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C 6575-3

:2016

(1)

目  次

ページ

序文  

1

1

  適用範囲  

1

2

  引用規格  

1

3

  用語及び定義  

2

4

  一般要求事項  

2

5

  標準定格  

2

6

  表示  

2

7

  試験に関する一般事項  

3

8

  寸法及び構造  

6

9

  電気的要求事項  

7

10

  スタンダードシート  

17

附属書 JA(参考)JIS と対応国際規格との対比表  

34


C 6575-3

:2016

(2)

まえがき

この規格は,工業標準化法に基づき,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本

工業規格である。これによって,JIS C 6575-3:2005 は改正され,この規格に置き換えられた。

この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。

この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意

を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実

用新案権に関わる確認について,責任はもたない。

JIS C 6575

の規格群には,次に示す部編成がある。

JIS C 6575-1

第 1 部:ミニチュアヒューズに関する用語及びミニチュアヒューズリンクに対する通則

JIS C 6575-2

第 2 部:管形ヒューズリンク

JIS C 6575-3

第 3 部:サブミニチュアヒューズリンク

JIS C 6575-4

第 4 部:UM ヒューズリンク(UMF)並びにその他の端子挿入形及び表面実装形ヒュー

ズリンク

JIS C 6575-7

第 7 部:特殊用途ミニチュアヒューズリンク


日本工業規格

JIS

 C

6575-3

:2016

ミニチュアヒューズ−

第 3 部:サブミニチュアヒューズリンク

Miniature fuses-Part 3: Sub-miniature fuse-links

序文 

この規格は,2015 年に第 3 版として発行された IEC 60127-3 を基とし,主に日本特有のヒューズリンク

を考慮したため,技術的内容を変更して作成した日本工業規格である。

なお,この規格で側線又は点線の下線を施してある箇所は,対応国際規格を変更している事項である。

変更の一覧表にその説明を付けて,

附属書 JA に示す。また,箇条 10 のスタンダードシート J1 及び J2 は,

対応国際規格にはない事項である。

適用範囲 

この規格は,プリント回路に適合するように作られ,かつ,通常,屋内で用いる電気機器,電子機器及

びそれらの部品を保護するためのサブミニチュアヒューズリンクについて規定する。

この規格は,腐食しやすい場所,又は爆発性の雰囲気が存在する特殊な状況にある場所での使用を目的

とする機器に用いるヒューズは適用の対象としない。

この規格は,JIS C 6575-1 の規定に追加して,適用する。

この規格の目的は,JIS C 6575-1 の規定に追加して,サブミニチュアヒューズリンクに適用する特定,

かつ,追加的な試験方法を確定することである。

注記  この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。

IEC 60127-3:2015

,Miniature fuses−Part 3: Sub-miniature fuse-links(MOD)

なお,対応の程度を表す記号“MOD”は,ISO/IEC Guide 21-1 に基づき,

“修正している”

ことを示す。

引用規格 

次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの

引用規格は,その最新版(追補を含む。

)を適用する。

JIS C 6484

  プリント配線板用銅張積層板−耐燃性ガラス布基材エポキシ樹脂

注記  対応国際規格:IEC 61249-2-7,Materials for printed boards and other interconnecting structures−

Part 2-7: Reinforced base materials clad and unclad−Epoxide woven E-glass laminated sheet of

defined flammability (vertical burning test), copper-clad(MOD)

JIS C 6575-1

  ミニチュアヒューズ−第 1 部:ミニチュアヒューズに関する用語及びミニチュアヒュー

ズリンクに対する通則

注記  対応国際規格:IEC 60127-1:2006,Miniature fuses−Part 1: Definitions of miniature fuses and


2

C 6575-3

:2016

general requirements for miniature fuse-links,Amendment 1:2011(MOD)

JIS C 60068-2-21

  環境試験方法−電気・電子−第 2-21 部:試験−試験 U:端子強度試験方法

注記  対応国際規格:IEC 60068-2-21,Environmental testing−Part 2-21: Tests−Test U: Robustness of

terminations and integral mounting devices(IDT)

JIS C 60695-11-5

  耐火性試験−電気・電子−第 11-5 部:試験炎−ニードルフレーム(注射針バーナ)

試験方法−装置,試験炎確認試験装置の配置及び指針

注記  対応国際規格:IEC 60695-11-5,Fire hazard testing−Part 11-5: Test flames−Needle-flame test

method−Apparatus, confirmatory test arrangement and guidance(IDT)

ISO 3

,Preferred numbers−Series of preferred numbers

用語及び定義 

この規格で用いる用語及び定義は,JIS C 6575-1 の箇条 3(用語及び定義)による。

一般要求事項 

一般要求事項は,JIS C 6575-1 の箇条 4(一般要求事項)による。

標準定格 

標準定格は,JIS C 6575-1 の箇条 5(標準定格)による。

表示 

表示は,次を除き,JIS C 6575-1 の箇条 6(表示)による。

6.1 

追加[a)  の“1 A 未満では”で始まる段落の後に,次を追加する。]

スタンダードシート J1 又は J2 に規定するサブミニチュアヒューズリンクには,

定格電流にその単位

(mA

又は A)を併せて表示しなければならない。ただし,定格電流の表示位置は,定格電圧の表示の直前にす

る必要はない。

さらに,溶断種別記号を表示する旨をスタンダードシートに規定する場合は,各サブミニチュアヒュー

ズリンクに,次の溶断種別記号を表示しなければならない。

−  A 種:

A 又は“A”

−  B 種:

B 又は“B”

−  特殊溶断:

“J”又はスタンダードシート番号(J1 又は J2)

溶断種別記号として“A”又は“B”を表示する場合は,定格電流の直前に表示しなければならない。

6.3 

追加(“なお,この包装容器に”で始まる段落の後に,次を追加する。)

さらに,スタンダードシート J1 又は J2 に規定するサブミニチュアヒューズリンクの場合,包装容器に

次の事項を表示しなければならない。

−  定格遮断容量

−  溶断種別が特殊溶断の場合,最小溶断電流及び溶断時間

6.4 

追加(“この付加的な”で始まる段落の後に,次を追加する。)

スタンダードシート 3 及び 4 に規定するサブミニチュアヒューズリンクの場合,ヒューズリンク装着後

に見えるように,そのトップ面に,定格電流,定格電圧及び溶断時間−電流特性の表示をしてもよい。


3

C 6575-3

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追加(次の細分箇条を追加する。)

6.5

スペースが狭いために表示が困難な場合には,関連情報を最小包装容器及び製造業者の技術文書に

明記することが望ましい。

試験に関する一般事項 

試験に関する一般事項は,次を除き,JIS C 6575-1 の箇条 7(試験に関する一般事項)による。

7.2.1 

追加(“追加試験などは,”で始まる段落の後に,次を追加する。)

スタンダードシート 1 及び 2 に規定するサブミニチュアヒューズリンクの個別の定格電流を試験する場

合は,66 個のサブミニチュアヒューズリンクが必要であって,その中で 12 個は予備とする。試験手順は,

表 に示す。

スタンダードシート 3 及び 4 に規定するサブミニチュアヒューズリンクの個別の定格電流を試験する場

合は,51 個のサブミニチュアヒューズリンクが必要であって,その中で 12 個は予備とする。試験手順は,

表 に示す。

スタンダートシート 1 及び 2 に規定するサブミニチュアヒューズリンクで,同形シリーズの最大定格電

流を試験する場合は,56 個のサブミニチュアヒューズリンクが必要であって,その中で 22 個は予備とす

る。試験手順は,

表 に示す。

スタンダードシート 3 及び 4 に規定するサブミニチュアヒューズリンクで,同形シリーズの最大定格電

流を試験する場合は,51 個のサブミニチュアヒューズリンクが必要であって,その中で 22 個は予備とす

る。試験手順は,

表 に示す。

同形シリーズの最小定格電流を試験する場合は,38 個のサブミニチュアヒューズリンクが必要であって,

その中で 16 個は予備とする。試験手順は,

表 に示す。表 1∼表 に基づき試験する場合は,上記に加え

て端子試験に用いる 6 個(E1∼E6)のサブミニチュアヒューズリンクが必要である。

サブミニチュアヒューズリンクは,次の e)  の項目による試験又は検査を,7.2.1 に規定する項目に追加

して行う。

e)

サブミニチュアヒューズリンクの端子(8.3

スタンダードシート J1 及び J2 に規定するサブミニチュアヒューズリンクで,個別の定格電流又は同形

シリーズの最大定格電流を試験する場合,サブミニチュアヒューズリンクは,

表 5A に示す試験手順に従

って試験を行う。この場合,必要なサブミニチュアヒューズリンク及び予備のサブミニチュアヒューズリ

ンクの数は,次のとおりとする。

−  低遮断容量サブミニチュアヒューズリンクの場合,必要なサブミニチュアヒューズリンクの数は 45

個,その中で 18 個は予備とする。

−  中遮断容量サブミニチュアヒューズリンクの場合は,次による。

・  消弧剤を用いる場合,必要なサブミニチュアヒューズリンクの数は 51 個,その中で 18 個は予備と

する。

・  消弧剤を用いない場合,必要なサブミニチュアヒューズリンクの数は 45 個,その中で 18 個は予備

とする。

−  低遮断容量サブミニチュアヒューズリンク及び消弧剤を用いない中遮断容量サブミニチュアヒューズ

リンクでは,定格遮断容量だけの遮断試験を行い,定格電流の 5 倍の電流での遮断試験は行わない。

ヒューズリンク番号 28∼33 の 6 個のサブミニチュアヒューズリンクは不要となる(

表 5A 参照)。


4

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−  同形シリーズの最小定格電流を試験する場合,サブミニチュアヒューズリンクは,

表 5B に示す試験

手順に従って試験を行う。この場合に必要なサブミニチュアヒューズリンクの数は 27 個であって,そ

の中で 6 個は予備とする。

−  特殊溶断の溶断試験は,定格電流及び最小溶断電流で行う。そのため,

表 5A のヒューズリンク番号

40∼42 及び表 5B のヒューズリンク番号 22∼24 のサブミニチュアヒューズリンクは予備とする。

7.2.2 

追加[“7.2.1 d) の結果に基づいて”で始まる段落の“すなわち,”で始まる第 2 文の後に続けて,

次を追加する。

ただし,スタンダードシート J1 及び J2 に規定するサブミニチュアヒューズリンクでは,電圧降下の大

きいものから順次一連番号を付ける必要はない。

7.3 

試験用ヒューズベース  置換(7.3 全て)

ヒューズリンクは,はんだ付けによって,

図 に示す標準試験基板に実装しなければならない。

この標準試験基板は,

図 の試験基板用標準試験ベースに取り付ける。基板は,JIS C 6484 に規定する

ガラス布基材エポキシ樹脂銅張積層板とする。

基板の公称厚は,1.6 mm とする。

銅はく(箔)の公称厚は,定格電流が 5 A 以下の場合は 0.035 mm とし,定格電流が 5 A を超える場合は

0.07 mm でなければならない。

ヒューズベースの金属部分は,銅の含有率が 58∼70 %の黄銅製とする。接点部分には,銀めっきをしな

ければならない。

スタンダードシートによる相違は,次による。

a)

スタンダードシート 1∼4 に規定するサブミニチュアヒューズリンクの場合であって,2 個以上のサブ

ミニチュアヒューズリンクを直列にして試験する場合,試験するそれぞれのヒューズリンクの間が 50

mm 以上離れるようにヒューズベースを配置しなければならない。ヒューズベース同士,ヒューズベ

ースと電流計,及びヒューズベースと電源とを接続する導体は,絶縁銅線でなければならない。各銅

線の長さは 250 mm,断面積は約 1 mm

2

とする。

b)

スタンダードシート J1 又は J2 に規定するサブミニチュアヒューズリンクの場合であって,2 個以上

のサブミニチュアヒューズリンクを直列にして試験する場合,試験するそれぞれのヒューズリンクの

間が 150 mm 以上離れるようにヒューズベースを配置しなければならない。定格電流が 10 A 以下のサ

ブミニチュアヒューズリンクを試験する場合は,断面積 2 mm

2

の銅線を用いなければならない。定格

電流が 10 A を超えるサブミニチュアヒューズリンクを試験する場合は,断面積 8 mm

2

の銅線を用いな

ければならない。各端子線の長さは,約 1 m とする。


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C 6575-3

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単位  mm

図 1A 

図 1B

注記  最小ランドスペース(m

が 2 未満の場合)は,検討中。この場合,端子を通す孔の直径の“1.5 mm”を“1.0

mm”にすることが望ましい。

記号の説明

O: 厚さ 0.035 mm の銅はく(箔)(定格電流が 5 A を超える場合,0.070 mm) 
U: 電圧降下測定用接点 
e

: 2.54 mm

n

:  1,2,3…(ヒューズリンクの長さに依存する。

n

1

=1  (定格電流 5 A 以下のヒューズリンクの場合)

n

1

=2  (定格電流 5 A を超えるヒューズリンクの場合)

ただし,スタンダードシート J1 及び J2 で規定する定格電流が 10 A を超え,15 A 以下のサブミニチュアヒュ
ーズリンクの場合には,銅はく(箔)の幅は 7.5 mm とする。

図 1−標準試験基板(7.3 参照) 


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C 6575-3

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単位  mm

記号の説明

A: 熱伝導の低い材料のベース,厚さ 10 mm 
B: 10 mm 角の黄銅電極 
C: はんだ付けしたサブミニチュアヒューズリンク 
D: 固定ねじ 
E: 端子線を保持する接触ねじ 
F: プリント回路基板(図 参照) 
G: サブミニチュアヒューズリンクの本体と基板との間のスペース(ピン端子 0.5±0.25 mm,リード線端子 1 mm)
H: ベースと 10 mm 角の黄銅電極の平面図

図 2−試験基板用標準試験ベース(7.3 参照) 

寸法及び構造 

寸法及び構造は,次を除き,JIS C 6575-1 の箇条 8(寸法及び構造)による。

8.2 

構造  追加(本文末尾に,次を追加する。)

サブミニチュアヒューズリンクは,JIS C 6575-1 の 9.7(ヒューズリンクの温度)による耐熱性をもち,

更に JIS C 60695-11-5(ニードルフレーム試験)による耐火性をもっていなければならない。

試験炎の適用時間は,10 秒とする。

ガラス又はセラミックには,適用しない。

適否は,9.7 によって判定する。

この規格では,サブミニチュアヒューズリンクの本体が,ガラス,セラミック又は類似の非燃焼性の材

料で作られているという前提に基づいている。他の材料(例えば,スタンダードシート 2,3 又は 4 に示し

ている任意採用の絶縁スリーブ又はエポキシコーティング若しくは類似の材料)に関しては,追加の試験

を検討中である。

8.3 

端子  追加(“接着強度の試験は,”で始まる段落の後に,次を追加する。)

サブミニチュアヒューズリンクの端子は,サブミニチュアヒューズリンクを破壊しない限り取り外せな


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C 6575-3

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いほど強固に固定していることが望ましい。

サンプルは,前処理として 15∼35  ℃の水中に 24 時間浸せきしておく。

端子は,通常使用中に発生する可能性のある機械的な力に耐えなければならない。サブミニチュアヒュ

ーズリンクを所定の位置に固定し,通常の周囲温度において,各端子に順次この規格で規定している力を

加える。これらの力は,徐々に加えなければならない。試験サンプルのグループを,当該スタンダートシ

ートに規定する端子試験に均等に振り分けなければならない。

注記  対応国際規格では,曲げ試験に対して,端子の軸方向に力を加える旨を規定しているが,端子

の軸方向への力を加えて行うことはできないことが自明であるため,この規格では,その旨の

規定を削除した。

試験は,JIS C 60068-2-21 に従って行う。ただし,試験条件は,次による。

−  引張試験(Ua

1

引張力は,10 N とする。

−  押込み試験(Ua

2

押込み力は,2 N とする。

−  曲げ試験(Ub)

必要な場合,曲げ力は 5 N,曲げ回数は 1 回とする。

試験後も,サブミニチュアヒューズリンクの端子は,強固に固定され,電圧降下は,当該スタンダード

シートに規定する最大許容値を超えてはならない。

8.4 

端子のアライメント及び形状  置換(8.4 全て)

サブミニチュアヒューズリンクの端子は,

孔の中心間隔が 2.54 mm のグリッドシステムのプリント基板,

又は 2.54 mm のグリッドシステムに適合する端子間距離をもつヒューズベースに,容易に装着できるよう

に設計しなければならない。

注記  孔の中心間隔に 2.54 mm を用いている場合,回路を開いた状態としては十分な沿面距離又は空

間距離にならないことがあることに注意が必要である(JIS C 6575-4 の 8.4 

注記 参照)。

電気的要求事項 

電気的要求事項は,次を除き,JIS C 6575-1 の箇条 9(電気的要求事項)による。

9.1 

電圧降下  追加(注記 の前に,次の本文を追加する。)

電圧降下の測定には,高インピーダンスの電圧計を用いることが望ましい。電圧降下は,

図 の U で示

した箇所で測定しなければならない。

9.3 

遮断容量 

9.3.1 

試験方法  追加(“ミニチュアヒューズの”で始まる最終段落の後に,次を追加する。)

スタンダードシート 1∼4 に規定するサブミニチュアヒューズリンクの交流及び直流用標準試験回路を,

図 に示す。

当該スタンダードシートが交流の使用を定めている場合には,

回路の力率は,

0.95 を超えるものとする。

この力率を得るために,回路電流は,インダクタンスを無視できる抵抗器を用いて調整しなければならな

い。

スタンダードシート J1 又は J2 に規定するサブミニチュアヒューズリンクの遮断試験は,

図 3A に示す試

験回路を用いて,次の電流について行い,投入角はランダムとする。

−  低遮断容量サブミニチュアヒューズリンクは,定格遮断容量 100 A とする。

−  中遮断容量サブミニチュアヒューズリンクは,次による。

・  消弧剤を用いないものは,定格遮断容量(300 A 又は 500 A)とする。

・  消弧剤を用いるものは,定格遮断容量(300 A 又は 500 A)及び定格電流の 5 倍の電流とする。


8

C 6575-3

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定格遮断容量での試験回路の力率は 0.7∼0.8 とし,定格遮断容量より小さい固有電流に対しては回路の

インダクタンスを一定に保ち,電流調整は抵抗だけを変化させて行う。

記号の説明

A: 電流チェック用,取外し可能なリンク 
C: 投入スイッチ 
D: 電源切離し用スイッチ 
F: 供試ヒューズ 
S: インピーダンスが回路の全インピーダンスの 10 %未満の電源 
R: 固有電流調整用直列抵抗

図 3−低遮断容量サブミニチュアヒューズリンクの遮断容量試験用標準回路(9.3 参照) 

記号の説明

A  電流チェック用,取外し可能なリンク 
C  投入スイッチ 
D  電源切離し用サーキットブレーカ 
F  供試ヒューズ 
S  インピーダンスが回路の全インピーダンスの 10 %未満の電源 
L  インダクタンス 
R  抵抗

図 3A−遮断容量試験用標準回路 

(スタンダードシート J1 又は J2 に規定するサブミニチュアヒューズリンクに適用) 

9.3.2 

合格判定基準  追加(注記の前に,次の本文を追加する。)

サブミニチュアヒューズリンクは,JIS C 6575-1 に規定する不適合の基準に加え,各試験において,次

のような現象が生じることなく動作しなければならない。

−  接点又は端子との融着

−  試験後の表示判読不能

−  肉眼で見える外表面の孔あき


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C 6575-3

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次の状態は,不適合とみなさない。

−  サブミニチュアヒューズリンクの端子上の黒点

−  サブミニチュアヒューズリンクの端子の小さな変形

−  サブミニチュアヒューズリンクのひび割れ

9.3.3 

絶縁抵抗  追加(本文末尾に,次を追加する。)

スタンダードシート J1 又は J2 に規定するサブミニチュアヒューズリンクの場合,遮断試験後及び溶断

試験(9.2 参照)後に絶縁抵抗の測定を行う。絶縁抵抗は,500 V 絶縁抵抗計で測定し,0.2 MΩ 以上でな

ければならない。

9.4 

耐久試験 

追加 

9.4.1 

通常の周囲温度における耐久試験 

サブミニチュアヒューズリンクの適否は,当該スタンダードシートの規定に従って,9.4.2 の試験方法 A

又は 9.4.3 の試験方法 B を行って判定する。

9.4.2 

試験方法 

JIS C 6575-1

の 9.4 の a)d)  による。

9.4.3 

試験方法 

試験方法 B は,次による。

a)

当該スタンダードシートに定める直流電流を,100 時間サブミニチュアヒューズリンクに通電する。

試験中の電流は,調整値の±1 %とする。次に,定格電流を 1 時間通電する。

b)

最後に,9.1 に従ってサブミニチュアヒューズリンクの電圧降下を再測定する。この測定値は,最大継

続ワット損の計算に用いる。

c)

b)

で測定した電圧降下の値は,試験前の測定値の 10 %を超えて増加してはならない。また,当該ス

タンダードシートに規定する最大許容値を超えてはならない。

d)

試験後において,表示は,判読可能であり,かつ,キャップなどのはんだ接合部などは,目視で確認

できる損傷があってはならない。

注記  色の変化は,無視できる。

9.7 

ヒューズリンクの温度  置換(9.7 全て)

ヒューズリンクは,次によって試験する場合,端子が試験基板の孔に入るところの温度を測定し,その

温度上昇は,150 K 以下でなければならない。また,プラスチック製の本体の温度上昇は,135 K を超えて

はならない。ただし,ガラス製又はセラミック製の本体の場合は,適用しない。

−  初期電流は,スタンダードシートに規定する値とする。

−  初期電流を 15 分間通電後,通電電流を 15 分ごとに定格電流の 0.1 倍ずつヒューズリンクが溶断する

まで増やす。

−  ヒューズリンクの温度は,連続して測定する。

−  ヒューズリンクの溶断前 30 秒間の測定温度は,無視する。

−  温度上昇測定には,測定温度に著しい影響を与えない熱電温度計法又は他の測定方法を用いなければ

ならない。熱電対の素線の断面積は,0.05 mm

2

(AWG 30)を超えてはならない。

注記  (対応国際規格の注記の内容は,規定であるため,本文に移した。)

スタンダードシート J1 又は J2 に規定するサブミニチュアヒューズリンクは,上記の試験に代えて耐久


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C 6575-3

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試験の最後の 10 分間に次の試験を行う。

サブミニチュアヒューズリンク本体の温度上昇を熱電温度計法によって測定する。

温度上昇は,140 K 以下でなければならない。ただし,ヒューズリンク本体に次に示す材料を用いる場

合は,本体中央部の温度上昇は,次に規定する値以下でなければならない。

a)

熱硬化性樹脂の場合。

・  フェノール樹脂:120 K

・  エポキシ樹脂:100 K

b)

熱可塑性樹脂の場合。

・  ポリアミド:60 K

・  ポリカーボネート:80 K

・  ポリブチレンテレフタレート:90 K


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C 6575-3

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表 1−個別の定格電流に対する試験手順 

(スタンダードシート 又は に規定するサブミニチュアヒューズに適用) 

項目番号

内容

サブミニチュアヒューズリンク番号

1

4

7

10 13 16 19 22 25 28  31 34 37 40 43 46 49 52 55 58 61 64

E1

b)

E4

b)

2

5

8

11

14 17 20 23 26 29  32 35 38 41 44 47 50 53 56 59 62 65

E2

b)

E5

b)

3

6

9

12 15 18 21 24 27 30  33 36 39 42 45 48 51 54 57 60 63 66

E3

b)

E6

b)

9.7 

ヒューズリンクの温度

×

9.4 

耐久試験

×

×

9.2.1

a)

常温における

時間/電流特性

10I

N

×

4.0I

N

×

2.75I

N

×

2.0I

N

×

1.0I

N

×

9.3 

遮断容量:

定格遮断容量

 50

A

×

定格遮断容量

 50

A

×

定格の 5 倍の電流

5I

N

  ∼

×

定格の 5 倍の電流

5I

N

×

定格の 10 倍の電流

 10I

N

  ∼

×

定格の 10 倍の電流

 10I

N

×

定格の 50 倍の電流

 50I

N

  ∼

×

定格の 50 倍の電流

 50I

N

×

定格の 250 倍の電流

 250I

N

  ∼

×

定格の 250 倍の電流

 250I

N

×

9.3.3 

絶縁抵抗

×

×

×

×

×

×

×

×

×

×

8.3 

端子

×

×

8.5

a)

はんだ接合部

×

×

×

×

×

×

×

6.2

a)

表示の読みやすさ及び消えにくさ

×

×

×

×

×

記号“×”は,当該試験を実施することを示す。

a)

  JIS C 6575-1 の細分箇条。

b)

  端子試験のための追加サンプル(E1∼E6)は無作為に抽出し,電圧降下によって並べ換える必要はない。

11

C

 65

75
-3


201

6


12

C 6575-3

:2016

表 2−個別の定格電流に対する試験手順 

(スタンダードシート 及び に規定するサブミニチュアヒューズに適用) 

項目番号

内容

サブミニチュアヒューズリンク番号

1

4

7

10

13

16

19  22  25

28

31

34

37

40

43

46

49

E1

d)

E4

d)

2

5

8

11

14

17

20  23  26

29

32

35

38

41

44

47

50

E2

d)

E5

d)

3

6

9

12

15

18

21  24  27

30

33

36

39

42

45

48

51

E3

d)

E6

d)

9.7 

ヒューズリンクの温度

×

9.4 

耐久試験

×

×

9.2.2

c)

高温試験

a)

×

9.2.1

c)

常温における 
時間/電流特性

10I

N

×

4.0I

N

×

2.75I

N

×

2.1I

N

×

9.3 

遮断容量:

定格遮断容量

b)

35 A 又は 10I

N

×

定格の 5 倍の電流

5I

N

×

定格の 10 倍の電流

 10I

N

×

定格の 50 倍の電流

 50I

N

×

定格の 250 倍の電流

 250I

N

×

9.3.3 

絶縁抵抗

×

×

×

×

×

8.3 

端子

×

×

8.5

c)

はんだ接合部

×

×

×

×

×

×

×

6.2

c)

表示の読みやすさ及び消えにくさ

×

×

×

×

×

記号“×”は,当該試験を実施することを示す。

a)

  関連するスタンダードシートで指示がある場合だけに適用。

b)

  いずれか大きい方を選択

c)

  JIS C 6575-1 の細分箇条。

d)

  端子試験のための追加サンプル(E1∼E6)は無作為に抽出し,電圧降下によって並べ換える必要はない。

12

C

 65

75
-3


201

6


13

C 6575-3

:2016

表 3−同形シリーズの最大定格電流に対する試験手順 

(スタンダードシート 及び に規定するサブミニチュアヒューズリンクに適用) 

項目番号

内容

電圧降下の大きい順に付けたヒューズリンク番号

1-6



9

10
11 
12

13-17 18-22 23-32

33 
34 
35

36
37
38

39
40
41

42
43
44

45
46
47

48
49
50

51
52
53

54
55
56

E1

b)

E2

b)

E3

b)

E4

b)

E5

b)

E6

b)

9.7 

ヒューズリンクの温度

×

9.4 

耐久試験

×

9.2.1

a)

時間−電流特性

10I

N

×

4I

N

×

2.75I

N

×

2.0I

N

×

1.0I

N

×

9.3 

定格遮断容量

交流 50 A

×

直流 50 A

×

9.3.3

絶縁抵抗

×

×

8.3 

端子

×

×

8.5

a)

はんだ接合部

×

×

×

×

×

×

×

6.2

a)

表示の読みやすさ及び消えにくさ

×

×

×

×

×

記号“×”は,当該試験を実施することを示す。

a)

  JIS C 6575-1 の細分箇条。

b)

  端子試験のための追加サンプル(E1∼E6)は無作為に抽出し,電圧降下によって並べ換える必要はない。

13

C

 65

75
-3


201

6


14

C 6575-3

:2016

表 4−同形シリーズの最大定格電流に対する試験手順 

(スタンダードシート 及び に規定するサブミニチュアヒューズに適用) 

項目番号

内容

電圧降下の大きい順に付けたヒューズリンク番号

1-6



9

10 
11 
12

13-17 18-27

28 
29 
30

31 
32 
33

34 
35 
36

37 
38 
39

40 
41 
42

43 
44 
45

46 
47 
48

49 
50 
51

E1

c)

E2

c)

E3

c)

E4

c)

E5

c)

E6

c)

9.7 

ヒューズリンクの温度

×

9.4 

耐久試験

×

9.2.2

a)

高温試験

b)

×

9.2.1

a)

時間−電流特性

10I

N

×

4I

N

×

2.75I

N

×

2.1I

N

×

9.3 

定格遮断容量

交流

×

9.3.3

絶縁抵抗

×

8.3 

端子

×

×

8.5

a)

はんだ接合部

×

×

×

×

×

×

6.2

a)

表示の読みやすさ及び消えにくさ

×

×

×

×

×

記号“×”は,当該試験を実施することを示す。

a)

  JIS C 6575-1 の細分箇条。

b)

  関連するスタンダードシートで指示がある場合だけに適用。

c)

  端子試験のための追加サンプル(E1∼E6)は無作為に抽出し,電圧降下によって並べ換える必要はない。

14

C

 65

75
-3


201

6


15

C 6575-3

:2016

表 5−同形シリーズの最小定格電流に対する試験手順 

(スタンダードシート 1に規定するサブミニチュアヒューズリンクに適用) 

項目番号

内容

電圧降下の大きい順に付けたヒューズリンク番号

1-6



9

10 
11 
12

13-17 18-22  23-32

33 
34 
35

36 
37 
38

9.4 

耐久試験

×

9.2.1

a)

時間−電流特性  10I

N

×

2.0I

N

又は 2.1I

N

×

9.3 

定格遮断容量

交流

×

直流(適用できる場合)

×

記号“×”は,当該試験を実施することを示す。

a)

  JIS C 6575-1 の細分箇条。


16

C 6575-3

:2016

表 5A−試験手順 

(スタンダートシート J1 又は J2 のサブミニチュアヒューズリンクに適用)[7.2.1 の b)  参照] 

項目番号

内容

ヒューズリンク番号

1-6



9

10-15 16-21 22-27 28-33 34

35 
36

37 
38 
39

40 
41 
42

43
44
45

46-51

9.7 

ヒューズリンクの温度

×

9.4 

耐久試験

×

9.2.1

a)

溶断試験

A 種 1.1I

N

B 種 1.3I

N

×

特殊溶断

I

N

A 種 1.35I

N

×

B 種 1.6I

N

A 種,B 種  2I

N

特殊溶断

  最小溶断電流

×

9.3 

遮断試験

定格遮断容量

×

5I

N

b)

×

9.3.3 

絶縁抵抗

×

×

×

×

8.3 

端子

×

8.5

a)

はんだ接合部

×

×

×

×

6.2

a)

表示の読みやすさ及び消えにく

×

×

×

×

×

×

記号“×”は,当該試験を実施することを示す。

a)

  JIS C 6575-1 の細分箇条。

b)

  定格電流の 5 倍の電流での遮断試験は消弧剤を用いた中遮断容量サブミニチュアヒューズだけ実施し,再試

験は認めない。

表 5B−同形シリーズの最小定格電流に対する試験手順 

(スタンダートシート J1 又は J2 のサブミニチュアヒューズリンクに適用) 

項目番号

内容

ヒューズリンク番号

1-6



9

10-18

19 
20 
21

22 
23 
24

25 
26 
27

9.4 

耐久試験

×

9.2.1

a)

溶断試験

A 種 1.1I

N

×

B 種 1.3I

N

特殊溶断

I

N

A 種 1.35I

N

×

B 種 1.6I

N

A 種,B 種

2I

N

×

特殊溶断  最小溶断電流

9.3.3 

絶縁抵抗

×

×

8.5

a)

はんだ接合部

×

×

×

×

6.2

a)

表示の読みやすさ及び消えにくさ

×

×

×

×

記号“×”は,当該試験を実施することを示す。

a)

  JIS C 6575-1 の細分箇条。


17

C 6575-3

:2016

10 

スタンダードシート 

サブミニチュアヒューズリンク

速動形

低遮断容量

スタンダード

シート 1

ページ 1

形状

単位  mm

形状は,次による。

注記  一辺が 10 mm の正方形に断面が納まる場合,本体の形状は問わない。

端子

端子は,次による。

a)

端子の長さ は,リードテーピング包装による。

b)

端子は,1.5 mm の孔を通過し,かつ,最小断面積は,0.150 mm

2

以上でなければならない。

c)

端子の断面形状は,任意とする。

定格電流

a)

定格電圧

V

最大電圧降下

mV

最大継続ワット損

mW

b)

 2

mA

 5

mA

 10

mA

 16

mA

32 mA

 50

mA

 63

mA

 80

mA

 100

mA

 125

mA

 160

mA

 200

mA

 250

mA

 315

mA

 400

mA

 500

mA

 630

mA

 800

mA

 1

A

 1.25

A

 1.6

A

 2

A

 2.5

A

 3.15

A

 4

A

 5

A

 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 

125

 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 

6 000 
3 000 
2 200 
1 500 
1 500 
1 000 
1 000 
1 000 
1 000 
1 000 
1 000

700 
700 
700 
400 
400 
400 
400 
190 
190 
190 
190 
190 
190 
190 
190

14 
17 
25 
27 
53 
55 
70 
88

110

138 
176 
140 
193 
243 
176 
220 
277 
372 
209 
261 
334 
418 
523 
658 
836

1 045

a)

  表にない中間の定格電流が必要な場合には,ISO 3 に従って,R20 シリーズ又は

R40 シリーズから選択する。

b)

  定格電流を 1 時間通電後に測定する。


18

C 6575-3

:2016

サブミニチュアヒューズリンク

速動形

低遮断容量

スタンダード

シート 1

ページ 2

表示

サブミニチュアヒューズリンクには,次の表示を行う。

a)

定格電流

b)

定格電圧

c)

製造業者名又は商標

 
溶断時間−電流特性

溶断時間−電流特性は,次の範囲内でなければならない。

定格電流

I

N

2I

N

2.75I

N

4I

N

10I

N

2 mA∼5 A

4 時間以上

5 秒以内

300 ミリ秒以内

30 ミリ秒以内

4 ミリ秒以内

 
遮断容量

定格遮断容量:50 A。

図 に示す遮断容量試験の回路を用い,交流及び直流で試験する。

 
耐久試験

9.4.3

の試験方法 B による。定格の 0.8 倍の電流を 100 時間通電する。

 
接触部の試験

接触部のリードは,8.3 に従って,次の試験を行う。

a)

引張試験

b)

押込み試験

c)

曲げ試験(端子の長さが 5 mm を超える場合だけ)

 
温度上昇試験

9.7

による初期電流は,定格電流でなければならない。

使用中の周囲温度の最高限度は,85  ℃。この条件下で使用する場合は,電流負荷を定格電流の 0.9 倍の電流に減

らすことが望ましい。 


19

C 6575-3

:2016

サブミニチュアヒューズリンク

速動形

低遮断容量

スタンダード

シート 2

ページ 1

形状

単位  mm

形状は,次による。

形状は,次でもよい。

注記  一辺が 10 mm の正方形に断面が納まる場合,本体の形状は問わない。 

a)

 1.3

mm 以上(125 V の場合)又は 2.5 mm 以上(250 V の場合)

b)

  絶縁チューブ(任意)

 
端子

端子は,次による。

a)

端子は,1.5 mm の孔を通過し,かつ,最小断面積は,0.150 mm

2

以上でなければならない。

b)

端子の断面形状は,任意とする。


20

C 6575-3

:2016

サブミニチュアヒューズリンク

速動形

低遮断容量

スタンダード

シート 2

ページ 2

定格電流

a)

定格電圧

V

c)

最大電圧降下

mV

最大継続ワット損

mW

b)

 50

mA

 63

mA

 80

mA

 100

mA

 125

mA

 160

mA

 200

mA

 250

mA

 315

mA

 400

mA

 500

mA

 630

mA

 750

mA

 800

mA

 1

A

 1.25

A

 1.5

A

 1.6

A

 2

A

 2.5

A

 3

A

 3.15

A

 4

A

 5

A

 6.3

A

 7

A

 8

A

 10

A

 
 
 
 
 
 
 
 
 

125

又は

250

2 250 
2 230 
2 200 
1 750 
1 500 
1 500 
1 500 
1 000 
1 000 
1 000 
1 000

500 
350 
275 
275 
275 
275 
275 
250 
250 
250 
250 
225 
225 
190 
180 
160 
150

123 
154 
194 
193 
206 
264 
330 
275 
347 
440 
550 
347 
300 
242 
303 
378 
420 
484 
550 
688 
750 
866 
990

1 238 
1 300 
1 300 
1 400 
1 600

a)

  表にない中間の定格電流が必要な場合には,ISO 3 に従って,R20 シリーズ又は

R40 シリーズから選択する。

b)

  定格電流で 1 時間通電後に測定する。

c)

  製造業者によって指定する定格電圧。


21

C 6575-3

:2016

サブミニチュアヒューズリンク

速動形

低遮断容量

スタンダード

シート 2

ページ 3

表示

サブミニチュアヒューズリンクは,次の表示を行う。

a)

定格電流

b)

製造業者名又は商標

カラーバンドを用いる場合には,

s”及び“d”の値は,0.4

1

.

0

0

+

mm が望ましい。

 
溶断時間−電流特性

溶断時間−電流特性は,次の範囲内でなければならない。

定格電流

I

N

2I

N

2.75I

N

4I

N

10I

N

50 mA∼10 A

4 時間以上

5 秒以内

300 ミリ秒以内

30 ミリ秒以内

4 ミリ秒以内

 
遮断容量

定格遮断容量:50 A。

図 に示す遮断容量試験の回路を用い,交流及び直流で試験する。

 
耐久試験

9.4.3

の試験方法 B による。定格の 0.8 倍の電流を 100 時間通電する。

 
接触部の試験

接触部のリードは,8.3 に従って,次の試験を行う。

a)

引張試験

b)

曲げ試験(端子の長さが 5 mm を超える場合だけ)

 
温度上昇試験

9.7

による初期電流は,定格電流でなければならない。

使用中の周囲温度の最高限度は,85  ℃。この条件下で使用する場合は,電流負荷を定格電流の 0.9 倍の電流に減

らすことが望ましい。 


22

C 6575-3

:2016

サブミニチュアヒューズリンク

速動形

低遮断容量

スタンダード

シート 3

ページ 1

形状

単位  mm

形状は,次による。

形状は,次でもよい。

注記 1  一辺が 10 mm の正方形に断面が納まる場合,本体の形状は問わない。

 
端子

スタンドオフの形状及び位置は,0.5 mm 以上を確保できる場合,任意とみなされている。


23

C 6575-3

:2016

サブミニチュアヒューズリンク

速動形

低遮断容量

スタンダード

シート 3

ページ 2

形状は,次でもよい。

形状は,次でもよい。

注記 2  一辺が 10 mm の正方形に断面が納まる場合,本体の形状は問わない。 

a)

  絶縁チューブ(任意)

 
端子

端子は,次による。

a)

端子の長さ は,リードテーピング包装による。

b)

端子は,1.5 mm の孔を通過し,かつ,最小断面積は,0.150 mm

2

以上でなければならない。

c)

端子の断面形状は,任意とする。


24

C 6575-3

:2016

サブミニチュアヒューズリンク

速動形

低遮断容量

スタンダード

シート 3

ページ 3

定格電流

a)

定格電圧

V

最大電圧降下

mV

最大継続ワット損

mW

b)

 50

mA

 63

mA

 80

mA

 100

mA

 125

mA

 160

mA

 200

mA

 250

mA

 315

mA

 400

mA

 500

mA

 630

mA

 800

mA

 1

A

 1.25

A

 1.6

A

 2

A

 2.5

A

 3.15

A

 4

A

 5

A

 6.3

A

 8

A

 10

A

 
 
 
 
 
 
 
 
 

250

850 
750 
650 
600 
550 
500 
480 
440 
400 
370 
350 
320 
300 
280 
280 
250 
240 
200 
180 
160 
150 
130 
100

85

112

124 
137 
158 
180 
210 
252 
289 
331 
389 
459 
529 
630 
735 
919

1 050 
1 260 
1 313 
1 488 
1 680 
1 969 
2 000 
2 000 
2 000

a)

  表にない中間の定格電流が必要な場合には,ISO 3 に従って,R20 シリーズ又は

R40 シリーズから選択する。

b)

  定格電流の 1.5 倍の電流を 1 時間通電後に測定する。


25

C 6575-3

:2016

サブミニチュアヒューズリンク

速動形

低遮断容量

スタンダード

シート 3

ページ 4

表示

サブミニチュアヒューズリンクは,次の表示を行う。

a)

定格電流

b)

定格電圧

c)

製造業者名又は商標

d)

特性記号 F

 
溶断時間−電流特性

溶断時間−電流特性は,次の範囲内でなければならない。

定格電流

2.1I

N

2.75I

N

4I

N

10I

N

50 mA∼5 A

30 分以内

10 ミリ秒∼3 秒

3 ミリ秒∼300 ミリ秒

20 ミリ秒以内

6.3 A∼10 A

30 分以内

50 ミリ秒∼10 秒

5 ミリ秒∼400 ミリ秒

20 ミリ秒以内

 
遮断容量

定格遮断容量:35 A 又は定格電流の 10 倍の電流のいずれか大きい方の値であって,

図 に示す遮断容量試験の

回路を用い,交流で試験する。 
 
耐久試験

9.4.2

の試験方法 A に従って,定格電流を 100 サイクル通電し,その後,引き続き定格の 1.5 倍の電流を 1 時間通

電する。 
 
接触部の試験

接触部のリードは,8.3 に従って,次の試験を行う。

a)

引張試験

b)

押込み試験

c)

曲げ試験(端子の長さが 5 mm を超える場合だけ)

 
温度上昇試験

9.7

による初期電流は,定格電流の 1.5 倍の電流でなければならない。

使用中の周囲温度の最高限度は,85  ℃。この条件下で使用する場合は,電流負荷を定格電流の 0.9 倍の電流に減

らすことが望ましい。 


26

C 6575-3

:2016

サブミニチュアヒューズリンク

タイムラグ

低遮断容量

スタンダード

シート 4

ページ 1

形状

単位  mm

形状は,次による。

形状は,次でもよい。

 
端子

スタンドオフの形状及び位置は,0.5 mm 以上を確保できる場合,任意とみなされている。


27

C 6575-3

:2016

サブミニチュアヒューズリンク

タイムラグ

低遮断容量

スタンダード

シート 4

ページ 2

形状は,次でもよい。

形状は,次でもよい。

注記  一辺が 10 mm の正方形に断面が納まる場合,本体の形状は問わない。 

a)

  絶縁チューブ(任意)

 
端子

端子は,次による。

a)

端子の長さ は,リードテーピング包装による。

b)

端子は,1.5 mm の孔を通過し,かつ,最小断面積は,0.150 mm

2

以上でなければならない。

c)

端子の断面形状は,任意とする。


28

C 6575-3

:2016

サブミニチュアヒューズリンク

タイムラグ

低遮断容量

スタンダード

シート 4

ページ 3

定格電流

a)

定格電圧

V

最大電圧降下

mV

最大継続ワット損

mW

b)

 40

mA

 50

mA

 63

mA

 80

mA

 100

mA

 125

mA

 160

mA

 200

mA

 250

mA

 315

mA

 400

mA

 500

mA

 630

mA

 800

mA

 1

A

 1.25

A

 1.6

A

 2

A

 2.5

A

 3.15

A

 4

A

 5

A

 6.3

A

 8

A

 10

A

 
 
 
 
 
 
 
 
 

250

600 
550 
480 
400 
350 
300 
280 
260 
240 
220 
200 
190 
180 
160 
140 
130 
120 
100 
100 
100 
100 
100 
100

80 
75

150 
155 
160 
165 
170 
180 
190 
200 
220 
250 
280 
310 
360 
430 
500 
600 
730 
870

1 000 
1 200 
1 400 
1 500 
1 650 
1 800 
2 000

a)

  表にない中間の定格電流が必要な場合には,ISO 3 に従って,R20 シリーズ又は

R40 シリーズから選択する。

b)

  定格電流の 1.5 倍の電流で 1 時間通電後に測定する。


29

C 6575-3

:2016

サブミニチュアヒューズリンク

タイムラグ

低遮断容量

スタンダード

シート 4

ページ 4

表示

サブミニチュアヒューズリンクには,次の表示をする。

a)

定格電流

b)

定格電圧

c)

製造業者名又は商標

d)

特性記号 T

 
溶断時間−電流特性

溶断時間−電流特性は,次の範囲内でなければならない。

定格電流

2.1I

N

2.75I

N

4I

N

10I

N

40 mA∼6.3 A

2 分以内

400 ミリ秒∼10 秒

150 ミリ秒∼3 秒

20 ミリ秒∼150 ミリ秒

6.3 A を超え 10 A 以下

5 分以内

1 秒∼20 秒

150 ミリ秒∼3 秒

20 ミリ秒∼150 ミリ秒

 
70±2  ℃での試験

サブミニチュアヒューズリンクは,定格電流を 1 時間通電したとき,動作してはならない。

 
遮断容量

定格遮断容量:35 A 又は定格の 10 倍の電流のいずれか大きい方の値であって,

図 に示す遮断容量試験の回路

を用い,交流で試験する。 
 
耐久試験

9.4.2

の試験方法 A に従って,定格電流を 100 サイクル通電し,その後,引き続き定格の 1.5 倍の電流を 1 時間通

電する。 
 
接触部の試験

接触部のリードは,8.3 に従って,次の試験を行う。

a)

引張試験

b)

押込み試験

c)

曲げ試験(端子の長さが 5 mm を超える場合だけ)

 
温度上昇試験

9.7

による初期電流は,定格電流の 1.5 倍の電流でなければならない。

使用中の周囲温度の最高限度は,85  ℃。この条件下で使用する場合は,電流負荷を定格電流の 0.9 倍の電流に減

らすことが望ましい。 


30

C 6575-3

:2016

溶断種別

A 種,B 種

特殊溶断

サブミニチュアヒューズリンク

低遮断容量,中遮断容量

スタンダードシート

J1

ページ 1

形状

単位  mm

形状は,次による。

注記  サブミニチュアヒューズリンクの形状について,端子を除き,一辺 10 mm の立方体に納まるものの場合は,

任意とする。端子の長さ は,テーピングに適する寸法であればよい。

 
端子

端子は,次による。

a)

端子は,直径 1.5 mm の孔を通過しなければならない。

b)

端子の断面形状は,任意である。ただし,断面積は 0.150 mm

2

以上とする。

 
定格

定格は,次による。

−  定格電圧:交流 100 V,125 V,250 V 又は 300 V

−  定格電流:15 A 以下 
−  定格遮断容量:100 A,300 A 又は 500 A のいずれかの値

電圧降下値:検討中 
 
表示

サブミニチュアヒューズリンクには,次の表示を行う。

a)

定格電圧

b)

定格電流

c)

溶断種別記号

−  A 種のものは

A 又は“A”

−  B 種のものは

B 又は“B”

−  特殊溶断のものは“J”又は“J1”

d)

製造業者名(略称)又は商標

なお,定格遮断容量は,包装容器に表示する。溶断種別が特殊溶断の場合には,最小溶断電流及び溶断時間を併

せて包装容器に表示する。 


31

C 6575-3

:2016

溶断種別

A 種,B 種

特殊溶断

サブミニチュアヒューズリンク

低遮断容量,中遮断容量

スタンダードシート

J1

ページ 2

溶断特性

溶断時間は,次の表に規定する時間とする。

種別

I

N

1.1I

N

1.3I

N

1.35I

N

1.6I

N

2I

N

最小溶断電流

A 種

60 分以上

60 分以内

2 分以内

B 種

60 分以上

60 分以内

2 分以内

特殊溶断

60 分以上

指定溶断時間以内

注記 1  試験は,交流で行ってもよい。 
注記 2  特殊溶断のものの最小溶断電流及び溶断時間は,製造業者によって指定する。

 
遮断試験

試験は,

図 3A に示す試験回路を用いて,ランダム投入で実施する。

 
耐久試験

JIS C 6575-1

の 9.4 a)  に従い,A 種のものは定格電流の 0.8 倍の電流以上,B 種のものは 0.9 倍の電流以上,及び

特殊溶断のものは 0.7 倍の電流以上の製造業者が指定する電流を 100 サイクル通電し,その後,9.4 b)  に従って,A

種のものは定格電流の 1.1 倍の電流,B 種のものは 1.3 倍の電流,及び特殊溶断のものは定格電流を超える製造業者

の指定する電流を 60 分間通電する。さらに,B 種のものは定格電流の 1.15 倍の電流を 60 分間通電する。 
 
形式試験

個別の定格電流のサブミニチュアヒューズリンクを試験する場合は,

表 5A に従って試験を行う。

同形シリーズを試験する場合,最大の定格電流のサブミニチュアヒューズリンクは,

表 5A に従って試験を行い,

最小の定格電流のサブミニチュアヒューズリンクは,

表 5B に従って試験を行う。


32

C 6575-3

:2016

溶断種別

A 種,B 種

特殊溶断

サブミニチュアヒューズリンク

低遮断容量,中遮断容量

スタンダードシート

J2

ページ 1

形状

単位  mm

形状は,次による。 

注記  サブミニチュアヒューズリンクの形状について,リード線を除き,一辺が 10 mm の立方体に納まるものの

場合は,任意とする。また,リード線の取付け方向は,任意とする。

a)

  絶縁チューブ(任意)

 
端子

端子は,次による。

a)

端子は,直径 1.5 mm の孔を通過しなければならない。

b)

端子の断面形状は,任意である。ただし,断面積が 0.150 mm

2

以上とする。

 
定格

定格は,次による。

−  定格電圧:交流 100 V,125 V,250 V 又は 300 V 
−  定格電流:15 A 以下

−  定格遮断容量:100 A,300 A 又は 500 A のいずれかの値

 
電圧降下値:検討中 
 
表示

サブミニチュアヒューズリンクには,次の表示を行う。

a)

定格電圧

b)

定格電流

c)

溶断種別記号

−  A 種のものは

A 又は“A”

−  B 種のものは

B 又は“B”

−  特殊溶断のものは“J”又は“J2”

d)

製造業者名(略称)又は商標

なお,定格遮断容量は,包装容器に表示する。溶断種別が特殊溶断の場合には,最小溶断電流及び溶断時間を併

せて包装容器に表示する。 


33

C 6575-3

:2016

溶断種別

A 種,B 種

特殊溶断

サブミニチュアヒューズリンク

低遮断容量,中遮断容量

スタンダードシート

J2

ページ 2

溶断特性:溶断時間は,次の表に規定する時間とする。 

種別

I

N

1.1I

N

1.3I

N

1.35I

N

1.6I

N

2I

N

最小溶断電流

A 種

60 分以上

60 分以内

2 分以内

B 種

60 分以上

60 分以内

2 分以内

特殊溶断

60 分以上

指定溶断時間以内

注記 1  試験は,交流で行ってもよい。 
注記 2  特殊溶断のものの最小溶断電流及び溶断時間は,製造業者によって指定する。

 
遮断容量

試験は,

図 3A に示す試験回路を用いて,ランダム投入で実施する。

 
耐久試験

JIS C 6575-1

の 9.4 a)  に従い,A 種のものは定格電流の 0.8 倍の電流以上,B 種のものは 0.9 倍の電流以上,及び

特殊溶断のものは 0.7 倍の電流以上の製造業者が指定する電流を 100 サイクル通電し,その後,9.4 b)  に従って,A
種のものは定格電流の 1.1 倍の電流,B 種のものは 1.3 倍の電流,及び特殊溶断のものは定格電流を超える製造業者

が指定する電流を 60 分間通電する。さらに,B 種のものは定格電流の 1.15 倍の電流を 60 分間通電する。 
 
形式試験

個別の定格電流のサブミニチュアヒューズリンクを試験する場合は,

表 5A に従って試験を行う。

同形シリーズを試験する場合,最大の定格電流のサブミニチュアヒューズリンクは,

表 5A に従って試験を行い,

最小の定格電流のサブミニチュアヒューズリンクは,

表 5B に従って試験を行う。


34

C 6575-3

:2016

附属書 JA

(参考)

JIS

と対応国際規格との対比表

JIS C 6575-3:2016

  ミニチュアヒューズ−第 3 部:サブミニチュアヒューズ

リンク

IEC 60127-3:2015

,Miniature fuses−Part 3: Sub-miniature fuse-links

(I)JIS の規定

(II)

国際

規格

番号

(III)国際規格の規定

(IV)JIS と国際規格との技術的差異の箇条ごと
の評価及びその内容

(V)JIS と国際規格との技術的差異
の理由及び今後の対策

箇条番号

及び題名

内容

箇条番号

内容

箇条ごと

の評価

技術的差異の内容

6.1

ヒューズリンクの表示

事項を規定

 6.1  JIS とほぼ同じ

追加

電気用品の技術上の基準を定める省

令の解釈(20130605 商局第 3 号)

(以

下,技術基準の解釈という。

)の別表

第三に規定する包装ヒューズの一部

を追加規定するために,スタンダー
ドシート J1 及び J2 を追加したが,

タンダードシート J1 又は J2 に規定す

るヒューズリンクの本体の表示は,
定格電流にその単位(mA 又は A)を

併 せ て 表 示 し な け れ ば な ら な い 規

定,及び定格電流の表示位置を定格
電圧の表示の直前に表示しなくても

よい旨の規定を追加した。

我が国において広く用いられてお

り,技術基準の解釈の別表第三で
認められている表示を追加。対応

国際規格への提案を検討する。

溶断種別記号を表示しなければなら
ない旨の規定を追加した。

溶断種別記号は溶断特性記号に相
当するもので,この記号によって

溶断種別を認識し,対応国際規格

に規定するヒューズリンクとスタ
ンダードシート J1 又は J2 で規定す

るヒューズリンクとを識別するこ

とが可能になる。

34

C

 65

75
-3


201

6


35

C 6575-3

:2016

(I)JIS の規定

(II)

国際

規格

番号

(III)国際規格の規定

(IV)JIS と国際規格との技術的差異の箇条ごと
の評価及びその内容

(V)JIS と国際規格との技術的差異
の理由及び今後の対策

箇条番号

及び題名

内容

箇条番号

内容

箇条ごと

の評価

技術的差異の内容

6.3

ヒューズリンクの包装

容器の表示事項を規定

 6.3  JIS とほぼ同じ

追加

スタンダードシート J1 又は J2 に規定

するヒューズリンクは,定格遮断容
量を包装容器に表示し,そのヒュー

ズリンクが特殊溶断の場合は,更に

最小溶断電流及び溶断時間を表示す
る旨の規定を追加した。

スタンダードシート J1 又は J2 に規

定するヒューズリンクは,技術基
準の解釈の別表第三に基づくヒュ

ーズリンクであり,その技術基準

の解釈の別表第三に要求される内
容を追加した。

7.2.1

試験に必要なサンプル

数及び試験手順を規定

 7.2.1 JIS とほぼ同じ

追加

表 1∼表 4 に基づき試験する場合,端

子試験のためのサンプルが 6 個必要

である旨の記述を追加した。

必要なサンプル数に端子試験のサ

ンプルが含まれていないので,誤

解を生じるおそれがあるための追
加である。

スタンダードシート J1 又は J2 に規定

するヒューズリンクに適用する規定
を追加した。

スタンダードシート J1 又は J2 に規

定するヒューズリンクは,技術基
準 の 解 釈 の 別 表 第 三 に よ る も の

で,対応国際規格に規定するヒュ

ーズリンクとは,溶断特性,遮断
定格等が異なるため。

7.2.2

試験に必要なサンプル

への番号の付与を規定

 7.2.2 JIS とほぼ同じ

追加

スタンダードシート J1 又は J2 に規定

するヒューズリンクに対しては,電

圧降下の大きいものから順次一連番
号を付与する規定を除外した。

スタンダードシート J1 又は J2 に規

定 す る ヒ ュ ー ズ リ ン ク に 対 し て

は,電圧降下の規定がないことに
よる。

7.3

試験用ヒューズベース

を規定

 7.3  JIS とほぼ同じ

追加

スタンダードシート J1 又は J2 に規定

するヒューズリンクに適用する規定

を追加した。

スタンダードシート J1 又は J2 に規

定するヒューズリンクに対する接

続導体に関しては,技術基準の解
釈の別表第三の内容を追加。 
10 A を超え 15 A 以下のヒューズリ
ンクの,銅はくの厚さの要求を追
加した。これも技術基準の解釈の

別表第三の内容である。

 

35

C

 65

75
-3


201

6


36

C 6575-3

:2016

(I)JIS の規定

(II)

国際

規格

番号

(III)国際規格の規定

(IV)JIS と国際規格との技術的差異の箇条ごと
の評価及びその内容

(V)JIS と国際規格との技術的差異
の理由及び今後の対策

箇条番号

及び題名

内容

箇条番号

内容

箇条ごと

の評価

技術的差異の内容

8.2

ヒューズリンクの構造

を規定

 8.2  JIS とほぼ同じ

追加

耐熱性及び耐火性をもつよう要求し

ており,その適否は対応国際規格で
は“検査”によって判定するとなっ

ているが,この規格では 9.7 によって

判定するとした。

判 定 方 法 を よ り 具 体 的 に 規 定 し

た。国際規格への提案を検討する。

8.4

端子のアライメント及
び形状を規定

8.4

JIS

とほぼ同じ

変更

対応国際規格では注記に,世界のあ
る地域では,プリント回路の孔の中

心間隔に 2.54 mm を用いていること

に 注 意 が 必 要 で あ る 旨 述 べ て い る
が,JIS の注記では孔の中心間隔が
2.54 mm の場合に回路を開いた状態
として十分な絶縁距離にならないこ
とがあるので注意が必要である旨記

載した。

スタンダードシート 1 にはピン端
子間隔 2.54 mm のヒューズリンク

を規定しながら,孔の中心間隔が
2.54 mm であることに注意が必要
であるとの記述は不明確なので,

意味を補足して翻訳した。

9.3.1

遮断試験回路及び試験

方法を規定

9.3.1

JIS

とほぼ同じ

追加

スタンダードシート J1 又は J2 に規定

するヒューズリンクの遮断試験方法
に対する規定を追加した。

スタンダードシート J1 又は J2 に規

定するヒューズリンクの定格遮断
容量での試験条件は,技術基準の

解釈の別表第三の内容を適用。定

格遮断容量より小さい固有電流の
調整方法は,IEC 60127-2 に規定さ
れる方法と整合させた。

9.3.3

遮断試験及び溶断試験

後の絶縁抵抗値を規定

9.3.3

JIS

とほぼ同じ

追加

スタンダードシート J1 又は J2 に規定

されるヒューズリンクは,遮断試験
及び溶断試験後の絶縁抵抗値が 0.2 
MΩ 以上でなければならない旨の規
定を追加した。

スタンダードシート J1 又は J2 に規

定されるヒューズリンクに対して
は,技術基準の解釈の別表第三の

内容を適用した。

 
 

36

C

 65

75
-3


201

6


37

C 6575-3

:2016

(I)JIS の規定

(II)

国際

規格

番号

(III)国際規格の規定

(IV)JIS と国際規格との技術的差異の箇条ごと
の評価及びその内容

(V)JIS と国際規格との技術的差異
の理由及び今後の対策

箇条番号

及び題名

内容

箇条番号

内容

箇条ごと

の評価

技術的差異の内容

9.7

ヒューズリンクの温度

上昇値を規定

9.7

JIS

とほぼ同じ

追加

対応国際規格では,通電電流を 15 分

ごとに増加していく温度試験を行う
こととなっているが,スタンダード

シート J1 又は J2 に規定するヒューズ

リンクには一定電流を通電して測定
する方法を採用し,また温度限度も

技術基準の解釈の別表第三の限度値

を採用した。

スタンダードシート J1 又は J2 に規

定するヒューズリンクは,技術基
準 の 解 釈 の 別 表 第 三 の 内 容 を 適

用。

表 1∼表
4

ヒューズリンクの試験
手順を規定

表 1∼表
4

JIS

とほぼ同じ

変更

絶縁抵抗の箇条番号を“9.3.3”とし,

a)

を削除した。

9.3.3 は,本文にデビエーションが
追加されており,注

a)

の記述と異な

るため。

10

スタンダードシート 4

10

JIS

とほぼ同じ

追加

スタンドオフの形状及び位置につい

ての記載を追加した。

図だけでは,許容されるスタンド

オフについて誤解が生じるおそれ
があるため,その説明を追加した。

スタンダードシート 3 に記載あり。

スタンダードシート J1

及び J2

追加

スタンダードシート J1 及び J2 を追加

した。

我が国特有のヒューズリンクに対

する技術基準の解釈の別表第三の
内容に加え,対応国際規格に合わ

せ JIS C 6575-1 の 9.4 a)  に従う耐
久試験を追加した。

JIS

と国際規格との対応の程度の全体評価:IEC 60127-3:2015,MOD

注記 1  箇条ごとの評価欄の用語の意味は,次による。

    −  追加………………国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。 
    −  変更………………国際規格の規定内容を変更している。

注記 2  JIS と国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は,次による。

    −  MOD……………  国際規格を修正している。

37

C

 65

75
-3


201

6