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C 5101-14-2

:2009 (IEC 60384-14-2:2004)

(1) 

目  次

ページ

序文

1

1

  一般事項

2

1.0A

  適用範囲

2

1.1

  推奨する取付方法(実装する場合)

2

1.2

  寸法

3

1.3

  定格及び特性

3

1.4

  引用規格

3

1.5

  表示

3

1.6

  発注情報

3

1.7

  追加情報(非検査目的)

3

1.8

  品目別通則及び/又は品種別通則への追加若しくはより厳しい要求事項

4

2

  検査要求事項

4

2.1

  手順

4

2.2

  試験計画

4

附属書 A(規定)設計の宣言(製造業者及び認証機関の機密)

8


C 5101-14-2

:2009 (IEC 60384-14-2:2004)

(2) 

まえがき

この規格は,工業標準化法第 12 条第 1 項の規定に基づき,社団法人電子情報技術産業協会 (JEITA) か

ら,

工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり,

日本工業標準調査会の審議を経て,

経済産業大臣が制定した日本工業規格である。

この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。

この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に

抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許

権,出願公開後の特許出願,実用新案権及び出願公開後の実用新案登録出願にかかわる確認について,責

任はもたない。

JIS C 5101

の規格群には,次に示す部編成がある。

JIS

C

5101-1

第 1 部:品目別通則

JIS

C

5101-2

第 2 部:品種別通則:固定メタライズドポリエチレンテレフタレートフィルム直流

コンデンサ

JIS

C

5101-2-1

第 2-1 部:ブランク個別規格:固定メタライズドポリエチレンテレフタレートフィ

ルム直流コンデンサ  評価水準 E 及び EZ

JIS

C

5101-3

第 3 部:品種別通則:固定タンタルチップコンデンサ

JIS

C

5101-3-1

第 3 部:ブランク個別規格:固定タンタルチップコンデンサ  評価水準 E

JIS

C

5101-4

第 4 部:品種別通則:アルミニウム固体及び非固体電解コンデンサ

JIS

C

5101-4-1

第 4 部:ブランク個別規格:アルミニウム非固体電解コンデンサ  評価水準 E

JIS

C

5101-4-2

第 4 部:ブランク個別規格:アルミニウム固体電解コンデンサ  評価水準 E

JIS

C

5101-8

第 8 部:品種別通則:固定磁器コンデンサ  種類 1

JIS

C

5101-8-1

第 8-1 部:ブランク個別規格:固定磁器コンデンサ  種類 1  評価水準 EZ

JIS

C

5101-9

第 9 部:品種別通則:固定磁器コンデンサ  種類 2

JIS

C

5101-9-1

第 9-1 部:ブランク個別規格:固定磁器コンデンサ  種類 2  評価水準 EZ

JIS

C

5101-11

第 11 部:品種別通則:固定ポリエチレンテレフタレートフィルム金属はく直流コン

デンサ

JIS

C

5101-11-1

第 11 部:ブランク個別規格:固定ポリエチレンテレフタレートフィルム金属はく直

流コンデンサ  評価水準 E

JIS

C

5101-13

第 13 部:品種別通則:固定ポリプロピレンフィルム金属はく直流コンデンサ

JIS

C

5101-13-1

第 13-1 部:ブランク個別規格:固定ポリプロピレンフィルム金属はく直流コンデン

サ  評価水準 E 及び EZ

JIS

C

5101-14

第 14 部:品種別通則:電源用電磁障害防止固定コンデンサ

JIS

C

5101-14-1

第 14-1 部:ブランク個別規格:電源用電磁障害防止固定コンデンサ  評価水準 D

JIS

C

5101-14-2

第 14-2 部:ブランク個別規格:電源用電磁障害防止固定コンデンサ  安全性を要求

する試験

JIS

C

5101-14-3

第 14-3 部:ブランク個別規格:電源用電磁障害防止固定コンデンサ  評価水準 DZ

JIS

C

5101-15

第 15 部:品種別通則:固定タンタル非固体又は固体電解コンデンサ


C 5101-14-2

:2009 (IEC 60384-14-2:2004)

(3) 

JIS

C

5101-15-1

第 15 部:ブランク個別規格:はく電極形固定タンタル非固体電解コンデンサ  評価

水準 E

JIS

C

5101-15-2

第 15 部:ブランク個別規格:焼結形固定タンタル非固体電解コンデンサ  評価水準

E

JIS

C

5101-15-3

第 15 部:ブランク個別規格:焼結形固定タンタル固体電解コンデンサ  評価水準 E

JIS

C

5101-16

第 16 部:品種別通則:固定メタライズドポリプロピレンフィルム直流コンデンサ

JIS

C

5101-16-1

第 16-1 部:ブランク個別規格:固定メタライズドポリプロピレンフィルム直流コン

デンサ  評価水準 E 及び EZ

JIS

C

5101-17

第 17 部:品種別通則:固定メタライズドポリプロピレンフィルム交流及びパルスコ

ンデンサ

JIS

C

5101-17-1

第 17-1 部:ブランク個別規格:固定メタライズドポリプロピレンフィルム交流及び

パルスコンデンサ  評価水準 E 及び EZ

JIS

C

5101-18

第 18 部:品種別通則:固定アルミニウム固体 (MnO

2

)

及び非固体電解チップコン

デンサ

JIS

C

5101-18-1

第 18 部:ブランク個別規格:固定アルミニウム固体 (MnO

2

)

電解チップコンデン

サ  評価水準 E

JIS

C

5101-18-2

第 18 部:ブランク個別規格:固定アルミニウム非固体電解チップコンデンサ  評価

水準 E

JIS

C

5101-20

第 20 部:品種別通則:固定メタライズドポリフェニレンスルフィドフィルムチップ

直流コンデンサ

JIS

C

5101-20-1

第 20 部:ブランク個別規格:固定メタライズドポリフェニレンスルフィドフィルム

チップ直流コンデンサ  評価水準 EZ

JIS

C

5101-21

第 21 部:品種別通則:表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類 1

JIS

C

5101-21-1

第 21-1 部:ブランク個別規格:表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類 1  評価水

準 EZ

JIS

C

5101-22

第 22 部:品種別通則:表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類 2

JIS

C

5101-22-1

第 22-1 部:ブランク個別規格:表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類 2  評価水

準 EZ

JIS

C

5101-23

第 23 部:品種別通則:表面実装用固定メタライズドポリエチレンナフタレートフィ

ルム直流コンデンサ

JIS

C

5101-23-1

第 23-1 部:ブランク個別規格:表面実装用固定メタライズドポリエチレンナフタレ

ートフィルム直流コンデンサ  評価水準 EZ

JIS

C

5101-24

第 24 部:品種別通則:表面実装用固定タンタル固体(導電性高分子)電解コンデン

サ(予定)

JIS

C

5101-24-1

第 24-1 部:ブランク個別規格:表面実装用固定タンタル固体(導電性高分子)電解

コンデンサ  評価水準 EZ(予定)

JIS

C

5101-25

第 25 部:品種別通則:表面実装用固定アルミニウム固体(導電性高分子)電解コン

デンサ(予定)

JIS

C

5101-25-1

第 25-1 部:ブランク個別規格:表面実装用固定アルミニウム固体(導電性高分子)

電解コンデンサ  評価水準 EZ(予定)


C 5101-14-2

:2009 (IEC 60384-14-2:2004)

(4) 

白      紙


   

日本工業規格

JIS

 C

5101-14-2

:2009

(IEC 60384-14-2

:2004

)

電子機器用固定コンデンサ−

第 14-2 部:ブランク個別規格:

電源用電磁障害防止固定コンデンサ

安全性を要求する試験

Fixed capacitors for use in electronic equipment-

Part 14-2 : Blank detail specification :

Fixed capacitors for electromagnetic interference suppression and

connection to the supply mains-Safety tests only

序文

この規格は,2004 年に第 1 版として発行された IEC 60384-14-2 を基に,技術的内容及び対応国際規格の

構成を変更することなく作成した日本工業規格である。

なお,この規格で点線の下線を施してある参考事項は,対応国際規格にはない事項である。

ブランク個別規格

ブランク個別規格は,品種別通則 JIS C 5101-14 の補足規格で,個別規格の様式及び必要最小限の要求事

項を規定したものである。

この規格は,共通の国際安全標準の手順として基本となるものである。また,JIS C 5101-14 の中の安全

性試験のための認証計画を実施し,安全に関するパラメータに対する設計の宣言を要求するものであり,

出荷に先立つすべてのロットで行う適合性試験及び宣言した設計の変更に応じた再製品認証試験を規定す

る。

安全性試験を含む品質確認試験を規定する JIS C 5101-14-1 及び JIS C 5101-14-3 に対して,この規格は

安全性を要求する試験に限定する。

大量生産される製品には,JIS C 5101-14-1 及び JIS C 5101-14-3 の使用が,より適切かもしれないが,製

品認証及び再製品認証試験が,製品コストに大きな負担になる場合には,おそらくこの規格が必要になっ

てくる。

この規格が規定する要求事項を満足しない個別規格は,日本工業規格に基づいていないものとみなし,

そのことを個別規格に記載する。

個別規格は,JIS C 5101-14 の 1.4 に基づいて作成する。

個別規格の最初のページとなるこの規格の 2 ページの表の括弧内の数字は,指定の位置に記入する次の

事項と対応している。

個別規格の識別

[1]

個別規格を管理する国内の標準化機関又は国際電気標準会議  (IEC)  の名称


2

C 5101-14-2

:2009 (IEC 60384-14-2:2004)

   

[2]

個別規格の国内規格番号,西暦年及び国内制度で要求される追加事項又は IEC 規格番号,版及び西

暦年

[3]

品目別通則の国内規格番号及び西暦年又は IEC 規格番号,版及び西暦年

[4]

ブランク個別規格の国内規格番号又は IEC 規格番号

コンデンサの識別

[5]

コンデンサの品種についての要約説明

[6]

代表的な構造の説明(適用する場合)

[5]

及び [6] については,個別規格に規定する文は,IECQ 認証登録での記載事項に適合する。

注記  コンデンサがプリント配線板用に設計されていない場合には,個別規格のこの欄にそのこ

とを明記することが望ましい。

[7]

互換性の上で重要な主要寸法を記載した外形図及び/又は外形に関する国内規格若しくは国際規格

の引用。この図は,個別規格の附属書としてもよい。ただし,[7]  には,部品の一般的な外形図が

含まれていることが望ましい。

[8]

適用範囲若しくは適用グループの範囲及び/又は評価水準

個別規格に規定する評価水準は,JIS C 5101-14 の 3.5.4 から選定する。このブランク個別規格の

試験の群構成と同じ場合,個別規格に複数の評価水準を規定してもよい。

[9]

重要な特性に関する参照データ

例  社団法人電子情報技術産業協会 [1]

個別規格番号 [2]

例  JIS C 5101-14-2(ブランク個別規格) [4]

例  電子機器用固定コンデンサ [3]

第 1 部:品目別通則:JIS C 5101-1 : 1998

例  電源用電磁障害防止固定コンデンサ [5]

(安全性を要求する試験)

構造の説明 [6]

外形図(

表 参照) [7]

(第三角法)

(規定寸法内であれば外形は異なってもよい。

安全性を要求する試験 [8]

この個別規格で認証されたコンデンサの詳しい内容は,

品質認証電子部品一覧表  (QPL)  に示

されている*。

 [9]

注*

この記載は,IEC 電子部品品質認証制度  (IECQ)  の場合に適用する。

1

一般事項

1.0A

適用範囲

この規格は,JIS C 5101-14 を品種別通則とするブランク個別規格で,電源用電磁障害防止固定コンデン

サの安全性を要求する試験について規定する。

注記  この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。

IEC 60384-14-2 : 2004

,Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 14-2 : Blank detail

specification : Fixed capacitors for electromagnetic interference suppression and connection to the

supply mains

−Safety tests only (IDT)

なお,対応の程度を表す記号 (IDT) は,ISO/IEC Guide 21 に基づき,一致していることを示

す。

1.1

推奨する取付方法(実装する場合)

取付けは,JIS C 5101-14 の 1.4.2 による。


3

C 5101-14-2

:2009 (IEC 60384-14-2:2004)

1.2

寸法

寸法は,最大寸法又は公称寸法及びその許容差で表し,製造業者の仕様書による。

1.3

定格及び特性

次の定格及び特性は,JIS C 5101-14 の 1.4.3 による。

a)

定格静電容量範囲

b)

定格静電容量許容差

c)

定格電圧

d)

定格電流(適用する場合)

e)

耐候性カテゴリ

f)

定格温度

g)

誘電正接 (tan

δ)

h)

絶縁抵抗

i)

耐炎性カテゴリ

静電容量値は,定格電圧,寸法及び発注コード/種類の指定に関連し,製造業者の仕様書による。

1.4

引用規格

次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの

引用規格は,その最新版(追補を含む。

)を適用する。

JIS C 5101-14 : 2009

  電子機器用固定コンデンサ−第 14 部:品種別通則:電源用電磁障害防止固定コ

ンデンサ

注記  対応国際規格:IEC 60384-14 : 2005,Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 14 :

Sectional specification: Fixed capacitors for electromagnetic interference suppression and connection

to the supply mains (IDT)

JIS C 5101-14-1 : 2009

  電子機器用固定コンデンサ−第 14-1 部:ブランク個別規格:電源用電磁障害

防止固定コンデンサ  評価水準 D

注記  対応国際規格:IEC 60384-14-1 : 2005,Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part

14-1 : Blank detail specification: Fixed capacitors for electromagnetic interference suppression and

connection to the supply mains

−Assessment level D (IDT)

JIS Z 9015-1

  計数値検査に対する抜取検査手順−第 1 部:ロットごとの検査に対する AQL 指標型抜

取検査方式

1.5

表示

適用する場合,コンデンサ及び包装への表示の詳細は,JIS C 5101-14 の 1.6 による。

1.6

発注情報

この規格のコンデンサの発注情報には,

少なくとも次の事項を,

明りょうな文字又は記号によって示す。

a)

定格静電容量

b)

定格静電容量許容差

c)

定格電圧

d)

製造業者名又はその商標

e)

製造業者の形名又は個別規格に規定の形名

1.7

追加情報(非検査目的)

注記  検査目的以外の追加情報がある場合に記載する。


4

C 5101-14-2

:2009 (IEC 60384-14-2:2004)

   

1.8

品目別通則及び/又は品種別通則への追加若しくはより厳しい要求事項

追加又はより厳しい要求事項は,不可欠な場合に限定し,

表 による。

表 1−その他の特性

この表は,JIS C 5101-14 への追加,又はより厳しい特性を
規定するために使用する。

2

検査要求事項

2.1

手順

品質認証の手順は,JIS C 5101-14 の 3.4 による。

2.2

試験計画

2.2.1

初期認証

この規格の

表 による。

2.2.2

再認証

この規格の

附属書 に関連して,この規格の表 による。


5

C 5101-14-2

:2009 (IEC 60384-14-2:2004)

表 2−安全性を要求する試験の初期認証試験計画

細分箇条番号及び

試験項目

a)

D

又は

ND

b)

試験条件

a)

試料数 及び

合格判定数 c

a), b)

要求性能

a)

群 0 
4.1

  外観

4.2.2

  静電容量

4.2.4

  抵抗値

c)

4.2.1

  耐電圧

4.2.5

  絶縁抵抗

ND

表 による。

損傷がない。

表示は,明りょうとする。
規定の許容差以内

規定の許容差以内

永久破壊又はフラッシオー

バがない。

表 11 による。 

群 1A 
4.1.1

  沿面距離及び

  空間距離

4.3

  端子強度

4.4

  はんだ耐熱性

c) e)

4.20

  表示の耐溶剤性

4.4.2

  最終測定

D

厳しさ:...

d)

予備乾燥なし 
方法:...(1A 又は 1B)

d)

外観 
静電容量 
抵抗値

c)

表 による。

表 による。 

損傷がない。

表示は,明りょうとする。

損傷がない。 
表 13 による。 
表 13 による。 

群 2 
4.12

  高温高湿(定常)

4.12.1

  初期測定

e)

4.12.2

  試験条件

4.12.3

  最終測定

D

この表の

群 の測定値を用い

る。

磁器コンデンサ:試料の半数
に定格電圧 U

R

を印加し,残り

の試料には印加しない。 
その他のコンデンサ:電圧印
加しない。

外観

静電容量 
抵抗値

c)

耐電圧

絶縁抵抗

表 による。

損傷がない。 
表示は,明りょうとする。
表 15 による。 
表 15 による。 
表 15 による。 
表 15 による。


6

C 5101-14-2

:2009 (IEC 60384-14-2:2004)

   

表 2−安全性を要求する試験の初期認証試験計画(続き)

細分箇条番号及び

試験項目

a)

D

又は

ND

b)

試験条件

a)

試料数 及び

合格判定数 c

a), b)

要求性能

a)

群 3 
4.13.1

  初期測定

e)

4.13

  インパルス電圧

4.14

  耐久性

4.14.7

  最終測定

D

この表の

群 の測定値を用い

る。

インパルスの回数:最大 24 回

ピーク電圧:

表 及び表 

よる。

時間:1 000 h 
電圧,電流及び温度:

4.14.3

4.14.4

4.14.5

及び 4.14.6

による。

外観

静電容量 
抵抗値

c)

耐電圧 
絶縁抵抗

表 による。

4.13.2

及び 4.13.3 による。

損傷がない。

表示は,明りょうとする。
表 16 による。 
表 16 による。 
表 16 による。 
表 16 による。

群 6 
4.17

  耐炎性

D

表 による。

4.17.1

による。

群 7 
4.18

  発炎性

D

表 による。

4.18.4

による。

a)

試験の細分箇条番号及び要求性能は,JIS C 5101-14 による。

b)

この表の記号は,次による。

n

=試料数,c=合格判定数

D

=破壊試験,ND=非破壊試験

c)

適用する場合。

d)

個別規格の規定による。

e)

磁器コンデンサで,静電容量の  ずれ  の正確な測定が要求される場合は,製造業者が推奨する前処理を JIS C 

5101-14

附属書 に従って実施することが望ましい。


7

C 5101-14-2

:2009 (IEC 60384-14-2:2004)

表 3−ロットごとの品質確認検査の試験計画

安全性を要求する試験

細分箇条番号及び試験項目

JIS C 5101-14 の箇条 による。

検査水準

IL

試料数

合格判定数

A0

4.2.2

静電容量

4.2.4

抵抗値

a)

4.2.1

耐電圧

d)

100 %

b)

4.1

外観

寸法

c)

S-4

e) 

0

A1

4.2.5

絶縁抵抗(試験 A) I

e) 

0

a)

適用する場合。

b)

この検査は,工程でロット内の全数から不適合品を取り除いた後に行う抜取検査である。抜取水準は,部品

製造業者が設定する。検査ロットの合否にかかわらず,ppm で示す出荷品質水準を監視するために,抜取試
料をすべて検査する。

抜取試料中に 1 個以上の不適合品を発見した場合には,このロットは不合格とするが,不適合品は,品質

水準を算出するためにすべて数える。ppm で示す出荷品質水準は,累積した検査データによって算出する。

この検査は,工程の最終検査として行ってもよい。

c)

製造業者が,管理限界を超えるコンデンサを取り除くため,寸法測定に統計的工程管理 (SPC) 又はその他の

仕組みを取り入れる場合は,この試験を工程内検査で置き換えてもよい。

d)

耐電圧試験は,絶縁抵抗で不適合を見つけるための適切な監視方法を兼ねる。

e)

試料数  (n)  は,JIS Z 9015-1 に規定する

付表 の検査水準 (IL)/ロットサイズで割り当てるサンプル文字に従

い,

付表 2-A のサンプル文字に対応する試料数とする。

附属書 によって宣言された設計を変更する場合,表 に従って再認証試験を認証機関は要求してもよ

い。

認証機関は,意図された変更に関して通知を受け,再認証試験の実施について決定する。

最大限として,

附属書 に完全に一致する再認証が必要となる場合がある(序文参照)。

参考文献  JIS C 5101-14-3  電子機器用固定コンデンサ−第 14-3 部:ブランク個別規格:電源用電磁障害

防止固定コンデンサ  評価水準 DZ


8

C 5101-14-2

:2009 (IEC 60384-14-2:2004)

   

附属書 A

規定)

設計の宣言

製造業者及び認証機関の機密)

序文

この附属書は,2.2.2 に関連する設計の宣言について規定する。

A.1

一般事項

この記載の目的は,認証が必要なコンデンサの基本設計及び必要なデータを登録することである。完成

した書類は,すべての認証試験に先立って関連する認証機関に提出する。その他の機関への配布は製造業

者の決定に任される。

宣言した設計の変更は,書面で認証機関に通知した後にだけ許可される。この場合,認証機関は,講じ

られるべき必要な措置を決める。最大限のものとして,全面的な再認証が要求される場合がある。

登録番号は,認証機関によって割り付けられる。

1

出願者

2

製造業者

3

生産地

4

形式の指定

5

クラス/サブクラス

6

回路図

7

誘電体

7.1

材質

7.2

厚さ

7.3

密度(紙コンデンサだけに適用)

7.4

個々の層の数

8

電極

8.1

材質

8.2

種類(例えば,ホイル,フィルム又は紙上への蒸着など)

9

コンデンサ素子,個々の層の配置

10

含浸剤(適用する場合)

11

封止

11.1

ケース,樹脂などの材質(該当するもの)

11.2

外側絶縁の材質(適用する場合)

12

外形寸法

⎯⎯⎯⎯⎯⎯

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⎯⎯⎯⎯⎯⎯

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場所

日付

氏名

自署