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C 61326-2-1:2017 (IEC 61326-2-1:2012) 

(1) 

目 次 

ページ 

序文  1 

1 適用範囲 1 

2 引用規格 2 

3 用語及び定義  2 

4 一般事項 2 

5 EMC試験計画  2 

5.1 一般  2 

5.2 試験中のEUTの構成  2 

5.3 試験中のEUTの動作条件  2 

5.4 機能性能の仕様  3 

5.5 試験に関する記載事項  3 

6 イミュニティ要求事項  3 

6.1 試験中の条件  3 

6.2 イミュニティ試験要求事項  3 

6.3 偶発性の側面  3 

6.4 性能評価基準  3 

7 エミッション要求事項  3 

8 試験結果及び試験報告書  4 

9 使用説明 4 

 

 


 

C 61326-2-1:2017 (IEC 61326-2-1:2012) 

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まえがき 

この規格は,工業標準化法第12条第1項の規定に基づき,一般社団法人日本電気計測器工業会(JEMIMA)

及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出

があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が制定した日本工業規格である。これによって,

JIS C 1806-2-1:2010は廃止され,この規格に置き換えられた。 

この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。 

この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意

を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実

用新案権に関わる確認について,責任はもたない。 

JIS C 61326の規格群には,次に示す部編成がある。 

JIS C 61326-1 第1部:一般要求事項 

JIS C 61326-2-1 第2-1部:個別要求事項−EMC防護が施されていない感受性の高い試験用及び測定

用の装置の試験配置,動作条件及び性能評価基準 

JIS C 61326-2-2 第2-2部:個別要求事項−低電圧配電システムで使用する可搬形の試験用,測定用

及び監視用の装置の試験配置,動作条件及び性能評価基準 

 

 


 

  

日本工業規格          JIS 

 

C 61326-2-1:2017 

 

(IEC 61326-2-1:2012) 

計測用,制御用及び試験室用の電気装置− 

電磁両立性要求事項−第2-1部:個別要求事項−

EMC防護が施されていない感受性の高い 

試験用及び測定用の装置の試験配置,動作条件 

及び性能評価基準 

Electrical equipment for measurement, control and laboratory use- 

EMC requirements-Part 2-1: Particular requirements- 

Test configurations, operational conditions and performance criteria 

for sensitive test and measurement equipment 

for EMC unprotected applications 

 

序文 

この規格は,2012年に第2版として発行されたIEC 61326-2-1を基に,技術的内容及び構成を変更する

ことなく作成した日本工業規格である。この規格は,JIS C 61326-1:2017の本体及び附属書に新しい文章

を追加したり,部分的に削除したり又は新しい文章に置き換えたりして適用する構成となっている。この

規格は,これらの変更部分だけを記載している。したがって,この規格を適用するには,JIS C 61326-1:2017

を併読して用いる。 

 

適用範囲 

この規格は,JIS C 61326-1の適用範囲に加えて,製造業者が指定する,操作上及び/又は機能上の理由

によって電磁両立性(EMC)防護を施せない,(装置の内部及び/又は外部に)試験及び測定用の回路が

ある装置の,より詳細な試験配置,動作条件及び性能評価基準について規定する。 

製造業者は,製品の使用を意図した電磁環境を指定し,JIS C 61326-1の適切な試験レベル仕様を選択す

る。 

注記1 装置の例としては,オシロスコープ,ロジックアナライザ,スペクトラムアナライザ,ネッ

トワークアナライザ,アナログ計器,デジタルマルチメータ(DMM),ボード試験システム

などがあるが,これらだけに限らない。 

注記2 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。 

IEC 61326-2-1:2012,Electrical equipment for measurement, control and laboratory use−EMC 

requirements−Part 2-1: Particular requirements−Test configurations, operational conditions 

and performance criteria for sensitive test and measurement equipment for EMC unprotected 


C 61326-2-1:2017 (IEC 61326-2-1:2012) 

  

applications(IDT) 

なお,対応の程度を表す記号“IDT”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“一致している”

ことを示す。 

 

引用規格 

引用規格は,次を除き,JIS C 61326-1の箇条2による。 

JIS C 61326-1:2017 計測用,制御用及び試験室用の電気装置−電磁両立性要求事項−第1部:一般要

求事項 

注記 対応国際規格:IEC 61326-1:2012,Electrical equipment for measurement, control and laboratory 

use−EMC requirements−Part 1: General requirements 

 

用語及び定義 

この規格で用いる主な用語及び定義は,JIS C 61326-1の箇条3及びJIS C 60050-161による。 

 

一般事項 

JIS C 61326-1の箇条4を適用する。 

 

EMC試験計画 

5.1 

一般 

JIS C 61326-1の5.1を適用する。 

5.2 

試験中のEUTの構成 

次の細分箇条を追加し,JIS C 61326-1の5.2を適用する。 

5.2.4.101 試験及び測定用のI/Oポート 

試験及び測定用の入力ポートは,製品のエミッション及びイミュニティ性能の測定に関して動作条件が

不適切にならない限り,キャップして,短絡する。入力信号が必要な場合は,製造業者が指定した試験リ

ード又はプローブを使って,適切な入力信号を印加する。 

EUT本来の機能の評価に必要としない試験及び測定用の出力ポートは,キャップする,及び/又は終端

する。 

静電気放電は,コネクタハウジングのシールドに印加するが,シールドされているポート及びケーブル

コネクタの,内側のピンには印加しない。ポート及びケーブルコネクタには,例えば,BNC,D-sub,IEEE 

488(IEC 60488),RS232,IEEE 1284-B(パラレルプリンタポート)などを含む。 

注記1 試験及び測定用のポートを試験する間,入力信号を印加しないプローブ及び/又は試験リー

ドは,接続しなくてもよい。このような試験リードは,試験及び測定ごとに変わる可能性が

あり,内部の試験点にアクセスするために,カバーを外して様々な段階に分解した装置に接

続することが多い。ある場合には,試験リードを接続する場合,エミッションの増加及び/

又はイミュニティの減少が生じることがある。 

注記2 “キャップする”は,局所的に遮蔽体又はシールドで覆うことを意味する。 

5.3 

試験中のEUTの動作条件 

次の細分箇条を追加し,JIS C 61326-1の5.3を適用する。 


C 61326-2-1:2017 (IEC 61326-2-1:2012) 

 

5.3.101 動作条件 

電池及び交流電源の両方が選択できる場合,いずれの動作モードにも適合しなければならない。 

5.3.102 オシロスコープ 

オシロスコープは,通常の用途で,エミッション測定又はイミュニティ試験の結果が最悪になるモード

が分かっていない場合,最大掃引速度,最高感度及び連続データ収集モードに設定する。 

5.3.103 ロジックアナライザ 

ロジックアナライザは,通常の用途で,エミッション測定又はイミュニティ試験の結果が最悪になるモ

ードが分かっていない場合,エミッション測定ではデータ解析モード,イミュニティ試験では連続データ

収集モードに設定する。 

5.3.104 デジタルマルチメータ 

デジタルマルチメータは,通常,ピーク検波,最高感度(通常,オートレンジで良い。)及び連続データ

収集モードに設定する。 

5.3.105 その他のEUT 

5.3.102〜5.3.104に規定していないEUTに対しては,次の規定を適用する。 

代表的な動作モードは,EUTの全ての機能ではなく,最も典型的な機能だけを試験することを考慮して

選択する。動作モードは,通常の用途で考慮する最悪条件を選択する。 

5.4 

機能性能の仕様 

JIS C 61326-1の5.4を適用する。 

5.5 

試験に関する記載事項 

JIS C 61326-1の5.5を適用する。 

 

イミュニティ要求事項 

6.1 

試験中の条件 

JIS C 61326-1の6.1を適用する。 

6.2 

イミュニティ試験要求事項 

JIS C 61326-1の6.2を適用する。 

6.3 

偶発性の側面 

JIS C 61326-1の6.3を適用する。 

6.4 

性能評価基準 

次の細分箇条を追加し,JIS C 61326-1の6.4を適用する。 

6.4.101 過渡的電磁現象を用いた試験 

EUTは,JIS C 61326-1の表1,表2又は表3の性能評価基準Bに規定する過渡的電磁現象による試験の

実施中,自己復帰の機能又は性能の,一時的な低下又は喪失が生じてもよい。 

自己復帰時間が10秒を超える場合には,製造業者が使用者向け装置の説明書に自己復帰時間を指定しな

ければならない。トリガ機能は,評価しなくてもよい。実際の動作状態での変化,及び蓄積データの喪失

があってはならない。 

 

エミッション要求事項 

JIS C 61326-1の箇条7を適用する。 

 


C 61326-2-1:2017 (IEC 61326-2-1:2012) 

  

試験結果及び試験報告書 

JIS C 61326-1の箇条8を適用する。 

 

使用説明 

次の細分箇条を追加し,JIS C 61326-1の箇条9を適用する。 

9.101 追加説明 

製造業者は,次の情報を提供しなければならない。 

− 試験リード及び/又はプローブを接続したとき,この規格のイミュニティ要求事項に装置が適合しな

い場合がある旨 

− 電磁妨害の影響を最小限にするための,試験リード及び/又はプローブの使用説明の情報指針 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

参考文献  

IEEE 488.1,IEEE standard for higher performance protocol for the standard digital interface for 

programmable instrumentation 

IEEE 1284,IEEE standard signaling method for a bidirectional parallel peripheral interface for personal 

computers