>サイトトップへ >このカテゴリの一覧へ

C 61300-3-4

:2011 (IEC 61300-3-4:2001)

(1)

目  次

ページ

序文 

1

1

  適用範囲

1

2

  引用規格

1

3

  概要

1

3.1

  注意点

2

4

  装置

2

5

  手順

4

5.1

  前処理

4

5.2

  目視検査 

5

5.3

  供試品の構成及び試験方法 

5

5.4

  光パワーメータを用いた損失測定 

5

5.5

  OTDR(光パルス試験機)を用いた損失測定 

8

6

  個別規格に規定する事項 

10


C 61300-3-4

:2011 (IEC 61300-3-4:2001)

(2)

まえがき

この規格は,工業標準化法第 12 条第 1 項の規定に基づき,財団法人光産業技術振興協会(OITDA)及

び財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり,

日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が制定した日本工業規格である。

この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。

この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意

を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実

用新案権に関わる確認について,責任はもたない。

JIS C 61300

の規格群には,次に示す部編成がある。

JIS C 61300-1

  第 1 部:通則

JIS C 61300-2-2

  第 2-2 部:繰返しかん合試験

JIS C 61300-2-12

  第 2-12 部:落下衝撃試験

JIS C 61300-2-14

  第 2-14 部:光パワー損傷のしきい値試験

JIS C 61300-2-17

  第 2-17 部:低温試験

JIS C 61300-2-18

  第 2-18 部:高温試験

JIS C 61300-2-19

  第 2-19 部:高温高湿試験(定常状態)

JIS C 61300-2-45

  第 2-45 部:浸水試験

JIS C 61300-2-46

  第 2-46 部:湿熱サイクル試験

JIS C 61300-2-48

  第 2-48 部:温湿度サイクル試験

JIS C 61300-3-3

  第 3-3 部:挿入損失及び反射減衰量変化のモニタ方法

JIS C 61300-3-4

  第 3-4 部:損失測定

JIS C 61300-3-6

  第 3-6 部:反射減衰量測定

JIS C 61300-3-20

  第 3-20 部:波長選択性のない光ブランチングデバイスのディレクティビティ測定

JIS C 61300-3-26

  第 3-26 部:光ファイバとフェルール軸との角度ずれの測定

JIS C 61300-3-28

  第 3-28 部:過渡損失測定

JIS C 61300-3-30

  第 3-30 部:多心光ファイバコネクタ用フェルールの研磨角度及び光ファイバ位置

測定

JIS C 61300-3-31

  第 3-31 部:光ファイバ光源の結合パワー比測定


日本工業規格

JIS

 C

61300-3-4

:2011

(IEC 61300-3-4

:2001

)

光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−

基本試験及び測定手順−

第 3-4 部:損失測定

Fiber optic interconnecting devices and passive components-

Basic test and measurement procedures-

Part 3-4: Examinations and measurements-Attenuation

序文 

この規格は,2001 年に第 2 版として発行された IEC 61300-3-4 を基に,技術的内容及び構成を変更する

ことなく作成した日本工業規格である。

なお,この規格で点線の下線を施してある参考事項は,対応国際規格にはない事項である。

適用範囲 

この規格は,光ファイバ接続デバイス及び光受動部品の損失の測定方法について規定する。

注記  この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。

IEC 61300-3-4:2001

,Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test and

measurement procedures

−Part 3-4: Examinations and measurements−Attenuation(IDT)

なお,対応の程度を表す記号“IDT”は,ISO/IEC Guide 21-1 に基づき,

“一致している”こ

とを示す。

引用規格 

次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの

引用規格は,その最新版(追補を含む。

)を適用する。

JIS C 61300-1

  光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第 1 部:通則

注記  対応国際規格:IEC 61300-1,Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic

test and measurement procedures

−Part 1: General and guidance(IDT)

IEC 61300-3-1

,Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test and measurement

procedures

−Part 3-1: Examinations and measurements−Visual examination

概要 

損失は,供試品の挿入によって生じる光パワーの減衰値であり,通常デシベル(dB)で表す。挿入損失

という用語を,損失の代わりに用いる場合がある。

損失の測定は,二つ以上の光端子(光ポート)をもつ供試品の二つの光端子間に適用するので,この規


2

C 61300-3-4

:2011 (IEC 61300-3-4:2001)

格では供試品を二つの光端子をもつものとして規定する。ここでは,8 種類の異なった供試品の構成につ

いて規定する。これらの構成の違いは,光端子(光ポート)の終端にあり,終端は,光ファイバ,光コネ

クタプラグ又はレセプタクルからなる。

損失を測定するための基準法は,光パワーメータによるものであり,3 種類の損失測定方法を示す。ま

た,光パルス試験機(OTDR: Optical Time Domain Reflectometer。以下,OTDR という。

)による測定は,代

替法として示す。供試品の形状ごとに用いる基準法及び代替法を,

表 に規定する。

注記 1  試験の構成及び方法の違いは,測定される損失で異なる精度を得る可能性がある。疑義があ

る場合には,基準法を用いるのがよい。

注記 2  マルチモードの測定の場合,光ファイバ外乱による測定系内のモード分布の変化は,損失測

定に影響を及ぼす。

3.1 

注意点 

次の試験の条件を満たさなければならない。

3.1.1

光ファイバ中の光パワーは,非線形散乱効果が生じない低いレベルとする。

3.1.2

式(1)に定義する P

0

及び P

1

の測定において(5.4 参照)

,曲げ損失による損失の変化を避けるために,

試験を通して光ファイバは固定する。

装置 

4.1 

励振条件及び光源(S  その他の規定のない場合,励振条件は,JIS C 61300-1 の附属書 B(励振条

件)の規定による。光源は,発光素子,電気駆動回路及び(ある場合)光ファイバピッグテールで構成す

る。推奨する光源及び励振条件を,

表 に規定する。 

表 1−推奨する光源及び励振条件 


タイプ

中心波長

nm

スペクトル

nm

安定性

(23  ℃)

dB/h

光パ
ワー

励振条件

JIS C 61300-1

附属書 B

光源の種類

S1

マルチモード 660±30 50 以上

±0.05

a) 

B.2.1.3

方法 2

LED

S2

マルチモード 850±30 50 以上

±0.05

a) 

B.2.1.3

方法 2

モ ノ ク ロ メ ー タ 又 は

LED

S3

マルチモード 1

300

±30 50 以上

±0.05

a) 

B.2.1.3

方法 2

モ ノ ク ロ メ ー タ 又 は

LED

S4

シングルモード 1

310

±30 10 以下

±0.05

a) 

B.2.2 

レーザダイオード,モノ
クロメータ又は LED

S5

シングルモード 1

550

±30 10 以下

±0.05

a) 

B.2.2 

レーザダイオード,モノ
クロメータ又は LED

注記 1  レーザダイオード光源は,長いコヒーレンス長が原因でマルチモード光ファイバのコア内において不安定

なスペックルパターンが発生し,方法 1 の励振条件を満たすことができない場合がある。したがって,マ
ルチモードの光部品を測定する場合は,OTDR 光源を含むレーザダイオード光源を用いることを避け,LED
(Light Emitting Diode)又はその他の非可干渉性(インコヒーレント)光源を用いることが望ましい。

注記 2 S4 及び S5 において LED 光源を用いる場合は,スペクトル幅は,一般的に 150 nm 以下である。 
注記 3  波長可変レーザ光源も用いてよいが,その場合の推奨される光源の特性は,被測定物に従って規定するこ

とが望ましい。

注記 4 S3 の中心波長は,対応国際規格で 1 310 nm となっているが,誤りであるため,1 300 nm とした。 

a)

光源の出力パワーは,最小測定パワーに対し 20 dB 以上大きくする。


3

C 61300-3-4

:2011 (IEC 61300-3-4:2001)

4.2 

光パワーメータ(D  光パワーメータは,光検出器及び信号処理用の電子回路で構成する。光検出

器への接続は,光ファイバを接続する光アダプタ又は適切な光コネクタプラグを用いる。測定系は,式(1)

に定義する P

0

及び P

1

を測定する間を通して安定でなければならない。P

0

及び P

1

の測定において,途中で

光検出器との接続を切り離す必要があるが,測定の再現性は,0.05 dB 以内でなければならない。したがっ

て,光検出器は,受光領域の広いものが望ましい。光検出器の各種特性は,測定条件を満足するものでな

ければならない。光パワーメータは,測定波長において,供試品から出る光パワーレベルを測定できるダ

イナミックレンジをもたなければならない。 

推奨する光パワーメータの特性を,

表 に規定する。

表 2−推奨する光パワーメータの特性 

番号

タイプ

直線性

dB

精度

D1

マルチモード

±0.25

(−5 dBm∼−60 dBm)

±5 %

D2

シングルモード

±0.1

(−5 dBm∼−60 dBm)

±5 %

光パワーメータは,測定波長の−23 dBm の光パワーレベルにおいて,±5 %の

精度を保証するように校正する。 
注記 1  光ファイバからの全ての出射光を光パワーメータで測定するために,光

検出器の受光領域と光検出器から光ファイバまでの相対位置とが光フ

ァイバの開口数(NA)に対して適切であることが望ましい。

注記 2  光パワーメータの直線性は,測定波長の−23 dBm の光パワーレベルの

値を基準とすることが望ましい。

注記 3  光パワーメータの安定性は,測定時間にわたり測定環境温度において,

±0.05 dB であることが望ましい。

4.3 

テンポラリジョイント(TJ  テンポラリジョイントは,安定的に再現性良く低損失に 2 本の光ファ

イバの端面を一時的に整列する部品又は機械的な固定具である。供試品を測定系に接続するときに,標準

的な光コネクタを用いることができない場合に用いる。例えば,精密 V 溝真空チャック,微動台,融着接

続又はメカニカルスプライスを用いてもよい。テンポラリジョイントは,式(1)に定義する P

0

及び P

1

の測

定時間にわたって,dB 単位で測定精度の±10 %で安定していなければならない。また,テンポラリジョイ

ントの安定性を確保するために屈折率整合剤を用いてもよい。 

4.4 

測定用光ファイバ  光源からテンポラリジョイントまでの接続,試験用パッチコード及び置換用光

接続コードの光ファイバは,

供試品に用いた光ファイバと同じ断面構造及び光学特性でなければならない。

注記  JIS C 6820 に規定するマルチモード光ファイバ及びシングルモード光ファイバを用いることが

望ましい。

4.5 

基準プラグ(RP  基準プラグは,損失測定中に供試品の一部となる。基準プラグは,個別規格に

規定する。 

4.6 

基準アダプタ(Ar  基準アダプタは,損失測定中に供試品の一部となる。基準アダプタは,個別規

格に規定する。 

4.7 

モードフィルタ(mf  モードフィルタの目的は,一時的に発生する不要な高次モードを除去し,測

定精度を改善するために用いる。マルチモードに用いるモードフィルタは,マンドレルに 5 回光ファイバ

を巻き付けることで構成する。一時的に発生したモードが減衰し定常状態が実現できるようにマンドレル


4

C 61300-3-4

:2011 (IEC 61300-3-4:2001)

の直径を選定する。マンドレルの直径は,光ファイバ及び被覆に依存し,用いる光ファイバによって異な

る。

推奨するマンドレルの直径を,

表 に規定する。

表 3−光ファイバコア径に対するマンドレル直径 

光ファイバコア径

μm

マンドレル直径

mm

50 18

62.5 20

100 25

注記 1  光ファイバがケーブル状態の場合には,ケーブルの直径だけマ

ンドレル直径を小さくする。

注記 2  注記 の“ケーブルの直径だけ”は,対応国際規格ではケーブ

ルの半径だけになっているが,誤りのため直径に修正した。

シングルモードの測定に用いるモードフィルタは,直径 50 mm の二つのループをもつ長さ 2 m 以上の光

ファイバを用いる。

モードフィルタは,テンポラリジョイントと供試品との間に配置する。試験方法で規定する場合は,光

検出器の直前にも配置する。

図 及び図 で示す測定法の場合,P

1

の測定時,供試品と光検出器との間にモードフィルタを配置した

場合でも,供試品の損失測定値に影響を与えないことが重要である。

モードフィルタが測定値に影響を与えないことを確かめる方法は,P

0

の測定中に検出器から光ファイバ

を外すことなく,測定に用いたモードフィルタと光検出器との間に別のモードフィルタを加える。その場

合,測定した光パワーが変わらなければ追加したモードフィルタは,測定値に影響を与えない。

4.8 

極度制限励振装置  極度制限励振装置は,個別規格で定常モード分布(EMD)を規定している場合

に用いる。マルチモード光ファイバ用の極度制限励振条件が確立できている装置は,供試品において,

4

に規定するような出力励振条件を設定しなければならない。 

表 4−極度制限励振条件 

結合パワー比(CPR)

dB

光ファイバコア径

μm

スポットサイズ

μm

開口数(NA)

850 nm

1 300 nm

50 35 0.15

13.5

10.0

62.5 44  0.19

17.5

14.5

注記 1  結合パワー比(CPR)の許容差は,±1 dB。 
注記 2  スポットサイズ及び開口数(NA)の許容差は,それぞれ 10 %及び 5 %未満であることが

望ましい。

手順 

5.1 

前処理 

供試品の光端子(光ポート)部は清掃し,試験の性能及び測定結果に影響を及ぼす汚れは,取り除く。

清掃は,製造業者が規定する方法に従って行う。供試品は,試験前に最低 1 時間は室温に放置する。

注記  測定の間,接合部の表面がオイル又はグリースで汚染されないように注意することが望ましい。

素手はグリース付着の原因になることがある。


5

C 61300-3-4

:2011 (IEC 61300-3-4:2001)

5.2 

目視検査 

光端子(光ポート)部には,検査の性能及び測定結果に影響を及ぼす不適合又は損傷があってはならな

い。損失を測定する前に,IEC 61300-3-1 の規定に従って供試品の光端子(光ポート)部の外観検査をする

ことが望ましい。

5.3 

供試品の構成及び試験方法 

供試品の構成及び試験方法を,

表 に示す。

表 5−供試品の構成及び試験方法 

試験方法

タイプ

供試品の種類

供試品の図

基準法

代替法

1

光ファイバ対光ファイバ(光受動部品)

カットバック OTDR

2

光ファイバ対光ファイバ(融着又は現場

取付形光コネクタ)

挿入(A)

カットバック

又は OTDR

3

光ファイバ対プラグ

カットバック OTDR

4

プラグ対プラグ(光受動部品)

挿入(C)

置換又は

OTDR

5

プラグ対プラグ(光接続コード)

挿入(C)

挿入(B) 
又は OTDR

6

片端プラグ(ピッグテール)

挿入(B) OTDR

7

レセプタクル対レセプタクル(光受動部

品)

挿入(C)

置換又は

OTDR

8

レセプタクル対プラグ(光受動部品)

挿入(C)

置換又は

OTDR

注記 1  図中の C は,光端子(光ポート)数が二つ以上ある光受動部品を示す。 
注記 2  挿入法及びカットバック法は,タイプ 2 の供試品において同等の測定結果が得られると予想される。置換

法は,タイプ 4,7 及び 8 の供試品において挿入法よりも損失値が小さい結果になると予想できる。これは,
置換法には基準光パワーの P

0

に,

“置換用光接続コード”と測定系との接続に伴う損失分が含まれるため

である。そのため,置換法の P

0

値は挿入法よりも小さくなる。

注記 3 OTDR 法は,その他の測定方法より精度が低いが,測定条件によっては,唯一の測定方法となることがあ

る。

注記 4 OTDR 法は,光端子(光ポート)数が三つ以上ある構成部品に対しても用いることができるが,この場合,

測定しない光端子(光ポート)からの反射光は,減衰領域を設けて抑制するのがよい。

注記 5  マルチモードの仕様が極度制限励振条件を要求する場合は,供試品での出力励振条件は,JIS C 61300-3-31

の規定に従って決めるのがよい。

5.4 

光パワーメータを用いた損失測定 

カットバック法,代替法及び挿入法を用いた損失測定は,光パワーメータを用いることを基本とする。

光パワーメータは,光検出器及び信号処理用の電子回路で構成する。光パワーメータを用いた各損失測定

A

においては,2 回の光パワー測定が必要である。

0

1

log

10

P

P

A

=

dB

 (1)

ここに,

P

1

測定系に供試品がある状態の測定光パワー

P

0

測定系に供試品がない状態の測定光パワー

光ファイバと光検出器との間に適切な接続機構を準備する。接続は,ベア光ファイバ用アダプタ又は光

コネクタ用の光コネクタアダプタを用いる。

C

C

C

C


6

C 61300-3-4

:2011 (IEC 61300-3-4:2001)

5.4.1 

カットバック法 

5.4.1.1

タイプ

1

及び

2

の供試品において,供試品の一方の光ファイバはテンポラリジョイント(

TJ

)に

よって光源(

S

)に接続し,他方の光ファイバは光パワーメータ(

D

)の光検出器に接続し,

P

1

を測定する

図 参照)。光ファイバをカットポイント(

CP

)で切断し,

P

0

を測定する。この場合,モードフィルタ

mf

)の位置に注意が必要である。

図 1−カットバック法−供試品タイプ 1及び 

5.4.1.2

光ファイバ対プラグのタイプ

3

の供試品においては,完全な光コネクタを形成するために,基準

アダプタ及びピッグテール付き基準プラグを供試品に接続する。このようにするとタイプ

3

の供試品の損

失は,ピッグテール付きの完全な光コネクタの損失となり,タイプ

1

と同様の方法で損失を測定すること

ができる。

5.4.2 

置換法 

P

1

は測定系に供試品を接続した状態で測定し,

P

0

は供試品の代わりに置換用光接続コードに換えて測定

する(

図 参照)。

5.4.2.1

タイプ

4

の供試品は,基準アダプタ(

Ar

)を光源側の光ファイバ及び両方の基準プラグ(

RP

)に

接続する(

図 参照)。

C

:光端子(光ポート)数が二つ以上ある光受動部品を示す。

図 2−置換法−供試品タイプ 4及び 

5.4.2.2

タイプ

7

の供試品は,

P

1

の測定において,

プラグ対プラグの供試品と同様に測定する

図 参照)。

置換用 
光接続コード

供試品

試験用 
光接続コード

mf

TJ

mf

D

P

1

 

RP

RP

S

X

X

C

Ar

Ar

mf

TJ

mf

D

P

0

Ar

Ar

RP

RP

RP RP

S

X

X

試験用 
光接続コード

TJ CP

P

1

mf

供試品

S

D

mf

X

X

TJ

P

0

S

D

mf

X


7

C 61300-3-4

:2011 (IEC 61300-3-4:2001)

ただし,基準アダプタ(

Ar

)は不要である。

5.4.2.3

タイプ

8

の供試品は,

P

1

の測定において,

プラグ対プラグの供試品と同様に測定する

図 参照)。

この場合,基準アダプタ(

Ar

)は,できるだけ光源(

S

)に近い位置に置かなければならない。ただし,

レセプタクル側の基準アダプタ(

Ar

)は不要である。

5.4.3 

挿入法(A 

タイプ

2

の光ファイバ対光ファイバの供試品(融着又は現場取付形光コネクタ)は,

P

0

はテンポラリジ

ョイント(

TJ

)と光パワーメータ(

D

)の光検出器との間に規定長の光ファイバを接続して測定した後,

光ファイバを切断し融着又は現場取付形光コネクタを取り付けて

P

1

を測定する(

図 参照)。

図 3−挿入法(A

−供試品タイプ 

5.4.4 

挿入法(B 

タイプ

5

及び

6

の供試品は,テンポラリジョイント(

TJ

)に接続した光ファイバの基準プラグ(

RP

)に

光パワーメータ(

D

)の光検出器を接続し

P

0

を測定する。基準アダプタ(

Ar

)と供試品とを接続し,

P

1

測定する(

図 参照)。

図 4−挿入法(B

−供試品タイプ 及び 

この測定は,供試品の光源側のプラグだけを対象とする。供試品の両端を測定するには反転して逆に接

続することによって測定する。

5.4.4.1

タイプ

6

の供試品は,ベア光ファイバ用アダプタで光パワーメータ(

D

)の光検出器に接続する

必要がある。

5.4.5 

挿入法(C 

5.4.5.1

タイプ

4

のプラグ対プラグ(構成部品)の供試品又はタイプ

5

のプラグ対プラグ(光接続コード)

の供試品は,試験用光接続コードを光パワーメータ(

D

)の光検出器とテンポラリジョイント(

TJ

)から

D

P

1

TJ

mf

X

S

mf

X

供試品

TJ

P

0

mf

X

S

D

Ar

mf

TJ

D

P

1

RP

S

X

TJ

P

0

mf

X

S

D

RP

供試品


8

C 61300-3-4

:2011 (IEC 61300-3-4:2001)

の光コードとの間に接続して

P

0

を測定する。供試品と別の基準アダプタ(

Ar

)とを追加して

P

1

を測定す

る(

図 参照)。

図 5−挿入法(C

−供試品タイプ 45及び 

5.4.5.2

タイプ

7

のレセプタクル対レセプタクル形供試品は,

P

1

の測定に基準アダプタは不要である。

5.4.5.3

タイプ

8

のレセプタクル対プラグ形供試品には,

P

1

の測定に

1

個の基準アダプタが必要である。

5.5 OTDR

(光パルス試験機)を用いた損失測定 

5.5.1 

測定の概要 

5.5.1.1

 OTDR

測定法は,後方散乱光のレベルを測定する方法である。

OTDR

測定法は,例えば,光ファ

イバ融着接続,光コネクタ及び光受動部品(光減衰器など)の損失測定,並びに光受動部品又は光コネク

タで終端した光ファイバコードの損失の両方が測定できる。

5.5.1.2

供試品の形状に合わせて二つの主要な測定方法を用いる(

表 参照)。

方法

1

励振光ファイバを供試品の片側に接続する方法(

図 参照)は,タイプ

1

2

及び

3

の供試品

に適用する。

方法

2

励振光ファイバを供試品の両側に接続する方法(

図 参照)は,タイプ

4

5

6

7

及び

8

の供試品に適用する。

OTDR

L

1

L

X

供試品

a

b

励振光ファイバ

図 6−方法 1  励振光ファイバを供試品の片端に接続する方法 

Ar

Ar

mf

TJ

mf

D

P

1

RP

RP

S

X

X

C

Ar

TJ

D

P

0

RP

S

mf

X

RP

mf

X

供試品

試験用 
光接続コード

試験用 
光接続コード


9

C 61300-3-4

:2011 (IEC 61300-3-4:2001)

OTDR

L

1

L

X

供試品

a

b

L

2

励振光ファイバ

励振光ファイバ

図 7−方法 2  励振光ファイバを供試品の両端に接続する方法 

5.5.1.3

励振光ファイバの長さ

L

1

及び

L

2

は,

OTDR

と測定点との距離を確保し,安定した測定条件を保

つためにある。

L

1

及び

L

2

の最短長さは,

OTDR

の損失量測定の分解能[一般に損失量を認識できない領域

(デッドゾーン:

DZ

att

)と呼ばれる。

]によって決定する。

L

1

及び

L

2

の最長長さは,

OTDR

の測定可能な

間隔をできるだけ狭くし,測定経路の損失をできるだけ小さくする要請から決定する。

5.5.1.4

供試品の各損失点の間隔

L

X

OTDR

の分解能(

DZ

att

)よりも大きい場合,

OTDR

は,

a

b

との

各測定点の損失量を別々の結果として表示する。

L

X

OTDR

の分解能よりも小さい場合は,

OTDR

は,

a

b

とを別々の測定点として区別することができないため,一つの損失点として表示する。

5.5.1.5

供試品の終端部が光コネクタプラグ又はレセプタクルのいずれかの場合は,必要がある場合,基

準プラグと基準アダプタとを追加する。これらによって構成された光コネクタ接続部は,供試品の一部と

みなす。

5.5.1.6

供試品の終端部がピッグテール形状の場合は,接続点が必要である。ピッグテールの長さは,個々

の測定点を別々に表示させるために

OTDR

の分解能よりも長くする必要がある。

5.5.2 OTDR

測定法の定義 

5.5.2.1

 OTDR

で測定される損失は,供試品の両方向から測定された

OTDR

測定値の平均値として求める

ことが望ましい。

5.5.2.2

供試品の両側の光ファイバの後方散乱係数の差は,一方向で

OTDR

測定を行うと誤差を生じる。

一方向での測定誤差はプラスであり,他方向からの測定誤差はマイナスになる。両方向の読取値を平均す

ることによって,二方向の光ファイバの後方散乱係数の差による誤差を打ち消した結果が得られる。

5.5.3 

測定手順 

測定は,次の手順で行う。

5.5.3.1

図 又は図 に示すように,

OTDR

装置を供試品の

a

側に接続する。

5.5.3.2

 OTDR

の測定条件を設定する。

5.5.3.3

 a-b

方向の損失測定を行い,

OTDR

の評価データを保存する。

5.5.3.4

図 又は図 に示す供試品の

b

側に,

OTDR

装置を接続する。

5.5.3.5

5.5.3.2

と同じ

OTDR

の測定条件を設定する。

5.5.3.6

 b-a

方向の損失測定を行い,

OTDR

の評価データを保存する。

5.5.4 

評価方法 

5.5.4.1 

反射がない場合の測定結果例 

供試品からの反射がない場合の典型的な

OTDR

の後方散乱信号を,

図 の a)及び b)に示す。


10

C 61300-3-4

:2011 (IEC 61300-3-4:2001)

a)

  ポイント評価 b)  ポイント評価 

図 8OTDR の軌跡(反射がない場合) 

5.5.4.2 

反射がある場合の測定結果例 

供試品からの反射がある場合の典型的な

OTDR

の後方散乱信号を,

図 の a)及び b)に示す。

注記

損失測定に影響する反射ピークを避けるには,マーカとピークとの距離を適切に長くすること

が望ましい。別の方法として,個別規格の規定によって適切なフィルタを用いて反射を防ぐの

もよい。

a)

  ポイント評価 b)  ポイント評価 

図 9OTDR の軌跡(反射がある場合) 

5.5.4.3 5

ポイント評価[図 の a)及び図 の a)参照] 

供試品前方の光ファイバの評価ポイント(

1

)及び(

2

)並びに供試品後方の光ファイバの評価ポイント

3

)及び(

4

)を設定する。判定位置(

5

)を設定する。損失

A

は,ポイント(

5

)における供試品前方の

光ファイバでの最小二乗近似曲線と供試品後方の光ファイバの最小二乗近似曲線との光パワーレベル差と

して算出する。

5.5.4.4 4

ポイント評価[図 の b)及び図 の b)参照] 

供試品前方の光ファイバの評価ポイント(

1

)及び(

2

)並びに供試品後方の光ファイバ評価ポイント(

3

及び(

4

)を設定する。損失

A

は,供試品前方の光ファイバの最小二乗近似曲線のポイント(

2a

)と供試

品後方の光ファイバの最小二乗近似曲線のポイント(

3a

)との光パワーレベル差として算出する。

個別規格に規定する事項 

必要がある場合,次の事項を個別規格に規定する。

試験方法

(4)

A

(1)

(2)

≡(2a)

(3)

≡(3a)

A

(1)

(2)

(3)

(4)

(5)

(1)

(2)

(5)

(3)

(4)

A

(1)

(2)

≡(2a)

(3)

(3a)

(4)


11

C 61300-3-4

:2011 (IEC 61300-3-4:2001)

光源の特性

性能要求(損失の許容値)

光パワーメータの特性

光ファイバ断面構造のパラメータ

 OTDR

の測定条件

波長

屈折率

測定範囲

パルス幅

平均時間

光ファイバ長さ

L

1

及び

L

2

供試品の光路長

L

x

この試験方法との差異

参考文献

JIS C 61300-3-31

  光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第

3-31

部:光ファイバ光源の結合パワー比測定

JIS C 6820

  光ファイバ通則

JIS C 6823

  光ファイバ損失試験方法