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C 5101-20

:2010 (IEC 60384-20:2008)

(1)

目  次

ページ

序文 

1

1

  一般事項

1

1.1

  適用範囲 

1

1.2

  目的

2

1.3

  引用規格 

2

1.4

  個別規格に規定する事項 

2

1.5

  用語及び定義 

3

1.6

  表示

4

2

  推奨特性及び定格

4

2.1

  推奨特性 

4

2.2

  推奨定格値 

5

3

  品質評価手順 

5

3.1

  製造の初期工程

5

3.2

  構造的に類似なコンデンサ 

5

3.3

  出荷対象ロットの成績証明書

5

3.4

  品質認証 

5

3.5

  品質確認検査 

12

4

  試験及び測定手順

14

4.1

  取付け

14

4.2

  外観及び寸法 

14

4.3

  電気的性能 

14

4.4

  固着性

16

4.5

  耐プリント板曲げ性(電極の接着強度) 

16

4.6

  はんだ耐熱性 

16

4.7

  はんだ付け性 

17

4.8

  温度急変 

17

4.9

  一連耐候性 

17

4.10

  高温高湿(定常)

18

4.11

  耐久性

18

4.12

  充放電

19

4.13

  部品の耐溶剤性(個別規格に規定がある場合) 

19

4.14

  表示の耐溶剤性(個別規格に規定がある場合) 

19


C 5101-20

:2010 (IEC 60384-20:2008)

(2)

まえがき

この規格は,工業標準化法第 14 条によって準用する第 12 条第 1 項の規定に基づき,社団法人電子情報

技術産業協会(JEITA)及び財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格を改

正すべきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工業規格であ

る。

これによって,JIS C 5101-20:2000 は改正され,この規格に置き換えられた。

この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。

この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に

抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許

権,出願公開後の特許出願,実用新案権及び出願公開後の実用新案登録出願にかかわる確認について,責

任はもたない。

JIS

C

5101

の規格群には,次に示す部編成がある。

JIS

C

5101-1

  第 1 部:品目別通則

JIS

C

5101-2

  第 2 部:品種別通則:固定メタライズドポリエチレンテレフタレートフィルム直流コン

デンサ

JIS

C

5101-2-1

  第 2-1 部:ブランク個別規格:固定メタライズドポリエチレンテレフタレートフィル

ム直流コンデンサ  評価水準 E 及び EZ

JIS

C

5101-3

  第 3 部:品種別通則:表面実装用固定タンタル固体(MnO

2

)電解コンデンサ

JIS

C

5101-3-1

  第 3-1 部:ブランク個別規格:表面実装用固定タンタル固体(MnO

2

)電解コンデンサ

評価水準 EZ

JIS

C

5101-4

  第 4 部:品種別通則:アルミニウム固体(MnO

2

)及び非固体電解コンデンサ

JIS

C

5101-4-1

  第 4-1 部:ブランク個別規格:アルミニウム非固体電解コンデンサ  評価水準 EZ

JIS

C

5101-4-2

  第 4-2 部:ブランク個別規格:アルミニウム固体(MnO

2

)電解コンデンサ  評価水準

EZ

JIS

C

5101-8

  第 8 部:品種別通則:固定磁器コンデンサ  種類 1

JIS

C

5101-8-1

  第 8-1 部:ブランク個別規格:固定磁器コンデンサ  種類 1  評価水準 EZ

JIS

C

5101-9

  第 9 部:品種別通則:固定磁器コンデンサ  種類 2

JIS

C

5101-9-1

  第 9-1 部:ブランク個別規格:固定磁器コンデンサ  種類 2  評価水準 EZ

JIS

C

5101-11

  第 11 部:品種別通則:固定ポリエチレンテレフタレートフィルム金属はく直流コンデ

ンサ

JIS

C

5101-11-1

  第 11 部:ブランク個別規格:固定ポリエチレンテレフタレートフィルム金属はく直

流コンデンサ  評価水準 E

JIS

C

5101-13

  第 13 部:品種別通則:固定ポリプロピレンフィルム金属はく直流コンデンサ

JIS

C

5101-13-1

  第 13-1 部:ブランク個別規格:固定ポリプロピレンフィルム金属はく直流コンデン

サ  評価水準 E 及び EZ

JIS

C

5101-14

  第 14 部:品種別通則:電源用電磁障害防止固定コンデンサ

JIS

C

5101-14-1

  第 14-1 部:ブランク個別規格:電源用電磁障害防止固定コンデンサ  評価水準 D


C 5101-20

:2010 (IEC 60384-20:2008)

(3)

JIS

C

5101-14-2

  第 14-2 部:ブランク個別規格:電源用電磁障害防止固定コンデンサ  安全性を要求

する試験

JIS

C

5101-14-3

  第 14-3 部:ブランク個別規格:電源用電磁障害防止固定コンデンサ  評価水準 DZ

JIS

C

5101-15

  第 15 部:品種別通則:固定タンタル非固体又は固体電解コンデンサ

JIS

C

5101-15-1

  第 15 部:ブランク個別規格:はく電極形固定タンタル非固体電解コンデンサ  評価

水準 E

JIS

C

5101-15-2

  第 15 部:ブランク個別規格:焼結形固定タンタル非固体電解コンデンサ  評価水準

E

JIS

C

5101-15-3

  第 15 部:ブランク個別規格:焼結形固定タンタル固体電解コンデンサ  評価水準 E

JIS

C

5101-16

  第 16 部:品種別通則:固定メタライズドポリプロピレンフィルム直流コンデンサ

JIS

C

5101-16-1

  第 16-1 部:ブランク個別規格:固定メタライズドポリプロピレンフィルム直流コン

デンサ  評価水準 E 及び EZ

JIS

C

5101-17

  第 17 部:品種別通則:固定メタライズドポリプロピレンフィルム交流及びパルスコン

デンサ

JIS

C

5101-17-1

  第 17-1 部:ブランク個別規格:固定メタライズドポリプロピレンフィルム交流及び

パルスコンデンサ  評価水準 E 及び EZ

JIS

C

5101-18

  第 18 部:品種別通則:表面実装用固定アルミニウム固体(MnO

2

)及び非固体電解コ

ンデンサ

JIS

C

5101-18-1

  第 18-1 部:ブランク個別規格:表面実装用固定アルミニウム固体(MnO

2

)電解コン

デンサ  評価水準 EZ

JIS

C

5101-18-2

  第 18-2 部:ブランク個別規格:表面実装形固定アルミニウム非固体電解コンデンサ

評価水準 EZ

JIS

C

5101-20

  第 20 部:品種別通則:表面実装用固定メタライズドポリフェニレンスルフィドフィル

ム直流コンデンサ

JIS

C

5101-20-1

  第 20-1 部:ブランク個別規格:表面実装用固定メタライズドポリフェニレンスルフ

ィドフィルム直流コンデンサ  評価水準 EZ

JIS

C

5101-21

  第 21 部:品種別通則:表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類 1

JIS

C

5101-21-1

  第 21-1 部:ブランク個別規格:表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類 1  評価水

準 EZ

JIS

C

5101-22

  第 22 部:品種別通則:表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類 2

JIS

C

5101-22-1

  第 22-1 部:ブランク個別規格:表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類 2  評価水

準 EZ

JIS

C

5101-23

  第 23 部:品種別通則:表面実装用固定メタライズドポリエチレンナフタレートフィル

ム直流コンデンサ

JIS

C

5101-23-1

  第 23-1 部:ブランク個別規格:表面実装用固定メタライズドポリエチレンナフタレ

ートフィルム直流コンデンサ  評価水準 EZ

JIS

C

5101-24

  第 24 部:品種別通則:表面実装用固定タンタル固体(導電性高分子)電解コンデンサ

JIS

C

5101-24-1

  第 24-1 部:ブランク個別規格:表面実装用固定タンタル固体(導電性高分子)電解

コンデンサ  評価水準 EZ


C 5101-20

:2010 (IEC 60384-20:2008)

(4)

JIS

C

5101-25

  第 25 部:品種別通則:表面実装用固定アルミニウム固体(導電性高分子)電解コンデ

ンサ

JIS

C

5101-25-1

  第 25-1 部:ブランク個別規格:表面実装用固定アルミニウム固体(導電性高分子)

電解コンデンサ  評価水準 EZ

JIS

C

5101-26

  第 26 部:品種別通則:固定アルミニウム固体(導電性高分子)電解コンデンサ(予定)

JIS

C

5101-26-1

  第 26-1 部:ブランク個別規格:固定アルミニウム固体(導電性高分子)電解コンデ

ンサ  評価水準 EZ(予定)


日本工業規格

JIS

 C

5101-20

:2010

(IEC 60384-20

:2008

)

電子機器用固定コンデンサ−第 20 部:品種別通則:

表面実装用固定メタライズドポリフェニレン

スルフィドフィルム直流コンデンサ

Fixed capacitors for use in electronic equipment-

Part 20: Sectional specification-Fixed metallized polyphenylene sulfide film

dielectric surface mount d.c. capacitors

序文 

この規格は,2008 年に第 2 版として発行された IEC 60384-20 を基に,技術的内容及び対応国際規格の

構成を変更することなく作成した日本工業規格である。

なお,この規格で点線の下線を施してある参考事項は,対応国際規格にはない事項である。

一般事項 

1.1 

適用範囲 

この規格は,JIS C 5101-1 を品目別通則とする品種別通則で,電子機器用の表面実装用固定メタライズ

ドポリフェニレンスルフィドフィルム直流コンデンサ(以下,コンデンサという。

)について規定する。こ

の規格は,誘電体がポリフェニレンスルフィドでその上にメタライズドされた電極をもつ表面実装用固定

コンデンサに適用する。

このコンデンサは,はんだ付け用板端子又は金属化電極面をもち,ハイブリッド回路基板又はプリント

配線板に直接取り付けることができるもので,使用条件によっては,

“自己回復作用”が発生する場合があ

る。また,定格電圧に対して交流成分が小さい場合に用いるコンデンサである。

このコンデンサには,三つの性能等級があり,性能等級 1 は長寿命用,性能等級 2 は一般用,性能等級

3 は小形仕様のものに適用する。

次の用途のコンデンサは,この規格を用いないで次の規格を用いる。

−  JIS C 6065 で引用する電磁障害防止用コンデンサは,JIS C 5101-14 を適用する。

−  電動機用及び蛍光灯用コンデンサ(IEC/TC33 技術委員会:電力用コンデンサ及び IEC/TC34 技術委

員会:電球類及び関連機器で担当)にもこの規格を適用しない。

注記  この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。

IEC 60384-20:2008

,Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 20: Sectional specification

−Fixed metallized polyphenylene sulfide film dielectric surface mount d.c. capacitors(IDT)

なお,対応の程度を表す記号“IDT”は,ISO/IEC Guide 21-1 に基づき,

“一致している”こ

とを示す。


2

C 5101-20

:2010 (IEC 60384-20:2008)

1.2 

目的 

この規格の目的は,推奨する定格及び特性を規定するとともに,JIS C 5101-1 から適切な品質評価手順,

試験方法及び測定方法を選定し,一般的要求性能を規定する。この品種別通則に基づいた個別規格に規定

する試験の厳しさ及び要求性能は,この規格と同等又は高い水準とする。

1.3 

引用規格 

次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの

引用規格のうちで,西暦年を付記してあるものは,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追補を含む。

は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は,その最新版(追補を含む。

)を適用する。

JIS C 5062

  抵抗器及びコンデンサの表示記号

注記  対応国際規格:IEC 60062:2004,Marking codes for resistors and capacitors(MOD)

JIS C 5063

  抵抗器及びコンデンサの標準数列

注記  対応国際規格:IEC 60063:1963,Preferred number series for resistors and capacitors 並びに

Amendment 1:1967  及び Amendment 2:1977(IDT)

JIS C 5101-1:2010

  電子機器用固定コンデンサ−第 1 部:品目別通則

注記  対応国際規格:IEC 60384-1:2008,Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 1 :

Generic specification(IDT)

JIS C 60068-1:1993

  環境試験方法−電気・電子−通則

注記  対応国際規格:IEC 60068-1:1988,Environmental testing−Part 1:General and guidance 及び

Amendment 1:1992(IDT)

JIS Z 8601

  標準数

注記  対応国際規格:ISO 3:1973,Preferred numbers−Series of preferred numbers(MOD)

JIS Z 9015-1

  計数値検査に対する抜取検査手順−第 1 部:ロットごとの検査に対する AQL 指標型抜

取検査方式

注記  対応国際規格:IEC 60410:1973,Sampling plans and procedures for inspection by attributes(MOD)

1.4 

個別規格に規定する事項 

個別規格は,関連するブランク個別規格の様式による。

個別規格は,品目別通則,品種別通則又はブランク個別規格の要求性能と同等又は高い水準とする。よ

り厳しい要求性能を規定する場合は,その内容を個別規格の 1.9 に記載し,更に,試験計画の中に,例え

ば,アステリスク(*)を付けて明示する。

各個別規格に次の事項を規定し,引用する値は,この規格の該当する項目の中から選定する。

1.4.1 

外形図及び寸法 

外形図及び寸法は,その他のコンデンサとの比較及び区別が容易にできるように図示する。コンデンサ

の互換性及び取付けに関連する寸法及び寸法許容差は,個別規格に規定する。また,すべての寸法値はミ

リメートル(mm)で規定する。

注記  寸法及び寸法許容差は,一覧表で示してもよい。 

寸法は,本体の長さ,幅及び高さ並びに端子の幅,長さ及び端子間隔とする。寸法及び公称静電容量と

定格電圧とによる幾つかの組合せを個別規格に規定する場合は,各々の寸法及び寸法許容差を図面の下に

表で示す。

形状が上記のコンデンサと異なる場合は,個別規格にそのコンデンサを適切に表す寸法を規定する。


3

C 5101-20

:2010 (IEC 60384-20:2008)

1.4.2 

取付け 

個別規格には,通常使用する場合の取付方法を規定する。コンデンサは,その規定した方法で取り付け

る。試験及び測定のための取付方法(適用する場合)は,4.1 による。

1.4.3 

定格及び特性 

定格及び特性は,この規格の関連項目によるほか,次による。

1.4.3.1 

公称静電容量範囲 

公称静電容量の範囲は,2.2.1 による。

注記  IEC 電子部品品質認証制度(IECQ)の場合は,個別規格の公称静電容量範囲と認証を受けた

範囲とが異なるとき,次の文章を追加する。

“各定格電圧での公称静電容量の範囲は,品質認証書(Qualification approval certificate)によ

る。

1.4.3.2 

特殊な特性 

設計及び使用目的によって,特殊な特性が必要な場合は,その規定を追加してもよい。

1.4.3.3 

はんだ付け 

はんだ付け性及びはんだ耐熱性試験で適用する試験方法,厳しさ及び要求性能は,個別規格の規定によ

る。

1.4.4 

表示 

コンデンサ及びその包装に対する表示項目を個別規格に規定する。1.6 と異なる場合は,その項目を個別

規格に明記する。

1.5 

用語及び定義 

この規格で用いる主な用語及び定義は,JIS C 5101-1 の 2.2(用語及び定義)によるほか,次による。

1.5.1 

表面実装用コンデンサ(surface mount capacitor 

小さな寸法で端子の種類又は形状が,ハイブリッド回路及びプリント配線板での使用に適した固定コン

デンサ。

1.5.2 

性能等級 のコンデンサ(長寿命用)[performance grade 1 capacitorslong life)] 

長期間にわたって高い性能水準を必要とするコンデンサ。

1.5.3 

性能等級 のコンデンサ(一般用)[performance grade 2 capacitorsgeneral purpose)] 

性能等級 1  のコンデンサのような高い性能水準を必要としない一般用のコンデンサ。

1.5.4 

性能等級 のコンデンサ(小形仕様)[performance grade 3 capacitorsminiature type)] 

性能等級 2  のコンデンサのような性能水準を必要としない,

定格電圧が 63 V 未満の小形のコンデンサ。

1.5.5 

定格電圧(U

R

)(rated voltage 

カテゴリ下限温度と定格温度との間のどの温度でも,コンデンサに連続して印加できる直流電圧の最高

電圧。

注記  コンデンサに印加する直流電圧と交流電圧のピーク値との和は,定格電圧を超えないことを示

す。個別規格に規定がない場合には,交流電圧の最大値は,次に示すそれぞれの周波数での定


4

C 5101-20

:2010 (IEC 60384-20:2008)

格電圧に対する割合を超えないことを示す。

 50

Hz: 20 %

 100

Hz: 15 %

 1

kHz:    3 %

 10

kHz:    1 %

1.6 

表示 

表示は,JIS C 5101-1 の 2.4(表示)によるほか,次による。

1.6.1 

コンデンサ本体及び包装への表示 

コンデンサ本体及び包装への表示は,次の項目から選定する。表示の優先順位は,記載の順による。

a)

公称静電容量(明りょうな文字又は JIS C 5062 に基づく記号)

b)

定格電圧(直流電圧を表す記号 d.c.は,記号              又は            で表してもよい。

c)

公称静電容量許容差

d)

カテゴリ電圧

e)

製造年月(又は年週)

f)

製造業者名又はその商標(略号を含む。

g)

耐候性カテゴリ

h)

製造業者の形名

i)

引用個別規格

1.6.2 

コンデンサ本体への表示 

コンデンサ本体へは,通常,表示しない。ただし,表示を行う場合は,1.6.1 の必要事項を明りょうに表

示する。このとき,コンデンサ本体への表示は,表示内容の重複を避けることが望ましく,表示する項目

は,1.6.1 の a)f)及び h)を含めることが望ましい。

1.6.3 

表示の要求性能 

いずれの表示も,明りょうであり,指でこすった場合に,にじんだり又は消えたりしてはならない。

1.6.4 

コンデンサの包装への表示 

コンデンサの包装への表示には,1.6.1 のすべての項目を明りょうに表示する。

1.6.5 

表示の追加 

1.6.1

に規定する以外の表示項目を追加する場合には,混乱しないようにする。

推奨特性及び定格 

2.1 

推奨特性 

個別規格に規定する特性は,次の中から選定することが望ましい。

2.1.1 

推奨耐候性カテゴリ 

この規格に規定するコンデンサの耐候性カテゴリは,JIS C 60068-1 の 8.(部品耐候性カテゴリー)によ

って分類する。

カテゴリ下限温度,カテゴリ上限温度及び高温高湿(定常)の試験期間は,次の中から選定する。

カテゴリ下限温度:−55  ℃,−40  ℃又は−25  ℃

カテゴリ上限温度:+100  ℃,+105  ℃,+125  ℃又は+155  ℃

高温高湿(定常)の試験期間:4 日,10 日,21 日又は 56 日

注記 1 155

℃での耐久性試験期間を超える連続使用では,加速性について配慮しなければならない


5

C 5101-20

:2010 (IEC 60384-20:2008)

(個別規格による。

注記 2  高温高湿(定常)の試験条件は,温度 40  ℃,相対湿度は 90 %∼95 %である。

低温及び高温の試験温度は,それぞれカテゴリ下限温度及びカテゴリ上限温度とする。

2.2 

推奨定格値 

2.2.1 

公称静電容量(C

N

 

公称静電容量は,JIS C 5063 に規定する E6 の標準数列(1.0,1.5,2.2,3.3,4.7 及び 6.8)及びそれら

の 10

n

倍(は,整数とする。

)とする。

その他の値が必要な場合は,E12 標準数列から選定する。

2.2.2 

公称静電容量許容差 

公称静電容量に対する許容差は,±5 %,±10 %及び±20 %とする。

2.2.3 

定格電圧(U

R

 

定格電圧は,JIS Z 8601 に規定する R5 の標準数列を用いることが望ましいが,一部の定格電圧に R10

の標準数列を用いてもよい。定格電圧は,次による。

R5 標準数列のもの  :10 V,16 V,25 V,40 V,63 V,100 V,160 V,250 V 及び 400 V

R10 標準数列のもの:50 V

2.2.4 

カテゴリ電圧(U

C

 

カテゴリ電圧は,次による。

定格温度が 100  ℃のコンデンサ

カテゴリ上限温度 125  ℃の場合は,0.8 U

 R

カテゴリ上限温度 155  ℃の場合は,0.5 U

 R

定格温度が 105  ℃のコンデンサ

カテゴリ上限温度 125  ℃の場合は,0.8 U

 R

カテゴリ上限温度 155  ℃の場合は,0.5 U

 R

2.2.5 

定格温度 

定格温度は,100  ℃又は 105  ℃とする。

品質評価手順 

3.1 

製造の初期工程 

製造の初期工程は,コンデンサ素子の巻取り又はこれと同等な工程とする。

3.2 

構造的に類似なコンデンサ 

構造的に類似なコンデンサとは,外形寸法及び定格値(公称静電容量及び定格電圧)が異なっていても,

本質的に同じ生産工程及び材料で製造した範囲のコンデンサとする。

3.3 

出荷対象ロットの成績証明書 

個別規格に規定がある場合で,かつ,購入者から要求がある場合は,JIS C 5101-1 の Q.9(出荷ロット

成績証明書)によって,出荷者が,出荷対象ロットの成績証明書を購入者に提出する。耐久性試験後に要

求する特性値は,静電容量,誘電正接及び絶縁抵抗とする。

3.4 

品質認証 

品質認証試験の手順は,JIS C 5101-1 の Q.5(品質認証手順)による。

ロットごと及び定期的品質確認検査に基づく品質認証試験の計画は,この規格の 3.5 による。定数抜取

手順は 3.4.1 及び 3.4.2 による。


6

C 5101-20

:2010 (IEC 60384-20:2008)

3.4.1 

定数抜取手順に基づく品質認証 

定数抜取手順は,JIS C 5101-1 の Q.5.3(品質認証用試験手順)の b)  による。試料は,認証を得ようと

するコンデンサのすべての範囲を代表するものとし,個別規格に規定する範囲であっても,又はその一部

でもよい。

抜き取る試料は,定格電圧の最低及び最高,公称静電容量の最小及び最大とによる組合せによる。定格

電圧が 5 種類以上ある場合は,中間の定格電圧による公称静電容量の組合せのものも試験する。このよう

に一つの認証範囲の試験には,4 組合せ(公称静電容量と定格電圧とによる組合せ)又は 6 組合せの試料

を必要とする。認証範囲の試料が 4 組合せ未満で構成される場合には,試料数は 4 組合せの場合と同数と

する。

予備の試料は,製造業者の責任でない不適合品の置換え用として,1 組合せごとに 2 個(6 組合せの場合)

又は 3 個(4 組合せの場合)とする。

表 及び表 に示す群“0”に規定する試料数は,すべての群の試験を適用する場合の試料数とし,すべ

ての試験を適用しない場合は,適用しない試験に応じて試料数を減らしてもよい。

品質認証の試験計画に,群を追加する場合の群“0”の試料数は,追加する群に必要な試料数を追加する。

表 に品質認証試験の場合の各群及び副群の抜取数及び合格判定数を示す。

3.4.2 

試験 

表 及び表 に規定する試験は,個別規格に規定するコンデンサの品質認証にとって必要な試験であり,

各群の試験は,記載の順に従って行う。

すべての試料は,群“0”の試験を行い,その後にその他の群に分割する。群“0”の試験中に発生した

不適合品は,その他の群に用いない。不適合数が 0 個の場合には,品質認証は合格とする。

不適合数が各群又は各副群での合格判定数を超えないで,かつ,各項目合計の合格判定数を超えない場

合,品質認証は合格とする。

注記  表 及び表 は,定数抜取手順に基づく品質認証の試験計画を構成する。表 は,各試験又は

各試験群に対する抜取計画及び合格判定数の詳細を規定している。

表 は,箇条 の試験の詳

細を規定,試験条件及び要求性能の要点の一覧を示すとともに個別規格に選定する試験方法又

は試験条件を規定している。

定数抜取手順に基づく品質認証試験計画の試験条件及び要求性能は,個別規格に規定する品

質確認検査と同じであることが望ましい。


7

C 5101-20

:2010 (IEC 60384-20:2008)

表 1−品質認証試験の定数抜取試験計画−評価水準 EZ 

群番号

試験項目

この規格の

細分箇条番号

試料数(n

a)

合格判定数(c

外観

4.2 

寸法

4.2 

静電容量

4.3.2 

144 0

誘電正接

4.3.3 

耐電圧

4.3.1 

絶縁抵抗

4.3.4 

予備試料

12

1A 

はんだ耐熱性

4.6 

12 0

部品の耐溶剤性

b)

4.13 

1B 

はんだ付け性

4.7 

12 0

表示の耐溶剤性

b)

4.14 

耐プリント板曲げ性(電極の接着強度) 4.5 

12 0

取付け

4.1 

外観

4.2.1 

静電容量

4.3.2 

108 0

c)

誘電正接

4.3.3 

絶縁抵抗

4.3.4 

3.1 

固着性

4.4 

温度急変

4.8 

24 0

一連耐候性

4.9 

3.2 

高温高湿(定常)

4.10 

24 0

3.3 

耐久性

4.11 

36 0

3.4 

充放電

4.12 

24 0

a)

  公称静電容量と定格電圧との組合せは,この規格の 3.4.1 による。

b)

  個別規格に規定がある場合に適用する。

c)

  取付け後に発見された取付けに起因する不適合品は,判定には入れない。これらの不適合品は,予備

試料と交換する。


8

C 5101-20

:2010 (IEC 60384-20:2008)

表 2−品質認証の試験計画

細分箇条番号

及び試験項目

a) 

D

又は 
ND

b)

試験条件

a) 

試験数(n)及び
合格判定数(c

要求性能

a) 

群 

ND

表 による。

4.2.1

  外観

4.2.2

による。

表示は,明りょうとし,そ

の他は個別規格の規定
による。

4.2

  寸法(詳細)

個別規格の規定による。

4.3.2

  静電容量

規定の許容差による。

4.3.3

  誘電正接

周波数:1 kHz

4.3.3.2

による。

4.3.1

  耐電圧

方法は,個別規格の規定によ

る。

絶縁破壊又はフラッシオ

ーバがない。ただし,
一時的瞬時破壊があっ

てもよい。

4.3.4

  絶縁抵抗

4.3.4.3

による。

群 1A 

D

表 による。

4.6

  はんだ耐熱性

4.6.1

  初期測定

静電容量

4.6.2

  試験条件

方法 1,方法 又は個別規格

の規定による。

時間:5 s±0.5 s 又は 10 s±1 s,

個別規格の規定による。

方法 を適用する場合,浸せ

き及び引上げの速さは,25 
mm/s±2.5 mm/s とする。

後処理時間:24 h±2 h

4.6.3

  最終測定

外観

4.6.3

による。

静電容量

4.6.1

の測定値に対して,

性能等級 1 及び 2

    |ΔC/C|≦2 %,

性能等級 3

    |ΔC/C|≦3 %

4.13

  部品の耐溶剤性

溶剤:2-プロパノール

個別規格の規定による。

(個別規格に規定が

  (イソプロピルアルコール)

  ある場合)

溶剤の温度:...

方法 

後処理時間:...

群 1B 

D

表 による。

4.7

  はんだ付け性

エージングは,行わない。

方法 1,方法 又は個別規格

の規定による。

4.7.2

  最終測定

外観

4.7.2

による。

4.14

表示の耐溶剤性

c) 

(個別規格に規定が

溶剤:2-プロパノール 
  (イソプロピルアルコール)

表示は,明りょうとする。

ある場合)

溶剤の温度:...

方法 

ラビングの材料:脱脂綿

後処理時間:...


9

C 5101-20

:2010 (IEC 60384-20:2008)

表 2−品質認証の試験計画(続き)

細分箇条番号

及び試験項目

a) 

D

又は 
ND

b)

試験条件

a) 

試験数  (n)  及び

合格判定数  (c)

要求性能

a) 

群 

D

表 による。

4.5

  耐プリント板曲げ

性 ( 電 極 の 接 着 強
度)

d)

4.5.1

  初期測定

静電容量

4.5.2

  最終測定

静電容量(プリント配線板

を曲げた状態)

4.5.1

の測定値に対して,

性能等級 1 及び 2

    |ΔC/C|≦2 %,

性能等級 3

    |ΔC/C|≦5 %

外観

外観に損傷がない。

群 

D

表 による。

4.1

  取付け

プリント配線板の材質:...

d)

4.2.1

  外観

個別規格の規定による。

4.3.2

  静電容量

周波数:1 kHz

群 の測定値に対して,

  性能等級 1 及び 2 
    |ΔC/C|≦ 2 %,

  性能等級 3 
    |ΔC/C|≦ 3 %

4.3.3

  誘電正接

周波数:1 kHz(すべての静

電容量値に適用)

10 kHz,C

N

≦1

μF に適用

(追加として,4.3.3.3 によ

る。

4.3.3.2

による。

群 3.1,群 3.2,群 3.3 

群 3.4 の最終測定に対

する初期値)

4.3.4

  絶縁抵抗

4.3.4.3

による。


10

C 5101-20

:2010 (IEC 60384-20:2008)

表 2−品質認証の試験計画(続き) 

細分箇条番号

及び試験項目

a) 

D

又は 
ND

b)

試験条件

a) 

試験数(n)及び
合格判定数(c

要求性能

a) 

群 3.1 
4.4

  固着性

 
4.8

  温度急変

4.8.1

  初期測定

 
4.8.2

  試験条件

 
 
 
4.8.3

  中間測定

4.9

  一連耐候性

4.9.1

  初期特性

4.9.2

  高温

 
4.9.3

  温湿度サイクル

(試験 Db),最初の
サイクル

4.9.4

  低温

 
4.9.5

  温湿度サイクル

(試験 Db),残りの

サイクル

4.9.6

  最終測定

D

外観 
 
 
行わない。

群 で測定した

値を初期値とする。

T

A

=カテゴリ下限温度

T

B

=カテゴリ上限温度

5  サイクル 
時間 t

1

=30 min

外観 
 
行わない。

群 で測定した

値を初期値とする。

温度:カテゴリ上限温度 
時間:16 h 
 
 
 
温度:カテゴリ下限温度

時間:2 h 
試験槽から取出し後,15 分

間以内に定格電圧を 1 分

間印加する。

外観 
 
静電容量 
 
 
 
 
誘電正接:

C

N

≦1

μF:10 kHz

 
 
 
C

N

>1

μF:1 kHz

 
 
 
絶縁抵抗 
 

表 による。

 
外観に損傷がない。 
 
 
 
 
 
 
 
 
外観に損傷がない。 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
外観に損傷がない。 
表示は,明りょうとする。
群 の測定値に対して,

性能等級 1 及び 2 
  |ΔC/C|≦3 %,

性能等級 3  
  |ΔC/C|≦5 %

誘電正接の増加: 
群 の測定値に対して,

性能等級 1:≦0.002 5 
性能等級 2:≦0.004

性能等級 3:≦0.005

群 の測定値に対して,

性能等級 1:≦0.001 5

性能等級 2:≦0.002 5 
性能等級 3:≦0.003

4.3.4.3

の値に対して,

性能等級 1 及び 2 
  ≧50 %, 
性能等級 3

  ≧25 %


11

C 5101-20

:2010 (IEC 60384-20:2008)

表 2−品質認証の試験計画(続き) 

細分箇条番号

及び試験項目

a) 

D

又は 
ND

b)

試験条件

a) 

試験数(n)及び
合格判定数(c

要求性能

a) 

群 3.2 
4.10

  高温高湿(定常)

4.10.1

  初期測定

 

4.10.2

  最終測定

D

 
行わない。

群 で測定した

値を初期値とする。

後処理時間:...

外観 
静電容量 
 
 
 
 
誘電正接:1 kHz 
 
 
 
絶縁抵抗 
 
 

表 による。

 
 
 
 
 
外観に損傷がない。 
群 の測定値に対して,

性能等級 1 及び 2

  |ΔC/C|≦3 %, 
性能等級 3  
  |ΔC/C|≦5 %

誘電正接の増加: 
群 の測定値に対して,

≦0.002 5

 
4.3.4.3

の値に対して,

性能等級 1 及び 2

  ≧50 %, 
性能等級 3 
  ≧25 %

群 3.3 
4.11

  耐久性

4.11.1

  初期測定

 
4.11.2

  試験条件

4.11.5

  最終測定

D

 
測定しない。

群 で測定し

た値を初期値とする。

4.11.2

4.11.3 及び 4.11.4 

よる。

外観 
 
静電容量 
 
 
 
 
誘電正接:

C

N

≦1

μF:10 kHz

 
 
 
 
C

N

>1

μF:1 kHz

 
 

表 による。

 
 
 
 
 
 
外観に損傷がない。 
表示は,明りょうとする。
群 の測定値に対して,

性能等級 1 
  |ΔC/C|≦5 %, 
性能等級 2 及び 3

  |ΔC/C|≦8 %

誘電正接の増加: 
群 の測定値に対して,

性能等級 1 
  ≦0.003, 
性能等級 2 及び 3

  ≦0.005

群 の測定値に対して,

性能等級 1

  ≦0.002, 
性能等級 2 及び 3 
  ≦0.003


12

C 5101-20

:2010 (IEC 60384-20:2008)

表 2−品質認証の試験計画(続き) 

細分箇条番号

及び試験項目

a) 

D

又は 
ND

b)

試験条件

a) 

試験数(n)及び
合格判定数(c

要求性能

a) 

群 3.3(続き) 
4.11.5

  最終測定(続

き) 

絶縁抵抗

4.3.4.3

の値に対して,

性能等級 1 及び 2

  ≧50 % 
性能等級 3 
  ≧30 %

群 3.4 
4.12

  充放電

4.12.1

  初期測定

 
4.12.2

  試験条件

4.12.3

  最終測定

D

 
行わない。

群 で測定した

値を初期値とする。

10 000  サイクル 
静電容量 
 
 
 
 
 
 
誘電正接:

C

N

≦1 μF:10 kHz

 
 
 
C

N

>1 μF:1 kHz

 
 
 
絶縁抵抗

表 による。

 
 
 
 
 
群 の測定値に対して,

性能等級 1 
  |ΔC/C|≦3 %, 
性能等級 2

  |ΔC/C|≦5 %, 
性能等級 3 
  |ΔC/C|≦8 %

誘電正接の増加: 
群 の測定値に対して,

性能等級 1:≦0.003

性能等級 2:≦0.005 
性能等級 3:≦0.005

群 の測定値に対して,

性能等級 1:≦0.002 
性能等級 2:≦0.003 
性能等級 3:≦0.003

4.3.4.3

の値に対して,

性能等級 1 及び 2 
  ≧50 %,

性能等級 3 
  ≧30 %

a)

  試験の細分箇条番号及び要求性能は,箇条 による。

b)

  この表で D は破壊試験,ND は非破壊試験を示す。

c)

  この試験は,コンデンサをプリント配線板に取り付けた状態で行ってもよい。

d)

  各群で異なるプリント配線板材料を用いる場合は,それぞれの群で用いるプリント配線板材料を個別規

格に規定する。

3.5 

品質確認検査 

3.5.1 

検査ロットの構成 

a) 

群 及び群 検査  この検査は,ロットごとに行う。

製造業者は,次の条件でコンデンサをまとめて検査ロットとしてもよい。

1)

検査ロットは,構造的に類似なコンデンサで構成する(3.2 参照)

2 a)

試験する試料は,検査ロットの中で定格値(定格電圧及び公称静電容量)と外形寸法とによる組

合せを代表とし,次の事項を考慮する。

−  試料数


13

C 5101-20

:2010 (IEC 60384-20:2008)

−  1 組合せ当たり 5 個以上

2 b)  IEC

電子部品品質認証制度(IECQ)の場合は,1 組合せ当たりの抜取数が 4 個以下のとき,製造

業者は,国内監督検査機関の承認が必要となる。

b)

群 検査  この検査は,定期的に行う。

試料は,規定の期間に工程に流れているコンデンサを代表とし,かつ,定格電圧の高,中及び低電

圧,又は外形寸法で分類したコンデンサを選定する。どの期間でも認証の範囲を対象とするために,

定格電圧の高,中及び低電圧群ごとに一つの外形寸法のコンデンサを試験する。その後の期間では,

製造のすべての範囲を対象とするために,製造中のその他の定格電圧及び/又は外形寸法のコンデン

サを試験する。

注記  対応国際規格では,外形寸法の大,中及び小に対し一つの定格電圧を試験するという規定に

なっているが,その他の JIS C 5101 規格群の規格と表現を整合させた。

3.5.2 

品質確認検査の試験計画 

ロットごとの及び定期的品質確認検査の試験計画は,JIS C 5101-20-1 

表 4(品質確認検査の試験計画)

による。

3.5.3 

長期保管後の出荷 

JIS C 5101-1

の Q.10(長期保管後の出荷)の規定によって,はんだ付け性及び静電容量について

群 

群 の再検査を行う。

3.5.4 

評価水準 

ブランク個別規格に規定する評価水準は,

表 及び表 から選定することが望ましい。

表 3−ロットごとの品質確認検査 

D

e)

 EZ F

e)

G

e)

検査副群

d)

IL

a)

n

a)

c

a)

 IL

a)

n

a)

c

a)

 IL

a)

n

a)

c

a)

 IL

a)

n

a)

c

a)

A0

100

%

b)

A1

S-3

f)

c) 

A2

− S-3

c) 

0

B1

S-3

c) 

B2

S-3

c) 

a)

  この表の記号は,次による。

IL=検査水準,n=試料数,c=合格判定数

b)

  この検査は,工程でロット内の全数から不適合品を取り除いた後に行う抜取試料による検査である。抜取水

準は部品製造業者が設定する。検査ロットの合否にかかわらず,ppm で示す出荷品質水準を監視するために

抜取試料をすべて検査する。

抜取試料中に 1 個以上の不適合品を発見した場合には,このロットは不合格とするが,不適合品は,品質

水準を算出するためにすべて数える。ppm で示す出荷品質水準は累積した検査データによって算出する。

c )

試料数(n)は,JIS Z 9015-1 に規定する

付表 1[サンプル(サイズ)文字]の検査水準(IL)とロットサイ

ズとで割り当てるサンプル文字に従い,

付表 2-A[なみ検査の 1 回抜取方式(主抜取表)]のサンプル文字に

対応する試料数とする。

d)

  検査副群の内容は,ブランク個別規格 JIS C 5101-20-1 の箇条 2(検査要求事項)による。

e)

  評価水準が,不適合ゼロの方向にあるため,評価水準 D,F 及び G は,不採用とする。

f)

  IEC / TC40 国際会議における規格の方向付けによって S-4 から S-3 に変更した。


14

C 5101-20

:2010 (IEC 60384-20:2008)

表 4−定期的品質確認検査 

D

c)

 EZ F

c)

G

c)

検査副群

b)

p

a)

n

a)

c

a)

p

a)

n

a)

c

a)

p

a)

n

a)

c

a)

p

a)

n

a)

c

a)

C1

   3

12

0     

C2

   3

12

0     

C3.1

− 6 27 0 −

C3.2

   6

15

0     

C3.3

   3

15

0     

C3.4

   6 9 0     

a)

  この表の記号は,次による。

p

=検査周期(月)

n  =試料数,c  =合格判定個数

b)

  検査副群の内容は,ブランク個別規格 JIS C 5101-20-1 の箇条 2(検査要求事項)による。

c)

  評価水準が,不適合ゼロの方向にあるため,評価水準 D,F 及び G は,不採用とする。 

試験及び測定手順 

注記  この箇条は,JIS C 5101-1 の箇条 4(試験及び測定手順)に規定する事項を補足する。

4.1 

取付け 

取付けは,JIS C 5101-1 の 4.33[取付け(表面実装用コンデンサに適用)

]による。

4.2 

外観及び寸法 

外観及び寸法は,JIS C 5101-1 の 4.4(外観検査及び寸法検査)によるほか,次による。

4.2.1 

外観 

外観は,倍率約 10 倍の拡大鏡並びに供試品及び要求する品質水準に適切な照明を用いて検査する。

注記  作業者には,適切な拡大鏡に加えて,直接又は間接照明の設備を提供することが望ましい。

4.2.2 

要求性能 

コンデンサは,材料,設計,構造,物理的な寸法及びでき栄え(ワークマンシップ)が,個別規格に規

定する要求性能を満足することを証明するために検査する。

4.3 

電気的性能 

4.3.1 

耐電圧 

耐電圧は,JIS C 5101-1 の 4.6(耐電圧)によるほか,次による。

4.3.1.1 

試験回路 

コンデンサ C

1

を削除する。

R

1

と試料(C

X

)の公称静電容量との積は,0.01 s を超え 1 s 以下とする。

R

1

は,電源の内部抵抗を含む。

R

2

は,放電電流を 1 A 以下に制限する値とする。

4.3.1.2 

JIS C 5101-1

表 3(測定箇所)に規定する測定箇所に表 の試験電圧を,品質認証試験の場合

は 1 分間,ロットごとの品質確認検査の場合は 1 秒間印加する。

表 5−試験電圧 

測定箇所

性能等級

試験電圧

1 1.6

U

R

2 1.4

U

R

JIS C 5101-1

表 

端子相互間  1a

3 1.4

U

R


15

C 5101-20

:2010 (IEC 60384-20:2008)

4.3.1.3 

要求性能 

試験中,絶縁破壊又はフラッシオーバがあってはならない。

注記  電圧印加中の自己回復作用は,あってもよい。

4.3.2 

静電容量 

静電容量は,JIS C 5101-1 の 4.7(静電容量)によるほか,次による。

4.3.2.1 

静電容量は,1 kHz で測定又は測定値を 1 kHz の値に補正する。ただし,10

μF を超える公称静電

容量のものは,50 Hz∼120 Hz で測定してもよい。 

1 kHz での測定電圧のピーク値は,定格電圧の 3 %以下とし,50 Hz∼120 Hz でのピーク値は,定格電圧

の 20 %又は 100 V(70 V r.m.s.)のうちいずれか小さい値以下とする。

4.3.2.2 

静電容量は,規定の許容差による。 

4.3.3 

誘電正接 

誘電正接は,JIS C 5101-1 の 4.8.1[誘電正接(損失角の正接)

]によるほか,次による。

4.3.3.1 1 

kHz

での測定条件 

誘電正接の測定は,次による。

−  周波数:1 kHz

−  ピーク電圧:定格電圧の 3 %以下

−  確度:10×10

4

(絶対値)以下

4.3.3.2 1 

kHz

での要求事項 

誘電正接は,

表 に示す値以下とする。

表 6−誘電正接規定値 

公称静電容量

誘電正接(絶対値)

μF

性能等級 1

性能等級 2

性能等級 3

≦1  0.002 0.004 0.004

>1  0.004 0.004 0.004

4.3.3.3 10 

kHz

での測定条件 

誘電正接の測定は,次による。

表 で,C

N

≦1

μF のコンデンサに対して要求がある場合;

−  周波数:10 kHz

−  ピーク電圧:1 V(実効値)以下

−  確度:10×10

4

(絶対値)以下

4.3.4 

絶縁抵抗   

絶縁抵抗は,JIS C 5101-1 の 4.5(絶縁抵抗)によるほか,次による。

4.3.4.1 

試験に先立って,コンデンサ表面の汚れを取り,きれいにする。試験槽の中及び試験後の測定中

もコンデンサ表面の清浄度を維持するように注意する。 

4.3.4.2 

測定の前にコンデンサを十分に放電する。放電回路の抵抗と試料の公称静電容量との積は,0.01 s

以上又は個別規格の規定による。

4.3.4.3 

測定電圧は,JIS C 5101-1 の 4.5.2(測定条件)による。 

測定電圧は,電源の内部抵抗を通して規定値を直接印加する。


16

C 5101-20

:2010 (IEC 60384-20:2008)

内部抵抗と公称静電容量との積は,1 s 未満又は個別規格の規定による。

絶縁抵抗は,

表 に示す値を満足する。

表 7−絶縁抵抗の要求性能 

公称静電容量(C

N

μF

C

N

>0.33

C

N

≦0.33

定格電圧

V

JIS C 5101-1

表 

規定する測定箇所

>100

≦100

<63

>100

≦100

<63

性能等級

1 2 1 2 3 1 2 1 2 3

RC の最小値

s

端子間の絶縁抵抗の最小値

MΩ

1a

10 000

2 500

5 000

1 250

1 000

30 000

7 500

15 000

3 750

3 000

4.3.4.4 

20 ℃以外の温度で測定した場合は,必要に応じて測定値に適切な補正係数を乗じて 20 ℃の値に

補正する。判定に疑義が生じた場合は,20  ℃で測定する。

表 に示す補正係数は,メタライズドポリフ

ェニレンスルフィドフィルムコンデンサの平均値である。

表 8−試験温度に対応する補正係数 

温度

補正係数

15 0.95 
20 1.00 
23 1.03 
27 1.07 
30 1.09 
35 1.14

4.4 

固着性 

固着性は,JIS C 5101-1 の 4.34(固着性)による。

4.5 

耐プリント板曲げ性(電極の接着強度) 

耐プリント板曲げ性(電極の接着強度)は,JIS C 5101-1 の 4.35(耐プリント板曲げ性)によるほか,

次による。

4.5.1 

初期測定 

静電容量:

表 の群 による。

4.5.2 

最終測定 

静電容量(プリント配線板を曲げた状態)

表 の群 による。

外観:

表 の群 による。

4.6 

はんだ耐熱性 

はんだ耐熱性は,JIS C 5101-1 の 4.14(はんだ耐熱性)によるほか,次による。

4.6.1 

初期測定 

静電容量は,4.3.2 によって測定する。


17

C 5101-20

:2010 (IEC 60384-20:2008)

4.6.2 

試験条件 

適用する方法は,個別規格に規定する。

4.6.3 

最終測定及び要求性能 

コンデンサは,目視による外観検査及び電気的性能の測定を行い,次の要求性能を満足する。

適切な照明及び倍率約 10 倍の拡大鏡を用いて観察したとき,破損のこん(痕)跡がない。

静電容量は,4.3.2 によって測定を行い,

表 の要求性能を満足する。

4.7 

はんだ付け性 

はんだ付け性は,JIS C 5101-1 の 4.15(はんだ付け性)によるほか,次による。

4.7.1 

試験条件 

適用する方法を個別規格に規定する。

4.7.2 

最終測定及び要求性能 

コンデンサは,適切な照明及び倍率約 10 倍の拡大鏡を用いて観察したとき,破損のこん(痕)跡がない。

個別規格で検査を規定した端子の表面部分は,新しいはんだで覆われていて,わずかに点在する部分以

外に,ピンホール,ぬれなし及びはんだはじきがない。

注記  対応国際規格は“滑らかで光沢のあるはんだで覆われていて”と記述しているが,鉛フリーは

んだでは,はんだ表面に光沢がないため,

“新しいはんだで覆われていて”とした。

4.8 

温度急変 

温度急変は,JIS C 5101-1 の 4.16(温度急変)によるほか,次による。

コンデンサは,4.1 によって取り付ける。

4.8.1 

初期測定 

行わない。

表 の群 の測定値を初期値とする。

4.8.2 

サイクル数: 

カテゴリ下限温度及びカテゴリ上限温度に保持する時間:30  分間

4.8.3 

中間測定 

コンデンサは,目視による外見検査を行い,

表 に規定の要求性能を満足する。

4.9 

一連耐候性 

一連耐候性は,JIS C 5101-1 の 4.21(一連耐候性)によるほか,次による。

コンデンサは,4.1 によって取り付ける。

4.9.1 

初期特性 

行わない。

表 の群 の測定値を初期値とする。

4.9.2 

高温 

高温は,JIS C 5101-1 の 4.21.2(高温)による。

4.9.3 

温湿度サイクル(試験 Db),最初のサイクル   

温湿度サイクル(試験 Db)

,最初のサイクルは,JIS C 5101-1 の 4.21.3[温湿度サイクル(試験 Db)

,最

初のサイクル]による。

注記  対応国際規格では“温湿度サイクル(12 + 12  時間サイクル),最初のサイクル”と記載されて

いるが,この試験は,JIS C 5101-1 の 4.21.3[温湿度サイクル(試験 Db)

,最初のサイクル]に

規定する試験 Db と同等である。

4.9.4 

低温 

低温は,JIS C 5101-1 の 4.21.4(低温)による。


18

C 5101-20

:2010 (IEC 60384-20:2008)

4.9.5 

温湿度サイクル(試験 Db),残りのサイクル 

温湿度サイクル(試験 Db)

,残りのサイクルは,JIS C 5101-1 の 4.21.6[温湿度サイクル(試験 Db)

,残

りのサイクル]によるほか,次による。

試験槽から取り出し 15 分間以内に,4.3.1 の試験条件で試験点 1a に定格電圧を 1 分間印加する。

注記 1  対応国際規格では“温湿度サイクル(12+12  時間サイクル),残りのサイクル”と記載され

ているが,この試験は,JIS C 5101-1 の 4.21.6[温湿度サイクル(試験 Db)

,残りのサイクル]

に規定する試験 Db と同等である。

注記 2  試験点 1a は,JIS C 5101-1 の表 3(測定個所)の端子相互間 1a である。

4.9.6 

最終測定及び要求性能   

後処理後,

コンデンサを目視による外観検査及び電気的性能の測定を行い,

表 の要求性能を満足する。

4.10 

高温高湿(定常) 

高温高湿(定常)は,JIS C 5101-1 の 4.22[高温高湿(定常)

]によるほか,次による。

コンデンサは,4.1 によって取り付ける。

注記  試験条件は,温度 40  ℃±2  ℃,相対湿度 90 %∼95 %とする。

4.10.1 

初期測定 

行わない。

表 の群 の測定値を初期値とする。

4.10.2 

最終測定及び要求性能 

コンデンサは,後処理後,目視による外観検査及び電気的性能の測定を行い,

表 の要求性能を満足す

る。

4.11 

耐久性 

耐久性は,JIS C 5101-1 の 4.23(耐久性)によるほか,次による。

コンデンサは,4.1 によって取り付ける。

4.11.1 

初期測定 

行わない。

表 の群 の測定値を初期値とする。

4.11.2 

性能等級 1 のコンデンサは,2 000 時間,性能等級 2 及び性能等級 3 のコンデンサは,1 000 時間試

験を行う。試験条件は,

表 による。

表 9−耐久性試験 

カテゴリ

−/100 又は 105/−

−/125/−

−/155/−

温度 100

℃又は 105  ℃ 125

100  ℃又は 105  ℃

155  ℃ 100

℃又は 105  ℃

電圧(DC) 1.25

U

R

 1.25

U

C

1.25 U

R

 1.25

U

C

 1.25

U

R

試料の分類

分割しない

2 分割

2 分割

4.11.3 

試験電圧は,それぞれのコンデンサに次の式による抵抗器を通じて印加する。

抵抗器の抵抗値 R  は,計算値の±30 %以内で最大 2 MΩ とする。

R

N

0.22

C

(Ω)

ここに,

C

N

公称静電容量(

F

4.11.4 

試験後,コンデンサの後処理を行い,

4.11.3

に示す

R

と同じ抵抗で放電する。


19

C 5101-20

:2010 (IEC 60384-20:2008)

4.11.5 

最終測定及び要求性能 

コンデンサは,後処理後,目視による外観検査及び電気的性能の測定を行い,

表 2

の要求性能を満足す

る。

4.12 

充放電 

充放電は,

JIS C 5101-1

4.27

(充放電)によるほか,次による。

4.12.1 

初期測定 

行わない。

表 2

群 3

の測定値を初期値とする。

4.12.2 

コンデンサは,

1

秒間に約

1

サイクルの割合で充放電を

10 000

サイクル行う。各サイクルは,コ

ンデンサの充電及び放電で構成する。

放電は,各コンデンサに対し次の式による抵抗値又は充電電流を

1 A

(又は個別規格に規定するより高

い電流値)以下とする抵抗値のいずれか大きい抵抗器を通じ定格電圧で行う。

N

6

10

220

C

R

×

  (Ω)

ここに,

C

N

公称静電容量(F)

放電は,各コンデンサに対し 20  Ω以上で次の式による抵抗値,又は個別規格に規定がある場合は,個

別規格に規定する抵抗値より小さい値の抵抗器を通じて行う。

N

6

10

10

C

R

×

  (Ω)

ここに,

C

N

公称静電容量(F)

4.12.3 

最終測定及び要求性能   

後処理後,コンデンサは,電気的性能の測定を行い,

表 の要求性能を満足する。

4.13 

部品の耐溶剤性(個別規格に規定がある場合) 

部品の耐溶剤性は,JIS C 5101-1 の 4.31(部品の耐溶剤性)による。

4.14 

表示の耐溶剤性(個別規格に規定がある場合) 

表示の耐溶剤性は,JIS C 5101-1 の 4.32(表示の耐溶剤性)による。