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C 5101-24

:2009 (IEC 60384-24:2006)

(1) 

目  次

ページ

序文

1

1

  一般事項

1

1.1

  適用範囲

1

1.2

  目的

1

1.3

  引用規格

2

1.4

  個別規格に規定する事項

2

1.5

  用語及び定義

3

1.6

  表示

3

2

  推奨特性及び定格

4

2.1

  推奨特性

4

2.2

  推奨定格値

4

3

  品質評価手順

5

3.1

  製造の初期工程

5

3.2

  構造的に類似なコンデンサ

5

3.3

  適合宣言(基本的な要求事項)

5

3.4

  初期認証のための試験計画及び要求事項

5

3.5

  品質確認検査

12

4

  試験及び測定方法

13

4.1

  予備乾燥

13

4.2

  測定条件

13

4.3

  取付け

13

4.4

  外観及び寸法

14

4.5

  電気的試験

14

4.6

  はんだ耐熱性

15

4.7

  はんだ付け性

15

4.8

  固着性

15

4.9

  耐プリント板曲げ性

15

4.10

  温度急変

15

4.11

  一連耐候性

16

4.12

  高温高湿(定常)

16

4.13

  高温及び低温特性

16

4.14

  サージ

16

4.15

  耐久性

17

4.16

  部品の耐溶剤性(適用する場合)

17

4.17

  表示の耐溶剤性(適用する場合)

17


C 5101-24

:2009 (IEC 60384-24:2006)  目次

(2) 

ページ

4.18

  大電流サージ(適用する場合)

17

4.19

  高温貯蔵

17


C 5101-24

:2009 (IEC 60384-24:2006)

(3) 

まえがき

この規格は,工業標準化法第 12 条第 1 項の規定に基づき,社団法人電子情報技術産業協会(JEITA)から,

工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経

済産業大臣が制定した日本工業規格である。

この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。

この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に

抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許

権,出願公開後の特許出願,実用新案権及び出願公開後の実用新案登録出願にかかわる確認について,責

任はもたない。

JIS C 5101

の規格群には,次に示す部編成がある。

JIS

C

5101-1

第 1 部:品目別通則

JIS

C

5101-2

第 2 部:品種別通則:固定メタライズドポリエチレンテレフタレートフィルム

直流コンデンサ

JIS

C

5101-2-1

第 2-1 部:ブランク個別規格:固定メタライズドポリエチレンテレフタレートフィ

ルム直流コンデンサ  評価水準 E 及び EZ

JIS

C

5101-3

第 3 部:品種別通則:固定タンタルチップコンデンサ

JIS

C

5101-3-1

第 3 部:ブランク個別規格:固定タンタルチップコンデンサ  評価水準 E

JIS

C

5101-4

第 4 部:品種別通則:アルミニウム固体及び非固体電解コンデンサ

JIS

C

5101-4-1

第 4 部:ブランク個別規格:アルミニウム非固体電解コンデンサ  評価水準 E

JIS

C

5101-4-2

第 4 部:ブランク個別規格:アルミニウム固体電解コンデンサ  評価水準 E

JIS

C

5101-8

第 8 部:品種別通則:固定磁器コンデンサ  種類 1

JIS

C

5101-8-1

第 8-1 部:ブランク個別規格:固定磁器コンデンサ  種類 1  評価水準 EZ

JIS

C

5101-9

第 9 部:品種別通則:固定磁器コンデンサ  種類 2

JIS

C

5101-9-1

第 9-1 部:ブランク個別規格:固定磁器コンデンサ  種類 2  評価水準 EZ

JIS

C

5101-11

第 11 部:品種別通則:固定ポリエチレンテレフタレートフィルム金属はく直流コン

デンサ

JIS

C

5101-11-1

第 11 部:ブランク個別規格:固定ポリエチレンテレフタレートフィルム金属はく直

流コンデンサ  評価水準 E

JIS

C

5101-13

第 13 部:品種別通則:固定ポリプロピレンフィルム金属はく直流コンデンサ

JIS

C

5101-13-1

第 13-1 部:ブランク個別規格:固定ポリプロピレンフィルム金属はく直流コンデン

サ  評価水準 E 及び EZ

JIS

C

5101-14

第 14 部:品種別通則:電源用電磁障害防止固定コンデンサ

JIS

C

5101-14-1

第 14-1 部:ブランク個別規格:電源用電磁障害防止固定コンデンサ  評価水準 D

JIS

C

5101-14-2

第 14-2 部:ブランク個別規格:電源用電磁障害防止固定コンデンサ  安全性を要求

する試験

JIS

C

5101-14-3

第 14-3 部:ブランク個別規格:電源用電磁障害防止固定コンデンサ  評価水準 DZ

JIS

C

5101-15

第 15 部:品種別通則:固定タンタル非固体又は固体電解コンデンサ


C 5101-24

:2009 (IEC 60384-24:2006)  目次

(4) 

JIS

C

5101-15-1

第 15 部:ブランク個別規格:はく電極形固定タンタル非固体電解コンデンサ  評価

水準 E

JIS

C

5101-15-2

第 15 部:ブランク個別規格:焼結形固定タンタル非固体電解コンデンサ  評価水準

E

JIS

C

5101-15-3

第 15 部:ブランク個別規格:焼結形固定タンタル固体電解コンデンサ  評価水準 E

JIS

C

5101-16

第 16 部:品種別通則:固定メタライズドポリプロピレンフィルム直流コンデンサ

JIS

C

5101-16-1

第 16-1 部:ブランク個別規格:固定メタライズドポリプロピレンフィルム直流コン

デンサ  評価水準 E 及び EZ

JIS

C

5101-17

第 17 部:品種別通則:固定メタライズドポリプロピレンフィルム交流及びパルスコ

ンデンサ

JIS

C

5101-17-1

第 17-1 部:ブランク個別規格:固定メタライズドポリプロピレンフィルム交流及び

パルスコンデンサ  評価水準 E 及び EZ

JIS

C

5101-18

第 18 部:品種別通則:固定アルミニウム固体(MnO

2

)及び非固体電解チップコン

デンサ

JIS

C

5101-18-1

第 18 部:ブランク個別規格:固定アルミニウム固体(MnO

2

)電解チップコンデン

サ  評価水準 E

JIS

C

5101-18-2

第 18 部:ブランク個別規格:固定アルミニウム非固体電解チップコンデンサ  評価

水準 E

JIS

C

5101-20

第 20 部:品種別通則:固定メタライズドポリフェニレンスルフィドフィルムチップ

直流コンデンサ

JIS

C

5101-20-1

第 20 部:ブランク個別規格:固定メタライズドポリフェニレンスルフィドフィルム

チップ直流コンデンサ  評価水準 EZ

JIS

C

5101-21

第 21 部:品種別通則:表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類 1

JIS

C

5101-21-1

第 21-1 部:ブランク個別規格:表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類 1  評価水

準 EZ

JIS

C

5101-22

第 22 部:品種別通則:表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類 2

JIS

C

5101-22-1

第 22-1 部:ブランク個別規格:表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類 2  評価水

準 EZ

JIS

C

5101-23

第 23 部:品種別通則:表面実装用固定メタライズドポリエチレンナフタレートフィ

ルム直流コンデンサ

JIS

C

5101-23-1

第 23-1 部:ブランク個別規格:表面実装用固定メタライズドポリエチレンナフタレ

ートフィルム直流コンデンサ  評価水準 EZ

JIS

C

5101-24

第 24 部:品種別通則:表面実装用固定タンタル固体(導電性高分子)電解コンデン

JIS

C

5101-24-1

第 24-1 部:ブランク個別規格:表面実装用固定タンタル固体(導電性高分子)電解

コンデンサ−評価水準 EZ

JIS

C

5101-25

第 25 部:品種別通則:表面実装用固定アルミニウム固体(導電性高分子)電解コン

デンサ

JIS

C

5101-25-1

第 25-1 部:ブランク個別規格:表面実装用固定アルミニウム固体(導電性高分子)

電解コンデンサ−評価水準 EZ


   

日本工業規格

JIS

 C

5101-24

:2009

(IEC 60384-24

:2006

)

電子機器用固定コンデンサ−

第 24 部:品種別通則:表面実装用固定

タンタル固体(導電性高分子)電解コンデンサ

Fixed capacitors for use in electronic equipment

Part 24: Sectional specification

−Surface mount fixed tantalum electrolytic

capacitors with conductive polymer solid electrolyte

序文

この規格は,2006 年に第 1 版として発行された IEC 60384-24 及び Corrigendum 1 を基に,技術的内容及

び対応国際規格の構成を変更することなく作成した日本工業規格である。

なお,この規格で点線の下線を施してある箇所は,対応国際規格にはない事項又は修正した事項である。

1

一般事項

1.1

適用範囲

この規格は,JIS C 5101-1 を品目別通則とする品種別通則で,表面実装用のタンタル固体(導電性高分

子)電解コンデンサ(以下,コンデンサという。

)について規定する。この規格のコンデンサは,主に,ハ

イブリッド回路又はプリント配線板に直接取り付けることを意図している。

二酸化マンガン(MnO

2

)固体電解質を使用したコンデンサ

1)

には,適用しない。

注記 1  この規格は,コンデンサの特性について規定するものであるが,その特性にかかわる規定は,

設計の目標値を示すものであり,この規格によって適合性評価を行うことは,意図していな

い。

注記 2  この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。

IEC 60384-24:2006

, Fixed capacitors for use in electronic equipment − Part 24: Sectional

specification−Surface mount fixed tantalum electrolytic capacitors with conductive polymer solid

electrolyte 及び Corrigendum 1:2006 (IDT)

なお,対応の程度を表す記号

(IDT)

は,ISO/IEC Guide 21-1 に基づき,一致していることを

示す。

1)

  二酸化マンガン(MnO

2

)固体電解質を使用したコンデンサには,JIS C 5101-3 を適用する。

1.2

目的

この規格の目的は,この品種のコンデンサの推奨する定格及び特性を規定するとともに,JIS C 5101-1

ら適切な品質評価手順,試験方法及び測定方法を選定し,一般的要求性能を規定することである。

この品種別通則に基づいた個別規格に規定する試験の厳しさ及び要求性能は,この規格と同等か又は高

い水準とする。


2

C 5101-24

:2009 (IEC 60384-24:2006)

   

1.3

引用規格

次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。

これらの引用規格のうちで,西暦年を付記してあるものは,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追

補を含む。

)には適用しない。西暦年の付記がない引用規格は,その最新版(追補を含む。

)を適用する。

JIS C 0025:1988

  環境試験方法(電気・電子)温度変化試験方法

注記  対応国際規格:IEC 60068-2-14:1984,Environmental testing−Part 2-14: Tests−Test N: Change of

temperature (MOD)

JIS C 5063

  抵抗器及びコンデンサの標準数列

注記  対応国際規格:IEC 60063,Preferred number series for resistors and capacitors, Amendment 1:1967

及び Amendment 2:1977 (IDT)

JIS C 5101-1:1998

  電子機器用固定コンデンサ−第 1 部:品目別通則

注記  対応国際規格:IEC 60384-1:1982,Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 1:

Generic specification,Amendment 2:1987,Amendment 3:1989 及び Amendment 4:1992 (MOD)

なお,JIS C 5101-1:1998 は,IEC 60384-1:1999,Fixed capacitors for use in electronic equipment

−Part 1: Generic specification の最新版として制定されておらず,該当する事項の細分箇条番

号は,JIS C 5101-1:1998 の該当事項のものと一致しない場合がある。両者で引用する細分箇

条番号に相異がある場合は,IEC 60384-1:1999 の細分箇条番号を

注記に示す。

JIS C 5101-24-1:2009

  電子機器用固定コンデンサ−第 24-1 部:ブランク個別規格−表面実装用固定タ

ンタル固体(導電性高分子)電解コンデンサ−評価水準 EZ

注記  対応国際規格:IEC 60384-24-1:2006,Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 24-1:

Blank detail specification−Surface mount fixed tantalum electrolytic capacitors with conductive

polymer solid electrolyte−Assessment level EZ (IDT)

JIS C 60068-1:1993

  環境試験方法−電気・電子−通則

注記  対応国際規格:IEC 60068-1:1988,Environmental testing−Part 1: General and guidance 及び

Amendment 1: 1992 (IDT)

JIS C 60068-2-58:2006

  環境試験方法−電気・電子−表面実装部品(SMD)のはんだ付け性,電極の

耐はんだ食われ性及びはんだ耐熱性試験方法

注記  対応国際規格:IEC 60068-2-58:2004,Environmental testing−Part 2-58: Tests−Test Td: Test

methods for solderability, resistance to dissolution of metallization and to soldering heat of surface

mounting devices (SMD) (MOD)

JIS Z 8601

  標準数

注記  対応国際規格:ISO 3:1973,Preferred numbers−Series of preferred numbers (MOD)

JIS Z 9015-1

  計数値検査に対する抜取検査手順−第 1 部:ロットごとの検査に対する AQL 指標型抜

取検査方式

注記  対応国際規格:IEC 60410,Sampling plans and procedures for inspection by attributes (MOD)

1.4

個別規格に規定する事項

個別規格は,関連するブランク個別規格の様式による。

個別規格には,品目別通則,この品種別通則及びブランク個別規格の要求性能と同等又は厳しい水準と

する。より厳しい要求性能を規定する場合は,その内容を個別規格の 1.9(品目別通則及び/又は品種別通

則への追加又はより厳しい要求事項)に記載し,更に,試験計画の中に,例えば,アステリスク(*)を付


3

C 5101-24

:2009 (IEC 60384-24:2006)

けて明示する。

注記  1.4.1 の外形図及び寸法は,一覧表に示してもよい。

個別規格には,次の事項を規定し,引用する値は,この規格の該当する項目の中から選定する。

1.4.1

外形図及び寸法

外形図及び寸法は,その他のコンデンサとの比較及び区別が容易にできるように図示する。コンデンサ

の互換性及び取付けに関連する寸法及び寸法許容差は,個別規格に規定する。また,すべての寸法値は,

ミリメートル(mm)で規定する。

寸法は,本体の長さ,幅及び高さを規定する。例えば,個別規格に多くの本体寸法を規定する場合など,

必要があれば,外形寸法記号,寸法及び寸法許容差を図の下に表で示す。形状が上記と異なる場合は,そ

の表面実装用コンデンサを適切に表す寸法情報を個別規格に規定する。

1.4.2

取付け

個別規格に,通常用いる取付方法を規定する。

試験及び測定のための取付方法(要求がある場合)は,4.3 による。

1.4.3

定格及び特性

定格及び特性は,この規格の関連項目によるほか,次による。

1.4.3.1

定格静電容量範囲

定格静電容量範囲は,2.2.1 による。

注記  IEC 電子部品品質認証制度(IECQ)の場合は,個別規格の定格静電容量範囲と認証を受けた

範囲とが異なるとき,次の文章を追加する。

“各定格電圧での定格静電容量の範囲は,品質認証

書(Qualification approval certificate)による。

1.4.3.2

特殊な特性

設計及び使用目的によって,特殊な特性が必要な場合は,追加の規定をしてもよい。

1.4.3.3

はんだ付け

はんだ付け性及びはんだ耐熱性試験に適用する試験方法,厳しさ及び要求性能は,個別規格に規定する。

1.4.4

表示

コンデンサ本体及びその包装への表示項目は,個別規格に規定する。この規格の 1.6 と異なる場合は,

その事項を個別規格に明記する。

1.5

用語及び定義

この規格で用いる主な用語及び定義は,JIS C 5101-1 によるほか,次による。

1.5.1

表面実装用コンデンサ(surface mount capacitor

小さい寸法で,端子の性質又は形状が表面実装用に適したコンデンサ。

1.6

表示

表示は,JIS C 5101-1 の 2.4 によるほか,次による。

1.6.1

コンデンサ及び包装への表示

表示事項は,次の項目から選定する。表示の優先順位は,記載の順とする。

a)

端子の極性(構造によって極性を示す場合を除く。

b)

定格静電容量

c)

定格電圧(直流電圧を表す記号は,記号      又は      で表してもよい。

d)

定格静電容量許容差


4

C 5101-24

:2009 (IEC 60384-24:2006)

   

e)

製造年月(又は年週)

f)

製造業者名又はその商標

g)

耐候性カテゴリ

h)

製造業者の形名

i)

引用個別規格

1.6.2

コンデンサ本体への表示

表面実装用コンデンサ本体には,通常,表示はしない。ただし,表示をする場合は,1.6.1 に規定する事

項の中から,必要な項目をできるだけ多く,明りょうに表示する。コンデンサ本体への表示項目の重複は,

避けることが望ましい。

1.6.3

表示への要求事項

どの表示も,明りょうであり,指でこすっても,汚れたり又は消えたりしてはならない。

1.6.4

コンデンサの包装への表示

コンデンサの包装には,1.6.1 のすべての項目を明りょうに表示する。極性は,包装方法に適用できる場

合を除き,表示しない。

1.6.5

表示の追加

1.6.1

に規定する以外の項目の表示を追加する場合には,混乱しないように行う。

2

推奨特性及び定格

2.1

推奨特性

個別規格に規定する特性値は,次の中から選定することが望ましい。

2.1.1

推奨耐候性カテゴリ

この規格に規定するコンデンサの耐候性カテゴリは,JIS C 60068-1 の 8.  によって分類する。

カテゴリ下限温度,カテゴリ上限温度及び高温高湿(定常)の試験期間は,次の中から選定する。

カテゴリ下限温度:−55

カテゴリ上限温度:+105

℃又は+125

高温高湿(定常)の試験期間:21 日

注記 1  高温高湿(定常)の試験条件は,温度 40

℃,相対湿度 90

%∼95

%である。

低温及び高温の試験温度は,それぞれカテゴリ下限温度及びカテゴリ上限温度とする。

カテゴリ上限温度は,定格温度が 85

℃の場合には 105

℃又は 125

℃とし,定格温度が 105

℃の場合に

は 125

℃とする。

注記 2  定格温度は,2.2.6 に規定している。

2.2

推奨定格値

2.2.1

定格静電容量(C

R

定格静電容量は,マイクロファラド(

μF)の単位で表す。

定格静電容量の推奨値は,JIS C 5063 に規定する E6 及び E12 の標準数列並びにそれらの 10

n

倍(×10

n

は整数)とする。

2.2.2

定格静電容量許容差

定格静電容量許容差の推奨値は,±20

%とする。

2.2.3

定格電圧(U

R

定格電圧の推奨値は,JIS Z 8601 に規定する R10 の標準数列(1.0,1.25,1.6,2.0,2.5,3.15,4.0,5.0,


5

C 5101-24

:2009 (IEC 60384-24:2006)

6.3,8.0)及びそれらの 10

n

倍(×10

n

は整数)とする。

2.2.4

カテゴリ電圧(U

C

カテゴリ電圧は,

表 による。

表 1−カテゴリ電圧

温度/電圧

定格温度:T

R

(℃)

 85

 85

105

カテゴリ上限温度:T

UC

(℃) 125

105

125

定格電圧:U

R

(V) 1.0

×

U

R

 1.0

×

U

R

定格電圧に対するサージ電圧:U

RS

(V) 1.15

×

U

R

 1.15

×

U

R

カテゴリ電圧:U

C

(V) 0.8

×

U

R

 0.9

×

U

R

カテゴリ電圧に対するサージ電圧:U

CS

(V) 0.92

×

U

R

 1.03

×

U

R

2.2.5

サージ電圧(U

RS

又は U

CS

サージ電圧は,

表 に示す定格電圧又はカテゴリ電圧の 1.15 倍に最も近い値(有効数字 2 けた)に丸め

た電圧とする。

注記 1  U

RS

は定格電圧に対するサージ電圧,また,U

CS

はカテゴリ電圧に対するサージ電圧である。

注記 2  対応国際規格には,“表 参照”の記述があるが,表 には具体的な電圧の記載がないので,

数値の丸め方を追記した。

2.2.6

定格温度(T

R

定格温度は,85  ℃又は 105  ℃とする。

注記  定格温度とカテゴリ温度との関係は,2.1.1 に規定している。

3

品質評価手順

3.1

製造の初期工程

製造の初期工程は,酸化皮膜の化成工程とする。

3.2

構造的に類似なコンデンサ

構造的に類似なコンデンサとは,外形寸法及び定格値が異なっていても,本質的に同じ生産工程及び材

料で製造されたコンデンサとする。

3.3

適合宣言(基本的な要求事項)

なし。

注記  対応国際規格では,この細分箇条本文の記載はない。この規格では,適合性評価を行うことを

意図していないことを明確にするため,

“なし”を追加した。

3.4

初期認証のための試験計画及び要求事項

品質認証試験の手順は,JIS C 5101-1 の 3.4 による。

注記  JIS C 5101-1:1998 の 3.4 は,IEC 60384-1:1999 の 3.5 と同等である。

ロットごと及び定期的品質確認検査に基づく品質認証試験の計画は,この規格の 3.5 による。定数抜取

手順は,次の 3.4.1 及び 3.4.2 による。

3.4.1

定数抜取手順に基づく品質認証

定数抜取手順は,JIS C 5101-1 の 3.4.2 の b)

によって,この品目別通則で規定する。

試料は,認証を得ようとするコンデンサのすべての範囲を代表し,個別規格に規定するすべての範囲又

はその一部でもよい。

注記  対応国際規格では,IEC 60410 と記述しているが,明らかな誤記であるので,修正した。


6

C 5101-24

:2009 (IEC 60384-24:2006)

   

なお,JIS C 5101-1:1998 の 3.4.2 の b)

は,IEC 60384-1:1999 の 3.5.3 の b)

と同等である。

温度特性のそれぞれに対する試料は,コンデンサの最大寸法及び最小寸法について,それぞれの寸法で

の,認証を受けようとする定格電圧範囲の中で,最高の定格電圧及び最低の定格電圧での最大定格静電容

量で構成する。定格電圧が 4 種類を超える場合には,中間の定格電圧のものも試験する。このように,範

囲の認証には,それぞれの温度特性に対し,4 組合せ又は 6 組合せ(定格静電容量と定格電圧との組合せ)

の試験を行う。認証範囲を 4 組合せ未満で構成する場合には,試験する試料数は,4 組合せの場合と同じ

とする。

評価水準 EZ を適用する場合,予備試料は,次による。

予備試料は,製造業者の責任でない事故による不適合品の置換え用として 1 組合せごとに 2 個(6 組合

せの場合)又は 3 個(4 組合せの場合)とする。

群 に規定する試料数は,すべての群の試験を適用する場合の試料数であり,すべての試験を適用しな

い場合には,適用しない試験に応じて試料数を減らしてもよい。

品質認証の試験計画に,群を追加する場合の

群 の試料数は,追加する群に必要な試料数を追加する。

品質認証試験のための各群及び副群で試験する試料並びに合格判定数を

表 に示す。

3.4.2

試験

表 及び表 に規定する一連の試験は,個別規格に規定するコンデンサの品質認証に必要な試験であり,

各群の試験は,記載の順に従って行う。

すべての試料は,

群 の試験を行った後,その他の群に配分する。

群 の試験の中で発生した不適合品は,その他の群に用いてはならない。

1 個のコンデンサが,一つの群内で二つ以上の項目で不適合となっても,不適合数は 1 個と数える。

品質認証は,各群又は副群での不適合数が合格判定数以下であり,かつ,不適合数の合計が総合格判定

数以下の場合に,合格とする。

注記  表 及び表 は,定数抜取手順に基づく品質認証試験計画を構成する。表 は,各試験群に対

する試料数及び合格判定数の詳細を規定している。一方,

表 は,箇条 に規定する試験の詳

細に加えて,試験条件及び要求性能の要点の一覧を示すとともに,個別規格に選定する試験方

法,試験条件などを規定している。

定数抜取手順に基づく品質認証の試験計画の試験条件及び要求性能は,個別規格に規定する

品質確認検査と同じとするのがよい。


7

C 5101-24

:2009 (IEC 60384-24:2006)

表 2−品質認証試験の抜取計画及び合格判定数  評価水準 EZ

試験項目

この規格の細分箇条番号

試料数

n

d)

合格判定数

b)

大電流サージ

c)

外観 
寸法

漏れ電流 
静電容量 
損失角の正接(tan δ)

等価直列抵抗(ESR)

c)

4.18

4.4

4.4

4.5.1

4.5.2

4.5.3

4.5.4

120

 
 
 
 
 

0

予備試料

12

1A

はんだ耐熱性 
部品の耐溶剤性

c)

4.6

4.16

12 0

1B

はんだ付け性 
表示の耐溶剤性

c)

4.7

4.17

12 0

2

耐プリント板曲げ性

e)

4.9 12

0

a)

取付け 
外観

漏れ電流 
静電容量 
損失角の正接(tan δ)

等価直列抵抗(ESR)

c)

4.3

4.4

4.5.1

4.5.2

4.5.3

4.5.4

84 0

b)

3.1

固着性

温度急変 
一連耐候性

4.8

4.10

4.11

12 0

3.2

高温高湿(定常)

4.12 12

0

3.3

高温及び低温特性 
サージ

4.13

4.14

12 0

3.4

耐久性

4.15 36

0

3.5

高温貯蔵

4.19 12

0

a)

  これらの測定値は,群 3.1∼群 3.5 の試験の初期値とする。

b)

  合否判定の不適合品の数を示し,この数以下の場合を合格とする。不適合が見つかった試料は,続く試験の

合格判定数(許容不適合数)を算出するときに採用してはならない。その不適合品は,予備品と置き換える。

c)

  個別規格に規定がある場合に適用する。

d)

  定格静電容量と定格電圧との組合せは,3.4.1 を参照する。

e)

  個別規格によってアルミナ基板だけに実装するコンデンサには,適用しない。


8

C 5101-24

:2009 (IEC 60384-24:2006)

   

表 3−品質認証試験計画

細分箇条番号

及び試験項目

a)

D

b)

又は

ND

b)

試験条件

a)

試料数(n)

及び合格

判定数(c)

要求性能

a)

群 0 
4.18

  大電流サージ(個別

規格に規定が ある場
合)

4.4

  外観

 
 
4.4

  寸法(詳細)

4.5.1

  漏れ電流

4.5.2

  静電容量

4.5.3

  損失角の正接

  (tan δ) 
4.5.4

  等価直列抵抗

  (ESR) 
  (個別規格に規定がある

場合)

ND

 
 
 
 
 
 
 
保護抵抗:1 000

Ω

周波数:120 Hz 
周波数:120 Hz 
 
周波数:100 kHz

表 に 
  よる。

 
 
 
 
4.4.2

による。表示は明りょう

とし,個別規格の規定によ
る。

個別規格の規定による。

4.5.1.2

による。

4.5.2

による。

4.5.3

による。

 
個別規格の規定による。

群 1A 
4.6

  はんだ耐熱性

 

4.6.3

  最終測定

 

4.16

  部品の耐溶剤性

  (個別規格に規定がある

場合)

c)

D

試験方法:... 
時間:...s 
後処理時間:24 h±2 h

外観検査 
静電容量 
損失角の正接(tan δ

溶剤:.

溶剤の温度:.

.℃

方法 2

後処理時間:...h

表 に 
  よる。

 
 
 

4.6.3

による。

個別規格の規定による。 
個別規格の規定による。

個別規格の規定による。 

群 1B 
4.7

  はんだ付け性

4.7.2

  最終測定

4.17

  表示の耐溶剤性

(個別規格に規定が
ある場合)

c)

D

個別規格の試験方法による 
外観検査 
 
溶剤:.

溶剤の温度:.

.℃

方法 1

ラビングの材料:綿毛 
後処理時間:...h

表 に 
  よる。

 
 
4.7.2

による。

 
表示は明りょうとする。 
 
 
 

群 2 
4.9

  耐プリント板曲げ性

4.9.1

  初期測定

D

たわみ量:.

.mm

静電容量

外観検査 
静電容量(プリント配線板を曲げた

状態)

表 に 
  よる。

 
 
 
外観に損傷がない。 
個別規格の規定による。 


9

C 5101-24

:2009 (IEC 60384-24:2006)

表 3−品質認証試験計画(続き)

細分箇条番号

及び試験項目

a)

D

b)

又は

ND

b)

試験条件

a)

試料数(n)

及び合格

判定数(c)

要求性能

a)

群 3 
4.3

  取付け

 
 
 
 

D

プリント配線板の材質:.

d)

外観検査 
漏れ電流 
静電容量 
 
損失角の正接(tan δ) 
等価直列抵抗(ESR)

  (個別規格に規定がある場合)

表 に 
  よる。

 
 
外観に損傷がない。 
個別規格の規定による。

4.5.2

の測定値に対して

C/C|

8

個別規格の規定による。 
個別規格の規定による。

群 3.1 
4.8

  固着性 

D

外観検査

表 に 
  よる。

 
外観に損傷がない。

4.10

  温度急変

4.10.1

  初期測定

 
 
 
 
 
4.10.3

  最終測定

 
 
 

 
静電容量 
T

A

:カテゴリ下限温度

T

B

:カテゴリ上限温度

5 回 
試験期間 t

1

=30

後処理時間:1 h∼2 h 
漏れ電流

静電容量 
 
損失角の正接(tan δ

 
 
 
 
 
 
 
個別規格の規定による。

4.10.1

の測定値に対して

  |ΔC/C|

10

個別規格の規定による。

4.11

  一連耐候性

4.11.1

  初期測定

4.11.2

  高温

 
4.11.3

  温 湿 度 サ イ ク ル

(試験 Db)

,最初の

サイクル

4.11.4

  低温

4.11.5

  温 湿 度 サ イ ク ル

(試験 Db)

,残りの

サイクル

4.11.6

  最終測定

 
 
 
 

 
静電容量 
温度:カテゴリ上限温度

試験時間:16 h 
 
 
 
温度:カテゴリ下限温度 
試験時間:2 h

後処理時間:1 h∼2 h 
 
 
外観検査 
 
静電容量 
 
損失角の正接(tan δ

 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
外観に損傷がなく,表示は明

りょうとする。

4.11.1

の測定値に対して

  |ΔC/C|

20

個別規格の規定による。


10

C 5101-24

:2009 (IEC 60384-24:2006)

   

表 3−品質認証試験計画(続き)

細分箇条番号

及び試験項目

a)

D

b)

又は

ND

b)

試験条件

a)

試料数(n)

及び合格

判定数(c)

要求性能

a)

群 3.2 
4.12

  高温高湿(定常)

 
4.12.1

  初期測定

4.12.3

  最終測定

 
 

D 

 
後処理時間:1 h∼2 h

試験期間:21 日 
静電容量 
外観検査 
 
漏れ電流 
静電容量 
 
損失角の正接(tan δ)

表 に 
  よる。

 
 
 
 
外観に損傷がなく,表示は明

りょうとする。

個別規格の規定による。

4.12.1

の測定値に対して

−20

%≦ΔC/C≦40

個別規格の規定による。

群 3.3 
4.13

  高温及び低温特性 

D 

 
コンデンサは,各段階温度で測定す
る。 
段階 1:20

  漏れ電流 
  静電容量 
  損失角の正接(tan δ) 
 
段階 2:−55

℃(カテゴリ下限温

度)

  静電容量 
  損失角の正接(tan δ) 
段階 3:20

  漏れ電流 
  静電容量 
 
  損失角の正接(tan δ) 
段階 4:85

  漏れ電流

  静電容量 
段階 5:カテゴリ上限温度 
  漏れ電流(定格電圧印加)

  静電容量 
  損失角の正接(tan δ) 
段階 6:20

  漏れ電流 
  静電容量 
  損失角の正接(tan δ)

表 に 
  よる。

 
 
 
 
比較用に使用する。 
比較用に使用する。 
比較用に使用する。 
 
 
 
個別規格の規定による。 
個別規格の規定による。 
 
個別規格の規定による。 
段階 1 の測定値に対して 
  |ΔC/C|

5

個別規格の規定による。 
 
個別規格の規定による。

個別規格の規定による。 
 
個別規格の規定による。

個別規格の規定による。 
個別規格の規定による。 
 
段階 3 による。 
段階 3 による。 
段階 3 による。


11

C 5101-24

:2009 (IEC 60384-24:2006)

表 3−品質認証試験計画(続き)

細分箇条番号

及び試験項目

a)

D

b)

又は

ND

b)

試験条件

a)

試料数(n)

及び合格

判定数(c)

要求性能

a)

4.14

  サージ

 
 
 
 
 
4.14.3

  最終測定 

D

サイクル数:1 000

温度:.

.℃

印加電圧:1.15U

R

又は 1.15U

C

保護抵抗:1 000 Ω 
充電時間:30 s

無負荷時間:5 min 30 s 
漏れ電流 
静電容量 
 
 
損失角の正接(tan δ)

表 に 
  よる。

 
 
 
 
 
 
個別規格の規定による。

4.13

の段階 6 の測定値に対し

て 
  |ΔC/C|

10

個別規格の規定による。

群 3.4 
4.15

  耐久性

D

試験時間:1 000 h 
試験温度:...℃

印加電圧:.

.V

後処理時間:1 h∼2 h

表 に 
  よる。

4.15.1

  初期測定

4.15.3

  最終測定 

静電容量

外観検査

 
漏れ電流

静電容量 
 
損失角の正接(tan δ)

等価直列抵抗(ESR) 
  (個別規格に規定がある場合)

 
外観に損傷がなく,表示は明

りょうとする。

4.5.1

の規定値の 2 倍以下

4.15.1

の測定値に対して

  |ΔC/C|

20

4.5.3

の規定値の 1.5 倍以下

個別規格の規定による。

群 3.5 
4.19

  高温貯蔵

 
 

D

温度:カテゴリ上限温度 
時間:96 h±4 h 
後処理時間:16 h  以上

表 に 
  よる。

 
 

4.19.1

  初期測定

4.19.3

  最終測定

静電容量 
外観検査 
 
漏れ電流 
 
静電容量 
 
損失角の正接(tan δ)

 
外観に損傷がなく,表示は明

りょうとする。

4.5.1

の規定値の 5 倍以下

4.19.1

の測定値に対して

  |ΔC/C|

10

4.5.3

による。

a)

  細分箇条番号及び試験項目並びに要求性能は,この規格の箇条 による。

b)

  この表の中で,D:破壊,ND:非破壊

c)

  この試験は,コンデンサを基板に取り付けた状態で行ってもよい。

d)

各副群に,異なる材料のプリント配線板を使用する場合には,そのプリント配線板材料は,個別規格に規定す
る。


12

C 5101-24

:2009 (IEC 60384-24:2006)

   

3.5

品質確認検査

3.5.1

検査ロットの構成

3.5.1.1

群 及び群 検査

これらの検査は,ロットごとに行う。

製造業者は,次の条件で,製造工程のコンデンサをまとめて検査ロットとしてもよい。

1)

検査ロットは,構造的に類似なコンデンサで構成する(3.2 参照)

2a)

試験する試料は,検査ロットの中で定格値(定格電圧及び定格静電容量)及び外形寸法の組合せを代

表し,次の事項を考慮する。

−  組合せ数

−  1 組合せ当たり 5 個以上

2b)  IEC

電子部品品質認証制度(IECQ)の場合は,1 組合せ当たりの試料数が 4 個以下の場合には,製造

業者は,国内監督検査機関からの承認を必要とする。

3.5.1.2

群 検査

これらの試験は,定期的に行う。

試料は,定期検査周期期間内に製造されたものを代表するもので,かつ,寸法の大,中及び小に分類す

る。いかなる期間でも,認証の範囲対象とするために,各寸法から一つの電圧を試験する。次の期間では,

すべての範囲を対象とするために,その他の寸法及び/又は定格電圧のものを試験する。

3.5.2

試験計画

ロットごと及び定期的な品質確認検査の計画は,ブランク個別規格 JIS C 5101-24-1 の箇条 

表 によ

る。

3.5.3

長期保管後の出荷

JIS C 5101-1

の  3.5.2 の規定によって,漏れ電流,はんだ付け性及び静電容量について

群 及び群 

再検査を行う。

注記 1  JIS C 5101-1:1998 の 3.5.2 は,IEC 60384-1:1999 の 3.10 と同等である。

注記 2  この規格のコンデンサでは,長期保管によって漏れ電流の増加が想定されるため,追加した。

3.5.4

評価水準

ブランク個別規格に規定する評価水準は,次の

表 3a 及び表 3b によることが望ましい。


13

C 5101-24

:2009 (IEC 60384-24:2006)

表 3a−ロットごとの検査

評価水準 EZ

検査副群

d)

IL

a)

a)

 c 

a)

A0 100

b)

A1 S-3

c) 

0

A2 

S-3

c)

0

B1 

S-3

c)

0

a)

 IL:検査水準

n:試料数

c:合格判定数(許容不適合数)

b)

  この検査は,工程でロット内の全数から不適合品を取り除いた後に行う抜取試料による検査である。抜取水

準は,部品製造業者が設定する。検査ロットの合否にかかわらず,ppm で示す出荷品質水準を監視するため
に,抜取試料をすべて検査する。

抜取試料中に 1 個以上の不適合品を発見した場合には,このロットは不合格とするが,不適合品は,品質

水準を算出するためにすべて数える。ppm で示す出荷品質水準は,累積した検査データによって算出する。

c)

  試料数(n):JIS Z 9015-1 の付表 に規定する検査水準(IL)/ロットサイズで割り当てるサンプル文字に従

い,

付表 2-A のサンプル文字に対応する試料数とする。

d)

  検査副群の内容は,ブランク個別規格 JIS C 5101-24-1 の箇条 による。

表 3b−定期的な検査

評価水準 EZ

検査副群

b)

a)

a)

 c 

a)

C1 3

12

0

C2 

3 12 0

C3.1 

6 18 0

C3.2 

6 12 0

C3.3A 

6 12 0

C3.3B 

6 12 0

C3.4 

3 24 0

C3.5 

6 12 0

a)

  p:検査周期(月)

n:試料数

c:合格判定数(許容不適合数)

b)

  検査副群の内容は,ブランク個別規格 JIS C 5101-24-1 の箇条 による。

4

試験及び測定方法

この箇条は,JIS C 5101-1 の 4.

に規定する事項を補足するものである。

注記  この箇条で引用する JIS C 5101-1:1998 の細分箇条番号は,IEC 60384-1:1999 の細分箇条番号と

同等である。

4.1

予備乾燥

JIS C 5101-1

の 4.3 による。

4.2

測定条件

JIS C 5101-1

の 4.2.1 による。

4.3

取付け

JIS C 5101-1

の 4.33 による。


14

C 5101-24

:2009 (IEC 60384-24:2006)

   

4.4

外観及び寸法

JIS C 5101-1

の 4.4 によるほか,次による。

4.4.1

外観検査

外観検査は,供試品及び要求する品質レベルに適切な,倍率約 10 倍をもつ適切な機器及び照明で行う。

注記  作業者には,適切な測定装置に加えて,直接又は間接照明の設備を提供することが望ましい。

4.4.2

要求事項

コンデンサは,材料,設計,構造,物理的な寸法及びでき栄え(workmanship)が,個別規格の要求事項

を満足していることを証明するために検査する。

4.5

電気的試験

4.5.1

漏れ電流

JIS C 5101-1

の 4.9 によるほか,次による。

4.5.1.1

測定条件

コンデンサに保護抵抗器を直列に接続し,その両端に定格電圧を印加する。

保護抵抗の値は,1 000

Ω

とする。

4.5.1.2

要求事項

漏れ電流は,20

℃±2

℃で,0.1 C

R

U

R

μA)又は 10 μA のいずれか大きい値以下とする。

4.5.2

静電容量

JIS C 5101-1

の 4.7 によるほか,次による。

4.5.2.1

測定条件

静電容量の測定周波数は,個別規格の規定によって 100 Hz 又は 120 Hz とする。実際のコンデンサ端子

間に印加する電圧は,0.5 V(実効値)以下とする。

測定の間,次の直流バイアス電圧を印加してもよい。

−  定格電圧が 2.5 V 以下の場合は,1.1 V∼1.5 V

−  定格電圧が 2.5 V を超える場合は,1.5 V∼2.0 V とする。

注記 1  対応国際規格では,定格電圧が 2.5 V を超える場合の直流バイアス電圧は,2.1 V∼2.5 V と規

定しているが,測定電圧が 0.5 V(実効値)からは,明らかな誤記である。

測定器の確度は,絶対値又は静電容量の変化の規定値の±2

%以下とする。

注記 2  直流バイアス電圧の印加は,省略してもよい。

4.5.2.2

要求事項

静電容量は,定格値及びその規定の許容差の範囲内とする。

4.5.3

損失角の正接(tan 

δ)

JIS C 5101-1

の 4.8.1 によるほか,次による。

4.5.3.1

測定条件

測定は,4.5.2.1 の条件で行う。

測定器の確度は,絶対値で 0.01 以下とする。

4.5.3.2

要求事項

損失角の正接(20

℃)は,個別規格の要求事項を満足する。

4.5.4

等価直列抵抗(ESR

JIS C 5101-1

の 4.8.2 によるほか,次による。

4.5.4.1

測定条件


15

C 5101-24

:2009 (IEC 60384-24:2006)

周囲温度は,20

℃±2

℃とする。

測定電圧は,0.5 V(実効値)以下とする。

測定周波数は,100 kHz±10 kHz とする。

測定器の確度は,等価直列抵抗の規定値の 5

%又は 0.02

Ω

のいずれか大きい値以下とする。

4.5.4.2

要求事項

等価直列抵抗(ESR)は,個別規格の要求事項を満足する。

4.6

はんだ耐熱性

個別規格に規定がない場合は,JIS C 60068-2-58 によるほか,次による。

4.6.1

初期測定

静電容量を,4.5.2 によって測定する。

4.6.2

試験条件

個別規格に規定がない場合は,JIS C 60068-2-58 による。

4.6.3

最終測定及び要求事項

後処理後に,コンデンサは,外観検査及び電気的性能の測定を行い,次の要求事項を満足する。

外観検査は,個別規格の規定によるほか,次による。

適切な照明で,約 10 倍の倍率で観察したとき,クラックなどの損傷がない。

4.7

はんだ付け性

個別規格に規定がない場合は,JIS C 60068-2-58 によるほか,次による。

4.7.1

試験条件

個別規格にその他の規定がない場合は,JIS C 60068-2-58 による。

4.7.2

最終測定及び要求事項

コンデンサは,適切な照明で約 10 倍の倍率で観察したとき,破損のこん(痕)跡がない。

端子の表面部分は,新しいはんだで覆われていて,わずかに点在する部分以外に,ピンホール,ぬれな

し及びはんだはじきがない。

注記  対応国際規格は“滑らかで光沢のあるはんだで覆われていて”と記述しているが,鉛フリーは

んだでは,はんだ表面に光沢がないので,

“新しいはんだで覆われて”とした。

めっきしていない部分は,評価しない。

電極端子の先端などで,めっきしていない部分は,評価しない。

4.8

固着性

JIS C 5101-1

の 4.34 による。

4.9

耐プリント板曲げ性

JIS C 5101-1

の 4.35 による。

4.9.1

初期測定

静電容量を,4.5.2 によって測定する。

4.10

温度急変

JIS C 5101-1

の 4.16 によるほか,次による。

(コンデンサは,4.3 によって取り付ける。

4.10.1

初期測定

静電容量を,4.5.2 によって測定する。

4.10.2

試験条件


16

C 5101-24

:2009 (IEC 60384-24:2006)

   

コンデンサは,JIS C 0025 の試験 Na を 5 回行う。

各温度にさらす時間は,30 分間とする。

後処理時間は,1 時間∼2 時間とする。

4.10.3

最終測定及び要求事項

後処理後,コンデンサの電気的特性を測定したとき,

表 に規定する要求事項を満足する。

4.11

一連耐候性

JIS C 5101-1

の 4.21 によるほか,次による。

4.11.1

初期測定

静電容量を,4.5.2 によって測定する。

4.11.2

高温

JIS C 5101-1

の 4.21.2 による。

4.11.3

温湿度サイクル(試験 Db),最初のサイクル

JIS C 5101-1

の 4.21.3 による。

4.11.4

低温

JIS C 5101-1

の 4.21.4 による。

4.11.5

温湿度サイクル(試験 Db),残りのサイクル

JIS C 5101-1

の 4.21.6 による。

4.11.5.1

後処理

後処理時間は,1 時間∼2 時間とする。

4.11.6

最終測定及び要求性能

コンデンサは,外観検査及び電気的性能の測定を行い,

表 に規定する要求事項を満足する。

4.12

高温高湿(定常)

JIS C 5101-1

の 4.22 によるほか,次による。

コンデンサは,4.3 によって取り付ける。

4.12.1

初期測定

静電容量を,4.5.2 によって測定する。

4.12.2

試験条件

電圧は印加しない。

4.12.3

最終測定及び要求事項

1 時間∼2 時間の後処理後,コンデンサは外観検査及び電気的性能の測定を行い,表 に規定する要求事

項を満足する。

4.13

高温及び低温特性

JIS C 5101-1

の 4.29 によるほか,次による。

コンデンサは,4.3 によって取り付ける。

4.13.1

最終測定及び要求事項

コンデンサは,電気的性能の測定を行い,

表 に規定する要求事項を満足する。

4.14

サージ

JIS C 5101-1

の 4.26 によるほか,次による。

4.14.1

初期測定

静電容量を,4.5.2 によって測定する。


17

C 5101-24

:2009 (IEC 60384-24:2006)

4.14.2

試験条件

コンデンサは,次の充電に続く 5 分 30 秒間の無負荷(強制放電は,行わない。

)のサイクルを,1 000

回行う。

充電は,サージ電圧(1.15U

R

又は 1.15U

C

)に等しい電圧を次の値の保護抵抗器を通して 30 秒間印加す

る。

RC=0.1 s±0.05 s

試験は,15

℃からカテゴリ上限温度までの間で個別規格に規定する温度で行う。

4.14.3

最終検査測定及び要求事項

1 時間∼2 時間の後処理後に,コンデンサは,電気的性能の測定を行い,表 に規定する要求事項を満足

する。

4.15

耐久性

JIS C 5101-1

の 4.23 によるほか,次による。

コンデンサは,4.3 によって取り付ける。

4.15.1

初期測定

静電容量を,4.5.2 によって測定する。

4.15.2

試験条件

試験期間:1 000 時間

試験温度:カテゴリ上限温度

印加電圧:個別規格に規定がない場合には,カテゴリ電圧

注記  カテゴリ電圧が定格電圧と異なる場合には,試験する試料を 2 分割して,定格温度でのカテゴ

リ電圧でも試験するのが望ましい。

4.15.3

最終測定及び要求事項

1 時間から 2 時間の後処理後,コンデンサは,外観検査及び電気的性能の測定を行い,表 に規定する

要求事項を満足する。

4.16

部品の耐溶剤性(適用する場合)

JIS C 5101-1

の 4.31 による。

注記  適用する場合とは,適用可能な場合に試験を適用することを示す。

4.17

表示の耐溶剤性(適用する場合)

JIS C 5101-1

の 4.32 による。

注記  適用する場合とは,適用可能な場合に試験を適用することを示す。

4.18

大電流サージ(適用する場合)

JIS C 5101-1

の 4.39 による。

注記  適用する場合とは,適用可能な場合に試験を適用することを示す。

4.19

高温貯蔵

JIS C 5101-1

の 4.25.1 によるほか,次による。

4.19.1

初期測定

静電容量を,4.5.2 によって測定する。

4.19.2

試験条件

試験温度:カテゴリ上限温度

試験時間:96 時間±4 時間


18

C 5101-24

:2009 (IEC 60384-24:2006)

   

4.19.3

最終測定及び要求事項

16 時間以上の後処理後,コンデンサは,外観検査及び電気的性能の測定を行い,表 に規定する要求事

項を満足する。