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C 61300-1

:2015

(1)

目  次

ページ

序文  

1

1  適用範囲  

1

2  引用規格  

1

3  用語及び定義  

2

4  標準的環境条件  

3

5  数値の表現  

3

5.1  一般事項  

3

5.2  許容幅をもつ公称値  

4

5.3  ある範囲の値  

4

6  図記号及び用語  

5

7  安全性  

5

8  校正 

5

8.1  一般事項  

5

8.2  ラウンドロビン校正手順  

5

9  励振条件  

5

9.1  一般事項  

5

9.2  マルチモード励振条件  

5

9.3  シングルモード励振条件  

6

附属書 A(参考)フェルール及びスリーブの機械的性能測定のためのラウンドロビン校正手順  

7

附属書 B(規定)損失測定のマルチモード励振条件  

8

附属書 JA(参考)JIS と対応国際規格との対比表  

11


C 61300-1

:2015

(2)

まえがき

この規格は,工業標準化法第 14 条によって準用する第 12 条第 1 項の規定に基づき,一般財団法人光産

業技術振興協会(OITDA)及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業

規格を改正すべきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工業

規格である。

これによって,JIS C 61300-1:2009 は改正され,この規格に置き換えられた。

この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。

この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意

を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実

用新案権に関わる確認について,責任はもたない。

JIS C 61300 の規格群には,次に示す部編成がある。

JIS

C

61300-1  第 1 部:通則

JIS

C

61300-2-1  第 2-1 部:正弦波振動試験

JIS

C

61300-2-2  第 2-2 部:繰返しかん合試験

JIS

C

61300-2-4  第 2-4 部:光ファイバクランプ強度試験(軸方向引張り)

JIS

C

61300-2-5  第 2-5 部:光ファイバクランプ強度試験(ねじり)

JIS

C

61300-2-6  第 2-6 部:かん合部締結強度試験(軸方向引張り)

JIS

C

61300-2-7  第 2-7 部:かん合部締結強度試験(曲げモーメント)

JIS

C

61300-2-9  第 2-9 部:衝撃試験

JIS

C

61300-2-11  第 2-11 部:光ファイバクランプ強度試験(軸方向圧縮)

JIS

C

61300-2-12  第 2-12 部:落下衝撃試験

JIS

C

61300-2-14  第 2-14 部:光パワー損傷のしきい値試験

JIS

C

61300-2-15  第 2-15 部:結合部ねじり試験

JIS

C

61300-2-17  第 2-17 部:低温試験

JIS

C

61300-2-18  第 2-18 部:高温試験

JIS

C

61300-2-19  第 2-19 部:高温高湿試験(定常状態)

JIS

C

61300-2-21  第 2-21 部:混合温湿度サイクル試験

JIS

C

61300-2-22  第 2-22 部:温度サイクル試験

JIS

C

61300-2-26  第 2-26 部:塩水噴霧試験

JIS

C

61300-2-27  第 2-27 部:ダスト試験(層流)

JIS

C

61300-2-45  第 2-45 部:浸水試験

JIS

C

61300-2-46  第 2-46 部:湿熱サイクル試験

JIS

C

61300-2-47  第 2-47 部:熱衝撃試験

JIS

C

61300-2-48  第 2-48 部:温湿度サイクル試験

JIS

C

61300-3-1  第 3-1 部:外観検査及び機械的検査

JIS

C

61300-3-2  第 3-2 部:シングルモード光デバイスの光損失の偏光依存性

JIS

C

61300-3-3  第 3-3 部:挿入損失及び反射減衰量変化のモニタ方法


C 61300-1

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(3)

JIS

C

61300-3-4  第 3-4 部:損失測定

JIS

C

61300-3-6  第 3-6 部:反射減衰量測定

JIS

C

61300-3-7  第 3-7 部:シングルモード光部品の光損失及び反射減衰量の波長依存性測定

JIS

C

61300-3-11  第 3-11 部:結合力及び離脱力測定

JIS

C

61300-3-15  第 3-15 部:球面研磨光ファイバコネクタのフェルール端面の頂点偏心量測定

JIS

C

61300-3-16  第 3-16 部:球面研磨光ファイバコネクタのフェルール端面の曲率半径測定

JIS

C

61300-3-17  第 3-17 部:斜め研磨光ファイバコネクタのフェルールの端面角度測定

JIS

C

61300-3-20  第 3-20 部:波長選択性のない光ブランチングデバイスのディレクティビティ測定

JIS

C

61300-3-22  第 3-22 部:フェルール押圧力測定

JIS

C

61300-3-23  第 3-23 部:フェルール端面からの光ファイバ引込み量測定

JIS

C

61300-3-24  第 3-24 部:偏波面保存光ファイバ付き光ファイバコネクタのキー位置精度測定

JIS

C

61300-3-25  第 3-25 部:フェルール及び光ファイバ取付け直角 PC 端面フェルールの同心度測定

JIS

C

61300-3-26  第 3-26 部:光ファイバとフェルール軸との角度ずれの測定

JIS

C

61300-3-27  第 3-27 部:多心光ファイバコネクタプラグの穴位置測定

JIS

C

61300-3-28  第 3-28 部:過渡損失測定

JIS

C

61300-3-30  第 3-30 部:多心光ファイバコネクタ用フェルールの研磨角度及び光ファイバ位置

測定

JIS

C

61300-3-31  第 3-31 部:光ファイバ光源の結合パワー比測定

JIS

C

61300-3-32  第 3-32 部:光受動部品の偏波モード分散測定

JIS

C

61300-3-33  第 3-33 部:ピンゲージを用いた割りスリーブのフェルール引抜力測定

JIS

C

61300-3-34  第 3-34 部:ランダム接続時の挿入損失

JIS

C

61300-3-36  第 3-36 部:光ファイバコネクタフェルールの内径及び外径の測定

JIS

C

61300-3-40  第 3-40 部:偏波面保存光ファイバ付き光ファイバコネクタプラグの偏波消光比測

JIS

C

61300-3-43  第 3-43 部:光ファイバ光源のモードトランスファファンクション測定


日本工業規格

JIS

 C

61300-1

:2015

光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−

基本試験及び測定手順−第 1 部:通則

Fiber optic interconnecting devices and passive components-

Basic test and measurement procedures-Part 1: General and guidance

序文 

この規格は,2011 年に第 3 版として発行された IEC 61300-1 を基とし,技術的内容を変更することなく

作成した日本工業規格であるが,JIS C 61300 規格群における細分箇条の構成を統一するため,対応国際規

格の構成の一部を変更して作成した日本工業規格である。

なお,この規格で点線の下線を施してある箇所は,対応国際規格を変更している事項である。変更の一

覧表にその説明を付けて,

附属書 JA に示す。

適用範囲 

この規格は,

JIS C 61300-2 規格群及び JIS C 61300-3 規格群で規定する環境試験及び測定方法によって,

一定の再現性のある結果を得るために必要な事項について規定する。JIS C 61300-2 規格群及び JIS C 

61300-3 規格群は,環境試験及び測定方法の手順並びに想定する幾つかの稼働状態における光ファイバ接

続デバイス及び光受動部品の性能を評価するために推奨する試験の厳しさの程度を規定している。

この環境試験及び測定方法は,広範囲にわたる工学的な経験及び判断に基づいており,光コネクタ,ス

プライス,スイッチ,減衰器などの光部品又は装置の次に示す性能を含む。

a)  あらかじめ規定する温度,圧力,湿度,機械的応力などの環境条件及びこれらを組み合わせた条件の

範囲において動作する能力

b)  保管及び輸送に耐える能力 
c)  規定するレベルの光学性能を満足する能力

この規格は,必要な一連の試験,各試験において要求する厳しさ,関係がある場合は,試験の順序及び

許容する性能の限界を定めた関連規格とともに用いる。この規格と関連規格との間で規定内容が一致しな

い場合は,関連規格の規定内容を優先する。

注記  この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。

IEC 61300-1:2011,Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test and

measurement procedures−Part 1: General and guidance(MOD)

なお,対応の程度を表す記号“MOD”は,ISO/IEC Guide 21-1 に基づき,

“修正している”

ことを示す。

引用規格 

次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの


2

C 61300-1

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引用規格は,その最新版(追補を含む。

)を適用する。

JIS C 6802  レーザ製品の安全基準

注記  対応国際規格:IEC 60825-1,Safety of laser products−Part 1: Equipment classification and

requirements(IDT)

JIS C 6803  レーザ製品の安全−光ファイバ通信システムの安全

注記  対 応 国 際 規 格 : IEC 60825-2 , Safety of laser products − Part 2: Safety of optical fibre

communication systems (OFCS)(IDT)

JIS C 61300-2 規格群  光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−試験

注記  対応国際規格:IEC 61300-2 (all parts),Fibre optic interconnecting devices and passive components

−Basic test and measurement procedures−Test

JIS C 61300-3 規格群  光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−測定

注記  対応国際規格:IEC 61300-3 (all parts),Fibre optic interconnecting devices and passive components

−Basic test and measurement procedures−Examinations and measurements

JIS C 61300-3-1  光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第 3-1 部:外観

検査及び機械的検査

注記  対応国際規格:IEC 61300-3-1,Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic

test and measurement procedures−Part 3-1: Examinations and measurements−Visual examination

(IDT)

IEC 60050-731,International Electrotechnical Vocabulary−Chapter 731: Optical fibre communication 
IEC 60617,Graphical symbols for diagrams

IEC 61280-1-4,Fibre optic communication subsystem test procedures−Part 1-4: General communication

subsystems−Light source encircled flux measurement method

IEC 61280-4-1,Fibre-optic communication subsystem test procedures−Part 4-1: Installed cable plant−

Multimode attenuation measurement

用語及び定義 

この規格で用いる主な用語及び定義は,次による。

3.1 

試験(test)

供試品をある環境条件又は一連の条件にさらすために行う一連の手順。通常,次の段階で構成する。

a)  準備(必要な場合) 
b)  前処理(必要な場合)

c)  初期検査又は初期測定(必要な場合) 
d)  処理 
e)  後処理(必要な場合)

f)  最終検査又は最終測定 
3.2 

供試品,DUT(device under test)

この規格で規定する手順に従って試験,並びに測定する光部品及び装置。


3

C 61300-1

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3.2A 

準備(preparation)

試験を実施するために,供試品を試験装置に設置する行為。光学特性を測定するために,測定装置に供

試品を接続する行為も含む。

注記  準備を要求する場合,準備が最初の試験手順になる。

3.3 

前処理(pre-conditioning)

試験実施前の影響を取り除く又は部分的にその影響を補償することを目的として,

供試品に加える行為。

注記  (対応国際規格の注記を,3.2A に移す。)

3.4 

処理(conditioning)

供試品に対する影響を確定的にするため,規定する環境条件に供試品をさらす行為。

注記  処理中に測定を行う場合がある。

3.5 

後処理(recovery)

処理後の測定前に,供試品の状態を安定にするために供試品に加える行為。

3.6 

試料(sample)

多くの製品の中から,無差別に又は個別に規定する手順に従って選ぶ,試験対象製品を代表する一群の

供試品。

標準的環境条件 

様々な設備を用いて行う測定又は試験結果に適切な相関を保証するために,標準的な環境条件は,ある

範囲内に制御する。個別に規定がない場合,次に示す環境において,試験及び測定を行う。特別な環境条

件が必要な場合は,個別に規定してもよい。

試験及び測定を行う標準的な環境条件を,

表 に示す。

表 1−試験及び測定の標準的環境条件 

温度

相対湿度

大気圧力

18  ℃∼28  ℃ 25

%∼75 %

86 kPa∼106 kPa

一連の測定を実施する間,環境温度及び湿度の変動は最小に抑える。

数値の表現 

5.1 

一般事項 

JIS C 61300-2 規格群の環境及び光学試験方法,並びに JIS C 61300-3 規格群の光学的特性又は物理的特

性の測定方法で規定する温度,湿度,応力,持続時間,光パワーレベルなどの様々なパラメータの数値は,

各試験において必要とする様態に応じて,主に次の値を規定する。

a)  許容幅をもつ公称値 
b)  ある範囲の値


4

C 61300-1

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これら二通りの規定の方法について,数値の意味を,5.2 及び 5.3 に示す。

5.2 

許容幅をもつ公称値 

表記法の例を,次に示す。

a) 40

nm±2 nm,2 s±0.5 s,0.3 dB±0.1 dB

b) (93

3

2

+

) %

量を数値として表示することは,示した値のもとで試験を行うという意図を表している。特に,次の要

因を考慮して許容幅を示す。

−  デバイスの状態をそろえることが困難である場合及び試験中のドリフト

−  装置の誤差

−  供試品を置いた試験空間における環境パラメータの不均一性。これに対しては特定の許容幅は与えな

い。

許容幅は,試験空間内のパラメータの値を調整する場合に自由度を与えるものではない。したがって,

許容幅をもつ公称値で量を規定している場合は,装置の誤差を許容しつつ公称値を得るように試験装置を

調整する。

通常,不確かさが小さく,許容範囲を超えないことが保証できる場合であっても,許容限界値の近くに

は試験装置を設定しない。

注記 1  ある量を 100±5 という数値で規定する場合,試験装置は,誤差を許容しながら 100 を目標に

調整するほうがよく,決して 95 又は 105 の値を目標として調整しない。

試験実施中の供試品に適用する限界値を避けるために,場合によっては,試験装置を一方の許容限界値

近くに設定する必要がある。

一方の符号だけの許容値をもつ量を規定する場合は,測定の不確かさを考慮して可能な限り公称値(こ

れはまた許容限界でもある。

)に近い値に試験装置を設定する。

なお,パラメータを測定する機器の精度も含めて,測定の不確かさは,測定に用いる機器に依存する。

注記 2  ある量を数値として (100

0

5

) %で規定しており,試験装置のその量に関する総合的な不確か

さが±1 %である場合,目標値 99 %を維持するように試験装置を調整する。一方,総合的な

不確かさが

5

.

2

5

.

2

+

  %である場合,目標値 97.5 %を維持するように試験装置を調整する。

5.3 

ある範囲の値 

表記法の例を,次に示す。

a)  温度 18  ℃∼28  ℃,相対湿度 80 %∼100 %,持続時間 1 h∼2 h

b)  反射減衰量≧55 dB,減衰量≦0.50 dB

注記  範囲を表すために用いる用語は,曖昧になる。例えば,“80 %∼100 %”という表現は,ある人

は 80 及び 100 という数値を含まないと解釈し,別の人は含むと解釈する。例えば,

“>80”又

は“≧80”というように不等記号を用いれば曖昧さが減るため,これを用いることが望ましい。

ある範囲で値を表現することは,試験装置を調整しなくてはならない値が,試験の結果に僅かしか影響

しないことを意味している。

機器の誤差を含む不確かさを許容する場合は,規定する範囲内であればどのような値を選んでもよい。

例えば,温度を“18  ℃∼28  ℃”の範囲にすると規定している場合は,この範囲の任意の温度でよい。た

だし,温度がこの範囲を超えて変化するように設定してはならない。


5

C 61300-1

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図記号及び用語 

光ファイバ部品の試験及び測定方法を解釈する場合,又は規格を作成する場合に用いる用語は,IEC 

60050-731 による。同様に,光ファイバ部品の試験及び測定方法を解釈する場合,又は規格を作成する場

合に用いる図記号は,IEC 60617 から適切なものを用いる。

安全性 

光ファイバ部品の測定を行う場合のレーザ放射光に関する予防措置は,JIS C 6802 が規定している。光

ファイバ部品及びシステムは,危険なレーザ放射光を発する可能性がある。これは,次のような状況にお

いて起きる。

a)  稼働中の光源の出力端 
b)  次のいずれかの状態の伝送システム

−  敷設中,稼働中又は意図的に停止中

−  故障中又は意図しない停止中

c)  測定中及び試験中

危険度の評価,予防措置など,製造業者がとらなければならない措置の関連規格として,JIS C 6802 

び JIS C 6803 がある。

その他の安全性に関する考え方は,

適切な試験方法又はそれ以外の規格を参照する。

校正 

8.1 

一般事項 

この規格が対象とする全ての試験及び測定は,校正した装置を用いて行う。できる限り国際規格又は日

本工業規格(JIS)を適用することが望ましい(JIS C 6186 参照)

。利用可能である場合,校正は,JIS 

基づいて行うことが望ましい。

校正の標準が存在しない場合には,試験を実施する製造業者又は研究機関は,可能な範囲で試験装置の

精度を記載する。

8.2 

ラウンドロビン校正手順 

精度が未知数の場合は,ラウンドロビン校正手順を用いてゲージなどの測定装置の校正を行う必要があ

る。

(対応国際規格の 8.2 の中にある“

附属書 A(Annex A)”に関する記載は,この規格で“附属書 A”を

規定していないため,削除する。

注記  ラウンドロビン(round robin)とは,あるグループの中で同一試料を回覧及び持ち回りして試

験結果を比較することである。

励振条件 

9.1 

一般事項 

光部品の損失特性は,入力光ファイバの励振条件に大きく依存する。再現性の高い測定結果を得るため

に,明確に定義し,簡単,かつ,正確に再現する標準的な励振条件を用いる。首尾一貫した結果を得るた

めに,測定に先立ち全ての光コネクタ及びアダプタを清掃し,検査する。JIS C 61300-3-1 に従って,外観

検査を実施する。

9.2 

マルチモード励振条件 

マルチモード光ファイバの励振条件を,

附属書 に規定する。励振条件は,エンサークルドフラックス


6

C 61300-1

:2015

の許容幅で規定する。

IEC 61280-4-1 の規定の方法で,既設光ファイバリンクを試験する場合に損失測定値の変動を抑えるため

に,これらの許容幅を規定している。複数の光コネクタを含む光ファイバリンクの場合と光コネクタが一

つの場合とで想定する許容幅は異なる。光源のエンサークルドフラックス測定値が規定の許容幅内にある

場合,光コネクタ 1 個当たりの損失測定値の想定する不確かさを,

表 に示す。

表 2−光コネクタ 個当たりの損失測定値の想定する不確かさ 

光ファイバのコア直径公称値

μm

波長

nm

想定する不確かさ

dB

50

850

0.08

 1

300

0.12

62.5

850

0.10

 1

300

0.15

表 は,損失値が 0.75 dB 以下の場合に適用する。

マルチモード光部品の損失測定の全ての不確かさを計算する場合,モードの変動による不確かさを含め

る。

9.3 

シングルモード励振条件 

シングルモード光部品の測定では,光源の波長(全スペクトル幅を含む。

)は,光ファイバのカットオフ

波長よりも長くする。入力側の光ファイバの配置及び長さは,入力端近傍で励振する可能性のある高次モ

ードを十分に減衰するように設定する。

幾つかのデバイスにおいては,光の偏光状態及び偏光方向が重要であり,必要な場合には関連規格にお

いて規定する。

部品に入力する光パワーは,非線形な散乱を生じるほど大きな値であってはならない。

クラッドモードが測定結果に影響を与えないように,予防措置を講じる。入力及び出力光ファイバの被

覆の働きによって,又は関連規格で規定する場合にはクラッドモード除去器を追加することによって,ク

ラッドモードを除去する。

測定に影響を与えるような入力又は出力光ファイバの過剰な曲げが起こらないように,予防措置を講じ

る。可能な場合,測定中,光ファイバを固定する。

測定に適する安定な励振を行う。測定中は,動作温度範囲内で安定な励振を維持する。


7

C 61300-1

:2015

附属書 A

(参考)

フェルール及びスリーブの機械的性能測定のための

ラウンドロビン校正手順

(この附属書は,この規格では適用しない。


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C 61300-1

:2015

附属書 B

(規定)

損失測定のマルチモード励振条件

B.1  一般 

この附属書は,

損失測定における一般的なマルチモード励振条件を規定する。

製造現場と使用現場とで,

同一の測定装置を用いる場合及び異なる測定装置を用いる場合のいずれにおいても一致する測定結果を得

ることを目的とする。

光部品を製造現場で試験する場合,ここで規定する励振条件を用いることで,使用現場に光部品を設置

した後で行う現場試験の要求条件を満足することを保証する。

励振条件は,エンサークルドフラックスに基づいて規定する。

B.2  概要 

損失測定に用いる代表的な光源をマルチモード光ファイバに入射する場合,

様々なモード分布が生じる。

モード分布が異なる場合,大部分のマルチモード光部品がもつモード依存損失(DMA)によって,損失測

定結果が変動する。例えば,異なる光源を用いる又は異なる励振光ファイバを用いる場合,損失測定の結

果が変化する。

LED を用いる従来の使用用途では,パワーバジェットが大きく,製造現場と使用現場との測定結果の違

いが表れない。

技術の進展に伴い,損失に対するシステムの要求は厳しくなってきている。アプリケーションの厳しい

要求によって,様々な現場試験装置で,正確で再現性のあるマルチモード損失測定が必要である。同じ標

準に適合する測定系であるが,現場試験装置が異なる場合,励振条件の差異によって損失測定結果が変動

する。

B.3  用語及び定義 

この附属書で用いる主な用語及び定義は,次による。

B.3.1 

エンサークルドフラックス,EF(Encircled flux)

全出力光パワーに対する近傍界光パワーの総和の割合。光ファイバコアの光学中心から測った半径方向

の距離の関数として表し,式(B.1)で定義する。

=

R

r

dx

x

xI

dx

x

xI

r

EF

0

0

)

(

)

(

)

(

  (B.1)

ここに,

r

光ファイバコアの光学中心から測った半径方向の距離

R

積分範囲の最大値

I(r)

r

に対する近傍界光強度分布

EF

は,IEC 61280-1-4 で規定する方法に従って測定する。

B.4  適用光ファイバ 

この附属書は,コア直径 50 μm 又は 62.5 μm,及びクラッド直径 125 μm の光ファイバに適用する。


9

C 61300-1

:2015

B.4.1  エンサークルドフラックス 

基準励振光ファイバの端面から出射する光の近傍界を測定して EF を求める。

B.4.2  エンサークルドフラックスのテンプレートの例 

波長 850 nm における,コア直径 50  μm の光ファイバのエンサークルドフラックスのテンプレートの例

を,

図 B.1 に示す。

図 B.1−エンサークルドフラックスのテンプレートの例 

B.5  マルチモード光ファイバコネクタ損失測定のエンサークルドフラックス要求値 
B.5.1  
一般事項 

この規格で規定する励振条件は,マルチモード光ファイバコネクタの損失測定に適用する。マルチモー

ド光ファイバコネクタの損失測定における励振条件は,基準光コネクタの出射端で測定するエンサークル

ドフラックスが,

表 B.1∼表 B.4 の要求値に適合することである。

B.5.2  エンサークルドフラックスの範囲 

光源の変動によって生じる損失変化が,目標とする励振で得られる値の±10 %又は±X dB のいずれか大

きい値を超えないという境界条件及び目標とする近傍界によって,エンサークルドフラックスの範囲が決

まる。X の値は許容限界値であり,

表 に示すように,光ファイバコア直径及び波長に依存する。

表 B.1−波長 850 nm におけるコア直径 50 μm の光ファイバに対する EF 要求値 

半径方向オフセット

μm

EF 下限値 EF 上限値

10

0.278 5

0.391 5

15

0.598 0

0.711 9

20

0.910 5

0.929 5

22

0.969 0

0.981 2


10

C 61300-1

:2015

表 B.2−波長 1 300 nm におけるコア直径 50 μm の光ファイバに対する EF 要求値 

半径方向オフセット

μm

EF 下限値 EF 上限値

10

0.279 2

0.394 0

15

0.599 6

0.713 8

20

0.907 2

0.930 0

22

0.966 3

0.979 3

表 B.3−波長 850 nm におけるコア直径 62.5 μm の光ファイバに対する EF 要求値 

半径方向オフセット

μm

EF 下限値 EF 上限値

10

0.168 3

0.253 5

15

0.369 5

0.508 5

20

0.633 7

0.750 9

26

0.924 5

0.945 5

28

0.971 0

0.985 6

表 B.4−波長 1 300 nm におけるコア直径 62.5 μm の光ファイバに対する EF 要求値 

半径方向オフセット

μm

EF 下限値 EF 上限値

10

0.168 0

0.255 8

15

0.369 9

0.511 9

20

0.636 9

0.752 1

26

0.925 4

0.946 0

28

0.970 8

0.985 6

参考文献   

JIS C 6186  光ファイバ用光パワーメータ校正方法

注記  対応国際規格:IEC 61315,Calibration of fibre-optic power meters(IDT)

JIS C 6828  光ファイバ構造パラメータ測定器校正方法

注記  対応国際規格:IEC 61745,End-face image analysis procedure for the calibration of optical fibre

geometry test sets(IDT)

JIS C 60068-2-1  環境試験方法−電気・電子−第 2-1 部:低温(耐寒性)試験方法(試験記号:A)

注記  対応国際規格:IEC 60068-2-1,Environmental testing−Part 2-1: Tests−Test A: Cold(IDT)

IEC 62614,Fibre optics−Launch condition requirements for measuring multimode attenuation


11

C 61300-1

:2015

附属書 JA

1

(参考)

2

JIS

と対応国際規格との対比表

3

4

JIS C 61300-1:2015  光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定
手順−第 1 部:通則

IEC 61300-1:2011,Fibre optic interconnecting devices and passive components−
Basic test and measurement procedures−Part 1: General and guidance

(I)JIS の規定

(II) 
国際規格

番号

(III)国際規格の規定

(IV)JIS と国際規格との技術的差異の箇条
ごとの評価及びその内容

(V)JIS と国際規格との技術的差
異の理由及び今後の対策

箇 条 番 号

及び題名

内容

箇条番号

内容

箇 条 ご と

の評価

技術的差異の内容

3.1

“試験”の用語及び

定義

 3.1

JIS とほぼ同じ。

追加 3.2A に追加した“準備”を追

加した。

供試品を試験装置に設置する処

理として試験を実施する上で必
要。 
IEC 規格見直し時に提案を行う。

3.2A

“準備”の用語及び

定義

追加

準備の定義を追加した。 3.1 と同じ。

8.2

ラ ウ ン ド ロ ビ ン 校
正手順

 8.2

JIS とほぼ同じ。

削除

この規格では附属書 A を適用
しないため,附属書 A に関連

する記載を削除した。

フェルール及びスリーブの機械
的性能測定の校正方法として,国

際規格に記載のラウンドロビン

校正手順は使用されていないた
め削除した。 
IEC 規格の次回改版時に,この附
属書を削除することを IEC との
間で合意している。

附属書 A

(参考)

フ ェ ル ー ル 及 び ス

リ ー ブ の 機 械 的 性

能 測 定 の た め の ラ
ウ ン ド ロ ビ ン 校 正

手順

附属書 A

(参考)

フェルール及びスリーブ

の機械的性能測定のため

のラウンドロビン校正手
順を記載。

削除

この規格では適用しないとし

て,記載を“この附属書は,こ

の規格では適用しない”とし
た。

8.2 と同じ。

JIS と国際規格との対応の程度の全体評価:IEC 61300-1:2011,MOD

11

C

 613

00
-1


20
15


12

C 61300-1

:2015

注記 1  箇条ごとの評価欄の用語の意味は,次による。

    −  削除……………… 国際規格の規定項目又は規定内容を削除している。

    −  追加……………… 国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。

注記 2  JIS と国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は,次による。

    −  MOD……………  国際規格を修正している。

5

12

C

 613

00
-1


20
15