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C 61300-2-12

:2011

(1)

目  次

ページ

序文

1

1

  適用範囲

1

2

  引用規格

1

3

  概要

1

4

  落下衝撃試験方法

2

4.1

  方法 A−光コード付き落下法

2

4.2

  方法 B−鉄球による衝撃法

2

4.3

  方法 C−自由落下法

3

5

  手順

4

5.1

  前処理

4

5.2

  初期試験及び測定

4

5.3

  試験

4

5.4

  後処理

6

5.5

  最終試験及び測定

6

6

  個別規格に規定する事項

6

6.1

  方法 

6

6.2

  方法 

6

6.3

  方法 

6

附属書 JA(参考)JIS と対応国際規格との対比表

8


C 61300-2-12

:2011

(2)

まえがき

この規格は,工業標準化法第 12 条第 1 項の規定に基づき,財団法人光産業技術振興協会(OITDA)及

び財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり,

日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が制定した日本工業規格である。

この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。

この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意

を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実

用新案権に関わる確認について,責任はもたない。

JIS C 61300

の規格群には,次に示す部編成がある。

JIS

C

61300-1

  第 1 部:通則

JIS

C

61300-2-12

  第 2-12 部:落下衝撃試験

JIS

C

61300-2-14

  第 2-14 部:光パワー損傷のしきい値試験

JIS

C

61300-2-17

  第 2-17 部:低温試験

JIS

C

61300-2-18

  第 2-18 部:高温試験

JIS

C

61300-2-19

  第 2-19 部:高温高湿試験(定常状態)

JIS

C

61300-2-45

  第 2-45 部:浸水試験

JIS

C

61300-2-48

  第 2-48 部:温湿度サイクル試験

JIS

C

61300-3-3

  第 3-3 部:挿入損失及び反射減衰量変化のモニタ方法

JIS

C

61300-3-6

  第 3-6 部:反射減衰量測定

JIS

C

61300-3-20

  第 3-20 部:波長選択性のない光ブランチングデバイスのディレクティビティ測定

JIS

C

61300-3-28

  第 3-28 部:過渡損失測定

JIS

C

61300-3-30

  第 3-30 部:多心光ファイバコネクタ用フェルールの研磨角度及び光ファイバ位置

測定

JIS

C

61300-3-31

  第 3-31 部:光ファイバ光源の結合パワー比測定


   

日本工業規格

JIS

 C

61300-2-12

:2011

光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験

及び測定手順−第 2-12 部:落下衝撃試験

Fiber optic interconnecting devices and passive components

-Basic test and measurement procedures-Part 2-12: Tests-Impact

序文

この規格は,2009 年に第 3 版として発行された IEC 61300-2-12 を基に,技術的内容を変更することなく

作成し,構成については一部変更して作成した日本工業規格である。

なお,変更の一覧表にその説明を付けて,

附属書 JA に示す。

1

適用範囲

この規格は,光ファイバ接続デバイス及び光受動部品の使用中に起こり得る衝撃に対する耐久性の測定

手順について規定する。光ファイバ接続デバイスには,クロージャを含む。落下衝撃は,剛体による連続

した衝撃又はデバイスの落下を想定した衝撃である。

注記 1  関連する試験及び測定方法の通則は,JIS C 61300-1 に規定する。

注記 2  この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。

IEC 61300-2-12:2009

,Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test and

measurement procedures

−Part 2-12: Tests−Impact(MOD)

なお,対応の程度を表す記号“MOD”は,ISO/IEC Guide 21-1 に基づき,

“修正している”

ことを示す。

2

引用規格

次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの

引用規格は,その最新版(追補を含む。

)を適用する。

JIS C 61300-1

  光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第 1 部:通則

注記  対応国際規格:IEC 61300-1,Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic

test and measurement procedures

−Part 1: General and guidance(IDT)

IEC 61300-3-1

,Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test and measurement

procedures

−Part 3-1: Examinations and measurements−Visual examination

IEC 61753-1

,Fibre optic interconnecting devices and passive components performance standard−Part 1:

General and guidance for performance standards

3

概要

落下衝撃試験には,次の三つの方法がある。


2

C 61300-2-12

:2011

−  方法 A:光コードが付いた供試品を振り子状にぶら下げ,衝撃板に当てる。

−  方法 B:供試品を,滑らかかつ硬い供試品設置面上に置き,その上に衝撃物を自由落下させる。

−  方法 C:供試品を,所定の高さから,滑らかかつ硬い衝撃面上に自由落下させる。

これらの試験後に,個別規格に規定する性能条件を満足する場合には,合格とする。

4

落下衝撃試験方法

4.1

方法 A−光コード付き落下法

4.1.1

取付ジグ及び装置

取付ジグは,硬く,垂直な構造に取り付けることが可能なものを用いる。デバイスに光コードが付いて

いる場合,供試品が水平から垂直な位置まで自由に揺れ動くことができるように光コードを取付ジグに取

り付ける。装置及び取付け例を,

図 に示す。光コードがない供試品では,次のどちらかを実施しなけれ

ばならない。

a)

パッチコードが接続できるように,光コネクタアダプタ又は他の取付具を用いる。その場合,取付具

は重さが光コネクタアダプタと同等又はそれより軽いものを用いる。

b)

方法 C を実施する。

注記  光コードの長さ 及び供試品の落下高さ は,5.3.2 に規定する。

図 1−方法 A:光コード付き落下法の装置例

4.1.2

衝撃板

衝撃板は,厚さ 12.5 mm 以上の鋼板とする。衝撃面は,供試品と同等以上の大きさとする。

4.2

方法 B−鉄球による衝撃法

4.2.1

衝撃物及び衝撃方法

個別規格で規定のない限り,衝撃物は,質量 1 kg の鉄球とする。衝撃物を手で持った位置から,又は落

下試験装置を用いて自由落下させて,供試品設置面の上に置いた供試品に衝撃を与える。


3

C 61300-2-12

:2011

4.2.2

供試品設置面

個別規格で規定のない限り,供試品設置面は,滑らかかつ硬い表面のコンクリート又は鋼板とする。

4.2.3

落下装置

落下試験装置は,衝撃物を保持及び開放して自由落下させることができる機構を備えた中空管とする。

落下試験装置の例を,

図 に示す。中空管が衝撃物の自由落下の妨げにならないよう,中空管の内径は衝

撃物の外径より十分に大きく又その内面は滑らかでなければならない。

注記  落下高さ は,5.3.3 に規定する。

図 2−方法 B:鉄球による衝撃法の装置例

4.3

方法 C−自由落下法

4.3.1

衝撃方法

落下試験装置を用いて衝撃板の上に自由落下させ,供試品に衝撃を与える。供試品が小さい場合には,

手で持った状態から,又は落下試験装置で落下させる。  供試品に回転力及び/又は横方向の力を加えては

ならない。

4.3.2

衝撃面

供試品は,個別規格で規定のない限り,滑らかかつ硬い表面のコンクリート又は鋼板に落下させる。


4

C 61300-2-12

:2011

5

手順

5.1

前処理

製造業者の指示に従って,供試品及び供試品の光コネクタなどの光学結合部を清掃する。

個別規格で規定のない限り,JIS C 61300-1 で規定する標準的環境条件に供試品を 4 時間放置する。

5.2

初期試験及び測定

個別規格の規定に従って,供試品の初期試験及び測定を行う。IEC 61300-3-1 に従って外観試験を実施し

なければならない。

5.3

試験

5.3.1

一般事項

次の三つの試験方法のうち一つを実施しなければならない。検査及び測定は,試験前及び試験後だけに

実施する。試験中に検査及び測定が必要な場合には,その詳細を個別規格に規定する。

5.3.2

方法 A

5.3.2.1

落下高さ

落下高さ は,1.5 m とする。

図 に示すように,供試品の最下端を,供試品の光コード又はパッチコ

ードと衝撃板とが平行のとき,衝撃板からの距離が落下高さ になるように,取付ジグに固定する。

5.3.2.2

光コードの長さ

光コードの長さ は,2 m とする。

5.3.2.3

供試品の固定

図 に示すとおり,水平に光コードを完全に伸ばした状態で,供試品を保持する。そして,衝撃板に落

とす。

5.3.2.4

繰返し回数

5.3.2.3

を,5 回繰り返す。

5.3.3

方法 B

5.3.3.1

衝撃方法

衝撃物を,供試品の真上に

表 から選定した落下高さ に配置した後,自然落下させる。落下高さは,

供試品と衝撃物との間で最も近い部分の距離である。

表 1−落下高さ

単位  m

IEC 61753-1

環境カテゴリ

落下高さ  h

架空(カテゴリ A)及び地上(カテゴリ G)

1

地下(カテゴリ S) 2

5.3.3.2

位置

供試品は,中央に衝撃がかかるような方向に配置する。

5.3.3.3

繰返し回数

供試品を,その長手方向の軸を中心に 90°ずつ回転して,4 方向(回転角度は,0°,90°,180°及び

270

°)の衝撃を与える。

5.3.4

方法 C

5.3.4.1

供試品の固定


5

C 61300-2-12

:2011

手又は 4.3.1 に規定した落下試験装置で,

表 に示す落下高さ にて,底面又は 5.3.4.3 に規定する角若

しくは辺に衝撃が加わる位置となるように供試品を保持する。

5.3.4.2

落下高さ

落下高さ は,供試品と衝撃面との間で最も近い部分の距離とし,

表 による。

表 2−落下高さ及び供試品の質量

供試品の質量

kg

落下高さ  h

mm

 10

未満

100

10

以上 25 未満

75

25

以上 50 未満

50

50

以上 25

5.3.4.3

角及び辺からの落下

角又は辺からの落下の場合,供試品は

図 に示すように,供試品の重心と衝撃を与える角又は辺とを結

ぶ直線が衝撃面に垂直となるように配置する。

図 3−角及び辺からの落下時の配置方向

5.3.4.4

対象

個別規格で規定のない限り,供試品の底面,二つの角及び二つの辺に 1 回ずつ衝撃を与える。


6

C 61300-2-12

:2011

5.3.5

厳しさの程度

5.3.5.1

方法 A

方法 A での厳しさの程度は,高さ 1.5 m,5 回落下の 1 種類だけとする。

5.3.5.2

方法 B

方法 B での厳しさの程度は,IEC 61753-1 に規定する性能区分によって,1 kg の鉄球を落下高さ 1 m 又

は 2 m で落下させる 2 種類である(

表 参照)。

5.3.5.3

方法 C

方法 C での厳しさの程度は,供試品の質量で決まる落下高さ(

表 参照)と衝撃回数との組合せである。

5.4

後処理

試験を実施した環境条件において検査及び測定を行うため,回復時間は必要としない。製造業者の指示

に従って,供試品及び供試品の光コネクタなどの光学結合部を清掃する。

5.5

最終試験及び測定

試験終了後には,全ての附属品を取り外し,供試品への永久的な損傷がないことを確認するために,個

別規格で規定する最終試験及び測定を行う。外観検査は,IEC 61300-3-1 に従って実施する。最終的な結果

は,個別規格で規定する性能要求を満足しなければならない。

6

個別規格に規定する事項

6.1

方法 A

次の事項を,個別に規定しなければならない。

−  供試品の構成[かん(嵌)合又は非かん(嵌)合。光コネクタは非かん(嵌)合でなければならない。

−  初期試験項目及び初期測定項目並びに初期性能要求

−  試験中の試験項目及び試験中の測定項目並びに試験中の性能要求(個別規格に規定する場合)

−  最終試験項目及び最終測定項目並びに最終性能要求

−  試験手順からの変更点

−  追加合否判定基準

6.2

方法 B

次の事項を,個別に規定しなければならない。

−  前処理の手順

−  供試品の衝撃箇所

−  衝撃物の質量及び形状(この規格の規定と異なる場合)

−  初期試験項目及び初期測定項目並びに初期性能要求

−  最終試験項目及び最終測定項目並びに最終性能要求

−  試験手順からの変更点

−  追加合否判定基準

6.3

方法 C

次の事項を,個別に規定しなければならない。

−  前処理の手順

−  衝撃回数

−  初期試験項目及び初期測定項目並びに初期性能要求

−  供試品の落下姿勢


7

C 61300-2-12

:2011

−  最終試験項目及び最終測定項目並びに最終性能要求

−  試験手順からの変更点

−  追加合否判定基準


附属書 JA

参考)

JIS

と対応国際規格との対比表

JIS C 61300-2-12:2011

  光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測

定手順−第 2-12 部:落下衝撃試験

IEC 61300-2-12:2009

  Fibre optic interconnecting devices and passive components−

Basic test and measurement procedures

−Part 2-12: Tests−Impact

(I)JIS の規定

(III)国際規格の規定

(IV)JIS と国際規格との技術的差異の箇条

ごとの評価及びその内容

箇条番号及

び題名

内容

(II)

国際規格
番号

箇条番号

内容

箇 条 ご と

の評価

技術的差異の内容

(V)JIS と国際規格との技術的差異

の理由及び今後の対策

5.1

5.1

及 び

5.2

細分箇条番号以外は,JIS

と同じ

変更

IEC

規格の 5.1 及び 5.2 を JIS

では 5.1 とした。ただし,内容
の変更はない。

5

手順

5.2

∼5.5

5.3

∼5.6

細分箇条番号以外は,JIS

と同じ

変更

IEC

規格の細分箇条は項番が

繰り上がり,内容は JIS と対応
している。

一連の JIS 規格群において細分箇

条の構成を統一するため,変更し
た。今後 IEC に修正提案する。

JIS

と国際規格との対応の程度の全体評価:IEC 61300-2-12:2009,MOD

注記 1  箇条ごとの評価欄の用語の意味は,次による。

    −  変更……………… 国際規格の規定内容を変更している。

注記 2  JIS と国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は,次による。

    −  MOD………………国際規格を修正している。

8

C

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201

1