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C 5101-23:2008 (IEC 60384-23:2006)

(1)

目  次

ページ

序文

1

1  一般事項

1

1.1  適用範囲

1

1.2  目的

1

1.3  引用規格

2

1.4  個別規格に規定する事項

2

1.5  用語及び定義

3

1.6  表示

4

2  推奨特性及び定格

4

2.1  推奨特性

4

2.2  推奨定格値

5

3  品質評価手順

5

3.1  製造の初期工程

5

3.2  構造的に類似なコンデンサ

5

3.3  出荷対象ロットの成績証明書

5

3.4  品質認証

5

3.5  品質確認検査

13

4  試験及び測定方法

14

4.1  取付け

14

4.2  外観及び寸法

14

4.3  電気的性能

15

4.4  固着性

17

4.5  耐プリント板曲げ性(電極の接着強度)

17

4.6  はんだ耐熱性

17

4.7  はんだ付け性

17

4.8  温度急変

18

4.9  一連耐候性

18

4.10  高温高湿(定常)

18

4.11  耐久性

18

4.12  充放電

19

4.13  部品の耐溶剤性(適用する場合)

19

4.14  表示の耐溶剤性(適用する場合)

19

 


 
C 5101-23:2008 (IEC 60384-23:2006)

(2)

まえがき

この規格は,工業標準化法第 12 条第 1 項の規定に基づき,社団法人電子情報技術産業協会(JEITA)から,

工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経

済産業大臣が制定した日本工業規格である。

この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。

この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に

抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許

権,出願公開後の特許出願,実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に係る確認について,責任は

もたない。

JIS C 5101 電子機器用固定コンデンサの規格群には,次に示す部編成がある。

JIS

C

5101-1

第 1 部:品目別通則

JIS

C

5101-2

第 2 部:品種別通則:固定メタライズドポリエチレンテレフタレートフィルム直流コ

ンデンサ

JIS

C

5101-2-1  第 2 部:ブランク個別規格:固定メタライズドポリエチレンテレフタレートフィルム

直流コンデンサ  評価水準 E

JIS

C

5101-3

第 3 部:品種別通則:固定タンタルチップコンデンサ

JIS

C

5101-3-1  第 3 部:ブランク個別規格:固定タンタルチップコンデンサ  評価水準 E

JIS

C

5101-4

第 4 部:品種別通則:アルミニウム固体及び非固体電解コンデンサ

JIS

C

5101-4-1  第 4 部:ブランク個別規格:アルミニウム非固体電解コンデンサ  評価水準 E

JIS

C

5101-4-2  第 4 部:ブランク個別規格:アルミニウム固体電解コンデンサ  評価水準 E

JIS

C

5101-8

第 8 部:品種別通則:固定磁器コンデンサ種類 1

JIS

C

5101-8-1  第 8 部:ブランク個別規格:固定磁器コンデンサ種類 1  評価水準 E

JIS

C

5101-9

第 9 部:品種別通則:固定磁器コンデンサ種類 2

JIS

C

5101-9-1  第 9 部:ブランク個別規格:固定磁器コンデンサ種類 2  評価水準 E

JIS

C

5101-11

第 11 部:品種別通則:固定ポリエチレンテレフタレートフィルム金属はく直流コン

デンサ

JIS

C

5101-11-1  第 11 部:ブランク個別規格:固定ポリエチレンテレフタレートフィルム金属はく直

流コンデンサ  評価水準 E

JIS C 5101-13

第 13 部:品種別通則:固定ポリプロピレンフィルム金属はく直流コンデンサ

JIS

C

5101-13-1  第 13 部:ブランク個別規格:固定ポリプロピレンフィルム金属はく直流コンデンサ

評価水準 E

JIS

C

5101-14

第 14 部:品種別通則:電源用電磁障害防止固定コンデンサ

JIS

C

5101-14-1  第 14 部:ブランク個別規格:電源用電磁障害防止固定コンデンサ  評価水準 D

JIS

C

5101-15

第 15 部:品種別通則:固定タンタル非固体又は固体電解コンデンサ

JIS

C

5101-15-1  第 15 部:ブランク個別規格:はく電極形固定タンタル非固体電解コンデンサ  評価

水準 E


C 5101-23:2008 (IEC 60384-23:2006)

(3)

JIS

C

5101-15-2  第 15 部:ブランク個別規格:焼結形固定タンタル非固体電解コンデンサ  評価水準

E

JIS

C

5101-15-3  第 15 部:ブランク個別規格:焼結形固定タンタル固体電解コンデンサ  評価水準 E

JIS

C

5101-16

第 16 部:品種別通則:固定メタライズドポリプロピレンフィルム直流コンデンサ

JIS

C

5101-16-1  第 16 部:ブランク個別規格:固定メタライズドポリプロピレンフィルム直流コンデ

ンサ  評価水準 E

JIS

C

5101-17

第 17 部:品種別通則:固定メタライズドポリプロピレンフィルム交流及びパルスコ

ンデンサ

JIS

C

5101-17-1  第 17 部:ブランク個別規格:固定メタライズドポリプロピレンフィルム交流及びパ

ルスコンデンサ  評価水準 E

JIS

C

5101-18

第 18 部:品種別通則:固定アルミニウム固体 (MnO

2

)  及び非固体電解チップコンデ

ンサ

JIS

C

5101-18-1  第 18 部:ブランク個別規格:固定アルミニウム固体 (MnO

2

)  電解チップコンデンサ

評価水準 E

JIS

C

5101-18-2  第 18 部:ブランク個別規格:固定アルミニウム非固体電解チップコンデンサ  評価

水準 E

JIS

C

5101-20

第 20 部:品種別通則:固定メタライズドポリフェニレンスルフィドフィルムチップ

直流コンデンサ

JIS

C

5101-20-1  第 20 部:ブランク個別規格:固定メタライズドポリフェニレンスルフィドフィルム

チップ直流コンデンサ  評価水準 EZ

JIS

C

5101-21

第 21 部:品種別通則:表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類 1

JIS

C

5101-21-1  第 21-1 部:ブランク個別規格:表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類 1  評価水

準 EZ

JIS

C

5101-22

第 22 部:品種別通則:表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類 2

JIS

C

5101-22-1  第 22-1 部:ブランク個別規格:表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類 2  評価水

準 EZ

JIS

C

5101-23

第 23 部:品種別通則:表面実装用固定メタライズドポリエチレンナフタレートフィ

ルム直流コンデンサ

JIS

C

5101-23-1  第 23-1 部:ブランク個別規格:表面実装用固定メタライズドポリエチレンナフタレ

ートフィルム直流コンデンサ  評価水準 EZ


 
C 5101-23:2008 (IEC 60384-23:2006)

(4)

白      紙


日本工業規格

JIS

 C

5101-23

:2008

(IEC 60384-23

:2006

)

電子機器用固定コンデンサ−

第 23 部:品種別通則:

表面実装用固定メタライズド

ポリエチレンナフタレートフィルム直流コンデンサ

Fixed capacitors for use in electronic equipment−

Part 23: Sectional specification−

Fixed surface mount metallized polyethylene naphthalate film

dielectric DC capacitors

序文

この規格は,2006 年に第 1 版として発行された IEC 60384-23 を基に,技術的内容及び対応国際規格の

構成を変更することなく作成した日本工業規格である。

なお,この規格で点線の下線を施してある参考事項は,対応国際規格にはない事項である。

1

一般事項

1.1

適用範囲

この規格は,誘電体がポリエチレンナフタレートでその上にメタライズド電極をもつ電子機器用の表面

実装用固定メタライズドポリエチレンナフタレートフィルム直流コンデンサ(以下,コンデンサという。

の品種別通則について規定する。このコンデンサは,はんだ付け用板端子又は金属化電極面をもち,ハイ

ブリッド回路基板又はプリント配線板に直接取り付けられる。このコンデンサは,使用条件によっては,

“自己回復作用”を生じる場合がある。また,定格電圧に対して交流成分が小さい場合に適用するコンデ

ンサである。

電磁障害防止用コンデンサには,この規格を適用しないで JIS C 5101-14 を適用する。

注記 1  この規格は,コンデンサの特性について規定するものであるが,その特性に係る規定は,設

計の目標値を示すものであり,この規格によって適合性評価を行うことは,意図していない。

注記 2  この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。

IEC 60384-23:2006 , Fixed capacitors for use in electronic equipment − Part 23: Sectional

specification−Fixed surface mount metallized polyethylene naphthalate film dielectric DC

capacitors (IDT)

なお,対応の程度を表す記号(IDT)は,ISO/IEC Guide 21 に基づき,一致していることを示

す。

1.2

目的



C 5101-23:2008 (IEC 60384-23:2006)

この規格の目的は,推奨する定格及び特性を規定するとともに,JIS C 5101-1 から適切な品質評価手順,

試験方法及び測定方法を選定し,一般的要求性能を規定する。

この品種別通則に基づいた個別規格に規定する試験の厳しさ及び要求性能は,この規格と同等か又は高

い水準とする。

1.3

引用規格

次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの

引用規格のうちで,西暦年を付記してあるものは,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追補を含む。

は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は,その最新版(追補を含む。

)を適用する。

JIS C 5062:2008  抵抗器及びコンデンサの表示記号

注記  対応国際規格:IEC 60062,Marking codes for resistors and capacitors (MOD)

JIS C 5063:1997  抵抗器及びコンデンサの標準数列

注記  対応国際規格:IEC 60063,Preferred number series for resistors and capacitors  並びに Amendment

1 :1967 及び Amendment 2:1977 (IDT)

JIS C 5101-1:1998  電子機器用固定コンデンサ−第 1 部:品目別通則

注記  対応国際規格:IEC 60384-1,Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 1: Generic

specification (MOD)

JIS C 5101-14:1998  電子機器用固定コンデンサ−第 14 部:品種別通則:電源用電磁障害防止固定コ

ンデンサ

注記  対応国際規格:IEC 60384-14,Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 14: Sectional

specification: Fixed capacitors for electromagnetic interference suppression and connection to the

supply mains 及び Amendment 1:1995 (MOD)

JIS C 5101-23-1:2008  電子機器用固定コンデンサ−第 23-1 部:ブランク個別規格:表面実装用固定メ

タライズドポリエチレンナフタレートフィルム直流コンデンサ  評価水準 EZ

注記  対応国際規格:IEC 60384-23-1,Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 23-1: Blank

detail specification−Fixed surface mount metallized polyethylene naphthalate film dielectric DC

capacitors−Assessment level EZ (IDT)

JIS C 60068-1:1993  環境試験方法−電気・電子−通則

注記  対応国際規格:IEC 60068-1,Environmental testing.  Part 1: General and guidance 及び

Amendment 1:1992 (IDT)

JIS Z 8601:1954  標準数

注記  対応国際規格:ISO 3,Preferred numbers−Series of preferred numbers (MOD)

JIS Z 9015-1:1999  計数値検査に対する抜取検査手順−第 1 部:ロットごとの検査に対する AQL 指標

型抜取検査方式

注記  対応国際規格:IEC 60410,Sampling plans and procedures for inspection by attributes (MOD)

1.4

個別規格に規定する事項

個別規格は,関連するブランク個別規格の様式による。個別規格は,JIS C 5101-1:1998(品目別通則)

この規格 JIS C 5101-23:2008(品種別通則)

,又は JIS C 5101-23-1:2008(ブランク個別規格)の要求性能よ

りも低い水準の内容を規定してはならない。より厳しい要求性能を規定する場合は,その内容を個別規格

の 1.9(品目別通則及び/又は品種別通則への追加又はより厳しい要求事項)に記載し,更に,試験計画の

中に,例えば,アスタリスク(*)を付けて明示する。


3

C 5101-23:2008 (IEC 60384-23:2006)

注記  1.4.1 の外形図及び寸法は,一覧表で示してもよい。

各個別規格に次の事項を規定し,引用する値は,この規格の該当する項目の中から選定する。

1.4.1

外形図及び寸法

外形図及び寸法は,その他のコンデンサとの比較及び区別が容易にできるように図示する。コンデンサ

の互換性及び取付けに関連する寸法及び寸法許容差は,個別規格に規定する。また,すべての寸法値はミ

リメートル (mm) で規定する。

寸法は,本体の長さ,幅及び高さ並びに電極の寸法を規定する。

“寸法及び定格静電容量と定格電圧との

組合せ範囲”のように幾つかの組合せを個別規格に規定する場合は,各々の寸法及び寸法許容差を図面の

下に表で示す。

形状が上記の場合と異なる場合は,個別規格にそのコンデンサを適切に表す寸法を規定する。

注記  対応国際規格では,明らかな誤りで電極の寸法が欠落しているため,文言修正を提案する。

1.4.2

取付け

個別規格に通常使用の場合の取付方法を規定する。試験及び測定のための取付方法(要求がある場合)

は,4.1 による。

1.4.3

定格及び特性

定格及び特性は,次によるほか,この規格の関連項目による。

1.4.3.1

定格静電容量範囲

2.2.1 による。

注記  IEC 電子部品品質認証制度  (IECQ)  の場合は,個別規格の定格静電容量範囲と認証を受けた範

囲とが異なるとき,次の文章を追加する。

“各定格電圧での定格静電容量の範囲は,品質認証部

品一覧  (QPL)  による。

1.4.3.2

特殊な特性

設計及び使用目的によって,特殊な特性が必要な場合は,追加の規定をしてもよい。

1.4.3.3

はんだ付け

はんだ付け性及びはんだ耐熱性で適用する試験方法,厳しさ及び要求性能は,個別規格の規定による。

1.4.4

表示

コンデンサ及びその包装に対する表示項目を個別規格に規定する。1.6 と異なる場合は,その事項を個別

規格に明記する。

1.5

用語及び定義

JIS C 5101-1 に規定する用語の定義によるほか,次による。

1.5.1

表面実装用コンデンサ (surface mount capacitor)

寸法が小形で端子形状がプリント配線板及びハイブリッド回路の表面実装用に適したコンデンサ。

1.5.2

性能等級 のコンデンサ(長寿命用)[perfomance grade 1 capacitors (long life)]

長期間にわたって高い性能水準を要求するコンデンサ。

1.5.3

性能等級 のコンデンサ(一般用)[perfomance grade 2 capacitors (general purpose)]

性能等級 1 のコンデンサのような高い性能水準を要求しない一般用のコンデンサ。



C 5101-23:2008 (IEC 60384-23:2006)

1.5.4

性能等級 のコンデンサ(低温,小形)[performance grade 3 capacitors (low temperature, miniature type)]

性能等級 2 のコンデンサのような性能水準を要求しない定格温度が 85  ℃以下の小形のコンデンサ。

1.5.5

定格電圧  (U

R

) (rated voltage)

カテゴリ下限温度と定格温度との間のどの温度でも,コンデンサに連続して印加できる直流電圧の最高

電圧。

注記  コンデンサに印加する直流電圧と交流電圧のピーク値との和は,定格電圧を超えないことを示

す。個別規格に規定がない場合は,交流電圧の最大値は,次に示すそれぞれの周波数での定格

電圧に対する割合を超えないことを示す。

 50

Hz: 20 %

 100

Hz: 15 %

 1

kHz:    3 %

 10

kHz:    1 %

1.6

表示

表示は,JIS C 5101-1 の 2.4(表示)によるほか,次による。

1.6.1

表示内容は,次の項目から選定する。表示の優先順位は,記載の順による。

a)  定格静電容量(明りょうな文字又は JIS C 5062 に基づく記号)

b)  定格電圧(直流電圧を表す記号 d.c.は,記号                  又は      で表してもよい。)

c)  定格静電容量許容差

d)  カテゴリ電圧

e)  製造年月(又は年週)

f)  製造業者又はその商標

g)  耐候性カテゴリ

h)  製造業者の形名

i)

引用個別規格

1.6.2

表面実装用コンデンサ本体へは,一般に表示を行わない。ただし,表示を行う場合は,1.6.1 の必

要事項を明りょうに表示する。

注記  表示の重複は避けることが望ましく,表示する項目は,1.6.1 の a),f)  及び h)  を含めることが

望ましい。

1.6.3

コンデンサの包装には,1.6.1 のすべての事項を明りょうに表示する。

1.6.4

表示を追加する場合は,混乱しないように表示する。

2

推奨特性及び定格

2.1

推奨特性

個別規格に規定する特性は,次の中から選定するのが望ましい。

2.1.1

推奨耐候性カテゴリ

この規格に規定するコンデンサの耐候性カテゴリは,JIS C 60068-1 の 8.(部品耐候性カテゴリ)によっ

て分類する。

カテゴリ下限温度,カテゴリ上限温度及び高温高湿(定常)の試験期間は,次の中から選定する。


5

C 5101-23:2008 (IEC 60384-23:2006)

カテゴリ下限温度:−55  ℃,−40  ℃又は−25  ℃

カテゴリ上限温度:+85  ℃(性能等級 3 だけに適用)

,+100  ℃,+125  ℃又は+155  ℃

高温高湿(定常)の試験期間:4 日,10 日,21 日又は 56 日

注記 1 155

℃での耐久性試験期間を超える連続使用については,加速性について配慮しなけれ

ばならない(個別規格による。

注記 2  対応国際規格では 125  ℃と規定しているが,明らかな誤記のため 155  ℃に修正した。

低温及び高温の試験温度は,それぞれカテゴリ下限温度及びカテゴリ上限温度とする。

2.2

推奨定格値

2.2.1

定格静電容量  (C

R

)

定格静電容量の推奨値は,1,1.5,2.2,3.3,4.7 及び 6.8 並びにそれらの 10 n 倍(n は整数とする。

)と

する。これらの値は,JIS C 5063 に規定する E6 標準数列による。

その他の値が必要な場合は,E12 標準数列から選定する。

2.2.2

定格静電容量許容差

定格静電容量に対する推奨許容差は±5 %,±10 %及び±20 %とする。

2.2.3

定格電圧  (U

R

)

定格電圧の推奨値は,JIS Z 8601 に規定の R5 標準数列及び R10 標準数列の中の 5 を加えた数列から選

んだ次の値,10 V,16 V,25 V,40 V,50 V,63 V,100 V,160 V,250 V,400 V  及び 630 V とする。

2.2.4

カテゴリ電圧  (U

C

)

カテゴリ電圧は,次による。

性能等級 1 及び性能等級 2 のコンデンサ

カテゴリ上限温度 125  ℃の場合は 0.8 U

 R

カテゴリ上限温度 155  ℃の場合は 0.5 U

 R

性能等級 3 のコンデンサ

カテゴリ上限温度 100  ℃の場合は 0.8 U

 R

カテゴリ上限温度 125  ℃の場合は 0.5 U

 R

2.2.5

定格温度

定格温度は,性能等級 1  及び性能等級 2  の場合は 100  ℃,性能等級 3  の場合は 85  ℃とする。

3

品質評価手順

3.1

製造の初期工程

製造の初期工程は,コンデンサ素子の巻取り又はこれと同等な工程とする。

3.2

構造的に類似なコンデンサ

構造的に類似なコンデンサは,外形寸法,静電容量及び電圧が異なっていても,本質的に同じ生産工程

及び材料で製造されたコンデンサとする。

3.3

出荷対象ロットの成績証明書

個別規格に規定がある場合で購入者から要求がある場合は,JIS C 5101-1 の 3.5.1(出荷対象ロットの成

績証明書)によって,出荷対象ロットの成績証明書を提出しなければならない。耐久性試験後に要求され

る特性値は,静電容量,誘電正接及び絶縁抵抗とする。

注記  JIS C 5101-1 の 3.5.1 は,対応国際規格 IEC 60384-1:1999 の 3.9 と同等である。

3.4

品質認証



C 5101-23:2008 (IEC 60384-23:2006)

品質認証試験の手順は,JIS C 5101-1 の 3.4(品質認証手順)による。

ロットごと及び定期的品質確認検査に基づく品質認証試験の計画は,この規格の 3.5 による。定数抜取

手順は 3.4.1 及び 3.4.2 による。

注記  JIS C 5101-1 の 3.4 は,対応国際規格 IEC 60384-1:1999 の 3.5 と同等である。

3.4.1

定数抜取手順に基づく品質認証

3.4.1.1

サンプリング方法

定数抜取手順は,JIS C 5101-1 の 3.4.2 b)  による。試料は,認証を得ようとするコンデンサのすべての

範囲を代表するものとし,個別規格に規定する範囲であっても,また,その一部でもよい。

注記  JIS C 5101-1 の 3.4.2 b)  は,対応国際規格 IEC 60384-1:1999 の 3.5.3 b)  と同等である。

抜き取る試料は,最低及び最高の定格電圧のものでそれぞれの電圧に対応する最小及び最大の定格静電

容量のもので構成する。定格電圧が 5  種類以上ある場合は,中間の定格電圧のものも試験する。このよう

に一つの認証範囲の試験には,4 組合せ(定格静電容量と定格電圧との組合せ)又は 6 組合せの試料を必

要とする。

認証範囲の試料が 4 組合せ未満で構成される場合には,

試料数は 4 組合せの場合と同数とする。

予備の試料は,製造業者の責任でない不良品の置換え用として 1 組合せごとに 2 個(6 組合せの場合)

又は 3 個(4 組合せの場合)とする。

表 及び表 に示す群“0”に規定する試料数は,すべての群の試験を適用する場合の試料数とし,すべ

ての試験を適用しない場合は,適用しない試験に応じて試料数を減らしてもよい。

品質認証の試験計画に,群を追加する場合の群“0”の試料数は,追加する群に必要な試料数を追加する。

表 に品質認証試験の場合の各群及び副群の抜取数並びに合格判定個数を示す。

3.4.2

試験

表 及び表 に規定する試験は,個別規格に規定のコンデンサの品質認証に必要な試験であり,各群の

試験は,記載の順に従って実施する。

すべての試料は,群“0”の試験を行い,その後にその他の群に分割する。

群“0”の試験中に発生した不適合品は,その他の群に用いてはならない。

1 個のコンデンサが,一つの群内で二つ以上の項目で不適合になっても“不適合個数は 1 個”と数える。

不適合数が各群又は各副群での合格判定個数を超えないで,かつ,各項目合計の合格判定個数を超えな

い場合,品質認証は,合格とする。

注記  表 及び表 は,定数抜取手順に基づく品質認証の試験計画を構成する。表 は,各試験又は

試験群に対する抜取計画及び合格判定個数の詳細を規定している。

表 は,箇条 4(試験及び

測定方法)の試験の詳細を規定,試験条件及び要求性能の要点の一覧を示すとともに個別規格

に選定する試験方法又は試験条件を規定している。

定数抜取手順に基づく品質認証試験計画の試験条件及び要求性能は,個別規格に規定する品

質確認検査と同じとする。


7

C 5101-23:2008 (IEC 60384-23:2006)

表 1−品質認証試験の定数抜取試験計画  評価水準 EZ

群番号

試験項目

この規格の

細別箇条番号

試料数  (n)

a)

合格判定個数  (c)

外観

4.2 

寸法

4.2 

静電容量

4.3.2 

144 0

誘電正接

4.3.3 

耐電圧

4.3.1 

絶縁抵抗

4.3.4 

  予備試料

12

1A 

はんだ耐熱性

4.6 

12 0

部品の耐溶剤性

b)

4.13 

1B 

はんだ付け性

4.7 

12 0

表示の耐溶剤性

b)

4.14 

耐プリント板曲げ性(電極の接着強度) 4.5 

12 0

取付け

4.1 

外観

4.2.1 

静電容量

4.3.2 

108

c) 

誘電正接

4.3.3 

絶縁抵抗

4.3.4 

3.1 

固着性

4.4 

温度急変

4.8 

24 0

一連耐候性

4.9 

3.2 

高温高湿(定常)

4.10 

24 0

3.3 

耐久性

4.11 

36 0

3.4 

充放電

4.12 

24 0

a)

  定格静電容量と定格電圧との組合せは,この規格の 3.4.1 による。

b)

  個別規格に規定がある場合に適用する。

c)

  取付け後に発見された取付けに起因する不適合品は,判定には入れてはならない。これらの不適合品

は,予備試料と交換する。



C 5101-23:2008 (IEC 60384-23:2006)

表 2−品質認証の試験計画

細分箇条番号 
及び試験項目

注記 参照)

D

又は

ND

試験条件

注記 参照)

試料数  (n)  及び

合格判定個数  (c)

要求性能

注記 参照)

群 

ND

表 による。

4.2.1  外観

4.2.2 による。 
表示が明りょうであり,そ

の他は個別規格の規定
による。

4.2  寸法(詳細)

個別規格の規定による。

4.3.2  静電容量

規定の許容差による。

4.3.3  誘電正接

周波数:1 kHz

4.3.3.2 による。

4.3.1  耐電圧

方法は,個別規格の規定に

よる。

絶縁破壊又はフラッシオ

ーバがない。ただし,一
時的瞬時破壊があって

もよい。

4.3.4  絶縁抵抗

4.3.4.3 による。

群 1A 

D

表 による。

4.6  はんだ耐熱性

4.6.1  初期測定

静電容量

4.6.2  試験条件

方法 1,方法 又は個別規

格の規定による。

時間:5 s±0.5 s 又は 10 s±

1 s,個別規格の規定によ

る。

方法 を適用する場合,浸

せ き 及 び 引 上 げ の 速 さ
は,25 mm/s±2.5 mm/s と
する。

後処理時間:24 h±2 h

4.6.3  最終測定

外観

4.6.3 による。

静電容量

4.6.1 の測定値に対して,

  性能等級 1 及び 2 の場合

    |ΔC/C|≦3 %,

  性能等級 3  の場合

    |ΔC/C|≦5 %

4.13  部品の耐溶剤性

溶剤:2-プロパノール

個別規格の規定による。

(適用する場合)

  (イソプロピルアルコール)

溶剤の温度:...

方法 

後処理時間:1 h

注記 1  試験の細分箇条番号及び要求性能は,箇条 4(試験及び測定方法)による。 
注記 2  この表で D は破壊試験,ND は非破壊試験を示す。


9

C 5101-23:2008 (IEC 60384-23:2006)

表 2−品質認証の試験計画(続き)

細分箇条番号 
及び試験項目

注記 参照)

D

又は

ND

試験条件

注記 参照)

試料数  (n)  及び

合格判定個数  (c)

要求性能

注記 参照)

群 1B 

D

表 による。

4.7  はんだ付け性

エージングは行わない。

方法 又は方法 2 
個別規格の規定による。

4.7.2  最終測定

外観

4.7.2 による。

4.14  表示の耐溶剤性

a)

(適用する場合)

溶剤:2-プロパノール

  (イソプロピルアルコール)

 
表示が明りょうである。

溶剤の温度:...

方法 

ラビングの材料:脱脂綿

後処理時間:1 h

群 

D

表 による。

4.5  耐プリント板曲げ
性(電極の接着強度)

4.5.1  初期測定

静電容量

静電容量(プリント配線板

を曲げた状態)

4.5.1 の測定値に対して,
  性能等級 1 及び 2 の場合

    |ΔC/C|≦2 %,

  性能等級 3  の場合

    |ΔC/C|≦5 %

4.5.2  最終測定

外観

外観に損傷がない。

群 

D

表 による。

4.1  取付け

プリント配線板の材質:

...

b)

4.2.1  外観

個別規格の規定による。

4.3.2  静電容量

周波数:1 kHz

群 の測定値に対して

    |ΔC/C|≦ 2 %

4.3.3  誘電正接

周波数:1 kHz(すべての静

電容量値に適用)

10 kHz,C

R

≦1

µF  に適用

(追加として,4.3.3.3 によ

る。

4.3.3.2 による。 

群 3.1,群 3.3 及び群 3.4
の最終測定に対する初
期値)

4.3.4  絶縁抵抗

4.3.4.3 による。

a)

  この試験は,コンデンサをプリント配線板に取り付けた状態で行ってもよい。

b)

  各副群で異なるプリント配線板材料を用いる場合は,それぞれの副群で用いるプリント配線板材料を個

別規格に規定しなければならない。


10 
C 5101-23:2008 (IEC 60384-23:2006)

表 2−品質認証の試験計画(続き)

細分箇条番号 
及び試験項目

注記 参照)

D

又は

ND

試験条件

注記 参照)

試料数  (n)  及び

合格判定個数  (c)

要求性能

注記 参照)

群 3.1 
4.4  固着性 
4.4.1  中間測定 
4.8  温度急変 
4.8.1  初期測定 
 
 
 
4.8.2  試験条件 
 
4.8.3  中間測定 
4.9  一連耐候性 
4.9.1  初期特性 
 
4.9.2  高温 
 
4.9.3  温湿度サイクル

(12+12 時間サイク
ル)

,最初のサイクル

4.9.4  低温 
 
4.9.5  温湿度サイクル

(12+12 時間サイク

ル)

,残りのサイクル

4.9.6  最終測定 

D

 
外観 
 
行わない。

群 で測定した

値を初期値とする。

T

A

=カテゴリ下限温度

T

B

=カテゴリ上限温度

5  サイクル 
時間 t

1

=30 min

外観 
 
行わない。

群 で測定した

値を初期値とする。

温度:カテゴリ上限温度 
時間:16 h 
 
 
 
温度:カテゴリ下限温度

時間:2 h 
試験槽から取出し後,15 分

以内に定格電圧を 1 分間

印加する。

外観 
 
静電容量 
 
 
 
 
誘電正接:

C

R

≦1

µF:10 kHz

 
 

C

R

>1

µF:1 kHz

 
 
 
絶縁抵抗 
 

表 による。

 
 
外観に損傷がない。 
 
 
 
 
 
 
 
外観に損傷がない。 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
外観に損傷がない。 
表示が明りょうである。 
群 の測定値に対して, 
  性能等級 1 及び 2 の場合
    |ΔC/C|≦3 %,

  性能等級 3  の場合 
    |ΔC/C|≦5 % 
誘電正接の増加: 
群 の測定値に対して, 
  性能等級 1≦0.002 5 
  性能等級 2≦0.004

  性能等級 3≦0.007 
群 の測定値に対して, 
  性能等級 1≦0.003

  性能等級 2≦0.005 
  性能等級 3≦0.007 
4.3.4.3 の値に対して, 
  性能等級 1 及び 2 の場合
    ≧50 % 
  性能等級 3 の場合

    ≧25 %


11

C 5101-23:2008 (IEC 60384-23:2006)

表 2−品質認証の試験計画(続き)

細分箇条番号 
及び試験項目

注記 参照)

D

又は

ND

試験条件

注記 参照)

試料数  (n)  及び

合格判定個数  (c)

要求性能

注記 参照)

群 3.2 
4.10  高温高湿(定常) 
4.10.1  初期測定 
 
 
4.10.2  最終測定 
 

D

 
行わない。

群 で測定した

値を初期値とする。

後処理:2 h

外観 
静電容量 
 
 
 
 
誘電正接:1 kHz 
 
 
 
 
 
絶縁抵抗 
 
 

表 による。

 
 
 
 
 
外観に損傷がない。 
群 の測定値に対して, 
  性能等級 1 及び 2 の場合

    |ΔC/C|≦7 %, 
  性能等級 3  の場合 
    |ΔC/C|≦10 %

誘電正接の増加: 
群 の測定値に対して, 
  性能等級 1 及び 2 の場合

    ≦0.005 
  性能等級 3 の場合 
    ≦0.007 
4.3.4.3 の値に対して, 
  性能等級 1 及び 2 の場合
    ≧50 %

  性能等級 3 の場合 
    ≧25 %

群 3.3 
4.11  耐久性 
4.11.1  初期測定 
 
4.11.2  試験条件 
 
4.11.5  最終測定

 
 
行わない。

群 で測定した

値を初期値とする。

4.11.24.11.3 及び 4.11.4 
よる。 
外観 
 
静電容量 
 
 
 
 
誘電正接: 
  C

R

≦1

µF:10 kHz

 
 
 
  C

R

>1

µF:1 kHz

 
 

表 による。

 
 
 
 
 
 
外観に損傷がない。

表示が明りょうである。 
群 の測定値に対して, 
  性能等級 1 の場合

    |ΔC/C|≦5 %, 
  性能等級 2 及び 3 の場合
    |ΔC/C|≦8 %

誘電正接の増加: 
群 の測定値に対して, 
  性能等級 1≦0.003

  性能等級 2≦0.005 
  性能等級 3≦0.007 
群 の測定値に対して, 
  性能等級 1≦0.002 
  性能等級 2≦0.003 
  性能等級 3≦0.005 


12 
C 5101-23:2008 (IEC 60384-23:2006)

表 2−品質認証の試験計画(続き)

細分箇条番号 
及び試験項目

注記 参照)

D

又は

ND

試験条件

注記 参照)

試料数  (n)  及び

合格判定個数  (c)

要求性能

注記 参照)

D

絶縁抵抗

4.3.4.3 の値に対して, 
  性能等級 1 及び 2 の場合

    ≧50 % 
  性能等級 3 の場合 
    ≧25 %

群 3.4 
4.12  充放電 
4.12.1  初期測定 
 
4.12.2  試験条件 
4.12.3  最終測定 

D

 
行わない。

群 で測定した

値を初期値とする。

10 000 サイクル 
静電容量 
 
 
 
 
 
 
誘電正接: 
  C

R

≦1

µF:10 kHz

 
 
 
  C

R

>1

µF:1 kHz

 
 
 
絶縁抵抗

表 による。

 
 
 
 
 
群 の測定値に対して, 
  性能等級 1 の場合 
    |ΔC/C|≦5 %, 
  性能等級 2 の場合

    |ΔC/C|≦8 %, 
  性能等級 3 の場合 
    |ΔC/C|≦10 %

誘電正接の増加: 
群 の測定値に対して, 
  性能等級 1≦0.003

  性能等級 2≦0.005 
  性能等級 3≦0.007 
群 の測定値に対して, 
  性能等級 1≦0.002 
  性能等級 2≦0.003 
  性能等級 3≦0.005 
4.3.4.3 の値に対して, 
  性能等級 1 及び 2 の場合
    ≧50 %

  性能等級 3 の場合 
    ≧25 %


13

C 5101-23:2008 (IEC 60384-23:2006)

3.5

品質確認検査

3.5.1

検査ロットの構成

a)  群 及び群 検査  この検査は,ロットごとに行う。

製造業者は,次の条件でコンデンサをまとめて検査ロットとしてもよい。

1)  検査ロットは,構造的に類似なコンデンサで構成する(3.2 参照)。

2a)  試料は,検査ロットに含まれる定格電圧と定格静電容量との組合せ及び外形寸法の代表とする。

−  試料数

−  1 組合せ当たり 5 個以上

2b)  IEC 電子部品品質認証制度  (IECQ)  の場合は,1 組合せ当たりの抜取数が 4 個以下のとき,製造業

者は,国内監督検査機間からの承認が必要である。

b)  群 検査  この検査は,定期的に行う。

試料は,規定の期間に工程に流れている製品を代表するもので,外形寸法を小,中及び大に分類す

る。どの期間でも認証の範囲を対象とするために,それぞれの外形寸法の分類ごとに一つの定格電圧

のものを試験する。その後の期間では,製造のすべての範囲を対象とするために,製造中のその他の

外形寸法及び/又は定格電圧のものを試験する。

3.5.2

試験計画

品質確認検査のためのロットごとの品質確認検査及び定期的品質確認検査の試験計画は,ブランク個別

規格 JIS C 5101-23-1 の箇条 2(検査要求事項)の

表 による。

3.5.3

長期保管後の出荷

JIS C 5101-1 の 3.5.2(長期保管後の出荷)の規定に従い,はんだ付け性及び静電容量について群 及び

群 の再検査を行う。

注記  JIS C 5101-1 の 3.5.2 は,対応国際規格 IEC 60384-1:1999 の 3.10 と同等である。

3.5.4

評価水準

ブランク個別規格に規定する評価水準は,

表 及び表 から選定するのが望ましい。


14 
C 5101-23:2008 (IEC 60384-23:2006)

表 3−ロットごとの品質確認検査

D

e)

 EZ F

e)

G

e)

評価水準

検査副群

d)

IL

a)

n

a)

c

a)

 IL

a)

n

a)

c

a)

 IL

a)

n

a)

c

a)

 IL

a)

n

a)

c

a)

A0

100

%

b)

A1

S-3

f)

c) 

A2

S-3

c) 

B1

S-3

c) 

B2

S-3

c) 

a)

 IL =検査水準

n  =試料数 
c  =合格判定個数

b)

 100 %検査とは,工程で不適合品を取り除いた後に,100 万個当たりの不良数 (ppm) で示す出荷品質水準を

監視するために,抜取りによる

副群 A0 の検査をすべて行うことをいう。100 %検査での抜取水準は,部品製

造業者が設定する。どのような特性不適合も,不適合として扱い,不適合品のすべてを数える。ppm 値は,
これらの不適合品の累計を用いて算出する。また,抜取試料中に 1 個でも不適合品を発見した場合には,こ
のロットは不合格とする。

c)

  試料数(n):  JIS Z 9015-1 に規定の付表 の検査水準 (IL)/ロットサイズで割り当てるサンプル文字に従い,

付表 2-A のサンプル文字に対応する試料数とする。

d)

  検査副群の内容は,ブランク個別規格 JIS C 5101-23-1 の箇条 2(検査要求事項)による。

e)

  評価水準 D,F 及び G は,検討中。

f)

  IEC/TC40 国際会議での規格での方向付けによって S-4 から S-3 に変更した。

表 4−定期的品質確認検査

D

c)

 EZ F

c)

G

c)

検査副群

b)

p

a)

n

a)

c

a)

p

a)

n

a)

c

a)

p

a)

n

a)

c

a)

p

a)

n

a)

c

a)

C1

   3

12

0     

C2

   3

12

0     

C3.1

   6

27

0     

C3.2

   6

15

0     

C3.3

   3

15

0     

C3.4

   6 9 0     

a)

  p  =検査周期(月)

n  =試料数 
c  =合格判定個数

b)

  検査副群の内容は,ブランク個別規格 JIS C 5101-23-1 の箇条 2(検査要求事項)による。

c)

  評価水準 D,F 及び G は,検討中。

4

試験及び測定方法

この箇条は,JIS C 5101-1 の 4.(試験及び測定方法)に規定する事項を補足するものである。

4.1

取付け

JIS C 5101-1 の 4.33(取付け)による。

4.2

外観及び寸法

JIS C 5101-1 の 4.4(外観及び寸法)によるほか,次による。

4.2.1

外観

外観は,供試品及び要求する品質レベルに適切な照明と約 10 倍の拡大鏡とを用いて検査する。

注記  検査員は,適切な測定設備に加えて直接又は間接照明の設備を用意することが望ましい。


15

C 5101-23:2008 (IEC 60384-23:2006)

4.2.2

要求事項

コンデンサの,材料,形状(設計)

,構造,寸法及び仕上げについて個別規格の適用する要求事項に合致

していることを確認する。

4.3

電気的性能

4.3.1

耐電圧

JIS C 5101-1 の 4.6(耐電圧)によるほか,次による。

4.3.1.1

試験回路

コンデンサ C

1

を削除する。

R

1

と試料  (C

X

)  の定格静電容量との積は,0.01 s を超え 1 s 以下とする。

R

1

は,電源の内部抵抗を含む。

R

2

は,放電電流を 1 A 以下に制限する値とする。

4.3.1.2

JIS C 5101-1 の 4.5.3 の表Ⅰに規定の測定箇所に表 に示す電圧を,品質認証試験の場合は 1 分間,

ロットごとの品質確認検査の場合は 1 秒間印加する。

表 5−試験電圧

測定箇所

性能等級

試験電圧

1 1.6

U

R

2 1.4

U

R

JIS C 5101-1 の 4.5.3 の表Ⅰ

端子相互間  1a)

3 1.4

U

R

注記  JIS C 5101-1 の 4.5.3 の表Ⅰは,対応国際規格 IEC 60384-1:1999 の 4.5.3 の表 と同等である。

4.3.1.3

要求性能

試験中,絶縁破壊又はフラッシュオーバがあってはならない。

注記  電圧印加中の自己回復作用は,あってもよい。

4.3.2

静電容量

JIS C 5101-1 の 4.7(静電容量)によるほか,次による。

4.3.2.1

静電容量は,1 kHz で測定又は測定値を 1 kHz の値に補正する。ただし,10

µF を超える定格静電

容量のものは,50 Hz∼120 Hz で測定してもよい。

1 kHz での測定電圧のピーク値は定格電圧の 3 %以下とし,50 Hz∼120 Hz でのピーク値は,定格電圧の

20 %又は 100 V (70 Vr.m.s.)  のいずれか小さい値以下とする。

4.3.2.2

静電容量は,規定の許容差による。

4.3.3

誘電正接

JIS C 5101-1 の 4.8(誘電正接)によるほか,次による。

4.3.3.1

1 kHz  での測定条件

誘電正接の測定は,次による。

−  周波数: 1

kHz

−  ピーク電圧:  ≦定格電圧の 3 %

−  確度:

≦10×10

4

(絶対値)

4.3.3.2

1 kHz での要求事項

誘電正接は,

表 に示す値以下とする。


16 
C 5101-23:2008 (IEC 60384-23:2006)

表 6−誘電正接規定値

定格静電容量

誘電正接(絶対値)

µF

性能等級 1

性能等級 2

性能等級 3

≦1  0.006 0.008 0.010

>1  0.007 0.008 0.010

4.3.3.3

10 kHz  での測定条件

誘電正接の測定は,次による。

表 で,C

R

≦1

µF のコンデンサに対して要求がある場合;

−  周波数: 10

kHz

−  ピーク電圧: 1 Vr.m.s.以下

−  確度:

≦10×10

4

(絶対値)

4.3.4

絶縁抵抗

JIS C 5101-1 の 4.5(絶縁抵抗)によるほか,次による。

4.3.4.1

試験に先立って,コンデンサ表面の汚れを取り,きれいにする。試験槽の中及び試験後の測定中

もコンデンサ表面の清浄度を維持するように注意する。

4.3.4.2

測定の前にコンデンサを十分に放電する。放電回路の抵抗と試料の定格静電容量との積は,0.01 s

以上又は個別規格の規定による。

4.3.4.3

測定電圧は,JIS C 5101-1 の 4.5.2 による。

測定電圧は,電源の内部抵抗を通して規定値を直接印加する。

内部抵抗と定格静電容量との積は,1 s 未満又は個別規格の規定による。

絶縁抵抗は,

表 に示す値を満足しなければならない。

表 7−絶縁抵抗の要求性能

RC  積の最小値

[R=端子間絶縁抵抗,

C =  定格静電容量  (C

R

)]

s

端子間絶縁抵抗の最小値

 

C

R

>0.33

µF

C

R

≦0.33

µF

定格電圧

JIS C 5101-1 

4.5.3 の表Ⅰに規定する

測定箇所

>100 V

≦100 V

>100 V

≦100 V

性能等級

1 2 及び 3

1

2 及び 3

1

2 及び 3 1 2 及び 3

1a)

10 000

400

5 000

400

30 000

1 000

15 000

1 000

4.3.4.4 0

℃以外の温度で測定した場合は,必要に応じて測定値に適切な補正係数を乗じて 20  ℃の値に

補正する。疑わしい場合は,20  ℃で測定する。

表 に示す補正係数は,メタライズドポリエチレンナフタ

レートフィルムコンデンサの平均値である。


17

C 5101-23:2008 (IEC 60384-23:2006)

表 8−試験温度に対応する補正係数

温度

補正係数

15 0.75 
20 1.00 
23 1.00 
27 1.35 
30 1.50 
35 1.75

4.4

固着性

JIS C 5101-1 の 4.34(固着性)による。

4.4.1

中間測定

表 の群 3.1 による。

4.5

耐プリント板曲げ性(電極の接着強度)  

JIS C 5101-1 の 4.35[耐プリント板曲げ性(電極の接着強度)]による。

4.5.1

初期測定

静電容量:

表 の群 による。

4.5.2

最終測定

静電容量(プリント配線板を曲げた状態)

表 の群 による。

外観:

表 の群 による。

4.6

はんだ耐熱性

JIS C 5101-1 の 4.14(はんだ耐熱性)によるほか,次による。

4.6.1

初期測定

静電容量は 4.3.2 によって測定する。

4.6.2

試験条件

適用する方法を個別規格に規定する。

4.6.3

最終測定及び要求性能

コンデンサは,目視による外観検査及び電気的性能の測定を行ったとき,次の要求性能を満足しなけれ

ばならない。

作業面上が 1 000 lx 以上の照明と約 10 倍の拡大鏡とを用いて検査したとき,クラックなどの損傷があっ

てはならない。

静電容量は,4.3.2 によって測定を行い,

表 の要求性能を満足しなければならない。

4.7

はんだ付け性

JIS C 5101-1 の 4.15(はんだ付け性)によるほか,次による。

4.7.1

試験条件

適用する方法を個別規格に規定する。

4.7.2

最終測定及び要求性能

コンデンサは,作業面上が 1 000 lx 以上の照明のもとで約 10 倍の拡大鏡を用いて検査したとき,損傷が

あってはならない。

端子の表面部分は,ピンホール,ぬれ性不適合又ははんだはじきなどの欠点が少なく,はんだが良好に


18 
C 5101-23:2008 (IEC 60384-23:2006)

付着していなければならない。これらの欠点は,一面に集中してはならない。

4.8

温度急変

JIS C 5101-1 の 4.16(温度急変)によるほか,次による。

コンデンサは,4.1 によって取り付ける。

4.8.1

初期測定

行わない。

表 の群 の測定値を初期値とする。

4.8.2

サイクル数:

カテゴリ下限温度及びカテゴリ上限温度に保持する時間:30 分間

4.8.3

中間測定

コンデンサは,目視による外観検査を行ったとき,

表 に規定の要求性能を満足しなければならない。

4.9

一連耐候性

JIS C 5101-1 の 4.21(一連耐候性)によるほか,次による。

コンデンサは,4.1 によって取り付ける。

4.9.1

初期測定

行わない。

表 の群 の測定値を初期値とする。

4.9.2

高温

JIS C 5101-1 の 4.21.2(高温)による。

4.9.3

温湿度サイクル(1212 時間サイクル),最初のサイクル

JIS C 5101-1 の 4.21.3[温湿度サイクル(12+12 時間サイクル),最初のサイクル]による。

4.9.4

低温

JIS C 5101-1 の 4.21.4(低温)による。

4.9.5

温湿度サイクル(1212 時間サイクル),残りのサイクル

JIS C 5101-1 の 4.21.6[温湿度サイクル(12+12 時間サイクル),残りのサイクル]によるほか,次によ

る。

試験槽から取り出し,15 分間以内に,4.3.1 の試験条件で試験点 1a)  に定格電圧を 1 分間印加する。

注記  試験点 1a)  は,JIS C 5101-1 の 4.5.3 の表Ⅰの端子相互間 1a)  である。

4.9.6

最終測定及び要求性能

後処理後,コンデンサを目視による外観検査及び電気的性能を測定したとき,

表 の要求性能を満足し

なければならない。

4.10  高温高湿(定常)

JIS C 5101-1 の 4.22[高温高湿(定常)]によるほか,次による。

コンデンサは,4.1 によって取り付ける。

4.10.1  初期測定

行わない。

表 の群 の測定値を初期値とする。

4.10.2  最終測定及び要求性能

コンデンサは,後処理後,目視による外観検査及び電気的性能を測定したとき,

表 の要求性能を満足

しなければならない。

4.11  耐久性

JIS C 5101-1 の 4.23(耐久性)によるほか,次による。

コンデンサは,4.1 によって取り付ける。


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C 5101-23:2008 (IEC 60384-23:2006)

4.11.1  初期測定

行わない。

表 の群 の測定値を初期値とする。

4.11.2  性能等級 1 のコンデンサは,2 000 時間,性能等級 2 及び性能等級 3 のコンデンサは,1 000 時間試

験を行う。試験条件は,

表 又は表 10 による。

表 9−性能等級 及び性能等級 に対する耐久性試験

カテゴリ

−/100/−

−/125/−

−/155/−

温度 100

℃ 125

℃ 100

℃ 155

℃ 100

電圧 (DC)

1.25 U

R

 1.25

U

C

 1.25

U

R

 1.25

U

C

 1.25

U

R

試料の分類

分割しない

2 分割

2 分割

表 10−性能等級 に対する耐久性試験

カテゴリ

−/85/−

−/100/−

−/125/−

温度 85

℃ 100

℃ 85

℃ 125

℃ 85

電圧 (DC)

1.25 U

R

 1.25

U

C

 1.25

U

R

 1.25

U

C

 1.25

U

R

試料の分類

分割しない

2 分割

2 分割

4.11.3  試験電圧は,それぞれのコンデンサに抵抗器の値 R=0.22/C

R

  Ωを通じて印加する。C

R

は,ファラ

ド単位の定格静電容量である。抵抗器の値 R は,計算値の±30 %以内で最大 2 MΩとする。

4.11.4  試験後,コンデンサの後処理を行い,4.11.3 に示す R と同じ抵抗で放電する。

4.11.5  最終測定及び要求性能

コンデンサは,後処理後,目視による外観検査及び電気的性能を測定したとき,

表 の要求性能を満足

しなければならない。

4.12  充放電

JIS C 5101-1 の 4.27(充放電)によるほか,次による。

4.12.1  初期測定

行わない。

表 の群 の測定値を初期値とする。

4.12.2  コンデンサは,1 秒間に約 1 サイクルの割合で充放電を 10 000 サイクル行う。各サイクルは,コン

デンサの充電及び放電で構成する。

放電は,各コンデンサに対し 220×10

6

/C

R

  (Ω)[C

R

:定格静電容量 (F)]の抵抗値又は充電電流を 1 A

(又は個別規格に規定するより高い電流値)以下とする抵抗値のいずれか大きい抵抗器を通じ定格電圧で

行う。

放電は,各コンデンサに対し 20  Ω以上で 10×10

6

/C

R

  (Ω)  となる値の抵抗器,又は個別規格に規定が

ある場合は,個別規格に規定の値より小さい値の抵抗器を通じて行う。

4.12.3  最終測定及び要求性能

後処理後,コンデンサは,電気的性能を測定したとき,

表 の要求性能を満足しなければならない。

4.13  部品の耐溶剤性(適用する場合)

JIS C 5101-1 の 4.31(部品の耐溶剤性)による。

4.14  表示の耐溶剤性(適用する場合)

JIS C 5101-1 の 4.32(表示の耐溶剤性)による。