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C 5101-9

:2008 (IEC 60384-9:2005)

(1)

目  次

ページ

序文

1

1

  一般事項

1

1.1

  適用範囲

1

1.2

  目的

1

1.3

  引用規格

2

1.4

  個別規格に規定する事項

2

1.5

  用語及び定義

3

1.6

  表示

3

2

  推奨特性及び定格

4

2.1

  推奨特性

4

2.2

  推奨定格値

4

3

  品質評価手順

5

3.1

  製造の初期工程

5

3.2

  構造的に類似なコンデンサ

5

3.3

  出荷対象ロットの成績証明書

6

3.4

  品質認証

6

3.5

  品質確認検査

10

4

  試験及び測定方法

12

4.1

  特殊な前処理

12

4.2

  外観及び寸法

12

4.3

  電気的試験

12

4.4

  静電容量の温度特性

14

4.5

  端子強度

14

4.6

  はんだ耐熱性

14

4.7

  はんだ付け性

15

4.8

  温度急変

15

4.9

  振動

15

4.10

  バンプ

15

4.11

  衝撃

16

4.12

  一連耐候性

17

4.13

  高温高湿(定常)

18

4.14

  耐久性

18

4.15

  部品の耐溶剤性

19

4.16

  表示の耐溶剤性

19

附属書 A(参考)固定磁器コンデンサ種類 の静電容量エージング

20


C 5101-9

:2008 (IEC 60384-9:2005)

(2)

まえがき

この規格は,工業標準化法第 14 条によって準用する第 12 条第 1 項の規定に基づき,社団法人電子情報

技術産業協会(JEITA)から,工業標準原案を具して日本工業規格を改正すべきとの申出があり,日本工業標

準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工業規格である。これによって,JIS C 5101-9:1998

は改正され,この規格に置き換えられた。

この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。

この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に

抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許

権,出願公開後の特許出願,実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に係る確認について,責任は

もたない。

JIS C 5101

の規格群には,次に示す部編成がある。

JIS C 5101-1

第 1 部:品目別通則

JIS C 5101-2

第 2 部:品種別通則:固定メタライズドポリエチレンテレフタレートフィルム直流

コンデンサ

JIS C 5101-2-1

第 2-1 部:ブランク個別規格:固定メタライズドポリエチレンテレフタレートフィル

ム直流コンデンサ  評価水準 E,EZ

JIS

C

5101-3

第 3 部:品種別通則:固定タンタルチップコンデンサ

JIS

C

5101-3-1

第 3 部:ブランク個別規格:固定タンタルチップコンデンサ  評価水準 E

JIS

C

5101-4

第 4 部:品種別通則:アルミニウム固体及び非固体電解コンデンサ

JIS

C

5101-4-1

第 4 部:ブランク個別規格:アルミニウム非固体電解コンデンサ  評価水準 E

JIS

C

5101-4-2

第 4 部:ブランク個別規格:アルミニウム固体電解コンデンサ  評価水準 E

JIS

C

5101-8

第 8 部:品種別通則:固定磁器コンデンサ  種類 1

JIS

C

5101-8-1

第 8-1 部:ブランク個別規格:固定磁器コンデンサ  種類 1  評価水準 EZ

JIS

C

5101-9

第 9 部:品種別通則:固定磁器コンデンサ  種類 2

JIS

C

5101-9-1

第 9-1 部:ブランク個別規格:固定磁器コンデンサ  種類 2  評価水準 EZ

JIS

C

5101-11

第 11 部:品種別通則:固定ポリエチレンテレフタレートフィルム金属はく直流コン

デンサ

JIS

C

5101-11-1

第 11 部:ブランク個別規格:固定ポリエチレンテレフタレートフィルム金属はく直

流コンデンサ  評価水準 E

JIS

C

5101-13

第 13 部:品種別通則:固定ポリプロピレンフィルム金属はく直流コンデンサ

JIS

C

5101-13-1

第 13 部:ブランク個別規格:固定ポリプロピレンフィルム金属はく直流コンデンサ

評価水準 E

JIS

C

5101-14

第 14 部:品種別通則:電源用電磁障害防止固定コンデンサ

JIS

C

5101-14-1

第 14-1 部:ブランク個別規格:電源用電磁障害防止固定コンデンサ  評価水準 D

JIS

C

5101-14-2

第 14-2 部:ブランク個別規格:電源用電磁障害防止固定コンデンサ  安全性だけを

要求する試験

JIS

C

5101-14-3

第 14-3 部:ブランク個別規格:電源用電磁障害防止固定コンデンサ  評価水準 DZ


C 5101-9

:2008 (IEC 60384-9:2005)

(3)

JIS

C

5101-15

第 15 部:品種別通則:固定タンタル非固体又は固体電解コンデンサ

JIS

C

5101-15-1

第 15 部:ブランク個別規格:はく電極形固定タンタル非固体電解コンデンサ  評価

水準 E

JIS

C

5101-15-2

第 15 部:ブランク個別規格:焼結形固定タンタル非固体電解コンデンサ  評価水準

E

JIS

C

5101-15-3

第 15 部:ブランク個別規格:焼結形固定タンタル固体電解コンデンサ  評価水準 E

JIS

C

5101-16

第 16 部:品種別通則:固定メタライズドポリプロピレンフィルム直流コンデンサ

JIS

C

5101-16-1

第 16-1 部:ブランク個別規格:固定メタライズドポリプロピレンフィルム直流コン

デンサ  評価水準 E,EZ

JIS

C

5101-17

第 17 部:品種別通則:固定メタライズドポリプロピレンフィルム交流及びパルスコ

ンデンサ

JIS

C

5101-17-1

第 17 部:ブランク個別規格:固定メタライズドポリプロピレンフィルム交流及びパ

ルスコンデンサ  評価水準 E

JIS

C

5101-18

第 18 部:品種別通則:固定アルミニウム固体 (MnO

2

)  及び非固体電解チップコンデ

ンサ

JIS

C

5101-18-1

第 18 部:ブランク個別規格:固定アルミニウム固体 (MnO

2

)  電解チップコンデンサ

評価水準 E

JIS

C

5101-18-2

第 18 部:ブランク個別規格:固定アルミニウム非固体電解チップコンデンサ  評価

水準 E

JIS

C

5101-20

第 20 部:品種別通則:固定メタライズドポリフェニレンスルフィドフィルムチップ

直流コンデンサ

JIS

C

5101-20-1

第 20 部:ブランク個別規格:固定メタライズドポリフェニレンスルフィドフィルム

チップ直流コンデンサ  評価水準 EZ

JIS

C

5101-21

第 21 部:品種別通則:表面実装用固定積層磁器コンデンサ  種類 1

JIS

C

5101-21-1

第 21-1 部:ブランク個別規格:表面実装用固定積層磁器コンデンサ  種類 1  評価

水準 EZ

JIS

C

5101-22

第 22 部:品種別通則:表面実装用固定積層磁器コンデンサ  種類 2

JIS

C

5101-22-1

第 22-1 部:ブランク個別規格:表面実装用固定積層磁器コンデンサ  種類 2  評価

水準 EZ

JIS

C

5101-23

第 23 部:品種別通則:表面実装用固定メタライズドポリエチレンナフタレートフィ

ルム直流コンデンサ

JIS

C

5101-23-1

第 23-1 部:ブランク個別規格:表面実装用固定メタライズドポリエチレンナフタレ

ートフィルム直流コンデンサ  評価水準 EZ

JIS

C

5101-24

第 24 部:品種別通則:表面実装用固定タンタル固体(導電性高分子)電解コンデン

サ(予定)

JIS

C

5101-24-1

第 24-1 部:ブランク個別規格:表面実装用固定タンタル固体(導電性高分子)電解

コンデンサ  評価水準 EZ(予定)

JIS

C

5101-25

第 25 部:品種別通則:表面実装用固定アルミニウム固体(導電性高分子)電解コン

デンサ(予定)


C 5101-9

:2008 (IEC 60384-9:2005)

(4)

JIS

C

5101-25-1

第 25-1 部:ブランク個別規格:表面実装用固定アルミニウム固体(導電性高分子)

電解コンデンサ  評価水準 EZ(予定)


日本工業規格

JIS

 C

5101-9

:2008

(IEC 60384-9

:2005

)

電子機器用固定コンデンサ−

第 9 部:品種別通則:

固定磁器コンデンサ  種類 2

Fixed capacitors for use in electronic equipment

Part 9: Sectional specification:

Fixed capacitors of ceramic dielectric, Class 2

序文

この規格は,2005 年に第 3 版として発行された IEC 60384-9 を基に,技術的内容及び対応国際規格の構

成を変更することなく作成した日本工業規格である。

なお,この規格で点線の下線を施してある参考事項は,対応国際規格にはない事項である。

1

一般事項

1.1

適用範囲

この規格は,JIS C 5101-1 を品目別通則とする品種別通則で,電子機器用固定磁器コンデンサ  種類 2 に

ついて規定する。この規格は,電子機器に用いる,種類 2 に分類される磁器誘電体の固定コンデンサ(以

下,コンデンサという。

)に適用する。また,リードレスのコンデンサを対象とするが,表面実装用固定積

層磁器コンデンサ  種類 2

1)

には適用しない。

電磁障害防止用固定コンデンサは,この規格を適用しないで JIS C 5101-14 を適用する。

注記 1  この規格は,コンデンサの特性について規定するものであるが,その特性に係る規定は,設

計の目標値を示すものであり,この規格によって適合性評価を行うことは,意図していない。

注記 2  リードレスのコンデンサとは,“丸形  外装なし  引出し端子なし  電極反対方向”,“丸形

金属ケース  ラグ端子  1 端接地  取付構造付き”などの形状をいう。ただし,

“円筒形(チ

ップ)

”は除く。

注記 3  この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。

IEC 60384-9:2005

,Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 9: Sectional specification:

Fixed capacitors of ceramic dielectric, Class 2 (IDT)

なお,対応の程度を表す記号(IDT)は,ISO/IEC Guide 21 に基づき,一致していることを示

す。

1)

  表面実装用固定積層磁器コンデンサ  種類 2 は,JIS C 5101-22 を適用する。

1.2

目的

この規格の目的は,コンデンサの推奨する定格及び特性について規定するとともに,JIS C 5101-1 から

適切な品質評価手順,試験方法及び測定方法を選定し,一般要求性能を規定することである。この品種別


2

C 5101-9

:2008 (IEC 60384-9:2005)

通則に基づいた個別規格に規定する試験の厳しさ及び要求性能は,この規格と同等又は高い水準とする。

1.3

引用規格

次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの

引用規格のうちで,西暦年を付記してあるものは,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追補を含む。

には適用しない。西暦年の付記がない引用規格は,その最新版(追補を含む。

)を適用する。

JIS C 5063:1997

  抵抗器及びコンデンサの標準数列

注記  対応国際規格:IEC 60063:1963,Preferred number series for resistors and capacitors 並びに

Amendment 1:1967 及び Amendment 2:1977 (IDT)

JIS C 5101-1:1998

  電子機器用固定コンデンサ−第 1 部:品目別通則

注記  対応国際規格:IEC 60384-1:1982,Fixed capacitors for use in electronic equipment Part 1: Generic

specification 並びに Amendment 2:1987,Amendment 3:1989 及び Amendment 4:1992 (MOD)

  なお,JIS C 5101-1:1998 は,対応国際規格 IEC 60384-1:1999,Fixed capacitors for use in

electronic equipment−Part 1: Generic specification の最新版として制定されてなく,該当する事

項の項番は,JIS C 5101-1 の該当事項のものと一致しない場合がある。両者で引用する項番

に相違がある場合は,IEC 60384-1:1999 の項番を

注記に示す。

JIS C 60068-1:1993

  環境試験方法−電気・電子−通則

注記  対応国際規格:IEC 60068-1:1988,Environmental testing. Part 1: General and guidance 及び

Amendment 1:1992 (IDT)

JIS Z 8601:1954

  標準数

注記  対応国際規格:ISO 3:1973,Preferred numbers−Series of preferred numbers (MOD)

JIS Z 9015-1

  計数値検査に対する抜取検査手順−第 1 部:ロットごとの検査に対する AQL 指標型抜

取検査方式

注記  対応国際規格:IEC 60410:1973,Sampling plans and procedures for inspection by attributes (MOD)

1.4

個別規格に規定する事項

個別規格は,関連するブランク個別規格の様式による。

個別規格には,品目別通則,品種別通則又はブランク個別規格の要求性能よりも低い水準の要求性能を

規定してはならない。より厳しい要求性能を規定する場合は,その内容を個別規格の 1.9 に記載し,更に,

試験計画の中に,例えば,アステリスク(*)を付けて明示する。

注記  1.4.1 の外形図及び寸法は,一覧表で示してもよい。

個別規格に次の事項を規定し,引用する値は,この規格の該当する項目の中から選定する。

1.4.1

外形図及び寸法

外形図及び寸法は,その他のコンデンサとの比較及び区別が容易にできるように図示する。

コンデンサの互換性及び取付けに影響する寸法及び寸法許容差は,個別規格に規定する。また,すべて

の寸法は,ミリメートル(mm)で規定する。

一般的に,寸法表示は,本体の長さ,幅,高さ及び端子間距離とし,円筒形の場合は,本体の直径及び

長さ並びに端子の長さ及び直径を規定する。多数のコンデンサ(定格静電容量と定格電圧との組合せ範囲)

を一つの個別規格に規定する場合など必要な場合は,寸法及び寸法許容差を図面の下に表で示す。

形状が上記と異なる場合は,そのコンデンサを適切に表す寸法を個別規格に規定する。

コンデンサがプリント配線板用でない場合は,個別規格にそのことを明記する。


3

C 5101-9

:2008 (IEC 60384-9:2005)

1.4.2

取付け

通常の取付方法並びに振動及びバンプ又は衝撃試験を行う場合の取付方法を,個別規格に規定する。コ

ンデンサは,その規定された方法で取り付ける。ただし,コンデンサによっては,特別な取付具を用いる

設計のものがある。この場合は,個別規格にその取付具のことを記載し,振動及びバンプ又は衝撃試験を

行う場合には,この取付具を使用する。

1.4.3

定格及び特性

定格及び特性は,この規格の関連項目によるほか,次による。

1.4.3.1

定格静電容量範囲

2.2.4.1

による。

注記  IEC 電子部品品質認証制度(IECQ)の場合は,個別規格の定格静電容量範囲と認証を受けた範囲

とが異なるとき,次の文章を追加する。

“各定格電圧での定格静電容量の範囲は,品質認証電子

部品一覧表(QPL)による。

1.4.3.2

特殊な特性

設計及び使用目的によって,特殊な特性が必要な場合には,それを追加してもよい。

1.4.3.3

はんだ付け

はんだ付け性及びはんだ耐熱性試験で適用する試験方法,厳しさ及び要求性能は,個別規格の規定によ

る。

1.4.4

表示

コンデンサ及びその包装に対する表示項目は,個別規格に規定する。この規格の 1.6 と異なる場合は,

その内容を個別規格に明記する。

1.5

用語及び定義

この規格で用いる主な用語及び定義は,JIS C 5101-1 によるほか,次による。

1.5.1

固定磁器コンデンサ  種類 2 (fixed capacitors of ceramic dielectric, class 2)

電子機器の側路用及び回路の結合用のように低い損失及び静電容量の安定性があまり必要でない回路に

用いる高誘電率の磁器を誘電体としたコンデンサ。この磁器の誘電体は,カテゴリ温度範囲では非直線の

静電容量変化特性をもっている(

表 参照)。

1.5.2

サブクラス (sub-class)

カテゴリ温度範囲内での 20  ℃の静電容量値に対する最大変化率による区分。

注記  サブクラスは,記号によって表示してもよい(表 参照)。

1.5.3

定格電圧  (U

R

) (rated voltage)

定格温度でコンデンサに連続印加できる直流電圧の最大値。

注記  コンデンサに印加する直流電圧と交流電圧のピーク値との和は,定格電圧を超えないことを示

す。また,交流電圧のピーク値は,コンデンサの許容電力で決定される値を超えないことを示

す。

1.6

表示

表示は,JIS C 5101-1 の 2.4 によるほか,次による。


4

C 5101-9

:2008 (IEC 60384-9:2005)

1.6.1

コンデンサ及び包装への表示

表示事項は,一般的に,次の項目から選定する。表示の優先順位は,記載の順とする。

a)

定格静電容量

b)

定格電圧(直流電圧を表す記号 d.c.は,記号      又は      で表してもよい。

c)

定格静電容量許容差

d)

誘電体のサブクラス(

表 参照)

e)

製造年月(又は年週)

f)

製造業者名又はその商標

g)

耐候性カテゴリ

h)

製造業者の形名

i)

引用個別規格

注記  1.6.1 b)及び 1.6.1 d)で要求される情報は,製造業者又は製造国によって指定された形式又は方式

による記号によって表示してもよい。

1.6.2

コンデンサ本体への表示

コンデンサには,1.6.1 の a),b),c)及び必要な項目をできるだけ多く,明りょうに表示する。コンデン

サの表示内容の重複は,避けることが望ましい。

1.6.3

コンデンサの包装への表示

コンデンサの包装には,1.6.1 のすべての項目を明りょうに表示する。

1.6.4

表示の追加

1.6.1

に規定するもの以外に,表示項目を追加する場合は,混乱しないように表示する。

2

推奨特性及び定格

2.1

推奨特性

個別規格に規定する特性は,次の中から選定することが望ましい。

2.1.1

推奨耐候性カテゴリ

この規格に規定するコンデンサは,JIS C 60068-1 の 8.に規定する耐候性カテゴリによって分類する。

カテゴリ下限温度,カテゴリ上限温度及び高温高湿(定常)の試験期間は,次の中から選定する。

    カテゴリ下限温度:−55  ℃,−40  ℃,−25  ℃及び−10  ℃

    カテゴリ上限温度:+70  ℃,+85  ℃,+100  ℃及び+125  ℃

    高温高湿(定常)の試験期間:4 日,10 日,21 日及び 56 日

低温及び高温の試験温度は,カテゴリ下限温度及びカテゴリ上限温度とする。

2.2

推奨定格値

2.2.1

定格温度

この規格に規定するコンデンサの定格温度は,カテゴリ上限温度と等しい。

2.2.2

定格電圧  (U

R

)

定格電圧の推奨値は,JIS Z 8601 に規定する R5 標準数列を使用することとし,次による。ただし,そ

の他の値が必要な場合は,R10 標準数列の定格電圧を使用してもよい。

R5 標準数列のもの:25 V,40 V,63 V,100 V,160 V,250 V,400 V,630 V,1 000 V,1 600 V,2 500 V,

4 000 V 及び 6 300 V

R10 標準数列のもの:50 V,200 V,500 V,2 000 V,3 150 V 及び 5 000 V


5

C 5101-9

:2008 (IEC 60384-9:2005)

2.2.3

カテゴリ電圧  (U

C

)

定格温度がカテゴリ上限温度と同じであるため,JIS C 5101-1 の 2.2.17 によって,カテゴリ電圧は,定

格電圧と等しい。

2.2.4

定格静電容量及びその許容差の推奨値

2.2.4.1

定格静電容量(C

R

)の推奨値

定格静電容量値は,JIS C 5063 に規定する E3,E6 及び E12 の標準数列から選定することが望ましい。

2.2.4.2

定格静電容量許容差の推奨値

定格静電容量許容差の推奨値を,

表 に示す。

表 1−定格静電容量許容差の推奨値

標準数列

許容差  %

記号

−20/+80 Z

E3 及び E6

−20/+50 S

E6

±20 M

E6 及び E12

±10 K

2.2.5

静電容量の温度特性

表 は,直流電圧印加なし及び印加ありのときの静電容量の温度特性の推奨値を示す。また,サブクラ

スの記号も表に示す。例えば,直流電圧印加なしで温度範囲−55  ℃∼+125  ℃の静電容量変化率±20  %

のコンデンサのサブクラス記号は,2C1 とする。

誘電体の温度特性での温度範囲は,カテゴリ温度範囲と等しい。

表 2−静電容量温度特性の推奨値

カテゴリ温度範囲及びその数字記号

電圧印加なしの 20  ℃の静電容量値に対
するカテゴリ温度範囲内の直流電圧印加

あり・なしの静電容量の最大変化率 %

−55  ℃/

+125  ℃

−55  ℃/

+85  ℃

−40  ℃/

+85  ℃

−25  ℃/

+85  ℃

−10  ℃/

+85  ℃

サブ

クラス

記号

電圧印加なし

直流電圧印加あり

a)

1 2 3 4 6

2B 
2C 
2D 
2E

2F

2R 
2X

±10

±20

+20/−30 
+22/−56

+30/−80

±15 
±15

 

個別規格の規定による。

 
 

+15/−25

× 
− 

− 
× 
×

×

× 
− 
×

× 
− 

×

× 
− 
×

× 
− 

×

− 
× 
×

× 
− 

− 
− 
×

× 
− 

注記  表中の“×”は適用を示し,“−”は不適用を示す。 

a)

  印加電圧は,直流定格電圧又は個別規格に規定された電圧とする。

3

品質評価手順

3.1

製造の初期工程

単板形のコンデンサの製造の初期工程は,誘電体表面への電極形成工程とする。また,積層形のコンデ

ンサでは,誘電体に内部電極を塗布したものの最初の焼成工程とする。

3.2

構造的に類似なコンデンサ

構造的に類似なコンデンサとは,外形寸法及び定格値が異なっていても,類似の工程及び類似の材料で


6

C 5101-9

:2008 (IEC 60384-9:2005)

製造したコンデンサとする。

3.3

出荷対象ロットの成績証明書

個別規格に規定がある場合で購入者から要求がある場合は,JIS C 5101-1 の 3.5.1 によって出荷対象ロッ

トの成績証明書を提出する。耐久性試験後の要求される性能値は,静電容量の変化,誘電正接 (tan

δ

)及び

絶縁抵抗とする。

注記  JIS C 5101-1 の 3.5.1 は,対応国際規格 IEC 60384-1:1999 の 3.9 と同等である。

3.4

品質認証

品質認証の手順は,JIS C 5101-1 の 3.4 による。

注記  JIS C 5101-1 の 3.4 は,対応国際規格 IEC 60384-1:1999 の 3.5 と同等である。

ロットごと及び定期的品質確認検査に基づく品質認証試験の計画は,この規格の 3.5 による。定数抜取

手順は,3.4.1 及び 3.4.2 による。

3.4.1

定数抜取手順に基づく品質認証

定数抜取手順は,JIS C 5101-1 の 3.4.2 の b)の規定による。試料は,認証を得ようとするすべてのコンデ

ンサの範囲を代表し,個別規格に規定するすべての範囲,又はその一部でもよい。

注記 1  JIS C 5101-1 の 3.4.2 の b)は,対応国際規格 IEC 60384-1:1999 の 3.5.3 の b)と同等である。

試料は,定格電圧の最低のものと最高のものとで,それぞれの最小定格静電容量と最大定格静電容量と

の組合せでできる 4 組合せ(定格電圧と定格静電容量との組合せ)で構成する。定格電圧が 5 種類以上の

場合は,中間の定格電圧のものも追加試験する。このように一つの認証範囲の試験には,4 組合せ又は 6

組合せのものを試料とする。認証範囲からの試料数が 3 組合せ以下の場合の試料数は,4 組合せと同じと

する。

予備試料は,次による。

予備試料は,製造業者の責任でない事故による不適合品の置換え用として 1 組合せごとに 2 個(6 組合

せの場合)又は 3 個(4 組合せの場合)とする。

群 に規定する試料数は,すべての群の試験を適用する場合の試料数であり,すべての試験を適用しな

い場合は,適用しない試験に応じて試料数を減らしてもよい。

品質認証の試験計画に,群を追加する場合の

群 の試料数は,追加する群に必要な試料数を追加する。

品質認証試験のための各々の群又は副群で試験する試料数及び合格判定数を,

表 に示す。

注記 2  合格判定数の数は,許容不適合数を示している。

3.4.2

試験

表 及び表 に規定する一連の試験は,個別規格に規定するコンデンサの品質認証に必要な試験であり,

各群の試験は,記載の順に従って行う。

すべての試料は,

群 の試験を行った後,その他の群に分割する。

群 で発生した不適合品は,その他の群に用いてはならない。

1 個のコンデンサが,一つの群内で二つ以上の項目で不適合となっても不適合品数は 1 個と数える。

各群又は副群での不適合品数が合格判定数以下であり,かつ,不適合品数の合計が総合格判定数以下の

場合の品質認証は,合格とする。

注記  表 及び表 は,定数抜取手順に基づく品質認証試験計画を構成する。表 は,各試験群に対

するサンプリング及び合格判定数の詳細を規定している。一方,

表 は,箇条 に規定された

試験の詳細と併せて,試験条件及び要求性能の要点の一覧を示すとともに,個別規格に選定す

る試験方法,試験条件などを規定している。


7

C 5101-9

:2008 (IEC 60384-9:2005)

定数抜取手順に基づく品質認証の試験計画の試験条件及び要求性能は,個別規格に規定する品質確認検

査と同じとする。

表 3−品質認証試験のサンプリング計画及び合格判定数  評価水準 EZ

試験項目

この規格の

細分箇条番号

試料数

n

b)

合格判定数

  d)

外観 
寸法 
静電容量

誘電正接 
絶縁抵抗 
耐電圧

予備試料

4.2

4.2

4.3.1

4.3.2

4.3.3

4.3.4 

 
 

108

 

8

 
 

0

 
 

1A 

端子強度 
はんだ耐熱性

部品の耐溶剤性

c)

4.5

4.6

4.15 

12 0

1B 

はんだ付け性

表示の耐溶剤性

c)

温度急変

a)

振動

バンプ又は衝撃

a)

4.7

4.16

4.8

4.9

4.10

又は 4.11

24 0

一連耐候性

4.12 

36 0

高温高湿(定常)

4.13 

24 0

耐久性

4.14 

36 0

静電容量の温度特性

4.4 

12 0

a)

  個別規格の規定による。

b)

  定格静電容量と定格電圧との組合せで 3.4.1 による。

c)

  個別規格に規定がある場合に適用する。

d)

  合否判定の不適合品の数を示し,この数以下の場合を合格とする。


8

C 5101-9

:2008 (IEC 60384-9:2005)

表 4−品質認証の試験計画

細分箇条番号及び

試験項目

a)

D

又は

ND

b)

試験条件

a)

試料数(n)

及び合格判

定数

  c)

(c)

要求性能

a)

群 0 
4.2

  外観

 
 

4.2

  寸法(詳細)

4.3.1

  静電容量

4.3.2

  誘電正接 (tan

δ

)

 
4.3.3

  絶縁抵抗  (R

i

)

4.3.4

  耐電圧

ND

 
 
 
 
 
周波数:… kHz 
測定電圧:… V

周波数及び測定電圧は,4.3.1 
同じ。 
方法は,個別規格の規定による。

方法は,個別規格の規定による。

表 による。

4.2

による。

表示は,明りょうとする。
その他は個別規格の規定に
よる。

個別規格の規定による。 
規定の許容差による。 

4.3.2.3

による。

 
4.3.3.2

による。

絶縁破壊又はフラッシオー
バがない。

群 1A 
4.5

  端子強度

4.6.2

  初期測定

4.6

  はんだ耐熱性

 
 
4.6.4

  最終測定

 
 
4.15

  部品の耐溶剤性

      (適用する場合)

D

外観 
静電容量 
特殊な前処理は,4.1 による。

方法は,個別規格の規定による
1A 又は 1B

外観 
 
静電容量 
溶剤:…

溶剤の温度:… 
方法 2 
後処理:…

表 による。

損傷がない。 
 
 
 
 
異常がない。

表示は,明りょうとする。
ΔC/は,4.6.4 による。 
個別規格の規定による。

群 1B 
4.7

  はんだ付け性

 
 

4.16

  表示の耐溶剤性

      (適用する場合) 
 
 
 
4.8

  温度急変

4.8.2

  初期測定

D

方法は,個別規格の規定による。
 
 
 
溶剤:… 
溶剤の温度:… 
方法 1

ラビングの材料:脱脂綿 
後処理:… 
特殊な前処理は,4.1 による。

静電容量

T

A

=カテゴリ下限温度

T

B

=カテゴリ上限温度

5 サイクル 
時間 t

1

=30 min

後処理:24 h±2 h

外観

表 による。

端子にはんだが良好に付着

しているか,又は,はんだ
小球法の場合は,…s 以内に
はんだが流れる。

表示は,明りょうとする。
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
異常がない。


9

C 5101-9

:2008 (IEC 60384-9:2005)

表 4−品質認証の試験計画(続き)

細分箇条番号及び

試験項目

a)

D

又は

ND

b)

試験条件

a)

試料数(n)

及び合格判

定数

  c)

(c)

要求性能

a)

4.9

  振動

 
 
 
 
 
4.9.2

  中間測定

4.10

  バンプ(又は 4.11 

      撃) 
 
 
 
4.11

  衝撃(又は 4.10 バン

      プ) 
 
 
4.10.3

又は 4.11.3  最終測

                  定

D

取付方法は,個別規格の規定に
よる。

周波数範囲:… Hz∼… Hz 
振幅:0.75 mm 又は加速度 100 
m/s

2

(いずれか緩い方)

総試験時間:6 h 
外観 
取付方法は,個別規格の規定に

よる。 
バンプ回数:… 
ピーク加速度:… m/s

2

作用時間:… ms 
取付方法は,個別規格の規定に
よる。

ピーク加速度:… m/s

2

作用時間:… ms 
外観 
 
静電容量

表 による。

 
 
 
 
 
異常がない。 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
異常がない。

表示は,明りょうとする。
ΔC/は,4.11.3 による。

群 1 
4.12

  一連耐候性

4.12.1.1

  初期測定

4.12.2

  高温

 
4.12.3

  温湿度サイクル

      (12+12 時間サイ

        クル)

,最初のサイ

        クル

4.12.4

  低温

 
 
4.12.5

  減圧(個別規格に

        規定がある場合)

4.12.5.3

  中間測定

4.12.6

  温湿度サイクル

      (12+12 時間サイ 
        クル)

,残りのサイ

        クル

4.12.6.3

  最終測定

D

特殊な前処理は,4.1 による。 
静電容量 
温度:カテゴリ上限温度

時間:16 h 
 
 
 
 
温度:カテゴリ下限温度

時間:2 h 
外観 
気圧:8 kPa 
 
外観 
 
後処理:24 h±2 h 
 
 
 
外観 
 
静電容量 
誘電正接 
絶縁抵抗

表 による。

 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
異常がない。 
 
 
絶縁破壊又はフラッシオー
バがない。 
 
 
 
 
異常がない。 
表示は,明りょうとする。
ΔC/は,4.12.6.3 による。
4.12.6.3

による。

4.12.6.3

による。


10

C 5101-9

:2008 (IEC 60384-9:2005)

表 4−品質認証の試験計画(続き)

細分箇条番号及び

試験項目

a)

D

又は

ND

b)

試験条件

a)

試料数(n)

及び合格判

定数

  c)

(c)

要求性能

a)

群 2 
4.13

  高温高湿(定常)

4.13.2

  初期測定

 
4.13.5

  最終測定

D

特殊な前処理は,4.1 による。

静電容量 
後処理:24 h±2 h 
外観 
 
静電容量 
誘電正接

絶縁抵抗

表 による。

 
 
 
異常がない。

表示は,明りょうとする。
ΔC/は,4.13.5 による。 
4.13.5

による。

4.13.5

による。

群 3 
4.14

  耐久性

 
 
4.14.2

  初期測定

 
4.14.5

  最終測定

D

特殊な前処理は,4.1 による。

試験電圧:… V 
試験時間:… h 
静電容量

後処理:24 h±2 h 
外観 
 
静電容量 
誘電正接 
絶縁抵抗

表 による。

 
 
 
 
 
異常がない。 
表示は,明りょうとする。
ΔC/は,4.14.5 による。 
4.14.5

による。

4.14.5

による。

群 4 
4.4

  静電容量の温度特性

ND

特殊な前処理は,4.1 による。

表 による。

ΔC/は,4.4.3 による。

a)

  試験の細分箇条番号及び要求性能は,箇条 による。

b)

  この表で D は破壊試験,ND は非破壊試験を表す。

c)

  合否判定の不適合品の数を表し,この数以下の場合を合格とする。

3.5

品質確認検査

3.5.1

検査ロットの構成

a)

群 及び群 検査

これらの検査は,ロットごとに行う。

製造業者は,次の条件の下にコンデンサをまとめて検査ロットとしてもよい。

1)

検査ロットは,構造的に類似なコンデンサで構成する(3.2 参照)

2a)

群 の検査試料は,検査ロットに含まれる定格値(定格電圧及び定格静電容量)及び外形寸法の代

表値で構成する。

−  定格値(定格電圧及び定格静電容量)及び外形寸法の数

−  1 組合せ当たり 5 個以上

副群 B2 の検査試料は,ロットの中の全温度特性のコンデンサを含む。

2b)  IEC

電子部品品質認証制度(IECQ)の場合は,1 組合せ当たりの抜取数が 4 個以下のとき,製造業者

は,国内監督検査機関の承認を必要とする。

b)

群 検査

この検査は,定期的に行う。

試料は,定期検査周期期間内に製造されたものを代表するもので,かつ,定格静電容量の大,中及


11

C 5101-9

:2008 (IEC 60384-9:2005)

び小に分類する。引き続き,次の期間内の試料は,認証範囲を包含するために,別の定格電圧と定格

静電容量とのものを抜取検査する。

3.5.2

試験計画

品質確認検査のためのロットごとの品質確認検査及び定期的品質確認検査の計画は,ブランク個別規格

JIS C 5101-9-1

の箇条 

表 による。

3.5.3

長期保管品の出荷

JIS C 5101-1

の 3.5.2 に従い,はんだ付け性及び静電容量について

群 及び群 の再検査を行う。

注記  JIS C 5101-1 の 3.5.2 は,対応国際規格 IEC 60384-1:1999 の 3.10 と同等である。

3.5.4

評価水準

ブランク個別規格に規定する評価水準は,

表 及び表 から選定するのが望ましい。

表 5−ロットごとの品質確認検査

EZ

検査副群

c)

IL

n c 

100 %

a)

A0 
A1 
A2 
B1 
B2

S-4 
S-3 
S-3 
S-2

b)

b)

b)

b) 




0

注記 IL=検査水準 

n

=試料数

c

=合格判定数

a)

  この検査は,工程でロット内の全数から不適合品を取り除いた後に行う抜取検査である。

抜取水準は,部品製造業者が設定する。検査ロットの合否にかかわらず,ppm で示す出荷
品質水準を監視するために,抜取試料をすべて検査する。

抜取試料中に 1 個以上の不適合品を発見した場合には,このロットは不合格とするが,不

適合品は,品質水準を算出するためにすべて数える。ppm で示す出荷品質水準は,累積し
た検査データによって算出する。

b)

  試料数(n)は,JIS Z 9015-1 に規定する付表 の検査水準(IL)/ロットサイズで割り当てるサ

ンプル文字に従い,

付表 2-A のサンプル文字に対応する試料数とする。

c)

  検査副群の内容は,関連するブランク個別規格の箇条 による。

表 6−定期的品質確認検査

EZ

検査副群

a)

p n c 

C1A 
C1B 
C1 
C2 
C3 
C4





3

12

9

18 
27 
15 
15

9






0

注記  p=周期(月) 

n

=試料数

c

=合格判定数

a)

  検査副群の内容は,関連するブランク個別規格の箇条 による。


12

C 5101-9

:2008 (IEC 60384-9:2005)

4

試験及び測定方法

この項は,JIS C 5101-1 の 4.に規定する事項を補足する。

4.1

特殊な前処理

前処理を適用する項目で,個別規格に条件の規定がない場合は,この特殊な前処理を試験前又は試験に

続いて行う。コンデンサをカテゴリ上限温度又は個別規格に規定する高温度に 1 時間放置し,その後,標

準状態に 24 時間±1 時間放置する。

注記  種類 2 のコンデンサは,時間経過に従い静電容量が指数的に減少するものである(これをエー

ジングという。

。ただし,誘電体のキュリー点以上の温度で熱すれば(ディエージング)

,失わ

れた静電容量が回復し増加する。

コンデンサは,再度冷やされたときからエージングが始まる。

特殊な前処理を行うことは,コンデンサの前歴の影響を与えない状態にすることを目的とし

ている(詳細は A.4 参照)

4.2

外観及び寸法

外観及び寸法は,JIS C 5101-1 の 4.4 による。

4.3

電気的試験

4.3.1

静電容量

静電容量は,JIS C 5101-1 の 4.7 によるほか,次による。

4.3.1.1

測定条件

測定条件は,

表 によるほか,次による。

表 7−測定条件

サブクラス

測定電圧

判定電圧

2B,2C,2X 1.0

V±0.2 V

1.0 V±0.02 V

2D,2E,2F,2R 0.3

V±0.2 V

又は個別規格の規定による。

0.3 V±0.02 V

又は個別規格の規定による。

−  測定周波数:定格静電容量が 100 pF 以下の場合の測定周波数は,個別規格に規定がない場合は,

1 MHz とする。定格静電容量が 100 pF を超える場合の測定周波数は,1 kHz±20 %とする。

注記  判定電圧は,測定結果に疑義を生じた場合に適用する。

4.3.1.2

要求性能

静電容量値は,定格静電容量に対して,規定の許容差内とする。静電容量値の判定は,1 000 時間のエー

ジング後を想定して行う(

附属書 参照)。

4.3.2

誘電正接  (tan 

δ

)

誘電正接は,JIS C 5101-1 の 4.8 によるほか,次による。

4.3.2.1

測定条件

測定条件は,4.3.1 による。

4.3.2.2

確度

測定装置の確度は,測定誤差が 1×10

3

以下とする。

4.3.2.3

要求性能

誘電正接は,0.035 以下又は,個別規格に規定された値以下とする。


13

C 5101-9

:2008 (IEC 60384-9:2005)

4.3.3

絶縁抵抗  (R

i

)

絶縁抵抗は,JIS C 5101-1 の 4.5 によるほか,次による。

4.3.3.1

測定条件

測定条件は,JIS C 5101-1 の 4.5.2 によるほか,次による。

定格電圧が 100 V 未満の場合の測定電圧は,定格電圧以下とする。判定に疑義が生じた場合の測定電圧

は,定格電圧とする。

電圧は,規定の電圧を直接印加し,品質認証試験及び定期的品質確認検査(

群 C)では,60 秒±5 秒間

後の値を測定する。また,ロットごとの品質確認検査(

群 A)では,絶縁抵抗の値が規定値を超えた時点

で判定し,時間を短縮してもよい。

電源の内部抵抗とコンデンサの定格静電容量との積は,個別規格に規定がない場合は,1 秒以下とする。

充電電流は,0.05 A 以下とする。

絶縁抵抗  (R

i

)  は,1 分間後に測定する。

4.3.3.2

要求性能

絶縁抵抗  (R

i

)  は,表 に規定する値以上とする。

表 8−絶縁抵抗の要求性能

C

R

≦25 nF

C

R

>25 nF

形状

測定点

R

i

R

i

×C

R

絶縁形 1a 及び 1c

非絶縁形 1a

4 000 MΩ 100 s

4.3.4

耐電圧

耐電圧は,JIS C 5101-1 の 4.6 によるほか,次による。

4.3.4.1

試験条件

電源の内部抵抗とコンデンサの定格静電容量との積は,1 秒以下とする。充電電流は,0.05 A 以下とす

る。

4.3.4.2

表 の試験電圧を,JIS C 5101-1 の 4.5.3 の表 に規定する測定点に印加し,品質認証試験及び定

期的品質確認検査では 1 分間,ロットごとの品質確認検査では 1 秒間の印加時間とする。

注記  JIS C 5101-1 の 4.5.3 の表 は,対応国際規格 IEC 60384-1:1999 の 4.5.3 の表 と同等である。

表 9−試験電圧

タイプ

定格電圧

V

試験電圧

V

リード付き積層磁器コンデンサ

U

R

≦100

100<U

R

≦200

200<U

R

≦500

500<U

R

     2.5 U

R

     1.5 U

R

+100

     1.3 U

R

+100

     1.3 U

R

その他

U

R

≦500

U

R

>500

     2.5 U

R

     1.5 U

R

+500

注記  定格電圧が 500 V を超える場合の試験 C(端子外装間)の試験電圧は,

1.5 U

R

+500 V 又は個別規格の規定による。


14

C 5101-9

:2008 (IEC 60384-9:2005)

4.3.4.3

要求性能

試験中に絶縁破壊又はフラッシオーバがない。

4.4

静電容量の温度特性

4.4.1

特殊な前処理

特殊な前処理は,4.1 による。

4.4.2

測定条件

測定条件は,JIS C 5101-1 の 4.24.1.2 及び 4.24.1.3 によるほか,

表 10 による。

表 10−測定条件

温度

°C

温度サイクルの記号

印加直流電圧(U

R

)

20±2 
T

A

±3

20±2 
T

B

±2

T

B

±2

20±2 
T

A

±3

20±2



d


f



a

− 
− 

− 
× 
×

× 

注記 1  T

A

=カテゴリ下限温度

T

B

=カテゴリ上限温度

注記 2  “−”は,直流電圧の印加なしを表す。

“×”は,直流電圧の印加を表す。

注記 3  中間の温度の測定値は,2.2.5 を満足するものとする。 
注記 4  基準となる静電容量値は,“d”での測定値である。 
注記 5  4.1 の注記に記載されていることは,温度サイクル記号“f”,“g”及び“b”での直流電圧印加時の測定値

は,時間に依存するということである。この時間依存性を含め規定された静電容量変化内とする。温度サ
イクル記号“a”の最初及び最後の静電容量の変化は,経時変化に伴う値を示す。直流電圧印加時の測定結
果に疑義が生じた場合は,温度サイクル記号“f”及び“b”の保持時間[温度安定(熱平衡)に達する時

間]を決めておくことが望ましい。

4.4.3

要求性能

直流電圧を印加した場合及び印加しない場合の温度特性は,

表 に規定する要求性能を満足する。

4.5

端子強度

端子強度は,JIS C 5101-1 の 4.13 による。

4.6

はんだ耐熱性

はんだ耐熱性は,JIS C 5101-1 の 4.14 によるほか,次による。

4.6.1

特殊な前処理

特殊な前処理は,4.1 による。

4.6.2

初期測定

静電容量を 4.3.1 に従って測定する。

4.6.3

後処理

後処理は,24 時間±2 時間放置とする。

4.6.4

最終測定及び要求性能

コンデンサの外観検査を行い,外観は異常がなく,表示は明りょうとする。


15

C 5101-9

:2008 (IEC 60384-9:2005)

静電容量を 4.3.1 に従って測定し,その変化は

表 11 に規定する要求性能を満足する。

表 11−最大静電容量変化

サブクラス

要求性能

2B,2C 及び 2X 
2D 及び 2R 
2E 及び 2F

±10 % 
±15 % 
±20 %

注記  サブクラスの記号は,2.2.5 による。

4.7

はんだ付け性

はんだ付け性は,JIS C 5101-1 の 4.15 によるほか,次による。

4.7.1

試験条件

はんだ小球法を適用する場合は,個別規格に規定する。はんだ槽法及びはんだ小球法のいずれも適用で

きない場合は,はんだごて寸法 A を用いて,はんだこて法で試験する。

4.7.2

要求性能は,

表 による。

4.8

温度急変(個別規格に規定がある場合に適用する。)

温度急変は,JIS C 5101-1 の 4.16 によるほか,次による。

4.8.1

特殊な前処理

特殊な前処理は,4.1 による。

4.8.2

初期測定

静電容量を 4.3.1 に従って測定する。

4.8.3

サイクル数

サイクル数は,5 サイクルとする。

カテゴリ下限温度及びカテゴリ上限温度に放置する時間は,30 分間とする。

4.8.4

後処理

後処理は,24 時間±2 時間放置とする。

4.9

振動

振動は,JIS C 5101-1 の 4.17 によるほか,次による。

4.9.1

試験条件

試験 Fc の厳しさは,次による。

振幅 0.75 mm 又は加速度 100 m/s

2

のいずれか緩い方で,周波数は,次のうち一つとする。

            10 Hz∼55 Hz,10 Hz∼500 Hz,10 Hz∼2 000 Hz

試験時間は,6 時間とする。

個別規格に,周波数範囲及び取付方法を規定する。リード線端子反対方向形(アキシャルリード線端子)

のコンデンサで,リード線端子だけで取り付ける場合,本体と取付点との距離を 6 mm±1 mm とする。

4.9.2

最終測定及び要求性能

最終測定及び要求性能は,

表 による。

4.10

バンプ

バンプは,JIS C 5101-1 の 4.18 によるほか,次による。

個別規格に,バンプ又は衝撃のいずれで試験するかを規定する。


16

C 5101-9

:2008 (IEC 60384-9:2005)

4.10.1

初期測定

適用しない。

4.10.2

試験条件

次の条件の中から厳しさを選定し,個別規格に規定する。

バンプ合計回数: 1

000

又は 4

000

ピーク加速度  : 400

m/s

2

 100

m/s

2

パルス作用時間: 6

ms

又は

16 ms

個別規格には,取付方法も規定する。リード線端子反対方向形(アキシャルリード線端子)のコンデン

サで,リード線端子だけで取り付ける場合,本体と取付点との距離を 6 mm±1 mm とする。

4.10.3

最終測定及び要求性能

コンデンサは,外観及び電気的性能を測定し,4.11.3 に規定する要求性能を満足する。

4.11

衝撃

衝撃は,JIS C 5101-1 の 4.19 によるほか,次による。

個別規格に,衝撃又はバンプのいずれで試験するかを規定する。

4.11.1

初期測定

適用しない。

4.11.2

試験条件

試験条件は,

表 12 の条件の中から厳しさを選定し,個別規格に規定する。

パルス波形:正弦半波

表 12−厳しさ

ピーク加速度

m/s

2

作用時間

ms

300 18 
500 11

1 000  6

個別規格には,取付方法も規定する。リード線端子反対方向形(アキシャルリード線端子)のコンデン

サで,リード線端子だけで取り付ける場合,本体と取付点との距離を 6 mm±1 mm とする。

4.11.3

最終測定及び要求性能

コンデンサの外観を検査する。外観は異常がなく,表示は明りょうとする。

静電容量を 4.3.1 に従って測定し,その変化は,

表 13 に規定する要求性能を満足する。

表 13−最大静電容量変化

サブクラス

要求性能

2B,2C 及び 2X 
2D 及び 2R 
2E 及び 2F

±10 % 
±15 % 
±20 %

注記  サブクラスの記号は,2.2.5 による。


17

C 5101-9

:2008 (IEC 60384-9:2005)

4.12

一連耐候性

一連耐候性は,JIS C 5101-1 の 4.21 によるほか,次による。

4.12.1

特殊な前処理

特殊な前処理は,4.1 による。

4.12.1.1

初期測定

静電容量を 4.3.1 に従って測定する。

4.12.2

高温

高温は,JIS C 5101-1 の 4.21.2 による。

4.12.3

温湿度サイクル(1212 時間サイクル),最初のサイクル

温湿度サイクルの最初のサイクルは,JIS C 5101-1 の 4.21.3 による。

4.12.4

低温

低温は,JIS C 5101-1 の 4.21.4 によるほか,次による。

4.12.4.1

最終測定及び要求性能

コンデンサの外観を検査し,外観は,

表 に規定する要求性能を満足する。

4.12.5

減圧

減圧は,JIS C 5101-1 の 4.21.5 によるほか,次による。

4.12.5.1

個別規格に規定されている場合に適用し,温度 15  ℃∼35  ℃,気圧 8 kPa で行う。試験時間は 1

時間とする。

4.12.5.2

規定の気圧に到達した後,直ちに定格電圧  (U

R

)  を 1 分∼2 分間印加する。

4.12.5.3

最終測定及び要求性能

コンデンサの外観を検査し,外観は,

表 に規定する要求性能を満足する。

4.12.6

温湿度サイクル(1212 時間サイクル),残りのサイクル

温湿度サイクルの残りのサイクルは,JIS C 5101-1 の 4.21.6 によるほか,次による。

4.12.6.1

試験条件

試験条件を,

表 14 に示す。

電圧は,印加しない。

表 14−温湿度サイクル,残りのサイクル数

耐候性カテゴリ

残りの 24 時間のサイクル数

−/−/56 5

−/−/21 1

−/−/10 1

−/−/04 0

4.12.6.2

後処理

後処理は,24 時間±2 時間放置とする。

4.12.6.3

最終測定及び要求性能

コンデンサの外観を検査する。外観は異常がなく,表示は明りょうとする。

コンデンサの電気的性能を測定し,

表 15 に規定する要求性能を満足する。試験後の静電容量値が規定の

最低値よりも低い場合は,その他の性能を測定後に 4.1 に規定する特殊な前処理を行い,その後に静電容


18

C 5101-9

:2008 (IEC 60384-9:2005)

量を再測定したとき,

表 15 に規定する要求性能を満足する。

表 15−最終測定及び要求性能

要求性能

測定項目

測定条件

サブクラス

2B,2C,2X

サブクラス

2D,2R

サブクラス

2E

サブクラス

2F

静電容量

4.3.1 

ΔC/C≦±10 %

ΔC/C≦±15 %

ΔC/C≦±20 %

ΔC/C≦±30 %

誘電正接

4.3.2 4.3.2.2

での規定値の 2 倍以下

絶縁抵抗

4.3.3 

R

i

≧1 000 M

Ω又は R

i

×C

R

≧25 s

(いずれか小さい方)

注記  サブクラスの記号は,2.2.5 による。

4.13

高温高湿(定常)

高温高湿(定常)は,JIS C 5101-1 の 4.22 によるほか,次による。

4.13.1

特殊な前処理

特殊な前処理は,4.1 による。

4.13.2

初期測定

静電容量を 4.3.1 に従って測定する。

4.13.3

試験条件

個別規格に規定がない場合は,電圧は印加しない。

電圧印加が規定されている場合は,試料の半数は定格電圧を印加し,その他の半数は印加しない。

4.13.4

後処理

後処理は,24 時間±2 時間放置とする。

4.13.5

最終測定及び要求性能

コンデンサの外観を検査する。外観は異常がなく,表示は明りょうとする。

コンデンサの電気的性能を測定し,

表 16 に規定する要求性能を満足する。試験後の静電容量値が規定の

最低値よりも低い場合は,その他の性能を測定後に 4.1 に規定する特殊な前処理を行い,その後に静電容

量を再測定したとき,

表 16 に規定する要求性能を満足する。

表 16−最終測定及び要求性能

要求性能

測定項目

測定条件

サブクラス

2B,2C,2X

サブクラス

2D,2R

サブクラス

2E

サブクラス

2F

静電容量

4.3.1 

ΔC/C≦±10 %

ΔC/C≦±15 %

ΔC/C≦±20 %

ΔC/C≦±30 %

誘電正接

4.3.2 4.3.2.2

での規定値の 2 倍以下

絶縁抵抗

4.3.3 

R

i

≧1 000 M

Ω又は R

i

×C

R

≧25 s

(いずれか小さい方)

注記  サブクラスの記号は,2.2.5 による。

4.14

耐久性

耐久性は,JIS C 5101-1 の 4.23 によるほか,次による。


19

C 5101-9

:2008 (IEC 60384-9:2005)

4.14.1

特殊な前処理

特殊な前処理は,4.1 による。

4.14.2

初期測定

静電容量を 4.3.1 に従って測定する。

4.14.3

試験条件

試験条件を,

表 17 に示す。

表 17−試験条件

タイプ

温度

定格電圧

V

試験電圧

V

時間

h

リード付き積層セラミッ

クコンデンサ

カテゴリ上限温度

U

R

≦200

200<U

R

≦500

500<U

R

1.5 U

R

1.3 U

R

1.2 U

R

1 000 
1 500 
2 000

その他

カテゴリ上限温度

U

R

 1.5

U

R

 1

000

4.14.4

後処理

後処理は,24 時間±2 時間とする。

4.14.5

最終測定及び要求性能

コンデンサの外観を検査する。外観は異常がなく,表示は明りょうとする。

コンデンサの電気的性能を測定し,

表 18 に規定する要求性能を満足する。試験後の静電容量値が規定の

最低値よりも低い場合は,その他の性能を測定後に 4.1 に規定する特殊な前処理を行い,その後に静電容

量を再測定したとき,

表 18 に規定する要求性能を満足する。

表 18−最終測定及び要求性能

要求性能

測定項目

測定条件

サブクラス

2B,2C,2X

サブクラス

2D,2R

サブクラス

2E

サブクラス

2F

静電容量

4.3.1 

ΔC/C≦±20 %

ΔC/C≦±20 %

ΔC/C≦±20 %

ΔC/C≦±30 %

誘電正接

4.3.2 4.3.2.2

での規定値の 2 倍以下

絶縁抵抗

4.3.3 

R

i

≧2 000 M

Ω又は R

i

×C

R

≧50 s

(いずれか小さい方)

注記  サブクラスの記号は,2.2.5 による。

4.15

部品の耐溶剤性(適用する場合)

部品の耐溶剤性は,JIS C 5101-1 の 4.31 による。

4.16

表示の耐溶剤性(適用する場合)

表示の耐溶剤性は,JIS C 5101-1 の 4.32 による。


20

C 5101-9

:2008 (IEC 60384-9:2005)

附属書 A

参考)

固定磁器コンデンサ種類 2 の静電容量エージング

序文

この附属書は,本体について補足するものであって,規定の一部ではない。

A.1

一般事項

磁器コンデンサ種類 2 の磁器誘電体は,強誘電体特性をもち,キュリー温度(Curie temperature)をもつ。

このキュリー温度より高温では,立方結晶構造を示し,キュリー温度以下では非対称結晶構造となる。単

結晶では,この晶形の移行が急激であるのに対し,実際の誘電体は,ある温度範囲内では,緩やかに移行

する。この移行は,各晶形での静電容量対温度カーブの各ピーク値と関連している。

熱振動の影響で結晶体にとじ込められたイオンは,誘電体が,キュリー温度以下で冷却される場合,長

時間継続的により低いポテンシャルエネルギーに移行する現象がある。静電容量のエージング現象は,こ

のようにして起こり,これによって,コンデンサの静電容量が,連続的に減少する。しかしながら,コン

デンサは,キュリー温度以上で熱せられたとき脱エージングが起こり,エージングで減少した静電容量が

増加回復する。そして,コンデンサが,再び冷やされたときから,エージングが,再び始まる。

A.2

静電容量エージングの法則

キュリー温度以下で冷却された最初の 1 時間は,静電容量の減少を定義することはできないが,この時

間以降は,静電容量は対数的に減少することから,これをエージング定数として表すことができる(K.W.

Plessner, Proc. Soc.,vol. 69B,p1261,1956 参照)。

エージング定数 は,対数目盛の 1 ディケード,すなわち,コンデンサが,1 時間∼10 時間と 10 倍の時

間経過でのエージングによる静電容量の減少率で定義できる。

静電容量の減少の規則が,対数的となることから,静電容量の変化率は,1 時間∼100 時間は 2k,1 時間

∼1 000 時間は 3となる。このことは,次の式で表すことができる。

=

t

k

C

C

log

100

1

1

t

ここに,

C

t

エージング開始

t

時間後の静電容量

C

1

エージング開始

1

時間後の静電容量

k

エージング定数

t

エージング経過時間

エージング定数は,それぞれの磁器誘電体について製造業者が提示するか,又はコンデンサの脱エージ

ング後の

2

点の経過時間での静電容量を測定することによって求めるかのいずれかである。

エージング定数

k

は,次の式で算出する。

(

)

1

t2

2

t1

t2

t1

log

log

100

t

C

t

C

C

C

k

=

静電容量の測定を経過時間の

3

点以上で行った場合は,

log t

に対してプロットした

C

t

のグラフの傾斜か

らエージング定数

k

を求めるか,又は

log t

に対する

log C

t

のプロットによっても求める。

エージング中のコンデンサの測定は,温度特性による静電容量の変化が測定に悪影響を与えることを避


21

C 5101-9

:2008 (IEC 60384-9:2005)

けるために一定の温度に保持して行う。

A.3

静電容量の測定及び静電容量許容差

エージング特性があるため,定格静電容量許容差に標準エージング時間を規定する必要がある。これは

1 000

時間と定めている。これは,

1 000

時間以上での静電容量の減少は小さいためである。

1 000

時間後の

C

1 000

を算出するには,エージング定数が既知であれば前項に従って求められるが,次の

式を用いてもよい。

(

)

=

t

k

C

C

log

3

100

1

t

000

1

製造業者の測定では,1 000 時間後の静電容量の減少が分かるので非対称の検査用の許容差規格を用いて

補正することができる。例えば,静電容量の減少が 5 %と分かっている場合,±20 %の規格の代わりに+

25 %∼−15 %で検査をすることである。

静電容量は,通常 20  ℃での値が用いられるため,20  ℃で測定するか,又はこの温度の値に補正する必

要がある。手を通して伝わる温度によって誤差が生じるので,コンデンサは,常にピンセットで取り扱う。

A.4

特殊な前処理条件(4.1 の注記参照)

この規格の中の試験の多くは,与えられた条件(例えば,一連耐候性)によって生じる静電容量変化を

測定する。エージングによる悪影響を避けるために,判定前に,コンデンサは,カテゴリ上限温度に 1 時

間放置し,引き続いて標準状態で 24 時間放置する特殊な前処理を行う。

カテゴリ上限温度以下のキュリー点をもつコンデンサは,これによって脱エージングされ,続いて 24

時間のエージングが施される。

熱処理の脱エージングによる静電容量の回復がある場合,

その後の 24 時間のエージングを行うことによ

って製造後からの静電容量変化が最小となる(製造後の静電容量値と等しくなる。

もし,誘電体のキュリー温度がカテゴリ上限温度よりも高い場合,この特殊な前処理条件によって,完

全なコンデンサの脱エージングは起こらないが,そのコンデンサは前の履歴に拘束されない状態までにな

り完全な脱エージング状態と同じ効果が達成される。

完全な脱エージングをするには,160  ℃までの温度が必要であり,この温度は,外装樹脂にとって危険

である。したがって,コンデンサを完全に脱エージングする場合は,個別規格に詳細事項及び必要な注意

事項を考慮して規定する。