
感 動 値 の ± 15 % 変

化:  リードスイッチ

及び高耐圧形リード
スイッチ

開離不良の限界:

開放値の 50 %変化:

重負荷形リードスイ

ッチ 
開放値の 30 %変化:

リードスイッチ及び

高耐圧形リードスイ
ッチ

試験 3−接触抵抗

表 による。

試験 2−機能試験

表 による。

20

最大動作

頻度

JIS C 62246-1

の 6.24(最大動作頻度)の手順によ

る。

6 0

リードスイッチ及び標準試験コイル番号: 
試験コイル電圧:  感動値の 150 %

最大バウンス時間:  3 ms

表 による。

コイル保護:  規定しない

通電率:  50 % 
1 s 当たりの最大応答周波数:  60

表 による。

21

接触信頼
性試験

(D)

JIS C 62246-1

の 6.28(接触信頼性)による。 20 0

リードスイッチ及び標準試験コイル番号:

試験コイル電圧:  感動値の 150 % 
コイル保護:  規定しない

通電率:  50 %

表 による。

接点負荷条件:

表 による。

監視条件: 
 
最終測定項目:

表 による。 
毎回チェックをする。

試験 3−接触抵抗

表 による。

試験 2−機能試験

表 による。


19

C 62246-1-1

:2016

表 2−品質評価試験(続き) 

重負荷形リードスイッチの特性分類 A だけ適用

試験

番号

試験項目

試験の手順,試験条件など

抜取数

合否判定

の故障数

特性要求事項

A1

振動 
(D)

機能確認

JIS E 4031

の箇条 8(振動機能試験条件)による。

6 0

接点開の状態で,10 
μs 以上のチャタリン
グがない。

リードスイッチ及び標準試験コイル番号:

試験コイル電圧:  感動値の 150 %

表 による。

取付方向:

可動接点は交差する

方向に配置する。

振動条件:

適用:  3 方向 
周波数:  5 Hz∼150 Hz

掃引回数:  1 方向当たり 3 回

掃引率:  1 min 当たり 1 オクターブ±10 % 
試験時間:  約 3×10 min

最大最小値:

垂直方向:  1.00 m/s

2

左右方向:  0.45 m/s

2

上下方向:  0.70 m/s

2

接点測定電流:  24 V DC,10 mA 以下 
最終測定項目:

試験 1−目視検査

割れ目又は他の悪化

がない。

試験 2−機能試験

表 による。

試験 6−封着性

表 による。

A2

衝撃 
(D)

JIS E 4031

の箇条 10(衝撃試験条件)による。 6  0

接 点 開 の 状 態 で ,
10 μs 以上のチャタリ
ングがない。

リードスイッチ及び標準試験コイル番号:

試験コイル電圧:  感動値の 150 %

表 による。

取付方向:

可動接点は交差する

方向に配置する。

衝撃条件: 
適用:  3 方向

衝撃回数:  18 回(1 方向当たり正負 3 回)

衝撃時間:  25 ms 
最大最小値:

垂直方向:  30 m/s

2

左右方向:  30 m/s

2

上下方向:  50 m/s

2

接点測定電流:  24 V DC,10 mA 以下

最終測定項目:

試験 1−目視検査

割れ目又は他の悪化

がない。

試験 2−機能試験

表 による。

試験 6−封着性

表 による。


20

C 62246-1-1

:2016

表 2−品質評価試験(続き) 

重負荷形リードスイッチの特性分類 A だけ適用

試験

番号

試験項目

試験の手順,試験条件など

抜取数

合否判定

の故障数

特性要求事項

A3

電気的耐
久性

(D)

JIS C 62246-1

の 6.22.5(標準的負荷条件)による。

8 0

リードスイッチ及び標準試験コイル番号:

試験コイル電圧:  感動値の 150 % 
コイル保護:  規定しない

通電率:  50 %

接点負荷条件:  110 V DC,60 mA(L/R=22 ms)
開閉頻度:  1 s 当たり 5 回

要求開閉回数:

表 による。

通電電流 3 A:  500 万回以上

サージ吸収器付き

通電電流 5 A:  500 万回以上

サージ吸収器付き

監視条件:

表 による。 
毎回チェックをする。

最終測定項目:

試験 3−接触抵抗

適用する場合:

表 による。

試験 2−機能試験

表 による。

試験 4−耐電圧試験

表 による。

A4

電気的耐
久性

(D)

JIS C 62246-1

の 6.22.5(標準的負荷条件)による。

5 0

リードスイッチ及び標準試験コイル番号: 
試験コイル電圧:  感動値の 150 %

コイル保護:  規定しない

通電率:  50 % 
接点負荷条件:  100 V DC,125 mA(L/R=17 ms)

開閉頻度:  1 s 当たり 5 回

要求開閉回数: 
通電電流 5 A:  100 万回以上

表 による。

監視条件:

表 による。 
毎回チェックをする。

最終測定項目:

試験 3−接触抵抗 
適用する場合:

表 による。

試験 2−機能試験

表 による。

試験 4−耐電圧試験

表 による。


21

C 62246-1-1

:2016

表 2−品質評価試験(続き) 

重負荷形リードスイッチの特性分類 A だけ適用

試験

番号

試験項目

試験の手順,試験条件など

抜取数

合否判定

の故障数

特性要求事項

A5

電気的耐
久性

(D)

JIS C 62246-1

の 6.22.5(標準的負荷条件)による。

6 0

リードスイッチ及び標準試験コイル番号:

試験コイル電圧:  感動値の 150 % 
コイル保護:  規定しない

通電率:  50 %

接点負荷条件:  52 V DC,100 mA(L/R=40 ms)
開閉頻度:  1 s 当たり 5 回

要求開閉回数:

通電電流 5 A:  180 万回以上

表 による。

監視条件:

表 による。 
毎回チェックをする。

最終測定項目:

試験 3−接触抵抗 
適用する場合:

表 による。

試験 2−機能試験

表 による。

試験 4−耐電圧試験

表 による。

A6

電気的耐

久性 
(D)

JIS C 62246-1

の 6.22.5(標準的負荷条件)による。

4 0

リードスイッチ及び標準試験コイル番号:

試験コイル電圧:  感動値の 150 % 
コイル保護:  規定しない

通電率:  50 %

表 による。

接点負荷条件:  100 V DC,0.24 A(L/R=100 ms)

開閉頻度:  1 s 当たり 5 回

接点極性を 2 000 回ごとに反転 
要求開閉回数:

通電電流 5 A:  200 万回以上

サージ吸収器付き

監視条件:

表 による。 
毎回チェックをする。

最終測定項目:

試験 3−接触抵抗

適用する場合:

表 による。

試験 2−機能試験

表 による。

試験 4−耐電圧試験

表 による。


22

C 62246-1-1

:2016

表 2−品質評価試験(続き) 

重負荷形リードスイッチの特性分類 A だけ適用

試験

番号

試験項目

試験の手順,試験条件など

抜取数

合否判定

の故障数

特性要求事項

A7

電気的耐
久性

(D)

JIS C 62246-1

の 6.22.5(標準的負荷条件)による。

6 0

リードスイッチ及び標準試験コイル番号:

試験コイル電圧:  感動値の 150 % 
コイル保護:  規定しない

通電率:  50 %

接点負荷条件:  24 V DC,1.2 A(L/R=2 ms) 
開閉頻度:  1 s 当たり 5 回

要求開閉回数:

通電電流 5 A:  100 万回以上

表 による。

監視条件:

表 による。 
毎回チェックをする。

最終測定項目:

試験 3−接触抵抗

表 による。

試験 2−機能試験

表 による。

試験 4−耐電圧試験

表 による。

A8

接点の開

閉容量

(D)

JIS C 62246-1

の 6.26(接点の開閉容量)による。

3 0

リードスイッチ及び標準試験コイル番号:

試験コイル電圧:  感動値の 150 %

コイル保護:  規定しない 
通電率:  50 %

接点定格:

表 による。

監視条件:

表 による。 
毎回チェックをする。

最終測定項目:

試験 3−接触抵抗

適用する場合:

表 による。

試験 2−機能試験

表 による。

試験 4−耐電圧試験

表 による。

A9

条件付き

短絡電流

(D)

JIS C 62246-1

の 6.27(条件付き短絡電流試験)に

よる。

3 0

リードスイッチ及び標準試験コイル番号:

試験コイル電圧:  感動値の 150 %

コイル保護:  規定しない 
短絡保護デバイスの種類:速動ヒューズ,JIS C 

6575-2

の FH,スタンダードシート 1 による。

表 による。

短絡保護デバイスの定格:  5 A,250 V

試験電圧:  264 V AC 又は 115 V DC r.m.s. 
試験電流:  20 A AC 及び DC

試験間インターバル時間:  3 min 以上

試験回数:  3 回 
最終測定項目:

表 による。

試験 1−目視検査

割れ目又は他の悪化
がない。

試験 2−機能試験

表 による。

試験 4−耐電圧試験

表 による。


23

C 62246-1-1

:2016

表 2−品質評価試験(続き) 

重負荷形リードスイッチの特性分類 A だけ適用

試験

番号

試験項目

試験の手順,試験条件など

抜取数

合否判定

の故障数

特性要求事項

A10

温度上昇

(ND)

JIS C 62246-1

の 6.29(温度上昇)による。 3

0

リードスイッチ及び標準試験コイル番号:

表 による。

試験コイル電圧:  感動値の 150 %

コイル保護:  規定しない

試験電流: 
測定点:  端子

測定時間:  1.5 h

最終測定項目:

表 による。

試験 1−目視検査

割れ目又は他の悪化

がない。

試験 3−接触抵抗

表 による。

試験 2−機能試験

表 による。

重負荷形リードスイッチの特性分類 A 及び B に適用

試験

番号

試験項目

試験の手順,試験条件など

抜取数

合否判定

の故障数

特性要求事項

A11

投入電流

容量 
(D)

JIS C 62246-1

の 6.30(投入電流容量試験)による。

6 0

リードスイッチ及び標準試験コイル番号:

試験コイル電圧:  感動値の 150 %

コイル保護:  規定しない

表 による。

投入負荷条件:

表 による。

監視条件:

監視時間:t

1

=400 ms,τ

1

=50 ms

毎回チェックをする。

試験 3−接触抵抗 
適用する場合:

表 による。

試験 2−機能試験

表 による。

試験 4−耐電圧試験

表 による。

A12

遮断電流

容量 
(D)

JIS C 62246-1

の 6.31(遮断電流容量試験)による。

6 0

リードスイッチ及び標準試験コイル番号:

試験コイル電圧:  感動値の 150 % 
コイル保護:  規定しない

表 による。

遮断負荷条件:

表 による。

監視条件: 
監視時間:  t

2

=400 ms,τ

2

=50 ms

毎回チェックをする。

試験 3−接触抵抗 
適用する場合:

表 による。

試験 2−機能試験

表 による。

試験 4−耐電圧試験

表 による。


24

C 62246-1-1

:2016

表 2−品質評価試験(続き) 

重負荷形リードスイッチの特性分類 B だけ適用

試験

番号

試験項目

試験の手順,試験条件など

抜取数

合否判定

の故障数

特性要求事項

B1

耐サージ

電圧 
(D)

JIS C 62246-1

の 6.25(耐サージ電圧試験)による。

3 0

試験電圧:  3 000 V

試験電圧波形:  1.2/50 μs

パルス印加回数:  6 回(正負各々3 回) 
最終測定項目:

表 による。

試験 1−目視検査

割れ目又は他の悪化

がない。

試験 2−機能試験

表 による。

試験 4−耐電圧試験

表 による。


25

C 62246-1-1

:2016

表 3−資格取得承認 

試験

試験の条件及び要求事項

サンプル数

合格数

JIS C 62246-1

準拠する試験条件

表 の試験

番号

試験中の合否

判定故障数

箇条番号

特別な条件

グループ 1

目視検査その他

6.4 

− 1

170

0

機能試験

6.5 

手順 1 2

接触抵抗

6.7 

− 3

耐電圧試験

6.8 

− 4

動作時間

6.10 

− 5

気密度試験

6.21 

− 6

グループ 2

残留磁気試験

6.6 

− 7

6

0

絶縁抵抗

6.9 

− 8

6

0

接点スティッキング

6.11 6.11.1.1 

9

6  0

グループ 3

端子強度

6.12 

− 10

6

0

はんだ付け性

6.13 

− 11

6

0

耐候性シーケンス

6.14 

− 12

6

0

グループ 4

温湿度,定常状態

6.15 

− 13

6

0

急激な温度変化

6.16 

− 14

6

0

塩水噴霧

6.17 

− 15

6

0

グループ 5

振動

6.18 

JIS C 60068-2-6 

16 12  0

衝撃

6.19 

− 17

12

0

グループ 6

電気的耐久性

6.22 

表 

18

6  0

グループ 7

機械的耐久性

6.23 

− 19

20

1

グループ 8

最大動作頻度

6.24 

− 20

6

0

グループ 9

接触信頼性

6.28 

− 21

20

0

グループ 10(重負荷形リードスイッチの特性分類 A だけ)

振動

6.18 

JIS E 4031 

A1 6  0

衝撃

6.19 

JIS E 4031 

A2 6  0

グループ 11(重負荷形リードスイッチの特性分類 A だけ)

電気的耐久性

6.22 

− A3

8

0

電気的耐久性

6.22 

− A4

5

0

電気的耐久性

6.22 

− A5

6

0

電気的耐久性

6.22 

− A6

4

0

グループ 12(重負荷形リードスイッチの特性分類 A だけ)

電気的耐久性

6.22 

− A7

6

0

グループ 13(重負荷形リードスイッチの特性分類 A だけ)

接点の開閉容量

6.26 

− A8

3

0


26

C 62246-1-1

:2016

表 3−資格取得承認(続き) 

試験

試験の条件及び要求事項

サンプル数

合格数

JIS C 62246-1

準拠する試験条件

表 の試験

番号

試験中の合否

判定故障数

箇条番号

特別な条件

グループ 14(重負荷形リードスイッチの特性分類 A だけ)

条件付き短絡電流試験

6.27 

− A9

3

0

温度上昇

6.29 

− A10

3 0

グループ 15(重負荷形リードスイッチの特性分類 A 及び B だけ)

投入電流容量試験

6.30 

表 

A11 6  0

遮断電流容量試験

6.31 

表 

A12 6  0

グループ 16(重負荷形リードスイッチの特性分類 B だけ)

耐サージ電圧試験

6.25 

− B1

3

0

170 本のリードスイッチは,グループ 1 の試験に合格しなければならない。次に,グループ 1 の試験
に合格した 170 本のリードスイッチは,グループ 2∼16 の試験を受けなければならない。


27

C 62246-1-1

:2016

リードスイッチの特性値 

5.1 

リードスイッチの基本特性値 

リードスイッチの基本特性値を,

表 に示す。

表 4−リードスイッチの基本特性値 

種類

リードスイッチ

高耐圧形

リードスイッチ

重負荷形リードスイッチ

通電電流 A

0.3

1.0

2.5

0.5

3.0

5.0

基本データ

ガラス管の直径 1.8 以下 2.2 以下 2.8 以下 2.54 以下 5.1 以下 6.2 以下 
 mm

端子の長さ mm

35.8±0.3 44.3±0.3 55.4±0.3 56.1±0.3 61.0±0.2 71.4±0.2

質量 g

0.05±0.01 0.13±0.05 0.27±0.05 0.2±0.1 1.4±0.5 2.4±0.5

接点構成

1 NO

1 C/O

1 NO

端子の表面処理

すずめっき処理

機能試験

標 準 試 験 コ イ ル 番

JIS C 62246-1

A.1

のコイル番号 1

JIS C 62246-1

A.1

のコイル番号 7

JIS C 62246-1

A.1

のコイル番号 13

JIS C 62246-1

A.1

のコイル番号 2

JIS C 62246-1

表 A.1 のコイル番号 25

開放値 A  5 以上

5 以上

5 以上

4 以上 50 以上 60 以上

感動値 A  10∼50 10∼50 10∼60 10∼30 100∼130 180∼230

接触抵抗

最大接触抵抗

mΩ 100

500

500(100:特性分
類 B だけ)

耐電圧試験

端子間電圧 150

V

DC 以上 200

V

DC 以上

1 000 V

DC 以上

150 V DC 以上 500/550

V

AC

(1 000/1 100 V AC

特性分類 B だけ)

800/880 V AC

(1 000/1 100 V AC

特性分類 B だけ)

試験時間

1 min

1 min/1 s

定格インパル

ス電圧(特性

分類 B だけ)

端子間ピーク電圧

適用外 3

V

適用外

試験電圧波形

適用外 1.2/50

μs

適用外

パルス数

適用外

6 回(正負各々3 回)

適用外

絶縁電圧(初期値)

1 000 MΩ 以上(100 V DC)

1 000 MΩ 以上(500 V DC)

最大動作時間

動作時間

0.5 ms

0.8 ms

1.5 ms

5 ms

復帰時間

0.1 ms

0.1 ms

0.1 ms

3 ms

動 作 時 の バ ウ ン ス

時間

0.5 ms

0.8 ms

2.0 ms

3 ms

27

C

 622

46
-1

-1


2

016


28

C 62246-1-1

:2016

5.2 

標準試験コイル番号 

リードスイッチの標準試験コイル番号を,

表 に示す。

標準試験コイルでの配置は,

附属書 による。

表 5−リードスイッチの標準試験コイル番号 

種類

リードスイッチ

高耐圧形

リードスイッチ

重負荷形リードスイッチ

通電電流 A

0.3

1.0

2.5

0.5

3.0

5.0

機能試験,残留磁気試験,接触抵抗,動作
時間,最大応答周波数,接点粘着,封着性

JIS C 62246-1

A.1

のコイル番号 1

JIS C 62246-1

A.1

のコイル番号 7

JIS C 62246-1

A.1

のコイル番号 13

JIS C 62246-1

A.1

のコイル番号 2

JIS C 62246-1

表 A.1 

コイル番号 25

振動,衝撃,電気的耐久性,機械的耐久性,

接触信頼性試験,条件付き短絡電流試験,

耐サージ電圧試験,開閉容量,温度上昇,
投入電流容量,遮断電流容量

JIS C 62246-1

表 A.1 

コイル番号 28,29,30

5.3 

接点データ 

5.3.1 

判定基準 

リードスイッチ,高耐圧形リードスイッチ及び重負荷形リードスイッチの接触信頼性及び電気的耐久性について規定する。B 接点が動作するときの

故障限界値及び A 接点が復帰するときの不良限界値を

表 に示す。また,5.3.2 に示す A 接点及び B 接点のいずれかの短絡による接触障害も故障とみ

なす。

28

C

 622

46
-1

-1


2

016


29

C 62246-1-1

:2016

表 6−リードスイッチ  特性分類 の判定基準 

種類

リードスイッチ

高耐圧形

リードスイッチ

重負荷形リードスイッチ

定格通電電流 A

0.3

1.0

2.5

0.5

3.0

5.0

接触信頼性

接点開閉負荷 5

V

DC,0.1 mA(抵抗負荷) 24

V

DC,1 mA(抵抗負荷)

接触不良の限界値

接点間電圧が 0.25 V DC 以上

接点間電圧が 1.2 V DC 以上

開離不良の限界値

接点間電圧が 4.75 V DC 以下

接点間電圧が 22.8 V DC 以下

開閉回数

a)

 1

000 万回以上 500 万回以上

開閉頻度 1

s 当たり 100 回以下 1

s 当たり 50 回 1

s 当たり 10 回以下

監視時間

t

1

=2 ms,τ

1

=0.1 ms,t

2

=2 ms,τ

2

=0.2 ms

t

1

=5 ms,τ

1

=0.1 ms,

t

2

=5 ms,τ

2

=0.1 ms

t

1

=30 ms,τ

1

=20 ms,

t

2

=30 ms,τ

2

=20 ms

電気的耐久性

接点開閉負荷 5

V

DC,

5 mA

12 V DC,

10 mA

100 V DC,

50 mA

350 V DC,

1 mA

5 V DC,5 mA

24 V DC,37 mA,L/R=7 ms

接触不良の限界値

接点間電圧が

0.25 V DC 以上

接点間電圧が

0.6 V DC 以上

接点間電圧が

5 V DC 以上

接点間電圧が

0.25 V DC 以上

接点間電圧が 1.2 V DC 以上

開離不良の限界値

接点間電圧が

0.25 V DC 以下

接点間電圧が

11.4 V DC 以下

接点間電圧が

95 V DC 以下

接点間電圧が

0.25 V DC 以下

接点間電圧が 22.8 V DC 以下

開閉頻度 1

s 当たり 100 回以下 1

s 当たり 50 回以下 1

s 当たり 10 回以下

監視時間

t

1

=2 ms,τ

1

=0.1 ms,

t

2

=2 ms,τ

2

=0.2 ms

t

1

=5 ms,τ

1

=0.1 ms,t

2

=2 ms,τ

2

=0.2 ms

t

1

=30 ms,τ

1

=20 ms,

t

2

=30 ms,τ

2

=20 ms

期待寿命

a)

b)

 1

000 万回 1

000 万回 2

000 万回

29

C

 622

46
-1

-1


2

016


30

C 62246-1-1

:2016

表 6−リードスイッチ  特性分類 の判定基準(続き) 

種類

リードスイッチ

高耐圧形

リードスイッチ

重負荷形リードスイッチ

定格通電電流 A

0.3

1.0

2.5

0.5

3.0

5.0

電気的耐久性

[交流誘導負荷

(開閉器コイル, 
ソレノイドバルブ)

接点開閉負荷

適用外 240

V

AC,

5 A 投入(cos φ  =
0.7)及び 
0.5 A 遮断(cos  φ
=0.4)

240 V AC, 
10 A 投入(cos φ=
0.7)及び 
1.0 A 遮断(cos  φ
=0.4)

接触不良の限界値

適用外

接点間電圧が 120 V AC 以下

(監視用継電器は負荷間に並列接続)

開離不良の限界値

適用外

接点間電圧が 72 V AC 以上

(監視用継電器は負荷間に並列接続)

開閉頻度

適用外

最大 1 s 当たり 1 回

監視時間

適用外

t

1

=400 ms,τ

1

=50 ms,

t

2

=400 ms,τ

2

=50 ms

期待寿命

b)

適用外 50 万回 80 万回

電気的耐久性

[直流誘導負荷 
(開閉器コイル,

ソレノイドバルブ)

接点開閉負荷

適用外 110

V,0.2 A

(L/R=40 ms)

110 V,0.5 A

(L/R=100 ms)

接触不良の限界値

適用外

接点間電圧が 55 V DC 以下

(監視用継電器は負荷間に並列接続)

開離不良の限界値

適用外

接点間電圧が 33 V DC 以上

(監視用継電器は負荷間に並列接続)

開閉頻度

適用外

最大 1 s 当たり 1 回

監視時間

適用外

t

1

=400 ms,

τ

1

=50 ms,

t

2

=400 ms,

τ

2

=50 ms

期待寿命

a)

b)

適用外 30 万回

30

C

 622

46
-1

-1


2

016


31

C 62246-1-1

:2016

表 6−リードスイッチ  特性分類 の判定基準(続き) 

種類

リードスイッチ

高耐圧形

リードスイッチ

重負荷形リードスイッチ

定格通電電流 A

0.3

1.0

2.5

0.5

3.0

5.0

開閉容量

交流誘導負荷

(開閉器コイル,

ソ レ ノ イ ド バ ル
ブ)

適用外 120

V

AC,1.5 A

240 V AC,0.75 A

(cos φ=0.3)

120 V AC,1.5 A

240 V AC,0.75 A

600 V AC,0.3 A

(cos φ=0.3)

直流誘導負荷 
[開閉器コイル,

ソレノイドバルブ

a)

適用外 120

V

DC,0.55 A

L/R=40 ms

120 V DC,0.55 A 
240 V DC,0.27 A

L/R=100 ms

総試験回数

適用外 6

050

投入電流容量

(交流誘導負荷)

投入負荷

(cos

ϕ=0.3)

適用外 240

V

AC,

15 A 以下

240 V AC,

30 A 以下

投入回数

適用外 10 回以上

開閉頻度

適用外 1

min 当たり 6 回

遮断回数

適用外 10 回以上

遮断電流容量

(交流誘導負荷)

遮断負荷

(cos

ϕ=0.3)

適用外 240

V

AC,

15 A 以下

240 V AC,

30 A 以下

遮断回数

適用外 10 回以上

開閉頻度

適用外 1

min 当たり 6 回

遮断電流容量

(直流誘導負荷)

遮断負荷

適用外 120

V

DC,

0.55 A 以下 
L/R=40 ms

240 V DC,

0.27 A 以下

L/R=100 ms

遮断回数

a)

適用外 10 回以上

開閉頻度

適用外 1

min 間当たり 6 回

a)

  直流回路で使用する場合,固定接点は正極側に接続する。

b)

  寿命回数は B

10

値で表す。

31

C

 622

46
-1

-1


2

016


32

C 62246-1-1

:2016

表 7−重負荷形リードスイッチ  特性分類 の判定基準 

種類

重負荷形リードスイッチ

定格通電電流 A

3.0

5.0

接触信頼性

接点開閉負荷 24

V

DC,1 mA(抵抗負荷) 1

V

DC,1 mA(抵抗負荷)

接触不良の限界値

接点間電圧が 1.2 V DC 以上

接点間電圧が 0.05 V DC 以上

開離不良の限界値

接点間電圧が 22.8 V DC 以下

接点間電圧が 0.95 V DC 以下

開閉回数

a)

 500 万回以上

開閉頻度 1

s 当たり 10 回以下

監視時間

t

1

=30 ms,τ

1

=20 ms,t

2

=30 ms,τ

2

=20 ms

電気的耐久性

接点開閉負荷 24

V

DC,37 mA(L/R=7 ms)

接触不良の限界値

接点間電圧が 1.2 V DC 以上

開離不良の限界値

接点間電圧が 22.8 V DC 以下

開閉頻度 1

s 当たり 10 回以下

監視時間

t

1

=30 ms,τ

1

=20 ms,t

2

=30 ms,τ

2

=20 ms

期待寿命

a)

b)

 1

000 万回 1

000 万回

電気的耐久性

[直流誘導負荷 
(開閉器コイル,

ソレノイドバルブ)

接点開閉負荷 110

V,0.3 A(L/R=40 ms) 110

V,0.5 A(L/R=40 ms)

接触不良の限界値

接点間電圧が 55 V DC 以下

(監視用継電器が接点負荷と並列に接続)

開離不良の限界値

接点間電圧が 33 V DC 以上

(監視用継電器が接点負荷と並列に接続)

開閉頻度 1

s 当たり 1 回以下

監視時間

t

1

=400 ms,τ

1

=50 ms,t

2

=400 ms,τ

2

=50 ms

期待寿命

a)

b)

 10 万回 100 万回

投入電流容量

(直流誘導負荷)

投入電流

(L/R=5 ms)

110 V DC,15 A 以下 220

V

DC,20 A 以下

通電時間 0.5

s

投入回数

1 万回以上

開閉頻度 1

min 当たり 6 回

遮断電流容量 
(直流誘導負荷)

遮断電流 
(L/R=40 ms)

110 V DC,0.5 A

220 V DC,0.15 A 以下

遮断回数

a)

 10 万回以上

開閉頻度 1

min 当たり 6 回

a)

  直流回路で使用する場合,固定接点は正極に接続する。

b)

  寿命回数は B

10

値で表す。

5.3.2 

接触抵抗の判定基準 

接触抵抗の判定基準は,次による。

−  重負荷形リードスイッチの接触抵抗の初期値は,通電電流 1 A の条件で,500 mΩ 以下とする。

−  リードスイッチの接触抵抗の初期値は,100 mΩ 以下とする。

−  感動値の 150 %を励磁した試験終了後,接触信頼性試験,電気的耐久性試験,機械的耐久性試験及び

環境試験は,通電電流 1 A の条件で,1 Ω 以下とする。

−  感動値の 150 %を励磁する試験中の接触信頼性試験,電気的耐久性試験,機械的耐久性試験及び環境

試験は,通電電流 1 mA の条件で,1.2 kΩ 以下とする。

5.3.3 

機械的耐久性 

機械的耐久性は,10

8

回以上とする。ただし,特性分類 B の重負荷形リードスイッチには,10

7

回とする。

附属書 参照。


33

C 62246-1-1

:2016

5.4 

環境性データ 

リードスイッチは,

表 に規定した環境ストレスに耐えなければならない。

表 8−リードスイッチの環境性データ 

種類

リードスイッチ

高耐
圧形

リード

スイッチ

重負荷形リードスイッチ

定格通電電流 A

0.3  1.0  2.5  0.5

3.0

5.0

振動性(正弦周波数) 196.0

m/s

2

(20 g

10 Hz∼2 000 Hz

147.0 m/s

2

(15 g

20 Hz∼1 000 Hz

196.0 m/s

2

(20 g

20 Hz∼1 000 Hz

衝撃

a)

機能 294.0

m/s

2

(30 g) 196.0

m/s

2

(20 g) 392.0

m/s

2

(40 g

耐久性 980

m/s

2

(100 g

短絡保護デバイスの動作

特性 
(特性分類 B は適用外)

適用外 20(A

2

 s)以上

端 子 強

引張り力 19.6

N(2 kgf) 98

N(10 kgf)

はんだ

付け

はんだ付け性 250

℃,2 s

はんだ耐熱性 350

℃,3 s

封着性

リーク率 1

Pa×cm

3

/s

適用外

適用外

アーク時間

適用外

最大 60 ms

最大 100 ms

遮断負荷

b)

適用外 100

V

DC,0.5 A

(L/R=40 ms)

100 V DC,0.5 A

(L/R=100 ms)

周囲 
温度

使用時

−40  ℃∼+125  ℃

−50  ℃∼+150  ℃

保管時

−40  ℃∼+125  ℃

−60  ℃∼+180  ℃

a)

  正弦周波数半波による加速度,衝撃時間は 11 ms。

b)

  封着性試験では,固定接点は正極に接続する。

信頼性−故障率データ 

表 に規定する信頼性数値は形式試験で評価し,量産時は表 に示すロット抜取方式で評価する。

表 9−リードスイッチの信頼性データ 

種類

リードスイッチ

高耐

圧形

リード

スイッチ

重負荷形リードスイッチ

定格通電電流

A  0.3 1.0 2.5 0.5

3.0

5.0

接触信頼性

最小使用

電圧電流

5 V DC,0.1 mA

24 V DC,1 mA

24 V DC,1 mA

(1 V DC,1 mA

特性分類 B)

故障率

a)

 10

9

回数当たり 5 回以下

a)

  故障率は,信頼性水準 60 %で表す。

表示 

7.1 

リードスイッチの表示 

リードスイッチには,次の項目を,容易に消えない方法で見やすい個所に表示する。

a)

リードスイッチ種類の略号

b)

生産年月週などの生産日略号


34

C 62246-1-1

:2016

7.2 

包装箱の表示 

梱包箱には,次の項目を,容易に消えない方法で見やすい個所に表示する。

a)

製造業者名若しくは略号,又は登録商標

b)

種類及び特性分類の略号

c)

製造業者のバッチ識別略号

d)

関連する詳細仕様

e)

数量


35

C 62246-1-1

:2016

附属書 A

(規定)

標準試験コイルでの配置

標準試験コイル内に配置するリードスイッチの方向及び位置を,

図 A.1 に規定する。

図 A.1−標準試験コイル内のリードスイッチ方向及び配置位置 


36

C 62246-1-1

:2016

附属書 B

(規定)

特性分類品

この規格で規定するリードスイッチは,次の二つの異なった特性に分類する。

B.1 

特性分類品 の場合 

この類似品は,機械的耐久性に特定の必要条件によって特徴付けられる。

B.2 

特性分類品 の場合 

この類似品は,耐電圧,インパルス電圧及び電気的耐久性に特定の必要条件によって特徴付けられる。

注記  これら類似品の代表的な適用事例は,情報として,附属書 に示す。


37

C 62246-1-1

:2016

附属書 C 
(参考) 
適用事例

C.1 

特性分類品 の場合 

特性分類品 A のリードスイッチは,

負荷の適用範囲が広く非常に信頼性が高いスイッチング接点を示す。

それらは,厳しい環境条件(ちり,油,水,振動,機械的衝撃並びに低温及び高温)及び高い開閉容量が

必要である多種多様な産業用途に適用できる。

代表的な適用分野は,次による。

a)

リードスイッチは,エレベータの制御機器である磁気近接スイッチの内蔵接点に使用することができ

る。ISO 22201 の規格群で規定するエレベータ,エスカレータ及び動く歩道に,磁気近接スイッチの

内蔵接点として使用する場合,国家規格を参照する。

b)

鉄道車両制御,鉄道信号装置等の制御リレー,ドアインターロックスイッチ,位置検知スイッチ,押

しボタンスイッチなどの接点として使用することができる。

c)

厳しい環境下で使用する機械類安全装置のドアインターロックスイッチの接点として,使用すること

ができる。

d)

潜在的に危険な環境に設置する防爆装置に接点として使用することができる。制御継電器,リミット

スイッチ,押しボタン,位置検知スイッチなどの内蔵接点として使用することができる。

e)

自動車の燃料タンク及びエンジンオイルの液量センサ,シート位置検知,停止ランプスイッチなどの

内蔵接点として使用することができる。

f)

家庭及び工業用途で,冷蔵庫ドアの開閉検知,製氷機の熱センサ,シリンダーセンサなどの内蔵接点

として使用することができる。

g)

健康器具及びレジャー用途で,歩数計,トレーニングマシンのスイッチ機能などの内蔵接点として使

用することができる。

C.2 

特性分類品 の場合 

特性分類品 B の重負荷形リードスイッチは,高い信頼性で高速動作での大電流投入,通電及び遮断用途

に適用することができる。それらは,また高い絶縁耐圧性能及び高いインパルス電圧耐性をもっている。

ゆえに,主な用途は,高電圧ネットワークの部分として,計測リレー及び保護継電器である。


38

C 62246-1-1

:2016

参考文献 

JIS C 60068-2-1:2010

  環境試験方法−電気・電子−第 2-1 部:低温(耐寒性)試験方法(試験記号:

A)

注記  対応国際規格:IEC 60068-2-1:2007,Environmental testing−Part 2-1: Tests−Test A: Cold(IDT)

JIS C 60068-2-2:2010

  環境試験方法−電気・電子−第 2-2 部:高温(耐熱性)試験方法(試験記号:

B)

注記  対応国際規格:IEC 60068-2-2:2007,Environmental testing−Part 2-2: Tests−Test B: Dry heat

(IDT)

JIS C 60068-2-7:1993

  環境試験方法−電気・電子−加速度(定常)試験方法

注記  対応国際規格:IEC 60068-2-7:1983,Basic environmental testing procedures−Part 2-7: Tests−Test

Ga and guidance: Acceleration, steady state(IDT)

JIS C 60068-2-13:1989

  環境試験方法(電気・電子)減圧試験方法

注記  対応国際規格:IEC 60068-2-13:1983,Basic environmental testing procedures−Part 2-13: Tests−

Test M: Low air pressure(IDT)

JIS C 60068-2-17:2001

  環境試験方法−電気・電子−封止(気密性)試験方法

注記  対応国際規格:IEC 60068-2-17:1994,Basic environmental testing procedures−Part 2-17: Tests−

Test Q: Sealing(IDT)

JIS C 60068-2-27:2011

  環境試験方法−電気・電子−第 2-27 部:衝撃試験方法(試験記号:Ea)

注記  対応国際規格:IEC 60068-2-27:2008,Environmental testing−Part 2-27: Tests−Test Ea and

guidance: Shock(IDT)

JIS C 60068-2-30:2011

  環境試験方法−電気・電子−第 2-30 部:温湿度サイクル(12+12 時間サイク

ル)試験方法(試験記号:Db)

注記  対応国際規格:IEC 60068-2-30:2005,Environmental testing−Part 2-30: Tests−Test Db: Damp

heat, cyclic (12 h + 12 h cycle)(IDT)

ISO 22201:2009

, Lifts (elevators) − Design and development of programmable electronic systems in

safety-related applications for lifts (PESSRAL)

ISO 22201-2:2013

,Lifts (elevators), escalators and moving walks−Programmable electronic systems in safety

related applications−Part 2: Escalators and moving walks (PESSRAE)

IEC 60410:1973

,Sampling plans and procedures for inspection by attributes

IEC 61810-2-1:2011

, Electromechanical elementary relays − Part 2-1: Reliability − Procedure for the

verification of B

10

 values


39

C 62246-1-1

:2016

附属書 JA

(参考)

JIS

と対応国際規格との対比表

JIS C 62246-1-1:2016

  リードスイッチ−第 1-1 部:品質評価及び試験方法

IEC 62246-1-1:2013

,Reed switches−Part 1-1: Generic specification−Quality assessment

(I)JIS の規定

(II)国際

規格番号

(III)国際規格の規定

(IV)JIS と国際規格との技術的差異の箇条ごと

の評価及びその内容

(V)JIS と国際規格との技術的差

異の理由及び今後の対策

箇条番号

及び題名

内容

箇条

番号

内容

箇条ごと

の評価

技術的差異の内容

英語の名称

Detail specification

名称

Generic specification

変更

JIS C 62246-1

が品目別通則で,JIS 

C 62246-1-1

も品目別通則では,規

格の優先順位が決められないため,

JIS

では,個別規格とした。

対応国際規格の誤りと思われる。 
対応国際規格の改正提案を行う。

3.1.2  特 性
分類品

注 記   特 性 分 類 品
の種類については,

附属書 B 及び附属書
C を参照。

 3.1.2

記載なし

追加

JIS

には,“特性分類品の種類につ

いては,附属書 B 及び附属書 C を

参照。

”を注記として追加した。

対応国際規格では,附属書 B 及び
附属書 C を参照する文言がなく,

記載漏れと思われる。

対応国際規格の改正提案を行う。

3.2.3  定 期
検査

注記 2  サブグルー
プは 4.5 を参照。

 3.2.3

記載なし

追加

JIS

には,

“サブグループは 4.5 を参

照。

”を注記として追加した。

サブグループの分類を規定してい
る箇所が分かりにくいため,追加

した。

特に提案等は行わない。

5.2  標準 試
験コイル番

標 準 試 験 コ イ ル で
の配置は,附属書 A

による。

 5.2

記載なし

追加

JIS

には,“標準試験コイルでの配

置は,附属書 A による。

”を追加し

た。

対応国際規格では,附属書 A を参
照する文言がなく,記載漏れと思

われる。

対応国際規格の改正提案を行う。

JIS

と国際規格との対応の程度の全体評価:IEC 62246-1-1:2013,MOD

39

C

 622

46
-1

-1


2

016


40

C 62246-1-1

:2016

注記 1  箇条ごとの評価欄の用語の意味は,次による。

−  追加  国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。

−  変更  国際規格の規定内容を変更している。

注記 2  JIS と国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は,次による。

− MOD

国際規格を修正している。

40

C

 622

46
-1

-1


2

016