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C 0024 : 2000 (IEC 60068-2-52 : 1996)

(1) 

まえがき

この規格は,工業標準化法第 14 条によって準用する第 12 条第 1 項の規定に基づき,財団法人日本電子

部品信頼性センター  (RCJ)  及び財団法人日本規格協会  (JSA)  から工業標準原案を具して日本工業規格

を改正すべきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,通商産業大臣が改正した日本工業規格

である。これによって JIS C 0024 : 1989 は改正され,この規格に置き換えられる。


C 0024 : 2000 (IEC 60068-2-52 : 1996)

(1) 

目次

序文

1

1.

  適用範囲及び目的

1

2.

  引用規格

2

3.

  試験の概要

2

4.

  試験装置

2

5.

  塩溶液

3

6.

  厳しさ

3

7.

  初期測定

4

8.

  前処理

4

9.

  試験

4

10.

  後処理(最終サイクル後)

5

11.

  最終測定

5

12.

  製品規格に規定すべき事項

5


日本工業規格

JIS

 C

0024

: 2000

(IEC 60068-2-52

: 1996

)

環境試験方法−電気・電子−

塩水噴霧(サイクル)

試験方法(塩化ナトリウム水溶液)

Environmental testing

  Part 2 : Tests

Test Kb : Salt mist, cyclic (sodium chloride solution)

序文  この規格は,1996 年に第 2 版として発行された IEC 60068-2-52, Environmental testing Part2 : Tests−

Test Kb : Salt mist, cyclic (sodium chloride solution)

を翻訳し,技術的内容を変更することなく作成した日本

工業規格である。

なお,この規格で点線の下線を施してある事項は,原国際規格にはない事項である。IEC 規格番号は,1997

年 1 月 1 日から実施の IEC 規格番号体系によるものであり,これより前に発行された規格についても,規

格番号に 60000 を加えた番号に切り替えた。これは番号だけの切替えであり,内容は同一である。

1.

適用範囲及び目的  この規格は,電気・電子部品,又は機器に適用し,選択した厳しさに応じて,塩

分を含んだ大気に耐えるように設計されたその他の製品にも適用する。塩分は,金属材料及び/又は非金

属材料を使用して製造した部品の性能を劣化させることがある。

金属材料が塩分によって腐食するメカニズムは電気化学的であるが,非金属材料で生じる劣化は,その

材料と塩分の複雑な化学的反応が原因である。反応が起こる速度は,大部分,供試品の表面への酸化塩溶

液の付着量,供試品の温度,周囲温度及び周囲湿度で決まる。

この規格は,腐食効果のほか,塩分の同化作用による非金属材料の劣化を調べる場合にも使用してもよ

い。次の試験手順では,十分に時間を取って塩水を噴霧して,供試品を完全にぬらす。高湿度条件下で放

置した後,このぬらす操作を繰り返すので[

厳しさ(1)及び(2),場合によっては厳しさ(3)から(6)],試験用

標準大気下の放置を加えれば,自然環境から受ける影響を再現することができる。

厳しさ(1)及び(2)は,海上又は海岸で使用する製品の試験に適用する。厳しさ(1)は,大半をそれらの環境

で運用する製品(船上レーダー,デッキ上装置など)の試験に適用することが望ましい。

厳しさ(2)は,と

きに海上で使用することもあるが,通常は容器に保護されている製品(一般に,ブリッジ又は制御室で使

用する航法装置など)の試験に適用することが望ましい。

厳しさ(1)及び(2)は,また,部品品質保証手段における一般腐食試験としても共通に使用される。

厳しさ(3)から(6)は,例えば,自動車及びその部品のように,通常の使用状態で塩分を含んだ大気と乾燥

した大気が頻繁に切り換わるような環境にさらされる製品に適用する。

したがって,

厳しさ(1)及び(2)と比較して,厳しさ(3)から(6)では,標準大気条件での放置が追加されて


2

C 0024 : 2000 (IEC 60068-2-52 : 1996)

いる。

実際には,週末など,運転中断中に乾燥した大気の状態が発生することがある。

厳しさ(3)から(6)にはそ

のような乾燥期間が含まれているので,腐食メカニズムは,一定の湿気中下で起こるものとは全く異なっ

たものになる場合がある。

試験は,一般的な使用条件と比べると加速試験となる。しかし,すべての供試品に対し,総合的な加速

係数を定めることはできない(JIS C 0094 参照)

2.

引用規格  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成す

る。これらの引用規格のうちで,発効年(又は発行年)を付記してあるものは,記載の年の版だけがこの

規格の規定を構成するものであって,その後の改正版・追補には適用しない。

JIS C 0010 : 1993

  環境試験方法−電気・電子−通則

備考  IEC 60068-1 : 1988, Environmental testing−Part 1 : General and guidance が,この規格と一致し

ている。

JIS C 0022 : 1987

  環境試験方法(電気・電子)高温高湿(定常)試験方法

備考  IEC 60068-2-3 : 1969, Environmental testing−Part2 : Tests−Test Ca : Damp heat, steady state が,

この規格と一致している。

JIS C 0094 : 1993

  環境試験方法−電気・電子−大気腐食に対する加速試験−指針

備考  IEC 60355 : 1971, An appraisal of the problems of accelerated testing for atmospheric corrosion が,

この規格と一致している。

3.

試験の概要  厳しさ(1)及び(2)における試験手順は,15℃から 35℃の間の温度で実施する塩水噴霧時

間及びそれに続く温度 40℃±2℃,  相対湿度 (93

2
3


) %

の湿気中での放置時間の規定した回数によって区分

する。

厳しさ(3)(4)(5)及び(6)における試験手順は,規定した試験サイクル数によって区分する。1 試験サイク

ルは,15℃から 35℃の間の温度で実施する塩水噴霧時間及びその直後に続く温度 40℃±2℃,相対湿度

(93

2
3


) %

の湿気中での放置時間を 1 サイクルとする 4 回のサイクル,及びその 4 回のサイクル終了後に続

く温度 23℃±2℃,相対湿度 45%から 55%の標準大気条件での 1 回の放置とから成る。

もし噴霧時間及び放置時間を異なった試験槽内で実施する場合,供試品に付着している塩水が失われな

いように注意するとともに,取扱い中に損傷を与えないように注意しなければならない。

なお,供試品には,塩水噴霧時間中に決して通電してはならない。また,放置時間中も通常は通電しな

い。

4.

試験装置

4.1

塩水噴霧槽  塩水噴霧槽は,塩水噴霧の腐食性に影響を与えないような材料で作られていて,塩水

噴霧槽の詳細な構造及び塩水噴霧の発生方法は,次の条件を必要ならば満足しなければならない。

a)

槽内の条件が,この規格の規定を満足している。

b)

気流の乱れによる影響が少なく一定で,かつ,一様な条件が得られ,また,試験中の供試品によって

槽内条件が影響されない十分な内容積をもつ。

c)

試験中は,ノズルから噴霧が供試品を直撃しないで降りかかる。

d)

槽内の天井,壁又は他の部分にたまった滴が,供試品に落ちてはならない。


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C 0024 : 2000 (IEC 60068-2-52 : 1996)

e)

試験槽は,内圧が上がらないように,また,塩水噴霧の一様な分布が得られるように適切な通気孔を

もち,その排気の終端は,槽内に強い気流を生じるような突風から保護されていなければならない。

4.1.1

噴霧器  噴霧器は,微細な湿った濃い霧を均一に発生できる構造とし,塩溶液に反応しない材料で

作る。

4.1.2

噴霧した塩溶液  噴霧した塩溶液は,再使用してはならない。

4.1.3

空気の供給  圧縮空気を使う場合は,その空気には,噴霧器の入り口で油又はほこりなどの不純物

があってはならない。試験条件を満足させるには,必要に応じて圧縮空気を加湿しなければならない。空

気圧は,使用する噴霧器が,微細な濃い霧を発生させるのに適切な値とする。

塩の付着によって噴霧器が詰まらないように,また,空気をノズルの放出部で相対湿度 85%以上とする

のが望ましい。それには自動的に一定の深さで温水を満たした容器の中に,空気を微細な気泡にして通す

方法がある。この場合の水温は,試験槽の温度より低くしてはならない。

空気圧を調節して,9.2 に規定の塩水噴霧の採取率を保たなければならない。

4.2

湿度槽  湿度槽は,JIS C 0022 の 2.1(2)に規定の温度 40℃±2℃で相対湿度 (93

2
3


) %

を保たなけれ

ばならない。

4.3

標準大気条件の試験槽(室)  試験槽(室)は,JIS C 0010 の 5.2[判定測定,及び判定試験のため

の標準大気条件(判定状態)

]の表の 2 行目,広範囲条件に規定の温度 23℃±2℃で相対湿度 45%から 55%

を保たなければならない。

5.

塩溶液

5.1

5wt%

塩化ナトリウム溶液

5.1.1

試験に使用する塩は,良質の塩化ナトリウムとし,乾燥状態で不純物は 0.3wt%以下,よう化ナト

リウムは 0.1wt%以下とする。

塩溶液濃度は,5wt%±1wt%とする。

塩溶液は,質量比で蒸留水又は脱イオン水 95 に対し塩 5±1%の割合で溶解して作る。

備考  製品規格にその他の塩溶液成分及び特性(密度,pH 値など)を規定してもよい。その場合は,

例えば,海洋環境の特別な影響をシミュレートするように明確に規定する。

5.1.2

塩溶液の pH 値は,水温 20℃±2℃で,6.5 から 7.2 とし,塩溶液調整時,この範囲に保持する。こ

のために希塩酸又は水酸化ナトリウム水溶液を用いて pH 値を調整してもよい。ただし,この場合,塩化

ナトリウム濃度を規定範囲内に保つようにする。

なお,pH 値は,新しい塩溶液ごとに測定する。

6.

厳しさ

6.1

試験の厳しさは,次のとおり規定する。

厳しさ(1)及び(2) : 塩水噴霧及びその後に続く湿度雰囲気条件での保存時間の組合せの回数によっ

て決める。

厳しさ(3)から(6) : 塩水噴霧及びその後に続く湿度雰囲気条件での保存を 4 回繰り返す。それに続い

て標準大気条件に放置する。これを 1 試験サイクルとしての回数を決める。

6.2

次の六つの厳しさから使用する厳しさを製品規格に規定しなければならない。

厳しさ(1)  : 2 時間の塩水噴霧及びそれに続く 7 日間の湿気中放置を 1 サイクルとし,これを 4 回繰

り返す。


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C 0024 : 2000 (IEC 60068-2-52 : 1996)

備考  湿気中放置の時間は,塩水噴霧及び保存を足した時間が 7 日となるように適宜

減少させるのが望ましい。

厳しさ(2)  : 2 時間の塩水噴霧及びそれに続く 20 時間から 22 時間の湿気中保存を 1 サイクルとし,

これを 3 回繰り返す。

厳しさ(3)  : 2 時間の塩水噴霧及びそれに続く 20 時間から 22 時間の湿気中保存を 4 回繰り返した後,

温度 23℃±2℃,相対湿度 45%から 55%の標準大気条件で 3 日間保存し,これを 1 試験

サイクルとし,これを 1 回行う。

厳しさ(4)  : 厳しさ(3)に定めた条件で,2 回繰り返す。

厳しさ(5)  : 厳しさ(3)に定めた条件で,4 回繰り返す。

厳しさ(6)  : 厳しさ(3)に定めた条件で,8 回繰り返す。

6.3

すべての試験の厳しさに対するタイムスケールを

図 に示す。

7.

初期測定  製品規格の規定に基づき,供試品の外観を目視によって調べ,必要ならば電気的測定及び

機械的点検を行う。

8.

前処理  製品規格には,試験直前に適用する洗浄方法を規定し,例えば,油のような一時的な保護皮

膜を除去するかどうかを規定する。

備考  洗浄方法は,供試品に対する塩水噴霧の作用を阻害しないようにし,また,いかなる二次的腐

食の発生もないようにする。試験前の供試品表面にはできるだけ素手で触れないようにする。

9.

試験

9.1

塩水噴霧  供試品を噴霧槽内に置き,温度 15℃から 35℃の範囲で塩溶液を 2 時間噴霧する。

9.2

塩水噴霧の条件  噴霧条件としては,供試品が置かれる全空間内において,任意の位置に設置した

水平採取面積 80cm

2

の清浄な採取容器が,採取時間平均で 1 時間当たり 1.0ml から 2.0ml の溶液を採取す

るものとする。この採取容器は,少なくとも 2 個を使用するものとする。これら採取容器は,供試品でさ

えぎられることなく,また他のいかなるものからの滴下も捕集しない位置に取り付ける必要がある。

備考  噴霧率を校正する場合,正確な測定のためには少なくとも噴霧時間 8 時間を必要とする。

9.3

厳しさ(1)及び(2)  所定の噴霧時間終了後,供試品を湿度槽に移し,JIS C 0022 の 2.1(2)に準じた温

度 40℃±2℃,相対湿度 (93

2
3


) %

に放置する。

9.1

に規定した塩溶液の噴霧,及びこの項でいう放置をもって 1 サイクルとする。

要求される厳しさ,すなわち,サイクル回数及び放置時間は 6.2 に従う。

9.4

厳しさ(3)から(6)  所定の噴霧時間終了後,供試品を湿度槽に移し,JIS C 0022 の 2.1(2)に準じた温

度 40℃±2℃,相対湿度 (93

2
3


) %

に 20 時間から 22 時間放置する。この操作を 4 回繰り返す。

その後,供試品を標準温度 23℃±2℃,相対湿度 45%から 55%に 3 日間放置する。

以上のように 4 回の噴霧時間(9.1 参照)及び湿気中放置時間,引き続く 3 日間の標準大気放置をもって

1

試験サイクルを構成する。

要求される厳しさ及び試験サイクル回数の関係は,6.2 に準じている。

9.5

供試品の移し換え  供試品を噴霧槽から湿度槽へ移し換える場合は,供試品に付着した塩溶液の減

量を最小限に抑える。

備考  噴霧槽が JIS C 0022 の 2.1(2)の湿度や温度を保持できる場合は,供試品を湿気中での放置の時

間中そのまま噴霧槽に置いてもよい。


5

C 0024 : 2000 (IEC 60068-2-52 : 1996)

9.6

供試品の取付け  供試品は,相互に又は他の金属部と接触しないようにし,また,他の供試品に影

響がないように配置する。

10.

後処理(最終サイクル後)  製品規格に供試品を水洗してよいかどうかを規定する。水洗してよい場

合は,水道水を流しながら 5 分間洗い,さらに,蒸留水又は脱イオン水で洗浄してから手で振るか,空気

を吹き付けて水滴を除去する。その後温度 55℃±2℃で 1 時間乾燥し,さらに,冷却のために JIS C 0010

の 5.4.1 に規定する管理された後処理条件に 1 時間以上 2 時間以内置く。

必要がある場合には,製品規格に供試品を水洗及び乾燥するための他の方法を規定する。この場合も,

供試品は,1 時間以上 2 時間以内の間,管理された後処理条件に置く。水洗に使用する水の温度は,35℃

を超えてはならない。

11.

最終測定  供試品は,目視によって検査し,製品規格に規定がある場合は,後処理の前及び(又は)

後に電気的測定及び機械的点検を行う。

製品規格には,供試品の合否判定基準を規定する。

12.

製品規格に規定すべき事項  製品規格にこの試験がある場合,次の事項を規定する。製品規格には,

次にあげた項目の要求事項を記述する。(

*

)

の付いた項目には特に注意をし必ず記述する。

a) 5.1.1

で規定した塩溶液と異なっていればその条件*

 5.

b) 

厳しさ*

 6.

c) 

初期測定

 7.

d) 

前処理

 8.

e) 

後処理

10.

f) 

最終測定*

11.


6

C

 0024 :

 20
00 (IEC

 6

006

8-2-5

2

 : 19

96)

備考  試験サイクルの意味は,6.2 厳しさ(3)を参照。

図 1  試験の厳しさ(1)から(6)に対するタイムスケール


7

C 0024 : 2000 (IEC 60068-2-52 : 1996)

環境試験及び分類 JIS 原案作成 B 委員会  構成表

氏名

所属

(主査)

中  村  国  臣

通商産業省工業技術院電子技術総合研究所

(幹事)

小山内      聡

財団法人日本電子部品信頼性センター

(委員)

小  林  義  昭

通商産業省工業技術院

三  上  和  正

東京都立産業技術研究所

安  藤  健  二

株式会社日立製作所

今  井  泰  男

岩崎情報機器株式会社

熊  倉  久  雄

住友スリーエム株式会社

小  林  吉  一

楠本化成株式会社

鈴  木  正  三

双信電機株式会社

津  崎  靖  憲

ミツミ電機株式会社

梁  池  忠  夫

沖エンジニアリング株式会社

山  市      隆

株式会社平山製作所

山  崎  次  朗

株式会社大西熱学

山  本  圭  一

進工業株式会社

山  本  敏  男

タバイエスペック株式会社

横  井  康  夫

株式会社山崎精機研究所

井  田  貞  夫

株式会社東芝重電技術研究所

(事務局)

喜多川      忍

財団法人日本電子部品信頼性センター

(解説作成者  今井泰男)

JIS

原案作成本委員会  構成表

氏名

所属

(委員長)

池  田  弘  明

株式会社精工技研

(幹事)

高  久      清

通商産業省工業技術院電子技術総合研究所

(委員)

窪  田      明

通商産業省機械情報産業局

中  村  国  臣

通商産業省工業技術院電子技術総合研究所

橋  爪  邦  隆

通商産業省工業技術院

寺  岡  憲  吾

防衛庁装備局

吉  田  裕  道

東京都立産業技術研究所

橋  本      進

財団法人日本規格協会

赤  嶺  淳  一

社団法人日本電機工業会

菅  野  久  勝

日本試験機工業会

工  藤  真一郎

社団法人関西電子工業振興センター

栗  原  正  英

社団法人日本プリント回路工業会

酒  井  善  治 IMV 株式会社

佐々木  喜  七

財団法人日本電子部品信頼性センター

芹  川  寛  治

日本電気計器検定所

鈴  木  俊  雄

財団法人電気安全環境研究所

塚  田  潤  二

社団法人日本電子機械工業会

坪  田  芳  実

株式会社日立製作所

東  條  喜  義

社団法人日本電子工業振興協会

福  西  寛  隆

日本電気株式会社

津  崎  靖  憲

財団法人日本品質保証機構

藤  田  隆  史

東京大学生産技術研究所 2 部

酒  井  昌  利

日本プラスチック工業連盟

三  上  裕  久

資源エネルギー庁公益事業部電力技術課

吉  田  公  一

社団法人日本船舶品質管理協会船舶艤装品研究所

柴  田  和  男

社団法人日本電機工業会


8

C 0024 : 2000 (IEC 60068-2-52 : 1996)

(事務局)

喜多川      忍

財団法人日本電子部品信頼性センター