C 61300-3-7：2012
（1）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
目 次
ページ
序文 ··································································································································· 1
1 適用範囲························································································································· 1
2 引用規格························································································································· 2
3 記号及び略語 ··················································································································· 2
4 概要······························································································································· 3
4.1 一般事項 ······················································································································ 3
4.2 波長条件 ······················································································································ 3
4.3 用語及び定義 ················································································································ 4
4.4 供試品 ························································································································· 5
4.5 測定方法 ······················································································································ 5
5 装置······························································································································· 7
5.1 光源 ···························································································································· 7
5.2 受光装置 ······················································································································ 8
5.3 光ブランチングデバイス（BD） ······················································································· 9
5.4 光終端器 ······················································································································ 9
6 手順······························································································································ 10
6.1 方法A−広帯域光源 ······································································································ 10
6.2 方法B−波長可変狭帯域光源 ··························································································· 13
6.3 方法C−波長固定狭帯域光源の組合せ ··············································································· 13
6.4 測定結果 ····················································································································· 17
7 個別に規定する事項 ········································································································· 18
7.1 光源 ··························································································································· 18
7.2 受光装置 ····················································································································· 18
7.3 基準光ブランチングデバイス ·························································································· 19
7.4 光終端器 ····················································································································· 19
附属書A（参考）供試品の構成，終端及び製品の形態 ································································ 20
附属書B（参考）基本的な光源の特性······················································································ 22
附属書JA（参考）JISと対応国際規格との対比表 ······································································ 24
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まえがき
この規格は，工業標準化法第12条第1項の規定に基づき，一般財団法人光産業技術振興協会（OITDA）
及び一般財団法人日本規格協会（JSA）から，工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出
があり，日本工業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が制定した日本工業規格である。
この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような特許権，出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について，責任はもたない。
JIS C 61300の規格群には，次に示す部編成がある。
JIS C 61300-1 第1部：通則
JIS C 61300-2-1 第2-1部：正弦波振動試験
JIS C 61300-2-2 第2-2部：繰返しかん合試験
JIS C 61300-2-9 第2-9部：衝撃試験
JIS C 61300-2-12 第2-12部：落下衝撃試験
JIS C 61300-2-14 第2-14部：光パワー損傷のしきい値試験
JIS C 61300-2-15 第2-15部：結合部ねじり試験
JIS C 61300-2-17 第2-17部：低温試験
JIS C 61300-2-18 第2-18部：高温試験
JIS C 61300-2-19 第2-19部：高温高湿試験（定常状態）
JIS C 61300-2-21 第2-21部：混合温湿度サイクル試験
JIS C 61300-2-22 第2-22部：温度サイクル試験
JIS C 61300-2-45 第2-45部：浸水試験
JIS C 61300-2-46 第2-46部：湿熱サイクル試験
JIS C 61300-2-47 第2-47部：熱衝撃試験
JIS C 61300-2-48 第2-48部：温湿度サイクル試験
JIS C 61300-3-2 第3-2部：シングルモード光デバイスの光損失の偏光依存性
JIS C 61300-3-3 第3-3部：挿入損失及び反射減衰量変化のモニタ方法
JIS C 61300-3-4 第3-4部：損失測定
JIS C 61300-3-6 第3-6部：反射減衰量測定
JIS C 61300-3-7 第3-7部：シングルモード光部品の光損失及び反射減衰量の波長依存性測定
JIS C 61300-3-15 第3-15部：球面研磨光ファイバコネクタのフェルール端面の頂点偏心量測定
JIS C 61300-3-16 第3-16部：球面研磨光ファイバコネクタのフェルール端面の曲率半径測定
JIS C 61300-3-20 第3-20部：波長選択性のない光ブランチングデバイスのディレクティビティ測定
JIS C 61300-3-24 第3-24部：偏波面保存光ファイバ付き光ファイバコネクタのキー位置精度測定
JIS C 61300-3-26 第3-26部：光ファイバとフェルール軸との角度ずれの測定
JIS C 61300-3-27 第3-27部：多心光ファイバコネクタプラグの穴位置測定
JIS C 61300-3-28 第3-28部：過渡損失測定
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JIS C 61300-3-30 第3-30部：多心光ファイバコネクタ用フェルールの研磨角度及び光ファイバ位置
測定
JIS C 61300-3-31 第3-31部：光ファイバ光源の結合パワー比測定
JIS C 61300-3-34 第3-34部：ランダム接続時の挿入損失
JIS C 61300-3-36 第3-36部：光ファイバコネクタフェルールの内径及び外径の測定
JIS C 61300-3-43 第3-43部：光ファイバ光源のモードトランスファファンクション測定
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日本工業規格 JIS
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光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−
基本試験及び測定手順−
第3-7部：シングルモード光部品の
光損失及び反射減衰量の波長依存性測定
Fiber optic interconnecting devices and passive components-
Basic test and measurement procedures-
Part 3-7: Examinations and measurements-Wavelength dependence of
attenuation and return loss of single mode components
序文
この規格は，2009年に第2版として発行されたIEC 61300-3-7を基とし，測定方法に矛盾があったため，
技術的内容を変更して作成した日本工業規格である。
なお，この規格で点線の下線を施してある箇所は，対応国際規格を変更している事項である。変更の一
覧表にその説明を付けて，附属書JAに示す。
1
適用範囲
この規格は，光通信に用いるシングルモード光ファイバ用光受動部品の光損失A(λ)及び反射減衰量RL(λ)
の波長依存性を測定する方法について規定する。この測定法は，高密度WDM光受動部品には適用するこ
とはできない。高密度WDM光受動部品の光損失の波長依存性測定は，IEC 61300-3-29に規定する。WDM
光受動部品の種類は，JIS C 5925-1に規定する。
この規格では，次の三つの測定方法を規定する。
− A(λ)だけを測定する方法
− RL(λ)だけを測定する方法
− A(λ)及びRL(λ)を同時に測定する方法
これらの測定方法は，方向性をもつ片方向用光受動部品及び入出力端子を反転しても機能する両方向用
光受動部品の両方に適用する。
注記1 関連する試験及び測定方法の通則は，JIS C 61300-1に規定する。
注記2 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。
IEC 61300-3-7:2009，Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test and
measurement procedures−Part 3-7: Examinations and measurements−Wavelength dependence
of attenuation and return loss of single mode components（MOD）
なお，対応の程度を表す記号“MOD”は，ISO/IEC Guide 21-1に基づき，“修正している”
2
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ことを示す。
2
引用規格
次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。
JIS C 5925-1 WDMデバイス通則
注記 対応国際規格：IEC 62074-1，Fibre optic interconnecting devices and passive components−Fibre
optic WDM devices−Part 1: Generic specification（MOD）
IEC 61300-3-29，Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test and measurement
procedures−Part 3-29: Examinations and measurements−Measurement techniques for characterizing the
amplitude of the spectral transfer function of DWDM components
3
記号及び略語
この規格で用いる主な記号及び略語は，次による。
A
光損失
（attenuation）
A(λ)
波長依存性損失
（wavelength dependent attenuation）
ASE
増幅された自然放出光
（amplified spontaneous emission）
BBD
広帯域受光装置
（broadband detection）
BBS
広帯域光源
（broadband source）
BD
光ブランチングデバイス
（branching devices）
BPON
広帯域受動光ネットワーク
（broadband passive optical network）
CWDM
コースWDM
（coarse wavelength division multiplexing）
DFB（レーザ） 分布帰還形（レーザ）
［distributed feedback (laser)］
DOP
偏光度
（degree of polarization）
DUT
供試品
（device under test）
DWDM
高密度WDM
（dense wavelength division multiplexing）
ECL
（波長可変）外部共振器レーザ
［external cavity (tuneable) laser］
EDFA
エルビウム添加光ファイバ増幅器
（erbium doped fiber amplifier）
EDFL
エルビウム添加光ファイバレーザ
（erbium-doped fiber laser）
EPON
イーサネット受動光ネットワーク
（ethernet passive optical network）
FA
光ファイバ増幅器
（fiber amplifier）
FBG
ファイバブラッググレーティング
（fiber bragg grating）
FEC
前方誤り訂正
（forward error correction）
FP（レーザ） ファブリ・ペロー形（レーザ）
［Fabry-Perot (laser)］
GPON
ギガビットイーサネット受動光ネットワーク（gigabit ethernet passive optical network）
λ
波長
（wavelength）
NLS
狭帯域光源
（narrowband light sources）
OPM
光パワーメータ
（optical power meter）
ORR
光阻止特性
（optical rejection ratio）
OSA
光スペクトラムアナライザ
（optical spectrum analyser）
3
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Pi(λ)
供試品に入射する波長依存性光パワー （wavelength dependent power incident on the DUT）
Pr(λ)
供試品（の入力端子）から反射される波長依存性光パワー
［wavelength dependent power reflected by the DUT (from the input port of the DUT)］
Pt(λ)
供試品を通過する波長依存性光パワー
（wavelength dependent power transmitted through the DUT）
PDL
偏光依存性損失
（polarization dependent loss）
POC
光受動部品
（passive optical components）
PON
受動光ネットワーク
（passive optical network）
RBD
基準光ブランチングデバイス
（reference branching device）
RBW
分解能帯域幅
（resolution bandwidth）
RL
反射減衰量
（return loss）
RL(λ)
波長依存性反射減衰量
（wavelength dependent return loss）
RTM
基準測定方法
（reference test method）
SLD
スーパールミネッセントダイオード
（superluminescent diode）
SMSR
サイドモード抑圧比
（side mode suppression ratio）
SOA
半導体光増幅器
（semiconductor amplifier）
SOP
偏光状態
（state of polarization）
TJ
テンポラリジョイント
（temporary joint）
TND
波長可変狭帯域受光装置
［tuneable narrowband detection (system)］
TLS
波長可変狭帯域光源
（tuneable narrowband light source）
TN-OTDR
波長可変形OTDR
（tuneable OTDR）
WDM
波長分割多重
（wavelength division multiplexing）
4
概要
4.1
一般事項
光ファイバ伝送システム中に供試品を挿入することによって，通過光及び反射光からA(λ)及びRL(λ)を得
る。A(λ)及びRL(λ)は，デシベル（dB）で表す。供試品に入射する光パワーと次の光パワーとを比較するこ
とで，A(λ)及びRL(λ)を求める。
− 供試品の出力端子への通過光パワー
− 供試品の入力端子からの反射光パワー
入出力端子を反転すると機能しない片方向用の供試品である場合を除き，測定は両方向で行う。供試品
の接続方向を反転して，両方向での測定値を求める。光損失の場合は，両方向での測定値から平均値を求
める。
反射減衰量という用語は反射率と同等なものとして扱ってはならない。両者は異なる意味をもつ。
4.2
波長条件
供試品の個別に規定する波長範囲で，A(λ)及びRL(λ)を測定する。この波長範囲で，個別に設定する供試
品の波長特性に基づいて，波長分解能，測定の不確かさなどの，測定の帯域を制限する測定系の波長特性
を規定する。波長分解能は隣接する二つの測定点間の波長間隔であり，測定の不確かさは各測定点におけ
る測定の不確かさである。
4
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4.3
用語及び定義
この規格で用いる主な用語及び定義は，次による。
4.3.1
光損失（箇条3を参考）
光損失A(λ)は供試品を通過する光パワーの減少量であり，波長の関数である。
式(1)によって求める。
()
()()
×
−
=
λ
λ
λ
i
t
log
10
P
P
A
（dB） ······················································ (1)
ここに， Pt(λ)： 供試品の入力端子から出力端子に通過した光パワーの測定
値（W）。波長（λ）の関数として表す。
Pi(λ)： 供試品の入力端子に入射する光パワーを入力端子において
測定した値（W）。波長（λ）の関数として表す。
また，両方向測定においては，次の測定も行う。
Pt(λ)： 供試品の出力端子から入力端子に通過した光パワーの測定
値（W）。波長（λ）の関数として表す。
Pi(λ)： 供試品の出力端子に入射する光パワーを出力端子において
測定した値（W）。波長（λ）の関数として表す。
図1に概念図を示す。
a) 片方向測定
b) 両方向測定
図1−光損失及び反射減衰量の波長依存性測定の概念図
4.3.2
反射減衰量（箇条3を参考）
反射減衰量RL(λ)は供試品が反射する光パワーであり，波長の関数である。
式(2)によって求める。
()
()()
×
−
=
λ
λ
λ
i
r
log
10
P
P
RL
（dB）····················································· (2)
ここに， Pr(λ)： 供試品が反射する光パワーを入力端子において測定した値
（W）。波長（λ）の関数として表す。
Pi(λ)： 供試品の入力端子に入射する光パワーを入力端子において
測定した値（W）。波長（λ）の関数として表す。
また，両方向測定においては，次の測定も行う。
Pr(λ)： 供試品が反射した光パワーを出力端子において測定した値
入力
端子
出力
端子
反射光パワー Pr(λ)
入射光パワー Pi(λ)
通過光パワー Pt(λ)
DUT
入射光パワー Pi(λ)
通過光パワー Pt(λ)
入射光パワー Pi(λ)
反射光パワー Pr(λ)
反射光パワー Pr(λ)
通過光パワー Pt(λ)
入力端子 出力端子
DUT
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
（W）。波長（λ）の関数として表す。
Pi(λ)： 供試品の出力端子に入射する光パワーを出力端子において
測定した値（W）。波長（λ）の関数として表す。
図1に概念図を示す。
4.4
供試品
供試品は，三つ以上の端子をもつものもある。ただし，A(λ)の測定は，片方向及び両方向のいずれの場
合であっても二つの端子間だけで測定するため，この規格においては，供試品は二つの端子をもつものと
みなす。RL(λ)の測定についても同様に，供試品は一つの端子だけをもつものとみなす。使用しない端子が
ある場合は，その部分で反射光が生じないように終端処理する。
8種類の供試品の形態を，表A.1に示す。これらの差異は，主に入出力端子の終端構造にある。終端は
光ファイバピッグテール，光コネクタプラグ，光コネクタレセプタクルなどである。この規格において考
慮した各種光受動部品を，表A.2に示す。
4.5
測定方法
供試品の波長応答特性を測定する方式としては，測定対象とする波長帯域において複数の単一波長測定
を実施するステップモード，波長帯域の全体を連続的に測定する波長掃引モード及びその2種類のモード
を組み合わせる方式がある。測定手順は，測定方法によって，次による。
A(λ)及びRL(λ)の測定方法は，光源と受光装置との組合せによって，表1に示す方法A〜方法Dの4種類
がある。方法B及び方法Cについては，複数の構成例を示す。
注記 測定方法及び構成によって，光損失の測定精度は異なる。測定精度の差が問題となる場合には，
基準測定方法（RTM）を選択することが望ましい。
表1−測定方法及び構成例
方法
名称
光源
受光装置
配置例
備考
A
BBS
BBS
TND
BBS＋DUT＋OSA
代替方法
B
TLS
無偏光化＋
コヒーレンス制御
−
−
−
B.1
TLS＋BBD
TLS
BBD
TLS＋DUT＋OPM
−
B.1.1
TLS（ステップモード）
＋BBD
TLS（ステップモード） BBD
TLS＋DUT＋OPM
代替方法
B.1.2
TLS（波長掃引モード）
＋BBD
TLS（波長掃引モード） BBD
TLS＋DUT＋OPM
代替方法
B.2
TLS＋TND
TLS
TND
TLS＋DUT＋OSA
−
B.2.1
TLS（ステップモード）
＋TND
TLS（ステップモード） TND
TLS＋DUT＋OSA
基準測定方
法（RTM）
B.2.2
TLS（波長掃引モード）
＋TND
TLS（波長掃引モード） TND
TLS＋DUT＋OSA
代替方法
C
N台のNLS組合せ
無偏光化＋
コヒーレンス制御
−
−
−
C.1
N台のNLS＋BBD
N台のNLS
BBD
N TLS＋N×1形光スイッチ
＋DUT＋OPM
代替方法
C.2
N台のNLS＋TND
N台のNLS
TND
N TLS＋N×1形光ブランチ
ングデバイス＋DUT＋OSA
代替方法
D
TN-OTDR
TN-OTDR
TN-OTDR TN-OTDR＋DUT
代替方法
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
4.5.1
方法A−広帯域光源（BBS）
方法Aの具体的な構成の一例としては，広帯域光源と光スペクトラムアナライザとを組み合わせて用い
る。方法Aは1回の測定で測定対象とする波長帯域全体を測定できる利点がある。測定のサンプリングレ
ートは，波長可変狭帯域受光装置の性能で決まる。波長依存性の測定は，単位波長当たりの分光光パワー
密度が高い広帯域光源を用いて行うのがよい。適切な波長可変狭帯域受光装置を用いることで，精度の高
い測定を行うことができる。
4.5.2
方法B−波長可変狭帯域光源（TLS）
方法Bでは，波長可変狭帯域光源，及び2種類の受光装置（BBD又はTND）のいずれかを用いる。
4.5.2.1
方法B.1−波長可変狭帯域光源と広帯域受光装置との組合せ
方法B.1では，波長可変狭帯域光源と広帯域受光装置とを組み合わせて用いる。
方法B.1の具体的な構成の一例としては，波長可変狭帯域光源と光パワーメータとを組み合わせて用い
る。広帯域受光装置と組み合わせて用いる場合に，波長可変狭帯域光源には次の2種類の使い方がある。
a) 方法B.1.1−ステップモードで用いる波長可変狭帯域光源と広帯域受光装置との組合せ この方法で
は，測定の分解能は，波長可変狭帯域光源のスペクトル線幅及び波長ステップの大きさで決まる。ス
ペクトル線幅が極端に狭い場合には，スプリアス雑音が発生し，コヒーレンス干渉の影響が生じるほ
か，不必要に多量の測定データを取得することとなる。逆にスペクトル線幅が極端に広い場合には，
供試品の波長応答特性を測定するために十分な分解能が得られない。供試品の測定に必要な帯域幅及
びナイキスト基準を考慮して，波長可変狭帯域光源のスペクトル線幅を決める。
b) 方法B.1.2−波長掃引モードで用いる波長可変狭帯域光源と広帯域受光装置との組合せ この方法で
は，測定の分解能は波長可変狭帯域光源のスペクトル線幅ではなく，受光装置の応答速度で決まる。
供試品の測定に必要な帯域幅及びナイキスト基準を考慮して，受光装置の応答速度を決める。また，
測定の分解能は，波長掃引速度及び受光装置の応答時間（平均化処理時間を含む。）による。
4.5.2.2
方法B.2−波長可変狭帯域光源と波長可変狭帯域受光装置との組合せ
方法B.2では，波長可変狭帯域光源と波長可変狭帯域受光装置とを組み合わせて用いる。両測定器間の
同期が必要である。この方法は特に，超狭帯域特性をもつ光部品の測定に用いる。
方法B.2の具体的な構成の一例としては，波長可変狭帯域光源と光スペクトラムアナライザとを組み合
わせて用いる。波長可変狭帯域受光装置と組み合わせて用いる場合に，波長可変狭帯域光源には次の2種
類の使い方がある。
a) 方法B.2.1−ステップモードで用いる波長可変狭帯域光源と波長可変狭帯域受光装置との組合せ 測
定の分解能については，方法B.1.1の場合と同様である。
b) 方法B.2.2−波長掃引モードで用いる波長可変狭帯域光源と波長可変狭帯域受光装置との組合せ 測
定の分解能については，方法B.1.2の場合と同様である。
4.5.3
方法C−波長固定狭帯域光源（NLS）
方法Cでは，N台の狭帯域光源と，2種類の受光装置のいずれかとを組み合わせて用いる。特に，供試
品の光損失及び反射減衰量の波長依存性がかなり大きいと予測される場合，かつ，その波長域を慎重に調
査しなければならない場合に，この方法は有効である。
4.5.3.1
方法C.1−波長固定狭帯域光源と広帯域受光装置
方法C.1は，方法B.1において，波長可変狭帯域光源をN台の波長固定狭帯域光源及びN×1形光スイ
ッチに置き換えた方法である。方法C.1の光源及び受光装置の具体的な構成の一例としては，N台のDFB
レーザと光パワーメータとを組み合わせて用いる。
7
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
4.5.3.2
方法C.2−波長固定狭帯域光源と波長可変狭帯域受光装置との組合せ
方法C.2は，方法B.2において，波長可変狭帯域光源をN台の波長固定狭帯域光源及びN×1形光スイ
ッチ又はN×1形光ブランチングデバイスに置き換えた方法である。方法C.2の光源及び受光装置の具体
的な構成の一例としては，N台のDFBレーザと光スペクトラムアナライザとを組み合わせて用いる。
4.5.4
方法D−波長可変形OTDR
方法Dでは，波長可変形OTDRに内蔵の波長可変狭帯域光源と受光装置とを組み合わせて用いる。
4.5.5
基準測定方法（RTM）
A(λ)及びRL(λ)の測定における基準測定方法（RTM）は，方法B.2.1による。
5
装置
測定に用いる装置は，次による。
5.1
光源
測定に用いる光源は，次による。
5.1.1
方法A−広帯域光源（BBS）
広帯域光源は，方法Aで用いる。広帯域光源は，その種類に応じて様々な特性をもった広帯域の光を出
力する。広帯域光源は，白色光源，LED（表面発光形又は端面発光形），スーパールミネッセントダイオー
ド（SLD）又は増幅された自然放出光（ASE）光源［光ファイバ増幅器（FA）又は半導体光増幅器（SOA）］
を用いることができる。
広帯域光源は，供試品の使用波長範囲よりも広い波長帯域をもち，かつ，出力光パワーがA(λ)及びRL(λ)
の測定に十分な大きさをもつものを用いる。光パワーの安定性は，連続8時間の使用で±0.05 dB以内とす
る。
個別に規定する供試品のA(λ)及びRL(λ)の仕様の詳細を十分に確認し，方法Aによる測定がこれを満た
すことができるように，慎重に広帯域光源の仕様を決める。広帯域光源の主要特性を，附属書BのB.1に
示す。
5.1.2
方法B−波長可変狭帯域光源（TLS）
波長可変狭帯域光源は，方法Bで用いる。波長可変狭帯域光源は，その使用波長範囲内の選択した任意
の波長においてスペクトル線幅の狭い光を出射するものであり，そのタイプによって特性が異なる。波長
可変狭帯域光源は，例えば，広帯域光源と波長可変フィルタとの組合せ，外部共振器波長可変レーザ（ECL），
波長可変DFBレーザ，波長可変エルビウム添加光ファイバレーザ（EDFL）などである。様々な波長可変
狭帯域光源の主要特性を，附属書BのB.2に示す。
波長可変狭帯域光源の仕様は，方法Bの中から選択した測定方法による測定結果が，個別に規定する供
試品のA(λ)及びRL(λ)の仕様を満足するように，決めなければならない。通常，慎重に検討しなければなら
ない波長可変狭帯域光源の主要特性を，次に示す。
− 中心波長
− サイドモード抑圧比（SMSR）（必要な場合）
− スペクトル線幅［コヒーレンス干渉の影響，偏光依存性損失（PDL）の影響，スプリアス反射及びナ
イキスト基準を考慮する。］
− 全ての使用波長における出射光パワーの安定性は，8時間の連続使用において±0.05 dB以内とする。
5.1.3
方法C−波長固定狭帯域光源（NLS）
波長固定狭帯域光源は，方法Cで用いる。各狭帯域光源の波長，又はその組合せによって全体として構
8
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成する波長範囲は，規定の測定波長又は測定波長範囲を満たすものとし，受光装置の波長範囲もこれに対
応するものとする。全ての場合において，N×1形光ブランチングデバイス又は光スイッチを用いる。ここ
で，Nは，用いる狭帯域光源の数である。
方法Cでは，N台の単一波長光源を組み合わせて用いる。単一波長光源の例を，次に示す。
− ファブリ・ペロー形（FP）レーザ
− DFBレーザ
波長固定狭帯域光源に対する要求仕様は，通常，波長可変狭帯域光源に対する要求仕様と同等とする。
コヒーレンス干渉の影響を避けるために，コヒーレンス制御を適用する。
5.1.4
方法D−波長可変形OTDR（TN-OTDR）
波長可変形OTDRは，方法Dで用いる。波長可変形OTDRの光源に対する要求仕様は，波長可変狭帯
域光源に対する要求仕様と同等とする。
コヒーレンス干渉の影響を避けるため，波長可変形OTDRの内蔵狭帯域光源に対してはコヒーレンス制
御を行う。
5.1.5
偏光解消子
全ての場合において，特定の偏光状態（SOP）によらず，全ての偏光状態に対する平均的な値となるよ
うなA(λ)及びRL(λ)の値を得るため，波長可変狭帯域光源は無偏光状態にする必要がある。偏光スクランブ
ラを用いる方法，循環形の光カプラを用いる方法など，能動形及び受動形の各種の無偏光化の方法がある。
測定中のコヒーレンス干渉の影響を防ぐため，波長可変狭帯域光源に対してコヒーレンス制御を行う。
方法B，方法C及び方法Dでは，偏光状態の関数であるA(λ)及びRL(λ)を平均化したものを測定結果と
する。これらの測定では，特定の偏光状態をもつ狭帯域光源を用いており，その場合には，供試品の測定
結果は不明な特定の偏光状態のものとなるため，全ての偏光状態に対して平均化する。
次に，A(λ)及びRL(λ)を平均化するための二つの方法を示す。
− 直接的方法：偏光度を低下させるため，能動的又は受動的な部品で構成する偏光解消子を光源の出力
端子に接続する。これによって，偏光状態の関数であるA(λ)及びRL(λ)の平均値を直接測定する。
− 間接的方法：偏光状態の関数としてA(λ)及びRL(λ)を測定し，測定結果を平均化する。
5.2
受光装置
それぞれの方法について，受光装置の構成を示す。
5.2.1
方法A，方法B.2及び方法C.2−波長可変狭帯域受光装置（TND）
波長可変狭帯域光受光装置は，方法A，方法B.2及び方法C.2で用いる。
波長可変受光装置として，通常，規定の波長範囲における全ての波長成分の出力光パワーを測定でき，
ある分解能帯域幅（RBW）をもった光スペクトラムアナライザを用いる。分解能帯域幅は，光スペクトラ
ムアナライザに内蔵する光波長フィルタの波長特性を示すものであり，光損失がピークから3 dB低下した
帯域幅で定義する。分解能帯域幅が変更可能な場合には，供試品の測定に必要な帯域幅及びナイキスト基
準を考慮して決める。中心波長から一定の波長差における光阻止特性（ORR）を規定する。これによって，
供試品の波長応答特性測定結果に，測定系に起因する検出誤差を含まないようにして，測定結果の解釈を
誤ることを防止する。光阻止特性の仕様として，例えば，“中心波長から0.1 nm離れた波長における光損
失が20 dB低下，又は，中心波長から0.2 nm離れた波長における光損失が30 dB低下”と規定する。これ
は，光スペクトラムアナライザに内蔵する光波長フィルタの要求波長応答特性を規定することでもある。
光スペクトラムアナライザの分解能帯域幅の全体的な評価をする場合，光スペクトラムアナライザに内蔵
する光波長フィルタの波長応答特性の形状を調査する。例えば，この調査は，DFBレーザをこの光スペク
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トラムアナライザで測定した包絡線と，高い分解能をもつ干渉計で測定した特性とを比較することによっ
て可能である。
光パワー測定のダイナミックレンジ及び感度は，個別に規定する供試品のA及びRLを測定するのに十
分なものとする。光スペクトラムアナライザの偏光依存性に起因する光パワー強度測定の不確かさは，測
定する供試品のADUT(λ)に対して許容する不確かさよりも小さくなければならない。
一連の測定中，光スペクトラムアナライザを取り外し，再び接続することがあるが，各測定間で接続損
失が一定となるようにする。
5.2.2
方法B.1及び方法C.1−広帯域受光装置（BBD）
広帯域受光装置は，方法B.1及び方法C.1で用いる。
広帯域受光装置は，一般には光パワーメータを用いる。光パワーメータは，供試品との光接続部分を含
む受光センサー部，付帯電気回路及び表示部からなる。光学的な接続手段とは，例えば，光コネクタレセ
プタクル，光ファイバピッグテール又は光ファイバ素線アダプタである。
広帯域受光装置は，A(λ)及びRL(λ)の測定に対し，波長範囲が十分に広く，受光感度が十分に高いもので
なければならない。広帯域受光装置の応答特性は直線性をもたなければならない。全ての測定は差をとる
ことで行っているため，校正は絶対的なものである必要はない。測定中，広帯域受光装置からの反射光パ
ワーを抑圧し，偏光依存性を極力小さくする。
一連の測定中，広帯域受光装置を取り外し，再び接続することがあるが，各測定間で，接続損失が一定
となるようにする。供試品が出射する光を全て受けられるよう，大口径形の受光装置を用いるのがよい。
5.3
光ブランチングデバイス（BD）
波長選択性のない光ブランチングデバイスを用いて，光源と供試品とを接続する。接続形態には，光フ
ァイバピッグテール形及び光コネクタ形がある。
光ブランチングデバイスの使用例としては，供試品の反射減衰量RLDUT(λ)の測定に用いる2×1形光カプ
ラがある。
光ブランチングデバイスの分岐比は，安定かつ波長に対して均一でなければならない。広帯域受光装置
の偏光依存性損失に起因する光パワー強度測定の不確かさは，測定する供試品のADUT(λ)に対して許容する
不確かさよりも小さくなければならない。光ブランチングデバイスの光損失ABD(λ)は，RLDUT(λ)の最小の値
を測定する場合においても影響が無視できる程度に十分に小さくなければならない。光ブランチングデバ
イスの反射減衰量RLBD(λ)は，測定しようとする供試品の反射減衰量RLDUT(λ)の最大の値より，20 dB以上
大きくなければならない。光ブランチングデバイスのディレクティビティは，RLDUT(λ)の最大の値より，
10 dB以上大きくなければならない。
光ブランチングデバイスは，供試品の個別の規定の詳細を考慮して選定する。
一連の測定中，光ブランチングデバイスを取り外し，再び接続することがあるが，各測定間で接続損失
が一定となるようにする。
5.4
光終端器
反射減衰量の測定に用いる光終端器には，次の2種類がある。
a) 大きな反射減衰量をもつ光終端器 反射減衰量の測定に無反射終端として用いる光終端器は，大きな
反射減衰量RL∞(λ)をもたなければならない。このような光終端器として，次の3種類を示す。
− 斜めPC研磨（APC）形光コネクタを用いるなどの角度処理した光ファイバ端面
− 光ファイバ端面への屈折率整合剤の塗布
− マンドレルラップ（円筒への巻き付け）などによる光ファイバ内での十分な減衰
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
光終端器の反射減衰量RL∞(λ)は，測定する供試品の反射減衰量RLDUT(λ)の最大値よりも20 dB以上
大きくなければならない。
b) 既知の反射減衰量をもつ光終端器 反射減衰量のリファレンス測定に用いる光終端器は，光終端器の
反射減衰量RLt(λ)が既知でなければならない。
6
手順
ここでは，A(λ)及びRL(λ)を測定する手順を規定する。
次に示す測定方法において，基本の測定手順に対して一部の手順を変更することによって，測定の不確
かさを減らすことが可能な場合がある。例えば，大きな光損失をもつ供試品を測定する場合に，光源から
の出射光の振幅を変調し，変調光の光パワーを，同期した変調周波数を受光する光パワーメータを用いて
測定するという方法がある。
また，基準光ブランチングデバイス（RBD）の出力端子を用いて，光源の出力光パワー変動を常時モニ
タし，これに応じて供試品の波長応答特性を自動式に補正することが可能である。
注記 方法B又は方法Cで測定する場合には，測定精度は，供試品及び受光装置の偏光依存性損失に
よる。
6.1
方法A−広帯域光源
6.1.1
光損失だけを測定する方法
6.1.1.1
リファレンス測定
図2 a)に示すように，広帯域光源を波長可変狭帯域受光装置に接続する。供試品の構成に応じて，接続
は直接又は光コネクタアダプタを介して行う。測定の不確かさを小さくできるため，可能な場合には，直
接接続する方がよい。
図2 a)に従い，測定波長範囲の全体にわたって光出力パワーPtref(λ)を測定し，記録する。
TJ
a) 光損失のリファレンス測定
b) 光損失の測定
図2−方法A 光損失だけを測定する方法
6.1.1.2
光損失の測定
図2 b)に示すように，供試品を測定系に設置し，測定波長範囲において出力光パワーPt(λ)を測定し，記
録する。
BBS
TND
BBS
TND
Pi(λ)
Ptref(λ)
BBS
TND
BBS
TND
Pi(λ)
Pt(λ)
DUT
DUT
11
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
式(3)によって光損失A(λ)を算出する。
()
()()
×
−
=
λ
λ
λ
ref
t
t
log
10
P
P
A
（dB） ···················································· (3)
ここに，
Pt(λ)： 供試品を透過する光パワーを出力端子において測定した値
（W）。波長（λ）の関数として表す。
Ptref(λ)： 光源と受光装置を接続したときの光パワーを測定した値
（W）。波長（λ）の関数として表す。
6.1.1.3
両方向測定
供試品を反転して両方向で測定する。
6.1.2
反射減衰量だけを測定する方法
6.1.2.1
リファレンス測定
図3 a)に示すように，広帯域光源及び波長可変狭帯域受光装置を2×1形光ブランチングデバイスに接続
する。供試品の構成に応じて，接続は直接又は光コネクタアダプタを介して行う。測定の不確かさを小さ
くできるため，可能な場合には，直接接続することが望ましい。また，図3 a)に従い，2×1形光ブランチ
ングデバイスの出力端子に，既知の反射減衰量RLt(λ)をもつ光終端器を接続する。
図3 a)に従い，測定波長範囲にわたって出力光パワーPrref(λ)を測定し，記録する。
BBS
TND
2 × 1
BD
BBS
TND
2×1
BD
TJ
Pi(λ)
P
(λ)
r ref
P
(λ)
r ref
Pi(λ)
既知の反射減衰量RLt(λ)を
もつ光終端器
既知の反射減衰量RLt(λ)を
もつ光終端器
a) 反射減衰量のリファレンス測定
BBS
TND
2×1
BD
DUT
BBS
TND
2×1
BD
DUT
Pi(λ)
Pr(λ)
Pi(λ)
Pr(λ)
大きな反射減衰量を
もつ光終端器
大きな反射減衰量を
もつ光終端器
b) 反射減衰量の測定
図3−方法A 反射減衰量だけを測定する方法
6.1.2.2
反射減衰量の測定
図3 b)に示すように，供試品を測定系に設置し，測定波長範囲にわたって出力光パワーPr(λ)を測定し，
記録する。
式(4)によって，反射減衰量RL(λ)を算出する。
()
()()
×
−
=
λ
λ
λ
ref
r
r
log
10
P
P
RL
+ RLt(λ)（dB） ········································ (4)
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
ここに，
Pr(λ)： 供試品が反射する光パワーを入力端子において測定した値
（W）。波長（λ）の関数として表す。
Prref(λ)： 供試品の出力端子に大きな反射減衰量をもつ光終端器を接
続した状態で，入力端子における光パワーを測定した値
（W）。波長（λ）の関数として表す。
RLt(λ)： 供試品の出力端子に接続する大きな反射減衰量をもつ光終
端器の反射減衰量（dB）。波長（λ）の関数として表す。
6.1.2.3
両方向測定
供試品を反転して両方向で測定する。
6.1.3
光損失及び反射減衰量を同時に測定する方法
6.1.3.1
リファレンス測定
図4 a)に示すように，広帯域光源及び二つの波長可変狭帯域受光装置を2×1形光ブランチングデバイス
に接続する。供試品の構成に応じて，接続は直接又は光コネクタアダプタを介して行う。測定の不確かさ
を小さくできるため，可能な場合には，直接接続することが望ましい。また，2×1形光ブランチングデバ
イスの1端子側の波長可変狭帯域受光装置と接続する部分には，必ず斜めPC研磨（APC）形光コネクタ
を用いる。
図4 a)に従い，測定波長範囲にわたって，出力光パワーPtref(λ)を測定し，記録する。
6.1.2.1と同様に，図3 a)に示した系にて，測定波長範囲にわたって出力光パワーPrref(λ)を測定し，記録す
る。
BBS
TND
2 × 1
BD
BBS
TND
2 × 1
BD
TJ
TND
TND
Pi(λ)
P
(λ)
r ref
P
(λ)
t ref
Pi(λ)
P
(λ)
r ref
P
(λ)
t ref
a) 光損失のリファレンス測定
BBS
TND
2 × 1
BD
DUT
TND
BBS
TND
2 × 1
BD
DUT
TND
Pi(λ)
Pr(λ)
Pt(λ)
Pi(λ)
Pr(λ)
Pt(λ)
b) 光損失及び反射減衰量の測定
図4−方法A 光損失及び反射減衰量を同時に測定する方法
6.1.3.2
光損失及び反射減衰量の測定
図4 b)に示すように，供試品を測定系に設置し，測定波長範囲にわたって出力光パワーPt(λ)及びPr(λ)を
測定し，記録する。
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式(3)によって光損失A(λ)を，式(4)によって反射減衰量RL(λ)を算出する。
6.1.3.3
両方向測定
供試品を反転して両方向で測定する。
6.2
方法B−波長可変狭帯域光源
方法Bは，方法Aと測定手順に違いはなく，測定系における接続方法も同じである。全ての場合におい
て，方法Bでは，全ての偏光状態における平均値を得るため，波長可変狭帯域光源を無偏光化して用いる。
無偏光化処理せずに，波長可変狭帯域光源が出射するある特定の不明な偏光状態のまま又は不適切な偏光
状態のまま用いてはならない。
方法Bでは，次に示す種々の構成のうちの一つを実施する（表1参照）。
− 方法B.1 波長可変狭帯域光源と広帯域受光装置との組合せ
− 方法B.1.1 ステップモードで用いる波長可変狭帯域光源と広帯域受光装置との組合せによって，一
度に一つの波長で測定し，測定波長範囲の全体にわたって波長を変化させる。
− 方法B.1.2 波長掃引モードで用いる波長可変狭帯域光源と広帯域受光装置との組合せによって，測
定波長範囲の全体にわたって連続した測定を行う。
− 方法B.2 波長可変狭帯域光源と波長可変狭帯域受光装置との組合せ
− 方法B.2.1 ステップモードで用いる波長可変狭帯域光源と波長可変狭帯域受光装置との組合せに
よって，それぞれの波長を同期させて一度に一つの波長で測定し，測定波長範囲の全体にわたって
波長を変化させる。
− 方法B.2.2 波長掃引モードで用いる波長可変狭帯域光源と波長可変狭帯域受光装置との組合せに
よって，それぞれの波長を同期させ，測定波長範囲の全体にわたって連続した測定を行う。
全ての場合において，測定系及び手順は，広帯域光源を波長可変狭帯域光源に変更することを除き，6.1
と同じである。
6.3
方法C−波長固定狭帯域光源の組合せ
方法Cでは，次に示す二つの構成のうちの一つを実施する（表1参照）。
− 方法C.1 N台の波長固定狭帯域光源と広帯域受光装置との組合せ
− 方法C.2 N台の波長固定狭帯域光源と波長可変狭帯域受光装置との組合せ
全ての場合において，全ての偏光状態における平均値を得るため，それぞれの波長固定狭帯域光源を無
偏光化して用いる。無偏光化処理せずに，波長固定狭帯域光源が出射するある特定の不明な偏光状態のま
ま又は不適切な偏光状態のまま用いてはならない。
測定手順は，二つの構成のいずれの場合も同じである。
6.3.1
光損失だけを測定する方法
6.3.1.1
リファレンス測定
図5 a)に示すように，それぞれの波長固定狭帯域光源と，広帯域受光装置又は波長可変狭帯域受光装置
とを，N×1形光ブランチングデバイス又は光スイッチを介して接続する。ただし，広帯域受光装置を用い
る場合は，波長間の干渉を避けるため，N×1形光ブランチングデバイスではなく，光スイッチと組み合わ
せる。
供試品の構成に応じて，接続は直接又は光コネクタアダプタを介して行う。測定の不確かさを小さくで
きるため，可能な場合には，直接接続する方がよい。
図5 a)に従い，それぞれの波長固定狭帯域光源の波長λn（ここで，n＝1, …, N）での出力光パワーPtref(λn)
を測定し，記録する。
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
TJ
NLS1
NLS2
N
×
1
B
D
又
は
スイッ
チ
• •
•
NLSN
• •
•
BBD又はTND
NLS1
NLS2
N
×
1
B
D
又は
スイッ
チ
• •
•
NLSN
• •
•
BBD又はTND
Pi(λ1)
Pi(λ2)
Pi(λN)
Pi(λ1)
Pi(λ2)
Pi(λN)
Ptref(λn)(n = 1,…N)
Ptref(λn)(n = 1,…N)
a) 光損失のリファレンス測定
NLS1
NLS2
N
×
1
B
D
又
は
スイッ
チ
• •
•
NLSN
• •
•
BBD又はTND
NLS1
NLS2
• •
•
NLSN
• •
•
DUT
DUT
N
×
1
B
D
又
はス
イッチ
BBD又はTND
Pi(λ1)
Pi(λ2)
Pi(λN)
Pi(λ1)
Pi(λ2)
Pi(λN)
Pt(λn)(n = 1,…N)
Pt(λn)(n = 1,…N)
b) 光損失の測定
図5−方法C 光損失だけを測定する方法
6.3.1.2
光損失の測定
図5 b)に示すように，供試品を測定系に設置し，それぞれの波長固定狭帯域光源の波長λn（ここで，
n＝1, …, N）での出力光パワーPt(λn)を測定し，記録する。
式(5)によってA(λn)を算出する。
()
()()
×
−
=
n
n
n
P
P
A
λ
λ
λ
ref
t
t
log
10
（dB） ·················································· (5)
6.3.1.3
両方向測定
供試品を反転して両方向で測定する。
6.3.2
反射減衰量だけを測定する方法
6.3.2.1
リファレンス測定
図6 a)に示すように，波長固定狭帯域光源をN×1形光ブランチングデバイス又は光スイッチに接続する。
図6 a)に示すように，N×1形光ブランチングデバイス又は光スイッチと，広帯域受光装置又は波長可変
狭帯域受光装置とを2×1形光ブランチングデバイスに接続し，2×1形光ブランチングデバイスの出力端
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
子に，既知の反射減衰量RLt(λ)をもつ光終端器を接続する。ただし，広帯域受光装置を用いる場合は，波
長間の干渉を避けるため，N×1形光ブランチングデバイスではなく，光スイッチと組み合わせる。
供試品の構成に応じて，接続は直接又は光コネクタアダプタを介して行う。測定の不確かさを小さくで
きるため，可能な場合には，直接接続することが望ましい。
図6 a)に従い，それぞれの波長固定狭帯域光源の波長λn（ここで，n＝1, …, N）での出力光パワーPrref(λn)
を測定し，記録する。
NLS1
NLS2
• •
•
NLSN
N
×
1
B
D
又は
スイ
ッチ
• •
•
BBD又はTND
2
×
1
B
D
TJ
NLS1
NLS2
• •
•
NLSN
• •
•
BBD又はTND
Pi(λ1)
N
×
1
B
D
又は
スイッチ
2
×
1
B
D
Pi(λ2)
Pi(λN)
Pi(λ1)
Pi(λ2)
Pi(λN)
Prref(λn)(n = 1,…N)
Prref(λn)(n = 1,…N)
既知の反射減衰量RLt(λ)
をもつ光終端器
既知の反射減衰量RLt(λ)
をもつ光終端器
a) 反射減衰量のリファレンス測定
NLS1
NLS2
• •
•
NLSN
N
×
1
B
D
又はス
イッチ
• •
•
BBD又はTND
2
×
1
B
D
NLS1
NLS2
• •
•
NLSN
• •
•
BBD又はTND
DUT
DUT
N
×
1
B
D
又
はス
イッチ
2
×
1
B
D
Pi(λ1)
Pi(λ2)
Pi(λN)
Pr(λn)(n = 1,…N)
大きな反射減衰量
をもつ光終端器
Pi(λ1)
Pi(λ2)
Pi(λN)
Pr(λn)(n = 1,…N)
大きな反射減衰量
をもつ光終端器
b) 反射減衰量の測定
図6−方法C 反射減衰量だけを測定する方法
6.3.2.2
反射減衰量の測定
図6 b)に示すように，供試品を測定系に設置し，それぞれの波長固定狭帯域光源の波長λn（ここで，
n＝1, …, N）での出力光パワーPr(λn)を測定し，記録する。
式(6)によってRL(λn)を算出する。
16
C 61300-3-7：2012
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
()
()()
×
−
=
n
n
n
P
P
RL
λ
λ
λ
ref
r
r
log
10
+ RLt(λ)（dB） ······································ (6)
6.3.2.3
両方向測定
供試品を反転して両方向で測定する。
6.3.3
光損失及び反射減衰量を同時に測定する方法
6.3.3.1
リファレンス測定
図7 a)に示すように，波長固定狭帯域光源と，広帯域受光装置又は波長可変狭帯域受光装置とを，N×1
形光ブランチングデバイス又は光スイッチを介して接続する。ただし，広帯域受光装置を用いる場合は，
波長間の干渉を避けるため，N×1形光ブランチングデバイスではなく，光スイッチと組み合わせる。
供試品の構成に応じて，接続は，直接又は光コネクタアダプタを介して行う。測定の不確かさを小さく
できるため，可能な場合には，直接接続することが望ましい。また，2×1形光ブランチングデバイスの1
端子側の波長可変狭帯域受光装置と接続する部分には，必ず斜めPC研磨（APC）形光コネクタを用いる。
図7 a)に従い，それぞれの波長固定狭帯域光源の波長λn（ここで，n＝1, …, N）での光出力パワーPtref(λn)
を測定し，記録する。
6.3.2.1と同様に，図6 a)に示した測定系にて，測定波長範囲にわたって，それぞれの波長固定狭帯域光
源の波長λn（ここで，n＝1, …, N）での出力光パワーPrref(λn)を測定し，記録する。
NLS1
NLS2
• •
•
NLSN
N
×
1
B
D
又
はスイッ
チ
• •
•
BBD又はTND
2
×
1
B
D
TJ
NLS1
NLS2
• •
•
NLSN
• •
•
BBD又はTND
BBD又はTND
BBD又はTND
N
×
1
B
D
又はス
イッチ
2
×
1
B
D
Pi(λ1)
Pi(λ2)
Pi(λN)
Ptref(λn)(n = 1,…N)
Pi(λ1)
Pi(λ2)
Pi(λN)
Ptref(λn)(n = 1,…N)
a) 光損失のリファレンス測定
図7−方法C 光損失及び反射減衰量を同時に測定する方法
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C 61300-3-7：2012
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
NLS1
NLS2
• •
•
NLSN
N
×
1
B
D
又
はスイッ
チ
• •
•
BBD又はTND
2
×
1
B
D
NLS1
NLS2
• •
•
NLSN
• •
•
BBD又はTND
DUT
DUT
BBD又はTND
BBD又はTND
N
×
1
B
D
又はス
イッチ
2
×
1
B
D
Pi(λ1)
Pi(λ2)
Pi(λN)
Pt(λn)(n = 1,…N)
Pi(λ1)
Pi(λ2)
Pi(λN)
Pt(λn)(n = 1,…N)
Pr(λn)(n = 1,…N)
Pr(λn)(n = 1,…N)
b) 光損失及び反射減衰量の測定
図7−方法C 光損失及び反射減衰量を同時に測定する方法（続き）
6.3.3.1A 光損失及び反射減衰量の測定
図7 b)に示すように，供試品を測定系に設置し，それぞれの波長固定狭帯域光源の波長で光出力パワー
Pt(λn)及びPr(λn)を測定し，記録する。
式(5)によって光損失A(λn)を，式(6)によって反射減衰量RL(λn)を算出する。
6.3.3.2
両方向測定
供試品を反転して両方向で測定する。
6.4
測定結果
表2及び図8に，測定結果の記録方法の例を示す。
表2−光損失及び反射減衰量の波長依存性
波長（nm）
光損失（dB）
反射減衰量（dB）
λ1
A(λ1)
RL(λ1)
λ2
A(λ2)
RL(λ2)
λ3
A(λ3)
RL(λ3)
・
・
・
λn
A(λn)
RL(λn)
・
・
・
・
・
・
・
・
・
λN
A(λN)
RL(λN)
測定を実施した伝搬方向及び出力端子について，別々のグラフを用意するか，又はそれぞれの結果を重
ねて描く。
18
C 61300-3-7：2012
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
A(λ)
0
光損
失
（
d
B
）
波長（nm）
図8−光損失の波長依存性
7
個別に規定する事項
必要に応じて，次の事項を製品規格などに規定する。
7.1
光源
7.1.1
広帯域光源
− 波長成分ごとの光パワーレベル
− 光パワー安定性
− 波長帯域
− 光学的な接続手段
7.1.2
波長可変又は波長固定狭帯域光源
− 出力光パワー
− 光パワー安定性
− 波長確度
− 波長範囲
− スペクトル線幅
− 光学的な接続手段
7.1.3
偏光解消子
− 許容する最大光損失
− 許容する最大偏光依存性損失
− 偏光度（DOP）の波長依存性の最大値
7.2
受光装置
7.2.1
光パワーメータ
− 光パワー測定精度
− ダイナミックレンジ
− 光パワー測定値の直線性
− 光パワー測定の安定性
− 感度の偏光依存性
− 光パワーメータのRL(λ)
19
C 61300-3-7：2012
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
− 光学的な接続手段
7.2.2
光スペクトラムアナライザ
− 波長範囲
− 波長測定確度
− 分解能帯域幅
− 平均化回数
− ダイナミックレンジ
− 光パワー測定値の直線性
− 光パワー測定の安定性
− 感度の偏光依存性
− 光スペクトラムアナライザのRL(λ)
− 光学的な接続手段
7.3
基準光ブランチングデバイス
− 光パワー分岐比
− ディレクティビティ
− 偏光依存性損失
− 基準光ブランチングデバイスのRL(λ)
7.4
光終端器
− 光終端器の種類
− 無反射終端として用いる場合，許容する最小反射減衰量
− 既知の反射減衰量をもつ光終端器として用いる場合，反射減衰量RLt(λ)
20
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書A
（参考）
供試品の構成，終端及び製品の形態
考えられる供試品の構成及び終端を，表A.1に示す。
表A.1−供試品の構成及び終端
No
詳細
DUT
1
両端光ファイバの光受動部品（POC）
2
両端光ファイバの供試品（スプライス又は現地取付け
光コネクタ）
3
片端光コネクタプラグ付きの光ファイバ
4
両端光コネクタプラグのPOC
5
両端光コネクタプラグ付きのパッチコード
6
片端光コネクタプラグ付きの光ファイバピッグテール
7
両端光コネクタレセプタクルのPOC
8
片端が光コネクタプラグ，もう片端が光コネクタレセ
プタクルのPOC
POC
POC
POC
POC
21
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
考えられる製品の形態を，表A.2に示す。
表A.2−光受動部品の形態
光受動部品の形態
適用例
ポート
数
注記
光パッチコード
全般
1×1
A(λ)及びRL(λ)は光コネクタの種類によって決まる。
光ブランチングデバイス 全般
N×1
両方向で使用するため，両方向の測定が必要である。
WWDMデバイス
PON
2×1
上り信号用の1 310 nm及び下り信号用の1 490 nmの
光を合波する。
上り信号用の1 310 nm，下り信号用の1 490 nm及び下
りのアナログビデオ信号用の1 550 nmの光を合波す
る。
N×2
ネットワーク冗長用
−
両方向で使用するため，両方向の測定が必要である。
光スプリッタ
PON
1×N
BPON用は，N≦32
GPON用は，N≦128
EPON用は，N≦16，FEC付きは，N＝32
両方向で使用するため，両方向の測定が必要である。
CWDM用合分波器
CWDM伝送
N×1
1×N
両方向で使用するため，両方向の測定が必要である。
ポート間の干渉は特性に影響を与えるため，ディレク
ティビティ特性は重要である。
ファイバブラッググレー
ティング（FBG）
EDFA用利得平たん
化フィルタ
1×1
温度制御機能を備えてもよい。
分散補償器
1×1
チャープFBGを用いる。温度制御機能を備えてもよ
い。
FBG＋光サーキュレータ 波長アド・ドロップ
2×2
−
光サーキュレータ
全般
2×1
−
薄膜フィルタ
波長分割多重
1×1
両方向で使用するため，両方向の測定が必要である。
3ポートをもつ光部品
波長分割多重
1×2
両方向の測定が必要である。
光スイッチ
全般
N×1
順方向及び逆方向の特性が異なるため，ディレクティ
ビティ，再現特性及びラッチ特性は重要である。
光減衰器
全般
1×1
順方向及び逆方向の特性が異なるため，両方向の測定
が必要である。
高減衰量時は高光損失となる。
アイソレータ
全般
1×1
逆方向では高光損失となる。
光リミッタ
高光パワー運用
1×1
リミッタ動作時は高光損失となる。
光ヒューズ
高光パワー運用
1×1
ヒューズ動作時は断線する。
メカニカルスプライス
全般
1×1
両方向で使用するため，両方向の測定が必要である。
光コネクタ
現場組立形
1×1
両方向で使用するため，両方向の測定が必要である。
光ファイバピッグテール
1×1
両方向で使用するため，両方向の測定が必要である。
22
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書B
（参考）
基本的な光源の特性
試験に用いる各種光源の基本的な特性を，次に示す。
B.1
広帯域光源
方法Aに用いる広帯域光源の主要特性を，表B.1に示す。
表B.1−広帯域光源の種類及びその特性
広帯域光源の
種類
詳細例又は
その他名称
主要特性
スペクトル幅
光出力パワー
分光
光パワー密度
均一性又は
平たん性
総出力パワー
白色光源
様々な種類の
一般用照明
非常に広い
（硬UV，遠赤外線）
とても低い
なし
数W程度
LED
端面発光形
表面発光形
広い
（3 dB帯域で＞100 nm）
低い
擬似ガウシアン
−3 dBm〜0 dBm
スーパー
ルミネッセン
トダイオード
（SLD）
SLED
比較的広い
（3 dB帯域で＞10 nm）
低い
（LEDより高い）
比較的均一
＋3 dBm〜＋5 dBm
ASE光源
EDFAによる
ASE光出力
Cバンド帯
（Cバンド帯＋Lバ
ンド帯も可能）
高い，−4 dBm/nm
均一
（利得平たん化）
＋12 dBm
（利得平たん化）
2 dB
（利得非平たん化）
＋14 dBm
（利得非平たん化）
23
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B.2
波長可変狭帯域光源
方法Bに用いる波長可変狭帯域光源の主要特性を，レーザの原理ごとに表B.2に示す。
表B.2−波長可変狭帯域光源の種類及びその特性
パラメータ
波長可変レーザの形式
ECL
EDFL
DFB
波
長
波長帯
ITU-T
C＋L
C＋L
波長可変の帯域（nm）
典型値
100〜140
なし
±1.1
（T±ΔT＝20±0.01 °C）
典型値
400
なし
±2
（チップ搭載のヒータ制御）
±4
（2段構成の温度制御あり）
不確かさ（pm）
絶対値
±2.5
±15
±10
相対値
典型値
±2
±2.5
なし
最大値
±10
なし
なし
分解能（pm）
設定値
典型値
1
1
10
最大値
10
なし
なし
再現特性（pm）
典型値
±2.5〜5
±2.5
±10
最大値
±100
なし
なし
安定性（pm/h）
典型値
±1
±5
±2
最大値
±100
なし
なし
線幅（MHz）
コヒーレンス制御なし
0.1
1 000〜1 300
0.1
コヒーレンス制御あり
50〜100
なし
50〜100
出
力
出力（dBm）
最大値
＋6
＋3
＋13
安定度（dB/h）
±0.02
±0.01
±0.005
再現特性（dB）
設定・測定を10回繰り返し
±0.03
±0.015
なし
雑
音
信号と自然放出
光スペクトルと
の比（dB）
ピークから±1 nmの
範囲
分解能設定：0.1 nm a)
典型値
55
75〜80
なし
最大値
70
なし
なし
信号と自然放出光のトータルパワーとの比（dB）
50〜60
50
なし
サイドモード抑圧比（dB）
45
60〜70
40
コヒーレンス長（m）
＞1 000
0.3
10
チューニング速度（nm/s）
最大値
100
50
N/A b)
注a) 3 dB帯域幅で表現した波長分解能設定値
b) N/A：仕様対象外であることを示す。
参考文献 JIS C 61300-1 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第1部：通
則
注記 対応国際規格：IEC 61300-1，Fibre optic interconnecting devices and passive components
−Basic test and measurement procedures−Part 1: General and guidance（IDT）
24
C 61300-3-7：2012
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附属書JA
（参考）
JISと対応国際規格との対比表
JIS C 61300-3-7:2012 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び
測定手順−第3-7部：シングルモード光部品の光損失及び反射減衰量の波長依
存性測定
IEC 61300-3-7:2009 Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic
test and measurement procedures−Part 3-7: Examinations and measurements−Wavelength
dependence of attenuation and return loss of single mode components
(I)JISの規定
(II)
国際
規格
番号
(III)国際規格の規定
(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条ごとの
評価及びその内容
(V)JISと国際規格との技術的差異の理由及び
今後の対策
箇条番号
及び題名
内容
箇条
番号
内容
箇条ごと
の評価
技術的差異の内容
3記号及び
略語
3
JISとほぼ同じ
変更
本文に記載がない用語を削除し，ま
た，本文に記載されているにもかかわ
らず，規定されていない用語を追加し
た。
今後，IECに修正提案する。
4 概要
4.4 供試品
4.4
JISとほぼ同じ
追加
接続されない端子での反射光発生を
抑えるための終端処理することを追
記した。
反射減衰量測定時に接続されない端子がある
場合，その端子で発生する反射光の影響で正し
い測定値が得られない可能性があるため追記
した。今後，IECに修正提案する。
4.5.3.1 方法C.1
4.5.3
JISとほぼ同じ
追加
IEC規格の4.5.3の規定を，4.5.3.1及
び4.5.3.2に移動した。それに伴い，
表1の方法C.1の配置例を修正した。
分かりやすくするため。
4.5.3.2 方法C.2
4.5.3
JISとほぼ同じ
追加
5 装置
5.3 光ブランチ
ングデバイス
（BD）
5.3
JISとほぼ同じ
変更
光ブランチングデバイスは，他規格で
TJ（テンポラリジョイント）として定
義しているアダプタ接続，スプライス
接続などを含んでいるが，それらを除
外した記述に変更し，それに合わせて
測定系を示す図も修正した。
他規格との整合性をとるため，変更した。今後，
IECに修正提案する。
5.4 光終端器
5.4
JISとほぼ同じ
追加
変更
既知の反射減衰量をもつ光終端器の
規定を追加した。
上記に伴い，IEC規格を，“a) 大き
な反射減衰量をもつ光終端器”に変更
した。
図3 a)及び図6 a)に追加した既知の反射減衰量
をもつ光終端器を規定するため，追加した。今
後，IECに修正提案する。
4
C
6
1
3
0
0
-3
-7
：
2
0
1
2
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き、本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
25
C 61300-3-7：2012
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
(I)JISの規定
(II)
国際
規格
番号
(III)国際規格の規定
(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条ごとの
評価及びその内容
(V)JISと国際規格との技術的差異の理由及び
今後の対策
箇条番号
及び題名
内容
箇条
番号
内容
箇条ごと
の評価
技術的差異の内容
6 手順
図3及び図6
6
JISとほぼ同じ
追加
図3 a)及び図6 a)の無反射終端を既知
の反射減衰量をもつ光終端器に修正
し，式(4)及び式(6)にその補正項を追
加した。
6.1.2，6.1.3，6.3.2及び6.3.3における測定方法
並びに式(4)及び式(6)では，無反射終端が理想
的な状態の場合，式中のlog内の分数の分母が
0となり，計算することができなくなるため，
追記した。今後，IECに修正提案する。
6.1.1.3
6.1.2.3
6.1.3.3
6.3.1.3
6.3.2.3
6.3.3.2
両方向測定につ
いて
6.1.1.3
6.1.2.3
6.1.3.3
6.3.1.3
6.3.2.3
6.3.3.2
JISとほぼ同じ
削除
光損失及び反射減衰量の両方向の測
定値の平均化を行う規定を削除した。
両方向での測定について言及しているが，光損
失における両測定値を平均化するのは測定手
順に規定することではなく，使用者の運用方法
に依存する事項であり，また反射減衰量はポー
トごとの独立のパラメータであり，平均化する
ことの意味はないため，削除した。今後，IEC
に修正提案する。
6.3.1.1
6.3.2.1
6.3.3.1
6.3.1.1
6.3.2.1
6.3.3.1
JISとほぼ同じ
追加
光スイッチとの組合せに制限するよ
うに追記した。
広帯域受光装置を用いる場合，N×1形光ブラ
ンチングデバイスを組み合わせると波長間の
干渉が起こり，正しい測定を行うことができな
いため，追記した。今後，IECに修正提案する。
6.3.3.1A
6.3.3.1 JISとほぼ同じ
変更
新たに細分箇条を設けた。
IEC規格の6.3.3.1は，基準レベル測定に関す
る規定であるが，最後の文は，光損失及び反射
減衰量の測定に関する規定であるため構成を
変更したが，実質的な差異はない。今後，IEC
に修正提案する。
7 個別に規
定する事項
7.4 光終端器
7.4
JISとほぼ同じ
追加
既知の反射減衰量をもつ光終端器の
規定を追加した。
図3 a)及び図6 a)に追加した既知の反射減衰量
をもつ光終端器を規定するため，追加した。今
後，IECに修正提案する。
JISと国際規格との対応の程度の全体評価：IEC 61300-3-7:2009，MOD
4
C
6
1
3
0
0
-3
-7
：
2
0
1
2
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き、本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
26
C 61300-3-7：2012
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注記1 箇条ごとの評価欄の用語の意味は，次による。
− 削除 ················ 国際規格の規定項目又は規定内容を削除している。
− 追加 ················ 国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。
− 変更 ················ 国際規格の規定内容を変更している。
注記2 JISと国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は，次による。
− MOD ··············· 国際規格を修正している。
4
C
6
1
3
0
0
-3
-7
：
2
0
1
2
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