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C 0035-1996 (IEC 68-2-61 : 1991)

(1) 

目次

ページ

序文

1

1.

  目的

1

2.

  引用規格

2

3.

  定義

2

4.

  試験機器

3

5.

  厳しさ

3

6.

  前処理

3

7.

  初期測定

3

8.

  試験

3

9.

  後処理

5

10.

  最終測定

5

11.

  製品規格に規定する事項

5

附属書 A(参考)  規格作成者のための指針

7

附属書 B(参考)  試験実施上の指針

8


日本工業規格

JIS

 C

0035

-1996

 (IEC

68-2-61

 : 1991

)

環境試験方法−電気・電子−

一連耐候性試験

Environmental Testing

Part 2 : Test methods

Test Z/ABDM : Climatic sequence

日本工業規格としてのまえがき 

この規格は,

1991

年第 1 版として発行された IEC 68-2-61 (ENVIRONMENTAL TESTING Part 2 : Test methods

−Test Z/ABDM : Climatic sequence)  を翻訳し,技術的内容及び規格票の様式を変更することなく作成した

日本工業規格である。

なお,この規格で点線の下線を施してある事項は,原国際規格にない事項である。

序文  一連耐候性試験の有用性は,特に部品に対して JIS C 0010-1993[環境試験方法−電気・電子−通則

7.

(一連耐候性試験)及び

附属書 の(環境試験に対する一般的指針参照)]の内容によって証明されてい

る。

参考  JIS C 0010-1993 は、IEC 68-1 : 1988 Environmental testing. Part 1 : General and guidance と一致す

る。

IEC

電子部品品質認証制度  (IECQ)  の重要性の広がりに伴って JIS C 0010 の 7.で規定されているより,は

るかに高い正確さをもった試験手順とともに試験の満足な再現性を得ることを目的として,定義すること

が必要となった。

この規格は,主として部品に対して“一連耐候性試験”を詳細に規定したものであり,そのことは JIS C 0010

の 7.を基本として,また,規格作成者と試験実施者のための参考資料中の指針に書かれている。

注  試験 Z/ABDM は,JIS C 0010 の 7.で定義した“一連耐候性”というよりはむしろ,同規格に定義

されている“組合せ試験”である。JIS C 0010 の 7.で引用している“一連耐候性”という用語は

よく使われているので,この組合せ試験の実施に際して続いて使用してもよい。

1.

目的  この規格は,供試品が一連の温度,湿度,必要があれば減圧などの環境ストレスから構成され

た環境条件におかれたとき,供試品の適応性を決めるための組合せ試験方法を規定するものである。

加えるストレスの順序及びある段階から次の段階へ移る際の条件が,自然の気候条件で観測されたのと

同じタイプの劣化機構を加速し,十分進行させるために選択される。

注  自然界に発生する環境条件は,IEC 721-2 及び IEC 721-3 に分類されている。

この規格は劣化の機構が同じであり,試験に対する規定の要求が満足されていれば,他の電気製品にも

適用できるものである。他の場合は,同様な試験方法を作成するための基本となるものでもある。


2

C 0035-1996 (IEC 68-2-61 : 1991)

この試験で,供試品は標準の順序で,また JIS C 0010 

附属書 の部品耐候性カテゴリーの基本記号に

従って環境試験が行われる。ただし,数字の第 3 グループが JIS C 0027 の 6.(試験)に従ってカテゴライ

ズされた

試験 Db 湿度サイクリックの段階 5 のサイクルの数を表すのに使用される場合を除く。耐候性カ

テゴリー−/−/56,40/−/−,などでダッシュは次の例のようにあいたところに適切な何らかの標準値でお

き代えてもよい:55/100/56,25/085/56,40/085/21。何らかの修正が必要な場合には製品規格で選択した方

法の各段階に対して必要な情報を与えなければならない(8.参照)

この試験は,しばしば供試品の封止が損傷されるかどうかを調べるために,例えば,端子強度試験,は

んだ付性,衝撃,振動のような機械的ストレスを含む他の試験に引き続いて行う。

2.

引用規格  次の規格は,この規格で引用している規格である。出版時に明示されている版号が有効で

ある。

なお,すべての規格が改正されるので,この規格の関係者は,次の規格の最新のものを調査し,適用す

るよう推奨する。

IEC 68-1 : 1988

  Environmental testing. Part 1 : General and guidance.

備考  JIS C 0010-1993  環境試験方法−電気・電子−通則が,IEC 68-1 : 1988 と一致している。

IEC 68-2-1 : 1990

  Environmental testing. Part 2 : Tests−Tests A : Cold

備考  JIS C 0020-1995  環境試験方法−電気・電子−低温(耐寒性)試験方法が,IEC 68-2-1 : 1990

と一致している。

IEC 68-2-2 : 1974

  Environmental testing. Part 2 : Tests−Tests B : Dry heat.  及び IEC 68-2-2A : (1976) First

supplement.

備考  JIS C 0021-1995  環境試験方法−電気・電子−高温(耐熱性)試験方法が,IEC 68-2-2 : 1974

及び 68-2-2A : 1976 と一致している。

IEC 68-2-13 : 1983

  Environmental testing. Part 2 : Tests−Test M : Low air pressure.

備考  JIS C 0029-1989  環境試験方法(電気・電子)減圧試験方法が,IEC 68-2-13 : 1983 と同等で

ある。

IEC 68-2-28 : 1980

  Environmental testing. Part 2 : Tests−Guidance for damp heat tests.

備考  JIS C 0033-1993  環境試験方法−電気・電子−耐湿性試験−指針が,IEC 68-2-28 : 1980 と一

致している。

IEC 68-2-30 : 1980

  Environmental testing. Part 2 : Tests−Test Db and guidance : Damp heat cyclic (12+

12-hour cycle).

備考  JIS C 0027-1988  環境試験方法(電気・電子)温湿度サイクル(12+12 時間サイクル)試験

方法が,IEC 68-2-30 : 1980 と同等である。

IEC 68-3-1 : 1974

  Environmental testing. Part 3 : Background information. Section One−Cold and dry heat

tests.

及び IEC 68-3-1A : 1978  First supplement.

備考  JIS C 0095-1995  環境試験方法−電気・電子−低温試験及び高温試験を理解するための必す

(須)情報が,IEC 68-3-1 : 1974 及び 68-3-1A : 1978 と一致している。

IEC 721-2

  Classification of environmental conditions. Part 2 : Environmental conditions appearing in nature.

IEC 721-3

  Classification of environmental conditions. Part 3 : Classification of groups of environmental

parameters and their severities.

3.

定義  用語は総括的に IEC 68-5-2 : 1990 (Terms and definitions)  に定義されている。


3

C 0035-1996 (IEC 68-2-61 : 1991)

4.

試験機器  試験用の機器は,各個々の試験を行うために要求されるものであり,各種条件の試験方法

を含み,試験順序ごとに指示された要求,厳しさを満足するものとする。

1

台の試験槽を使って一連試験の異なった段階ごとに規定した条件を連続的に試験する場合は,特別な

注意が必要である(

附属書 の B.3 参照)。

供試品を二つの仕切部屋の間で移送する自動移送装置をもった試験槽を使用する際は,別々の試験槽を

使用するのと同等と,みなすことができる。

また,自動移送装置をもった試験槽で試験する場合は,各段階の終わりの後処理条件が満足されなけれ

ばならない。特に

方法 の段階 の場合(8.2.2 参照)。

5.

厳しさ  厳しさは,高温試験の試験温度[JIS C 0021 の 4.1(試験温度)],低温試験の試験温度[JIS C 

0020

の 4.1(試験温度)

,気圧及び時間で決められ,また,もし,減圧試験の要求がある場合には厳しさ

JIS C 0029 の 4.(厳しさ)

,また,最後にこの規格の 8.2.5 に従った耐湿性試験のサイクル数で決める。

6.

前処理  製品規格に規定がない場合,前処理が要求される。前処理の時間は,少なくとも 1 時間測定

及び試験のための標準大気条件におかなければならない。

7.

初期測定  供試品を製品規格に従って外観,寸法及び機能点検をするために提供する。

8.

試験

8.1

概要  三つの方法が規格化されている。試験方法 は,製品規格に規定がない限り優先的に常に使

用しなければならない。

方法 は,供試品は最初に高温にさらし,次に湿度のサイクルにさらされる。次に供試品,又はその封止

部分の表面クラックのどちらかに浸入した水分が氷結し,更に損傷を拡大させるため,直ちに低温にさら

す。その後,減圧(選択試験)が行われた後,耐湿サイクル試験(耐候性カテゴリー−/−/04 及び−/−/10

を除く。)を供試品の封止の点検を完全にするために行う。

方法 は,各 5 回の最終耐湿サイクルの間に低温試験を入れた更に厳しい試験を規定する(耐候性カテゴ

リー−/−/56 だけ)。

方法 は,ロットごとの受入れ試験の短期間の一連耐候性試験を規定することを意図したもので,製品規

格に規定した場合,電子部品品質認証に適用する試験である。

後処理が規定されている場合は,製品規格に規定がない限り測定及び試験のための標準大気条件で行う。

8.2

方法 1  この方法は 5 段階から構成されており(図 参照),そのうちの一つ(8.2.4 の段階 4)は要

求があれば実施する。

8.2.1

段階 1:高温

a)

供試品は,16±0.5h の試験時間で,JIS C 0021 の 7.(試験)に従って

高温試験 Ba を行う。

温度は,製品規格で規定され,耐候性カテゴリーを規定した方がよい。

製品規格に JIS C 0021 の 8.(中間測定)に従って,高温試験の終わりに中間測定を規定してもよい。

これらの測定に費やす時間は試験時間の一部となるものではない。

b)

次に供試品を槽から取り出し,少なくとも 1 時間の後処理を行い,段階 1 が終了する。段階 1 の総時

間は 24±0.5h である。

c)

段階 2 に移る前に 72h(3 日)を超えてはならない。


4

C 0035-1996 (IEC 68-2-61 : 1991)

この期間中の条件は,後処理の条件であり,すなわち,試験のための標準大気条件をいう。

8.2.2

段階 2:耐湿性

a)

供試品を JIS C 0027 の 6.(試験)温湿度サイクル試験の 1 サイクルにさらす。

製品規格に規定がない限り,条件 (Variant) 1 の方法を使用する。製品規格に規定がない限り,上限

温度は 55℃とする。

b)

次に後処理を JIS C 0027 の 8.(後処理)に従って行う。

c)

後処理時間の終了後直ちに供試品を段階 3 の条件におく。

8.2.3

段階 3:低温

a)

供試品を JIS C 0010 の 7.(一連耐候性試験)に従って

低温試験 Aa を行う。温度は製品規格に規定す

る。できれば,120±5min の試験時間を耐候性カテゴリーに規定することを製品規格で規定する。

製品規格には,JIS C 0020 の 8.(中間測定)に従って低温にさらした後,中間測定を規定してもよ

い。これらの測定によって費やされた時間は試験時間の一部となるものではない。

b)

次に供試品を槽から取り出し,JIS C 0020 に従って後処理をする。

c)

段階 5 に進む前に 72h(3 日)を超えてはならない。この期間中の条件は後処理条件であるが,製品規

格に規定のある場合はこの期間中に,自由選択段階である段階 4 が行われる。

8.2.4

段階 4(選択段階):減圧

a)

製品規格に規定があれば,耐候性カテゴリー40/−/−,55/−/−及び 65/−/−の供試品は,JIS C 0029

に従って減圧試験を行う。厳しさは製品規格で規定する。

試験は,製品規格に規定がなければ,15℃から 35℃の間の温度で 60±5min 行う。

製品規格に規定がある場合は,規定の電圧及び手順に従って最後の 5 分間,耐電圧試験を行う。

b)

後処理の時間は,1 時間から 2 時間の間とする。

8.2.5

段階 5:耐湿性試験

a)

試験は,8.2.2 に従って行う。製品規格に規定がない限り,サイクルの数は次の耐候性カテゴリーによ

って決める。

耐候性カテゴリー

−/−/04 及び−/−/10

適用しない

−/−/21 1 サイクル

−/−/56 5 サイクル

b)

製品規格に規定がある場合は,8.2.5 a)に従って試験した供試品を規定したサイクルの完了後,槽から

取り出し,水滴を払い落としてから,次に 15 分間以内に製品規格の規定によって外観,寸法及び機能

検査を行う。

c) 1.5h

から 2h までの後処理の後,製品規格に規定した外観,寸法及び機能検査を行う。

d)

製品規格に延長後処理を規定した場合は,供試品を 24±0.5h の追加の後処理の後製品規格に規定した

外観,寸法及び機能検査を行う。

8.3

方法 2  この方法を製品規格に規定する場合,耐候性カテゴリー−/−/56 の供試品だけに適用する(図

2

参照)

8.3.1

供試品を 8.2.1 から 8.2.4 までに従って試験する。

8.3.2

次に供試品を製品規格の規定に従って

耐湿試験 Db の 1 サイクルと次に 8.2.2 b)の後処理を行う。

8.3.3

耐湿試験の 1 サイクルの次に後処理を行った後,直ちに 8.2.3 に従って低温試験を行う。

8.3.4

8.3.2

及び 8.3.3 に規定した試験を更に,3 回繰り返し,総計 4 サイクル試験を行う。供試品を最終

的に更に,1 サイクルの耐湿試験にさらした後,8.3.2 の規定によって後処理を行う。


5

C 0035-1996 (IEC 68-2-61 : 1991)

72h

(3 日)を超えない単一の時間が許容される。ただし,これは低温試験と引き続く耐湿試験サイクル

との間だけに適用する。

8.3.5

供試品は,次に製品規格に規定したように 8.2.5 b)c)及び d)の手順で試験する。

8.4

方法 3  この方法は,製品規格に規定がある場合だけに適用する(図 参照)。

8.4.1

供試品を 8.2.1 から 8.2.3 までに従って試験する。

8.4.2

製品規格に規定がある場合は,供試品をこの規格の 8.2.4 に示すように JlS C 0029 に従って減圧試

験を行う。

8.4.3

耐候性カテゴリー−/−/−21 及び−/−/56 の供試品は,8.2.2 に従って

耐湿試験 Db の 1 サイクルの

試験を行う。

8.4.4

供試品を製品規格に規定した 8.2.5 b)及び d)に従って試験をする。

9.

後処理  後処理の要求及び条件に関しては,8.に示した三つの方法のうち,8.1 に詳述したようにすれ

ばよい。

10.

最終測定  8.で要求されたように製品規格の規定によって,供試品の外観,寸法及び機能検査を行う。

製品規格に供試品の合否判定の基準になる分類を示さなければならない。

11.

製品規格に規定する事項  この規格の試験が製品規格に規定されている場合は,次の詳細事項を可能

な限り規定する。特に

*印の付いた項は,常に要求されるので注意を払う。

a)

前処理を必要としない場合

6.

b)

初期測定  (*)

7.

c)

方法(方法 1 でない場合)

8.1

d)

後処理

8.1

e)

高温試験の温度  (*)

8.2.1 a)

f)

中間測定

8.2.1 a)

8.2.3 a)

8.2.5 b)

8.3.5

8.4.1

8.4.4

g)

耐湿性試験に対する要求,条件と温度

8.2.2 a)

h)

低温試験の温度  (*)

8.2.3 a)

i)

減圧試験が要求された場合とその条件

8.2.3 c)

8.2.4 a)

j)

減圧試験の厳しさ

8.2.4 a)

k)

耐電圧試験が要求された場合とその条件

8.2.4 a)

l)

耐湿性試験のサイクル数

8.2.5 a)

m)

最終測定  (*)

8.2.5 c)

及び d)

8.3.5

8.4.4


6

C 0035-1996 (IEC 68-2-61 : 1991)

8.2.5 d)

n)

延長された後処理

8.3.5

8.4.4


7

C 0035-1996 (IEC 68-2-61 : 1991)

附属書 A(参考) 

規格作成者のための指針 

A.1

中間測定  規格作成者は,方法 1(8.2 参照)の段階 1 と段階 3 の終わりに行う中間測定を規定するこ

との重要性について関心を示すであろう。中間測定を実施するために要する時間は試験時間に加算しなけ

ればならないので,実際にはいろいろな面倒がかかり,また,通常の作業時間で試験費用を計算する場合

には作業コストの増加もあるであろう。

これらの中間測定は,一連耐候性試験の目的には何の役にも立つものではない。すなわち,一連耐候性

試験というのは,連続する各種気候ストレスを受ける供試品の挙動について試験するためのものである。

中間測定というものは,一般に連続する気候ストレスの中間というよりむしろ他の供試品を同時に実施で

きる独立した個別の試験の代用と考えられる。したがって,中間測定を規定する場合は,十分な考慮を払

わなければならない。

A.2

後処理  供試品が温度平衡に達するまでの時間は,熱慣性による。すなわち,供試品自体の形状,質

量及び構成材料に依存する。この規格の目的に対しては,ほとんどの小形供試品については 1 時間を適切

なものとして選択された。他の供試品,

特に装置に対しては製品規格で適切な規定をすることが望ましい。


8

C 0035-1996 (IEC 68-2-61 : 1991)

附属書 B(参考) 

試験実施上の指針 

B.1

作業計画  試験の順序が正確に行われるように,また,できるだけ実際的で,就業時間内でできるた

めに,異なった作業の周到な計画を立てる必要があることに注目する必要がある。

図 は,方法 1 の例を

示したものである。各段階の間の時間は,固定されたものではないが,段階 1 と段階 3 の終わりに要求さ

れる中間測定時間で決まる。

また,段階 3 の終わりの除霜時間にも依存する。1 時間以上の後処理時間の考慮をするための時間の延

長も要求されるであろう(

図 参照)。

B.2

注意事項  JIS C 0020JIS C 0021JIS C 0027 の注意事項を JIS C 0033 及び JIS C 0095 の指針とと

もに必要に応じて考慮することが望ましい。

B.3  1

台の試験槽の使用  1 台だけの試験槽を使用する場合には,次のような特別な注意が必要である。

すなわち,異なった段階に対して規定した条件が連続的に満足される試験槽とする。それは,前の環境

ストレスを適用した後で,熱慣性のために試験槽内の凝縮水の発生など,試験槽内での後処理の要求を満

足することが困難になるかもしれない。

耐湿性段階と低温段階との間の移行は,もし,供試品を槽内の条件を修正しながら,槽から取り出した

場合にだけ,正確に達成される。事実,耐湿性サイクルに続く後処理の間で発生する乾燥は単に部分的で

あり,次の事項と等価なものではない。すなわち,

−  冷却した槽に供試品を挿入する。すなわち,供試品に付着した水が急激に氷結する場合。又は

−  供試品を入れたまま試験槽を冷却する。すなわち,氷結が起こる前に供試品に付着した水分が取り

除かれているような場合で,冷却過程で何らかの乾燥が発生するような場合。


9

C 0035-1996 (IEC 68-2-61 : 1991)

図 1  方法 及び方法 3

1.  AaBaDb 及び は,JIS C 0020JIS C 0021JIS C 0027及び JIS C 0029の試験方法を参照。項目番号はこ

の規格の項目番号。

2.

*はこの段階で 72h を超えない範囲の間隔が許される。


10

C 0035-1996 (IEC 68-2-61 : 1991)

図 2  方法 2(カテゴリー−//56 だけに適用)

1.  AaBaDb 及び は,JIS C 0020JIS C 0021JIS C 0027及び JIS C 0029の試験方法を参照。項目番号はこ

の規格の項目番号。

2.

*はこの段階で 72h を超えない範囲の間隔が許される。


11

C 0035-1996 (IEC 68-2-61 : 1991)

図 3  方法 の日程の決定について,推奨される形式の使用例

B.1 参照)

1.  最初の四つの欄の中の下線を付けた数字は特別な例に関係するものである。

2.

特別の例の中で耐候性一連試験の終結は火曜になるであろう。

3.

図 は一連耐候性試験を図的に表示したものである。


12

C

 0035-

1996

 (IEC

 68-

2-61

: 1
991)

図 4  耐候性順序の図式表示


13

C 0035-1996 (IEC 68-2-61 : 1991)

原案作成委員会  構成表

(順不同)

氏名

所属

(委員長)

森  川  貞  重

財団法人日本電子部品信頼性センター

(幹事)

高  久      清

工業技術院電子技術総合研究所

古  市  正  敏

工業技術院

加  山  英  男

財団法人日本規格協会

栗  原  正  英

社団法人日本プリント回路工業会

後  藤  恒  人

財団法人日本品質保証機構

小  林      茂

東京都立工業技術センター

山  添  哲  郎

通信機械工業会

篠  崎  輝  夫

財団法人日本ガス機器検査協会

清  水  英  範

社団法人日本電機工業会

鈴  木  俊  雄

財団法人日本電気用品試験所

立  川      明

社団法人日本電子機械工業会

東  條  喜  義

社団法人日本電子工業振興協会

冨  嶋  茂  樹

社団法人関西電子工業振興センター

中  島  一  郎

通商産業省機械情報産業局

中  西  忠  雄

防衛庁

中  村  國  臣

工業技術院電子技術総合研究所

福  島      彰

財団法人日本船舶標準協会

宮  田  昭  博

日本電気計器検定所

岩  田      武

元東京特殊印刷工業株式会社

山  本  圭  一

進工業株式会社

伊  藤  隆  庸

工業技術院

今  井  泰  男

サンケン電気株式会社

岡  本  英  男

沖エンジニアリング株式会社

小山内      聡

財団法人日本電子部品信頼性センター

鈴  木  正  三

双信電機株式会社

福  沢  一  郎

沖電気工業株式会社

村  中  保  夫

株式会社日立製作所

若  林  宗  平

ミツミ電機株式会社

(事務局)

鳴  神  長  昭

財団法人日本電子部品信頼性センター