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C 6188 : 1999

(1) 

まえがき

この規格は,工業標準化法に基づいて,日本工業標準調査会の審議を経て,通商産業大臣が制定した日

本工業規格である。

この規格の一部が,技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の

実用新案登録出願に抵触する可能性があることに注意を喚起する。主務大臣及び日本工業標準調査会は,

このような技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の実用新案登

録出願にかかわる確認については,責任をもたない。


C 6188 : 1999

(1) 

目次

ページ

1.

  適用範囲

1

2.

  引用規格

1

3.

  定義

1

4.

  標準試験条件

1

5.

  試験の概要

2

5.1

  試験の種類

2

5.2

  試験結果の算出方法

2

5.3

  誤差の対数表示

2

6.

  基準光減衰器を用いる減衰量確度試験

3

6.1

  減衰量確度試験の概要

3

6.2

  固有誤差試験

3

6.3

  個別誤差試験

4

6.3.1

  波長依存特性

4

6.3.2

  偏光依存特性

5

6.3.3

  温度依存特性

6

6.3.4

  直線性

7

7.

  光パワーメータを用いる減衰量確度試験

8

7.1

  減衰量確度試験の概要

8

7.2

  固有誤差試験

8

7.3

  個別誤差試験

9

7.3.1

  波長依存特性

9

7.3.2

  偏光依存特性

9

7.3.3

  温度依存特性

10

7.3.4

  直線性

11

8.

  その他の性能試験

12

8.1

  残留減衰量試験

12

8.2

  アイソレーション試験

13

8.3

  反射減衰量試験

13

9.

  強度試験

15

9.1

  振動試験

15

9.2

  衝撃試験

15

9.3

  過負荷試験

15


日本工業規格

JIS

 C

6188

: 1999

測定用光減衰器試験方法

Test methods of measuring optical attenuators

1.

適用範囲  この規格は,光ファイバを用いた光伝送系の測定に使用する測定用光減衰器の試験方法に

ついて規定する。

2.

引用規格  次に掲げる規格は、この規格に引用されることによって、この規格の規定の一部を構成す

る。これらの引用規格は、その最新版を適用する。

JIS C 1002

  電子測定器用語

JIS C 1003 : 1976

  ディジタル電圧計試験方法

JIS C 6182

  レーザビーム用光パワーメータ試験方法

JIS C 6183

  光スペクトラムアナライザ試験方法

JIS C 6832

  石英系マルチモード光ファイバ素線

JIS C 6835

  石英系シングルモード光ファイバ素線

JIS Z 8103

  計測用語

JIS Z 8120

  光学用語

3.

定義  この規格で用いる主な用語の定義は,JIS C 1002JIS Z 8103 及び JIS Z 8120 の規定によるほ

か,次による。

a)

測定用光減衰器  (measuring optical attenuator)    一対の光ファイバ入力端子と出力端子をもち,光減

衰量確度が明記された光測定器。減衰量値が可変の可変光減衰器と,固定の固定光減衰器の 2 種類が

ある。

b)

光パワーメータ  (optical power meter)    光ファイバ入力端子をもち,連続光及び/又はパルス光の光

パワーを定量的に計測できる機器。光パワーを電気的出力に変換する検出器と指示計から構成される。

c)

基準光減衰器 (reference optical attenuator)   光減衰量が誤差評価され,かつ,減衰量値が可変の光

減衰器。

d)

励振条件 (excitation condition)   被試験器に入射する光の励振モード分布を規定する条件。

4.

標準試験条件  測定用光減衰器(以下,対象とする測定用光減衰器を被試験器という。)を試験すると

き標準となる条件は,規定がない限り次による。

a)

温度  23℃±2℃

b)

相対湿度    (65±10) %

c)

光ファイバ  規定がない場合は,被試験器の種別に応じて表 に示す光ファイバを用いる。

なお,表中の記号は,JIS C 6832 又は JIS C 6835 の規定による。


2

C 6188 : 1999

光ファイバ長は,クラッドモードが十分に除去でき,かつ,測定用の光ファイバ自体の損失が,被試験

器の損失に対し無視できる長さのものを使用する。

標準試験条件で試験することが困難な場合は,実施した条件及びその影響について試験結果に記録する。

表 1  試験時に用いる光ファイバ

被試験器種別

適用光ファイバの種別

光源波長 (nm)

試験時に用いる光ファイバ

 850

マルチモード光ファイバ

1310

SGI-50/125

1310

SSMA-9/125,SSMA-9.5/125,

SSMA-10/125

シングルモード光ファイバ

1550

SSMA-9/125,SSMA-9.5/125,

SSMA-10/125, SSMB-8/125

5.

試験の概要

5.1

試験の種類  被試験器の性能は,減衰量確度試験,残留減衰量試験,アイソレーション試験,反射

減衰量試験の各試験を行って評価する。ただし,これらの各試験は評価の次元が異なるので,これらによ

って得られた誤差は各項目の評価値とし,それを足し合わせて総合評価とすることはしない。また,被試

験器の形式には,固定光減衰器と可変光減衰器とがある。ただし,固定光減衰器は,残留減衰量試験及び

アイソレーション試験は行わない。

5.2

試験結果の算出方法  被試験器の測定確度は,減衰量確度について評価する。評価方法は,まず,

固有誤差試験で標準試験条件での固有誤差を求め,次に各個別誤差試験で被試験器の部分誤差を求める。

各誤差はパーセント (%) で求め,動作誤差の限界を式(1)及び式(2)で算出し,被試験器の確度とする。

なお,式(1)及び式(2)は,JIS C 6182 及び JIS C 6183 に規定する評価式である。

2

1

2

2

1

2

te

p

i

ti

cx

p

i

ti

tu

ε

ε

ε

ε

ε

+

+

+

å

å

=

=

 (1)

2

1

2

2

1

2

te

p

i

ti

cx

p

i

ti

tl

ε

ε

ε

ε

ε

+

+

å

å

=

=

 (2)

ここに,

ε

tu

動作誤差の上限

ε

tl

動作誤差の下限

ti

ε

部分誤差の上限,下限の平均値

2

tli

tui

ε

ε

ε

cx

被試験器の固有誤差(標準試験条件での被試験器の確度)

2

ti

ε

部分誤差の分散

(

)

12

2

tli

tui

ε

ε −

ε

tui

部分誤差の上限

ε

t1i

部分誤差の下限

i

各部分誤差に対する添字

p

部分誤差の数

ε

te

測定値のばらつきの標準偏差

5.3

誤差の対数表示

  パーセント (%) 表示した誤差は

(3)

で算出し,対数 (dB) 表示で表すことができる。

÷

ø

ö

ç

è

æ

100

1

log

10

lin

dB

ε

ε

 (3)


3

C 6188 : 1999

ここに,

ε

dB

誤差(対数表示)

ε

1in

誤差(パーセント表示)

6.

基準光減衰器を用いる減衰量確度試験

6.1

減衰量確度試験の概要

  基準光減衰器を用いる試験方法では,減衰量確度を決める誤差要因は被試

験器の固有誤差並びに個別誤差試験での波長依存特性,偏光依存特性,温度依存特性及び直線性による部

分誤差からなり,確度の算出方法は

5.2

による。

6.2

固有誤差試験

図 1

に可変光減衰器の減衰量確度の固有誤差試験の試験系を示す。試験は標準試験

条件で行う。

備考1.

光源,励振器,基準光減衰器,光パワーメータ,及び被試験器の接続形態をレセプタクル形

で例示してあるが,測定に支障がない限り,プラグ形,ピグテイル形の接続形態でもよい。

2.

試験の準備として,電源をあらかじめ投入しておき,測定系を十分長い時間測定環境下に保

つことが必要である。また,測定の前後を通じて被試験器に過度の通風,日光その他の熱源

からの直接の熱放射など,測定に影響を及ぼすような要因が入らないようにする。

なお,入出射光部は,ごみなどのないよう十分に清潔にしておく。測定中は光ファイバをで

きるだけ動かさない。

図 1  可変光減衰器の固有誤差試験の試験系

図 2a)

b)

に固定光減衰器の減衰量確度の固有誤差試験の試験系を示す。試験は標準試験条件で行う。

図 2a)  固定光減衰器の固有誤差試験の試験系

図 2b)  固定光減衰器の固有誤差試験の試験系

a)

装置

  装置は,次による。

1)

光源

  被試験器に指定の中心波長をもち,かつ,被試験器の減衰量範囲内で必要なパワーが安定し

て得られる光源。

2)

励振器

  定常モードで励振するための励振器。NA(開口数)が 0.20 でコア径が 50

µ

m

の石英系グ

レーデッドインデックス形マルチモードファイバの場合では,基準光減衰器への入射ビームスポッ

トの半値半幅が 26

µ

m

,入射光分布での最大値の 50%となる角度

θの正弦の値が 0.11 となる光パワー

分布を定常モードとする。ただし,石英系シングルモードファイバの場合では,励振器は不要であ

る。


4

C 6188 : 1999

3)

光パワーメータ

  測定時間内で安定度が保証された光パワーメータ。

b)

可変光減衰器の試験

  試験は,次の手順で行う。

1)

図 1

の試験系で基準光減衰器の減衰量設定値を

Y

Y

0

 (dB)

とする。また,被試験器の減衰量設定値

X

=0 (dB)  に設定したときの光パワーメータの指示値を

P

0

 (dBm)

とする。

2)

被試験器の減衰量設定値を

X

a

 (dB)

に設定する。このときの光パワーメータの指示値が

P

0

 (dBm)

になるように基準光減衰器の減衰量設定値を

Y

Y

a

 (dB)

に調整する。減衰量確度

χ

は,次の式によ

って算出する。

χ

a

−|

Y

a

Y

0

| (4)

3)

測定を 10 回以上(

m

回)繰り返す。

4)

減衰量について被試験器の固有誤差

ε

cx

 (%)

は,次の式によって算出する。

2

2

ct

sx

cx

ε

ε

ε

+

 (5)

ε

sx

:  基準光減衰器の固有誤差 (%)

ε

ct

:  固有誤差試験時の測定値のばらつきの標準偏差 (%)

ただし,

(

)

100

1

1

1

2

×

×

å

=

m

x

x

x

m

i

i

ct

ε

 (6)

ここに,

m

測定回数

χ

i

測定値

χ

i

′=

10

10

i

x

x

′ : 回の繰り返し測定によって得られる

χ

i

′の平均値

å

=

×

m

i

i

x

m

x

1

1

ここで,基準光減衰器は標準試験状態において十分に校正され,部分誤差は無視できるとした。

c)

固定減衰器の試験

  試験は,次の手順で行う。

1)

図 2a)

の試験系で基準光減衰器の減衰量設定値を YY

o

 (dB)

に設定する。このときの光パワーメー

タの指示値を P

0

 (dBm)

とする。

2)

図 2b)

の試験系で被試験器を接続し,光パワーメータの指示値が P

0

 (dBm)

になるように基準光減衰

器の減衰量設定値を YY

a

 (dB)

に調整する。被試験器に表示されている公称減衰量を b (dB) とす

る。減衰量確度

χは,次の式によって算出する。

χ=b−|Y

a

−Y

o

| (7)

3)

測定を 10 回以上(回)繰り返す。

4)

固有誤差

ε

cx

は,

6.2

b)

4)

によって算出する。

6.3

個別誤差試験

6.3.1

波長依存特性  波長依存特性の試験系は,

図 1

による。

備考

図 1

の試験系では被試験器が可変光減衰器で表されているが,固定光減衰器もこの試験系で試

験ができるので,

図 1

の可変光減衰器の図記号は固定光減衰器も表す。

a)

装置

  装置は,次による。

1)

光源

  スペクトル半値幅が被試験器に定められている値よりも十分に狭く,波長安定度が十分高く,


5

C 6188 : 1999

かつ,被試験器の減衰量範囲内で必要なパワーが安定して得られる可変波長光源(複数台になって

もよい)

2)

励振器

6.2

a)

2)

による。

3)

光パワーメータ

  試験波長範囲で波長依存特性がない,

又は波長依存特性が既知の光パワーメータ。

b)

試験

  試験は,次の手順で行う。

備考

この測定の注意事項は

6.2

備考 1.

及び

備考 2.

による。

1)

被試験器の減衰量設定値を Xa (dB)  に設定し,

(被試験器が固定光減衰器の場合は,そのまま試験

系に挿入する。

)基準光減衰器の減衰量設定値を YY

0

 (dB)

に設定したときの光パワーメータの指

示値を P

0

 (dBm)

とする。

2)

被試験器を通過する出射光の波長を可変波長光源,又は複数の光源によって可変し,そのときの光

パワーメータの指示値が P

0

 (dBm)

になるように基準光減衰器で調整する。そのときの基準光減衰

器の減衰量設定値の最大値 R

1

 (dB)

と最小値 R

2

 (dB)

を記録する。試験は使用波長の上限及び下限

を含めた 5 点以上の波長で行う。

3)

誤差の上限及び下限は,式

(8)

及び式

(9)

によって算出する。

100

0

0

2

×

Y

Y

R

tui

ε

 (8)

100

0

0

1

×

Y

Y

R

tli

ε

 (9)

ここに,

ε

tui

誤差の上限 (%)

ε

tli

誤差の下限 (%)

R

1

′=

10

/

1

10

R

R

2

′=

10

/

2

10

R

Y

0

′=

10

/

0

10

Y

6.3.2

偏光依存特性

  偏光依存特性の試験系は,

図 3

による。

備考  図 3

の試験系では被試験器が可変光減衰器で表されているが,固定光減衰器もこの試験系で試

験ができるので,

図 3

の可変光減衰器の図記号は固定光減衰器も表す。

図 3  偏光依存特性の試験系

a)

装置

  装置は,次による。

1)

光源

6.2

a)

1)

による。

2)

励振器

6.2

a)

2)

による。

3)

偏光コントローラ

  偏光子及び波長板を備えていて,被試験器への入力光の偏波面を全偏光状態に

制御できるファイバ出力をもつもの。

4)

光パワーメータ

  偏光依存特性のない光検出器をもつもの。


6

C 6188 : 1999

b)

試験

  試験は,次の手順で行う。

備考1.

この測定の注意事項は,

6.2

備考1.

及び

備考2.

による。

2.

偏波消光比の大きい光源を使用する場合は,事前に偏光コントローラを光パワーメータに接

続し,偏光コントローラからの光出力が最大になるように偏光子を調整しておくことが望ま

しい。

1)

試験器の減衰量設定値を Xa

 (dB)

に設定し(被試験器が固定光減衰器の場合は,そのまま試験系

に挿入する。

,基準光減衰器の減衰量設定値を YY

0

 (dB)

に設定したときの光パワーメータの指示

値を P

0

 (dBm)

とする。

2)

偏光コントローラの

1/4

波長板及び

1/2

波長板を調整し,被試験器を通過した出射光の光パワーメ

ータ指示値を P

0

 (dBm)

になるように基準光減衰器で調整する。そのときの基準光減衰器の減衰量

設定値の最大値 R

1

 (dB)

と最小値 R

2

 (dB)

を記録する。

3)

誤差の上限及び下限は,式

(10)

及び式

(11)

によって算出する。

100

0

0

2

×

Y

Y

R

tui

ε

 (10)

100

0

0

1

×

Y

Y

R

tli

ε

 (11)

ここに,

ε

tui

誤差の上限

 (%)

ε

t1i

誤差の下限

 (%)

R

1

′=

10

/

1

10

R

R

2

′=

10

/

2

10

R

Y

0

′=

10

/

0

10

Y

6.3.3

温度依存特性

図 4

に温度依存特性の試験系を示す。

備考  図 4

の試験系では被試験器が可変減衰器で表されているが,固定光減衰器もこの試験系で試験

ができるので,

図 4

の可変光減衰器の図記号は固定光減衰器も表す。

図 4  温度依存特性試験の試験系

a)

装置

  装置は,次による。

1)

光源

6.2

a)

1)

による。

2)

励振器

6.2

a)

2)

による。

3)

恒温槽

  被試験器に影響を与えない温度分布の小さいもの。

4)

光パワーメータ

6.2

a)

3)

による。

b)

試験

  試験は,次の手順で行う。

備考

この測定の注意事項は

6.2

備考 1.

及び

備考 2.

による。

1)

被試験器の減衰量設定値を Xa

 (dB)

に設定し(被試験器が固定光減衰器の場合は,そのまま試験


7

C 6188 : 1999

系に挿入する。

,基準光減衰器の減衰量設定値を YY

0

 (dB)

に設定したときの光パワーメータの指

示値を P

0

 (dBm)

とする。

2)

恒温槽内の温度を被試験器に指定の使用温度範囲に下限及び上限を含めた

5

点以上の試験温度

Ta

に変化させ,光パワーメータの指示値が P

0

 (dBm)

になるように基準光減衰器で調整する。そのと

きの基準光減衰器の減衰量設定値の最大値 R

1

 (dB)

と最小値 R

2

 (dB)

を記録する。

3)

誤差の上限及び下限は,式

(12)

及び式

(13)

によって算出する。

100

0

0

2

×

Y

Y

R

tui

ε

 (12)

100

0

0

1

×

Y

Y

R

tli

ε

 (13)

ここに,

ε

tui

誤差の上限

 (%)

ε

tli

誤差の下限

 (%)

R

1

′=

10

/

1

10

R

R

2

′=

10

/

2

10

R

Y

0

′=

10

/

0

10

Y

6.3.4

直線性

図 5

に直線性の試験系を示す。

備考

固定光減衰器についてはこの試験項目は適用しない。

図 5  直線性試験の試験系

a)

装置

  装置は,次による。

1)

光源

6.2

a)

1)

による。

2)

励振器

6.2

a)

2)

による。

3)

光パワーメータ

6.2

a)

3)

による。

b)

試験

  試験は,次の手順で行う。

備考

この測定の注意事項は,

6.2

備考 1.

及び

備考 2.

による。

1)

被試験器の減衰量設定を X

0 (dB)

に設定する。基準光減衰器の減衰量設定値を Y

Y

0

 (dB)

に設定

したときの光パワーメータの指示値を P

0

 (dBm)

とする。

2)

被試験器の減衰量 を可変範囲の下限及び上限を含めた

5

点以上変化させ,光パワーメータの指示

値が P

0

 (dBm)

になるように基準光減衰器の減衰量 を調整する。そのとき,Xの値の最大値 R

1

(dB)

と最小値 R

2

 (dB)

を記録する。

3)

誤差の上限及び下限は,式

(14)

及び式

(15)

によって算出する。

100

0

0

2

×

Y

Y

R

tui

ε

 (14)

100

0

0

1

×

Y

Y

R

tli

ε

 (15)

ここに,

ε

tui

誤差の上限

 (%)

ε

tli

誤差の下限

 (%)

R

1

′=

10

/

1

10

R


8

C 6188 : 1999

R

2

′=

10

/

2

10

R

Y

0

′=

10

/

0

10

Y

7.

光パワーメータを用いる減衰量確度試験

7.1

減衰量確度試験の概要

  光パワーメータを用いる試験方法での,減衰量確度を決める誤差要因は被

試験器の固有誤差並びに個別誤差試験での波長依存特性,偏光依存特性,温度依存特性及び直線性による

部分誤差からなり,確度の算出方法は

5.2

による。

7.2

固有誤差試験

図 6

に可変光減衰器の減衰量確度の固有誤差試験の試験系を示す。試験は,標準試

験条件で行う。

備考

この測定の注意事項は,

6.2

備考 1.

及び

備考 2.

による。

図 6  可変光減衰器の固有誤差試験の試験系

図 7a)

b)

に固定光減衰器の減衰量確度の固有誤差試験の試験系を示す。試験は,標準試験条件で行う。

図 7a)  固定光減衰器の固有誤差試験の試験系

図 7b)  固定光減衰器の固有誤差試験の試験系

a)

装置

  装置は,次による。

1)

光源

6.2

a)

1)

による。

2)

励振器

6.2

a)

2)

による。

3)

光パワーメータ

  国の標準器によって校正されたもの,又は校正業務を行う公的機関で校正された

もの。

b)

可変光減衰器の試験

  試験は,次の手順で行う。

1)

図 6

の試験系で被試験器の減衰量設定値を X

0 (dB)

とする。そのときの光パワーメータの指示値

を P

0

 (dBm)

とする。

2)

被試験器の減衰量設定値を Xa

 (dB)

にしたときの光パワーメータの指示値を P

a

 (dBm)

とする。減

衰量確度

χは,次の式によって算出する。

χ=a

|

P

0

P

a

|  (16)

3)

測定を

10

回以上(回)繰り返す。

4)

減衰量について被試験器の固有誤差

ε

cx

は,

6.2

b)

4)

によって算出する。

c)

固定光減衰器の試験

  試験は,次の手順で行う。


9

C 6188 : 1999

1)

図 7a)

の試験系で励振器からの出射光を光パワーメータで測定し,指示値を P

0

 (dBm)

とする。

2)

図 7b)

の試験系で被試験器からの出射光を光パワーメータで測定し,指示値を P

a

 (dBm)

とする。

被試験器に表示されている公称減衰量を b

 (dB)

とする。減衰量確度

χは,次の式によって算出す

る。

χ=b

|

P

a

P

0

|  (17)

3)

測定を

10

回以上(回)繰り返す。

4)

固有誤差

ε

cx

は,

6.2

b)

4)

によって算出する。

7.3

個別誤差試験

7.3.1

波長依存特性

  波長依存特性の試験系は,

図 6

による。

備考  図 6

の試験系では被試験器が可変光減衰器で表されているが,固定光減衰器もこの試験系で試

験ができるので,

図 6

の可変光減衰器の図記号は固定光減衰器も表す。

a)

装置

  装置は,次による。

1)

光源

6.3.1

a)

1)

による。

2)

励振器

6.2

a)

2)

による。

3)

光パワーメータ

6.3.1

a)

3)

による。

b)

試験

  試験は,次の手順で行う。

備考

この測定の注意事項は,

6.2

備考 1.

及び

備考 2.

による。

1)

被試験器の減衰量設定値を Xa

 (dB)

に設定し(被試験器が固定光減衰器の場合は,そのまま試験

系に挿入する。

,このときの光パワーメータの指示値 P

0

 (dBm)

を測定する。

2)

被試験器を通過する出射光の波長を可変波長光源,又は複数の光源によって可変し,出射光を光パ

ワーメータで測定する。そのときの光パワーメータの指示値の最大値 R

1

 (dBm)

と最小値 R

2

 (dBm)

を記録する。試験は使用波長の上限及び下限を含めた

5

点以上の波長で行う。

3)

誤差の上限及び下限は,式

(18)

及び式

(19)

によって算出する。

100

0

0

2

×

P

P

R

tui

ε

 (18)

100

0

0

1

×

P

P

R

tli

ε

 (19)

ここに,

ε

tui

誤差の上限

 (%)

ε

tli

誤差の下限

 (%)

R

1

′=

10

/

1

10

R

R

2

′=

10

/

2

10

R

P

0

′=

10

/

0

10

P

7.3.2

偏光依存特性

  偏光依存特性の試験系は,

図 8

による。

備考  図 8

の試験系では被試験器が可変光減衰器で表されているが,固定光減衰器もこの試験系で試

験ができるので,

図 8

の可変光減衰器の図記号は固定光減衰器も表す。


10

C 6188 : 1999

図 8  偏光依存特性の試験系

a)

装置

  装置は,次による。

1)

光源

6.2

a)

1)

による。

2)

励振器

6.2

a)

2)

による。

3)

偏光コントローラ

6.3.2

a)

3)

による。

4)

光パワーメータ

6.3.2

a)

4)

による。

b)

試験

  試験は,次の手順で行う。

備考1.

この測定の注意事項は,

6.2

備考1.

及び

備考2.

による。

2.

偏波消光比の大きい光源を使用する場合は,事前に偏光コントローラを光パワーメータに接

続し,偏光コントローラからの光出力が最大になるように偏光子を調整しておくことが望ま

しい。

1)

試験器の減衰量設定値を X

(dB)

に設定し(被試験器が固定光減衰器の場合は,そのまま試験系

に挿入する。

,このときの光パワーメータの指示値 P

0

 (dBm)

を測定する。

2)

偏光コントローラの

1/4

波長板及び

1/2

波長板を調整し,被試験器を通過した出射光を光パワーメ

ータで測定する。そのときの光パワーメータの指示値の最大値 R

1

 (dBm)

及び最小値 R

2

 (dBm)

を記

録する。

3)

誤差の上限及び下限は,式

(20)

及び式

(21)

によって算出する。

100

0

0

2

×

P

P

R

tui

ε

 (20)

100

0

0

1

×

P

P

R

tli

ε

 (21)

ここに,

ε

tui

誤差の上限

 (%)

ε

tli

誤差の下限

 (%)

R

1

′=

10

/

1

10

R

R

2

′=

10

/

2

10

R

P

0

′=

10

/

0

10

P

7.3.3

温度依存特性

図 9

に温度依存特性の試験系を示す。

備考  図 9

の試験系では被試験器が可変光減衰器で表されているが,固定光減衰器もこの試験系で試

験ができるので,

図 9

の可変光減衰器の図記号は固定光減衰器も表す。


11

C 6188 : 1999

図 9  温度依存特性試験の試験系

a)

装置

  装置は,次による。

1)

光源

6.2

a)

1)

による。

2)

励振器

6.2

a)

2)

による。

3)

恒温槽

6.3.3

a)

3)

による。

4)

光パワーメータ

6.2

a)

3)

による。

b)

試験

  試験は,次の手順で行う。

備考

この測定の注意事項は,

6.2

備考 1.

及び

備考 2.

による。

1)

被試験器の減衰量設定値を Xa

 (dB)

に設定し(被試験器が固定光減衰器の場合は,そのまま)

,試

験系に挿入する。このときの光パワーメータの指示値 P

0

 (dBm)

を測定する。

2)

恒温槽内の温度を被試験器に指定の使用温度範囲の下限及び上限を含めた

5

点以上の試験温度に変

化させ,被試験器を通過した出射光を光パワーメータの指示値の最大値 R

1

 (dBm)

及び最小値 R

2

(dBm)

を記録する。

3)

誤差の上限及び下限は,式

(22)

及び式

(23)

によって算出する。

100

0

0

2

×

P

P

R

tui

ε

 (22)

100

0

0

1

×

P

P

R

tli

ε

 (23)

ここに,

ε

tui

誤差の上限

 (%)

ε

tli

誤差の下限

 (%)

R

1

′=

10

/

1

10

R

R

2

′=

10

/

2

10

R

P

0

′=

10

/

0

10

P

7.3.4

直線性

図 10

に直線性の試験系を示す。

備考

この試験項目は,固定光減衰器に対しては適用しない。

図 10  直線性試験の試験系

a)

装置

  装置は,次による。

1)

光源

6.2

a)

1)

による。

2)

励振器

6.2

a)

2)

による。


12

C 6188 : 1999

3)

光パワーメータ

6.2

a)

3)

による。

b)

試験

  試験は,次の手順で行う。

備考

この測定の注意事項は,

6.2

備考 1.

及び

備考 2.

による。

1)

被試験器の減衰量設定値を X

0 (dB)

に設定し,そのときの光パワーメータの指示値 PP

0

 (dBm)

を測定する。

2)

被試験減衰器の減衰量

X

を可変範囲の下限及び上限を含めた

5

点以上変化させ,被試験器を通過し

た出射光パワーP

 (dBm)

を光パワーメータで測定する。そのときの Xの値の最大値 R

1

 (dBm)

最小値 R

2

 (dBm)

を記録する。

3)

誤差の上限及び下限は,式

(24)

及び式

(25)

によって算出する。

100

0

0

2

×

P

P

R

tui

ε

 (24)

100

0

0

1

×

P

P

R

tli

ε

 (25)

ここに,

ε

tui

誤差の上限

 (%)

ε

tli

誤差の下限

 (%)

R

1

′=

10

/

1

10

R

R

2

′=

10

/

2

10

R

P

0

′=

10

/

0

10

P

8.

その他の性能試験

8.1

残留減衰量試験

  この試験は測定用可変光減衰器に対して行う。減衰量設定を

0dB

としたときの損

失試験である。

a)

装置

  装置は,次による。

1)

光源

6.2

a)

1)

による。

2)

励振器

6.2

a)

2)

による。

3)

光パワーメータ

6.2

a)

3)

による。

b)

試験

  試験は,次の手順で行う。

1)

図 11

のように測定系を構成し,基準光パワーP

0

 (dBm)

を測定する。

図 11  基準光パワーの測定系

備考

この測定の注意事項は,

6.2

備考 1.

及び

備考 2.

による。

2)

図 12

に示したように,減衰量設定値を

0dB

とした状態の被試験器を挿入し,光パワーP

1

 (dBm)

測定する。


13

C 6188 : 1999

図 12  残留減衰量の測定

3)

残留減衰量は,次の式によって算出する。

I

L

P

0

P

1

 (dB)   (26)

ここに,

I

L

残留減衰量

8.2

アイソレーション試験

  この試験は測定用可変光減衰器に対して行う。減衰量設定を最大としたと

きの損失試験である。

a)

装置

  装置は,次による。

1)

光源

6.2

a)

1)

による。

2)

励振器

6.2

a)

2)

による。

3)

光パワーメータ

6.2

a)

3)

によるもののほか,そのダイナミックレンジが被試験器のアイソレ

ーションに対し,十分に余裕があるもの。

b)

試験

  試験は,次の手順で行う。

1)

図 13

のように,測定系を構成する。被試験器の減衰量設定値を

0dB

にしたときの光パワーメータ

の指示値を P

0

 (dBm)

とする。

図 13  アイソレーションの測定

2)

被試験器の減衰量設定値を最大にしたときの光パワーメータの指示値 P

 (dBm)

とする。

3)

アイソレーションは,次の式によって算出する。

I

P

0

P

 (dB)  (27)

ここに,

I

アイソレーション

8.3

反射減衰量試験

  この試験は,測定用可変光減衰器及び固定光減衰器に対して行う。

a)

装置

  装置は,次による。

1)

光源

6.2

a)

1)

による。

2)

励振器

6.2

a)

2)

による。

3)

光パワーメータ

6.2

a)

3)

による。

4)

光方向性結合器

  入射端から共通端及び共通端から出射端へは信号を伝達し,入射端と出射端との

間は信号を分離する機能をもち,入射端と出射端とのアイソレーションが被試験器の反射減衰量に

対し,十分に余裕があるものとする。被試験器の反射減衰量に対して十分な余裕がない場合は,光

方向性結合器のアイソレーションを試験成績書に明示する。

b)

試験

  試験は,次の手順で行う。

1)

図 14

のように測定系を構成し,全反射光パワーP

0

 (dBm)

を測定する。


14

C 6188 : 1999

図 14  全反射光パワーの測定系

備考1.

方向性結合器で測定系に不要な端子がある場合はすべて無反射終端にし,その他の接続面は

無反射とする。

2.

光方向性結合器の共通端には長さが

1m

以下で,

他端は金蒸着膜を施すなどの方法によって,

全反射終端とした光ファイバを接続する。

3.

図 14

で,光方向性結合器の接続形態をレセプタクル形で例示してあるが,測定に支障がない

限り,プラグ形,ピグテイル形の接続形態でもよい。

4.

その他の注意事項は,

6.2

備考 1.

及び

備考 2.

による。

2)

図 15

の測定系によって,被試験器挿入後の反射光パワーP

1

 (dBm)

を測定する。

図 15  反射光パワーの測定

備考1.

方向性結合器で測定系に不要な端子がある場合はすべて無反射終端にし,その他の接続面は

無反射とする。被試験器の試験用光入力に用いる入出力端以外の端子は光ファイバを接続し,

その出力端を無反射終端にする。

2.

反射光パワーを P

1

 (dBm)

とする。ただし,被試験器が測定用可変光減衰器の場合は,被試験

器の光減衰量設定値を変化させ下限及び上限を含めた

5

点以上に設定したときの反射光パワ

ーの最大値を P

1

 (dBm)

とする。

3.

図 15

で,光方向性結合器の接続形態をレセプタクル形で例示してあるが,測定に支障がない

限り,プラグ形,ピグテイル形の接続形態でもよい。また,便宜上被試験器は可変光減衰器

で例示しているが固定光減衰器も含むこととする。

4.

その他の注意事項は,

6.2

備考 1.

及び

備考 2.

による。

3)

反射減衰量は,次の式によって算出する。

R

L

P

0

P

1

 (dB)   (28)


15

C 6188 : 1999

ここに,

R

L

反射減衰量

9.

強度試験

  機械的な振動及び衝撃を与えて,被試験器の損傷及び特性の変化の有無を試験する。

なお,被試験器が機械的に弱い構造となっていて,強度試験によって回復不可能となるおそれがある場

合には,この試験を省いてもよい。

9.1

振動試験

  振動試験は,

JIS C 1003

 (1976)

8.3

(振動)によって行う。

9.2

衝撃試験

  衝撃試験は,

JIS C 1003

 (1976)

8.4

(衝撃)によって行う。

9.3

過負荷試験

  被試験器に指定された最大許容レベルの光パワーを

10

分間連続入射した後,損傷の有

無及び固有誤差を調べる。この試験に使用する光源は,被試験器に規定された波長範囲のものとする。ま

た,最大許容レベルの光出力が得られない場合は,試験条件を明記する。

光測定器標準化委員会  構成表

氏名

所属

(委員長)

佐  藤  宗  純

工業技術院電子技術総合研究所

秋  本  義  明

工業技術院計量研究所

今  村  元  規

株式会社アドバンテスト

大久保  祐  志

株式会社東芝

金  子  進  一

三菱電機株式会社

桑  田  裕  二

住友電気工業株式会社

佐  藤  直  人

安藤電気株式会社

高  田      篤

日本電信電話株式会社

竹  尾  佳  己

アンリツ株式会社

立  川  義  彦

横河電機株式会社

波  平  宜  敬

株式会社

KDD

研究所

橋  爪  邦  隆

工業技術院標準部

長谷見  明  男

古河電気工業株式会社

原  田  和  英

株式会社日立製作所

藤  本  暢  宏

富士通株式会社

宮  脇  雅  裕

財団法人日本品質保証機構

森      基  祐

セイコーインスツルメンツ株式会社

山  口  太  一

株式会社フジクラ

山  村  修  蔵

財団法人日本規格協会

増  田  岳  夫

財団法人光産業技術振興協会

(オブザーバ)

倉  嶋  利  雄

日本電信電話株式会社

(事務局)

岩  本  正  己

財団法人光産業技術振興協会