>サイトトップへ >このカテゴリの一覧へ

C 61300-3-7

:2012

(1)

目  次

ページ

序文  

1

1

  適用範囲  

1

2

  引用規格  

2

3

  記号及び略語  

2

4

  概要 

3

4.1

  一般事項  

3

4.2

  波長条件  

3

4.3

  用語及び定義  

4

4.4

  供試品  

5

4.5

  測定方法  

5

5

  装置 

7

5.1

  光源  

7

5.2

  受光装置  

8

5.3

  光ブランチングデバイス(BD  

9

5.4

  光終端器  

9

6

  手順 

10

6.1

  方法 A−広帯域光源  

10

6.2

  方法 B−波長可変狭帯域光源  

13

6.3

  方法 C−波長固定狭帯域光源の組合せ  

13

6.4

  測定結果  

17

7

  個別に規定する事項  

18

7.1

  光源  

18

7.2

  受光装置  

18

7.3

  基準光ブランチングデバイス  

19

7.4

  光終端器  

19

附属書 A(参考)供試品の構成,終端及び製品の形態  

20

附属書 B(参考)基本的な光源の特性  

22

附属書 JA(参考)JIS と対応国際規格との対比表  

24


C 61300-3-7

:2012

(2)

まえがき

この規格は,工業標準化法第 12 条第 1 項の規定に基づき,一般財団法人光産業技術振興協会(OITDA)

及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出

があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が制定した日本工業規格である。

この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。

この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意

を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実

用新案権に関わる確認について,責任はもたない。

JIS C 61300

の規格群には,次に示す部編成がある。

JIS C 61300-1

  第 1 部:通則

JIS C 61300-2-1

  第 2-1 部:正弦波振動試験

JIS C 61300-2-2

  第 2-2 部:繰返しかん合試験

JIS C 61300-2-9

  第 2-9 部:衝撃試験

JIS C 61300-2-12

  第 2-12 部:落下衝撃試験

JIS C 61300-2-14

  第 2-14 部:光パワー損傷のしきい値試験

JIS C 61300-2-15

  第 2-15 部:結合部ねじり試験

JIS C 61300-2-17

  第 2-17 部:低温試験

JIS C 61300-2-18

  第 2-18 部:高温試験

JIS C 61300-2-19

  第 2-19 部:高温高湿試験(定常状態)

JIS C 61300-2-21

  第 2-21 部:混合温湿度サイクル試験

JIS C 61300-2-22

  第 2-22 部:温度サイクル試験

JIS C 61300-2-45

  第 2-45 部:浸水試験

JIS C 61300-2-46

  第 2-46 部:湿熱サイクル試験

JIS C 61300-2-47

  第 2-47 部:熱衝撃試験

JIS C 61300-2-48

  第 2-48 部:温湿度サイクル試験

JIS C 61300-3-2

  第 3-2 部:シングルモード光デバイスの光損失の偏光依存性

JIS C 61300-3-3

  第 3-3 部:挿入損失及び反射減衰量変化のモニタ方法

JIS C 61300-3-4

  第 3-4 部:損失測定

JIS C 61300-3-6

  第 3-6 部:反射減衰量測定

JIS C 61300-3-7

  第 3-7 部:シングルモード光部品の光損失及び反射減衰量の波長依存性測定

JIS C 61300-3-15

  第 3-15 部:球面研磨光ファイバコネクタのフェルール端面の頂点偏心量測定

JIS C 61300-3-16

  第 3-16 部:球面研磨光ファイバコネクタのフェルール端面の曲率半径測定

JIS C 61300-3-20

  第 3-20 部:波長選択性のない光ブランチングデバイスのディレクティビティ測定

JIS C 61300-3-24

  第 3-24 部:偏波面保存光ファイバ付き光ファイバコネクタのキー位置精度測定

JIS C 61300-3-26

  第 3-26 部:光ファイバとフェルール軸との角度ずれの測定

JIS C 61300-3-27

  第 3-27 部:多心光ファイバコネクタプラグの穴位置測定

JIS C 61300-3-28

  第 3-28 部:過渡損失測定


C 61300-3-7

:2012

(3)

JIS C 61300-3-30

  第 3-30 部:多心光ファイバコネクタ用フェルールの研磨角度及び光ファイバ位置

測定

JIS C 61300-3-31

  第 3-31 部:光ファイバ光源の結合パワー比測定

JIS C 61300-3-34

  第 3-34 部:ランダム接続時の挿入損失

JIS C 61300-3-36

  第 3-36 部:光ファイバコネクタフェルールの内径及び外径の測定

JIS C 61300-3-43

  第 3-43 部:光ファイバ光源のモードトランスファファンクション測定


日本工業規格

JIS

 C

61300-3-7

:2012

光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−

基本試験及び測定手順−

第 3-7 部:シングルモード光部品の

光損失及び反射減衰量の波長依存性測定

Fiber optic interconnecting devices and passive components-

Basic test and measurement procedures-

Part 3-7: Examinations and measurements-Wavelength dependence of

attenuation and return loss of single mode components

序文 

この規格は,2009 年に第 2 版として発行された IEC 61300-3-7 を基とし,測定方法に矛盾があったため,

技術的内容を変更して作成した日本工業規格である。

なお,この規格で点線の下線を施してある箇所は,対応国際規格を変更している事項である。変更の一

覧表にその説明を付けて,

附属書 JA に示す。

適用範囲 

この規格は,光通信に用いるシングルモード光ファイバ用光受動部品の光損失 A(λ)及び反射減衰量 RL(λ)

の波長依存性を測定する方法について規定する。この測定法は,高密度 WDM 光受動部品には適用するこ

とはできない。高密度 WDM 光受動部品の光損失の波長依存性測定は,IEC 61300-3-29 に規定する。WDM

光受動部品の種類は,JIS C 5925-1 に規定する。

この規格では,次の三つの測定方法を規定する。

−  A(λ)だけを測定する方法

−  RL(λ)だけを測定する方法

−  A(λ)及び RL(λ)を同時に測定する方法

これらの測定方法は,方向性をもつ片方向用光受動部品及び入出力端子を反転しても機能する両方向用

光受動部品の両方に適用する。

注記 1  関連する試験及び測定方法の通則は,JIS C 61300-1 に規定する。

注記 2  この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。

IEC 61300-3-7:2009

,Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test and

measurement procedures−Part 3-7: Examinations and measurements−Wavelength dependence

of attenuation and return loss of single mode components(MOD)

なお,対応の程度を表す記号“MOD”は,ISO/IEC Guide 21-1 に基づき,

“修正している”


2

C 61300-3-7

:2012

ことを示す。

引用規格 

次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの

引用規格は,その最新版(追補を含む。

)を適用する。

JIS C 5925-1

  WDM デバイス通則

注記  対応国際規格:IEC 62074-1,Fibre optic interconnecting devices and passive components−Fibre

optic WDM devices−Part 1: Generic specification(MOD)

IEC 61300-3-29

,Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test and measurement

procedures−Part 3-29: Examinations and measurements−Measurement techniques for characterizing the

amplitude of the spectral transfer function of DWDM components

記号及び略語 

この規格で用いる主な記号及び略語は,次による。

A

光損失

(attenuation)

A(λ)

波長依存性損失

(wavelength dependent attenuation)

ASE

増幅された自然放出光

(amplified spontaneous emission)

BBD

広帯域受光装置

(broadband detection)

BBS

広帯域光源

(broadband source)

BD

光ブランチングデバイス

(branching devices)

BPON

広帯域受動光ネットワーク

(broadband passive optical network)

CWDM

コース WDM

(coarse wavelength division multiplexing)

DFB(レーザ) 分布帰還形(レーザ)

[distributed feedback (laser)]

DOP

偏光度

(degree of polarization)

DUT

供試品

(device under test)

DWDM

高密度 WDM

(dense wavelength division multiplexing)

ECL

(波長可変)外部共振器レーザ

[external cavity (tuneable) laser]

EDFA

エルビウム添加光ファイバ増幅器

(erbium doped fiber amplifier)

EDFL

エルビウム添加光ファイバレーザ

(erbium-doped fiber laser)

EPON

イーサネット受動光ネットワーク

(ethernet passive optical network)

FA

光ファイバ増幅器

(fiber amplifier)

FBG

ファイバブラッググレーティング

(fiber bragg grating)

FEC

前方誤り訂正

(forward error correction)

FP(レーザ)  ファブリ・ペロー形(レーザ)

[Fabry-Perot (laser)]

GPON

ギガビットイーサネット受動光ネットワーク(gigabit ethernet passive optical network)

λ

波長

(wavelength)

NLS

狭帯域光源

(narrowband light sources)

OPM

光パワーメータ

(optical power meter)

ORR

光阻止特性

(optical rejection ratio)

OSA

光スペクトラムアナライザ

(optical spectrum analyser)


3

C 61300-3-7

:2012

P

i

(λ)

供試品に入射する波長依存性光パワー  (wavelength dependent power incident on the DUT)

P

r

(λ)

供試品(の入力端子)から反射される波長依存性光パワー

[wavelength dependent power reflected by the DUT (from the input port of the DUT)]

P

t

(λ)

供試品を通過する波長依存性光パワー

(wavelength dependent power transmitted through the DUT)

PDL

偏光依存性損失

(polarization dependent loss)

POC

光受動部品

(passive optical components)

PON

受動光ネットワーク

(passive optical network)

RBD

基準光ブランチングデバイス

(reference branching device)

RBW

分解能帯域幅

(resolution bandwidth)

RL

反射減衰量

(return loss)

RL(λ)

波長依存性反射減衰量

(wavelength dependent return loss)

RTM

基準測定方法

(reference test method)

SLD

スーパールミネッセントダイオード

(superluminescent diode)

SMSR

サイドモード抑圧比

(side mode suppression ratio)

SOA

半導体光増幅器

(semiconductor amplifier)

SOP

偏光状態

(state of polarization)

TJ

テンポラリジョイント

(temporary joint)

TND

波長可変狭帯域受光装置

[tuneable narrowband detection (system)]

TLS

波長可変狭帯域光源

(tuneable narrowband light source)

TN-OTDR

波長可変形 OTDR

(tuneable OTDR)

WDM

波長分割多重

(wavelength division multiplexing)

概要 

4.1 

一般事項 

光ファイバ伝送システム中に供試品を挿入することによって,通過光及び反射光から A(λ)及び RL(λ)を得

る。A(λ)及び RL(λ)は,デシベル(dB)で表す。供試品に入射する光パワーと次の光パワーとを比較するこ

とで,A(λ)及び RL(λ)を求める。

−  供試品の出力端子への通過光パワー

−  供試品の入力端子からの反射光パワー

入出力端子を反転すると機能しない片方向用の供試品である場合を除き,測定は両方向で行う。供試品

の接続方向を反転して,両方向での測定値を求める。光損失の場合は,両方向での測定値から平均値を求

める。

反射減衰量という用語は反射率と同等なものとして扱ってはならない。両者は異なる意味をもつ。

4.2 

波長条件 

供試品の個別に規定する波長範囲で,A(λ)及び RL(λ)を測定する。この波長範囲で,個別に設定する供試

品の波長特性に基づいて,波長分解能,測定の不確かさなどの,測定の帯域を制限する測定系の波長特性

を規定する。波長分解能は隣接する二つの測定点間の波長間隔であり,測定の不確かさは各測定点におけ

る測定の不確かさである。


4

C 61300-3-7

:2012

4.3 

用語及び定義 

この規格で用いる主な用語及び定義は,次による。

4.3.1 

光損失(箇条 を参考) 

光損失 A(λ)は供試品を通過する光パワーの減少量であり,波長の関数である。

式(1)によって求める。

( )

( )

( )

×

=

λ

λ

λ

i

t

log

10

P

P

A

(dB)  (1)

ここに,  P

t

(λ): 供試品の入力端子から出力端子に通過した光パワーの測定

値(W)

。波長(λ)の関数として表す。

P

i

(λ): 供試品の入力端子に入射する光パワーを入力端子において

測定した値(W)

。波長(λ)の関数として表す。

また,両方向測定においては,次の測定も行う。 

P

t

(λ): 供試品の出力端子から入力端子に通過した光パワーの測定

値(W)

。波長(λ)の関数として表す。

P

i

(λ): 供試品の出力端子に入射する光パワーを出力端子において

測定した値(W)

。波長(λ)の関数として表す。

図 に概念図を示す。

a)

  片方向測定 

b)

  両方向測定 

図 1−光損失及び反射減衰量の波長依存性測定の概念図 

4.3.2

反射減衰量(箇条 を参考)

反射減衰量 RL(λ)は供試品が反射する光パワーであり,波長の関数である。

式(2)によって求める。

( )

( )

( )

×

=

λ

λ

λ

i

r

log

10

P

P

RL

(dB)   (2)

ここに,  P

r

(λ): 供試品が反射する光パワーを入力端子において測定した値

(W)

。波長(λ)の関数として表す。

P

i

(λ): 供試品の入力端子に入射する光パワーを入力端子において

測定した値(W)

。波長(λ)の関数として表す。

また,両方向測定においては,次の測定も行う。 

P

r

(λ): 供試品が反射した光パワーを出力端子において測定した値

入力
端子

出力
端子

反射光パワー  P

r

(λ)

入射光パワー  P

i

(λ)

通過光パワー  P

t

(λ)

DUT

入射光パワー  P

i

(λ)

通過光パワー  P

t

(λ)

入射光パワー  P

i

(λ)

反射光パワー  P

r

(λ)

反射光パワー  P

r

(λ)

通過光パワー  P

t

(λ)

入力端子 出力端子

DUT


5

C 61300-3-7

:2012

(W)

。波長(λ)の関数として表す。

P

i

(λ): 供試品の出力端子に入射する光パワーを出力端子において

測定した値(W)

。波長(λ)の関数として表す。

図 に概念図を示す。

4.4 

供試品 

供試品は,三つ以上の端子をもつものもある。ただし,A(λ)の測定は,片方向及び両方向のいずれの場

合であっても二つの端子間だけで測定するため,この規格においては,供試品は二つの端子をもつものと

みなす。RL(λ)の測定についても同様に,供試品は一つの端子だけをもつものとみなす。使用しない端子が

ある場合は,その部分で反射光が生じないように終端処理する。

8 種類の供試品の形態を,表 A.1 に示す。これらの差異は,主に入出力端子の終端構造にある。終端は

光ファイバピッグテール,光コネクタプラグ,光コネクタレセプタクルなどである。この規格において考

慮した各種光受動部品を,

表 A.2 に示す。

4.5 

測定方法 

供試品の波長応答特性を測定する方式としては,測定対象とする波長帯域において複数の単一波長測定

を実施するステップモード,波長帯域の全体を連続的に測定する波長掃引モード及びその 2 種類のモード

を組み合わせる方式がある。測定手順は,測定方法によって,次による。

A(λ)及び RL(λ)の測定方法は,光源と受光装置との組合せによって,表 に示す方法 A∼方法 D の 4 種類

がある。方法 B 及び方法 C については,複数の構成例を示す。

注記  測定方法及び構成によって,光損失の測定精度は異なる。測定精度の差が問題となる場合には,

基準測定方法(RTM)を選択することが望ましい。

表 1−測定方法及び構成例 

方法

名称

光源

受光装置

配置例

備考

A BBS

BBS

TND  BBS+DUT+OSA

代替方法

B TLS

無偏光化+ 
コヒーレンス制御

B.1 TLS+BBD TLS

BBD

TLS+DUT+OPM

B.1.1 TLS(ステップモード)

+BBD

TLS(ステップモード) BBD TLS+DUT+OPM

代替方法

B.1.2 TLS(波長掃引モード)

+BBD

TLS(波長掃引モード) BBD TLS+DUT+OPM

代替方法

B.2 TLS+TND TLS

TND

TLS+DUT+OSA

B.2.1 TLS(ステップモード)

+TND

TLS(ステップモード) TND TLS+DUT+OSA

基 準 測 定 方
法(RTM)

B.2.2 TLS(波長掃引モード)

+TND

TLS(波長掃引モード) TND TLS+DUT+OSA

代替方法

C

台の NLS 組合せ

無偏光化+ 
コヒーレンス制御

C.1

台の NLS+BBD

台の NLS BBD

N TLS+N×1 形光スイッチ
+DUT+OPM

代替方法

C.2

台の NLS+TND

台の NLS TND

N TLS+N×1 形光ブランチ
ングデバイス+DUT+OSA

代替方法

D TN-OTDR

TN-OTDR

TN-OTDR

TN-OTDR+DUT

代替方法


6

C 61300-3-7

:2012

4.5.1 

方法 A−広帯域光源(BBS 

方法 A の具体的な構成の一例としては,広帯域光源と光スペクトラムアナライザとを組み合わせて用い

る。方法 A は 1 回の測定で測定対象とする波長帯域全体を測定できる利点がある。測定のサンプリングレ

ートは,波長可変狭帯域受光装置の性能で決まる。波長依存性の測定は,単位波長当たりの分光光パワー

密度が高い広帯域光源を用いて行うのがよい。適切な波長可変狭帯域受光装置を用いることで,精度の高

い測定を行うことができる。

4.5.2 

方法 B−波長可変狭帯域光源(TLS 

方法 B では,波長可変狭帯域光源,及び 2 種類の受光装置(BBD 又は TND)のいずれかを用いる。

4.5.2.1 

方法 B.1−波長可変狭帯域光源と広帯域受光装置との組合せ 

方法 B.1 では,波長可変狭帯域光源と広帯域受光装置とを組み合わせて用いる。

方法 B.1 の具体的な構成の一例としては,波長可変狭帯域光源と光パワーメータとを組み合わせて用い

る。広帯域受光装置と組み合わせて用いる場合に,波長可変狭帯域光源には次の 2 種類の使い方がある。

a)

方法 B.1.1−ステップモードで用いる波長可変狭帯域光源と広帯域受光装置との組合せ  この方法で

は,測定の分解能は,波長可変狭帯域光源のスペクトル線幅及び波長ステップの大きさで決まる。ス

ペクトル線幅が極端に狭い場合には,スプリアス雑音が発生し,コヒーレンス干渉の影響が生じるほ

か,不必要に多量の測定データを取得することとなる。逆にスペクトル線幅が極端に広い場合には,

供試品の波長応答特性を測定するために十分な分解能が得られない。供試品の測定に必要な帯域幅及

びナイキスト基準を考慮して,波長可変狭帯域光源のスペクトル線幅を決める。

b)

方法 B.1.2−波長掃引モードで用いる波長可変狭帯域光源と広帯域受光装置との組合せ  この方法で

は,測定の分解能は波長可変狭帯域光源のスペクトル線幅ではなく,受光装置の応答速度で決まる。

供試品の測定に必要な帯域幅及びナイキスト基準を考慮して,受光装置の応答速度を決める。また,

測定の分解能は,波長掃引速度及び受光装置の応答時間(平均化処理時間を含む。

)による。

4.5.2.2 

方法 B.2−波長可変狭帯域光源と波長可変狭帯域受光装置との組合せ 

方法 B.2 では,波長可変狭帯域光源と波長可変狭帯域受光装置とを組み合わせて用いる。両測定器間の

同期が必要である。この方法は特に,超狭帯域特性をもつ光部品の測定に用いる。

方法 B.2 の具体的な構成の一例としては,波長可変狭帯域光源と光スペクトラムアナライザとを組み合

わせて用いる。波長可変狭帯域受光装置と組み合わせて用いる場合に,波長可変狭帯域光源には次の 2 種

類の使い方がある。

a)

方法 B.2.1−ステップモードで用いる波長可変狭帯域光源と波長可変狭帯域受光装置との組合せ  測

定の分解能については,方法 B.1.1 の場合と同様である。

b)

方法 B.2.2−波長掃引モードで用いる波長可変狭帯域光源と波長可変狭帯域受光装置との組合せ  測

定の分解能については,方法 B.1.2 の場合と同様である。

4.5.3 

方法 C−波長固定狭帯域光源(NLS 

方法 C では,台の狭帯域光源と,2 種類の受光装置のいずれかとを組み合わせて用いる。特に,供試

品の光損失及び反射減衰量の波長依存性がかなり大きいと予測される場合,かつ,その波長域を慎重に調

査しなければならない場合に,この方法は有効である。

4.5.3.1 

方法 C.1−波長固定狭帯域光源と広帯域受光装置 

方法 C.1 は,方法 B.1 において,波長可変狭帯域光源を 台の波長固定狭帯域光源及び N×1 形光スイ

ッチに置き換えた方法である。方法 C.1 の光源及び受光装置の具体的な構成の一例としては,台の DFB

レーザと光パワーメータとを組み合わせて用いる。


7

C 61300-3-7

:2012

4.5.3.2 

方法 C.2−波長固定狭帯域光源と波長可変狭帯域受光装置との組合せ 

方法 C.2 は,方法 B.2 において,波長可変狭帯域光源を 台の波長固定狭帯域光源及び N×1 形光スイ

ッチ又は N×1 形光ブランチングデバイスに置き換えた方法である。方法 C.2 の光源及び受光装置の具体

的な構成の一例としては,台の DFB レーザと光スペクトラムアナライザとを組み合わせて用いる。

4.5.4 

方法 D−波長可変形 OTDR 

方法 D では,波長可変形 OTDR に内蔵の波長可変狭帯域光源と受光装置とを組み合わせて用いる。

4.5.5 

基準測定方法(RTM 

A(λ)及び RL(λ)の測定における基準測定方法(RTM)は,方法 B.2.1 による。 

装置 

測定に用いる装置は,次による。

5.1 

光源 

測定に用いる光源は,次による。

5.1.1 

方法 A−広帯域光源(BBS 

広帯域光源は,方法 A で用いる。広帯域光源は,その種類に応じて様々な特性をもった広帯域の光を出

力する。広帯域光源は,白色光源,LED(表面発光形又は端面発光形)

,スーパールミネッセントダイオー

ド(SLD)又は増幅された自然放出光(ASE)光源[光ファイバ増幅器(FA)又は半導体光増幅器(SOA)

を用いることができる。

広帯域光源は,供試品の使用波長範囲よりも広い波長帯域をもち,かつ,出力光パワーが A(λ)及び RL(λ)

の測定に十分な大きさをもつものを用いる。光パワーの安定性は,連続 8 時間の使用で±0.05 dB 以内とす

る。

個別に規定する供試品の A(λ)及び RL(λ)の仕様の詳細を十分に確認し,方法 A による測定がこれを満た

すことができるように,慎重に広帯域光源の仕様を決める。広帯域光源の主要特性を,

附属書 の B.1 

示す。

5.1.2 

方法 B−波長可変狭帯域光源(TLS 

波長可変狭帯域光源は,方法 B で用いる。波長可変狭帯域光源は,その使用波長範囲内の選択した任意

の波長においてスペクトル線幅の狭い光を出射するものであり,そのタイプによって特性が異なる。波長

可変狭帯域光源は,例えば,広帯域光源と波長可変フィルタとの組合せ,外部共振器波長可変レーザ(ECL)

波長可変 DFB レーザ,波長可変エルビウム添加光ファイバレーザ(EDFL)などである。様々な波長可変

狭帯域光源の主要特性を,

附属書 の B.2 に示す。

波長可変狭帯域光源の仕様は,方法 B の中から選択した測定方法による測定結果が,個別に規定する供

試品の A(λ)及び RL(λ)の仕様を満足するように,決めなければならない。通常,慎重に検討しなければなら

ない波長可変狭帯域光源の主要特性を,次に示す。

−  中心波長

−  サイドモード抑圧比(SMSR)

(必要な場合)

−  スペクトル線幅[コヒーレンス干渉の影響,偏光依存性損失(PDL)の影響,スプリアス反射及びナ

イキスト基準を考慮する。

−  全ての使用波長における出射光パワーの安定性は,8 時間の連続使用において±0.05 dB 以内とする。

5.1.3 

方法 C−波長固定狭帯域光源(NLS 

波長固定狭帯域光源は,方法 C で用いる。各狭帯域光源の波長,又はその組合せによって全体として構


8

C 61300-3-7

:2012

成する波長範囲は,規定の測定波長又は測定波長範囲を満たすものとし,受光装置の波長範囲もこれに対

応するものとする。全ての場合において,N×1 形光ブランチングデバイス又は光スイッチを用いる。ここ

で,は,用いる狭帯域光源の数である。

方法 C では,台の単一波長光源を組み合わせて用いる。単一波長光源の例を,次に示す。

−  ファブリ・ペロー形(FP)レーザ

− DFB レーザ

波長固定狭帯域光源に対する要求仕様は,通常,波長可変狭帯域光源に対する要求仕様と同等とする。

コヒーレンス干渉の影響を避けるために,コヒーレンス制御を適用する。

5.1.4 

方法 D−波長可変形 OTDRTN-OTDR 

波長可変形 OTDR は,方法 D で用いる。波長可変形 OTDR の光源に対する要求仕様は,波長可変狭帯

域光源に対する要求仕様と同等とする。

コヒーレンス干渉の影響を避けるため,波長可変形 OTDR の内蔵狭帯域光源に対してはコヒーレンス制

御を行う。

5.1.5 

偏光解消子 

全ての場合において,特定の偏光状態(SOP)によらず,全ての偏光状態に対する平均的な値となるよ

うな A(λ)及び RL(λ)の値を得るため,波長可変狭帯域光源は無偏光状態にする必要がある。偏光スクランブ

ラを用いる方法,

循環形の光カプラを用いる方法など,

能動形及び受動形の各種の無偏光化の方法がある。

測定中のコヒーレンス干渉の影響を防ぐため,波長可変狭帯域光源に対してコヒーレンス制御を行う。

方法 B,方法 C 及び方法 D では,偏光状態の関数である A(λ)及び RL(λ)を平均化したものを測定結果と

する。これらの測定では,特定の偏光状態をもつ狭帯域光源を用いており,その場合には,供試品の測定

結果は不明な特定の偏光状態のものとなるため,全ての偏光状態に対して平均化する。

次に,A(λ)及び RL(λ)を平均化するための二つの方法を示す。

−  直接的方法:偏光度を低下させるため,能動的又は受動的な部品で構成する偏光解消子を光源の出力

端子に接続する。これによって,偏光状態の関数である A(λ)及び RL(λ)の平均値を直接測定する。

−  間接的方法:偏光状態の関数として A(λ)及び RL(λ)を測定し,測定結果を平均化する。

5.2 

受光装置 

それぞれの方法について,受光装置の構成を示す。

5.2.1 

方法 A,方法 B.2 及び方法 C.2−波長可変狭帯域受光装置(TND 

波長可変狭帯域光受光装置は,方法 A,方法 B.2 及び方法 C.2 で用いる。

波長可変受光装置として,通常,規定の波長範囲における全ての波長成分の出力光パワーを測定でき,

ある分解能帯域幅(RBW)をもった光スペクトラムアナライザを用いる。分解能帯域幅は,光スペクトラ

ムアナライザに内蔵する光波長フィルタの波長特性を示すものであり,光損失がピークから 3 dB 低下した

帯域幅で定義する。分解能帯域幅が変更可能な場合には,供試品の測定に必要な帯域幅及びナイキスト基

準を考慮して決める。中心波長から一定の波長差における光阻止特性(ORR)を規定する。これによって,

供試品の波長応答特性測定結果に,測定系に起因する検出誤差を含まないようにして,測定結果の解釈を

誤ることを防止する。光阻止特性の仕様として,例えば,

“中心波長から 0.1 nm 離れた波長における光損

失が 20 dB 低下,又は,中心波長から 0.2 nm 離れた波長における光損失が 30 dB 低下”と規定する。これ

は,光スペクトラムアナライザに内蔵する光波長フィルタの要求波長応答特性を規定することでもある。

光スペクトラムアナライザの分解能帯域幅の全体的な評価をする場合,光スペクトラムアナライザに内蔵

する光波長フィルタの波長応答特性の形状を調査する。例えば,この調査は,DFB レーザをこの光スペク


9

C 61300-3-7

:2012

トラムアナライザで測定した包絡線と,高い分解能をもつ干渉計で測定した特性とを比較することによっ

て可能である。

光パワー測定のダイナミックレンジ及び感度は,個別に規定する供試品の 及び RL を測定するのに十

分なものとする。光スペクトラムアナライザの偏光依存性に起因する光パワー強度測定の不確かさは,測

定する供試品の A

DUT

(λ)に対して許容する不確かさよりも小さくなければならない。

一連の測定中,光スペクトラムアナライザを取り外し,再び接続することがあるが,各測定間で接続損

失が一定となるようにする。

5.2.2 

方法 B.1 及び方法 C.1−広帯域受光装置(BBD 

広帯域受光装置は,方法 B.1 及び方法 C.1 で用いる。

広帯域受光装置は,一般には光パワーメータを用いる。光パワーメータは,供試品との光接続部分を含

む受光センサー部,付帯電気回路及び表示部からなる。光学的な接続手段とは,例えば,光コネクタレセ

プタクル,光ファイバピッグテール又は光ファイバ素線アダプタである。

広帯域受光装置は,A(λ)及び RL(λ)の測定に対し,波長範囲が十分に広く,受光感度が十分に高いもので

なければならない。広帯域受光装置の応答特性は直線性をもたなければならない。全ての測定は差をとる

ことで行っているため,校正は絶対的なものである必要はない。測定中,広帯域受光装置からの反射光パ

ワーを抑圧し,偏光依存性を極力小さくする。

一連の測定中,広帯域受光装置を取り外し,再び接続することがあるが,各測定間で,接続損失が一定

となるようにする。供試品が出射する光を全て受けられるよう,大口径形の受光装置を用いるのがよい。

5.3 

光ブランチングデバイス(BD 

波長選択性のない光ブランチングデバイスを用いて,光源と供試品とを接続する。接続形態には,光フ

ァイバピッグテール形及び光コネクタ形がある。

光ブランチングデバイスの使用例としては,供試品の反射減衰量 RL

DUT

(λ)の測定に用いる 2×1 形光カプ

ラがある。

光ブランチングデバイスの分岐比は,安定かつ波長に対して均一でなければならない。広帯域受光装置

の偏光依存性損失に起因する光パワー強度測定の不確かさは,測定する供試品の A

DUT

(λ)に対して許容する

不確かさよりも小さくなければならない。光ブランチングデバイスの光損失 A

BD

(λ)は,RL

DUT

(λ)の最小の値

を測定する場合においても影響が無視できる程度に十分に小さくなければならない。光ブランチングデバ

イスの反射減衰量 RL

BD

(λ)は,測定しようとする供試品の反射減衰量 RL

DUT

(λ)の最大の値より,20 dB 以上

大きくなければならない。光ブランチングデバイスのディレクティビティは,RL

DUT

(λ)の最大の値より,

10 dB 以上大きくなければならない。

光ブランチングデバイスは,供試品の個別の規定の詳細を考慮して選定する。

一連の測定中,光ブランチングデバイスを取り外し,再び接続することがあるが,各測定間で接続損失

が一定となるようにする。

5.4 

光終端器 

反射減衰量の測定に用いる光終端器には,次の 2 種類がある。

a)

大きな反射減衰量をもつ光終端器  反射減衰量の測定に無反射終端として用いる光終端器は,大きな

反射減衰量 RL

(λ)をもたなければならない。このような光終端器として,次の 3 種類を示す。

−  斜め PC 研磨(APC)形光コネクタを用いるなどの角度処理した光ファイバ端面

−  光ファイバ端面への屈折率整合剤の塗布

−  マンドレルラップ(円筒への巻き付け)などによる光ファイバ内での十分な減衰


10

C 61300-3-7

:2012

光終端器の反射減衰量 RL

(λ)は,測定する供試品の反射減衰量 RL

DUT

(λ)の最大値よりも 20 dB 以上

大きくなければならない。

b)

既知の反射減衰量をもつ光終端器  反射減衰量のリファレンス測定に用いる光終端器は,光終端器の

反射減衰量 RL

t

(λ)が既知でなければならない。

手順 

ここでは,A(λ)及び RL(λ)を測定する手順を規定する。

次に示す測定方法において,基本の測定手順に対して一部の手順を変更することによって,測定の不確

かさを減らすことが可能な場合がある。例えば,大きな光損失をもつ供試品を測定する場合に,光源から

の出射光の振幅を変調し,変調光の光パワーを,同期した変調周波数を受光する光パワーメータを用いて

測定するという方法がある。

また,基準光ブランチングデバイス(RBD)の出力端子を用いて,光源の出力光パワー変動を常時モニ

タし,これに応じて供試品の波長応答特性を自動式に補正することが可能である。

注記  方法 B 又は方法 C で測定する場合には,測定精度は,供試品及び受光装置の偏光依存性損失に

よる。

6.1 

方法 A−広帯域光源 

6.1.1 

光損失だけを測定する方法 

6.1.1.1 

リファレンス測定 

図 2 a)に示すように,広帯域光源を波長可変狭帯域受光装置に接続する。供試品の構成に応じて,接続

は直接又は光コネクタアダプタを介して行う。測定の不確かさを小さくできるため,可能な場合には,直

接接続する方がよい。

図 2 a)に従い,測定波長範囲の全体にわたって光出力パワーP

t

ref

(λ)を測定し,記録する。

TJ

a)

  光損失のリファレンス測定 

b)

  光損失の測定 

図 2−方法 A  光損失だけを測定する方法 

6.1.1.2 

光損失の測定 

図 2 b)に示すように,供試品を測定系に設置し,測定波長範囲において出力光パワーP

t

(λ)を測定し,記

録する。

BBS

TND

BBS

TND

P

i

(λ)

P

t

ref

(λ)

BBS

TND

BBS

TND

P

i

(λ)

P

t

(λ)

DUT

DUT


11

C 61300-3-7

:2012

式(3)によって光損失 A(λ)を算出する。

( )

( )

( )

×

=

λ

λ

λ

ref

t

t

log

10

P

P

A

(dB)   (3)

ここに,

P

t

(λ): 供試品を透過する光パワーを出力端子において測定した値

(W)

。波長(λ)の関数として表す。

P

t

ref

(λ): 光源と受光装置を接続したときの光パワーを測定した値

(W)

。波長(λ)の関数として表す。

6.1.1.3 

両方向測定 

供試品を反転して両方向で測定する。

6.1.2 

反射減衰量だけを測定する方法 

6.1.2.1 

リファレンス測定 

図 3 a)に示すように,広帯域光源及び波長可変狭帯域受光装置を 2×1 形光ブランチングデバイスに接続

する。供試品の構成に応じて,接続は直接又は光コネクタアダプタを介して行う。測定の不確かさを小さ

くできるため,可能な場合には,直接接続することが望ましい。また,

図 3 a)に従い,2×1 形光ブランチ

ングデバイスの出力端子に,既知の反射減衰量 RL

t

(λ)をもつ光終端器を接続する。

図 3 a)に従い,測定波長範囲にわたって出力光パワーP

r

ref

(λ)を測定し,記録する。

BBS

TND

2

× 1

BD 

BBS

TND

2

×1

BD 

TJ

P

i

(

λ

)

P

(

λ

)

r

ref

P

(

λ

)

r

ref

P

i

(

λ

)

既知の反射減衰量 RL

t

(λ)を

もつ光終端器

既知の反射減衰量 RL

t

(λ)を

もつ光終端器

a)

  反射減衰量のリファレンス測定 

BBS

TND

2

×1

BD 

DUT

BBS

TND

2

×1

BD 

DUT

P

i

(

λ

)

P

r

(

λ

)

P

i

(

λ

)

P

r

(

λ

)

大きな反射減衰量を
もつ光終端器

大きな反射減衰量を
もつ光終端器

b)

  反射減衰量の測定 

図 3−方法 A  反射減衰量だけを測定する方法 

6.1.2.2 

反射減衰量の測定 

図 3 b)に示すように,供試品を測定系に設置し,測定波長範囲にわたって出力光パワーP

r

(λ)を測定し,

記録する。

式(4)によって,反射減衰量 RL(λ)を算出する。

( )

( )

( )

×

=

λ

λ

λ

ref

r

r

log

10

P

P

RL

RL

t

(λ)(dB)  (4)


12

C 61300-3-7

:2012

ここに,

P

r

(λ): 供試品が反射する光パワーを入力端子において測定した値

(W)

。波長(λ)の関数として表す。

P

r

ref

(λ): 供試品の出力端子に大きな反射減衰量をもつ光終端器を接

続した状態で,入力端子における光パワーを測定した値
(W)

。波長(λ)の関数として表す。

RL

t

(λ): 供試品の出力端子に接続する大きな反射減衰量をもつ光終

端器の反射減衰量(dB)

。波長(λ)の関数として表す。

6.1.2.3 

両方向測定 

供試品を反転して両方向で測定する。

6.1.3 

光損失及び反射減衰量を同時に測定する方法 

6.1.3.1 

リファレンス測定 

図 4 a)に示すように,広帯域光源及び二つの波長可変狭帯域受光装置を 2×1 形光ブランチングデバイス

に接続する。供試品の構成に応じて,接続は直接又は光コネクタアダプタを介して行う。測定の不確かさ

を小さくできるため,可能な場合には,直接接続することが望ましい。また,2×1 形光ブランチングデバ

イスの 1 端子側の波長可変狭帯域受光装置と接続する部分には,必ず斜め PC 研磨(APC)形光コネクタ

を用いる。

図 4 a)に従い,測定波長範囲にわたって,出力光パワーP

t

ref

(λ)を測定し,記録する。

6.1.2.1

と同様に,

図 3 a)に示した系にて,測定波長範囲にわたって出力光パワーP

r

ref

(λ)を測定し,記録す

る。

BBS

TND

2

× 1

BD 

BBS

TND

2

× 1

BD 

TJ

TND

TND

P

i

(

λ

)

P

(

λ

)

r

ref

P

(

λ

)

t

ref

P

i

(

λ

)

P

(

λ

)

r

ref

P

(

λ

)

t

ref

a)

  光損失のリファレンス測定 

BBS

TND

2

× 1

BD 

DUT

TND

BBS

TND

2

× 1

BD 

DUT

TND

P

i

(

λ

)

P

r

(

λ

)

P

t

(

λ

)

P

i

(

λ

)

P

r

(

λ

)

P

t

(

λ

)

b)

  光損失及び反射減衰量の測定 

図 4−方法 A  光損失及び反射減衰量を同時に測定する方法 

6.1.3.2 

光損失及び反射減衰量の測定 

図 4 b)に示すように,供試品を測定系に設置し,測定波長範囲にわたって出力光パワーP

t

(λ)及び P

r

(λ)を

測定し,記録する。


13

C 61300-3-7

:2012

式(3)によって光損失 A(λ)を,式(4)によって反射減衰量 RL(λ)を算出する。

6.1.3.3 

両方向測定 

供試品を反転して両方向で測定する。

6.2 

方法 B−波長可変狭帯域光源 

方法 B は,方法 A と測定手順に違いはなく,測定系における接続方法も同じである。全ての場合におい

て,方法 B では,全ての偏光状態における平均値を得るため,波長可変狭帯域光源を無偏光化して用いる。

無偏光化処理せずに,波長可変狭帯域光源が出射するある特定の不明な偏光状態のまま又は不適切な偏光

状態のまま用いてはならない。

方法 B では,次に示す種々の構成のうちの一つを実施する(

表 参照)。

−  方法 B.1  波長可変狭帯域光源と広帯域受光装置との組合せ

−  方法 B.1.1  ステップモードで用いる波長可変狭帯域光源と広帯域受光装置との組合せによって,一

度に一つの波長で測定し,測定波長範囲の全体にわたって波長を変化させる。

−  方法 B.1.2  波長掃引モードで用いる波長可変狭帯域光源と広帯域受光装置との組合せによって,測

定波長範囲の全体にわたって連続した測定を行う。

−  方法 B.2  波長可変狭帯域光源と波長可変狭帯域受光装置との組合せ

−  方法 B.2.1  ステップモードで用いる波長可変狭帯域光源と波長可変狭帯域受光装置との組合せに

よって,それぞれの波長を同期させて一度に一つの波長で測定し,測定波長範囲の全体にわたって

波長を変化させる。

−  方法 B.2.2  波長掃引モードで用いる波長可変狭帯域光源と波長可変狭帯域受光装置との組合せに

よって,それぞれの波長を同期させ,測定波長範囲の全体にわたって連続した測定を行う。

全ての場合において,測定系及び手順は,広帯域光源を波長可変狭帯域光源に変更することを除き,6.1

と同じである。

6.3 

方法 C−波長固定狭帯域光源の組合せ 

方法 C では,次に示す二つの構成のうちの一つを実施する(

表 参照)。

−  方法 C.1  台の波長固定狭帯域光源と広帯域受光装置との組合せ

−  方法 C.2  台の波長固定狭帯域光源と波長可変狭帯域受光装置との組合せ

全ての場合において,全ての偏光状態における平均値を得るため,それぞれの波長固定狭帯域光源を無

偏光化して用いる。無偏光化処理せずに,波長固定狭帯域光源が出射するある特定の不明な偏光状態のま

ま又は不適切な偏光状態のまま用いてはならない。

測定手順は,二つの構成のいずれの場合も同じである。

6.3.1 

光損失だけを測定する方法 

6.3.1.1 

リファレンス測定 

図 5  a)に示すように,それぞれの波長固定狭帯域光源と,広帯域受光装置又は波長可変狭帯域受光装置

とを,N×1 形光ブランチングデバイス又は光スイッチを介して接続する。ただし,広帯域受光装置を用い

る場合は,波長間の干渉を避けるため,N×1 形光ブランチングデバイスではなく,光スイッチと組み合わ

せる。

供試品の構成に応じて,接続は直接又は光コネクタアダプタを介して行う。測定の不確かさを小さくで

きるため,可能な場合には,直接接続する方がよい。

図 5 a)に従い,それぞれの波長固定狭帯域光源の波長 λ

n

(ここで,n=1,  …, N)での出力光パワーP

t

ref

(λ

n

)

を測定し,記録する。


14

C 61300-3-7

:2012

TJ

NLS

1

NLS

2

N

 ×

 1 B

D

又はスイ

• • •

NLS

N

• • •

BBD

又は TND

NLS

1

NLS

2

N

 ×

 1 B

D

又は

スイ

ッチ

• • 

NLS

N

• • 

BBD

又は TND

P

i

(

λ

1

)

P

i

(

λ

2

)

P

i

(

λ

N

)

P

i

(

λ

1

)

P

i

(

λ

2

)

P

i

(

λ

N

)

P

t

ref

(

λ

n

)(n = 1,…N)

P

t

ref

(

λ

n

)(n = 1,…N)

a)

  光損失のリファレンス測定 

NLS

1

NLS

2

N

 ×

 1 B

D

又はスイ

ッチ

• • •

NLS

N

• • •

BBD

又は TND

NLS

1

NLS

2

• • •

NLS

N

• • •

DUT

DUT

N

 ×

 1 B

D

はスイ

ッチ

BBD

又は TND

P

i

(

λ

1

)

P

i

(

λ

2

)

P

i

(

λ

N

)

P

i

(

λ

1

)

P

i

(

λ

2

)

P

i

(

λ

N

)

P

t

(

λ

n

)(n = 1,…N)

P

t

(

λ

n

)(n = 1,…N)

b)

  光損失の測定 

図 5−方法 C  光損失だけを測定する方法 

6.3.1.2 

光損失の測定 

図 5 b)に示すように,供試品を測定系に設置し,それぞれの波長固定狭帯域光源の波長 λ

n

(ここで,

n=1,  …, N)での出力光パワーP

t

(λ

n

)を測定し,記録する。

式(5)によって A(λ

n

)を算出する。

( )

( )

( )

×

=

n

n

n

P

P

A

λ

λ

λ

ref

t

t

log

10

(dB)   (5)

6.3.1.3 

両方向測定 

供試品を反転して両方向で測定する。

6.3.2 

反射減衰量だけを測定する方法 

6.3.2.1 

リファレンス測定 

図 6 a)に示すように,波長固定狭帯域光源を N×1 形光ブランチングデバイス又は光スイッチに接続する。

図 6 a)に示すように,N×1 形光ブランチングデバイス又は光スイッチと,広帯域受光装置又は波長可変

狭帯域受光装置とを 2×1 形光ブランチングデバイスに接続し,2×1 形光ブランチングデバイスの出力端


15

C 61300-3-7

:2012

子に,既知の反射減衰量 RL

t

(λ)をもつ光終端器を接続する。ただし,広帯域受光装置を用いる場合は,波

長間の干渉を避けるため,N×1 形光ブランチングデバイスではなく,光スイッチと組み合わせる。

供試品の構成に応じて,接続は直接又は光コネクタアダプタを介して行う。測定の不確かさを小さくで

きるため,可能な場合には,直接接続することが望ましい。

図 6 a)に従い,それぞれの波長固定狭帯域光源の波長 λ

n

(ここで,n=1,  …, N)での出力光パワーP

r

ref

(λ

n

)

を測定し,記録する。

NLS

1

NLS

2

• •
 •

NLS

N

N

 ×

 1 B

D

 又はス

イッチ

• •
 •

BBD

又は TND

2

×

 1

B

D

TJ

NLS

1

NLS

2

• • •

NLS

N

• • •

BBD

又は TND

P

i

(

λ

1

)

N

 ×

 1 B

D

又はスイ

ッチ

2

×

 1

B

D

P

i

(

λ

2

)

P

i

(

λ

N

)

P

i

(

λ

1

)

P

i

(

λ

2

)

P

i

(

λ

N

)

P

r

ref

(

λ

n

)(n = 1,…N)

P

r

ref

(

λ

n

)(n = 1,…N)

既知の反射減衰量 RL

t

(λ)

をもつ光終端器

既知の反射減衰量 RL

t

(λ)

をもつ光終端器

a)

  反射減衰量のリファレンス測定 

NLS

1

NLS

2

• • •

NLS

N

N

 ×

 1 B

D

又はスイ

ッチ

• • •

BBD

又は

TND

2

×

 1B

D

NLS

1

NLS

2

• • •

NLS

N

• • •

BBD

又は TND

DUT

DUT

N

 ×

 1 B

D

又はスイ

ッチ

2

×

 1B

D

P

i

(

λ

1

)

P

i

(

λ

2

)

P

i

(

λ

N

)

P

r

(

λ

n

)(n = 1,…N)

大きな反射減衰量
をもつ光終端器

P

i

(

λ

1

)

P

i

(

λ

2

)

P

i

(

λ

N

)

P

r

(

λ

n

)(n = 1,…N)

大きな反射減衰量
をもつ光終端器

b)

  反射減衰量の測定 

図 6−方法 C  反射減衰量だけを測定する方法 

6.3.2.2 

反射減衰量の測定 

図 6 b)に示すように,供試品を測定系に設置し,それぞれの波長固定狭帯域光源の波長 λ

n

(ここで,

n=1,  …, N)での出力光パワーP

r

(λ

n

)を測定し,記録する。

式(6)によって RL(λ

n

)を算出する。


16

C 61300-3-7

:2012

( )

( )

( )

×

=

n

n

n

P

P

RL

λ

λ

λ

ref

r

r

log

10

RL

t

(λ)(dB)  (6)

6.3.2.3 

両方向測定 

供試品を反転して両方向で測定する。

6.3.3 

光損失及び反射減衰量を同時に測定する方法 

6.3.3.1 

リファレンス測定 

図 7 a)に示すように,波長固定狭帯域光源と,広帯域受光装置又は波長可変狭帯域受光装置とを,N×1

形光ブランチングデバイス又は光スイッチを介して接続する。ただし,広帯域受光装置を用いる場合は,

波長間の干渉を避けるため,N×1 形光ブランチングデバイスではなく,光スイッチと組み合わせる。

供試品の構成に応じて,接続は,直接又は光コネクタアダプタを介して行う。測定の不確かさを小さく

できるため,可能な場合には,直接接続することが望ましい。また,2×1 形光ブランチングデバイスの 1

端子側の波長可変狭帯域受光装置と接続する部分には,必ず斜め PC 研磨(APC)形光コネクタを用いる。

図 7 a)に従い,それぞれの波長固定狭帯域光源の波長 λ

n

(ここで,n=1,  …, N)での光出力パワーP

t

ref

(λ

n

)

を測定し,記録する。

6.3.2.1

と同様に,

図 6 a)に示した測定系にて,測定波長範囲にわたって,それぞれの波長固定狭帯域光

源の波長 λ

n

(ここで,n=1,  …, N)での出力光パワーP

r

ref

(λ

n

)を測定し,記録する。

NLS

1

NLS

2

• • •

NLS

N

N

 ×

 1 B

D

はスイ

ッチ

• • •

BBD

又は TND

2

×

 1

B

D

TJ

NLS

1

NLS

2

• • •

NLS

N

• • •

BBD

又は TND

BBD

又は TND

BBD

又は TND

N

 ×

 1 B

D

又はスイ

ッチ

2

×

 1 B

D

P

i

(

λ

1

)

P

i

(

λ

2

)

P

i

(

λ

N

)

P

t

ref

(

λ

n

)(n = 1,…N)

P

i

(

λ

1

)

P

i

(

λ

2

)

P

i

(

λ

N

)

P

t

ref

(

λ

n

)(n = 1,…N)

a)

  光損失のリファレンス測定 

図 7−方法 C  光損失及び反射減衰量を同時に測定する方法 


17

C 61300-3-7

:2012

NLS

1

NLS

2

• • •

NLS

N

N

 ×

 1 B

D

又はスイ

ッチ

• • •

BBD

又は TND

2

×

 1 B

D

NLS

1

NLS

2

• • •

NLS

N

• • •

BBD

又は TND

DUT

DUT

BBD

又は TND

BBD

又は TND

N

 ×

 1 B

D

はスイ

ッチ

2

×

 1

B

D

P

i

(

λ

1

)

P

i

(

λ

2

)

P

i

(

λ

N

)

P

t

(

λ

n

)(n = 1,…N)

P

i

(

λ

1

)

P

i

(

λ

2

)

P

i

(

λ

N

)

P

t

(

λ

n

)(n = 1,…N)

P

r

(

λ

n

)(n = 1,…N)

P

r

(

λ

n

)(n = 1,…N)

b)

  光損失及び反射減衰量の測定 

図 7−方法 C  光損失及び反射減衰量を同時に測定する方法(続き) 

6.3.3.1A 

光損失及び反射減衰量の測定 

図 7 b)に示すように,供試品を測定系に設置し,それぞれの波長固定狭帯域光源の波長で光出力パワー

P

t

(λ

n

)及び P

r

(λ

n

)を測定し,記録する。

式(5)によって光損失 A(λ

n

)を,式(6)によって反射減衰量 RL(λ

n

)を算出する。

6.3.3.2 

両方向測定 

供試品を反転して両方向で測定する。

6.4 

測定結果 

表 及び図 に,測定結果の記録方法の例を示す。

表 2−光損失及び反射減衰量の波長依存性 

波長(nm)

光損失(dB)

反射減衰量(dB)

λ

1

 

A(λ

1

)

RL(λ

1

)

λ

2

 

A(λ

2

)

RL(λ

2

)

λ

3

 

A(λ

3

)

RL(λ

3

)

λ

n

 

A(λ

n

)

RL(λ

n

)

λ

N

 

A(λ

N

)

RL(λ

N

)

測定を実施した伝搬方向及び出力端子について,別々のグラフを用意するか,又はそれぞれの結果を重

ねて描く。


18

C 61300-3-7

:2012

A(

λ

)

0

光損

失(

dB

波長(nm)

図 8−光損失の波長依存性 

個別に規定する事項 

必要に応じて,次の事項を製品規格などに規定する。

7.1 

光源 

7.1.1 

広帯域光源 

−  波長成分ごとの光パワーレベル

−  光パワー安定性

−  波長帯域

−  光学的な接続手段

7.1.2 

波長可変又は波長固定狭帯域光源 

−  出力光パワー

−  光パワー安定性

−  波長確度

−  波長範囲

−  スペクトル線幅

−  光学的な接続手段

7.1.3 

偏光解消子 

−  許容する最大光損失

−  許容する最大偏光依存性損失

−  偏光度(DOP)の波長依存性の最大値

7.2 

受光装置 

7.2.1 

光パワーメータ 

−  光パワー測定精度

−  ダイナミックレンジ

−  光パワー測定値の直線性

−  光パワー測定の安定性

−  感度の偏光依存性

−  光パワーメータの RL(λ)


19

C 61300-3-7

:2012

−  光学的な接続手段

7.2.2 

光スペクトラムアナライザ 

−  波長範囲

−  波長測定確度

−  分解能帯域幅

−  平均化回数

−  ダイナミックレンジ

−  光パワー測定値の直線性

−  光パワー測定の安定性

−  感度の偏光依存性

−  光スペクトラムアナライザの RL(λ)

−  光学的な接続手段

7.3 

基準光ブランチングデバイス 

−  光パワー分岐比

−  ディレクティビティ

−  偏光依存性損失

−  基準光ブランチングデバイスの RL(λ)

7.4 

光終端器 

−  光終端器の種類

−  無反射終端として用いる場合,許容する最小反射減衰量

−  既知の反射減衰量をもつ光終端器として用いる場合,反射減衰量 RL

t

(λ)


20

C 61300-3-7

:2012

附属書 A

(参考)

供試品の構成,終端及び製品の形態

考えられる供試品の構成及び終端を,

表 A.1 に示す。

表 A.1−供試品の構成及び終端 

No

詳細 DUT

1

両端光ファイバの光受動部品(POC)

2

両端光ファイバの供試品(スプライス又は現地取付け
光コネクタ)

3

片端光コネクタプラグ付きの光ファイバ

4

両端光コネクタプラグの POC

5

両端光コネクタプラグ付きのパッチコード

6

片端光コネクタプラグ付きの光ファイバピッグテール

7

両端光コネクタレセプタクルの POC

8

片端が光コネクタプラグ,もう片端が光コネクタレセ

プタクルの POC

POC 

POC 

POC 

POC 


21

C 61300-3-7

:2012

考えられる製品の形態を,

表 A.2 に示す。

表 A.2−光受動部品の形態 

光受動部品の形態

適用例

ポート

注記

光パッチコード

全般

1×1

A(λ)及び RL(λ)は光コネクタの種類によって決まる。

光ブランチングデバイス  全般

N×1

両方向で使用するため,両方向の測定が必要である。

WWDM デバイス PON

2×1

上り信号用の 1 310 nm 及び下り信号用の 1 490 nm の

光を合波する。

上り信号用の 1 310 nm,下り信号用の 1 490 nm 及び下

りのアナログビデオ信号用の 1 550 nm の光を合波す
る。

N×2

ネットワーク冗長用

両方向で使用するため,両方向の測定が必要である。

光スプリッタ PON

N BPON 用は,N≦32

GPON 用は,N≦128 
EPON 用は,N≦16,FEC 付きは,N=32

両方向で使用するため,両方向の測定が必要である。

CWDM 用合分波器 CWDM 伝送

N×1 
N

両方向で使用するため,両方向の測定が必要である。

ポート間の干渉は特性に影響を与えるため,ディレク
ティビティ特性は重要である。

ファイバブラッググレー
ティング(FBG)

EDFA 用利得平たん
化フィルタ

1×1

温度制御機能を備えてもよい。

分散補償器

1×1

チャープ FBG を用いる。温度制御機能を備えてもよ
い。

FBG+光サーキュレータ  波長アド・ドロップ

2×2

光サーキュレータ

全般

2×1

薄膜フィルタ

波長分割多重

1×1

両方向で使用するため,両方向の測定が必要である。

3 ポートをもつ光部品

波長分割多重

1×2

両方向の測定が必要である。

光スイッチ

全般

N×1

順方向及び逆方向の特性が異なるため,ディレクティ
ビティ,再現特性及びラッチ特性は重要である。

光減衰器

全般

1×1

順方向及び逆方向の特性が異なるため,両方向の測定
が必要である。

高減衰量時は高光損失となる。

アイソレータ

全般

1×1

逆方向では高光損失となる。

光リミッタ

高光パワー運用

1×1

リミッタ動作時は高光損失となる。

光ヒューズ

高光パワー運用

1×1

ヒューズ動作時は断線する。

メカニカルスプライス

全般

1×1

両方向で使用するため,両方向の測定が必要である。

光コネクタ

現場組立形

1×1

両方向で使用するため,両方向の測定が必要である。

光ファイバピッグテール

1×1

両方向で使用するため,両方向の測定が必要である。


22

C 61300-3-7

:2012

附属書 B

(参考)

基本的な光源の特性

試験に用いる各種光源の基本的な特性を,次に示す。

B.1 

広帯域光源 

方法 A に用いる広帯域光源の主要特性を,

表 B.1 に示す。

表 B.1−広帯域光源の種類及びその特性 

広帯域光源の

種類

詳細例又は 
その他名称

主要特性

スペクトル幅

光出力パワー

分光

光パワー密度

均一性又は

平たん性

総出力パワー

白色光源

様々な種類の

一般用照明

非常に広い

(硬 UV,遠赤外線)

とても低い

なし

数 W 程度

LED

端面発光形 
表面発光形

広い

(3 dB 帯域で>100 nm)

低い

擬似ガウシアン

−3 dBm∼0 dBm

スーパー

ルミネッセン
トダイオード

(SLD)

SLED

比較的広い

(3 dB 帯域で>10 nm)

低い

(LED より高い)

比較的均一

+3 dBm∼+5 dBm

ASE 光源 EDFA による

ASE 光出力

C バンド帯

(C バンド帯+L バ

ンド帯も可能)

高い,−4 dBm/nm

均一

(利得平たん化)

+12 dBm

(利得平たん化)

2 dB

(利得非平たん化)

+14 dBm

(利得非平たん化)


23

C 61300-3-7

:2012

B.2 

波長可変狭帯域光源 

方法 B に用いる波長可変狭帯域光源の主要特性を,レーザの原理ごとに

表 B.2 に示す。

表 B.2−波長可変狭帯域光源の種類及びその特性 

パラメータ

波長可変レーザの形式

ECL EDFL

DFB

波長

波長帯 ITU-T

C+L C+L

波長可変の帯域(nm)

典型値

100∼140

なし

±1.1

T±ΔT=20±0.01 °C)

典型値

400

なし

±2

(チップ搭載のヒータ制御)

±4

(2 段構成の温度制御あり)

不確かさ(pm)

絶対値

±2.5

±15

±10

相対値

典型値

±2

±2.5

なし

最大値

±10

なし

なし

分解能(pm)

設定値

典型値

1 1

10

最大値

10

なし

なし

再現特性(pm)

典型値

±2.5∼5

±2.5

±10

最大値

±100

なし

なし

安定性(pm/h)

典型値

±1

±5

±2

最大値

±100

なし

なし

線幅(MHz)

コヒーレンス制御なし 0.1

1

000∼1 300

0.1

コヒーレンス制御あり 50∼100

なし 50∼100

出力

出力(dBm)

最大値

+6

+3

+13

安定度(dB/h)

±0.02

±0.01

±0.005

再現特性(dB)

設定・測定を 10 回繰り返し

±0.03

±0.015

なし

雑音

信 号 と 自 然 放 出
光 ス ペ ク ト ル と
の比(dB)

ピークから±1 nm の
範囲 
分解能設定:0.1 nm

a)

典型値

55 75∼80

なし

最大値

70

なし

なし

信号と自然放出光のトータルパワーとの比(dB) 50∼60 50

なし

サイドモード抑圧比(dB) 45

60∼70 40

コヒーレンス長(m)

>1 000

0.3

10

チューニング速度(nm/s)

最大値

100 50

N/A

b)

a)

 3

dB 帯域幅で表現した波長分解能設定値

b)

 N/A:仕様対象外であることを示す。

参考文献  JIS C 61300-1  光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第 1 部:通

注記  対応国際規格:IEC 61300-1,Fibre optic interconnecting devices and passive components

−Basic test and measurement procedures−Part 1: General and guidance(IDT)


24

C 61300-3-7

:2012

附属書 JA

(参考)

JIS

と対応国際規格との対比表

JIS C 61300-3-7:2012

  光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び

測定手順−第 3-7 部:シングルモード光部品の光損失及び反射減衰量の波長依
存性測定

IEC 61300-3-7:2009

  Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic

test and measurement procedures−Part 3-7: Examinations and measurements−Wavelength 
dependence of attenuation and return loss of single mode components 

(I)JIS の規定

(II) 
国際 
規格

番号

(III)国際規格の規定

(IV)JIS と国際規格との技術的差異の箇条ごとの
評価及びその内容

(V)JIS と国際規格との技術的差異の理由及び
今後の対策

箇条番号

及び題名

内容

箇条

番号

内容

箇条ごと

の評価

技術的差異の内容

3 記号及び
略語

3

JIS

とほぼ同じ

変更

本文に記載がない用語を削除し,ま

た,本文に記載されているにもかかわ
らず,規定されていない用語を追加し
た。

今後,IEC に修正提案する。

4  概要 4.4

供試品  4.4

JIS

とほぼ同じ

追加

接続されない端子での反射光発生を
抑えるための終端処理することを追
記した。

反射減衰量測定時に接続されない端子がある
場合,その端子で発生する反射光の影響で正し
い測定値が得られない可能性があるため追記

した。今後,IEC に修正提案する。

4.5.3.1  方法 C.1

4.5.3  JIS とほぼ同じ

追加

IEC

規格の 4.5.3 の規定を,4.5.3.1 及

び 4.5.3.2 に移動した。それに伴い,
表 1 の方法 C.1 の配置例を修正した。

分かりやすくするため。

4.5.3.2  方法 C.2

4.5.3  JIS とほぼ同じ

追加

5  装置 5.3

光 ブ ラ ン チ

ン グ デ バ イ ス
(BD)

 5.3

JIS

とほぼ同じ

変更

光ブランチングデバイスは,他規格で
TJ(テンポラリジョイント)として定
義しているアダプタ接続,スプライス
接続などを含んでいるが,それらを除

外した記述に変更し,それに合わせて
測定系を示す図も修正した。

他規格との整合性をとるため,変更した。今後,

IEC

に修正提案する。

5.4  光終端器   5.4 JIS とほぼ同じ

追加 
 
変更

既知の反射減衰量をもつ光終端器の
規定を追加した。 
上記に伴い,IEC 規格を,“a)  大き

な反射減衰量をもつ光終端器”に変更
した。

図 3 a)及び図 6 a)に追加した既知の反射減衰量
をもつ光終端器を規定するため,追加した。今
後,IEC に修正提案する。

24

C

 613

00
-3

-7


201

2


25

C 61300-3-7

:2012

(I)JIS の規定

(II) 
国際 
規格

番号

(III)国際規格の規定

(IV)JIS と国際規格との技術的差異の箇条ごとの
評価及びその内容

(V)JIS と国際規格との技術的差異の理由及び
今後の対策

箇条番号 
及び題名

内容

箇条
番号

内容

箇条ごと
の評価

技術的差異の内容

6  手順

図 3 及び図 6   6  JIS とほぼ同じ

追加

図 3 a)及び図 6 a)の無反射終端を既知

の反射減衰量をもつ光終端器に修正
し,式(4)及び式(6)にその補正項を追
加した。

6.1.2,6.1.3,6.3.2 及び 6.3.3 における測定方法
並びに式(4)及び式(6)では,無反射終端が理想
的な状態の場合,式中の log 内の分数の分母が
0 となり,計算することができなくなるため,
追記した。今後,IEC に修正提案する。

 6.1.1.3

6.1.2.3 
6.1.3.3 
6.3.1.3 
6.3.2.3 
6.3.3.2 
両方向測定につ

いて

 6.1.1.3

6.1.2.3
6.1.3.3
6.3.1.3
6.3.2.3
6.3.3.2

JIS

とほぼ同じ

削除

光損失及び反射減衰量の両方向の測

定値の平均化を行う規定を削除した。

両方向での測定について言及しているが,光損

失における両測定値を平均化するのは測定手
順に規定することではなく,使用者の運用方法
に依存する事項であり,また反射減衰量はポー

トごとの独立のパラメータであり,平均化する
ことの意味はないため,削除した。今後,IEC
に修正提案する。

 6.3.1.1

6.3.2.1 
6.3.3.1

 6.3.1.1

6.3.2.1
6.3.3.1

JIS

とほぼ同じ

追加

光スイッチとの組合せに制限するよ
うに追記した。

広帯域受光装置を用いる場合,N×1 形光ブラ
ンチングデバイスを組み合わせると波長間の

干渉が起こり,正しい測定を行うことができな
いため,追記した。今後,IEC に修正提案する。

 6.3.3.1A

6.3.3.1

JIS

とほぼ同じ

変更

新たに細分箇条を設けた。

IEC

規格の 6.3.3.1 は,基準レベル測定に関す

る規定であるが,最後の文は,光損失及び反射
減衰量の測定に関する規定であるため構成を

変更したが,実質的な差異はない。今後,IEC
に修正提案する。

7  個別に規
定する事項

7.4  光終端器   7.4 JIS とほぼ同じ

追加

既知の反射減衰量をもつ光終端器の

規定を追加した。

図 3 a)及び図 6 a)に追加した既知の反射減衰量

をもつ光終端器を規定するため,追加した。今
後,IEC に修正提案する。

JIS

と国際規格との対応の程度の全体評価:IEC 61300-3-7:2009,MOD

25

C

 613

00
-3

-7


201

2


26

C 61300-3-7

:2012

注記 1  箇条ごとの評価欄の用語の意味は,次による。 

−  削除  国際規格の規定項目又は規定内容を削除している。

−  追加  国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。

−  変更  国際規格の規定内容を変更している。

注記 2  JIS と国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は,次による。 

−  MOD  国際規格を修正している。

26

C

 613

00
-3

-7


201

2