>サイトトップへ >このカテゴリの一覧へ

C 3216-1

:2011

(1)

目  次

ページ

序文 

1

1

  適用範囲

1

2

  引用規格

1

3

  用語及び定義並びに試験における一般事項

2

3.1

  用語及び定義 

2

3.2

  試験方法における一般事項 

3

附属書 A(参考)JIS C 3216-2JIS C 3216-6 の目次

4

附属書 JA(参考)JIS と対応国際規格との対比表 

8


C 3216-1

:2011

(2)

まえがき

この規格は,工業標準化法第 12 条第 1 項の規定に基づき,社団法人日本電線工業会(JCMA)から,工

業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済

産業大臣が制定した日本工業規格である。これによって,JIS C 3003:1999 及び JIS C 3006:1999 は廃止さ

れ,この規格に置き換えられた。

この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。

この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意

を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実

用新案権に関わる確認について,責任はもたない。

この規格は,エナメル線及び横巻線の試験方法の統一並びに試験規格の IEC 規格整合化を目的として制

定したものである。この規格は,IEC 規格への整合化に向け検討してきたが,内容によって大きな変更と

なり市場の混乱が予想されたため,整合化に向けた経過措置として整合化規格を主とし,一部を従来の JIS

による試験方法に変更した。この規格の制定によって,市場に IEC 整合規格のコンセンサスを得ることを

目的とした。したがって,次回改正時には IEC 規格への整合を図る。

JIS C 3216

の規格群には,次に示す部編成がある。

JIS

C

3216-1

第 1 部:全般事項

JIS

C

3216-2

第 2 部:寸法

JIS

C

3216-3

第 3 部:機械的特性

JIS

C

3216-4

第 4 部:化学的特性

JIS

C

3216-5

第 5 部:電気的特性

JIS

C

3216-6

第 6 部:熱的特性


日本工業規格

JIS

 C

3216-1

:2011

巻線試験方法−第 1 部:全般事項

Winding wires-Test methods-Part 1:General

序文 

この規格は,1996 年に第 2 版として発行された IEC 60851-1,Amendment 1(2003)及び Amendment 2

(2009)を基に,対応国際規格を翻訳し,市場に IEC 整合規格のコンセンサスを得るまでの措置として,

技術的内容を変更して作成した日本工業規格である。ただし,追補(Amendment)については,編集し,

一体とした。

なお,この規格で点線の下線を施してある箇所は,対応国際規格を変更している事項である。変更の一

覧表にその説明を付けて,

附属書 JA に示す。

適用範囲 

この規格は,巻線に用いる各種エナメル銅線,エナメルアルミニウム線,横巻銅線及び横巻アルミニウ

ム線の試験方法の全般事項について規定する。この規格は,JIS C 3216 規格群で用いる用語及び定義を規

定する。

注記  この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。

IEC 60851-1:1996

, Winding wires − Test methods − Part 1:General , Amendment 1:2003 及 び 

Amendment 2:2009

(MOD)

なお,対応の程度を表す記号“MOD”は,ISO/IEC Guide 21-1 に基づき,

“修正している”

ことを示す。

引用規格 

次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの

引用規格は,その最新版(追補を含む。

)を適用する。

JIS C 3215

  巻線個別規格(規格群)

注記  対応国際規格:IEC 60317 (all parts), Specifications for particular types of winding wires(IDT)

JIS C 3216-2

  巻線試験方法−第 2 部:寸法

注記  対応国際規格:IEC 60851-2:2009,Winding wires−Test methods−Part 2:Determination of

dimensions

(MOD)

JIS C 3216-3

  巻線試験方法−第 3 部:機械的特性

注記  対応国際規格:IEC 60851-3:2009,Winding wires−Test methods−Part 3:Mechanical properties

(MOD)

JIS C 3216-4

  巻線試験方法−第 4 部:化学的特性

注記  対応国際規格:IEC 60851-4:1996,Winding wires−Test  methods−Part 4:Chemical properties


2

C 3216-1

:2011

(MOD)

JIS C 3216-5

  巻線試験方法−第 5 部:電気的特性

注記  対応国際規格:IEC 60851-5:2008,Winding wires−Test methods−Part 5:Electrical properties

(MOD)

JIS C 3216-6

  巻線試験方法−第 6 部:熱的特性

注記  対応国際規格:IEC 60851-6:1996,Winding wires−Test methods−Part 6:Thermal properties

(MOD)

JIS Z 8703

  試験場所の標準状態

用語及び定義並びに試験における一般事項 

3.1 

用語及び定義 

この規格群で用いる主な用語及び定義は,次による。

3.1.1  

融着層(bonding layer)

エナメル線の上に形成され,エナメル線どうしを融着する機能をもつ層。

3.1.2  

より線(bunched wire)

小径の絶縁被覆線を束ねた線。追加の被覆があってもなくてもよく,幾何学的位置はあらかじめ決めら

れることなく,束ねられている。

3.1.3  

クラス(class)

温度指数及び熱衝撃温度で示す線の耐熱性の指標。

3.1.4  

皮膜(coating)

導体上又は線の上に形成する材料。皮膜は適切な手段で乾燥又は硬化する。

3.1.5  

導体(conductor) 

絶縁物を取り除いた後の裸の金属。

3.1.6  

被覆(covering) 

裸導体又は絶縁被覆した導体の周囲に編んだり,包んだり,又は巻いたりする材料。

3.1.7  

亀裂(crack)

指定された拡大率で導体が露出して見える絶縁物の開口部。

3.1.8  

二重皮膜(dual coating)

下層と上層とからなる 2 層の異種材料で形成した絶縁物。

3.1.9  

エナメル線(enamelled wire)

熱硬化樹脂層を塗装した線。


3

C 3216-1

:2011

3.1.10  

種別(grade)

絶縁の厚さによる区分。

3.1.11  

絶縁(insulation) 

特定の耐電圧機能をもつ,導体の皮膜又は被覆。

3.1.12  

公称導体寸法(nominal conductor dimension) 

導体寸法の公称値。

注記  JIS C 3202JIS C 3204 及び JIS C 3215 規格群に従って定められる導体の寸法。

3.1.13  

単一皮膜(sole coating) 

一つの材料からなる絶縁。

3.1.14  

巻線(winding wire) 

磁界を与えるコイル巻線用の線。

3.1.15  

線(wire)

絶縁被覆又は絶縁塗装した導体。

3.1.15A   

温度指数 

耐熱寿命グラフ上で 20 000  時間に相応する摂氏の温度に対応する数字。耐熱寿命グラフとは,耐熱性の

評価試験において,規定の終点(寿命)に到達する時間の対数を絶対温度の逆数に対してプロットしたグ

ラフ。

3.1.16 

通常視力(normal vision) 

裸眼視力又は矯正視力が 1.0 以上。

3.2 

試験方法における一般事項 

特に指定のない限り,全ての試験は,JIS Z 8703 に規定の温度 20±15  ℃及び湿度(65±20)%の標準状

態で実施する。試験を行う前に,試験片はこの標準状態に安定するまであらかじめ放置しておく。

試験片は巻枠からとる。このときに,線に張力を与えたり,不必要な曲げを与えたりしてはならない。

試験片に損傷部分が含まれないことを確実にするため,各試験前に十分な長さの線を廃棄した後,試験片

をとる。

JIS C 3216-2

JIS C 3216-6 に規定する試験方法は,必須の要求事項は全て文章で記載している。図は,

試験を実施する場合の一例を示している。

個別規格である JIS C 3215 規格群とこの規格群の規定との間に矛盾がある場合は,

個別規格を優先する。

試験を特定の巻線についてだけで実施する場合は,これを個別規格で明記する。

附属書 に記載する JIS C 3216-2JIS C 3216-6 の試験のうち,アスタリスク(*で示す)を付けた試験

は,使用者から要求があった場合に受渡当事者間の協定によって実施する。


4

C 3216-1

:2011

附属書 A

(参考)

JIS C 3216-2

∼JIS C 3216-6

の目次

JIS C 3216-2

JIS C 3216-6 の目次の一覧を次に示す。

*

印の試験は使用者から要求があった場合に受渡当事者間の協定によって実施する。

JIS C 3216-2

  巻線試験方法−第 2 部:寸法

1

  適用範囲

2

  引用規格

3

  寸法

3.1

  試験装置

3.1.1

  丸線及び平角線

3.1.2

  より線

3.2

  試験方法

3.2.1

  導体寸法

3.2.1.1

  丸線

3.2.1.2

  平角線

3.2.2

  導体真円度

3.2.3

  平角線の面取り

3.2.4

  両側絶縁厚さ

3.2.4.1

  一般

3.2.4.2

  丸線

3.2.4.3

  平角線

3.2.5

  仕上がり寸法

3.2.5.1

  丸線

3.2.5.2

  平角線

3.2.5.3

  より線

3.2.6

  エナメル丸線の両側融着層厚さ

附属書 JA(規定)  代替試験方法

JA.3

  寸法

JIS C 3216-3

  巻線試験方法−第 3 部:機械的特性

1

  適用範囲

2

  引用規格

3

  伸び及び引張強さ

3.1

  伸び

3.2

  引張強さ

4

  軟らかさ


5

C 3216-1

:2011

4.1

  公称導体径 0.080 mm を超え 1.600 mm 以下の丸線

4.1A

  スプリングエロンゲーション法

4.2

  公称導体径 1.600 mm を超える丸線及び平角線

5

  可とう性及び密着性

5.1

  巻付け試験

5.1.1

  丸線

5.1.2

  平角線

5.1.3

  横巻より線

5.2

  伸長試験(公称導体径が 1.600 mm を超えるエナメル丸線に適用)

5.3

  急激伸長試験(公称導体径が 1.000 mm 以下のエナメル丸線に適用)

5.4

離試験(公称導体径が 1.000 mm を超えるエナメル丸線に適用)

5.5

  密着試験

5.5.1

  エナメル平角線

5.5.2

  ワニス含浸繊維巻丸線及び平角線

5.5.3

  繊維巻エナメル丸線及び平角線

5.5.4

  テープ巻丸線及び平角線(融着テープ巻線)

6

  耐摩耗*(エナメル丸線に適用)

7

  融着性*(公称導体径が 0.050 mm を超え 2.000 mm 以下のエナメル丸線に適用)

7.1

  ヘリカルコイル法

7.2

  ツイストコイルの融着力

附属書 A(参考)  熱融着線の融着力

附属書 B(参考)  すべり性試験

附属書 JA(規定)  代替試験方法

JA.4

  軟らかさ(スプリングバック法)

JA.5

  可とう性及び密着性

JA.5.1

  可とう性

JA.5.1.1

  エナメル丸線

JA.5.1.2

  平角線

JA.5.2

  密着性

JA.5.2.1

  エナメル丸線

JA.5.2.2

  エナメル平角線

JA.5.2.3

  横巻線

JA.7

  融着性

JIS C 3216-4

  巻線試験方法−第 4 部:化学的特性

1

  適用範囲

2

  引用規格

3

  耐溶剤*(公称導体径が 0.250 mm を超える丸線及び平角線に適用)

3.1

  試験装置

3.2

  試験手順


6

C 3216-1

:2011

4

  耐冷媒*(エナメル丸線に適用)

4.1

  抽出

4.2

  絶縁破壊

5

  はんだ付け性(エナメル丸線及びより線に適用)

5.1

  試験装置

5.2

  試験片

5.3

  試験手順

6

  耐加水分解及び耐トランス油*(エナメル線に適用)

6.1

  丸線

6.2

  平角線

附属書 JA(規定)  代替試験方法

JA.3

  耐溶剤*

JA.3.1

  丸線

JA.3.2

  平角線

JA.4

  耐冷媒*

JA.4.1

  絶縁破壊

JA.4.2

  冷媒抽出

JA.5

  はんだ付け性

JIS C 3216-5

  巻線試験方法−第 5 部:電気的特性

1

  適用範囲

2

  引用規格

3

  導体抵抗

4

  絶縁破壊

4.1

  概要

4.2

  試験装置

4.3

  公称導体径 0.100 mm 以下のエナメル丸線

4.4

  公称導体径 0.100 mm を超え 2.500 mm 以下のエナメル丸線

4.5

  公称導体径 2.500 mm を超えるエナメル丸線

4.6

  繊維巻丸線

4.7

  平角線

5

  均一性(エナメル丸線及びテープ巻丸線に適用)

5.1

  概要

5.2

  低電圧均一性(公称導体径 0.050 mm 以下)

5.3

  高電圧均一性(公称導体径 0.050 mm を超え 1.600 mm 以下)

6

  誘電正接(エナメル線及びより線に適用)

7

  ピンホール試験

附属書 A(参考)  誘電正接の測定法

附属書 JA(規定)  代替試験方法

JA.4

  絶縁破壊


7

C 3216-1

:2011

JA.4.1

  横巻線

JA.4.2

  エナメル線

JA.5

  均一性(公称導体径 0.250 mm を超え 1.600 mm 以下に適用)

JIS C 3216-6

  巻線試験方法−第 6 部:熱的特性

1

  適用範囲

2

  引用規格

3

  耐熱衝撃(エナメル線及びテープ巻線に適用)

3.1

  試験片

3.1.1

  丸線

3.1.2

  平角線

3.2

  試験手順

3.3

  結果

4

  耐軟化*(公称導体径 0.100 mm を超え 1.600 mm 以下のエナメル丸線及びテープ巻丸線に適用)

4.1

  試験装置

4.2

  試験手順

5

  温度指数*

5.1

  エナメル線

5.2

  テープ巻線

6

  加熱減量*(エナメル丸線に適用)

6.1

  試験片

6.2

  試験手順

附属書 A(参考)  高温中破壊試験(エナメル丸線に適用)

附属書 JA(規定)  代替試験方法

JA.3

  耐熱衝撃

JA.3.1

  丸線

JA.3.2

  平角線

JA.4

  耐軟化

JA.5

  温度指数

JA.5.1

  概要

JA.5.2

  試験片

JA.5.3

  試験手順

参考文献  JIS C 3202  エナメル線 

JIS C 3204

  横巻線


附属書 JA

(参考)

JIS

と対応国際規格との対比表

JIS C 3216-1:2011

  巻線試験方法−第 1 部:全般事項

IEC 60851-1:1996

  Winding wires−Test methods−Part 1: General, Amendment

1:2003

及び Amendment 2:2009

(I)JIS

の規定 (III)国際規格の規定 (IV)JIS と国際規格との技術的差異の箇条

ごとの評価及びその内容

箇 条 番 号
及び題名

内容

(II)

国 際 規

格番号

箇条
番号

内容

箇 条 ご と
の評価

技術的差異の内容

(V)JIS

と国際規格との技術的差

異の理由及び今後の対策

3

  用語及

び 定 義 並
び に 試 験

に お け る
一般事項

3.1.12

  公称導体寸法

3.1.12

IEC 60317

に従って定め

られる導体の寸法。

変更

JIS

には IEC 60317 に含まれな

い導体寸法が存在するため,寸
法の 違い を 考慮 して ,JIS C 

3202

及び JIS C 3204 の内容を

追加した

日本国内での使用状況に合わせ
た。

 3.1.15A

  温度指数

追加

IEC

規格にはない新規項目を

追加した

温度指数の理解を助けるため追

加したが,実質的な技術的差異は
ない。

 3.2

  試 験 方 法 に お け る

一般事項

 3.2

温度 15∼35  ℃,湿度 45
∼75 %。

変更

JIS Z 8703

に従って温度 20±

15

℃,湿度(65±20)%とし

た。

日本国内の環境条件に合わせた。

附 属 書 A
(参考)

JIS C 3216-2

∼ JIS C 

3216-6

の試験項目の一部

を従来 JIS による試験方

法に変更・追加した。

変更

試験方法の一部を従来 JIS 
変更し,また一部で従来 JIS 
よる方法を選択できるように

追加した。

日本での使用状況に合わせた。次
回見直し時(2015 年予定)には国
際規格に整合を図る。

JIS

と国際規格との対応の程度の全体評価:IEC 60851-1 :1996,Amd. 1:2003 及び Amd. 2:2009,MOD

注記 1  箇条ごとの評価欄の用語の意味は,次による。

    −  追加……………… 国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。 
    −  変更……………… 国際規格の規定内容を変更している。

注記 2  JIS と国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は,次による。

    −  MOD……………  国際規格を修正している。

8

C

 321

6-

1


20
1

1