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C 6575-2

:2016

(1)

目  次

ページ

序文  

1

1

  適用範囲  

1

2

  引用規格  

1

3

  用語及び定義  

2

4

  一般要求事項  

2

5

  標準定格  

2

6

  表示 

2

7

  試験に関する一般事項  

3

8

  寸法及び構造  

13

9

  電気的要求事項  

15

10

  スタンダードシート  

18

附属書 A(規定)リード線をもつヒューズリンク  

40

附属書 JA(参考)JIS と対応国際規格との対比表  

46


C 6575-2

:2016

(2)

まえがき

この規格は,工業標準化法に基づき,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本

工業規格である。これによって,JIS C 6575-2:2013 は改正され,この規格に置き換えられた。

この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。

この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意

を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実

用新案権に関わる確認について,責任はもたない。

JIS C 6575

の規格群には,次に示す部編成がある。

JIS C 6575-1

  第 1 部:ミニチュアヒューズに関する用語及びミニチュアヒューズリンクに対する通則

JIS C 6575-2

  第 2 部:管形ヒューズリンク

JIS C 6575-3

  第 3 部:サブミニチュアヒューズリンク

JIS C 6575-4

  第 4 部:UM ヒューズリンク(UMF)並びにその他の端子挿入形及び表面実装形ヒュ

ーズリンク

JIS C 6575-7

  第 7 部:特殊用途ミニチュアヒューズリンク

注記  第 5 部:ミニチュアヒューズリンクの品質評価の指針,及び第 6 部:ミニチュアヒューズリン

ク用ヒューズホルダについて,JIS を作成する予定はない。


日本工業規格

JIS

 C

6575-2

:2016

ミニチュアヒューズ−第 2 部:管形ヒューズリンク

Miniature fuses-Part 2: Cartridge fuse-links

序文 

この規格は,2014 年に第 3 版として発行された IEC 60127-2 を基とし,主に我が国特有の管形ヒューズ

リンクを考慮するため,技術的内容を変更して作成した日本工業規格である。

なお,この規格で側線又は点線の下線を施してある箇所は,対応国際規格を変更している事項である。

変更の一覧表にその説明を付けて,

附属書 JA に示す。また,箇条 10 のスタンダードシート J1 は,対応

国際規格にない事項である。

適用範囲 

この規格は,通常,屋内において用いる電気機器,電子機器及びそれらの部品を保護するための,寸法

が直径 11 mm×全長 40 mm 以下の管形ヒューズリンク(以下,ヒューズリンクという。

)について規定す

る。

注記 1  JIS C 6575-1 では,直径 10 mm を超えるヒューズリンクは,ミニチュアヒューズリンクの適

用範囲には含まれていないが,この規格は直径 11 mm 以下のヒューズリンクに適用できる。

この規格は,腐食しやすい場所又は爆発性の雰囲気が存在する特殊な状況にある場所での使用を目的と

する機器に用いるヒューズには適用しない。

この規格は,JIS C 6575-1 の要求事項に追加・置換して,適用する。

この規格の目的は,JIS C 6575-1 の要求事項に追加して,ヒューズリンクに適用する特定かつ補足的な

試験方法を確定することである。

なお,リード線をもつヒューズリンクに対する追加要求事項は,

附属書 による。

注記 2  スタンダードシート 1∼スタンダードシート 10 に規定するヒューズリンク及びスタンダード

シート J1 に規定する特殊溶断のヒューズリンクは,主に機器製造業者が機器組込用として用

いるヒューズリンクである。

注記 3  この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。

IEC 60127-2:2014

,Miniature fuses−Part 2: Cartridge fuse-links(MOD)

なお,対応の程度を表す記号“MOD”は,ISO/IEC Guide 21-1 に基づき,

“修正している”

ことを示す。

引用規格 

次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの

引用規格は,その最新版(追補を含む。

)を適用する。

JIS C 6484

  プリント配線板用銅張積層板−耐燃性ガラス布基材エポキシ樹脂


2

C 6575-2

:2016

JIS C 6575-1

  ミニチュアヒューズ−第 1 部:ミニチュアヒューズに関する用語及びミニチュアヒュー

ズリンクに対する通則

注記  対応国際規格:IEC 60127-1:2006,Miniature fuses−Part 1: Definitions for miniature fuses and

general requirements for miniature fuse-links 及び Amendment 1:2011

JIS C 60068-2-20

  環境試験方法−電気・電子−第 2-20 部:試験−試験 T−端子付部品のはんだ付け

性及びはんだ耐熱性試験方法

注記  対応国際規格:IEC 60068-2-20,Environmental testing−Part 2-20: Tests−Test T: Test methods for

solderability and resistance to soldering heat of devices with leads

JIS C 60068-2-21

  環境試験方法−電気・電子−第 2-21 部:試験−試験 U:端子強度試験方法

注記  対応国際規格:IEC 60068-2-21:2006,Environmental testing−Part 2-21: Tests−Test U: Robustness

of terminations and integral mounting devices

JIS Z 8601

  標準数

注記  対応国際規格:ISO 3,Preferred numbers−Series of preferred numbers

用語及び定義 

この規格で用いる用語及び定義は,JIS C 6575-1 の箇条 3(用語及び定義)による。

一般要求事項 

一般要求事項は,JIS C 6575-1 の箇条 4(一般要求事項)による。

標準定格 

標準定格は,JIS C 6575-1 の箇条 5(標準定格)による。

表示 

表示は,次を除き,JIS C 6575-1 の箇条 6(表示)による。

6.1

追加[“1 A 未満では”で始まる細別 a)の後に続けて,次の文を追加する。]

ただし,スタンダードシート J1 に規定するヒューズリンクの定格電流の表示位置は,定格電圧の表示の

直前にする必要はない。

追加[“該当スタンダードに”で始まる細別 d)の後に続けて,次の文を追加する。]

ただし,スタンダードシート J1 を除く。

追加[細別 d)の後に,次の文及び細別を追加する。]

さらに,a)d)の事項に加えて,定格遮断容量を示す記号又は溶断種別記号を表示する旨をスタンダー

ドシートに規定している場合には,各ヒューズリンクに次の e)又は f)の表示を行わなければならない。

e)

定格遮断容量を示す記号。この記号は,定格電流の表示と定格電圧の表示との間に記載しなければな

らない。これらの記号は,次による。ただし,スタンダードシート J1 を除く。

H:高遮断容量を示す。 
L:低遮断容量を示す。

E:低遮断容量を示す(定格遮断容量 150 A 及び 200 A)。


3

C 6575-2

:2016

例 1  

T 3 1 5 L 2 5

0

V

F

4

H

2

5

0

V

T 3 1 5 E 2 5

0

V

f)

溶断種別記号。この記号は,次による。ただし,スタンダードシート 1∼スタンダードシート 10 及び

特殊溶断のものには,表示しない。

1)  A

種:

A 又は A

2)  B

種:

B 又は B

溶断種別記号の表示位置は,任意とする。ただし,溶断種別記号“A”又は“B”と定格電流とを同

一キャップ上に表示する場合は,定格電流の表示の直前に溶断種別記号を表示しなければならない。

例 2

A

”と表示する場合。

3 A ○

A

1 2 5 V

“B”と表示する場合。

2 5 0 V B 5 A

6.3 

追加(“なお,この包装容器に”で始まる段落の後に,次を追加する。) 

さらに,スタンダードシート J1 に規定するヒューズリンクの場合は,包装容器に次の表示を行わなけれ

ばならない。

−  定格遮断容量

−  溶断種別が特殊溶断の場合,最小溶断電流及び溶断時間

6.4 

追加(“定格電流及び時間”で始まる段落の後に,次を追加する。) 

カラーバンドの寸法“d”及び“s”の値は,いずれも 0.8±0.2 mm とする。

試験に関する一般事項 

試験に関する一般事項は,次を除き,JIS C 6575-1 の箇条 7(試験に関する一般事項)による。

7.2.1 

追加(“追加試験などは,”で始まる段落の後に,次を追加する。) 

スタンダードシート 1∼スタンダードシート 10 に規定するヒューズリンク  個々の定格電流のヒュー

ズリンクを試験する場合には,48 個のヒューズリンクが必要であり,そのうち 12 個は予備である。

試験手順は

表 による。

同形シリーズの最大定格電流のヒューズリンクを試験する場合は 48 個のヒューズリンクが必要で

あり,そのうち 22 個は予備である。試験手順は

表 による。

同形シリーズの最小定格電流のヒューズリンクを試験する場合は 33 個のヒューズリンクが必要で

あり,そのうち 16 個は予備である。試験手順は

表 による。

スタンダードシート J1 に規定するヒューズリンク  耐久試験に供するヒューズリンク以外は,電圧

降下を測定しない。個々の定格電流又は同形シリーズの最大定格電流を試験する場合には,ヒューズ

リンクは,

表 3A の試験手順に従って試験を行う。この場合に必要なヒューズリンク及び予備のヒュ

ーズリンクの数は,次による。


4

C 6575-2

:2016

1)

高遮断容量ヒューズリンク  必要なヒューズリンクの数は 51 個,そのうち 18 個は予備。

2)

低遮断容量ヒューズリンク  必要なヒューズリンクの数は 39 個,そのうち 18 個は予備。

3)

中遮断容量ヒューズリンク

・  消弧剤を用いている場合  必要なヒューズリンクの数は 45 個,そのうち 18 個は予備。

・  消弧剤を用いていない場合  必要なヒューズリンクの数は 39 個,そのうち 18 個は予備。

注記  低遮断容量ヒューズリンク及び消弧剤を用いない中遮断容量ヒューズリンクは,定格遮断容

量だけ遮断試験を行い,500 A 及び定格電流の 5 倍での遮断試験は行わない。ヒューズリン

ク番号 28∼39 の 12 個のヒューズリンクは不要となる。消弧剤を用いる中遮断容量ヒューズ

リンクでは,定格遮断容量及び定格電流の 5 倍での試験を行い,500 A での遮断試験は行わ

ないので,ヒューズリンク番号 28∼33 の 6 個のヒューズリンクは不要となる(

表 3A 参照)。

同形シリーズの最小定格電流を試験する場合は,ヒューズリンクは,

表 3B に示す試験手順に従っ

て試験を行う。この場合に必要なヒューズリンクの数は 27 個で,このうち 6 個は予備である。


5

C 6575-2

:2016

表 1−個々の定格電流に対する試験手順 

項目番号

内容

ヒューズリンク番号

1 7 8 12

16

19 22

23

28

31

34

35

40

43

46

9 10

14

24

25

36

37

6 11

13

15

18

21 26

27

30

33

38

39

42

45

48

9.4

a)

耐久試験

×

9.2.2

a)

常温より高い温度での試験

b)

×

9.2.1

a)

常温における

時間−電流特性

10I

N

×

4I

N

×

2.75I

N

×

2.0I

N

又は 2.1I

N

×

9.3 

遮断容量試験 
定格遮断容量

×

定格の 5 倍の電流

×

定格の 10 倍の電流

×

定格の 50 倍の電流

×

定格の 250 倍の電流

×

8.3 

端子(キャップ試験)

×

×

×

×

8.5

a)

はんだ接合部

×

×

×

×

×

×

6.2

a)

表示の読みやすさ及び消えにくさ

×

×

×

×

記号“×”は,当該試験を実施することを示す。

a)

  これらの事項は,JIS C 6575-1 に規定されている。

b)

  スタンダードシートで指示がある場合だけ適用する。

5

C

 657

5-2


20
16


6

C 6575-2

:2016

表 2−同形シリーズの最大定格電流に対する試験手順 

項目番号

内容

電圧降下の大きい順に付けたヒューズリンク番号

1  7  10

13 18 28

31

34

37

40

43

46

6  9  12

17 27 30

33

36

39

42

45

48

9.4

a)

耐久試験

×

9.2.2

a)

常温より高い温度での試験

b)

×

9.2.1

a)

常温における

時間−電流特性

10I

N

×

4I

N

×

2.75I

N

×

2.0I

N

又は 2.1I

N

×

9.3 

定格遮断容量

×

8.3 

端子(キャップ試験)

×

×

×

×

8.5

a)

はんだ接合部

×

×

×

×

×

×

6.2

a)

表示の読みやすさ及び消えにくさ

×

×

×

×

記号“×”は,当該試験を実施することを示す。

a)

  これらの事項は,JIS C 6575-1 に規定されている。

b)

  スタンダードシートで指示がある場合だけ適用する。

表 3−同形シリーズの最小定格電流に対する試験手順 

項目番号

内容

電圧降下の大きい順に付けた

ヒューズリンク番号

 1

7

10

13

18

28

31

 6

9

12

17

27

30

33

9.4

a)

耐久試験

×

9.2.1

a)

常温における

時間−電流特性

10I

N

×

2.0I

N

又は 2.1I

N

×

9.3 

定格遮断容量

×

記号“×”は,当該試験を実施することを示す。

a)

  これらの事項は,JIS C 6575-1 に規定されている。

6

C

 657

5-2


20
16


7

C 6575-2

:2016

表 3A−試験手順(スタンダードシート J1 のヒューズリンクに適用) 

項目 
番号

内容

ヒューズリンク番号

 1

7

10

16

22

28

34

40

43

46

49

 6

9

15

21

27

33

39

42

45

48

51

9.7 

温度上昇試験

×

9.4

a)

耐久試験

×

9.2.1

a)

溶断 
特性

A 種 1.1I

N

B 種 1.3I

N

特殊溶断

I

N

×

A 種 1.35I

N

B 種 1.6I

N

×

A 種,B 種

2I

N

特殊溶断  最小溶断電流

 

×

9.3 

遮断

試験

定格遮断容量

×

500 A

b)

×

5I

N

c)

×

9.3.3 

絶縁抵抗

×

×

×

×

×

×

8.3 

キャップ接合強度

×

×

×

8.5

a)

はんだ接合部

×

×

×

×

6.2

a)

表示の読みやすさ及び消えにくさ

×

×

×

×

×

×

×

記号“×”は,当該試験を実施することを示す。

a)

  これらの事項は,JIS C 6575-1 に規定されている。

b)

 500

A での遮断試験は,高遮断容量ヒューズリンクだけ実施し,再試験は認めない。

c)

  定格電流の 5 倍での遮断試験は,高遮断容量ヒューズリンク及び消弧剤を用いた中遮断容量ヒューズリン

クだけ実施し,再試験は認めない。

表 3B−同形シリーズの最小定格電流に対する試験手順 

(スタンダードシート J1 のヒューズリンクに適用) 

項目

番号

内容

ヒューズリンク番号

 1

7

10

19

22

25

 6

9

18

21

24

27

9.4

a)

耐久試験

×

9.2.1

a)

溶断

特性

A 種 1.1I

N

B 種 1.3I

N

特殊溶断

I

N

×

A 種 1.35I

N

B 種 1.6I

N

×

A 種,B 種

2I

N

特殊溶断  最小溶断電流

×

8.3 

キャップ接合強度

×

×

×

8.5

a)

はんだ接合部

×

×

×

×

6.2

a)

表示の読みやすさ及び消えにくさ

×

×

×

×

記号“×”は,当該試験を実施することを示す。

a)

  これらの事項は,JIS C 6575-1 に規定されている。


8

C 6575-2

:2016

7.2.2 

追加(“ある試験を再度行う場合には,”で始まる段落の後に,次を追加する。) 

スタンダードシート J1 に規定するヒューズリンクでは,電圧降下の大きいものから順次一連番号を付け

る必要はない。

7.3 

試験用ヒューズベース  置換(7.3 全て) 

試験用ヒューズベースは,次による。

a)

スタンダードシート 1∼スタンダードシート 10 に規定するヒューズリンク  ヒューズリンク取付けの

ためのヒューズベースを必要とする試験においては,

図 1∼図 に示すベースを適宜用いる。

それぞれの接点とゲージ(試験するヒューズリンクと同一の公称寸法及び形状であって,銀めっき

黄銅製丸棒のもの)との間の接触抵抗は,次の条件で測定し,3 m

Ω以下でなければならない。

1)

接点の薄い絶縁層を破壊しないために,その回路の起電力は,20 mV(直流又は交流ピーク値)以

下とする。

2)

接点の加熱を防ぐために,通電電流は,1 A 以下とする。

スプリング及び接続部を除くヒューズベースの金属部分は,黄銅製でなければならない。ヒューズ

ベースの金属部分及び接触抵抗測定用のゲージの黄銅中の銅の含有率は,58∼70 %とし,接点部分は,

銀めっきをしなければならない。

定格電流 6.3 A 以下のヒューズリンクの場合,

図 に示すヒューズベースを用いる。接触圧は,4∼

6 N とする。フレキシブルリード線及び端子線は断面積 1 mm

2

の銅線であって,各端子線の長さは約

500 mm とする。

定格電流 6.3 A を超えるヒューズリンクの場合,

図 に示すヒューズベースを用いる。接触圧は,8

∼12 N とする。フレキシブルリード線及び端子線は断面積 6 mm

2

の銅線であって,各端子線の長さは

約 500 mm とする。

遮断容量の試験には,

図 によるヒューズベースを用いる。このとき,図 に示すベースと同じ接

触圧をもち,かつ,導体は同一の断面積をもたなければならない。

b)

スタンダードシート J1 に規定するヒューズリンク  ヒューズリンク取付けのためのヒューズベース

を必要とする試験においては,

図 3A∼図 3C に示すヒューズベースを適宜用いる。リード線をもつヒ

ューズリンクの試験には,

図 3B に示すヒューズベースを用いる。リード線をもたないヒューズリン

クでは,遮断試験に

図 3C に示すヒューズベースを用い,その他の試験に図 3A に示すヒューズベース

を用いる。

スプリング及び

図 3C でりん青銅と規定しているクリップを除き,ヒューズベースの金属部分は黄

銅製とする。ヒューズベースの黄銅中の銅の含有率は,58∼70 %とし,接点部分には銀めっきをしな

ければならない。

フレキシブルリード線は,断面積 8 mm

2

の銅線とする。端子線は,定格電流 10 A 以下のヒューズリ

ンクを試験する場合には断面積 2 mm

2

の銅線とし,定格電流 10 A を超えるヒューズリンクを試験する

場合には断面積 8 mm

2

の銅線とする。各端子線の長さは,約 1 m とする。

2 個以上のヒューズリンクを直列に試験する場合には,試験するそれぞれのヒューズリンクの間が

150 mm 以上離れるようにヒューズベースを配置する。


9

C 6575-2

:2016

単位  mm  許容差±0.1 mm

図 15 mm×20 mm 及び 6.3 mm×32 mm のヒューズリンク試験用ヒューズベース 

定格電流 6.3 A 以下のもの 

ヒューズリンク

a b 

5 mm×20 mm

20

48

6.3 mm×32 mm

32

60


10

C 6575-2

:2016

単位  mm  許容差±0.1 mm

図 25 mm×20 mm 及び 6.3 mm×32 mm ヒューズリンクの試験用ヒューズベース 

定格電流 6.3 A を超えるもの 

ヒューズリンク

a b 

5 mm×20 mm

20

48

6.3 mm×32 mm

32

60


11

C 6575-2

:2016

単位  mm  許容差±0.1 mm

図 3−遮断容量試験用ヒューズベース 

ヒューズリンク

a b 

5 mm×20 mm

20

67

6.3 mm×32 mm

32

79


12

C 6575-2

:2016

単位  mm  許容差±0.3 mm

試験品の端子の

外径

寸法

ヒューズに加わる

接触圧力(N)

a b c d e  f h i  j 

6 未満 9

10

4

3 8

48

12

17.5

8

4 以上  6 以下

6 以上  9 未満  9 10 4  6 12 76 17.5

24 15

8 以上 12 以下

9 以上

12 13 6  6 12 82 17.5

24 15

12 以上 18 以下

図 3A−試験用ヒューズベース(スタンダードシート J1 参照) 


13

C 6575-2

:2016

単位  mm

図 3B−リード線をもつヒューズリンクの試験用ヒューズベース 

単位  mm

a

d”及び“I”は,スタンダードシートに規定されるヒューズリンクに適合する寸法とする。

図 3C−遮断容量試験用ヒューズベース 

寸法及び構造 

寸法及び構造は,次を除き,JIS C 6575-1 の箇条 8(寸法及び構造)による。

8.2 

構造  追加(“ヒューズエレメントは,完全に”で始まる段落の後に,次を追加する。) 

不透明なヒューズリンクと指定された場合,不透明な消弧剤を用いる限り,透明な筒を用いてもよい。

この規格では,筒の材料が,ガラス,セラミック又は類似の非燃焼性の材料で作られているという前提

に基づいている。


14

C 6575-2

:2016

8.3 

端子  追加(“接着強度の試験は,”で始まる段落の後に,次を追加する。) 

ヒューズリンクの両端には,円筒形の金属キャップがあるものとする。

円筒形キャップの外側端面は,実質的に平たんであって,軸方向に対し直角でなければならない。

キャップは,ヒューズリンクを破壊しない限り,取り外せないくらい強固に固定しなければならない。

合否は,目視検査及び次の試験によって判定する。

−  サンプルは,15∼35  ℃の水中に 24 時間浸した後に水中から取り出し,軸方向でキャップを外す方向

に各キャップに 5 N の張力を 1 分間加える。

−  キャップは,この間しっかり固定した状態を保っていなければならない。

この試験のための適切な装置を

図 に示す。疑義のある場合には,この装置を用いる。この装置を用い

ることによって,キャップをねじることなく試験することが可能である。

単位  mm

・  この装置は,3 本のチューブ(1,2,3)が互いに滑動できる構造とする。 
・  外部チューブ(1)には上方の端に開口部を設け,試験サンプルの端部の取付け部を設ける。

・  中間チューブ(2)にも,

(1)と同じように上方にへこみ及び試験サンプルのもう一方の端部の取付け部を設ける。

・  内部チューブ(3)は,チューブ(2)及びスプリング(4)によって連結する。 
・  ノブ(5)を引っ張ってチューブ(3)を下方へ動かすとスプリング(4)が伸び,その結果,軸方向に働く力が漸

次強まりつつ,チューブ(2)と試験サンプルとの間に安定した軸方向の引張力が加えられる。

・  キャップ及びリンク全体の長さがいろいろ変わっても,滑り式チューブを移動させて,調節できるものとする。

チューブ(2)の下端(6)は,のぞき窓(7)から見えるようにし,目印として役立てる。点線で示したもう一つ

のマークは,

“5 N”という記号とともにチューブ(3)にプリントしたものとする。ノブ(5)は,この位置にし

っかりとねじ込み,これを適切に下方へ動かして両マークの一致点が得る。

・  ねじ(8)は,チューブ(1)と(2)とのアライメントを保つ役目をする。

・  この試験用装置は,試験用ヒューズを上部に立てて用いる。

図 4−軸方向引張試験用装置 


15

C 6575-2

:2016

8.4 

アライメント及び端子形状  追加(“アライメント,ピン位置”で始まる段落の後に,次を追加する。) 

リード線をもつものを除き,ヒューズリンクのキャップ及び筒部は,十分真っすぐに結合しなければな

らない。

合否は,

図 に示すゲージを用いて判定する。

ヒューズリンクは,その自重だけで,その全長がゲージを通過しなければならない。

注記  φ及び の寸法は,スタンダードシートに規定されている。

図 5−アライメントのゲージ 

電気的要求事項 

電気的要求事項は,次を除き,JIS C 6575-1 の箇条 9(電気的要求事項)による。

9.3.1 

試験方法  追加(“ミニチュアヒューズの各タイプの”で始まる段落の後に,次を追加する。) 

ヒューズリングごとの試験は,次による。

スタンダードシート 1∼スタンダードシート 10 に規定するヒューズリンク  スタンダードシートで規

定する試験回路を用いて,交流で試験しなければならない。

高遮断容量ヒューズリンクの遮断容量試験用の標準試験回路を

図 に,また,低遮断容量ヒューズ

リンクの遮断容量試験用の標準試験回路を

図 に示す。図 に示す試験用ヒューズベースを用いる。

高遮断容量ヒューズリンクの定格遮断容量での試験回路の力率は 0.7∼0.8 とし,定格遮断容量より

小さい固有電流に対しては回路のインダクタンスを一定に保ち,電流調整は,抵抗だけを変化させる

ことによって行う。

スタンダードシート J1 に規定するヒューズリンク  スタンダードシートで規定する試験回路を用い

て,交流で試験しなければならない。

遮断試験は,

図 7A に示す試験回路を用いて,次の電流について行い,投入角はランダムとする。

リード線をもたないものは

図 3C に示すヒューズベースを用い,リード線をもつものは図 3B に示すヒ

ューズベースを用いる。

1)

高遮断容量ヒューズリンク:定格遮断容量 1 500 A 又は 2 500 A 及び 500 A 並びに定格電流の 5 倍の

電流

2)

低遮断容量ヒューズリンク:定格遮断容量 100 A

3)

中遮断容量ヒューズリンク:

・  消弧剤を用いないもの:定格遮断容量(300 A 又は 500 A)

・  消弧剤を用いるもの:定格遮断容量(300 A 又は 500 A)及び定格電流の 5 倍の電流

定格遮断容量での試験回路の力率は,0.7∼0.8 とし,定格遮断容量より小さい固有電流に対しては


16

C 6575-2

:2016

回路のインダクタンスを一定に保ち,電流調整は,抵抗を変化することによって行う。

図 6−高遮断容量ヒューズリンクの遮断容量試験用の標準試験回路 

図 及び図 の記号

A: 電流チェック用の取外し可能なリンク 
C: 投入スイッチ 
D: 電源を切り離すためのサーキットブレーカ 
F: 供試ヒューズ 
S: インピーダンスが回路の全インピーダンスの 10 %未満の電源 
L: インダクタンス 0.3 mH±3 %又は 0.6 mH±3 %の空心コイル(インダクタンスの値は,電源電圧による。)
R

1

:直列抵抗,正確な固有電流調節用

R

2

:並列抵抗,40

Ω±10 %

図 7−低遮断容量ヒューズリンクの遮断容量試験用の標準試験回路 

A: 電流チェック用の取外し可能なリンク 
C: 投入スイッチ 
D: 電源を切り離すためのサーキットブレーカ 
F: 供試ヒューズ 
S: インピーダンスが回路の全インピーダンスの 10 %未満の電源 
L: インダクタンス 
R: 抵抗

図 7A−遮断試験回路(スタンダードシート J1 に規定するヒューズリンクに適用) 

9.3.2 

合格判定基準  追加(“ヒューズリンクの破裂”の細別の後に,次を追加する。) 

−  接点との融着

−  試験後の表示判読不能

−  肉眼で見えるキャップ外面の穴あき


17

C 6575-2

:2016

次の現象は,不合格とみなさない。

−  キャップ面の黒点

−  キャップの小さな変形

−  ヒューズリンクのひび割れ

9.3.3 

絶縁抵抗  追加(“遮断試験後のヒューズリンクの”で始まる段落の後に,次を追加する。) 

スタンダードシート J1 に規定するヒューズリンクの場合には,遮断試験後及び溶断試験(9.2 の時間電

流特性の試験)後に絶縁抵抗の測定を行う。絶縁抵抗は,500 V 絶縁抵抗計で測定したとき,0.2 MΩ 以上

でなければならない。

9.7 

ヒューズリンクの温度  追加(“ヒューズリンクの取付け及び”で始まる段落の後に続けて,次の文

を追加する。

 

ただし,スタンダードシート J1 に規定する定格電流 10 A を超えるヒューズリンクは,この細分箇条の

試験に代えて,耐久試験の最後の 10 分間に次の試験を行う。

−  ヒューズリンクの筒の中央部及びヒューズリンク接触部の温度上昇を熱電温度計法によって測定する。

−  温度上昇は,次の値以下でなければならない。

・  筒の中央部:140 K 以下

・  ヒューズリンク接触部:60 K 以下


18

C 6575-2

:2016

10 

スタンダードシート 

ヒューズリンク 5×20 mm

速動形

高遮断容量

スタンダードシート 1

ページ 1

単位  mm

 
アライメント  ゲージの寸法:h=30,d=5.38±0.01(8.4 参照) 
 
構造  ヒューズリンクは,不透明でなければならない。

定格電流

a)

定格電圧

V

最大電圧降下

mV

最大継続ワット損

W

b)

50 mA

250

10 000

1.6

63 mA

8 800

80 mA

7 600

100 mA

7 000

125 mA

5 000

160 mA

4 300

200 mA

3 500

250 mA

2 800

2.5

315 mA

2 500

400 mA

2 000

500 mA

1 800

630 mA

1 500

800 mA

1 200

 1

A

1 000

 1.25

A

800

4

 1.6

A

600

 2

A

500

 2.5

A

400

 3.15

A

350

 4

A

300

 5

A

250

 6.3

A

200

 8

A

200

 10

A

200

a)

  定格電流の中間値は,JIS Z 8601 による R20 シリーズから選択する。

b)

  定格電流の 1.5 倍を 1 時間(定格電流が 6.3 A を超える場合は 30 分間)通電後に

測定する。

 
表示  ヒューズリンクには,次の事項を表示する。 
a)

定格電流

b)

定格電圧

c)

製造業者名又は登録商標

d)

特性記号:F

e)

遮断容量記号:H


19

C 6575-2

:2016

ヒューズリンク 5×20 mm

速動形

高遮断容量

スタンダードシート 1

ページ 2

溶断時間−電流特性  溶断時間は,次の表の規定値以内でなければならない。

定格電流 2.1I

N

 2.75I

N

4I

N

 10I

N

最大

最小

最大

最小

最大

最大

50 mA∼4 A

30 分 10

m 秒

2 秒 3

m 秒 300

m 秒 20

m 秒

4 A を超え 6.3 A 以下 30 分 10

m 秒

3 秒 3

m 秒 300

m 秒 20

m 秒

6.3 A を超え 10 A 以下 30 分 40

m 秒 20 秒 10

m 秒 1

秒 30

m 秒

 
遮断容量  定格遮断容量  :1 500 A,交流による。図 の高遮断容量試験回路による。 
 
耐久試験  JIS C 6575-1 の 9.4 a)に従って,定格電流の 1.2 倍を 100 サイクル通電し,その後,JIS C 6575-1 の 9.4 b)
に従って定格電流の 1.5 倍を 1 時間(定格電流が 6.3 A を超える場合は 30 分間)通電する。


20

C 6575-2

:2016

ヒューズリンク 5×20 mm

速動形

低遮断容量

スタンダードシート 2

ページ 1

このタイプのヒューズリンクは,限定された短絡電流しか発生しない通信機器回路,又は同様の回路の保護に用い

ることが望ましい。

単位  mm

 
アライメント  ゲージの寸法:h=30,d=5.38±0.01(8.4 参照) 
 
構造  ヒューズリンクは,透明でなければならない。

定格電流

a)

定格電圧

V

最大電圧降下

mV

最大継続ワット損

W

b)

32 mA

250

10 000

1.6

40 mA

8 000

50 mA

7 000

63 mA

5 000

80 mA

4 000

100 mA

3 500

125 mA

2 000

160 mA

2 000

200 mA

1 700

250 mA

1 400

315 mA

1 300

400 mA

1 200

500 mA

1 000

630 mA

650

800 mA

240

 1

A

200

 1.25

A

200

 1.6

A

190

 2

A

170

 2.5

A

170

 3.15

A

150

2.5

 4

A

130

 5

A

130

 6.3

A

130

 8

A

125

130

4

 10

A

130

a)

  定格電流の中間値は,JIS Z 8601 による R20 シリーズから選択する。

b)

  定格電流の 1.5 倍を 1 時間(定格電流が 6.3 A を超える場合は 30 分間)通電後に

測定する。

 
表示  ヒューズリンクには,次の事項を表示する。 
a)

定格電流

b)

定格電圧

c)

製造業者名又は登録商標

d)

特性記号:F

e)

遮断容量記号:L


21

C 6575-2

:2016

ヒューズリンク 5×20 mm

速動形

低遮断容量

スタンダードシート 2

ページ 2

溶断時間−電流特性  溶断時間は,次の表の規定値以内でなければならない。

定格電流 2.1I

N

 2.75I

N

4I

N

 10I

N

最大

最小

最大

最小

最大

最大

32 mA∼100 mA

30 分 10

m 秒 500

m 秒

3 m 秒 100

m 秒 20

m 秒

100 mA を超え 6.3 A 以下 30 分 50

m 秒 2

秒 10

m 秒 300

m 秒 20

m 秒

6.3 A を超え 10 A 以下 30 分 50

m 秒 2

秒 10

m 秒 400

m 秒 40

m 秒

 
遮断容量  定格遮断容量:35 A 又は定格電流の 10 倍のいずれか大きい方,交流による。図 の低遮断容量試験回路
による。

定格電流が 6.3 A を超える場合,遮断試験は,125 V で行う。 
回路の固有故障電流は,これらの規定値以内にあることに注意する。 

耐久試験  JIS C 6575-1 の 9.4 a)に従って,定格電流の 1.2 倍を 100 サイクル通電し,その後,JIS C 6575-1 の 9.4 b)
に従って定格電流の 1.5 倍を 1 時間(6.3 A を超える定格の場合は 30 分間)通電する。


22

C 6575-2

:2016

ヒューズリンク 5×20 mm

速動形

低遮断容量

スタンダードシート 3

ページ 1

このタイプのヒューズリンクは,限定された短絡電流しか発生しない通信機器回路,又は同様の回路の保護に用い

ることが望ましい。

単位  mm

 
アライメント  ゲージの寸法:h=30,d=5.38±0.01(8.4 参照) 
 
構造  ヒューズリンクは,透明でなければならない。

定格電流

a)

定格電圧

V

最大電圧降下

mV

最大継続ワット損

W

b)

32 mA

250

5 000

1.6

40 mA

4 000

50 mA

3 500

63 mA

3 000

80 mA

3 000

100 mA

2 500

125 mA

2 000

160 mA

1 900

200 mA

1 500

250 mA

1 300

315 mA

1 100

400 mA

1 000

500 mA

900

630 mA

300

800 mA

250

 1

A

150

 1.25

A

150

 1.6

A

150

 2

A

150

 2.5

A

120

 3.15

A

100

 4

A

100

 5

A

100

 6.3

A

100

 8

A

125

100

4

 10

A

100

a)

  定格電流の中間値は,JIS Z 8601 による R20 シリーズから選択する。

b)

  定格電流の 1.5 倍を 1 時間(定格電流が 6.3 A を超える場合は 30 分間)通電後に

測定する。

 
表示  ヒューズリンクには,次の事項を表示する。 
a)

定格電流

b)

定格電圧

c)

製造業者名又は登録商標

d)

特性記号:T

e)

遮断容量記号:L


23

C 6575-2

:2016

ヒューズリンク 5×20 mm

速動形

低遮断容量

スタンダードシート 3

ページ 2

溶断時間−電流特性  溶断時間は,次の表の規定値以内でなければならない。

定格電流 2.1I

N

 2.75I

N

4I

N

 10I

N

最大

最小

最大

最小

最大

最小

最大

32 mA∼100 mA

2 分 200

m 秒

10 秒 40

m 秒

3 秒 10

m 秒 300

m 秒

100 mA を超え 10 A 以下

2 分 600

m 秒

10 秒 150

m 秒

3 秒 20

m 秒 300

m 秒

 
70

±2  ℃での試験  定格電流の 1.1 倍を 1 時間通電しても,ヒューズリンクは,溶断してはならない。

 
遮断容量  定格遮断容量:35 A 又は定格電流の 10 倍のいずれか大きい方,交流による。図 の低遮断容量試験回路
による。

定格電流が 6.3 A を超える場合,遮断試験は,125 V で行う。 
回路の固有故障電流は,これらの規定値以内にあることに注意する。

 
耐久試験  JIS C 6575-1 の 9.4 a)に従って,定格電流の 1.2 倍を 100 サイクル通電し,その後,JIS C 6575-1 の 9.4 b)
に従って定格電流の 1.5 倍を 1 時間(6.3 A を超える定格の場合は 30 分間)通電する。


24

C 6575-2

:2016

ヒューズリンク 6.3×32 mm

速動形

低遮断容量

スタンダードシート 4

ページ 1

このタイプのヒューズリンクは,限定された短絡電流しか発生しない通信機器回路,又は同様の回路の保護に用い

ることが望ましい。

注記  このスタンダードシートは,数か国の要求に応じて作成されたものであり,更に多くの国で用いられる場

合には変更が必要となる場合がある。

単位  mm

 
アライメント  ゲージ寸法:h=38,d=6.65±0.01(8.4 参照) 
 
構造  ヒューズリンクは,透明でなければならない。

定格電流

定格電圧

V

最大電圧降下

mV

最大継続ワット損

W

a)

50 mA

250

10 000

1.6

63 mA

8 000

80 mA

7 000

100 mA

6 000

125 mA

5 500

160 mA

5 000

200 mA

4 000

250 mA

3 500

315 mA

3 000

400 mA

2 500

500 mA

2 000

630 mA

1 800

800 mA

1 500

 1

A

500

 1.25

A

400

2.5

 1.6

A

400

 2

A

300

 2.5

A

150

250

 3.15

A

150

250

4

 4

A

150

250

 5

A

60

200

 6.3

A

60

200

 8

A

60

200

 10

A

60

200

a)

  定格電流の 1.15 倍を 1 時間通電後に測定する。

 
表示  ヒューズリンクには,次の事項を表示する。 
a)

定格電流

b)

定格電圧

c)

製造業者名又は登録商標

d)

特性記号:F

e)

遮断容量記号:L


25

C 6575-2

:2016

ヒューズリンク 6.3×32 mm

速動形

低遮断容量

スタンダードシート 4

ページ 2

溶断時間−電流特性  溶断時間は,次の表の規定値以内でなければならない。

定格電流

2I

N

 2.75I

N

4I

N

 10I

N

最大

最小

最大

最小

最大

最大

50 mA∼100 mA

20 秒 2

m 秒 200

m 秒

1 m 秒 30

m 秒 5

m 秒

100 mA を超え 10 A 以下 20 秒 20

m 秒 1 500

m 秒

8 m 秒 400

m 秒 80

m 秒

 
遮断容量  定格遮断容量:35 A 又は定格電流の 10 倍のいずれか大きい方,交流による。図 の低遮断容量試験回路
による。 
 
耐久試験  JIS C 6575-1 の 9.4 a)に従って,定格電流の 1.05 倍で 100 サイクル,その後,JIS C 6575-1 の 9.4 b)に従っ
て定格電流の 1.15 倍で 1 時間通電する。


26

C 6575-2

:2016

ヒューズリンク 5×20 mm

タイムラグ(耐サージ)

高遮断容量

スタンダードシート 5

ページ 1

単位  mm

 
アライメント  ゲージ寸法:h=30,d=5.38±0.01(8.4 参照) 
 
構造  ヒューズリンクは,不透明でなければならない。

定格電流

a)

定格電圧

V

最大電圧降下

mV

最大継続ワット損

W

b)

100 mA

250

2 800

1.6

125 mA

2 600

160 mA

2 400

200 mA

2 100

250 mA

1 500

315 mA

1 100

400 mA

1 000

500 mA

850

630 mA

650

800 mA

500

 1

A

350

2.5

 1.25

A

300

 1.6

A

200

 2

A

190

 2.5

A

180

 3.15

A

140

4

 4

A

100

 5

A

100

 6.3

A

100

 8

A

100

 10

A

100

a)

  定格電流の中間値は,JIS Z 8601 による R20 シリーズから選択する。

b)

  定格電流の 1.5 倍を 1 時間(定格電流が 6.3 A を超える場合は 30 分間)通電後に

測定する。

 
表示  ヒューズリンクには,次の事項を表示する。 
a)

定格電流

b)

定格電圧

c)

製造業者名又は登録商標

d)

特性記号:T

e)

遮断容量記号:H


27

C 6575-2

:2016

ヒューズリンク 5×20 mm

タイムラグ(耐サージ)

高遮断容量

スタンダードシート 5

ページ 2

溶断時間−電流特性  溶断時間は,次の表の規定値以内でなければならない。

定格電流 2.1I

N

 2.75I

N

4I

N

 10I

N

最大

最小

最大

最小

最大

最小

最大

100 mA∼800 mA

30 分 250

m 秒

80 秒 50

m 秒

5 秒 5

m 秒 150

m 秒

800 mA を超え 3.15 A 以下 30 分 750

m 秒

80 秒 95

m 秒

5 秒 10

m 秒 150

m 秒

3.15 A を超え 10 A 以下 30 分 750

m 秒

80 秒 150

m 秒

5 秒 10

m 秒 150

m 秒

 
70

±2  ℃での試験  定格電流の 1.1 倍を 1 時間通電しても,ヒューズリンクは,溶断してはならない。

 
遮断容量  定格遮断容量:1 500 A,交流による。図 の高遮断容量試験回路による。 
 
耐久試験  JIS C 6575-1 の 9.4 a)に従って,定格電流の 1.2 倍で 100 サイクル,その後,JIS C 6575-1 の 9.4 b)に従って
定格電流の 1.5 倍を 1 時間(6.3 A を超える定格の場合は 30 分)通電する。


28

C 6575-2

:2016

ヒューズリンク 5×20 mm

タイムラグ(耐サージ)

低遮断容量

スタンダードシート 6

ページ 1

このタイプのヒューズリンクは,35 A を超え 150 A 以下の短絡電流の発生が予想されるテレビジョンのような機器

の回路保護に用いることが望ましい。

単位  mm

 
アライメント  ゲージ寸法:h=30,d=5.38±0.01(8.4 参照) 
 
構造:ヒューズリンクは,透明でも不透明でもよい。

定格電流

a)

定格電圧

V

最大電圧降下

mV

最大継続ワット損

W

b)

32 mA

250

5 000

1.6

40 mA

4 000

50 mA

3 500

63 mA

3 000

80 mA

3 000

100 mA

2 500

125 mA

2 000

160 mA

1 900

200 mA

1 500

250 mA

1 300

315 mA

1 100

400 mA

1 000

500 mA

900

630 mA

300

800 mA

250

 1

A

150

 1.25

A

150

 1.6

A

150

 2

A

150

 2.5

A

120

 3.15

A

100

 4

A

100

 5

A

100

 6.3

A

100

 8

A

100

4

 10

A

100

a)

  定格電流の中間値は,JIS Z 8601 による R20 シリーズから選択する。

b)

  定格電流の 1.5 倍を 1 時間(定格電流が 6.3 A を超える場合は 30 分間)通電後に

測定する。

 
表示  ヒューズリンクには,次の事項を表示する。 
a)

定格電流

b)

定格電圧

c)

製造業者名又は登録商標

d)

特性記号:T

e)

遮断容量記号:E


29

C 6575-2

:2016

ヒューズリンク 5×20 mm

タイムラグ(耐サージ)

低遮断容量

スタンダードシート 6

ページ 2

溶断時間−電流特性  溶断時間は,次の表の規定値以内でなければならない。

定格電流 2.1I

N

 2.75I

N

4I

N

 10I

N

最大

最小

最大

最小

最大

最小

最大

32 mA∼100 mA

2 分 200

m 秒

10 秒 40

m 秒

3 秒 10

m 秒 300

m 秒

100 mA を超え 10 A 以下

2 分 600

m 秒

10 秒 150

m 秒

3 秒 20

m 秒 300

m 秒

 
70

±2  ℃での試験  定格電流の 1.1 倍を 1 時間通電しても,ヒューズリンクは,溶断してはならない。

 
遮断容量  定格遮断容量:150 A,交流による。図 の低遮断容量試験回路による。 
 
耐久試験  JIS C 6575-1 の 9.4 a)に従って,定格電流の 1.2 倍で 100 サイクル通電し,その後,JIS C 6575-1 の 9.4 b)
に従って定格電流の 1.5 倍を 1 時間(6.3 A を超える定格の場合は 30 分)通電する。


30

C 6575-2

:2016

ヒューズリンク 6.3×32 mm

速動形

低遮断容量

スタンダードシート 7

ページ 1

単位  mm

 
アライメント  ゲージ寸法:h=38,d=6.65±0.01 
 
構造  ヒューズリンクは,透明でなければならない。

定格電流

定格電圧

V

最大電圧降下

mV

最大継続ワット損

W

32 mA

250

17 000

1.6

40 mA

13 500

50 mA

11 000

63 mA

9 000

80 mA

7 000

100 mA

5 500

125 mA

4 000

160 mA

3 200

200 mA

2 500

250 mA

2 000

315 mA

1 600

400 mA

1 300

500 mA

1 100

630 mA

600

800 mA

500

 1

A

450

 1.25

A

400

 1.6

A

350

 2

A

300

2.5

 2.5

A

300

 3.15

A

250

 4

A

250

4

 5

A

250

 6.3

A

200

 8

A

180

 10

A

150

 
表示  ヒューズリンクには,次の事項を表示する。 
a)

定格電流

b)

定格電圧

c)

製造業者名又は登録商標

d)

特性記号:F

e)

遮断容量記号:E


31

C 6575-2

:2016

ヒューズリンク 6.3×32 mm

速動形

低遮断容量

スタンダードシート 7

ページ 2

溶断時間−電流特性  溶断時間は,次の表の規定値以内でなければならない。

定格電流 2.1I

N

 2.75I

N

4I

N

 10I

N

最大

最大

最大

最大

32 mA∼500 mA

30 分 600

m 秒

200 m 秒

20 m 秒

630 mA∼6.3 A

30 分 1

秒 300

m 秒

30 m 秒

8 A∼10 A

30 分 2

秒 500

m 秒

40 m 秒

 
遮断容量  定格遮断容量:200 A,力率 0.95∼1.00,交流による。図 の低遮断容量試験回路による。 
 
耐久試験  定格電流 6.3 A 以下の場合,JIS C 6575-1 の 9.4 a)  に従って,定格電流の 1.2 倍を 100 サイクル通電し,そ
の後,JIS C 6575-1 の 9.4 b)  に従って,定格電流の 1.5 倍を 1 時間通電する。試験後,ワット損を測定する。

定格電流 6.3 A を超える場合,JIS C 6575-1 の 9.4 a)  に従って,定格電流の 1.2 倍を 100 サイクル通電し,その後,

JIS C 6575-1

の 9.4 b)  に従って,定格電流の 1.5 倍を 30 分間通電する。試験後,ワット損を測定する。


32

C 6575-2

:2016

ヒューズリンク 6.3×32 mm

タイムラグ

低遮断容量

スタンダードシート 8

ページ 1

単位  mm

 
アライメント  ゲージ寸法:h=38,d=6.65±0.01 
 
構造  ヒューズリンクは,透明でなければならない。

定格電流

定格電圧

V

最大電圧降下

mV

最大継続ワット損

W

100 mA

250

3 000

1.6

125 mA

2 600

160 mA

2 300

200 mA

2 000

250 mA

1 700

315 mA

1 400

400 mA

1 200

500 mA

1 000

630 mA

800

800 mA

600

 1

A

500

 1.25

A

400

 1.6

A

350

 2

A

300

2.5

 2.5

A

300

 3.15

A

250

 4

A

250

4

 5

A

250

 6.3

A

200

 8

A

180

 10

A

150

 
表示  ヒューズリンクには,次の事項を表示する。 
a)

定格電流

b)

定格電圧

c)

製造業者名又は登録商標

d)

特性記号:T

e)

遮断容量記号:E


33

C 6575-2

:2016

ヒューズリンク 6.3×32 mm

タイムラグ

低遮断容量

スタンダードシート 8

ページ 2

溶断時間−電流特性  溶断時間は,次の表の規定値以内でなければならない。

定格電流 2.1I

N

 2.75I

N

4I

N

 10I

N

最大

最大

最小

最大

最小

最大

100 mA∼6.3 A

2 分 20 秒 100

m 秒

3 秒 30

m 秒 300

m 秒

8 A∼10 A

10 分 30 秒 150

m 秒

5 秒 50

m 秒 300

m 秒

 
70

±2  ℃での試験  定格電流の 1.1 倍を 1 時間通電しても,ヒューズリンクは,溶断してはならない。

 
遮断容量  定格遮断容量:200 A,力率 0.95∼1.00,交流による。図 の低遮断容量試験回路による。 
 
耐久試験  定格電流 6.3 A 以下の場合,定格電流の 1.2 倍を 100 サイクル通電し,その後,定格電流の 1.5 倍を 1 時間
通電する。試験後,ワット損を測定する。

定格電流 6.3 A を超える場合,定格電流の 1.2 倍を 100 サイクル通電し,その後,定格電流の 1.5 倍を 30 分間通電す

る。試験後,ワット損を測定する。


34

C 6575-2

:2016

ヒューズリンク 6.3×32 mm

速動形

高遮断容量

スタンダードシート 9

ページ 1

単位  mm

 
アライメント  ゲージ寸法:h=38,d=6.65±0.01 
 
構造  ヒューズリンクは,不透明でなければならない。

定格電流

定格電圧

V

最大電圧降下

mV

最大継続ワット損

W

100 mA

500

5 500

1.6

125 mA

4 500

160 mA

3 500

200 mA

2 800

250 mA

2 200

315 mA

1 800

400 mA

1 500

500 mA

1 400

2.5

630 mA

1 300

800 mA

600

 1

A

500

 1.25

A

500

 1.6

A

500

 2

A

450

 2.5

A

400

4

 3.15

A

350

 4

A

300

 5

A

250

 6.3

A

250

 8

A

200

 10

A

150

 
表示  ヒューズリンクには,次の事項を表示する。 
a)

定格電流

b)

定格電圧

c)

製造業者名又は登録商標

d)

特性記号:F

e)

遮断容量記号:H


35

C 6575-2

:2016

ヒューズリンク 6.3×32 mm

速動形

高遮断容量

スタンダードシート 9

ページ 2

溶断時間−電流特性  溶断時間は,次の表の規定値以内でなければならない。

定格電流 2.1I

N

 2.75I

N

4I

N

 10I

N

最大

最大

最大

最大

100 mA∼6.3 A

30 分

2 秒 600

m 秒

30 m 秒

8 A∼10 A

30 分

3 秒 800

m 秒

40 m 秒

 
遮断容量  定格遮断容量:1 500 A,交流による。図 の高遮断容量試験回路による。 
 
耐久試験  定格電流 6.3 A 以下の場合,定格電流の 1.2 倍を 100 サイクル通電し,その後,定格電流の 1.5 倍を 1 時間
通電する。試験後,ワット損を測定する。

定格電流 6.3 A を超える場合,定格電流の 1.2 倍を 100 サイクル通電し,その後,定格電流の 1.5 倍を 30 分間通電す

る。試験後,ワット損を測定する。


36

C 6575-2

:2016

ヒューズリンク 6.3×32 mm

タイムラグ

高遮断容量

スタンダードシート 10

ページ 1

単位  mm

 
アライメント  ゲージ寸法:h=38,d=6.65±0.01 
 
構造  ヒューズリンクは,不透明でなければならない。

定格電流

定格電圧

V

最大電圧降下

mV

最大継続ワット損

W

100 mA

500

4 000

1.6

125 mA

3 500

160 mA

3 000

200 mA

2 500

250 mA

2 000

315 mA

1 800

400 mA

1 100

500 mA

900

630 mA

800

800 mA

700

 1

A

600

 1.25

A

450

2.5

 1.6

A

400

 2

A

350

 2.5

A

300

4

 3.15

A

300

 4

A

250

 5

A

250

 6.3

A

200

 8

A

180

 10

A

150

 
表示  ヒューズリンクには,次の事項を表示する。 
a)

定格電流

b)

定格電圧

c)

製造業者名又は登録商標

d)

特性記号:T

e)

遮断容量記号:H


37

C 6575-2

:2016

ヒューズリンク 6.3×32 mm

タイムラグ

高遮断容量

スタンダードシート 10

ページ 2

溶断時間−電流特性  溶断時間は,次の表の規定値以内でなければならない。

定格電流 2.1I

N

 2.75I

N

4I

N

 10I

N

最大

最大

最小

最大

最小

最大

100 mA∼315 mA

30 分 20 秒 100

m 秒

2 秒 10

m 秒 300

m 秒

400 mA∼10 A

30 分 80 秒 150

m 秒

3 秒 20

m 秒 300

m 秒

 
70

±2  ℃での試験  定格電流の 1.1 倍を 1 時間通電しても,ヒューズリンクは,溶断してはならない。

 
遮断容量  定格遮断容量:1 500 A,交流による。図 の高遮断容量試験回路による。 
 
耐久試験  定格電流 6.3 A 以下の場合,定格電流の 1.2 倍を 100 サイクル通電し,その後,定格電流の 1.5 倍を 1 時間
通電する。試験後,ワット損を測定する。

定格電流 6.3 A を超える場合,定格電流の 1.2 倍を 100 サイクル通電し,その後,定格電流の 1.5 倍を 30 分間通電す

る。試験後,ワット損を測定する。


38

C 6575-2

:2016

溶断種別

A 種,B 種

特殊溶断

低遮断,中遮断及び高遮断容量ヒューズリンク

スタンダードシート J1

ページ 1

単位  mm

端子にリード線を取り付けてもよい。は,リード線をも

つものを除き,端子の外径(直径)の 60 %以上の長さと
する。リード線の取付方向は,任意とする。

 
アライメント  ゲージ寸法は,次による。

端子の外径

φd

6 mm 未満

全長

20

5


 mm

(外径+0.25 mm)

±0.01 mm

6 mm 以上

(外形+0.30 mm)

±0.01 mm

 
構造  高遮断容量の場合,不透明なヒューズリンクでなければならない。すなわち,筒の外側からヒューズエレメン
トが見えてはならない。

低遮断容量及び中遮断容量の場合,筒の外側からヒューズエレメントが見えても見えなくてもよい。

 
定格  定格は,次による。 
−  定格電圧:交流 100 V,115 V,125 V,250 V 又は 300 V

−  定格電流:31.5 A 以下

−  定格遮断容量:

・  高遮断容量  1 500 A 又は 2 500 A

・  中遮断容量  300 A 又は 500 A のいずれかの値

・  低遮断容量  100 A

 
電圧降下値  検討中 
 
表示  ヒューズリンクには,次の事項を表示する。 
a)

定格電流

b)

定格電圧

c)

製造業者名又は登録商標

d)

溶断種別記号

−  A 種のものには

A 又は A

−  B 種のものには

B 又は B

−  特殊溶断のものは,表示を行わない。

なお,定格遮断容量は,包装容器に表示する。溶断種別が特殊溶断の場合には,最小溶断電流及び溶断時間も併せ

て包装容器に表示する。


39

C 6575-2

:2016

溶断種別

A 種,B 種

特殊溶断

低遮断,中遮断及び高遮断容量ヒューズリンク

スタンダードシート J1

ページ 2

溶断時間−電流特性  溶断時間は,次の表の規定値内でなければならない。

種別

I

N

 1.1I

N

 1.3I

N

 1.35I

N

 1.6I

N

2I

N

最小溶断電流

A 種

− 60 分以上

− 60 分以下

2 分以下

B 種

− 60 分以上

− 60 分以下

2 分以下

特殊溶断 60 分以上

指定溶断時間以内

注記 1  試験は,交流で行ってもよい。 
注記 2  リード線をもたないものは図 3A に,リード線をもつものは図 3B に示すヒューズベースを用いる。
注記 3  特殊溶断のものについては,最小溶断電流及び溶断時間は,製造業者によって指定される。

 
遮断試験  試験は,図 7A に示す試験回路を用いて,ランダム投入で実施する。リード線をもたないものは図 3C に,
リード線をもつものは

図 3B に示すヒューズベースを用いる。

 
耐久試験  JIS C 6575-1 の 9.4 a)に従って,A 種のものには定格電流の 0.75 倍,B 種のものには定格電流の 0.9 倍,又
は特殊溶断のものには定格電流の 0.7 倍以上の製造業者が指定する電流を 100 サイクル通電する。

その後,

JIS C 6575-1

の 9.4 b)  に従って,A 種のものには定格電流の 0.95 倍,B 種のものには定格電流の 1.14 倍,又は特殊溶断のものには

定格電流以上の製造業者の指定する電流を 30 分間通電する。さらに,B 種のものには定格電流の 1.15 倍を 30 分間通
電する。 
 
形式試験  個々の定格電流のヒューズリンクを試験する場合は,表 3A に従って試験を行う。同形シリーズを試験す
る場合は,最大の定格電流のヒューズリンクを

表 3A に従い試験し,最小定格電流のヒューズリンクを表 3B に従って

試験する。


40

C 6575-2

:2016

附属書 A

(規定)

リード線をもつヒューズリンク

A.1 

概論 

プリント基板上で電気・電子回路を自動組立てするために,5×20 mm タイプの動作レベルをもつ従来

のヒューズリンクに対してもプリント基板に自動実装するのに適した形状が要求されるようになった。

この附属書は,規格本体の要求事項を補足し,リード線端子を取り外して既に試験され,この規格に適

合している 5×20 mm ヒューズリンクに適用する。

この附属書は,スタンダードシート 1∼スタンダードシート 3,スタンダードシート 5 及びスタンダード

シート 6 に対してだけ適用できる。

注記  この附属書は,寸法上の制限から,スタンダードシート 4,スタンダードシート 7∼スタンダー

ドシート 10 及びスタンダードシート J1 には適用できない。

A.2 

適用 

この附属書は,プリント回路に実装される,通常,屋内で用いることを意図する電気機器,電子装置及

びそれらの構成部品の保護のために用いられるヒューズリンクに適用できる特別要求事項に関連している。

リード線の固定方法,取付方向,断面形状及び全長は,規定しない。

この附属書の目的は,リード線端子をもつヒューズリンクの追加試験方法を規定することである。

A.3 

試験に関する一般事項 

試験に関する一般事項は,次を除き,JIS C 6575-1 の箇条 7(試験に関する一般事項)による。

A.3.1 

形式試験 

追加  (JIS C 6575-1 の 7.2.1 の“試験に必要な”で始まる段落の後に,次を追加する。)

ヒューズリンクの個数は,21 個とする。

置換  (JIS C 6575-1 の 7.2.2 全て)

JIS C 6575-1

の 7.2.2 は,適用しない。

追加  (JIS C 6575-1 の 7.2.3 c)の後に,次を追加する。)

この附属書で規定する追加の試験には,一つの不合格も認められない。

追加

A.3.2 

試験手順 

リード線端子をもつヒューズリンクの試験手順は,

表 A.1 に従う。


41

C 6575-2

:2016

表 A.1−試験手順 

項目 
番号

内容

ヒューズリンク番号

 1

4

7

13

16

19

 3

6

12

15

18

21

A.4.1 

寸法

×

×

×

×

×

×

A.5.1 

電圧降下

×

×

A.5.2 

2.1I

N

×

A.5.3 

定格遮断容量

×

A.4.2 

リード線端子の機械的試験

×

A.4.3 

はんだ付け性

×

A.4.4 

はんだ耐熱性

×

A.5.4 

ヒューズリンクの温度

×

A.5.1 

電圧降下

×

×

記号“×”は,当該試験を実施することを示す。

ヒューズリンク番号 7∼12 及び 16∼18 は,電圧降下の測定のための試験基板にはんだ付

けする前に試験する。ヒューズリンク 13∼15 は,試験基板にはんだ付けしない。

追加

A.3.3 

試験用ベース 

リード線端子をもつヒューズリンクは,

図 A.1 に示す試験基板で試験する。試験下のヒューズリンクは,

十分なはんだ接続が得られる最小量の熱で試験基板にはんだ付けし,余ったリード線は切断する。試験基

板は,その後,

図 A.2 の試験用ベースに取り付ける。

単位  mm

記号 
O  銅はく(箔): 定格電流が 6.3 A 以下の場合,0.035 mm 

定格電流が 6.3 A を超える場合,0.070 mm 以下

すず(錫)で前処理してもよい。

U: 電圧降下測定のための結合部 
D: 定格電流が 6.3 A 以下の場合,直径 1 mm 

定格電流が 6.3 A を超える場合,直径 1.5 mm

機械的装置は,結果が同じになることが明白である場合に限り用いてもよい。

図 A.1−試験基板 


42

C 6575-2

:2016

単位  mm

10×10 mm の黄銅の電極を含めた,試験用ベースの上から見た図

A: 低熱伝導材料ベース,厚さ 10 mm 
B: 黄銅の電極 10×10 mm 
C: 所定の位置にはんだ付けしたヒューズリンク 
D: 止めねじ 
E: 端子線を保持する接触ねじ 
F: 試験基板(図 A.1 参照) 
G: ヒューズリンクのキャップと試験基板との間隔,最小 0.25 mm 
I:  試験基板からの高さ,最大 10 mm

リード線は,試験基板に合わせて曲げてもよい。

図 A.2−試験用ベース 

試験基板は,JIS C 6484 に規定するエポキシガラス布銅張積層板で作成する。

銅はく(箔)を含む積層板の呼び厚は,1.6 mm とする。

銅層の呼び厚は,ヒューズリンクの定格が 6.3 A 以下の場合は 0.035 mm,ヒューズリンクの定格が 6.3 A

を超える場合は 0.070 mm とする。

試験用ベースの金属部は,銅を 58∼70 %含む黄銅とする。接続部は,銀めっきとする。

A.4 

寸法及び構造 

寸法及び構造は,次を除き,JIS C 6575-1 の箇条 8(寸法及び構造)による。

A.4.1 

寸法  置換[JIS C 6575-1 の 8.1(寸法)全て] 

ヒューズリンクの寸法は,

図 A.3 による。

適否は,寸法測定によって判定する。


43

C 6575-2

:2016

リード線は,次による。

a)

リード線の長さは,規定されていない。

b)

リード線の断面形状は,任意。

c)

リード線は,次の寸法の穴を通すことができなければならない。

−  定格電流が 6.3 A 以下の場合,直径 1 mm

−  定格電流が 6.3 A を超える場合,直径 1.5 mm

d)

リード線の方向は,規定されていない(上に示されているものと代えることができる。

e)

リード線固定の方法は,規定されていない。

単位  mm

図 A.3−リード線端子をもつヒューズリンクの寸法 

追加

A.4.2 

リード線の機械的耐力試験 

リード線は,通常使用時に発生するおそれのある機械的力に耐えなければならない。適否は,次を追加

し,JIS C 60068-2-21 によって判定する。

a)

前処理  サンプルは,事前に温度 15∼35  ℃の水に 24 時間浸しておく。

b)

試験方法  固定位置に保持したヒューズリンクとともにそれぞれの端子を順番に,次の 1)及び 2)に従

って力をかける。試験サンプルグループは,次のリード線試験の間で等しく分けられる。

1)

試験 Ua

1

:引張力

ヒューズリンクの本体を保持し,通常の位置にあるリード線に本体から離れる方向に(10±0.5)

N の力を軸方向に加える。力は,徐々に(衝撃なしで)加え,その後,(10±1)秒間,保持する。

2)

試験 Ub:曲げ強さ(柔軟なリード線だけ適用する。

曲げ試験は,次の力を加える。

−  リード線の直径が 0.5∼0.8 mm の場合。

(5±0.5)N

−  リード線の直径が 0.8 mm を超え 1.25 mm 以下の場合。

(10±0.5)N

曲げ回数は,2 回とする。曲げは,JIS C 60068-2-21 の 5.5.2.1[曲げ強さ(リード線端子又は板状

端子)

]の方法 1 又は方法 2 に従って行う。

注記  リード線の直径が 1.25 mm を超える場合,及び板状端子の場合に適用する力の値は,JIS C 


44

C 6575-2

:2016

60068-2-21

表 4(試験 Ub 曲げ力)を参照することが望ましい。

試験の判定において,ヒューズリンクは堅固に取り付けたままとし,電圧降下は関連するスタンダード

シートにある最大許容値を超えてはならない。

追加

A.4.3 

端子のはんだ付け性 

端子のはんだ付け性は,ヒューズリンクを,次の条件で,JIS C 60068-2-20 の箇条 4[試験 Ta(リード

線及びラグ端子のはんだ付け性)

]の方法 1(はんだ槽法)を用いて行う。

−  エージング

:行わない(受入れの状態のまま)

−  浸せき条件

(235±5)℃で(2±0.5)秒

−  浸せきの深さ  :2.0±0.5 mm(キャップの端面から)

−  フラックスの形:非活性

−  熱遮蔽板

:使用してもよい

最終検査及び測定並びに要求事項は,次による。

適切な照明の下で,通常の目視によって外観検査を行う。対象物の大きさによっては,4∼10 倍の倍率

の拡大鏡を補助具として用いてもよい。

浸せきした表面は,ピンホール,ぬれなし,はんだはじき部分などの欠点がなく(浸せき表面の 10 %未

満)

,滑らかで,かつ,輝いているはんだ層で覆われていなければならない。

これらの欠点は,1 か所に集中してはならない。

追加

A.4.4 

はんだ耐熱性 

はんだ耐熱性は,ヒューズリンクを,次の条件で,JIS C 60068-2-20 の箇条 5[試験 Tb(はんだ耐熱性)

の方法 1(はんだ槽法)を用いて行う。

−  エージング

:行わない(受入れの状態のまま)

−  浸せき条件

(260±5)℃で(10±1)秒

−  浸せきの深さ  :2.0±0.5 mm(キャップの端面から)

−  フラックスの形:活性

−  熱遮蔽板

:使用してもよい

最終検査及び測定並びに要求事項は,次による。

適切な照明の下で,通常の目視によって外観検査を行う。対象物の大きさによっては,4∼10 倍の倍率

の拡大鏡を補助具として用いてもよい。

試験後,ヒューズリンクは裂けてはならず,表示は判読でき,カラーコードを使用している場合には変

色していてはならない。

電圧降下は,A.5.1 で測定し,関連するスタンダードシートに規定した最大値を超えてはならない。

A.5 

電気的要求事項 

電気的要求事項は,次を除き,JIS C 6575-1 の箇条 9(電気的要求事項)による。

A.5.1 

電圧降下  追加[JIS C 6575-1 の 9.1(電圧降下)の注記 の後に,次を追加する。] 

電圧降下の測定には,高インピーダンス電圧計の使用を奨励する。電圧降下は,

図 A.1 の U で表示して

いる点で測定する。


45

C 6575-2

:2016

A.5.2 

常温における時間−電流特性  追加[JIS C 6575-1 の 9.2.1(常温における時間−電流特性)の“一

定電流を維持”で始まる段落の後に,次を追加する。

 

定格電流の 2.1 倍での時間−電流特性は,当該スタンダードシートの規定に従って判定する。

A.5.3 

遮断容量  追加[JIS C 6575-1 の 9.3(遮断容量)の“ミニチュアヒューズの各タイプ”で始まる

段落の後に,次を追加する。

 

定格遮断容量は,当該スタンダードシートの規定に従って判定する。

A.5.4 

ヒューズリンクの温度  置換[JIS C 6575-1 の 9.7(ヒューズリンクの温度)全て] 

ヒューズリンクを次によって試験する場合,リード線が試験基板の穴に入る箇所の温度を測定し,その

温度上昇は,150 K を超えてはならない。ヒューズリンクは,試験基板との間隔(

図 A.2 の G)が 1 mm に

なるように実装する。

−  初期電流は,定格電流の 1.5 倍とする。

−  初期電流を 15 分間通電後,通電電流を 15 分ごとに定格電流の 0.1 倍ずつヒューズリンクが溶断する

まで増やす。

−  ヒューズリンクの温度は,連続して測定する。

−  ヒューズリンクの溶断前 30 秒間の測定温度は,無視する。

−  熱電対の素線の断面積は,0.05 mm

2

(AWG 30)を超えてはならない。

注記  温度上昇測定には,測定温度に著しい影響を与えない熱電対,又は他の温度測定方法を用いる

のがよい。

ヒューズリンクの取付け及び接続のための試験用ベースは,A.3.3 に従わなければならない。


46

C 6575-2

:2016

附属書 JA

(参考)

JIS

と対応国際規格との対比表

JIS C 6575-2:2016

  ミニチュアヒューズ−第 2 部:管形ヒューズリンク

IEC 60127-2:2014

,Miniature fuses−Part 2: Cartridge fuse-links

(I)JIS の規定

(II)

国際

規格 
番号

(III)国際規格の規定

(IV)JIS と国際規格との技術的差異の箇条ごとの評価

及びその内容

(V)JIS と国際規格との技術的差

異の理由及び今後の対策

箇条番号

及び題名

内容

箇条

番号

内容

箇条ごと

の評価

技術的差異の内容

1

適用範囲及び目的を規

IEC 

60127

-2 

1

JIS

とほぼ同じ

変更

対応国際規格では寸法 5×20 mm 及び 6.3×
32 mm の管形ヒューズリンクを適用範囲と
しているが,この規格では寸法が 11 mm×40 
mm 以下のヒューズリンクを適用範囲とし
た。

我が国特有の電気用品の技術上の
基準を定める省令の解釈(以下,

技術基準の解釈という。

)の別表第

三に記載する管形ヒューズの寸法
に変更した。

追加

附属書 A(規定)の引用文を追加した。

附属書 A は,規定であるが,本文

に引用されていないため,追加し

た。

6.1

ヒューズリンクの表示
事項を規定

 6.1

JIS

とほぼ同じ

追加

細別 a)の後に続けて,

我が国特有の技術基準

の解釈の別表第三に記載する包装ヒューズ

の一部を追加した。

我が国国内において広く用いられ
ており,電気用品安全法で認めら

れている表示を追加した。

追加

スタンダードシート J1 に規定するヒューズ

リンクで特殊溶断以外のヒューズリンクに
は,溶断種別記号を表示しなければならない

旨の規定を細別 f)として追加した。

対応国際規格に規定するヒューズ

リンクには,溶断特性記号として
F 又は T のいずれかを表示するこ
とになっているが,溶断種別記号

は溶断特性記号に相当する記号で
ある。溶断特性記号又は溶断種別

記号のいずれも表示していないも

のは特殊溶断として識別する。

46

C

 657

5-2


201

6


47

C 6575-2

:2016

(I)JIS の規定

(II) 
国際

規格

番号

(III)国際規格の規定

(IV)JIS と国際規格との技術的差異の箇条ごとの評価
及びその内容

(V)JIS と国際規格との技術的差
異の理由及び今後の対策

箇条番号

及び題名

内容

箇条

番号

内容

箇条ごと

の評価

技術的差異の内容

6.3

ヒューズリンクの包装

容器の表示事項を規定

 6.3

JIS

とほぼ同じ

追加

スタンダードシート J1 に規定するヒューズ

リンクは,定格遮断容量を包装容器に表示
し,そのヒューズリンクが特殊溶断の場合

は,更に最小溶断電流及び溶断時間を表示す

る旨の規定を追加した。

スタンダードシート J1 に規定す

るヒューズリンクは,技術基準の
解釈の別表第三に基づくヒューズ

リンクであって,その技術基準の

解釈で要求する事項を追加した。

7.2.1

試験に必要なサンプル
数及び試験手順を規定

 7.2.1

JIS

とほぼ同じ

追加

試験に必要なサンプル数及び試験手順に関
する対応国際規格の規定と,スタンダードシ

ート J1 に規定するヒューズリンクに適用す

る規定とを細別で区分し,併せて表 3A 及び
表 3B を追加した。

スタンダードシート J1 に規定す
るヒューズリンクは,技術基準の

解釈の別表第三によるものであっ

て,対応国際規格に規定するヒュ
ーズリンクとは,溶断特性,遮断

定格などが異なるため。

7.2.2

形 式 試 験 の 試 験 手 順

(電圧降下の取扱い)
を規定

 7.2.2

JIS

とほぼ同じ

追加

スタンダードシート J1 に規定するヒューズ

リンクに対しては,電圧降下の大きいものか
ら順次一連番号を付ける規定を除外した。

スタンダードシート J1 に規定す

るヒューズリンクについて,電圧
降下の規定がないことによる。

7.3

試験用ヒューズベース

を規定

 7.3

JIS

とほぼ同じ

追加

試験用ヒューズベースの詳細及び接続導体

に関する対応国際規格の規定を細別 a)とし,

スタンダードシート J1 に規定するヒューズ
リンクに適用する試験用ヒューズベース,接

続導体及び 2 個以上のヒューズリンクを直

列にして試験する場合の配置に関する規定
を細別 b)として追加し,図 3A∼図 3C を追

加した。

スタンダードシート J1 に規定す

るヒューズリンクに対する接続導

体について,技術基準の解釈の別
表第三の規定を追加した。

複数のヒューズリンクを直列にし

て試験する場合の配置の規定は,
将来削除し,対応国際規格と整合

させる予定。

8.4

アライメント及び端子

の形状を規定

 8.4

JIS

とほぼ同じ

追加

対応国際規格では,リード線の取付方向を規

定していない。取付方向によってはゲージを
通過できないため,リード線をもつヒューズ

リンクのアライメントを全てゲージで確認

することは要求されていない。また,この規
格ではリード線をもつものを除外する旨を

追加した。

技術基準の解釈の別表第三にはリ

ード線をもつヒューズリンクの規
定があって,対応国際規格にも附

属書 A にリード線をもつヒューズ

リンクの規定があるが,いずれも
アライメントに関する規定はない

ので除外した。

47

C

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5-2


201

6


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C 6575-2

:2016

(I)JIS の規定

(II) 
国際

規格

番号

(III)国際規格の規定

(IV)JIS と国際規格との技術的差異の箇条ごとの評価
及びその内容

(V)JIS と国際規格との技術的差
異の理由及び今後の対策

箇条番号

及び題名

内容

箇条

番号

内容

箇条ごと

の評価

技術的差異の内容

9.3.1

遮断試験回路及び試験

方法を規定

 9.3.1

JIS

とほぼ同じ

追加

遮断試験方法の対応国際規格の規定と,スタ

ンダードシート J1 に規定するヒューズリン
クに対する規定とを細別で区分した。また,

図 7A を追加した。

スタンダードシート J1 に規定す

るヒューズリンクの定格遮断容量
での試験条件は,技術基準の解釈

の別表第三の規定を適用した。

9.3.1  図 6

高遮断容量ヒューズリ

ンクの遮断容量試験用
の標準試験回路

 9.3.1

図 6

JIS

とほぼ同じ

追加

対応国際規格では,図 6 の記号 L はインダ

クタンス 0.3 mH±3 %と規定されている。こ
の規格では定格電圧 500 V の高遮断容量ヒ

ューズリンクの試験のため 0.6 mH±3 %を

追加した。

インダクタンスの値として,0.6 
mH が抜けていることは単なる修
正 漏 れ で あ っ て , IEC/SC/32C 
MT10 で既に指摘を行った。次回
の改正で修正される予定。

9.3.3

遮断試験及び溶断試験
後の絶縁抵抗値を規定

 9.3.3

JIS

とほぼ同じ

追加

スタンダードシート J1 に規定するヒューズ
リンクは,遮断試験及び溶断試験後の絶縁抵

抗値が 0.2 MΩ 以上でなければならない旨の

規定を追加した。

スタンダードシート J1 に規定す
るヒューズリンクは,技術基準の

解 釈 の 別 表 第 三 の 規 定 を 適 用 し

た。

9.7

ヒューズリンクの温度
上昇値を規定

 9.7

JIS

とほぼ同じ

追加

対応国際規格に規定するリード線をもたな
いヒューズリンクには,温度試験の規定はな

いが,スタンダードシート J1 に規定するヒ

ューズリンクには一定電流を通電して測定
する温度試験を行う規定を追加した。

スタンダードシート J1 に規定さ
れる定格電流 10 A を超えるヒュ

ーズリンクは,技術基準の解釈の

別表第三の規定を適用した。

10

スタンダードシート

10  JIS とほぼ同じ

追加

低遮断,中遮断及び高遮断容量ヒューズリン

クのスタンダードシートを J1 として追加し

た。

我が国独自の低遮断,中遮断及び

高遮断容量ヒューズリンクを追加

した。

JIS

と国際規格との対応の程度の全体評価:IEC 60127-2:2014,MOD

注記 1  箇条ごとの評価欄の用語の意味は,次による。

−  追加  国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。 
−  変更  国際規格の規定内容を変更している。

注記 2  JIS と国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は,次による。

− MOD

国際規格を修正している。

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C

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