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C 3660-1-4

:2003 (IEC 60811-1-4 : 1985    Amendment 1 : 1993    Amendment 2 : 2001)

(1)

まえがき

この規格は,工業標準化法第 14 条によって準用する第 12 条第 1 項の規定に基づき,社団法人  日本電

線工業会(JCMA)から,工業標準原案を具して日本工業規格を改正すべきとの申出があり,日本工業標準調

査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工業規格である。

これによって,JIS C 3660-1-4:1998 は改正され,この規格に置き換えられる。

改正に当たっては,日本工業規格と国際規格との対比,国際規格に一致した日本工業規格の作成及び日

本工業規格を基礎にした国際規格原案の提案を容易にするために,IEC 60811-1-4:1985,Common test

methods for insulating and sheathing materials of electric and optical cables - Part 1-4 : Methods for general

application - Test at low temperature

を基礎として用いた。

この規格の一部が,技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の

実用新案登録出願に抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会

は,このような技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の実用新

案登録出願にかかわる確認について,責任はもたない。

JIS C 3660

の規格群には,次に示す部編成がある。

JIS

C

3660-1-1

第 1-1 部 : 試験法総則−厚さ及び仕上寸法の測定−機械的特性試験

JIS

C

3660-1-2

第 1-2 部 : 試験法総則−熱老化試験方法

JIS

C

3660-1-3

第 1-3 部 : 試験法総則−密度測定の方法−耐水性試験−収縮試験

JIS

C

3660-1-4

第 1-4 部 : 試験法総則−低温試験

JIS

C

3660-2-1

第 2-1 部 : エストラマーの特性試験方法−オゾン,ホットセット及び耐油試験

JIS

C

3660-3-1

第 3-1 部 : ビニルコンパウンドの試験方法−加熱変形試験−巻付加熱試験

JIS

C

3660-3-2

第 3-2 部 : ビニルコンパウンドの試験方法−加熱減量試験−熱安定性試験

JIS

C

3660-4-1

第 4-1 部 : ポリエチレン及びポリプロピレンコンパウンドの試験方法−耐環境応力き

裂性−熱老化後の巻付試験−溶融指数の測定−PE中のカーボンブラック及び無機充てん剤の含

有量測定

JIS

C

3660-4-2

第 4-2 部 : ポリエチレン及びポリプロピレンコンパウンドの試験方法−前処理後の破

断時の伸び−前処理後の巻付試験−熱老化後の巻付試験−長期安定性試験(附属書A)−銅触媒

の酸化劣化試験(附属書B)

JIS

C

3660-5-1

第 5-1 部 : 充てんコンパウンドの試験方法−滴下点−油分離−低温ぜい化−全酸価−

腐食性試験−23℃誘電率−23℃と 100℃の直流固有抵抗


C 3660-1-4

:2003 (IEC 60811-1-4 : 1985    Amendment 1 : 1993    Amendment 2 : 2001)

(2)

目  次

ページ

序文 

1

1.

  総則

1

1.1

  適用範囲 

1

1.2

  引用規格 

1

2.

  試験値

2

3.

  適応性

2

4.

  形式試験及びその他の試験 

2

5.

  前処理

2

6.

  試験温度

2

7.

  中央値

2

8.

  低温試験

2

8.1

  絶縁体の低温曲げ試験 

2

8.2

  シースの低温曲げ試験 

3

8.3

  絶縁体の低温伸び試験 

3

8.4

  シースの低温伸び試験 

4

8.5

  ビニル絶縁体及びシースの低温衝撃試験 

5

 


日本工業規格

JIS

 C

3660-1-4

:2003

(IEC 60811-1-4

:1985  Amendment 1 : 1993    Amendment 2 : 2001

)

電気・光ケーブルの絶縁体及びシース材料の共通試

験方法−第 1-4 部 : 試験法総則−低温試験

Common test methods for insulating and sheathing materials of electric and

optical cables - Part 1-4 : Methods for general application - Test at low

temperature

序文  この規格は,1985 年に第 1 版として発行された IEC 60811-1-4:1985,Common test methods for

insulating and sheathing materials of electric and optical cables - Part 1-4 : Methods for general application - Test at

low temperature

並びに Amendment 1(1993)及び Amendment 2(2001)を翻訳し,技術的内容を変更する

ことなく作成した日本工業規格である。ただし,追補(Amendment)については,編集し,一体とした。

なお,この規格で点線の下線を施してある箇所は,原国際規格にはない事項である。

1.

総則

1.1 

適用範囲  この規格は,配電用,通信用及び海上設備用の電気・光ケーブルなどの,絶縁体及びシ

ース材料の試験方法について規定する。

この規格では,一般的な絶縁体及びシース用に適用するビニル及びポリエチレンコンパウンドの低温試

験について規定する。

備考  この規格の対応国際規格を,次に示す。

なお,対応の程度を表す記号は,ISO/IEC Guide21 に基づき,IDT(一致している)

,MOD(修

正している)

,NEQ(同等でない)とする。

IEC 60811-1-4:1985

,Common test methods for insulating and sheathing materials of electric and

optical cables - Part 1-4 : Methods for general application - Test at low temperature

並びに

Amendment 1(1993)

及び Amendment 2(2001) (IDT)

1.2 

引用規格  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成す

る。これらの引用規格のうちで,発効年を付記していない引用規格は,その最新版(追補を含む。

)を適用

する。

JIS C 3660-1-1

  電気・光ケーブルの絶縁体及びシース材料の共通試験方法−第 1-1 部 : 試験法総則−

厚さ及び仕上寸法の測定−機械的特性試験

備考  IEC 60811-1-1 : 1993, Common test methods for insulating and sheathing materials of electric and

optical cables - Part 1-1 : Methods of general application - Measurement of thickness and overall

dimensions - Tests for determining the mechanical properties

及び Amendment 1(2001)  が,この規

格と一致している。


2

C 3660-1-4

:2003 (IEC 60811-1-4 : 1985    Amendment 1 : 1993    Amendment 2 : 2001)

2.

試験値  この規格は,試験条件(温度,期間など)及び試験要求事項のすべてを規定するものではな

い。それらは,各々の関連個別ケーブル規格の規定による。

この規格で規定した試験条件は,ケーブル独自の要求に適合するよう関連個別ケーブル規格で修正する。

3.

適応性  試験条件及び試験パラメータは,一般用のケーブル,電線及びコードの,絶縁体及びシース

コンパウンドについて規定した。

4.

形式試験及びその他の試験  この規格の試験方法は,形式試験用に作成したものである。ある種の試

験で,形式試験及びその他の一般用試験(出荷試験)との間に根本的な相違がある場合は,これらの相違

を示す。

5.

前処理  すべての試験は,絶縁体及びシースコンパウンドの押出し後,又は加硫がある場合は加硫(又

は架橋)後,16 時間以上経過した後に行う。

6.

試験温度  試験は,関連ケーブル規格に規定する温度で行う。

7.

中央値  試験結果の値を上位順又は下位順に並べたとき,有効な測定値の数が奇数の場合は中心値,

偶数の場合は二つの中心値の平均値とする。

8.

低温試験

8.1

絶縁体の低温曲げ試験

8.1.1

総則  この試験は,12.5mm 以下の仕上外径をもつ円形断面の線心及びダンベルを準備することが

できない扇形線心に適用する。関連ケーブル規格で要求されている場合,12.5mm を超える線心について

も,この試験の対象とする。12.5mm を超える線心の絶縁体は,8.3 によって伸び試験を行う。

8.1.2

試料採取及び試験片の準備  試験する各線心は,適切な長さの 2 試料とする。被覆物を取り除いた

後,その試料を試験片として用いる。

8.1.3

装置  この試験用に推奨する装置は,図 に示す。その装置は,試験片用の回転マンドレル及び試

料の案内装置からなっている。

図 に相当する他の単心マンドレル装置を用いてもよい。

装置は,試験前及び試験中に適切な低温槽の中に保持する。

8.1.4

手順  試験片は,図 に示すように装置の中に固定する。

装置は,所定の位置の試験片と一緒に適切な低温槽の中に 16 時間以上,規定温度に保持する。16 時間

の冷却期間は,装置を冷却するのに必要な時間を含める。

装置があらかじめ冷却されている場合,より短い冷却期間でよい。試料は,規定した試験温度に達して

から 4 時間以上冷却する。装置と試験片があらかじめ冷却されている場合,試験片を装置に固定した後,1

時間の冷却とする。

規定した時間の終わりにマンドレルは,8.1.5 に規定された条件によって巻き付ける。試験片は,マンド

レルの回りに密着してらせん状に曲げられるようにする。扇形試験片の場合は,試験片の円形の部分背面

(曲面)をマンドレルに接触させる。

試験片は,更に,マンドレルの上において,周囲温度に到達まで放置しておく。


3

C 3660-1-4

:2003 (IEC 60811-1-4 : 1985    Amendment 1 : 1993    Amendment 2 : 2001)

8.1.5

試験条件  冷却と試験温度は,関連ケーブル規格のコンパウンドの種類の規定による。

マンドレル径は,試験片の径の 4∼5 倍の間とする。

マンドレルは,約 5 秒間に 1 回転の割合で一定に回転させる。

また,回転数は,

表 の規定による。

各試験片の径は,ノギス又は円周尺によって測定する。扇形成形試験片の場合は,マンドレル径及び回

転数を決定するために,径に相当するパラメータとして短軸をとる。

平形コードの場合,マンドレル径は,試験片の短径を基準とする。試験片は,マンドレルに対して短径

を直角にして巻き付ける。

表 1  マンドレルの回転数

試験片の外径

mm

回転数

2.5

以下

2.5

を超え 4.5 以下

4.5

を超え 6.5 以下

6.5

を超え 8.5 以下

8.5

を超える

10

6

4

3

2

8.1.6

結果の評価  8.1.4 に規定した手順が終了後,試験片は,マンドレルの上でそのままの状態で検査

する。両方の絶縁体の試験片は,拡大しないで目視又は矯正視力で検査したとき,クラックがあってはな

らない。

8.2

シースの低温曲げ試験

8.2.1

総則  この試験は,一般に仕上外径が 12.5mm 以下のケーブル及び平形ケーブルでは長径 20mm 以

下のものに適用する。これを超えるケーブルで,関連ケーブル規格で要求されている場合,この試験の適

用を要求されていない場合は,8.4 の試験を行う。

8.2.2

試料採取及び試験片の準備  試験する各シースは,適切な長さのケーブルから 2 試験片を採取する。

試験を開始する前に,すべての被覆をシースから取り除く。

8.2.3

装置及び手順と試験条件  8.1.38.1.4 及び 8.1.5 による。

がい装又は外部シースの下に同軸導体がある場合は,マンドレル径は関連ケーブル規格の規定による。

8.2.4

結果の評価  8.1.4 の手順が終了後,試験片は,マンドレルの上でそのままの状態で検査する。両

方のシースの試験片は,拡大しないで目視又は矯正視力で検査したとき,クラックがあってはならない。

8.3

絶縁体の低温伸び試験

8.3.1

総則  この試験は,8.1.1 に規定されている曲げ試験に供しない線心の絶縁体について行う。

8.3.2

試料採取  試験される線心は,適切な長さの 2 試料による。

8.3.3

試験片の準備  すべての被覆物(外部半導層があればそれを含む。)を取り除いた後,絶縁体は,

軸方向に切り開き,更に,導体及び半導電層があるならばそれを取り除く。

絶縁体は,加熱させないようにして,標線間の平滑で平行面を得るために研磨又は研さくをする。研さ

くに使用する試験片作製機の例を,JIS C 3660-1-1 

附属書 に示す。ポリエチレンとポリプロピレン絶

縁体に対しては,研磨なしで研さくだけとする。研磨又は研さく後,絶縁体の厚さは 0.8mm 以上で,かつ,

2.0mm

を超えてはならない。初期試料から 0.8mm の厚さのものができない場合は,0.6mm の最小厚さでも

よい。

すべての試験片は,常温にて 16 時間以上放置する。

この準備後,各試料から,

図 によって,それ以外は図 によってダンベル状試験片二つを試料の軸方


4

C 3660-1-4

:2003 (IEC 60811-1-4 : 1985    Amendment 1 : 1993    Amendment 2 : 2001)

向に打ち抜く。可能な限り二つのダンベル状試験片は,並べて打ち抜く。

扇形線心の場合には,ダンベル状試験片は線心の背面(曲面)の部分から打ち抜く。

ダンベル状試験片は,試験中に標線間距離を直接測定できる装置を使用する場合,JIS C 3660-1-1 

9.1.3a)

の 3)によって標線を付ける。

8.3.4

装置  試験は,冷却装置をもつ通常の引張試験機又は低温室に設置した引張試験機によって行う。

冷却剤として液体を使用する場合,規定された試験温度の状態にする時間は,10 分以下であってはなら

ない。

空冷の場合には,装置及び試験片の冷却調整時間は少なくとも 4 時間とする。装置があらかじめ冷却さ

れている場合は,2 時間とする。

装置及び試験片があらかじめ冷却されている場合,

試験片が装置に固定された後の冷却時間は 30 分以上

とする。

冷却剤に混合液を使用する場合には,絶縁体又はシースの材料を損なうものであってはならない。伸び

試験中に標線間距離を直接測定できる装置又はグリップ間に置き換えて測定できる装置を使用する。

備考  冷却剤には,ドライアイスとエチルアルコール又はメチルアルコールを混合したものが適切で

ある。

8.3.5

手順及び試験条件  引張試験機のグリップは,ノンセルフタイトニング型とする。あらかじめ冷却

された両方のグリップにダンベル状試験片を同じ長さで引き止める。

グリップ間の自由長は,標線間距離を直接測定するならば,両タイプのダンベル状試験片とも約 30mm

とする。

グリップを標線の代わりに用いて測定する場合,グリップ間の自由長は,

図 のダンベル状試験片では

30

±0.5mm,

図 のダンベル状試験片では 22±0.5mm とする。引張試験機の引張速度は,25±0.5mm/min

とする。試験温度は,関連ケーブル規格のコンパウンドの種類の規定による。

伸びは,標線間の距離を測定する。

また,可能ならば破断する瞬間のグリップ間隔によってもよい。

8.3.6

結果の評価  伸びの計算は,標線間の長さの増加をもとの長さの 20mm(図 によってダンベル状

試験片を用いたならば 10mm)と比較するものとし,その長さの百分率で表すものとする。

グリップ間の距離を測定するという代替法を用いた場合,グリップ間長さの増加は,

図 によってダン

ベル状試験片では 30mm,

図 によってダンベル状試験片では 22mm のもとの長さと比較する。この方法

を用いたときには,試験片を装置から取り外す前に測定する。試験片がグリップから部分的に滑りが生じ

ている場合,その結果は無効とする。伸びの計算には,3 個以上の有効な結果が要求され,有効な結果が

得られなければ別の方法で試験を繰り返す。

他に規定されていない限り,結果は 20%以下であってはならない。

疑義が生じた場合には,標線法を用いる方法を使用する。

8.4

シースの低温伸び試験

8.4.1

一般  この試験は,8.2.1 に規定されている曲げ試験に供しないケーブルのシースについて行う。

8.4.2

試料採取  試験するシースは,適切な長さの 2 試料とする。

8.4.3

試験片の準備  シースは,規定の平均厚さ 2.0mm 以下で,かつ,両面が平滑であれば研磨又は研

さくを行わない。痕跡又は隆起した試料で,この範囲を超える厚さの試料は,厚さ 2.0mm を超えることな

く,平行面で平滑になるように研磨又は研さくをする。研磨後の最小厚さは 0.8mm とし,シースの初期厚

さが,それ以下の場合は 0.6mm の最小厚さとしてもよい。


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C 3660-1-4

:2003 (IEC 60811-1-4 : 1985    Amendment 1 : 1993    Amendment 2 : 2001)

研磨及び研さくは,シースに機械的圧力がかからないように,又はシースが加熱させないようにして行

う。

ポリエチレン(PE)及びポリプロピレン(PP)は,研磨せず研さくだけとする。

なお,研さくに使用する試験片作製機の例を,JIS C 3660-1-1 

附属書 に示す。

すべての試験片は,常温に 16 時間以上放置する。

8.4.4

装置  8.3.4 による。

8.4.5

試験手順及び試験条件  8.3.5 による。

8.4.6

結果の評価及び要求事項  8.3.6 による。

8.5

ビニル絶縁体及びシースの低温衝撃試験

8.5.1

総則  この低温衝撃は,線心の絶縁体のタイプにかかわりなく,各種タイプのビニルシースケーブ

ル及び関連ケーブル規格に要求された場合,ビニルシースなしコード及び平形コードの絶縁体について行

うものとする。

8.5.2

試料採取と試験片の準備  完成品から、最小が 150mm でケーブル外径の 5 倍以上の長さの 3 試料

を採取する。外部被覆がある場合,そのすべてを取り除く。

8.5.3

装置  この試験に用いる装置を,図 に示す。

装置は,約 40mm 厚さのスポンジゴムの上に置き,試験前及び試験中は適切な低温槽の中に置かなけれ

ばならない。

8.5.4

試験条件  試験温度は,関連ケーブル規格におけるビニルコンパウンドの種類の規定による。

固定配線用電力ケーブルの場合,試験片に加えるハンマーの質量は,

表 による。

表 2  固定配線用電力ケーブルの

試験片に加えるハンマーの質量

仕上外径

mm

ハンマーの質量

超え

以下 g

4.0

6.0

9.0

12.5

20.0

30.0

50.0

75.0

4.0

6.0

9.0

12.5

20.0

30.0

50.0

75.0

100

200

300

400

500

750

1 000

1 250

1 500


6

C 3660-1-4

:2003 (IEC 60811-1-4 : 1985    Amendment 1 : 1993    Amendment 2 : 2001)

可とうケーブル,コード及び通信ケーブルの場合には,試験片に加えるハンマーの質量は,

表 による。

表 3  可とうケーブル,コード及び通信

ケーブルの試験片に加えるハンマーの質量

仕上外径

mm

ハンマーの質量

超え

以下 g

6.0

10.0

15.0

25.0

35.0

6.0

10.0

15.0

25.0

35.0

100

200

300

400

500

600

平形コード 100

表 及び表 に示した仕上外径は,各試験片をノギス又は円周尺によって測定する。

平形コードは,その短径を底部と垂直にして試験する。

8.5.5

手順  装置と試験されるケーブル試験片は,適切な低温槽の中に並べ,規定の温度に保持する。

低温槽に入っているものは,装置を冷却する時間を含め 16 時間以上冷却する。装置があらかじめ冷却さ

れている場合,冷却時間は,試験片が規定の温度になっているならば 1 時間以上に短縮してもよい。

規定時間を経たときに試料を順番に,

図 に示す位置に置き,ハンマーを 100mm の高さから落下させ

る。

試験後,シースのない構造のケーブル又はコードの絶縁体は,検査する前に室温に戻す。

絶縁体は,まっすぐに保持されたものを 100mm ごとに 360 度ねじった後で検査する。

この方法でひねることができない場合は,シースの規定で検査する。

ケーブル及びコードのシースは,

(もし,あれば)検査する前に試験片はほぼ常温に戻し,ついで温水*

中に浸せきする。

次に,シースをケーブルの軸方向に切り開く。

それから,シースの内側と外側及び絶縁体を検査する。

次に,シースをもつケーブル及びコードの絶縁体は,外側だけ検査する。

*  温水(40∼50℃)は,浸すに十分な量を供給する。

8.5.6

結果の評価  3 試験片は,拡大しないで目視又は矯正視力で検査したとき,クラックがあってはな

らない。

三つのうち一つの試料にだけクラックがある場合,更に三つの試料で試験を繰り返し,クラックがなけ

れば合格とする。三つの試料でクラックがあれば,このケーブル又はシースは不合格とする。


7

C 3660-1-4

:2003 (IEC 60811-1-4 : 1985    Amendment 1 : 1993    Amendment 2 : 2001)

単位  mm

ここに,

d

s

<S<1.5d

s

d

1

=1.2

∼1.5×d

s

水平位置 (H.P.) では,管は試料をあまり下の方へ押さえないこと。

傾斜位置 (S.P.) では,管は試料をあまり上の方へ押さえないこと。

図 1  低温曲げ試験装置


8

C 3660-1-4

:2003 (IEC 60811-1-4 : 1985    Amendment 1 : 1993    Amendment 2 : 2001)

図 2  衝撃試験装置

図 3  ダンベル状試験片


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C 3660-1-4

:2003 (IEC 60811-1-4 : 1985    Amendment 1 : 1993    Amendment 2 : 2001)

図 4  小形ダンベル状試験片

関連規格  JIS C 3005  ゴム・プラスチック絶縁電線試験方法