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C 61300-2-19

:2009 (IEC 61300-2-19:2005)

(1) 

目  次

ページ

序文

1

1

  適用範囲

1

2

  引用規格

1

3

  概要

2

4

  装置

2

5

  手順

2

5.1

  前処理

2

5.2

  初期試験及び測定

2

5.3

  試験

2

5.4

  後処理

2

5.5

  最終試験及び測定

3

6

  試験の厳しさの程度

3

7

  個別に規定する事項

3


C 61300-2-19

:2009 (IEC 61300-2-19:2005)

(2) 

まえがき

この規格は,工業標準化法第 12 条第 1 項の規定に基づき,財団法人光産業技術振興協会(OITDA)及び財

団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり,日本工

業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が制定した日本工業規格である。

この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。

この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に

抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許

権,出願公開後の特許出願,実用新案権及び出願公開後の実用新案登録出願にかかわる確認について,責

任はもたない。

JIS C 61300

の規格群には,次に示す部編成がある。

JIS

C

61300-1

  第 1 部:通則

JIS

C

61300-2-17

  第 2-17 部:低温試験

JIS

C

61300-2-18

  第 2-18 部:高温試験

JIS

C

61300-2-19

  第 2-19 部:高温高湿試験(定常状態)

JIS

C

61300-2-45

  第 2-45 部:浸水試験

JIS

C

61300-2-48

  第 2-48 部:温湿度サイクル試験(予定)

JIS

C

61300-3-3

  第 3-3 部:挿入損失及び反射減衰量変化のモニタ方法

JIS

C

61300-3-20

  第 3-20 部:波長選択性のない光ブランチングデバイスのディレクティビティ測定

JIS

C

61300-3-28

  第 3-28 部:過渡損失測定

JIS

C

61300-3-31

  第 3-31 部:光ファイバ光源の結合パワー比測定


   

日本工業規格

JIS

 C

61300-2-19

:2009

(IEC 61300-2-19

:2005

)

光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験

及び測定手順−第 2-19 部:高温高湿試験(定常状態)

Fiber optic interconnecting devices and passive components-

Basic test and measurement procedures-

Part 2-19: Tests-Damp heat (steady state)

序文

この規格は,2005 年に第 2 版として発行された IEC 61300-2-19 を基に,技術的内容及び対応国際規格の

構成を変更することなく作成した日本工業規格である。

1

適用範囲

この規格は,光ファイバデバイスの動作時,保管時及び輸送時に起こる可能性がある高温高湿環境条件

での耐久性の測定手順について規定する。

この試験は,デバイス及びクロージャを,一定の高温高湿の環境に規定時間さらしたときの,デバイス

及びクロージャの性能の測定を目的とする。水分の吸収は,機能を破壊したり,物理的な強度の劣化又は

その他の重要な機械的特性の変化を引き起こすような膨張に至る可能性がある。

光学特性の劣化も起こる可能性がある。この試験は,熱帯地方の環境条件を模擬しないが,絶縁材料又

は封止材料の水分吸収を決定する場合にも役立つ。

注記  この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。

IEC 61300-2-19:2005

,Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test and

measurement procedures

−Part 2-19: Tests−Damp heat (steady state) (IDT)

なお,対応の程度を表す記号(IDT)は,ISO/IEC Guide 21 に基づき,一致していることを示す。

2

引用規格

次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの

引用規格は,その最新版(追補を含む。

)を適用する。

JIS C 60068-2-78

  環境試験方法−電気・電子−第 2-78 部:高温高湿(定常)試験方法

注記  対応国際規格:IEC 60068-2-78,Environmental testing−Part 2-78: Tests−Test Cab: Damp heat,

steady state (IDT)

IEC 61300-3-3

,Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test and measurement

procedures

−Part 3-3: Examinations and measurements−Active monitoring of changes in attenuation and

return loss

IEC 61300-3-4

,Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test and measurement


2

C 61300-2-19

:2009 (IEC 61300-2-19:2005)

   

procedures

−Part 3-4: Examinations and measurements−Attenuation

3

概要

この試験手順は,JIS C 60068-2-78 の試験 Cab に従って実施する。供試品を試験槽の中に置き,個別規

格で規定する温度,相対湿度及び時間,高温高湿環境にさらす。

4

装置

4.1

試験槽  試験槽は,JIS C 60068-2-78 の試験 Cab で規定する環境試験槽を用いる。試験槽は,供試品

を収容することができ,必要に応じて試験条件下で測定することができるものを用いる。また,試験槽は,

規定した許容誤差範囲内で温度及び湿度を維持できなければならない。均一性を維持するため空気強制循

環装置を使用してもよい。

試験槽及びその附属品は,供試品への結露水の落下を防ぐような配置構成とする。

4.2

蒸気  規定した湿度を実現するため,蒸気,又は脱ミネラル若しくは脱イオン化した蒸留水を使用

する。試験設備によるさび又は腐食汚染物質を,供試品に付着させない。

4.3

光源及び光検出器  特に規定がなければ,試験中の光学特性の測定のために,供試品及び IEC 

61300-3-3

で規定する測定装置を接続する。連続測定を規定する場合は,挿入損失変化の測定のために使う

光源及び光検出器は,IEC 61300-3-4 の規定を満足しなければならない。

5

手順

JIS C 60068-2-78

(試験 Cab)に規定する手順で行う。

個別規格で特に指定のない限り,次の規定に従う。

−  供試品に入出力光ファイバがある場合は,試験中にモニタするポートに接続した光ファイバは,1.5 m

以上を試験槽の中に収納する。

−  試験中に光学測定が必要な場合は,1 時間以内の間隔で測定する。

5.1

前処理

製造業者の指示に従って,供試品のコネクタなどの光学結合部を清掃する。

供試品を 2 時間以上室温に放置する。

5.2

初期試験及び測定

個別規格で規定がある場合は,初期試験及び測定を行う。

5.3

試験

5.3.1

試験槽及び供試品を室温に置く。供試品は,通常動作する配置に[必要である場合には周辺装置を

つ(吊)り下げて]設置する。

5.3.2

試験槽を規定の温度及び湿度に調整する。温度変化の割合は,1  ℃/min 以下とする。供試品は温度

が安定した後,規定時間,試験温度で保持する。

5.3.3

試験終了時,温度が室温に徐々に下がるまで,供試品を試験槽内に放置する。

5.3.4

試験中に光学測定が必要な場合は,1 時間以内の間隔で測定する。測定は,IEC 61300-3-3 に従っ

て行う。

5.4

後処理

供試品を,2 時間以上,室温に放置する。


3

C 61300-2-19

:2009 (IEC 61300-2-19:2005)

5.5

最終試験及び測定

製造業者の指示に従って,供試品及び供試品のコネクタなどの光学結合部を清掃する。また,個別規格

の要求に従って,最終試験及び測定を行う。

6

試験の厳しさの程度

試験の厳しさの程度は,温度,湿度及び時間の組合せで決まる。厳しさの程度は,個別規格で規定する。

表 に示す厳しさの程度の一つを規定しなければならない。

表 1−厳しさの程度

相対湿度  %

温度  ℃

暴露時間  h

96

40

±2

336

96

93

85

±2

336

7

個別に規定する事項

次の事項は,必要に応じて個別に規定する。

a)

温度

b)

暴露時間

c)

供試品の光学動作

d)

供試品の(コネクタ)かん(嵌)合

e)

初期試験項目及び測定項目並びに性能要求

f)

試験中の試験項目及び測定項目並びに性能要求

g)

最終試験項目及び測定項目並びに性能要求

h)

規定手順からの変更点

i)

追加合否基準

+2 
−3