>サイトトップへ >このカテゴリの一覧へ

 

C 61000-4-16:2017 (IEC 61000-4-16:2015) 

(1) 

目 次 

ページ 

序文  1 

1 適用範囲 1 

2 引用規格 2 

3 用語及び定義  2 

4 一般事項 3 

5 試験レベル  3 

5.1 一般事項  3 

5.2 電源周波数における試験レベル  3 

5.3 15 Hz〜150 kHzの周波数範囲における試験レベル  4 

6 試験装置 5 

6.1 試験信号発生器  5 

6.2 試験信号発生器の特性の検証  6 

6.3 結合回路網及び減結合回路網  6 

7 試験配置 8 

7.1 一般事項  8 

7.2 接地の接続  8 

7.3 EUT  8 

7.4 試験信号発生器  8 

7.5 減結合装置又は分離装置  8 

8 試験手順 9 

8.1 一般事項  9 

8.2 試験室の環境基準  9 

8.3 試験の実施  9 

9 試験結果の評価  10 

10 試験報告書  11 

附属書A(参考)妨害の発生源及び結合メカニズム  16 

附属書B(参考)試験レベルの選択  17 

参考文献  18 

 

 


 

C 61000-4-16:2017 (IEC 61000-4-16:2015) 

(2) 

まえがき 

この規格は,工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき,一般社団法人電気

学会(IEEJ)及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格を改正す

べきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工業規格である。 

これによって,JIS C 61000-4-16:2004は改正され,この規格に置き換えられた。 

この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。 

この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意

を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実

用新案権に関わる確認について,責任はもたない。 

JIS C 61000の規格群には,次に示す部編成がある。 

JIS C 61000-3-2 第3-2部:限度値−高調波電流発生限度値(1相当たりの入力電流が20 A以下の機器) 

JIS C 61000-4-2 第4-2部:試験及び測定技術−静電気放電イミュニティ試験 

JIS C 61000-4-3 第4-3部:試験及び測定技術−放射無線周波電磁界イミュニティ試験 

JIS C 61000-4-4 第4-4部:試験及び測定技術−電気的ファストトランジェント/バーストイミュニ

ティ試験 

JIS C 61000-4-5 第4-5部:試験及び測定技術−サージイミュニティ試験 

JIS C 61000-4-6 第4-6部:試験及び測定技術−無線周波電磁界によって誘導する伝導妨害に対する

イミュニティ 

JIS C 61000-4-7 第4-7部:試験及び測定技術−電力供給システム及びこれに接続する機器のための

高調波及び次数間高調波の測定方法及び計装に関する指針 

JIS C 61000-4-8 第4-8部:試験及び測定技術−電源周波数磁界イミュニティ試験 

JIS C 61000-4-11 第4-11部:試験及び測定技術−電圧ディップ,短時間停電及び電圧変動に対する

イミュニティ試験 

JIS C 61000-4-14 第4部:試験及び測定技術−第14節:電圧変動イミュニティ試験 

JIS C 61000-4-16 第4-16部:試験及び測定技術−直流から150 kHzまでの伝導コモンモード妨害に

対するイミュニティ試験 

JIS C 61000-4-17 第4部:試験及び測定技術−第17節:直流入力電源端子におけるリプルに対する

イミュニティ試験 

JIS C 61000-4-20 第4-20部:試験及び測定技術−TEM(横方向電磁界)導波管のエミッション及び

イミュニティ試験 

JIS C 61000-4-22 第4-22部:試験及び測定技術−全電波無響室(FAR)における放射エミッション

及びイミュニティ試験 

JIS C 61000-4-34 第4-34部:試験及び測定技術−1相当たりの入力電流が16 Aを超える電気機器の

電圧ディップ,短時間停電及び電圧変動に対するイミュニティ試験 

JIS C 61000-6-1 第6-1部:共通規格−住宅,商業及び軽工業環境におけるイミュニティ 

JIS C 61000-6-2 第6-2部:共通規格−工業環境におけるイミュニティ 

 


 

 

日本工業規格          JIS 

 

C 61000-4-16:2017 

 

(IEC 61000-4-16:2015) 

電磁両立性−第4-16部:試験及び測定技術− 

直流から150 kHzまでの伝導コモンモード妨害に 

対するイミュニティ試験 

Electromagnetic compatibility (EMC)-Part 4-16: Testing and measurement 

techniques-Test for immunity to conducted, common mode disturbances in 

the frequency range 0 Hz to 150 kHz 

 

序文 

この規格は,2015年に第2版として発行されたIEC 61000-4-16を基に,技術的内容及び構成を変更する

ことなく作成した日本工業規格である。 

なお,この規格で点線の下線又は側線を施してある参考事項は,対応国際規格にはない事項である。 

 

適用範囲 

この規格は,直流から150 kHzまでの伝導コモンモード妨害に対する電気・電子機器のイミュニティ要

求事項及び試験について規定する。 

この規格の目的は,電源,制御,信号及び通信の各ポートに対するコモンモード妨害について,電気・

電子機器を試験するため,共通の再現性がある試験方法の基準を確立することである。 

この規格では,次の内容を規定している。 

− 試験電圧及び電流波形 

− 試験レベルの範囲 

− 試験装置 

− 試験配置 

− 試験手順 

平衡度の高い線路に用いることを意図しているポートなど,ある種のポートに対しては,各製品規格に

おいて追加試験を行ってもよい。 

試験は,電源線の電流,接地系の漏れ電流などから発生する伝導コモンモードの妨害波に対して電気・

電子機器が示すイミュニティを明らかにすることを目的としている。 

周波数が400 Hzの電源線から発生する妨害波は,この規格の適用範囲には含まない。 

このような妨害現象による実際の障害は,産業プラントを除いて比較的まれである。したがって,製品

委員会は,この規格を製品規格・製品群規格に適用することの妥当性を検討した方がよい(箇条4も参照)。 

この試験は,長さ20 m以下の短いケーブルに接続する機器のポートには適用しない。 

電力線搬送を含む交流電源ポートでの高調波及び次数間高調波に対するイミュニティ(ディファレンシ

ャルモード)は,この規格の適用範囲に含まれず,IEC 61000-4-13及びIEC 61000-4-19で規定している。 


C 61000-4-16:2017 (IEC 61000-4-16:2015) 

 

意図的に無線周波を発生する機器から生じる伝導妨害に対するイミュニティは,この規格の適用範囲に

含まれず,JIS C 61000-4-6で規定している。 

注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。 

IEC 61000-4-16:2015,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-16: Testing and measurement 

techniques−Test for immunity to conducted, common mode disturbances in the frequency range 0 

Hz to 150 kHz(IDT) 

なお,対応の程度を表す記号“IDT”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“一致している”こ

とを示す。 

 

引用規格 

(対応国際規格では記載があるが,実際の引用規格がないため,不採用とした。) 

 

用語及び定義 

この規格で用いる主な用語及び定義は,次による。 

注記 この箇条の全ての定義をJIS C 60050-161で規定しているわけではない。 

3.1 

供試機器,EUT(equipment under test) 

試験を受ける機器。 

3.2 

補助機器(auxiliary equipment) 

EUTを正常に動かし,性能を正しく評価するために必要な機器。 

3.3 

ポート(port) 

機器の外部電磁環境との接続箇所(図1参照)。 

3.4 

結合(coupling) 

エネルギーの出し入れを伴う回路間の相互作用。 

3.5 

結合回路網(coupling network) 

エネルギーの出し入れを目的とする電気回路。 

3.6 

減結合回路網(decoupling network) 

EUTに印加する試験電圧によって,EUT以外の装置,機器又はシステムが影響を受けるのを防止するた

めの電気回路。 

3.7 

イミュニティ(妨害に対する)[immunity(to a disturbance)] 

電磁妨害が存在する環境で,機器,装置又はシステムが性能低下せずに動作することができる能力。 

(JIS C 60050-161 01-20) 

3.8 

(試験信号発生器の)ソースインピーダンス(source impedance of the test generator) 


C 61000-4-16:2017 (IEC 61000-4-16:2015) 

 

開放電圧Vocを短絡電流Iscで除した値。 

 

一般事項 

直流から150 kHzまでの周波数領域の伝導コモンモード妨害が,住宅地域,工業地域及び電力設備に設

置される機器並びにシステムの正常な運転に影響を与える可能性がある。 

供試機器(EUT)のポートのうち,この規格で扱う妨害の影響を受ける可能性があるポートだけを,こ

の規格の要求事項の対象として考慮しなければならない。 

この規格が扱う妨害の主な発生要因は,次による。 

− 基本波周波数,顕著な高調波及び次数間高調波をもつ電力配電システム。 

− 電力変換装置などのパワーエレクトロニクス装置。パワーエレクトロニクス装置は,(浮遊容量又はフ

ィルタを通して)接地導体及び接地系に妨害を流す可能性がある。また,誘導によって信号及び制御

回路に妨害を与える可能性がある。 

周波数が電源周波数及びその高調波領域の妨害は,通常,電力配電システム(接地系に流れる故障電流

及び漏れ電流)によってもたらされる。 

交流電源周波数の高調波領域を超える周波数の妨害(150 kHzまで)は,通常,パワーエレクトロニク

ス装置が原因である。パワーエレクトロニクス装置は,工場及び電力設備でしばしば利用されている。 

妨害発生源と,電源,信号,制御及び通信ケーブルとが結合されることによって,これらの妨害がEUT

のポートに伝わる。 

上記の結合メカニズムを完全に取り除くことは不可能なため,機器は妨害に対する適切なイミュニティ

をもたなければならない。 

機器が設置される状況に応じて,妨害は次のように分類する。 

a) 電源周波数の電圧及び電流:直流,50 Hz及び60 Hz。 

b) 周波数範囲15 Hz〜150 kHzの電圧及び電流(電源周波数の高調波を含む。)。 

この規格は,上記の両方の妨害に対する試験を規定する。製品規格の段階で,個々の試験の適用可否を

決定する。 

附属書Aに,コモンモード妨害に関するより詳しい情報を示す。 

 

試験レベル 

5.1 

一般事項 

妨害源及び機器のポートの種類に応じて適用する望ましい試験レベルは,5.2及び5.3による。 

電源周波数(直流,50 Hz及び60 Hz)及び15 Hz 〜150 kHzの周波数範囲に対して,それぞれの試験レ

ベルを決定する。 

製品規格において,それぞれの試験の採否を規定する。 

試験電圧は,コモンモードの形で電源ポート,制御ポート,信号ポート及び通信ポートに印加する(回

路が平衡でない場合には,ディファレンシャルモード電圧が生じる場合がある。)。 

附属書Bに,試験レベルの選定に関する情報を示す。 

5.2 

電源周波数における試験レベル 

望ましい試験レベルは,表1及び表2による。 

これらのレベルは,直流並びに50 Hz及び60 Hzの交流電源周波数に対して適用する。 

 


C 61000-4-16:2017 (IEC 61000-4-16:2015) 

 

表1−連続妨害のレベル 

レベル 

開放試験電圧実効値 

 1 

 3 

10 

30 

任意 

注記 レベルXは,製品規格において設定できる。 

 

表2−短時間妨害のレベル 

レベル 

開放試験電圧実効値 

 10 

 30 

100 

300 

任意 

注記 レベルXは,製品規格において設定できる。 

 

短時間妨害における標準的な印加時間は,1秒間とする。ただし,製品規格では,特定の用途に関して,

異なる時間を設定してもよい。 

試験は,機器設置場所の電源周波数に応じて,直流並びに50 Hz及び60 Hzのうち,一つ又はそれ以上

の周波数で実施する(附属書A参照)。 

試験レベルは,製品規格が規定する試験電圧を超えてはならない。 

附属書Bに,試験レベルの選定に関する情報を示す。 

5.3 

15 Hz〜150 kHzの周波数範囲における試験レベル 

望ましい試験レベルは,表3による。 

 

表3−15 Hz〜150 kHzの周波数範囲における試験レベル 

レベル 

開放試験電圧実効値のプロフィール 

 

15 Hz〜150 Hz 

150 Hz〜1.5 kHz 

1.5 kHz〜15 kHz 

15 kHz〜150 kHz 

1〜0.1 

0.1 

0.1〜1 

 1 

3〜0.3 

0.3 

0.3〜3 

 3 

10〜1 

1〜10 

10 

30〜3 

3〜30 

30 

注記 レベルXは,製品規格において設定できる。 

 

周波数に応じた試験レベル(附属書B参照)のプロフィールは,次による。 

− 試験レベルは,周波数15 Hzから始まって150 Hzまで20 dB/decadeで減少する。 

− 試験レベルは,150 Hzから1.5 kHzまで一定である。 

− 試験レベルは,1.5 kHzから15 kHzまで20 dB/decadeで増加する。 


C 61000-4-16:2017 (IEC 61000-4-16:2015) 

 

− 試験レベルは,15 kHzから150 kHzまで一定である。 

試験電圧のプロフィールを図2に示す。 

直流を除いて15 Hz未満での試験レベルは規定していないが,それはこの周波数範囲における試験は不

要と考えられるためである。 

 

試験装置 

6.1 

試験信号発生器 

6.1.1 

一般事項 

各々規定した試験に対する試験信号発生器の特性は,6.1.2,6.1.3及び6.1.4による。 

電源に電磁妨害が注入されて試験結果に影響を与えることがないように,信号発生器は,電磁妨害の発

生を抑制する方策をとらなければならない。 

試験信号発生器のソースインピーダンスに関する情報を附属書Aに示す。 

6.1.2 

直流試験信号発生器の特性及び性能 

試験信号発生器は,主として直流電源ユニットから構成し,その出力電圧は可変であり,短時間試験の

ために時間制御スイッチをもたなければならない。 

連続妨害信号発生器は,次による。 

− 波形 

:リプルが5 %未満の直流 

− 開放端出力電圧範囲(実効値) :1 V(−10 %)〜30 V(+10 %) 

− ソースインピーダンス 

:Voc/Isc=50 Ω(±10 %) 

短時間妨害信号発生器は,次による。 

− 波形 

:リプルが5 %未満の直流 

− 開放端出力電圧範囲 

:10 V(−10 %)〜300 V(+10 %) 

− ソースインピーダンス 

:Voc/Isc=50 Ω(±10 %) 

− スイッチ開閉時の出力電圧の立上り及び立下り時間:1 μs〜5 μsの間 

試験信号発生器の原理的な回路図を図3に示す。 

6.1.3 

電源周波数:50 Hz及び60 Hzにおける試験信号発生器の特性及び性能 

試験信号発生器は,一般に可変変圧器(電源側に接続される),絶縁変圧器及び短時間試験で用いる時間

制御スイッチから構成する。スイッチは,電源電圧波形の0°で同期して開閉する。 

連続妨害信号発生器は,次による。 

− 波形 

:総合高調波ひずみ率10 %未満の正弦波 

− 開放端出力電圧範囲(実効値) :1 V(−10 %)〜30 V(+10 %) 

− ソースインピーダンス 

:Voc/Isc=50 Ω(±10 %) 

− 周波数 

:選択した電源周波数 

短時間妨害信号発生器は,次による。 

− 波形 

:総合高調波ひずみ率10 %未満の正弦波 

− 開放端出力電圧範囲(実効値) :10 V(−10 %)〜300 V(+10 %) 

− ソースインピーダンス 

:Voc/Isc=50 Ω(±10 %) 

− 周波数 

:選択した電源周波数 

− 出力電圧の開閉制御 

:ゼロ点に同期(0°±5 %) 

試験信号発生器の原理的な回路図を図4に示す。 


C 61000-4-16:2017 (IEC 61000-4-16:2015) 

 

6.1.4 

15 Hz〜150 Hzの周波数範囲における試験信号発生器の特性及び性能 

試験信号発生器は,一般に対象とする周波数範囲を網羅できる波形発生器から構成する。ステップ値は,

1×10−2 decade/s,又はもっと遅く自動的に掃引できる機能をもっていなければならない。シンセサイザの

場合には,周波数に依存したステップ値,すなわち,先行する周波数値の10 %のステップ値でプログラム

される機能をもっていなければならない。ステップ値は,手動でも設定できなければならない。 

仕様は,次による。 

− 波形 

:総合高調波ひずみ率1 %未満の正弦波 

− 開放端出力電圧範囲(実効値) :0.1 V(−10 %)〜30 V(+10 %) 

− ソースインピーダンス 

:Voc/Isc=50 Ω(+10 %) 

− 周波数範囲 

:15 Hz(−10 %)〜150 kHz(+10 %) 

6.2 

試験信号発生器の特性の検証 

異なる試験信号発生器を用いた結果を比較できるように,信号発生器は,最も重要な特性に対して校正

又は検証する。 

信号発生器の次の特性を検証する。 

− 出力電圧波形 

− ソースインピーダンス。ソースインピーダンスは,次の条件で検証する。 

・ 直流,交流,及び周波数掃引の全ての試験信号発生器:最高及び最低試験レベル 

・ 周波数掃引試験信号発生器:15 Hz,1.5 kHz,15 kHz,150 kHz 

短時間妨害信号発生器のソースインピーダンスの検証に対しては,最初の50 msは無視できる。 

− 周波数精度 

− 開放端出力電圧精度 

− スイッチ開閉時の出力電圧の立上り及び立下り時間(可能な場合)。 

1 MHz以上の帯域をもつオシロスコープ並びに電圧及び電流プローブ,又はその他の同等の測定器を用

いて検証する。 

測定器の精度は,±5 %よりも高くなければならない。 

6.3 

結合回路網及び減結合回路網 

6.3.1 

一般事項 

結合回路網は,試験電圧をEUTの電源ポート,入出力ポート(信号及び制御)及び通信ポートにコモン

モードで印加するためのものである。減結合回路網は,試験を行うために必要な補助機器に試験電圧が印

加されるのを防ぐためのものである。 

6.3.2 

結合回路網 

6.3.2.1 

電源ポート及び入出力ポートに対する結合回路網 

電源ポート及び入出力ポートに対して,各々の導体に対する結合回路網は,抵抗及びコンデンサの直列

回路で構成する。各々の導体の結合回路網は,並列に接続して,ポートに対する結合回路網を形成する。 

図6は,結合回路網の回路図を示し,コンデンサの値は,C=1.0 μF及び抵抗値は100×n Ωとする。こ

こで,nは導体の数である(nは2以上とする。)。 

一つのポートに対する結合回路網における各々の導体に対するコンデンサ及び抵抗は,1 %の許容差で

そろっていなければならない。 

直流電圧試験の場合は,1.0 μFのコンデンサは,短絡しなければならない。 

注記 ポートに対して直流電圧試験を行うとき,結合回路網のインピーダンスが動作信号を劣化させ


C 61000-4-16:2017 (IEC 61000-4-16:2015) 

 

る原因となる場合がある。 

遮蔽ケーブルに対しては,試験信号をケーブルの遮蔽部に直接注入するので,結合回路網は不要である

(図6参照)。 

注記 ビル及び住宅の電源系へのグラウンドの配線方法については,欧米では配電用変圧器のグラウ

ンド電位及び同等のグラウンド(PE)をコンセントまで配線する方式を用いているが,我が国

ではPEをコンセントに配線していないTT方式が一般的である(JIS C 60364-1参照)。このた

め,イミュニティ試験を実施する場合には,PEの接続方法などを我が国のグラウンド形態及び

EUTのグラウンドのとり方に適合させる必要がある。また,EUTのグラウンドについても次の

3種類の形態がある。 

a) 電源コードのプラグにPE用の端子がある場合 

b) 電源コードにはPE用の端子がないが,きょう体にグラウンド端子(FG)がある場合 

c) 電源コードにもきょう体にもグラウンド端子がない場合 

上記の場合については,表3Aの方法で接続することが望ましい。 

 

表3A−グラウンドの接続方法 

EUTのグラウンド形態 

EUTのグラウンドの接続 

a) 

電源コードのPE線を電源ポート用結合回路網及
び減結合回路網のPE出力に接続する。 

b) 

EUTの設置仕様書にFGを電源のPEラインに接続
する指定がある場合は,電源ポート用結合回路網
及び減結合回路網のPE出力に接続する。 
特別な接地接続が指定されている場合は,基準グ
ラウンドプレーンに接続する。 

c) 

追加のグラウンド接続はしない。 

 

6.3.2.2 

通信ポートに対する結合回路網 

通信ポート,及び平衡対線(1対又は多対)に接続することを意図しているその他のポートに対しては,

結合回路網にはT回路網を用いる。 

図5にT回路網の回路図を示す。コンデンサの値は,C=4.7 μF,抵抗値はR=200 Ω,インダクタの値

はL=2×38 mH(バイファイラ巻き)とする。 

T回路網の部品は,T回路網がEUTのコモンモード除去比を大きく低下させることがないような許容差

でそろっていなければならない。 

80 dBを超えるコモンモード除去比で用いるのに適したT回路網を製作することは可能であろうが,こ

のような場合には,製品規格によって代替結合方法を規定するのがよい。 

6.3.3 

減結合装置  

6.3.3.1 

一般特性 

減結合装置の機能は,補助機器及び/又はシミュレータをEUTの試験を行うポートから分離することに

よって試験電圧が補助機器及び/又はシミュレータに印加されることを防ぐことである。 

減結合装置の最も重要な特性は,直流から150 kHzにわたる周波数範囲でのコモンモード減衰特性であ

る。 

分離装置としては,能動装置及び受動装置のどちらも用いることができる。例えば,能動装置としては,


C 61000-4-16:2017 (IEC 61000-4-16:2015) 

 

増幅器,及び光学結合による分離装置があり,受動装置としては,絶縁変圧器などがある。 

6.3.3.2 

仕様 

全ての種類の動作信号に対する装置に適用可能な絶縁及び減結合の仕様は,次による。 

− 入力と出力との間,及び入出力と接地との間の絶縁耐力:1 kV,50/60 Hz,1分間 

− 15 Hz〜150 kHzの範囲におけるコモンモード減結合(減衰):60 dB 

試験レベルがレベル4未満の場合は,より低い絶縁耐力の減結合装置を用いてもよい。 

減結合装置のコモンモード除去性能は,EUTポートのコモンモード除去比の低下を最小とするために,

できるだけ高いものでなければならない。 

この箇条の要求事項は,絶縁変圧器及び交直変換装置で構成される電源ユニットのような複合装置に対

しても同様に適用する。 

平衡線路に対して,6.3.2.2で規定したT回路網は,10 kHz〜150 kHzの周波数範囲において効果的な減

結合特性を示す。10 kHz未満の周波数に対する減結合装置も必要となる。 

 

試験配置 

7.1 

一般事項 

次の項目について,試験配置の仕様を規定する。 

− 接地の接続 

− EUT 

− 試験信号発生器 

− 結合回路網及び減結合回路網(減結合装置又は分離装置) 

7.2 

接地の接続 

EUT,補助機器及び試験装置の安全接地に対する要求事項に常に適合しなければならない。 

EUTは,製造業者の仕様に従って接地系に接続する。試験信号発生器,結合回路網及び減結合装置は,

基準接地面又は一つの共通接地ポートに接続する。基準接地面又は共通接地ポートへの接地接続線の長さ

は,1 m以下とする。 

7.3 

EUT 

EUTは,機器の設置仕様に従って配置及び接続する。 

電源ポート,入出力ポート及び通信ポートは,減結合装置又は分離装置を経由して,電源,制御及び信

号源に接続する(6.3.2参照)。 

EUTを動作させる動作信号は,補助機器又はシミュレータから供給してもよい。 

機器製造業者が指定しているケーブルを用いる。指定がない場合,その信号に適した種類の無遮蔽ケー

ブルを用いる。 

ケーブル長は,遮蔽ケーブルの場合を除いて,試験のときに考慮する必要がない(8.3参照)。遮蔽ケー

ブルの場合は,製造業者が最大ケーブル長を指定しているときにはその長さとし,指定がないときはケー

ブル長は20 mとする。 

7.4 

試験信号発生器 

試験信号発生器は,箇条8に規定するように,結合回路網又は結合抵抗器に接続する。 

7.5 

減結合装置又は分離装置 

減結合装置又は分離装置は,EUTが試験する全てのポートと対応する信号源又は電源との間に接続する。 

補助機器又は電源が絶縁されている場合,専用の減結合装置又は分離装置は,要求されない。 


C 61000-4-16:2017 (IEC 61000-4-16:2015) 

 

ケーブル切断せずに通常の終端を行うためには,減結合装置又は分離装置は,ケーブルの補助機器ポー

トに近い箇所に設けるほうがよい。 

シールドされた線路の場合(例えば,同軸ケーブル),試験信号発生器は,遮蔽部に直接接続する(追加

の直列抵抗器及びコンデンサは不要である。)。 

 

試験手順 

8.1 

一般事項 

試験手順は,次を含まなければならない。 

− 機器の正常な動作の事前確認 

− 試験の実施 

8.2 

試験室の環境基準 

8.2.1 

一般事項 

試験結果に対する環境因子の影響をできるだけ少なくするために,8.2.2及び8.2.3に規定する気象及び

電磁的基準条件の下で試験を実施する。 

8.2.2 

気象条件 

共通規格又は製品規格に規定がない限り,試験室の気象条件は,EUT及び試験装置の動作に対してそれ

ぞれの製造業者が指定する限度内でなければならない。 

EUT又は試験装置に結露を生じるような高い相対湿度のときは,試験を行ってはならない。 

8.2.3 

電磁的条件 

試験室の電磁的条件は,試験結果に影響を与えてはならない。 

8.3 

試験の実施 

EUTは,通常の動作状態となるように構成する。 

試験は,次を指定した試験計画に従って実施する。 

− 試験の種類 

− 試験レベル 

− 試験時間 

− EUTの試験を行うポート 

− EUTの代表的な動作状態 

− 補助機器 

電源,信号,及びその他機能に必要な電気量は,定格範囲以内で加える。実際の信号源が入手できない

場合,模擬した信号源に置き換えてもよい。 

試験手順の主な手順は,次による。 

− 機器性能の事前確認を行う。 

− 結合回路網及び減結合装置をEUTの試験を行うポートに接続する。 

− 必要な場合,入力信号が正常であるかを検証する。 

− 試験電圧を印加する。 

試験構成は,EUTの入出力ポートの動作状態に影響することがある。影響を受けた場合は,その動作状

態を試験電圧の評価における基準とする。 

試験電圧は,EUTの動作性能を完全に検証できるように十分な時間,印加する。短時間試験(一般に1

秒間)の場合,試験電圧を,この要求が満たされるまで繰り返して印加する。 


10 

C 61000-4-16:2017 (IEC 61000-4-16:2015) 

 

15 Hz〜150 kHzの周波数範囲での試験は,15 Hzから始める。掃引率は,1×10−2 decade/sを超えてはな

らない。周波数がステップ的に増加掃引される場合,ステップ値は,開始周波数値の10 %,その後は先行

する周波数値の10 %を超えてはならない。 

EUTの性能は,連続的に監視し,全ての性能劣化を試験報告書に記録する。 

試験信号発生器は,各ポートに切り換えて接続する。試験を行わないポートの結合回路網の入力端子は,

グラウンドに接続する(図6参照)。 

装置に多数の類似ポートがある場合,終端の全ての異なる種類が網羅されるように,十分な数を選択す

る。 

無遮蔽ケーブルによって供給されるポートは,ポートの端子に直接試験電圧を印加することによって試

験する。 

シールドされた線路(例えば,同軸ケーブル)の場合,発生器出力は,その遮蔽に直接接続する(追加

の直列抵抗器及びコンデンサは,要求されない。)。 

2個以上の端子をもつポートを試験する場合,試験電圧は,ポートの全ての端子とグラウンドとの間に

同時に印加する(コモンモード)。 

平衡線に接続することを意図したポートの場合,試験電圧は,6.3.2.2で規定するT形回路網を用いて印

加する。 

直流電圧の印加を伴う試験では,極性を逆転させた試験電圧の試験も行う。 

試験電圧の印加に関する一般的な構成を,図6に示す。 

試験電圧は,次のポートにコモンモードで印加する。 

− 電源ポート 

− 入出力ポート 

− 通信ポート 

接地ポートには,試験は,必要としない。 

EUTの性能は,試験計画に従って検証する。 

試験は,印加した試験電圧又は大地への漏れ電流によって危険な状態を生じる可能性がある。適切な安

全対策は,操作者への危険を避けるために必要である。 

 

試験結果の評価 

試験結果は,EUTの機能喪失又は性能低下の観点から,そのEUTの製造業者,試験の依頼者又は製品

の製造業者と購入者との間の合意によって,指定した性能レベルと比較して分類する。推奨する分類を次

に示す。 

a) 製造業者,依頼者又は購入者が指定する仕様限度内の正常な性能。 

b) 妨害がなくなった後に回復する一時的な機能喪失又は性能低下。操作員が介在することなくEUTが正

常な性能に自己復帰する。 

c) 操作員が介在する調整が必要な,一時的な機能喪失又は性能低下。 

d) ハードウエア又はソフトウェアの破壊による,修復不可能な機能喪失若しくは性能低下又はデータの

喪失。 

製造業者の仕様書には,EUTへの影響のうち重要ではないとみなせ,かつ,許容できる影響を指定して

もよい。 

この分類は,共通規格,製品規格及び製品群規格の原案作成委員会による性能基準を規定するときの指


11 

C 61000-4-16:2017 (IEC 61000-4-16:2015) 

 

針として,又は適切な共通規格,製品規格及び製品群規格が存在しない場合の製造業者と購入者との間の

性能基準の枠組みとして用いてもよい。 

 

10 試験報告書 

試験報告書は,試験を再現するために必要な全ての情報を含まなければならない。特に次の事項を記録

する。 

− 箇条8で規定する試験計画で指定する項目。 

− EUT及び関連機器の識別表示。例えば,商標,製品形式,製造番号。 

− 試験装置の識別表示。例えば,商標,製品形式,製造番号。 

− 試験を行った特別な環境条件。例えば,遮蔽室の中。 

− 試験を行うために必要だった特定の条件。 

− 製造業者,依頼者又は購入者が指定した性能レベル。 

− 共通規格,製品規格又は製品群規格で規定する性能基準。 

− 妨害の印加中又は印加後に観測したEUTへの全ての影響,及びこれらの影響が持続した期間。 

− 合否の判定に対する根拠(共通規格,製品規格若しくは製品群規格で規定する,又は製造業者と購入

者との間で合意された性能基準に基づく。)。 

− 機器の取扱いにおける特定の条件。例えば,適合性を達成するために必要なケーブルの長さ及び形式,

遮蔽又は接地,並びにEUTの動作条件。 


12 

C 61000-4-16:2017 (IEC 61000-4-16:2015) 

 

 

 

図1−機器ポート及び構成の例 

 


13 

C 61000-4-16:2017 (IEC 61000-4-16:2015) 

 

 

 

図2−試験電圧のプロフィール 

 

 

 SG:試験信号発生器 

S:スイッチ及び制御回路 
R:線路抵抗 
 

図3−直流及び15 Hz〜150 kHzのための試験信号発生器の例 

 

15 Hz 

150 Hz 

1.5 kHz 

15 kHz 

150 kHz 

0.1

1

10

100

V

レベル4 

レベル3 

レベル2 

レベル1 

開放試験電圧実効値 


14 

C 61000-4-16:2017 (IEC 61000-4-16:2015) 

 

 

 

 PA:電力増幅器 

Vr:電圧調整器 
S:スイッチ及び制御回路 
IT:絶縁変圧器 
R:線路抵抗 
 

図4−電源周波数(50 Hz及び60 Hz)における試験信号発生器の例 

 

 

 R:200 Ω 

C:4.7 μF 直流試験の場合は短絡する(SW)。 
L:2×38 mH(バイファイラ巻き) 
 

図5−通信ポート及び平衡度の高い対線に接続することを意図している 

その他のポートに対するT回路網の回路図 

 


15 

C 61000-4-16:2017 (IEC 61000-4-16:2015) 

 

 

 

C:1.0 μF 直流電圧試験の場合は短絡する(SW3)。 
R:100 Ω×n nはそのポートに属する導体数である。 
例えば,n=4の場合,R:400 Ω 

注記 スイッチSW2は,試験を適用する入力ポート以外の全ての入力ポートを接地するのに用いる(8.2参照)。 

図6−形式試験の回路図 

 


16 

C 61000-4-16:2017 (IEC 61000-4-16:2015) 

 

附属書A 

(参考) 

妨害の発生源及び結合メカニズム 

 

A.1 妨害の発生源 

電源周波数及びその高調波における伝導コモンモード妨害は,配電系統に起きた故障及び大地回路へ流

れる漏れ電流によって発生する可能性がある。 

工業用設備,電力設備及び通信センタで用いている直流供給系統も,直流コモンモード妨害を発生させ

る可能性があり,特に正又は負の回路において一方のポートが接地されている場合には,その傾向にある。 

電気鉄道も,その運転周波数において妨害を発生する。 

誘発する妨害については,詳細がIEC 61000-2-3及びIEC TR 61000-2-5に記載されている。異なるタイ

プの,異なるレベルの妨害が同時に発生することがある。また,電力系統において故障が生じた場合,妨

害のレベルは,通常運転時の基準レベルの10倍くらいまでになるが,故障時の妨害はおおむね持続時間の

短いものだけになる(1秒程度まで)。 

電源周波数及びその高調波における妨害は,コモンモードの除去が不十分な場合には,装置の信号ポー

トに影響を及ぼす可能性がある。 

1 kHz〜2 kHzまでの妨害は,主として電力系統の高調波に起因する。 

より高い周波数において,妨害は,パワーエレクトロニクス装置に起因する場合が多い。これは,スイ

ッチング電流が大地回路に流れることによって,伝導性のコモンモード妨害となるからである。 

 

A.2 結合メカニズム 

この箇条で考えられている結合メカニズムには,容量性,誘導性及び抵抗性結合を含む。それぞれの結

合メカニズムの詳細は,IEC 61000-2-3に記載している。容量性結合は,例えば,接地すること,又は容量

性フィルタによって信号線が接地をもつ場合には,考慮する必要がない。 

妨害発生源(例えば,電力線,接地回路など)によって誘起された磁界による誘導性結合は,信号線に

重大な妨害を発生させることがよくある。 

抵抗性(又はコモンインピーダンス)結合は,接地された信号源の場合と同様に信号線に直接影響する

か,又は信号線ケーブルのシールドに電流を流す。この種の結合は,最もよく発生し,特に容量性及び誘

導性の結合の包括的効果と考えられることもある。 

結合メカニズムの等価インピーダンスは,発生源及び妨害を受ける機器の配置によって,広範囲の値に

なる。 

コモンインピーダンス結合の最悪の場合において,等価結合インピーダンスは,数オーム程度の値をも

つことがある。その他の場合では,平衡線路では容量性結合になりやすいため,インピーダンスが数桁高

い値を示すこともある。 

試験室の実績では,装置のそれぞれのポートにおけるイミュニティ試験は,150 Ωの値をもつソースイ

ンピーダンスの場合だけで行うことによって,効率的に実行できる。この値は,実地における電源線又は

信号線のコモンモード固有インピーダンスも表しているようであり,JIS C 61000-4規格群又はIEC 

61000-4規格群におけるほかの基本規格に採用されている方法と一致している。 


17 

C 61000-4-16:2017 (IEC 61000-4-16:2015) 

 

附属書B 

(参考) 

試験レベルの選択 

 

この規格では,異なる試験について規定しているが,各試験の適用範囲,試験レベル及び関連する合格

基準は,製品規格で規定する。 

試験レベルは,最も現実的な設置及び環境条件に従って選択することが望ましい。 

さまざまな設備に関する試験の適用及びレベル選択のガイドラインをIEC TR 61000-2-5に示す。各設備

に対する試験レベルの選択では,異なる場所での妨害レベルの範囲を示す。 

一般的な設置方法に基づき,次のように環境を分類してもよい。 

レベル1:高度に保護された環境 

設置(設備)は,次の事項で特徴付けられる。 

− 例えば,専用絶縁変圧器などによって内部電源回路網と主電源回路網とが絶縁してある。 

− 電子機器を,設備の接地系に接続された専用の接地端子に接地接続してある。 

この環境の代表例は,コンピュータ室である。 

レベル2:保護された環境 

設置(設備)は,次の事項で特徴付けられる。 

− 低圧主電源回路網に直接接続してある。 

− 電子機器を設備の接地系に接地接続してある。 

この環境の代表例は,工場及び発電所の専用建家内に設けられた制御室又は配電盤室である。 

レベル3:典型的な工業環境 

設置(設備)は,次の事項で特徴付けられる。 

− 低圧又は中圧主電源回路網に直接接続してある。 

− 電子機器を設備の接地系に接地接続してある。 

− 迷走電流が接地回路網に漏えいする電力変換装置を用いている。 

この環境の代表例は,工業設備及び発電所である。 

レベル4:過酷な工業環境 

設置(設備)は,次の事項で特徴付けられる。 

− 低圧又は中圧主電源回路網に直接接続してある。 

− 電子機器を,高圧の機器及びシステムと共通の,設備の接地系に接地接続してある。 

− 迷走電流が接地回路網に漏えいする電力変換装置を用いている。 

この環境の代表例は,高圧変電所及び関連する発電所である。 

レベル5:分析を要する特殊な場合 

特別な設置(設備)は,分析又は調査を行い,その結果,それぞれのクラスの指定より高い又は低いイ

ミュニティ要求事項を定義してもよい。 

 


18 

C 61000-4-16:2017 (IEC 61000-4-16:2015) 

 

参考文献 

 

[1] IEC 60381-2,Analogue signals for process control systems−Part 2: Direct voltage signals 

[2] IEC 61000-2-3,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 2: Environment−Section 3: Description of the 

environment−Radiated and non-network−frequency-related conducted phenomena 

[3] IEC TR 61000-2-5,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 2-5: Environment−Description and 

classification of electromagnetic environments 

[4] JIS C 61000-4-6 電磁両立性−第4-6部:試験及び測定技術−無線周波電磁界によって誘導する伝導

妨害に対するイミュニティ 

注記 対応国際規格:IEC 61000-4-6,Electromagnetic Compatibility (EMC)−Part 4-6: Testing and 

measurement techniques−Immunity to conducted disturbances, induced by radio-frequency fields 

[5] IEC 61000-4-13,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-13: Testing and measurement 

techniques-Harmonics and interharmonics including mains signalling at a.c. power port, low frequency 

immunity tests 

[6] IEC 61000-4-19,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-19: Testing and measurement techniques− 

Test for immunity to conducted, differential mode disturbances and signalling in the frequency range 2 kHz 

to 150 kHz at a.c. power ports 

[7] JIS C 60068-1 環境試験方法−電気・電子−通則及び指針 

注記 対応国際規格:IEC 60068-1,Environmental testing−Part 1: General and guidance 

[8] JIS C 60050-161 EMCに関するIEV用語 

注記 対応国際規格:IEC 60050-161,International Electrotechnical Vocabulary. Chapter 161 : 

Electromagnetic compatibility 

[9] JIS C 61000-4(全ての部) 電磁両立性−第4-XX部:試験及び測定技術 

注記 対応国際規格:IEC 61000-4 (all parts),Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-XX: Testing 

and measurement techniques 

[10] JIS C 60364-1 低圧電気設備−第1部:基本的原則,一般特性の評価及び用語の定義