C 61326-2-3：2019 (IEC 61326-2-3：2012)
（1）
目 次
ページ
序文 ··································································································································· 1
1 適用範囲························································································································· 1
2 引用規格························································································································· 3
3 用語及び定義 ··················································································································· 3
4 一般事項························································································································· 4
5 EMC試験計画 ················································································································· 4
5.1 一般 ···························································································································· 4
5.2 試験中の供試装置（EUT）の構成 ····················································································· 4
5.3 試験中のEUTの動作条件 ································································································ 4
5.4 機能性能の仕様 ············································································································· 4
5.5 試験に関する記載事項 ···································································································· 4
6 イミュニティ要求事項 ······································································································· 4
6.1 試験中の条件 ················································································································ 4
6.2 イミュニティ試験要求事項 ······························································································ 5
6.3 偶発性の側面 ················································································································ 5
6.4 性能評価基準 ················································································································ 5
7 エミッション要求事項 ······································································································· 6
7.1 測定中の条件 ················································································································ 6
7.2 エミッション限度値 ······································································································· 6
8 試験結果及び試験報告書 ···································································································· 6
9 使用説明························································································································· 6
附属書A（規定）電池又は測定対象の回路から電源供給を受ける可搬形の
試験及び計測用の電気装置に対するイミュニティ試験要求事項 ··············································· 7
附属書AA（規定）特定タイプのトランスデューサに対する追加要求事項及び除外事項−
引張力及び圧縮力の測定用トランスデューサ（“力”トランスデューサ） ·································· 7
附属書BB（規定）特定タイプのトランスデューサに対する追加要求事項及び除外事項−
圧力測定用トランスデューサ（圧力トランスデューサ） ······················································· 10
附属書CC（規定）特定タイプのトランスデューサに対する追加要求事項及び除外事項−
温度計測用トランスデューサ（温度トランスデューサ） ······················································· 12
C 61326-2-3：2019 (IEC 61326-2-3：2012)
（2）
まえがき
この規格は，工業標準化法第12条第1項の規定に基づき，一般社団法人日本電気計測器工業会（JEMIMA）
及び一般財団法人日本規格協会（JSA）から，工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出
があり，日本工業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が制定した日本工業規格である。これによって，
JIS C 1806-2-3:2012は廃止され，この規格に置き換えられた。
この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような特許権，出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について，責任はもたない。
JIS C 61326の規格群には，次に示す部編成がある。
JIS C 61326-1 第1部：一般要求事項
JIS C 61326-2-1 第2-1部：個別要求事項−EMC防護が施されていない感受性の高い試験用及び測定
用の装置の試験配置，動作条件及び性能評価基準
JIS C 61326-2-2 第2-2部：個別要求事項−低電圧配電システムで使用する可搬形の試験用，測定用
及び監視用の装置の試験配置，動作条件及び性能評価基準
JIS C 61326-2-3 第2-3部：個別要求事項−一体形又は分離形信号変換機能をもつトランスデューサ
の試験配置，動作条件及び性能評価基準
JIS C 61326-2-6 第2-6部：個別要求事項−体外診断用医療機器（予定）
日本工業規格 JIS
C 61326-2-3：2019
(IEC 61326-2-3：2012)
計測用，制御用及び試験室用の電気装置−
電磁両立性要求事項−第2-3部：個別要求事項−
一体形又は分離形信号変換機能をもつトランス
デューサの試験配置，動作条件及び性能評価基準
Electrical equipment for measurement, control and laboratory use-
EMC requirements-Part 2-3: Particular requirements-
Test configuration, operational conditions and performance criteria for
transducers with integrated or remote signal conditioning
序文
この規格は，2012年に第2版として発行されたIEC 61326-2-3を基に，技術的内容及び構成を変更する
ことなく作成した日本工業規格である。この規格は，JIS C 61326-1:2017の本体及び附属書に新しい文章
を追加したり，部分的に削除したり又は新しい文章に置き換えたりして適用する構成となっている。この
規格は，これらの変更部分だけを記載している。したがって，この規格を適用するには，JIS C 61326-1:2017
を併読して用いる。
1
適用範囲
この規格は，JIS C 61326-1:2017の要求事項に加えて，一体形又は分離形信号変換機能をもつトランス
デューサのための，より詳細な試験配置，動作条件及び性能評価基準について規定する。
この規格は，補助的なエネルギー源を用いて，非電気量をプロセスに関連した電気信号に変換し，一つ
以上のポートに信号を出力する能力によって特徴付けられるトランスデューサだけに適用する。この規格
は，電気化学的測定量及び生物学的測定量のトランスデューサにも適用する。
この規格で規定するトランスデューサは，交流若しくは直流電源及び／又は電池若しくは内部電源によ
って駆動する。
この規格が対象とするトランスデューサは，少なくとも次の項目からなる（図101及び図102参照）。
− 非電気量を電気量に変換するための一つ以上の構成要素
− 信号変換機能ユニットへ電気量を伝達するための伝送リンク
− 電気量をプロセスに関連する電気信号に変換する信号変換機能ユニット
− 上記の構成部品を全体又は部分ごとに囲うきょう体
この規格が対象とするトランスデューサは，次の項目を含む場合もある（図101及び図102参照）。
− 通信制御ユニット
− 表示ユニット
2
C 61326-2-3：2019 (IEC 61326-2-3：2012)
− キー，ボタン，スイッチなどのような制御要素
− 明らかに入力信号に割り付けられるトランスデューサの出力信号（例えば，接点出力，警報出力）
− 一体形又は分離形信号変換機能をもつトランスデューサ
製造業者は，想定される製品の使用環境を指定し，JIS C 61326-1:2017の対応する試験レベルを適用す
る。
特定のタイプのトランスデューサに対する追加要求事項及び除外事項は，附属書AA〜附属書CCに規
定する。
1
非電気量
2
電気量
3
伝送リンク
4
信号変換機能ユニット
5
通信制御ユニット
6
I/Oポート
7
供給電源
8
信号ポート
9
交流又は直流電源ポート
図101−一体形信号変換機能をもつトランスデューサの例
1
非電気量
2
電気量
3
伝送リンク
4
信号変換機能ユニット
5
通信制御ユニット
6
I/Oポート
7
供給電源
8
信号ポート
9
交流又は直流電源ポート
図102−分離形信号変換機能をもつトランスデューサの例
注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。
IEC 61326-2-3:2012，Electrical equipment for measurement, control and laboratory use−EMC
3
C 61326-2-3：2019 (IEC 61326-2-3：2012)
requirements−Part 2-3: Particular requirements−Test configuration, operational conditions and
performance criteria for transducers with integrated or remote signal conditioning（IDT）
なお，対応の程度を表す記号“IDT”は，ISO/IEC Guide 21-1に基づき，“一致している”こ
とを示す。
2
引用規格
引用規格は，JIS C 61326-1:2017の箇条2によるほか，次による。
JIS C 61326-1:2017 計測用，制御用及び試験室用の電気装置−電磁両立性要求事項−第1部：一般要
求事項
注記 対応国際規格：IEC 61326-1:2012，Electrical equipment for measurement, control and laboratory
use−EMC requirements−Part 1: General requirements
3
用語及び定義
この規格で用いる主な用語及び定義は，JIS C 61326-1:2017の箇条3によるほか，次による。
3.101
一体形信号変換機能をもつトランスデューサ（transducer with integrated signal conditioning）
きょう体内に信号変換に必要な全ての構成要素を一体化したトランスデューサ（図101参照）。
3.102
分離形信号変換機能をもつトランスデューサ（transducer with remote signal conditioning）
分離したきょう体内に信号変換に関する構成要素を装備したトランスデューサ（図102参照）。
3.103
伝送リンク（transmission link）
分離形信号変換機能をもつトランスデューサの個別要素間の接続。
3.104
公称レンジ［(nominal) range］
測定器の操作器を個別に設定することによって得られる表示値の範囲。
注記 公称レンジは，通常，下限値及び上限値によって表現する。下限値がゼロの場合には，公称レ
ンジは上限値だけで表す。
（IEC 60050-300:2001，311-03-14参照）
3.105
（トランスデューサの）測定レンジ［measuring range (of a transducer)］
出力信号と入力信号との関係が精度の要求事項を満たす，二つの測定量で示す範囲。
注記 4 mA〜20 mAのシステムでは，出力電流4 mAがその測定量の下限値を表し，20 mAがその上
限値を表す。
（IEC 60050-300:2001，311-03-12修正）
3.106
スパン（span）
測定レンジでの上限値と下限値との数値的な差分。
（IEC 60050-300:2001，311-03-13参照）
4
C 61326-2-3：2019 (IEC 61326-2-3：2012)
3.107
固有不確かさ（intrinsic uncertainty）
基準条件下で使用した場合の測定器の不確かさ。
注記 この用語は，不確かさの検討で用いる。
（IEC 60050-300:2001，311-03-09参照）
4
一般事項
JIS C 61326-1:2017の箇条4を適用する。
5
EMC試験計画
5.1
一般
JIS C 61326-1:2017の5.1を適用する。
5.2
試験中の供試装置（EUT）の構成
JIS C 61326-1:2017の5.2によるほか，次による。
5.2.1
一般
次の事項を追加して，JIS C 61326-1:2017の5.2.1を適用する。
EUTの動作を監視し，出力値を記録するためのモニタシステムは，そのEUTのEMC特性を損なわない
ように設計する。また，モニタシステムは，その応答がイミュニティ試験によって影響を受けないように
設計する。モニタシステムの入力インピーダンスは，製造業者が指定するトランスデューサの終端インピ
ーダンスに合わせる。モニタシステムとEUTとの間の距離は，1.5 m以上とすることが望ましい。
モニタシステムの測定不確かさ及び帯域幅は，トランスデューサの特性による。
伝送リンクは，I/Oラインとみなす。
製造業者が指定するトランスデューサの環境条件で，指定する電源電圧を用いて試験する。
電池で駆動し，かつ，電源に接続した場合にも使用できるトランスデューサは，両方の動作モード（電
池単独駆動及び外部電源駆動）で試験する。
操作説明書に明記する外部保護装置又は特定の保護手段を用いることを製造業者が設置説明書で指定し
ている場合，外部保護装置又は特定の保護手段を用いた状態のEUTに対して，この規格に規定する試験要
求事項を適用する。
5.3
試験中のEUTの動作条件
JIS C 61326-1:2017の5.3を適用する。
5.4
機能性能の仕様
JIS C 61326-1:2017の5.4を適用する。
5.5
試験に関する記載事項
JIS C 61326-1:2017の5.5を適用する。
6
イミュニティ要求事項
6.1
試験中の条件
次の事項を追加して，JIS C 61326-1:2017の6.1を適用する。
全てのポートにラインを接続することがトランスデューサの機能を阻害する場合を除き，試験中は全て
のポートにラインを接続してトランスデューサを動作させる。
5
C 61326-2-3：2019 (IEC 61326-2-3：2012)
代替ポート付きの構成では，その各々を個別に試験する。
トランスデューサは，通常の使用で，最悪のイミュニティ結果となることが知られている他のレンジが
ない限り，最高感度のレンジ又はレンジの組合せに設定する。
定格の条件下で，指定する用途に従った動作機能だけを許容する。EMC試験条件下で設定できないと定
義した機能は，適切な手段によって模擬する。これは，トランスデューサのEMC性能に影響を及ぼさな
い方法で行う。
測定回路器及び電源回路は，製造業者の仕様に従って接地する。そのような仕様がない場合，回路を接
地した試験，及び回路を接地しない試験のいずれも実施する。
6.2
イミュニティ試験要求事項
次の事項を追加して，JIS C 61326-1:2017の6.2を適用する。
各試験中又は試験後に，トランスデューサの機能を試験する。
I/Oポートと同一のケーブル内に含まれる直流75 V以下又は交流50 V以下の電源入力は，I/Oポートと
して試験する。
出力信号を重畳した，直流75 V以下又は交流50 V以下の電源入力（例えば，2線式4 mA〜20 mAのカ
レントループ）も，I/Oポートとして試験する。
分離形信号変換機能をもつトランスデューサの伝送リンクは，I/Oポートとして試験する。
絶縁抵抗について製造業者の仕様がある場合は，静電気放電イミュニティ（ESD）試験，電気的ファス
トトランジェント／バーストイミュニティ（EFT/B）試験及びサージイミュニティ試験では，絶縁抵抗の
仕様を満たすことを試験前及び後に確認しなければならない。製造業者の仕様を満たしていない場合，ト
ランスデューサは，EMC試験に不合格とみなす。
6.3
偶発性の側面
JIS C 61326-1:2017の6.3を適用する。
6.4
性能評価基準
次の事項を追加して，JIS C 61326-1:2017の6.4を適用する。
性能評価基準は，外部電磁妨害の影響下でトランスデューサの機能を評価するために用いる。トランス
デューサは，大規模なプロセスにおける一連の機能の一部となることもあるため，外部干渉要素によって
トランスデューサの機能不全が，プロセス全体に与える影響を予測することは大変困難である。したがっ
て，製造業者が，電磁妨害の影響下でのトランスデューサの挙動を性能評価基準に記載することは，特に
重要である。
性能評価基準に関して，トランスデューサの種々の機能に及ぼす妨害の許容可能な影響は，表101によ
る。
6
C 61326-2-3：2019 (IEC 61326-2-3：2012)
表101−機能別性能評価基準
機能
JIS C 61326-1:2017に追加する個別の性能評価基準
性能評価基準A
性能評価基準B
性能評価基準C
主要機能a)
試験中の偏差は，製造業者が
指定し，文書化している固有
不確かさの限度値内にある。
試験中の偏差は，製造業者が
指定し，文書化している追加
偏差の限度値内にある。
試験中の偏差は，製造業者が
指定し，文書化している限度
値外であってもよい。試験
後，測定値は，指定された範
囲内にある。
製造業者は，試験終了後に正
常機能へ復帰するまでに必
要とする時間を指定する。
プロセス通信
意図どおりの通信
試験中，通信への一時的な干
渉は許容する。
試験中，通信への干渉は，許
容する。
製造業者は，試験終了後に正
常機能へ復帰するまでに必
要とする時間を指定する。
警報機能
いかなる機能不全も許容し
ない。
試験中，通信への一時的な干
渉は許容する。
機能不全を許容する。
製造業者は，試験終了後に正
常機能へ復帰するまでに必
要とする時間を指定する。
注a) トランスデューサの主要機能は，図101及び図102に示すとおり，非電気量をプロセス関連信号に変換する
ことである。
7
エミッション要求事項
7.1
測定中の条件
次の事項を追加して，JIS C 61326-1:2017の7.1を適用する。
箇条5及び箇条6に規定する“追加事項”を考慮する。
7.2
エミッション限度値
JIS C 61326-1:2017の7.2を適用する。
8
試験結果及び試験報告書
JIS C 61326-1:2017の箇条8を適用する。
9
使用説明
JIS C 61326-1:2017の箇条9を適用する。
7
C 61326-2-3：2019 (IEC 61326-2-3：2012)
附属書A
（規定）
電池又は測定対象の回路から電源供給を受ける可搬形の
試験及び計測用の電気装置に対するイミュニティ試験要求事項
電池又は測定対象の回路から電源供給を受ける可搬形の試験及び計測用の電気装置に対するイミュニテ
ィ試験要求事項は，適用しない。
附属書AA
（規定）
特定タイプのトランスデューサに対する追加要求事項及び除外事項−
引張力及び圧縮力の測定用トランスデューサ（“力”トランスデューサ）
AA.1 概要
この附属書は，静的な量の測定が可能な“力”トランスデューサの個別EMC要求事項について規定す
る。
“力”トランスデューサは，少なくとも次の部分からなる。
− 機械的な力を入力量として記録するひずみ検出ユニット
− 機械的な入力量に比例した電気信号を発生するための一つ以上の変換器
− 電気信号をプロセスに適した信号に処理するための測定信号増幅器
AA.2 試験配置
“力”トランスデューサは，製造業者が指定する位置で試験する（図AA.1参照）。
製造業者が設置位置を指定していない場合，トランスデューサは，力が垂直に加わるように設置する。
電源及び“力”トランスデューサの接地は，製造業者の仕様による。接地に関する仕様がない場合，直
流が70 V未満の電源は接地し，トランスデューサは，接地状態及び非接地状態の両方で試験する。
機能接地は，“力”トランスデューサの機能接地専用端子だけに接続する。
ポートがプラグインコネクタの形状でできており，そのポートにケーブルのシールドを接続するための
端子がある場合，ケーブルのシールドは，機能接地ポートへ接続する。ケーブルコネクタにシールドがあ
る場合，そのままの接続とする。
トランスデューサを確実に固定するための取付け部品及び取付け板には，製造業者が特に指定しない限
り，導電性材料を用いない。ひずみ検出ユニットと分離形信号変換器との外縁距離Aは，1 m以下が望ま
しい。
8
C 61326-2-3：2019 (IEC 61326-2-3：2012)
1
ひずみ検出ユニット
2
分離形信号変換器
3
伝送リンク
4
交流又は直流電源ポート
5
I/Oポート
6
測定出力ポート
7
取付け部品
8
負荷ボタン
9
取付け板
F
引張力又は圧縮力
A
ひずみ検出ユニットと分離形信号変換器
との外縁距離（最大1 m）
図AA.1−分離形信号変換機能をもつ“力”トランスデューサの構成例
AA.3 動作条件
EUTは，指定の定格電源電圧で動作させる。最大定格電源電圧が最小定格電源電圧の2倍を超える場合，
電源入力線に対して実施するEMC試験は，最小定格電源電圧及び最大定格電源電圧の両方で実施する。
“力”トランスデューサは，静的で機械的な負荷によって試験する。
“力”トランスデューサに機械的な負荷を加えることができない試験環境では，トランスデューサに接
続した，適切な回路を用いて出力信号を生成してもよい。この回路は，トランスデューサ内の変換素子に
直接接続する。各々の回路動作の適用状態は，試験報告書に記載し，妥当性の根拠とする。
表AA.1に，可能な回路動作の例を記載する。
表AA.1−トランスデューサへの機械的負荷のシミュレーション用出力信号を生成する回路動作例
トランスデューサ技術
シミュレーションに用いる回路動作
ひずみゲージ
固定抵抗器によって測定ブリッジを再調整する。
容量性素子
ハーフブリッジの場合は，コンデンサ及び／又は固定抵抗器によって測定ブリッジを
再調整する。
“力”は，公称レンジの30 %〜70 %とする。拡張された測定レンジの場合，主要機能の出力信号も動作
範囲の出力信号の30 %〜70 %であることが望ましい。±符号付きレンジの場合は，ゼロ値（例えば，0.0 mA
又は0.0 V）を選択しないほうがよい。
警報機能は，実測値と設定する警報値との差が試験する測定スパンに応じた指定精度の2倍になるよう
にする。
次の二つの状態を試験する。
a) 調整警報値が実際の測定値より上の場合。
b) 調整警報値が実際の測定値より下の場合。
F
1
2
3
4
5
6
7
8
9
A
9
C 61326-2-3：2019 (IEC 61326-2-3：2012)
警報機能の動作するしきい（閾）値が，定格試験値レンジの30 %〜70 %の場合，警報機能は，その他の
機能と同時に試験してもよい。
10
C 61326-2-3：2019 (IEC 61326-2-3：2012)
附属書BB
（規定）
特定タイプのトランスデューサに対する追加要求事項及び除外事項−
圧力測定用トランスデューサ（圧力トランスデューサ）
BB.1
概要
この附属書は，圧力トランスデューサの個別EMC要求事項について規定する。
圧力トランスデューサは，少なくとも次の部分からなる。
− プロセスへの圧力を密封するためのプロセス接続部
− 圧力を電気的に処理できる量へ変換するためのセンサ
− 電気量をプロセスに対応する信号に，フォーマット，線形化，増幅及び変換するための信号変換機能
ユニット
この附属書は，単に機械的原理で動作する圧力測定装置（例えば，リミットスイッチ付きのばねチュー
ブ圧力計）には適用しない。
BB.2
試験配置
全ての試験は，製造業者が指定する圧力トランスデューサの位置で行う（図BB.1参照）。
位置の指定がない場合，試験は，最も影響を受けやすいと考えられる位置で行い，その位置を試験報告
書に記載する。
圧力測定のための部材は，試験配置に可能な限り影響を与えないほうがよい。したがって，金属製圧力
アダプタの寸法は，EUTの寸法の2倍を超えないほうがよい。導電性のパイプ又は媒体が試験結果に影響
する場合，圧力接続，圧力コントローラ及び使用する媒体へのパイプは電気的に絶縁するのがよい。
製造業者が指定する全ての電気的な接続部材を，完全に組み立てて，接続して試験を行う。
トランスデューサ及び電源の接地は，製造業者が指定する仕様による。
製造業者が接地を指定していない場合，EUTは次のように準備する。
− プロセス接続が金属製の場合，それを接地する。シーラントは，接地端子へ至る抵抗値を増大させて
はならない。
− 機能接地端子がある場合，その端子を接地する。
− 端子にケーブルシールド接続用オプションがある場合，シールド接続にそのオプションを用いる。
− 電源はグラウンドから絶縁する。
11
C 61326-2-3：2019 (IEC 61326-2-3：2012)
1
プロセス媒体
2
パイプ
3
圧力アダプタ
4
圧力トランスデューサ
5
接地接続部
6
絶縁支持台
注記 絶縁支持台の高さについては，関連のEMC基本規格を参照する。
7
基準グラウンド
8
n本の接続線
図BB.1−圧力トランスデューサの構成例
BB.3
動作条件
EUTは，指定の定格電源電圧で動作させる。最大定格電源電圧が最小定格電源電圧の2倍を超える場合，
電源入力線に対して実施するEMC試験は，最小定格電源電圧及び最大定格電源電圧の両方で実施する。
圧力は，公称レンジの30 %〜70 %とする。拡張された測定レンジの場合，主要機能の出力信号も動作範
囲の出力信号の30 %〜70 %であることが望ましい。±符号付きレンジの場合，ゼロ値（例えば，0.0 mA
又は0.0 V）を選択しないほうがよい。
調整可能な圧力トランスデューサは，製造業者の仕様に従って設定する。製造業者の仕様がない場合，
次の設定値を用いる。
− 最高感度の測定レンジ
− 最小の時定数又は応答時間
− 最高データ転送速度
n
4
2
3
6
5
7
8
1
12
C 61326-2-3：2019 (IEC 61326-2-3：2012)
附属書CC
（規定）
特定タイプのトランスデューサに対する追加要求事項及び除外事項−
温度計測用トランスデューサ（温度トランスデューサ）
CC.1 概要
この附属書は，温度トランスデューサの個別EMC要求事項について規定する。
温度トランスデューサは，少なくとも次の部分からなる。
− 一つ以上の温度センサ（例えば，熱電対，PT-100）
− 電気入力信号をプロセスに対応する信号に，フォーマット，線形化，増幅及び変換するための信号変
換機能ユニット
− 信号ポートに接続する信号伝達のための信号ケーブル（例えば，2線式4 mA〜20 mAのリンク）
温度トランスデューサは，次の部分をもつ場合もある。
− 温度センサと信号変換機能ユニットとの間の一つ以上の伝送リンク
− センサなどへの別電源供給のためのポート
CC.2 試験配置
試験配置は，可能な限り実際の設置にする。温度トランスデューサへの特別な要求のため，必要な試験
配置が基本規格で規定する試験配置と異なる場合は，試験報告書に記載し，妥当性の根拠とする。ケーブ
ルの種類は，製造業者の設置ガイドに従って選択する。特別なケーブルの指定がない限り，一般的なシー
ルドなし及びツイストなしのケーブルを試験配置に用いる。
EUTは，EMC現象の影響を非常に受けやすいことが想定されるため，アナログ信号出力については，
製造業者の仕様の範囲内で負荷を接続する。
温度トランスデューサが単一ユニット（センサと信号変換機能ユニットとが同一きょう体内にある）と
してだけ用いられ提供される場合，この構成で試験する（図CC.1参照）。他の全ての場合，図CC.2の試
験配置を用いる。ケーブルの長さは，基本規格による。製造業者が指定する全ての電気的な接続部材を，
完全に組み立てて，接続して試験を行う。温度トランスデューサ及び電源は，製造業者が指定する仕様に
従って接地する。
室温は，基準測定量として用いるのがよい。トランスデューサの性能を評価するために，適切な温度範
囲内で，温度を一定にするように，注意を払う。これが不可能である場合（例えば，トランスデューサの
測定範囲によって），プロセス温度を代表する適切な媒体上にトランスデューサのセンサを装着するか，又
は別の温度測定によって室温を考慮する。類似の電磁気的挙動を保証するように，高周波特性の同等性が
証明できている場合，受動センサ又は熱電対の代替品（抵抗器及び／又は他の受動部品若しくは電池の回
路網）を用いることができる。
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C 61326-2-3：2019 (IEC 61326-2-3：2012)
2
3
4
5
1
1
温度トランスデューサ（トランスデューサの傾きは例）
2
補助装置（例えば，電源，信号評価又は信号の伝送用システム）
3
リンクケーブル。特に指定がなければ，シールドなし，ツイストなし
4
絶縁支持台（関連するEMC基本規格に規定する高さ）
5
基準グラウンド
図CC.1−一体形信号変換機能をもつ温度トランスデューサの構成例
6
1
3
7
4
5
2
1
温度センサ
2
補助装置（例えば，電源，信号評価）
3
リンクケーブル（伝送リンク）。特に指定がなければ，シールドなし，ツイストなし
4
絶縁支持台（関連するEMC基本規格に規定する高さ）
5
基準グラウンド
6
トランスデューサの信号変換機能ユニット
7
リンクケーブル。特に指定がなければ，シールドなし，ツイストなし
図CC.2−分離形信号変換機能をもつ温度トランスデューサの構成例
CC.3 動作条件
EUTは，指定の定格電源電圧で動作させる。最大定格電源電圧が最小定格電源電圧の2倍を超える場合，
電源入力線に対して実施するEMC試験は，最小定格電源電圧及び最大定格電源電圧の両方で実施する。
印加する温度において，出力信号が出力信号レンジの40 %〜60 %になるようにトランスデューサを調整
する（例えば，4 mA〜20 mAのシステムの場合，50 %に調整すると12 mAとなる。）。±符号付き出力レ
ンジの場合には，ゼロ値（例えば，0.0 mA又は0.0 V）を選択しない。
製造業者の指定がない場合には，次のように設定する。
− 最高感度の測定レンジ
− 最小の時定数又は応答時間
− 最高データ転送速度
警報機能が使用可能な場合には，製造業者の指定による。製造業者の指定がない場合は，警報機能は，
実測値と設定する警報値との差が機器の精度になるようにする。
次の二つの状態を試験する。
a) 調整警報値が実際の測定値より上の場合。
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C 61326-2-3：2019 (IEC 61326-2-3：2012)
b) 調整警報値が実際の測定値より下の場合。
警報機能の動作するしきい（閾）値が選択した出力信号レンジの40 %〜60 %の場合，警報機能は，その
他の機能と同時に試験してもよい。
参考文献 JIS C 60050-161 EMCに関するIEV用語
IEC 60050 (all parts)，International Electrotechnical Vocabulary (http://www.electropedia.org)