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C 5101-25

:2009 (IEC 60384-25:2006)

(1) 

目  次

ページ

序文

1

1

  一般事項

1

1.1

  適用範囲

1

1.2

  目的

1

1.3

  引用規格

2

1.4

  個別規格に規定する事項

2

1.5

  用語及び定義

3

1.6

  表示

3

2

  推奨特性及び定格

4

2.1

  推奨特性

4

2.2

  推奨定格値

4

3

  品質評価手順

5

3.1

  製造の初期工程

5

3.2

  構造的に類似なコンデンサ

5

3.3

  適合宣言(基本的な要求事項)

5

3.4

  初期認証のための試験計画及び要求事項

5

3.5

  品質確認検査

12

4

  試験及び測定方法

13

4.1

  予備乾燥

13

4.2

  測定条件

13

4.3

  取付け

13

4.4

  外観及び寸法

14

4.5

  電気的試験

14

4.6

  はんだ耐熱性

15

4.7

  はんだ付け性

16

4.8

  固着性

16

4.9

  耐プリント板曲げ性

16

4.10

  温度急変

16

4.11

  一連耐候性

16

4.12

  高温高湿(定常)

17

4.13

  高温及び低温特性

17

4.14

  サージ

17

4.15

  耐久性

18

4.16

  高温貯蔵

18

4.17

  充放電(個別規格に規定がある場合)

18


C 5101-25

:2009 (IEC 60384-25:2006)  目次

(2) 

ページ

4.18

  部品の耐溶剤性(適用する場合)

19

4.19

  表示の耐溶剤性(適用する場合)

19

4.20

  大電流サージ(適用する場合)

19


C 5101-25

:2009 (IEC 60384-25:2006)

(3) 

まえがき

この規格は,工業標準化法第 12 条第 1 項の規定に基づき,社団法人電子情報技術産業協会(JEITA)から

工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経

済産業大臣が制定した日本工業規格である。

この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。

この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に

抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許

権,出願公開後の特許出願,実用新案権及び出願公開後の実用新案登録出願にかかわる確認について,責

任はもたない。

JIS C 5101

の規格群には,次に示す部編成がある。

JIS

C

5101-1

第 1 部:品目別通則

JIS

C

5101-2

第 2 部:品種別通則:固定メタライズドポリエチレンテレフタレートフィルム直流コ

ンデンサ

JIS

C

5101-2-1

第 2-1 部:ブランク個別規格:固定メタライズドポリエチレンテレフタレートフィル

ム直流コンデンサ  評価水準 E 及び EZ

JIS

C

5101-3

第 3 部:品種別通則:固定タンタルチップコンデンサ

JIS

C

5101-3-1

第 3 部:ブランク個別規格:固定タンタルチップコンデンサ  評価水準 E

JIS

C

5101-4

第 4 部:品種別通則:アルミニウム固体及び非固体電解コンデンサ

JIS

C

5101-4-1

第 4 部:ブランク個別規格:アルミニウム非固体電解コンデンサ  評価水準 E

JIS

C

5101-4-2

第 4 部:ブランク個別規格:アルミニウム固体電解コンデンサ  評価水準 E

JIS

C

5101-8

第 8 部:品種別通則:固定磁器コンデンサ  種類 1

JIS

C

5101-8-1

第 8-1 部:ブランク個別規格:固定磁器コンデンサ  種類 1  評価水準 EZ

JIS

C

5101-9

第 9 部:品種別通則:固定磁器コンデンサ  種類 2

JIS

C

5101-9-1

第 9-1 部:ブランク個別規格:固定磁器コンデンサ  種類 2  評価水準 EZ

JIS

C

5101-11

第 11 部:品種別通則:固定ポリエチレンテレフタレートフィルム金属はく直流コン

デンサ

JIS

C

5101-11-1

第 11 部:ブランク個別規格:固定ポリエチレンテレフタレートフィルム金属はく直

流コンデンサ  評価水準 E

JIS

C

5101-13

第 13 部:品種別通則:固定ポリプロピレンフィルム金属はく直流コンデンサ

JIS

C

5101-13-1

第 13-1 部:ブランク個別規格:固定ポリプロピレンフィルム金属はく直流コンデン

サ  評価水準 E 及び EZ

JIS

C

5101-14

第 14 部:品種別通則:電源用電磁障害防止固定コンデンサ

JIS

C

5101-14-1

第 14-1 部:ブランク個別規格:電源用電磁障害防止固定コンデンサ  評価水準 D

JIS

C

5101-14-2

第 14-2 部:ブランク個別規格:電源用電磁障害防止固定コンデンサ  安全性を要求

する試験

JIS

C

5101-14-3

第 14-3 部:ブランク個別規格:電源用電磁障害防止固定コンデンサ  評価水準 DZ

JIS

C

5101-15

第 15 部:品種別通則:固定タンタル非固体又は固体電解コンデンサ


C 5101-25

:2009 (IEC 60384-25:2006)  目次

(4) 

JIS

C

5101-15-1

第 15 部:ブランク個別規格:はく電極形固定タンタル非固体電解コンデンサ  評価

水準 E

JIS

C

5101-15-2

第 15 部:ブランク個別規格:焼結形固定タンタル非固体電解コンデンサ  評価水準

E

JIS

C

5101-15-3

第 15 部:ブランク個別規格:焼結形固定タンタル固体電解コンデンサ  評価水準 E

JIS

C

5101-16

第 16 部:品種別通則:固定メタライズドポリプロピレンフィルム直流コンデンサ

JIS

C

5101-16-1

第 16-1 部:ブランク個別規格:固定メタライズドポリプロピレンフィルム直流コン

デンサ  評価水準 E 及び EZ

JIS

C

5101-17

第 17 部:品種別通則:固定メタライズドポリプロピレンフィルム交流及びパルスコ

ンデンサ

JIS

C

5101-17-1

第 17-1 部:ブランク個別規格:固定メタライズドポリプロピレンフィルム交流及び

パルスコンデンサ  評価水準 E 及び EZ

JIS

C

5101-18

第 18 部:品種別通則:固定アルミニウム固体(MnO

2

)及び非固体電解チップコンデ

ンサ

JIS

C

5101-18-1

第 18 部:ブランク個別規格:固定アルミニウム固体(MnO

2

)電解チップコンデンサ

評価水準 E

JIS

C

5101-18-2

第 18 部:ブランク個別規格:固定アルミニウム非固体電解チップコンデンサ  評価

水準 E

JIS

C

5101-20

第 20 部:品種別通則:固定メタライズドポリフェニレンスルフィドフィルムチップ

直流コンデンサ

JIS

C

5101-20-1

第 20 部:ブランク個別規格:固定メタライズドポリフェニレンスルフィドフィルム

チップ直流コンデンサ  評価水準 EZ

JIS

C

5101-21

第 21 部:品種別通則:表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類 1

JIS

C

5101-21-1

第 21-1 部:ブランク個別規格:表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類 1  評価水

準 EZ

JIS

C

5101-22

第 22 部:品種別通則:表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類 2

JIS

C

5101-22-1

第 22-1 部:ブランク個別規格:表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類 2  評価水

準 EZ

JIS

C

5101-23

第 23 部:品種別通則:表面実装用固定メタライズドポリエチレンナフタレートフィ

ルム直流コンデンサ

JIS

C

5101-23-1

第 23-1 部:ブランク個別規格:表面実装用固定メタライズドポリエチレンナフタレ

ートフィルム直流コンデンサ  評価水準 EZ

JIS

C

5101-24

第 24 部:品種別通則:表面実装用固定タンタル固体(導電性高分子)電解コンデン

JIS

C

5101-24-1

第 24-1 部:ブランク個別規格:表面実装用固定タンタル固体(導電性高分子)電解

コンデンサ−評価水準 EZ

JIS

C

5101-25

第 25 部:品種別通則:表面実装用固定アルミニウム固体(導電性高分子)電解コン

デンサ

JIS

C

5101-25-1

第 25-1 部:ブランク個別規格:表面実装用固定アルミニウム固体(導電性高分子)

電解コンデンサ−評価水準 EZ


   

日本工業規格

JIS

 C

5101-25

:2009

(IEC 60384-25

:2006

)

電子機器用固定コンデンサ−

第 25 部:品種別通則:

表面実装用固定アルミニウム固体(導電性高分子)

電解コンデンサ

Fixed capacitors for use in electronic equipment

Part 25: Sectional specification

Surface mount fixed aluminium electrolytic capacitors

with conductive polymer solid electrolyte

序文

この規格は,2006 年に第 1 版として発行された IEC 60384-25 及び Corrigendum 1 を基に,技術的内容及

び対応国際規格の構成を変更することなく作成した日本工業規格である。

なお,この規格で点線の下線を施してある箇所は,対応国際規格にはない事項又は修正された事項であ

る。

1

一般事項

1.1

適用範囲

この規格は,JIS C 5101-1 を品目別通則とする品種別通則で,表面実装用のアルミニウム固体(導電性

高分子)電解コンデンサ(以下,コンデンサという。

)について規定する。この規格は,ハイブリッド回路

又はプリント配線板に直接取り付けるコンデンサに適用する。

1)

注記 1  この規格は,コンデンサの特性について規定するものであるが,その特性に係る規定は,設

計の目標値を示すものであり,この規格によって適合性評価を行うことは,意図していない。

注記 2  この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。

IEC 60384-25:2006

,Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 25: Sectional

specification−Surface mount fixed aluminium electrolytic capacitors with conductive polymer solid

electrolyte 及び Corrigendum 1:2006 (IDT)

なお,対応の程度を表す記号

(IDT)

は,ISO/IEC Guide 21-1 に基づき,一致していることを

示す。

1)

二酸化マンガン(MnO

2

)固体電解質を使用したコンデンサには,JIS C 5101-18 を適用する。

1.2

目的

この規格の目的は,この品種のコンデンサの推奨する定格及び特性を規定するとともに,JIS C 5101-1

から適切な品質評価手順,試験方法及び測定方法を選定し,一般的要求性能を規定することである。


2

C 5101-25

:2009 (IEC 60384-25:2006)

   

この品種別通則に基づいた個別規格に規定する試験の厳しさ及び要求性能は,この規格よりも低い水準

であってはならず,この規格と同等又は高い水準とする。

1.3

引用規格

次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの

規格は,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追補を含む。

)には適用しない。

JIS C 5063:1997

  抵抗器及びコンデンサの標準数列

注記  対応国際規格:IEC 60063:1963,Preferred number series for resistors and capacitors (IDT)

JIS C 5101-1:1998

  電子機器用固定コンデンサ−第 1 部:品目別通則

注記  対応国際規格:IEC 60384-1:1982,Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 1:

Generic specification, Amendment 2:1987, Amendment 3:1989 及び Amendment 4:1992 (MOD)

なお,JIS C 5101-1:1998 は,IEC 60384-1:1999,Fixed capacitors for use in electronic equipment

−Part 1: Generic specification の最新版が制定されておらず,該当する事項の細分箇条番号は,

JIS C 5101-1:1998

の該当事項のものと一致しない場合がある。両者で引用する細分箇条番号

に相異がある場合は,IEC 60384-1:1999 の細分箇条番号を

注記に示す。

JIS C 5101-25-1:2009

  電子機器用固定コンデンサ−第 25-1 部:ブランク個別規格:表面実装用固定ア

ルミニウム固体(導電性高分子)電解コンデンサ−評価水準 EZ

注記  対応国際規格:IEC 60384-25-1:2006,Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 25-1:

Blank detail specification−Surface mount fixed aluminium electrolytic capacitors with conductive

polymer solid electrolyte−Assessment level EZ (IDT)

JIS C 60068-1:1993

  環境試験方法−電気・電子−通則

注記  対応国際規格:IEC 60068-1:1988,Environmental testing. Part 1: General and guidance 及び

Amendment 1: 1992 (IDT)

JIS C 60068-2-58:2006

  環境試験方法−電気・電子−表面実装部品

(SMD)のはんだ付け性,電極の耐は

んだ食われ性及びはんだ耐熱性試験方法

注記  対応国際規格:IEC 60068-2-58:2004,Environmental testing−Part 2-58: Tests−Test Td: Test

methods for solderability, resistance to dissolution of metallization and to soldering heat of surface

mounting devices (SMD) (MOD)

JIS Z 8601:1954

  標準数

注記  対応国際規格:ISO 3:1973,Preferred numbers−Series of preferred numbers (MOD)

JIS Z 9015-1:2006

  計数値検査に対する抜取検査手順−第 1 部:ロットごとの検査に対する AQL 指標

型抜取検査方式

注記  対応国際規格:IEC 60410:1973,Sampling plans and procedures for inspection by attributes (MOD)

1.4

個別規格に規定する事項

個別規格は,関連するブランク個別規格の様式による。

個別規格は,品目別通則,この品種別通則及びブランク個別規格の要求性能よりも低い水準の要求性能

を規定してはならない。より厳しい要求性能を規定する場合には,その内容を個別規格の 1.9 に記載し,

更に,試験計画の中に,例えば,アステリスク

(*)

を付けて明示する。

注記  1.4.1 の外形図及び寸法は,一覧表に示してもよい。

個別規格には次の事項を規定し,引用する値は,この規格の該当する項目の中から選定する。


3

C 5101-25

:2009 (IEC 60384-25:2006)

1.4.1

外形図及び寸法

外形図及び寸法は,その他のコンデンサとの比較及び区別が容易にできるように図示する。

コンデンサの互換性及び取付けに関連する寸法及び寸法許容差は,個別規格に規定する。また,すべて

の寸法値は,ミリメートル(mm)で規定する。

寸法は,本体の長さ,幅及び高さを規定する。必要がある場合は,個別規格に外形寸法記号,寸法及び

寸法許容差を図の下に表で示す。

形状が上記と異なる場合には,その表面実装用コンデンサを適切に表す寸法情報を個別規格に規定する。

1.4.2

取付け

個別規格に,通常用いる取付方法を規定する。

試験及び測定のための取付方法(要求がある場合)は,4.3 による。

1.4.3

定格及び特性

定格及び特性は,この規格の関連項目によるほか,次による。

1.4.3.1

定格静電容量範囲

定格静電容量範囲は,2.2.1 による。

注記  IEC 電子部品品質認証制度

IECQ)の場合は,個別規格の定格静電容量範囲と認証を受けた範囲

とが異なるとき,次の文章を追加する。

“各定格電圧での定格静電容量の範囲は,品質認証書

(Qualification approval certificate)による。

1.4.3.2

特殊な特性

設計及び使用目的によって,特殊な特性が必要な場合は,追加規定をしてもよい。

1.4.3.3

はんだ付け

はんだ付け性及びはんだ耐熱性試験で,適用する試験方法,厳しさ及び要求性能は,個別規格に規定す

る。

1.4.4

表示

コンデンサの本体及びその包装への表示項目は,個別規格に規定する。この規格の 1.6 と異なる場合に

は,それらの事項を個別規格に明記する。

1.5

用語及び定義

この規格で用いる主な用語及び定義は,JIS C 5101-1 によるほか,次による。

1.5.1

表面実装用コンデンサ(surface mount capacitor

小さい寸法で,端子の性質又は形状が表面実装用に適したコンデンサ。

1.6

表示

表示は,JIS C 5101-1 の 2.4 によるほか,次による。

1.6.1

コンデンサ及び包装への表示

表示事項は,次の項目から選定する。表示の優先順位は,記載の順とする。

a)

端子の極性(構造によって極性を示す場合を除く。

b)

定格静電容量

c)

定格電圧(直流電圧を表す記号は,記号        又は        で表してもよい。

d)

定格静電容量許容差

e)

製造年月(又は年週)

f)

製造業者名又は商標


4

C 5101-25

:2009 (IEC 60384-25:2006)

   

g)

耐候性カテゴリ

h)

製造業者の形名

i)

引用個別規格

1.6.2

コンデンサ本体への表示

表面実装用コンデンサ本体には,通常表示はしない。ただし,表示をする場合は,1.6.1 に規定する事項

の中から,必要な項目をできるだけ多く,明りょうに表示する。コンデンサ本体への表示項目の重複は,

避けることが望ましい。

1.6.3

表示への要求事項

いずれの表示も,明りょうであり,指でこすっても,汚れたり又は消えたりしてはならない。

1.6.4

コンデンサの包装への表示

コンデンサの包装には,1.6.1 のすべての項目を明りょうに表示する。極性は,包装方法によって適用で

きる場合を除き,表示しない。

1.6.5

表示の追加

1.6.1

に規定する以外の表示項目を追加する場合には,混乱しないように行う。

2

推奨特性及び定格

2.1

推奨特性

個別規格に規定する特性は,次の中から選定することが望ましい。

2.1.1

推奨耐候性カテゴリ

この規格に規定するコンデンサの耐候性カテゴリは,JIS C 60068-1 の 8.

によって分類する。

カテゴリ下限温度,カテゴリ上限温度及び高温高湿(定常)の試験期間は,次の中から選定する。

カテゴリ下限温度:−55

カテゴリ上限温度:+105

℃又は+125

高温高湿(定常)の試験期間:21 日

注記  高温高湿(定常状態)の試験条件は,温度 40

℃,相対湿度 90

%∼95

%である。

低温及び高温の試験温度は,それぞれカテゴリ下限温度及びカテゴリ上限温度とする。

2.2

推奨定格値

2.2.1

定格静電容量(C

R

定格静電容量は,マイクロファラド(

μF)の単位で表す。

定格静電容量の推奨値は,JIS C 5063 に規定する E6 及び E12 の標準数列並びにそれらの 10

n

倍(×10

n

は整数)とする。

2.2.2

定格静電容量許容差

定格静電容量許容差の推奨値は,±10

%又は±20

%とする。

2.2.3

定格電圧(U

R

定格電圧の推奨値は,JIS Z 8601 に規定する R10 の標準数列のうち 1.0,1.25,1.6,2.0,2.5,3.15,4.0,

5.0,6.3,8.0 及びそれらの 10

n

倍(×10

n

は整数)とする。

2.2.4

サージ電圧

サージ電圧は,定格電圧の 1.15 倍に最も近い電圧に丸めた電圧(

表 参照)とする。


5

C 5101-25

:2009 (IEC 60384-25:2006)

表 1−サージ電圧

単位  V

定格電圧

2.0 2.5 4.0 5.0 6.3 8.0  10 12.5 16  20  25

サージ電圧

2.3 2.9 4.6 5.8 7.2 9.2  12 14  18  23  29

2.2.5

定格温度

定格温度は,105

℃又は 125

℃とする。

3

品質評価手順

3.1

製造の初期工程

製造の初期工程は,酸化皮膜の化成済はくの検査工程とする。

3.2

構造的に類似なコンデンサ

構造的に類似なコンデンサとは,外形寸法及び定格値が異なっていても,本質的に同じ生産工程及び材

料で製造されたコンデンサとする。

3.3

適合宣言(基本的な要求事項)

なし

注記  対応国際規格では,この細分箇条に関する記載はない。この規格では,適合性評価を行うこと

を意図していないことを明確にするため“なし”を追加した。

3.4

初期認証のための試験計画及び要求事項

品質認証試験の手順は,JIS C 5101-1 の 3.4 による。

注記  JIS C 5101-1:1998 の 3.4 は,IEC 60384-1:1999 の 3.5 と同等である。

ロットごと及び定期的品質確認検査に基づく品質認証試験の計画は,この規格の 3.5 による。

定数抜取手順は,次の 3.4.1 及び 3.4.2 による。

3.4.1

定数抜取手順に基づく品質認証

試料は,認証を得ようとするコンデンサのすべての範囲を代表し,個別規格に規定するすべての範囲又

はその一部でもよい。

温度特性のそれぞれに対する試料は,コンデンサの最大寸法及び最小寸法について,それぞれの寸法で

の,認証を受けようとする定格電圧範囲の中で,最高の定格電圧及び最低の定格電圧での最大定格静電容

量で構成する。定格電圧が 4 種類を超える場合には,中間の定格電圧のものも試験する。このように,範

囲の認証には,それぞれの温度特性に対し,4 組合せ又は 6 組合せ(定格静電容量と定格電圧との組合せ)

の試験を行う。認証範囲を 4 組合せ未満で構成する場合には,試験する試料数は,4 組合せの場合と同じ

とする。

評価水準 EZ を適用する場合,予備試料は,次による。

予備試料は,製造業者の責任ではない事故による不適合品の置換え用として 1 組合せごとに 2 個(6 組

合せの場合)又は 3 個(4 組合せの場合)とする。

群 に規定する試料数は,すべての群の試験を適用する場合の試料数であり,すべての試験を適用しな

い場合には,適用しない試験に応じて試料数を減らしてもよい。

品質認証の試験計画に,群を追加する場合の

群 の試料数は,追加する群に必要な試料数を追加する。

品質認証試験のための各群及び副群で試験する試料並びに合格判定数を,

表 に示す。


6

C 5101-25

:2009 (IEC 60384-25:2006)

   

3.4.2

試験

表 及び表 に規定する一連の試験は,個別規格に規定するコンデンサの品質認証に必要な試験であり,

各群の試験は,記載の順に従って行う。

すべての試料は,

群 の試験を行った後,その他の群に配分する。

群 の試験の中で発生した不適合品は,その他の群に用いてはならない。

1 個のコンデンサが,一つの群内で二つ以上の項目で不適合となっても,不適合数は 1 個と数える。

品質認証は,各群又は副群での不適合数が合格判定数以下であり,かつ,不適合数の合計が総合格判定

数を超えない場合に,合格とする。

注記  表 及び表 は,定数抜取手順に基づく品質認証の試験計画を構成する。表 は,各試験群に

対する試料数及び合格判定数の詳細を規定している。一方,

表 は,箇条 に規定する試験の

詳細事項に加えて,試験条件及び要求性能の要点の一覧を示すとともに,個別規格に選定する

試験方法,試験条件などを規定している。

定数抜取手順に基づく品質認証の試験計画の試験条件及び要求性能は,個別規格に規定する品質確認検

査と同じとする。


7

C 5101-25

:2009 (IEC 60384-25:2006)

表 2−品質認証試験の抜取計画及び合格判定数  評価水準 EZ

試験項目

この規格の細分箇条番号

試料数

n

d)

合格判定数

大電流サージ

e)

4.20 

120 0

外観

4.4

寸法

4.4

漏れ電流

4.5.1

静電容量

4.5.2

損失角の正接(tan δ

4.5.3

等価直列抵抗(ESR)

4.5.4

0

予備試料

12

1A

はんだ耐熱性

部品の耐溶剤性

e)

4.6

4.18

12 0

1B

はんだ付け性 
表示の耐溶剤性

e)

4.7

4.19

12 0

2

耐プリント板曲げ性

4.9 12

0

取付け

4.3 84

0

c)

外観

4.4

漏れ電流

4.5.1

静電容量

4.5.2

損失角の正接(tan δ

4.5.3

a)

等価直列抵抗(ESR)

4.5.4

固着性

4.8 12

0

温度急変

4.10

3.1

一連耐候性

4.11

3.2

高温高湿(定常)

4.12 12

0

高温及び低温特性

4.13 12

0

3.3

充放電

b)

4.17

3.4

耐久性

4.15 36

0

高温貯蔵

4.16 12

0

3.5

サージ

4.14

a)

  これらの測定値は,各副群の初期値とする。

b)

  別規格に規定がある場合に適用する。

c)

  不適合品として見つかった試料は,続く試験の合格判定数を算出するときに採用しない。その不適合品は予

備品と置き換える。

d)

  定格静電容量と定格電圧との組合せは,3.4.1 を参照する。

e)

  適用可能な場合に適用する。


8

C 5101-25

:2009 (IEC 60384-25:2006)

   

表 3−品質認証の試験計画

細分箇条番号

及び試験項目

a)

D

又は

ND

 b)

試験条件

a)

試料数

(n)及び

合格判

定数(c)

要求性能

a)

群 

ND

表 
よる。

4.20

  大電流サージ

  e) 

4.4

  外観 

 4.4.2

による。表示は明りょうで

あり,個別規格の規定による。

4.4

  寸法(詳細) 

個別規格の規定による。 

4.5.1

  漏れ電流 

保護抵抗:1 000 Ω

 4.5.1.2

による。

4.5.2

  静電容量 

周波数:120 Hz

 4.5.2

による。 

4.5.3

  損失角の正接

(tan δ 

周波数:120 Hz 

 4.5.3.2

による。

4.5.4

  等価直列抵抗

(ESR)

周波数:100 kHz

 4.5.4

による。 

群 1A 

D

表 
よる。

4.6

  はんだ耐熱性 

4.6.1

  初期測定

静電容量(4.5.2 での測定値を用い
る。

4.6.2

  試験条件

 
 
 

試験方法:... 
時間:...s 
リフロープロファイル:.

後処理時間:24 h±2 h

4.6.3

  最終測定

 
 
 
 

外観検査 
漏れ電流 
静電容量 
損失角の正接(tan δ) 
等価直列抵抗(ESR)

 4.6.3

による。

4.5.1

による。

個別規格の規定による。

4.5.3

による。

個別規格の規定による。

4.18

  部品の耐溶剤性

  e)

溶剤:.

溶剤の温度:.

.℃

方法 2 
後処理時間:...h

個別規格の規定による。

群 1B 

D

表 
よる。

4.7

  はんだ付け性 

4.7.1

  試験条件 

個別規格の試験方法による。

4.7.2

  最終測定 

外観検査

 4.7.2

による。

4.19

  表示の耐溶剤性

ce)

溶剤:.

溶剤の温度:.

.℃

方法 1 
こする材料:綿毛 
後処理時間:.

.h

表示は明りょうとする。 
 
 
 
 

群 

D

表 
よる。

4.9

  耐プリント板曲げ性

4.9.1

  初期測定

4.9.2

  最終測定 

たわみ量:.

.mm

静電容量 
外観検査 
静電容量(プリント配線板を曲げた
状態)

 
 
外観に損傷がない。 
個別規格の規定による。


9

C 5101-25

:2009 (IEC 60384-25:2006)

表 3−品質認証の試験計画(続き)

細分箇条番号

及び試験項目

a)

D

又は

ND

 b)

試験条件

a)

試料数

(n)及び

合格判

定数(c)

要求性能

a)

群 3 D

表 
よる。

4.3

  取付け 

プリント配線板の材質:.

d)

4.3.1

  初期測定 

静電容量

4.3.3

  最終測定

外観検査 
漏れ電流 
静電容量

損失角の正接(tan δ) 
等価直列抵抗(ESR)

外観に損傷がない。

4.5.1

による。

個別規格の規定による。

4.5.3

による。

個別規格の規定による。

群 3.1 

D

表 
よる。

4.8

  固着性 

外観検査

外観に損傷がない。

4.10

  温度急変 

4.10.1

  初期測定

静電容量(

群 での測定値を用い

る。

4.10.2

  試験条件

T

A

:カテゴリ下限温度

T

B

:カテゴリ上限温度

5 回 
試験時間 t

1

=30 分

後処理時間:1 h∼2 h

4.10.3

  最終測定

漏れ電流

静電容量 
 
損失角の正接(tan δ

 4.5.1

による。

4.10.1

の測定値に対して

ΔC/C|≦10

4.5.3

による。 

4.11

  一連耐候性 

4.11.1

  初期測定 

静電容量

4.11.2

  高温

温度:カテゴリ上限温度

試験時間:16 h

4.11.3

  温湿度サイクル

(試験 Db),最初のサイ

クル

4.11.4

  低温

温度:カテゴリ下限温度 
試験時間:2 h

4.11.5

  温湿度サイクル

(試験 Db),残りのサイ

クル

後処理時間:1 h∼2 h

4.11.6

  最終測定 

外観検査

外観に損傷がなく,表示は明りょ
うとする。

漏れ電流

静電容量 
 
損失角の正接(tan δ

 4.5.1

による。

4.11.1

の測定値に対して

ΔC/C|≦20

初期規定値の 1.5 倍以下


10

C 5101-25

:2009 (IEC 60384-25:2006)

   

表 3−品質認証の試験計画(続き)

細分箇条番号

及び試験項目

a)

D

又は

ND

 b)

試験条件

a)

試料数

(n)及び

合格判

定数(c)

要求性能

a)

群 3.2 

D

表 
よる。

4.12

  高温高湿(定常) 

4.12.1

  初期測定

静電容量

4.12.2

  試験条件 

後処理時間:1 h∼2 h 
試験期間:21 日

4.12.3

  最終測定 

外観検査

外観に損傷がなく,表示は明り 
ょうとする。

漏れ電流

初期規定値の 5 倍以下

静電容量

個別規格の規定による。

損失角の正接(tan δ

初期規定値の 1.5 倍以下

群 3.3 

D 

表 
よる。

コンデンサは,各段階温度で測定す
る。

段階 1:20

静電容量(適用する場合)

インピーダンス 

比較用に使用する。 
比較用に使用する。

段階 2:カテゴリ下限温度

静電容量(適用する場合)

段階 の測定値に対して

ΔC/C|≦20

インピーダンス

段階 の測定値の 1.5 倍以下 

損失角の正接(tan δ) 
(適用する場合)

4.5.3.2

の規定値の 2 倍以下

段階 3:カテゴリ上限温度

漏れ電流

105

℃(U

R

)で

4.5.1

の規定値の 12.5 倍以下

静電容量(適用する場合)

段階 の測定値に対して

ΔC/C|≦20

4.13

  高温及び低温特性 

損失角の正接(tan δ) 
(適用する場合)

U

R

≦4

  4.5.3 の規定値の 3 倍以下 
U

R

>4

  4.5.3 の規定値の 2 倍以下 

4.17

  充放電(個別規格に

規定がある場合) 

 

4.17.1

  初期測定 

静電容量

4.17.2

  試験条件

温度:.

.℃

充放電サイクル数:10

6

充電時間:0.5 s 
放電時間:0.5 s

 
 
 

外観検査

外観に損傷がなく,表示は明りょ
うとする。 

漏れ電流

4.5.1

による。

静電容量

4.17.1

の測定値に対して

ΔC/C|≦20

 

損失角の正接(tan δ

4.5.3.2

の規定値の 1.5 倍以下 

4.17.3

  最終測定 

等価直列抵抗(ESR)

4.5.4.2

の規定値の 2 倍以下 


11

C 5101-25

:2009 (IEC 60384-25:2006)

表 3−品質認証の試験計画(続き)

細分箇条番号

及び試験項目

a)

D

又は

ND

 b)

試験条件

a)

試料数

(n)及び

合格判

定数(c)

要求性能

a)

群 3.4 

D

表 
よる。

4.15

  耐久性 

4.15.1

  初期測定

4.15.2

  試験条件

静電容量 
試験時間:1 000 h 
試験温度:...℃ 
印加電圧:.

.V

後処理時間:1 h∼2 h

外観検査

外観に損傷がなく,表示は明り
ょうとする。

漏れ電流

4.5.1.2

の規定値の 2 倍以下

静電容量

4.15.1

の測定値に対して

ΔC/C|≦20

 

損失角の正接(tan δ

4.5.3.2

の規定値の 1.5 倍以下 

4.15.3

  最終測定

等価直列抵抗(ESR)

4.5.4.2

の規定値の 2 倍以下 

群 3.5 

D

表 
よる。

4.16

  高温貯蔵

4.16.1

  初期測定

 
静電容量(

群 での測定値を用い

る。

 

4.16.2

  試験条件

 
 

試験温度:カテゴリ上限温度 
試験時間:96 h±4 h 
後処理時間:16 h 以上

 
 

4.16.3

  最終測定 

外観検査

外観に損傷がなく,表示は明り
ょうとする。

漏れ電流

4.5.1

の規定値の 2 倍以下

静電容量 

4.16.1

の測定値に対して

ΔC/C|≦10

 

損失角の正接(tan δ

4.5.3

による。 

4.14

  サージ 

4.14.1

  初期測定

4.14.2

  試験条件

静電容量 
サイクル数:1 000  回 
温度:...℃ 
印加電圧:1.15 U

R

保護抵抗:1 000 Ω 
充電時間:30 s 
無負荷時間:5 min 30 s 
後処理時間:1 h∼2 h

外観検査

外観に損傷がない。

漏れ電流

4.5.1

による。

静電容量

4.14.1

の測定値に対して

ΔC/C|≦15

 

4.14.3

  最終測定

損失角の正接(tan δ

4.5.3.2

の規定値の 1.5 倍以下 

a)

  細分箇条番号及び試験項目並びに要求性能は,この規格の箇条 による。

b)

  この表の中で  D:破壊,ND:非破壊

c)

  この試験は,コンデンサをプリント配線板に取り付けた状態で行ってもよい。

d)

  各副群で,異なる材料のプリント配線板を用いる場合には,そのプリント配線板材料は,個別規格に規定する。

e)

  適用可能な場合に試験を適用する。


12

C 5101-25

:2009 (IEC 60384-25:2006)

   

3.5

品質確認検査

3.5.1

検査ロットの構成

3.5.1.1

群 及び群 検査

これらの検査は,ロットごとに行う。

製造業者は,次の条件で,製造工程のコンデンサをまとめて検査ロットとしてもよい。

1)

検査ロットは,構造的に類似なコンデンサで構成する(3.2 参照)

2a)

試験する試料は,検査ロットの中で定格値(定格電圧及び定格静電容量)と外形寸法との組合せを代

表とし,次の事項を考慮する。

−  組合せ数

−  1 組合せ当たり 5 個以上

2b)  IEC

電子部品品質認証制度(IECQ)の場合は,1 組合せ当たりの試料数が 4 個以下の場合には,製造業

者は,国内監督検査機関からの承認が必要となる。

3.5.1.2

群 検査

これらの試験は,定期的に行う。

試料は,ある一定の期間に工程で流れている製品を代表とし,かつ,小,中及び大の寸法のものに分類

したものを選定する。いかなる期間でも,認証の範囲を対象とするために,各寸法から一つの電圧を試験

する。

その後の期間で,すべての範囲を対象とするために,その他の寸法及び/又は定格電圧の試料を試験す

る。

3.5.2

試験計画

ロットごと及び定期的な品質確認検査の計画は,ブランク個別規格 JIS C 5101-25-1 の箇条 

表 によ

る。

3.5.3

長期保管後の出荷

JIS C 5101-1

の 3.5.2 の規定によって,はんだ付け性,静電容量及び漏れ電流について

群 及び群 

再検査を行う。

注記  JIS C 5101-1:1998 の 3.5.2 は,IEC 60384-1:1999 の 3.10 と同等である。

3.5.4

評価水準

ブランク個別規格に規定する評価水準は,次の

表 4a 及び表 4b によることが望ましい。


13

C 5101-25

:2009 (IEC 60384-25:2006)

表 4a−ロットごとの検査

EZ

検査 
副群

d)

IL

a)

n

a)

 

c

a)

A0 100

  b)

A1

A2

S-3 
S-3 
S-3

c)

c)

c)



0

a)

 IL:検査水準

n  :試料数 
c  :合格判定数

b)

  この検査は,工程でロット内の全数から不適合品を取り除いた後に行う抜取試料による検査である。抜取水

準は,部品製造業者が設定する。検査ロットの合否にかかわらず,ppm で示す出荷品質水準を監視するため
に,抜取試料をすべて検査する。

抜取試料中に 1 個以上の不適合品を発見した場合には,このロットは不合格とするが,不適合品は,品質

水準を算出するためにすべて数える。ppm で示す出荷品質水準は,累積した検査データによって算出する。

c)

  試料数(n):JIS Z 9015-1 に規定する付表 の検査水準(IL)/ロットサイズで割り当てるサンプル文字に従い,

付表 2-A のサンプル文字に対応する試料数とする。

d)

  検査副群の内容は,関連するブランク個別規格 JIS C 5101-25-1 の箇条 による。

表 4b−定期的な検査

EZ

検査

副群

b)

p

a)

n

a)

 

c

a)

C1

C2

C3.1

C3.2

C3.3

C3.4

C3.5







6

12 
12 
12 
24 
12 
36 
12







0

a)

  p:検査周期(月)

n:試料数 
c:合格判定数

b)

  検査副群の内容は,関連するブランク個別規格 JIS C 5101-25-1 の箇条 による。

4

試験及び測定方法

この箇条は,JIS C 5101-1 の 4.

に規定する事項を補足する。

4.1

予備乾燥

JIS C 5101-1

の 4.3 による。

4.2

測定条件

JIS C 5101-1

の 4.2.1 による。

4.3

取付け

JIS C 5101-1

の 4.33 によるほか,次による。

4.3.1

初期測定

静電容量を,4.5.2 によって測定する。

4.3.2

試験

a)

コンデンサの取付けは,リフローソルダリングで行う。


14

C 5101-25

:2009 (IEC 60384-25:2006)

   

b)

リフロー温度プロファイルは,個別規格の規定による。

4.3.3

最終測定及び要求事項

コンデンサの外観検査及び電気的性能の測定を行い,

表 に規定する要求性能を満足する。

4.4

外観及び寸法

JIS C 5101-1

の 4.4 によるほか,次による。

4.4.1

外観検査

外観検査は,供試品及び要求する品質水準に適切な,倍率約 10 倍をもつ適切な機器及び照明で行う。

注記  作業者には,適切な測定装置に加えて,直接又は間接照明の設備を提供することが望ましい。 

4.4.2

要求事項

コンデンサは,材料,設計,構造,物理的な寸法及びでき栄え(workmanship)が,個別規格に規定する要

求事項を満足することを証明するために検査する。

4.5

電気的試験

4.5.1

漏れ電流

JIS C 5101-1

の 4.9 によるほか,次による。

4.5.1.1

測定条件

コンデンサに保護抵抗器を直列に接続し,その両端に定格電圧を印加する。

保護抵抗の値は,1 000 Ω とする。

4.5.1.2

要求事項

漏れ電流は,20

℃±2

℃で 0.2C

R

U

R

μA 又は 500 μA のいずれか大きい値以下とする。

各種試験後の測定は,次の電圧処理後に測定を行う。

注記 1  電圧処理は,省略してもよい

注記 2  対応国際規格では,“測定値が規定値を超える場合に電圧処理を行う。”と規定しているが,

規定値を超えている又は超えていないことで判定が困難であることから,電圧処理を行うこ

とを基本としたため,電圧処理の省略に関して

注記 に記載した。

4.5.1.3

電圧処理

コンデンサに, 約 10  Ω∼1 000 Ω の保護抵抗器を直列に接続し, 定格電圧に等しい直流電圧を 105

±2

℃で 2 時間印加する。

コンデンサへの印加電圧は,定格電圧の±3

%を維持する。

次に,コンデンサを常温まで冷却した後に,約 1 Ω/V の抵抗器を通じて放電し,標準状態に 12 時間∼

24 時間放置する。

4.5.2

静電容量

JIS C 5101-1

の 4.7 によるほか,次による。

4.5.2.1

測定条件

静電容量の測定周波数は,個別規格の規定によって 120 Hz とする。実際のコンデンサ端子に印加する電

圧は,0.5 V(実効値)以下とする。

測定の間,次の直流バイアス電圧を印加してもよい。

−  定格電圧が 2.5 V 以下の場合は,1.1 V∼1.5 V

−  定格電圧が 2.5 V を超える場合は,1.5 V∼2.0 V とする。

注記  対応国際規格では,定格電圧が 2.5 V を超える場合の直流バイアス電圧は,2.1 V∼2.5 V と規

定しているが,測定電圧が 0.5 V(実効値)であることから明らかな誤記である。


15

C 5101-25

:2009 (IEC 60384-25:2006)

測定器の確度は,絶対値又は静電容量の変化の規定値の±2

%以下とする。

注記  直流バイアス電圧の印加は,省略してもよい。

4.5.2.2

要求事項

静電容量は,規定の許容差の範囲内とする。

4.5.3

損失角の正接(tan δ

JIS C 5101-1

の 4.8.1 によるほか,次による。

4.5.3.1

測定条件

測定は,4.5.2.1 の条件で行う。

測定器の確度は,絶対値で 0.01 以下とする。

4.5.3.2

要求事項

損失角の正接(20

℃)は,個別規格の要求事項を満足する。

4.5.4

等価直列抵抗(ESR

JIS C 5101-1

の 4.8.2 によるほか,次による。

4.5.4.1

測定条件

周囲温度は,20

℃±2

℃とする。

測定電圧は,0.5 V(実効値)以下とする。

測定周波数は,100 kHz±10 kHz とする。

測定器の確度は,規定値の 5

%又は 0.02 Ω のいずれか大きい値以下とする。

4.5.4.2

要求事項

等価直列抵抗(ESR)は,個別規格の要求事項を満足する。

4.5.5

インピーダンス(適用する場合)

JIS C 5101-1

の 4.10 によるほか,次による。

4.5.5.1

測定条件

測定周波数:120 Hz±10

測定電圧は,十分に低い値とし,コンデンサに 1 分間印加したとき,インピーダンス値の変化は,測定

誤差の範囲内でなければならない。

測定器の確度は,インピーダンスの規定値の 5

%又は 0.02 Ω のいずれか大きい値以下とする。

4.5.5.2

要求事項

インピーダンスは,個別規格の要求事項を満足する。

4.6

はんだ耐熱性

個別規格に規定がない場合は,JIS C 60068-2-58 によるほか,次による。

4.6.1

初期測定

静電容量を,4.5.2 によって測定する。

4.6.2

試験条件

個別規格に規定がない場合は,JIS C 60068-2-58 による。

4.6.3

最終測定及び要求事項

後処理後に,表面実装コンデンサは,外観検査及び電気的性能の測定を行い,次の要求事項を満足する。

外観検査は,個別規格の規定によるほか,次による。

適切な照明で,約 10 倍の倍率で観察したとき,クラックなどの損傷がない。

電極表面の角部のはんだ食われによる電極の消失は,電極のりょう(稜)の全長の 25

%以下とする。


16

C 5101-25

:2009 (IEC 60384-25:2006)

   

コンデンサは,規定の測定を行い,

表 に規定する要求性能を満足する。

4.7

はんだ付け性

個別規格にその他の規定がない場合は,JIS C 60068-2-58 によるほか,次による。

4.7.1

試験条件

個別規格に規定がない場合は,JIS C 60068-2-58 による。

4.7.2

最終測定及び要求事項

コンデンサは,適切な照明で,約 10 倍の倍率で観察したとき,破損のこん(痕)跡がない。

端子の表面部分は,新しいはんだで覆われていて,わずかに点在する部分以外に,ピンホール,ぬれな

し及びはんだはじきがない。

注記  対応国際規格では,“端子の表面部分は,滑らかで光沢のあるはんだで覆われていて”と規定し

ているが,鉛フリーはんだでは,はんだ表面に光沢がないため,

“端子の表面部分は,新しいは

んだで覆われていて”とした。

端子の表面部分で,めっきしていない部分は評価しない。

電極端子の先端などで,めっきしていない部分は,評価しない。

4.8

固着性

JIS C 5101-1

の 4.34 による。

4.9

耐プリント板曲げ性

JIS C 5101-1

の 4.35 による。

4.9.1

初期測定

静電容量を,4.5.2 によって測定する。

4.9.2

最終測定及び要求事項

試験終了後のコンデンサの外観検査及び耐プリント曲げ性試験中のコンデンサの静電容量測定を行い,

表 に規定する要求性能を満足する。

4.10

温度急変

JIS C 5101-1

の 4.16 によるほか,次による。

(コンデンサは,4.3 によって取り付ける。

4.10.1

初期測定

静電容量を,4.5.2 によって測定する。

4.10.2

試験条件

コンデンサは,試験 Na を 5 回行う。

各温度にさらす時間は,30 分間とする。

後処理時間は,1 時間∼2 時間とする。

4.10.3

最終測定及び要求事項

後処理後,コンデンサの電気的性能の測定を行い,

表 に規定する要求性能を満足する。

4.11

一連耐候性

JIS C 5101-1

の 4.21 によるほか,次による。

4.11.1

初期測定

静電容量を,4.5.2 によって測定する。

4.11.2

高温

JIS C 5101-1

の 4.21.2 による。


17

C 5101-25

:2009 (IEC 60384-25:2006)

4.11.3

温湿度サイクル(試験 Db),最初のサイクル

JIS C 5101-1

の 4.21.3 による。

4.11.4

低温

JIS C 5101-1

の 4.21.4 による。

4.11.5

温湿度サイクル(試験 Db),残りのサイクル

JIS C 5101-1

の 4.21.6 による。

4.11.5.1

後処理

後処理時間は,1 時間から 2 時間とする。

4.11.6

最終測定及び要求事項

コンデンサは,外観検査及び電気的性能の測定を行い,

表 に規定する要求性能を満足する。

4.12

高温高湿(定常)

JIS C 5101-1

の 4.22 によるほか,次による。

コンデンサは,4.3 によって取り付ける。

4.12.1

初期測定

静電容量を,4.5.2 によって測定する。

4.12.2

試験条件

試験期間:21 日

印加電圧なし

4.12.3

最終測定及び要求事項

1 時間から 2 時間の後処理後,コンデンサは外観検査及び電気的性能の測定を行い,表 に規定する要

求性能を満足する。

4.13

高温及び低温特性

JIS C 5101-1

の 4.29 によるほか,次による。

コンデンサは,4.3 によって取り付ける。

4.13.1

最終測定及び要求事項

コンデンサは,電気的性能の測定を行い

表 に規定する要求性能を満足する。

4.14

サージ

JIS C 5101-1

の 4.26 によるほか,次による。

4.14.1

初期測定

静電容量を,4.5.2 によって測定する。

4.14.2

試験条件

コンデンサは,次の充電に続く 5 分 30 秒間の無負荷(強制放電は,行わない。

)のサイクルを,1 000

回行う。

充電は,サージ電圧(1.15 U

R

)に等しい電圧を,1 000

Ω±100 Ω

の保護抵抗器を通して 30 秒間印加す

る。

試験は,15

℃からカテゴリ上限温度までの間で個別規格に規定する温度で行う。

4.14.3

最終測定及び要求事項

1 時間から 2 時間の後処理後に,コンデンサは外観検査及び電気的性能の測定を行い,表 に規定する

要求性能を満足する。


18

C 5101-25

:2009 (IEC 60384-25:2006)

   

4.15

耐久性

JIS C 5101-1

の 4.23 によるほか,次による。

コンデンサは,4.3 によって取り付ける。

4.15.1

初期測定

静電容量を,4.5.2 によって測定する。

4.15.2

試験条件

試験時間:1 000 時間

試験温度:カテゴリ上限温度

印加電圧:個別規格に規定がない場合には,定格電圧

4.15.3

最終測定及び要求事項

1 時間から 2 時間の後処理後,コンデンサは,外観検査及び電気的性能の測定を行い,表 に規定する

要求性能を満足する。

4.16

高温貯蔵

JIS C 5101-1

の 4.25.1 によるほか,次による。

4.16.1

初期測定

静電容量を,4.5.2 によって測定する。

4.16.2

試験条件

試験温度:カテゴリ上限温度

試験時間:96 時間±4 時間

4.16.3

最終測定及び要求事項

16 時間以上の後処理後,コンデンサは,外観検査及び電気的性能の測定を行い,表 に規定する要求性

能を満足する。

4.17

充放電(個別規格に規定がある場合)

JIS C 5101-1

の 4.27 によるほか,次による。

4.17.1

初期測定

静電容量を,4.5.2 によって測定する。

4.17.2

試験条件

充放電は,個別規格に規定する温度(15

℃からカテゴリ上限温度までの範囲内)で規定の回数まで行う。

コンデンサは,規定のサイクル数の充放電を,次の充電条件 a)

及び放電条件 b)

で行う。

a)

充電条件

印加電圧:定格電圧に等しい直流電圧

電源の内部抵抗値と外部直列抵抗値との和が,RC=0.1 s となる値とする。

充電時間:0.5 s

b)

放電条件

印加電圧なし

放電抵抗値:RC=0.1 s となる抵抗値

放電時間  :0.5 s

充放電サイクル数:10

6

4.17.3

最終測定及び要求事項

コンデンサは,外観検査及び電気的性能の測定を行い,

表 に規定する要求性能を満足する。


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C 5101-25

:2009 (IEC 60384-25:2006)

4.18

部品の耐溶剤性(適用する場合)

JIS C 5101-1

の 4.31 による。

注記  適用する場合とは,適用可能な場合に試験を適用することを示す。

4.19

表示の耐溶剤性(適用する場合)

JIS C 5101-1

の 4.32 による。

注記  適用する場合とは,適用可能な場合に試験を適用することを示す。

4.20

大電流サージ(適用する場合)

JIS C 5101-1

の 4.39 による。

注記  適用する場合とは,適用可能な場合に試験を適用することを示す。

4.20.1

初期測定

測定しない。

4.20.2

最終測定及び要求事項

最終測定及び要求事項は,

表 の群 又はブランク個別規格の副群 A0 による。