C 0068 - 1995 (IEC 695-2-4/0 : 1991)
(1)
目次
ページ
1.
適用範囲
1
2.
引用規格
1
3.
要求事項
1
4.
試験方法
1
4.1
原則
2
4.2
試験用炎を作り出すために要求される装置の一般的記述
2
4.3
試験試料及び炎の選択
4
4.4
接炎時間
4
4.5
状態調節
4
4.6
初期測定
4
4.7
試験の手順
5
4.8
観察と測定
5
4.9
試験結果の評価
6
5.
この規格の一連の規格の中で規定する事項
6
日本工業規格
JIS
C
0068
- 1995
(IEC 695-2-4/0
: 1991
)
環境試験方法−電気・電子−耐火性試験
拡散炎及び予混炎試験方法
Fire hazard testing Part 2 : Test methods
−Section 4/sheet 0 :
Diffusion type and premixed type flame test methods
日本工業規格としてのまえがき
この規格は，1991 年初版として発行された IEC 695-2-4/0 (Fire hazard testing Part 2 : Test methods−Section 4 /
sheet 0 : Diffusion type and premixed type flame test methods)
を翻訳し，技術的内容及び規格票の様式を変更
することなく作成した日本工業規格である。
なお，この規格で下線（点線）を施してある
参考 は，原国際規格にはない事項である。
1.
適用範囲
この規格は，炎による試験方法の指針及び一連の試験用炎を作る試験装置並びに関連する確認試験に対
する要求事項を示す。特定の炎を作るために必要な追加詳細情報は，一連の規格として制定する。例えば，
JIS C 0069-1995
（環境試験方法−電気・電子−耐火性試験 公称 1kW 予混試験用炎及び指針）
。
参考 一連の規格とは，IEC 695-2-4/1 : 1991 (Fire hazard testing Part 2 : Test methods−Section 4/sheet 1 :
1kW nominal pre-mixed test flame and guidance) ,IEC 695-2-4/2 : 1994 (Fire hazard testing Part 2 :
Test methods
−Section 4/sheet 2 : 500W nominal test flames and guidance) のように，IEC 695-2-4 シ
リーズとして制定される。JIS C 0069-1995 が，IEC 695-2-4/1 : 1991 と一致する。
2.
引用規格
次の規格は，この規格がよりどころにしている規格を含んでいる。出版時に明示されている版号が有効
であるが，すべての規格は改正されるので，この規格の関係者は，次の規格の最新のものを調査し適用す
るよう奨励する。
IEC 695-2-4/1 : 1991, Fire hazard testing Part 2 : Test methods
−Section 4/sheet 1 : 1kW nominal pre-mixed
test flame and guidance
ISO 4046 : 1978, Paper, board, pulp and related terms
−Vocabulary
3.
要求事項
標準の試験用炎は，該当する一連の規格に示している要求事項に適合していなければならない。
該当する規格の試験方法の作成に当たっては，この規格について適切な配慮をする。
4.
試験方法
2
C 0068 - 1995 (IEC 695-2-4/0 : 1991)
4.1
原則
炎による試験は，電気・電子製品の周辺での火の発生の初期段階で生じる炎の影響をシミュレートして
火による危険性の評価を目的とする。
この試験は，次の各項を確かめるために適用する。
a)
定められた条件のもとで，試験用炎で部品が着火しない，又は
b)
定められた条件のもとで，試験用炎で着火した部品は，炎の伝ぱ（播）又は試料から落下する燃焼
小片や赤熱小片による火の伝ぱがなく，燃焼時間又は燃焼距離は，限定されたものであること。
JIS C 0061-1993
［環境試験方法−電気・電子−ニードルフレーム（注射針バーナ）試験方法］に規定さ
れたニードルフレーム試験は，火による危険性を評価するために，機器内部の故障状態から生じる小さい
炎の影響をシミュレートすることを意図したものである。
この試験用炎は，通常の使用若しくは故障状態から生じる炎又は偶然に発火源が当たることによって生
じる炎による影響を受けるおそれがある試料表面に当てる。
試料の周囲状況がわかっている場合，火の伝ぱの可能性を評価するために，通常試料を取り巻いている
か，試料の下方にある材料，又は部品の一層（実使用状態）を該当製品規格に規定されたとおりに配置す
る。試料が使用されている周囲状況が未知であるときは，一枚（層）の包装紙*で覆った一枚の軟質の白木
の板を，炎を試料に当てる箇所の下方 200mm±5mm の距離に配置する。
*
薄葉紙 (tissue paper) : ISO 4046 (1978) の 6.86 に規定する包装用薄紙
一般に坪量 12g/m
2
〜30g/m
2
の柔らかくて強く，かつ，軽い包み紙で，主に取扱いに注意を要
するような物の保護及び贈り物を包むための紙。
参考1 JIS C 0061-l993は，IEC 695-2-2 : 1991 (Fire hazard testing Part 2 : Test methos. Section 2:
Needle-flame test)
と一致する。
参考2
ISO 4046
に規定する包装用薄葉紙は，我が国で一般的に用いられているティシュペーパー
［JIS S 3104（ティシュペーパー）
］ではない。
4.2
試験用炎を作り出すために要求される装置の一般的記述
この条項は，装置の一般的記述である。試験用炎及び関連する確認試験に対する詳細な要求事項は，例
えば JIS C 0069 のような一連の規格の中で与えられる。
4.2.1
試験用炎の作成
バーナの組立図と燃料系統図を
図 1 及び図 2 に示す。
この装置は，該当する一連の規格に与えられた詳細な要求事項に適合しなければならない。
体積流量メータが燃料ガス及び空気の流量を示すのに使用されている場合，これらは，次のように補正
する。
23
℃，0.1MPa における実際の流量＝
c
s
c
t
T
P
P
F
＋
273
296
×
ここに，
F
t
は，指示計の流量×
273
273
＋
＋
＋
＋
T
T
P
P
P
c
c
b
ここに：
P
c
は，流量計の校正圧力 (MPa)
T
c
は，流量計の校正温度 (℃)
P
は，大気圧 (MPa)
3
C 0068 - 1995 (IEC 695-2-4/0 : 1991)
P
b
は，背圧 (MPa)
T
は，室温 (℃)
P
s
＝0.1MPa
該当する一連の規格に記述されているいくつかの試験用炎を使用する場合は，背圧は測定する必要はな
い。
すべての場合，流量計とバーナとの間の圧力損失を最小にする。
注−ガス及び空気を容器から供給したり，離れた場所から供給する場合，ガス及び空気の温度が，使
用するまでに使用場所の温度になるように注意する。
4.2.2
試験用炎の視覚によるアセスメント
試験用炎は，対称性があり安定しており，該当する一連の規格に与えられている確認試験の要求事項に
適合していなければならない。
4.2.3
確認試験
確認試験に用いる配置を，
図 3 に示す。装置は，該当する一連の規格に与えられている詳細要求事項に
適合していなければならない。
試験用炎は，定期的に確認する。さらに，少なくとも
a)
バーナを清掃のために取り外し再組立てした後，又はこの装置を変更した後
b)
該当するそれぞれの規定に準拠して
確認する。
4.2.4
確認試験の原則
試験用炎を接炎した後，規定の銅ブロックの温度を 100℃±2℃から T
2
℃に上げるまでの時間は，要求さ
れた制限値内になければならない。試験中，この銅ブロックは，炎の軸上にあり，そのブロックの下面が
バーナの管の先端の上方に規定の距離 Xmm，そしてつり下げ点の下方 Ymm にあるようにつり下げる（
参
考 図 3）。
参考 T
2
℃は，該当する一連の規格で規定する。
4.2.5
確認試験の手順
a)
装置は，
図 2 及び図 3 に準拠して試験結果に影響を及ぼすほどの通風がない環境の中に，ガス及び
空気が漏えい（洩）しないように接続して設置する。銅ブロックを熱電対によって該当する一連の
規格に規定する距離 X 及び Y に確実につり下げる。
b)
ガス及び空気の流量を調節する間，炎が銅ブロックに影響を及ぼさないようにバーナを銅ブロック
から遠ざける。
c)
炎を発生させ，ガス及び空気の流量を規定の流量に調節する。照度を低くした照明状態で観測して
炎の青色炎の高さ，炎の全高及び質／安定性を記録する。炎が対称でなく，安定でない場合は，原
因を確かめて，調整する。
d)
バーナを銅ブロックの下に再び配置する。
e)
銅ブロックの温度が 100℃から T
2
℃に上昇する時間を 3 回測定する。この 3 回の測定の間，銅ブロ
ックは，空気中で自然冷却させる。
銅ブロックが未使用の場合は，その表面の状態を整えるために，1 回の予備的な試験を行う。こ
の結果の数値は，使用しない。
f)
秒単位で平均値を計算する。
g)
平均値が該当する一連の規格の規定値に適合する場合は，この炎が確認されたことになり試験に用
4
C 0068 - 1995 (IEC 695-2-4/0 : 1991)
いることができる。
詳細な手順は，特定の炎について規定した一連の規格に記述されている。
4.3
試験試料及び炎の選択
試料は，できる限り完成品（製品，半製品又は部品）とする。
製品の内部の試験を行うために，外部の部品を取り外したり適切な部分を切り取る必要がある場合，形
状，通風，熱ストレス及び炎の影響又は試料の近傍に落下する燃焼小片若しくは赤熱小片に関して，試験
状態が通常の使用中に生じる状態と著しく異なってはならない。該当規格には，接炎するために除去して
もよい部分について，規定する。
完成した製品で試験が実施できない場合は，適切な試料を切り取って，前述した試験状態に準拠して試
験を行うことができる。試料を切り取った場合は，試験用炎を不適正に，例えば，切断によって作られた
面に，当ててはならない。
この試験は，近傍にある他の発火したもの，又は初期段階の火から生じる炎が試料に及ぼす影響を評価
するものである。したがって，該当規格は，試験用炎の性質，炎を当てる場所，炎を当てている時間及び
合格の判定基準を規定することが心要である。
必要な場合は，複数の試験用炎を使用することができる。例えば，大きな試料を試験する場合は，2 本
以上のバーナを使用することができる。
4.4
接炎時間
試験は，使用中に起こりやすい炎のシミュレーションであることが要求されている。したがって，炎を
当てる時間は，使用中に起こりやすい条件をシミュレートしていなければならない。試験用炎を連続して
当てる時間の推奨値は，次のとおりである。
5
秒間，10 秒間，20 秒間，30 秒間，1 分間，2 分間，5 分間，10 分間，20 分間，30 分間。
要求する接炎時間は，該当規格の中に規定する。
試料の燃焼の持続時間又は燃焼距離を数値化することを要求する場合は，試料が着火するのに必要な接
炎時間を規定する。
該当規格に要求されている場合，他の接炎時間を規定することができる。ただし，接炎を繰り返すこと
は推奨しない。
接炎の繰返しは，次のようになるおそれが大である。
a)
結果のばらつきを増大する。
b)
炎を再び当てる点を確定することが困難になる。
c)
各接炎の結果を解釈することに困難が伴う。
注−試験用炎の接炎時間は，試料の特性との関連で選定しなければならない。該当規格の作成に当た
って検討を行うこと。
プラスチック材料のスクリーニング試験で，繰返し接炎を適用している規格がある。単独長時間接炎に
対して多数回接炎を適用することが妥当であるかを検討中である。
4.5
状態調節
別途該当規格に記述されていない限り，4.1 に規定されている試料及び層は，試験を開始する前に温度
15
℃〜35℃，相対湿度 45%〜75%の雰囲気中に 24 時間以上保持する。
4.6
初期測定
試料は，目視によって検査する。該当規格に規定されている場合は，機械的及び電気的パラメータを測
定する。
5
C 0068 - 1995 (IEC 695-2-4/0 : 1991)
4.7
試験の手順
警告注意
試験者を次の各項から防御すること。
a)
爆発又は火炎の危険
b)
煙及び／又は有害生成物の吸入
c)
毒性残留物
4.7.1
試験室又は試験を行う区画は，実質的に通風がなく，適切な空気量が確保できる十分な寸法をもっ
ていなければならない。
4.7.2
試料は，通常の使用中に取り得る最も不利な位置に配置する。試料を固定する手段は，試験用炎の
効力又は炎の伝ぱに影響を及ぼしてはならない。
4.7.3
通常は試料の周辺にあるか若しくは下方にある材料又は部品の層は，所定の位置に置くか，又はこ
の代替として，該当規格の規定に従って，柔らかい白木の板と包装紙の一層を使用する。
4.7.4
試験用炎の調節中，試料への熱又は放射の影響を避ける。
4.7.5
規定の試験用炎，通常の使用状態又は故障状態から生じる炎によって最も強く影響を受けやすい試
料の部分に当てる。
試験用炎の接炎方法及び接炎時間は，該当規格の中で規定する。
注−最も厳しい配置が鉛直である場合，バーナの上又は内部に落下する残さ（渣）の影響を最小にす
るために，バーナを鉛直から角度約 20°傾けることを推奨する。
試験用炎を最も有効な方法で当てるために，バーナの軸は，鉛直に対し傾ける。傾きの角度は，試験中
の試料の大きさと配置に依存する。推奨する傾きの角度は，20°及び 45°である。
バーナは，試験用炎の当て方の一貫性を確保するために試料から特定の距離に置く。推奨する距離及び
試験用炎と試料との相対的位置については，試験用炎の生成及び確認に対する要求事項を詳述している該
当する一連の規格，例えば，JIS C 0069 の中に与えられている。
一度試験用炎を設置した後は，バーナを動かしてはならない。試験用炎は，規定の接炎時間の後，取り
去る。
該当規格が同一試料の複数の点で試験を行うことを許容している場合は，前の試験による劣化が，試験
結果に影響しないように注意をする。
4.7.6
該当規格には，要求する試料の数量を定める。
4.8
観察と測定
試験している間，試料，試料の周りの部品及び下方に置かれた層を観察し，すべての測定及び観察され
たパラメータを報告する。
試料の着火又は試料の周りの部品若しくはその下方にある層の着火がある場合は，燃焼の持続時間を測
定し，記録する。試験用炎を取り去った時点から炎が消滅するまでの時間及び試験用炎を取り去った時点
から試料の赤熱又は近傍の部品若しくは試験のために用いられた層の赤熱が見えなくなるまでの時間は，
別々に記録する。
燃焼距離は，試料をほぼ室温に冷却し，清浄な乾いた布を用いて清掃した後に測定する。
燃焼距離とは，試験炎が当たった部分の中心と燃焼の最遠方こん（痕）跡との間を測定した距離をいう。
燃焼のこん跡とは，表面の燃焼によって破壊された領域をいう。炭化された領域を含む。
燃焼のこん跡を測定する場合，表面の変色，すす，熱による変形，溶融及び焦げは，無視する。
試料は，目視によって形状の損傷を調査し，該当規格の規定に従って機械的，電気的パラメータを測定
6
C 0068 - 1995 (IEC 695-2-4/0 : 1991)
する。
4.9
試験結果の評価
試料は，該当規格に別途規定されていない限り，次の三つの状態の一つが当てはまる場合は，この試験
に耐えたこととする。
a)
試料が着火しない。
b)
炎又は試料から落下した燃焼小片若しくは赤熱小片が，周囲の部品又は試料の下方に置いた層に火
を伝ぱしない。接炎終了後又は該当規格に許容された追加接炎後，試料の炎又は赤熱がない。
c)
該当規格に規定された燃焼の持続時間又は燃焼距離以下である。
5.
この規格の一連の規格の中で規定する事項
一連規格，例えば JIS C 0069 では，次の詳細事項を規定する。
a)
厳しさのレベル
・ 使用する試験用炎（4.3 参照）
・ 試験用炎の連続接炎時間（4.4 及び 4.7.5 参照）
b)
試験する試料数（4.7.6 参照）
c)
その他の別途に行う状態調節（4.5 参照）
d)
必要とする初期測定があれば，その詳細（4.6 参照）
e)
試料の詳細と配置（4.3 及び 4.7.2 参照）
f)
試験する試料表面及び炎を当てる点（4.7.5 参照）
・ バーナの鉛直に対する傾き角度
・ 試料の表面からバーナまでの距離
g)
試験室又は試験を行う区画（チャンバ）の適切な大きさ，又は最小の大きさ（4.7.1 参照）
h)
試料と周囲との相対的配置（4.7 参照）
i)
有炎落下物の影響を評価するために下方に置く層（4.7.3 参照）
j)
要求事項（4.9 参照）
・ 機器内部の種々の部品，シールド及びバリヤの設計と配置を考慮して，燃焼，炎及び赤熱の許
容できる時間及び到達距離
・ 規定されている判定基準は，安全性要求事項への適合をチェックするのに十分なものであるか，
又は別の判定基準を導入すべきであるか
k)
許容できる機械的／電気的特性の劣化があれば，その内容
7
C 0068 - 1995 (IEC 695-2-4/0 : 1991)
図 1 試験用バーナの例
8
C
0068 -
199
5
(IEC
6
95-2-
4/0
: 1991
)
図 2 バーナ・供給装置の配列
9
C 0068 - 1995 (IEC 695-2-4/0 : 1991)
図 3 確認試験装置配置の例
10
C 0068 - 1995 (IEC 695-2-4/0 : 1991)
原案作成委員会 構成表
氏名
所属
（委員長）
*
鈴 木 俊 男
財団法人日本電気用品試験所
（幹事）
若 松 淳 一
財団法人日本品質保証機構
（幹事）
*
乾 泰 夫
帝人化成株式会社
石 田 進
三菱電機株式会社
岩 田 武
東京特殊印刷工業株式会社
岡 本 英 男
沖エンジニアリング株式会社
*
柿 本 光 敏
シャープ株式会社
加 藤 敏 男
横河電機株式会社
加 山 英 男
財団法人日本規格協会
川 中 龍 介
ソニー株式会社
倉 重 有 幸
通商産業省工業技術院
栗 原 正 英
社団法人日本プリント回路工業会
小 金 実
日本電気計器検定所
後 藤 恒 人
財団法人日本品質保証機構
*
小 林 哲 郎
資源エネルギー庁
*
斉 藤 武 雄
日本電信電話株式会社
佐 藤 政 博
財団法人日本電気用品試験所
清 水 英 範
社団法人日本電機工業会
曽我部 浩 二
株式会社村田製作所
*
高 杉 和 徳
株式会社東芝
高 久 清
電子技術総合研究所
瀧 澤 清
財団法人神奈川県高度技術支援財団
立 川 明
社団法人日本電子機械工業会
中 西 忠 雄
防衛庁
中 村 英 夫
財団法人鉄道技術総合研究所
西 前 仁 也
株式会社日立製作所
*
丹 羽 利 夫
株式会社フジクラ
福 島 彰
財団法人日本船舶標準協会
*
羽 田 善 英
株式会社村田製作所
*
古 川 清 志
三菱電線工業株式会社
三 上 和 正
東京都立工業技術センター
若 林 宗 平
ミツミ電機株式会社
* 吉 川 奐 治
日本プラスチック工業連盟
（事務局）
鳴 神 長 昭
財団法人日本電子部品信頼性センター
備考 *印は小委員会委員を兼任