>サイトトップへ >このカテゴリの一覧へ

C 4526-1

:2013

(1)

目  次

ページ

序文  

1

1

  適用範囲  

1

2

  引用規格  

2

3

  用語及び定義  

6

3.1

  共通用語  

6

3.2

  電圧,電流及び電力に関する定義  

10

3.3

  スイッチの種類に関する定義  

11

3.4

  スイッチの動作に関連する定義  

12

3.5

  スイッチへの接続に関連する定義  

14

3.6

  端子又は端子部に関連する定義  

14

3.7

  絶縁に関連する定義  

16

3.8

  汚染に関連する定義  

17

3.9

  製造業者の試験に関する定義  

18

4

  一般要求事項  

18

5

  試験に関する一般注意事項  

18

6

  定格 

21

7

  分類 

21

7.1

  スイッチの分類  

21

7.2

  端子による分類  

29

8

  表示及び文書  

38

9

  感電に対する保護  

45

10

  接地接続の手段  

47

11

  端子及び端子部  

48

11.1

  未処理銅導体用端子  

48

11.2

  端末処理銅導体用端子及び/又は特殊な工具を使用して接続する端子  

52

11.3

  電源の接続及び外部コード接続用の端子に対する追加要求事項  

55

12

  構造  

55

12.1

  感電に対する保護に関連する構造上の要求事項  

55

12.2

  スイッチの取付け及び通常の動作中の安全に関連する構造上の要求事項  

56

12.3

  スイッチの取付け及びコードの取付けに関連する構造上の要求事項  

57

13

  機構  

57

14

  固形異物,水の浸入及び高湿状態に対する保護  

58

14.1

  固形異物の侵入に対する保護  

58

14.2

  水の浸入に対する保護  

58

14.3

  高湿状態に対する保護  

59


C 4526-1

:2013  目次

(2)

ページ

15

  絶縁抵抗及び耐電圧  

59

16

  温度上昇  

61

16.1

  一般要求事項  

61

16.2

  接点及び端子  

61

16.3

  その他の部品  

63

17

  耐久性  

66

17.1

  一般要求事項  

66

17.2

  電気的耐久性試験  

70

18

  機械的強度  

75

19

  ねじ,通電部品及び接続  

77

19.1

  電気的接続に対する一般要求事項  

77

19.2

  ねじ止め接続  

77

19.3

  通電部  

79

20

  空間距離,沿面距離,固体絶縁及び剛性プリント配線板アセンブリのコーティング  

80

20.1

  空間距離  

80

20.2

  沿面距離  

82

20.3

  固体絶縁  

85

20.4

  剛性プリント配線板アセンブリのコーティング  

85

21

  耐火性  

86

21.1

  耐熱性  

86

21.2

  異常発生熱に対する耐熱性  

86

22

  耐食性  

87

23

  電子的スイッチの異常動作及び故障状態  

87

23.4

  冷却障害の場合の火災に対する保護  

90

24

  電子的スイッチの構成部品  

90

24.1

  保護装置  

91

24.2

  コンデンサ  

93

24.3

  抵抗器  

93

25

  EMC 要求事項  

93

25.1

  イミュニティ  

94

25.2

  エミッション  

96

附属書 A(規定)空間距離及び沿面距離の測定  

106

附属書 B(参考)空間距離及び沿面距離の寸法に関する図  

110

附属書 C  

111

附属書 D(規定)保証トラッキング試験  

112

附属書 E  

113

附属書 F(参考)スイッチ使用上のガイド  

114

附属書 G  

116

附属書 H(参考)平形クイック接続端子,めす(雌)形コネクタ選定の方法  

117


C 4526-1

:2013  目次

(3)

ページ

附属書 J  

118

附属書 K(規定)定格インパルス電圧,定格電圧及び過電圧カテゴリ間の関係  

119

附属書 L(規定)汚損度  

120

附属書 M(規定)インパルス電圧試験  

121

附属書 N(規定)高度補正係数  

122

附属書 P(規定)剛性プリント配線板のコーティングタイプ  

123

附属書 Q(規定)タイプ コーティングされたプリンタ配線板の絶縁距離の測定  

124

附属書 R(規定)ルーチン試験  

125

附属書 S(参考)抜取試験  

126

附属書 T(参考)スイッチファミリ  

128

附属書 U(規定)スイッチのタブの寸法(新しい設計用には推奨しない寸法)  

130

附属書 V(参考)人の注意が行き届かない機器の異常発生熱に対する耐熱性の要求事項及び試験  

131

附属書 JA(参考)JIS と対応国際規格との対比表  

133


C 4526-1

:2013  目次

(4)

まえがき

この規格は,工業標準化法第 14 条によって準用する第 12 条第 1 項の規定に基づき,一般社団法人日本

電気制御機器工業会(NECA)及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工

業規格を改正すべきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工

業規格である。

これによって,JIS C 4526-1:2005 は改正され,この規格に置き換えられた。

この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。

この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意

を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実

用新案権に関わる確認について,責任はもたない。

JIS C 4526

の規格群には,次に示す部編成がある。

JIS

C

4526-1

第 1 部:一般要求事項

JIS C 4526-2-1

第 2-1 部:コードスイッチの個別要求事項

JIS C 4526-2-4

第 2-4 部:独立形固定スイッチの個別要求事項

JIS C 4526-2-5

第 2-5 部:切換セレクタの個別要求事項


日本工業規格

JIS

 C

4526-1

:2013

機器用スイッチ−第 1 部:一般要求事項

Switches for appliances-Part 1: General requirements

序文 

この規格は,2008 年に第 3.2 版として発行された IEC 61058-1 を基に,技術的内容を変更して作成した

日本工業規格である。

なお,この規格で点線の下線を施してある箇所は,対応国際規格を変更している事項である。変更の一

覧表にその説明を付けて,

附属書 JA に示す。

適用範囲 

1.1

この規格は,定格電圧 480 V 以下,定格電流 63 A 以下で,家庭用又はこれに類する用途の電気機器,

及び他の装置の操作又は制御に使用し,手,足又は他の人間の動作によって操作する機械的又は電子的な

機器用スイッチについて規定する。

これらのスイッチは,人間によってアクチュエータを介して,又は検出ユニットの動作によって操作す

ることを意図したものである。アクチュエータ又は検出ユニットはスイッチと一体となっていても,スイ

ッチから物理的又は電気的に分離して準備されていてもよく,アクチュエータ又は検出ユニットとスイッ

チとの間には,例えば,電気,光,音又は温度のような信号の変換を含んでもよい。

スイッチ機能によって管理された追加の制御機能を内蔵するスイッチは,

この規格の適用範囲内とする。

さらに,アクチュエータ又は検出ユニットの動作が,遠隔制御,ドアのような機器又は装置の部分によ

って行われるような,スイッチの間接操作を含む。

注記 1  電子的スイッチは,完全遮断又は微小遮断を行う機械的スイッチと組み合わせてもよい。

注記 2  電源回路にある,機械的スイッチをもたない電子的スイッチは,電子的遮断だけを行う。し

たがって,負荷側の回路は常に充電部とみなされる。

注記 3  熱帯性気候で使用されるスイッチに対しては,要求事項の追加が必要になる場合がある。

注記 4  機器に関する規格が,スイッチに対して追加の,又は代替の要求事項を含んでいる場合があ

るので注意を要する。

注記 5  この規格を通じて,用語で“機器”は,“機器又は装置”を意味する。

注記 6  この規格は,内蔵したスイッチの試験に適用する。その他のタイプの機器用スイッチを試験

するときは,JIS C 4526 の第 2 部の規格と併せてこの規格を適用する。JIS C 4526 の第 2 部

の規格に規定されていない他のタイプのスイッチは,電気的安全性が無視できない場合には,

この規格を適用する。

注記 7  この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。

IEC 61058-1:2008

,Switches for appliances−Part 1: General requirements(MOD)

なお,対応の程度を表す記号“MOD”は,ISO/IEC Guide 21-1 に基づき,

“修正している”


2

C 4526-1

:2013

ことを示す。

1.2

この規格は,機器又は装置の内部,表面又はこれと一緒に組み込ませることを意図したスイッチに

適用する。

1.3

この規格は,電子素子を内蔵するスイッチにも適用する。

1.4

この規格は,更に次に示す機器用スイッチにも適用する。

−  可とうケーブルに接続する意図のあるスイッチ(コードスイッチ)

注記  この文書において,用語で“ケーブル”は,“ケーブル又はコード”を意味する。

−  機器内部に一体に組み付けるスイッチ(一体組付けスイッチ)

−  JIS C 8281 の適用範囲のスイッチを除き,機器から離れたところに取り付けることを意図するスイッ

チ(独立形固定スイッチ)

−  電圧切替器。ただし,これに対しては,JIS C 4526 の第 2 部の規格に特別の要求事項がある。

1.5

この規格は,アイソレーション機能をもつスイッチに関する要求事項は含まない。

1.6

この規格は,人による操作を意図していない機器又は装置の制御の素子には適用しない。これらは

JIS C 9730

で規定する。

引用規格 

次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの

引用規格のうちで,西暦年を付記してあるものは,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追補を含む。

は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は,その最新版(追補を含む。

)を適用する。

JIS C 0066:2001

  環境試験方法−電気・電子−炎着火源による固体非金属材料の燃焼性−試験方法の

リスト

注記  対応国際規格:IEC 60707:1999,Flammability of solid non-metallic materials when exposed to

flame sources−List of test methods(IDT)

JIS C 0365:2007

  感電保護−設備及び機器の共通事項

注記  対応国際規格:IEC 61140,Protection against electric shock−Common aspects for installation and

equipment(IDT)

JIS C 0920:2003

  電気機械器具の外郭による保護等級(IP コード)

注記  対応国際規格:IEC 60529:2001,Degrees of protection provided by enclosures (IP Code)(IDT)

JIS C 0922:2002

  電気機械器具の外郭による人体及び内部機器の保護−検査プローブ

注記  対応国際規格:IEC 61032:1997,Protection of persons and equipment by enclosures−Probes for

verification(IDT)

JIS C 2134:1996

  湿潤状態での固体電気絶縁材料の比較トラッキング指数及び保証トラッキング指数

を決定する試験方法

注記  対応国際規格:IEC 60112:1979,Method for determining the comparative and the proof tracking

indices of solid insulating materials under moist conditions(IDT)

JIS C 2809:1999

  平形接続子

注記  対応国際規格:IEC 60760:1989,Flat, quick-connect terminations(MOD)

JIS C 2814-2-3:2001

  家庭用及びこれに類する用途の低電圧用接続器具−第 2-3 部:絶縁貫通形締付式

接続器具の個別要求事項

注記  対応国際規格:IEC 60998-2-3:1991,Connecting devices for low-voltage circuits for household and


3

C 4526-1

:2013

similar purposes−Part 2-3: Particular requirements for connecting devices as separate entities with

insulation piercing clamping units(MOD)

JIS C 3664:1998

  絶縁ケーブルの導体

注記  対応国際規格:IEC 60228:1978,Conductors of insulated cables(IDT)

JIS C 4003:1998

  電気絶縁の耐熱クラス及び耐熱性評価

注記  対応国際規格:IEC 60085:1984,Thermal evaluation and classification of electrical insulation(IDT)

JIS C 4034-1:1999

  回転電気機械−第 1 部:定格及び特性

注記  対応国際規格:IEC 60034-1:1996,Rotating electrical machines−Part 1: Rating and performance

及び Amendment 1:1997(MOD)

JIS C 4526-2-1

  機器用スイッチ−第 2-1 部:コードスイッチの個別要求事項

注記  対応国際規格:IEC 61058-2-1,Switches for appliances−Part 2-1: Particular requirements for cord

switches(MOD)

JIS C 4526-2-4

  機器用スイッチ−第 2-4 部:独立形固定スイッチの個別要求事項

注記  対応国際規格:IEC 61058-2-4,Switches for appliances−Part 2-4: Particular requirements for

independently mounted switches(MOD)

JIS C 5101-14:1998

  電子機器用固定コンデンサ−第 14 部:品種別通則:電源用電磁障害防止固定コ

ンデンサ

注記  対応国際規格:IEC 60384-14:1993,Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 14:

Sectional specification: Fixed capacitors for electromagnetic interference suppression and connection

to the supply mains 及び Amendment 1:1995(MOD)

JIS C 6065:2007

  オーディオ,ビデオ及び類似の電子機器−安全性要求事項

注記  対 応 国 際 規 格 : IEC 60065:2001 , Audio, video and similar electronic apparatus − Safety

requirements(MOD)

JIS C 6065:2009

(追補 1)

注記  対応国際規格:IEC 60065,Amendment 1:2005(MOD)

JIS C 6575

(全ての部)  ミニチュアヒューズ

注記  対応国際規格:IEC 60127 (all parts),Miniature fuses(MOD)

JIS C 6575-2:2005

  ミニチュアヒューズ−第 2 部:管形ヒューズリンク

注記  対応国際規格:IEC 60127-2:2003,Miniature fuses−Part 2: Cartridge fuse-links 及び Amendment

1:2003(MOD)

JIS C 6691:2003

  温度ヒューズ−要求事項及びガイドライン

注記  対応国際規格:IEC 60691:1993,Thermal-links−Requirements and application guide,Amendment

1:1995 及び Amendment 2:2000(MOD)

JIS C 6950-1:2012

  情報技術機器−安全性−第 1 部:一般要求事項

JIS C 8281

(全ての部)  家庭用及びこれに類する用途の固定電気設備用スイッチ

注記  対 応国際規 格: IEC 60669 (all parts), Switches for household and similar fixed electrical

installations(MOD)

JIS C 9335-1:2003

  家庭用及びこれに類する電気機器の安全性−第 1 部:一般要求事項

注記  対応国際規格:IEC 60335-1:2001,Household and similar electrical appliances−Safety−Part 1:

General requirements(MOD)


4

C 4526-1

:2013

JIS C 9335

(第 2 部の全て)  家庭用及びこれに類する電気機器の安全性

注記  対応国際規格:IEC 60335 (all parts 2),Household and similar electrical appliances−Safety(MOD)

JIS C 9730

(全ての部)  家庭用及びこれに類する用途の自動電気制御装置

注記  対応国際規格:IEC 60730 (all parts),Automatic electrical controls for household and similar use

(MOD)

JIS C 9730-1:2004

  家庭用及びこれに類する用途の自動電気制御装置−第 1 部:一般要求事項

注記  対応国際規格:IEC 60730-1:1999,Automatic electrical controls for household and similar use−

Part 1: General requirements(MOD)

JIS C 9730-2-9:2004

  家庭用及びこれに類する用途の自動電気制御装置−第 2-9 部:温度検出制御装置

の個別要求事項

注記  対応国際規格:IEC 60730-2-9: 2000,Automatic electrical controls for household and similar use

−Part 2-9: Particular requirements for temperature sensing controls 及び Amendment 1:2002

(MOD)

JIS C 60068-2-20:1996

  環境試験方法−電気・電子−はんだ付け試験方法

注記  対応国際規格:IEC 60068-2-20:1979,Basic environmental testing−Part 2: Tests−Test T:

Soldering,Amendment 1:1986 及び Amendment 2:1987(IDT)

JIS C 60068-2-75:2004

  環境試験方法−電気・電子−第 2-75 部:ハンマ試験

注記  対応国際規格:IEC 60068-2-75:1997,Environmental testing−Part 2-75: Tests−Test Eh: Hammer

tests(IDT)

JIS C 60664-1:2009

  低圧系統内機器の絶縁協調−第 1 部:基本原則,要求事項及び試験

注記  対応国際規格:IEC 60664-1:2007,Insulation coordination for equipment within low-voltage

systems−Part 1: Principles, requirements and tests(IDT)

JIS C 60695-2-11:2004

  耐火性試験−電気・電子−最終製品に対するグローワイヤ燃焼性試験方法

注記  対応国際規格:IEC 60695-2-11:2000,Fire hazard testing−Part 2-11: Glowing/hot-wire based test

methods−Glow-wire flammability test method for end-products(IDT)

JIS C 60695-2-12:2004

  耐火性試験−電気・電子−材料に対するグローワイヤ燃焼性試験方法

注記  対応国際規格:IEC 60695-2-12,Fire hazard testing−Part 2-12: Glowing/hot-wire based test

methods−Glow-wire flammability index (GWFI) test method for materials(IDT)

JIS C 60695-2-13:2004

  耐火性試験−電気・電子−材料に対するグローワイヤ着火性試験方法

注記  対応国際規格:IEC 60695-2-13,Fire hazard testing−Part 2-13: Glowing/hot-wire based test

methods−Glow-wire ignition temperature (GWIT) test method for materials(IDT)

JIS C 60695-10-2:2008

  耐火性試験−電気・電子−第 10-2 部:異常発生熱−ボールプレッシャー試験

方法

注記  対応国際規格:IEC 60695-10-2,Fire hazard testing−Part 10-2: Abnormal heat−Ball pressure test

(IDT)

JIS C 61000-3-2:2003

  電磁両立性−第 3-2 部:限度値−高調波電流発生限度値(1 相当たりの入力電

流が 20 A 以下の機器)

注記  対応国際規格:IEC 61000-3-2:2001,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 3-2: Limits−

Limits for harmonic current emissions (equipment input current≦16 A per phase)(MOD)

JIS C 61000-4-2:1999

  電磁両立性−第 4 部:試験及び測定技術−第 2 節:静電気放電イミュニティ試


5

C 4526-1

:2013

注記  対応国際規格:IEC 61000-4-2:1995,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4: Testing and

measurement techniques−Section 2: Electrostatic discharge immunity test. Basic EMC publication

及び Amendment 1:1998(IDT)

JIS C 61000-4-3:2004

  電磁両立性−第 4 部:試験及び測定技術−第 3 節:放射無線周波電磁界イミュ

ニティ試験

注記  対応国際規格:IEC 61000-4-3:1995,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4: Testing and

measurement techniques−Section 3: Radiated, radio-frequency, electromagnetic field immunity test

及び Amendment 1:1998(IDT)

JIS C 61000-4-4:1999

  電磁両立性−第 4 部:試験及び測定技術−第 4 節:電気的ファーストトランジ

ェント/バーストイミュニティ試験

注記  対応国際規格:IEC 61000-4-4:1995,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4: Testing and

measurement techniques− Section 4: Electrical fast transient/burst immunity test. Basic EMC

publication(MOD)

JIS C 61000-4-5:2009

  電磁両立性−第 4-5 部:試験及び測定技術−サージイミュニティ試験

注記  対応国際規格:IEC 61000-4-5:2005,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-5: Testing and

measurement techniques−Surge immunity test(IDT)

JIS C 61000-4-6:1999

  電磁両立性−第 4 部:試験及び測定技術−第 6 節:無線周波電磁界によって誘

導された伝導妨害に対するイミュニティ

注記  対応国際規格:IEC 61000-4-6:1996,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4: Testing and

measurement techniques − Section 6: Immunity to conducted disturbances, induced by

radio-frequency fields(MOD)

JIS C 61000-4-8:2003

  電磁両立性−第 4 部:試験及び測定技術−第 8 節:電源周波数磁界イミュニテ

ィ試験

注記  対応国際規格:IEC 61000-4-8:1993,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4: Testing and

measurement techniques−Section 8: Power frequency magnetic field immunity test(MOD)

JIS H 8610:1999

  電気亜鉛めっき

注記  対応国際規格:ISO 2081:1986,Metallic coatings−Electroplated coatings of zinc on iron or steel

(MOD)

JIS H 8617

  ニッケルめっき及びニッケル−クロムめっき

注記  対応国際規格:ISO 1456:1988,Metallic coatings−Electrodeposited coatings of nickel plus

chromium and of copper plus nickel plus chromium(MOD)

JIS H 8619:1999

  電気すずめっき

注記  対応国際規格:ISO 2093:1986,Electroplated coatings of tin−Specification and test methods

(MOD)

IEC 60038:1983

,IEC standard voltages

IEC 60050 (151):1978

,International Electrotechnical Vocabulary (IEV)−Chapter 151: Electrical and magnetic

devices

IEC 60050 (411):1973

,International Electrotechnical Vocabulary (IEV)−Chapter 411: Rotating machines

IEC 60050 (441):1984

,International Electrotechnical Vocabulary (IEV)−Chapter 441: Switchgear, controlgear

and fuses


6

C 4526-1

:2013

IEC 60050 (826):1982

,International Electrotechnical Vocabulary−Chapter 826: Electrical installations of

buildings,Amendment 1:1990 及び Amendment 2:1995

IEC 60060-1:1989

,High-voltage test techniques−Part 1: General definitions and test requirements

IEC 60269-1:1998

,Low-voltage fuses−Part 1: General requirements

IEC 60269-3-1:1994

,Low-voltage fuses−Part 3-1: Supplementary requirements for fuses for use by unskilled

persons (fuses mainly for household and similar applications)−Sections I to IV

IEC 60417

,Graphical symbols for use on equipment

IEC 60617-2:1996

,Graphical symbols for diagrams−Part 2: Symbol elements, qualifying symbols and other

symbols having general application

注記  対応日本工業規格:JIS C 0617-2:1997  電気用図記号    第 2 部:図記号要素,限定図記号及

びその他の一般用途図記号(IDT)

IEC 60664-3:1992

,Insulation coordination for equipment within low-voltage systems−Part 3: Use of coatings

to achieve insulation coordination of printed board assemblies

IEC 60738-1:1998

,Thermistors−Directly heated positive step-function temperature coefficient−Part 1:

Generic specification

IEC 60893-1:1987

,Specification for industrial rigid laminated sheets based on thermosetting resins for

electrical purposes−Part 1: Definitions, designations and general requirements

IEC 61000 (all parts)

,Electromagnetic compatibility (EMC)

IEC 61000-3-3:1994

,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 3: Limits−Section 3: Limitation of voltage

fluctuations and flicker in low-voltage supply systems for equipment with rated current  ≦16 A

IEC/TR2 61000-3-5:1994

,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 3: Limits−Section 5: Limitation of

voltage fluctuations and flicker in low-voltage power supply systems for equipment with rated current

greater than 16 A

IEC 61000-4-1:1992

,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4: Testing and measurement techniques−

Section 1: Overview of immunity tests. Basic EMC Publication

IEC 61000-4-11:1994

,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4: Testing and measuring techniques−

Section 11: Voltage dips, short interruptions and voltage variations immunity tests

IEC 61210:1993

,Connecting devices−Flat quick-connect terminations for electrical copper conductors−

Safety requirements

CISPR 14-1

,Electromagnetic compatibility−Requirements for household appliances, electric tools and similar

apparatus−Part 1: Emission

CISPR 15:2005

,Limits and methods of measurement of radio disturbance characteristics of electrical lighting

and similar equipment 及び Amendment 1:2006

ISO 4046:1978

,Paper, board, pulp and related terms−Vocabulary

用語及び定義 

この規格で用いる主な用語及び定義は,次による。

3.1 

共通用語(general terms) 

3.1.1

機械的開閉装置(mechanical switching device)


7

C 4526-1

:2013

開離できる接点を用いて,一つ又は二つ以上の電気回路を投入及び遮断するように設計された開閉装置

IEV 441-14-02 参照]

3.1.2

スイッチ(機械的)[switch (mechanical)]

機械的開閉装置であって,指定の過負荷状態を含み,通常の回路状態の下で投入,通電及び遮断するこ

とができ,さらに,例えば,短絡状態のような規定された異常回路状態の下でも,特定の時間,通電でき

るもの[IEV 441-14-10 参照]

注記  スイッチは短絡電流を投入できるが,遮断できなくてもよい。

3.1.3

導電部(conductive part)

電流を流すことのできる部分。ただし,必ずしも電流を流さなくてもよい[IEV 441-11-09 参照]

3.1.4

充電部(live part)

中性線を含み,通常の使用において通電される導体又は導電部。ただし,慣例によって PEN 導体を含め

ない[IEV 826-03-01 参照]

3.1.5

スイッチの極(pole of a switch)

電気的に分離され,スイッチの一つの導電路だけに結合している部分。

注記 1  全ての極を一緒に取付け及び動作させるための手段として設けた部品は含まない。

注記 2  一つの極だけをもつ場合には,スイッチは“単極”と呼ばれる。スイッチが二つ以上の極を

もち,それらの極が同時に動作する場合には,

“多極”

(2 極,3 極など)と呼ばれる。

3.1.6

空間距離(clearance)

二つの導電部間の空間最短距離。

3.1.7

沿面距離(creepage distance)

二つの導電部間の絶縁材料の表面に沿った最短距離[IEV 151-03-37 参照]

3.1.8

着脱できる部分(detachable part)

スイッチを通常の使用状態に取り付けたとき,工具を使用しないで取り外し得る部分。

3.1.9

工具(tool)

ナット,ねじ又はこれに類する部品を操作するために使用するねじ回し,硬貨又はその他のもの。

3.1.10

特殊な工具(special purpose tool)

通常の家庭において常備されていない工具。例えば,三角頭ねじに用いるキー。

注記  硬貨,ねじ回し,及び四角又は六角ナットを回すように設計されたスパナは特殊な工具ではな

い。

3.1.11

通常の使用(normal use)


8

C 4526-1

:2013

スイッチが作られ,そして製造業者が指示した目的に沿って使用すること。

3.1.12

周囲温度(ambient air temperature)

特定の条件下で測定される温度であって,製造業者によって指示されたとおりに取り付けたときのスイ

ッチを取り巻く空気の温度。

3.1.13

保証トラッキング指数[proof tracking index (PTI)]

材料がトラッキングすることなく試験溶液 50 滴の滴下に耐える電圧を,ボルト単位で表した数値。

3.1.14

特殊タイプ参照記号(unique type reference)

スイッチに表示された識別表示であって,

その全部をスイッチの製造業者に問い合わせることによって,

オリジナルのスイッチとして電気的,機械的,寸法的及び機能的パラメータを明確に指定可能な表示。

3.1.15

共通タイプ参照記号(common type reference)

スイッチに表示された識別記号であって,この規格に準拠して選択し,設置し,そして使用するために,

この規格の表示要求事項によって与えられる情報以上のいかなる特定情報も要求しない表示。

3.1.16

カバー又はカバープレート(cover or cover plate)

スイッチを通常の使用時と同様に取り付けたとき,人が触れるおそれがあり,工具を用いて取外しでき

る部分。

3.1.17

信号表示灯(signal indicator)

回路の状態を示すためにスイッチに結合している装置。

注記  この装置は,スイッチによって制御されていても,されなくてもよい。

3.1.18

未処理導体(unprepared conductor)

切断し,締付ユニットに挿入するために絶縁物を取り除いた導体。

注記  締付ユニットに挿入するために形状を整えた導体又はより線をねじって端末を整えた導体も未

処理導体とみなす。

3.1.19

処理導体(prepared conductor)

導体終端にアイレット,ターミナルエンド,ケーブルプラグなどを付けた導体。

3.1.20

基材(base material)

電子回路を支持する絶縁材。

3.1.21

プリント配線板(printed board)

孔(ある場合)を含み,少なくとも一つの導電性パターンを付けたある大きさの基材。

3.1.22

プリント配線板アセンブリ(printed board assembly)


9

C 4526-1

:2013

電気・機械部品付きのプリント配線板,及び/又は配線板に取り付けた,ほかの配線板で,製造プロセ

ス,はんだ付け,コーティングなどが全て完了したもの。

3.1.23

絶縁距離(insulation distance)

基材上にある導電部間におけるコーティング配線板の最短距離。

図 Q.1 参照。

3.1.24

極性反転(polarity reversal)

切換動作によって負荷に接続する端子の変更。

3.1.25

半導体スイッチング素子(semiconductor switching device)

半導体の制御された導電率によって電気回路の電流を入れたり,伝えたり,切ったり又は制御するよう

に設計したスイッチング素子。

3.1.26

電子降圧コンバータ[electronic step-down convertor (convertor)]

ランプにその定格電圧で,一般に高周波数で給電するユニットであって,電源と一つ以上のタングステ

ン−ハロゲン又は他のフィラメントランプの間に挿入するもの。このユニットは,一つ以上の別々の部品

から構成することがある。

3.1.27

電子的スイッチ(electronic switch)

指定された使用過負荷状態を含むことのある標準回路状態下で電流を入れたり,伝えたり,切ったり又

は制御することができ,

短絡時などの指定異常回路状態下で指定時間の間電流を伝えることもできる装置。

この装置は,機械的又は電子的に動作することもあるアクチュエータ,作動体及びスイッチング素子を含

む。このうちの少なくとも一つは電子的でなければならない。

3.1.28

デューティ(duty)

電子的スイッチが受ける負荷についての状態。該当する場合には,閉,制御及び開などの場合に,その

間隔・時間的シーケンスなどの負荷についての状態[IEV 411-21-07 参照,修正]をいう。

3.1.29

デューティタイプ(duty-type)

特定の時間,一定に継続する一つ以上の負荷を含む連続,短期若しくは定期的デューティ,又は一般に

許容動作範囲内で負荷が変動する非定期的デューティ[IEV 411-21-13 参照,修正]

3.1.30

周期的継続率(cyclic duration factor)

開閉などの荷電周期とデューティサイクル期間との比(パーセンテージで表す。

IEV 411-21-10 参照,

修正]

3.1.31

保護インピーダンス(protective impedance)

電子的スイッチの通常使用及び起こり得る故障状態下で電流を安全な値に限定するような値で,充電部

と可触導電部との間に接続したインピーダンス。電子的スイッチの寿命中は信頼性が維持されるように構

成されている。


10

C 4526-1

:2013

注記  起こり得る故障状態,安全電流及び信頼性要件の詳細については,この規格に規定する。

3.2 

電圧,電流及び電力に関する定義(definitions relating to voltages, currents and wattage) 

注記  用語“電圧”及び“電流”は,他に規定がされない限り実効値を意味する。

3.2.1

定格電圧,定格電流,定格周波数又は定格消費電力(rated voltage, current, frequency or wattage)

製造業者によって,スイッチに付与した電圧,電流,周波数又は電力であって,動作及び性能の特性に

引用するもの。

3.2.2

SELV

(safety extra low voltage)

導体間又は任意の導体と供給電源から絶縁されている回路の中の接地間において交流実効値 50 V 又は

直流 120 V を超えない電圧。

注記 SELV は,接地されていない特別低電圧である(JIS C 0365 参照)。

3.2.3

過電流(over-current)

定格電流を超える電流[IEV 441-11-06 参照]

3.2.4

過負荷(overload)

過電流が生じても,回路には電気的な損傷を生じない動作状態[IEV 441-11-08 参照]

3.2.5

短絡電流(short-circuit current)

電気回路の故障又は誤った接続によって短絡した回路に流れる過電流[IEV 441-11-07 参照]

3.2.6

動作電圧(working voltage)

定格電源電圧に接続されたスイッチの絶縁間に部分的に発生する場合がある交流電圧の最大実効値,又

は直流電圧の最大値。

注記 1  過渡電流は無視する。

注記 2  開回路状態及び通常動作状態の両方を考慮に入れる。

3.2.7

過電圧(overvoltage)

通常動作状態での最大定常電圧の対応するピーク値を超えるピーク値をもつ電圧。

3.2.8

繰返しピーク電圧[recurring peak voltage (U

rp

)]

交流電圧のひずみから,又は直流電圧に重畳された交流成分から生じた電圧波形の周期的偏位の最大ピ

ーク値。

注記  不規則な過電圧,例えば,時々起こるスイッチングによるものなどは,繰返しピーク電圧とは

みなさない。

3.2.9

一時的過電圧(temporary overvoltage)

比較的長い持続時間の電源周波数における過電圧。


11

C 4526-1

:2013

3.2.9.1

短期一時的過電圧(short-term temporary overvoltage)

5 秒以下の持続時間の一時的過電圧。

注記  短期一時的過電圧の電圧値は,長期一時的過電圧(JIS C 60664-1 の 5.3.3.2.3 参照)の電圧値よ

りも高い。

3.2.9.2

長期一時的過電圧(long-term temporary overvoltage)

5 秒を超える持続時間の一時的過電圧。

3.2.10

インパルス耐電圧(impulse withstand voltage)

指定条件下で絶縁破壊を引き起こさない規定された波形及び極性のインパルス電圧の最大ピーク値。

3.2.11

過電圧カテゴリ(overvoltage category)

過渡過電圧状態を定義する数値。

注記  過電圧カテゴリ I,II 及び III を用いる(附属書 参照)。

3.2.12

定格負荷(rated load)

製造業者によってスイッチに割り当てられた負荷のタイプ。

3.2.13

最小負荷(minimum load)

電子的スイッチがまだ正しく動作する負荷。

3.2.14

熱電流(thermal current)

製造業者によって宣言された試験条件下(周囲温度も含む。

)で,電子的スイッチを定格負荷,及び/又

は強制冷却の存在する(いずれかがある場合)機器でのデューティタイプで,指定周囲条件下で操作した

ときと同じ加熱を,強制冷却なしで行う連続抵抗負荷電流。

注記  “熱電流”の概念によって,通常分野において複雑な冷却条件のある電子的スイッチの簡略試

験を行うことができる。熱電流は,常に,テーブル上又は単純な試験用具に置いたスイッチの

試験,及び該当する機器での比較試験によって決定される。それゆえに,熱電流は普通は定格

電流よりも低い。このことは,電子的スイッチを機器に取り付けるときに,定格電流を伝える

ことができることを確かめるために,

端子・接点などの追加試験を必要とすることを意味する。

これらの追加試験については箇条 16 及び箇条 17 に規定する。

3.3 

スイッチの種類に関する定義(definitions relating to the different types of switches) 

3.3.1

組込みスイッチ(incorporated switch)

機器の中に組込み又は固定することを目的とするスイッチのうち,個別に試験することができるスイッ

チ。

3.3.2

一体組付けスイッチ(integrated switch)

その機能を機器の中にいかに正しく取り付けて固定するかに依存し,その機器の関連する部分と組み合


12

C 4526-1

:2013

わせたときに限ってこれを試験することができるスイッチ。

3.3.3

ロータリスイッチ(rotary switch)

アクチュエータがシャフト又はスピンドルであって,接触状態を変化させるため,アクチュエータを 1

又は 2 以上の表示された位置へ回転させて使用するスイッチ。

注記  アクチュエータは,制限のない回転でもよく,いずれかの方向に制限された回転でもよい。

3.3.4

レバースイッチ(lever switch)

アクチュエータが 1 本のレバーであって,接触状態を変化させるため,このレバーを 1 又は 2 以上の表

示された位置へ傾斜させて使用するスイッチ。

3.3.5

ロッカスイッチ(rocker switch)

アクチュエータが側面高さが低い揺動子であって,接触状態を変化させるため,この揺動子を 1 又は 2

以上の表示された位置へ傾斜させて使用するスイッチ。

3.3.6

押しボタンスイッチ(push-button switch)

アクチュエータが一つのボタンであって,接触状態を変化させるため,このボタンを押して使用するス

イッチ。

注記  このスイッチは,二つ以上のボタンを備えてもよい。

3.3.7

引きひもスイッチ(cord-operated switch)

アクチュエータが 1 本の引きひもであって,接触状態を変化させるため,このひもを引っ張って使用す

るスイッチ。

3.3.8

プッシュプルスイッチ(push-pull switch)

アクチュエータが 1 本の棒であって,接触状態を変化させるため,この棒を 1 又は 2 以上の表示された

位置へ引っ張り,又は押して使用するスイッチ。

3.3.9

自動復帰スイッチ(biased switch)

アクチュエータを動作した位置から解放したとき,接点及びアクチュエータが,あらかじめ決められて

いる位置に復帰するスイッチ。

3.4 

スイッチの動作に関連する定義(definitions relating to the operation of the switch) 

3.4.1

操作(actuation)

手,足など人体の動きによって,スイッチのアクチュエータを動かすこと。

3.4.2

間接操作(indirect actuation)

例えば,スイッチを組み込んだり,一体組付けした機器のドアなどによって,間接的にスイッチのアク

チュエータを動かすこと。


13

C 4526-1

:2013

3.4.3

アクチュエータ(actuating member)

引張り,押し,回転又はその他の方法で動かされるスイッチの操作部。

3.4.4

作動体(actuating means)

アクチュエータと接点機構の間に介在し,開閉動作を行わせる部分。

3.4.5

遮断(disconnection)

電源と電源から遮断することを意図した部分との間の絶縁を与えるための,単極の電気回路の切断。

3.4.6

微小遮断(micro disconnection)

長期間の一時的な過電圧が起こった場合に,

接点分離によって,

正しい機能的動作を与えるための遮断。

3.4.7

電子遮断(electronic disconnection)

長期間の一時的な過電圧が起こった場合に,半導体のスイッチング素子によって,非周期の正しい機能

的動作を与えるための遮断。

3.4.8

完全遮断(full disconnection)

短期間及び長期間の一時的過電圧,及び基礎絶縁と同等のインパルス電圧に耐えるために,接点分離に

よって,正しい機能的動作を与えるための遮断。

3.4.9

全極遮断(all-pole disconnection)

単相交流機器及び直流機器にあっては,一つのスイッチ作用で実質的に同時に両方の電源電線を遮断す

ること,又は 3 以上の電源電線に接続された機器にあっては,接地された導体を除き 1 回のスイッチ作用

で実質的に同時に全ての電源電線を遮断すること。

3.4.10

動作(operation)

一つの位置から隣接する位置への可動接点の移動。

3.4.11

動作サイクル(operating cycle)

一つの位置から他の位置へ,そして最初の位置に戻る一連の動作。このときその他の位置がある場合に

はその全てを通過するものとする[IEV 441-16-02 参照]

3.4.12

電子的アクチュエータ(electronic actuating member)

光学的又は音響的検知ユニットのような,作動体又はスイッチング素子を制御する部分,部品又は部品

グループ。

3.4.13

電子的作動体(electronic actuating means)

スイッチング素子を電子的に制御する部分,部品又は部品グループ。


14

C 4526-1

:2013

3.4.14

異常状態(abnormal conditions)

通常動作中に機器又はスイッチの中で起こり得る状態。

3.4.15

検知ユニット(sensing uinit)

物理現象又はそれらの組合せによって活性化するユニット。

3.5 

スイッチへの接続に関連する定義(definitions relating to connections to the switch) 

3.5.1

外部導体(external conductor)

ケーブル,コード,線心又は導体であって,その一部がスイッチ又はスイッチを取り付けている機器の

外部にある導体。この導体は,電源接続用のコード,機器間を相互接続するコード,又は固定配線の一部

も含む。

3.5.2

一体組付け導体(integrated conductor)

スイッチの内部にある導体,又はスイッチの端子若しくは端子部間を,永久的に接続している導体。

3.5.3

内部導体(internal conductor)

ケーブル,コード,線心又は導体であって,機器の内部にあり,外部導体又は一体組付け導体でないも

の。

3.5.4 

コードの取付け方法(methods of attachment for cords) 

3.5.4.1

X

形取付け(type X attachment)

取り付けられたコードを,特殊な用途の工具を使用することなく,特別な処理をしていない導体に取替

え可能な取付方法。

3.5.4.2

Y

形取付け(type Y attachment)

製造業者又はその代理店にある特殊な用途の工具を使用しないとコードを取り替えることができない取

付方法。

注記  前記取付方法は,通常のコード又は特殊のコードのいずれにも適用する。

3.5.4.3

Z

形取付け(type Z attachment)

スイッチの一部を破壊しなければコードの取替えができない取付方法。

3.6 

端子又は端子部に関連する定義(definitions relating to terminals and terminations) 

3.6.1

端子(terminal)

特殊な用途の工具又は特別の工程を必要とすることなく,電気的接続を再使用可能にするために設けら

れたスイッチの導電部。

3.6.2

ねじ式端子(screw type terminal)

導体の接続又は二つ以上の導体の相互接続,及びその後の取外しに用いる端子であって,各種のねじ又


15

C 4526-1

:2013

はナットを用いて直接的又は間接的に接続する端子。

3.6.3

ピラー端子(pillar terminal)

ねじ式端子の一種。孔又は空洞に導体を差し込み,導体をねじの軸方向に締め付ける。締付け圧力は,

ねじで直接又は中間締付け部品を介して加える。

ピラー端子の例を,

図 に示す。

3.6.4

ねじ端子(screw terminal)

ねじ頭の下で導体を締め付けるねじ式端子。締付圧力はねじ頭で直接に,又はワッシャ,締付け板若し

くは広がり防止具のような中間部品を介在して,加える。

ねじ端子の例を,

図 に示す。

3.6.5

スタッド端子(stud terminal)

ナットの下で導体を締め付けるねじ式端子。締付け圧力は適切な形状のナットで直接,又はワッシャ,

締付け板若しくは広がり防止具のような中間部品を介在して,加える。

スタッド端子の例を,

図 に示す。

3.6.6

サドル端子(saddle terminal)

2 個以上のねじ又はナットを用いて,サドルの下で導体を締め付けるねじ式端子。

サドル端子の例を,

図 に示す。

3.6.7

ラグ端子(lug terminal)

ケーブルラグ又はバーを,直接に又は間接に 1 個のねじ又はナットを用いて締付け固定するように設計

されたねじ式端子。

ラグ端子の例を,

図 に示す。

3.6.8

マントル端子(mantle terminal)

ねじを切ったスタッドの溝の底に導体を 1 個のナットを用いて締め付けるねじ式端子。導体は,ナット

下部の適切な形状の座金によって,袋ナットのときは中央のくさびによって,又は溝の中の導体にナット

からの圧力を伝える同等に有効な手段によって,締め付ける。

マントル端子の例を,

図 に示す。

3.6.9

ねじなし端子(screwless terminal)

導体の接続又は二つ以上の導体の相互接続,及びその後の取外しに用いる端子であって,導体の接続を

直接又は間接的にねじ以外の手段によって行う端子。

注記  次の端子は,ねじなし端子とはみなさない。

−  導体を端子の中に締め付ける前に,導体に特別な装置を固着することが必要である端子。

例えば,平形クイック接続端子。

−  導体の巻付けを必要とする端子。例えば,ラッピング端子。

−  絶縁物を貫通する刃又は針先を用いて導体に直接接触ができる端子。


16

C 4526-1

:2013

ねじなし端子の例を,

図 に示す。

3.6.10

端子部(termination)

二つ以上の導電部の間の接続であって,特殊な工具又は特別の工程のいずれかによって,接続又は取替

えができる接続部。

3.6.11

平形クイック接続端子部(flat quick-connect termination)

タブ及びめす(雌)形コネクタから構成され,工具を用いることなく容易に挿入及び引抜きができる電

気的接続部。

3.6.12

タブ(tab)

めす(雌)形コネクタの中に挿入され,スイッチと一体になっている部分である平形クイック接続端子

部の一部分。

タブの例を,IEC 61210 及び

附属書 に示す。

3.6.13

めす(雌)形コネクタ(female connector)

タブに押し込む平形クイック接続端子部の一部分。

めす(雌)形コネクタの例を,

図 に示す。

3.6.14

はんだ付け端子(solder terminal)

はんだ付けで接続する端子。

3.7 

絶縁に関連する定義(definitions relating to insulation) 

3.7.1

基礎絶縁(basic insulation)

感電に対する基礎的な保護となる充電部に施した絶縁。

3.7.2

付加絶縁(supplementary insulation)

基礎絶縁が故障したとき,感電に対する保護ができるように基礎絶縁に追加して設けた独立した絶縁。

3.7.3

二重絶縁(double insulation)

基礎絶縁と付加絶縁との二つからなっている絶縁。

3.7.4

強化絶縁(reinforced insulation)

充電部に施した単一の絶縁方式であって,感電に対する保護の度合いが二重絶縁と同等であるもの。

注記  用語“絶縁方式”は,絶縁物が一つの同質の部品でなければならないことは意味しない。それ

は,付加絶縁又は基礎絶縁として別々に試験することができない数層によって構成されてもよ

い。

3.7.5

機能絶縁(functional insulation)

充電部間の絶縁であって,スイッチが正しく動作するためだけに必要な絶縁。


17

C 4526-1

:2013

3.7.6

コーティング(coating)

プリント配線板の表面の片側又は両側上に塗った固体絶縁材。コーティングは,プリント配線板に塗布

したワニス,乾燥膜又は熱蒸着によって達成することができる。

注記  プリント配線板のコーティング及び基材は,固体絶縁と類似した特性をもつことのある絶縁シ

ステムを形成する。

3.7.7

固体絶縁(solid insulation)

二つの導電性部品間に挟み込んだ絶縁材。

注記  コーティングのあるプリント配線板アセンブリの場合には,固体絶縁は,コーティングととも

にプリント配線板自体からなる。ほかの場合には,固体絶縁はカプセル封じ材からなる。

3.7.8

クラス 機器(class 0 appliance)

感電に対する保護を基礎絶縁に頼っている機器。このことは,可触導電部がある場合には,これを設備

の固定配線の中の保護導体に接続する方法が存在しないことを意味する。基礎絶縁の故障の場合には周囲

の環境に依存する機器。

3.7.9

クラス 機器(class I appliance)

感電に対する保護を基礎絶縁だけに頼ることなく,基礎絶縁が故障した場合に可触導電部(充電部でな

いもの)が充電部にならないように,設備の固定配線の中の保護(接地用)導体にこの可触導電部を接続

する手段を備える方法によって,追加安全予防策をもっている機器。

3.7.10

クラス II 機器(class II appliance)

感電に対する保護を基礎絶縁だけに頼ることなく,二重絶縁又は強化絶縁のような追加安全予防策を備

え,保護用接地を備えることなく設置条件に依存しない機器。

注記  クラス II 機器は,保護回路の連続性を保持するための手段をもっていてもよい。ただし,この

手段が機器の内部にあり,かつ,クラス II の要求事項に準拠して可触表面から絶縁されている

場合に限る。

3.7.11

クラス III 機器(class III appliance)

感電に対する保護を SELV の電源に依存し,かつ,SELV より高い電圧を内部で生じることがない機器。

3.8 

汚染に関連する定義(definitions relating to pollution) 

3.8.1

汚染(pollution)

耐電圧又は表面の絶縁抵抗を減少させる,固体,液体又は気体の異物の付着。

3.8.2

ミクロ環境(micro-environment)

沿面距離の寸法に特に影響を及ぼす絶縁材の近傍の環境。

注記  スイッチのアークチャンバ内の汚染の自己生成については,附属書 を参照。


18

C 4526-1

:2013

3.8.3

マクロ環境(macro-environment)

スイッチを取り付けたり使用する部屋又は他の場所での環境。

3.8.4

汚損度(pollution degree)

ミクロ環境での予期される汚染を特徴付ける数値。

注記  汚損度 1,2 及び 3 を用いる(7.1.6 及び附属書 参照)。

3.9 

製造業者の試験に関する定義(definitions relating to manufactureres’ tests) 

3.9.1

ルーチン試験(routine test)

各個のスイッチが,この規格の関連要求事項に適合することを確かめるために製造中又は製造後に課す

試験[IEV 151-04-16 参照,修正]

注記  ルーチン試験は,附属書 に規定する。

3.9.2

抜取試験(sampling test)

あるバッチからランダムに取り出した数多くのスイッチの試験[IEV 151-04-17 参照,修正]

注記  抜取試験は,附属書 に示す。

3.9.3

形式試験(type test)

設計がある規定に適合しているかをみるための 1 個以上のスイッチに対する試験[IEV 151-04-15 参照,

修正]

一般要求事項 

スイッチは,通常の使用状態で不注意な使用があった場合においても,人体又は周囲の物品に危険を及

ぼさないように,この規格,及び JIS C 4526 の第 2 部の該当する規格に規定するところに従って,通常の

使用状態で安全に機能するように設計し製作しなければならない。

適否は,関連する試験を実施することによって判定する。

試験に関する一般注意事項 

5.1

この規格に準拠する試験は,形式試験である。

5.2

この規格に特に規定がない限り,試料は受渡状態のままで周囲温度 25  ℃±10  ℃で試験を行う。試

料は製造業者が指定したとおりに取り付ける。ただし,二つ以上の取付方法が指定されていて,それが重

要な影響を及ぼす場合には,最も不利な取付方法を選定する。

注記  疑義がある場合には,試験は,20  ℃±5  ℃の周囲温度で行う。

5.3

着脱できない導体を取り付けて使用するスイッチは,その導体を使用して試験する。

5.4

スイッチがタブを備えているときは,箇条 16 及び箇条 17 による試験においては,新しいめす(雌)

形コネクタを使用しなければならない。

平形クイック接続端子に対する試験用めす(雌)形コネクタの外形寸法は,

図 に準拠しなければなら

ない。

注記  平形クイック接続端子に対する試験用めす(雌)形コネクタの選択方法は,附属書 に示す。


19

C 4526-1

:2013

めす(雌)形コネクタは,スイッチの定格周囲温度に適合するタイプのものでなければならない。そし

て,めす(雌)形コネクタのクリンプ領域における導体は,はんだ付け又は溶接されていなければならな

い。

5.5

この規格で特に規定がない場合には,試験は,試験項目の順序に従って実施する。

要求される試験試料の数量及び関連試験項目は,次のとおりとする。

注記  試験試料及び関連試験項目を,表 に示す。

5.5.1 

直流専用又は交流直流両用(直流の電圧値及び電流値が,交流の電圧値及び電流値以上のもの)ス

イッチ 

−  直流専用

−  交直両用

負荷の種類によって分類された(7.1.2 参照)直流電圧及び電流定格が,交流定格以上の場合には,直流

によって試験を行う。

これらの定格に対しては,次の試料を使用する。

−  箇条 6∼箇条 12 及び箇条 23:試料番号 1

−  箇条 19∼箇条 22:試料番号 2。20.1 に従った空間距離を

附属書 に従い試験する場合には,三つの

追加試料を使用する。

−  箇条 13∼箇条 18

−  極性表示のある場合:試料番号 3∼5

−  極性表示のない場合:試料番号 3∼5 に対して一つの極性,そして試料番号 6∼8 に対して反対の極

−  箇条 25:三つの追加試料

5.5.2 

交流専用又は交流直流両用(5.5.1 以外のもの)スイッチ 

−  交流専用

−  交直両用。ただし,5.5.1 の規定を満足しないもの。

これらの定格に対しては,次の試料を使用する。

−  箇条 6∼箇条 12 及び箇条 23:試料番号 1

−  箇条 19∼箇条 22:試料番号 2。20.1 に従った空間距離を

附属書 に従い試験する場合には,三つの

追加試料を使用する。

−  箇条 13∼箇条 18

−  交流定格の場合:試料番号 3∼5

−  極性表示のある直流定格の場合:試料番号 6∼8

−  極性表示のない直流定格の場合:試料番号 6∼8 に対して一つの極性,そして試料番号 9∼11 に対し

て反対の極性

−  箇条 25:三つの追加試料

5.5.3 

一つの種類の電源で,二つ以上の定格電圧及び/又は定格電流の組合せをもつスイッチ 

これらの定格に対しては,次の試料を使用する。

−  箇条 6∼箇条 12 及び箇条 23:試料番号 1

−  箇条 19∼箇条 22:試料番号 2。20.1 に従った空間距離を

附属書 に従い試験する場合には,三つの

試料を使用する。

−  箇条 13∼箇条 18


20

C 4526-1

:2013

−  最高電流定格をもつ組合せの定格の場合:試料番号 3∼5

−  第 2 位の組合せの場合:試料番号 6∼8

−  その他の組合せの場合:試料番号 9∼11,ほか

注記  二つ以上の電圧定格に対して一つの定格電流をもつスイッチに対しては,スイッチの最大電

圧定格において各タイプの負荷に対して試験を実施する。

−  箇条 25:三つの追加試料

表 1−試験項目及び試料番号

試験項目

試験に使用する試料の番号

a)

6

定格 1

7

分類 1

8

表示及び文書 1

9

感電に対する保護 1

10

接地に関する規定 1

11

端子及び端子部 1

b) 

12

構造 1

13

機構

    3 4 5 6 7 8

c) 

14

固形異物,水の浸入及び高湿状態に対する保護

    3 4 5 6 7 8

c) 

15

絶縁抵抗及び耐電圧

    3 4 5 6 7 8

b) c)

16

温度上昇

    3 4 5 6 7 8

17

耐久性

    3 4 5 6 7 8

c) 

18

機械的強度

    3 4 5

19

ねじ,通電部品及び接続

  2

20

空間距離,沿面距離及び絶縁物を通しての距離

  2

d) e) f)

21

耐熱性及び耐火性

  2

f) 

22

耐食性

  2

23

電子的スイッチの異常動作及び故障状態 1

f) 

25 EMC 要求事項

三つの追加試料

a)

  附属書 に準拠して,試験用めす(雌)形コネクタを選択する場合には,追加試料が必要になる。

b)

  3 個の新しい試料が,11.1.3.4 又は表 12 の注

b)

によって必要となる。

c)

  追加試料 9∼11 などが,試料 6∼8 と同じ試験項目の組合せにおいて試験を行う。

d)

  3 個の新しい試料が,附属書 に従った試験に対して 20.1 によって必要になる。

e)

  20.4 に従ったプリント配線板のコーティングの試験については,プリント配線板の試験片の必要数

は次による。

−  タイプ A コーティングは 13 個

−  タイプ B コーティングは 17 個

f)

  箇条 20,箇条 21 及び箇条 23 の破壊的な試験によって追加試料が必要になる。

5.6

定格周波数のあるスイッチは,その周波数で試験する。定格周波数のないスイッチは,50 Hz で試験

する。定格周波数範囲をもっているスイッチは,その範囲内で最も不利な周波数で試験する。

5.7

箇条 13∼箇条 18 の試験の間で,一組のスイッチの 1 個でも不適合となる故障になった場合には,そ

の故障が生じた試験及びその試験結果に影響を与えた先行した試験を,別の一組の追加試料で繰り返して

行う。この場合には,この一組の追加試料の全てが繰り返しの試験に適合しなければならない。箇条 6

箇条 12 及び箇条 19∼箇条 22 の試験の間は故障が生じてはならない。

注記  申請者は,最初の組の試料とともに,1 個の試料が故障になったときのために別の一組の追加

試料を提出することができる。


21

C 4526-1

:2013

この場合には,試験機関は,それ以上の試料を要求することなくこの追加試料を試験し,更

に故障が生じた場合には,不合格とする。

追加試料全部を同時に提出しないときは,1 個の試料の故障が不合格の結果になる。

5.8

必要があってクラス 0 又はクラス I 機器用のスイッチの内部に二重絶縁又は強化絶縁の部分をもっ

ている場合には,この部分は,クラス II 機器用スイッチの要求事項によって適否を判定する。

同様に,必要があってスイッチの内部に SELV で動作する部分がある場合には,この部分は,クラス III

機器用スイッチの要求事項によって適否を判定する。

5.9

この規格の試験においては,17.2.4 の高速試験を除き,操作は試験装置によって行ってもよい。高速

試験は 17.2.4 に従って行う。

電子的アクチュエータをもつスイッチの操作は,

製造業者の取扱説明書に従って行わなければならない。

5.10

信号表示灯は,可能な限りスイッチとともに試験する。

無視できるような発光体を除いて,特に規定しない限りランプは機能させる。試験は,本来の表示ラン

プの電気的,機構的及び熱的影響を模擬した試験用の試料を用いて行ってもよい。交換可能な表示ランプ

は試験のときに交換してもよい。スイッチの機能から独立している信号表示灯は連続動作させる。

表示ランプ付きスイッチの試験結果は,表示ランプなしの同等の構造のスイッチ,又はスイッチ機構な

しの同等の表示ランプに適用するとみなす。

5.11

特殊電源用スイッチは,指定された特殊電源によって試験する。

5.12

全ての試験において,測定器及び測定方法は,測定品質を損なうものであってはならない。

5.13

電子的スイッチにおいて,試験の目的のために電子部品を取外し又は短絡させる必要性が出てくる

場合もある。

5.14  23.1.1.1

の試験においては,追加試料が必要となる場合もある。

定格 

6.1 

最大定格電圧は,480 V とする。

6.2 

信号表示灯の定格電圧は,スイッチと異なってもよい。

6.3 

最大定格電流は,63 A とする。

6.1

6.3 の適否は,箇条 の検査によって判定する。

分類 

7.1 

スイッチの分類 

7.1.1 

電源の種類による分類 

7.1.1.1

−  交流専用スイッチ

7.1.1.2

−  直流専用スイッチ

7.1.1.3

−  交直両用スイッチ

7.1.2 

スイッチの各回路で制御する負荷の種類による分類 

注記 1  2 回路以上をもつスイッチは,各回路とも同一の分類でなくてもよい。

注記 2  附属書 は,ある定格をもつスイッチを使用する場合には,その実使用回路に適しているか


22

C 4526-1

:2013

どうかを決定するために使用できる。

7.1.2.1

−  力率 0.95 以上の抵抗負荷用のスイッチ

7.1.2.2

−  抵抗負荷若しくは力率 0.6 以上の電動機負荷のいずれか,又はその両者を組み合わせた負荷用のスイ

ッチ

7.1.2.3

−  抵抗負荷と容量負荷とを組み合わせた交流負荷用の回路

7.1.2.4

−  白熱電球負荷用の回路

7.1.2.5

−  製造業者が指定した特定負荷用の回路

7.1.2.6

− 20

mA 以下の負荷用の回路

7.1.2.7

−  特定ランプ負荷に用いる回路

7.1.2.8

−  力率 0.6 以上の誘導性負荷に用いる回路

7.1.2.9

−  力率 0.6 以上及び回転子を拘束した電動機の特定負荷に用いる回路

7.1.2.10

−  電子的スイッチに関する最小負荷

7.1.3 

周囲温度による分類 

7.1.3.1

−  0∼55  ℃の範囲の周囲温度で使用されるアクチュエータを含む完全なスイッチ

7.1.3.2

− 55 ℃を超えるか,又は 0  ℃未満の範囲の周囲温度で使用するスイッチ

−  最高周囲温度の推奨値は,85  ℃,100  ℃,125  ℃及び 150  ℃とする。

−  最低周囲温度の推奨値は,−10  ℃,−25  ℃及び−40  ℃とする。

−  推奨値以外の値を使用する場合には,5  ℃の倍数とする。

7.1.3.3

−  アクチュエータ及び人体に触れやすい部分は,0∼55  ℃で使用するが,他の部分が 55  ℃を超える周

囲温度で使用するスイッチ

−  最高周囲温度の推奨値は,85  ℃,100  ℃,125  ℃及び 150  ℃とする。

−  推奨値以外の値を使用する場合には,5  ℃の倍数とする。

7.1.3.4

電子的コードスイッチ及び電子的独立形固定スイッチは,35  ℃の最大周囲温度に分類される。

注記  周囲温度 35  ℃の使用分類は,表 の番号 3.2 に従って正しく表示されたその他の分類の電子的

スイッチにも使用してもよい。


23

C 4526-1

:2013

7.1.3.4.1

−  アクチュエータを含む完成したスイッチが,最小値 0  ℃及び最大値 35  ℃間の周囲温度で使用される

ように意図された電子的コードスイッチ及び電子的独立形固定スイッチ

注記 55 ℃から 35  ℃への周囲温度の減少は,機械的スイッチの部品よりも熱放出が大きい電子的

スイッチの部品があるという事実によって引き起こる。

7.1.3.4.2

−  アクチュエータを含む完成したスイッチが,35  ℃以上,0  ℃以下又はその両方の周囲温度で使用する

ように意図された電子的コードスイッチ及び電子的独立形固定スイッチ

−  最大周囲温度の推奨値は,55  ℃,85  ℃,100  ℃及び 125  ℃

−  最小周囲温度の推奨値は,−10  ℃,−25  ℃及び−40  ℃

−  それら推奨値から異なった値は,5  ℃の倍数。

7.1.4 

動作サイクルによる分類 

7.1.4.1

− 100

000 動作サイクル

7.1.4.2

− 50

000 動作サイクル

7.1.4.3

− 25

000 動作サイクル

7.1.4.4

− 10

000 動作サイクル

7.1.4.5

− 6

000 動作サイクル

7.1.4.6

− 3

000 動作サイクル

7.1.4.7

− 1

000 動作サイクル

7.1.4.8

− 300 動作サイクル

7.1.5 

機器のエンクロージャの一部として製造業者が指定する取付けを行ったときの保護等級による分

 

7.1.5.1 

固形異物に対する保護等級(JIS C 0920 による。) 

7.1.5.1.1

−  固形異物に対する保護なし(IP0X)

7.1.5.1.2

−  直径 50 mm 以上の固形異物に対する保護(IP1X)

7.1.5.1.3

−  直径 12.5 mm 以上の固形異物に対する保護(IP2X)

7.1.5.1.4

−  直径 2.5 mm 以上の固形異物に対する保護(IP3X)


24

C 4526-1

:2013

7.1.5.1.5

−  直径 1.0 mm 以上の固形異物に対する保護(IP4X)

7.1.5.1.6

−  防じん(IP5X)

7.1.5.1.7

−  耐じん(IP6X)

7.1.5.2 

水の浸入に対する保護等級(JIS C 0920 による。) 

7.1.5.2.1

−  水の浸入に対する保護なし(IPX0)

7.1.5.2.2

−  垂直に滴下する水に対する保護(IPX1)

7.1.5.2.3

−  垂直から 15°までの範囲に滴下する水に対する保護(IPX2)

7.1.5.2.4

−  防雨保護(IPX3)

7.1.5.2.5

−  防まつ保護(IPX4)

7.1.5.2.6

−  防噴流保護(IPX5)

7.1.5.2.7

−  強い水の吹きかけに対する保護(IPX6)

7.1.5.2.8

−  一時的な潜水に対する保護(IPX7)

7.1.5.3 

次の機器に用いる組込スイッチに対する感電保護クラスによる分類 

7.1.5.3.1

−  クラス 0 機器

−  クラス 0 機器用スイッチは,定格電圧が 150 V を超えるものについては,認められない。

−  JIS C 6065 及び JIS C 6950-1 の機器に組み込まれるスイッチについては,クラス 0 機器用スイッチは

使用できない。

7.1.5.3.2

−  クラス I 機器

7.1.5.3.3

−  クラス II 機器

7.1.5.3.4

−  クラス III 機器

注記  クラス II 機器用スイッチは,クラスとは無関係に全ての機器で,追加保護を施すことなく使用

できる。

7.1.6 

汚損度による分類 

7.1.6.1

−  汚損度 1


25

C 4526-1

:2013

7.1.6.2

−  汚損度 2

7.1.6.3

−  汚損度 3

注記 1  汚損度の定義は,附属書 に従う。

注記 2  特定の状態で使用されることを意図したスイッチは,より少ない汚損度で使用してもよい。

注記 3  スイッチは,機器によって適切な追加保護を施すならば,設計値より強い汚損度で使用し

てもよい。

7.1.7 

スイッチの操作方法による分類 

注記  この分類は,一つの例である。

7.1.7.1

−  ロータリスイッチ

7.1.7.2

−  レバースイッチ

7.1.7.3

−  ロッカスイッチ

7.1.7.4

−  押しボタンスイッチ

7.1.7.5

−  引きひもスイッチ

7.1.7.6

−  プッシュプルスイッチ

7.1.7.7

−  検出ユニットによって動作する電子的スイッチ(

例  触れる,接近する,回す,光,音,温度又はそ

れ以外の影響によって)

7.1.8 

表示による分類 

7.1.8.1

−  限定表示 U. T.  (特定タイプ参照記号,U. T.)付きスイッチ

7.1.8.2

−  全表示 C. T.  (共通タイプ参照記号,C. T.)付きスイッチ

7.1.9 

グローワイヤ温度による分類 

7.1.9.1

− 650

7.1.9.2

− 750

7.1.9.3

− 850

注記  指定したグローワイヤ温度を選択する場合には,関連する機器又は装置の規格の要求事項を考

慮することが望ましい。


26

C 4526-1

:2013

7.1.10 

定格インパルス耐電圧による分類 

7.1.10.1

− 330

V

7.1.10.2

− 500

V

7.1.10.3

− 800

V

7.1.10.4

− 1

500

V

7.1.10.5

− 2

500

V

7.1.10.6

− 4

000

V

注記  定格インパルス耐電圧,定格電圧及び過電圧カテゴリ間の関係は,附属書 に規定した。

7.1.11 

遮断の種類による分類 

7.1.11.1

−  電子的遮断

7.1.11.2

−  微小遮断

7.1.11.3

−  完全遮断

7.1.12 

剛性プリント配線板アセンブリのコーティングのタイプによる分類 

7.1.12.1

−  タイプ A コーティング

7.1.12.2

−  タイプ B コーティング

注記  タイプ A 及びタイプ B コーティングの説明は,附属書 にある。

7.1.13 

スイッチのタイプ及び/又は接続による分類 

スイッチのタイプ及び接続の詳細は,

表 による。

7.1.13.1 

単投スイッチ 

7.1.13.1.1

−  申告した特定のタイプ及び/又は接続

7.1.13.1.2

−  単極,1 負荷(単極遮断)

7.1.13.1.3

−  2 極,1 負荷(全極遮断)

7.1.13.1.4

−  2 極,2 負荷(単極遮断)

7.1.13.1.5

−  2 極,2 負荷(単極遮断,異極に負荷を接続する。


27

C 4526-1

:2013

7.1.13.1.6

−  3 極,3 負荷,非開閉の中性線(3 極遮断)

7.1.13.1.7

−  4 極,3 負荷,中性線を開閉(4 極遮断)

7.1.13.1.8

−  3 極,3 負荷(3 極遮断)

7.1.13.2 

双投スイッチ 

7.1.13.2.1

−  申告した特定のタイプ及び/又は接続

7.1.13.2.2

−  単極,1 負荷(単極遮断)

7.1.13.2.3

−  単極,2 負荷(単極遮断,指定の回路及び負荷専用)

7.1.13.2.4

−  2 極,1 負荷(全極遮断)

7.1.13.2.5

−  2 極,2 負荷(全極遮断,指定の回路及び負荷専用)

7.1.13.2.6

−  2 極,極性反転 1 負荷

7.1.13.2.7

−  2 極,4 負荷(単極遮断,異極に負荷を接続,指定の回路及び負荷専用)

7.1.13.2.8

−  2 極,2 負荷(単極遮断,異極に負荷を接続する。

7.1.13.2.9

−  2 極,4 負荷(単極遮断,指定の回路及び負荷専用)

7.1.13.3 

遮断用の中間位置をもつ双投スイッチ 

7.1.13.3.1

−  タイプ及び/又は接続が明らかになっている申告した特定のタイプ及び/又は接続

7.1.13.3.2

−  単極,1 負荷(単極遮断)

7.1.13.3.3

−  単極,2 負荷(単極遮断)

7.1.13.3.4

−  2 極,1 負荷(全極遮断)

7.1.13.3.5

−  2 極,2 負荷(全極遮断)

7.1.13.3.6

−  2 極,極性反転 1 負荷(全極遮断)

7.1.13.3.7

−  2 極,4 負荷(単極遮断,異極に負荷を接続)


28

C 4526-1

:2013

7.1.13.3.8

−  2 極,2 負荷(単極遮断,異極に負荷を接続)

7.1.13.3.9

−  2 極,4 負荷(単極遮断)

7.1.13.4 

多投スイッチ 

7.1.13.4.1

−  申告したとおりの極数,接続のタイプ及び負荷

7.1.13.4.2

−  単極,極性反転 4 位置(単極遮断,7.1.2.1 に従った抵抗負荷用)

7.1.13.4.3

−  2 極,極性反転 4 位置(全極遮断,7.1.2.1 に従った抵抗負荷用)

7.1.13.4.4

−  2 極,極性反転 5 位置(全極遮断,7.1.2.1 に従った抵抗負荷用)

7.1.13.4.5

−  2 極,極性反転 7 位置(全極遮断,7.1.2.1 に従った抵抗負荷用)

注記  7.1.13.4.27.1.13.4.5 に分類するスイッチは,表 に従って抵抗(R1∼R3)の複合電力に結果

的になる階段的な増加又は減少に対して設計されている。

7.1.14 

電子的スイッチのスイッチング素子による分類 

7.1.14.1

−  半導体スイッチング素子

7.1.14.2

−  機械的スイッチング素子

7.1.15 

電子的スイッチの冷却条件による分類 

7.1.15.1

−  強制冷却が要求されていない。

7.1.15.2

−  強制冷却が要求される。

7.1.16 

電子的スイッチのデューティタイプによる分類 

7.1.16.1

−  連続稼動デューティタイプ  S1

7.1.16.2

−  短時間稼動:デューティタイプ  S2

7.1.16.3

−  間欠的稼動:デューティタイプ  S3

注記 1  デューティタイプのタイプの違いは,図 14∼図 16 に明示してある。

注記 2  デューティタイプの概念は,JIS C 4034-1 による。

7.1.17 

試験条件による分類 

7.1.17.1

−  電子的スイッチの熱電流又は最大定格抵抗負荷電流の機能試験状態

注記  この試験状態は,スイッチの適切な機能に反映させる。この試験は,最終用途の実負荷を想


29

C 4526-1

:2013

定していない。

7.1.17.2

−  電子的スイッチの 7.1.2 で分類する負荷のタイプで想定できる試験状態

注記  この試験状態は,スイッチの適切な機能に反映させる。また,最終用途の全ての状態を想定

している。

7.1.17.3

−  電子的スイッチの最終用途の特定試験条件。例えば,機器及び一緒になる機器の冷却状態下。

7.1.17.4

−  稼動タイプに従った電子的スイッチの試験状態

7.1.17.5

−  操作速度と無関係の接点の開閉速度をもつスイッチの試験状態

7.1.18 

電子的スイッチのビルトイン保護による分類 

7.1.18.1

−  ビルトイン保護あり

7.1.18.2

−  ビルトイン保護なし

7.2 

端子による分類 

7.2.1

−  未処理導体を,特殊な工具を使用することなく接続可能にした端子。

注記  より線をねじって端末を整えた導体も未処理導体とみなす。

7.2.2

−  締め付ける範囲及び/又はワイヤのタイプを制限した未処理導体を,特殊な工具を使用することなく

接続可能にした端子。

7.2.3

−  端末処理導体を接続する端子。端子は,特殊な工具を使用して接続する端子を含む。

7.2.4

−  未処理導体の電源ケーブル又はコードを,特殊な工具を使用することなく接続可能にした端子。

7.2.5

−  端末処理導体の電源ケーブル又はコードを接続する端子。端子は,特殊な工具を使用して接続する端

子を含む。

7.2.6

−  二つ以上の導体を相互に接続できる端子。

7.2.7

−  硬質の単線の接続を意図した端子。

7.2.8

−  硬質の単線又はより線の接続を意図した端子。

7.2.9

−  可とう導体の接続を意図した端子。

7.2.10

−  可とう導体及び硬質の単線,又はより線の両者を接続できる端子。


30

C 4526-1

:2013

7.2.11

−  はんだごてを用いて,手ではんだ付けすることを意図したはんだ端子。

7.2.12

−  はんだ槽を用いて,はんだ付けすることを意図したはんだ端子。

7.2.13

−  機械的な保持手段によって,導体を保持してはんだ付けする回路接続用はんだ端子。

7.2.14

−  導体を保持する機械的な手段のないはんだ端子。回路の接続は,はんだ付けだけで維持される。

7.2.15

−  はんだ付け時の熱に対する耐性による分類

7.2.15.1

−  はんだ付け端子タイプ 1

7.2.15.2

−  はんだ付け端子タイプ 2


31

C 4526-1

:2013

表 2−スイッチのタイプ及び接続

分類

コード

a)

スイッチ 
のタイプ

接続のタイプ

試験回路

c)

単投スイッチ

7.1.13.1 

1∼極の単投 
スイッチの原理

7.1.13.1.1 

1.1

極数宣言された接続及び負荷のタイプ

7.1.13.1.2 

1.2

単極

1 負荷 
(単極遮断)

S=試料

7.1.13.1.3 

1.3 2 極

1 負荷 
(全極遮断)

S=試料

7.1.13.1.4 

1.4 
[1.2]

2 極

2 負荷 
(単極遮断)

S=試料

7.1.13.1.5 

1.5 
[1.2]
[1.4]

2 極

2 負荷 
(単極遮断,異極
に接続する負荷)

S=試料


32

C 4526-1

:2013

表 2−スイッチのタイプ及び接続(続き)

分類

コード

a)

スイッチ 
のタイプ

接続のタイプ

試験回路

c)

7.1.13.1.6 

1.6 3 極

3 負荷非開閉中
性極 
(3 極遮断)

S=試料

7.1.13.1.7 

1.7 4 極

3 負荷中性極開
閉 
(4 極遮断)

S=試料

7.1.13.1.8 

1.8 3 極

3 負荷 
(3 極遮断)

S=試料


33

C 4526-1

:2013

表 2−スイッチのタイプ及び接続(続き)

分類

コード

a)

スイッチ 
のタイプ

接続のタイプ

試験回路

c)

双投スイッチ

7.1.13.2 

1∼極の双投 
スイッチの原理

7.1.13.2.1 

2.1

極数,接続及び宣言された負荷のタイプ

7.1.13.2.2 

2.2 
[1.2]

単極

1 負荷 
(単極遮断)

S=試料 
A=補助スイッチ

7.1.13.2.3 

b)

2.3

単極

2 負荷 
(単極遮断)

S=試料

7.1.13.2.4 

2.4 
[1.3]

2 極

1 負荷 
(全極遮断)

S=試料 
A=補助スイッチ

7.1.13.2.5 

b)

2.5 2 極

2 負荷 
(全極遮断)

S=試料


34

C 4526-1

:2013

表 2−スイッチのタイプ及び接続(続き)

分類

コード

a)

スイッチ 
のタイプ

接続のタイプ

試験回路

c)

7.1.13.2.6

b)

 2.6

2 極

極性反転 1 負荷

S=試料

7.1.13.2.7

b)

 2.7

2 極

4 負荷 
(単極遮断,異極

接続負荷)

S=試料

7.1.13.2.8 

2.8 2 極

2 負荷 
(単極遮断,異極
接続負荷)

S=試料 
A=補助スイッチ

7.1.13.2.9

b)

 2.9

2 極

4 負荷 
(単極遮断)

S=試料


35

C 4526-1

:2013

表 2−スイッチのタイプ及び接続(続き)

分類

コード

a)

  スイッチ

のタイプ

接続のタイプ

試験回路

c)

中間遮断付き双投スイッチ

7.1.13.3 

1∼極の中間断路付き双投 
スイッチの原理

7.1.13.3.1 

3.1

極数,宣言された接続及び負荷のタイプ

7.1.13.3.2 

3.2

単極

1 負荷 
(単極遮断)

S=試料 
A=補助スイッチ

7.1.13.3.3 

3.3

単極

2 負荷 
(単極遮断)

S=試料

7.1.13.3.4 

3.4 2 極

1 負荷 
(全極遮断)

S=試料 
A=補助スイッチ

7.1.13.3.5 

3.5 2 極

2 負荷 
(全極遮断)

S=試料


36

C 4526-1

:2013

表 2−スイッチのタイプ及び接続(続き)

分類

コード

a)

  スイッチ

のタイプ

接続のタイプ

試験回路

c)

7.1.13.3.6 

3.6 2 極

極性反転の 1 負荷 
(全極遮断)

S=試料

7.1.13.3.7 

3.7 
[3.3]

2 極

4 負荷 
(単極遮断,異極接
続負荷)

S=試料

7.1.13.3.8 

3.8 2 極

2 負荷 
(単極遮断,異極接
続負荷)

S=試料 
A=補助スイッチ

7.1.13.3.9 

3.9 
[3.3]

2 極

4 負荷 
(単極遮断)

S=試料


37

C 4526-1

:2013

表 2−スイッチのタイプ及び接続(続き)

分類

コード

a)

  スイッチ

のタイプ

接続のタイプ

試験回路

c)

多投スイッチ

7.1.13.4 

3∼投と 1∼極をもった多投ス
イッチの原理

7.1.13.4.1 

4.1

極数,宣言された接続及び負荷のタイプ

7.1.13.4.2 

4.2

単極

極性反転の 4 位置 
(単極遮断)

7.1.13.4.3 

4.3 2 極

極性反転の 4 位置 
(全極遮断)

7.1.13.4.4 

4.4 2 極

極性反転の 5 位置 
(全極遮断)

7.1.13.4.5 

4.5 2 極

極性反転の 7 位置 
(全極遮断)

a)

  同じ基本設計のスイッチの試験は,角括弧で示したスイッチのコードの試験もカバーしていると

考えられる。

スイッチは同じ基本設計であると考えられる。

−  全ての部分は,同じ。ただし,極の違い及び接続回路の違いを除く。 
−  基本構造及び機械的構造が同じ。

−  多極スイッチは,複数の単極スイッチで構成する又は各極同じ寸法をもつ同じ単極スイッチ部

品で作ったスイッチである。

−  瞬時動作(単安定形スイッチ)のスイッチを別に試験することは,接点機構が同等の構造の双

安定スイッチと同等であるならば,必要としない。

b)

  特定回路及び負荷に対してだけ。

c)

  単に L 及び N の表示は,電源に接続する表示を表す。


38

C 4526-1

:2013

表示及び文書 

8.1 

スイッチ製造業者は,次の情報を提供しなければならない。

−  機器製造業者が,スイッチを選択及び取り付けすることができる情報

−  最終使用者が,スイッチ製造業者の意図したようにスイッチを使用できる情報

−  この規格に適合する試験を行うことができる情報

これらの情報は,

表 に示す方法によって提供しなければならない。

8.1.1 

表示による情報(Ma 

この情報は,スイッチに表示しなければならない。

8.1.2 

文書による情報(Do 

この情報は,リーフレット,仕様書,図面などの文書に記載しなければならない。

この文書の内容は,随時適切な任意の書式で,機器製造業者又は最終使用者が入手できなければならな

い。

注記 1  表 の“Ma/Do”は,表示又は文書によって情報が提供できることを表す。

注記 2  この情報を提供する文書様式は,この規格の範囲には含まない。


39

C 4526-1

:2013

表 3−スイッチの情報

番号

特性

項目

情報の提示手段

共通

タイプ
の記号

C.T.

特定

タイプ
の記号

U.T.

スイッチの識別

1.1 

製造業者名又は商標

Ma

Ma

1.2 

タイプ参照記号

Ma

Ma

スイッチの環境/取付け

2.1 

スイッチ製造業者が指定した取付けを行ったとき,スイッチが備える保

護等級(JIS C 0920 の IP コード) 
注記  JIS C 0920 の追加補助文字は用いない。

7.1.5.1

7.1.5.2 

Do Do

2.2 

スイッチ及び機器の外側からの感電に対する保護等級

7.1.5.3 

Do Do

2.3 

スイッチの取付方法及び操作方法,並びにもし該当するときは接地する

方法。 
取付方法及び姿勢を指示する必要がある場合には,それらの事項。接地
端子と取付けを一緒に行うと指示した場合には,別途指示しない限り,

導電部を接地する方法とみなす。

7.1.7

7.1.7.7 

Do Do

2.4 

汚損度

7.1.6 

Do Do

温度

3.1 

0  ℃∼55  ℃の範囲と異なる場合には,周囲温度の限度値

7.1.3 

Ma Do

3.2 

電子的スイッチに関する周囲温度

7.1.3.4.1

又は

7.1.3.4.2 

Ma Do

− 0 ℃∼35  ℃の範囲と異なるコードスイッチ及び独立形固定スイッ

7.1.3.2

又は

7.1.3.3 

− 0 ℃∼55  ℃の範囲と異なるその他のスイッチ 
注記  7.1.3.4 の注記によって,最高周囲温度が 35  ℃の電子的スイッチ

は T35 と表示してもよい。

Ma

Do

電気的負荷/接続

4.1 

定格電圧又は定格電圧範囲

6.1 

Ma Do

4.2 

交直両用以外のスイッチの場合又は直流と交流で定格が異なる場合に
は,電源の種類

7.1.1 

Ma Do

4.3 

定格周波数又は周波数範囲。ただし,50 Hz,60 Hz 又は 50∼60 Hz の場
合を除く。

 Ma

Do

4.4 

実質的に抵抗負荷に対しては定格電流

7.1.2.1 

Ma Do

4.5 

抵抗及び力率 0.6 以上の電動機負荷に対しては,抵抗負荷の定格電流及
び電動機負荷の定格電流,また,電子的スイッチに関しては,最小電流
(又は電力)

7.1.2.2 

Ma/Do Do

4.6 

抵抗及び容量負荷に対しては定格電流及び定格ピークサージ電流,及び
電子的スイッチに関しては最小電流(又は電力)

7.1.2.3 

Ma/Do Do

4.7 

白熱電球負荷に対しては,抵抗負荷の定格電流,及び電球負荷のピーク
サージ(突入)電流又は電球負荷の定格電流のいずれか一方,また,電
子的スイッチに関しては,最小電流(又は電力)

7.1.2.4 

Ma/Do Do

4.8 

指定した特定負荷回路に対しては制御すべき機器の関連する詳細事項
又は他の特定負荷

7.1.2.5 

 Do


40

C 4526-1

:2013

表 3−スイッチの情報(続き)

番号

特性

項目

情報の提示手段

共通

タイプ
の記号

C.T.

特定

タイプ
の記号

U.T.

4.9 

二つ以上の回路のスイッチに対しては,それぞれの回路及び端子に適用
できる電流。もし,これらの電流が異なる場合には,どの回路に,又は

どの端子に適用する情報であるかを明示しなければならない。

 Ma/Do

Do

4.10 

定格耐インパルス電圧

7.1.10 

Do Do

4.11 

電子的スイッチについては温度電流

8.4.5 

Ma Do

4.12 

電子的スイッチについては負荷タイプ

7.1.16 

Do Do

4.13 

電子的スイッチについては ON/OFF 時間負荷タイプ

Do

Do

4.14 

タイプ及び/又はスイッチの接続

7.1.13 

Do Do

4.15 

特定ランプ負荷用回路については,定格電流及びインラッシュ電流

7.1.2.7 

Do Do

4.16 

力率が 0.6 以上の誘導性負荷の回路

7.1.2.8 

Do Do

4.17 

力率が 0.6 以上でロックドロータの特定モータ負荷の回路

7.1.2.9 

Do Do

端子/導体

5.1 

全ての端子は,適切に識別されていなければならない。又はその目的が
おのずから分からなければならない。又はスイッチ回路が目視で明らか
に分からなければならない。

電源導体の接続に関する端子については,L,数字又は矢印によって識

 Ma

Ma

5.2 

接地用導体を接続する端子は,保護用接地記号を表示しなければならな

い。

8.3 

Ma Ma

5.3 

端子に導体を接続するとき,端末処理導体又は特殊な工具の使用を必要

とする場合には,その接続に対する情報

7.2 

Do Do

5.4 

ねじなし端子の場合には,その接続及び取外し方法

Do

Do

5.5 

端子に接続する導体の種類

7.2.7

7.2.10 

Do Do

5.6 

二つ以上の導体の相互接続に適するかどうか。

7.2.6 

Do Do

5.7 

はんだ付け端子の種類

7.2.11

7.2.15 

Do Do

5.8 

未処理の電源導体の接続に適するかどうか。

7.2.4 

Do Do

5.9 

端末処理した電源導体の接続に適するかどうか。

7.2.5 

Do Do

5.10 IEC 

61210

に規定されている寸法以外のタブのめす(雌)形コネクタ

11.2.5.1 

Do Do

動作サイクル及びシーケンス

6.1 

動作サイクル数

7.1.4 

Ma Do

6.2 

二つ以上の回路をもつスイッチにおいて,それが重要であるならば,動

作シーケンスを記載する。 
多回路のスイッチにおいて,複数の接点の組の動作シーケンスについ
て,もし,それが使用者の安全に対して重大な意味があるときは,それ

を指定しなければならない。例えば,

“遮断前に投入”又は“投入前に

遮断”の接点

 Do

Do

6.3 

力はアクチュエータの突当たり止め又は動きの限界まで適用する。

17.2.3.4 

Do Do

信号表示器

7.1 

信号用白熱電球の最大電力。その表示は,ランプを取り替えるとき,目
で確認できなければならない。

 Ma

Ma

7.2 

信号表示器の意図した機能又は動作

Do

Do


41

C 4526-1

:2013

表 3−スイッチの情報(続き)

番号

特性

項目

情報の提示手段

共通

タイプ
の記号

C.T.

特定

タイプ
の記号

U.T.

回路の遮断

8.1 

電子的遮断

7.1.11.1 

Ma Do

8.2 

微小遮断

7.1.11.2 

Ma Do

8.3 

完全遮断

7.1.11.3 

Do Do

絶縁材料

9.1 

保証トラッキング指数,PTI

20.2 

Do Do

9.2 

グローワイヤ温度 650  ℃

7.1.9.1 

− Do

9.3 

グローワイヤ温度 750  ℃

7.1.9.2 

− Do

9.4 

グローワイヤ温度 850  ℃

7.1.9.3 

− Do

10 

冷却状態

10.1 

強制冷却の要求なし

7.1.15.1 

Do Do

10.2 

空冷要求

7.1.15.2 

Do Do

10.3 

強制冷却に関する空気方向

Do

Do

10.4 

強制冷却に関する空気速度

Do

Do

10.5 

ヒートシンクの熱抵抗

Do

Do

10.6 

吸気温度,密度及び空気の流れのその他の詳細

Do

Do

11 

保護装置

11.1 

交換可能なビルトイン保護の定格電流/ヒューズ特性/遮断容量

7.1.18.1 

Ma Do

11.2 

交換することができないビルトイン保護の形/機能

7.1.18.1 

Do Do

11.3 

外部保護装置の定格電流,ヒューズ特性,遮断容量

7.1.18.2 

Do Do

12 

試験状態

7.1.17 

Do Do

12.1 

電子的スイッチの試験状態

7.1.17.1

7.1.17.4 

Do Do

12.2 

操作速度とは無関係の接点の開閉速度をもつスイッチの試験状態

7.1.17.5 

Do Do

8.2

空欄

8.3

記号を用いるとき,記号は次のとおりでなければならない(

注記参照)。

アンペア     A

ボルト     V

ワット     W

ボルトアンペア     VA

交流(単相)

又は a. c.

又は

a. c.

交流(三相)    3

又は 3a. c.

又は 3

a. c.

交流(中性付き三相)    3N

又は 3Na. c.


42

C 4526-1

:2013

又は 3N

a. c.

直流

又は d. c.

又は

d. c.

保護用接地記号

固形異物に対する保護なし     IP0X

直径 50 mm 以上の固形異物に対する保護     IP1X

直径 12.5 mm 以上の固形異物に対する保護     IP2X

直径 2.5 mm 以上の固形異物に対する保護     IP3X

直径 1.0 mm 以上の固形異物に対する保護     IP4X

防じん     IP5X

耐じん     IP6X

水の浸入に対する保護なし     IPX0

垂直に滴下する水に対する保護     IPX1

垂直∼15°までの範囲に滴下する水に対する保護     IPX2

防雨保護     IPX3

防まつ保護     IPX4

防噴流保護     IPX5

強い水の吹きかけに対する保護     IPX6

一時的な潜水に対する保護     IPX7

スイッチの周囲温度限界     T

電源周波数     Hz

動作サイクル数     8.7 参照

微小遮断の記号

μ

“OFF”位置又は“OFF”位置への操作方向の記号(円)    ○

“ON”の位置又は“ON”の位置への操作方向の記号(直線)    |

電子的遮断    ε

(ギリシャ文字イプシロン)

負荷のタイプ:

白熱電球類負荷の記号     ○

×

蛍光灯負荷

変圧器接続

低電圧白熱電球負荷の鉄心変圧器

低電圧白熱電球負荷の電子的降圧コンバータ

強制冷却の空気方向


43

C 4526-1

:2013

強制冷却の空気速度     m/s

ヒートシンクの熱抵抗     K/W

周期的継続率     %

加減負荷用ターミナル

注記  使用する記号は,IEC 60417JIS C 0920 及び IEC 60617-2 に準拠しなければならない。

8.4

定格電流及び定格電圧は,数字だけで表す。定格電流は,定格電圧の前に表示するか,又は上に表

示してその間を直線で仕切る。

スイッチが,7.1.2.27.1.2.3 及び 7.1.2.4 に規定するとおりの負荷で,二つ以上の負荷に対して定格を定

めている場合には,適切な括弧内に異なる電流値を数個表示することができる。

8.4.1

抵抗負荷及び電動機負荷用の回路に対しては,電動機負荷の定格電流を括弧内に記し,抵抗負荷の

定格電流の後に表示する。電源の記号は,電流及び電圧定格の後又は前に表示する。

電流,電圧及び電源の種類の記号は,次のように表示することができる。

V

250

A

3

16

又は

V

250

/

3

16

又は

250

3

16

8.4.2

抵抗負荷及び容量負荷用の回路に対しては,ピークサージ電流の表示と抵抗負荷電流の表示を斜線

によって分離し,抵抗負荷の定格電流,その後にピークサージ電流,及び電源の記号を表示する。

抵抗負荷電流,ピークサージ電流,電圧及び電源の記号は,次のように表示することができる。

V

250

A

8

/

2

又は

250

8

/

2

8.4.3

抵抗負荷及び白熱電球負荷用の回路に対しては,a)又は b)のいずれかを表示する。ただし,a)の表

示は,新しい設計用には推奨しない。

a)

白熱電球負荷のピークサージ電流を角括弧内に記し,抵抗負荷の定格電流の後に表示する。その後に

定格電圧及び電源の記号を表示する。

抵抗負荷電流,ピークサージ電流,電圧及び電源の記号は,次のように表示できる。

6[16] A 250 V

又は

6[16] /250

又は

250

]

16

[

6

b)

白熱電球負荷の定格電流を白熱電球の記号の後に記し,抵抗負荷の定格電流の後に表示する。その後

に定格電圧,及び電源の記号を表示する。

抵抗負荷電流,白熱電球負荷の定格電流,電圧及び電源の記号は,次のように表示できる。

6

×

1 A 250 V

又は

6

×

1/250

又は

250

1

6

8.4.4

製造業者が指定した特定負荷に関する情報は,図面又はタイプ名で表示することができる。例えば,

電動機,図面番号…,部品番号…,生産者…又は

5

×

80 W

蛍光灯負荷。


44

C 4526-1

:2013

8.4.5

熱電流を適用する場合には,熱電流の確認のための試験状態と同様に詳しく条件指定する。

熱電流に関する情報は,最大定格電流とともに示し,次に示す表示例のとおり表示する。

3

12/250

最小電力を条件指定する場合には,最大電力を共に表示し,次の表示例のとおり表す。

20 W/100 W

注記

この例中の数字

3

は,熱電流を表す。

8.5

定格周囲温度は,

T

”の前に温度下限値,後に温度上限値を表示する。

下限値が示されなければ,下限値は

0

℃とする。

25 T 85

(−

25

℃∼+

85

℃を意味する。

T 85

0

℃∼

85

℃を意味する。

表示がない場合には,機械的スイッチ及び電子的スイッチの定格周囲温度は

0

℃∼

55

℃とする。

注記

電子的コードスイッチ及び電子的独立形固定スイッチについては,定格周囲温度は

0

℃∼

35

℃とする。

8.5.1

 55

℃より高い定格周囲温度に対して部分的にだけ適したスイッチ(7.1.3.3 による。

)の情報は,次

のように表示しなければならない。

T 85/55

(スイッチ本体部は

85

℃以下,そしてアクチュエータは

55

℃以下を意味する。

8.5.2

 55

℃又は

35

℃より高い定格周囲温度に対して,部分的にだけ適したスイッチ(7.1.3.3 及び 7.1.3.4

参照)の情報は,次のように表示しなければならない。

T85/35

(スイッチ本体部は

85

℃以下,そしてアクチュエータは

35

℃以下を意味する。

8.6

クラス

II

装置又は機器に対する記号は,スイッチに表示してはならない(IEC 60417 参照)

8.7

動作サイクル数は,指数を示す記号“

E

”を使用する。7.1.4.4 

10 000

動作サイクルのスイッチは,

表示しなくてもよい。

1E3

1 000

25E3

25 000

1E5

100 000

8.8

スイッチへの表示は,スイッチ本体部に表示することが望ましいが,着脱できない部分に表示して

もよい。ただし,ねじ,取外し可能ワッシャ又は導体接続のとき及びスイッチ設置中に取り外すおそれの

あるその他の部品の上に表示してはならない。

電子的スイッチに内蔵する交換可能なヒューズの特性の表示は,ヒューズホルダ上又はヒューズの近傍

に表示する。特性は,記号(JIS C 6575 参照)で表示してもよい。

寸法の小さいスイッチへの表示は,異なる表面に分割してもよい。

8.9

表示は,消えにくく,かつ,判読可能でなければならない。

8.1

8.8 の要求事項の適否は,目視検査の後,次のように人の手によって表示をこすって判定する。

a)

蒸留水を吸い込んだ布片で約

15

秒間に

15

往復の運動。続けて次に

b)

油精(石油エーテル)を吸い込んだ布片で約

15

秒間に

15

往復の運動。

試験の間,布片は,約

2 N/cm

2

の圧力が表示に加えられていなければならない。

これらの試験後も,表示は読みやすいものとする。

8.10

外郭をもち,機器に組み込ませることを意図しないスイッチは,

OFF

”位置が明瞭に表示されてい

なければならない。微小遮断又は電子的遮断のスイッチは,

OFF

”位置に関して“○”を表示してはなら

ない。切換え位置の表示が不可能であるか又は誤解を招くスイッチ,例えば,ロッカスイッチ又は二つ以

上の自己復帰の押しボタンスイッチは,操作する方向を表示しなければならない。また,二つ以上のアク

チュエータをもつスイッチは,各アクチュエータに対して,その動作によって達成される結果を表示しな


45

C 4526-1

:2013

ければならない。

単ボタンの押しボタンスイッチは,

OFF

位置の表示を必要としない。

注記

“○”は,完全遮断に関してだけ使用できる。

8.11

二つ以上の端子をもつ電子的コードスイッチ及び電子的独立形固定スイッチの場合には,負荷端子

は端子から逆向きの矢印か,又は関係がある場合には,規定された負荷の端子に 8.3 の記号を表示しなけ

ればならない。電子的独立形固定スイッチのその他の端子は,設置説明書に従って表示しなければならな

い。

電子的スイッチの設置が,端子の表示によって明確でない場合には,結線図を各スイッチに設ける。

感電に対する保護 

9.1

スイッチを通常の使用状態に取り付け動作させるとき,又は口金付きランプを除いて着脱できる部

分を取り外した後,充電部との接触を防止する適切な保護があるように構成されていなければならない。

クラス

II

機器用のスイッチには,この要求事項は,基礎絶縁だけによって充電部から絶縁されている金

属部への接触,又は基礎絶縁自体への接触にも適用する。

注記

この規格の目的としては,保護インピーダンス(9.1.1 参照)によって充電部に接続されている

金属感知面は,感電に対して保護が設けられていると考えられる。

適否は,目視検査及び次の試験によって判定する。

a)

試験は,口金付きランプ以外の全ての着脱できる部分を取り外して,スイッチを製造業者の文書に従

って取り付けたとき,触れることのできるスイッチの部分に適用する。

b)

JIS C 0920

の関節付き試験指を,全ての可能な位置に力を加えることなく当てる。この試験指が入り

込まない開口部は,同じ寸法の関節のない真っすぐな試験指を

20 N

の力で当てる。この関節のない試

験指が入り込むときは,再び関節付き試験指を用いてこれをその開口部に当てながら試験を行う。接

触の有無を示すために,電気的接触表示灯を使用する。

c)

絶縁材料の開口部及び接地していない金属部品の開口部は,

図 13 に準拠するテストピンで力を加える

ことなく,あらゆる可能な位置に当てて試験する。

d)

疑義があるときは,16.2.2 の試験の条件で試験を繰り返し行う。

試験指又はテストピンのいずれかがむき出しの充電部に接触してはならない。

二重絶縁構造の部分をもつスイッチは,関節付き試験指が充電部から基礎絶縁だけによって,又は基礎

絶縁自体によって絶縁されている接地されていない金属に接触できてはならない。

ラッカー,エナメル,紙,木綿,金属部品上の酸化膜,ビーズ及び加熱によって軟化する封止コンパウ

ンドは,要求された充電部への接触に対する保護としてみなさない。

特に規定のない限り,

24 V

以下の

SELV

電源に接続された部分は充電部とはみなさない。

注記

接触を表示するには,

40 V

以上の電圧においてランプを使用することを推奨する。

9.1.1

電子的スイッチの動作に必要となる可触金属部(

例  感知表面)は,保護インピーダンスによって

充電部に接続されてもよい。

保護インピーダンスは,抵抗及び/又はコンデンサからなり,次のいずれか一つに従うものとする。

a)

直列接続した同じ公称値の少なくとも二つの別個の抵抗。これらの抵抗器は 24.3 に示す要求条件に従

うものとする。

b)

直列接続した同じ値の少なくとも二つの別個のコンデンサ。これらのコンデンサは JIS C 5101-14 に従

うクラス

Y2

の要求条件に従うものとする。


46

C 4526-1

:2013

c)

24.3

に従う少なくとも一つの抵抗器と,JIS C 5101-14 に従うクラス

Y2

の要求条件に従う一つのコン

デンサを直列接続。

保護インピーダンスの除去又は短絡が生じた場合には,電子的スイッチは,必ず破壊状態になるか又は

明らかに使用不能状態にならなければならない。保護インピーダンスは,可触金属部の表面に沿い,各表

面間においても箇条 20 に従って条件を満たすように設計及び配置しなければならない。

適否は検査及び 24.3 の試験によって判定する。

9.1.2

アクチュエータを取り外したとき充電部に接触できる場合には,アクチュエータを適切に固定する。

ただし,工具による破壊,切断又は取外しによって充電部への接触ができるようになっている場合には,

アクチュエータが適切に固定されているとみなす。

適否は,

18.4

による試験中の検査及び JIS C 0922 に規定する検査プローブ

B

に力を加えないで判定する。

9.1.3

スイッチが仕様のとおりに取り付けられたとき,使用者が接近可能なスイッチの設定を調整する穴

をもっており,かつ,そのように指示されている場合には,調整のとき,感電の危険があってはならない。

適否は,JIS C 0922 

図 3,検査プローブ

C

に従ったテストピンを穴の中に入れて判定する。ピンは,

充電部に触れてはならない。

9.2

アクチュエータを取り外したとき充電部に接触できる場合には,アクチュエータを適切に固定する。

ただし,特殊な工具による破壊,切断又は取外しによって充電部への接触ができるようになっている場合

には,アクチュエータが適切に固定されているとみなす。

適否は,

18.4

による試験中の検査及び JIS C 0922 に規定する検査プローブ

B

に力を加えないで判定する。

9.3

クラス

III

機器以外の機器用のスイッチのアクチュエータの可触部分は,次のいずれかのタイプとす

る。

a)

絶縁物

b)

基礎絶縁をもつ部分から付加絶縁によって隔離されている金属部

c)

充電部から二重絶縁又は強化絶縁によって隔離されている金属部

d)

電子的スイッチについては,保護インピーダンスによって充電部から隔離されている金属部

a)

c)

の適否は,目視検査,測定及び適切な試験によって判定する。

d)

の適否は,次によって判定する。

測定は,

ON

状態,

OFF

状態,並びに/又は最低及び最高に設定した値の定格電圧(かつ,

ON

状態で定

格負荷)で

2 kΩ

の無誘導抵抗を通して,一つの可触金属部又は幾つかの組み合わされた金属部と接地間で

実施する。測定中,保護インピーダンスを形成している抵抗及びもしあるときは他の全ての部品は一度に

一つを短絡する。

電流は,

1 kHz

まで交流

0.7 mA

(ピーク値)又は直流

2 mA

を超えてはならない。

周波数が

1 kHz

を超える場合には,

0.7 mA

の制限値に

kHz

単位の周波数を乗じた値とするが,

70 mA

超えてはならない。

9.4

コンデンサは,製造業者の指定に準拠してスイッチを取り付けたとき,触れるおそれのある接地し

ていない金属部に接続してはならない。コンデンサの金属ケースは,製造業者の指定に準拠してスイッチ

を取り付けたとき,触れるおそれのある接地していない金属部から付加絶縁によって絶縁されていなけれ

ばならない。

適否は,目視検査並びに箇条 15 及び箇条 20 の要求事項によって判定する。


47

C 4526-1

:2013

10 

接地接続の手段 

10.1

クラス

II

機器用のスイッチは,スイッチ又はその部品に接地のための手段があってはならない。た

だし,接地回路を継続するための相互連結は許容する。

適否は,目視検査によって判定する。

10.2

接地端子,接地端子部及び他の接地手段は,他の中性端子に電気的に接続してはならない。適否は,

目視検査によって判定する。

10.3

クラス

I

機器用のスイッチの可触金属部であって,絶縁不良が生じたとき充電部となるおそれがあ

るものは,接地用の備えをしなければならない。

適否は,目視検査によって判定する。

10.3.1

充電部から二重絶縁又は強化絶縁によって絶縁されている部品,及び接地端子,接地端子部又は他

の接地手段に接続している金属部によって遮蔽されている部品は,絶縁不良が生じたとき充電部となるお

それがないとみなす。

10.3.2

スイッチの可触金属部は,それらの取付部を介して接地へ接続してもよい。ただし,接続箇所の金

属面が清浄である場合に限る。

10.4

接地端子,接地端子部又は他の接地手段とそれらに接続する部品との間の接続は,低い抵抗値でな

ければならない。

適否は,次の試験によって判定する。

a)

定格電流の

1.5

倍,ただし,

25 A

以上で無負荷電圧

12 V

以下の交流電源からの電流を接地端子,接地

端子部又は他の接地手段と前記部品のそれぞれとの間に通電する。

b)

接地端子,接地端子部又は他の接地手段とこれに接続した各部品との間の電圧降下は,安定した状態

に達したときに測定し,電流及び電圧降下から抵抗値を計算する。

抵抗値は,

50 mΩ

以下でなければならない。

注記

測定プローブの先端と試験をする金属部との間の接触抵抗が,試験結果に影響を与えないよう

に注意する。

10.5

未処理導体用の接地端子は,通電端子以上の大きさでなければならない。また,工具なしで緩むこ

とがなく,適切にロックされていなければならない。

適否は,目視検査,手動の試験及び箇条 11 の試験によって判定する。

10.5.1

11.1

及び 11.2 に準拠した端子に共用されている設計は,故意でない緩みに対して,緩まないよう

に適切にロックされているとみなす。

10.5.2

スイッチが過度の振動又は温度サイクルを受ける場合で,ピラー端子を使用するときには,適切な

弾性のある部品(例えば,圧力板)の使用など特別の施策が必要である。

10.6

切削ねじ又は転造ねじは,通常の使用で接続を妨げることがなく,また,各接続に

2

本のねじが使

用されるならば,接地に使用することができる。

適否は,目視検査及び 19.2 の試験中で判定する。

10.7

接地端子の全ての部品は,これら部品と接地導体の銅との間,又はこれら部品に接触する他の金属

との間の接触によって腐食しないものでなければならない。

10.8

接地端子のボディは,黄銅であるか又は他のこれと同等以上の耐食性のある金属でなければならな

い。このとき,ねじ又はナットは,それが外郭の一部である場合を除き,黄銅,19.3 に適合するめっきし

た鉄鋼,又はこれと同等以上の腐食及びさびに耐える抵抗性のある金属のものでなければならない。

10.9

接地端子のボディが,アルミニウム又はアルミニウム合金のフレーム若しくは外郭の一部である場


48

C 4526-1

:2013

合には,銅とアルミニウム又はその合金との間の接触によって腐食しないよう注意しなければならない。

10.7

10.8 及び 10.9 の要求事項への適否は,目視検査によって判定する。疑義があるときは,材料及び

その被覆又はめっきの分析によって判定する。

11 

端子及び端子部 

注記

JIS C 3664

に適合する導体以外のものを製造業者が指定することができる。この場合には,こ

の箇条における試験用導体は,製造業者の指定したものを取り付けて行う。

11.1 

未処理銅導体用端子 

11.1.1 

共通要求事項 

11.1.1.1

端子は,ねじ,ナット,ばね,くさび,偏心体,円すい体,又は同等の有効な手段若しくは方法

によって接続を行うものでなければならない。ただし,接続又は取外しに対して,特殊な工具を必要とし

ないものでなければならない。

適否は,目視検査によって判定する。

11.1.1.2

クランプを締めたり緩めたりしても,端子は緩まない方法で固定していなければならない。

この要求事項は,ある種の積み重ね形スイッチに用いられるような,固定していないスイッチング素子

に取り付けた浮動端子又は浮動端子部を排除するものではない。ただし,その動きがスイッチの正しい動

作を阻害しない場合に限る。

適否は,

表 に規定する最大断面積をもつ導体を

10

回の締め付け,及び緩めることによって判定する。

ねじ式端子に加えるトルクは,

表 20 に規定する。

11.1.1.3

端子は,導体の接続時又はスイッチの通常の動作中,導体が滑って外れることがないように設計

し,位置しなければならない。

適否は,次の試験によって判定する。

a)

端子に

表 の最大断面積の導体を取り付けて,表 20 のトルクで完全に締め付ける。次に,表 の最小

断面積の導体を取り付けてこれを繰り返して行う。

b)

  2

本以上の導体の接続を指定する場合には,この試験は指定した本数の導体を取り付けて繰り返し行

う。

c)

硬質の導体は,端子に挿入する前に真っすぐに伸ばす。可とう導体は,完全に

1

回転する均一のねじ

りを加え,長さが

2 cm

になるように一方向にねじる。

d)

この導体を,製造業者が指定した最小長さで端子に挿入する。長さが指定されていない場合には突き

当たるまで,又は導体が端子の反対側に出るまで挿入する。そして,

1

本のより線を最もはみ出しそ

うな位置で挿入する。

e)

可とう導体は,c)と反対方向にねじった新しい導体を用いて,試験を繰り返し行う。

試験終了後,導体が締付け手段と保持具との隙間に入り込んだり,隙間を通して外れてはならない。


49

C 4526-1

:2013

表 4−端子に通電する抵抗負荷電流及び未処理導体用端子の断面積の関係

端子に通電する抵抗負荷電流

A

可とう導体

端子の断面積  mm

2

端子

サイズ

を超え

以下

最小

中間

最大


6

10 
16 
25 
32 
40


6

10 
16 
25 
32 
40 
63

0.5 
0.75
1.0 
1.5 
2.5 
4.0 
6.0

0.5 
0.75
1.0 
1.5 
2.5 
4.0 
6.0

10.0

0.75
1.0 
1.5 
2.5 
4.0 
6.0

10.0 
16.0








6

端子に通電する抵抗負荷電流

A

硬質導体

端子の断面積  mm

2

端子

サイズ

を超え

以下

最小

中間

最大


6

10 
16 
25 
32 
40


6

10 
16 
25 
32 
40 
63

0.5 
0.75
1.0 
1.5 
2.5 
4.0 
6.0

10.0

0.75
1.0 
1.5 
2.5 
4.0 
6.0

10.0 
16.0

1.0 
1.5 
2.5 
4.0 
6.0

10.0 
16.0 
25.0








7

表 5  (削除)

11.1.1.4

可とう導体接続用の端子に導体を取り付けたとき,可とう導体の素線が

1

本端子からはみ出す場

合には,充電部と可触金属部との間が,そして,クラス

II

機器用のスイッチは,充電部と,可触金属部か

ら付加絶縁だけによって隔離された金属部との間が,接触の危険がないように位置しているか又は遮蔽さ

れていなければならない。

さらに,スイッチ動作によって電気的に相互接続される端子を短絡する危険があってはならない。

適否は,目視検査及び次の試験によって判定する。

a)

表 に規定する最小断面積の可とう導体の端末から,被覆絶縁物を

8 mm

にわたって取り去り,可と

う導体の

1

本の素線を自由に残し,残りの導体を端子に全部挿入し締め付ける。

b)

その自由にした素線を,被覆絶縁物を逆方向に裂くことなく,全ての可能な方向に曲げる。ただし,

隔壁の周りに鋭い曲げを行わないようにする。

可とう導体の自由にした素線は,前記の関連する部分に接触してはならない。さらに,接地端子に接続

した可とう導体の自由にした素線は,いかなる充電部にも接触してはならない。

11.1.1.5

端子は,導体に過度な損傷を与えることなく締め付けるように設計しなければならない。

適否は,目視検査によって判定する。

注記

試験は,検討中である。

11.1.1.6

導体を更に奥まで差し込むことによって,沿面距離及び/又は空間距離が減少するか,又はスイ

ッチの機構に影響を及ぼすおそれがある場合は,導体の挿入を停止具によって阻止するか又は穴の中に入

れた導体の端部が見えるように設計しなければならない。


50

C 4526-1

:2013

適否は,目視検査によって 11.1.1.3 及び 11.1.1.4 の試験中に判定する。

11.1.2 

未処理導体用のねじ式端子 

11.1.2.1

ねじ式端子は,

表 に示す断面積の導体を接続できなければならない。

7.2.1

に分類する端子の場合,可とう導体及び硬質導体の締付け範囲は,全て一致する必要がある。

7.2.2

に分類する端子の場合,断面積及び宣言したワイヤタイプについて各値が一致する必要がある。

注記

ねじ式端子の例を,

図 1,図 2,図 3,図 及び図 に示す。

適否は,目視検査,測定並びに

表 に適合する断面積の可とう導体及び硬質導体を挿入して判定する。

導体は,端子の設計された深さまで過度の力を加えることなく内部に挿入できなければならない。

11.1.2.2

ねじ式端子は,導体を確実に金属面の間に締め付けるように設計しなければならない。

適否は,目視検査及び次の試験によって判定する。

a)

ねじ式端子に,

表 の最小及び最大,又は宣言した断面積の導体を取り付け,端子ねじを表 20 の該当

するトルクで締め付ける。

b)

溝付き六角ねじの場合には,

表 20 の第

III

欄のトルクで締め付ける。

c)

各導体は,

表 に示す力で引っ張る。この引張力は,導体用空間の軸方向に,弾みをつけずに

1

分間

加える。

表 6−ねじ式端子に対する引張力

端子サイズ

0 1 2 3 4 5  6  7

導体の断面積

mm

2

1.0 以下

1.0 を超え 
1.5 以下

1.5 を超え
2.5 以下

2.5 を超え
4.0 以下

4.0 を超え
6.0 以下

6.0 を超え 
10.0 以下

10.0 を超え 
16.0 以下

16.0 を超え
25.0 以下

引張力

N

35 40 50 60 80 90 100 135

注記  導体の断面積は,製造業者が導体を指定するときに適用する。

d)

端子が

2

本以上の導体用として指定されている場合には,該当する引張力を各導体に順次に加える。

試験中,導体は端子の中で視認できる程度に動いてはならない。

11.1.2.3

導体を締め付けるためのねじ及びナットは,締付け用部品を正しい位置に保持するか又はその回

転を阻止するのに用いてもよいが,ほかのいかなる部品を固定するのに用いてはならない。

適否は,目視検査及び 19.2 の試験の中で判定する。

11.1.3 

未処理導体用のねじなし端子 

11.1.3.1

ねじなし端子は,

表 の断面積

2.5 mm

2

以下の可とう導体又は

4.0 mm

2

以下の硬質導体の範囲に

おいて,それぞれ対応する断面積の導体を接続できなければならない。

導体の接続及び取外しをどのように行うかが明示されていなければならない。

注記

ねじなし端子の例を,

図 に示す。

導体の取外しは,導体を引っ張ること以外に,工具の必要性の有無にかかわらず,通常,手による動作

ができるように構成しなければならない。

挿入又は取外しのための工具の開口部は,導体の開口部と明瞭に区別できなければならない。

適否は,目視検査,測定並びに

表 に該当する断面積の可とう導体及び/又は硬質導体を挿入すること

によって判定する。

導体は,過度の力を加えることなく,設計した深さまで端子内部へ差し込むことができなければならな

い。


51

C 4526-1

:2013

11.1.3.2

ねじなし端子は,通常の使用中に生じる機械的ストレスに耐えなければならない。

導体は,確実に金属面の間で締め付けられなければならない。ただし,

0.2 A

以下の回路に使用するねじ

なし端子を除く。この場合には,その面の片方は非金属でもよい。

適否は,絶縁していない銅導体を用いて行う次の試験によって判定する。最初に

表 に規定する最大又

は宣言した断面積の導体,次に最小又は宣言した断面積の導体を用いて行う。

a)

硬質導体の場合には,

単心導体で

5

回の挿入及び取外し,

より線導体で

1

回の挿入及び取外しを行う。

b)

可とう導体の場合には,

5

回の挿入及び取外しを行う。

c)

硬質及び可とう導体の場合には,両方の導体を使用できる端子の試験は,硬質導体と可とう導体とを

用いて上記の回数を行う。

導体は最終回を除き,その都度新しい導体を使用して上記の回数挿入及び取外しを行う。最終回は,最

後の

1

回の挿入に使用した導体を同じ場所でクランプする。各挿入ごとに,導体を端子の中にできる限り

深く押し込むか,適切な接続が明白に分かるように挿入しなければならない。

それぞれの挿入後,導体を軸方向の周りに

90

°ねじる。さらに,

表 の引張力を,導体の軸方向に弾み

をつけずに

1

分間加える。

2

本以上の導体用として製造業者が指定した端子は,該当する力を各導体に対して順次加える。

引張力を加えている間,導体は端子から外れてはならない。

これらの試験後,ねじなし端子及びクランプ部品は緩んではならない。

注記

硬質導体に対する曲げ試験は,検討中である。

11.1.3.3

  2

本以上の導体の相互接続用に使用するねじなし端子は,次のように設計しなければならない。

挿入後,導体のうち

1

本をクランプする動作は,その他の導体のクランプ動作とは独立したものでな

ければならない。

取外しのとき,導体は,同時に又は別々に取り外すことができなければならない。

適否は,目視検査及び任意の組合せの該当する導体を用いた試験によって判定する。

11.1.3.4

ねじなし端子は,通常の使用時の熱的ストレスに耐えなければならない。

ねじなし端子が,スイッチング素子を含むスイッチを通して導電経路の一部となっている場合,適否は

箇条 17 の試験で判定する。

10 000

動作サイクル未満の定格動作サイクル数のスイッチ又はねじなし端子が,スイッチング素子を含

まないスイッチを通して導電経路の一部となっている場合,

適否は,

次の熱的耐久試験によって判定する。

7.1.3.2

及び 7.1.3.3 に該当するスイッチは,

3

個の新しいスイッチを製造業者の指定どおり取り付けて接

続した後,温度

25

±

2

℃の恒温槽内に入れる。

7.1.3.3

に該当するスイッチは,通常の使用状態に取り付ける。

7.1.3.1

に該当するスイッチは,

3

個の新しいスイッチをこの試験中

25

±

10

℃に保持し,通電する。

この試験中,最大定格電流をスイッチに通電する。

スイッチは,次に示すような

1

サイクル

1

時間の温度試験を

192

サイクル加える。

a)

槽の温度を,約

20

分間で最大周囲温度±

5

℃に上げてから約

10

分間保持する。

b)

次に,強制冷却も可とする条件で,約

20

分間で温度約

30

℃に冷却し,約

10

分間保持する。冷却の

間は,試料に通電しない。

c)

恒温槽の中の温度は,試料から

50 mm

以上離れた箇所で測定しなければならない。

192

サイクル試験後,ねじなし端子の温度上昇は,16.2.2 に準拠して測定したとき,

55 K

を超えてはな

らない。ただし,ねじなし端子の温度上昇試験は,定格電流を通電して

25

±

10

℃の周囲温度の中で行う。


52

C 4526-1

:2013

1

個のねじなし端子がこの試験に適合しない場合,この試験を第

2

のセットの試料を用いて行う。この

場合には,全てのものが適合しなければならない。

11.1.4 

絶縁した未処理導体用で,絶縁物を貫通して導体に直接接触する端子 

注記

JIS C 2814-2-3

に基づく要求事項及び試験は,検討中である。

11.2 

端末処理銅導体用端子及び/又は特殊な工具を使用して接続する端子 

11.2.1 

共通要求事項 

11.2.1.1

端子は,製造業者の指定どおりに接続したとき,その目的を達するものでなければならない。

適否は,目視検査,箇条 16 及び箇条 19 の試験で判定する。

11.2.1.2

端子は,製造業者が指定する種類及び断面積の導体を接続できなければならない。

適否は,目視検査及び指定されたタイプと断面積の導体とを接続することによって判定する。

11.2.1.3

端子は,導体を金属表面の間で,かつ,導体を過度に損傷することなく,信頼性のある接続を行

うように設計しなければならない。

適否は,目視検査,箇条 16 及び箇条 19 の試験によって判定する。その結果は,導体が直接端子にクラ

ンプされている場合,及び/又は特別な端末処理の詳しい方法を製造業者が指定している場合に限って対

象となる。その他のものの信頼性は,最終使用状態によって判定する。

11.2.1.4

端子は,導体を更に奥まで差し込むことによって,沿面距離及び/又は空間距離が減少するか,

又はスイッチの機構に影響を及ぼすおそれがある場合には,導体の挿入を停止具によって制限するか又は

穴の中に入れた導体の端部が見えるように設計しなければならない。

適否は,目視検査,11.2.1.2 及び 11.2.1.3 の試験によって判定する。

11.2.2 

端末処理導体用のねじ式端子 

特に詳細な要求事項はない。

11.2.3 

端末処理導体用のねじなし端子 

11.2.3.1

ねじなし端子は,導体を金属面の間にクランプしなければならない。ただし,

0.2 A

以下の回路

に使用する端子は,片方の面が非金属であってもよい。

適否は,目視検査によって判定する。

11.2.3.2

ねじなし端子は,通常の使用中に生じる熱的ストレスに耐えなければならない。

適否は,11.1.3.4 の該当する試験によって判定する。

11.2.3.3

導体の接続及び取外しをどのように行うか,明示しなければならない。

適否は,目視検査及び製造業者の指定する種類並びに断面積の可とう導体及び/又は硬質導体を挿入す

ることによって判定する。

11.2.4 

取外し不可のねじなし端子 

11.2.4.1

取外し不可のねじなし端子は,導体を金属面の間にクランプしなければならない。ただし,

0.2 A

以下の回路に使用する端子は,片方の面が非金属であってもよい。

適否は,目視検査によって判定する。

11.2.4.2

ねじなし端子は,通常の使用中に生じる熱的ストレスに耐えなければならない。

適否は,11.1.3.4 の該当する試験によって判定する。

11.2.4.3

導体の接続をどのように行うか,明示しなければならない。

適否は,目視検査及び製造業者の指定する種類並びに断面積の可とう導体及び/又は硬質導体を挿入す

ることによって判定する。


53

C 4526-1

:2013

11.2.5 

平形クイック接続端子のタブ 

11.2.5.1

スイッチのタブは,IEC 61210 

表 10-1 及び図 1(くぼみ及び穴が任意の場合を除く。)の寸法に

適合するか,又は

附属書 の寸法に適合しなければならない。

適否は,測定によって判定する。

注記 1

附属書 は,新しい設計用には推奨しない。

注記 2

機械的保全,及びめす(雌)形レセプタクルのはめ合い機能を維持する場合には,任意の設

計を容認する。

IEC 61210

又は

附属書 に示す寸法以外のタブは,通常の使用において,寸法及び形状が図 に規定す

るめす(雌)形コネクタとともにタブが安全に機能するか,又は特殊なめす(雌)形コネクタを規定する

場合には,容認する。

11.2.5.2

タブの材料及びめっきは,

表 に示すタブの最高温度に対し,適切なものでなければならない。

表 7−タブの材料及びめっき

タブの材料及びめっき

タブの最高温度

裸の銅 
裸の黄銅 
すずめっきした銅及び銅合金

ニッケルめっきした銅及び銅合金 
銀めっきした銅及び銅合金 
ニッケルめっきした鉄鋼

ステンレス鋼

155 
210 
160 
185 
205 
400 
400

注記  規定したもの以外の材料又はめっきは,電気的・機械的

特性が,特に耐食性及び機械的強度に対して,同等以上
の信頼性がある場合に限って使用することができる。

11.2.5.3

タブは,この規格への適合を損なうような損傷をスイッチに与えることなしに,めす(雌)形コ

ネクタの差込み及び引抜きができなければならない。

適否は,

表 に示す力に等しい軸方向の力を,弾みをつけずに加えて判定する。重大な位置ずれ又は損

傷が生じてはならない。

表 8−差込み力及び引抜き力

タブの大きさ

差込み力

a)

N

引抜き力

a)

N

2.8 
4.8 
6.3 
9.5

64 
80 
96

120

58 
98

b)

88

110

a)

  この力は,単一のタブに対し許容される最大値である。

b)

  この値は,JIS C 2809 のめす(雌)形コネクタの実際の構造によっ

て決めているため,タブの大きさ 6.3 の値よりも大きい。

11.2.5.4

タブは,該当する製造業者指定のめす(雌)形コネクタの接続ができるように,適切な空間を設

けなければならない。

適否は,該当するめす(雌)形コネクタを,製造業者の指定する範囲内で,各タブに最も不利な方向に

差し込むことによって判定する。この操作中,タブ又は隣接部品にひずみ又は変形が生じてはならない。


54

C 4526-1

:2013

また,沿面距離又は空間距離が,箇条 20 に規定する値以下に減少してはならない。

注記

該当するめす(雌)形コネクタは,

図 に示すものである。

11.2.6 

内部絶縁銅導体用の端子で絶縁物を貫通して導体に直接接触する端子 

注記

要求事項及び試験は,検討中である。

11.2.7 

はんだ付け端子 

11.2.7.1

はんだ付け端子は,十分なはんだ付け性をもっていなければならない。

適否は,JIS C 60068-2-20 の関連する試験を適用して判定する。

Ta

”の試験は,

表 によって行う。

通常のはんだ耐熱性をもつはんだ付け端子が 11.2.7.2 に適合しているかどうかは,この試験の直後に判

定しなければならない。

表 9Ta に対する試験条件

JIS C 60068-2-20

の細分箇条番号

条件

4.3.2

4.8.3

4.4

4.5

4.6

4.7

4.6.2

4.8.2.3

4.6.3

4.9.2

4.6.3

4.7.3

4.7.3

4.7.3

4.8.4

4.9

4.10 

脱脂してはならない。 
初期測定不要。

エージングは行わない。

7.2.11

及び 7.2.12 で規定した端子の分類によって,方法 1:235  ℃のはんだ

槽法又は方法 2:350  ℃のはんだごて法を適用する。

非活性フラックス 
浸せき時間  2∼3 秒 
熱遮蔽板は使用しない。

はんだごての大きさは“B”とする。 
放熱器は使用しない。 
はんだごてを当てる時間  2∼3 秒

はんだ付け時間  最大 2 秒 
はんだはじき試験は行わない。 
最終測定  箇条 16 に準拠する温度上昇

浸せきした表面は,ピンホール,ぬれなし,はんだはじき部分などの少量の散在した欠陥だけを除いて,

滑らかなはんだで覆われていなければならない。これらの欠陥は,

1

か所に集中してはならない。

11.2.7.2

はんだ付け端子は,はんだ熱に対して十分に耐えなければならない。

はんだ付け端子タイプ

1

7.2.15.1)に耐えるはんだ付け端子に対する適否は,11.2.7.1 の試験中に判定す

る。

試験後,はんだ付け端子は,緩み又は使用することを妨げる変位が起きてはならない。また,箇条 20

の要求事項に適合しなければならない。

はんだ付け端子タイプ

2

7.2.15.2)に耐えるはんだ付け端子に対する適否は,JIS C 60068-2-20 の関連

する試験を適用して判定する。

Tb

”の試験は,

表 10 によって行う。


55

C 4526-1

:2013

表 10Tb に対する試験条件

JIS C 60068-2-20

の細分箇条番号

条件

5.3

5.4

5.5

5.4.3

5.4.3

5.6.1

5.6.3

5.6.3 

初期測定不要。 
製造業者が指定したはんだ付け端子のタイプによって,試験方法 1A:
260  ℃のはんだ槽法,又は試験方法 2:350  ℃のはんだごて法を適用する。 
浸せき時間  5±1 秒 
熱遮蔽板は使用しない。 
はんだごての大きさは,

“B”とする。

放熱器は使用しない。 
はんだごてを当てている時間  5±1 秒

試験後,はんだ付け端子は,緩み又は使用することを妨げる変位が起きてはならない。また,箇条 20

の要求事項に適合しなければならない。

11.2.7.3

7.2.13

に分類したはんだ付け端子は,はんだ付けとは無関係に,導体を正しい位置に機械的に保

持する手段を備えていなければならない。

前記手段は,次の方法によって備えることができる。

導体をかぎ(鈎)留めするのに適した孔をもたなければならない。

はんだ付け前に,導体を端子の周りに巻き付け可能な端子の縁をもたなければならない。

はんだ接続に隣接したところに導体などを締め付ける手段をもたなければならない。

11.2.8 

溶接端子 

特に詳細な要求事項はない。

11.2.9 

クリンプ端子 

特に詳細な要求事項はない。

11.3 

電源の接続及び外部コード接続用の端子に対する追加要求事項 

各端子は,正当な技術的理由がない場合は,対応する異極の端子の近くに,また,接地端子がある場合

は,その端子の近くに位置していなければならない。

注記

JIS C 9335-1

に準拠して,電源コードは,次の取付方法の中の一つによって機器に組み付ける。

  X

形取付け

  Y

形取付け

  Z

形取付け

12 

構造 

12.1 

感電に対する保護に関連する構造上の要求事項 

12.1.1

二重絶縁を採用する場合には,基礎絶縁と付加絶縁とは別々に試験できるように設計されていなけ

ればならない。ただし,前記二つの絶縁の性能に関する適合性が他の方法によって与えられている場合を

除く。

適否は,目視検査によって判定する。

a)

基礎及び付加絶縁が別々に試験することができない場合には,又は両絶縁の特性に関する適合性を他

の方法で得ることができない場合には,この絶縁は,強化絶縁であるとみなす。

b)

特別に準備した試料,又はその絶縁部分の試料は,適合性を判定する手段を与える方法であるとみな

す。


56

C 4526-1

:2013

12.1.2

スイッチは,沿面距離及び空間距離が摩耗の結果,箇条 20 に規定する値未満に減少することがな

いように設計しなければならない。

スイッチは,

たとえスイッチの導電部が緩んでその位置から外れても,

通常の使用中,

付加絶縁又は強化絶縁が介在する沿面距離又は空間距離が箇条 20 に規定する値未満に減少

しない構造でなければならない。

適否は,目視検査,測定及び手動の試験によって判定する。

この試験において,

二つの独立した固定具をもつ場合には,それらが同時に緩むことはないものとみなす。

ロックワッシャを備えたねじ又はナットによって固定された部品であって,使用者が保守又はサービ

スの間にそれらのねじ又はナットを取り外す必要がない場合には,その部品は,緩むおそれがないも

のとみなす。

ばね及びばね部品は,箇条 18 及び箇条 19 の試験中に緩まなければ,緩むおそれ又はその位置から外

れ落ちるおそれがないとみなす。

12.1.3

一体組付け導体は,通常の使用中に沿面距離及び空間距離が,箇条 20 に規定する値未満に減少し

ないような硬いもの,固定されたもの又は絶縁されたものでなければならない。

上記絶縁は,取付け中又は通常の使用中に損傷を受けないものでなければならない。

適否は目視検査,及び箇条 20 の試験によって判定する。

導体の絶縁が,該当する JIS に適合するケーブル及びコードの絶縁と少なくとも電気的に同等でない場

合,又はその導体とその絶縁の周りに巻かれた金属はく(箔)との間で,箇条 15 に規定した条件で行う耐

電圧試験に適合しない場合には,その導体は裸導体であるとみなす。

12.1.4

半導体スイッチング素子と機械的スイッチング素子とを組み合わせた電子的スイッチに関して,半

導体スイッチング素子に直列に接続されている接点は完全遮断又は微小遮断の要求事項に適合しなければ

ならない。

12.1.5

半導体スイッチング素子に並列に接続されている機械的スイッチング素子に関しては,遮断の種類

に関する要求事項を規定しない。

12.2 

スイッチの取付け及び通常の動作中の安全に関連する構造上の要求事項 

12.2.1

安全のために設けられたカバー,カバープレート,取外し可能なアクチュエータなどは,工具の使

用なしでは取替え又は動かすことができない方法によって固定されていなければならない。カバー又はカ

バープレートの固定部材は,アクチュエータを除く他の部品を固定するために用いてはならない。

取外し可能部品,例えば,表示灯又はノブを取り付けたカバープレートは,切換え位置の表示が切換え

位置に一致しないように取り付けることが不可能でなければならない。

12.2.2

カバー又はカバープレートの固定ねじは,緩み止めされていなければならない。

厚紙又は同様の材料の緩み止めのワッシャは,この目的に対して適切であるとみなす。

12.2.3

スイッチは,そのアクチュエータを製造業者が指定したとおりに取り外したとき,損傷を受けては

ならない。

12.2.1

12.2.2 及び 12.2.3 の要求事項への適否は,目視検査,及びその取外しに工具を必要としないアク

チュエータに対しては,18.4 の試験によって判定する。

12.2.4

引きひもは,充電部から絶縁されていなければならない。そして,充電部へ可触になるような部品

の取外しをすることなしに,引きひもの取付け又は取外しができなければならない。

適否は,目視検査によって判定する。

12.2.5

照光式の表示灯がスイッチに組み込まれている場合には,製造業者が決めたとおりの正しい表示を


57

C 4526-1

:2013

行わなければならない。

適否は,ランプ回路の電圧又はスイッチの定格電圧のいずれかの電圧の±

10 %

以内の電圧を,スイッチ

に接続して判定する。

12.3 

スイッチの取付け及びコードの取付けに関連する構造上の要求事項 

12.3.1

スイッチは,製造業者の指定する取付方法が,この規格に適合するように設計していなければなら

ない。

12.3.1.1

取付方法はスイッチが回転したり,他の方法で位置の移動が不可能であり,工具の使用なしで機

器から取り外すことが不可能でなければならない。もし,キーのような部品の取外しがスイッチの通常の

使用に必要である場合には,この取外しの前後において,箇条 9,箇条 15 及び箇条 20 の要求事項を満た

していなければならない。

適否は,目視検査によって,そして手動の試験によって判定する。

a)

  1

個のナット及びアクチュエータと同心の単一軸受によって固定するスイッチが,ナットを締付け及

び/又は緩めるのに工具が必要であり,かつ,これら部品が適切な機械的強度をもつ場合には,この

要求事項に適合しているとみなす。

b)

ねじを使用しないで取り付けた組込みスイッチは,機器から取り外す前に工具の使用を必要とする場

合には,この要求事項に適合しているとみなす。

13 

機構 

電子的スイッチに関する要求事項は,機械的スイッチを備えた電子的スイッチング素子部分だけに適用

する。

13.1

直流スイッチの接点の開閉速度は,操作速度と無関係でなければならない。ただし,定格電圧が

28 V

以下又は定格電流が

0.1 A

以下のスイッチは除く。

適否は,箇条 17 の試験中に判定する。

13.2

スイッチは,可動接点が“

ON

”及び“

OFF

”位置においてだけ,静止できるように組み立てなけれ

ばならない。中間位置は,アクチュエータの中間位置に対応しており,それが表示された“

OFF

”位置の

指標と誤った判断を与えることなく,この位置の接点の開離が適切なものである場合を除く。

スイッチは,接点圧力が箇条 16 の要求事項に適合する値に達したとき“

ON

”位置にあるとみなす。

スイッチは,接点の開離が箇条 15 の要求事項に適合する値に達したとき“

OFF

”位置にあるとみなす。

中間位置における接点の開離は,箇条 15 における,隣接する“

OFF

”位置に対して規定する要求事項へ

の適合性によって判定する。

13.3

アクチュエータを開放したとき,アクチュエータは,可動接点に対応する位置に自動的に追従する

か,又はその位置にとどまらなければならない。ただし,唯一の停止位置をもつスイッチの場合に,アク

チュエータが通常の停止位置を占める場合を除く。

13.2

及び 13.3 の要求事項の適否は,手動の試験によって判定する。この試験は,スイッチを製造業者の

指定どおりに取り付け,アクチュエータを通常に使用するときと同様に操作する。

必要があるときは,中間位置における接点の開離を 15.3 の耐電圧試験によって判定する。このとき,全

てのカバーを取り外すことなく,試験電圧を端子間に印加する。

13.4

引きひもスイッチは,操作させてから引きひもを手放したとき,機構に関連する部分は,その位置

から次の動きへの即時動作可能な位置にあるように構成されていなければならない。

適否は目視検査及び次の試験によって判定する。


58

C 4526-1

:2013

引きひもスイッチは,スイッチを製造業者の指定どおりに取り付け,鉛直方向へ

45 N

以下,又は鉛直に

45

°方向に

75 N

の弾みをつけない引張力を加えたり,力を解除するように引きひもを操作したとき,一つ

の位置から次の位置へ動作しなければならない。

13.5

多極スイッチは,

表 の 6.2 に準拠し,他の方法で製造業者が指定しない限り,全ての関連する極を

実質的に同時に開閉しなければならない。中性線開閉をもつスイッチは,中性線は他のものより前に投入

した後に遮断しなければならない。

適否は目視検査及び必要があるときは試験によって判定する。

14 

固形異物,水の浸入及び高湿状態に対する保護 

14.1 

固形異物の侵入に対する保護 

スイッチは,製造業者の指定どおり取り付けて使用したとき,固形異物に対して JIS C 0920 の 13.3 によ

る保護等級を指定しなければならない。

適否は,JIS C 0920 の試験によって判定する。

取外し可能な部品は取り外す。製造業者が指定した固形異物に対する保護等級で,機器の中又はその上

面に取り付けなければならないスイッチは,その機器を模擬するために閉じた箱の内部又はその上面に取

り付けて試験を行わなければならない。

第一特性数字が

5

及び

6

の場合には,この試験はカテゴリ

2

で実施し,試料が製造業者の指定事項を考

慮しつつ,最も不利な位置で

8

時間続行する。

8

時間の試験は,スイッチに定格最大電流を

1

時間,続い

て通電なしの状態を

1

時間繰り返す。

第一特性数字が

5

の場合には,次の条件を満たせば適合しているとみなす。

全ての動作が,製造業者が指定したとおり機能する。

端子の温度上昇は,16.2 によって試験したとき

55 K

を超えない。ただし,定格電流によって周囲温度

25

±

10

℃で行う端子温度上昇試験は除く。

15.3

の耐電圧試験を適用する。ただし,印加前の湿度処理はしない。試験電圧は,15.3 

75 %

とする。

充電部と接地金属,可触金属部又はアクチュエータとの間で放電が起きた形跡がない。

第一特性数字が

6

の場合には,試験後スイッチ内部にじんあいの堆積がなければ,保護構造は合格とす

る。

14.2 

水の浸入に対する保護 

水の浸入に対し,スイッチを指示されたとおりに取り付け使用したとき,その保護等級が指定されてい

なければならない。

適否は,通常使用の全ての姿勢で,JIS C 0920 の試験を行って判定する。スイッチは,試験前に

25

±

10

℃の温度で

24

時間放置する。

次に,JIS C 0920 に従って次の試験を行う。

 IPX1

スイッチは,排水口を開けて,JIS C 0920 の 14.2.1 の試験を行う。

 IPX2

スイッチは,排水口を開けて,JIS C 0920 の 14.2.2 の試験を行う。

 IPX3

スイッチは,排水口を閉じて,JIS C 0920 の 14.2.3 の試験を行う。

 IPX4

スイッチは,排水口を閉じて,JIS C 0920 の 14.2.4 の試験を行う。

 IPX5

スイッチは,排水口を閉じて,JIS C 0920 の 14.2.5 の試験を行う。

 IPX6

スイッチは,排水口を閉じて,JIS C 0920 の 14.2.6 の試験を行う。

 IPX7

スイッチは,排水口を閉じて,JIS C 0920 の 14.2.7 の試験を行う。


59

C 4526-1

:2013

試験直後,15.3 の耐電圧試験に耐え,絶縁物に箇条 20 の沿面距離及び空間距離を低下させることになる

水分の痕跡が,検出されてはならない。

a)

これらの試験中,スイッチには通電しない。また,水温はスイッチの温度と

5 K

以上の差があっては

ならない。

b)

取外し可能な部品は取り外す。

c)

ゴム又は熱可塑性プラスチック製のガスケット,ねじ式グランド,メンブレン,その他の封止方法は,

加熱槽の中で空気の自然循環によって換気しながらエージングを行う。

d)

  T

定格をもたないスイッチは,温度

70

℃±

2

℃,

T

定格をもっているスイッチは,温度 T

30

℃の

槽の中に

240

時間保持する。グランド又はメンブレンをもつスイッチは,箇条 11 に規定する導体を接

続する。グランドは,箇条 19 

表 21 に規定するトルクで締め付ける。外郭の固定ねじは,箇条 19

表 20 に規定するトルクで締め付ける。

e)

エージング直後,部品は槽から取り出し,直射日光を避けて少なくとも

16

時間,

25

±

10

℃に放置す

る。

f)

水の浸入に対する保護等級が,機器の内部又は上面への取付けに依存するスイッチは,その機器を模

した箱の内部又は上面に取り付けて試験を行う。

g)

第二特性数字が

3

及び

4

の場合には,JIS C 0920 に規定する手持ちスプレーノズルを使用することが

望ましい。

14.3 

高湿状態に対する保護 

スイッチは,通常使用時に生じる高湿度状態に対して耐えなければならない。

適否は,この箇条に規定する湿度処理を行った直後,15.2 及び 15.3 の試験を行って判定する。ケーブル

の挿入孔や排水口は,開いたままにする。防水スイッチの排水口は開けておく。

a)

着脱できる部品は取り外し,必要があるときは,本体部分と一緒に湿度処理を行う。

b)

湿度処理は,相対湿度

91 %

95 %

,温度

20

℃∼

30

℃の任意の温度 t±

1

℃の恒温恒湿槽内で行う。

c)

試料は,恒温恒湿槽に入れる前に,tt

4

℃の温度にする。試料は,槽の中に

96

時間保持する。

d)

この湿度処理の終了直後,取り外した部品を再び取り付けた後,15.2 及び 15.3 の試験を,恒温恒湿槽

の中又は特定の温度にした室内で実施する。

スイッチは,この規格の適合性を損なうような損傷があってはならない。

注記 1

通常,湿度処理前に,試料を特定の温度に

4

時間以上放置する。

注記 2

槽内を特定の状態に保つため,空気の定常的な循環及び断熱された槽を使用する。

15 

絶縁抵抗及び耐電圧 

15.1

スイッチは,十分な絶縁抵抗及び耐電圧をもっていなければならない。

適否は,14.3 の試験の直後に,15.2 及び 15.3 の試験によって判定する。

表 12 の試験電圧を次のとおり印加する。

機能絶縁は,スイッチの異極の間。各極の全ての部分を相互接続する。

基礎絶縁は,全ての充電部と基礎絶縁の外側の可触表面を覆った金属はく(箔)及び基礎絶縁に接触

している可触金属部との間。

二重絶縁は,相互接続された全ての充電部と外部を覆った,通常,基礎絶縁及び非可触金属部の表面

には触れない金属はく(箔)との間,並びにこれに続いて付加絶縁の内側の通常は非可触表面であっ

て,非可触金属部に接続されるものと,付加絶縁の外側の可触表面であって,可触金属部に接続され


60

C 4526-1

:2013

るものを別々に覆う

2

個の金属はく(箔)との間。

強化絶縁は,相互接続される全ての充電部と,強化絶縁の外側の可触表面を覆う金属はく(箔)及び

可触金属部との間。

接点間は,スイッチの各極の開路接点の間。

金属はく(箔)は,開口部中には押し込まないが,標準試験指によってコーナ及び類似箇所の中には押

し込む。

基礎絶縁及び付加絶縁を個別に試験することができない場合には,強化絶縁に規定した試験電圧を印加

する。

電子的スイッチに対する試験は,半導体スイッチング素子に直列に接続された機械的スイッチング素子

をもった電子的スイッチに対してだけ完全遮断及び微小遮断間で行う。

電子的スイッチにおいて,保護インピーダンス及び部品によって相互接続された極間には試験を実施し

ない。

15.2

絶縁抵抗は,約

500 V

の直流電圧を印加し,

1

分後に測定する。

絶縁抵抗は,

表 11 の値以上でなければならない。

表 11−最小絶縁抵抗値

絶縁

絶縁抵抗値

M

Ω

機能絶縁 2

基礎絶縁 2

付加絶縁 5

強化絶縁 7

注記

セラミックス又は磁器材料は,適切な絶縁抵抗をもつとみなし,絶縁抵抗試験は行わない。

15.3

試験は,周波数

50 Hz

又は

60 Hz

の実質的正弦波電圧を

表 12 に示す絶縁部又は遮断部に対して,表

中の電圧を印加する。

試験電圧は,

0 V

から

表 12 に示す値まで

5

秒以内で一様に上昇させ,

5

秒間その値を維持する。

フラッシュオーバー又は絶縁破壊が生じてはならない。電圧降下を伴わないグロー放電は無視する。


61

C 4526-1

:2013

表 12−耐電圧試験

試験を行う絶縁

又は遮断

b)

試験電圧(実効値)

a)

  V

定格電圧

50 V 以下

定格電圧

50 V を超え

130 V 以下

定格電圧

130 V を超え

250 V 以下

定格電圧

250 V を超え

480 V 以下

機能絶縁

c)

  500  1 300 1 500 1 500

基礎絶縁

d)

  500  1 300 1 500 1 500

付加絶縁

d)

−  1 300  1 500  1 500

強化絶縁

d) e)

 500  2 600 3 000 3 000

電子的遮断の間

100  400 500 700

微小遮断の間

100  400 500 700

完全遮断の間

500  1 300 1 500 1 500

注記 1 50

V 以下:JIS C 0365 で定義する過電圧に当てはまらず,電源に直接接続することを意

図していない。

注記 2 50

V 超え:JIS C 0365 に基づく値

−  機能,基礎,付加絶縁及び完全遮断における値は,式 U

N

+1 200 V で得られた値を丸

めた値になっている。

−  微小及び電子遮断の値は,式 U

N

+250 V で得られた値を丸めた値になっている。

注記 3  この規格では,ラインとニュートラル間の最大電圧を U

N

=300 V とみなす。

a)

  試験に使用する高電圧変圧器は,出力電圧を試験電圧に設定し,出力端子を短絡したとき

出力電流が 200 mA 以上流れるように設計されたものでなければならない。過電流リレー
は,出力電流が 100 mA 未満で動作してはならない。測定した試験電圧の実効値が±3 %以
内になるように注意する。

b)

  通常では試験できない放電ランプ,コイル,巻線又はコンデンサのような特殊部品は,絶

縁部を適切に試験できるよう一極を遮断するか又はブリッジする。このことが箇条 16 及び
箇条 17 の試験のために使用される試料上で実施できない場合には,15.3 の試験を追加試料

で実施する。この試料は,該当する構成部品を省略した特殊なものでよい。

c)

  例として,極間絶縁がある(3.7.5 参照)。

d)

  基礎絶縁,付加絶縁及び強化絶縁の試験に対しては,全ての充電部を相互接続し,全ての

可動部分は最も不利な位置にあるように注意する。

e)

  二重絶縁ばかりではなく強化絶縁をもつスイッチは,強化絶縁に印加した電圧が二重絶縁

の基礎絶縁及び付加絶縁部分に過度なストレスが加わらないよう,注意しなければならな

い。

16 

温度上昇 

16.1 

一般要求事項 

スイッチは,通常の使用中過度の温度上昇のない構造でなければならない。スイッチは,最大定格電流

又は宣言された熱的電流,及び定格温度における通常の使用中の動作で,スイッチの機能に悪影響を及ぼ

す材質を使用してはならない。

16.2 

接点及び端子 

16.2.1

接点及び端子の材料並びに設計は,その酸化,その他の劣化によって,スイッチの動作及び機能に

悪影響を及ぼさないようなものでなければならない。

16.2.2

適否は,目視検査及び次の試験によって判定する。

試験は,次のとおり実施する。

a)

未処理導体用の端子をもつスイッチは,製造業者が

1 m

以下であると宣言した場合を除いて,長さ

1 m

以上で,

表 に示す中間断面積をもつ導体,又は製造業者が導体を指定した場合には,その指定導体


62

C 4526-1

:2013

のうちスイッチの最大定格電流に対する最小断面積の導体を取り付ける。

b)

端末処理導体用の端子をもつスイッチは,製造業者が宣言している場合には

1 m

以下で製造業者が指

定した該当の断面積をもった導体を取り付ける。

c)

端子ねじ及び/又はナットは,

表 20 の該当欄に規定する該当トルクの

3

分の

2

で締め付ける。

d)

自動復帰スイッチのアクチュエータは,指定された“

ON

”位置に固定する。

e)

ねじなし端子をもつスイッチは,箇条 11 に準拠して導体が端子に正しく取り付けなければならない。

f)

同時に閉路するスイッチの極は,導体を用いて直列に接続してもよい。極間の導体は,製造業者が宣

言した場合を除き,

1 m

以上でなければならない。

g)

スイッチは,強制対流のない加熱槽又は冷却槽内に指定されたとおりに設置するか,又は通気フリー

の周囲温度で試験する。

注記 1

強制対流がある槽は,試料に影響を与えない範囲で使用できる。

注記 2

電子的スイッチは,ヒータ又は冷蔵キャビネットでは使用しない。

h)

 55

℃以下の

T

定格をもつスイッチは,周囲温度

25

±

10

℃で試験する。

55

℃を超える

T

定格をもつ

スイッチは,強制対流のない加熱槽の中で温度をスイッチの

T

定格まで上げる。槽の温度は,T±

5

又は T±

0.05

のうちいずれか大きい方に保持する。

一部分だけが

55

℃以上の定格周囲温度をもつスイッチは,指定どおり取り付けたとき,人体に触

れやすい部分は,

55

℃未満の温度にさらさなければならない。

i)

周囲温度は,試料が占める空間の中心部にできるだけ近く,試料から約

50 mm

離れたところで測定し

なければならない。

j)

試験回路は

図 18 参照。スイッチ

A

を閉路して負荷する。

次に,試料を無負荷で

20

回動作させる。アクチュエータは,最も不利な“

ON

”の位置に置き,抵

抗負荷の最大定格電流の

1.06

倍の電流を通電する。多くの“

ON

”位置がある場合には,最も不利な

位置で試験を行う。試験回路には,交流,直流いずれを使用してもよい。

試験結果に疑義が生じた場合には,定格電圧,定格負荷抵抗電流で試験を行う。交流電圧用に設計

されたスイッチ又は直流定格で極性の指定がないスイッチについては,直流電圧による試験を両方の

極性で行い,平均値を計算する。

7.1.13.4.1

7.1.13.4.5 に分類する多投スイッチは最大の温度上昇をもたらす 17.2.1.1 に示す負荷とす

る。

宣言された特定負荷に用いるスイッチの個別負荷の分類は,製造業者宣言に従わなければならない。

k)

接点及び通電部以外の発熱部品又は端子部の温度に影響を与える部品は,試験中通電しない。これら

の部品は,取り外すか,発熱の影響が最小になるよう試験電圧を選択しなければならない。

l)

この最大定格電流は,

1

時間以上又は端子部の温度が飽和するまで通電する。

5

分間隔で連続

3

回の読

み取りを行い,±

2

℃以上の変化がない場合には,飽和に達したとみなす。

注記

試験中,電流が安定した状態を保つよう注意する。

m)

端子温度は,細線の熱電対を用い,温度に影響を与えないようにできるだけスイッチ本体に近い端子

部に取り付けて測定する。熱電対を直接端子部に取り付けることができない場合には,スイッチにで

きるだけ近い導体上に固定してもよい。

n)

端子の温度上昇は,

45 K

を超えてはならない。

o)

電子的スイッチには,次の追加試験条件を適用する。

半導体のスイッチング素子と直列に接続する電気接点の試験では半導体のスイッチング素子は短絡


63

C 4526-1

:2013

する。

コードスイッチは,鈍い黒塗り合板表面上の標準位置に置いて試験をする。

半導体スイッチング素子と並列接続した機械的接点がスイッチにある場合には,温度上昇は接点が

閉じる直前に測定する,又は,特別に準備された試料でスイッチの温度上昇を測定してもよい。

7.1.17.1

7.1.17.2 及び 7.1.17.4 に従って分類したスイッチは,抵抗性負荷を使用して a)n)に規定す

るように試験する。

最終用途での試験条件を規定されたスイッチ(7.1.17.3 参照)は,製品の中又は製品とともに試験を

行う。

16.3 

その他の部品 

16.3.1

スイッチのその他の部品は,通常の使用においてスイッチの性能・動作を損なうか,又はスイッチ

の使用者若しくは近接部品に危害を与えるような過度の温度に達してはならない。

16.3.2

機械的スイッチに関して,適否は,次の試験によって判定する。

a)

全てのスイッチの試験は,

指定どおり取り付けたスイッチに導体を取り付け,

最大定格温度において,

16.2.2

に規定する試験電流を通電する。

b)

一部分だけが

55

℃以上の定格周囲温度をもつスイッチは,指定どおり取り付けたとき,可触部品は,

55

℃未満の温度にさらさなければならない。

c)

試験装置の金属取付け面の温度は,

20

℃の間になければならない。

d)

他の発熱源をもつスイッチは,

これらの回路は指定された最大電力に置かなければならない。

そして,

定格電圧の

0.94

倍と

1.06

倍の間で最大の発熱をする電圧を加える。

注記

上記発熱源の例は,抵抗器を組み付けている白熱電球又は放電ランプである。

e)

表 13 に示したスイッチの部品及び表面の温度は,試験している部品の温度の影響を最小にするように

位置決めした細線の熱電対,又は他の同等の手段によって測定しなければならない。

f)

表面温度の測定に用いる熱電対は,直径

5 mm

厚さ

0.8 mm

の銅又は黄銅の黒色にした円板の背面に取

り付ける。

円板はできる限り,通常使用のときに最高温度に達すると思われる位置に置く。

g)

アクチュエータの温度を測定する場合には,通常の使用中に手で握る全ての部品,及び高温金属に接

触している非金属部品を配慮しなければならない。

h)

試験中,温度は,

表 13 に規定する数値を超えてはならない。

注記

表 13 の最高温度は,JIS C 9335-1 に規定した数値に基づいている。これらの値は検討中であ

り,見直しが必要になる。

16.3.3

電子的スイッチでは,適否は次の試験によって判定する。

a)

電子的スイッチは,宣言されたように取り付け,

表 に従って導体を取り付けなければならない。試

験は最大定格温度で実施する。

試験回路は

図 18 に示す。スイッチ

A

を閉じて定格電圧で負荷をセットする。

試験中,電子的スイッチは通電しなければならない。電子的スイッチは最も望ましくないオン位置

のままとする。

二つ以上オン位置がある場合には,

最も望ましくない位置で検証しなければならない。

スイッチに,半導体のスイッチング素子と並列接続された機械的接点がある場合には,接点が閉じ

る直前の位置の温度を記録する。

試験中,電圧は,定格電圧の

0.94

1.06

倍で,最も多くの熱を発生する方にしなければならない。

熱電流での試験中では,一つ又は幾つかの基準点を選んで温度を記録する。


64

C 4526-1

:2013

注記 1

温度記録は,最大電流及び冷却条件下で最終用途における比較加熱試験に用いることがで

きる。

負荷条件は次のとおりである:

熱電流が宣言されていない電子的スイッチでは,定格電流及び負荷タイプにて試験を実施する。

熱電流が宣言された電子的スイッチでは,指定熱電流及びデューティタイプで試験を実施する。

特別最終用途用電子的スイッチでは,機器の中で又は機器とともに試験を実施する。

注記 2

最終用途に存在する冷却条件下で,定格デューティタイプを用いた最終用途の全負荷電流

で起こる加熱は,熱電流での試験中に記録される値よりも高くない方がよい。

注記 3

適切な基準点に関する情報(例えば,メタルヒートシンク,ヒートシンクに関する絶縁材)

は,製造業者によって与えられることがある。

b)

 35

℃又は

55

℃を超える定格周囲温度(分類 7.1.3.4 又は 7.1.3.1)を部分的にもつ電子的スイッチにお

いて,電子的スイッチを宣言どおりに取り付けたとき,可触となるその対象部分は,

35

℃又は

55

よりも高くない温度にさらさなければならない。

c)

試験装置の金属取付け表面の温度は,と周囲温度との間でなければならない。

d)

電子部品以外の熱源を電子的スイッチに組み込んだり統合した場合には,回路は宣言された最大電力

であり,定格電圧の

0.94

1.06

倍の電圧をもつ電源の最も高い熱を生じるものに接続する。

注記

熱源の例は,白熱電球又は抵抗器を組み込んだ放電ランプアセンブリがある。

e)

表 13 に示すスイッチの部品及び/又は表面の温度は,試験中の部品の温度に最小の影響をもつように

選択及び位置になるようにして,微細熱電対又は他の同等の方法による手段で決定する。

巻線の最大温度は,抵抗法によって温度上昇 を計算し,その値に周囲温度を加算する。

銅巻線の温度上昇は,次の式から計算する。

t

(

R

2

R

1

)(234.5

t

1

)/

R

1

(

t

2

t

1

)

ここに,

t: 温度上昇

R

1

試験の始めの抵抗

R

2

試験の終わりの抵抗

t

1

試験の始めの周囲温度

t

2

試験の終わりの周囲温度

試験の始めには,巻線は周囲温度でなければならない。

注記

試験の終わりの巻線の抵抗は,スイッチをオフにした後にできる限り早く抵抗測定を行って

決め,抵抗対時間のグラフを描いてスイッチをオフにした瞬間の抵抗を確かめるためにプロ

ットできるように短い間隔にすることが推奨されている。

f)

表面温度を測定するために使用する熱電対は,直径

5 mm

,厚さ

0.8 mm

の銅又は黄銅の黒い円板の裏

に取り付ける。

できる限り,円板は通常使用で最大温度を達成する可能性のある表面の当該部分に配置する。

g)

アクチュエータの温度を測定するときには,使用時につかむ全ての部品,及び熱くなった金属と接触

する非金属部品に考慮を払わなければならない。

h)

最大温度上昇が起こるように設定(何らかの設定がある場合)を調整する。

試験中,スイッチの状態は変化してはならず,ヒューズ又は他の保護具が動作してはならず,

表 13

の通常状態の欄の許容最大温度を超えてはならない。

注記 1

スイッチ状態の小さな故意でない変動,例えば,位相角の可逆変動は無視する。

注記 2

試験中には,21.1 の試験を行う必要のある温度を測定する。


65

C 4526-1

:2013

表 13−許容最高温度

箇所

最高温度

通常状態

16.3.2

及び 16.3.3

異常状態

箇条 23

取外しできないケーブル及びコードのゴム絶縁又は塩化ビニル絶縁

−  T マークなし .......................................................................................

75

a)

T

b)

−  T マークあり .......................................................................................

T

b)

T

b)

付加絶縁として使用したコードの被覆 ......................................................

60

120

性能低下が安全性に影響を与えるおそれがあるガスケット又はほかの
部品に使用されるゴム。ただし,合成ゴムを除く。

−  付加絶縁又は強化絶縁として使用される場合 ...............................

65

125

−  その他の場合 .......................................................................................

75

135

絶縁材料。ただし,電線用のものを除く。

−  プリント配線板 ...................................................................................

c) 

次のものによる成型

−  熱硬化性材料 .......................................................................................

d) i)

−  熱可塑性材料 .......................................................................................

d) 

アクチュエータ又はハンドルを除く,全ての可触表面 85

100

短時間だけつかむアクチュエータ又はハンドルの可触表面

−  金属製................................................................................................... 60

100

−  陶器又はガラス製 ...............................................................................

70

100

−  成形材料又はゴム製 ...........................................................................

85

100

絶縁材料の外郭の内側 ..................................................................................

e) 

巻線−温度階級

f)

−  クラス A ...............................................................................................

100

135

−  クラス E ...............................................................................................

115

150

−  クラス B ...............................................................................................

120

155

−  クラス F ...............................................................................................

145

180

−  クラス H ...............................................................................................

165

200

−  クラス 200 ............................................................................................

185

220

−  クラス 220 ............................................................................................

205

240

−  クラス 250 ............................................................................................

235

270

表 による未処理導体用の端子及び端子部 ..............................................

80

g)

 125

h)

その他の端子及び端子部 ..............................................................................

g) 

125

h)

a)

  この限度値は,IEC 規格に適合するケーブル,コード及び電線に適用する。その他のものにあっては“電

気用品の技術上の基準を定める省令(昭和 37 年通商産業省令第 85 号)の別表第四 1(1)ロの細則 3”に

適合しなければならない。

b)

  この限度値は,高温用ケーブル,コード及び線材に対する IEC 規格ができ次第適用される。

c)

  材料は,IEC 60893-1 に従わなければならない。最高許容温度は,これら材料に対して,使用中安全で

あることを証明できる温度を超えてはならない。

“電気用品の技術上の基準を定める省令(昭和 37 年通

商産業省令第 85 号)の別表第四 1(1)ロの細則 3”に適合するものは,使用中安全であることを証明でき
る温度を超えないとみなす。

d)

  この材料は,箇条 21 の試験に耐えなければならない。その試験目的に対して,温度が決定されなければ

ならない。

e)

  絶縁材料の外郭の内側での許容温度上昇は関連する材料で示される。

f)

  温度階級は,平均温度と最高温度との間で異なるために,JIS C 4003 に従った温度階級に対し次の減少

がある。

−  クラス A 及び E 5

−  クラス B 及び F 10

−  クラス H∼250 15


66

C 4526-1

:2013

表 13−許容最高温度(続き)

g)

  温度測定は,製造業者が高い温度を宣言する場合を除いて,80  ℃を超えてはならない。

h)

  温度測定は,製造業者が高い温度を宣言する場合を除いて,125  ℃を超えてはならない。

i)

  機械的スイッチに関しての最大許容温度は,これら材料に対し使用中安全であることを証明できる温度

を超えないものでなければならない。材料は箇条 21 の試験に耐えなければならない。その目的のために
温度を測定しなければならない。 

表 14−電子的スイッチに使われる熱硬化性樹脂の温度

箇所

最高温度

通常状態

16.3.2

及び 16.3.3

異常状態

箇条 23

配線材以外の絶縁物

−  メラミンホルムアルデヒド,フェノールホルムアルデヒド又は

フェノールフルフラール樹脂

135(225)

a)

 145(225)

a)

−  ユリアホルムアルデヒド樹脂 115(200)

a)

 125(200)

a)

モールド

−  セルローズ充塡材入フェノールホルムアルデヒド 110(200)

a)

 165(200)

a)

−  無機充塡材入フェノールホルムアルデヒド 125(225)

a)

 185(225)

a)

−  メラミンホルムアルデヒド 100(175)

a)

 175

−  ユリアホルムアルデヒド

90(175)

a)

 175

−  ガラス繊維強化ポリエステル 135

185

−  シリコンゴム 170

225

−  ポリテトラフルオロエチレン 290

290

a)

  括弧の数値は,材料が高温金属部に接触している場合に適用し,電気的ストレスには用いない。

17 

耐久性 

17.1 

一般要求事項 

17.1.1

スイッチは,過度の摩耗又は有害な結果をもたらすことなく,通常の使用中に生じる電気的,熱的

及び機械的ストレスに耐えなければならない。

電子的スイッチ以外の全てのスイッチについて,その適否は 17.1.2 によって判定する。

電子的スイッチでは,適否は 17.1.3 によって判定する。

注記

異なる種類の試験については,17.2.4 に規定する。

17.1.2

電子的スイッチ以外の全てのスイッチについての試験手順は,次のとおりである。

17.2.4.3

に規定する高速での試験。この試験は

2

極以上のスイッチだけに適用し,接続の種類は極性反

転形である。

17.2.4.2

に規定する低速での試験。

17.2.4.1

に規定する加速速度での増加電圧試験。この試験は 7.1.2.9 に従って分類したスイッチには適

用しない。

加速速度での 17.2.4.9 に規定するロックドロータ試験。この試験は 7.1.2.9 に従って分類したスイッチ

だけに適用する。

17.2.4.4

に規定する加速速度での試験。

17.2.4.10

に規定する超低速での試験は,13.1 に規定しているスイッチだけに適用する。

16.2

に従う温度上昇試験。ただし,端子での温度上昇試験を定格電流及び

25

℃±

10

℃の周囲温度で


67

C 4526-1

:2013

実施する。

15.3

に従う耐電圧試験。ただし,試料は試験電圧を印加する前に湿度処理を受けない。試験電圧は,

該当する項に規定した対応する試験電圧の

75 %

でなければならない。

17.1.3

電子的スイッチは,7.1.17 の分類によって次の試験条件に従い,

表 15 に規定するように試験する。

熱電流を宣言せず強制冷却なしの場合に,熱電流及び最大定格抵抗性電流のときの 7.1.17.1 に従う機

能的試験条件。

7.1.17.2

に従う模擬試験条件下で 7.1.2 に従うタイプの負荷を用いたとき,及び 7.1.15 に分類した冷却

条件下で

表 17 及び表 18 に規定する試験条件。

7.1.17.3

に従う最終用途の特定試験条件下で,機器の中又は機器と一緒に機器の冷却条件下で。

7.1.17.4

に従うデューティタイプに従う試験条件下で,試験は模擬試験条件又は最終用途の特定試験条

件と組み合わせて行うことができる。

注記

追加機械的動作手段(例えば,電気工具用の速度制限設定などのアクチュエータ)は無視す

る。

これらの試験の電気,熱及び機械的条件は,17.2.117.2.2 及び 17.2.3 に規定するとおりでなければなら

ない。


68

C 4526-1

:2013

15

気的

接点を

もつ

はもた

ない

異な

るタ

イプ

電子的

スイ

ッチ

の電

気的

久性

試験条件

最終用途の特定試験条件(

7.1.17.

3

接点だけ

直列接点:

TL4

をもつ

TC7

TE1

TE3

(短絡回路

SSD

b)

並列接点:

TL4

をもつ

TC7

TE1

TE3

(非接続

SSD

直列接点:

TL4

をもつ

TC7

TE1

TE3

(短絡回路

SSD

b)

並列接点:

TL4

をもつ

TC7

TE1

TE3

(非接続

SSD

完成スイッチ

TL4

TC5

TC6

TC8

TE1

TE3

TL4

TC5

TC8

TE1

TE3

TL4

TC5

TC8

TE1

TE3

TL4

TC5

TC8

TE1

TE3

模擬試験(

7.1.1

7

.2

17

18

接点だけ

直列接点:

TC1

TL3

をもつ

TC

7

TE1

TE3

(短絡回路

SSD

b)

並列接点:

TC1

TL3

をもつ

TC

7

TE1

TE3

(非接続

SSD

直列接点:

TC1

TL3

をもつ

TC

7

TE1

TE3

(短絡回路

SSD

b)

並列接点:

TC1

TL3

をもつ

TC

7

TE1

TE3

(非接続

SSD

完成スイッチ

TL3

TC5

TC6

TC8

TE1

TE3

TL3

TC5

TC6

TC8

TE1

TE3

TL3

TC5

TC6

TC8

TE1

TE3

TL3

TC5

TC6

TC8

TE1

TE3

機能性試験(

7.1.17

.1

接点だけ

直列接点:

TC1

TL2

をもつ

TC4

TE1

TE3

(短絡回路

SSD

b)

並列接点:

TC1

TL2

をもつ

TC4

TE1

TE3

(非接続

SSD

直列接点:

TC1

TL2

をもつ

TC4

TE1

TE3

(短絡回路

SSD

b)

並列接点:

TC1

TL2

をもつ

TC4

TE1

TE3

(非接続

SSD

完成スイッチ

TL1

TC5

TC6

TC8

TE1

TE3

TL1

TC5

TC6

TC8

TE1

TE3

TL1

TC5

TC6

TC8

TE1

TE3

TL1

TC5

TC6

TC8

TE1

TE3

電子的スイッチのタイプ

c)

電子的接点

をもたない

SSD

a)

直列接点の

SSD

並列接点の

SSD

直列及び

並列接点の

SSD


69

C 4526-1

:2013

15

気的

接点を

もつ

はもた

ない

異な

るタ

イプ

電子的

スイ

ッチ

の電

気的

久性(

続き

TL

 =

 試験負荷のタイプ:

TL1

 熱電流,もし熱電流が宣言されていない場合

は最大定格電流

TL2

 最大定格抵抗性電流

TL3

 定格負荷(

7.

1.2

TL4

 宣言された特定負荷(

7.1.2

.5

TC

 試験条件のタイプ:

TC1

 加速速度における増加電圧試験(

17.2.4.

1

TC2

 低速での試験(

17.

2

.4.2

TC3

 高速での試験(

17.

2

.4.3

TC4

 加速速度での試験(

17.2

.4.

4

TC5

 手動機能試験:電子的スイッチの最大機能を

作させるために最大手動速

20

回動作させる(

17.

2.

4.5

)。

TC6

 最小負荷での機能試験(

17.2.

4.6

TC7

 TC

4

の試験条件による。動作サイクル回数:

1 000

回又は宣言されたサイクル数のうち少ない方(

17.2.4.

7

TC8

 加速速度での全動作サイクル数(

17.2.4.

8

TE

 試験評価のタイプ

TE1

 機能的適合性(

17

.2

.5.1

TE2

 熱的適合性(

1

7

.2

.5

.2

TE3

 絶縁適合性(

1

7

.2

.5

.3

a)

 SSD

 =

 半導体スイッチング素子

b)

短絡は最大定格電流をもっ

端子,接点及び他の部品に

大定格電流が負荷されるよ

な方法で行われる。

c)

 SSD

と機械的接点の組合せで

かつ,

SSD

と機械的接

点の

機能が互いに独立している

合には,

機械的接

点に対して

はパート

1

の要求事項を適用

する


70

C 4526-1

:2013

17.1.4

規定された全ての試験を行った後で,試料は 17.2.5 の要求事項を満たさなければならない。

17.2 

電気的耐久性試験 

17.2.1 

電気的条件 

17.2.1.1

スイッチは,

表 17 及び/又は表 18 に規定するように負荷を使用し,該当する場合には,7.1.13

に従う宣言に応じて,

表 に示す回路に従って接続しなければならない。

宣言された特別なタイプのスイッチ及び/又は接続は,製造業者が指定するような接続及び負荷を用い

る。

外部負荷に用いることが意図されていない回路及び接点は,指定負荷とともに動作させる。

ここで,

表 において,補助スイッチ(

A

)は試験回路で記号で表され,試料(

S

)の二つのオン位置に

ついての試験は,二つの別々の組の試験サンプルで行う。

2

回の試験で行う試験負荷との接続は,

表 

中に補助スイッチ

A

によって記号で表されている。

7.1.13.4.2

7.1.13.4.5 に従って分類した多投スイッチは,

表 16 に従って負荷をかける。

表 16−多投スイッチの試験負荷

動作サイクル

スイッチ位置

スイッチのタイプ

負荷

最初の半周期

高負荷

7.1.13.4.2

7.1.13.4.5

I

R

次に低負荷

7.1.13.4.2

7.1.13.4.5 0.8×I

R

次の次の低負荷

7.1.13.4.5 

0.533×I

R

2 番目の半周期

高負荷

7.1.13.4.2

7.1.13.4.5

I

R

次に低負荷

7.1.13.4.2

7.1.13.4.5 0.5×I

R

次の次の低負荷

7.1.13.4.5 

0.333×I

R

他のスイッチ位置での負荷は,前述のように規定した条件を達成するために必要な負荷から起因する負

荷とする。

特定ランプ負荷を用いた 7.1.2.7 の試験回路において,接続及び試験負荷は,室温において最大インラッ

シュ電流が発生するように製造業者が指定したとおりに設定する。

7.1.2.6

に分類される

20 mA

負荷のスイッチには,電気耐久性試験は必要ない。

注記

特定ランプ負荷では,合成負荷よりもむしろ,現場で使用する負荷で試料を動作させることが

推奨される。各動作サイクルの冷間抵抗を維持するため,また,時間を節約するために特定ラ

ンプ負荷に強制冷却を行ってもよい。

電子的スイッチでは,試験回路は

図 19 に示すとおりでなければならない。電子的スイッチを回路に挿入

する前に,宣言された負荷は定格電圧で設定しなければならない。

17.2.1.2

過電圧条件が規定されている場合には,使用される負荷は,定格電圧での試験設定のままで,電

圧を定格電圧の

1.15

倍に増加させる。

交流回路での容量性負荷試験及び模擬ランプ負荷試験のための試験回路では,試験電圧は定格電圧であ

り,試験電流は定格電流の

1.15

倍に増加させる。


71

C 4526-1

:2013

表 17−交流回路に対する電気的耐久性試験のための試験負荷

7.1.2

において分類された

回路のタイプ

接点の動作

試験電圧

試験電流

(実効値)

力率

c)

実質的に抵抗性負荷 
7.1.2.1 に分類)

投入及び遮断

定格電圧

I-R

≧0.9

抵抗性及び/又はモータ 
7.1.2.2 に分類)

投入

b)

定格電圧

I-又は I-R

a)

 0.60(+0.05)

≧0.9

遮断

定格電圧

I-又は I-M

a)

≧0.9 
≧0.9

e)

ロックドロータで力率 0.6
以上のモータの特定負荷用
回路

7.1.2.9 で分類)

投入

定格電圧

I-M 0.60(+0.05)

遮断

定格電圧

I-M 0.60(+0.05)

誘導性負荷用の回路 
7.1.2.8 で分類)

投入

b)

定格電圧

I-I 0.60(+0.05)

遮断

定格電圧

I-I 0.60(+0.05)

抵抗性及び容量性負荷

7.1.2.3 に分類)

投入及び遮断

図 9 a)に示す回路の中で試験する。

白熱電球負荷

7.1.2.4 に分類)

投入及び遮断

図 9 a)

d)

に示す回路の中で試験する。

定格電圧≧交流 110 V,X=16 
定格電圧<交流 110 V,X=10

特定ランプ負荷の回路

7.1.2.7 に分類)

投入及び遮断

定格電圧

負荷によって定まる値

宣言した特定負荷

7.1.2.5 に分類)

投入及び遮断

定格電圧

負荷によって定まる値

記号  I-I=誘導性負荷電流 

I-M=モータ負荷電流

I-R=抵抗性負荷電流

a)

  いずれか算術的に大きい方,又は同じ値の場合には最も不利な値。

b)

  規定された閉路条件は,50 ms∼100 ms の間保持する。そしてその後補助スイッチを用いて規

定された開路条件にまで減少させる。

電子的スイッチを除いて全てのスイッチの試験電流は,回路に抵抗を入れて I-まで減少さ

せる。I-まで減少する間の試験電流の 50 ms∼100 ms を超えない短い遮断は認められる。

電子的スイッチに関して遮断電流の減少は,異常時瞬時電圧が発生しないことを確実にする

ために,擬似誘導性負荷回路の開回路しないで達成すべきである。

この典型的な達成方法は,

図 19 に従う。

c)

  抵抗器とインダクタは並列に接続しない。ただし,空しんインダクタを用いる場合には,イン

ダクタを流れる電流のほぼ 1 %の電流を分流する抵抗器をインダクタに並列に接続する。鉄し
んインダクタは,電流が実質的に正弦波形である場合に使用してもよい。3 相試験は 3 しんイ
ンダクタを用いる。

d)

  試験を白熱電球で実施するときは,試験状態は,次のとおりとする。

−  X=16 又は X=10 で行う。 
−  ランプの冷抵抗は,各動作サイクルで確実にする。

−  負荷回路(

例  ランプソケット)内に接続する抵抗は,一定とする。

−  負荷セットのランプ性能の本来の機能は,各動作サイクルで確実にする。

e)

  図 18 に従った電子的スイッチの試験に関する試験回路は,実質抵抗性でなければならない。


72

C 4526-1

:2013

表 18−直流回路に対する電気的耐久性試験のための試験負荷

7.1.2

において分類された

回路のタイプ

接点の動作

試験電圧

試験電流

時定数

(±1 ms)

実質的に抵抗性負荷

投入及び遮断

定格電圧

I-R L/R<1.15 ms

白熱電球負荷

7.1.2.4 に分類)

投入及び遮断

図 9 b)

a)

に示す回路の中で試験する。

定格電圧≧直流 110 V で,X=16 
定格電圧<直流 110 V で,X=10

抵抗性及び容量性負荷 
7.1.2.3 に分類)

投入及び遮断

図 9 b)に示す回路の中で試験する。

特定ランプ負荷の回路 
7.1.2.7 に分類)

投入及び遮断

定格電圧

負荷によって定まる値

宣言した特定負荷

7.1.2.5 に分類)

投入及び遮断

定格電圧

負荷によって定まる値

記号  I-R=抵抗性負荷電流

a)

  この場合の試験は白熱電球で実施し,次の試験状態を適用する。

−  X=16 又は X=10 で行う。

−  ランプの冷抵抗は,各動作サイクルで確実にする。 
−  負荷回路(

例  ランプソケット)内に接続する抵抗は,一定とする。

−  負荷セットのランプ性能の本来の機能は,各動作サイクルで確実にする。

17.2.2 

熱的条件 

17.2.2.1

7.1.3.2

及び 7.1.3.4.2 に従ったスイッチにあっては,17.2.4.4 及び 17.2.4.7 の試験は,試験期間の最

初の半分に対しては最高周囲温度(T

5
0

)℃において実施する。試験期間の残りの半分に対しては,試験

は,

25

℃±

10

℃又は 

0

℃より低いときは最低周囲温度(T

0

5

)℃において実施する。

17.2.2.2

7.1.3.3

に従ったスイッチにおいて,17.2.4.4 及び 17.2.4.7 の試験中,

0

℃∼

55

℃の間で使用する

ことが宣言されている部分は,試験の間はこの範囲の温度にさらさなければならない。

スイッチの他の部分の周囲温度は,試験期間の最初の半分を最高周囲温度(T

5
0

)℃に維持しなければ

ならない。

試験期間の残りの半分の時間に対しては,試験は,

25

℃±

10

℃において,又はもし 

0

℃より低い

ときは,最低周囲温度(T

0

5

)℃において実施する。

17.2.3 

手動又は機械的条件 

17.2.3.1

スイッチは,手動又は通常操作を模擬するために配置した適切な機器によってアクチュエータに

よって動作させる。

動作サイクルの動作スピードは,電子的スイッチ以外のスイッチの試験に関しては,次による。

a)

低速度の場合

 45

°以下動作角度での,回転操作に対して,約

9

°

/s

 45

°を超える動作角度での,回転操作に対して,約

18

°

/s

直線操作に対して,約

20 mm/s

b)

高速度の場合  高速度の場合には,アクチュエータを手動によってできるだけ早く操作しなければな

らない。スイッチがアクチュエータなしで納品されるときは,適切なアクチュエータをこの試験の目

的のために製造業者が供給しなければならない。

c)

加速速度の場合

 45

°以下動作角度での,回転操作に対して,約

45

°

/s

 45

°を超える動作角度での,回転操作に対して,約

90

°

/s


73

C 4526-1

:2013

直線操作に対して,約

80 mm/s

動作サイクルの動作スピードは,電子的スイッチの試験に関しては,次による。

d)

低速度の場合

回転操作に対して,約

9

°

/s

直線操作に対して,約

5 mm/s

e)

高速度の場合  高速度の場合には,アクチュエータを手動によってできるだけ速く操作しなければな

らない。スイッチがアクチュエータなしで納品されるときは,適切なアクチュエータをこの試験の目

的のために製造業者が供給しなければならない。

f)

加速速度の場合

回転操作に対して,約

45

°

/s

直線操作に対して,約

25 mm/s

17.2.3.2

自力復帰スイッチにおいては,アクチュエータは反対側のポジションの動きの限度まで動かさな

ければならない。

17.2.3.3

低速度試験中,試験機とアクチュエータとの間に著しいバックラッシュなしに,試験機はアクチ

ュエータを確実に駆動するように注意を払わなければならない。

17.2.3.4

加速速度試験を行っている間は,次による。

a)

試験機は,アクチュエータが自由に動くことを妨げないことを保証し,その結果機構が正常な活動を

することを妨げるものがないように注意しなければならない。

b)

動きがいずれの方向にも制限されていない回転操作をする設計のスイッチにおいては,各試験の合計

操作回数の

4

分の

3

は時計方向において,そして

4

分の

1

は反時計方向において行わなければならな

い。

c)

一方向だけに回転操作される設計のスイッチにおいては,試験は,設計された方向において行われな

ければならない。ただし,設計方向に回すのに必要なトルクを用いてアクチュエータを逆方向に回転

させることが不可能である場合に限る。

d)

これらの試験を行っている間,潤滑剤を追加してはならない。

e)

アクチュエータの最終停止位置へかかる力は,回転及び直線的動作に対して宣言された値(もしある

ときは)を超えてはならない。宣言されたアクチュエータの動作長を試験中適用する。

17.2.3.4.1

17.2.4.9

に規定するロックドロータ試験,

図 9 a)及び図 9 b)に従った容量性及び擬似ランプ負荷

による試験を除き,設計上許される限り,スイッチは次の一定の割合で動作させる。

定格電流が

10 A

以下の場合には,

1

分間

30

回の動作。

定格電流が

10 A

を超え

25 A

未満の場合には,

1

分間

15

回の動作。

定格電流が

25 A

以上の場合には,

1

分間

7.5

回の動作。

ON

期間は約

25 %

,及び

OFF

期間は約

75 %

の動作サイクルで実施する。

7.1.13.2.3

7.1.13.2.57.1.13.2.7 及び 7.1.13.2.9 に従って分類したスイッチの

ON

期間は,約

50 %

とする。

17.2.3.4.2

ロックドロータ試験に関してスイッチは,

1

秒間

ON

30

秒間

OFF

の割合で動作させる。

17.2.4 

試験条件のタイプ(TC 

17.2.4.1 

加速速度における増加電圧試験(TC1 

電気的条件は,17.2.1 で増加電圧に対し規定したとおりとする。

動作方法は,17.2.3 で加速速度に対し規定したとおりとする。


74

C 4526-1

:2013

動作サイクル回数は,

100

とする。

17.2.4.2 

低速での試験(TC2 

電気的条件は,17.2.1 に規定するとおりとする。

動作方法は,17.2.3 の低速度に規定された方法とする。

動作サイクル回数は

100

とする。

17.2.4.3 

高速での試験(TC3 

この試験は,

2

極以上をもち,極性反転が起こるスイッチだけに適用する。

電気的条件は,17.2.1 に規定するとおりとする。

動作方法は,17.2.3 の高速度に規定された方法とする。

動作サイクル回数は,

100

とする。

17.2.4.4 

加速速度での試験(TC4 

電子的スイッチを除く全てのスイッチでは,電気的条件は 17.2.1 に規定するとおりとする。

電子的スイッチでは,電気的条件は

表 15 に規定するとおりとする。

熱的条件は 17.2.2 に規定するとおりとする。

動作サイクル回数は,7.1.4 に従って宣言した回数から,17.2.4.117.2.4.2 及び 17.2.4.3 の試験中に実際

に行った回数を差し引いた回数とする。

7.1.13.4.2

7.1.13.4.5 に従って分類したスイッチでは,合計動作回数は多くとも

200 000

回でなければな

らない。

動作方法は,17.2.3 の加速速度について規定するとおりとする。

17.2.4.5 

手動機能試験(TC5 

電子的スイッチに組み込まれた電子制御ユニットなどの半導体スイッチング素子は次の機能試験を受け

る。

電子的スイッチは,熱電流が宣言されていない場合には,定常状態の温度に達するまで,定格電圧にお

いて熱電流又は最大定格抵抗性電流で負荷をかける。

最大定格抵抗性電流で試験するときには,電圧を定格電圧の

1.1

倍に増加させて,再び安定化させる。

スイッチは,そのアクチュエータによって,最小から最大そして再び最小に至る全範囲において,可能

な最大手動速度で

20

回動作させる。

試験中及び試験後に,試料は正しく動作しなければならない。

17.2.4.6 

最小負荷での機能試験(TC6 

製造業者によって最小負荷又は最小電流の規定される電子的スイッチでは,定格電圧の

0.9

倍で規定の

最小負荷又は電流で特性を特別に試験する。

スイッチは,そのアクチュエータによって,最小から最大そして再び最小に至る全範囲において,

10

動作させる。

さらに,該当する場合には,スイッチは,リモートコントロールによって,最小から最大そして再び最

小に至る全範囲において,

10

回動作させる。

試験中及び試験後に,試料は正しく動作しなければならない。

17.2.4.7 

限定動作回数の試験(TC7 

電気的条件は,

表 15 に規定するとおりとする。

熱的条件は,17.2.2 に規定するとおりとする。

動作サイクル回数は,

1 000

回又は宣言されたサイクル数のうち少ない方とする。


75

C 4526-1

:2013

動作方法は,加速速度について 17.2.3 に規定したとおりとする。

17.2.4.8 

耐久性試験(TC8 

加速速度での

TL1

表 15)での全動作サイクル回数。

17.2.4.9 

ロックドロータ試験(TC9 

7.1.2.9

に従うスイッチでは,定格電流

6

×I

-

及び力率

0.6

の抵抗性及び/又はモータ負荷について投入

動作の試験負荷条件を,投入及び遮断動作に使用する。

注記

この試験はモータのロックドロータ状態を模擬する。

動作方法は,加速速度について 17.2.3 に規定するとおりとする。

動作サイクル回数は,

50

とする。

17.2.4.10 

超低速での試験(TC10 

電気的条件は,17.2.1 に規定する。

通常操作を模擬するために準備した適切な装置で,スイッチのアクチュエータを操作する。

機械的スイッチの動作速度は,次のとおりとする。

回転操作に対して,約

1

°

/s

直線操作に対して,約

0.5 mm/s

動作サイクル回数は,

100

とする。

17.2.5 

適合性の評価 

17.2.5.1 

機能的適合性(TE1 

17.2.4

の該当する試験を全て終了したとき,当該スイッチは,次の場合には適合しているものとみなす。

全ての動作が宣言されたとおりに機能している。

電気的又は機械的接続が緩んでいない。

封止用コンパウンドは充電部が露出してしまうほどまで流出してはならない。

17.2.5.2 

熱的適合性(TE2 

17.2.4

の該当する試験を全て終了したとき,16.2 に従って試験したときに,端子の温度上昇が

55 K

を超

えなければ,当該スイッチが適合しているものとみなす。ただし,端子の温度上昇試験を定格電流及び周

囲温度

25

℃±

10

℃で実施する。

17.2.5.3 

絶縁適合性(TE3 

17.2.4

の該当する試験を全て終了したとき,当該スイッチは,次の場合には適合しているものとみなす。

15.3

の耐電圧要求事項を適用する。ただし,試料は,試験電圧印加前に,湿度処理を行わない。試験

電圧は同項に規定する対応する試験電圧の

75 %

でなければならない。

充電部と接地金属,可触金属部,又はアクチュエータとの間に瞬間的な漏電の徴候がない。

18 

機械的強度 

18.1

スイッチは,適切な機械的強度をもち,通常使用時に起こり得る手荒な扱いに耐える構造でなけれ

ばならない。

クラス

I

及びクラス

II

機器用スイッチの触れることのできるアクチュエータは,適切な機械的強度をも

つか,又はアクチュエータが破壊しても感電に対する保護を維持するものでなければならない。

クラス

0

機器用スイッチにも適用する。

適否は,18.218.3 及び 18.4 の試験を順次行うことによって判定する。

18.2

スイッチに,JIS C 60068-2-75 のスプリングハンマ試験装置で打撃を与えて確認する。


76

C 4526-1

:2013

スイッチを正常に取り付けて,アクチュエータ及び触れることのできる全ての表面を衝撃試験器を用い

て試験する。

組込みスイッチは,

図 11 に示した試験器具に取り付ける。周囲温度

0

℃未満の 7.1.3.2 に従ったスイッ

チは,最低周囲温度 T

0

5

℃で試験する。

指定どおり取り付けたとき,アクチュエータだけに触れることのできるスイッチは,

図 11 に示す金属板

と合板との間に位置するよう金属板に固定する。

打撃は,アクチュエータを含む触れることのできるあらゆる面に対して,試験面に垂直に加える。試験

器具の出力は,

0.5 Nm

±

0.04 Nm

になるよう調整する。足踏みスイッチには,試験器具の出力を

1.0 Nm

±

0.05 Nm

になるよう調整する。

上記表面の全てに対し,弱いと思われる各点に

3

回(クラス

0

機器用スイッチについては

1

回)の打撃

を加える。

一連の

3

回の打撃の結果が,次の一連の打撃に影響を及ぼさないようにする。欠損が,前に加えられた

打撃に起因しているのではないかとの疑問があるときは,この欠損を勘定に入れないで,新しい試料の同

じ場所に

3

回の打撃を加える。この新しい試料は,この試験に耐えなければならない。

足踏みスイッチは,水平パネルに操作部を突き出した状態で,通常の使用と同様に取り付けて,力を

1

回加える。直径

50 mm

の円形鋼板を用いて,力を加える。この力は,約

250 N

から連続的に

750 N

まで

1

分以内に増大させた後,

750 N

1

分間保持する。

上記試験後,スイッチは,箇条 9,箇条 13,箇条 15 及び箇条 20 の要求事項に適合していなければなら

ない。はり付けられた絶縁材,隔壁及び同類のものは,がたつきがあってはならない。取外しできる部品

及びカバープレートのような外部の部品は,それらの部品又はそのはり付けられた絶縁材の破損がなく,

取外し及び取替えが可能でなければならない。

アクチュエータを操作したとき,遮断可能でなければならない。

疑義がある場合には付加絶縁又は強化絶縁(クラス

0

機器用スイッチについては基礎絶縁)は,15.3 

規定する耐電圧試験を行う。

試験後の表面の損傷のうち,沿面距離又は空間距離を箇条 20 の値以下に減少させない小さいへこみ,感

電に対する保護又は耐湿保護に悪影響を及ぼさない小さい欠けは無視する。目視できない割れ,繊維補強

成形品又は同様のものの表面のひび割れは無視する。

内部カバーをもつ装飾的なカバーは,装飾的カバーを取り除いた後,内部カバーがこの試験に耐えるな

ら,その装飾的カバーの損傷は無視する。

18.3

引きひもスイッチには,次の試験を追加する。スイッチを製造業者の指定どおりに取り付け,引き

ひもに

表 19 に示す値,又は通常の動作力の

3

倍のいずれか大きい値を,初めは通常の方向に

1

分間,次

に通常の方向から最大

45

°の方向に

1

分間弾みをつけないで力を加える。

表 19−引張力の最小値

定格電流

A

N

通常方向

通常方向から 45°

4 以下 50  25

4 を超える 100

50

この試験後,スイッチは,この規格への適合を損なう損傷があってはならない。


77

C 4526-1

:2013

18.4

アクチュエータを取り付けて納品されるスイッチ又はアクチュエータの取付けを意図したスイッチ

は,次の試験をしなければならない。

最初に,引張力を

1

分間加えて,アクチュエータの外れの有無を確認する。

引張力は,通常は

15 N

とする。ただし,アクチュエータが通常引っ張られて使用するものには,

30 N

とする。

次に,全てのアクチュエータに

30 N

の押圧力を

1

分間加える。

これらの試験中,駆動体の上のアクチュエータの動きは,切替え位置の表示が誤認されない限り許容さ

れる。

これらの二つの試験後,試料は,この規格への適合を損なう損傷があってはならない。

アクチュエータをもつことを意図しているスイッチが,アクチュエータなしで認証のために提出された

場合には,

30 N

の引張力及び押圧力を駆動体に加える。

自己硬化形以外の接着剤は,アクチュエータの緩みを阻止する適切なものとはみなさない。

19 

ねじ,通電部品及び接続 

19.1 

電気的接続に対する一般要求事項 

絶縁材料を介して電気的接続をする場合には,セラミック,純マイカ又はこれらと同等以上の特性をも

つ絶縁材料を用いなければならない。ただし,絶縁材料の収縮又は変形を補正する十分な弾性をもつ金属

部品があると認められる場合には,この限りではない。

a)

材料の適性は,そのスイッチに適用される温度範囲において,寸法の安定性に対して考慮しなければ

ならない。

b)

この要求は,スイッチ内部の表示ランプの接続部及びスイッチ内部であって電流が

20 mA

以下の接続

部には適用しない。

適否は,目視検査によって判定する。

19.2 

ねじ止め接続 

19.2.1

ねじ止め接続は,電気的なものを含め,通常の使用中に起こり得る機械的なストレスに耐えなけれ

ばならない。

19.2.2

接触圧力を伝達するねじは,金属製のねじにかみ合っていなければならない。それらのねじは,亜

鉛,アルミニウムなどの軟質又は変形しやすい材料を使用してはならない。

19.2.3

スイッチを取り付けるねじは,ねじ込まれる相手のものが,ねじとともに供給される場合に限って,

転造式のタップねじ又は切削タッピンねじを使用してもよい。さらに,切削タッピンねじの場合には,ス

イッチの関連部品から脱落しないようになっていなければならない。

19.2.4

転造(金属板)ねじは,導電部の接続に使用してはならない。ただし,このねじが導電部を相互に

直接接触させて締め付けるものであって,適切な緩み止め手段を備えている場合にはこの限りでない。溝

付き切削(セルフタッピン)ねじは,ねじの全範囲が ISO メートルねじ,又はこれと同等の有効性をもつ

ものに限って導電部の電気的接触に使用できる。しかし,このねじを使用者又は機器設置業者が操作する

場合には使用してはならないが,ねじ山が鍛造で成形されている場合にはこの限りでない。

暫定的に,

SI

BA

及びユニファイねじは,ISO メートルねじと同等の有効性があるとみなす。

適否は目視検査及びスイッチを取り付けて配線する間に操作されやすいねじ及びナットに対しては,次

の試験によって判定する。

ねじ又はナットは,締付けと緩める動作を次の回数行う。


78

C 4526-1

:2013

絶縁材料のねじ山にはめ合うねじに対して,

10

回。

他の全ての場合には,

5

回。

ボタン又はレバーに同心であるナットは,

5

回締め付けて緩める。ねじ山の一方が絶縁材料の場合には,

トルクは

0.8 Nm

とする。ねじ山が金属である場合には,トルクは

1.8 Nm

とする。

絶縁材料のねじ山にはめ合うねじは,毎回完全に抜き去りそして再び挿入する。端子ねじ及びナットを

試験する場合には,箇条 11 に規定する断面積の導体を端子に入れる。電源ケーブル若しくはコードの接続

を意図しない端子の場合又は公称断面積が

6 mm

2

以下である場合には,導体は単心のものとする。ほかの

場合にはより線とする。

電源ケーブル又はコード用の端子は,導体は規定された最大断面積のものを用いる。

ねじ又はナットは,適切な試験用ねじ回し又はスパナを用いて締め付けて緩める。締付けトルクは,特

に規定がない限り,

表 20 の該当する欄に示すトルクとする。

表 20−トルク値

ねじの公称直径

mm

トルク

Nm

を超え

以下 I  II  III  IV  V

− 1.6 0.05

− 0.1 0.1 −

1.6 2.0 0.10 − 0.2 0.2 − 
2.0 2.8 0.2 − 0.4 0.4 − 
2.8 3.0 0.25 − 0.5 0.5 − 
3.0 3.2 0.3 − 0.6 0.6 − 
3.2 3.6 0.4 − 0.8 0.8 − 
3.6 4.1 0.7 1.2 1.2  1.2 1.2 
4.1 4.7 0.8 1.2 1.8  1.8 1.8 
4.7 5.3 0.8 1.4 2.0  2.0 2.0 
5.3 6  − 1.8 2.5 3.0 3.0 
6 8 − 2.5 3.5 6.0 4.0 
8 10  −  3.5 4.0 10.0 6.0

10 12  − 4.0 −

− 8.0

12 15  − 5.0 −

− 10.0

導体は,ねじ又はナットを緩める度に動かさなければならない。

I

欄は,締めたときに穴から突き出ないなら,頭なしねじ及びねじの下穴径より広い刃をもつねじ回し

で締め付けるねじに適用する。

II

欄は,ねじ回しを用いて締め付ける袋ナット付きのマントル端子のナットに適用する。

III

欄は,ねじ回しを用いて締め付けるその他のねじに適用する。

IV

欄は,ねじ回し以外のものを用いて締め付けるねじ又はナットに適用する。ただし,マントル端子の

ナットを除く。

V

欄は,ねじ回し以外のものを用いて締め付けるマントル端子のねじに適用する。

溝付きの六角頭のねじで

III

及び

IV

欄の数値が異なるときは,試験を

2

回行う。初めに,

IV

欄に規定す

るトルクを六角頭に加え,次に,他の一組の試料に

III

欄に規定するトルクをねじ回しを用いて加える。

III

及び

IV

欄の数値が同じである場合には,ねじ回しを用いた試験だけを行う。

この試験中,端子は緩むことなく,ねじの破壊のような損傷がなく,以後の使用を阻害する頭の溝,ね

じ山,ワッシャ及びあぶみ金の損傷があってはならない。


79

C 4526-1

:2013

マントル端子の公称径は,溝を切ったスタッドの直径とする。

試験用ねじ回しの刃の形状は,試験するねじ頭に適するものでなければならない。ねじ及びナットを弾

みをつけて締め付けてはならない。

注記

スイッチを取り付けて配線している間に操作されやすいねじ及びナットとは,端子ねじ又はナ

ット,カバー固定用のねじなどを含む。

19.2.5

ねじ式グランドをもつスイッチは,次の試験を行う。

ねじ式グランドは,ミリメートル(

mm

)で表したパッキンの内径より小さい近似整数に等しい径の金

属製丸棒を差し込む。次にグランドを適切なスパナを用いて,

表 21 に示すトルクで締め付け,

1

分間保持

する。

表 21−ねじ式グランドに対するトルク値

試験用丸棒の直径

mm

トルク

Nm

を超え

以下

金属グランド

絶縁材料グランド

− 14  6.25  3.75 
14 20  7.5

5.0

20

− 10.0

7.5

試験後,

グランド及び試料の外郭のいずれにも,

使用上支障となるいかなる損傷もみられてはならない。

19.2.6

スイッチの取付け又は配線中に操作するねじは,ねじ穴又はナットに正しく差込みできなければな

らない。

例えば,固定される部分によってねじを誘導するようになっているか,めす(雌)ねじにへこみを付け

るか,又は先端部のねじ山を取り去ったねじを用いることによって,ねじが傾斜して挿入されることがな

い場合には,上記の正しくねじ込みができる要求事項は満足されている。

適否は,目視検査及び手動の試験によって判定する。

19.2.7

スイッチの異なる部品を機械的に接続するねじは,この接続部に電流を流すならば,緩み止めを施

さなければならない。電流の流れている接続部に用いるリベットは,その接続部が通常の使用中ねじりを

受ける場合には,緩むことがないようにしっかり固定されていなければならない。

適否は,目視検査及び手動の試験によって判定する。

ばね座金は,十分な緩み止めである。リベットの非円形の軸部又は適切なノッチは,十分に効果がある。

加熱によって軟化する封止コンパウンドは,通常の使用中ねじりを受けないねじ接続部に対してだけ十

分緩み止め作用を備える。

19.2.8

導体を締め付けるねじ及びナットは,ISO メートルねじ又はピッチ及び機械的強度が同等のねじで

なければならない。

適否は,目視検査及び 19.2 の試験によって判定する。

暫定的に,

SI

BA

及び

UN

ねじは,ピッチ及び機械的強度が ISO メートルねじと同等とみなす。

19.3 

通電部 

通電部及び接地導通部分は,スイッチの中で起こる諸条件の下で,適切な機械的強度及び耐食性をもっ

た金属製のものでなければならない。

端子に用いるばね,弾性部品,締付ねじ及び同様のものは,主として通電を目的としたものであるとは

みなされない。


80

C 4526-1

:2013

許容温度範囲内で通常の化学的汚染状態の下で使用するとき,耐食性がある金属の例は,次のとおりで

ある。

冷間加工される部分の場合には

58 %

以上の銅を含む合金,冷間加工以外の部分の場合には

50 %

以上

の銅を含む合金

 13

%

以上のクロムを含み,炭素量が

0.09 %

以下のステンレス鋼

JIS H 8610

に準拠した亜鉛の電気めっきを施した鉄鋼であり,膜厚が次の条件を満たすもの

保護なしのスイッチに対しては,

5

μ

m

JIS H 8610

の ISO サービス条件

No.1

 IPX1

IPX4

のスイッチに対しては,

12

μ

m

JIS H 8610

の ISO サービス条件

No.2

 IPX5

IPX7

のスイッチに対しては,

25

μ

m

JIS H 8610

の ISO サービス条件

No.3

JIS H 8617

に準拠したニッケル及びクロムの電気めっきを施した鉄鋼であり,その膜厚が次の条件を

満たすもの

保護なしのスイッチに対しては,

20

μ

m

JIS H 8617

の ISO サービス条件

No.2

 IPX1

IPX4

のスイッチに対しては,

30

μ

m

JIS H 8617

の ISO サービス条件

No.3

 IPX5

IPX7

のスイッチに対しては,

40

μ

m

JIS H 8617

の ISO サービス条件

No.4

JIS H 8619

に準拠したすずの電気めっきを施した鉄鋼であり,その膜厚が次の条件を満たすもの

保護なしのスイッチに対しては,

12

μ

m

JIS H 8619

の ISO サービス条件

No.2

 IPX1

IPX4

のスイッチに対しては,

20

μ

m

JIS H 8619

の ISO サービス条件

No.3

 IPX5

IPX7

のスイッチに対しては,

30

μ

m

JIS H 8619

の ISO サービス条件

No.4

アーク及び機械的摩耗を受けるおそれのある部品は,電気めっきを施した鉄鋼であってはならない。

適否は目視検査及び必要がある場合には化学分析によって判定する。

注記 1

この要求事項は,スイッチ接点及びしゅう動接点には適用しない。

注記 2

この要求事項は,

20 mA

以下の通電部には適用しない。

20 

空間距離,沿面距離,固体絶縁及び剛性プリント配線板アセンブリのコーティング 

空間距離,沿面距離,固体絶縁及び剛性プリント配線板アセンブリのコーティングが,スイッチの予期

される寿命中に起こることのある環境上の影響を考慮に入れて,電気的,機械的及び熱応力に耐えるのに

十分であるようにスイッチを構築しなければならない。

空間距離,沿面距離,固体絶縁及び剛性プリント配線板アセンブリのコーティングは,関連する 20.1

20.4

に従わなければならない。

注記

要求事項及び試験は,JIS C 60664-1 及び IEC 60664-3 に基づいている。

20.1 

空間距離 

空間距離は,

附属書 に示すような定格電圧及び過電圧カテゴリ又は 7.1.6 に従い,製造業者によって

宣言された汚損度を考慮に入れて,7.1.10 に従って製造業者によって宣言された定格インパルス電圧に耐

える寸法でなければならない。

測定については,次による。

着脱可能部品は,取り外される。また,異なった向きに取り付けできる可動部品は最も望ましくない

位置に置かれる。

注記 1

可動部品は,例えば六角ナットなどがあり,組立中にその位置をコントロールすることは

できない。


81

C 4526-1

:2013

絶縁材の表面にあるスロット及び開口部を通しての距離は,表面と接触した金属はく(箔)まで測定

する。金属はく(箔)は,JIS C 0920 の標準試験指によって角部などに押し込むが,開口部には押し

込まない。

測定するときに空間距離を減少させるため,裸導線及び接近可能な表面に力を加える。

次の力を加える。

裸導線には

2 N

接近可能な表面には

30 N

この力は,JIS C 0920 

付図 に示す関節のある試験指と同じ寸法の,関節のない試験指によって

加える。

9.1

に規定したように開口部に加えたときには,導通部と金属はく(箔)との間の,絶縁体を通して

の距離を,規定値よりも減少させてはならない。

注記 2

空間距離及び沿面距離の測定については,

附属書 参照。

注記 3

空間距離の寸法測定のためのフローチャートを,

附属書 に示す。

20.1.1 

基礎絶縁の空間距離 

基礎絶縁の空間距離は,

表 22 に規定する値以上でなければならない。

しかし,

表 22 の注

e)

に記す値を除いて,スイッチが

附属書 のインパルス耐電圧試験を満たす場合に

は,部品が剛性であるか成形品によって配置してある場合だけ,又は距離がひずみによって,若しくは取

付け,接続及び通常使用中の部品の移動によって,減少しそうにないような構造である場合だけ,より小

さな空間距離を用いることがある。

適否は,測定によって,また必要であるときは,

附属書 の試験によって判定する。

20.1.2 

機能絶縁の空間距離 

機能絶縁の空間距離は,20.1.1 の基礎絶縁に規定する値以上でなければならない。

適否は,測定によって,また必要であるときは,

附属書 の試験によって判定する。

20.1.3 

付加絶縁の空間距離 

付加絶縁の空間距離は,

表 22 に規定する値以上でなければならない。

適否は,測定によって判定する。

表 22−基礎絶縁に関する最小空間距離

定格インパルス耐電圧

b)

kV

海抜が 2 000 m までの最小空間距離

a) g) c)

(mm)

汚損度 1

汚損度 2

汚損度 3

0.33 0.01

0.2

d) e)

 0.8

e)

0.50 0.04

0.2

d) e)

 0.8

e)

0.80 0.10

0.2

d) e)

 0.8

e)

1.5 0.5

0.5

0.8

e)

2.5 1.5

1.5

1.5

4.0 3

3

3

6

f)

 5.5

5.5

5.5

注記  表 22 の値は,JIS C 60664-1 の値と等しく,しかも増加させていない。理由は,例えば,スイ

ッチの寿命中の機械的損傷による空間距離の減少がごく小さいことが期待されること,及び一

般に機器に対してスイッチ全体の寸法が小さいためである。

a)

  海抜 2 000 m を超える空間距離は,附属書 の高度補正係数を乗じる。


82

C 4526-1

:2013

表 22−基礎絶縁に関する最小空間距離(続き)

b)

  この電圧は,次による。

−  機能絶縁の場合:空間で発生する最大インパルス電圧

−  低電圧電源から直接又は過渡過電圧によって重大な影響を受ける基礎絶縁の場合:スイッチ

の定格インパルス電圧

−  その他の基礎絶縁:回路に発生する最大インパルス電圧

c)

  汚損度の詳細は,附属書 に規定する。

d)

  プリント配線板材料に関しては,0.04 mm を下回らないことを条件に汚損度 1 の値を適用する。

e)

  基本的データというよりもむしろ経験上による最小空間距離の値。

f)

  この電圧は,4 kV の定格インパルス電圧に対する強化絶縁を決定するときにだけ適用する。

g)

  箇条 23 の要求事項に適用し,過電流保護が完全遮断となる剛性プリント配線板の空間距離に

は適用しない。 

20.1.4 

強化絶縁の空間距離 

強化絶縁の空間距離は,20.1.1 の基礎絶縁に規定する値以上でなければならないが,

表 22 の定格インパ

ルス耐電圧については一つ上のステップを用いる。

表 22 に規定した値よりも小さな空間距離は許容しな

い。

適否は,測定によって判定する。

20.1.5 

遮断の空間距離 

20.1.5.1 

電子的遮断 

電子的遮断には空間距離は規定しない。

20.1.5.2 

微小遮断 

端子及び端子部の間の空間距離は,20.1.2 に従う機能絶縁の要求事項を満たさなければならない。

接点間の距離についての空間距離は規定していない。

スイッチの操作によって分離される他の導電部間の空間距離は,関連する接点間距離の実際の値以上で

なければならない。しかし,定格インパルス電圧が

1.5 kV

以上のスイッチでは空間距離は少なくとも

0.5 mm

でなければならない。

注記

剛性プリント配線板上の空間距離の値は,箇条 23 の要求事項を満たし,過電流保護が完全遮断

をもたらす場合には,適用しない。

20.1.5.3 

完全遮断 

完全遮断の空間距離は,20.1.1 の基礎絶縁に規定する値以上でなければならない。ただし,

表 22 に示す

値よりも小さな値を許容しない。

スイッチ操作によって分離された部品間のいずれか一つの極の空間距離が,連続する

2

個以上の遮断が

設けられた場合には,その分離は遮断の距離の和であるとみなす。各遮断は規定距離の少なくとも

3

分の

1

でなければならない。

20.2 

沿面距離 

沿面距離は,7.1.6 及び材料グループに従って製造業者が宣言した汚損度を考慮に入れて通常使用時に発

生することが予測された電圧についての寸法でなければならない。

測定については,次による。

着脱可能部品は,取り外す。また,異なった向きに取付けできる可動部品は最も望ましくない位置に

置く。

注記 1

可動部品には,例えば六角ナットがあり,その位置は組立中にコントロールすることがで


83

C 4526-1

:2013

きない。

絶縁材の表面にあるスロット又は開口部を通しての距離は,表面と接触する金属はく(箔)まで測定

する。金属はく(箔)は,JIS C 0920 の標準試験指によって角部などに押し込むが,開口部に押し込

まない。

測定するときに沿面距離を減少させるため,裸導線及び接近可能な表面に力が加える。

次の力を加える。

裸導線には

2 N

接近可能な表面には

30 N

この力は,JIS C 0920 

付図 に示す関節のある試験指と同じ寸法の,関節のない試験指によって

加える。

注記 2

沿面距離の測定については,

附属書 参照。

注記 3

沿面距離の寸法測定のためのフローチャートは,

附属書 に示す。

注記 4

沿面距離は関連する空間距離未満にすることはできない。

材料グループ及び保証トラッキング指数(

PTI

)値の関係は次による。

材料グループ

I 600

  ≦

PTI

材料グループ

II 400

  ≦

PTI

  <

600

材料グループ

IIIa 175

  ≦

PTI

  <

400

材料グループ

IIIb 100

  ≦

PTI

  <

175

PTI

値は,

附属書 の保証トラッキング試験に従って得られる。

注記 5

(削除)

注記 6

ガラス,セラミック及びトラックのできないその他の無機材料の沿面距離は,関連する空間

距離より多くは必要ない。

20.2.1 

基礎絶縁の沿面距離 

基礎絶縁に関する沿面距離は,

表 23 に規定する値以上でなければならない。

適否は,測定によって判定する。

表 23−基礎絶縁に関する最小沿面距離

定格電圧

(実効値)

a)

V

沿面距離

b)

  mm

汚損度 1

汚損度 2

汚損度 3

材料グループ

材料グループ

I II

IIIa/IIIb

I II

IIIa

50

c)

0.2 0.6 0.9 1.2  1.5 1.7  1.9

100

0.3

0.8

1.0

1.4

1.8

2.0

2.2

125 0.3 0.8 1.1 1.5  1.9 2.1  2.4 
200

0.5

1.0

1.4

2.0

2.5

2.8

3.2

250 0.6 1.3 1.8 2.5  3.2 3.5  4.0 
320 0.75

1.6 2.2 3.2  4.0 4.5  5.0

400 1.0 2.0 2.8 4.0  5.0 5.6  6.3 
500 1.3 2.5 3.6 5.0  6.3 7.1  8.0

a)

  この電圧は,電圧定格を基に JIS C 60664-1 の表 F.3a 及び表 F.3b を通して有理化した電圧

である。

b)

  汚損度の詳細は,附属書 に規定する。

c)

 SELV に関して 9.1 の最後の段落を,考慮することが望ましい。


84

C 4526-1

:2013

20.2.2 

機能絶縁に関する沿面距離 

機能絶縁に関する沿面距離は,

表 24 に規定する値以上でなければならない。

適否は,測定によって判定する。

表 24−機能絶縁に関する最小沿面距離

動作 
電圧

a)

V

プリント配線板部品

汚損度

b) f)

汚損度 1

c)

 2

3

1

c)

 2

d)

 

mm

材料グループ

材料グループ

mm

mm

I

mm

II

mm

III

e)

mm

I

mm

II

mm

III

e)

mm

10 0.025 0.04 0.08 0.4  0.4  0.4  0.95 0.95 0.95 
12.5

0.025 0.04 0.09 0.42  0.42 0.42 1.0  1.0  1.0

16 0.025 0.04 0.1  0.45  0.45 0.45 1.05 1.05 1.05 
20 0.025 0.04 0.11 0.48  0.48 0.48 1.1  1.1  1.1 
25

0.025

0.04 0.125

0.5  0.5 0.5 1.2 1.2 1.2

32 0.025 0.04 0.14 0.53  0.53 0.53 1.25 1.25 1.25 
40 0.025 0.04 0.16 0.56  0.8  1.1  1.3  1.3  1.3 
50 0.025 0.04 0.18 0.6  0.85 1.2  1.4  1.6  1.8 
63 0.04 0.063

0.2  0.63 0.9  1.25 1.5  1.7  1.9

80 0.063 0.1  0.22 0.67  0.95 1.3  1.6  1.8  2.0

100 0.1  0.16 0.25 0.74  1

1.4  1.7  1.9  2.1

125 0.16  0.25 0.28 0.75  1.05 1.5  1.8  2.0  2.2 
160

0.25 0.4 0.32 0.8  1.1 1.6 1.9 2.1 2.4

200 0.4  0.63 0.42 1

1.4  2

2.0  2.2  2.5

250 0.56 1  0.56 1.25 1.8  2.5  2.5  2.8  3.2 
320

0.75 1.6 0.75 1.6  2.2 3.2 3.2 3.6 4.0

400

1  2 1 2  2.8

4 4 4.5

5.0

500

1.3  2.5 1.3 2.5  3.6 5  5  5.6 6.3

630

1.8  3.2 1.8 3.2  4.5 6.3 6.3 7.1 8

800

2.4  4  2.4 4  5.6 8  8  9  10

1 000

3.2 5  3.2 5  7.1

10 10 11 12.5

a)

  中間値の挿入は,許される。

b)

  汚損度の詳細は,附属書 による。

c)

  材料グループ I,II,IIIa,及び IIIb

d)

  材料グループ I,II,IIIa

e)

  材料グループ III(IIIa 及び IIIb 含む。)

f)

  箇条 23 の要求事項を満たし,過電流保護で完全遮断となる場合には,剛性プリント配線板には沿面距離

は適用しない。

20.2.3 

付加絶縁の沿面距離 

付加絶縁の沿面距離は,20.2.1 の基礎絶縁に規定する値以上でなければならない。

適否は,測定によって判定する。

20.2.4 

強化絶縁の沿面距離 

強化絶縁の沿面距離は,20.2.1 の基礎絶縁に規定する値の

2

倍未満であってはならない。

適否は,測定によって判定する。

20.2.5 

遮断の沿面距離 

遮断の沿面距離は,20.2.2 の機能絶縁に規定する値以上でなければならない。

適否は,測定によって判定する。


85

C 4526-1

:2013

注記 1

導電性汚染については,

附属書 の最後の段落参照。

注記 2

剛性プリント配線板上の沿面距離の値は,箇条 23 の要求事項を満たし,過電流保護が完全遮

断をもたらす場合には,適用しない。

20.3 

固体絶縁 

固体絶縁は,

スイッチの予期される寿命中に起こることのある熱又は環境上の影響に対するのと同様に,

電気的及び機械的応力に恒久的に耐えることができなければならない。

適否は,箇条 14,箇条 15,箇条 16 及び箇条 17 の試験中に判定する。

可触な付加固体絶縁の通し距離の最小値は,

0.8 mm

でなければならない。

可触な強化固体絶縁の通し距離は,次の最小値でなければならない。

 1

500

V

以下の定格インパルス耐電圧では,

0.8 mm

 2

500

V

以上の定格インパルス耐電圧では,

1.5 mm

注記 1

これらの値には,固体絶縁の単一故障として割れの可能性を考慮している。基礎絶縁の値に

一致する値は,汚損度

3

として

表 22 から得られる。

注記 2

機能,基礎,可触でない付加絶縁及び可触でない強化絶縁には最小厚さは規定されない。

適否は,検査及び測定によって判定される。

注記 3

可触な絶縁の摩耗試験については検討中である。

20.4 

剛性プリント配線板アセンブリのコーティング 

剛性プリント配線板アセンブリのコーティングは,汚染に対する保護及び/又は使用するタイプ

A

又は

タイプ

B

コーティングによる絶縁を備えなければならない。

注記

タイプ

A

及びタイプ

B

コーティングの説明は,

附属書 に示す。

20.4.1 

タイプ コーティング 

製造業者によって宣言されたタイプ

A

コーティングの剛性プリント配線板アセンブリの絶縁距離は,

22

に示す空間距離及び

表 24 に示す沿面距離の汚損度

1

における最大値に従わなければならない。

適否は,測定及びタイプ

A

コーティングについては,

表 25 に示す試験レベル及び条件で IEC 60664-3

の箇条 の関連試験によって判定する。

注記

コートされたプリント配線板の絶縁距離の測定詳細については,

附属書 に示す。

表 25−試験レベル及び条件

IEC 60664-3

の項

試験レベル及び条件

6.6.1

冷却庫

−25  ℃

6.6.3

急激な温度変化

過酷度合 2(−25  ℃∼125  ℃)

6.7

電磁的

適用しない

6.8.6

部分放電

適用しない

試料は,次のいずれかにすることができる。

IEC 60664-3

の 5.1 及び 5.2 に規定する標準試料。

IEC 60664-3

の 5.3 に規定する代表的な剛性プリント配線板アセンブリ。

20.4.2 

タイプ コーティング 

製造業者によって宣言されたタイプ

B

コーティングの剛性プリント配線板アセンブリは,20.3 に規定す

る固体絶縁についての要求事項に従わなければならない。コーティングの下のプリント配線板上の導体間

には空間距離及び沿面距離の規定はしない。


86

C 4526-1

:2013

タイプ

B

コーティングについての適否は,

表 25 に示す試験レベル及び条件で IEC 60664-3 の箇条 

関連試験及び 20.4.1 に規定する試料によって判定する。

21 

耐火性 

21.1 

耐熱性 

非金属材料部品は,耐熱性がなければならない。

この要求事項は,小形部品,装飾品,基本動作に必要でないアクチュエータ及び試験が不要なその他の

部品には適用しない。

注記

小形部品の定義は,JIS C 60695-2-11 の 3.1 を参照。

適否は,JIS C 60695-10-2 のボールプレッシャー試験において,次の温度で新しい試料を使用して判定

する。

a)

16.3

の温度上昇試験中に測定した最高温度に,

20

±

2

℃を加えた温度又は宣言した温度の値に

20

±

2

℃を加えた温度,若しくは

75

±

2

℃のうちで一番高い温度。

対象は,スイッチを製造業者が指定したとおりに取り付けたとき,人が触れるおそれがあり,かつ,

それが劣化するとスイッチが安全でなくなるおそれがある部品(例えば,宣言した保護等級の低下又

は箇条 20 の沿面距離及び空間距離の短縮)

b)

加熱槽の温度範囲は,T

b

±

2

℃とする。加熱槽の温度 T

b

は,T

20

℃,ただし,最低値は

125

℃と

するか,又は 16.3 の試験で記録した最高温度に

20

℃加えた温度のいずれか高い方の値とする。

対象は,電気的接続部と接触する,これを維持する又はこれを定位置に保持する部品であって,そ

の劣化が過熱を引き起こす可能性のある部品。これらの部品には,例えば,非金属部品とばねとに

よって定位置に保持されているスイッチの内部の接続部のように,ばねの力の下で電気的接続部を

保持している部品も含む。

対象は,熱源に接触する又は保持する部品(

例  ヒートシンク)。

21.2 

異常発生熱に対する耐熱性 

非金属材部品は,異常な熱に対して耐熱性がなければならない。

装飾品,基本動作に必要でないアクチュエータ,及び発火又は炎を伝ぱ(播)する可能性のない部品は,

試験を要求しない。

スイッチが小さすぎたり,不都合な形状であるなど,完成したスイッチでの試験が実用的でない又は可

能でない場合,関連部品を製造する素材から成る試料を用意して試験を実施する。試料のサイズは,

60

×

60 mm

以上とし,その厚さは,関連部品を測定したときの最低値に等しいものとする。

注記

試験を実施する表面内に直径

15 mm

の円が収まる場合,スイッチでの試験が可能である。この

円の中心部にグローワイヤを押し付ける。

適否は,JIS C 60695-2-11 のグローワイヤ試験において,宣言したグローワイヤ温度で新しい

1

個の試

料を使用して判定する。

a)

電気的接続部と接触する,これを維持する又はこれを定位置に保持する部品であって,その劣化が過

熱を引き起こす可能性のある部品に対しては,

650

℃,

750

℃又は

850

℃のいずれかを宣言して試験

を行う。

なお,上記部品には,例えば,非金属部品及びばねによって定位置に保持されているスイッチの内

部の接続部のように,ばねの力の下で電気的接続部を保持している部品も含む。

b)

その他の部品は,

650

℃で試験を行う。


87

C 4526-1

:2013

グローワイヤの取外し後,

30

秒以内に試料の炎又は赤熱が消え,薄葉紙が発火しない場合には,試

料はグローワイヤ試験に合格したものとする。

炎又は発火がない結果の試験内容を報告しなければならない。

22 

耐食性 

さびによって安全性を損なうおそれがある鉄鋼製の部品は,さびに対して適切な保護がされていなけれ

ばならない。

適否は,次の試験によって判定する。

供試品を,キシレン,トルエン又は同様の溶剤に

10

分間浸せきして,油分を除去する。次に,その部品

を温度

25

℃±

10

℃の塩化アンモニウムの

10 %

水溶液に

10

分間浸せきする。

乾燥しないように液を振り落とした後,この部品を温度

25

℃±

10

℃で,少なくとも

95 %RH

の相対湿

度の状態に飽和した空気の槽の中に

10

分間放置する。この部品を,温度

100

℃±

5

℃の加熱槽の中で

10

分間乾燥した後,その部品の表面にさびの徴候があってはならない。

鋭いエッジのさびの痕跡,及びこすれば取り去ることができる黄色の薄膜は無視する。小さなコイルば

ね及び同様のもの,並びに摩擦する可触でない部分に対しては,油分がさびに対して十分な保護をすると

考える。これらの部品に対しては,油分の有効性に疑義がある場合に限り,油分の除去なしにこの試験を

実施する。

23 

電子的スイッチの異常動作及び故障状態 

異常状態の結果として起こる火災のリスク,安全又は感電からの保護を損なう機械的損傷を防止するよ

うなスイッチの構造にしなければならない。

適否は次の試験によって判定する。

23.1

に従う異常状態下の温度

23.2

に従う異常状態の場合の感電に対する保護

23.3

に従う短絡に対する保護

23.4

に従う冷却障害に対する保護

組み込んだヒューズの交換によって,規定された定格に従ってスイッチがまだ動作できるならば,同じ

試料で全ての試験を実施してもよい。そうでなければ,新しい試料を使用しなければならない。

23.1

異常状態下でスイッチを動作させた場合には,どの部分も,スイッチの周囲が火災の危険になるよ

うな温度に達してはならない。

適否は,23.1.1 に規定するように,スイッチに故障状態下で加熱試験を行って判定する。

試験中に,温度は

表 13 及び表 14 の第二欄に示す値を超えてはならない。

23.1.1

特記のない限り,16.3.3 に規定するようにスイッチを取り付けて,接続し,負荷をかけた,スイッ

チ上で試験をする。

23.1.1.1

及び 23.1.1.2 に示す各異常状態を順に適用する。

注記

試験中に,直接的結果として,他の障害が発生してもよい。

異常状態は,試験に最も都合のよい順番で適用する。

23.1.1.1

次の異常状態を模擬しなければならない。

沿面距離と空間距離との間の短絡。ただし,

表 22∼表 24 に示す値以下である場合には,箇条 20 の要

求事項に従うもの以外。


88

C 4526-1

:2013

例えば,ラッカー,エナメルなどからなる絶縁コーティングの両端での短絡。

コーティングは,沿面距離及び空間距離を評価するときには無視する。

エナメルがワイヤの絶縁を形成する場合には,沿面距離及び空間距離に

1 mm

寄与しているものと

みなす。

注記 1

エナメル絶縁の試験については,検討中である。

注記 2

用語で“コーティング”はカプセル封じには用いない(

“ポッティング”

半導体素子の短絡又は遮断。

24.2

又は 24.3 の要求事項に従わないコンデンサ又は抵抗器の短絡又は遮断。

コードスイッチ及び独立形固定スイッチの負荷側の端子の短絡。

連続する試験の結果としての累積応力は避けなければならない。したがって,追加試料を使用する必要

がある。しかし,追加試料の個数は,関連回路の評価によって最小に抑えることが望ましい。

異常状態は,一度に一つずつ適用し,損傷を修理してから次の異常状態に適用しなければならない。

試験中に模擬した異常状態が,ほかの異常状態に影響を及ぼす場合には,当該異常状態を全て同時に適

用する。

スイッチの温度を自動保護装置(ヒューズなど)の動作によって制限する場合には,保護具が動作した

2

分後に温度を測定する。

温度制限装置が動作しなければ,連続デューティである,デューティタイプ

S1

用スイッチの温度を,

定常状態に達した後又は

4

時間後のうちの早い方で,測定する。

短期デューティである,デューティタイプ

S2

用スイッチでは,スイッチ動作

2

分後に温度を測定する。

間欠周期デューティである,デューティタイプ

S3

用スイッチでは,定常状態に達した後又は

4

時間後

のうちの早い方で,温度を測定する。

温度をヒューズによって制限する場合には,次の特別試験を実施する。

ヒューズを短絡し,関連する障害状態下の電流を測定する。

上述の測定した電流に応じて,JIS C 6575 又は電気用品の技術上の基準を定める省令(昭和

37

年通商

産業省令第

85

号)の別表第三(以下“別表第三”という。

)によって規定されたヒューズのタイプの

最大溶断時間に対応した間だけ,

次にスイッチをオンにする。

温度は,

当該時間終了

2

分後に測定する。

23.1.1.2

次の過負荷試験を電子的コードスイッチ及び電子的独立形固定スイッチに実施する。

組立温度制限装置がない又は組込みヒューズがないスイッチは,23.1.1.2.1 に従って試験する。

自動保護装置(JIS C 6575 に従うヒューズ以外の他のヒューズなど)によって保護されるスイッチは,

23.1.1.2.2

に従って試験する。

JIS C 6575

に適合する組込みヒューズによって保護されるスイッチは,23.1.1.2.3 に従って試験する。

組込みヒューズ及び自動保護装置の両方によって保護されるスイッチは,23.1.1.2.4 に従って試験す

る。

スイッチは,最も望ましくない“

ON

”位置のままにしておく。

定常状態に達した後又は

30

分後のうちの早い方で,温度を測定する。

23.1.1.2.1

連続デューティである,デューティタイプ

S1

用スイッチは,据付け時にスイッチを保護するヒ

ューズ用の協約溶断電流で

1

時間負荷をかける。

短期デューティである,デューティタイプ

S2

用スイッチでは,スイッチ動作

2

分後に温度を測定する。

間欠周期デューティである,デューティタイプ

S3

用スイッチでは,定常状態に達した後又は

4

時間後

のうちの早い方で,温度を測定する。


89

C 4526-1

:2013

これらの試験に使用する協約溶断電流を,

表 26 に明記する。

表 26−協約溶断電流対定格電流

装置

定格電流

A

協約溶断電流

a)

A

コードスイッチ

16 以下

26

独立形固定スイッチ

16 以下

26

 16 を超え 32 以下

51

 32 を超え 63 以下

101

a)

  値は,IEC 60269-1 のものである。

23.1.1.2.2

連続デューティのデューティタイプ

S1

のスイッチは,保護装置が

1

時間後に開放される電流の

0.95

倍の電流がスイッチに流れるように負荷をかける。

短期デューティである,デューティタイプ

S2

用スイッチでは,スイッチ動作

2

分後に温度を測定する。

間欠周期デューティである,デューティタイプ

S3

用スイッチでは,定常状態に達した後又は

4

時間後

のうちの早い方で,温度を測定する。

23.1.1.2.3

ヒューズは,インピーダンスの無視できるリンクによって交換し,リンクを流れる電流が,ヒ

ューズの定格電流の

2.1

倍になるように負荷をかけなければならない。

連続デューティである,デューティタイプ

S1

用スイッチでは,定常状態に達した後又は

30

分後のうち

の早い方で,温度を測定する。

短期デューティである,デューティタイプ

S2

用スイッチでは,スイッチ動作

2

分後に,温度を測定す

る。

間欠周期デューティである,デューティタイプ

S3

用スイッチでは,定常状態に達した後又は

4

時間後

のうちの早い方で,温度を測定する。

23.1.1.2.4

電子的コードスイッチ及び電子的独立形固定スイッチは,最小負荷を要求する試験を選んで,

組込みヒューズ付きで 23.1.1.2.3 に規定するように負荷をかけるか,

又は別の自動保護装置付きで 23.1.1.2.2

に規定するように負荷をかける。

23.2

故障状態中にスイッチを使用したり使用したことのある場合でも,感電に対する保護が要求される。

適否は,23.1 に規定する試験を実施して判定する。

試験済みであるなら,スイッチは箇条 の要求事項に従わなければならない。

23.3

電子的コードスイッチ及び電子的独立形固定スイッチは,その周囲を危険にすることなく,受ける

ことのあるであろう短絡に耐えなければならない。

適否は,次の試験によって判定する。

スイッチは,負荷インピーダンス及び通過値 I

2

t

を制限する装置と直列に,実質的な非誘電回路で試験す

る。

電源の見込み短絡電流は,試験中のスイッチの定格電圧に等しい電圧で

1 500 A

(実効値)でなければな

らない。

見込み通過値 I

2

t

15 000 A

2

s

でなければならない。

注記 1

見込み電流は,回路内での他の変化なしに,無視できるインピーダンスのリンクによって,

スイッチ,制限器具又は負荷インピーダンスを交換した場合に,回路を流れる電流である。

注記 2

見込み通過値 I

2

t

は,スイッチ及び負荷インピーダンスを,インピーダンスの無視できるリン

クによって交換した場合に,制限器具によってそのまま通される値である,I

2

t

値は,オープ


90

C 4526-1

:2013

ンワイヤヒューズ,イグナイトトロン又は他の適切な器具を使用して制限することができる。

注記 3

  15 000 A

2

s

の I

2

t

値は,

1 500 A

の見込み短絡電流で測定した

16 A

の小形回路遮断器の最も不

利な通過値 I

2

t

に相当する。

スイッチを試験した回路図を,

図 17 に示す。

インピーダンス Z

1

(短絡インピーダンス)は,規定見込み短絡電流を満たすように調整できなければな

らない。

インピーダンス Z

2

(負荷インピーダンス)は,スイッチにその最小負荷か,定格負荷の約

10 %

のうちの,

いずれか大きい方をかけるように,調整しなければならない。

注記 4

スイッチをオン状態にするために負荷が必要である。

回路は,電流+

5 %/0 %

,電圧+

10 %/0 %

,周波数+

5 %/0 %

I

2

t

値±

10 %

の許容差で校正する。

製造業者によって推奨される組込みヒューズ(該当する場合)は,負荷をかけたスイッチに挿入する。

可変制御装置(該当する場合)は,任意のう(迂)回路を開位置にして,最大出力位置に設定する。

短絡は,電圧波形に同期しない状態で補助スイッチ

A

によって,

6

回引き起こす。

注記 5

ポイント−オン−波形タイミングでの分かりにくさを避けるための必要性を考慮して

6

回試

験をする。

注記 6

これらの試験のうちの少なくとも一つは,最大合計 I

2

t

の近くになることが経験上分かってい

る。

注記 7

電磁操作空圧手段は,予期しない同期化を引き起こすことがあるという事実に注意を払う。

試験中に,火炎及び燃焼粒子の放出が起こってはならない。

封入スイッチは,薄葉紙に包む。

トレース又はバーンスルーが起こってはならない。

注記 8

ISO 4046

の 6.86 に規定する包装薄葉紙:一般に坪量が

12 g/m

2

30 g/m

2

の柔らかくて強い軽

量包装紙。これは主として精密品目の保護包装用及び贈答包装用を意図したものである。

部分的封入スイッチの非封入部分は,表面から

6 mm

10 mm

の距離のところに乾燥吸収外科用綿を置

いて試験する。

綿が発火してはならない。

試験後に,可触金属部品が充電部になってはならない。

試料が動作状態のままである必要はない。しかし,スイッチが明らかに役に立たない状態でなければ,

組み込んだ自動保護具の接点は溶着してはならない。

23.4 

冷却障害の場合の火災に対する保護 

強制冷却とともに使用するように意図されている宣言された熱電流のスイッチでは,16.3.2 に規定する

ようにスイッチを取り付けて接続するが,試験中に強制冷却をしない。

定常状態に達するまで又はスイッチが負荷回路を切断するまで継続する定格電流でスイッチに負荷をか

ける。

試験中に,火炎又は燃焼粒子の放出が起こってはならない。

この試験状態中にスイッチが開になることを製造業者が宣言した場合には,

その機能について確かめる。

24 

電子的スイッチの構成部品 

故障した場合に,感電及び火災の危険を引き起こすことのある構成部品(例えば,

SELV

変圧器,保護

インピーダンス,ヒューズ,感電事故を引き起こすことのあるコンデンサ,及び電磁干渉抑制用コンデン


91

C 4526-1

:2013

サなど)は,適度に当てはまる限り,この規格の要求事項か,又は関連 JIS 構成部品の規格に従わなけれ

ばならない。

ただし,電気用品の技術上の基準を定める省令(昭和

37

年通商産業省令第

85

号)の適用を受ける部品

が,省令で定められた技術基準に適合している部品であって,かつ,部品定格表示に従って使用されてい

る場合を除く。

構成部品に動作特性がはっきり表示されている場合には,電子的スイッチにおいて構成部品が使用され

る条件は,この規格で特別な例外を特記しなければ,マーキングに従わなければならない。

他の規格に従わなければならない構成部品の試験は,一般に,次のような関連する規格に従って別々に

実施する。

構成部品をそのマーキングに従って表示して使用する場合には,試料数は関連規格によって要求される

数とする。

JIS

が存在しない場合には,又は関連する JIS に従って構成部品を試験していないとき,若しくはその

規定の定格に従わないで使用する場合には,

電子的スイッチにおいて起こる状態下で構成部品を試験する。

電子的スイッチに組み込まれた構成部品は,電子的スイッチの構成部品としてこの規格の全ての試験を

受ける。

注記

関連構成部品に対する JIS との適否は,必ずしもこの規格の要求事項を満足することを保証し

ていない。

24.1 

保護装置 

保護装置は,関連 JIS 刊行物及び/又は次に規定する追加要求事項に従わなければならない。

24.1.1

ヒューズ

24.1.2

安全器

24.1.3

電流を減少させるだけの保護装置

24.1.4

ヒューズ抵抗

24.1.1 

ヒューズ 

ヒューズは,JIS C 6575-2IEC 60269-3-1 又は別表第三に従わなければならないし,ヒューズを通る故

障電流がヒューズの遮断容量に制限されなければ,少なくとも

1 500 A

の定格遮断容量をもっていなけれ

ばならない。ただし,別表第三の適合ヒューズを使用した独立形固定スイッチ以外及びコードスイッチ以

外の電子的スイッチについては,

100 A

以上とする。

24.1.2 

安全器 

安全器は,十分な投入及び遮断容量があり,適切な動作回数に選択され,次の要求事項及び試験規定に

準拠しなければならない。

24.1.2.1

リセット不可能安全器

24.1.2.2

非自己復帰形リセット可能安全器

24.1.2.3

自己復帰形安全器

適否は,次の一般試験規定に従って三つの試料を試験したり,関連タイプに規定した特別試験を行って

判定する。

電子的スイッチの安全器を

0

℃∼

35

℃又は

55

℃の範囲外の基準温度にさらす場合(7.1.3.4.2,又は

7.1.3.2

及び 7.1.3.3 に従う。

)には,試料をその基準温度で試験する。

試験中に,他の条件は電子的スイッチで起こるものと同様なものでなければならない。

試験中に,継続的なアーク発生が起こってはならない。


92

C 4526-1

:2013

試験後に,試料は,電子的スイッチのそれ以上の使用又は安全性を損なう損傷をあらわにしてはならな

い。

安全器のスイッチング周波数は,安全器の故障のリスクが更に大きくならなければ,電子的スイッチ固

有の標準スイッチング周波数よりも上に増加させることができる。

安全器を別々に試験することができない場合には,安全器を使用している電子的スイッチの追加試料を

提出する必要がある。

24.1.2.1 

リセット不可能な安全器 

リセット不可能な安全器は,JIS C 6691 又は別表第三に従う温度ヒューズ又は JIS C 9730-2-9 に従うバ

イメタル単動デバイス(

SOD

)でなければならない。

適否は,24.1.2 に従う試験によって判定する。

試験後に,電源を落として,温度は,製造業者が規定した最大温度又は異常状態についての

表 13 の値を

超えてはならない。

24.1.2.2 

非自己復帰形リセット可能安全器 

復帰可能,非自己復帰安全器は,JIS C 9730-1 及び該当する第

2

部の規格に従っていなければならない。

適否は,24.1.2 及び次の追加試験に従った試験によって判定する。

電子的スイッチの負荷回路の非自己復帰形リセット可能安全器は,電子的スイッチの定格電圧の

1.1

及び次に規定する負荷とともに試験する。

安全器は各動作後にリセットし,以後は

10

回動作させる。

白熱電球類用電子的スイッチの安全器は,非誘導回路で試験し,保護ヒューズの協約溶断電流の負荷

をかける。

速度制御回路用電子的スイッチの安全器は,

10

回の動作を

2

度連続して行う。

1

回目には,試験中の安全器は,

9

I

n

cos  φ

0.8

±

0.05

)の電流が流れる回路を閉じ,この電流

は各閉鎖の

50 ms

100 ms

後に補助スイッチによって遮断する。

2

回目には,

6

I

n

cos  φ

0.6

±

0.05

)の電流が流れる回路を補助スイッチによって閉じ,試験中

の安全器によって開ける。

他のタイプの負荷用安全器は,製造業者によって宣言された開閉電流で試験する。

注記 1

 6

I

n

及び

9

I

n

の値は暫定的なものである。

注記 2

I

n

”は電子的スイッチの定格電流である。電子的スイッチに定格電流の代わりに定格負荷

がある場合には,I

n

は,モータ負荷の

cos φ

0.6

であるという前提の下で計算される。

24.1.2.3 

自己復帰形安全器 

自己復帰形安全器は JIS C 9730 規格群に準拠しなければならない。

適否は,24.1.2 及び次の追加試験に従った試験によって判定する。

電子的スイッチの負荷回路の自己復帰形安全器は,電子的スイッチの定格電圧の

1.1

倍及び次に規定す

る負荷とともに試験する。

白熱電球類用電子的スイッチの安全器は,非誘導回路で

200

サイクル間を自動的に動作させ,保護ヒ

ューズの協約溶断電流の負荷をかける。

注記

他のタイプの負荷用電子的スイッチの安全器は,製造業者によって宣言されたとおりに試験す

る。

24.1.3 

電流を減少させるだけの保護装置(例えば PTC 抵抗器) 

電流だけを減少させる保護装置は,JIS C 9730-1 

附属書 に従うサーミスタタイプ又は IEC 60738-1


93

C 4526-1

:2013

に従う

PTC-S

サーミスタでなければならない。

適否は,24.1.2 及び次の追加試験に従った試験によって判定する。

PTC-S

サーミスタでは,

25

℃の周囲温度における定格ゼロ次抵抗について

15 W

を超える電力消費,カ

プセル封じ又は管類は,JIS C 0066 に従う燃焼性

V-1

以上に従わなければならない。

可燃基準の適否は,JIS C 0066 に従って判定する。

24.1.4 

ヒューズ抵抗 

ヒューズ抵抗は,十分な遮断容量があり,故障状態下での破断中に火炎又は燃焼粒子の放出を引き起こ

してはならない。

疑義がある場合には,同じ抵抗器の新たな試料で試験を繰り返す。抵抗器が再び遮断した場合は,関連

故障状態に対して保護するヒューズ抵抗器として認められる。

24.2 

コンデンサ 

次のコンデンサは,JIS C 5101-14 の要求事項に準拠し,

表 27 に従わなければならない。

感電事故及び火災事故を引き起こすことがあるようなコンデンサ,

並びに電磁妨害抑制用コンデンサ。

感電事故及び火災事故に関する故障状態下で,要求事項の侵害を引き起こす短絡及び切断のあるコン

デンサ。

コンデンサの端子を通して

0.5 A

よりも大きな電流を引き起こす短絡のあるコンデンサ。

JIS C 5101-14

の 4.12 に規定するダンプヒート,定常状態試験の期間は

21

日でなければならない。

電流を測定するときには,ヒューズは短絡しているものとみなす。他の保護具では,抵抗性素子は等価

インピーダンスによって置き換える。

表 27−コンデンサに関する要求事項

コンデンサの適用

コンデンサのタイプ(JIS C 5101-14 に従ったもの)

U

n

≦125 V

125 V<U

n

≦250 V

過電流保護なし

a)

過電流保護あり

a)

電源線(L 又は N)と接地間(PE) Y4

Y2

Y2

電源線間(L 及び N 又は L1 及び L2)

−  直列のインピーダンスなし X2

X1

X2

−  コンデンサの短絡によって次の値

に電流を制限する直列抵抗あり

・ 0.5

A 以上 X3

X2

X3

・ 0.5

A 未満

要求事項なし

要求事項なし

要求事項なし

a)

  ヒューズ抵抗(内蔵又は外部)

24.3 

抵抗器 

9.1.1

に従う保護インピーダンスの抵抗器及び故障状態(箇条 23 参照)の動作要求事項を侵害する短絡

又は遮断の抵抗器は,過負荷状態下で十分安定した抵抗値が必要であり,また,JIS C 6065 の 14.1 の要求

事項に準拠しなければならない。

25 EMC

要求事項 

機器用スイッチは,製造業者の仕様に従って使用するときに,イミュニティ及びエミッションについて

の要求事項を満たさなければならない。

機器に作り付けたり組み込むことを予定している電子的スイッチは,最終製品のイミュニティ及びエミ

ッションについての要求事項に従わなければならない。


94

C 4526-1

:2013

適否は,機器に組み込んだり一体化した電子的スイッチによって判定する。

注記

機器に作り付けたり組み込むことの予定している電子的スイッチは,製造業者によって要請さ

れた場合にだけ試験する。

電子的コードスイッチ及び独立形固定スイッチは,製造業者の宣言に従って使用するときにイミュニテ

ィ及びエミッションについての要求事項を満たさなければならない。

適否は,別の器具として若しくは関連機器とともに試験する電子的コードスイッチ又は独立形固定スイ

ッチで 25.1 及び 25.2 によって判定する。

25.1 

イミュニティ 

この規格の範囲内の機械的スイッチは,電磁妨害によって影響を受けないので,イミュニティ試験は必

要ない。

電子的スイッチは,スイッチの状態(オン又はオフ)及び/又は設定値が,電磁干渉から保護されるよ

うに設計しなければならない。

次の試験では,電子的スイッチは,通常使用状態に取り付けられ箇条 17 に規定したとおり,定格電圧で

定格負荷が得られるように負荷を加える。

各電子的スイッチは,該当する場合には,次の状態で試験する。

a)

オン状態で,最大設定。

b)

オン状態で,最小設定。

c)

オフ状態で,最大設定。

d)

オフ状態で,最小設定。

25.1.1 

電圧ディップ及び瞬断 

電子的スイッチは,最低

10

秒間隔(各試験事象間)でディップ及び瞬断を

3

回連続して行い,

表 28 

従って 25.1 に規定するように IEC 61000-4-11 に規定する試験装置で試験をしなければならない。

電源電圧の急変化がゼロクロッシングで起こらなければならない。試験電圧発電機の出力インピーダン

スは,過渡電圧中でさえ低くなければならない。

試験電圧 U

T

と切換え電圧との間の変化は急しゅん(峻)でなければならない。

注記

 100

%

U

T

は定格電圧に等しい。

試験レベルの

0 %

は合計電源電圧遮断に相当する。

表 28−電圧ディップ及び瞬断に関する試験レベルと期間

試験レベル

U

T

%

電圧ディップ・遮断

U

T

%

定格周期での 
サイクル回数

0

100

10

40

60

10

70

30

10

試験中に,電子的スイッチの状態及び/又は設定は変わってもよい。

試験中の照明灯の時々起こる明滅及び不規則なモータ回転は無視する。

試験後に,電子的スイッチは最初の状態にあり,設定は変化していない状態でなければならない。

25.1.2 1.2/50

波形インパルスに対する耐性 

注記

電子的スイッチを様々な種類の負荷とともに使用するつもりであるならば,最も厳しい負荷を

これらの試験に選択することが望ましい。


95

C 4526-1

:2013

試験は,

1 kV

の開回路試験電圧で JIS C 61000-4-5 に従って実施する(レベル

2

試験中に,スイッチの状態及び/又は設定が変わってはならない。

試験中の照明灯の時々起こる明滅及び不規則なモータ回転は無視する。

試験後に,電子的スイッチは最初の状態にあり,設定は変化していない状態でなければならない。

25.1.3 

電気的高速過渡電圧試験 

電子的スイッチは,電源及び制御端子/端末で繰返し高速過渡電圧(バースト)試験を受けなければな

らない。

この試験は,次の仕様で JIS C 61000-4-4 に従って実施する。

電源と電子的スイッチの制御端子/端末とをつなぐバーストから成る繰返し高速過渡電圧のレベルは,

表 29 に従う。

表 29−ファーストトランジェントバースト

回路出力試験電圧±10 %

電源端子/端末

制御端子/端末

1 kV(レベル 2)

0.5 kV(レベル 2)

試験電圧の両極性は強制。

試験時間は少なくとも

1

分でなければならない。

試験中に,電子的スイッチの状態及び/又は設定は変化してもよい。

試験中の照明灯の時々起こる明滅及び不規則なモータ回転は無視する。

試験後に,スイッチは最初の状態のままでなければならない。

注記

設定が少しでも変わっているならば,制御装置を操作して設定を元どおりにすることができる

ことが望ましい。

25.1.4 

静電放電試験 

通常使用状態に取り付けられた電子的スイッチは,静電接触及び空気放電に耐えなければならない。

この試験は,必要であるときは,両タイプ(空気/接触)の一つの正極と一つの負極放電を,製造業者

によって指定された

10

のあらかじめ選択した各点に加えて,JIS C 61000-4-2 に従って実施する。

次のレベルを適用する。

接触放電の試験電圧:

4 kV

空気放電の試験電圧:

8 kV

試験中に,スイッチの状態及び/又は設定は変わってもよい。

試験中の照明灯の時々起こる明滅及び不規則なモータ回転は無視する。

試験後に,電子的スイッチは最初の状態のままでなければならない。

注記 1

設定が少しでも変わっているならば,制御装置を操作して設定を元どおりにすることができ

ることが望ましい。

注記 2

調節可能な時間遅延器具付きの特定電子的スイッチ(例えば,受動赤外線スイッチ−“

PIR

スイッチ”

)は,遅延時間が試験時間よりも上回るように調整することが望ましい。

注記 3

試験限界範囲内の測定値は,不確定測定についての状況が明らかになるまで,その結果は許

容できる。

25.1.5 

放射電磁界試験 

連続電波放射電磁エネルギーを発生する携帯用無線トランシーバ又は他の装置によって発生するものな

どの電磁界を受ける電子的スイッチは次のように試験しなければならない。


96

C 4526-1

:2013

試験は,JIS C 61000-4-3 に従って実施し,

3 V/m

の電界強さを加える。

注記

JIS C 61000-4-3

に従う試験を,JIS C 61000-4-6 に従う試験で置き換えることは検討中である。

試験後に,

電子的スイッチは最初の状態のままであり,

設定も変化していない状態でなければならない。

試験中に,電子的スイッチの状態及び/又は設定は変化してもよい。しかし,他の変更は許容しない。

試験中の照明灯の時々起こる明滅及び不規則なモータ回転は無視する。

25.1.6 

電源周波数磁界試験 

この試験は,例えば,ホール素子,電動マイクロフォンなどの磁界に影響されやすい装置を含む電子的

スイッチにだけ適用する。

電子的スイッチは,電源周波数磁界試験に耐えなければならない。

試験は,

50 Hz

3 A/m

の磁界で JIS C 61000-4-8 に従って実施する。

試験中に,電子的スイッチの状態が変わってはならない。

試験中のランプの,時々起こる明滅又は不規則なモータ回転は無視する。

25.2 

エミッション 

この規格の適用範囲に含まれる機械的スイッチング素子は,スイッチング動作の間だけ電磁妨害を発生

してもよい。これは持続的ではないため,エミッション試験は不要である。

25.2.1 

低周波エミッション 

公衆低電圧供給システムに接続する電子的スイッチは,回線に過度の妨害の原因とならないように設計

されていなければならない。

適否は,JIS C 61000-3-2IEC 61000-3-3 及び IEC/TR2 61000-3-5 に従った試験を行って判定する。

電子的スイッチが,

11

次高調波を除き,得られたスペクトラムの概観においてこれらの規格の判断基準

に適合する場合には,要求事項を満足するとみなす。

スペクトラムの包絡線の概観が,高調波の次数の増加に伴って単調な減少を示す場合には,高調波の測

定は

11

次までに制限できる。

25.2.2 

無線周波エミッション 

電子的コードスイッチ及び電子的独立形固定スイッチは,過度の無線妨害の原因とならないように設計

しなければならない。

電子的スイッチは,CISPR 14-1 又は CISPR 15 の要求事項に準拠しなければならない。電気照明に使用

する電子的スイッチは,CISPR 15 を適用する。

CISPR 15

の 8.1.4.1 及び 8.1.4.2 に,次の部分的な変更を適用する。

適否は,次によって判定する。

a)

商用電源端子(CISPR 15 の 8.1.4.1

全周波数範囲

9 kHz

30 MHz

の最初の調査又は走査は,最大設

定の

ON

状態でしなければならない。さらに,次の周波数及び CISPR 15 に規定している限度値以下

で規定レベル

6 dB

以上の最大の妨害を発見した全ての周波数において,最大負荷を維持しながら最大

の妨害を得るために,制御部の設定を変化させなければならない。

9 kHz

50 kHz

100 kHz

150 kHz

240 kHz

550 kHz

1 MHz

1.4 MHz

2 MHz

3.5 MHz

6 MHz

10 MHz

22 MHz

及び

30 MHz

b)

負荷及び/又は制御端子(CISPR 15 の 8.1.4.2

全周波数範囲

150 kHz

から

30 MHz

までの最初の調

査又は走査は,最大設定の

ON

状態でしなければならない。さらに,次の周波数及び CISPR 15 に規

定している限度値以下で規定レベル

6 dB

以上の最大の妨害が発見した全ての周波数において,最大負

荷を維持しながら最大の妨害を得るために,制御部の設定を変化させなければならない。


97

C 4526-1

:2013

150 kHz

240 kHz

550 kHz

1 MHz

1.4 MHz

2 MHz

3.5 MHz

6 MHz

10 MHz

22 MHz

及び

30 MHz

a)

  圧力板なし端子 b)  圧力板付き端子 

D  :導体スペース(規定されていない。) 
g  :締付けねじとエンドストップとの間の距離(規定されていない。)

図 1−ピラー端子の例

a)

  ねじ端子 

b)

  スタッド端子 

A  :固定部品 
B  :座金又は締付板 
C  :ばらけ防止具 
D  :導体スペースの幅(規定されていない。) 
E  :スタッド(植込みボルト) 

図 2−ねじ端子及びスタッド端子の例


98

C 4526-1

:2013

A  :サドル 
B  :ケーブルラグ又は帯状導体 
C  :スタッド(植込みボルト) 
D  :導体スペース(規定されていない。)

図 3−サドル端子の例

A  :緩み止め 
B  :ケーブルラグ又は帯状導体 
E  :固定部品 
F  :スタッド(植込みボルト)

図 4−ラグ端子の例

A  :固定部品 
D  :導体スペース(規定されていない。) 
導体スペースの底部は,信頼性のある接続を得るために円形状にしなければならない。

図 5−マントル端子の例


99

C 4526-1

:2013

a) 

間接圧力クランプ手段をもつねじなし端子及び駆動部品による解除 

b) 

直接圧力クランプ手段をもつねじなし端子及び工具による解除 

c) 

直接圧力クランプ手段をもつねじなし端子及び駆動部品による解除 

A  :導体 
B  :通電部 
C  :クランプばね 
D  :導体用開口部 
E  :工具用開口部

F  :工具(ドライバ) 
G  :圧力ばね 
H  :駆動部品 
I

:スイッチの一部

図 6−ねじなし端子の例

図 7(削除)


100

C 4526-1

:2013

単位  mm

めす(雌)形コネクタの寸法

タブ寸法に対する

コネクタ

B

3

最大

L

2

最大

L

3

最大

2.8×0.5 3.8

2.3

0.5

2.8×0.8 
4.8×0.5

a)

 6.0

2.9

4.8×0.8 
6.3×0.8 7.8

3.5

9.5×1.2 11.1

4.0

a)

  公称寸法 4.8×0.5 は,新しい設計用には推奨しない。

図 8−平形クイック接続端子の試験用めす(雌)形コネクタ

回路の数値は,次のとおり。 
R

1

E/I

は定格電圧,は定格電流

R

2

R

1

×1.414/(X−1)  はピークサージ電流と定格抵抗負荷電流との比率,又は低温時ラン

プのピーク突入電流と定格電流の比率

R

3

=(800/XR

1

C×R

2

=2 500 µs

D:シリコンブリッジ整流器 
S:試料

回路素子及び電源インピーダンスは,サージ電流,低温時ランプのピーク突入電流,定格

抵抗負荷電流又はランプの定格電流について 10 %の精度を保証するように選択する。

a)

  交流回路用容量性負荷試験及び擬似白熱電球負荷試験用回路 

図 9−容量性負荷試験及び擬似白熱電球負荷試験用回路


101

C 4526-1

:2013

回路の数値は,次のとおり。 
R

1

E/I

E は定格電圧,は定格抵抗負荷電流又はランプの定格電流。

R

2

R

1

/(X−1)

は,ピークサージ電流と定格抵抗負荷電流,又は低温時ランプのピーク突
入電流とランプの定格電流との比率。

R

3

=(800/XR

1

C×R

2

=2 500 µs

S:試料

回路素子及び電源インピーダンスは,サージ電流,低温時ランプのピーク突入電流,定格

抵抗負荷電流,又はランプの定格電流について 10 %の確度を保証するものとする。

b)

  直流回路用容量性負荷試験及び擬似ランプ負荷試験用回路 

図 9−容量性負荷試験及び擬似白熱電球負荷試験用回路(続き)

数値表 
R

1

=25 Ω

R

2

=3.93 Ω

R

3

=2 000 Ω

C=636 μF

図 10−定格 10/100 A 250 V∼のスイッチの試験に用いる容量負荷試験回路の数値


102

C 4526-1

:2013

単位  mm

A  :厚さ 1.5 mm の取替え可能鋼板 
B  :厚さ 8 mm のアルミニウム板 
C  :厚さ 8 mm の合板 
D  :質量 10 kg±1 kg の鉄鋼製の取付支持体 
E  :試料のための鋼板にあけた切欠き

図 11−衝撃試験に用いる取付器具

図 12−ボールプレッシャー試験器

単位  mm

図 13−テストピン


103

C 4526-1

:2013

N  一定負荷での動作 
θ

max

 到達最大温度

図 14−連続デューティ−デューティサイクル S17.1.16.1 参照)

N  一定負荷での動作 
θ

max

 到達最大温度

図 15−短時間デューティ−デューティサイクル S27.1.16.2 参照)


104

C 4526-1

:2013

N  一定負荷での動作 
R  休止及びエネルギー降下 
θ

max

 到達最大温度

図 16−間欠性デューティ−デューティサイクル S37.1.16.3 参照)

A  短絡回路のための補助スイッチ 
L  I

2

t を通すための制限装置

S  試料 
Z

1

  予想される短絡回路電流を調整するインピーダンス(無誘導)

Z

2

  負荷調節するインピーダンス(無誘導)

図 17−短絡試験回路図


105

C 4526-1

:2013

A  スイッチに負荷を掛けるための補助スイッチ
R  電流を達成するための抵抗負荷 
S  試験試料

図 18−温度上昇試験回路図

A  スイッチの負荷をセットするための補助スイッチ 
A

1

  “遮断”電流に到達させるための補助スイッチ

S  試験試料 
Z

1

  “遮断”電流に到達するための抵抗負荷

Z

2

  “投入”電流の負荷

 
“接続”試験負荷は Z

2

に調節し補助スイッチ A 及び A

1

によって閉にセットする。

“破壊”試験負荷は Z

1

に調節し開路補助スイッチ A

1

をもつ補助スイッチ A によって閉にセットする。

耐久試験の間中,補助スイッチ A は開路している。 
A

1

は最初に閉じておき,

“投入”試験負荷を遮断負荷に減じるために,試験試料を閉じた後,遅延して回路を

開放する。試験終了後,試料 S はスイッチを切り,補助スイッチ A

1

は試験試料の次の動作の前に閉鎖する。

電気的接点の試験において,遅延時間は 50∼100 ms の間とする。電子的スイッチの試験において,入力した負

荷電圧の位相角は可動部の動きによって変化し,遅延時間は,試験機器の機械的動作の動作速度によって決定し,
幾つかの方法から選択する,A

1

は,位相角が最大で開回路する。

注記  例えば,12(2)A のような模擬負荷は,正確な遮断負荷をセットするために追加の補助スイッチを要求する。

図 19−耐久試験の回路図


106

C 4526-1

:2013

附属書 A

(規定)

空間距離及び沿面距離の測定

例 1∼例 11 に規定する溝幅 は,次の度合いとし,汚染状態の関数として全ての例に適用する。

汚損度

溝幅 の最小値

1 0.25 mm 
2 1.0

mm

3 1.5

mm

組合せの空間距離が

3 mm

より少ない場合には,最小幅 は,この空間の

1/3

に減らしてもよい。

沿面距離及び空間距離の測定方法は,次の

例 1∼例 11 に示す。これらの例では,間隙と溝の間,又は絶

縁のタイプ間を区別していない。

どのようなコーナも,最も望ましくない位置に移動した溝幅 の絶縁物で隙間を埋め,橋絡すること

を想定している(

例 参照)。

溝の上部の溝幅の距離が 以上の場合には,沿面距離は溝の輪郭に沿って測定する(

例 参照)。

相互に関連して移動する部品間の空間距離及び沿面距離は,それらの部品が最も不利となる位置にあ

るときに測定する。

例 1∼例 11 に対する記号

例 1

条件:沿面距離の経路が,溝の側面が平行であるかテーパであるかにかかわらず,X

 mm

より小さい幅

をもつ溝を含む場合。

ルール:沿面距離及び空間距離は,図示のように溝の間を直接的に測定する。

例 2

条件:沿面距離の経路が,X

 mm

以上の幅をもつ溝を含み,その溝の側面が平行である場合。

ルール:空間距離は,“見通し”距離とする。沿面距離の経路は,溝の輪郭に沿って測定する。


107

C 4526-1

:2013

例 3

条件:沿面距離の経路が,X

 mm

以上の幅をもつ

V

形溝を含む場合。

ルール:空間距離は,“見通し”距離とする。沿面距離の経路は,溝の輪郭に従うが溝の底部を X

 mm

          で“短絡”して測定する。

例 4

条件:沿面距離の経路が,リブを含む場合。

ルール:空間距離の経路は,リブ上面の最短空間距離経路とする。沿面距離はリブの輪郭に従う。

例 5

条件:沿面距離の経路が,両側面に X

 mm

以下の溝をもつ,接着されていない突合せ面を含む場合。

ルール:空間距離と沿面距離とは図示する“視界”距離とする。

例 6

条件:沿面距離の経路が,各側面に X

 mm

以上の溝をもつ,接着されていない突合せ面を含む場合。

ルール:空間距離とは,“視界”距離とする。沿面距離は溝の輪郭に従う。


108

C 4526-1

:2013

例 7

条件:沿面距離の経路が,一側面に X

 mm

より小さい幅の溝をもち,他の側面に X

 mm

以上の溝をもつ,

接着されていない突合せ面を含む場合。

ルール:空間距離及び沿面距離の経路は,図示するとおりとする。

例 8

条件:接着されていない突合せ面を通る沿面距離が,隔壁上を通る沿面距離以下の場合。

ルール:空間距離は,接着されていない突合せ面を通る経路による。

例 9

条件:ねじの頭とくぼみの側面との隙間が,十分な幅をもつ場合。

ルール:空間距離及び沿面距離の経路は,図示するとおりとする。


109

C 4526-1

:2013

例 10

条件:ねじの頭とくぼみの側面との隙間が狭い場合。

ルール:沿面距離の測定は,距離が X

 mm

に等しいときは,ねじから壁までとする。

例 11

C

:変動部品

空間距離は,距離 d

1

d

2

沿面距離も,d

1

d

2


110

C 4526-1

:2013

附属書 B

(参考)

空間距離及び沿面距離の寸法に関する図

a)

a)

a)

外部過渡過電圧の影響を受

る全ての回路を含む。


111

C 4526-1

:2013

附属書 C

(削除)


112

C 4526-1

:2013

附属書 D

(規定)

保証トラッキング試験

保証トラッキング試験(

PTI

)は,JIS C 2134 に準拠して行う。

この規格は,次の各項を適用する。

a)

JIS C 2134

の 3.“試験片は”において,第

1

段落の最終文章は適用しない。さらに,

備考 2.及び備考

3.

は,6.3 の保証トラッキング試験に適用する。

注記

スイッチの寸法が小さいために,

15 mm

×

15 mm

の表面が得られないときは,同一製作手順

の特別試料を使用してもよい。

b)

JIS C 2134

の 5.4 に規定する試験溶液

A

を使用しなければならない。

c)

プラチナ以外の材料の両極でこの試験を行う場合には,これについて報告しなければならない。

d)

滴下する間隔の許容差は,±

1

秒でなければならない。

e)

JIS C 2134

の 6.“手順”において,6.1 に引用されている電圧は,この規格の宣言した汚損度及び通常

の使用状態で起こる電圧(定格電圧)での沿面距離の測定に関して,この規格の

表 23 又は表 24 から

材料グループで決定する 20.2 によって定められている値に設定する。さらに,6.2 は適用しない。そ

して,6.3 の保証トラッキング試験は,

5

個の試料について実施しなければならない。


113

C 4526-1

:2013

附属書 E

(削除)


114

C 4526-1

:2013

附属書 F

(参考)

スイッチ使用上のガイド

F.1

実際の使用において,スイッチは広範囲の電流にわたって多くの異なる種類の回路を制御している。全

ての使用負荷について,全てのスイッチを試験することは経済的に実行不可能である。認証のために行う

試験の目的において,使用される代表的な回路として,標準試験回路が制定されている。そしてスイッチ

の電気定格は,標準回路条件を用いて証明されることとなる。次のガイドラインは,ある特定のスイッチ

定格が実際の使用において回路を制御するために適するかどうかを判定するために用いることができる。

F.1.1 

抵抗負荷電流定格 

抵抗負荷電流定格は,力率

0.95

以上の実質的な抵抗負荷を使用して検証する。

F.1.1.1

抵抗負荷定格をもつスイッチは,次のいずれかの条件を満たす場合には,誘導負荷を制御するた

めに使用できる。

力率が

0.8

以上であり,モータ負荷電流がスイッチの抵抗負荷電流定格の

60 %

以下であり,かつ,イ

ンラッシュ電流が抵抗負荷電流定格以下である。

力率が

0.6

以上であり,モータ負荷電流はそのスイッチの抵抗負荷電流定格の

16 %

以下である。

F.1.1.2

抵抗負荷定格をもつスイッチは,白熱電球負荷の定常電流が,そのスイッチの抵抗負荷電流定格

10 %

以下である場合に限り,白熱電球負荷を制御するために使用できる。

F.1.2 

抵抗負荷及び/又は電動機負荷電流定格 

電動機負荷電流定格は,投入するときは力率

0.6

の負荷,そして遮断するときは力率

0.95

の負荷を使用

して検証する。

F.1.2.1

抵抗負荷定格及び電動機負荷定格の両方をもっているスイッチは,全抵抗負荷に全電動機負荷を

加えた組合せ負荷を開閉するには適さない。このスイッチは,抵抗負荷電流及び電動機定常電流の

6

倍と

のベクトル和が,抵抗負荷電流定格又は電動機負荷定格の

6

倍のうちいずれか大きい方を超えないという

条件で,組合せ負荷を開閉するために使用することができる。この抵抗負荷電流及び電動機の定常電流の

ベクトル和は,抵抗負荷電流定格を超えてはならない。

注記

一例は,同一セットの接点が,ヒーター及び電動機の両方を組み込んだファンヒーターの中の

一つの回路を制御するスイッチである。

F.1.2.2

抵抗負荷定格及び電動機負荷定格の両方をもつスイッチは,白熱電球の定常負荷電流が,抵抗負

荷電流定格の

10 %

又は電動機負荷定格の

60 %

のうち,いずれか大きい方を超えないという条件の下に,

白熱電球負荷用として使用してもよい。

F.1.2.3

電動機負荷定格だけをもったスイッチは,次のいずれかのようにも分類することができる。

抵抗負荷は電動機負荷に等しいと製造業者が指定することによって,7.1.2.2 に準拠。

製造業者が指定した特定負荷用として,7.1.2.5 に準拠。

F.1.3 

容量と抵抗負荷との組合せ負荷定格 

注記

テレビジョン及びラジオの中の回路が一例である。

F.1.4 

製造業者が指定した特定負荷定格 

注記 1

蛍光灯負荷及び力率

0.6

未満の誘導負荷は,一例である。


115

C 4526-1

:2013

注記 2

機器の中に付けて提出されたスイッチは,その機器の回路を使用して試験する。製造業者が

指定した特定負荷として,7.1.2.5 に分類することができる。

F.1.5 20 

mA

以下の電流定格 

注記

この例は,放電管表示器及び他の信号表示灯を制御するスイッチである。


116

C 4526-1

:2013

附属書 G

(削除)


117

C 4526-1

:2013

附属書 H

(参考)

平形クイック接続端子,めす(雌)形コネクタ選定の方法

タブ付きのスイッチを試験する目的のために,JIS C 2809 に準拠する寸法のめす(雌)形コネクタを使

用しなければならない。

疑義がある場合には,

図 に準拠するめす(雌)形コネクタを次の試験を受けるために提出する。また,

この試験に耐えた場合には,同じ生産ロットの新しい試料をスイッチを試験する目的のために使用しなけ

ればならない。

6

個のめす(雌)形コネクタの試料に,

表 に示す中間又は宣言した断面積の導体を取り付ける。それ

ぞれのめす(雌)形コネクタに対して,未使用のタブを差し込み,引き抜く。同じタブを更に

5

回差し込

んで引き抜く。差込み力及び引抜き力は,軸方向に弾みをつけることなく加える。この力は,各差込み及

び引抜きごとに測定する。

差込み力及び引抜き力は,

表 H.1 の値を満足しなければならない。

表 H.1−平形クイック接続端子に対する差込み力及び引抜き力

タブの大きさ

 

mm

第 1 回目差込み力

第 1 回目引抜き力

第 6 回目引抜き力

個々の力の最大値

N

最大値

N

最小値

最小値

平均

N

個々

N

平均

N

個々

N

めっきなし黄銅タブ及びめっ
きなし黄銅コネクタ

2.8 53

44

13

9

9

5

4.8

67

89 22 13 13  9

6.3

80

80 27 18 22 18

9.5

100

80 30 20 30 20

めっきなし黄銅タブ及びすず

めっきめす(雌)コネクタ

2.8 53

44

13

9

9

5

4.8

67

89 22 13 13  9

6.3

76

76 22 13 18 13

9.5

100

80 40 23 40 23


118

C 4526-1

:2013

附属書 J

(削除)


119

C 4526-1

:2013

附属書 K

(規定)

定格インパルス電圧,定格電圧及び過電圧カテゴリ間の関係

表 K.1−低電圧用のスイッチの定格インパルス耐電圧

電源システムの公称電圧

a)

V

公称電圧から出る電圧線−

中性線間の交流又は直流電圧

V

定格インパルス耐電圧

b) c)

kV

三相

単相

過電圧カテゴリ

I

II

III

50

0.33

0.5

0.8

100

d)

 0.5

0.8

1.5

 100,100/200

150

d)

 0.8

1.5

2.5

200

 300

1.5

2.5

4.0

注記 1  定義の情報として JIS C 60664-1 の 4.3.3.2.2 の過電圧カテゴリ参照。 
注記 2  一般的に機器のスイッチは,過電圧カテゴリ II と考えられている。過電圧カテゴリ I は,機器の内部

に過渡過電圧に対する特別な予防策が組み込まれていれば適用できる。

a)

  /は,単相 3 線のシステムについて明示する。最低値は,電圧線−中性線。最高値は,電圧線間。

b)

  これらの定格インパルス耐電圧をもったスイッチは,JIS C 0365 に従った設備に使用できる。

c)

  スイッチ端子での過電圧のスイッチ容量については,定格インパルス耐電圧が関連する機器の規格及び

製造業者の取扱説明書に従って使用されるとき,この値を超えた過電圧が発生してはならないというこ

とを意味する。

d)

  日本においては,給電系統の公称(対地)電圧 100 V は,150 V の欄を適用する。


120

C 4526-1

:2013

附属書 L

(規定)

汚損度

ミクロ環境は,絶縁体に及ぼす汚染の影響を決定する。しかし,マクロ環境は,ミクロ環境を検討する

ときに,考慮に入れなければならない。

スイッチの中で,特定汚損度について設計された,きょう(筐)体又はシーリングは,低い汚損度に適

切な空間距離及び沿面距離の利用ができるように,

設けることができる。

汚染を減少させるための手段は,

スイッチを結露にさらしたときに,有効でないことがある。

小さな空間距離は,固体粒子,ほこり(埃)及び水によって完全に橋絡することができるので,ミクロ

環境で汚染が存在することのある箇所には最小空間距離を規定する。

注記

汚染は,湿気の存在で導電性になる。汚染された水,ばい(煤)煙,金属又は炭素粉末によっ

て引き起こる汚染は,本質的に導電性である。

ミクロ環境での汚損度

沿面距離及び空間距離を評価するために,ミクロ環境において,次の三つの汚損度が規定されている。

汚損度 1

汚染なし又は乾燥だけの,非導電性汚染が起こる。この汚染は影響しない。

汚損度 2

時折結露によって引き起こされた暫定的導電率が予期される点は除き,非導電性汚染だけ

が起こる。

汚損度 3

導電性汚染又は乾燥非導電性汚染が起こる。

これは予期される結露によって導電性になる。

イオン化気体及び金属蒸着による導電性汚染は,スイッチのアークチャンバで発生することがある。こ

の種の汚染では,汚損度は規定しない。安全面は,箇条 17 の試験中に判定する。


121

C 4526-1

:2013

附属書 M

(規定)

インパルス電圧試験

この試験の目的は,空間距離が規定の過渡過電圧に耐えることを確認することである。インパルス耐電

圧試験は,IEC 60060-1 に規定した

1.2/50 µ

秒の波形をもつ電圧で実施し,空電を起源とする過電圧を模擬

することを意図している。低電圧装置の切換えによる過電圧もカバーする。

この試験は,パルスとパルスとの間が少なくとも

1

秒の間隔で,各極性が最低三つのインパルスに対し

て行わなければならない。

注記

インパルスジェネレータの出力インピーダンスは

500 Ω

よりも高くしないほうがよい。試験回

路両端に構成部品を組み込んで試料を試験するときには,ずっと低い出力インピーダンスを使

用することができる。

試料内部にサージサプレッションが備わっているときには,

インパルスに次の特性がなければならない。

表 M.1 の値に等しい振幅の無負荷電圧に対しては波形

1.2/50 µ

秒。

適切なサージ電流に対しては波形

8/20 µ

秒。

注記

試験電圧源の電圧波形は,試料がサージサプレッションを装備しているかどうかにかかわらず

適用可能である。試料にサージサプレッションを備えている場合には,インパルス電圧波をチ

ョップすることはできるが,試料は,試験後に一般に再び動作する状態であるのがよい。

試料にサージサプレッションを設けず,かつ,インパルス電圧に耐える場合には,波形は著しくひずん

ではならない。

表 M.1−海抜での検証された空間の試験電圧

定格インパルス耐電圧

U

kV

海抜でのインパルス試験電圧

U

kV

0.33 0.35 
0.5 0.55 
0.8 0.91 
1.5 1.75 
2.5 2.95 
4.0 4.8 
6.0 7.3

注記 1  空間距離の試験を行うとき,組み合う固体絶縁にも試験電圧を加える。この表のインパルス試

験電圧は,定格インパルス電圧よりも増加しているので,固体絶縁はそれに応じて設計するこ
とになる。この結果として,固体絶縁の耐インパルス容量を増加させなくてはならない。

注記 2  試験は,2 000 m(80 kPa)の標高に一致した値に調整した気圧及び 20  ℃の条件において,定

格インパルス電圧に一致した試験電圧で行ってもよい。この場合,固体絶縁は海抜での試験と
同じ耐力要求にはならない。

注記 3  空間距離の絶縁耐力の影響要素(空気圧,標高,温度,湿度)に関する説明は,JIS C 60664-1

の 6.1.2.2.1.3 で規定される。


122

C 4526-1

:2013

附属書 N

(規定)

高度補正係数

表 22 で規定された空間距離については,海抜

2 000 m

以下での標高に関して有効であり,

2 000 m

を超

える標高の空間距離は,次の高度補正係数を乗じなければならない。

表 N.1−高度補正係数

標高

m

公称気圧

kPa

空間距離に乗じる

係数

2 000

80.0

1.00

3 000

70.0

1.14

4 000

62.0

1.29

5 000

54.0

1.48

6 000

47.0

1.70

7 000

41.0

1.95

8 000

35.5

2.25

9 000

30.5

2.62

10 000

26.5

3.02

15 000

12.0

6.67

20 000

5.5

14.50


123

C 4526-1

:2013

附属書 P

(規定)

剛性プリント配線板のコーティングタイプ

タイプ

A

コーティング:汚損度

1

に従うコーティングを施したプリント配線導体間の間隔における環境

を改善することによって汚染に対する保護だけをもたらす。20.1 及び 20.2 の空間距離及び沿面距離につい

ての要求事項は,コーティング下の剛性プリント配線板アセンブリに適用する。

タイプ

B

コーティング:導体を固体絶縁体の中に閉じ込めることによって汚染及び絶縁に対する保護を

もたらすので,20.1 及び 20.2 の空間距離及び沿面距離についての要求事項は,コーティング下の導体間に

は適用しない。

注記 1

コーティングは,片方又は両方の導電部を,その間の沿面距離の少なくとも

80 %

とともに,

覆うのであれば,二つの導電部間で有効にすることができる。その結果,一部のコーティン

グ剛性プリント配線板アセンブリは,コーティングしていないときの同じ剛性プリント配線

板アセンブリと比べて,導電部間において,高い電圧又は低減した空間距離及び沿面距離で

使用することができる。

注記 2

20.1

及び 20.2 に従う空間距離及び沿面距離についての要求事項は,剛性プリント配線板アセ

ンブリの全ての未コーティング部分及びコーティングした導電部間に適用する。


124

C 4526-1

:2013

附属書 Q 
(規定)

タイプ A コーティングされたプリンタ配線板の絶縁距離の測定

図 Q.1−絶縁距離の測定

絶縁距離は,基板上のコーティングの下側を測定する。


125

C 4526-1

:2013

附属書 R

(規定)

ルーチン試験

R.1 

序文 

ルーチン試験は

100 %

検出が安全のために必要と考えられる状況で規定する。

R.2 

一般的な見解 

関連試験に合格しないスイッチの場合には,是正処置を行わなければならない。

R.3 

減じられた空間距離に行われるルーチン試験 

表 22 に与えられた規定未満の基礎又は機能絶縁の空間距離は,附属書 の試験を使用してルーチン試

験を行わなければならない。

R.4 

コードスイッチ及び独立形固定スイッチに行われるルーチン試験 

コードスイッチ(JIS C 4526-2-1)及び独立形固定スイッチ(JIS C 4526-2-4)には次の試験を行わなけ

ればならない。

接地導通は

10 A

以上の試験電流で 10.4 に従って行う。この試験は,測定に必要な期間行う。

コード一体成形のスイッチについては,耐湿試験をしないで箇条 15 に従って耐電圧試験をする。この

試験は,

スイッチの可触金属部分と充電部との間に適用する。

試験は

表 12 に規定した値で

1

秒間行う。

注記

この試験は,他のスイッチに適用してもよい。


126

C 4526-1

:2013

附属書 S

(参考) 
抜取試験

S.1 

序文 

この附属書は,この規格の形式試験の後で,製造された製品が宣言された事項を守り続けていることを

確認する手段のガイドである。この附属書に記載されている以外の試験は,同じ目的を満たすことに限定

する場合,用いてもよい。

S.2 

一般的な見解 

この附属書に記載した試験は,製品検査の試験計画の一部として考えてもよい。製品検査はスイッチの

製造中に適用する。

スイッチが関連する試験に合格しなかった場合は,修正措置を取らなければならない。

S.3

に従った試験は,記載された手順書に従って,製造ラインからランダムに取り出したサンプルで行

う。試験の必要なもの,性質,周期,及び試験に使用される抜取りの割合は,次の影響を受けることがあ

る。

製品の構造

用いる品質管理システム

製造される製品の量

試験は,二つの試験方法が等価と示すことができれば,形式試験と連携して適用される試験方法と異な

ったもので行ってもよい。

用いる品質管理システムは,製造及び工程システムに適用する JIS Q 9000 の品質マネジメントシステム

の要素を含めなければならない。

品質管理システムの要求事項は,その他の方法によってもよい。

S.3 

試験 

S.3.1

独立したスイッチのタイプ又はスイッチのグループの全工程における抜取り計画の一部として,次

の試験を適用する。

箇条 に従った表示の確認と,8.9 に従った表示の耐久性

注記 1

試験は,稼動中に確認できれば省略してもよい(例えば,モールディング,エッジング又

は同様の過程によって)

湿度処理をしないで箇条 15 に従った耐電圧試験

注記 2

試験は,稼動中に確認できれば省略してもよい(例えば,設計によって)

S.3.2

手順書に記載された期間内に次の順序で試験を行う。

箇条 15 に従った耐電圧試験

16.2

に従った接点と端子の温度試験

箇条 17 に従った耐久性試験

試験は,個々のスイッチタイプで行う。それは,

附属書 に従ったファミリから選択してもよい。試験

サンプル数は,この規格の

表 に従っている。それらは附属書 に従ったファミリでグループ化してもよ


127

C 4526-1

:2013

い。そのときは,試験は,

附属書 に従ってファミリから選択していたサンプルで行ってもよい。附属書

T

は,この目的のためにスイッチファミリにスイッチのタイプをグループ化するための一つの例を示して

いる。その他のグループ化システムもまた,この目的のために使用してもよい。

S.3.3

手順書に記載された期間内に箇条 21 に従ったグローワイヤ試験及びボールプレッシャー試験並び

附属書 に従った保証トラッキング試験が工程内の異なったスイッチ構造と材料を宣言しているサンプ

ルについて行う。しかし,これらの試験は,形式試験と同じ原材料,モールド及び工程が使用されている

ということが確認できれば,適用しなくてもよい。これは,成形業者の確認プログラムの一部となること

がある。これらの試験は,工程試験の一部としてよりは,むしろ受入検査の一部となる場合がある。


128

C 4526-1

:2013

附属書 T

(参考)

スイッチファミリ

T.1 

序文 

この附属書は,S.3.2 に記載された試験に関連して,スイッチファミリにスイッチのタイプをグループ化

するための一つの例を示している。他のグループ化システムがこの目的のために使用されてもよい。この

附属書で使用する“スイッチファミリ”は,構造及び特性が別のものを代表する異なったスイッチタイプ

の単一グループを示す。

T.2 

一般 

スイッチタイプは,スイッチファミリに最も厳しいケースが,試験が行われる度にその試験によって代

表できるようなときはスイッチファミリにグループ化してもよい。

又は,スイッチファミリが異なった定格のスイッチタイプを含んでいるとき,スイッチは製造量に応じ

選択するのがよく,その選択されたスイッチが最も厳しい定格で毎回試験される方がよい。

スイッチファミリは,次のバリエーションを含む。

次のものが使用されるスイッチの異なった電気定格。

接点の直径,厚さ又は材料を除いて,同じ固定接点構造。

同じ内部接点(固定及び可動)形状

同じ極数

端子及びアクチュエータなどの異なった外部部分。

単方向,双方向及び多方向。

通常開路及び通常閉路のスイッチの偏ったタイプ。

次の条件下で異なった接点構造:接点の直径,厚さ又は材料を除いて,同じ固定接点構造を使用して

いる同じ及び異なった電気定格のスイッチは,同じ内部接点(固定及び可動)形状及び同じ極数とい

う条件で,同じスイッチファミリに含んでもよい。

電気定格が同じで,同じ内部接点(固定及び可動)形状のとき単極,

2

極及び多極。

同一構造内で,電気定格,温度及び動作回数の異なった組合せ。

T.3 

試験のためのスイッチファミリ内のスイッチの選び方のガイド 

T.3.1

単方向/双方向,又は同じファミリ内の偏ったスイッチ:利用可能なものに基づいて選択する。

T.3.2

同じスイッチファミリ内の異なった極数:選択は,製造量に応じてローテーションして行う。

T.3.3

同一構造内にある同じ電気定格の異なった動作回数及び電気,温度及び動作回数の異なった組合

せ:選択は,各タイプの製造量に関連した割合でローテーションして行う。

T.3.4

同じスイッチファミリで異なった電気定格の同じ接点:スイッチファミリがいろいろな定格を含ん

でいれば,選択は,各タイプの製造量に関連した割合でローテーションして行う。耐久試験は,選択され

たスイッチタイプで適用できる最も高い電圧の下で,最大

VA

定格で行うべきである。また,温度試験は

選択されたスイッチタイプに適用できる最も高い電流で行う。


129

C 4526-1

:2013

T.3.5 

同じスイッチファミリ内の異なった接点及び異なった定格 

試験用スイッチの選択は,使用される各接点タイプの製造量に応じてローテーションして行う。

耐久試験は,毎回選択された接点タイプごとに適用できる最も高い電圧の下で,最大

VA

定格で行う。

温度試験は,毎回選択された接点タイプごとに適用できる最も高い電流で行う。

T.3.6 

同じスイッチファミリ内で同等の電気定格(すなわち,異なった電圧と電流で同じ VA 定格) 

選択は,製造量に応じてローテーションして行う。T.3.4 と同様にスイッチファミリ内の最大定格を考え

る。


130

C 4526-1

:2013

附属書 U

(規定)

スイッチのタブの寸法(新しい設計用には推奨しない寸法)

U.1

スイッチのタブは,

図 U.1 の寸法に適合しなければならない。

U.2

タブは,保持のために任意の動き止めを付けてもよい。丸いくぼみ,四角形のくぼみ,穴などの動

き止めは,

図 U.1 に示すようにタブの中心線に沿って,区域“

EF

”の中に位置しなければならない。

U.3

裏返接続の防止構造は,

図 U.1 に示すように,タブの中心線に沿った“

EF

”の範囲内に位置しても

よい。

タブの寸法

e)

単位  mm

公称 
寸法

mm

A

(必須)

最大

B

(必須)

最小

C

(必須)

+0.04

−0.03

D

(必須)

+0.1

−0.1

E

(任意)

最大

F

(任意)

最大

G

(必須)

最小

H

2

(任意)

最小

I

(任意)

直径

最大

2.8×0.5

a)

2.8×0.8 
4.8×0.5

a)

4.8×0.8 
6.3×0.8 
9.5×1.2

1.3 
1.3 
1.3 
1.3 
1.3 
1.3

7.0 
7.0 
6.2 
6.2 
7.8

12.0

0.5 
0.8 
0.5 
0.8 
0.8 
1.2

2.8 
2.8 
4.7 
4.7 
6.3 
9.5

3.2 
3.2 
4.3 
4.3 
5.7 
6.5

1.7 
1.7 
1.7 
1.7 
2.5 
2.5

0.6 
0.6 
0.6 
0.6 
0.6 
0.6

1.3 
1.3 
2.8 
2.8 
2.8 
2.8

1.0 
1.0 
1.0 
1.0 
1.3 
1.8

a)

  公称寸法 2.8×0.5 と 4.8×0.5 とは,新しい設計用には推奨しない。

b)

  寸法“B

3

”及び“H

1

”は,規定しない。

c)

  “X”方向の図 a)c)に,異なった可能な固定方法の例を示す。

d)

  タブの端面は,めす(雌)形コネクタとのはめ合いを容易にするため面取りをする。

e)

  図 U.1 の寸法に準拠して製作されたタブは,JIS C 2809 に準拠して製作されためす(雌)形コネクタに適

合する。挿入力及び引抜き力については,

附属書 参照。

図 U.1−平形クイック接続端子のタブ


131

C 4526-1

:2013

附属書 V

(参考)

人の注意が行き届かない機器の異常発生熱に対する

耐熱性の要求事項及び試験

1)

1)

IEC 60335-1

:2001

(第

4

版)に従い,

Amendment 1

2004

年)及び

Amendment 2

2006

年)も

含む。

V.1 

人の注意が行き届かない機器の異常発生熱に対する耐熱性の要求事項及び試験 

人の注意が行き届かない状態で動作する機器については,JIS C 9335-1 の 30.2.3.1 及び 30.2.3.2 に規定す

る試験を行う。ただし,この試験は,次には適用しない。

溶接接続部を保持する部分

JIS C 9335-1

の 19.11.1 に規定する小電力回路プリント基板の接続部を保持する部分

プリント基板上のはんだ接続部

プリント基板上の小さい部品の接続部

及び上記の接続部の

3 mm

以内にある部分

注記 1

小さい部品の例には,電源回路に直接接続されていないダイオード,トランジスタ,抵抗器,

インダクタ,集積回路及びコンデンサがある。

通常動作で

0.2 A

を超える電流が流れる接続部を保持する非金属材料の部分,及びそのような接続部か

3.0 mm

以内の距離にある非金属材料の部分は,

850

℃の試験温度で JIS C 60695-2-11 のグローワイヤ試

験を行う。ただし,JIS C 60695-2-12 に従った

850

℃以上のグローワイヤ燃焼性指数をもっている材料の

部分には,グローワイヤ試験を行わない。該当部分に対して±

0.1 mm

以内の厚みのものでグローワイヤ燃

焼性指数が適用しない場合,試験片の厚みは該当部分よりも厚くなく,JIS C 60695-2-12 で推奨する最も

近い値を選択しなければならない。

注記 2

JIS C 60695-2-12

で推奨する厚みは,

0.75

±

0.1 mm

1.5

±

0.1 mm

及び

3.0

±

0.2 mm

である。

注記 3

スイッチの接点は,接続部と考える。

注記 4

グローワイヤの先端は,接続部の近傍部分に押し付ける。

JIS C 9335-1

附属書 のニードルフレーム試験に適合した小部品,又は JIS C 60695-11-10 に従って

V-0

若しくは

V-1

に分類した材料の小部品にはグローワイヤ試験を行わない。分類に使用した試験片は,

機器の該当部分よりも厚くてはならない。

注記 5

小部品は,JIS C 60695-4 に定義している。

非金属材料が導電接続部の

3 mm

以内にあるが,異なる材料によって接続部から遮蔽しているところで

は,グローワイヤの先端部を非金属材料に直接押し付けず,間に置かれた遮蔽材に押し付け,該当温度で

JIS C 60695-2-11

のグローワイヤ試験を行う。

導電接続部を保持する非金属材料の部分,及びそのような接続部から

3 mm

以内の距離にある非金属材

料の部分には,JIS C 60695-2-11 のグローワイヤ試験を行う。ただし,JIS C 60695-2-13 に従ったグローワ

イヤ着火温度が次のレベル以上の材料の部分には,グローワイヤ試験を行わない。

通常動作で

0.2 A

を超える電流が流れる部分の接続部に対しては,

775

℃以上の場合。

その他の接続部に対しては,

675

℃以上の場合。


132

C 4526-1

:2013

該当部分に対して±

0.1 mm

以内の厚みのものでグローワイヤ着火温度が適用しない場合,試験片の厚み

は該当部分よりも厚くなく,JIS C 60695-2-13 で推奨する最も近い値を選択しなければならない。

注記 6

JIS C 60695-2-13

で推奨する厚みは,

0.75

±

0.1 mm

1.5

±

0.1 mm

及び

3.0

±

0.2 mm

である。

非金属材料が導電接続部の

3 mm

以内にあるが,異なる材料によって接続部から遮蔽している所では,

グローワイヤの先端部を非金属材料に直接押し付けず,間に置かれた遮蔽材に押し付け,該当温度で JIS C 

60695-2-11

のグローワイヤ試験を行う。

JIS C 60695-2-11

のグローワイヤ試験を行うときの温度は,次による。

通常動作で

0.2 A

を超える電流が流れる部分の接続部に対しては,

750

℃とする。

その他の接続部に対しては,

650

℃とする。

注記 7

スイッチの接点は,接続部と考える。

注記 8

グローワイヤの先端は,接続部の近傍部分に押し付ける。

JIS C 60695-2-11

のグローワイヤ試験に耐えるが,炎が試験中に

2

秒より長く残存する部品及び隣接部

品は,更に次の試験を行う。

接続部より上に直径

20 mm

で高さ

50 mm

の垂直円筒内にある部品は,JIS C 9335-1 

附属書 のニー

ドルフレーム試験を行う。ただし,JIS C 9335-1 

附属書 のニードルフレーム試験に適合する隔壁によ

って遮蔽した部分には,試験を行わない。

JIS C 60695-11-10

に従って

V-0

又は

V-1

に分類した材料の部分には,

ニードルフレーム試験を行わない。

分類に使用した試験片は,機器の該当部分よりも厚くてはならない。

参考文献

JIS C 4526-2-5

:2005

  機器用スイッチ−第

2-5

部:切換セレクタの個別要求事項

注記

対応国際規格:IEC 61058-2-5

Switches for appliances

Part 2-5: Particular requirements for

change-over selectors

IDT

JIS C 60695-2-10

:2004

  耐火性試験−電気・電子−グローワイヤ試験装置及び一般試験方法

注記

対応国際規格:IEC 60695-2-10

:2000

Fire Hazard testing

Part 2-10: Glowing/hot-wire based test

methods

Glow-wire apparatus and common test procedure

IDT

JIS C 60695-4

  耐火性試験−電気・電子−第

4

部−電気・電子製品のための耐火性試験用語

注記

対応国際規格:IEC 60695-4

:2005

Fire hazard testing

Part 4: Terminology concerning fire tests for

electrotechnical products

IDT

JIS C 60695-11-10

  耐火性試験−電気・電子−第

11-10

部:試験炎−

50 W

試験炎による水平及び垂直燃

焼試験方法

注記

対応国際規格:IEC 60695-11-10

:1999

Fire hazard testing

Part 11-10: Test flames

50 W horizontal

and vertical flame test methods

及び

Amendment 1:2003

IDT

JIS Q 9000

:2006

  品質マネジメントシステム−基本及び用語

注記

対応国際規格:ISO 9000

:2005

Quality management systems

Fundamentals and vocabulary

IDT


133

C 4526-1

:2013

附属書 JA

(参考)

JIS

と対応国際規格との対比表

JIS C 4526-1:2013

  機器用スイッチ−第 1 部:一般要求事項 IEC 

61058-1:2008

  Switches for appliances−Part 1: General requirements 

(I)JIS の規定

(II) 
国際
規格

番号

(III)国際規格の規定

(IV)JIS と国際規格との技術的差異の箇条ごとの評価及び
その内容

(V)JIS と国際規格との技術的差異
の理由及び今後の対策

箇条番号

及び題名

内容

箇条

番号

内容

箇条ごと

の評価

技術的差異の内容

7.1.5.3.1

クラス 0 機器用スイ

ッチ

 7.1.5.3.1

JIS

にほぼ

同じ

追加

次の要求事項を追加した。

−  クラス 0 機器用スイッチは,定格電圧が 150

V を超えるものについては,認められない。

−  JIS C 6065 及び JIS C 6950-1 の機器に組み

込まれるスイッチについては,クラス 0 機
器用スイッチは使用できない。

クラス 0 機器用スイッチを作る場

合に加味する必要があるため,情報
として追加した。


表 3 
番号 3.2

電子的スイッチに関

する周囲温度

 8

Table 3 
No. 3.2

JIS

にほぼ

同じ

追加

次の注記を追加した。 
注記  最高周囲温度が 35  ℃の電子的スイッチ

は T35 と表示してもよい。

最高周囲温度が 35  ℃の電子的スイ

ッチは,最高周囲温度が 55  ℃のス
イッチと識別するために T35 と表
示することが望ましく,SC23J 国内

委員会の提案を先取りした。

8.5

定格周囲温度の表示

8.5

JIS

にほぼ

同じ

追加

次の文章の点線の下線を施している箇所を追加

した。 
表示がない場合には,機械的スイッチ及び電子
的スイッチの定格周囲温度は 0  ℃∼55  ℃とす

る。

既 に 国 際 規 格 で 審 議 中 の 内 容

(23J/280/CC)を先取りした。

次の注記を追加した。 
注記  電子的コードスイッチ及び電子的独立形

固定スイッチについては,定格周囲温度
は 0  ℃∼35  ℃とする。

電子的コードスイッチ及び電子的
独立形固定スイッチについては,表

示がない場合,定格周囲温度が 0∼
35  ℃であることを明確にするため
に SC23J 国内委員会の提案を先取

りした。

133

C

 452

6-

1


2

013


134

C 4526-1

:2013

(I)JIS の規定

(II) 
国際
規格

番号

(III)国際規格の規定

(IV)JIS と国際規格との技術的差異の箇条ごとの評価及び
その内容

(V)JIS と国際規格との技術的差異
の理由及び今後の対策

箇条番号
及び題名

内容

箇条 
番号

内容

箇条ごと
の評価

技術的差異の内容

11

端子及び端子部  11  JIS にほぼ

同じ

追加

IEC

は IEC 60228 の電線を取り付けて試験を行

っているが,JIS は JIS 電線も認め,IEC 電線と
併記した。

日本国内では JIS 電線が広く普及

しているため,IEC の電線だけとし
た場合,各種試験を行うことが困難
なため。

11.1.2.2 
表 6

11.1.2.2 
Table 6

JIS

にほぼ

同じ

追加

各端子サイズの引張力を示しているが,JIS 

JIS

電線を認めることにしたため,IEC 電線に対

応可能な JIS 電線の導体断面積を併記した。

日本国内では,JIS 電線が広く普及
しているため,IEC の電線だけとし

た場合,各種試験を行うことが困難
になる。

16 
表 13

温度上昇

許容最高温度

 16

Table 13

JIS

にほぼ

同じ

追加

材料の温度上昇値で不明確なものは,省令第 1

項を適用する。

材料の温度上限値の明確化を行っ

た。

18

機械的強度

18

JIS

にほぼ

同じ

追加

次の要求事項を追加し,疑義がある場合には触

れることのできる基礎絶縁について耐電圧試験
を行う。 
クラス 0 機器用スイッチにも適用する。

クラス 0 機器用スイッチも機械的

強度を加味する必要がある。

20.2 
表 23

基礎絶縁に関する最
小沿面距離

 20.2

Table 23

JIS

にほぼ

同じ

追加

定格電圧の欄に 100 V 及び 200 V を追加した。

日本国固有の配電事情による。

22

耐食性

22

JIS

にほぼ

同じ

変更

IEC

規格  適切な溶剤で洗浄

JIS

  キシレン,トルエン等で洗浄

トリクロロエタンは,モントリオー
ル議定書で生産禁止となっている
ためなどを理由に明確化した。

23

電子的スイッチの異
常動作及び故障状態

 23  JIS にほぼ

同じ

追加

省令第 1 項に適合するヒューズを使用する場合
は,その特性を考慮する。

日本では,IEC 60127 ヒューズより
も省令第 1 項ヒューズが使用され
る場合が多い。

24

構成部品

24

JIS

にほぼ

同じ

追加

附属書 K

定格インパルス電圧,

定格電圧及び過電圧
カテゴリ間の関係

 Annex

K

JIS

にほぼ

同じ

追加

日本の標準電圧である単相 3 線 100 V,

100 V/200

V 及び三相 3 線 200 V を追加した。

日本国固有の配電事情による。

附属書 R 
R.4

ルーチン試験の耐電
圧試験

 Annex

R

R.4

JIS

にほぼ

同じ

追加

次の注記を追加した。 
注記  他のスイッチに適用してもよい。

コードスイッチ及び独立形固定ス
イッチに限らず,他のスイッチにも
適用した方がよい。

134

C

 452

6-

1


2

013


135

C 4526-1

:2013

JIS

と国際規格との対応の程度の全体評価:IEC 61058-1:2008,MOD

注記 1  箇条ごとの評価欄の用語の意味は,次による。 

−  追加  国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。

−  変更  国際規格の規定内容を変更している。

注記 2  JIS と国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は,次による。 

−  MOD  国際規格を修正している。

135

C 4

5

2

6

-1


2

013