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C 5101-4

:2010 (IEC 60384-4:2007)

(1)

目  次

ページ

序文

1

1  一般事項

1

1.1  適用範囲

1

1.2  目的

1

1.3  引用規格

1

1.4  個別規格に規定する事項

2

1.5  用語及び定義

3

1.6  表示

3

2  推奨特性及び定格

4

2.1  推奨特性

4

2.2  推奨定格値

4

3  品質評価手順

5

3.1  製造の初期工程

5

3.2  構造的に類似なコンデンサ

6

3.3  出荷対象ロットの成績証明書

6

3.4  品質認証の試験

6

3.5  品質確認検査

15

4  試験及び測定手順

16

4.1  電圧処理(非固体電解コンデンサだけに適用)

16

4.2  外観及び寸法

17

4.3  電気的性能

17

4.4  端子強度

18

4.5  はんだ耐熱性

19

4.6  はんだ付け性

19

4.7  温度急変

19

4.8  振動

19

4.9  バンプ

20

4.10  衝撃

20

4.11  一連耐候性

20

4.12  高温高湿(定常)

21

4.13  耐久性

21

4.14  サージ

22

4.15  逆電圧(個別規格に規定がある場合)

22

4.16  圧力弁(非固体電解コンデンサで,かつ,圧力弁が付いているコンデンサに適用)

23

4.17  高温保存

23


C 5101-4

:2010 (IEC 60384-4:2007)  目次

(2)

ページ

4.18  低温保存(非固体電解コンデンサで,かつ,カテゴリ下限温度が−10  ℃及び−25  ℃の場合に適用)

23

4.19  高温及び低温特性

23

4.20  充放電(個別規格に規定がある場合)

23

4.21  大電流サージ(固体電解コンデンサで,かつ,個別規格に規定がある場合)

24

4.22  過渡過電圧(非固体電解コンデンサで,かつ,個別規格に規定がある場合)

24


C 5101-4

:2010 (IEC 60384-4:2007)

(3)

まえがき

この規格は,工業標準化法第 14 条によって準用する第 12 条第 1 項の規定に基づき,社団法人電子情報

技術産業協会 (JEITA) 及び財団法人日本規格協会 (JSA) から,工業標準原案を具して日本工業規格を改

正すべきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工業規格であ

る。

これによって,JIS C 5101-4:1998 は改正され,この規格に置き換えられた。

この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。

この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に

抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許

権,出願公開後の特許出願,実用新案権及び出願公開後の実用新案登録出願にかかわる確認について,責

任はもたない。

JIS C 5101 の規格群には,次に示す部編成がある。

JIS

C

5101-1  第 1 部:品目別通則

JIS

C

5101-2  第 2 部:品種別通則:固定メタライズドポリエチレンテレフタレートフィルム直流コン

デンサ

JIS

C

5101-2-1  第 2-1 部:ブランク個別規格:固定メタライズドポリエチレンテレフタレートフィル

ム直流コンデンサ  評価水準 E 及び EZ

JIS

C

5101-3  第 3 部:品種別通則:表面実装用固定タンタル固体 (MnO

2

)  電解コンデンサ

JIS

C

5101-3-1  第 3-1 部:ブランク個別規格:表面実装用固定タンタル固体 (MnO

2

)  電解コンデンサ

評価水準 EZ

JIS

C

5101-4  第 4 部:品種別通則:アルミニウム固体 (MnO

2

)  及び非固体電解コンデンサ

JIS

C

5101-4-1  第 4-1 部:ブランク個別規格:アルミニウム非固体電解コンデンサ−評価水準 EZ

JIS

C

5101-4-2  第 4-2 部:ブランク個別規格:アルミニウム固体 (MnO

2

)  電解コンデンサ−評価水準

EZ

JIS

C

5101-8  第 8 部:品種別通則:固定磁器コンデンサ  種類 1

JIS

C

5101-8-1  第 8-1 部:ブランク個別規格:固定磁器コンデンサ  種類 1  評価水準 EZ

JIS

C

5101-9

第 9 部:品種別通則:固定磁器コンデンサ  種類 2

JIS

C

5101-9-1  第 9-1 部:ブランク個別規格:固定磁器コンデンサ  種類 2  評価水準 EZ

JIS

C

5101-11  第 11 部:品種別通則:固定ポリエチレンテレフタレートフィルム金属はく直流コンデ

ンサ

JIS

C

5101-11-1  第 11 部:ブランク個別規格:固定ポリエチレンテレフタレートフィルム金属はく直

流コンデンサ  評価水準 E

JIS

C

5101-13  第 13 部:品種別通則:固定ポリプロピレンフィルム金属はく直流コンデンサ

JIS

C

5101-13-1  第 13-1 部:ブランク個別規格:固定ポリプロピレンフィルム金属はく直流コンデン

サ  評価水準 E 及び EZ

JIS

C

5101-14  第 14 部:品種別通則:電源用電磁障害防止固定コンデンサ

JIS

C

5101-14-1  第 14-1 部:ブランク個別規格:電源用電磁障害防止固定コンデンサ  評価水準 D


C 5101-4

:2010 (IEC 60384-4:2007)  目次

(4)

JIS

C

5101-14-2  第 14-2 部:ブランク個別規格:電源用電磁障害防止固定コンデンサ  安全性を要求

する試験

JIS

C

5101-14-3  第 14-3 部:ブランク個別規格:電源用電磁障害防止固定コンデンサ  評価水準 DZ

JIS

C

5101-15  第 15 部:品種別通則:固定タンタル非固体又は固体電解コンデンサ

JIS

C

5101-15-1  第 15 部:ブランク個別規格:はく電極形固定タンタル非固体電解コンデンサ  評価

水準 E

JIS

C

5101-15-2  第 15 部:ブランク個別規格:焼結形固定タンタル非固体電解コンデンサ  評価水準

E

JIS

C

5101-15-3  第 15 部:ブランク個別規格:焼結形固定タンタル固体電解コンデンサ  評価水準 E

JIS

C

5101-16  第 16 部:品種別通則:固定メタライズドポリプロピレンフィルム直流コンデンサ

JIS

C

5101-16-1  第 16-1 部:ブランク個別規格:固定メタライズドポリプロピレンフィルム直流コン

デンサ  評価水準 E 及び EZ

JIS

C

5101-17  第 17 部:品種別通則:固定メタライズドポリプロピレンフィルム交流及びパルスコン

デンサ

JIS

C

5101-17-1  第 17-1 部:ブランク個別規格:固定メタライズドポリプロピレンフィルム交流及び

パルスコンデンサ  評価水準 E 及び EZ

JIS

C

5101-18  第 18 部:品種別通則:表面実装用固定アルミニウム固体 (MnO

2

)  及び非固体電解コン

デンサ

JIS

C

5101-18-1  第 18-1 部:ブランク個別規格:表面実装用固定アルミニウム固体 (MnO

2

)  電解コン

デンサ−評価水準 EZ

JIS

C

5101-18-2  第 18-2 部:ブランク個別規格:表面実装用固定アルミニウム非固体電解コンデンサ

−評価水準 EZ

JIS

C

5101-20  第 20 部:品種別通則:表面実装用固定メタライズドポリフェニレンスルフィドフィル

ム直流コンデンサ

JIS

C

5101-20-1  第 20-1 部:ブランク個別規格:表面実装用固定メタライズドポリフェニレンスルフ

ィドフィルム直流コンデンサ  評価水準 EZ

JIS

C

5101-21

第 21 部:品種別通則:表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類 1

JIS

C

5101-21-1  第 21-1 部:ブランク個別規格:表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類 1  評価水

準 EZ

JIS

C

5101-22  第 22 部:品種別通則:表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類 2

JIS

C

5101-22-1  第 22-1 部:ブランク個別規格:表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類 2  評価水

準 EZ

JIS

C

5101-23  第 23 部:品種別通則:表面実装用固定メタライズドポリエチレンナフタレートフィル

ム直流コンデンサ

JIS

C

5101-23-1  第 23-1 部:ブランク個別規格:表面実装用固定メタライズドポリエチレンナフタレ

ートフィルム直流コンデンサ  評価水準 EZ

JIS

C

5101-24  第 24 部:品種別通則:表面実装用固定タンタル固体(導電性高分子)電解コンデンサ

JIS

C

5101-24-1  第 24-1 部:ブランク個別規格:表面実装用固定タンタル固体(導電性高分子)電解

コンデンサ−評価水準 EZ


C 5101-4

:2010 (IEC 60384-4:2007)

(5)

JIS

C

5101-25  第 25 部:品種別通則:表面実装用固定アルミニウム固体(導電性高分子)電解コンデ

ンサ

JIS

C

5101-25-1  第 25-1 部:ブランク個別規格:表面実装用固定アルミニウム固体(導電性高分子)

電解コンデンサ−評価水準 EZ

JIS

C

5101-26  第 26 部:品種別通則:固定アルミニウム固体(導電性高分子)電解コンデンサ(予定)

JIS

C

5101-26-1  第 26-1 部:ブランク個別規格:固定アルミニウム固体(導電性高分子)電解コンデ

ンサ  評価水準 EZ(予定)


C 5101-4

:2010 (IEC 60384-4:2007)  目次

(6)

白      紙


日本工業規格

JIS

 C

5101-4

:2010

(IEC 60384-4

:2007

)

電子機器用固定コンデンサ−第 4 部:

品種別通則:アルミニウム固体 (MnO

2

)

及び

非固体電解コンデンサ

Fixed capacitors for use in electronic equipment

−Part 4: Sectional

specification

−Aluminium electrolytic capacitors with solid (MnO

2

)

and non-solid electrolyte

序文

この規格は,2007 年に第 4 版として発行された IEC 60384-4 を基に,技術的内容及び対応国際規格の構

成を変更することなく作成した日本工業規格である。

なお,この規格で点線の下線を施してある参考事項は,対応国際規格にはない事項である。

1

一般事項

1.1

適用範囲

この規格は,JIS C 5101-1 を品目別通則とする品種別通則で,主に電子機器用の直流回路に用いるアル

ミニウム固体 (MnO

2

)  及び非固体電解コンデンサ(以下,コンデンサという。)について規定する。

この規格は,長寿命等級及び一般等級の両方のコンデンサに適用する。

この規格は,表面実装用アルミニウム固体 (MnO

2

)  及び表面実装用非固体電解コンデンサには適用しな

い。これらの規定は,JIS C 5101-18 による。

特殊な用途のコンデンサの場合には,この規格に規定する事項のほか,その用途で求める要求性能を追

加してもよい。

注記  この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。

IEC 60384-4:2007,Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 4: Sectional specification−

Aluminium electrolytic capacitors with solid (MnO

2

) and non-solid electrolyte (IDT)

なお,対応の程度を表す記号 (IDT) は,ISO/IEC Guide 21-1 に基づき,一致していることを

示す。

1.2

目的

この規格の目的は,推奨する定格及び特性を規定するとともに,JIS C 5101-1 から適切な品質評価手順,

試験方法及び測定方法を選定し,一般的要求性能を規定する。この品種別通則に基づいた個別規格に規定

する個々の試験の厳しさ及び要求性能は,この規格と同等又は高い水準とする。

1.3

引用規格

次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの

引用規格のうちで,西暦年を付記してあるものは,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追補を含む。


2

C 5101-4

:2010 (IEC 60384-4:2007)

は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は,その最新版(追補を含む。

)を適用する。

JIS C 0025:1988  環境試験方法(電気・電子)温度変化試験方法

JIS C 5063  抵抗器及びコンデンサの標準数列

注記  対応国際規格:IEC 60063:1963,Preferred number series for resistors and capacitors 及び

Amendment 1:1967 並びに Amendment 2:1977 (IDT)

JIS C 5101-1:2010  電子機器用固定コンデンサ−第 1 部:品目別通則

注記  対応国際規格:IEC 60384-1:2008,Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 1:

Generic specification (IDT)

JIS C 60068-1:1993  環境試験方法−電気・電子−通則

注記  対応国際規格:IEC 60068-1:1988,Environmental testing−Part 1: General and guidance 及び

Amendment 1:1992 (IDT)

JIS C 60068-2-17:2001  環境試験方法−電気・電子−封止(気密性)試験方法

注記  対応国際規格:IEC 60068-2-17:1994,Basic environmental testing procedures−Part 2: Tests−Test

Q: Sealing (IDT)

JIS C 60068-2-54  環境試験方法−電気・電子−はんだ付け性試験方法(平衡法)

注記  対応国際規格:IEC 60068-2-54,Environmental testing−Part 2-54: Tests−Test Ta: Solderability

testing of electronic components by the wetting balance method(MOD)

JIS Z 8601  標準数

注記  対応国際規格:ISO 3:1973,Preferred numbers−Series of preferred numbers (MOD)

JIS Z 9015-1  計数値検査に対する抜取検査手順−第 1 部:ロットごとの検査に対する AQL 指標型抜取

検査方式

1.4

個別規格に規定する事項

個別規格は,関連するブランク個別規格の様式による。

個別規格は,品目別通則,品種別通則又はブランク個別規格の要求性能と同等又は高い水準とする。よ

り厳しい要求性能を規定する場合は,その内容を個別規格の 1.9 に記載し,更に,試験計画の中に,例え

ば,アステリスク (*) を付けて明示する。

各個別規格に次の事項を規定し,引用する値は,この規格の該当する項目の中から選定する。

1.4.1

外形図及び寸法

外形図及び寸法は,その他のコンデンサとの比較及び区分が容易にできるように図示する。コンデンサ

の互換性及び取付けに影響する寸法及び寸法許容差は,個別規格に規定する。また,すべての寸法値は,

ミリメートル (mm) で規定する。

注記  寸法及び寸法許容差は,一覧表で示してもよい。

寸法は,本体の長さ,幅及び高さ並びに端子の幅,長さ及び端子間隔とする。本体が円筒形で,かつ,

リード線端子のコンデンサの場合は,本体の直径及び長さ並びに端子の直径,長さ及び端子間隔を規定す

る。

注記  端子がラグ端子,ねじ端子の場合は,本体の直径及び長さに加え,次の事項を規定する。

ラグ端子:端子板の幅,厚さ及び長さ,並びに端子位置及び端子間隔

ねじ端子:ねじの呼び,呼び長さ及びねじ部長さ,並びに端子位置及び端子間隔

“公称静電容量と定格電圧”による幾つか(複数)の組合せを個別規格に規定する場合は,各々の寸法

及び寸法許容差を図面の下に表で示す。


3

C 5101-4

:2010 (IEC 60384-4:2007)

形状が上記のコンデンサと異なる場合は,個別規格にそのコンデンサを適切に示す寸法を規定する。コ

ンデンサをプリント配線板用に設計していない場合は,個別規格の中にそのことを明記する。

1.4.2

取付け

個別規格には,通常使用する場合並びに振動及びバンプ又は衝撃の各試験を行う場合の取付方法を規定

する。コンデンサは,その規定した方法で取り付ける。コンデンサの設計上特別な取付具を必要とする場

合には,個別規格にその取付具を規定し,振動及びバンプ又は衝撃の各試験には,この取付具を使用する。

1.4.3

定格及び特性

定格及び特性は,この規格の関連項目によるほか,次による。

1.4.3.1

公称静電容量範囲

公称静電容量の範囲は,2.2.1 による。

注記  IEC 電子部品品質認証制度  (IECQ)  の場合は,個別規格の公称静電容量範囲と認証を受けた範

囲とが異なるとき,次の文章を追加する。

“各定格電圧での公称静電容量の範囲は,品質認証書  (Qualification approval certificate)  によ

る。

1.4.3.2

特殊な特性

設計及び使用目的によって,特殊な特性が必要な場合は,その規定項目を追加してもよい。

1.4.3.3

はんだ付け

はんだ付け性及びはんだ耐熱性試験で適用する試験方法,厳しさ及び要求性能は,個別規格の規定によ

る。

1.4.4

表示

コンデンサ及びその包装に対する表示項目を個別規格に規定する。1.6 と異なる場合は,その項目を個別

規格に明記する。

1.5

用語及び定義

この規格で用いる主な用語及び定義は,JIS C 5101-1 によるほか,次による。

1.5.1

電解コンデンサの静電容量  (capacitance of an electrolytic capacitors)

規定する測定周波数の近似的な正弦波交流を用いて測定した静電容量値及び抵抗値によって,等価直列

回路を構成した場合の静電容量。

1.5.2

長寿命等級コンデンサ  (long-life grade capacitors)

一般等級コンデンサよりも長期間にわたって特性が高安定であることが必要なコンデンサ。優れた性能

が長期間にわたって得られるように材料を選定し,製造する。

1.5.3

一般等級コンデンサ  (general-purpose grade capacitors)

一般に広く用いるコンデンサで長寿命等級コンデンサのような高い性能水準を必要としないコンデンサ。

1.5.4

逆電圧  (reverse voltage)

逆方向の極性でコンデンサの端子に印加する電圧。有極性コンデンサだけに適用する。

1.6

表示

表示は,JIS C 5101-1 の 2.4 によるほか,次による。


4

C 5101-4

:2010 (IEC 60384-4:2007)

1.6.1

コンデンサ本体及び包装への表示

コンデンサ本体及び包装への表示は,次の項目から選定する。その表示の優先順位は,記載の順による。

a)  公称静電容量

b)  定格電圧(直流電圧を表す記号 d.c.は,記号    又は    で表してもよい。)

c)  カテゴリ電圧及びカテゴリ温度(長寿命等級コンデンサに適用)

d)  端子の極性:多素子のコンデンサは,各端子の公称静電容量及び定格電圧が明りょうに区分できるよ

うにする。また,整流器(電源回路の)に直接接続するコンデンサの端子は,番号 1 又は赤色で表示

する。

e)  公称静電容量許容差

f)  等級(長寿命等級コンデンサに適用)表示記号として“LL”を用いてもよい。

g)  製造年月(又は年週)

h)  製造業者名又は商標(略号を含む。)

i)

耐候性カテゴリ

j)  製造業者の形名

k)  引用個別規格

1.6.2

コンデンサ本体への表示

コンデンサ本体へは,1.6.1 の a)  ∼f)及び必要と思われる残りの事項をできる限り多く明りょうに表示す

る。また,コンデンサ本体への表示項目は,重複を避けることが望ましい。

1.6.3

コンデンサの包装への表示

コンデンサの包装への表示は,1.6.1 のすべての項目を明りょうに表示する。極性は,包装形態によって

表示ができる場合を除き,表示しない。

1.6.4

表示の追加

1.6.1 に規定する以外の表示項目を追加する場合は,混乱しないようにする。

2

推奨特性及び定格

2.1

推奨特性

個別規格に規定する特性は,次の中から選定することが望ましい。

2.1.1

推奨耐候性カテゴリ

この規格に規定するコンデンサの耐候性カテゴリは,JIS C 60068-1 の 8.によって分類する。

カテゴリ下限温度,カテゴリ上限温度及び高温高湿(定常)の試験期間は,次の中から選定する。

カテゴリ下限温度:  −55  ℃,−40  ℃,−25  ℃及び−10  ℃

カテゴリ上限温度:  +85  ℃,+100  ℃,+105  ℃及び+125  ℃

高温高湿(定常)の試験期間:10 日,21 日及び 56 日

注記  高温高湿(定常)の試験条件は,温度 40  ℃,相対湿度 90 %∼95 %である。

低温及び高温の試験温度は,カテゴリ下限温度及びカテゴリ上限温度とする。

2.2

推奨定格値

2.2.1

公称静電容量  (C

N

)

公称静電容量は,JIS C 5063 に規定する E3 の標準数列(1.0,2.2 及び 4.7)及びそれらの 10

n

倍(×10

n

n

は整数)から選定する。

その他の値が必要な場合は,E6 の標準数列(1.0,1.5,2.2,3.3,4.7 及び 6.8)及びそれらの 10

n

倍(×


5

C 5101-4

:2010 (IEC 60384-4:2007)

10

n

は整数)から選定する。

2.2.2

公称静電容量許容差

公称静電容量許容差は,次の中から選定する。

±10 %            −10 %∼+75 %      −10 %∼+20 %

−10 %∼+30 %    −10 %∼+100 %

−10 %∼+50 %    ±20 %

注記  −10 %∼+20 %は,エレクトロニックフラッシュ用に用いているため,追加した。

2.2.3

定格電圧  (U

R

)

定格電圧は,

JIS Z 8601 に規定する次の R5 の標準数列及び R10 の標準数列を用いることが望ましいが,

一部の定格電圧に R20 の標準数列を用いてもよい。定格電圧は,次による。

定格電圧 250 V 未満

R5 標準数列のもの:2.5 V,4.0 V,6.3 V,10 V,16 V,25 V,40 V,63 V,100 V 及び 160 V

R10 標準数列のもの:50 V,80 V 及び 200 V

R20 標準数列のもの:35 V

定格電圧 250 V 以上

R5 標準数列のもの:250 V 及び 400 V

R10 標準数列のもの:315 V 及び 500 V

R20 標準数列のもの:350 V 及び 450 V

2.2.4

カテゴリ電圧  (U

C

)

カテゴリ電圧は,定格電圧と等しい。ただし,異なる場合は,個別規格に規定する。

2.2.5

リプル電圧

直流電圧に交流電圧を重畳する場合には,直流電圧と交流電圧との和のピーク値は,定格電圧以下とす

る。また,定格リプル電流(2.2.8 参照)による逆電圧は,許容逆電圧(個別規格の規定値)以下とする。

2.2.6

逆電圧

許容する逆電圧は,個別規格の規定による。

2.2.7

サージ電圧

サージ電圧は,定格電圧又はカテゴリ電圧が 315 V 以下のコンデンサの場合には,その値の 1.15 倍の電

圧,

定格電圧又はカテゴリ電圧が 315 V を超えるコンデンサの場合には,

その値の 1.10 倍の電圧とする

4.14

参照)

2.2.8

定格リプル電流

カテゴリ上限温度での 100 Hz 又は 120 Hz  の定格リプル電流は,個別規格に規定する。ただし,スイッ

チング電源用コンデンサの定格リプル電流は,適用する周波数での値とする。

注記  この定格リプル電流値は,コンデンサの外形寸法及びその他の性能,例えば,損失角の正接,

許容温度上昇値などに関係する(2.2.5 参照)

3

品質評価手順

3.1

製造の初期工程

製造の初期工程は,固体電解コンデンサの場合は,酸化皮膜の化成工程とし,非固体電解コンデンサの

場合は,酸化皮膜の化成済はくの検査工程とする。


6

C 5101-4

:2010 (IEC 60384-4:2007)

3.2

構造的に類似なコンデンサ

構造的に類似なコンデンサとは,外形寸法及び定格値が異なっていても,本質的に同じ製造工程及び材

料で製造した範囲のコンデンサとする。

3.3

出荷対象ロットの成績証明書

個別規格に規定がある場合で,かつ,購入者から要求がある場合は,JIS C 5101-1 の Q.9 によって,出

荷者が,出荷対象ロットの成績証明書を購入者に提出する。耐久性試験後に要求する性能値は,静電容量

値の変化,損失角の正接 (tan δ)  及び漏れ電流とする。

3.4

品質認証の試験

品質認証試験の手順は,JIS C 5101-1 の Q.5 による。

ロットごと及び定期的品質検査に基づく品質認証試験の試験計画は,3.5 による。定数抜取手順は,3.4.1

及び 3.4.2 による。

3.4.1

定数抜取に基づく品質認証

品質認証の定数抜取手順は,JIS C 5101-1 の Q.5.3 による。試料は,認証を得ようとするコンデンサの

すべての範囲を代表し,個別規格に規定するすべての範囲であっても,又はその一部でもよい。

抜取試料は,定格電圧の最高及び最低と外形寸法の最大及び最小とによる 4 組合せを選定する。

なお,定格電圧の範囲が 200 V を超える場合の試料は,中間の定格電圧で外形寸法の最大及び最小とに

よる 2 組合せを加えた 6 組合せとする。また,同じ電圧で同じ外形寸法に二つ以上の公称静電容量のもの

がある場合の試料は,最大の公称静電容量の組合せを選定する。3 組合せ以下の場合の試料数は,4 組合せ

と同じ試料数とする。

予備の試料は,製造業者の責任でない事故による不適合品の置き換え用として 1 組合せごとに 2 個(6

組合せの場合)又は 3 個(4 組合せの場合)とする。

群 に規定する試料数は,すべての群の試験を適用する場合の試料数であり,すべての試験を適用しな

い場合は,適用しない試験に応じて試料数を減らしてもよい。

品質認証の試験計画に,群を追加する場合の

群 の試料数は,追加する群に必要な試料数を追加する。

表 に品質認証試験の場合の各群及び各副群の試料数並びに合格判定個数を示す。

3.4.2

試験

表 及び表 に規定する一連の試験計画は,個別規格に規定するコンデンサの品質認証にとって必要な

試験であり,各群の試験は,記載の順序に従って行う。

すべての試料は,

群 の試験を行った後,その他の群に分割する。群 で発生した不適合品は,その他

の群に用いない。不適合数が 0 個の場合,品質認証は合格とする。

注記  表 及び表 は,定数抜取手順に基づく品質認証の試験計画を構成する。表 は,各試験又は

各試験群に対する試料数及び合格判定数の詳細を規定している。一方,

表 は,箇条 の試験

の詳細を規定しており,また,試験条件及び要求性能の要点の一覧を示すとともに個別規格に

選定する試験方法,試験条件などを規定している。

定数抜取手順に基づく品質認証の試験計画の試験条件及び要求性能は,個別規格に規定する

品質確認検査と同じであることが望ましい。


7

C 5101-4

:2010 (IEC 60384-4:2007)

表 1−品質認証試験の抜取計画及び合格判定数(許容不適合数)−評価水準 EZ

試験項目

この規格の細分箇条番号

試料数

n

h)

合格判定数

(許容不適合数)

大電流サージ

a)

外観

寸法 
漏れ電流 
静電容量

損失角の正接 (tan δ)  又は等価直列
抵抗 (ESR) 
 
インピーダンス

b)

4.21

4.2 
4.2

4.3.1 
4.3.2 
4.3.3

 

4.3.4 

108+12

i)

+12

j)

予備試料

12

0

1A 

端子強度 
はんだ耐熱性

c)

4.4 
4.5

12 0

1B 

はんだ付け性

c)

温度急変 
振動

バンプ又は衝撃

d)

4.6 
4.7 
4.8

4.9 又は 4.10

12 0

一連耐候性

4.11 

24 0

高温高湿(定常)

4.12 

12 0

耐久性

4.13 

36 0

4A 

サージ

4.14 

12 0

4B 

逆電圧

b)

圧力弁

e)

4.15 
4.16 

12

i)

 0

5A 

高温保存

過渡過電圧

f)

4.17 
4.22 

12 0

5B 

低温保存

g)

4.18 

12

j)

 0

高温及び低温特性 
充放電

b)

4.19 
4.20 

12 0

a)

  固体電解コンデンサで,かつ,個別規格に規定がある場合に適用する。

b)

  個別規格に規定がある場合に適用する。

c)

  ねじ端子及びはんだ付けを意図していないことを個別規格に規定した端子をもったコンデンサには適用し

ない。

d)

  いずれの試験を適用するかを個別規格に規定する。

e)

  非固体電解コンデンサで,かつ,圧力弁が付いているコンデンサに適用する。

f)

  非固体電解コンデンサで,かつ,個別規格に規定がある場合に適用する。

g)

  非固体電解コンデンサで,かつ,カテゴリ下限温度が,−10  ℃及び−25  ℃のコンデンサに適用する。

h)

  外形寸法と定格電圧との組合せは,3.4.1 を参照する。

i)

  副群 4B の試験がある場合の追加の試料。

j)

  副群 5B の試験がある場合の追加の試料。


8

C 5101-4

:2010 (IEC 60384-4:2007)

表 2−品質認証試験計画

細分箇条番号

及び試験項目

a)

D

又は

ND

 b)

試験条件

a)

試料数

(n)  及び

合格判定

数  (c)

要求性能

a)

群 0 
4.21  大電流サージ

c)

ND

表 に 
よる。

 

4.2  外観 
 

 
 

外観の損傷なし。 
表示は,明りょうであり,個別

規格の規定による。

4.2  寸法(詳細) 
4.3.1  漏れ電流 
4.3.2  静電容量 
4.3.3  損失角の正接 (tan

δ)  又 は 等 価 直 列 抵 抗 
(ESR)

4.3.4  インピーダンス

d)

 
保護抵抗:… Ω

周波数:… Hz 
周波数:… Hz 
 
 
周波数:… Hz

個別規格の規定による。 
4.3.1.2 による。 
許容差内 
4.3.3.2 による。 
 
 
個別規格の規定値以下

群 1A 
4.4.1  初期測定 
4.4  端子強度 
 
 
4.5  はんだ耐熱性

e)

 
 
4.5.2  最終測定

d)

D

静電容量 
個別規格に規定する支持方法及び

厳しさ

外観 
予備乾燥なし。 
試験方法は,個別規格の規定によ

る。

1A 又は 1B

外観 
 
静電容量 

表 に 
よる。

 
 
 
 
外観に損傷がない。 
 
 
 
外観に損傷がない。 
表示は,明りょうとする。 
4.4.1 の測定値に対して 
  |ΔC/C|≦5 %

副群 1B 
4.6  はんだ付け性

e)

 
 
4.7  温度急変 
 
 
 
 
4.7.1  初期測定 
4.7.3  最終測定 
 

D

試験方法は,個別規格による。 
 
 
T

A

:カテゴリ下限温度

T

B

:カテゴリ上限温度

5 回 
試験時間 t

1

=…min

後処理時間:16 h 以上

静電容量 
固体電解:

外観

漏れ電流 
損失角の正接

インピーダンス

d)

非固体電解: 
外観 

表 に 
よる。

 
端子にはんだが良好に付着し

ているか又は関連する個別

規格の規定値を満足する。

 
 
 
 
 
 
 
外観の損傷がない。 
4.3.1 による。 
4.3.3 による。 
個別規格の規定値による。 
 
電解液の漏れがない

f)

又はその

他の外観損傷がない。


9

C 5101-4

:2010 (IEC 60384-4:2007)

表 2−品質認証試験計画(続き)

細分箇条番号

及び試験項目

a)

D

又は

ND

 b)

試験条件

a)

試料数

(n)  及び

合格判定

数  (c)

要求性能

a)

4.8  振動 
 

D

個別規格に規定した方法で取り付

ける。

周波数範囲:… Hz∼… Hz 
振幅:…mm 又は加速度… m/s

2

(いずれか小さい方) 
総試験時間:… h

表 に 
よる。 

4.8.2  最終測定 
 
 
 
 
 
4.9  バンプ(又は 4.10 

衝撃)

g)

 
 
 
4.10  衝撃(又は 4.9 のバ

ンプ)

g)

 
 
4.9.2 又は 4.10.2  最終測

外観 
 
 
 
静電容量 
 
個別規格に規定した方法で取り付

ける。

バンプ回数:…回 
ピーク加速度:400 m/s

2

作用時間:6 ms 
個別規格に規定した方法で取り付

ける。

ピーク加速度:… m/s

2

作用時間:… ms 
外観 
 
 
 
静電容量 

外観に損傷がなく,表示は,明

りょうとする。非固体電解コ
ンデンサの場合は,電解液の
漏れがない。

f)

4.7.1 の測定値に対して 
  |ΔC/C|≦5 % 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
外観に損傷がなく,表示は,明

りょうとする。非固体電解コ
ンデンサの場合は,電解液の
漏れがない。

f)

個別規格に規定がない場合に

は 4.7.1 の測定値に対して

  |ΔC/C|≦5 %

群 1 
4.11  一連耐候性 
4.11.1  高温 
 
4.11.2   温 湿 度 サ イ ク ル

(試験 Db),最初のサ

イクル

4.11.3  低温 
 
4.11.4  減圧

d)

4.11.4.3  要求性能 
 
4.11.5   温 湿 度 サ イ ク ル

(試験 Db),残りのサ
イクル

4.11.6  封止

d) 

D

 
温度:カテゴリ上限温度

試験時間:16 h 
 
 
 
温度:カテゴリ下限温度 
試験時間:2 h

圧力:8 kPa 
外観 
 
 
 
 
方法:…

表 に 
よる。 

 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
絶縁破壊,フラッシオーバ又は

ケースの有害な変形がない。

 


10

C 5101-4

:2010 (IEC 60384-4:2007)

表 2−品質認証試験計画(続き)

細分箇条番号

及び試験項目

a)

D

又は

ND

 b)

試験条件

a)

試料数

(n)  及び

合格判定

数  (c)

要求性能

a)

4.11.7  最終測定 
 

D

外観 
 
 
漏れ電流

表 に 
よる。 

外観に損傷がなく,表示は,明りょ

うとする。非固体電解コンデンサ
の場合は,電解液の漏れがない。

f)

4.3.1 による。

静電容量 
 
 
 
 
 
損失角の正接

固体電解:

長寿命等級:|ΔC/C|≦5 % 
一般等級:|ΔC/C|≦10 %

非固体電解:

4.5.24.9.2 又は 4.10.2 の測定値に

対して|ΔC/C|≦10 %

4.3.3 の規定値の 1.2 倍以下

群 2 
4.12  高温高湿(定常) 
4.12.1  初期測定 
4.12.2  最終測定

D

 
静電容量 
外観 
 
 
漏れ電流 
静電容量 
 
 
 
 
 

表 に 
よる。 

 
 
 
外観に損傷がなく,表示は,明りょ

うとする。非固体電解コンデンサ

の場合は,電解液の漏れがない。

f)

4.3.1 による。 
4.12.1 の測定値に対して 
固体電解:

長寿命等級:|ΔC/C|≦5 % 
一般等級:|ΔC/C|≦10 %

非固体電解:

長寿命等級:|ΔC/C|≦10 % 
一般等級:|ΔC/C|≦20 %

損失角の正接 
インピーダンス

d)

外部絶縁の絶縁抵抗

h)

外部絶縁の耐電圧

h)

 4.3.3 の規定値の 1.2 倍以下

4.3.4 の規定値の 1.2 倍以下 
≧100 MΩ 
絶縁破壊及びフラッ シオーバがな

い。

群 3 
4.13  耐久性 
 
 
 
 
 
4.13.1  初期測定 
4.13.3  最終測定 

D

 

 
試験時間 
長寿命等級:… h

一般等級:… h 
温度:カテゴリ上限温度 
印加電圧:… V

後処理時間:16 h 以上 
静電容量 
固体電解:

外観 
 
漏れ電流

静電容量 

表 に 
よる。 

 
個別規格の規定による。 
 
 
 
 
 
 
 
外観に損傷がなく,表示は,明りょ

うとする。

4.3.1 の規定値による。 
4.13.1 の測定値に対して 
  |ΔC/C|≦10 %


11

C 5101-4

:2010 (IEC 60384-4:2007)

表 2−品質認証試験計画(続き)

細分箇条番号

及び試験項目

a)

D

又は

ND

 b)

試験条件

a)

試料数

(n)  及び

合格判定

数  (c)

要求性能

a)

群 3 
4.13.3  最終測定 
(続き)

D

損失角の正接

インピーダンス

d)

外部絶縁の絶縁抵抗

h)

外部絶縁の耐電圧

h)

表 に 
よる。 

4.3.3 の規定値の 1.2 倍以下 
4.3.4 の規定値の 1.2 倍以下 
≧100 MΩ 
絶縁破壊及びフラッシオーバがな

い。

 

非固体電解: 
外観 
 
 
 
漏れ電流 
静電容量 

 
外観に損傷がなく,表示は,明りょ

うとする。

非固体電解コンデンサの場合は,電

解液の漏れがない。

f)

4.3.1 の規定値による。 
4.13.1 の測定値に対して 
長寿命等級:

定格電圧

V

C/C|

%

    U

R

≦6.3

6.3<U

R

≦160

160<U

R

−30∼+15

±20 
±15

一般等級:

定格電圧

V

C/C|

%

      U

R

≦6.3

6.3<U

R

≦160

160<U

R

−40∼+25

±30

  ±20

 i)

損失角の正接 
 
 
 
 
インピーダンス

d)

 
 
 
外部絶縁の絶縁抵抗

h)

外部絶縁の耐電圧

h)

長寿命等級: 
  4.3.3 の規定値の 1.5 倍以下

一般等級: 
  4.3.3 の規定値の 2 倍以下又は 0.4

のうちいずれか小さい方

長寿命等級: 
  個別規格の規定値の 2 倍以下 
一般等級:

  個別規格の規定値の 4 倍以下 
≧100 MΩ 
絶縁破壊及びフラッシオーバがな

い。

副群 4A 
4.14  サージ 
 

D

印加回数:1 000 回

温度:…  ℃ 
充電電圧:

U

R

≦315 V の場合;

  1.15U

R

又は 1.15U

C

315 V<U

R

の場合;

  1.10U

R

又は 1.10U

C

充電時間:30 s 
放置時間:5 min 30 s

表 に 
よる。 

 


12

C 5101-4

:2010 (IEC 60384-4:2007)

表 2−品質認証試験計画(続き)

細分箇条番号

及び試験項目

a)

D

又は

ND

 b)

試験条件

a)

試料数

(n)  及び

合格判定

数  (c)

要求性能

a)

4.14.1  初期測定 
4.14.3  最終測定 
 

D

静電容量

外観(適用する場合)

j)

 
漏れ電流

静電容量 
 
 
 
 
 
損失角の正接

表 に 
よる。 

 
外観に損傷がなく,電解液の漏れ
がない。

f)

4.3.1 の規定値による。 
4.14.1 の測定値に対して 
固体電解:

長寿命等級:|ΔC/C|≦5 %

一般等級:|ΔC/C|≦10 %

非固体電解:

C/C|≦15 %

4.3.3 の規定値以下 

群 4B 
4.15  逆電圧

d)

D

カ テ ゴ リ 上 限 温 度 で 次 の 電 圧 を

125 h 印加する。

a)  固体電解:0.15U

C

の逆電圧

b)  非固体電解:個別規格に規定が

ない場合,1 V の逆電圧 
上記の逆電圧印加に続いて,カ
テゴリ上限温度で,極性の正方

向に定格電圧を 125 h 印加す
る。

表 に 
よる。 

4.15.1  初期測定 
4.15.3  最終測定 
 
 
 
 
 
 
4.16  圧力弁(適用する場
合)

k)

静電容量 
漏れ電流 
静電容量 
 
 
 
 
損失角の正接 
試験方法:…

 
4.3.1 による。 
4.15.1 の測定値に対して 
固体電解: 
  |ΔC/C|≦10 % 
非固体電解:

  個別規格の規定による。 
4.3.3 による。 
圧力弁は,爆発又は発火の危険な

しに作動する。

群 5A 
4.17  高温保存 
 
 
4.17.1  初期測定 
4.17.3  最終測定 
 

D

l)

 

 
温度:カテゴリ上限温度

時間:96 h±4 h 
後処理時間:16 h 以上 
静電容量

外観 
 
 
漏れ電流 
 
 
静電容量 

表 に 
よる。 

 
 
 
 
 
外観に損傷がなく,非固体電解コ

ンデンサの場合は,電解液の漏
れがない。

f)

固体電解:4.3.1 による。 
非固体電解:4.3.1 の規定値の 2

倍以下

4.17.1 の測定値に対して

固体電解:|ΔC/C|≦5 % 
非固体電解:|ΔC/C|≦10 %


13

C 5101-4

:2010 (IEC 60384-4:2007)

表 2−品質認証試験計画(続き)

細分箇条番号

及び試験項目

a)

D

又は

ND

 b)

試験条件

a)

試料数

(n)  及び

合格判定

数  (c)

要求性能

a)

群 5A 
4.17.3  最終測定 
(続き)

D

l)

 
損失角の正接

表 に 
よる。 

 
固体電解:4.3.3 による。 
非固体電解:4.3.3 の規定値の
1.2 倍以下

4.22  過渡過電圧

m)

 
4.22.1  初期測定 
4.22.2  最終測定 
 

個 別 規 格 の 規 定 に よ っ て JIS C 

5101-1 の 4.40 を規定する。

静電容量

外観 
漏れ電流 
静電容量

損失角の正接 
その他の項目

 
 
 
個別規格の規定による。 
個別規格の規定による。 
個別規格の規定による。

個別規格の規定による。 
個別規格の規定による。

副群 5B 

n)

4.18  低温保存(適用する

場合)

 
 
4.18.1  初期測定 
4.18.2  最終測定 
 

ND 

 
時間:16 h 又は熱平衡に到達後 4 h

(いずれか短い方)

温度:−40  ℃

後処理時間:16 h 以上 
静電容量 
外観 
 
 
 
漏れ電流 
静電容量 
 
損失角の正接

表 に 
よる。 

 
 
 
 
 
 
外観に損傷がなく,表示は,明

りょうとする。非固体電解コ
ンデンサの場合は,電解液の
漏れがない。

f)

4.3.1 による。 
4.18.1 の測定値に対して 
  |ΔC/C|≦10 % 
4.3.3 による。

群 6 
4.19  高温及び低温特性

D

コンデンサは,各段階で測定する。
固体電解: 
段階 1:20  ℃

表 に 
よる。 

静電容量

d)

インピーダンス(段階 2 と同じ

測定周波数)

d)

損失角の正接

d)

段階 2:カテゴリ下限温度

静電容量

e)

 
インピーダンス

d)

 
損失角の正接

d)

比較用の値に用いる。 
比較用の値に用いる。 
 
 
 
段階 の測定値に対して 
  |ΔC/C|≦20 % 
段階 の測定値に対する比 
  2 倍以下 
4.3.3 の規定値に対して 2 倍以下


14

C 5101-4

:2010 (IEC 60384-4:2007)

表 2−品質認証試験計画(続き)

細分箇条番号

及び試験項目

a)

D

又は

ND

 b)

試験条件

a)

試料数

(n)  及び

合格判定

数  (c)

要求性能

a)

群 6 
4.19  高温及び低温特性 
(続き) 

D

 
段階 3:カテゴリ上限温度 
  漏れ電流 
 
 
 
 
  静電容量

d)

 
  損失角の正接

d)

非固体電解: 
段階 1:20  ℃

静電容量

d)

損失角の正接

  d)

インピーダンス(段階 2 と同じ

測定周波数)

d)

段階 2:カテゴリ下限温度 
  インピーダンス

d)

表 に 
よる。 

 
 
4.3.1 の規定値に対して

125  ℃  (U

R

):≦15 倍

125  ℃  (U

C

):≦8 倍

105  ℃  (U

R

):≦12.5 倍

 85 ℃  (U

R

):≦10 倍

段階 の測定値に対して 
  |ΔC/C|≦20 % 
4.3.3 による。 
 
 
比較用の値に用いる。 
 
比較用の値に用いる。 
 
 
段階 の測定値に対する比

定格電圧

V

インピー

ダンス比

      U

R

≦6.3

6.3<U

R

≦16

16<U

R

≦160

160<U

R

≦10 
≦8

≦6 
≦10

 
 
 
 
 
 
 
 
4.20  充放電

d)

 
 
 
 
4.20.1  初期測定 
4.20.3  最終測定 

段階 3:カテゴリ上限温度

漏れ電流 
 
 
 
 
静電容量

d)

損失角の正接

d)

温度:20  ℃ 
サイクル数:U

R

≦160 V:10

6

            160 V<U

R

:検討中

充電時間:0.5 s 
放電時間:0.5 s

静電容量 
外観 
 
 
静電容量 

 
4.3.1 の規定値に対して

125  ℃:≦10 倍 
105  ℃:≦8 倍 
100  ℃:≦8 倍 
 85 ℃:≦5 倍

個別規格の規定による。

個別規格の規定による。 
 
 
 
 
 
 
外観に損傷がなく,非固体電解

コンデンサの場合は,電解液

の漏れがない。

f)

4.20.1 の測定値に対して 
  固体電解:|ΔC/C|≦5 %

  非固体電解:|ΔC/C|≦10 %


15

C 5101-4

:2010 (IEC 60384-4:2007)

表 2−品質認証試験計画(続き)

a)

  箇条 による。

b)

  この表で,D は破壊試験であり,ND は非破壊試験である。

c)

  固体電解コンデンサで,かつ,個別規格に規定がある場合に適用する。

d)

  個別規格に規定がある場合に適用する。

e)

  ねじ端子又は個別規格にはんだ付けを意図しないことを規定した端子をもつコンデンサの場合に適用する。

f)

  コンデンサに回復形の圧力弁が取り付いていることを明記している場合には,圧力弁の意図した動作のこん跡

(例えば,わずかな着色,着色していないわずかな漏れなど)は,電解液の漏れ及び/又は外観異常とは扱わ
ない。しかし,漏れは,許されない。

g)

  個別規格に,バンプ又は衝撃試験のうち,いずれの試験を適用するかを規定する。

h)

  絶縁形コンデンサに適用する。

i)

  明らかな対応国際規格の間違いのため修正。次回の IEC のメンテナンス時に修正提案を行う。

j)

  非固体電解コンデンサに適用する。

k)

  非固体電解コンデンサで,かつ,圧力弁が付いているコンデンサに適用する。

l)

  過渡過電圧試験を適用しない場合は ND になる。

m)

  非固体電解コンデンサで,かつ,個別規格に規定がある場合に適用する。

n)

  副群 5B は,非固体電解コンデンサで,かつ,カテゴリ下限温度が−10  ℃及び−25  ℃のコンデンサに適用する。

3.5

品質確認検査

3.5.1

検査ロットの構成

a)  群 及び群 検査  この検査は,ロットごとに行う。

製造業者は,次の条件で,コンデンサをまとめて検査ロットとしてもよい。

1)  検査ロットは,構造的に類似なコンデンサで構成する(3.2 参照)。

2a)  試験する試料は,検査ロットの中で定格値(定格電圧及び公称静電容量)と外形寸法とによる組合

せを代表とし,次の事項を考慮する。

−  試料数

−  1 組合せ当たり 5 個以上

2b)  IEC 電子部品品質認証制度  (IECQ)  の場合は,1 組合せ当たり抜取数が 4 個以下のとき,製造業者

は,国内監督検査機関の承認が必要となる。

b)  群 検査  この検査は,定期的に行う。

試料は,規定する期間に製造工程に流れているコンデンサを代表とし,かつ,定格電圧の高,中及び低

電圧,又は外形寸法で分類したコンデンサを選定する。どの期間でも認証の範囲を対象とするために,

定格電圧の高,中及び低電圧群ごとに一つの外形寸法のものを試験する。

その後の期間では,製造のすべての範囲を対象とするために,その他の定格電圧及び外形寸法の試料

を試験する。

3.5.2

品質確認検査の試験計画

ロットごと及び定期的品質確認検査の試験計画は,ブランク個別規格で規定する。

3.5.3

長期保管後の出荷

JIS C 5101-1 の Q.10 の規定によって,はんだ付け性及び静電容量について群 及び群 の再検査を行

う。

3.5.4

評価水準

ブランク個別規格に規定する評価水準は,

表 及び表 から選定することが望ましい。


16

C 5101-4

:2010 (IEC 60384-4:2007)

表 3−ロットごとの品質検査

DZ

b)

 EZ FZ

b)

 GZ

b)

検査副群

a)

IL

c)

n

c)

c

 c)

 IL

c)

n

c)

c

 c)

 IL

c)

n

c)

c

 c)

 IL

c)

n

c)

c

 c)

100 %

d)

A0 
A1 
A2 
B1 
B2

 

 

 

S-3 
S-3 
S-3 
S-3

e)

e)

e)

e)




0

 

 

 

 

 

 

a)

  検査副群は,関連するブランク個別規格の箇条 による。

b)

  評価水準 DZ,FZ 及び GZ は,検討中。

c)

 IL=検査水準,n=試料数,c=合格判定数(許容不適合数)

d)

  この検査は,工程でロット内の全数から不適合品を取り除いた後に行う抜取試料による検査である。抜取水準

は部品製造業者が設定する。検査ロットの合否にかかわらず,ppm で示す出荷品質水準を監視するために抜取

試料をすべて検査する。

抜取試料中に 1 個以上の不適合品を発見した場合には,このロットは不合格とするが,不適合品は,品質水

準を算出するためにすべてを数える。ppm で示す出荷品質水準は累積した検査データによって算出する。

e)

  試料数  (n)  は,JIS Z 9015-1 に規定する付表 の検査水準 (IL) とロットサイズとで割り当てるサンプル文字

に従い,

付表 2-A のサンプル文字に対応する試料数とする。

表 4−定期的な品質検査

DZ

b)

 EZ FZ

b)

 GZ

b)

検査副群

a)

p

c)

n

c)

c

c)

p

c)

n

c)

c

c)

p

c)

n

c)

c

c)

p

c)

n

c)

c

c)

C1A 
C1B

C1 
C2 
C3

C4A 
C4B 
C5A 
C5B

C6

 
 
 

 
 
 

 
 
 





3

12 
12

6

12

6

9

18 
27

9

21


6

12

6

15










0

 
 
 

 
 
 

 
 
 

 
 
 

 
 
 

 
 
 

a)

  検査副群は,関連するブランク個別規格の箇条 による。

b)

  評価水準 DZ,FZ 及び GZ は,検討中。

c)

  p=検査周期(月)

n

=試料数

c

=合格判定数(許容不適合数)

4

試験及び測定手順

注記  この箇条は,JIS C 5101-1 の箇条 に規定する事項を補足する。

4.1

電圧処理(非固体電解コンデンサだけに適用)

試験に先立って,すべてのコンデンサは,内部抵抗の小さい一般の直流電源を用いて定格電圧に等しい

直流電圧を印加して前処理を行う。定格電圧が 100 V 以下のコンデンサの場合には,保護抵抗約 100 Ω を,

定格電圧が 100 V を超えるコンデンサの場合には,保護抵抗約 1 kΩ を通して直流電圧を印加する。

電圧印加時間は 1 時間とし,印加電圧値の許容値は,定格電圧の±3 %とする。また,電圧印加後,コ

ンデンサは,約 1 Ω/V の抵抗器を用いて放電する。この電圧処理後,電圧を印加しない状態で標準試験状

態に,12 時間∼48 時間放置し,その後にこの規格の 3.4.2 の試験及び検査を行う。試験の中間では,上記


17

C 5101-4

:2010 (IEC 60384-4:2007)

の電圧処理をしなくてもよい。

4.2

外観及び寸法

外観及び寸法は,JIS C 5101-1 の 4.4 による。

4.3

電気的性能

4.3.1

漏れ電流

漏れ電流は,JIS C 5101-1 の 4.9 によるほか,次による。

4.3.1.1

測定条件

コンデンサに保護抵抗器を直列に接続し,その両端に定格電圧を印加する。個別規格に規定がない場合

には,定格電圧が 100 V 以下のコンデンサのときの保護抵抗器は約 100 Ω とし,定格電圧が 100 V を超え

るコンデンサのときの保護抵抗器は約 1 kΩ とする。

4.3.1.2

要求性能

a)  非固体電解コンデンサは,表 に示す値以下とする。

表 5−漏れ電流値

漏れ電流

μA

CU

μC

長寿命等級コンデンサ

一般等級コンデンサ

1 000 以下

0.01CU 又は 1 μA のうち 
いずれか大きい値

0.05CU 又は 5 μA のうち 
いずれか大きい値

1 000 超 0.006CU+4 μA 0.03CU+20 μA 
注記  C=公称静電容量  (μF),U=定格電圧 (V)

b)  固体電解コンデンサは,次の値とする。

長寿命等級コンデンサ:0.1 CU (μA)  以下

一般等級コンデンサ  :0.15 CU (μA)  以下

4.3.2

静電容量

静電容量は,JIS C 5101-1 の 4.7 によるほか,次による。

4.3.2.1

測定条件

静電容量の測定周波数は,個別規格の規定によって 100 Hz 又は 120 Hz とする。実際のコンデンサ端子

間に印加する交流電圧は,0.5 V(実効値)以下とする。

測定の間,直流バイアス電圧は印加してもよい。

注記  過電圧又は逆電圧の印加によって測定値に疑義が生じないように,0.7 V∼1.0 V の範囲の直流

バイアス電圧を印加してもよい。

機器の確度は,絶対値又は静電容量の変化の規定値の±2 %以下とする。

4.3.2.2

要求性能

静電容量は,規定の許容差の範囲内とする。

4.3.3

損失角の正接  (tan δ)  又は等価直列抵抗  (ESR)

損失角の正接 (tan δ)  は,JIS C 5101-1 の 4.8.1 によるほか,次による。

4.3.3.1

測定条件

測定条件は,4.3.2.1 による。測定機器の確度は,絶対値で 0.01 以下とする。

4.3.3.2

要求性能

損失角の正接 (tan δ)  又は等価直列抵抗 (ESR) は,個別規格の規定値以下とする。


18

C 5101-4

:2010 (IEC 60384-4:2007)

4.3.4

インピーダンス

インピーダンスは,JIS C 5101-1 の 4.10 によるほか,次による。

4.3.4.1

測定周波数

測定周波数は,100 Hz,120 Hz,1 kHz,10 kHz,100 kHz 及び l MHz の中から,コンデンサが最も低い

インピーダンスになるような周波数を選定する。周波数の許容差は,±20 %とし,周波数の値は,個別規

格の規定による。

4.3.4.2

測定条件

測定電圧は,測定中にコンデンサが発熱しない低い値とする。

なお,この電圧の確認として各コンデンサの 1 個について 1 分間印加したとき,インピーダンスの変化

が認められないものとする。測定の確度は,インピーダンスの規定値の 5 %又は 0.02 Ω のいずれか大きい

値以下とする。

4.3.4.3

カテゴリ下限温度での測定

カテゴリ下限温度での測定周波数は,100 Hz 若しくは 120 Hz 又は個別規格の規定による。

4.3.4.4

要求性能

インピーダンスは,個別規格の要求性能を満足する。

4.3.5

外部絶縁の絶縁抵抗(絶縁形コンデンサに適用)

外部絶縁の絶縁抵抗は,JIS C 5101-1 の 4.5 によるほか,次による。

4.3.5.1

測定条件

金属はくをコンデンサの全長にわたって密着して巻き付ける。このとき,はくは,少なくとも端面から

5 mm はみ出すようにし,はくと端子との間隔は 1 mm 以上とする。はくの両端は,コンデンサの端で折り

曲げない。もし,1 mm の間隔がとれない場合は,1 mm の間隔がとれるまで,はくのはみ出しを小さくす

る。代替方法として V ブロック法を用いてもよい。

直流 100 V±15 V を金属はく又は V ブロックとコンデンサの端子との間に最低 1 分間又は測定器の指示

が安定するまで印加し,この時間の最後に絶縁抵抗値を読みとる。

4.3.5.2

要求性能

絶縁抵抗値は,100 MΩ 以上とする。

4.3.6

外部絶縁の耐電圧(絶縁形コンデンサに適用)

外部絶縁の耐電圧は,JIS C 5101-1 の 4.6 によるほか,次による。

4.3.6.1

測定条件

金属はくをコンデンサの全長にわたって密着して巻き付ける。このとき,はくは,少なくとも端面から

5 mm はみ出すようにし,はくと端子との間隔は 1 mm 以上とする。はくの両端はコンデンサの端で折り曲

げない。1 mm の間隔がとれない場合は,1 mm の間隔がとれるまではくのはみ出しを小さくする。代替方

法として,V ブロック法を用いてもよい。

金属はく又は V ブロックとコンデンサの端子との間に,直流電圧を 100 V/s の割合で電圧を 1 000 V に

なるまで上昇させた後,1 000 V の電圧を 1 分±5 秒間印加する。

4.3.6.2

要求性能

コンデンサは,試験中に絶縁破壊又はフラッシオーバがあってはならない。

4.4

端子強度

端子強度は,JIS C 5101-1 の 4.13 によるほか,次による。

個別規格に試験方法及びその厳しさを規定する。


19

C 5101-4

:2010 (IEC 60384-4:2007)

4.4.1

初期測定

4.3.2 によって静電容量を測定する。

4.5

はんだ耐熱性

ねじ端子をもつコンデンサ及びはんだ付けを意図しないと個別規格に規定した端子をもつコンデンサに

は適用しない。

はんだ耐熱性は,JIS C 5101-1 の 4.14 によるほか,次による。

4.5.1

試験条件

強制乾燥は,行わない。

4.5.2

最終測定及び要求性能

コンデンサを目視による外観検査及び電気的性能の測定を行ったとき,

表 の要求性能を満足する。

4.6

はんだ付け性

ねじ端子をもつコンデンサ及びはんだ付けを意図しないことを個別規格に規定した端子をもつコンデン

サには適用しない。

はんだ付け性は,JIS C 5101-1 の 4.15 によるほか,次による。

はんだ槽法が適切でない場合には,はんだのこて先寸法 A を用いて,はんだこて試験を行う。

はんだ平衡法が適切な場合には,JIS C 60068-2-54 を引用して試験を行うことができる。

4.6.1

最終測定及び要求性能

コンデンサを目視による外観検査を行ったとき,

表 の要求性能を満足する。

4.7

温度急変

温度急変は,JIS C 5101-1 の 4.16 によるほか,次による。

4.7.1

初期測定

4.3.2 によって静電容量を測定する。

4.7.2

試験条件

コンデンサを JIS C 0025 の試験 Na に基づき 5 サイクル行う。各温度での時間 t

1

は,個別規格に規定す

る 30 分間又は 3 時間とする。また,後処理は 16 時間とする。

4.7.3

最終測定及び要求性能

後処理後,コンデンサを目視による外観検査及び電気的性能の測定を行い,

表 の要求性能を満足する。

4.8

振動

振動は,JIS C 5101-1 の 4.17 によるほか,次による。

4.8.1

試験条件

試験方法 Fc 手順 B4 で,個別規格に規定する厳しさのうちのいずれか一つを選定し,試験を行う(

表 6

参照)

表 6−振幅及び加速度

周波数

Hz

振幅又は加速度(いずれか緩い方)

方向及び時間

10∼55 0.35

mm 又は 50 m/s

2

3 方向,各 0.5 h

10∼55 0.75

mm 又は 100 m/s

2

10∼500 0.75

mm 又は 100 m/s

2

10∼2 000

0.75 mm 又は 100 m/s

2

3 方向,各 2 h


20

C 5101-4

:2010 (IEC 60384-4:2007)

個別規格には,周波数及び取付方法を規定する。リード線端子反対方向(アキシャルリード線端子)で,

かつ,リード線だけでコンデンサを固定する場合は,端子のコンデンサ本体から 6 mm±1 mm 離れた箇所

を固定する。

4.8.2

最終測定及び要求性能

コンデンサを目視で外観検査を行い,電気的性能を測定し,

表 の要求性能を満足する。

4.9

バンプ

バンプは,JIS C 5101-1 の 4.18 によるほか,次による。

なお,バンプ又は衝撃のいずれの試験を選定するかを,個別規格に規定する。

4.9.1

試験条件

バンプの総回数:一般等級コンデンサ    1 000 回

                長寿命等級コンデンサ  4 000 回

ピーク加速度  :400 m/s

2

作用時間      :6 ms

個別規格には,周波数及び取付方法を規定する。リード線端子反対方向(アキシャルリード線端子)で,

かつ,リード線だけでコンデンサを固定する場合は,端子のコンデンサ本体から 6 mm±1 mm 離れた箇所

を固定する。

4.9.2

最終測定及び要求性能

コンデンサを目視で外観検査を行い,電気的性能を測定し,

表 の要求性能を満足する。

4.10  衝撃

衝撃は,JIS C 5101-1 の 4.19 によるほか,次による。

なお,衝撃又はバンプのいずれの試験を選定するかを個別規格に規定する。

4.10.1  試験条件

表 に示すいずれの試験条件を適用するかを,個別規格に規定する。

パルス波形:正弦半波

表 7−推奨強度

ピーク加速度

m/s

2

作用時間

ms

 300

18

 500

11

1 000

6

個別規格には,取付方法を規定する。リード線端子反対方向(アキシャルリード線端子)でリード線だ

けで固定する場合は,端子のコンデンサ本体から 6 mm±1 mm 離れた箇所を固定する。

4.10.2  最終測定及び要求性能

コンデンサを目視で外観検査を行い,電気的性能を測定し,

表 の要求性能を満足する。

4.11  一連耐候性

一連耐候性は,JIS C 5101-1 の 4.21 によるほか,次による。

4.11.1  高温

高温は,JIS C 5101-1 の 4.21.2 による。

4.11.2  温湿度サイクル(試験 Db),最初のサイクル

温湿度サイクル(試験 Db)

,最初のサイクルは,JIS C 5101-1 の 4.21.3 による。


21

C 5101-4

:2010 (IEC 60384-4:2007)

4.11.3  低温

低温は,JIS C 5101-1 の 4.21.4 による。

4.11.4  減圧(個別規格に規定がある場合に適用)

減圧は,JIS C 5101-1 の 4.21.5 によるほか,次による。

4.11.4.1  試験条件

個別規格に規定がある場合は,温度 15  ℃∼35  ℃で圧力 8 kPa で試験を行う。時間は,5 分間とする。

4.11.4.2  試験中の電圧印加

規定の圧力に達してからの 5 分間の最後の 1 分間に,定格電圧 U

R

を印加する。

4.11.4.3  要求性能

試験中及び最終測定したとき,

表 の要求性能を満足する。

4.11.5  温湿度サイクル(試験 Db),残りのサイクル

温湿度サイクル(試験 Db)

,残りのサイクルは,JIS C 5101-1 の 4.21.6 による。

4.11.6  封止(個別規格に規定がある場合に適用)

封止は,JIS C 5101-1 の 4.20 によるほか,次による。

試験は,JIS C 60068-2-17 の試験 Q によって一連耐候性の最後に行う。

4.11.6.1  試験条件

個別規格に方法 1 又は方法 2 のうちいずれかを規定する。

4.11.6.2  後処理

コンデンサを液体中に浸せきした場合,余分な液体を取り除き,標準状態に 1 時間∼2 時間放置する。

4.11.7  最終測定及び要求性能

コンデンサを目視で外観検査を行い,電気的性能を測定したとき,

表 の要求性能を満足する。

4.12  高温高湿(定常)

高温高湿(定常)は,JIS C 5101-1 の 4.22 によるほか,次による。

4.12.1  初期測定

4.3.2 によって静電容量を測定する。

4.12.2  最終測定及び要求性能

後処理後,コンデンサを目視による外観検査を行い,電気的性能を測定し,

表 の要求性能を満足する。

4.13  耐久性

耐久性は,JIS C 5101-1 の 4.23 によるほか,次による。

4.13.1  初期測定

4.3.2 によって静電容量を測定する。

4.13.2  試験条件

次の中から選定し,その試験条件を個別規格に明記する。

試験時間:長寿命等級コンデンサ  2 000 h,3 000 h,5 000 h,7 000 h 又は 10 000 h

          一般等級コンデンサ    1 000 h 又は 2 000 h

温度    :カテゴリ上限温度

印加電圧:カテゴリ電圧又は個別規格の規定値

注記  カテゴリ電圧が定格電圧と異なる場合,試料を 2 分割し,定格温度で定格電圧を,カテゴ

リ上限温度でカテゴリ電圧をそれぞれ印加する。

個別規格に規定がある場合は,規定の周波数 50 Hz,60 Hz,100 Hz 又は 120 Hz の正弦波交流電圧(リ


22

C 5101-4

:2010 (IEC 60384-4:2007)

プル電圧)を直流電圧に重畳する。この場合には,ピーク電圧は,定格電圧以下とする。また,リプル電

流値は,個別規格の規定値以下とする。

a)  固体電解コンデンサの場合には,電源インピーダンス値は,3 Ω 以下とする。

b)  非固体電解コンデンサの場合には,内部抵抗の小さい安定化電源によって直流電圧を印加する。印加

方法は,コンデンサと直列に接続した保護抵抗器を通して行う。抵抗器の抵抗値は,1 個のコンデン

サ又は素子が短絡しても,その他の試料に影響を与えないような値とし,その抵抗値は,1 kΩ 以下と

する。

4.13.3  最終測定及び要求性能

試験後,コンデンサを標準試験状態に 16 時間以上放置後に,目視による外観検査を行い,また,電気的

性能を測定し,

表 の要求性能を満足する。

注記  液漏れは,不適合と判定する。ただし,個別規格に自己復帰形の圧力弁が付いているコンデン

サについては,圧力弁の作動したときの現象,例えば,わずかな着色又は変色,わずかなぬれ

などは,液漏れ及び外観の不適合とは判定しない。

4.14  サージ

サージは,J1S C 5101-1 の 4.26 によるほか,次による。

4.14.1  初期測定

4.3.2 によって静電容量を測定する。

4.14.2  試験条件

コンデンサは,5 分 30 秒間の無負荷(試料の自己放電は許される。

)の後,次の充電を 1 000 サイクル行

う(外部放電は行わない)

試験温度は,長寿命等級コンデンサの場合には,カテゴリ上限温度とし,一般等級コンデンサの場合に

は,常温とする。

充電:

a)  印加電圧(2.2.7 参照):

定格電圧 315 V 以下の場合は,定格電圧又はカテゴリ電圧の 1.15 倍

定格電圧 315 V を超える場合は,定格電圧又はカテゴリ電圧の 1.10 倍

b)  電源の内部抵抗と外部直列抵抗値との和:RC=0.1 s±0.05 s となる抵抗値

c)  印加時間:30 s

4.14.3  最終測定及び要求性能

試験後,コンデンサを標準試験状態に 16 時間以上放置後,目視による外観検査を行い,また,電気的性

能を測定し,

表 の要求性能を満足する。

注記  液漏れは,不適合と判定する。ただし,個別規格に自己復帰形の圧力弁が付いているコンデン

サについては,圧力弁の作動したときの現象,例えば,わずかな着色又は変色,わずかなぬれ

などは,液漏れ及び外観の不適合とは判定しない。

4.15  逆電圧(個別規格に規定がある場合) 
4.15.1  初期測定

4.3.2 によって静電容量を測定する。

4.15.2  試験条件

コンデンサに次の

条件 a)を行い,続いて条件 b)を行う。


23

C 5101-4

:2010 (IEC 60384-4:2007)

条件 a)  試験温度:カテゴリ上限温度

  印加電圧:1)  固体電解コンデンサ  カテゴリ電圧の 0.15 倍の直流電圧を極性と逆方向に印加

            2)  非固体電解コンデンサ  1 V の直流電圧を極性と逆方向に印加

  試験時間:125 h

条件 b)  試験温度:カテゴリ上限温度

  印加電圧:カテゴリ電圧と等しい直流電圧を極性方向に印加

  試験時間:125 h

4.15.3  最終測定及び要求性能

試験後,コンデンサを標準試験状態に 16 時間以上放置後,目視による外観検査を行い,電気的性能を測

定し,

表 の要求性能を満足する。

4.16  圧力弁(非固体電解コンデンサで,かつ,圧力弁が付いているコンデンサに適用)

圧力弁は,JIS C 5101-1 の 4.28 によるほか,試験方法の選定は,個別規格の規定による。また,コンデ

ンサに回復形の圧力弁が取り付いていることを明記している場合には,

圧力弁の意図した動作のこん跡

(例

えば,わずかな着色,着色していないわずかな漏れなど)は,電解液の漏れ及び/又は外観異常として扱

わない。しかし,漏れは,許されない。

4.16.1  要求性能

ケースの離脱などの危険な爆発がなく,また,火が出ないで圧力弁が作動しなければならない。

4.17  高温保存

高温保存は,JIS C 5101-1 の 4.25 によるほか,次による。

4.17.1  初期測定

4.3.2 によって静電容量を測定する。

4.17.2  試験条件

試験温度:カテゴリ上限温度

試験時間:96 h±4 h

4.17.3  最終測定及び要求性能

試験後,コンデンサを標準試験状態に 16 時間以上放置後,目視による外観検査を行い,電気的性能を測

定し,

表 の要求性能を満足する。

4.18  低温保存(非固体電解コンデンサで,かつ,カテゴリ下限温度が−10  ℃及び−25  ℃の場合に適用)

低温保存は,JIS C 5101-1 の 4.25 によるほか,次による。

4.18.1  初期測定

4.3.2 によって,静電容量を測定する。

4.18.2  最終測定及び要求性能

試験後,コンデンサを標準試験状態に 16 時間以上放置後,目視による外観検査を行い,電気的性能を測

定し,

表 の要求性能を満足する。

4.19  高温及び低温特性

高温及び低温特性は,JIS C 5101-1 の 4.29 によるほか,次による。

4.19.1  試験条件及び要求性能

コンデンサを

表 の条件で試験を行い,電気的性能を測定する。

4.20  充放電(個別規格に規定がある場合)

充放電は,JIS C 5101-1 の 4.27 によるほか,次による。


24

C 5101-4

:2010 (IEC 60384-4:2007)

4.20.1  初期測定

4.3.2 によって静電容量を測定する。

4.20.2  試験条件

周囲温度 20  ℃で規定のサイクル数の充放電を行う。各サイクルの充電条件 a)及び放電条件 b)は,次に

よる。

コンデンサの許容発熱量を超えないように,充電時間を変えないでサイクル数だけを延ばす必要がある

場合は,その試験条件を個別規格に規定する。

a)  充電条件

印加電圧:定格電圧に等しい直流電圧

電源の内部抵抗値と外部直列抵抗値との和:公称静電容量との積  (RC)  が 0.1 s となる抵抗値

試験時間:0.5 s

b)  放電条件

印加電圧:なし

放電抵抗値:直列抵抗値と公称静電容量との積  (RC)  が 0.1 s となる抵抗値

試験時間:0.5 s

c)  充放電サイクル数

定格電圧が 160 V 以下の場合:10

6

定格電圧が 160 V を超える場合:受渡当事者間の協定による。

4.20.3  最終測定及び要求性能

試験後,目視による外観検査を行い,電気的性能を測定したとき,

表 の要求性能を満足する。

4.21  大電流サージ(固体電解コンデンサで,かつ,個別規格に規定がある場合)

大電流サージは,JIS C 5101-1 の 4.39 によるほか,次による。

4.21.1  初期測定

初期測定は,要求しない。

4.21.2  最終測定及び要求性能

最終測定及び要求性能は,その後に続く

表 の群 又はブランク個別規格の群 の規定による。

4.22  過渡過電圧(非固体電解コンデンサで,かつ,個別規格に規定がある場合)

JIS C 5101-1 の 4.40 によるほか,次による。

4.22.1  初期測定

4.3.2 によって静電容量を測定する。

4.22.2  最終測定

コンデンサを目視による外観検査及び電気的性能の測定を行ったとき,

表 の要求性能を満足する。

試験条件は,JIS C 5101-1 の 4.40.4 に記載する項目を個別規格に規定する。

JIS C 5101-1 の 4.40.1 及び 4.40.3 の測定項目は,静電容量,漏れ電流,損失角の正接及び個別規格に規

定する項目とする。