JISC61300-2-17:2020 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品－基本試験及び測定手順－第２

C 61300-2-17：2020 (IEC 61300-2-17：2010)

（1）

ページ

序文 ··································································································································· 1

1 適用範囲························································································································· 1

2 引用規格························································································································· 1

3 概要······························································································································· 2

4 装置······························································································································· 2

4.1 試験槽 ························································································································· 2

4.2 その他の装置 ················································································································ 2

4.3 供試品搭載ジグ ············································································································· 2

5 手順······························································································································· 2

5.1 概要 ···························································································································· 2

5.2 前処理 ························································································································· 2

5.3 初期試験及び初期測定 ···································································································· 2

5.4 試験 ···························································································································· 2

5.5 後処理 ························································································································· 2

5.6 最終試験及び測定 ·········································································································· 3

6 試験の厳しさの程度 ·········································································································· 3

7 個別に規定する事項 ·········································································································· 3

C 61300-2-17：2020 (IEC 61300-2-17：2010)

（2）

まえがき

この規格は，産業標準化法第16条において準用する同法第12条第1項の規定に基づき，一般財団法人

光産業技術振興協会（OITDA）及び一般財団法人日本規格協会（JSA）から，産業標準原案を添えて日本

産業規格を改正すべきとの申出があり，日本産業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が改正した日本

産業規格である。これによって，JIS C 61300-2-17:2009は改正され，この規格に置き換えられた。

この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。

この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意

を喚起する。経済産業大臣及び日本産業標準調査会は，このような特許権，出願公開後の特許出願及び実

用新案権に関わる確認について，責任はもたない。

JIS C 61300の規格群には，次に示す部編成がある。

JIS C 61300-1 第1部：通則

JIS C 61300-2-1 第2-1部：正弦波振動試験

JIS C 61300-2-2 第2-2部：繰返しかん合試験

JIS C 61300-2-4 第2-4部：光ファイバクランプ強度試験−軸方向引張り

JIS C 61300-2-5 第2-5部：光ファイバクランプ強度試験（ねじり）

JIS C 61300-2-6 第2-6部：かん合部締結強度試験（軸方向引張り）

JIS C 61300-2-7 第2-7部：かん合部締結強度試験（曲げモーメント）

JIS C 61300-2-9 第2-9部：衝撃試験

JIS C 61300-2-11 第2-11部：光ファイバクランプ強度試験（軸方向圧縮）

JIS C 61300-2-12 第2-12部：落下衝撃試験

JIS C 61300-2-14 第2-14部：高光パワー試験

JIS C 61300-2-15 第2-15部：結合部ねじり試験

JIS C 61300-2-17 第2-17部：低温試験

JIS C 61300-2-18 第2-18部：高温試験

JIS C 61300-2-19 第2-19部：高温高湿試験−定常状態

JIS C 61300-2-21 第2-21部：混合温湿度サイクル試験

JIS C 61300-2-22 第2-22部：温度サイクル試験

JIS C 61300-2-24 第2-24部：応力印加によるセラミック割りスリーブのスクリーニング試験

JIS C 61300-2-26 第2-26部：塩水噴霧試験

JIS C 61300-2-27 第2-27部：ダスト試験（層流）

JIS C 61300-2-35 第2-35部：光ファイバクランプ強度試験−ケーブルニューテーション

JIS C 61300-2-40 第2-40部：SM調心円筒形斜めPC端面光ファイバコネクタプラグの挿入損失スク

リーニング試験

JIS C 61300-2-41 第2-41部：SM調心円筒形直角PC端面光ファイバコネクタプラグの挿入損失スク

リーニング試験

JIS C 61300-2-42 第2-42部：光ファイバクランプ強度試験−横方向引張り

JIS C 61300-2-44 第2-44部：光ファイバクランプ強度試験−繰返し曲げ

C 61300-2-17：2020 (IEC 61300-2-17：2010)

（3）

JIS C 61300-2-45 第2-45部：浸水試験

JIS C 61300-2-46 第2-46部：湿熱サイクル試験

JIS C 61300-2-47 第2-47部：熱衝撃試験

JIS C 61300-2-48 第2-48部：温湿度サイクル試験

JIS C 61300-2-49 第2-49部：取付け済み光ファイバコード付き光ファイバコネクタプラグの曲げ試

験

JIS C 61300-2-50 第2-50部：光ファイバクランプ強度試験−非通光左右曲げ引張り

JIS C 61300-2-51 第2-51部：光ファイバクランプ強度試験−通光左右曲げ引張り

JIS C 61300-2-55 第2-55部：光ファイバアダプタ取付強度試験−軸方向

JIS C 61300-3-1 第3-1部：外観検査及び機械的検査

JIS C 61300-3-2 第3-2部：シングルモード光デバイスの光損失の偏光依存性

JIS C 61300-3-3 第3-3部：挿入損失及び反射減衰量変化のモニタ方法

JIS C 61300-3-4 第3-4部：損失測定

JIS C 61300-3-6 第3-6部：反射減衰量測定

JIS C 61300-3-7 第3-7部：シングルモード光部品の光損失及び反射減衰量の波長依存性測定

JIS C 61300-3-11 第3-11部：結合力及び離脱力測定

JIS C 61300-3-14 第3-14部：可変光減衰器の減衰量の設定の誤差及び再現性測定

JIS C 61300-3-20 第3-20部：波長選択性のない光ブランチングデバイスのディレクティビティ測定

JIS C 61300-3-21 第3-21部：切替時間測定

JIS C 61300-3-22 第3-22部：フェルール押圧力測定

JIS C 61300-3-24 第3-24部：偏波面保存光ファイバ付き光ファイバコネクタのキー位置精度測定

JIS C 61300-3-25 第3-25部：直角端面フェルール及び光ファイバ取付け直角端面フェルールの同心

度測定

JIS C 61300-3-26 第3-26部：光ファイバとフェルール軸との角度ずれの測定

JIS C 61300-3-27 第3-27部：多心光ファイバコネクタプラグの穴位置測定

JIS C 61300-3-28 第3-28部：過渡損失測定

JIS C 61300-3-30 第3-30部：多心光ファイバコネクタ用フェルールの研磨角度及び光ファイバ位置

測定

JIS C 61300-3-32 第3-32部：光受動部品の偏波モード分散測定

JIS C 61300-3-33 第3-33部：ピンゲージを用いた割りスリーブのフェルール引抜力測定

JIS C 61300-3-34 第3-34部：ランダム接続時の挿入損失

JIS C 61300-3-36 第3-36部：光ファイバコネクタフェルールの内径及び外径の測定

JIS C 61300-3-38 第3-38部：群遅延，波長分散及び位相リップルの測定

JIS C 61300-3-40 第3-40部：偏波面保存光ファイバ付き光ファイバコネクタプラグの偏波消光比測

定

JIS C 61300-3-43 第3-43部：光ファイバ光源のモードトランスファファンクション測定

JIS C 61300-3-45 第3-45部：多心光ファイバコネクタのランダム接続時の挿入損失測定

JIS C 61300-3-47 第3-47部：干渉法による直角PC端面及び斜めPC端面単心円筒形フェルールの端

面形状測定

JIS C 61300-3-50 第3-50部：光スイッチのクロストーク測定

日本産業規格 JIS

C 61300-2-17：2020

(IEC 61300-2-17：2010)

光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−

基本試験及び測定手順−第2-17部：低温試験

Fiber optic interconnecting devices and passive components-

Basic test and measurement procedures-Part 2-17: Tests-Cold

序文

この規格は，2010年に第3版として発行されたIEC 61300-2-17を基に，技術的内容及び構成を変更する

ことなく作成した日本産業規格である。

なお，この規格で点線の下線を施してある参考事項は，対応国際規格にはない事項である。

適用範囲

この規格は，光ファイバ接続デバイスの動作時，保管時及び／又は輸送時に起こる可能性がある低温環

境条件での耐久性の測定手順について規定する。

この手順では，JIS C 61300-2-22で規定する，動作温度変化時の部品の性能評価は含まない。

注記この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。

IEC 61300-2-17:2010，Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test and

measurement procedures−Part 2-17: Tests−Cold（IDT）

なお，対応の程度を表す記号“IDT”は，ISO/IEC Guide 21-1に基づき，“一致している”こ

とを示す。

引用規格

次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの

引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。

JIS C 60068-2-1 環境試験方法−電気・電子−第2-1部：低温（耐寒性）試験方法（試験記号：A）

注記対応国際規格：IEC 60068-2-1，Environmental testing−Part 2-1: Tests−Test A: Cold

JIS C 61300-1 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第1部：通則

注記対応国際規格：IEC 61300-1，Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic

test and measurement procedures−Part 1: General and guidance

JIS C 61300-3-1 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第3-1部：外観

検査及び機械的検査

注記対応国際規格：IEC 61300-3-1，Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic

test and measurement procedures−Part 3-1: Examinations and measurements−Visual examination

C 61300-2-17：2020 (IEC 61300-2-17：2010)

概要

この試験手順は，JIS C 60068-2-1の試験Abに従って，実施する。

供試品を，室温で試験槽の中に置く。その後，試験槽の温度を，試験温度まで下げる。このときの温度

変化の割合は，最長5分間の平均で1 ℃/min以下とする。また，試験温度で規定する時間以上保持する。

試験後，試験槽の温度を室温まで上昇させ，供試品の温度が室温まで達した後，最終測定を行う。

装置

4.1

試験槽

試験槽は，JIS C 60068-2-1の試験Abで規定する環境試験槽を用いる。試験槽は，供試品を収容するこ

とができ，必要に応じて試験条件下で測定することができるものを用いる。また，試験槽は，規定する温

度許容差で温度を維持できなければならない。均一性を維持するため，空気強制循環装置を用いてもよい。

供試品を，加熱部又は冷却部に直接さらさないように注意する。

4.2

その他の装置

個別に規定する測定を実行するため，追加の装置を用いてもよい。

4.3

供試品搭載ジグ

個別に規定がない場合，供試品の取付具又は支持具は，供試品を実質的に熱源から遮断するために，熱

伝導の小さいものを用いる。

手順

5.1

概要

次の手順に従って試験を行う。

個別に指定のない限り，次による。

− 供試品に入出力光ファイバがある場合は，試験中にモニタする端子に接続した光ファイバは，1.5 m以

上を試験槽の中に収納する。

− 個別仕様書によって試験中に光学測定が必要な場合は，1時間以内の間隔で測定する。

5.2

前処理

個別に規定がない場合，JIS C 61300-1の標準的環境条件に従って，供試品を2時間以上放置する。製造

業者の指示に従って，供試品の機械結合部及び光学結合部を清掃する。

5.3

初期試験及び初期測定

個別に規定がある場合は，初期試験及び初期測定を行う。

5.4

試験

試験は，次による。

a) 供試品を試験槽の中の適切な位置に置き，光学特性をモニタする装置に接続する。

b) 試験槽の温度を規定の値に調整する。温度変化の割合は，最長5分間の平均で1 ℃/min以下とする。

供試品が安定した温度に到達するまで十分な時間をみておく必要がある。個別に，試験中の測定を

規定することが可能であり，その場合は，測定方法の詳細が提示される。

c) 試験終了後，試験槽の温度が徐々に室温に上がるまで，供試品を試験槽内に放置する。温度変化の割

合は，最長5分間の平均で1 ℃/min以下とする。

5.5

後処理

必要に応じて，供試品を室温で2時間乾燥させる。

C 61300-2-17：2020 (IEC 61300-2-17：2010)

5.6

最終試験及び測定

最終試験後，全ての取付具を取り外す。製造業者の指示に従って，供試品の機械結合部及び光学結合部

を清掃する。個別仕様書の要求に従って，最終試験及び測定を行う。規定がある場合，JIS C 61300-3-1に

従って供試品の外観検査を行う。また，寿命に影響がないことを保証するために規定された測定を行う。

試験の厳しさの程度

試験の厳しさの程度は，次に示す温度及び暴露時間の組合せで決まる。

− 暴露時間は，96時間とする。

− 温度許容差は，±2 ℃とする。

次に示す厳しさの程度の一つを規定しなければならない。

温度（℃）

−40
−25
−10

個別に規定する事項

次の事項は個別に規定する。

− 自動又はマニュアル試験

− 初期試験項目，初期測定項目及び性能要求

− 試験中の試験項目及び測定項目並びに性能要求

− 最終試験項目，最終測定項目及び性能要求

− この規格で規定する試験手順からの変更点

− 追加合否判定基準

参考文献

JIS C 61300-2-22 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第2-22部：温

度サイクル試験

注記対応国際規格：IEC 61300-2-22，Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic

test and measurement procedures−Part 2-22: Tests−Change of temperature