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C 6011-1

:2015 (IEC 61587-1:2011)

(1)

目  次

ページ

序文  

1

1

  適用範囲  

1

2

  引用規格  

1

3

  用語及び定義  

3

4

  環境条件の分類  

4

5

  一般事項  

4

6

  耐候性試験  

5

6.1

  一般事項  

5

6.2

  耐寒,耐熱及び温湿度試験(サイクル試験)  

5

6.3

  工業用環境  

6

7

  機械的試験  

7

7.1

  一般事項  

7

7.2

  サブラックの静的荷重試験及び動的荷重試験  

7

7.3

  キャビネット及びラックの静的荷重試験及び動的荷重試験  

11

8

  安全性の評価  

16

8.1

  一般事項  

16

8.2

  接地  

16

8.3

  可燃性  

17

8.4

  きょう体による保護等級(IP Code  

17


C 6011-1

:2015 (IEC 61587-1:2011)

(2)

まえがき

この規格は,工業標準化法第 14 条によって準用する第 12 条第 1 項の規定に基づき,一般社団法人電子

情報技術産業協会(JEITA)から,工業標準原案を具して日本工業規格を改正すべきとの申出があり,日

本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工業規格である。

これによって,JIS C 6011-1:2011 は改正され,この規格に置き換えられた。

この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。

この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意

を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実

用新案権に関わる確認について,責任はもたない。

JIS C 6011

の規格群には,次に示す部編成がある。

JIS

C

6011-1

  第 1 部:屋内設置のキャビネット,ラック,サブラック及びシャシの耐環境性能の試験

及び安全性の評価

JIS

C

6011-2

  第 2 部:キャビネット及びラックの耐震試験方法

JIS

C

6011-3

  第 3 部:キャビネット及びサブラックの電磁シールド性能試験方法


日本工業規格

JIS

 C

6011-1

:2015

(IEC 61587-1

:2011

)

電子装置用きょう体の試験方法−第 1 部:

屋内設置のキャビネット,ラック,サブラック及び

シャシの耐環境性能の試験及び安全性の評価

Mechanical structures for electronic equipment-Tests for IEC 60917 and

IEC 60297 series-Part 1: Environmental requirements, test set-up and

safety aspects for cabinets, racks, subracks and chassis under indoor

conditions

序文 

この規格は,2011 年に第 3 版として発行された IEC 61587-1 を基に,技術的内容及び構成を変更するこ

となく作成した日本工業規格である。

なお,この規格で点線の下線を施してある参考事項は,対応国際規格にはない事項である。

適用範囲 

この規格は,屋内設置の JIS C 6010 規格群及び IEC 60297 規格群に規定するキャビネット,ラック,サ

ブラック及びシャシの機械的強度試験,耐候性試験及び安全性の評価について規定する。

この規格は,キャビネット,ラック,サブラック及びシャシの機械的構造の全体又は一部分だけに適用

する。ただし,電子装置又はそれを構成するシステムの機械的構造には適用しない。この規格の目的は,

異なる用途における性能等級を考慮することで,キャビネット,ラック,サブラック及びシャシに関する

物理的特性と環境性能を確実にすることである。また,この規格は,使用者に個別の適用要求にできるだ

け見合う性能基準を選択する際の信頼性の等級を提供することも目的としている。

注記  この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。

IEC 61587-1:2011

,Mechanical structures for electronic equipment−Tests for IEC 60917 and IEC

60297 series−Part 1: Environmental requirements, test set-up and safety aspects for cabinets, racks, 
subracks and chassis under indoor conditions(IDT)

なお,対応の程度を表す記号“IDT”は,ISO/IEC Guide 21-1 に基づき,

“一致している”こ

とを示す。

引用規格 

次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの

引用規格は,その最新版(追補を含む。

)を適用する。

JIS C 0920

  電気機械器具の外郭による保護等級(IP コード)

注記  対応国際規格:IEC 60529,Degrees of protection provided by enclosures (IP Code)(IDT)


2

C 6011-1

:2015 (IEC 61587-1:2011)

JIS C 1010-1

  測定用,制御用及び試験室用電気機器の安全性−第 1 部:一般要求事項

注記  対応国際規格:IEC 61010-1,Safety requirements for electrical equipment for measurement,

control and laboratory use−Part 1: General requirements(MOD)

JIS C 1804

  工業プロセス計測制御機器の使用環境条件

注記  対応国際規格:IEC 60654-4,Operating conditions for industrial-process measurement and control

equipment. Part 4: Corrosive and erosive influences(MOD)

JIS C 5402-1-1

  電子機器用コネクタ−試験及び測定−第 1-1 部:一般試験−試験 1a:外観

注記  対応国際規格:IEC 60512-1-1,Connectors for electronic equipment−Tests and measurements−

Part 1-1: General examination−Test 1a: Visual examination(IDT)

JIS C 6010

(規格群)  電子機器用ラック及びユニットシャシのモジュラオーダ

注記  対応国際規格:IEC 60917 (all parts),Modular order for the development of mechanical structures

for electronic equipment practices

JIS C 6011-2

  電子装置用きょう体の試験方法−第 2 部:キャビネット及びラックの耐震試験方法

注記  対応国際規格:IEC 61587-2,Mechanical structures for electronic equipment−Tests for IEC 60917

and IEC 60297−Part 2: Seismic tests for cabinets and racks(IDT)

JIS C 6011-3

  電子装置用きょう体の試験方法−第 3 部:キャビネット及びサブラックの電磁シールド

性能試験方法

注記  対応国際規格:IEC 61587-3:2006,Mechanical structures for electronic equipment−Tests for IEC

60917 and IEC 60297−Part 3: Electromagnetic shielding performance tests for cabinets and subracks

(IDT)

JIS C 6950-1

  情報技術機器−安全性−第 1 部:一般要求事項

注記  対応国際規格: IEC 60950-1,Information technology equipment−Safety−Part 1: General

requirements(MOD)

JIS C 60068-1

  環境試験方法−電気・電子−通則

注記  対応国際規格:IEC 60068-1,Environmental testing−Part 1: General and guidance

JIS C 60068-2-1

  環境試験方法−電気・電子−第 2-1 部:低温(耐寒性)試験方法(試験記号:A)

注記  対応国際規格:IEC 60068-2-1,Environmental testing−Part 2-1: Tests−Test A: Cold(IDT)

JIS C 60068-2-2

  環境試験方法−電気・電子−第 2-2 部:高温(耐熱性)試験方法(試験記号:B)

注記  対応国際規格:IEC 60068-2-2,Environmental testing−Part 2-2: Tests−Test B: Dry heat(IDT)

JIS C 60068-2-6

  環境試験方法−電気・電子−第 2-6 部:正弦波振動試験方法(試験記号:Fc)

注記  対応国際規格:IEC 60068-2-6,Environmental testing−Part 2-6: Tests−Test Fc: Vibration

(sinusoidal)(IDT)

JIS C 60068-2-11

  環境試験方法(電気・電子)塩水噴霧試験方法

注記  対応国際規格:IEC 60068-2-11,Environmental testing−Part 2: Tests−Test Ka: Salt mist(IDT)

JIS C 60068-2-27

  環境試験方法−電気・電子−第 2-27 部:衝撃試験方法(試験記号:Ea)

注記  対応国際規格:IEC 60068-2-27,Environmental testing−Part 2-27: Tests−Test Ea and guidance:

Shock(IDT)

JIS C 60068-2-30

  環境試験方法−電気・電子−第 2-30 部:温湿度サイクル(12+12 時間サイクル)

試験方法(試験記号:Db)

注記  対応国際規格:IEC 60068-2-30,Environmental testing−Part 2-30: Tests−Test Db: Damp heat,


3

C 6011-1

:2015 (IEC 61587-1:2011)

cyclic (12 h + 12 h cycle)(IDT)

JIS C 60068-2-42

  環境試験方法−電気・電子−接点及び接続部の二酸化硫黄試験方法

注記  対応国際規格:IEC 60068-2-42,Environmental testing−Part 2-42: Tests−Test Kc: Sulphur dioxide

test for contacts and connections

JIS C 60068-2-43

  環境試験方法−電気・電子−接点及び接続部の硫化水素試験方法

注記  対応国際規格:IEC 60068-2-43,Environmental testing−Part 2-43: Tests−Test Kd: Hydrogen

sulphide test for contacts and connections(IDT)

JIS C 60068-2-49

  環境試験方法−電気・電子−接点及び接続部の二酸化硫黄試験−指針

注記  対応国際規格:IEC 60068-2-49,Environmental testing−Part 2: Tests−Guidance to Test Kc:

Sulphur dioxide test for contacts and connections(IDT)

JIS C 60068-2-52

  環境試験方法−電気・電子−塩水噴霧(サイクル)試験方法(塩化ナトリウム水溶

液)

注記  対応国際規格:IEC 60068-2-52,Environmental testing−Part 2: Tests−Test Kb: Salt mist, cyclic

(sodium, chloride solution)(IDT)

JIS C 60068-2-75

  環境試験方法−電気・電子−第 2-75 部:ハンマ試験

注記  対応国際規格:IEC 60068-2-75,Environmental testing−Part 2-75: Tests−Test Eh: Hammer tests

(IDT)

JIS C 60695-11-10

  耐火性試験−電気・電子−第 11-10 部:試験炎−50W 試験炎による水平及び垂直

燃焼試験方法

注記  対応国際規格:IEC 60695-11-10,Fire hazard testing−Part 11-10: Test flames−50 W horizontal

and vertical flame test methods(IDT)

JIS C 60721-3-3

  環境条件の分類  環境パラメータとその厳しさのグループ別分類  屋内固定使用の

条件

注記  対応国際規格:IEC 60721-3-3,Classification of environmental conditions−Part 3: Classification of

groups of environmental parameters and their severities − Section 3: Stationary use at 
weatherprotected locations(IDT)

IEC 60297 (all parts)

,Mechanical structures for electronic equipmemt−Dimensions of mechanical structures

of the 482.6 mm (19 in) series

IEC 60917 (all parts)

,Modular order for the development of mechanical structures for electronic equipment

practices

IEC 62262

,Degrees of protection provided by enclosures for electrical equipment against external mechanical

impacts (IK code)

用語及び定義 

この規格で用いる主な用語及び定義は,次による。

3.1 

屋内設置(indoor condition)

天候の影響から保護する製品の設置場所。

3.2 

供試体(test sample)


4

C 6011-1

:2015 (IEC 61587-1:2011)

現実的な結果を得るために必要な模擬負荷を搭載した被試験ユニット。

環境条件の分類 

環境試験の分類は,JIS C 1804 及び JIS C 60721-3-3 による。

衝撃及び振動試験の分類は,JIS C 60721-3-3 による。

この規格に適合する製品仕様は,厳しさクラスのうち,どれか一つを適用する。また組合せの適用も許

可されている。

一般事項 

機械的試験は,キャビネット,ラック,サブラック及びシャシが製造,貯蔵,運搬,設置及び運用時の

環境において,通常の取扱いで,それらの機能が損なわれないことを確認するを目的としている。

きょう体自体に固有の安全域をもたせるために,その全てのパラメータの等級は,きょう体の全ての適

用領域(用途)におけるパラメータの等級よりも高く設定する必要がある。これによって,ある適用領域

における一つの完成したユニットについての適切な動作を確保する。

特に規定がない場合を除き,全ての試験は室温 20  ℃∼25  ℃で行う。

この規格で規定する等級及び試験は,必要に応じて組み合わせることができる。また,この規格の個々

の試験及び等級を適用することができる。個々の試験及びその厳しさの区分は,アルファベットと数字と

の組合せで示す(

表 の例は,各細分箇条の試験及びそれに関連した表に基づき,代表的及びよく知られ

ている数値を選択した。

各種試験は,可能な限り同じ供試体を使って行う。例えば,供試体を破壊する試験など,同じ供試体を

継続的に使用することができない場合を除いて,この規格が規定する試験の順序に従って(JIS C 60068-1

も参照)

,同じ供試体を使って一連の試験を行う。

表 1−試験内容の例 

試験

サブラック

IEC 60297

規格群

サブラック

JIS C 6010-2 

キャビネット

JIS C 6010

規格群及び

IEC 60297

規格群

耐候性

C1,C2,C3

工業用環境

A1,A2,A3

静的荷重

SL1

SL2,SL3,SL4

SL5,SL6,SL7

動的荷重

(衝撃及び振動)

DL1,DL2,DL3

DL4,DL5,DL6

衝突

K1,K2,K3

保護(IP)

IP20

IP20

IP20,IP30,IP42,IP54

耐震性能

JIS C 6011-2 

電磁シールド性能

JIS C 6011-3 

注記  表 の例ではシャシの試験を紹介していなが,それはサブラックに準じて実施することができ

る。

適用例を次に示す。

JIS C 6010-2

に基づくサブラックは,次の試験要求に従う。

a)

耐候性        :C2(

表 参照)


5

C 6011-1

:2015 (IEC 61587-1:2011)

b)

工業用環境    :A1(

表 参照)

c)

静的荷重      :SL2(

表 参照)

d)

衝撃及び振動  :DL1(

表 参照)

e)

安全の評価    :8.2.1 による。

f)

保護等級      :IP30(

表 12 参照)

耐候性試験 

6.1 

一般事項 

耐候性試験は,キャビネット,ラック及びサブラックが特定の環境において,性能劣化及び危険要因の

発生がなく正常に稼働をすることを確認することを目的としている。

耐候性試験は,キャビネット,ラック及びサブラックに対して

表 に規定する用途から選択しなければ

ならない。

該当の等級に対しての適合確認は,その等級が要求する試験基準に全て適合しなければならない。

6.2 

耐寒,耐熱及び温湿度試験(サイクル試験) 

耐寒,耐熱及び温湿度試験の分類及び等級を,

表 に示す。

表 2−耐寒,耐熱及び温湿度試験の分類及び等級 

等級

用途

耐寒試験

JIS C 60068-2-1 

耐熱試験

JIS C 60068-2-2 

温湿度試験

JIS C 60068-2-30 

(2 サイクル)

方法 2,上限温度

温度

継続時間

a)

h

温度

継続時間

a)

h

C1

耐候性を考慮する必要のない

場所(

例  事務所,研究所)で

−10  ℃∼+55  ℃, 
相対湿度 20 %∼80 %で結露

なし。

−10

16

55

16

55

C2

耐候性を考慮する必要のある

場所(

例  生産工場の屋内)で

−25  ℃∼+70  ℃, 
相対湿度 20 %∼80 %で結露

なし。

−25

16

70

16

55

C3

厳しい耐候性を考慮する必要

のある場所(

例  屋外,熱帯性

気候)で−40  ℃∼+85  ℃,

相対湿度 20 %∼95 %で結露

なし。

−40

16

85

16

55

a)

  試験継続時間は,供試体が該当温度に達してから測定しなければならない。

試験後の評価は,次による。

a)

目視によって検査を行う(JIS C 5402-1-1 の試験 1a 参照)

b)  8.2

に従って,接地接続の導通試験を行う。

c)

電磁シールド性能試験(JIS C 6011-3 

表 を参照)


6

C 6011-1

:2015 (IEC 61587-1:2011)

6.3 

工業用環境 

工業用環境の分類及び等級を,

表 に示す。

表 3−工業用環境の分類及び等級 

等級

用途

試験条件

試験後の確認事項

二酸化硫黄試験及び硫

化水素試験は,25  ℃,
相対湿度 75 %とする

JIS C 60068-2-42

JIS C 60068-2-43

及び

JIS C 60068-2-49

参照)

( 拡 大 試 験 条 件 は ,
40  ℃ 及 び 相 対 湿 度
80 %)

塩 水 噴 霧 試 験  Ka

は,35  ℃とする(JIS 

C 60068-2-11

参照)

(拡大試験条件は,

JIS C 60068-2-52

照)

SO

2

H

2

S

NaCl

A1

有害物質が通常の濃度で,
低い化学物質の排出を伴う

一般工業用途(

例  屋内空

間)

濃度は JIS C 1804 による。 
SO

2

: 平均 0.1 cm

3

/m

3

最大 0.5 cm

3

/m

3

10 cm

3

/m

3

4 日間

1 cm

3

/m

3

4 日間

目視検査を行う(

例  表

面処理の変質,腐食の痕

跡,色,光沢の度合い)

 
電磁シールド性能試験

は,JIS C 6011-3 

表 1

参照。

A2

相当な化学物質の排出を伴
い,高濃度の有害物質があ

る環境(

例  化学工業地帯,

屋外空間)

濃度は JIS C 1804 による。 
SO

2

: 平均 5 cm

3

/m

3

最大 15 cm

3

/m

3

H

2

S: 平均 10 cm

3

/m

3

最大 50 cm

3

/m

3

25 cm

3

/m

3

4 日間

10 cm

3

/m

3

15 cm

3

/m

3

4 日間

目視検査を行う(

例  表

面処理の変質,腐食の痕

跡,色,光沢の度合い)

接地導体結合部の抵抗
変化(6.1 を参照)

 
電磁シールド性能試験
は,JIS C 6011-3 

表 1

参照)

A3

海岸環境による影響と高濃

度な有害物質とが交わって

いる環境(

例  海上化学処理

施設,掘削装置周辺)

濃度は JIS C 1804 による。 
SO

2

: 平均 5 cm

3

/m

3

最大 15 cm

3

/m

3

H

2

S: 平均 10 cm

3

/m

3

最大 50 cm

3

/m

3

25 cm

3

/m

3

4 日間

10 cm

3

/m

3

15 cm

3

/m

3

4 日間

5 %

35  ℃

96 h(4 日間)

拡大試験条件

5 %

1 サイクル:

35  ℃

146 h(約 6 日間)

目視検査を行う(

例  表

面処理の変質,腐食の痕

跡,色,光沢の度合い)

接地導体結合部の抵抗

変化(6.1 を参照)

 
電磁シールド性能試験

は,JIS C 6011-3 

表 1

参照。

注記  試験対象物及び代替物が同じ物質で同じ表面処理である場合,実際の試験は,試験対象物(サブラックやキャ

ビネット)に代えて個々の部品,評価用試料又は組み立てた部品によって実行してもよい。


7

C 6011-1

:2015 (IEC 61587-1:2011)

機械的試験 

7.1 

一般事項 

機械的試験は,性能要求又は用途に従って,次の分類及び等級から選択する。各等級に対する適合は,

全ての試験基準に適合した場合に達成する。

7.2 

サブラックの静的荷重試験及び動的荷重試験 

7.2.1 

サブラックの静的荷重試験 

7.2.1.1 

一般事項 

この試験は,サブラックの構造部品又はシャシの一部としてのサブラックの耐荷重性能の評価を目的と

している。水平部材のそり量は,サブラックの耐荷重性能の間接的な指標として用いており,規定した値

未満でなければならない。これによって,プラグインユニットを装着する場合に,ガイドレールからの離

脱を防ぐことができる。

試験準備と供試体取付けジグは,供試体を

図 のように標準的なサブラック搭載フランジを介して試験

用取付けジグに取り付ける。

図 1−サブラックの静的荷重試験のためのサブラックの取付け 

7.2.1.2 IEC 

60297

規格群によるサブラック 

等級 SL1 の荷重分散方法は,次による(

図 参照)。

図 の は IEC 60297-3-100及び HP は IEC 60297-3-101 を参照する。


8

C 6011-1

:2015 (IEC 61587-1:2011)

P

3

集中荷重 46 N。

D

サブラックの奥行き方向の寸法を示す。

HP

水平ピッチ(Horizontal Pitch)

IEC 60297-3-101 で 1 HP は,5.08 mm(0.2 in)である。

n

高さ寸法に適用する自然数を示す。

U

高さの増分単位(Unit height)

IEC 60297-3-100 で 1 は,44.45 mm(1.750 in)である。

注記  集中荷重 P

3

は,サブラックの中心線に沿って,サブラック下面の全ての水平部材に均等に加える。

図 2−静的荷重試験及び集中荷重の位置 

等級 SL1 は,サブラックの試験集中荷重を 46 N とする(

表 参照)。

試験後の評価は,許容判断基準として,最大反り量は,0.4 mm 未満とする。

7.2.1.3 JIS 

6010-2

によるサブラック 

等級 SL1,SL2 及び SL3 の荷重分散方法は,次による(

図 参照)。

図 の D

S

W

S1

及び H

S

は JIS C 6010-2 による。

P

3

集中荷重。

表 に示す分類及び等級に従って適用する。

D

S

JIS C 6010-2

でサブラックの奥行きの整合寸法を示す。

H

S

JIS C 6010-2

でサブラックの高さの整合寸法を示す。

W

S1

  JIS C 6010-2 でサブラックのプラグインユニット用開口幅を示す。

注記  集中荷重 P

3

は,サブラックの中心線に沿って,サブラック下面の全ての水平部材に均等に加える。

図 3JIS C 6010-2 サブラックの静的荷重試験及び集中荷重の位置 


9

C 6011-1

:2015 (IEC 61587-1:2011)

表 4JIS C 6010-2 サブラックの静的荷重試験の分類及び等級 

等級

集中荷重 P

3

図 参照)

N

SL1 46 
SL2 69 
SL3 92

試験後の評価は,許容判断基準として,最大反り量は,0.4 mm 未満でなければならない。

7.2.2 

振動及び衝撃試験 

試験条件は,次による。

a)

供試体の設定は,

表 及び表 に示す。供試体は図 のように,標準サブラック取付け用フランジを

介して供試体取付けジグに取り付ける。

b)

サブラックに均等に分散して荷重を加える場合は,

表 及び表 で定めた質量をもつプラグインユニ

ットの前面パネルを,サブラックに M2.5 のねじを用いて取り付ける(サブラック用の M3 のねじは,

IEC 60297-3-107

に従う)

。プラグインユニットの背面では,直接背面の水平レールに取り付けるか,

又はコネクタを利用し,サブラックに固定したバックプレーンを介して取り付ける。

c)

表 及び表 で定めた質量をもつプラグインユニットは,サブラックの幅に対して均等に割り付けな

ければならない。

d)

サブラックは,製造業者の説明書に従って組み立てる。全ての供試体取付けジグ(

図 参照)及び構

造用ねじは,採用したねじの規定に基づくトルク値で締め付ける。

e)

コネクタシステムは,固定コネクタ(サブラックに固定したバックプレーン側に取り付ける)及び自

由コネクタ(プラグインユニットに取り付ける)で構成する。試験の目的で使用するコネクタシステ

ムは,試験報告書に記載して報告する。試験報告書ではコネクタの規格で規定する試験条件も参照す

る。

f)

振動及び衝撃試験は,

表 の JIS C 60068 の引用部分に従って,プラグインユニットを搭載したサブ

ラックに適用する。

図 4−サブラックの衝撃及び振動試験のための試験準備 


10

C 6011-1

:2015 (IEC 61587-1:2011)

表 5IEC 60297 規格群サブラックの試験設定 

供試体番号

1

2

サブラック高さ  (n×U) /  幅  (m×HP)

U / 84 HP

U / 84 HP

プリント基板のサブラック奥行き mm

160

220

プラグインユニットの取付け

M2.5 ねじ×2  (上部  1,下部  1)

コネクタシステム(固定:サブラックに固定したバ
ックプレーン側取付け及び自由:プラグインユニッ

ト側取付け)

試験の目的で使用するコネクタシステムは,報告書に記載して
報告する。コネクタの規格で規定する試験条件を参照する。

標準サブラック取付け用フランジ

前面

供試体取付けジグへの取付け

M6 ねじ×4

プラグインユニットの数(6 HP 幅)

14

プラグインユニット単体質量

g

250

500

U

:高さの増分単位(Unit height)

IEC 60297-3-100 で 1 U は,44.45 mm(1.750 in)である。

HP

:水平ピッチ(Horizontal Pitch)

IEC 60297-3-101 で 1 HP は,5.08 mm(0.2 in)である。

n

:高さ寸法に適用する自然数を示す。

m

:幅寸法に適用する自然数を示す。

注記  IEC 60297-3-107 によるサブラックの試験設定は,表 の供試体番号 1 で示す内容で行ってもよい。

表 6JIS C 6010-2 サブラックの試験設定 

供試体番号

1

2

サブラックの幅  W

S

 mm

450

500

サブラック高さ  H

S

 mm

300

サブラック奥行き  D

S

 mm

175

プラグインユニットの取付け

M2.5 ねじ×2  (上部  1,下部  1)

コネクタシステム(固定:サブラックに固定した
バックプレーン側取付け及び自由:プラグインユ

ニット側取付け)

試験の目的で使用するコネクタシステムは,報告書に記載して報
告する。コネクタの規格で規定する試験条件を参照する。

標準サブラック取付け用フランジ

前面

供試体取付けジグへの取付け

M6 ねじ×4

プラグインユニットの数(30 mm 幅)

14

15

プラグインユニット単体質量

g

500

W

S

  :JIS C 6010-2 でサブラックの幅の整合寸法を示す。

H

S

  :JIS C 6010-2 でサブラックの高さの整合寸法を示す。

D

S

  :JIS C 6010-2 でサブラックの奥行きの整合寸法を示す。


11

C 6011-1

:2015 (IEC 61587-1:2011)

表 7−サブラックの振動及び衝撃試験の分類及び等級 

等級

用途

試験 Fc:正弦波振動試験

JIS C 60068-2-6

による

試験 Ea:衝撃試験

JIS C 60068-2-27

による

周波数

範囲

Hz

振幅

 

mm

加速度

 

m/s

2

最大

加速度

m/s

2

試験時間

 

ms

衝撃回数

DL1

低レベルの衝撃及び振動。
発 電 所 又 は 一 般 の 工 業 用

で,据置固定での用途(ク

ラス 3 M3,

JIS C 60721-3-3

2∼9

1.5

70

11

18

9∼200

5

DL2

中レベルの衝撃及び振動。
据置又は移動体での使用。

鉄道信号・交通信号用途。

回転機械周辺設置用途(ク
ラス 3 M4,

JIS C 60721-3-3

2∼9

3.0

100

18

18

9∼200

10

DL3

高レベルの衝撃及び振動。

高い応力,激しく回転する
機械又は船などの移動体で

の用途(クラス 3 M7,

JIS C 60721-3-3

2∼9

10

250

18

18

9∼200

30

振動試験は,次による。

g)

試験軸:X 軸−Y 軸−Z 軸(Z 軸を最も厳しい条件に設定する。

注記  対応国際規格では,上下方向を Y 軸,前後方向を Z 軸としているが,JIS C 6011-2 に合わせ

て修正した。

h)

掃引時間:1 オクターブ/分

i)

掃引サイクル回数:10 回

j)

固有振動数探査:5 Hz∼100 Hz で,2 m/s

2

の加速度

k)

固定振動数耐久試験:応答倍率 3∼4 倍の固有振動数から,応答倍率 7∼8 倍の状態に到達するまで振

動振幅を増加する。この状態を 10 分間以上保持する。

衝撃試験は,次による

三つの主要軸 X−Y−Z に対して,両方向にそれぞれ 3 回の衝撃を加える。

試験後の評価は,次による。

−  機械的損傷は,目視検査による。目視検査は,亀裂形成,保留変形(寸法)及びねじの緩みを確認す

る。また,サブラック上の磨耗及びコネクタの磨耗も確認する。

−  8.2 に従って,接地接続の導通試験を行う。

7.3 

キャビネット及びラックの静的荷重試験及び動的荷重試験 

7.3.1 

つり上げ試験 

試験条件は,次による(

図 参照)。

a)

供試体は,自身の標準固定穴を用いて床にねじで固定する。

b)

この試験では,静的な力を内部に加えてはならない。


12

C 6011-1

:2015 (IEC 61587-1:2011)

試験手順は,次による。

a)

一様の力によって,P

1

に力を加える(

図 参照)。

b)

力は,1 分間以上加える。

c)

つり上げ試験は,2 回行う。

図 5−キャビネット及びラックのつり上げ試験 

試験後の評価は,次による。

−  この試験後に形状,かん合又は機能に影響する部品の破損及び変形があってはならない。

−  8.2 に従って,接地接続の導通試験を行う。

7.3.2 

曲げ強度試験 

この試験は,取扱い及び搬送時に働く力に対する耐久性の最小限評価として,キャビネット及びラック

(供試体)の構造曲げ強度を評価することを目的としている。試験の厳しさは

表 に示すように,つり上

げ試験力及び曲げ試験力に相当する静的荷重の値で分類する。

試験条件を,次に示す。

a)

供試体は,それ自体の標準固定穴を使って床にねじで固定する。

b)

この試験では,静的な荷重を内部に加えてはならない。

試験手順は,次による。

a)

試験対象のキャビネット及びラック(供試体)の各側面に,

図 の影の部分に相当するところに,均

等に分散する一様な力(P

2

)を加える。

b)

力は,1 分間以上加える。


13

C 6011-1

:2015 (IEC 61587-1:2011)

図 6−キャビネット及びラックの曲げ強度 

表 8−つり上げ及び曲げ試験の分類及び等級 

等級

公称荷重 L

1

Kg

つり上げ試験力 P

1

N

曲げ試験力 P

2

N

SL5

200

 3

000   500

SL6

400

 6

000   1

000

SL7

800

 12

000   2

000

注記  公称荷重は,キャビネット及びラック(供試体)の公称積載重量である。

試験後の評価は,次による。

図 に示すそれぞれの側面への試験の後に,関連の詳細基準に関係した形状,かん合又は機能に影響

する部品の変形があってはならない。

−  8.2 に従って,接地接続の導通試験を行う。

7.3.3 

振動及び衝撃試験 

この試験は,

図 及び表 に示すような供試体(キャビネット)に搭載した状態で行わなければならな

い。供試体は,枠,前面扉,背面扉,両側面パネル及び上面カバーで構成する。試験台への供試体の取付

けは,底面の取付け位置によって行う。振動及び衝撃試験の分類及び等級は,

表 10 に示す。


14

C 6011-1

:2015 (IEC 61587-1:2011)

単位  mm

注記  対応国際規格では,上下方向を Y 軸,前後方向を Z 軸としているが,JIS C 6011-2 に合わせて Z 軸及び Y 軸を

修正した。

図 7−キャビネットの振動試験及び衝撃試験のための試験準備 

表 9−キャビネット内の静的荷重配置 

キャビネット規格

mm

擬似荷重 M

3

及び

擬似荷重の設置個数

kg

擬似荷重 M

4

kg

IEC 60297-3-100 

265.9

10×5 か所

100

JIS C 6010-2 

250

10×5 か所

100

A

:上部に配置する擬似荷重 M

3

の高さ

M

3

  :キャビネットの上部に配置する擬似荷重

M

4

  :キャビネットの下部に配置する擬似荷重

注記  振動試験の振幅及び波形,並びに衝撃試験の期間は,JIS C 6011-2 に規定する耐震試験の条件と大幅に異なる。


15

C 6011-1

:2015 (IEC 61587-1:2011)

表 10−キャビネットの振動及び衝撃試験の分類及び等級 

等級

用途

試験 Fc:正弦波振動試験

JIS C 60068-2-6

による。

試験 Ea:衝撃試験,

Z 軸だけ,正弦半波

JIS C 60068-2-27

による。

周波数範囲

 

Hz

振幅

 

mm

加速度

 

m/s

2

最大

加速度

m/s

2

試験時間

 

ms

衝撃回数

DL4

低レベルの衝撃及び振動。

主に据置使用。負荷を搭載

したキャビネットで通常の
取扱い。工場又は事務所で

の用途(クラス 3 M2,JIS C 

60721-3-3

2∼9

1.5

40

18

3

9∼200

5

DL5

中レベルの衝撃及び振動。

据置又は移動使用。負荷を
搭載したキャビネットで鉄

道信号及び交通信号用途並

びに回転機械周辺での設置
向け(クラス 3 M4,JIS C 

60721-3-3

2∼9

3.0

100

11

3

9∼200

10

DL6

高レベルの衝撃及び振動。

商用の船及び低レベルの軍
用向け(クラス 3 M6,JIS C 

60721-3-3

2∼9

7.0

250

11

3

9∼200

20

試験条件は,次による。

試験を行うキャビネット及びラック(供試体)は,運用状態をシミュレーションするために,実際に設

置する場合と同じ条件で背面又は上面に補助材を取り付け,規定のボルト固定位置で,振動又は衝撃試験

台に固定する。

JIS C 60068-2-6

における試験手順は,次による。

a)

掃引時間:1 オクターブ/分

b)

試験軸:X 軸−Y 軸−Z 軸(Z 軸を最も厳しい条件に設定する。

注記  対応国際規格では,上下方向を Y 軸,前後方向を Z 軸としているが,JIS C 6011-2 に合わせ

て Z 軸及び Y 軸を修正した。

c)

掃引回数:10 回

d)

固有振動数探査:5 Hz∼100 Hz で,1 m/s

2

の加速度

e)

固定振動数耐久試験:加速度 3G∼4G の固有振動数から,応答倍率 7∼8 倍の状態に到達するまで振動

振幅を増加させる。この状態を 10 分間以上保持する。

試験後の評価は,次による。

−  試験後に,形状,かん合又は機能に影響する部品の破損又は変形があってはならない。

−  8.2 に従って,接地接続の導通試験を行う。

7.3.4 

衝突試験 

この試験は,キャビネットの外側部品(例えば,扉,カバー,並びに扉及びカバーに設けた窓及び表示

部)の衝突耐力を評価することを目的とする。装置は,通常使用時に想定する衝突にさらされたとき,危


16

C 6011-1

:2015 (IEC 61587-1:2011)

険を引き起こしてはならない。この要求を達成するため,装置は適切な機械的強度及び電気的絶縁性能を

もっていなければならない。適合確認は,

表 11 に記載した JIS C 60068-2-75 の試験を行う。

その他の特別な衝突条件の場合は,IEC 62262 に規定する K1,K2 及び K3 以外の等級を適用する必要が

ある。

表 11−キャビネットの衝突試験の分類及び等級 

等級

用途

エネルギー値

J

キャビネットの外側

ガラス製,プラスチック製な

どの透明パネル及びのぞき窓

K1

一般の電子機器

(測定用及び研究用)

0.5

0.2

K2

一般工業用の電子機器

(事務所用及び研究用)

2

0.2

K3

一般工業用の電子機器, 
可搬用機器

(工場用及び野外用)

5

0.35

試験条件は,次による。

a)

衝突回数:供試体の 3 軸(X−Y−Z)それぞれに 5 回。

b)

供試体は,硬い平面支持体に取り付ける。その平面支持体は,この規格に規定したレベルのエネルギ

ーをもつ衝突を直接加えても,0.1 mm 以上動かない場合は,十分硬いとみなす。

c)

試験は,取付けを予定しているキャビネット(サブラックは含まない)の個別部品(扉及びカバー)

に対してだけ行う。部品は,推奨のトルク値でねじを固定する。

d)

振り子試験ができない場合,振り子試験に代えて垂直方向の衝突試験を適用できる。したがって,通

常の設置位置から 90°倒して供試体を設置し,垂直方向に衝突させて,垂直又は傾斜面への水平方向

の衝突を模擬してもよい。

e)

衝突位置は,損傷が実際に最も起こりそうな位置に合わせて,供試体上に定める。

試験後の評価は,次による。

−  試験の後に,形状,かん合又は機能に影響する部品の損傷又は変形があってはならない。

−  8.2 に従って,接地接続の導通試験を行う。

安全性の評価 

8.1 

一般事項 

安全性の評価は,人への危害及び製品安全を網羅している,この規格に適合することが必要である。一

般的な安全要求事項として,人への危険又は事故の予防,内部への不正アクセスに対して適切に保護する

ように,キャビネット,ラック,サブラック及びシャシの機構設計を考慮しなければならない。

キャビネット,ラック,サブラック及びシャシの機構部品は,それらの組立て,設置,運用又は保守時

に関係する人への安全に対して,

事故の原因となる可能性のある鋭利な端面及びばりがあってはならない。

JIS C 6950-1

も,併せて適合する。

8.2 

接地 

8.2.1 

一般事項 


17

C 6011-1

:2015 (IEC 61587-1:2011)

安全性評価は,JIS C 1010-1 の規定による。

感電危険電圧との接触を防ぐために,キャビネット,ラック,サブラック及びシャシの全ての露出した

金属部品は,電気的に導通していなければならない。一般的に,取付けねじだけで信頼できる導通接続を

満足させることは難しい。追加手段として,例えば,絶縁材料で製造した前面パネル又は金属固定具,ち

ょうつがい(丁番)などの適用がある。絶縁抵抗値は,接地端子又は接地点と製品内の接地部分との間で,

0.1 Ω 未満とする。

8.2.2 

試験手順 

試験手順は,JIS C 1010-1 の規定による。

8.3 

可燃性 

キャビネット,ラック,サブラック及びシャシ内の組立てに使用する全ての材料,部品及び構成品は,

燃焼の伝搬が最小になるように考慮しなければならない。詳細は,JIS C 60695-11-10 による。

火災予防のために,全ての材料は JIS C 60695-11-10 による可燃性クラス V-2 以上でなければならない。

8.4 

きょう体による保護等級(IP Code 

きょう体による保護等級は,危険から人体を保護するための適切な基準を維持することを目的としてい

る。

表 12 は,保護等級の選択だけに使用する。詳細は JIS C 0920 を参照する。

表 12−きょう体による保護等級(IP  コード) 

保護等

保護対象

試験条件

試験中又は試験後の

確認事項

IP20

直径 12.5 mm 以上の外来固形物

に対して保護している。

直径 12.5 mm の球状の固形物プロ

ーブが全く侵入してはならない。

テストフィンガの先端は,80 mm ま

で通り抜けることはできるが,危険

な箇所との間に適切な空間距離を
確保しなければならない。

固形物プローブは,開口部から突き

通ってはならない。

IP30

直径 2.5 mm 以上の外来固形物
に対して保護している。

直径 2.5 mm の固形物プローブが全
く侵入してはならない。

テストプローブは通り抜けてはな
らず,危険な箇所との間に適切な空

間距離を確保しなければならない。

IP42

直径 1.0 mm 以上の外来固形物
に対して保護している。 
15°以内で傾斜しても鉛直に
落下する水滴に対して保護す

る。

直径 1.0 mm の固形物プローブが全

く侵入してはならない。

外郭が鉛直に対して両側に 15°以
内で傾斜したとき,鉛直に落下する

水滴によっても有害な影響を及ぼ

してはならない。

テストプローブは通り抜けてはな

らず,危険な箇所との間に適切な空

間距離を確保しなければならない。
水滴落下によるどんな影響もあっ

てはならない。

IP54

防じん形。 
水の飛まつに対して保護する。

じんあいの侵入を完全に防止する
ことはできないが,電気機器の所定

の動作及び安全性を阻害する量の

じんあいの侵入があってはならな
い。

全ての方向からの水の飛まつによ

っても有害な影響を及ぼしてはな
らない。

テストプローブは通り抜けてはな
らず,危険な箇所との間に適正な空

間距離を確保しなければならない。

微量のほこりは,通り抜けてもよ
い。機能及び安全(漏えい電流の発

生)を損なってはならない。

全ての方向からの散水によって,ど
んな影響もあってはならない。