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C 2570-2

:2015

(1)

目  次

ページ

序文  

1

1

  一般事項  

1

1.1

  適用範囲  

1

1.2

  引用規格  

1

1.3

  個別規格に規定する事項  

2

1.4

  用語及び定義  

3

2

  推奨定格及び特性  

3

2.1

  ゼロ負荷抵抗値の許容差  

3

2.2

  耐候性カテゴリ  

3

3

  品質評価手順  

3

3.1

  製造の初期工程  

3

3.2

  構造的に類似な表面実装形 NTC サーミスタ  

3

3.3

  品質認証手順  

3

3.4

  品質確認検査  

3

3.5

  品質確認検査  

5

4

  試験及び測定手順  

7

4.1

  取付け  

7

4.2

  乾燥及び後処理  

7

4.3

  外観検査及び寸法検査  

7

4.4

  電気的試験  

9

4.5

  熱的試験  

9

4.6

  はんだ耐熱性  

10

4.7

  はんだ付け性  

10

4.8

  温度急変  

11

4.9

  二液槽温度急変  

11

4.10

  一連耐候性  

11

4.11

  高温高湿(定常)  

11

4.12

  耐久性  

12

4.13

  固着性  

13

4.14

  耐プリント板曲げ性  

13

4.15

  部品の耐溶剤性  

13

4.16

  表示の耐溶剤性  

13

4.16A

  低温(耐寒性)  

13

4.16B

  高温(耐熱性)  

13

附属書 A(規定)表面実装形 NTC サーミスタの寸法記号及び規定に関する指針  

14


C 2570-2

:2015  目次

(2)

ページ

附属書 JA(参考)JIS と対応国際規格との対比表  

15


C 2570-2

:2015

(3)

まえがき

この規格は,工業標準化法第 14 条によって準用する第 12 条第 1 項の規定に基づき,一般社団法人電子

情報技術産業協会(JEITA)及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業

規格を改正すべきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工業

規格である。これによって,JIS C 2570-2:2008 は改正され,この規格に置き換えられた。

この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。

この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意

を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実

用新案権に関わる確認について,責任はもたない。

JIS C 2570

の規格群には,次に示す部編成がある。

JIS C 2570-1

  第 1 部:品目別通則

JIS C 2570-2

  第 2 部:品種別通則−表面実装形 NTC サーミスタ


日本工業規格

JIS

 C

2570-2

:2015

直熱形 NTC サーミスタ−

第 2 部:品種別通則−表面実装形 NTC サーミスタ

Directly heated negative temperature coefficient thermistors-

Part 2: Sectional specification-

Surface mount negative temperature coefficient thermistors

序文 

この規格は,2003 年に第 1 版として発行された IEC 60539-2 及び Amendment 1(2010)を基とし,親規

格 JIS C 2570-1 の改正に整合化するため,技術的内容を変更して作成した日本工業規格である。

なお,この規格で点線の下線を施してある箇所は,対応国際規格を変更している事項である。変更の一

覧表にその説明を付けて,

附属書 JA に示す。

一般事項 

1.1 

適用範囲 

この規格は,半導体特性をもつ遷移金属酸化物によって作られる直熱形の表面実装形負温度係数サーミ

スタ(以下,表面実装形 NTC サーミスタという。

)について規定する。これらの表面実装形 NTC サーミス

タは,接続用パッド又ははんだ付け端子を電極にもち,混成集積回路用基板又はプリント配線板上に直接

取り付けることを目的としている。

注記 1  この規格は,表面実装形 NTC サーミスタの特性について規定するものであるが,その特性に

関わる規定は,設計の目標値を示すものであり,この規格によって適合性評価を実施するこ

とは,意図していない。

注記 2  この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。

IEC 60539-2:2003

,Directly heated negative temperature coefficient thermistors−Part 2: Sectional

specification

−Surface mount negative temperature coefficient thermistors 及び Amendment

1:2010

(MOD)

なお,対応の程度を表す記号“MOD”は,ISO/IEC Guide 21-1 に基づき,

“修正している”

ことを示す。

1.2 

引用規格 

次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの

引用規格は,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追補を含む。

)は適用しない。

JIS C 2570-1:2015

  直熱形 NTC サーミスタ−第 1 部:品目別通則

注記 1  対応国際規格:IEC 60539-1:2002,Directly heated negative temperature coefficient thermistors

−Part 1: Generic specification(MOD)


2

C 2570-2

:2015

注記 2  IEC 60539-1 は,2008 年版に改正されており,この IEC 規格で JIS 化された。

JIS C 5005-2:2010

  品質評価システム−第 2 部:電子部品及び電子パッケージのための抜取検査方式

の選択及び活用(統計的工程品質限界の評価手順)

JIS C 60068-2-2:2010

  環境試験方法−電気・電子−第 2-2 部:高温(耐熱性)試験方法(試験記号:

B

注記  対応国際規格:IEC 60068-2-2:1974,Basic environmental testing procedures−Part 2: Tests−Tests

B: Dry heat, Amendment 1:1993

及び Amendment 2:1994(MOD)

JIS C 60068-2-14:2011

  環境試験方法−電気・電子−第 2-14 部:温度変化試験方法(試験記号:N)

注記  対応国際規格:IEC 60068-2-14:1984,Basic environmental testing procedures−Part 2-14: Tests−

Test N: Change of temperature

及び Amendment 1:1986(MOD)

JIS C 60068-2-58:2006

  環境試験方法−電気・電子−表面実装部品(SMD)のはんだ付け性,電極の

耐はんだ食われ性及びはんだ耐熱性試験方法

注記  対応国際規格:IEC 60068-2-58:2004,Environmental testing−Part 2-58: Tests−Test Td: Test

methods for solderability, resistance to dissolution of metallization and to soldering heat of surface

mounting devices (SMD)

(MOD)

JIS C 60068-2-78:2015

  環境試験方法−電気・電子−第 2-78 部:高温高湿(定常)試験方法(試験記

号:Cab)

注記  対応国際規格:IEC 60068-2-78,Environmental testing−Part 2-78: Tests−Test Cab: Damp heat,

steady state

(IDT)

1.3 

個別規格に規定する事項 

個別規格は,関連するブランク個別規格の様式による。

個別規格には,品目別通則,品種別通則又はブランク個別規格の要求事項よりも低い水準の要求事項を

規定してはならない。より厳しい要求事項を含む場合,個別規格の 1.9(品目別通則及び/又は品種別通則

への追加又はより厳しい要求事項)の中に記載し,更に試験計画の中に,例えば,アスタリスク(*)を付

けて明示する。

注記 1  1.3.1 の外形図及び寸法は,一覧表で示してもよい。

1.3.1

1.3.3 の情報は,個々の個別規格に規定し,引用する値は,この規格の該当する項目

の中から選択する。

注記 2  個別規格の箇条構成は,1.0(適用範囲),1.1(推奨する取付方法),1.2(寸法),1.3(定格及

び特性)

1.4(引用規格)

1.5(表示)

1.6(発注情報)

1.7(出荷対象ロットの成績証明書)

1.8

(追加情報)

,及び 1.9(品目別通則及び/又は品種別通則への追加又はより厳しい要求事

項)である。

1.3.1 

外形図及び寸法 

外形図及び寸法は,

その他の表面実装形 NTC サーミスタとの比較及び区分が容易にできるように図示す

る。表面実装形 NTC サーミスタの互換性及び取付けに影響する寸法及び寸法許容差は,個別規格に規定す

る。また,全ての寸法は,ミリメートル(mm)で規定する。

寸法表示は,本体の長さ,幅及び高さを規定する。多種の表面実装形 NTC サーミスタを一つの個別規格

に規定する場合,図面の下に寸法及び寸法許容差を表で示す。

構造が異なる場合,その表面実装形 NTC サーミスタを適切に表す寸法情報を個別規格に規定する。


3

C 2570-2

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1.3.2 

取付け 

個別規格には,通常使用における取付方法を規定する。試験及び測定のための取付方法(必要がある場

合)は,JIS C 2570-1 の 4.4(取付け)の規定による。

1.3.3 

定格及び特性 

1.3.3.1 

特別な特性 

表面実装形 NTC サーミスタの設計及び用途目的に応じ,表面実装形 NTC サーミスタに必要となる追加

の特性を規定してもよい。

1.3.3.2 

表示 

JIS C 2570-1

の 2.4(表示)の規定による。

1.4 

用語及び定義 

この規格で用いる主な用語及び定義は,JIS C 2570-1 の 2.2(用語及び定義)の規定による。

推奨定格及び特性 

2.1 

ゼロ負荷抵抗値の許容差 

ゼロ負荷抵抗値の許容差は,次の中から選択する。

±1 %,±2 %,±3 %,±5 %及び±10 %

2.2 

耐候性カテゴリ 

耐候性カテゴリの構成要素であるカテゴリ上限温度,カテゴリ下限温度及び高温高湿(定常)試験の試

験日数を,

表 の中から選択する。

表 1−カテゴリ上限温度,カテゴリ下限温度及び高温高湿(定常)試験の試験日数 

カテゴリ上限温度  ℃ 70,85,100,105,125,150,155

カテゴリ下限温度  ℃

−55,−40,−25,−10,−5,+5

試験日数          日 21,42,56

個別規格には適切な耐候性カテゴリを規定する。

品質評価手順 

3.1 

製造の初期工程 

製造の初期工程は,材料の初期混合工程と定義する。

3.2 

構造的に類似な表面実装形 NTC サーミスタ 

表面実装形 NTC サーミスタは,次の追加事項とともに,JIS C 2570-1 の Q.3(構造的に類似な NTC サ

ーミスタ)の要求事項を満足する場合,検査ロットの構成として,構造的に類似な群として分類してもよ

い。

−  固着性及び耐プリント板曲げ性試験に対して,同じ製造ラインで製造し,同じ寸法,内部構造及び出

来栄え(外観を含む。

)をもつ場合

3.3 

品質認証手順 

製造業者は,JIS C 2570-1 の Q.4(品質認証手順)の規定によって品質認証手順を適用する。

3.4 

品質確認検査 

この規格に関連するブランク個別規格は,品質確認検査に対する試験計画を規定する。

この試験計画は,ロットごとの検査及び定期検査に対する群分け,抜取り及び検査の周期も規定する。


4

C 2570-2

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検査水準及び抜取方式は,JIS C 5005-2 に規定する中から選択する。

要求がある場合,複数の試験計画を規定してもよい。

3.4.1 

定数抜取手順に基づく品質認証 

品質認証は,次による。

a)

抜取り  抜取サンプルは,認証を得ようとする表面実装形 NTC サーミスタの特性範囲を代表できるも

のとするが,個別規格に規定する全ての範囲でなくてもよい。

抜取サンプルは,外形寸法ごとに,ゼロ負荷抵抗値の最小値,最大値及び中間値をもつ表面実装形

NTC

サーミスタで構成する。

予備試料は,それぞれ 3 個として,製造業者の責任ではない事故(試験中の取扱いなどでの損傷)

によって供試試料が損傷した場合,それらを代用してもよい。

b)

試験  個別規格に規定する表面実装形 NTC サーミスタの品質認証のために,表 に規定する一連の試

験を実施する。各群の試験は,記載の順序で実施する。

全ての抜取サンプルに対して,

群 の試験を実施して,その後にその他の群に分割する。

群 の試験で判明した不適合品は,その他の群の試験に用いない。表面実装形 NTC サーミスタが,

ある群の試験の全て又は一部を満足できない場合,その表面実装形 NTC サーミスタを一つの不適合品

として数える。

不適合の数が,群又は副群ごとに規定する許容不適合数を超えない場合,試験は合格とする。

定数抜取手順に基づく試験計画の試験条件及び要求事項は,個別規格に規定する品質確認検査のた

めの試験条件及び要求事項と同じとする。


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C 2570-2

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表 2−表面実装形 NTC サーミスタの品質認証における定数抜取試験計画  評価水準 EZ 

試験

この規格の

細分箇条番号

試験条件及び要求事項

n

a)

c

b)

外観検査

4.3.1 4.3.1

4.3.2 の規定による。

要求事項は,

表 A.1 による。

90

0

表示

4.3.3 

寸法(ゲージによる)

4.3.4 

ゼロ負荷抵抗値

4.4.1 

寸法(詳細)

4.3.4 

要求事項は,

表 A.1 による。

個別規格から選択する。

個別規格に規定する温度で測定する。

4.6

の規定による。

10

0

B

定数

4.4.2 

抵抗−温度特性

4.4.3 

はんだ耐熱性−はんだ食われ性

4.6 

はんだ付け性

4.7 4.7.1

4.7.3 の規定による。 10

0

表示の耐溶剤性

4.16 

はんだ耐熱性−はんだはじき

4.6 4.6.1

4.6.4 の規定による。 10

0

部品の耐溶剤性

4.15 

取付け

4.1 

 60

0

外観検査

4.3.1 

ゼロ負荷抵抗値

4.4.1 

  4.1 

熱放散定数

4.5.1 

 10

0

自己発熱からの冷却による熱時定数(

τ

c

4.5.2 

4.2 

固着性

4.13 

 10

0

温度急変

4.8 

二液槽温度急変

4.9 

高温(耐熱性)

4.16B 

低温(耐寒性)

4.16A 

4.3 

高温高湿(定常)

4.11 

 10

0

4.4  T

3

及び P

max

における耐久性

4.12.1 

 10

0

4.5 

カテゴリ上限温度における耐久性

4.12.2 

 10

0

耐プリント板曲げ性

4.14 

 10

0

a)

試料数

b)

合格判定数(許容不適合数)

3.5 

品質確認検査 

3.5.1 

検査ロットの構成 

検査ロットの構成は,個別規格又はブランク個別規格の規定によって,次の

群 及び群 検査,並びに

群 検査からなる。

a)

群 及び群 検査

これらの検査は,ロットごとに実施する。

製造業者は,次の事項を満足する,工程を流れている製品を検査ロットとしてもよい。

1)

検査ロットは,構造的に類似な表面実装形 NTC サーミスタで構成する(3.2 参照)

2)

群 の試験に用いる抜取サンプルは,その検査ロットに含まれる定格値及び外形寸法を代表する表

面実装形 NTC サーミスタによって,次のように構成する。

−  定格値及び外形寸法の数に応じて規定する。

−  一つの組合せ当たり 5 個以上とする。

3)

一つの組合せ当たりの抜取数が 4 個以下の場合,製造業者は国内監督検査機関から承認を受ける。

b)

群 検査


6

C 2570-2

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これらの検査は,定期的に実施する。

抜取サンプルは,規定する期間に工程を流れている製品を代表するものとし,外形寸法を大,中及び小

に分類する。規定する期間での認証範囲を対象とするためには,外形寸法の分類ごとに,一つの定格ゼロ

負荷抵抗値のものを検査する。全認証範囲を対象とするために,その後の期間において,その他の外形寸

法及び定格ゼロ負荷抵抗値を検査する。

3.5.2 

試験計画 

品質確認検査のためのロットごとの品質確認検査及び定期的品質確認検査の計画は,ブランク個別規格

に規定する

表 の規定による。

3.5.3 

長期保管後の出荷 

長期保管後の出荷のため,JIS C 2570-1 の Q.7(長期保管後の出荷)に規定する手順によって再検査を

実施する場合,はんだ付け性及びゼロ負荷抵抗値に対して,

群 及び群 検査を実施する。

3.5.4 

評価水準 

ブランク個別規格に規定する評価水準は,

表 及び表 に規定する評価水準 EZ とする。

表 3−ロットごとの品質確認検査 

検査副群

d)

評価水準 EZ

IL

a)

n

a)

c

a)

A0 

100 %

b)

A1 

S-4

c) 

0

A2 

II

c) 

0

B1 

S-3

c) 

0

B2 

S-2

c) 

0

a)

 IL

=検査水準,n=抜取サンプル数,c=合格判定数(許容不適合数)

b)

この検査は,工程でロット内から全ての不適合品を取り除いた後に実施する抜取試料による検査である。検

査ロットの合否にかかわらず,ppm で示す出荷品質水準を監視するために,全ての抜取サンプルを検査する。

抜取水準は,製造業者が選定する。その場合,JIS C 5005-2 

附属書 A[信頼水準 60 %における 100 万個当

たりの不適合品率(ppm)で示す統計的工程品質限界(SVQL)の推定]によることが望ましい。抜取試料中

に 1 個以上の不適合を発見した場合には,このロットは不合格とするが,品質水準を算出するために,不適

合品の数を全て数える。ppm で示す出荷品質水準は,JIS C 5005-2 の 6.2(SVQL の算出)に規定する方法に
よって,累積した検査データから算出する。

c)

試料数は,JIS C 5005-2 の 4.3.2(なみ検査による抜取検査方式)の規定によって決定する。

d)

検査副群の内容は,関連するブランク個別規格の箇条 の規定による。

表 4−定期的品質確認検査 

検査副群

b)

評価水準 EZ

p

a)

n

a)

c

a)

C1 

3 12 0

C2 

3 12 0

C3.1 

6 27 0

C3.2 

6 15 0

C3.3 

3 15 0

C3.4 

6 15 0

C4 

6 9 0

a)

  p

=周期(月)

n=抜取サンプル数,c=合格判定数(許容不適合数)

b)

検査副群の内容は,関連するブランク個別規格の箇条 の規定による。


7

C 2570-2

:2015

試験及び測定手順 

4.1 

取付け 

JIS C 2570-1

の 4.4(取付け)の規定による。

4.2 

乾燥及び後処理 

4.2.1 

乾燥 

乾燥が必要な場合,表面実装形 NTC サーミスタを,次の方法で処理する。

表面実装形 NTC サーミスタを,温度 100  ℃±5  ℃の槽内で 96 時間±4 時間放置し,その後,活性アル

ミナ,シリカゲルなどの適切な乾燥剤を用いて,規定する試験を開始するまで,デシケータの中で保管す

る。

4.2.2 

後処理 

後処理は,個別規格に規定がない場合,JIS C 2570-1 の 4.2(標準試験状態)に規定する標準試験状態を

用いる。

4.3 

外観検査及び寸法検査 

4.3.1 

外観検査 

外観は,試料及び要求する品質基準のために,適切な照明の下で,約 10 倍の拡大鏡を用いて検査する。

注記  検査には,適切な測定設備に加えて,直接又は間接照明の設備を用意することが望ましい。

4.3.2 

要求事項 

次の要求事項に対する定量的な値は,個別規格又は製造業者の仕様書に規定してもよい。

表面実装形 NTC サーミスタは,次の要求事項を満足しなければならない。

4.3.2.1 

セラミック部 

a)

単板タイプ

1)

ガラスコートは,寸法 L

4

図 A.1 参照)の 25 %以上の長さの亀裂,及び全ての面のいずれもに 10 %

以上の面積の欠損があってはならない(

図 参照)。

注記  角の亀裂及び面上の欠損

図 1−亀裂又は欠損 

2)

表面実装形 NTC サーミスタの特性に影響しない僅かなものを除き,表面にクラック(

図 参照)が

あってはならない。


8

C 2570-2

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注記  面上のクラック及び一つの面から角を越えて他の面に伸びたクラック

図 2−クラック 

b)

積層タイプ

1)

表面実装形 NTC サーミスタの層間に,目に見える分離又は剝離があってはならない(

図 参照)。

また,表面実装形 NTC サーミスタの特性に影響しない僅かなものを除き,表面にクラックがあって

はならない(

図 参照)。

図 3−分離又は剝離 

2)

二つの端子電極間に,内部電極の露出があってはならない(

図 参照)。

図 4−内部電極の露出 

4.3.2.2 

電極(端子部) 

表面実装形 NTC サーミスタの電極(端子部)は,次による。

a)

金属で被覆した端子電極は,目に見える電極切れ(detachment)がなく,かつ,内部電極の露出があ

ってはならない(

図 参照)。

b)

図 に示す記号 A,B 及び C は,主要面とする。正方形の断面をもつ表面実装形 NTC サーミスタの

場合は,面 D 及び面 E も主要面とみなす。

各主要面上の電極の金属化していない部分の最大面積は,それぞれの主要面の 15 %を超えてはならない。

金属化していない部分は,1 か所に集中してはならない。金属化していない部分は二つの主要りょう(稜)

又は正方形の断面をもつ表面実装形 NTC サーミスタの場合は四つの主要りょう(稜)の機能に,影響を与

えてはならない。電極の表面処理層の付着していない部分の食われ(はんだ食われ)は,主要りょう(稜)

の全長の 25 %以下とする。


9

C 2570-2

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図 5−主要面 

4.3.3 

表示 

表面実装形 NTC サーミスタ本体に表示がある場合,外観検査を実施する。表示は,判読できなければな

らない。

4.3.4 

寸法 

個別規格に規定する寸法の検査を実施する。

寸法は,

附属書 に規定する値を満足しなければならない。

4.4 

電気的試験 

4.4.1 

ゼロ負荷抵抗値 

ゼロ負荷抵抗値試験は,JIS C 2570-1 の 4.6(ゼロ負荷抵抗値)の規定によるほか,次による。

ゼロ負荷抵抗値は,個別規格に規定する温度で測定誤差を考慮して測定する。ゼロ負荷抵抗値は,個別

規格に規定する限度値以下とする。

4.4.2 B

定数又は抵抗比 

B

定数又は抵抗比試験は,JIS C 2570-1 の 4.7(B 定数又は抵抗比)の規定によるほか,次による。

−  個別規格に規定がない場合,25  ℃及び 85  ℃で測定したゼロ負荷抵抗値を用いて B 定数又は抵抗比を

算出する。個別規格に規定がある場合,その規定による。

−  B 定数又は抵抗比は,個別規格に規定する許容差の範囲内とする。

4.4.3 

抵抗−温度特性 

抵抗−温度特性試験は,JIS C 2570-1 の 4.10(抵抗−温度特性)の規定によるほか,次による。

−  測定温度は,規定する温度から選択する。

−  抵抗−温度特性は,個別規格に規定する値以下とする。

4.5 

熱的試験 

4.5.1 

熱放散定数

δ 

熱放散定数試験は,JIS C 2570-1 の 4.11(熱放散定数

δ)の規定によるほか,次による。

−  表面実装形 NTC サーミスタを,4.1 の規定によって取り付ける。

−  個別規格に規定がない場合には,85  ℃±0.1  ℃とする温度 T

b

におけるゼロ負荷抵抗値を測定する。

個別規格に規定がある場合,その規定による。

−  熱放散定数は,個別規格に規定する値以下とする。

4.5.2 

自己発熱からの冷却による熱時定数

τ

c

自己発熱からの冷却による熱時定数試験は,JIS C 2570-1 の 4.13(自己発熱からの冷却による熱時定数

τ

c

)の規定によるほか,次による。

−  表面実装形 NTC サーミスタを,4.1 の規定によって取り付ける。


10

C 2570-2

:2015

−  自己発熱からの冷却による熱時定数は,個別規格に規定する値以下とする。

4.6 

はんだ耐熱性 

はんだ耐熱性試験は,JIS C 60068-2-58 の規定によるほか,次による。

4.6.1 

初期測定 

ゼロ負荷抵抗値は,4.4.1 の規定によって測定する。

4.6.2 

試験条件 

4.6.2.1 

はんだ槽法 

はんだ槽法試験は,個別規格に規定がない場合,JIS C 60068-2-58 の 6.(はんだ槽法)及び 8.(試験条

件)の規定による。個別規格に規定がある場合,その規定による。

4.6.2.2 

リフロー法(赤外線及び熱風方式) 

リフロー法試験は,個別規格に規定がない場合,JIS C 60068-2-58 の 7.(リフロー法)及び 8.(試験条

件)の規定による。個別規格に規定がある場合,その規定による。

4.6.3 

後処理 

残ったフラックスは,適切な溶剤で取り除く。

4.6.4 

最終検査,測定及び要求事項 

後処理後,表面実装形 NTC サーミスタは,外観検査及び測定を実施する。次の要求事項を満足しなけれ

ばならない。

外観検査は,次の事項とともに個別規格に規定する。

−  適切な照明の下で,

約 10 倍の拡大鏡で検査したとき,

外観にクラックなどの損傷があってはならない。

−  電極の表面処理層の付着していない部分の食われ(はんだ食われ)は,主要りょう(陵)の全長の 25 %

以下とする。

ゼロ負荷抵抗値は,4.4.1 の規定によって測定する。ゼロ負荷抵抗の変化率は,±5 %以下とする。

4.7 

はんだ付け性 

はんだ付け性試験は,JIS C 60068-2-58 の規定によるほか,次による。

4.7.1 

試験条件 

4.7.1.1 

はんだ槽法 

はんだ槽法試験は,個別規格に規定がない場合,JIS C 60068-2-58 の 6.(はんだ槽法)及び 8.(試験条

件)の規定による。個別規格に規定がある場合,その規定による。

4.7.1.2 

リフロー法(赤外線及び熱風方式) 

リフロー法試験は,個別規格に規定がない場合,JIS C 60068-2-58 の 7.(リフロー法)及び 8.(試験条

件)の規定による。個別規格に規定がある場合,その規定による。

4.7.2 

後処理 

残ったフラックスは,適切な溶剤で取り除く。

4.7.3 

最終検査,測定及び要求事項 

後処理後,表面実装形 NTC サーミスタは,外観検査を実施する。次の要求事項を満足しなければならな

い。

個別規格の規定によるほか,次による。

−  外観は,適切な照明の下で,約 10 倍の拡大鏡を用いて検査する。外観に,クラックなどの損傷があっ

てはならない。

−  電極の表面部分は,ピンホール,ぬれ不良,はんだはじきなどの欠点が少なく,はんだが良好に付着


11

C 2570-2

:2015

していなければならない。これらの欠点は,一か所に集中してはならない。

4.8 

温度急変 

温度急変試験は,JIS C 2570-1 の 4.17(温度急変)の規定によるほか,次による。

表面実装形 NTC サーミスタを,4.1 の規定によって取り付ける。

ゼロ負荷抵抗値は,4.4.1 の規定によって測定する。

試験条件は,JIS C 60068-2-14 の試験 Na(規定時間で移し換える温度急変試験)の規定によるほか,次

による。

a)

下限温度 T

A

は,カテゴリ下限温度とする。

b)

上限温度 T

B

は,カテゴリ上限温度とする。

c)

サイクル数は,5 回とする。

d)

試験槽内の媒質は,空気とする。

試験後,外観検査を実施し,ゼロ負荷抵抗値を測定する。

外観は,適切な照明の下で,約 10 倍の拡大鏡で検査する。外観に,クラックなどの損傷があってはなら

ない。

ゼロ負荷抵抗値の変化率は,±5 %以下とする。

4.9 

二液槽温度急変 

二液槽温度急変試験は,JIS C 2570-1 の 4.22(二液槽温度急変)の規定によるほか,次による。

−  表面実装形 NTC サーミスタを,4.1 の規定によって取り付ける。

−  ゼロ負荷抵抗値は,4.4.1 の規定によって測定する。

試験条件は,JIS C 60068-2-14 の試験 Nc(二液槽温度急変試験)の規定によるほか,次による。

a)

下限温度 T

A

は,カテゴリ下限温度とする。

b)

上限温度 T

B

は,カテゴリ上限温度とする。

c)

浸せき時間 t

1

は,個別規格に規定がない場合には,30 分間とする。個別規格に規定がある場合,その

規定による。

d)

サイクル数は,5 回とする。

e)

試験槽内の媒質は,オイルとする。

試験後,外観検査を実施し,ゼロ負荷抵抗値を測定する。

外観は,適切な照明の下で,約 10 倍の拡大鏡で検査する。外観に,クラックなどの損傷があってはなら

ない。

ゼロ負荷抵抗値の変化率は,±5 %以下とする。

4.10 

一連耐候性 

引用している JIS C 2570-1 から削除されたため,対応国際規格の規定を不採用とした。

4.11 

高温高湿(定常) 

高温高湿(定常)試験は,JIS C 2570-1 の 4.25[高温高湿(定常)

]によるほか,次による。

表面実装形 NTC サーミスタを,JIS C 2570-1 の 4.4(取付け)の規定によって取り付ける。

ゼロ負荷抵抗値は,4.4.1 の規定によって測定する。

試験条件は,個別規格に規定する耐候性カテゴリの厳しさを用い,JIS C 60068-2-78 の規定によって試

験する。

表面実装形 NTC サーミスタを,測定槽から取り出し,JIS C 2570-1 の 4.3.2 の規定によって後処理する。

後処理後,外観検査を実施し,ゼロ負荷抵抗値を測定する。


12

C 2570-2

:2015

外観は,適切な照明の下で,約 10 倍の拡大鏡で検査する。外観に,クラックなどの損傷があってはなら

ない。

ゼロ負荷抵抗値の変化率は,±5 %以下とする。

4.12 

耐久性 

4.12.1  T

3

及び P

max

における耐久性 

T

3

及び P

max

における耐久性試験は,JIS C 2570-1 の 4.26.3T

3

及び P

max

における耐久性)の規定による

ほか,次による。

−  表面実装形 NTC サーミスタを,4.1 の規定によって取り付ける。

−  ゼロ負荷抵抗値は,4.4.1 の規定によって測定する。

−  表面実装形 NTC サーミスタを,試験槽内に取り付け,温度 T

3

±2  ℃において,消費電力が P

max

の状

態で 42 日間(1 000 時間)試験する。

−  表面実装形 NTC サーミスタを,168 時間及び 500 時間後,槽から取り出し,標準状態で 1 時間以上 2

時間以内の後処理をする。

−  ゼロ負荷抵抗値の中間測定を実施する。ゼロ負荷抵抗値の変化率は,±5 %以下とする。

−  表面実装形 NTC サーミスタを,中間測定の後に試験条件下に戻す。どの表面実装形 NTC サーミスタ

も負荷の取外しから復帰までの時間間隔は 12 時間以下とする。

−  表面実装形 NTC サーミスタを,1 000 時間±48 時間後,槽から取り出し,標準状態で 1 時間以上 2 時

間以内の後処理をする。

−  試験後,外観検査を実施し,ゼロ負荷抵抗値を測定する。

外観は,適切な照明の下,約 10 倍の拡大鏡で検査する。外観に,クラックなどの損傷があってはならな

い。

ゼロ負荷抵抗値の変化率は,±5 %以下とする。

4.12.2 

カテゴリ上限温度における耐久性 

カテゴリ上限温度における耐久性試験は,JIS C 2570-1 の 4.26.4(カテゴリ上限温度における耐久性)の

規定によるほか,次による。

−  表面実装形 NTC サーミスタを,4.1 の規定によって取り付ける。

−  ゼロ負荷抵抗値は,4.4.1 の規定によって測定する。

−  表面実装形 NTC サーミスタを,試験槽内に取り付け,カテゴリ上限温度±2  ℃でのゼロ負荷状態で

1 000

時間試験する。槽は,JIS C 60068-2-2 の試験 Bb(発熱がない供試品に対する緩やかな温度変化

を伴う高温試験)に規定する要求事項を満足しなければならない。

−  表面実装形 NTC サーミスタを,168 時間及び 500 時間後に,槽から取り出し,標準状態で 1 時間以上

2

時間以内の後処理をする。

−  ゼロ負荷抵抗値を中間測定する。ゼロ負荷抵抗値の変化率は,±5 %以下とする。

−  表面実装形 NTC サーミスタを,中間測定の後に試験条件下に戻す。どの表面実装形 NTC サーミスタ

も負荷の取外しから復帰までの時間間隔は 12 時間以下とする。

−  表面実装形 NTC サーミスタを,1 000 時間±48 時間後に槽から取り出し,標準状態で 1 時間以上 2 時

間以内に後処理する。

−  後処理後,外観検査を実施し,ゼロ負荷抵抗値を測定する。

外観は,適切な照明の下,約 10 倍の拡大鏡で検査する。外観に,クラックなどの損傷があってはならな

い。


13

C 2570-2

:2015

ゼロ負荷抵抗値の変化率は,±5 %以下とする。

4.13 

固着性 

固着性試験は,JIS C 2570-1 の 4.27(固着性)の規定による。

4.14 

耐プリント板曲げ性 

耐プリント板曲げ性試験は,JIS C 2570-1 の 4.28(耐プリント板曲げ性)の規定によるほか,次による。

−  曲げ深さ及び曲げの回数は,個別規格に規定する。

−  ゼロ負荷抵抗値の変化率は,±5 %以下とする。

4.15 

部品の耐溶剤性 

部品の耐溶剤性試験は,JIS C 2570-1 の 4.29(部品の耐溶剤性)の規定によるほか,次による。

−  ゼロ負荷抵抗値は,4.4.1 の規定によって,試験の前後に測定する。ゼロ負荷抵抗値の変化率は,±5 %

以下とする。

−  試験後,外観は,適切な照明の下,約 10 倍の拡大鏡を用いて検査する。外観に,クラックなどの損傷

があってはならない。

4.16 

表示の耐溶剤性 

表示の耐溶剤性試験は,JIS C 2570-1 の 4.30(表示の耐溶剤性)の規定による。

4.16A 

低温(耐寒性) 

低温(耐寒性)試験は,JIS C 2570-1 の 4.23[低温(耐寒性)

]の規定によるほか,次による。

−  後処理後,外観検査を実施し,ゼロ負荷抵抗値を測定する。

外観は,適切な照明の下,約 10 倍の拡大鏡を用いて検査する。外観に,クラックなどの損傷があっ

てはならない。

ゼロ負荷抵抗値の変化率は,±5 %以下とする。

4.16B 

高温(耐熱性) 

高温(耐熱性)試験は,JIS C 2570-1 の 4.24[高温(耐熱性)

]の規定によるほか,次による。

−  後処理後,外観検査を実施し,ゼロ負荷抵抗値を測定する。

外観は,適切な照明の下,約 10 倍の拡大鏡を用いて検査する。外観に,クラックなどの損傷があっ

てはならない。

ゼロ負荷抵抗値の変化率は,±5 %以下とする。


14

C 2570-2

:2015

附属書 A

(規定)

表面実装形 NTC サーミスタの寸法記号及び規定に関する指針

表面実装形 NTC サーミスタの寸法を規定する場合,

図 A.1 に示す原則を考慮することが望ましい。また,

寸法は

表 A.1 に規定する。

図 A.1−表面実装形 NTC サーミスタの寸法決定 

電極端面は金属で被覆しなければならない。電極側面を金属で被覆することについては,製造業者が任

意に選択できる。

寸法 は,寸法 L

1

以下とすることが望ましい。

寸法 は,寸法 以下とすることが望ましい。

必要がある場合は,めっきの厚さを規定することが望ましい。

表 A.1−表面実装形 NTC サーミスタの寸法 

単位  mm

寸法記号

本体長さ L

1

本体幅 W

電極幅 L

2

及び L

3

(最小値)

電極幅 L

4

(最小値)

0603 M

0.6

±0.05 0.3±0.05 0.1

0.15

1005 M

1.0

±0.15 0.5±0.15 0.1

0.25

1608 M

1.6

±0.15 0.8±0.15 0.2

0.35

2012 M

2.0

±0.2 1.25±0.2 0.2

0.50

3216 M

3.2

±0.2 1.6±0.2 0.3  1.4

3225 M

3.2

±0.2 2.5±0.3 0.4  1.4

その他の寸法記号及び寸法は,個別規格に規定してもよい。


15

C 2570-2

:2015

附属書 JA

(参考)

JIS

と対応国際規格との対比表

JIS C 2570-2:2015

  直熱形 NTC サーミスタ−第 2 部:品種別通則−表面実装形

NTC

サーミスタ

IEC 60539-2:2003

,Directly heated negative temperature coefficient thermistors−Part 2:

Sectional specification

−Surface mount negative temperature coefficient thermistors 及び

Amendment 1:2010

(I)JIS の規定

(II)

国際

規格 
番号

(III)国際規格の規定

(IV)JIS と国際規格との技術的差異の箇条ごとの評価及

びその内容

(V)JIS と国際規格との技術的差異の理

由及び今後の対策

箇条番号

及び題名

内容

箇条

番号

内容

箇条ごと

の評価

技術的差異の内容

1.1

適用範囲

1.1

JIS

とほぼ同じ

追加

JIS C 2570-1

の附属書 Q に従うため注記を

追加した。

IEC

へ追加提案をする。

3

品質評価手順   3 JIS とほぼ同じ

追加

JIS C 2570-1

の附属書 Q に従うため内容の

改正を実施した。

IEC

へ追加提案をする。

4.3

外 観 検 査 及 び 寸

法検査

 4.3

JIS

とほぼ同じ

追加

図 3 に図示されているクラックに関する記

載が抜けているため,JIS として追加した。

IEC

へ追加提案をする。

4.10

一連耐候性

4.10

一連耐候性

削除

JIS

では,IEC 60539-1(GS)において 4.10

が削除となっていることから削除とした。

IEC 60539-2

から 4.10 を削除するよう

に IEC に提案していく。4.10 の削除に

伴い,低温及び高温の追加を提案する。

4.16A

低温(耐寒性)

追加 4.10 一連耐候性を削除されていることから

必要な低温試験を追加とした。

IEC

へ追加提案をする。

4.16B

高温(耐熱性)

追加 4.10 一連耐候性を削除されていることから

必要な高温試験を追加とした。

IEC

へ追加提案をする。

JIS

と国際規格との対応の程度の全体評価:

IEC 60539-2:2003,Amd.1:2010,MOD)

注記 1  箇条ごとの評価欄の用語の意味は,次による。 

−  削除  国際規格の規定項目又は規定内容を削除している。

−  追加  国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。

注記 2  JIS と国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は,次による。 

−  MOD  国際規格を修正している。

15

C

 257

0-2


201

5