C 3660-3-2
：2011 (IEC 60811-3-2：1985，Amd.1：1993，Amd.2：2003)
（1）
目 次
ページ
序文
1
1
総則
1
1.1
適用範囲
1
1.2
引用規格
1
2
試験値
2
3
適用性
2
4
形式試験及びその他の試験
2
5
前処理
2
6
試験温度
2
7
中央値
2
8
絶縁体及びシース材料の加熱減量試験
2
8.1
絶縁体の加熱減量試験
2
8.2
シースの加熱減量試験
5
9
絶縁体及びシース材料の熱安定性試験
5
9.1
試験装置
5
9.2
試験手順
5
9.3
結果の表し方
6
附属書 A（参考）IEC 60538，IEC 60540 及び IEC 60811 の箇条及び細分箇条の対応
8
C 3660-3-2
：2011 (IEC 60811-3-2：1985，Amd.1：1993，Amd.2：2003)
（2）
まえがき
この規格は，工業標準化法第 14 条によって準用する第 12 条第 1 項の規定に基づき，社団法人日本電線
工業会（JCMA）から，工業標準原案を具して日本工業規格を改正すべきとの申出があり，日本工業標準
調査会の審議を経て，経済産業大臣が改正した日本工業規格である。
これによって，JIS C 3660-3-2:1998 は改正され，この規格に置き換えられた。
この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような特許権，出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について，責任はもたない。
JIS C 3660
の規格群には，次に示す部編成がある。
JIS
C
3660-1-1
第 1-1 部：試験法総則−厚さ及び仕上寸法の測定−機械的特性試験
JIS
C
3660-1-2
第 1-2 部：試験法総則−熱老化試験方法
JIS
C
3660-1-3
第 1-3 部：試験法総則−密度測定の方法−耐水性試験−収縮試験
JIS
C
3660-1-4
第 1-4 部：試験法総則−低温試験
JIS
C
3660-2-1
第 2-1 部：エラストマーの特性試験方法−オゾン，ホットセット及び耐油試験
JIS
C
3660-3-1
第 3-1 部：ビニルコンパウンドの試験方法−加熱変形試験−巻付加熱試験
JIS
C
3660-3-2
第 3-2 部：ビニルコンパウンドの試験方法−加熱減量試験及び熱安定性試験
JIS
C
3660-4-1
第 4-1 部：ポリエチレン及びポリプロピレンコンパウンドの試験方法−耐環境応力の
亀裂性，メルトフローインデックスの測定，直接燃焼によるポリエチレン中のカーボンブラック
及び無機充填剤の含有量測定，サーモグラビメトリック分析によるカーボンブラック含有量測定
及び顕微鏡によるポリエチレン中のカーボンブラック分散測定
JIS
C
3660-4-2
第 4-2 部：ポリエチレン及びポリプロピレンコンパウンドの試験方法−加熱による前
処理後の破断時の引張強さ及び伸び，加熱による前処理後の巻付試験，熱老化後の巻付試験，絶
縁体の質量増加率，長期安定性試験及び銅触媒の酸化劣化試験
JIS
C
3660-5-1
第 5-1 部：充填コンパウンドの試験方法−滴下点，油分離，低温ぜい化，全酸価，腐
食性，23 ℃誘電率並びに 23 ℃及び 100 ℃の直流抵抗率
日本工業規格
JIS
C
3660-3-2
：2011
(IEC 60811-3-2
：1985
，Amd.1
：1993
，Amd.2
：2003
)
電気・光ケーブルの絶縁体及び
シース材料の共通試験方法−
第 3-2 部：ビニルコンパウンドの試験方法−
加熱減量試験及び熱安定性試験
Insulating and sheathing materials of electric and optical cables-
Common test methods-
Part 3-2 : Methods specific to PVC compounds-Loss of mass test-
Thermal stability test
序文
この規格は，1985 年に第 1 版として発行された IEC 60811-3-2，Amendment 1（1993）及び Amendment 2
（2003）を基に，技術的内容を変更することなく作成した日本工業規格である。ただし，追補（amendment）
については，編集し，一体とした。
1
総則
1.1
適用範囲
この規格は，船舶及び海上設備を含む配電及び通信設備に使用する電気・光ケーブルの絶縁体及びシー
ス材料の試験方法について規定する。
この規格は，ビニルコンパウンドの加熱減量試験及び熱安定性試験について規定する。
注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。
IEC 60811-3-2:1985
，Insulating and sheathing materials of electric and optical cables−Common test
methods−Part 3-2 : Methods specific to PVC compounds−Loss of mass test−Thermal stability
test，Amendment 1:1993 及び Amendment 2:2003（IDT）
なお，対応の程度を表す記号
IDT は，ISO/IEC Guide 21-1 に基づき， 一致している こ
とを示す。
1.2
引用規格
次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格は，記載の年の版を適用し，その後の改正版（追補を含む。
）は適用しない。
JIS C 3660-1-1:2003
電気・光ケーブルの絶縁体及びシース材料の共通試験方法−第 1-1 部：試験法総
則−厚さ及び仕上寸法の測定−機械的特性試験
注記 対応国際規格：IEC 60811-1-1:1993，Common test methods for insulating and sheathing materials of
electric and optical cables−Part 1-1: Methods for general application−Measurement of thickness
2
C 3660-3-2
：2011 (IEC 60811-3-2：1985，Amd.1：1993，Amd.2：2003)
and overall dimensions−Tests for determining the mechanical properties 及び Amendment 1:2001
（IDT）
JIS C 3660-1-2:2003
電気・光ケーブルの絶縁体及びシース材料の共通試験方法−第 1-2 部：試験法総
則−熱老化試験方法
注記 対応国際規格：IEC 60811-1-2:1985，Common test methods for insulating and sheathing materials of
electric cables−Part 1-2: Methods for general application−Thermal ageing methods，Amendment
1:1989 及び Amendment 2:2000（IDT）
ISO 695:1991
，Glass−Resistance to attack by a boiling aqueous solution of mixed alkali−Method of test and
classification
ISO 719:1985
，Glass−Hydrolytic resistance of glass grains at 98 degrees C−Method of test and classification
ISO 1776:1985
，Glass−Resistance to attack by hydrochloric acid at 100 degrees C−Flame emission or flame
atomic absorption spectrometric method
2
試験値
この規格は，試験条件（温度，期間など）及び試験要求事項の全てを規定するものではない。この規格
に規定のない試験条件及び試験要求事項は，個別ケーブル規格に規定する。
この規格に規定する試験条件及び試験要求事項は，個別ケーブル独自の要求に適合するように，各々の
関連個別ケーブル規格で修正する場合がある。
3
適用性
この規格は，汎用形のケーブル，電線及びコードの絶縁体並びにシースコンパウンドの試験条件及び試
験パラメータについて規定する。
4
形式試験及びその他の試験
この規格に規定する試験方法は，形式試験に適用する。ある種の試験で形式試験と出荷試験との間に差
異がある場合は，その差異をこの規格に示す。
5
前処理
全ての試験は，絶縁体及びシースコンパウンドの押出し後，16 時間以上経過した後に行う。
6
試験温度
特に規定がない限り，試験は室温で行う。
7
中央値
試験の結果，得られた値を昇順又は降順に並べたとき，有効な測定値の数が奇数の場合はその中央値，
偶数の場合は二つの中央値の平均値を中央値とする。
8
絶縁体及びシース材料の加熱減量試験
8.1
絶縁体の加熱減量試験
8.1.1
試験装置
3
C 3660-3-2
：2011 (IEC 60811-3-2：1985，Amd.1：1993，Amd.2：2003)
試験装置は，次による。
a)
自然の空気の流れ，又は圧力による空気の流れのあるオーブン
空気はオーブンの中に入って，試験片の表面を通り，オーブンの上部から出て行く。オーブンは，
個別ケーブル規格に規定する老化温度で 1 時間に 8〜20 回の換気をする。疑義のある場合は，自然の
空気の循環があるオーブンを使用する。
回転ファンは，オーブン内で使ってはならない。
b) 0.1
mg の感度をもつ分析はかり
c)
ダンベル状試験片のための打抜き刃型［JIS C 3660-1-1 の 9.（絶縁体及びシースの機械的特性の測定
試験）の試験方法を参照］
d)
シリカゲル又はこれと同等のものを入れたデシケータ
8.1.2
試料採取
加熱減量試験［JIS C 3660-1-2 の 8.（熱老化方法）参照］を機械的試験（JIS C 3660-1-1 の 9.）と組み合
わせる場合は，各線芯から 3 試験片を採取し，JIS C 3660-1-2 の 8.1.2（装置）に規定するエアオーブン中
で老化する。
他の目的に使用せず，採取した試験片の厚さが 8.1.3 c)に合致する場合，JIS C 3660-1-1 の 9.に従って各々
の線芯から採取した他の 3 試験片を使用してもよい。
その他の場合，試験する各々の線芯又は各々の線芯の絶縁体から長さ約 100 mm の 3 試験片を採取し，
8.1.3
に規定する方法と同じ方法で各々の線芯から試験片を準備する。
8.1.3
試験片の準備
試験片の準備は，次による。
a)
全ての被覆及び導体は，取り除く。絶縁体上に半導電層がある場合には，溶剤を用いずに機械的に取
り除く。
b)
試験片は，次による。
1)
可能な場合，
図 1 に示すダンベル状試験片を作成する。
2)
線芯径が小さいため，1)の試験片が作成できない場合は，
図 2 に示す小形ダンベル状試験片を作成
する。
3)
いかなるセパレータも溶剤を使用しないで適切な方法で取り除かなければならない。
絶縁体の内側に密着した半導電層がなく，かつ，内径が 12.5 mm 以下の場合は，管状試験片を作
成する。管状試験片の両端は，閉じてはならない。
c)
ダンベル状試験片及び小形ダンベル状試験片は，JIS C 3660-1-1 の 9.1.3 a)（ダンベル状試験片）に規
定する方法によって準備する。ただし，これらの試験片は，全長にわたり二つの平行かつ平滑な面を
もち，厚さは 1.0±0.2 mm とし，標線は付けない。
管状試験片は，JIS C 3660-1-1 の 9.1.3 b)（管状試験片）に規定する方法によって準備する。ただし，
標線は付けない。各々の試験片の蒸発表面積［8.1.4 a) 参照］は，5 cm
2
以上でなければならない。
d)
線芯間の両側に溝のある平形 2 心可とう性コードは，線芯を分離しない試験片とする。
蒸発表面積の計算では，2 心のコードは，二つの別々の管状試験片と考えてもよい。
8.1.4
蒸発表面積 A の計算
各々の試験片の規定する箇所の寸法を，加熱減量試験を実施する前に測定する。試験片の蒸発表面積 A
［単位は平方センチメートル（cm
2
）
］は，次の a)〜c)に示す式のいずれかによって算出し，小数第 1 位に
丸める。
4
C 3660-3-2
：2011 (IEC 60811-3-2：1985，Amd.1：1993，Amd.2：2003)
a)
管状試験片
試験片の蒸発表面積は，外側の表面積，内側の表面積及び断面の表面積の和とし，次に示す式によ
る。
100
)
(
)
(
π
2
δ
δ
+
×
−
=
l
D
A
ここに，
A：表面積（cm
2
）
外側の表面積＋内側の表面積＋
断面の表面積。
δ
：試験片の平均厚さ（mm） 0.4 mm 以下の場合，小数第 2 位に
丸める。
0.4 mm を超える場合，小数第 1
位に丸める。
D：試験片の平均外径（mm） 2 mm 以下の場合，小数第 2 位に
丸める。
2 mm を超える場合，小数第 1 位
に丸める。
l：試験片の長さ（mm）
小数第 1 位に丸める。
δ 及び l は，管状試験片の端から薄く切断した試料を JIS C 3660-1-1 の 8.1（絶縁体厚さの測定）及
び 8.3（仕上寸法の測定）に規定する方法によって測定する。
この式は，
図 3 に示す断面積をもつ管状試験片に適用してもよい。
b)
図 2 の小形ダンベル状試験片に対しては
100
)
118
(
624
δ
+
=
A
ここに，
δ
：試験片の平均厚さ（mm）
c)
図 1 のダンベル状試験片に対しては
100
)
180
(
256
1
δ
+
=
A
b)
及び c)の式で用いる δ は，JIS C 3660-1-1 の 9.1.4 a)（ダンベル状試験片）に規定する方法で決定
し，小数第 2 位に丸める。
8.1.5
試験手順
試験手順は，次による。
a)
準備した 3 試験片は，デシケータに入れ 20 時間以上室温に放置する。
各々の試験片は，デシケータから取り出し，直ちに質量をミリグラム単位で小数第 1 位まで測定す
る。
b)
その後，3 試験片は，他に規定がない限り常圧の空気中で 7×24 時間，80±2 ℃のオーブン中に次の
条件下で保持する（8.1.1 参照）
。
明らかに異なる組成のコンパウンドは，同時に同じオーブンで試験してはならない。
試験片は，オーブンの中央に垂直につり下げ，かつ，試験片は互いに 20 mm 以上離さなければなら
ない。
オーブンの容積の 0.5 %を超えて試験片が占有してはならない。
c)
この熱処理の後，試験片はデシケータに入れたまま，室温で 20 時間放置する。各々の試験片は，質量
をミリグラム単位で小数第 1 位まで測定する。
各々の試験片について，a)と c)とで測定した質量の差を算出し，ミリグラム単位に丸める。
5
C 3660-3-2
：2011 (IEC 60811-3-2：1985，Amd.1：1993，Amd.2：2003)
8.1.6
結果の表し方
各々の試験片の加熱減量値は，8.1.5 c)で求めた
質量の差
を 8.1.4 で求めた蒸発表面積で除すことに
よって算出する。線芯の加熱減量値は，3 試験片の加熱減量値の平均値とし，単位は，ミリグラム パー平
方センチメートル（mg/cm
2
）とする。
8.2
シースの加熱減量試験
8.2.1
試験装置
試験装置は，8.1.1 による。
8.2.2
試料採取
シースの試料は，8.1.2 によって三つを採取する。
8.2.3
試験片の準備
シースの下（又は上にある場合はシースの上）の全ての構成材料は，シースをきずつけないように注意
しながら取り除き，試験片を 8.1.3 によって準備する。
8.2.4
蒸発表面積 A の計算
蒸発表面積 A は，8.1.4 の a)〜c)に示す式によって算出するほか，次による。
管状試験片の式は，
図 4 及び図 5 に示す断面の場合だけに適用する。平形コード及びケーブルのシース
の内側及び外側の蒸発表面積は，シースの断面をミリメートル単位で小数第 2 位まで測定した寸法を用い
て算出する。
くさび形の突起のある平形シースの内側は，平らであるとみなす。
8.2.5
試験手順
試験手順は，8.1.5 による。
8.2.6
結果の表し方
結果の表し方は，8.1.6 による。
9
絶縁体及びシース材料の熱安定性試験
9.1
試験装置
試験装置は，次による。
a)
片端を密閉した（例えば，溶融などで）長さ 110 mm，外径約 5 mm，内径 4.0±0.5 mm のガラス管。
ガラス管は，次の規格に適合するものを使用する。
ISO 695:1991
耐アルカリ性のクラス A2
ISO 719:1985
耐加水分解性のクラス HGB3
ISO 1776:1985
耐酸性の酸化ナトリウム 100 cm
2
に対する最大損失質量 150 μg
b) pH
の範囲 1〜10 の万能試験紙。
c)
個別ケーブル規格に規定する温度又は個別ケーブル規格に温度の規定がない場合には，200±0.5 ℃に
維持できるサーモスタット付加熱装置。形式及び試験結果に疑義がある場合には，オイルバスを用い
るのが適切である。
d) 0.1
℃の範囲に校正した温度計。温度計の形式，校正方法及び使用方法によっては，水銀温度計によ
る補正をする。
e)
ストップウォッチ又はこれと同等品。
9.2
試験手順
試験手順は，次による。
6
C 3660-3-2
：2011 (IEC 60811-3-2：1985，Amd.1：1993，Amd.2：2003)
注記 正確，かつ，ばらつきがない試験結果を得るためには，精度が高い温度計を使用すること及び
要求する試験温度範囲を守ることが必須である。
a)
各線芯の絶縁体又はシースからそれぞれ 50±5 mg の 3 試料を採取する。各試料は長さ 20〜30 mm の
二つ又は三つの短冊片とする。各試料は 9.1 a)に規定するガラス管に入れる。試料は管の底に置き，
底から 30 mm を超える位置に突き出してはならない。
b)
長さ約 15 mm，幅約 3 mm の 9.1 b)に規定する万能試験紙が，ガラス管の開放端（上部）に約 5 mm 突
き出るように挿入し，動かないように曲げる。
c)
既に規定温度に達している 9.1 c)に規定する加熱装置の中に，60 mm の深さでガラス管を挿入する。
d)
万能試験紙の色が pH5 から pH2〜3 に変化するまでの時間を測定する。色の変化がない場合，個別ケ
ーブル規格に規定する時間まで試験を続ける。色の変化点は，pH の値が 2〜3 の特性をもつ万能試験
紙の赤色が目で分かるようになった点とする。特に安定時間の長い試験の場合は，変化点がよりはっ
きり分かるように，予想する試験時間の終わり頃は万能試験紙を 5〜10 分ごとに新しく取り替える。
9.3
結果の表し方
9.2 d)
で測定した 3 試料の熱安定時間の平均値は，個別ケーブル規格に規定する要求事項に適合しなけれ
ばならない。
単位 mm
図 1−ダンベル状試験片
単位 mm
図 2−小形ダンベル状試験片
7
C 3660-3-2
：2011 (IEC 60811-3-2：1985，Amd.1：1993，Amd.2：2003)
図 3−絶縁体厚さの測定（一般的な導体）
図 4−絶縁体厚さの測定（外側の面が平たんでない場合）
図 5−絶縁体厚さの測定（内側の面が不規則な円周の場合）
8
C 3660-3-2
：2011 (IEC 60811-3-2：1985，Amd.1：1993，Amd.2：2003)
附属書 A
（参考）
IEC 60538
，IEC 60540
及び IEC 60811 の箇条及び細分箇条の対応
（対応国際規格の附属書の内容は，この規格では不要であり，不採用とした。
）
参考文献 JIS K 6723 軟質ポリ塩化ビニルコンパウンド