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C 61300-3-14

:2016 (IEC 61300-3-14:2014)

(1)

目  次

ページ

序文  

1

1

  適用範囲  

1

2

  引用規格  

1

3

  一般事項  

2

4

  装置 

4

4.1

  光源(S)及び励振条件  

4

4.2

  光パワーメータ(D  

4

4.3

  基準測定用光ファイバ(RF  

5

4.4

  テンポラリジョイント(TJ  

5

5

  手順 

5

5.1

  測定系  

5

5.2

  測定手順  

5

6

  計算 

6

6.1

  絶対値補正による VOA の光減衰量測定誤差  

6

6.2

  相対値補正による VOA の光減衰量測定誤差  

6

6.3

  全ての減衰量設定における,設定値に対する光減衰量測定値の最大誤差  

6

6.4

  減衰量の再現性  

6

7

  測定結果の記録  

6

8

  個別に規定する事項  

7

8.1

  一般事項  

7

8.2

  光源及び励振条件  

7

8.3

  光パワーメータ  

7

8.4

  基準測定用光ファイバ  

7

8.5

  テンポラリジョイント  

7

8.6

  供試品  

7

8.7

  測定手順  

7

8.8

  測定値の不確かさ  

7

8.9

  その他  

7

附属書 A(参考)測定結果の例  

8

附属書 B(参考)ヒステリシス特性の測定方法  

9


C 61300-3-14

:2016 (IEC 61300-3-14:2014)

(2)

まえがき

この規格は,工業標準化法第 12 条第 1 項の規定に基づき,一般財団法人光産業技術振興協会(OITDA)

及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出

があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が制定した日本工業規格である。

この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。

この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意

を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実

用新案権に関わる確認について,責任はもたない。

JIS C 61300

の規格群には,次に示す部編成がある。

JIS

C

61300-1

  第 1 部:通則

JIS

C

61300-2-1

  第 2-1 部:正弦波振動試験

JIS

C

61300-2-2

  第 2-2 部:繰返しかん合試験

JIS

C

61300-2-4

  第 2-4 部:光ファイバクランプ強度試験(軸方向引張り)

JIS

C

61300-2-5

  第 2-5 部:光ファイバクランプ強度試験(ねじり)

JIS

C

61300-2-6

  第 2-6 部:かん合部締結強度試験(軸方向引張り)

JIS

C

61300-2-7

  第 2-7 部:かん合部締結強度試験(曲げモーメント)

JIS

C

61300-2-9

  第 2-9 部:衝撃試験

JIS

C

61300-2-11

  第 2-11 部:光ファイバクランプ強度試験(軸方向圧縮)

JIS

C

61300-2-12

  第 2-12 部:落下衝撃試験

JIS

C

61300-2-14

  第 2-14 部:光パワー損傷のしきい値試験

JIS

C

61300-2-15

  第 2-15 部:結合部ねじり試験

JIS

C

61300-2-17

  第 2-17 部:低温試験

JIS

C

61300-2-18

  第 2-18 部:高温試験

JIS

C

61300-2-19

  第 2-19 部:高温高湿試験(定常状態)

JIS

C

61300-2-21

  第 2-21 部:混合温湿度サイクル試験

JIS

C

61300-2-22

  第 2-22 部:温度サイクル試験

JIS

C

61300-2-24

  第 2-24 部:応力印加によるセラミック割りスリーブのスクリーニング試験

JIS

C

61300-2-26

  第 2-26 部:塩水噴霧試験

JIS

C

61300-2-27

  第 2-27 部:ダスト試験(層流)

JIS

C

61300-2-40

  第 2-40 部:SM 調心円筒形斜め PC 端面光ファイバコネクタプラグの挿入損失スク

リーニング試験

JIS

C

61300-2-41

  第 2-41 部:SM 調心円筒形直角 PC 端面光ファイバコネクタプラグの挿入損失スク

リーニング試験

JIS

C

61300-2-44

  第 2-44 部:光ファイバクランプ強度試験−繰返し曲げ

JIS

C

61300-2-45

  第 2-45 部:浸水試験

JIS

C

61300-2-46

  第 2-46 部:湿熱サイクル試験

JIS

C

61300-2-47

  第 2-47 部:熱衝撃試験


C 61300-3-14

:2016 (IEC 61300-3-14:2014)

(3)

JIS

C

61300-2-48

  第 2-48 部:温湿度サイクル試験

JIS

C

61300-2-49

  第 2-49 部:取付け済み光ファイバコード付き光ファイバコネクタプラグの曲げ試

JIS

C

61300-2-50

  第 2-50 部:光ファイバクランプ強度試験−非通光左右曲げ引張り

JIS

C

61300-2-51

  第 2-51 部:光ファイバクランプ強度試験−通光左右曲げ引張り

JIS

C

61300-3-1

  第 3-1 部:外観検査及び機械的検査

JIS

C

61300-3-2

  第 3-2 部:シングルモード光デバイスの光損失の偏光依存性

JIS

C

61300-3-3

  第 3-3 部:挿入損失及び反射減衰量変化のモニタ方法

JIS

C

61300-3-4

  第 3-4 部:損失測定

JIS

C

61300-3-6

  第 3-6 部:反射減衰量測定

JIS

C

61300-3-7

  第 3-7 部:シングルモード光部品の光損失及び反射減衰量の波長依存性測定

JIS

C

61300-3-11

  第 3-11 部:結合力及び離脱力測定

JIS

C

61300-3-14

  第 3-14 部:可変光減衰器の減衰量の設定の誤差及び再現性測定

JIS

C

61300-3-15

  第 3-15 部:球面研磨光ファイバコネクタのフェルール端面の頂点偏心量測定

JIS

C

61300-3-16

  第 3-16 部:球面研磨光ファイバコネクタのフェルール端面の曲率半径測定

JIS

C

61300-3-17

  第 3-17 部:斜め研磨光ファイバコネクタのフェルールの端面角度測定

JIS

C

61300-3-20

  第 3-20 部:波長選択性のない光ブランチングデバイスのディレクティビティ測定

JIS

C

61300-3-21

  第 3-21 部:切替時間測定

JIS

C

61300-3-22

  第 3-22 部:フェルール押圧力測定

JIS

C

61300-3-23

  第 3-23 部:フェルール端面からの光ファイバ引込み量測定

JIS

C

61300-3-24

  第 3-24 部:偏波面保存光ファイバ付き光ファイバコネクタのキー位置精度測定

JIS

C

61300-3-25

  第 3-25 部:フェルール及び光ファイバ取付け直角 PC 端面フェルールの同心度測定

JIS

C

61300-3-26

  第 3-26 部:光ファイバとフェルール軸との角度ずれの測定

JIS

C

61300-3-27

  第 3-27 部:多心光ファイバコネクタプラグの穴位置測定

JIS

C

61300-3-28

  第 3-28 部:過渡損失測定

JIS

C

61300-3-30

  第 3-30 部:多心光ファイバコネクタ用フェルールの研磨角度及び光ファイバ位置

測定

JIS

C

61300-3-31

  第 3-31 部:光ファイバ光源の結合パワー比測定

JIS

C

61300-3-32

  第 3-32 部:光受動部品の偏波モード分散測定

JIS

C

61300-3-33

  第 3-33 部:ピンゲージを用いた割りスリーブのフェルール引抜力測定

JIS

C

61300-3-34

  第 3-34 部:ランダム接続時の挿入損失

JIS

C

61300-3-36

  第 3-36 部:光ファイバコネクタフェルールの内径及び外径の測定

JIS

C

61300-3-38

  第 3-38 部:群遅延,波長分散及び位相リップルの測定

JIS

C

61300-3-40

  第 3-40 部:偏波面保存光ファイバ付き光ファイバコネクタプラグの偏波消光比測

JIS

C

61300-3-43

  第 3-43 部:光ファイバ光源のモードトランスファファンクション測定

JIS

C

61300-3-50

  第 3-50 部:光スイッチのクロストーク測定


   

日本工業規格

JIS

 C

61300-3-14

:2016

(IEC 61300-3-14

:2014

)

光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験

及び測定手順−第 3-14 部:可変光減衰器の減衰量の

設定の誤差及び再現性測定

Fiber optic interconnecting devices and passive components-Basic test

and measurement procedures-Part 3-14: Examinations and

measurements-Error and repeatability of the attenuation settings

of a variable optical attenuator

序文 

この規格は,2014 年に第 3 版として発行された IEC 61300-3-14 を基に,技術的内容及び構成を変更する

ことなく作成した日本工業規格である。

なお,この規格で点線の下線を施してある参考事項は,対応国際規格にはない事項である。

適用範囲 

この規格は,可変光減衰器(VOA)の減衰量の設定の誤差及び再現性測定方法について規定する。VOA

には,手動制御式及び電気制御式の二つの制御技術があり,この規格は,VOA の両方の制御技術を適用す

る。また,シングルモード光ファイバ又はマルチモード光ファイバのいずれかを用いた VOA を適用する。

注記  この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。

IEC 61300-3-14:2014

,Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test and

measurement procedures−Part 3-14: Examinations and measurements−Error and repeatability of

the attenuation settings of a variable optical attenuator(IDT)

なお,対応の程度を表す記号“IDT”は,ISO/IEC Guide 21-1 に基づき,

“一致している”こ

とを示す。

引用規格 

次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの

引用規格は,その最新版(追補を含む。

)を適用する。

JIS C 61300-1

  光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第 1 部:通則

注記  対応国際規格:IEC 61300-1,Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic

test and measurement procedures−Part 1: General and guidance(MOD)

JIS C 61300-3-4

  光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第 3-4 部:損失

測定

注記  対応国際規格:IEC 61300-3-4,Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic


2

C 61300-3-14

:2016 (IEC 61300-3-14:2014)

   

test and measurement procedures−Part 3-4: Examinations and measurements−Attenuation

一般事項 

可変光減衰器(VOA)は,個別に定める一連の公称減衰量となるように,減衰量を逐次設定することが

できる。電気制御式の VOA は,電圧供給又は電流供給することによって,減衰量を設定する。

VOA には,次の 2 種類がある。

−  減衰量を公称減衰量に設定できるもの

−  減衰量の公称値の情報を得られないもの

手動制御式の VOA には,公称減衰量を示す目盛付きダイアルをもつものがある。電気制御式の VOA に

は,公称減衰量に相当する供給電圧(又は供給電流)を示す設定値テーブル(又は計算式)をもつものが

ある。設定値に対する光減衰量測定値の誤差及び設定再現性の測定方法は,減衰量を公称減衰量に設定で

きる VOA だけに適用する。

VOA の光減衰量は,各減衰量設定時に測定する。この測定は,個別に定める回数を繰り返して行う。そ

れぞれの減衰量設定時における光減衰量の設定値に対する誤差は,設定値に対する光減衰量測定値の差に

よって求める。それぞれの減衰量設定における光減衰量の再現性は,光減衰量測定値の平均値に,測定値

分布の標準偏差の 3 倍を加減した範囲とする。

一般的に,公称減衰量は二つの異なる方法,すなわち,減衰量の絶対値補正又は相対値補正で示す。

1 a)

は,実際の,又は測定した光減衰量を示すように校正した VOA の各減衰量設定値における光減衰量の

測定値の平均値及び再現性を示す。

図 1 b) は,減衰量をゼロに設定したときの光減衰量を基準として,製

造業者が提供する,相対的な校正を行って得た VOA の特性を示す。VOA の減衰量がゼロを示すように設

定したとき,実際の,又は測定する光減衰量は,ゼロより大きい値になる。


3

C 61300-3-14

:2016 (IEC 61300-3-14:2014)

注記  この図は,原点を通る直線として,実際の減衰量が設定値と一致するように調整した VOA の特性を示している。

ここで,実際の減衰量をゼロとすることはできないため,設定値自体もゼロという設定はできなくなっている。

このため,A

i

のプロットは,原点(公称減衰量設定ゼロ)に置くことはできず,図中の A

1

のように,ゼロより

大きい位置にある。

a)

  減衰量の絶対値補正 

図 1−光減衰量の測定値と公称値との比較 


4

C 61300-3-14

:2016 (IEC 61300-3-14:2014)

   

注記  この図は,図 1 a) とは異なり A

1

=0 のところにプロットしている。横軸は,

図 1 a) と同様に公称減衰量設定と

しているが,減衰量を設定可能な最小の値に設定したときを設定値が 0 であるとし,その場合の相対的な増加

量を示している。

図 1 a) では,設定値からある誤差をもった減衰量になるものとして使用できるが,この図で

は,設定値が変化したときの実際の減衰量の変化量に着目した使い方が主となる。実際の減衰量を知る必要が
ある場合は,設定値に対して演算を行う必要がある。

b)

  ゼロ設定を基準とした減衰量の相対値補正 

図 1−光減衰量の測定値と公称値との比較(続き) 

装置 

4.1 

光源(S)及び励振条件 

用いる光パワーメータの最小受光感度に対して十分に大きな入力光パワーとなるよう,光源の出力は十

分に大きくするとともに,供試品(DUT)である VOA の運用時の最大入力光パワーを超えないようにし,

光源と光パワーメータとの組合せで決まる測定ダイナミックレンジが,測定する最大の光減衰量よりも 10

dB 以上大きくなるようにする。光源の出力の安定性は,1 時間当たり 0.05 dB 以下とする。

光源の出力光の波長及びスペクトル幅は,供試品である VOA の使用波長範囲及び測定系の校正設定に

よって決める。

シングルモード光ファイバを用いる VOA の測定においては,VOA のもつ偏光依存性損失(PDL)特性

が光減衰量測定の誤差及び再現性に影響を与えることがある。特に規定がない限り,ランダムな偏光状態

での測定又は同時に PDL の測定を行う。

光源及び励振状態に関する他の要求事項は,JIS C 61300-3-4 による。JIS C 61300-1 に規定する出力光の

励振条件に適合するように,必要に応じて励振装置を使用する。クラッド伝搬モード光は,通常は光ファ

イバの被覆によって減衰するため,この測定には影響を与えない。

4.2 

光パワーメータ(D 

広い測定ダイナミックレンジをもつ光パワーメータを使用する。光パワーメータの測定波長範囲は,供


5

C 61300-3-14

:2016 (IEC 61300-3-14:2014)

試品である VOA の使用波長範囲よりも広いものとする。VOA の減衰量設定の誤差及び減衰量設定再現性

の測定では,測定の不確かさを小さくするために,光パワーメータの入力光パワーに対する測定値の直線

性は,最も重要な特性である。光パワーメータにおける,光パワーの最小測定分解能は,0.01 dB 以下とす

る。

光パワーメータに対する他の要求は,JIS C 61300-3-4 による。

4.3 

基準測定用光ファイバ(RF 

光源の出力光パワーを測定するため,基準測定用光ファイバを使用する。基準測定用光ファイバは,VOA

が具備する光ファイバと同等の特性をもつものとする。

4.4 

テンポラリジョイント(TJ 

テンポラリジョイントは,安定的に,再現性良く,かつ,低損失に,2 本の光ファイバの端面を一時的

に整列する部品又は機械的な固定具である。VOA と測定機器とを標準的な光ファイバコネクタで直接接続

できない場合,テンポラリジョイントを用いる。例えば,高精度の V 溝を具備したブロック,真空チャッ

ク,微小調心機,光ファイバ融着又はメカニカルスプライスである。テンポラリジョイントは,一連の P

0

から P

n

までの測定中は,測定の不確かさの要求値に対して,±10 %以内の安定性をもつものとする。ここ

で,測定の不確かさの単位は dB とする。適切な屈折率整合材を用いることで,テンポラリジョイントの

接続安定性を向上することができる。

光源と測定系とを直接接続するために,光パッチコードを用いてもよい。その場合,テンポラリジョイ

ントの使用は,必須ではない。

手順 

5.1 

測定系 

測定系を

図 に示す。光ファイバのもつ曲げ損失特性に起因する光損失の変動をなくすため,P

0

から P

n

までの測定中は,光ファイバの位置は固定し,動かさない。

a)

  基準出力光測定 

b)

  光減衰量測定 

図 2−測定系 

5.2 

測定手順 

測定手順は,次による。ここで,測定する光パワーの単位は mW とする。

a) 

図 2 a) に示した測定系を構築し,P

0

を測定する。

b) 

図 2 b) に示すように,DUT である VOA を測定系に接続する。

c) VOA

の光減衰量が最小となるように減衰量を設定し,P

1

(1)を測定する。

d) VOA

の光減衰量が最小光減衰量より少し大きくなるように減衰量を設定し,P

2

(1)を測定する。


6

C 61300-3-14

:2016 (IEC 61300-3-14:2014)

   

e) VOA

の減衰量設定を少しずつ変えながら,同様に P

3

(1),P

4

(1),…,P

n

(1)までを測定する。

f)

手順 c) から手順 e) までの測定を再度実施し,同様に P

1

(2)から P

n

(2)までを測定する。

g)

個別に定める測定繰り返し回数 となるまで,手順 f) を繰り返す。

この測定に関連して,

附属書 に,ヒステリシス特性の測定手順を示す。

計算 

6.1 

絶対値補正による VOA の光減衰量測定誤差 

番目の光減衰量測定値の減衰量設定値からの誤差を,式(1)を用いて算出する。

i

i

i

A

a

a

=

δ

dB

  (1)

ここに,

i

a

(2)

及び式

(3)

による。

A

i

i

番目の減衰量設定値(

dB

[

]

0

10

/

)

(

log

10

)

(

P

j

P

j

a

i

i

=

dB

  (2)

=

=

m

j

i

i

j

a

m

a

1

)

(

1

dB

  (3)

6.2 

相対値補正による VOA の光減衰量測定誤差 

i

番目の光減衰量測定値の減衰量設定値からの誤差を,式

(4)

を用いて算出する。

i

i

i

A

a

a

a

=

1

δ

dB

  (4)

ここに,

1

a

ゼロ設定したときの光減衰量測定値の平均値(

dB

6.3 

全ての減衰量設定における,設定値に対する光減衰量測定値の最大誤差 

全ての減衰量設定における,設定値に対する光減衰量測定値の最大誤差は,式

(5)

を用いて算出する。

( )

i

n

i

a

a

δ

max

δ

1

max

=

dB

  (5)

6.4 

減衰量の再現性 

減衰量の再現性は,光減衰量の測定値分布の±

3σ

の範囲で表し,式

(6)

を用いて算出する。

i

i

a

σ

3

=

Δ

dB

  (6)

ここに,

σ

i

(7)

で算出する光減衰量測定値の標準偏差(

dB

[

]

2

1

2

)

(

1

=

=

m

j

i

i

i

a

j

a

m

σ

dB

  (7)

正しい

σ

i

を算出するため,各減衰量設定において,

10

回(

m

10

)以上,繰り返し測定を行うのがよい。

測定結果の記録 

次の測定結果を記録する。

附属書 に,測定結果の例を示す。

  i

番目の減衰量設定値

A

i

  i

番目の減衰量設定値に対する光減衰量測定値の誤差

δa

i

全ての減衰量設定における,減衰量設定値に対する光減衰量測定値の最大誤差

δa

max

減衰量の再現性

Δa

i

図 1 a)

又は

図 1 b)

に示すように,測定結果をプロットしたグラフを作成することが望ましい。


7

C 61300-3-14

:2016 (IEC 61300-3-14:2014)

個別に規定する事項 

8.1 

一般事項 

必要に応じて,8.28.9 に示す事項を製品規格などに定める。

8.2 

光源及び励振条件 

光源の種類

光源の出力光の中心波長

光源の出力光のスペクトル幅

光源の出力光パワー

測定中における光源の出力光パワーの安定性

光源の出力光パワーの偏光依存性の測定方法の種類(用いる場合)

励振装置の種類及び励振条件(用いる場合)

8.3 

光パワーメータ 

光パワーメータの種類

光パワー測定ダイナミックレンジ

入力光パワーに対する測定値の直線性

光パワー測定値の偏光依存性

8.4 

基準測定用光ファイバ 

光ファイバの形名

光ファイバ長

光ファイバ被覆の種類

8.5 

テンポラリジョイント 

テンポラリジョイントの種類

テンポラリジョイントの公称反射減衰量

テンポラリジョイントの光損失

8.6 

供試品 

デバイス性能仕様と実特性との比較

8.7 

測定手順 

減衰量設定における測定

各減衰量設定における測定繰返し回数(

m

8.8 

測定値の不確かさ 

8.9 

その他 

この規格で規定する測定手順との差異


8

C 61300-3-14

:2016 (IEC 61300-3-14:2014)

   

附属書 A

(参考)

測定結果の例

この附属書は,

測定結果の説明を行うための例であり,

推奨する装置又は測定条件を示すものではない。

測定結果の例は,次のとおりである。

光源の種類:

1 307 nm

ファブリ・ペロ・レーザ

励振装置の種類:使用なし

光パワーメータの受光部の種類:

InGaAs

基準測定用光ファイバ:

VOA

入力端子のカットバック部分に接続

基準光コネクタセット:使用なし

テンポラリジョイントの種類:光ファイバ融着接続

基準測定用光ファイバの長さ:

0.25 m

 VOA

の光ファイバピッグテールの長さ:

1 m

前準備:JIS C 61300-1 に従って,標準的な環境条件の大気中に

24

時間暴露

測定時の減衰量設定:最小設定,

10 dB

20 dB

30 dB

40 dB

50 dB

及び

60 dB

各減衰量設定での測定繰返し回数:

10

回(

m

10

この規格の測定手順との差異:

VOA

入力端子のカットバックによって

P

0

を測定

デバイス性能仕様と実特性との比較:

表 A.1 参照

表 A.1−デバイス性能仕様と実特性との比較 

設定

代表値

測定値

減衰量設定

A

i

 

(dB)

誤差

δa

i

(dB)

減衰量 
再現性

a

i

(dB)

光減衰量

a

i

 

(dB)

誤差

δa

i

(dB)

減衰量 
再現性

a

i

(dB)

1 1.4

0.5 未満

±0.3 未満 1.7  +0.3

±0.11

2 10

0.5 未満

±0.3 未満 9.8  −0.2

±0.16

3 20

0.5 未満

±0.4 未満 19.7  −0.3

±0.23

4 30

0.5 未満

±0.4 未満 30.0

0.0  ±0.30

5 40

0.5 未満

±0.5 未満 40.3  +0.3

±0.33

6 50

0.5 未満

±0.5 未満 50.4  +0.4

±0.39

7 60

0.5 未満

±0.6 未満 60.4  +0.4

±0.41

最大値

+0.4

±0.41


9

C 61300-3-14

:2016 (IEC 61300-3-14:2014)

附属書 B

(参考)

ヒステリシス特性の測定方法

B.1 

一般事項 

電気制御式の

VOA

において,光減衰量のヒステリシスは重要な特性である。ヒステリシス特性は,次

のようにして測定できる。

B.2 

測定手順 

測定手順は,次による。ここで,測定する光パワーの単位は

mW

とする。

a)

5.2

の手順 a)

及び b)

に従う。

b)

供試品を最小の減衰量に設定し,

P

1

(1)

を測定する。

c)

供試品の減衰量を最小の減衰量より大きい減衰量に設定して,

P

2

(1)

を測定する。

d)

減衰量を徐々に大きい値に設定して,

P

3

(1)

P

4

(1)

,…,

P

n

(1)

を順次測定する。

e)

  P

n

(1)

の測定後,供試品の減衰量を

P

n

(1)

測定時より小さい減衰量に設定して,

P'

n

1

(1)

を測定する。

f)

減衰量を徐々に小さい値に設定して,

P'

n

2

(1)

から

P'

1

(1)

までを順次測定する。

g)

同様に,手順 b)

から f)

までを繰り返し,

2

回目の

P

1

(2)

から

P

n

(2)

まで及び

P'

n

1

(2)

から

P'

1

(2)

までを測

定する。

h)

個別に定める測定回数

m

回となるまで,手順 g)

を繰り返す。

B.3 

計算 

光減衰量のヒステリシスは,式

(B.1)

で算出できる。

(

)

i

i

n

i

'

a

a

a

=

−1

1

hys

max

δ

dB

   (B.1)

ここに,

i

a

(2)

及び式

(3)

による。

i

'

a

(B.2)

及び式

(B.3)

による。

[

]

0

10

/

)

(

log

10

)

(

P

j

P

j

a

i

i

=

dB

   (B.2)

)

(

1

1

j

a

m

'

a

m

j

i

i

=

=

dB

  (B.3)