>サイトトップへ >このカテゴリの一覧へ

C 6575-7

:2016

(1)

目  次

ページ

序文  

1

1

  適用範囲  

1

2

  引用規格  

1

3

  用語及び定義  

3

4

  一般要求事項  

3

5

  標準定格  

3

6

  表示 

4

7

  試験に関する一般事項  

4

8

  寸法及び構造  

9

9

  電気的要求事項  

10

附属書 AA(参考)製造業者によって指定する又は製造業者と試験機関との間の合意に基づく定格, 

    特性値等に関するガイド  

22

附属書 JA(参考)JIS と対応国際規格との対比表  

23


C 6575-7

:2016

(2)

まえがき

この規格は,工業標準化法に基づき,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が制定した日本

工業規格である。

この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。

この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意

を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実

用新案権に関わる確認について,責任はもたない。

JIS C 6575

の規格群には,次に示す部編成がある。

JIS C 6575-1

  第 1 部:ミニチュアヒューズに関する用語及びミニチュアヒューズリンクに対する通則

JIS C 6575-2

  第 2 部:管形ヒューズリンク

JIS C 6575-3

  第 3 部:サブミニチュアヒューズリンク

JIS C 6575-4

  第 4 部:UM ヒューズリンク(UMF)並びにその他の端子挿入形及び表面実装形ヒュ

ーズリンク

JIS C 6575-7

  第 7 部:特殊用途ミニチュアヒューズリンク


日本工業規格

JIS

 C

6575-7

:2016

ミニチュアヒューズ−

第 7 部:特殊用途ミニチュアヒューズリンク

Miniature fuses-Part 7: Miniature fuse-links for special applications

序文 

この規格は,2015 年に第 2 版として発行された IEC 60127-7 を基とし,我が国における特殊用途ミニチ

ュアヒューズリンクの生産状況及び使用実態に適合させるため,技術的内容を変更して作成した日本工業

規格である。

なお,この規格で点線の下線を施してある箇所は,対応国際規格を変更している事項である。変更の一

覧表にその説明を付けて,

附属書 JA に示す。

適用範囲 

この規格は,特殊用途ミニチュアヒューズリンクについて規定する。ただし,JIS C 8269 の規格群を適

用するヒューズを除く。

この規格は,定格電圧 1 000 V 以下,定格電流 30 A 以下及び定格遮断容量 50 kA 以下のヒューズリンク

に適用する。

この規格は,腐食しやすい場所,又は爆発性の雰囲気が存在する特殊な状況にある場所での使用を目的

とする機器に用いるヒューズには適用しない。

この規格は,JIS C 6575-1 の要求事項に追加・置換して,適用する。

特殊用途ミニチュアヒューズリンクは,電気及び電子機器の最終使用者が交換を行うことを前提として

いない。

この規格の目的は,製造業者が指定した特性値(例えば,溶断時間値及び遮断容量値)を確認するため

の特殊用途ミニチュアヒューズリンクに適用する統一した試験方法を確定することである。

注記 1  この規格で規定するヒューズリンクとは,主に機器製造業者が機器組込用として用いるヒュ

ーズリンクである。

注記 2  製造業者によって指定する又は製造業者と試験機関との間の合意に基づく定格,特性値等に

関するガイドは,

附属書 AA に記載する。

注記 3  この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。

IEC 60127-7:2015

,Miniature fuses−Part 7: Miniature fuse-links for special applications(MOD)

なお,対応の程度を表す記号“MOD”は,ISO/IEC Guide 21-1 に基づき,

“修正している”

ことを示す。

引用規格 

次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの


2

C 6575-7

:2016

引用規格のうちで,西暦年を付記してあるものは,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追補を含む。

は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は,その最新版(追補を含む。

)を適用する。

JIS C 6484:2005

  プリント配線板用銅張積層板−耐燃性ガラス布基材エポキシ樹脂

注記  対応国際規格:IEC 61249-2-7:2002,Materials for printed boards and other interconnecting

structures

−Part 2-7: Reinforced base materials clad and unclad−Epoxide woven E-glass laminated

sheet of defined flammability (vertical burning test), copper-clad

(MOD)

JIS C 6575-1

  ミニチュアヒューズ−第 1 部:ミニチュアヒューズに関する用語及びミニチュアヒュー

ズリンクに対する通則

注記  対応国際規格:IEC 60127-1:2006, Miniature fuses−Part 1: Definitions for miniature fuses and

general requirements for miniature fuse-links, Amendment 1:2011

及び Amendment 2:2015(MOD)

JIS C 6575-2

  ミニチュアヒューズ−第 2 部:管形ヒューズリンク

JIS C 6575-3

  ミニチュアヒューズ−第 3 部:サブミニチュアヒューズリンク

JIS C 6575-4

  ミニチュアヒューズ−第 4 部:UM ヒューズリンク(UMF)並びにその他の端子挿入

形及び表面実装形ヒューズリンク

注記  対応国際規格:IEC 60127-4:2005,Miniature fuses−Part 4: Universal modular fuse-links (UMF)

−Through-hole and surface mount types,Amendment 1:2008 及び Amendment 2:2012(MOD)

JIS C 8269

(規格群)  低電圧ヒューズ

JIS C 60068-2-21:2009

  環境試験方法−電気・電子−第 2-21 部:試験−試験 U:端子強度試験方法

注記  対応国際規格:IEC 60068-2-21:2006, Environmental testing−Part 2-21: Tests−Test U: Robustness

of terminations and integral mounting devices

(IDT)

JIS C 60664-1:2009

  低圧系統内機器の絶縁協調−第 1 部:基本原則,要求事項及び試験

注記  対応国際規格:IEC 60664-1:2007,Insulation coordination for equipment within low-voltage

systems

−Part 1: Principles, requirements and tests(IDT)

JIS C 60695-2-12:2013

  耐火性試験−電気・電子−第 2-12 部:グローワイヤ/ホットワイヤ試験方法

−材料に対するグローワイヤ燃焼性指数(GWFI)

注記  対応国際規格:IEC 60695-2-12:2010,Fire hazard testing−Part 2-12: Glowing/hot-wire based test

methods

−Glow-wire flammability index (GWFI) test method for materials(IDT)

JIS C 60695-2-13:2013

  耐火性試験−電気・電子−第 2-13 部:グローワイヤ/ホットワイヤ試験方法

−材料に対するグローワイヤ着火温度指数(GWIT)

注記  対応国際規格:IEC 60695-2-13:2010,Fire hazard testing−Part 2-13: Glowing/hot-wire based test

methods

−Glow-wire ignition temperature (GWIT) test method for materials(IDT)

JIS C 60695-4:2010

  耐火性試験−電気・電子−第 4 部−電気・電子製品のための耐火性試験用語

注記  対応国際規格:IEC 60695-4:2012,Fire hazard testing−Part 4: Terminology concerning fire tests for

electrotechnical products

JIS Z 8601

  標準数

注記  対応国際規格:ISO 3:1973,Preferred numbers−Series of preferred numbers

IEC 60127-6:2014

,Miniature fuses−Part 6: Fuse-holders for miniature fuse-links


3

C 6575-7

:2016

用語及び定義 

用語及び定義は,次を除き,JIS C 6575-1 の箇条 3(用語及び定義)による。

3.1 

特殊用途ミニチュアヒューズリンク(miniature fuse-link for special applications)

JIS C 6575-2

JIS C 6575-3 又は JIS C 6575-4 を適用するものを除き,定格遮断容量 50 kA 以下,幅及び

高さが 12 mm 以下であって,かつ,全長が 50 mm 以下の包装ヒューズリンク。

注記 1  同一特性のヒューズリンクと交換することを確実にするための事前警告が必要なことがあ

る。

注記 2  本体の両端にキャップをもつヒューズリンクは,キャップ以外の端子部材(例えば,リード

線端子,ピン端子及び締付け端子)を全長 50 mm,幅及び高さ 12 mm に含めなくてもよい。

3.2 

t

1

t

2

,…,t

8

溶断特性の限界値。

3.3 

I

70

周囲温度 70  ℃での試験電流。

注記  推奨値は,定格電流又は定格の 0.8 倍若しくは 1.1 倍の電流である。

3.4 

I

test

A 

試験方法 A による耐久試験の試験電流。

注記  推奨値は,定格電流又は定格の 1.05 倍若しくは 1.2 倍の電流である。

3.5 

I

test

B 

試験方法 B による耐久試験の試験電流。

注記  推奨値は,定格電流又は定格の 0.8 倍の電流である。

3.6 

I

OVL

A 

試験方法 A による最大継続ワット損測定のための試験電流。

注記  推奨値は,定格の 1.25 倍,1.35 倍又は 1.5 倍の電流である。

3.7 

I

OVL

B 

試験方法 B による最大継続ワット損測定のための試験電流。

注記  推奨値は,定格電流又は定格の 1.25 倍の電流である。

一般要求事項 

一般要求事項は,JIS C 6575-1 の箇条 4(一般要求事項)による。

標準定格 

次の定格は,試験機関と製造業者との間で合意しなければならない。

−  定格電圧


4

C 6575-7

:2016

−  定格電流(推奨値についてはスタンダードシート 1 を参照)

−  定格遮断容量(交流及び/又は直流)

−  時間−電流特性(定格の 2 倍又は 2.1 倍の電流,及び 10 倍での溶断時間)

次の事項についての合意は,随意でよい。

−  常温より高い周囲温度での試験

−  時間−電流特性(追加で定格の 2.75 倍及び 4 倍の電流での溶断時間)

追加の規定値を,スタンダードシート 1 に規定する。

表示 

表示は,次を除き,JIS C 6575-1 の箇条 6(表示)による。

6.1 

置換  [d)  を,次に置き換える。]

d)

溶断時間−電流特性記号は,適用しない。

注記  この規格は,溶断時間−電流特性記号に関して適用しないため,溶断時間−電流特性記号を表

示することはできない。

追加  [d)  の後に,次を追加する。]

e)

タイプ名

f)

定格遮断容量及びその単位  アンペア(A)又はキロアンペア(kA)

6.2 

削除  (注記 を削除する。)

6.3 

追加  (“6.1 による表示事項”で始まる段落の後に続けて,次の一文を追加する。)

さらに,アンペア(A)又はキロアンペア(kA)単位の定格遮断容量を包装容器上に表示しなければな

らない。

6.4 

置換  (6.4 全て)

特殊用途ミニチュアヒューズリンクの色による表示には,JIS C 6575-1 

附属書 によるカラーバンド

の識別方法は,適用しない。ただし,このカラーバンドとは明確に異なる色表示を使うことができる。こ

の場合,製造業者は関連する情報,例えば色の一覧表を提示しなければならない。

追加 

6.101

  スペースが狭いために表示が困難な場合,関連情報は,最小包装容器及び製造業者の技術文書に明

記することが望ましい。

試験に関する一般事項 

試験に関する一般事項は,次を除き,JIS C 6575-1 の箇条 7(試験に関する一般事項)による。

7.2 

形式試験 

7.2.1 

置換  (7.2.1 全て)

交流用又は直流用の個々の定格電流のヒューズリンクを試験する場合は,51 個のヒューズリンクが必要

であって,そのうち 12 個は予備である。ただし,リード線端子又はピン端子をもつヒューズリンクでは,

6

個の追加サンプル(E1∼E6)が必要となる。このサンプルは,無作為に抽出し,電圧降下順に並べる必


5

C 6575-7

:2016

要はない。必要があれば,このサンプルを 8.3 に規定する試験終了後に追加の予備サンプルとして使用す

ることができる。

試験手順を

表 に示す。

交流用及び直流用の個々の定格電流のヒューズリンクを試験する場合は,63 個のヒューズリンクが必要

であって,そのうち 9 個は予備である。ただし,リード線端子又はピン端子をもつヒューズリンクでは,6

個の追加サンプル(E1∼E6)が必要となる。このサンプルは,無作為に抽出し,電圧降下順に並べる必要

はない。必要があれば,このサンプルを 8.3 に規定する試験終了後に追加の予備サンプルとして使用する

ことができる。

試験手順を

表 に示す。

同形シリーズの最大定格電流であって,交流用又は直流用のヒューズリンクを試験する場合は,51 個の

ヒューズリンクが必要であり,そのうち 22 個は予備である。ただし,リード線端子又はピン端子をもつヒ

ューズリンクでは,6 個の追加サンプル(E1∼E6)が必要となる。このサンプルは,無作為に抽出し,電

圧降下順に並べる必要はない。必要があれば,このサンプルを 8.3 に規定する試験終了後に追加の予備サ

ンプルとして使用することができる。

試験手順を

表 に示す。

同形シリーズの最大定格電流であって,交流用及び直流用のヒューズリンクを試験する場合は,66 個の

ヒューズリンクが必要であり,そのうち 32 個は予備である。ただし,リード線端子又はピン端子をもつヒ

ューズリンクでは,6 個の追加サンプル(E1∼E6)が必要となる。このサンプルは,無作為に抽出し,電

圧降下順に並べる必要はない。必要があれば,このサンプルを 8.3 に規定する試験終了後に追加の予備サ

ンプルとして使用することができる。

試験手順を

表 に示す。

同形シリーズの最小定格電流であって,交流用及び/又は直流用のヒューズリンクを試験する場合は,

38

個のヒューズリンクが必要であり,そのうち 16 個は予備である。

試験手順を

表 に示す。

同形シリーズの中間定格電流であって,交流用及び/又は直流用のヒューズリンクを試験する場合は,

38

個のヒューズリンクが必要であり,そのうち 16 個は予備である。

試験手順を

表 に示す。

7.3 

試験用ヒューズベース 

追加  (“ヒューズリンク”で始まる段落の後に,次を追加する。)

特別なヒューズホルダに装着するように設計されたヒューズリンクは,そのホルダに装着して試験を行

う。

ヒューズリンクを実装し,配線するために試験基板が必要な場合は,

図 又は図 の試験基板を用いな

ければならない。

適切に設計された孔又はソケットに挿入するよう意図されたリード線端子又はピン端子をもつヒューズ

リンクは,

図 の試験基板を用いなければならない。


6

C 6575-7

:2016

基板に表面実装されるヒューズリンクは,

図 の試験基板を用いなければならない。

2

個以上のヒューズリンクを直列にして試験する場合,試験するそれぞれのヒューズリンクの間が 50

mm

以上離れるようにヒューズベースを配置する。ヒューズベース同士,ヒューズベースと電流計,及び

ヒューズベースと電源とを接続する導体は,絶縁銅線とする。各導体の長さは 500 mm,その断面積は定

格電流 6.3 A 以下の場合は約 1 mm

2

,定格電流が 6.3 A を超える場合は約 6 mm

2

とする。

単位  mm

O

:厚さ 0.035 mm の銅はく(5 A を超える定格電流の場合は,0.070 mm)

U

:電圧降下測定接点

D

:φ1 mm(定格電流 6.3 A 以下の場合)

,φ1.5 mm(定格電流 6.3 A を超える場合)

e

:2.5 mm

n

1

:1,2,3 又は 4 

n

:1,2,3…(ヒューズリンクの全長による。

図 1−リード線端子又はピン端子をもつヒューズリンクの標準試験基板 

図 の試験基板は,図 3 a)  のヒューズベースに取り付けなければならない。


7

C 6575-7

:2016

単位  mm

O

:厚さ 0.035 mm の銅はく(5 A を超える定格電流の場合は,0.070 mm)

U

:電圧降下測定接点

W

図 に示す n

1

×に等しい銅はくの幅

小形のヒューズリンクの場合,実際の使用状態を想定し,銅はくの幅を狭くしてもよい。

この場合,その旨を試験報告書及び製造業者の文書に記載する。

P

:端子間距離

R

:スタンダードシート 1 参照

T

:スタンダードシート 1 参照

注記  斜線部に,はんだレジストを塗布する。

図 2−表面実装するヒューズリンクの試験基板 

図 の試験基板は,図 3 b)  のヒューズベースに取り付けなければならない。

ランドは,はんだ付けに適するよう準備する。

結果が同じであることを実証できるならば,機械装置を用いてもよい(9.7 ヒューズリンクの温度には適

用できない。


8

C 6575-7

:2016

単位  mm

a)

  リード線端子又はピン端子をもつヒューズリンク(銅はく面は,下面) 

b)

  表面実装形ヒューズリンク(銅はく面は,上面) 

c)

  黄銅の電極をもつベースの平面図 

A

: 低熱伝導体のベース,厚さ 10 mm

B

: 黄銅の電極,10 mm×10 mm

C

: 定位置にはんだ付けしたヒューズリンク

D

: 固定用ねじ

E

: 端子線を保持する接続ねじ

F

: 標準試験基板(

図 及び図 参照)

G

: ヒューズリンク本体と標準試験基板との間隔(0.5±

0.25

)mm

J

:  銀めっきされた黄銅ワッシャ(2 か所)

K

: 標準試験基板の上面の導電面と接触させるための銀

めっきした黄銅ねじ(2 か所)

図 3−試験用ヒューズベース 

試験基板は,JIS C 6484 に規定するガラス布基材エポキシ樹脂銅張積層板とする。

試験基板の公称厚は,1.6 mm とする。

銅はくの公称厚は,0.035 mm 又は 0.070 mm とする。

銅はくの公称幅は,2.5 mm,5 mm,7.5 mm 又は 10 mm のいずれかとする。

使用した銅はくの公称厚及び公称幅は,試験報告書に記載する。

試験ベースの金属部分は,銅の含有率が 58 %∼70 %の黄銅でなければならない。接点部分には,銀めっ

きをしなければならない。


9

C 6575-7

:2016

7.4 

電源 

追加  (“交流の場合”から始まる段落の後に,次を追加する。)

スタンダードシート 1 に規定する交流用又は直流用のヒューズリンクの試験手順は,

表 による。

スタンダードシート 1 に規定する交流用及び直流用のヒューズリンクの試験手順は,

表 による。

寸法及び構造 

寸法及び構造は,次を除き,JIS C 6575-1 の箇条 8(寸法及び構造)による。

8.2 

構造 

置換  (8.2 全て)

ヒューズエレメントは,容器に完全に内包されていなければならない。

ヒューズリンクは,9.7 に規定する熱並びに JIS C 60695-2-12 及び JIS C 60695-2-13 に規定する炎に耐え

なければならない。

適否は,

次の検査によって判定する。

ただし,

JIS C 60695-4

の 3.78 に規定する小部品に相当する場合は,

適用しない。

ヒューズ本体が,熱可塑性材料(プラスチック)又は有機物を含む材料からなる場合は,次の事項を適

用する。

−  グローワイヤ着火温度指数(GWIT) 775 ℃

−  グローワイヤ燃焼性指数(GWFI) 850 ℃

注記 1  グローワイヤ試験で用いる材料板は,JIS C 60695-2-12 の 4.2 及び JIS C 60695-2-13 の 4.2 

参照。

注記 2  例えば,ガラス及びセラミックスは,GWIT が 775  ℃及び GWFI が 850  ℃より高いと判断で

きる場合には,この要求事項に適合しているとみなされている。

8.3 

端子 

置換  (8.3 全て)

次の要求事項は,リード線端子又はピン端子をもつヒューズリンクにだけ適用する。

ヒューズリンク接触部は,非腐食性の材料,又は適切な防せい処理を施した材料からなり,フラックス

又は非導電性物質がその外面に付着してはならない。

ニッケルめっき又は銀めっきは,黄銅製キャップの防せい処理として適切なものとみなす。

端子は,強固に固定していなければならない。

サンプルは,前処理として,15∼35  ℃の水中に 24 時間浸せき(漬)しておく。

端子は,通常使用中に発生する可能性のある機械的な力に耐えなければならない。ヒューズリンクを所

定の位置に固定し,それぞれの端子に順番に規定した力を加える。試験サンプルは,指定した試験に均等

に振り分ける。

試験は,JIS C 60068-2-21 に従って行う。ただし,試験条件は,次による。

−  引張試験(Ua

1

引張力は,10 N とする。

−  押込み試験(Ua

2

押し力は,2 N とする。

−  曲げ試験(Ub)

曲げ力は,5 N,曲げ回数は,1 回とする。

試験後も,端子は,強固に固定され,電圧降下はスタンダードシート 1 に規定する最大許容値を超えて

はならない。


10

C 6575-7

:2016

電気的要求事項 

電気的要求事項は,次を除き,JIS C 6575-1 の箇条 9(電気的要求事項)による。

9.1 

電圧降下 

追加  (注記 の後に,次を追加する。)

電圧降下の測定には,高インピーダンスの電圧計を用いることが望ましい。電圧降下は,ヒューズリン

クの端子で直接測定するか,又は直接測定が不可能な場合は,ヒューズ本体の直ぐ近くで測定する。

図 及び図 の試験基板を用いる場合,電圧降下は U と示された箇所で測定してもよい。

9.2 

時間−電流特性 

9.2.1 

常温における時間−電流特性 

追加  (“一定電流を維持”から始まる段落の後に,次を追加する。)

製造業者は,上限値 t

2

(定格の 2.1 倍又は 2.0 倍の電流での最大値)及び上限値 t

8

(定格の 10 倍の電流

での最大値)を指定する。

溶断時間の上限値 t

2

は 1 時間以内,上限値 t

8

は 1 秒以内とする。

スタンダードシート 1 に規定する溶断時間の上限値又は下限値の中で,t

1

t

3

t

4

t

5

t

6

及び t

7

は,製造

業者が指定してもよい。

9.2.2 

常温より高い温度での試験 

置換  (9.2.2 全て)

製造業者が指定した場合,JIS C 6575-1 の 9.2.2 に従って,指定した試験電流(I

70

)を用いてこの試験を

実施する。

9.3 

遮断容量 

9.3.1 

試験方法 

追加  (“ミニチュアヒューズの”から始まる段落の後に,次を追加する。)

成形した本体などヒューズリンクを構成する,ある部品が有機絶縁材料の場合は,ヒューズが動作して

から回復電圧を 5 分間維持する。

直流及び交流の標準試験回路は,

図 による。


11

C 6575-7

:2016

a)

  定格遮断容量が 100 A を超えるヒューズリンクの場合 

b)

  定格遮断容量が 100 A 以下のヒューズリンクの場合 

記号の説明

A

: 電流チェック用の取外し可能なリンク

C

: 投入スイッチ

D

: 電源を切り離すためのサーキットブレーカー

F

: 供試ヒューズ

S

: インピーダンスが回路の全インピーダンスの 10 %未満の電源

L

: 空心コイル

R

: 固有電流調整用抵抗

図 4−遮断試験回路 

定格遮断容量(直流及び/又は交流)

,及びそれに伴う時定数又は力率は,製造業者が指定する。ただし,

表 の値は,参考値とする。

定格遮断容量は,35 A 又は定格の 10 倍の電流のいずれか大きい方の電流値以上とする。ただし,製造

業者が指定しない場合,試験回路の力率及び時定数は,

表 による。


12

C 6575-7

:2016

表 1−力率及び時定数 

試験電流

力率

時定数

 100

A

以下

0.95

を超える

1 ms

未満

 100

A

を超え 500

A

以下

0.8

∼0.9

1 ms

∼1.7 ms

 500

A

を超え 1

500

A

以下

0.7

∼0.8

2 ms

∼2.5 ms

 1

500

A

を超え 10

000

A

以下

0.5

∼0.6

4.5 ms

∼5 ms

 10 000 A

を超え 25

000

A

以下

0.3

∼0.4

9 ms

∼10 ms

 25 000 A

を超え 50

000

A

以下

0.2

∼0.3

12.5 ms

∼15 ms

定格遮断容量より小さい固有電流(定格の 5 倍,10 倍,50 倍及び 250 倍の電流)で試験する場合は,回

路のインダクタンスを一定に保ち,抵抗だけを変えて電流を調整する。

9.3.2 

合格判定基準 

追加  (注記の前に,次を追加する。)

ヒューズリンクは,各試験において,次の状態を生じることなく動作しなければならない。

−  ヒューズリンク接触部の融着

−  試験後の表示判読不能

−  肉眼で見えるキャップ外面の孔あき(キャップがある場合)

−  肉眼で見えるヒューズリンク外面の孔あき

−  ヒューズリンク外面の有機絶縁材料の焦げ又は溶融

次の状態は,不適合とみなさない。

−  ヒューズリンク接触部の黒点又は変色

−  ヒューズリンクの小さな変形

−  ヒューズリンクの交換のときに原形をとどめている場合のヒューズリンクのひび割れ

9.3.4 

同形シリーズのヒューズリンクの形式試験 

追加  (“最小定格電流の”で始まる段落の後に,次を追加する。)

中間定格電流のヒューズリンクは,

表 に規定する同形シリーズの中間定格電流に対する試験手順に従

って試験しなければならない。

9.4 

耐久試験 

置換  [a)  の“当該スタンダード”から始まる段落の第一文を,次に置き換える。]

ヒューズリンクに試験電流 I

test

(A)を 1 時間通電し,15 分間電流を停止する。I

test

(A)は,定格電流以

上でなければならない。

置換  [b)  の“その後,”から始まる段落の第一文を,次に置き換える。]

その後,ヒューズリンクに試験電流 I

OVL

(A)を 1 時間通電する。

追加  [c)  の“最後に,”から始まる段落の後に,次を追加する。]

電圧降下は,スタンダードシート 1 に規定する最大値を超えてはならない。

追加 

9.4.101 

常温での耐久試験 

適否は,試験方法 A 又は試験方法 B によって判定する。

試験方法 A 又は試験方法 B のいずれかの選択は,製造業者との合意による。また,I

test

(A)

I

test

(B)

I

OVL

(A)

I

OVL

(B)などの試験電流の選択も同様とする。


13

C 6575-7

:2016

9.4.102 

試験方法 

試験は,JIS C 6575-1 の 9.4 をこの規格の 9.4 で置換又は追加した規定によって行う。

9.4.103 

試験方法 

試験手順は,次による。

a)

ヒューズリンクに直流電流 I

test

(B)を 100 時間通電する。I

test

(B)の最小値は,定格の 0.8 倍の電流

とする。

試験中の電流は,調整値の±1 %の範囲内で一定でなければならない。

次に,ヒューズリンクに直流電流 I

OVL

(B)を 1 時間通電する。

b)

上記 a)  で I

OVL

(B)の 1 時間通電が終了する直前に,ヒューズリンク間の電圧降下を測定する。この

測定値は,最大継続ワット損の計算に用いる。

c)

最後に 9.1 に従って,ヒューズリンク間の電圧降下を再び測定する。試験後の電圧降下の測定値は,

試験前の電圧降下の測定値の 10 %を超えて増加してはならない。また,スタンダードシート 1 に規定

する最大許容値を超えてはならない。

d)

試験後において,表示は,判読可能であって,かつ,ヒューズリンク接触部又は端子のはんだ接合部

に目視で確認できる変化があってはならない。

注記  色の変化は,無視できる。

9.6 

パルス試験 

置換 

パルス試験は,この規格では規定しない。

9.7 

ヒューズリンクの温度 

追加 

9.7.101 

プリント回路基板に使用されるヒューズリンク 

回路基板に実装するように設計したヒューズリンクの適否は,製造業者が指定する試験方法 I 又は試験

方法 II によってヒューズリンクを試験することで判定する。

試験方法 I  試験は,JIS C 6575-1 の 9.7 によるが,最大温度上昇 135 K を,端子は 150 K,プラスチック

材料からなる本体は 135 K に置き換えて試験する。9.4 の試験方法の選択によって異なるが,初期電流は,

I

OVL

(A)又は I

OVL

(B)とする。

ヒューズリンクの溶断前の 30 秒間の測定温度は,無視する。

試験方法 II  周囲温度からの温度上昇は,規定の試験基板にはんだ付けしたヒューズリンクの端子で,

0.21 mm

2

以下の細線熱電対を用いて測定する。

9.4

の試験方法の選択によって異なるが,温度測定は,I

OVL

(A)又は I

OVL

(B)通電中の耐久試験の最後

の 5 分間に行う。温度上昇は,95 K を超えてはならない。

この試験には,ヒューズリンク番号 1∼6 を用いる。

表 のヒューズリンク番号 43∼45 及び表 のヒュ

ーズリンク番号 58∼60 は,追加試験のための予備とする。

9.7.102 

ヒューズホルダとともに使用するヒューズリンク 

専用のヒューズホルダに装着して用いるヒューズリンクは,IEC 60127-6 の箇条 14 に規定する試験を,

要求するダミーヒューズリンクの代わりに当該ヒューズリンクを用いて実施する。

IEC 60127-6

の 14.1 の試験後,12.2 による検査は,実施しない。


14

C 6575-7

:2016

表 2−個々の定格電流に対する試験手順(交流用又は直流用ヒューズリンク) 

箇条番号

内容

ヒューズリンク番号

1

4

7

10

13

16

19

22

25

28

31

34

37

40

43

46

49

E1

b)

E4

b)

3

6

9

12

15

18

21

24

27

30

33

36

39

42

45

48

51

E3

b)

E6

b)

9.7 

ヒューズリンクの温度

×

9.4 

耐久試験

×

×

9.2.2 

常温より高い周囲温度での通電容量試

×

9.2.1 

常温での

10I

N

×

時間−電流特性

4I

N

×

2.75I

N

×

2I

N

又は 2.1I

N

×

9.3 

遮断容量

定格遮断容量

×

定格の 5 倍の電流

5I

N

×

定格の 10 倍の電流

 10I

N

×

定格の 50 倍の電流

a)

 50I

N

×

定格の 250 倍の電流

a)

 250I

N

×

9.3.3 

絶縁抵抗

×

×

×

×

×

8.3 

ヒューズリンクの端子

×

×

8.5 

はんだ接合部

×

×

×

×

×

×

×

6.2 

表示の読みやすさ及び消えにくさ

×

×

×

×

×

記号“×”は,当該試験を実施することを示す。

a)

定格遮断容量以下のときだけ実施する。

b)

端子試験のための追加サンプル(E1∼E6)は無作為に抽出し,電圧降下による並べ換えは必要ない。

14

C

 657

5-7


201

6


15

C 6575-7

:2016

表 3−個々の定格電流に対する試験手順(交流及び直流用ヒューズリンク) 

箇条番号

内容

ヒューズリンク番号

1

4

7

10

13

16

19

22

25

28

31

34

37

40

43

46

49

52

55

58

61 E1

b)

  E4

b)

3

6

9

12

15

18

21

24

27

30

33

36

39

42

45

48

51

54

57

60

63 E3

b)

  E6

b)

9.7 

ヒューズリンクの温度

×

9.4 

耐久試験

×

×

9.2.2 

常温より高い周囲温度での通電容量

試験

×

9.2.1 

常温での

10I

N

×

時間−電流特性

4I

N

×

2.75I

N

×

2I

N

又は 2.1I

N

×

9.3 

遮断容量

定格遮断容量

交流

×

定格遮断容量

直流

×

  定格の 5 倍の電流

  5I

N

−交流

×

  5I

N

−直流

×

  定格の 10 倍の電流

 10I

N

−交流

×

 10I

N

−直流

×

  定格の 50 倍の電流

a)

 50I

N

−交流

×

 50I

N

−直流

×

  定格の 250 倍の電流

a)

  250I

N

−交流

×

250I

N

−直流

×

9.3.3 

絶縁抵抗

×

×

×

×

×

×

×

×

×

×

8.3 

ヒューズリンクの端子

×

×

8.5 

はんだ接合部

×

×

×

×

×

×

×

6.2 

表示の読みやすさ及び消えにくさ

×

×

×

×

×

記号“×”は,当該試験を実施することを示す。

a)

定格遮断容量以下のときだけ実施する。

b)

端子試験のための追加サンプル(E1∼E6)は無作為に抽出し,電圧降下による並べ換えは必要ない。

15

C

 657

5-7


201

6


16

C 6575-7

:2016

表 4−同形シリーズの最大定格電流に対する試験手順(交流用又は直流用ヒューズリンク) 

箇条番号

内容

ヒューズリンク番号

1

7

10

13

18

28

31

34

37

40

43

46

49

E1

a)

E4

a)

6

9

12

17

27

30

33

36

39

42

45

48

51

E3

a)

E6

a)

9.7 

ヒューズリンクの温度

×

9.4 

耐久試験

×

9.2.2 

常温より高い周囲温度での通電容

量試験

×

9.2.1 

常温での

時間−電流特性

10I

N

×

4I

N

×

2.75I

N

×

2.1I

N

×

9.3 

定格遮断容量

交流

×

9.3.3 

絶縁抵抗

×

8.3 

ヒューズリンクの端子

×

×

8.5 

はんだ接合部

×

×

×

×

×

×

6.2 

表示の読みやすさ及び消えにくさ

×

×

×

×

×

記号“×”は,当該試験を実施することを示す。

a)

端子試験のための追加サンプル(E1∼E6)は無作為に抽出し,電圧降下による並べ換えは必要ない。

16

C

 657

5-7


201

6


17

C 6575-7

:2016

表 5−同形シリーズの最大定格電流に対する試験手順(交流用及び直流用ヒューズリンク) 

箇条番号

内容

ヒューズリンク番号

1

7

10

13

18

28

33

43

46

49

52

55

58

61

64

E1

a)

E4

a)

6

9

12

17

27

32

42

45

48

51

54

57

60

63

66

E3

a)

E6

a)

9.7 

ヒューズリンクの温度

×

9.4 

耐久試験

×

9.2.2 

常温より高い周囲温度での通

電容量試験

×

9.2.1 

常温での

時間−電流特性

10I

N

×

4I

N

×

2.75I

N

×

2.1I

N

×

9.3 

定格遮断容量

交流

×

直流

×

9.3.3 

絶縁抵抗

×

×

8.3 

ヒューズリンクの端子

×

×

8.5 

はんだ接合部

×

×

×

×

×

×

6.2 

表示の読みやすさ及び消えに

くさ

×

×

×

×

×

記号“×”は,当該試験を実施することを示す。

a)

端子試験のための追加サンプル(E1∼E6)は無作為に抽出し,電圧降下による並べ換えは必要ない。

17

C

 657

5-7


201

6


18

C 6575-7

:2016

表 6−同形シリーズの最小定格電流に対する試験手順(交流用及び/又は直流用ヒューズリンク) 

箇条番号

内容

ヒューズリンク番号

1

7

10

13

18

23

33

36

6

9

12

17

22

32

35

38

9.4 

耐久試験

×

9.2.1 

常温での時間
−電流特性

10I

N

×

2.0I

N

又は 2.1I

N

×

9.3 

定格遮断容量

交流

×

直流

×

記号“×”は,当該試験を実施することを示す。

表 7−同形シリーズの中間定格電流に対する試験手順(交流用及び/又は直流用ヒューズリンク) 

箇条番号

内容

ヒューズリンク番号

1

7

10

13

18

23

33

36

6

9

12

17

22

32

35

38

9.4 b) / 9.5

最大継続ワット損

a)

×

9.2.1 

常温での時間

−電流特性

10I

N

×

2.0I

N

又は 2.1I

N

×

9.3 

定格遮断容量

交流

×

直流

×

記号“×”は,当該試験を実施することを示す。

a)

最大継続ワット損の算出に用いる電圧降下は,9.4 a)  の 100 回の繰返し通電又は 9.4.103 a)  の 100 時間通電を
実施していないサンプルで測定する。


19

C 6575-7

:2016

特殊用途ヒューズリンク

スタンダード

シート 1

ページ 1

形状

形状は,次による。

定格電圧

a)

V

最小端子間距離

mm

最大寸法

mm

W

高さ

H

長さ

L

12.5

0.4

12

12

50

25

0.45

12

12

50

32

0.48

12

12

50

50

0.53

12

12

50

63

1.1

12

12

50

125

1.3

12

12

50

250

2.5

12

12

50

500

検討中

12

12

50

1 000

検討中

12

12

50

a)

中間値を選択することも可能である。その場合,最小端子間距離は,JIS C 60664-1

による。

どのような形状でもよく,端子が本体から突き出る位置及び端子の形状は,任意とする。

注記  次の図は,主に表面実装形ヒューズリンクの代わりになる形を示す。表面実装形ヒューズリンク以外では,

リード線端子,ピン端子,締付け端子などの付加的な端子部材は全長 50 mm,幅及び高さ 12 mm に含めな

くてもよい。

代わりとなる形状を,次に示す。

注記  最小端子間距離 は,JIS C 60664-1 に基づき,汚損度 2 及び過電圧カテゴリ II(電圧印加時間 1 500 時間

未満)を想定し規定した。

T

及び は規定しないが,表面実装するヒューズリンクの試験基板のランドの大きさは,及び から算出する。


20

C 6575-7

:2016

特殊用途ヒューズリンク

スタンダード

シート 1

ページ 2

最大電圧降下及び最大継続ワット損 

定格電流

最大電圧降下

mV

最大継続ワット損

mW

 32

mA

7 000

1 600

 50

mA

5 000

1 600

 63

mA

4 400

1 600

 80

mA

3 800

1 600

 100

mA

3 500

1 600

 125

mA

2 500

1 600

 160

mA

2 200

1 600

 200

mA

1 800

1 600

 250

mA

1 400

1 600

 315

mA

1 300

1 600

 400

mA

1 000

1 600

 500

mA

900

1 600

 630

mA

800

1 600

 800

mA

600

1 600

 1

A

500

2 500

 1.25

A

400

2 500

 1.6

A

300

2 500

 2

A

300

2 500

 2.5

A

300

2 500

 3.15

A

300

4 000

 4

A

300

4 000

 5

A

300

4 000

 6.3

A

300

4 000

 8

A

220

4 000

 10

A

220

4 000

 12.5

A

180

4 000

 16

A

140

4 000

 20

A

100

4 000

 25

A

規定しない

規定しない

 30

A

規定しない

規定しない

表にない中間の定格電流が必要な場合,JIS Z 8601 に従って,R20 又は R40 シ

リーズから選択する。

製造業者がより低い値を指定した場合,その値を用いる。


21

C 6575-7

:2016

特殊用途ヒューズリンク

スタンダード

シート 1

ページ 3

表示

ヒューズリンクは,箇条 に従って表示する。

溶断時間−電流特性

溶断時間は,次の表の規定する値でなければならない。

2.0I

N

又は 2.1I

N

2.75I

N

4I

N

10I

N

t

1

t

2

t

3

t

4

t

5

t

6

t

7

t

8

70

±2  ℃での試験(製造業者が要求した場合)

試験電流 I

70

を 1 時間通電した場合,ヒューズリンクは,溶断してはならない。

注記  製造業者は,70  ℃を超える試験温度又は 1 時間を超える試験時間を追加で指定することができる。

遮断容量

ヒューズリンクは,9.3 に規定する交流又は直流で試験する。

耐久試験

9.4

に規定する試験方法 A 又は B に従って試験する。

最大継続ワット損

最大継続ワット損は,耐久試験の最後の 10 分間に試験電流 I

OVL

(A)又は I

OVL

(B)で測定する。

このスタンダードシートに規定する値を超えてはならない。

温度上昇試験

ヒューズリンクは,製造業者の指定する 9.7.101 の試験方法 I 若しくは II,又は 9.7.102 に従って試験する。

9.7.101

  試験方法 I

温度上昇は,150 K を超えてはならない。ただし,本体の材料がプラスチックの場合は 135 K とする。

ヒューズリンクが動作する前,30 秒間の温度は無視する。

9.7.101

  試験方法 II

温度上昇は,95 K を超えてはならない。

9.7.102 

ヒューズホルダを用いている場合,プラスチック材料の温度上昇は,その材料の相対温度指数を超えてはならな

い。


22

C 6575-7

:2016

附属書 AA

(参考)

製造業者によって指定する又は製造業者と試験機関との間の

合意に基づく定格,特性値等に関するガイド

A.1

製造業者によって指定する又は製造業者と試験機関との間の合意に基づく定格,特性値等に関する

ガイドは,

表 A.1 に記載する。

表 A.1−製造業者によって指定する又は製造業者と試験機関との間の 

合意に基づく定格,特性値等に関するガイド 

細分箇条

定格,特性値等

注記

9.2 

t

1

t

8

t

2

及び t

8

は指定しなければならない。t

2

及び t

8

は,それぞれ 1 時間

及び 1 秒以内でなければならない(t

2

の最大値は 1 時間,t

8

の最大

値は 1 秒)

t

1

t

3

t

4

t

5

t

6

及び t

7

の指定は任意であり,t

1

及び t

2

は,定格の

2.0

倍又は 2.1 倍の電流の溶断時間とすることができる。

9.2.2 

I

70

70

℃での任意試験の試験電流。電流値は,定格の 0.8 倍,1.0 倍

及び 1.1 倍の電流が望ましい。 
注記  製造業者は,70  ℃を超える試験温度又は 1 時間を超える試

験時間を追加で指定することができる。

9.3 

遮断容量

交流及び/又は直流としてもよい。

定格遮断容量は,35 A 又は定格の 10 倍の電流のいずれか大きい値
以上とする。

9.4

及び 9.5

I

test

(A)又は I

test

(B)

試験方法 A による繰返し通電電流の仕様

I

test

(A)の最小値は,定格電流とする。

試験方法 B による連続通電電流の仕様

I

test

(B)の最小値は,定格の 0.8 倍の電流とする。

I

OVL

(A)又は I

OVL

(B)

耐久試験の試験電流の仕様

9.7.101 

試験方法 I:初期電流

I

OVL

(A)又は I

OVL

(B)

試験方法 II:通電電流

I

OVL

(A)又は I

OVL

(B)

プリント回路基板で用いるヒューズリンクでは,試験方法 I(ステ

ップ試験)

,又は試験方法 II(1 時間の過電流通電)のいずれにす

るか製造業者が決定する。

9.7.102 

試験電流 I

N

ヒューズホルダに装着して用いるヒューズリンクに適用する。

参考文献 JIS 

8269-1

  低電圧ヒューズ−第 1 部:一般要求事項 

注記  対応国際規格:IEC 60269-1:2006,Low-voltage fuses−Part 1: General requirements,

Amendment 1:2009

及び Amendment 2:2014


23

C 6575-7

:2016

附属書 JA

(参考)

JIS

と対応国際規格との対比表

JIS C 6575-7:2016

  ミニチュアヒューズ−第 7 部:特殊用途ミニチュアヒュ

ーズリンク

IEC 60127-7:2015

,Miniature fuses−Part 7: Miniature fuse-links for special applications

(I)JIS の規定

(II)

国際

規格

番号

(III)国際規格の規定

(IV)JIS と国際規格との技術的差異の箇条ごと
の評価及びその内容

(V)JIS と国際規格との技術的差異
の理由及び今後の対策

箇条番号

及び題名

内容

箇条番号

内容

箇条ごと

の評価

技術的差異の内容

1

適用範

適用範囲及び目的を規定

1

JIS

とほぼ同じ

変更

定格電流の上限値の 20 A を 30 A に

変更した。

電気用品の技術上の基準を定める省

令の解釈(以下,技術基準の解釈と
いう。

)の別表第三に規定され,我が

国において広く用いられている定格

電流が 20 A を超える包装ヒューズリ
ンクが存在するため適用範囲を変更

した。

JIS

とほぼ同じ

追加

特殊用途ミニチュアヒューズリン

クは,主に機器組込用とする旨を追
加した。

同一特性でないヒューズリンクを誤

って交換されることのないように規
定を追加した。

図 1 及び

図 2

電気的試験に使用する試

験基板を規定

図 1 及び

図 2

JIS

とほぼ同じ

追加

試験基板の銅はくの寸法は定格電

流の大きさによって変更しなけれ

ば な ら な い も の で あ る が , 本 文
(7.3)には定格電流の大きさによ
って銅はくの厚みを変更する規定

はないため追加した。

IEC 60127

の規格群でも,一般的に

定格電流の大きさで銅はくの寸法を

変えている。JIS C 6575-4 の規定と
同一の銅はくの厚さを明記した。

23

C

 65

75
-7


201

6


24

C 6575-7

:2016

(I)JIS の規定

(II)

国際

規格

番号

(III)国際規格の規定

(IV)JIS と国際規格との技術的差異の箇条ごと
の評価及びその内容

(V)JIS と国際規格との技術的差異
の理由及び今後の対策

箇条番号

及び題名

内容

箇条番号

内容

箇条ごと

の評価

技術的差異の内容

スタンダ

ードシー
ト 1

この規格に規定するヒュ

ーズリンクの特性等を規

スタンダ

ードシー
ト 1

JIS

とほぼ同じ

追加

最大電圧降下及び最大継続ワット

損の表に定格電流 25 A 及び 30 A の
欄を設けた。また,その値は規定し

ないとした。

技術基準の解釈の別表第三に規定さ

れ,我が国において広く用いられて
いる定格電流が 20 A を超える包装ヒ
ューズリンクが存在するため。

JIS

と国際規格との対応の程度の全体評価:IEC 60127-7:2015,MOD

注記 1  箇条ごとの評価欄の用語の意味は,次による。

    −  追加……………… 国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。

    −  変更……………… 国際規格の規定内容を変更している。

注記 2  JIS と国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は,次による。

    −  MOD……………  国際規格を修正している。

24

C

 65

75
-7


201

6