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C 2570-1

:2015

(1)

目  次

ページ

序文  

1

1

  一般事項 

1

1.1

  適用範囲  

1

1.2

  引用規格  

1

2

  技術データ 

4

2.1

  単位,記号及び専門用語  

4

2.2

  用語及び定義  

4

2.3

  推奨値及び耐候性カテゴリ  

12

2.4

  表示  

13

3

  品質評価手順  

13

4

  試験及び測定手順  

13

4.1

  一般事項  

13

4.2

  標準試験状態  

14

4.3

  乾燥及び後処理  

14

4.4

  取付け(表面実装形 NTC サーミスタに適用)  

14

4.5

  外観検査及び寸法検査  

16

4.6

  ゼロ負荷抵抗値  

16

4.7

  定数又は抵抗比  

17

4.8

  絶縁抵抗値(絶縁形 NTC サーミスタに適用)  

17

4.9

  耐電圧(絶縁形 NTC サーミスタに適用)  

19

4.10

  抵抗−温度特性  

20

4.11

  熱放散定数 δ  

20

4.12

  周囲温度変化による熱時定数 τ

a

  

22

4.13

  自己発熱からの冷却による熱時定数 τ

c

  

22

4.14

  端子強度(表面実装形 NTC サーミスタ以外に適用)  

23

4.15

  はんだ耐熱性  

24

4.16

  はんだ付け性  

25

4.17

  温度急変  

26

4.18

  振動  

26

4.19

  バンプ  

27

4.20

  衝撃  

27

4.21

  自然落下(個別規格に規定がある場合)  

27

4.22

  二液槽温度急変(個別規格に規定がある場合)  

27

4.23

  低温(耐寒性)(個別規格に規定がある場合)  

28

4.24

  高温(耐熱性)(個別規格に規定がある場合)  

29


C 2570-1

:2015  目次

(2)

ページ

4.25

  高温高湿(定常)  

29

4.26

  耐久性  

30

4.27

  固着性(表面実装形 NTC サーミスタに適用)  

34

4.28

  耐プリント板曲げ性(表面実装形 NTC サーミスタに適用)  

35

4.29

  部品の耐溶剤性  

35

4.30

  表示の耐溶剤性  

35

4.31

  塩水噴霧(個別規格に規定がある場合)  

36

4.32

  封止(個別規格に規定がある場合)  

36

4.33

  温湿度組合せ(サイクル)(個別規格に規定がある場合)  

36

附属書 A(参考)IEC 電子部品品質認証制度(IECQ)などに用いる場合の 

    IEC 60410 の抜取計画及び手順の説明  

37

附属書 B(規定)電子機器用コンデンサ及び抵抗器のための個別規格を用意するための規則  

38

附属書 C(参考)直熱形 NTC サーミスタの測定のための取付方法  

39

附属書 Q(規定)IEC 電子部品品質認証制度(IECQ)に用いる場合の品質評価手順 

40

附属書 JA(参考)直熱形 NTC サーミスタの図記号  

43

附属書 JB(参考)JIS と対応国際規格との対比表  

44


C 2570-1

:2015

(3)

まえがき

この規格は,工業標準化法第 14 条によって準用する第 12 条第 1 項の規定に基づき,一般社団法人電子

情報技術産業協会(JEITA)及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業

規格を改正すべきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工業

規格である。これによって,JIS C 2570-1:2006 は改正され,この規格に置き換えられた。

この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。

この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意

を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実

用新案権に関わる確認について,責任はもたない。

JIS C 2570

の規格群には,次に示す部編成がある。

JIS C 2570-1

  第 1 部:品目別通則

JIS C 2570-2

  第 2 部:品種別通則−表面実装形 NTC サーミスタ


日本工業規格

JIS

 C

2570-1

:2015

直熱形 NTC サーミスタ−第 1 部:品目別通則

Directly heated negative temperature coefficient thermistors-

Part 1: Generic specification

序文 

この規格は,2008 年に第 2 版として発行された IEC 60539-1 を基とし,我が国の実情に合わせるため,

技術的内容を変更して作成した日本工業規格である。

なお,この規格で側線又は点線の下線を施してある箇所は,対応国際規格を変更している事項である。

変更の一覧表にその説明を付けて,

附属書 JB に示す。また,附属書 JA は対応国際規格にはない事項であ

る。

一般事項 

1.1 

適用範囲 

この規格は,

半導体特性をもつ遷移金属酸化物によって作られる直熱形の負温度係数サーミスタ

(以下,

NTC サーミスタという。)の品質評価,また,その他の目的として,品種別通則及び個別規格で用いる用

語,検査手順及び試験方法について規定する。

注記  この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。

IEC 60539-1:2008

,Directly heated negative temperature coefficient thermistors−Part 1: Generic

specification(MOD)

なお,対応の程度を表す記号“MOD”は,ISO/IEC Guide 21-1 に基づき,

“修正している”

ことを示す。

1.2 

引用規格 

次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの

引用規格のうちで,西暦年を付記してあるものは,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追補を含む。

は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は,その最新版(追補を含む。

)を適用する。

JIS C 0617

(規格群)  電気用図記号

注記  対応国際規格:IEC 60617 (all parts),Graphical symbols for diagrams(MOD)

JIS C 5005-2:2010

  品質評価システム−第 2 部:電子部品及び電子パッケージのための抜取検査方式

の選択及び活用(統計的工程品質限界の評価手順)

JIS C 5062:2008

  抵抗器及びコンデンサの表示記号

注記  対応国際規格:IEC 60062,Marking codes for resistors and capacitors(MOD)

JIS C 6484:2005

  プリント配線板用銅張積層板−耐燃性ガラス布基材エポキシ樹脂

注記  対応国際規格:IEC 61249-2-7,Materials for printed boards and other interconnecting structures−

Part 2-7: Reinforced base materials clad and unclad−Epoxide woven E-glass laminated sheet of


2

C 2570-1

:2015

defined flammability (vertical burning test), copper-clad(MOD)

JIS C 60068-1:1993

  環境試験方法−電気・電子−通則

注記  対応国際規格:IEC 60068-1:1988,Environmental testing−Part 1: General and guidance 及び

Amendment 1:1992(MOD)

JIS C 60068-2-1:2010

  環境試験方法−電気・電子−第 2-1 部:低温(耐寒性)試験方法(試験記号:

A)

注記  対応国際規格:IEC 60068-2-1:2007,Environmental testing−Part 2-1: Tests−Test A: Cold(IDT)

JIS C 60068-2-2:2010

  環境試験方法−電気・電子−第 2-2 部:高温(耐熱性)試験方法(試験記号:

B)

注記  対応国際規格:IEC 60068-2-2:2007,Environmental testing−Part 2-2: Tests−Test B: Dry heat

(IDT)

JIS C 60068-2-6:2010

  環境試験方法−電気・電子−第 2-6 部:正弦波振動試験方法(試験記号:Fc)

注記  対応国際規格:IEC 60068-2-6: 1995,Environmental testing−Part 2-6: Tests−Test Fc: Vibration

(sinusoidal)(MOD)

JIS C 60068-2-11:1989

  環境試験方法(電気・電子)塩水噴霧試験方法

注記  対応国際規格:IEC 60068-2-11:1981,Basic environmental testing procedures−Part 2-11: Tests−

Test Ka: Salt mist(IDT)

JIS C 60068-2-14:2011

  環境試験方法−電気・電子−第 2-14 部:温度変化試験方法(試験記号:N)

注記  対応国際規格:IEC 60068-2-14:1984,Basic environmental testing procedures−Part 2-14: Tests−

Test N: Change of temperature 及び Amendment 1:1986(MOD)

JIS C 60068-2-17:2001

  環境試験方法−電気・電子−封止(気密性)試験方法

注記  対応国際規格:IEC 60068-2-17:1994,Basic environmental testing procedures−Part 2-17: Tests−

Test Q: Sealing(IDT)

JIS C 60068-2-20:2010

  環境試験方法−電気・電子−第 2-20 部:試験−試験 T−端子付部品のはんだ

付け性及びはんだ耐熱性試験方法

注記  対応国際規格:IEC 60068-2-20:1979,Basic environmental testing procedures−Part 2-20: Tests−

Test T: Soldering 及び Amendment 2:1987(MOD)

JIS C 60068-2-21:2009

  環境試験方法−電気・電子−第 2-21 部:試験−試験 U:端子強度試験方法

注記  対応国際規格:IEC 60068-2-21:2006,Environmental testing−Part 2-21: Tests−Test U: Robustness

of terminations and integral mounting devices(IDT)

JIS C 60068-2-27:2011

  環境試験方法−電気・電子−第 2-27 部:衝撃試験方法(試験記号:Ea)

注記  対応国際規格:IEC 60068-2-27:1987,Basic environmental testing procedures−Part 2-27: Tests−

Test Ea and guidance: Shock(MOD)

JIS C 60068-2-31:2013

  環境試験方法−電気・電子−第 2-31 部:落下試験及び転倒試験方法(試験記

号:Ec)

注記  対応国際規格で引用している IEC 60068-2-32:1975,Environmental testing−Part 2-32: Tests−

Test Ed: Free fall 及び Amendment 2:1990 は,IEC 60068-2-31:2008,Environmental testing−Part 
2-31: Tests−Test Ec: Rough handling shocks, primarily for equipment-type specimens に置き換え

られているため,この IEC 60068-2-31 に対応する JIS C 60068-2-31 を採用した。

JIS C 60068-2-38:1988

  環境試験方法(電気・電子)温湿度組合せ(サイクル)試験方法


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C 2570-1

:2015

注記  対応国際規格:IEC 60068-2-38:1974,Basic environmental testing procedures−Part 2-38: Tests−

Test Z/AD: Composite temperature/humidity cyclic test(IDT)

JIS C 60068-2-45:1995

  環境試験方法−電気・電子−耐溶剤性(洗剤溶剤浸せき)試験方法

注記  対応国際規格:IEC 60068-2-45:1980,Basic environmental testing procedures−Part 2-45: Tests−

Test XA and guidance: Immersion in cleaning solvents 及び Amendment 1:1993(IDT)

JIS C 60068-2-52:2000

  環境試験方法−電気・電子−塩水噴霧(サイクル)試験方法(塩化ナトリウ

ム水溶液)

注記  対応国際規格:IEC 60068-2-52:1996,Environmental testing−Part 2-52: Tests−Test Kb: Salt mist,

cyclic (sodium chloride solution)(IDT)

JIS C 60068-2-54:2009

  環境試験方法−電気・電子−はんだ付け性試験方法(平衡法)

注記  対 応 国 際 規 格 : IEC 60068-2-54:2006 , Environmental testing − Part 2-54: Tests − Test Ta:

Solderability testing of electronic components by the wetting balance method(MOD)

JIS C 60068-2-58:2006

  環境試験方法−電気・電子−表面実装部品(SMD)のはんだ付け性,電極の

耐はんだ食われ性及びはんだ耐熱性試験方法

注記  対応国際規格:IEC 60068-2-58:2004,Environmental testing−Part 2-58: Tests−Test Td: Test

methods for solderability,resistance to dissolution of metallization and to soldering heat of surface 
mounting devices (SMD)(MOD)

JIS C 60068-2-69:2009

  環境試験方法−電気・電子−第 2-69 部:試験−試験 Te:表面実装部品(SMD)

のはんだ付け性試験方法(平衡法)

注記  対 応 国 際 規 格 : IEC 60068-2-69:2007 , Environmental testing − Part 2-69: Tests − Test Te:

Solderability testing of electronic components for surface mounting devices (SMD) by the wetting

balance method(IDT)

JIS C 60068-2-78:2015

  環境試験方法−電気・電子−第 2-78 部:高温高湿(定常)試験方法(試験記

号:Cab)

注記 1  対応国際規格:IEC 60068-2-78:2001,Environmental testing−Part 2-78: Tests−Test Cab: Damp

heat, steady state(MOD)

注記 2  IEC 60068-2-78:2001 は,2012 年版に改正されており,この IEC 規格で JIS 化された。

JIS Z 8203:2000

  国際単位系(SI)及びその使い方

注記  対応国際規格:ISO 1000,SI units and recommendations for the use of their multiples and of certain

other units(IDT)

IEC 60027-1

,Letter symbols to be used in electrical technology−Part 1: General

IEC 60050 (all parts)

,International Electrotechnical Vocabulary (IEV)

IEC 60294

,Measurement of the dimensions of a cylindrical component with axial terminations

IEC 60410

,Sampling plans and procedures for inspection by attributes

IEC 60717

,Method for the determination of the space required by capacitors and resistors with unidirectional

terminations

IEC QC 001002-3:2005

,IEC Quality Assessment System for Electronic Components (IECQ)−Rules of

Procedure−Part 3: Approval procedures


4

C 2570-1

:2015

技術データ 

2.1 

単位,記号及び専門用語 

単位,図記号,文字記号及び専門用語は,次の規格から引用することが望ましい。

−  IEC 60027-1

−  IEC 60050(規格群)

−  JIS C 0617(規格群)

−  JIS Z 8203

上記の規格に規定しない事項が必要となった場合は,

上記の規格の原則に従って用いることが望ましい。

2.2 

用語及び定義 

この規格で用いる主な用語及び関連する用語の定義は,次による。

2.2.1

形式(type)

同じ技術によって製造したものであり,類似の設計上の特徴をもち,製造業者の一般的な定格の範囲内

にある製品群。

注記 1  試験結果に重大な影響を及ぼさない場合,取付用附属品は形式の定義に含めていない。

注記 2  形式の定格は,次の組合せを含んでいる。

−  電気的定格

−  寸法

−  耐候性カテゴリ

注記 3  形式の定格範囲の限度値は,個別規格に規定することが望ましい。

2.2.2

形状(style)

ある特定の呼称寸法及び特性をもつ形式内の類似品。

2.2.3

サーミスタ(thermistor)

素子の温度変化によって,

主要機能における電気抵抗が顕著な変化を示す,

温度に敏感な半導体抵抗器。

サーミスタには,負温度係数サーミスタ(NTC サーミスタ)と正温度係数サーミスタ(PTC サーミスタ)

とがある。

2.2.4

負温度係数(NTC)サーミスタ[negative temperature coefficient (NTC) thermistor]

温度上昇に伴い抵抗値が減少するサーミスタ。

注記  一般には,NTC サーミスタという用語が用いられる。

2.2.5

直熱形負温度係数サーミスタ(directly heated negative temperature coefficient thermistor)

サーミスタを流れる電流,周囲温度,湿度,風速,ガスなどの物理的条件の変化によって抵抗値が変化

する NTC サーミスタ。

注記  図記号は附属書 JA を参照。

2.2.6

傍熱形負温度係数サーミスタ(indirectly heated negative temperature coefficient thermistor)

サーミスタに密に接してはいるが電気的に絶縁しているヒータの電流変化などに伴い,サーミスタが温


5

C 2570-1

:2015

度変化することによって最初の抵抗値が変化する NTC サーミスタ。

注記 NTC サーミスタ素子自体に流れる電流,周囲温度,湿度,風速,ガスなどの物理的条件の変化

によって NTC サーミスタ素子の温度も変化する場合もある。

2.2.7

正温度係数(PTC)サーミスタ(参考)[positive temperature coefficient (PTC) thermistor]

温度上昇に伴い抵抗値が上昇するサーミスタ。

2.2.8

ワイヤ端子付き NTC サーミスタ(thermistor with wire terminations)

ワイヤ端子を備えた NTC サーミスタ。

2.2.9

ワイヤ端子なし NTC サーミスタ(thermistor without wire terminations)

電気的に接続するために,二つの電極だけを備えた NTC サーミスタ。

2.2.10

絶縁形 NTC サーミスタ(insulated thermistor)

樹脂,ガラス,セラミックなどの材料で被覆され,試験項目で規定する絶縁抵抗値及び耐電圧試験に関

する要求事項を満たす NTC サーミスタ。

2.2.11

非絶縁形 NTC サーミスタ(non-insulated thermistor)

素子表面の被覆材の有無にかかわらず,試験項目で規定する絶縁抵抗値及び耐電圧試験に関する要求事

項を満たしていない NTC サーミスタ。

2.2.12

表面実装形 NTC サーミスタ(surface mount thermistor)

小さな寸法及び端子の種類又は形状が,ハイブリッド回路及びプリント配線板での使用に適した NTC

サーミスタ。

2.2.13

組立形 NTC サーミスタ(プローブ)[assembled thermistor (probe)]

様々な材質の,チューブ,プラスチックケース,金属ケースなどに封入し,ケーブル,コネクタなどと

ともに組み立てた NTC サーミスタ。

2.2.14

検知用 NTC サーミスタ(thermistor for sensing)

温度検知及び温度制御に用いる NTC サーミスタ。

2.2.15

突入電流抑制用 NTC サーミスタ(inrush current limiting thermistor)

電源を入れた直後の突入電流を抑制する NTC サーミスタ。

2.2.16

残留抵抗値(突入電流抑制用 NTC サーミスタに適用)(residual resistance)

最大電流を流して温度が安定したときの NTC サーミスタの直流抵抗値。

2.2.17

最大許容コンデンサ容量(突入電流抑制用 NTC サーミスタに適用)(maximum permissible capacitance)

負荷時に NTC サーミスタに接続することができるコンデンサの最大許容静電容量値。


6

C 2570-1

:2015

2.2.18

ゼロ負荷抵抗値,R

T

(zero-power resistance)

規定する温度において,自己発熱による抵抗値の変化が,測定したときの総合誤差と比較して無視でき

るような条件で測定した NTC サーミスタの直流抵抗値。

2.2.19

定格ゼロ負荷抵抗値(rated zero-power resistance)

その他の規格に規定がない場合,基準温度 25  ℃における公称ゼロ負荷抵抗値。

2.2.20

抵抗−温度特性(resistance-temperature characteristic)

ゼロ負荷抵抗値と NTC サーミスタ素子の温度との関係。

抵抗値は,近似的に式(1)によって算出する。

また,NTC サーミスタの代表的な抵抗−温度特性を,

図 に示す。





×

=

a

1

1

a

e

T

T

B

R

R

  (1)

ここに,

R: 絶対温度 T

K

)におけるゼロ負荷抵抗値(

R

a

絶対温度 T

a

K

)におけるゼロ負荷抵抗値(

B

B

定数(2.2.22 参照)

注記

この算出式は,限定した温度範囲内での抵抗値変動を表すときだけ適用できる。より正確な抵

抗−温度(

R

T

)特性曲線を得るためには,抵抗−温度特性の関係を表形式で個別規格に規定

することが望ましい。

注記  温度範囲が広い場合,下方向に僅かに凸の曲線となっている。

図 1NTC サーミスタの代表的な抵抗−温度特性 

2.2.21

抵抗比(

resistance ratio

基準温度

25

℃におけるゼロ負荷抵抗値に対する

85

℃において測定したゼロ負荷抵抗値の比。

その他の

温度との組合せにおける抵抗比を個別規格に規定してもよい。


7

C 2570-1

:2015

2.2.22

B

定数(B

-value

(2)

又は式

(3)

のうち,いずれかによって算出することができる抵抗値変化の大きさを表す定数。

b

a

a

b

b

a

ln

R

R

T

T

T

T

B

×

×

=

  (2)

b

a

a

b

b

a

log

303

.

2

R

R

T

T

T

T

B

×

×

×

=

  (3)

ここに,

B

B

定数(

K

R

a

温度

T

a

K

)におけるゼロ負荷抵抗値(

R

b

温度

T

b

K

)におけるゼロ負荷抵抗値(

T

a

298.15 K

1)

T

b

358.15 K

1)

注記

推奨値以外の温度間での

B

定数の測定を個別規格に規定する場合,上記の式の

T

a

及び

T

b

T

a

T

b

)にそれらの温度を代入して算出し,そのときの

B

定数を“

B

a/b

”で表してもよい。

1)

温度

T

a

及び

T

b

の推奨値であり,それぞれ+

25

℃及び+

85

℃に等しい。

2.2.23

ゼロ負荷抵抗値温度係数,

α

T

zero-power temperature coefficient of resistance

規定する温度

T

における

1 K

当たりのゼロ負荷抵抗値の変化率を示す係数。その係数は,式

(4)

によって

算出する。

100

d

d

1

T

T

×

×

=

T

R

R

α

  (4)

α

T

の値は,近似的に式

(5)

によって算出することができる。

100

2

T

×

=

T

α

B

  (5)

ここに,

α

T

ゼロ負荷抵抗値温度係数(

%/K

R

T

温度

T

K

)におけるゼロ負荷値抵抗値(

B

B

定数(

K

2.2.24

カテゴリ温度範囲(

category temperature range

設計上,ゼロ負荷の状態で

NTC

サーミスタを連続して動作することができる,適切なカテゴリでの温度

の上下限で表す周囲温度の範囲。

2.2.25

カテゴリ上限温度,T

max

upper category temperature

設計上,ゼロ負荷の状態で

NTC

サーミスタを連続して動作することができる最高周囲温度。

2.2.26

カテゴリ下限温度,T

min

lower category temperature

設計上,ゼロ負荷の状態で

NTC

サーミスタを連続して動作することができる最低周囲温度。

2.2.27

保存温度範囲(

storage temperature range

無負荷の状態の下で

NTC

サーミスタを連続して保存することができる周囲温度範囲。


8

C 2570-1

:2015

2.2.28

電力軽減曲線(突入電流抑制用

NTC

サーミスタ以外に適用)

decreased power dissipation curve

周囲温度と最大電力との関係を表す曲線。

通常,電力軽減曲線は,曲線

a

又は曲線

b

で表すことができる(

図 参照)。

a)

  曲線 

b)

  曲線 

T

R

:定格周囲温度(℃)

2.2.29 参照)

T

1

:最大電力がゼロから上昇する温度(℃)

T

2

:最大電力が一定値となる下限温度(℃)

T

3

:最大電力が一定値から低下する温度(℃)

  曲線 a の場合は T

R

を超える温度,曲線 b の場合は T

R

と等しい。

T

4

:最大電力が低下してゼロになる温度(℃)

注記  P

max T

及び P

max TR

は,それぞれ 2.2.29 及び 2.2.30 を参照。

図 2−電力軽減曲線 

2.2.29

定格周囲温度 T

R

における最大電力,P

maxTR

maximum power dissipation at rated ambient temperature T

R

定格周囲温度

T

R

図 2,曲線

a

での

T

2

T

R

T

3

,曲線

b

での

T

2

T

R

T

3

)において

NTC

サーミスタに連

続的に印加することができる電力の最大値。

定格周囲温度

T

R

は,個別規格に規定する周囲温度で,通常は

25

℃である。

2.2.30

周囲温度 における最大電力,P

maxT

maximum power dissipation at ambient temperature T


9

C 2570-1

:2015

周囲温度

T

において

NTC

サーミスタに連続的に印加することができる電力の最大値。

例 1

曲線

a

図 2 a)参照]

温度

T

1

から温度

T

2

への温度上昇に伴い,最大電力は直線的に上昇する。温度

T

2

から温度

T

3

までの間では最大電力は一定である。温度

T

3

を超えると最大電力は直線的に下降し,温度

T

4

でゼロ(

0

)になる。

一般的に,周囲温度

T

における最大電力は,式

(6)

によって算出する。

P

maxT

I

maxT

×

U   (6)

ここに,

  P

maxT

周囲温度

T

における最大電力

I

maxT

周囲温度

T

における最大電流(2.2.32 参照)

U

NTC

サーミスタにかかる電圧

最大電力は,式

(7)

及び式

(8)

によって算出することができる。

T

1

T

T

2

1

2

1

TR

max

T

max

T

T

T

T

P

P

×

=

  (7)

T

3

T

T

4

3

4

4

TR

max

T

max

T

T

T

T

P

P

×

=

  (8)

ここに,

T

R

定格周囲温度(℃)

T

周囲温度(℃)

T

1

個別規格に規定する最大電力がゼロとなる下限温度(℃)

カテゴリ下限温度

T

min

又はそれ以上の温度(℃)である。

T

2

最大電力

P

max

における下限温度。

個別規格に規定がない場合,

T

2

0

℃とする。

T

3

最大電力

P

max

における上限温度。

個別規格に規定がない場合,

T

3

55

℃とする。

T

4

個別規格に規定する最大電力がゼロとなる上限温度(℃)

カテゴリ上限温度

T

max

又はそれ以下の温度(℃)である。

例 2

曲線

b

図 2 b)参照]

温度

T

2

から温度

T

3

までの間では最大電力は一定である。個別規格に規定がない場合,温度

T

2

0

℃とする。温度

T

3

を超えると,最大電力は直線的に下降し,温度

T

4

でゼロ(

0

)になる。

一般的に,周囲温度

T

における最大電力は,式

(9)

によって算出する。

P

maxT

I

maxT

×

U   (9)

ここに,

  P

maxT

周囲温度

T

における最大電力

I

maxT

周囲温度

T

における最大電流(2.2.32 参照)

U

NTC

サーミスタにかかる電圧

最大電力は,式

(10)

によって算出することができる。

T

R

T

T

4

R

4

4

TR

max

T

max

T

T

T

T

P

P

×

=

   (10)

ここに,

T

R

定格周囲温度(℃)

個別規格に規定がない場合,

T

R

25

℃とする。

T

4

個別規格に規定する最大電力がゼロとなる上限温度(℃)

カテゴリ上限温度

T

max

又はそれ以下の温度(℃)である。

2.2.31

周囲温度 25  ℃における最大電流,I

max25

(突入電流抑制用

NTC

サーミスタに適用)

maximum current at

ambient temperature of 25 °C

周囲温度

25

℃(

図 3,曲線

c

での

T

2

25

℃≦

T

3

,曲線

d

での

T

2

T

R

T

3

)において,

NTC

サーミスタ


10

C 2570-1

:2015

に連続的に通電することができる電流の最大値(直流電流値又は正弦波交流の実効値)

注記 1

(対応国際規格の

注記 は,本文に括弧書きで追加したため,削除した。)

注記 2

周囲温度

25

℃における最大電力(

P

max25

)は,

P

max25

I

max25

×

U

によって算出することがで

きる。

ここで,

U

NTC

サーミスタに印加される電圧である。

a)

  曲線 

b)

  曲線 

T

R

:定格周囲温度(℃)

2.2.31 参照)

T

1

:最大電流がゼロから上昇する温度(℃)

T

2

:最大電流が一定値となる下限温度(℃)

T

3

:最大電流が一定値から低下する温度(℃)

  曲線 c の場合は T

R

を超える温度,曲線 d の場合は T

R

と等しい。

T

4

:最大電流が低下してゼロになる温度(℃)

図 3−最大電流軽減 

2.2.32

周囲温度 における最大電流,I

maxT

maximum current at ambient temperature T

周囲温度

T

において

NTC

サーミスタに連続的に通電することができる電流の最大値。

例 1

曲線

c

図 3 a)参照]

温度

T

1

から温度

T

2

への温度上昇に伴い,最大電流は直線的に上昇する。温度

T

2

から温度

T

3

までの間では電流は一定である。温度

T

3

を超えると電流は直線的に下降し,温度

T

4

でゼロ(

0

になる。


11

C 2570-1

:2015

最大電流は,式

(11)

及び式

(12)

によって算出することができる。

T

1

T

T

2

1

2

1

25

max

T

max

T

T

T

T

I

I

×

=

  (11)

T

3

T

T

4

3

4

4

25

max

T

max

T

T

T

T

I

I

×

=

   (12)

ここに,

T

周囲温度(℃)

T

1

個別規格に規定する温度(℃)

カテゴリ下限温度

T

min

又はそれ以上の温度(℃)である。

T

2

個別規格に規定がない場合,

T

2

0

℃とする。

T

3

個別規格に規定がない場合,

T

3

55

℃とする。

T

4

個別規格に規定する温度(℃)

カテゴリ上限温度

T

max

又はそれ以下の温度(℃)である。

例 2

曲線

d

図 3 b)参照]

温度

T

2

から温度

T

3

までの間では最大電流は一定である。個別規格に規定がない場合,温度

T

2

0

℃とする。温度が温度

T

3

を超えると電流は放物的に下降し,温度

T

4

でゼロ(

0

)になる。

最大電流は,式

(13)

によって算出する。

T

R

T

T

4

R

4

4

25

max

T

max

T

T

T

T

I

I

×

=

   (13)

ここに,

T

R

定格周囲温度(℃)

個別規格に規定がない場合,

T

R

25

℃とする。

T

周囲温度(℃)

T

4

個別規格に規定する温度。

カテゴリ上限温度

T

max

又はそれ以下の温度(℃)である。

2.2.33

熱放散定数,δ

dissipation factor

温度安定で

NTC

サーミスタ素子の温度を自己発熱によって

1 K

上げるために必要な電力。一般に,規定

する周囲温度における

NTC

サーミスタ素子の温度変化に伴う電力の変動の係数で,

NTC

サーミスタの消

費電力を素子の温度上昇分で除して求める。

2.2.34

応答時間(

response time

周囲温度及び/又は電力の変化によって,

NTC

サーミスタ素子の温度が規定する温度間を変化するため

に要する時間(

s

注記

実際に応答時間を直接計測することは不可能なため,熱時定数を直接計測するための二つの方

法を規定している。

2.2.34.1

周囲温度変化による熱時定数,τ

a

thermal time constant by ambient temperature change

ゼロ負荷の状態の下で,規定する媒質中で,

NTC

サーミスタの周囲温度(媒質温度)を急変させた場合,

NTC

サーミスタ素子の,最初の温度から最終到達温度までの

63.2 %

変化するのに要する時間(

s

注記

媒質温度の急変の条件及び媒質は,個別規格に規定している。

2.2.34.2

自己発熱からの冷却による熱時定数,τ

c

thermal time constant by cooling after self-heating

規定する媒質中で,

NTC

サーミスタに通電する電流をゼロ負荷でない状態からゼロ負荷の状態に急変さ


12

C 2570-1

:2015

せた場合,自己発熱による

NTC

サーミスタ素子の,最終到達温度と周囲温度(媒質温度)との温度差の

63.2 %

まで下降するために要する時間(

s

注記

媒質温度の急変の条件及び媒質は,個別規格に規定している。

2.2.35

熱容量,C

th

heat capacity

NTC

サーミスタの温度が

1 K

上昇するために必要なエネルギー(

J

。熱容量は,部品の構造及び材質に

よって決まる。

熱容量は,式

(14)

によって算出する。

C

th

δ

×

τ

c

  又は

C

th

δ

×

τ

a

   (14)

ここに,

C

th

熱容量

δ

熱放散定数

τ

a

周囲温度変化による熱時定数

τ

c

自己発熱からの冷却による熱時定数

注記

対応国際規格に記載の注記(

NOTE

)は規定事項のため,本文に移動した。

2.2.36

電圧−電流特性(

voltage-current characteristic

周囲温度

25

℃又は個別規格に規定する温度における,静止空気中又は個別規格に規定する媒質中で,

NTC

サーミスタに一定電流(直流電流値又は交流の実効値)を通電し,

NTC

サーミスタが温度安定に達し

たときに流れる電流と

NTC

サーミスタにかかる電圧との関係。

2.2.37

自己発熱を上限とする最大動作電力(検知用

NTC

サーミスタに適用)

P

ΔT

maximum operating power for

limited self-heating

実用上,

NTC

サーミスタに連続的に通電することができ,かつ,

NTC

サーミスタの発熱(自己発熱)に

よる検知誤差を考慮した消費電力の最大値(

I

ΔT

×

U

ΔT

個別規格に規定がない場合,

ΔT

1 K

に等しい。

P

ΔT

I

ΔT

U

ΔT

との関係を式

(15)

,式

(16)

及び式

(17)

によって表す。

P

ΔT

δ

×

ΔT  (15)

T

ΔT

Δ

R

T

I

×

=

δ

  (16)

)

Δ

(

T

ΔT

T

R

U

×

=

δ

   (17)

ここに,  P

ΔT

自己発熱を上限とする最大動作電力

δ: 熱放散定数

ΔT: NTC サーミスタの発熱による温度上昇

I

ΔT

許容動作電流

U

ΔT

許容動作電圧

R

T

温度 T(K)における抵抗値

2.3 

推奨値及び耐候性カテゴリ 

2.3.0A 

推奨値 

それぞれの品種に適した推奨値は,品種別通則に規定する。

2.3.1 

耐候性カテゴリ 

この規格に規定する NTC サーミスタは,JIS C 60068-1 

附属書 A(部品の耐候性カテゴリー)に規定


13

C 2570-1

:2015

する一般原則に基づく耐侯性カテゴリによって分類する。

その場合のカテゴリ上限温度,カテゴリ下限温度及び高温高湿(定常)試験の試験日数は,

表 の中か

ら選択する。

表 1−カテゴリ上限温度,カテゴリ下限温度及び高温高湿(定常)試験の試験日数 

カテゴリ下限温度(℃)

−90,−80,−65,−55,−40,−5,−10,−5,+5

カテゴリ上限温度(℃) 30,40,55,70,85,100,105,125,150,155,175,

200,250,315,400,500,630,800,1 000

高温高湿(定常)試験の試験日数(日) 4,21,42,56

個別規格において適切な耐候性カテゴリを規定する。

2.4 

表示 

2.4.1 

一般事項 

表示場所がある場合,原則 NTC サーミスタには,次の優先順位で各項目を明確に表示する。

a)

定格ゼロ負荷抵抗値

b)

製造業者名及び/又は登録商標

c)

製造日

d)

定格ゼロ負荷抵抗値の許容差

e)

個別規格の番号及び形状

NTC サーミスタの包装には,上記の項目を全て表示する。

その他の表示項目を追加する場合には,混乱しないように表示する。

2.4.2 

表面実装形などの小形の NTC サーミスタの場合 

一般的に本体には表示しない。本体に表示が可能な場合,上記項目のうち有用な項目をできるだけ多く

表示する。本体における表示項目の重複は避けることが望ましい。

2.4.3 

記号化 

抵抗値,許容差及び製造日を記号化する場合,JIS C 5062 に規定する方法から選択する。

品質評価手順 

この規格及び下位規格において,IEC 電子部品品質認証制度(IECQ)などの総合的な品質評価制度を

用いる場合,

附属書 に規定する関連事項を適用する。

試験及び測定手順 

4.1 

一般事項 

品種別通則及び/又はブランク個別規格には,実施する試験項目を示す表を規定する。それらの表には

各試験又はサブグループの試験の前後に測定する項目及び実施する試験の順序を規定する。各試験の各段

階は規定する順序で実施する。測定条件は,初期測定と最終測定とで同一とする。

品質認証制度をもつ国内規格が上記の規定と異なる事項を含む場合,それらについて詳しく記載する。

この箇条 で適用する個別の試験方法は,1.2 に規定する JIS C 60068-2 規格群による。

注記  3 桁の細分箇条には,規定内容に整合したタイトルを付け,また,規定内容ごとにまとめ直し

ている。それぞれのまとめ方は,一般事項の下に

注記を設けてその内容を記載している。


14

C 2570-1

:2015

4.2 

標準試験状態 

個別規格に規定がない場合,試験及び測定は,JIS C 60068-1 の 5.3[測定及び試験のための標準大気条

件(標準状態)

]に規定する次の条件で実施する。

−  温度    :15  ℃∼35  ℃

−  相対湿度:25 %∼75 %

−  気圧    :86 kPa∼106 kPa

前処理として,測定前に NTC サーミスタが測定温度に達するまで十分に放置する。一般的に,試験後の

後処理も NTC サーミスタが規定温度に達するまで,規定時間放置する。

測定の間,NTC サーミスタを過度の通風,直射日光又はその他測定に影響を与えるような環境には置か

ない。

規定する温度以外で測定する場合,必要に応じて,測定結果を規定する温度の値に補正する。測定時の

周囲温度は試験報告書に記載する。

連続して試験する場合,ある試験の最終測定における測定値を,継続して実施する試験における初期測

定の測定値としてもよい。

4.3 

乾燥及び後処理 

4.3.1 

乾燥 

乾燥が必要な場合,測定に先立ち,個別規格の規定によって次の手順 1 又は手順 2 を用いて NTC サーミ

スタを乾燥をさせる。

a)

手順 1  温度 55  ℃±2  ℃,相対湿度 20 %以下の槽内で 24 時間±4 時間放置する。

b)

手順 2  温度 100  ℃±5  ℃の槽内で 96 時間±4 時間放置する。

乾燥処理後の NTC サーミスタは,活性アルミナ,シリカゲルなどの適切な乾燥剤を用いたデシケータの

中で冷却する。また,乾燥器(高温槽)から取り出してから規定する試験を開始するまで,デシケータの

中で保管する。

4.3.2 

後処理 

個別規格に規定がない場合,後処理条件は,4.2 の標準試験状態とする。後処理を厳密に管理した条件で

実施する場合,JIS C 60068-1 の 5.4.1(管理された後処理条件)の規定による。

4.4 

取付け(表面実装形 NTC サーミスタに適用) 

4.4.1 

一般事項 

表面実装用 NTC サーミスタは,4.4.2 及び,4.4.3 の a)ウェーブソルダリング又は b)リフローソルダリン

グでプリント配線板に取り付ける。

注記  対応国際規格の 4.4.14.4.4 の規定内容を変更せずに 4.4.14.4.3 の項目ごとにまとめ直した。

4.4.2 

プリント配線板及びそのランドパターン 

表面実装用 NTC サーミスタを取り付けるプリント配線板及びそのランドパターンは,次による。

a)

プリント配線板の材質は,1.6 mm の厚さのガラス布基材エポキシ樹脂のプリント配線板用銅張積層板

JIS C 6484 に規定する特性 GE4F のもの)又は 0.635 mm の厚さのアルミナ基板とし,試験及び測定

に対して影響を与えないものを用いる。個別規格にプリント配線板の材質を規定する。

b)

プリント配線板は,表面実装 NTC サーミスタを装着できる適切な間隔でランドをもち,NTC サーミ

スタと電極との間で電気的に接続できなければならない。

附属書 に,ランドパターン例の記載があ

る。ランドパターンの詳細は,個別規格に規定する。


15

C 2570-1

:2015

4.4.3 NTC

サーミスタのプリント配線板への取付け 

NTC サーミスタは,プリント配線板への取付けは,次のいずれかの方法で実施する。

a)

ウェーブソルダリングを用いる場合  個別規格にウェーブソルダリングの規定がある場合,次の手順

で取り付ける。用いるフラックスの活性度は,個別規格に規定する。

1) NTC

サーミスタをプリント配線板に固定するために個別規格に規定する適切な接着剤をはんだ付

けする前に用いる。再現性がある結果を保証できる方法で,接着剤の小滴をプリント配線板のラン

ド間に付ける。

2) NTC

サーミスタを,ピンセットを用いて接着剤の小滴の上に置く。NTC サーミスタを動かすときに

は,接着剤が導電部に付着しないよう注意する。

3)

表面実装形 NTC サーミスタを取り付けたプリント配線板を,

温度 100  ℃の槽で 15 分間熱処理する。

4)

プリント配線板は,予備加熱温度を 80  ℃∼130  ℃,はんだ槽温度を 260  ℃±5  ℃及びはんだ付け

時間を 5 秒±0.5 秒間に設定したウェーブソルダリング装置ではんだ付けする。このはんだ付け操作

を,再度繰り返す(合計 2 サイクル)

5) NTC

サーミスタを取り付けたプリント配線板を,適切な溶剤[JIS C 60068-2-45 の 3.1.2[2-プロパ

ノール(イソプロピルアルコール)

]参照]中で 3 分間洗浄する。

b)

リフローソルダリングを用いる場合  個別規格にリフローブソルダリングを規定している場合,次の

手順で取り付ける。

1)

プリフォームはんだ又はソルダペーストに用いるはんだ合金は,すず−鉛共晶はんだ合金に質量分

率 2 %以上の銀を添加した組成(鉛入りはんだ合金)

,又は Sn96.5Ag3Cu0.5 若しくは類似組成(鉛

フリーはんだ合金)を用いる。はんだ食われ防止層がある構造の NTC サーミスタには,鉛入りはん

だ合金として Sn60Pb40 又は Sn63Pb37 を用いてもよい。

プリフォームはんだでの取付けに用いるフラックスは,JIS C 60068-2-20 に規定する不活性フラ

ックスとする。ソルダペーストに用いるフラックスは,JIS C 60068-2-58 による。

注記  はんだの種類によって,フラックスの活性度を考慮することが望ましい。

2)

プリフォームはんだ又はソルダペーストのランドへの搭載は,次のいずれかの手順による。

−  プリフォームはんだを,ランドの上に適切な方法で載せる。

−  ソルダペーストを,ランドの上に適切な方法で塗布する。NTC サーミスタを,プリント配線板の

ランド部分の間に置く。プリフォームはんだを用いる場合は,1)のフラックスをはんだ付け部に

適切な方法で塗布する。

3) NTC

サーミスタとプリント配線板のランド部分とを接続するために,プリント配線板を,適切な加

熱装置(溶融はんだ,熱板,トンネル炉など)の中又は上に置く。加熱装置の温度は,215  ℃∼260  ℃

とし,はんだが溶融し,流れて均一なはんだ付けができるまでの間,保持する。ただし,10 秒間を

超えてはならない。

注記  はんだの種類によって,必要な温度に変更することが望ましい。

4) NTC

サーミスタを取り付けたプリント配線板を,適切な溶剤[JIS C 60068-2-45 の 3.1.2[2-プロパ

ノール(イソプロピルアルコール)

]参照]中で 3 分間洗浄する。全ての一連の動作は,汚染を避け

るようにする。プリント配線板は,試験槽内にあるとき及び試験後の測定中も清浄に保つように注

意する。

5)

リフローソルダリングを用いる場合の注意事項として,次の事項がある。

−  個別規格に,より狭い温度範囲を規定してもよい。


16

C 2570-1

:2015

−  気相はんだ付け法(V.P.S.)を用いる場合,温度を変えて同じ手順で実施してもよい。

4.5 

外観検査及び寸法検査 

4.5.1 

外観検査 

外観検査は,NTC サーミスタの形態,出来栄え及び仕上がりについて,目視によって実施する。その結

果は,個別規格に規定する要求事項を満足しなければならない。

4.5.2 

表示 

表示は,目視によって検査を実施する。それらの表示は,判読できなければならない。

4.5.3 

寸法(ゲージ) 

個別規格にゲージによる規定がある寸法は,適切なゲージを用いて検査する。それらの寸法は,個別規

格に規定する要求事項を満足しなければならない。

測定は,IEC 60294 又は IEC 60717 が適用できる場合,これらの規格に従って実施する。

4.5.4 

寸法(詳細) 

個別規格に規定する全ての寸法は,その要求値を満足しなければならない。

4.6 

ゼロ負荷抵抗値 

4.6.1 

一般事項 

NTC サーミスタのゼロ負荷抵抗値は,個別規格に規定する温度で測定する。

4.6.2 

測定 

NTC サーミスタのゼロ負荷抵抗値の測定は,次の手順によって実施する。

a) NTC

サーミスタを,非腐食性の支持具によって,適切な絶縁材料でできた固定板に固定する。

b)

ゼロ負荷抵抗値が安定するまで,基準となる温度計に近い場所で,個別規格に規定する温度に保持し

た非腐食性,非還元性及び絶縁性のある媒質の入った測定槽に NTC サーミスタを深く浸せきする。

c) NTC

サーミスタのゼロ負荷抵抗値測定の基本回路を,

図 に示す。

d)

図 に基本回路をもつ測定器で,NTC サーミスタ素子の自己発熱による温度上昇が無視できる状態(ゼ

ロ負荷状態)の下で,全ての測定を実施する。

NTC サーミスタの自己発熱による消費電力による誤差,浸せき場所による温度差及び測定装置が保

有する測定性能を合わせた総合誤差は,個別規格で規定する値の許容差の 10 %を超えてはならない。

E

:可変安定化直流電源

R

:保護抵抗器

R

a

及び R

b

:比例辺抵抗器

R

s

:可変抵抗器

G

:検流計

Th

:供試 NTC サーミスタ

図 4−ゼロ負荷抵抗値測定の基本回路 

4.6.3 

要求事項 

NTC サーミスタのゼロ負荷抵抗値は,個別規格に規定する許容差の範囲内とする。


17

C 2570-1

:2015

4.7 B

定数又は抵抗比 

4.7.1 

一般事項 

NTC サーミスタの B 定数又は抵抗比は,4.6 に規定する方法によって,温度 25  ℃及び 85  ℃(又は個別

規格に規定する温度の組合せ)において測定したゼロ負荷抵抗値を用い,B 定数(2.2.22 参照)又は抵抗

比(2.2.21 参照)を算出する。

4.7.2 

要求事項 

NTC サーミスタの B 定数又は抵抗比は,個別規格に規定する許容差の範囲内でなければならない。

4.8 

絶縁抵抗値(絶縁形 NTC サーミスタに適用) 

4.8.1 

一般事項 

NTC サーミスタの保護コーティングの絶縁抵抗値を測定する。このとき,NTC サーミスタの露出電極部

分と他方の極とが,直接短絡しない距離を保持しければならない。

注記  対応国際規格の 4.8.5 及び 4.8.6 は項番がずれて誤っているため,4.8.3 及び 4.8.4 と修正した。

4.8.2 

測定方法 

NTC サーミスタの測定は,次の a)f)のうちからいずれかの測定方法を選定し実施する。

a)

測定方法 1  NTC サーミスタの導電部分を,絶縁性が高い材料で覆う。NTC サーミスタの保護コーテ

ィング部だけが埋まるように,直径 1.6 mm±0.2 mm 又は 1.0 mm±0.2 mm の金属球の入った容器に入

れる。金属球は,表面に抵抗を生じないものを用いる。

測定電極の一方を,金属球の中に埋める。

測定方法 1 の例を,

図 に示す。

図 5−絶縁抵抗値測定方法の例(測定方法 1 

b)

測定方法 2  NTC サーミスタの絶縁部だけが浸せきするように抵抗率 100

Ω・m 以下の水に浸す。

測定方法 2 の例を,

図 及び図 に示す。


18

C 2570-1

:2015

図 6−絶縁抵抗値測定方法の例 1(測定方法 2 

図 7−絶縁抵抗値測定方法の例 2(測定方法 2 

c)

測定方法 3  金属はくを,NTC サーミスタ本体に密着するよう巻き付ける。

リード線端子が同方向に引き出されている NTC サーミスタ(ラジアルリード線端子)の場合,金属

はくの端部と各端子との間に 1 mm∼1.5 mm の間隔をあける。リード線端子が反対方向に引き出され

ている NTC サーミスタ(アキシャルリード線端子)の場合,金属はくが,NTC サーミスタの両端面

から 5 mm 以上はみ出すようにして,NTC サーミスタ本体に巻き付ける。ただし,金属はくと端子と

の間隔は,1 mm あける。金属はくの端面は,NTC サーミスタの両端で折り曲げない。

アキシャルリード線端子をもつ NTC サーミスタの測定方法 3 の例を,

図 に示す。

図 8−絶縁抵抗値測定方法の例(測定方法 3 

d)

測定方法 4  NTC サーミスタを,NTC サーミスタ本体が V ブロックの端からはみ出さない大きさの

90°の角度をもつ金属製の V ブロックのくぼみに,次のように配置して固定する。


19

C 2570-1

:2015

固定するために加える力は,V ブロックの面と適度な接触を保持できる力とする。

−  円筒形(ラジアルリード線端子などをもつ)NTC サーミスタ:NTC サーミスタの中心軸から最も離

れた端子がブロックの面の一つに最も近づくように配置する。

−  角形 NTC サーミスタ:NTC サーミスタの縁に最も近い端子がブロックの面の一つに最も近づくよ

うに配置する。

−  リード線端子反対方向(アキシャルリード線端子)の円筒形及び角形 NTC サーミスタ:本体から端

子が出ている場所の中心ずれは無視する。

ラジアルリード線端子をもつ NTC サーミスタの測定方法 4 の例を,

図 に示す。

図 9−絶縁抵抗値測定方法の例(測定方法 4 

e)

測定方法 5  NTC サーミスタを,2 枚の金属板で挟み,金属板と適度な接触を保つような力で固定す

る。

f)

測定方法 6  NTC サーミスタと絶縁した附属部分(取付ブラケット,フランジなど)とを,それぞれ

の測定電極の一方とする。

4.8.3 

電圧印加方法 

個別規格に規定がない場合,NTC サーミスタの両方の端子を一括したものを一方の極とし,金属球,水

(100 Ω・m 以下)

,金属はく,V ブロック,金属板又は付属部分をもう一方の極とし,両方の極の間に直流

電圧 500 V±15 V を印加して絶縁抵抗値を測定する。

電圧は,1 分間又は 1 分間未満の測定値が安定するまでの間,印加する。絶縁抵抗値は,その時間の最

後の値を読み取る。

4.8.4 

要求事項 

NTC サーミスタの絶縁抵抗値は,個別規格に規定する値以上とする。

4.9 

耐電圧(絶縁形 NTC サーミスタに適用) 

4.9.1 

一般事項 

NTC サーミスタの耐電圧試験は,4.8.2 に規定する試験方法のうちのいずれか一つの測定方法(個別規格

による。

)を用いて,次の 4.9.2 の手順によって実施する。

注記  対応国際規格の 4.9.1 及び 4.9.2 は一般事項であるため 4.9.1 としてまとめ直した。このため,4.9.3

は 4.9.2 とし,4.9.4 は 4.9.3 とした。

4.9.2 

試験 

NTC サーミスタの耐電圧試験は,次によって実施する。

印加電圧は,適用する安全規則(国,地域,使用機器など)の規定による。安全規則がない場合,印加

電圧方法は,次による。


20

C 2570-1

:2015

個別規格に規定する絶縁電圧の 1.4 倍のピーク値をもつ,周波数 50 Hz∼60 Hz の交流電圧を,NTC サー

ミスタの両方の端子を一括したものを一方の極とし,金属球,水(100 Ω・m 以下)

,金属はく,V ブロック,

金属板又は附属部分をもう一方の極とし,両方の極の間に,60 秒±5 秒間印加する。

このとき,印加電圧は,約 100 V/s の上昇率で徐々に増加させる。印加電圧を 20 %増すことで,印加時

間は 1 秒間としてもよい。

4.9.3 

要求事項 

NTC サーミスタは,試験中に絶縁破壊又はフラッシオーバがあってはならない。

4.10 

抵抗−温度特性 

4.10.0A 

一般事項 

NTC サーミスタの抵抗−温度特性の測定は,次の手順によって実施する。

4.10.1 

測定 

NTC のサーミスタの抵抗−温度特性の測定は,個別規格に規定がない場合,測定温度を表 の中から選

択し,4.6.2 に規定する方法で実施する。個別規格に規定がある場合,その規定によって測定する。

4.10.2 

要求事項 

NTC サーミスタの抵抗−温度特性は,個別規格に規定する値の範囲内とする。

4.11 

熱放散定数 δ 

4.11.0A 

一般事項 

NTC サーミスタの熱放散定数の試験は,次の手順によって実施する。

注記  対応国際規格の 4.11.3 及び 4.11.4 は,試験の一部であり,4.11.2 にまとめた。このため,4.11.5

を 4.11.3 とした。

4.11.1 

初期測定 

NTC サーミスタは,温度 T

b

におけるゼロ負荷抵抗値を測定し,記録する。個別規格に規定がない場合,

温度 T

b

は,85  ℃±0.1  ℃とする。

4.11.2 

試験 

NTC サーミスタの試験は,次による。

個別規格に規定がない場合,ワイヤ端子付き NTC サーミスタは,NTC サーミスタ本体から 25 mm±1.5

mm の部分を支持具でつかむ。個別規格に規定がある場合,その規定による。

ワイヤ端子付き以外の NTC サーミスタ支持方法を用いる必要がある場合,個別規格に詳しく規定する。

NTC サーミスタを固定した支持具を,供試 NTC サーミスタの 1 000 倍以上の容積をもつ測定容器に入れ

る。NTC サーミスタは,その他の NTC サーミスタ及び容器の内壁とも 75 mm 以上離して置く。サーミス

タの配置の例を,

図 10 に示す。


21

C 2570-1

:2015

図 10−熱放散定数測定容器の例 

個別規格に規定がない場合,容器内の空気は静止し,かつ,温度 25  ℃±5  ℃とする。個別規格に規定

がある場合,規定する温度による。NTC サーミスタを

図 11 に示す試験回路に接続する。

電圧計は,NTC サーミスタの抵抗値に比べて十分に高い入力インピーダンスをもち,電流計は,その測

定確度 1 %以下のものを用いる。

E

:可変安定化直流電源

V

:直流電圧計

A

:直流電流計

Th

:供試 NTC サーミスタ

U

TH

  :供試 NTC サーミスタにかかる電圧

I

TH

:供試 NTC サーミスタに流れる電流

図 11−熱放散定数測定回路 

U

TH

/I

TH

が,温度 T

b

におけるゼロ負荷抵抗値の±5 %以内になるように,電流 I

TH

を調整する。安定した

読取りが可能になったときの U

TH

及び I

TH

の値を記録する。

熱放散定数 δ を式(18)によって算出する。

25

b

TH

TH

T

I

U

δ

×

=

   (18)

ここに,

T

b

自己発熱による温度安定時の供試

NTC

サーミスタの温度

(℃)

個別規格に規定がない場合,

T

b

85

U

TH

供試

NTC

サーミスタにかかる電圧(

V

I

TH

供試

NTC

サーミスタに流れる電流(

A

δ

熱放散定数(

W/

℃)

4.11.3 

要求事項 

NTC

サーミスタの熱放散定数は,個別規格に規定する値の範囲内でなければならない。


22

C 2570-1

:2015

4.12 

周囲温度変化による熱時定数 τ

a

4.12.0A 

一般事項 

NTC

サーミスタの周囲温度変化による熱時定数試験は,次の手順によって実施する。

注記 1

小形の

NTC

サーミスタの場合,

媒体温度

T

a

から温度

T

b

に移動するまでの間の

NTC

サーミス

タの温度変化が激しく,大きな測定誤差の原因となるため,この測定方法は適していない。

注記 2

対応国際規格の

4.12.4

の規定内容を

4.12.4

4.12.4A

とに分割した。

4.12.1 

初期測定 

4.6

の規定によって,周囲温度

T

a

におけるゼロ負荷抵抗値の測定に続き,周囲温度

T

i

でのゼロ負荷抵抗

値を測定する。

温度

T

i

は,式

(19)

によって算出する。

T

i

T

b

(T

b

T

a

)

×

0.632   (19)

ここに,

T

b

NTC

サーミスタの最初の温度(℃)

個別規格に規定がない場合,

T

b

85

℃とする。

T

a

NTC

サーミスタの最終到達温度(℃)

個別規格に規定がない場合,

T

a

25

℃とする。

T

i

周囲温度(℃)

測定値は記録する。

4.12.2 

前処理 

NTC

サーミスタを温度

T

b

の媒質内に浸せきし,

NTC

サーミスタが媒質温度に安定するまで放置する。

4.12.3 

試験 

NTC

サーミスタを速やかに温度

T

a

の媒質内に移動し,

NTC

サーミスタの抵抗値が温度

T

i

におけるゼロ

負荷抵抗値に到達するまでの時間を測定する。

測定した時間が,周囲温度変化による場合の熱時定数

τ

a

である。

4.12.4 

要求事項 

NTC

サーミスタの周囲温度変化による場合の熱時定数は,個別規格に規定する範囲内とする。

4.12.4A 

個別規格に規定する事項 

4.12.2

及び

4.12.3

で用いる媒質の種類及び流量(空気の場合)又は流量及び粘度(液体の場合)

,並びに

温度

T

a

,温度

T

b

及びこれらの許容差を,個別規格に規定する。

4.13 

自己発熱からの冷却による熱時定数 τ

c

4.13.0A 

一般事項 

NTC

サーミスタの周囲温度変化による熱時定数の試験は,次の手順(

4.13.1

4.13.3

)によって実施する。

注記 1

小形の

NTC

サーミスタの場合,

媒体温度

T

a

から温度

T

b

に移動するまでの間の

NTC

サーミス

タの温度変化が激しく,大きな測定誤差の原因となるため,この測定方法は適していない。

注記 2

対応国際規格の

4.13.2

及び

4.13.3

の規定内容を

4.13.2

にまとめ直した。このため,

4.13.4

4.13.3

とした。

4.13.1 

初期測定 

NTC

サーミスタは,個別規格に規定がない場合,

4.6

の規定によって,温度

T

b

85

℃±

2

℃,

T

a

25

±

2

℃及び式

(19)

によって,算出する温度

T

i

におけるゼロ負荷抵抗値を測定する。個別規格に規定がある

場合,その規定による。

測定値は記録する。

注記

その他の温度

T

a

及び温度

T

b

を用いる場合,個別規格に規定してもよい。


23

C 2570-1

:2015

4.13.2 

試験 

NTC

サーミスタを,個別規格に規定がない場合,

4.11.2

の規定によって固定し,測定容器に挿入する。

容器に挿入する前に,

NTC

サーミスタを,

図 12

に示す回路に接続する。個別規格に規定がある場合,そ

の規定による。

電圧計は,

NTC

サーミスタの抵抗値に比べて十分高いインピーダンスをもち,電圧計及び電流計の確度

は,

1 %

以内とする。また,抵抗値の測定装置の精度は,

0.1 %

以内とする。

E

:可変安定化直流電源

V

:直流電圧計

A

:直流電流計

Th

:供試 NTC サーミスタ

U

TH

  :供試 NTC サーミスタに

  かかる電圧

I

TH

:供試 NTC サーミスタに

  流れる電流

図 12

熱時定数測定回路 

NTC

サーミスタの自己発熱からの冷却による熱時定数の測定方法は,次による。

連動スイッチを

A

側に閉じ,

U

TH

/I

TH

が,

T

b

におけるゼロ負荷抵抗値の

60 %

80 %

の値になるように,

電流

I

TH

を調整し,測定器の値を安定させる。

連動スイッチを

B

側に閉じ,

NTC

サーミスタのゼロ負荷抵抗値が,温度

T

b

におけるゼロ負荷抵抗値に

なったときに時間の計測を開始し,その後ゼロ負荷抵抗値が,温度

T

i

におけるゼロ負荷抵抗値に到達した

ときに計測を終了する。

測定した時間が,自己発熱からの冷却による熱時定数

τ

c

である。

4.13.3 

要求事項 

NTC

サーミスタの自己発熱からの冷却による熱時定数は,個別規格に規定する値の範囲内とする。

4.13.3A 

個別規格に規定する事項 

4.13.2

で用いる媒質の種類及び流量(空気の場合)又は流量及び粘度(液体の場合)

,並びに温度

T

a

,温

T

b

及びこれらの許容差を,個別規格に規定する。

4.14 

端子強度(表面実装形 NTC サーミスタ以外に適用) 

4.14.0A 

一般事項 

NTC

サーミスタの端子強度試験は,次の手順によって実施する。

注記

対応国際規格の

4.14

a)

4.14.0B

とし,

b)

及び

c)

4.14.0C

とした。また,

4.14.4

及び

4.14.5

の規定内容を

4.14.4

にまとめ直した。

4.14.0B 

初期測定 

NTC

サーミスタは,個別規格に規定する適切な温度におけるゼロ負荷抵抗値などを測定し,記録する。

4.14.0C 

試験 

NTC

サーミスタの端子強度試験は,

JIS C 60068-2-21

の試験

Ua

1

Ub

及び

Uc

に規定する手順によって,

適正な試験を選択して実施する。ただし,個別規格に,曲がらない堅い端子であると明記している場合,


24

C 2570-1

:2015

その

NTC

サーミスタは試験

Ub

及び

Uc

を適用しない。

4.14.1 

試験 Ua

1

−引張強度 

NTC

サーミスタの端子に,個別規格に規定がない場合,次の引張力を

10

秒間加える。個別規格に規定

がある場合,その規定による。

ワイヤ端子付き以外の全ての

NTC

サーミスタの端子:

20 N

ワイヤ端子付き

NTC

サーミスタの端子:

表 2

参照

表 2

引張力 

断面積

mm

2

直径

mm

引張力  許容差±10 %

N

S≦0.05

d≦0.25 1

0.05<S≦0.1 0.25<d≦0.35 2.5

0.1<S≦0.2 0.35<d≦0.5 5 
0.2<S≦0.5 0.5<d≦0.8 10 
0.5<S≦1.2 0.8<d≦1.25 20 
1.2<S 1.25<d 40

注記  断面が円形のワイヤ,板状端子又はピン端子の公称断面積は,個別規格に規定する公称寸法から算出し

た値と等しい。より線の公称断面積は,個別規格に規定する個々の公称断面積の合計で得られる。

4.14.2 

試験 Ub−曲げ強さ(端子の半数) 

NTC

サーミスタの端子に,

1

回目の曲げに引き続いて,

2

回目に反対方向に曲げる(方法

1

4.14.3 

試験 Uc−ねじり(残りの端子) 

180

°の回転のねじりを交互に実施する(厳しさ

2

4.14.4 

最終検査,最終測定及び要求事項 

NTC

サーミスタは,目視によって外観検査を実施し,外観に損傷があってはならない。

NTC

サーミスタは,初期測定(

4.14.0B

参照)と同じ温度におけるゼロ負荷抵抗値などを測定し,その

測定値が個別規格に規定する要求事項を満足しなければならない。

4.15 

はんだ耐熱性 

4.15.0A 

一般事項 

NTC

サーミスタのはんだ耐熱性試験は,次の手順によって実施する。

4.15.1 

前処理及び初期測定 

NTC

サーミスタは,個別規格に規定がある場合,

4.3.1

に規定する方法で乾燥する。

NTC

サーミスタは,個別規格の規定によって初期測定を実施する。

4.15.2 

試験 

NTC

サーミスタのはんだ耐熱性試験は,個別規格に規定がない場合は,次の試験のうちいずれか一つを

選択し実施する。個別規格に規定がある場合,その規定による。

試験条件の詳細は,個別規格に規定する。

a)

次の

b)

及び

c)

を除く全ての

NTC

サーミスタ

JIS C 60068-2-20

に規定する試験

Tb

の方法

1

(はんだ槽法)の規定による。

b)

個別規格にプリント配線板用に設計していないが,はんだ付け接続を意図すると規定した

NTC

サーミ

スタ

1)  JIS C 60068-2-20

に規定する試験

Tb

の方法

1

(はんだ槽法)の規定による。


25

C 2570-1

:2015

2)  JIS C 60068-2-20

に規定する試験

Tb

の方法

2

(はんだこて法)の規定による。

c)

表面実装形

NTC

サーミスタ

JIS C 60068-2-58

に規定するリフロー法又ははんだ槽法の規定による。

4.15.3 

後処理 

NTC

サーミスタの後処理時間は,個別規格に規定がない場合,

1

時間∼

2

時間とする。ただし,表面実

装用

NTC

サーミスタの場合,

24

時間±

2

時間とする。個別規格に規定がある場合,その規定による。

4.15.4 

最終検査,最終測定及び要求事項 

表面実装形

NTC

サーミスタ以外の,全ての

NTC

サーミスタは,次による。

 NTC

サーミスタは,目視によって外観検査を実施し,外観に損傷がなく,表示は判読できなければな

らない。

 NTC

サーミスタは,個別規格の規定によって測定を実施し,個別規格に規定する要求事項を満足しな

ければならない。

表面実装形

NTC

サーミスタは,外観検査,及び初期測定と同じ測定を実施し,個別規格に規定する要求

事項を満足しなければならない。

4.16 

はんだ付け性 

4.16.0A 

一般事項 

NTC

サーミスタのはんだ付け性試験は,次の手順によって実施する。

注記

個別規格に,はんだ付け用に設計していないと規定する端子には適用しない。

個別規格に,エージングを適用するかどうかを規定することが望ましい。加速エージングを

要求する場合は,

JIS C 60068-2-20

に規定するエージング手順のうちいずれか一つを適用する

ことが望ましい。

個別規格に規定がない場合には,不活性フラックスを用いて試験することが望ましい。

4.16.1 

試験 

NTC

サーミスタのはんだ付け性試験は,個別規格に規定がない場合は,次の

a)

c)

のうちいずれか適切

な試験を選定し実施する。個別規格に規定がある場合,その規定による。

a)

次の

b)

及び

c)

を除く全ての

NTC

サーミスタ

1)  JIS C 60068-2-20

の試験

Ta

,方法

1

(はんだ槽法)の規定によるほか,次による。

はんだ浸せき深さ(取付面又は部品本体から)は,厚さ

1.5 mm

±

0.5 mm

の熱遮蔽板を用いて,

2.0 mm

の箇所まで浸せきする。

2)  JIS C 60068-2-20

の試験

Ta

,方法

2

(はんだこて法)の規定による。

3)  JIS C 60068-2-54

のはんだ付け性(平衡法)の規定による。

b)

関連個別規格にプリント配線板用に設計していないが,はんだ付け接続を意図すると規定した

NTC

サーミスタ

1)  JIS C 60068-2-20

の試験

Ta

,方法

1

(はんだ槽法)の規定によるほか,次による。

はんだ浸せき深さ(取付面又は部品本体から)

3.5 mm

2)  JIS C 60068-2-20

の試験

Ta

,方法

2

(はんだこて法)の規定による。

c)

表面実装形

NTC

サーミスタ

1)  JIS C 60068-2-58

のリフロー法又ははんだ槽法の規定による。

2)  JIS C 60068-2-69

のはんだ槽平衡法又ははんだ小球平衡法の規定による。


26

C 2570-1

:2015

4.16.2 

最終検査,最終測定及び要求事項 

NTC

サーミスタ端子部のはんだ付け性は,端子部にはんだがぬれていることによって確認する。

NTC

サーミスタは,個別規格に規定する要求事項を満足しなければならない。

4.17 

温度急変 

4.17.0A 

一般事項 

NTC

サーミスタの温度急変試験は,次の手順によって実施する。

注記

対応国際規格の

4.17.3

4.17.5

の規定内容を

4.17.3

にまとめ直した。

4.17.1 

初期測定 

NTC

サーミスタは,個別規格に規定する適切な温度におけるゼロ負荷抵抗値などを測定し,記録する。

4.17.2 

試験 

NTC

サーミスタ温度急変試験は,次の条件で

JIS C 60068-2-14

の試験

Na

に規定する手順によって実施

する。

下限温度

T

A

は,カテゴリ下限温度とする。

上限温度

T

B

は,カテゴリ上限温度とする。

サイクル数は,

5

回,

10

回,

25

回,

50

回,

100

回,

500

回及び

1 000

回の中から個別規格に規定する

サイクル数を選定する。

個別規格に試験槽内の媒質に空気以外を規定してある場合,規定する条件で実施する。

4.17.3 

最終測定及び要求事項 

NTC

サーミスタは,目視によって外観検査を実施する。その外観に損傷がなく,表示は判読できなけれ

ばならない。

NTC

サーミスタは,初期測定(

4.17.1

参照)と同じ温度におけるゼロ負荷抵抗値などを測定する。この

最終測定値と初期測定値とを比較したとき,その変化率は,個別規格に規定する値の範囲内とする。

絶縁形

NTC

サーミスタの場合,その絶縁抵抗値を

4.8

に規定する方法によって測定し,個別規格に規定

する限度値以上とする。

4.18 

振動 

4.18.0A 

一般事項 

NTC

サーミスタの振動試験は,次の手順によって実施する。

注記

対応国際規格の

4.18.3

4.18.5

の規定内容を

4.18.3

にまとめ,また,

4.18.6

及び

4.18.7

4.18.4

としてまとめ直した。

4.18.1 

初期測定 

NTC

サーミスタは,個別規格に規定する適切な温度におけるゼロ負荷抵抗値などを測定し,記録する。

4.18.2 

取付け 

NTC

サーミスタを,個別規格に規定する固定方法及び/又は通常の固定する方法でしっかりと取り付け

る。

4.18.3 

試験 

NTC

サーミスタの振動試験で,特別な取付けジグを必要とする場合,個別規格にその取付けジグを規定

し,その取付けジグを用いる。

NTC

サーミスタの振動試験は,個別規格に規定する厳しさを用い,

JIS C 60068-2-6

(試験

Fc

)に規定す

る手順によって実施する。

このとき,個別規格に規定がある場合,各方向の最終の

1

時間で,断続接触,断線又は短絡を確認する


27

C 2570-1

:2015

ための電気的な測定を実施する。検知装置は,断線を検知するのに十分な感度をもつ装置とする。

4.18.4 

最終測定及び要求事項 

NTC

サーミスタは,目視によって外観検査を実施する。その外観に損傷があってはならない。

NTC

サーミスタは,初期測定(

4.18.1

参照)と同じ温度におけるゼロ負荷抵抗値などを測定する。この

最終測定値と初期測定値とを比較したとき,その変化率は,個別規格に規定する値の範囲内とする。

4.19 

バンプ 

JIS C 60068-2-27

(試験

Ea

)に

JIS C 60068-2-29

(試験

Eb

)が統合され,

4.20

に当該内容の記載がある

ため,この対応国際規格の細分箇条は適用しない。

4.20 

衝撃 

4.20.0A 

一般事項 

NTC

サーミスタの衝撃試験は,次の手順によって実施する。

注記

対応国際規格の

4.20.4

及び

4.20.5

の規定内容を

4.20.4

にまとめ直した。

4.20.1 

初期測定 

NTC

サーミスタは,個別規格に規定する適切な温度におけるゼロ負荷抵抗値などを測定し,記録する。

4.20.2 

取付け 

NTC

サーミスタの取付けは,

4.18.2

の規定による。

4.20.3 

試験 

NTC

サーミスタの衝撃試験は,個別規格に規定する試験の厳しさを用い,

JIS C 60068-2-27

の試験

Ea

に規定する手順によって実施する。印加するパルス波形は,

JIS C 60068-2-27

4.1.1

(基本パルスの波形)

に規定する正弦半波又はその他のパルス波形とする。

4.20.4 

最終測定及び要求事項 

NTC

サーミスタは,目視によって外観検査を実施する。その外観に損傷があってはならない。

NTC

サーミスタは,初期測定(

4.20.1

参照)と同じ温度におけるゼロ負荷抵抗値などを測定する。この

最終測定値と初期測定値とを比較したとき,その変化率は,個別規格に規定する値の範囲内とする。

4.21 

自然落下(個別規格に規定がある場合) 

4.21.0A 

一般事項 

NTC

サーミスタの自然落下試験は,次の手順で実施する。

注記

対応国際規格の

4.21.3

及び

4.21.4

の規定内容を

4.21.3

にまとめ直した。

4.21.1 

初期測定 

NTC

サーミスタは,個別規格に規定する適切な温度におけるゼロ負荷抵抗値などを測定し,記録する。

4.21.2 

試験 

NTC

サーミスタの自然落下試験は,

JIS C 60068-2-31

の試験

Ec

の方法

1

の規定によって実施する。

4.21.3 

最終測定及び要求事項 

NTC

サーミスタは,目視によって外観検査を実施する。外観に損傷があってはならない。

NTC

サーミスタは,初期測定(

4.21.1

参照)と同じ温度におけるゼロ負荷抵抗値などを測定し,記録す

る。この最終測定値と初期測定値とを比較したとき,その変化率は,個別規格に規定する値の範囲内とす

る。

4.22 

二液槽温度急変(個別規格に規定がある場合) 

4.22.0A 

一般事項 

NTC

サーミスタの二液槽温度急変試験は,次の手順で実施する。


28

C 2570-1

:2015

注記

対応国際規格の

4.22.3

及び

4.22.4

の規定内容を

4.22.3

にまとめ直した。

4.22.1 

初期測定 

NTC

サーミスタは,個別規格に規定する適切な温度におけるゼロ負荷抵抗値などを測定し,記録する。

4.22.2 

試験 

NTC

サーミスタの二液槽温度急変試験は,次の条件で

JIS C 60068-2-14

の試験

Nc

に規定する手順によ

って実施する。

下限温度

T

A

は,カテゴリ下限温度とする。

上限温度

T

B

は,カテゴリ上限温度とする。

浸せき時間

t

1

及び移行時間

t

2

は,個別規格に規定する。

サイクル数は,

5

回,

10

回,

25

回,

50

回及び

100

回の中から選択する。

試験に用いる媒体は,個別規格に規定する。

注記

二液は,水又はオイルとすることが望ましい。

4.22.3 

最終測定及び要求事項 

NTC

サーミスタは,目視によって外観検査を実施し,その外観に損傷があってはならない。

NTC

サーミスタは,初期測定(

4.22.1

参照)と同じ温度におけるゼロ負荷抵抗値などを測定する。この

最終測定値と初期測定値とを比較したとき,その変化率は,個別規格に規定する値の範囲内とする。

4.23 

低温(耐寒性)(個別規格に規定がある場合) 

4.23.0A 

一般事項 

NTC

サーミスタの低温(耐寒性)試験は,次の手順によって実施する。

注記

対応国際規格の

4.23.2

及び

4.23.3

の規定内容を

4.23.2

にまとめ,また,

4.23.4

4.23.6

4.23.3

にまとめ直した。

4.23.1 

初期測定 

NTC

サーミスタは,個別規格に規定する適切な温度におけるゼロ負荷抵抗値などを測定し,記録する。

4.23.2 

試験 

NTC

サーミスタの低温(耐寒性)試験は,次のうちいずれかの試験方法を選択し,実施する。

a)

試験方法 1

  検知用

NTC

サーミスタの試験は,

個別規格に規定するカテゴリ下限温度の厳しさを用い,

JIS C 60068-2-1

(試験

Ab

)に規定する手順によって実施する。カテゴリ下限温度は,

表 1

の中から選

択し,試験時間は,

2

時間,

16

時間,

72

時間,

96

時間,

168

時間,

250

時間,

500

時間及び

1 000

時間

の中から選択する。

NTC

サーミスタは,試験室温度からカテゴリ下限温度までの任意温度の試験槽中に入れてもよい。

b)

試験方法 2

  その他アプリケーション用の

NTC

サーミスタの試験は,個別規格に規定するカテゴリ下

限温度の厳しさを用い,

JIS C 60068-2-1

(試験

Ad

)に規定する手順によって実施する。カテゴリ下限

温度は,

表 1

の中から選択し,試験時間は,

2

時間,

16

時間,

72

時間,

96

時間,

168

時間,

250

時間,

500

時間及び

1 000

時間の中から選択する。

4.23.3 

最終測定及び要求事項 

NTC

サーミスタは,目視によって外観検査を実施する。その外観に損傷がなく,表示は判読できなけれ

ばならない。

NTC

サーミスタは,初期測定(

4.23.1

参照)と同じ温度におけるゼロ負荷抵抗値などを測定する。この

最終測定値と初期測定値とを比較したとき,その変化率は,個別規格に規定する値の範囲内とする。

絶縁形

NTC

サーミスタの場合,その絶縁抵抗値を

4.8

に従って測定する。その測定値は,個別規格に規


29

C 2570-1

:2015

定する限度値以上とする。

4.24 

高温(耐熱性)(個別規格に規定がある場合) 

4.24.0A 

一般事項 

NTC

サーミスタの高温(耐熱性)試験は,次の手順によって実施する。

注記

対応国際規格の

4.24.2

及び

4.24.3

の規定内容を

4.24.2

にまとめ,また,

4.24.4

4.24.6

4.24.3

にまとめ直した。

4.24.1 

初期測定 

NTC

サーミスタは,個別規格に規定する適切な温度におけるゼロ負荷抵抗値などを測定し,記録する。

4.24.2 

試験 

NTC

サーミスタの高温(耐熱性)試験は,次のうちいずれかの試験方法を選択し,実施する。

a)

試験方法 1

  検知用

NTC

サーミスタの試験は,

個別規格に規定するカテゴリ上限温度の厳しさを用い,

JIS C 60068-2-2

(試験

Bb

)に規定する手順によって実施する。カテゴリ上限温度は,

表 1

の中から選

択し,試験時間は,

2

時間,

16

時間,

72

時間,

96

時間,

168

時間,

250

時間,

500

時間及び

1 000

時間

の中から選択する。

NTC

サーミスタは,試験室温度からカテゴリ上限温度までの任意温度の試験槽中に入れてもよい。

b)

試験方法 2

  検知用以外の

NTC

サーミスタ試験は,個別規格に規定するカテゴリ上限温度の厳しさを

用い,

JIS C 60068-2-2

(試験

Bd

)に規定する手順によって実施する。カテゴリ上限温度は,

表 1

の中

から選択し,試験時間は,

2

時間,

16

時間,

72

時間,

96

時間,

168

時間,

250

時間,

500

時間及び

1 000

時間の中から選択する。

4.24.3 

最終測定及び要求事項 

NTC

サーミスタは,目視によって外観検査を実施する。その外観に損傷がなく,表示は判読できなけれ

ばならない。

NTC

サーミスタは,初期測定(

4.24.1

参照)と同じ温度におけるゼロ負荷抵抗値などを測定する。この

最終測定値と初期測定値とを比較したとき,その変化率は,個別規格に規定する値の範囲内とする。

絶縁形

NTC

サーミスタの場合,その絶縁抵抗値を

4.8

の規定によって測定し,測定値は,個別規格に規

定する限度値以上とする。

4.25 

高温高湿(定常) 

4.25.0A 

一般事項 

NTC

サーミスタの高温高湿(定常)試験は,次の手順によって実施する。

注記

対応国際規格の

4.25.2

及び

4.25.3

の規定内容を

4.25.2

にまとめ,また,

4.25.5

4.25.7

4.25.4

にまとめ直した。このため,

4.25.4

4.25.3

とした。

4.25.1 

初期測定 

NTC

サーミスタは,個別規格に規定する適切な温度におけるゼロ負荷抵抗値などを測定し,記録する。

4.25.2 

試験 

NTC

サーミスタの高温高湿(定常)試験は,次のうちいずれかの試験方法を選択し,実施する。

a)

試験方法 1(非絶縁形 NTC サーミスタの場合)

非絶縁形

NTC

サーミスタ試験は,個別規格に規定す

る耐候性カテゴリの厳しさを用い,

JIS C 60068-2-78

に規定する手順によって実施する。

b)

試験方法 2(絶縁形 NTC サーミスタの場合)

絶縁形

NTC

サーミスタの試験は,

a)

に規定する試験方

1

によって実施する。ただし,個別規格に規定がある場合,最大電力消費時の電圧の

1/20

,かつ,

0.5 V

を超える直流電圧を試験中に

NTC

サーミスタの端子間に印加することが望ましい。


30

C 2570-1

:2015

なお,低抵抗

NTC

サーミスタには,この試験を適用しない。

4.25.3 

後処理 

NTC

サーミスタを,試験槽から取り出し,

4.3.2

の規定によって後処理する。

4.25.4 

最終測定及び要求事項(非絶縁形 NTC サーミスタの場合) 

NTC

サーミスタは,目視によって外観検査を実施する。その外観に損傷がなく,表示は判読できなけれ

ばならない。

NTC

サーミスタは,次の特性を測定し,満足しなければならない。

a)

非絶縁形 NTC サーミスタの場合

  初期測定(

4.25.1

参照)と同じ温度におけるゼロ負荷抵抗値などを

測定する。この最終測定値と初期測定値とを比較したとき,その変化率は,個別規格に規定する値の

範囲内とする。

b)

絶縁形 NTC サーミスタの場合

  その絶縁抵抗値は

4.8

の規定によって測定する。その測定値は,個別

規格に規定する限度値以上とする。

NTC

サーミスタは,

4.9

に規定する耐電圧試験中に絶縁破壊又は

フラッシオーバが発生してはならない。

4.26 

耐久性 

4.26.0A 

一般事項 

NTC

サーミスタの耐久性試験は,

4.26.1

4.26.5

の全て又はいずれかの試験を選択し,実施する。

4.26.1 

室温における連続最大電流 I

max25

通電での耐久性(突入電流抑制用 NTC サーミスタに適用) 

4.26.1.0A 

一般事項 

NTC

サーミスタの室温における連続最大電流

I

max25

通電での耐久性試験は,次の手順で実施する。

注記

対応国際規格の

4.26.1.2

4.26.1.6

の規定内容を

4.26.1.2

にまとめた。

このため,

4.26.1.7

4.26.1.3

とした。

4.26.1.1 

初期測定 

NTC

サーミスタは,個別規格に規定する適切な温度におけるゼロ負荷抵抗値などを測定し,記録する。

4.26.1.2 

試験 

NTC

サーミスタの室温における連続最大電流

I

max25

通電での耐久性試験は,

次の条件を用いて実施する。

a)

試験回路は,

図 13

に示す回路とする。

b) NTC

サーミスタの取付けは,個別規格に規定がない場合,

NTC

サーミスタ端子の有効長が

20 mm

25 mm

となるように実施する。また,どの

NTC

サーミスタも,その他の

NTC

サーミスタの温度に明

らかな影響を及ぼすことがないように配置する。

c)

試験温度は,

15

℃∼

35

℃とする。ただし,試験開始時の温度の±

5

℃に保持しなければならない。

d) NTC

サーミスタに流れる電流が,

I

max25

となるように調節する。

e)

試験時間は,

1 000

時間とする。ただし,

168

時間,

500

時間及び

1 000

時間後に,負荷を取り外して

中間測定するために,

NTC

サーミスタを

4.3.2

の規定によって後処理する。中間測定の後,

NTC

サー

ミスタを試験条件下に戻す。どの

NTC

サーミスタにおいても負荷の取外しから復帰までの時間間隔は

12

時間以下とする。


31

C 2570-1

:2015

E

:可変安定化交流電源

R

s

:負荷(可変抵抗器)

V

:交流電圧計

A

:交流電流計

Th

:供試 NTC サーミスタ

図 13

室温における I

max25

での耐久性評価回路 

4.26.1.3 

最終測定及び要求事項 

NTC

サーミスタは,目視によって外観検査を実施し,その外観に損傷がなく,表示が判読できなければ

ならない。初期測定(

4.26.1.1

参照)と同じ温度におけるゼロ負荷抵抗値などを測定する。この最終測定

値と初期測定値とを比較したとき,その変化率は,個別規格に規定する値の範囲内とする。

4.26.2 

室温における周期的最大電流 I

max25

通電での耐久性(突入電流抑制用 NTC サーミスタに適用) 

4.26.2.0A 

一般事項 

NTC

サーミスタの室温における周期的最大電流

I

max25

通電での耐久性試験は,次の手順で実施する。

注記

対応国際規格の

4.26.2.2

4.26.2.7

の規定内容を

4.26.2.2

にまとめた。

このため,

4.26.2.8

4.26.2.3

とした。

4.26.2.1 

初期測定 

NTC

サーミスタは,個別規格に規定する適切な温度におけるゼロ負荷抵抗値などを測定し,記録する。

4.26.2.2 

試験 

NTC

サーミスタの室温における周期的最大電流

I

max25

通電での耐久性試験は,次の条件を用いて実施す

る。

a)

試験回路は,

図 13

に示す回路とする。

b) NTC

サーミスタの取付けは,個別規格に規定がないとき,

NTC

サーミスタ端子の有効長が

20 mm

25 mm

となるように接続する。また,どの

NTC

サーミスタも,その他の

NTC

サーミスタの温度に明

らかな影響を及ぼすことがないように配置する。

NTC

サーミスタに過度の通気があってはならない。

c) NTC

サーミスタに流れる電流が,

I

max25

となるように調節する。

d)

個別規格に規定がない場合,

1

分間の

ON

5

分間の

OFF

1

サイクルとする断続的な電力負荷を

1 000

サイクル繰り返す。

試験サイクルは,

NTC

サーミスタが室温まで冷却したときに開始し,

NTC

サーミスタの消費電力が

P

max25

に達したときに終了する。

注記

これは,各サイクルが室温と,消費電力が

P

max25

になったときの温度との間の抵抗−温度特

性部分を含んでいることが望ましいことを意味している。

e) 500

サイクル及び

1 000

サイクルの後に,負荷を取り外し,

4.3.2

の規定によって

NTC

サーミスタを後

処理して,中間測定を実施する。中間測定の後,

NTC

サーミスタを試験条件下に戻す。どの

NTC

ーミスタも負荷の取外しから復帰までの時間間隔は,

12

時間以下とする。

4.26.2.3 

最終測定及び要求事項 

NTC

サーミスタは,目視によって外観検査を実施する。その外観に損傷がなく,表示は判読できなけれ

ばならない。


32

C 2570-1

:2015

NTC

サーミスタは,初期測定(

4.26.2.1

参照)と同じ温度におけるゼロ負荷抵抗値などを測定する。こ

の最終測定値と初期測定値とを比較したとき,その変化率は,個別規格に規定する値の範囲内とする。

4.26.3  T

3

及び P

max

における耐久性(突入電流抑制用 NTC サーミスタ以外の NTC サーミスタに適用) 

4.26.3.0A 

一般事項 

NTC

サーミスタの

T

3

及び

P

max

における耐久性試験は,次の手順で実施する。

注記

対応国際規格の

4.26.3.2

4.26.3.6

の規定内容を

4.26.3.2

にまとめた。また,

4.26.3.7

及び

4.26.3.8

4.26.3.3

とした。

4.26.3.1 

初期測定 

NTC

サーミスタは,個別規格に規定する適切な温度におけるゼロ負荷抵抗値などを測定し,記録する。

4.26.3.2 

試験 

NTC

サーミスタの

T

3

及び

P

max

における耐久性試験は,次の条件を用いて実施する。

a) NTC

サーミスタを試験槽内に取り付ける。ただし,

NTC

サーミスタは,試験条件下で,規定する限度

値内の温度を保てるように試験槽内に配置する。このとき,試験槽は,

JIS C 60068-2-2

(試験

Bb

)に

規定する要求事項を満足しなければならない。

b)

温度

T

3

±

2

℃(

図 2

参照)において,消費電力が

P

max

の状態で

1 000

時間試験する。

c) NTC

サーミスタを,

168

時間及び

500

時間後に,試験槽から取り出し,標準試験状態で

1

時間以上

2

時間以下の時間で後処理し,中間測定を実施する。中間測定では,初期測定(

4.26.3.1

参照)と同じ特

性パラメータを測定する。この測定結果と初期測定結果とを比較したとき,その変化率は個別規格に

規定する範囲内でなければならない。中間測定の後,

NTC

サーミスタを試験条件下に戻す。どの

NTC

サーミスタも負荷の取外しから復帰までの時間間隔は,

12

時間以下とする。

d) 1

000

時間±

48

時間後,

NTC

サーミスタを試験槽から取り出し,標準試験状態で

1

時間以上

2

時間以

下の時間で後処理する。

4.26.3.3 

最終測定及び要求事項 

試験後,

NTC

サーミスタは,目視によって外観検査を実施する。外観に損傷がなく,表示は判読できな

ければならない。

NTC

サーミスタは,初期測定(

4.26.3.1

参照)と同じ温度におけるゼロ負荷抵抗値などを測定する。こ

の最終測定値と初期測定値とを比較したとき,その変化率は,個別規格に規定する値の範囲内とする。

4.26.4 

カテゴリ上限温度における耐久性 

4.26.4.0A 

一般事項 

NTC

サーミスタのカテゴリ上限温度における耐久性試験は,次の手順で実施する。

注記

対応国際規格の

4.26.4.2

4.26.4.6

の規定内容を

4.26.4.2

にまとめた。また,

4.26.4.7

及び

4.26.4.8

4.26.4.3

とした。

4.26.4.1 

初期測定 

NTC

サーミスタは,個別規格に規定する適切な温度におけるゼロ負荷抵抗値などを測定し,記録する。

4.26.4.2 

試験 

NTC

サーミスタのカテゴリ上限温度における耐久性試験は,次の条件を用いて実施する。

a) NTC

サーミスタを試験槽内に取り付ける。ただし,

NTC

サーミスタは,試験条件下で,規定する限界

値内の温度を保てるように試験槽内に配置する。このとき,試験槽は,

JIS C 60068-2-2

(試験

Bb

)に

規定する要求事項を満足しなければならない。

b)

温度

T

3

±

2

℃(

図 2

参照)において,消費電力が

P

max

の状態で

1 000

時間試験する。


33

C 2570-1

:2015

c) NTC

サーミスタを,

168

時間及び

500

時間後に,試験槽から取り出し,標準試験状態で

1

時間以上

2

時間以下の時間で後処理し,中間測定を実施する。中間測定では,初期測定(

4.26.4.1

参照)と同じ特

性パラメータを測定する。この測定結果と初期測定結果とを比較したとき,その変化率は個別規格に

規定する範囲内でなければならない。中間測定の後,

NTC

サーミスタを試験条件下に戻す。どの

NTC

サーミスタも負荷の取外しから復帰までの時間間隔は,

12

時間以下とする。

d) 1

000

時間後,

NTC

サーミスタを試験槽から取り出し,標準試験状態で

1

時間以上

2

時間以下の時間

で後処理する。

4.26.4.3 

最終測定及び要求事項 

NTC

サーミスタは,目視によって外観検査を実施する。外観に損傷がなく,表示は判読できなければな

らない。

NTC

サーミスタは,初期測定(

4.26.4.1

参照)と同じ温度におけるゼロ負荷抵抗値などを測定する。こ

の最終測定値と初期測定値とを比較したとき,その変化率は,個別規格に規定する値の範囲内とする。

4.26.5 

最大許容コンデンサ容量(突入電流抑制用 NTC サーミスタに適用) 

4.26.5.0A 

一般事項 

NTC

サーミスタの最大許容コンデンサ容量における耐久性試験は,次の手順で実施する。

注記

対応国際規格の

4.26.5.2

及び

4.26.5.3

の規定内容を

4.26.5.2

にまとめた。また,

4.26.5.5

及び

4.26.5.6

の規定内容を

4.26.5.4

としてまとめた。このため,

4.26.5.4

4.26.5.3

とした。

4.26.5.1 

初期測定 

NTC

サーミスタは,個別規格に規定する適切な温度におけるゼロ負荷抵抗値などを測定し,記録する。

4.26.5.2 

試験 

NTC

サーミスタは,個別規格の規定によって,次の試験うちのいずれか一つを選択する。

個別規格に規定がない場合,

NTC

サーミスタ端子の有効長が

20 mm

25 mm

となるように接続する。

どの

NTC

サーミスタも,その他の

NTC

サーミスタの温度に明らかな影響を及ぼすことがないように配

置する。

NTC

サーミスタに過度の通気があってはならない。

a)

方法 1

  個別規格に規定するコンデンサ

C

T

図 14

参照)は,直列に接続した固定抵抗器と

NTC

サー

ミスタとを通じて放電させる。

充電電圧は,放電開始時に

NTC

サーミスタに印加する電圧(

U

NTC

)が

180 V

又は

375 V

となるよう

に設定する。これは

(110 V

ΔU)

×

2

又は

(230 V

ΔU)

×

2

に相当する。

15

℃∼

35

℃の周囲温度でコンデンサを

1 000

回放電させる。

試験温度は,試験開始時の温度の±

2

℃に保持しなければならない。

E

L

:直流電源

C

T

:コンデンサ

R

s

:固定抵抗器(1

Ω)

Th

:供試 NTC サーミスタ

U

NTC

  :供試 NTC サーミスタによる電圧降下

図 14

最大許容コンデンサ容量試験回路(方法 1 

b)

方法 2

  コンデンサ

C

T

図 15

参照)の静電容量が,最大許容静電容量となるようコンデンサを選択


34

C 2570-1

:2015

する。個別規格に規定がない場合,

R

P

の値は,

NTC

サーミスタのゼロ負荷抵抗値の

10

倍とする。個

別規格に規定がない場合,試験回路への負荷電圧は,

156 V

又は

325 V

とする。これは

110 V

×

2

230 V

×

2

に相当する。

15

℃∼

35

℃の周囲温度において,

50 ms

ON

,熱時定数の

5

倍に当たる時間の

OFF

1

サイク

ルとする断続的な電力負荷を

1 000

サイクル繰り返す。

電力位相は,個別規格に規定がない場合,

90

°又は

270

°に調節する。

試験温度は,試験開始時の温度の±

2

℃に保持しなければならない。

U

L

:交流電源電圧

C

T

:コンデンサ

R

P

:固定抵抗器

Th

:供試 NTC サーミスタ

図 15

最大許容コンデンサ容量試験回路(方法 2 

4.26.5.3 

中間測定 

NTC

サーミスタを,

500

サイクル及び

1 000

サイクル後,試験回路から取り外し,

4.3.2

の規定によって

後処理する。

NTC

サーミスタを,中間測定の後,試験回路に戻す。どの

NTC

サーミスタも負荷の取外しから復帰ま

での時間間隔は,

12

時間以下とする。

4.26.5.4 

最終測定及び要求事項 

NTC

サーミスタは,目視によって外観検査を実施する。外観に損傷がなく,表示は判読できなければな

らない。

NTC

サーミスタは,初期測定(

4.26.5.1

参照)と同じ温度におけるゼロ負荷抵抗値などを測定する。こ

の最終測定値と初期測定値とを比較したとき,その変化率は,個別規格に規定する値の範囲内とする。

4.27 

固着性(表面実装形 NTC サーミスタに適用) 

4.27.0A 

一般事項 

NTC

サーミスタの固着性試験は,次の手順で実施する。

注記

対応国際規格の

4.27.2

の細分箇条番号及び規定内容が重複している。このため,前者の

4.27.2

の規定内容は,

4.27.1

と同じ試験の規定内容であることもあり,

4.27.1

の中にまとめ直した。

4.27.1 

試験 

NTC

サーミスタは,

JIS C 60068-2-21

8.2

(試験

Ue

の概要)及び

8.3

(取付け)の規定によって,プリ

ント配線板に取り付ける。

NTC

サーミスタの固着性試験は,

JIS C 60068-2-21

の試験

Ue

3

の規定によるほか,次によって実施する。

NTC

サーミスタの本体に,衝撃のないよう徐々に力を加え,

5 N

の力で

10

秒±

1

秒間保持する。

4.27.2 

最終検査及び要求事項 

取付状態の表面実装形

NTC

サーミスタは,目視によって外観検査を実施する。外観に損傷があってはな


35

C 2570-1

:2015

らない。

4.28 

耐プリント板曲げ性(表面実装形 NTC サーミスタに適用) 

4.28.0A 

一般事項 

NTC

サーミスタの耐プリント板曲げ性試験は,次の手順で実施する。

注記

対応国際規格の

4.28.1

及び

4.28.2

の規定内容を

4.28.1

にまとめた。また,

4.28.3

及び

4.28.4

4.28.2

とした。このため,

4.28.5

4.28.3

とした。また,最後の

4.28.1

は細分箇条の番号振りの

誤りであるため,

4.28.4

と修正した。

4.28.1 

取付け及び初期測定 

NTC

サーミスタは,

JIS C 60068-2-21

8.2

(試験

Ue

の概要)及び

8.3

(取付け)の規定によって,プリ

ント配線板に取り付ける。

NTC

サーミスタのゼロ負荷抵抗値は,

4.6

及び品種別通則の規定に従って測定する。

4.28.2 

試験 

NTC

サーミスタは,

JIS C 60068-2-21

の試験

Ue

の規定によるほか,曲げ深さ及び曲げの回数について個

別規格に規定する試験条件で試験する。

試験中,表面実装形

NTC

サーミスタのゼロ負荷抵抗値は,プリント配線板を曲げた状態で

4.28.1

の規定

によって測定する。抵抗値の変化は,個別規格に規定する範囲内でなければならない。

4.28.3 

後処理 

NTC

サーミスタは,プリント配線板を曲げられた状態から元の状態に戻し,試験ジグから取り外す。

4.28.4 

最終検査及び要求事項 

NTC

サーミスタは,目視によって外観検査を実施する。その外観に損傷があってはならない。

注記

表面実装形

NTC

サーミスタのゼロ負荷抵抗値を,曲げ試験中に測定(

4.28.2

参照)する代わり

に,最終検査として測定する方法がある。

4.29 

部品の耐溶剤性 

4.29.0A 

一般事項 

NTC

サーミスタの部品の耐溶剤性試験は,次の手順で実施する。

4.29.1 

初期測定 

NTC

サーミスタは,個別規格に規定する測定を実施する。

4.29.2 

試験 

NTC

サーミスタの試験を,次の条件の下,

JIS C 60068-2-45

の規定によって実施する。

a)

溶剤:

JIS C 60068-2-45

3.1.2

2-

プロパノール(イソプロピルアルコール)

]の規定による。

b)

溶剤の温度:

 23

℃±

5

℃(個別規格に規定がない場合)

c)

条件:

方法

2

(ラビングを伴わない)

d)

後処理時間:

 48

時間(個別規格に規定がない場合)

4.29.3 

最終測定及び要求事項 

NTC

サーミスタは,個別規格に規定する測定を行い,個別規格に規定する要求事項を満足しなければな

らない。

4.30 

表示の耐溶剤性 

4.30.0A 

一般事項 

NTC

サーミスタの表示の耐溶剤性試験は,次の手順で実施する。


36

C 2570-1

:2015

4.30.1 

試験 

NTC

サーミスタの試験は,次の条件の下,

JIS C 60068-2-45

の規定によって実施する。

a)

溶剤:

JIS C 60068-2-45

3.1.2

2-

プロパノール(イソプロピルアルコール)

]の規定による。

b)

溶剤の温度:

 23

℃±

5

c)

条件:

方法

1

(ラビングを伴う)

d)

こする材料:

ラビング材料

e)

後処理時間:

適用しない(個別規格に規定がない場合)

4.30.2 

最終測定及び要求事項 

NTC

サーミスタは,目視によって外観検査を実施する。表示は判読できなければならない。

4.31 

塩水噴霧(個別規格に規定がある場合) 

4.31.0A 

一般事項 

NTC

サーミスタの塩水噴霧試験は,次の手順で実施する。

注記

対応国際規格の

4.31.1

及び

4.31.2

の規定内容を

4.31.1

にまとめた。

4.31.1 

試験 

NTC

サーミスタの塩水噴霧試験は,次のうちいずれかの試験方法を選択し,実施する。

a)

試験方法 1

  塩分を含む雰囲気中での使用に耐えられるように設計されている

NTC

サーミスタの試験

は,

JIS C 60068-2-52

の規定によって実施する。

b)

試験方法 2

  保護皮膜の品質及び適合性を評価するために,

NTC

サーミスタの試験を,

JIS C 

60068-2-11

の規定によって実施する。

4.32 

封止(個別規格に規定がある場合) 

NTC

サーミスタの封止試験は,

JIS C 60068-2-17

の試験

Q

に規定する適切な方法の手順によって実施す

る。

4.33 

温湿度組合せ(サイクル)(個別規格に規定がある場合) 

4.33.0A 

一般事項 

NTC

サーミスタの温湿度組合せ(サイクル)試験は,次の手順で実施する。

注記

対応国際規格の

4.33.3

4.33.5

の規定内容を

4.33.3

にまとめた。

4.33.1 

初期測定 

NTC

サーミスタは,個別規格に規定する適切な温度におけるゼロ負荷抵抗値などを測定し,記録する。

4.33.2 

試験 

NTC

サーミスタの温湿度組合せ(サイクル)試験は,個別規格に規定する試験の厳しさを用い,

JIS C 

60068-2-38

の試験

Z/AD

に規定する手順によって実施する。

4.33.3 

最終測定及び要求事項 

NTC

サーミスタは,目視によって外観検査を実施する。外観に損傷があってはならない。

NTC

サーミスタは,初期測定(

4.33.1

参照)と同じ温度におけるゼロ負荷抵抗値などを測定する。この

最終測定値と初期測定値とを比較したとき,その変化率は,個別規格に規定する値の範囲内とする。ただ

し,絶縁形

NTC

サーミスタの場合,絶縁抵抗値の測定は,

4.8

の規定によって実施し,個別規格に規定す

る値以上とする。


37

C 2570-1

:2015

附属書 A

(参考)

IEC

電子部品品質認証制度(IECQ)などに用いる場合の

IEC 60410

の抜取計画及び手順の説明

この規格において,計数値検査として,

IEC 60410

を用いる場合,次に示す箇条及び細分箇条の解釈を

適用する。

責任及び権威がある(

Responsible authority

)のは,基本規則(

IEC QC 001001

)及び施工規則(

IEC 

QC 001002

)に規定する国の代表機関(

National authorized institution

)である。

1.5

製品の単位(

The unit of product

)は,個別規格に規定する電子部品の単位とする。

2

この箇条は,次の二つの定義を適用する。

欠点(

defect

)とは,製品の単位が規定する要求事項に不適合の場合をいう。

不適合品(

defective

)とは,一つ以上の不適合を含む製品の単位をいう。

3.1

製品の不適合の程度は,不適合品の割合を百分率(パーセント)で表す。

3.3

適用しない。

4.5

責任及び権限は,品目別通則(

Generic specification

)又は品種別通則(

Sectional specification

)の

一部を構成するブランク個別規格を作成する

IEC

技術委員会(

TC

)にある。

5.4

責任及び権限は,認定製造業者の検査部門が規定し,国内監督検査機関(

National supervising

inspectorate

)が承認した手順に従って行動する。認定製造業者の責任及び権限は,製造業者の品

質保証責任者にある。

6.2

責任及び権限は,製造業者の品質保証責任者にある。

6.3

適用しない。

6.4

責任及び権限は,製造業者の品質保証責任者にある。

8.1

なみ検査(

Normal inspection

)は,検査を初めて実施する場合に適用する。

8.3.3 d)

責任及び権限は,製造業者の品質保証責任者にある。

8.4

責任及び権限は,国内監督検査機関にある。

9.2

責任及び権限は,品目別通則(

Generic specification

)又は品種別通則(

Sectional specification

)の

一部を構成するブランク個別規格を作成する

IEC

技術委員会(

TC

)にある。

9.4

(第

4

の文だけ)適用しない。

(第

5

の文だけ)責任及び権限は,製造業者の品質保証責任者にある。

10.2

適用しない。


38

C 2570-1

:2015

附属書 B

(規定)

電子機器用コンデンサ及び抵抗器のための個別規格を用意するための規則

[対応国際規格では,この附属書で,

IEC

TC40

Technical Committee No.40

電子機器用コンデンサ及

び抵抗器)が個別規格を作成するための規則を規定しているが,この規格では不用のため,不採用とした。


39

C 2570-1

:2015

附属書 C 
(参考)

直熱形 NTC サーミスタの測定のための取付方法

C.1 

表面実装形 NTC サーミスタの取付け 

表面実装形

NTC

サーミスタは,

図 C.1

に示すパターンの

1.6 mm

±

0.19 mm

厚のガラス布基材エポキシ

樹脂のプリント配線板に取り付ける。

はんだ付けのランド寸法

D

L

及び

W

は,個別規格に規定する。電極は片面又は両面のどちらでもよい。

単位  mm

a)

  この導体は省略するか又は電極保護として用いてもよい。

図 C.1

表面実装形 NTC サーミスタの取付け 


40

C 2570-1

:2015

附属書 Q 
(規定)

IEC

電子部品品質認証制度(IECQ)に用いる場合の品質評価手順

Q.1 

一般事項 

この規格及び関連規格を,

IEC

電子部品品質認証制度(

IECQ

)などの総合的な品質評価制度に用いる

場合,

Q.4

及び

Q.5

に規定する事項を適用する。

これらの規格において,設計審査又は形式試験を

IEC

電子部品品質認証制度(

IECQ

)などの品質評価

制度に適用しない場合,

Q.4.1

及び

Q.4.2 b)

に規定する要求事項を用いてもよい。ただし,試験の全て及び

一部は,試験計画に示す順に実施する。

Q.2 

製造の初期工程 

製造の初期工程は,材料の初期混合工程と定義する。

Q.3 

構造的に類似な NTC サーミスタ 

次の要求事項を満足する

NTC

サーミスタは,検査ロットの構成として,構造的に類似なグループに分類

してもよい。

本質的に同じ設計,材料,工程及び工法によって,同じ製造業者が同じ場所で生産する。

抜取サンプルは,グループ分け品の総ロットから抜き取る。

構造的に類似な

NTC

サーミスタは,同一の個別規格によることが望ましい。構造的類似に関する全て

の要求事項の詳細は,品質認証試験報告書に記載する。

Q.3.1 

電気的試験の場合 

電気的特性が同じ

NTC

サーミスタは,その特性を決定付ける要素が全て類似する場合,グループ化して

もよい。

Q.3.2 

環境試験の場合 

封止構造,基本的内部構造及び最終工程が同じ

NTC

サーミスタはグループ化してもよい。

Q.3.3 

目視検査(表示を除く。)の場合 

同じ製造工程で製造し,

かつ,

寸法,

封止構造及び外観が同じ

NTC

サーミスタはグループ化してもよい。

このグループ化は,異なる内部構造の

NTC

サーミスタのグループ化が望ましい場合,端子強度試験及び

はんだ付け性試験に用いてもよい。

Q.3.4 

耐久性試験の場合 

同じ設計を用いて,同じ製造工程で製造した

NTC

サーミスタである場合,電気的特性だけが異なってい

ても,グループ化してよい。同じグループ内にある形式が,その他の形式に比べて負荷が大きいことが明

らかな場合,この形式の試験結果をグループ内のその他の形式の試験結果としてもよい。

Q.4 

品質認証手順 

Q.4.1

製造業者は,次の規定を適用する。

a)

品質認証に関する

IEC QC 001002-3:2005

3.

の一般要求事項

b)

製造の初期工程に関する要求事項(

Q.2

参照)


41

C 2570-1

:2015

Q.4.2  Q.4.1

に規定する要求事項に加え,次の手順

a)

又は

b)

の手順を適用する。

a)

製造業者は,定期的検査のための一つの検査ロット及びロットごとの検査のためにできるだけ短期間

で抜き取った三つの検査ロットによって,規定する要求事項に適合する試験証明書を作成する。

抜取サンプルは,

IEC 60410

附属書 A

参照)又は

JIS C 5005-2

に従って抜き取る。検査は,なみ

検査を適用する。規定するサンプル数で合格判定数がゼロとなる場合,合格判定数が

1

個となるよう

に試料数を増加する。

b)

製造業者は上記

a)

の手順の代わりとして,品種別通則に規定する定数抜取りの試験計画として,規定

する要求事項に適合する試験の成績証明書を作成してもよい。

抜取サンプルとなる試料は,製造工程からの無作為による方法又は国内監督検査機関(

National

Supervising Inspectorate

)の認証を受けた方法で抜き取る。

上記二つの手順におけるサンプル数及び合格判定数は,同水準とする。試験条件及び要求事項は,同じ

とする。

Q.4.3

品質評価制度の一部としての品質認証は,品質確認(

Q.5

参照)に規定する要求事項に適合するこ

とを定期的に証明する。そうでない場合,この品質認証は,

IEC QC 001002-3:2005

3.1.7

に規定する品

質認証維持規則によって証明する。

Q.5 

品質確認 

品種別通則に関連するブランク個別規格は,品質確認検査の試験計画を規定する。試験計画には,グル

ープ分け,抜取り並びにロットごとの検査及び定期検査の周期を規定する。

検査水準及び抜取り計画は,

IEC 60410

又は

JIS C 5005-2

から選択する。必要がある場合,二つ以上の

試験計画を規定してもよい。

Q.6 

出荷ロット成績証明書 

購入者が出荷ロット成績証明書を要求する場合,出荷ロット成績証明書の内容を個別規格に規定する。

Q.7 

長期保管後の出荷 

2

年間を超えて保管(品種別通則に保管期間の規定がない場合)した

NTC

サーミスタは,出荷前に,品

種別通則の規定に従って再検査する。製造業者の管理責任者が採用する再検査の手順は,国内監督検査機

関の承認を得る。

Q.8 

群 検査完了前の品質認証中の出荷 

全ての群

B

検査が,

IEC 60410

又は

JIS C 5005-2

の緩い検査への移行の条件に適合する場合,製造業者

は,この試験完了前に

NTC

サーミスタを出荷してもよい。

Q.9 

代替試験方法 

詳細については,

IEC QC 001002-3:2005

3.2.3.7

によるほか,次による。

判定及び基準について疑義がある場合,規定する方法だけを用いる。

Q.10 

検査をしないパラメータ 

個別規格に規定があって,試験の対象になった

NTC

サーミスタのパラメータだけが,規定範囲内にある


42

C 2570-1

:2015

とみなす。

規定しないパラメータは,ある

NTC

サーミスタと別の

NTC

サーミスタとの間で一定であるとみなすこ

とができない。

どのような理由であっても,管理するパラメータを追加する必要がある場合には,新規かつより広範囲

の規格を用いる。

追加する試験方法は,適切な規定値,抜取検査方式及び検査水準を詳細に規定する。


43

C 2570-1

:2015

附属書 JA

(参考)

直熱形 NTC サーミスタの図記号

直熱形

NTC

サーミスタの図記号を,次に示す。

NTC

N

TC


44

C 2570-1

:2015

附属書 JB

(参考)

JIS

と対応国際規格との対比表

JIS C 2570-1:2015

  直熱形 NTC サーミスタ−第 1 部:品目別通則

IEC 60539-1:2008

,Directly heated negative temperature coefficient thermistors−Part 1:

Generic specification

(I)JIS の規定

(II) 
国際

規格

番号

(III)国際規格の規定

(IV)JIS と国際規格との技術的差異の箇条ごとの
評価及びその内容

(V)JIS と国際規格との技術的差
異の理由及び今後の対策

箇条番号

及び題名

内容

箇条

番号

内容

箇条ごと

の評価

技術的差異の内容

2.2.28

電力軽減曲線の用語の定

 2.2.28

JIS

とほぼ同じ

追加

図 2 の用語“T

R

T

1

”などを明確に

した。

IEC

への提案を先取りした。

2.2.31

周囲温度 25  ℃における
最大電流の用語の定義

 2.2.31

JIS

とほぼ同じ

変更

図 3 b)の,最大電流軽減曲線の T

3

から

T

4

までを曲線とした。また,用語“T

R

T

1

”などを明確にした。

IEC

の図の誤りと思われる。修正

の提案を検討する。

2.2.33

熱放散定数の用語の定義

2.2.33

JIS

とほぼ同じ

追加

一般的な事例を追加した。

分かりやすくした。

2.3

推奨値及び耐候性カテゴ

 2.3

推奨値

変更

規定の内容が,推奨値と耐候性カテゴ

リの両方が記載されており,標題のタ
イトルを変更した。

明確にすることで分かりやすくし

た。IEC へ提案する。

2.3.0A

推奨値

追加

推奨値に関する記載のある箇所を独

立させ,2.3.0A 推奨値を追加した。

明確にすることで分かりやすくし

た。IEC へ提案する。

2.4.1 NTC サーミスタの表示に

おける一般事項

 2.4.1

JIS

とほぼ同じ

変更

表示場所がある場合だけ表示すると

明確にした。

小形が進み表示ができなくなる場

合があるため IEC へ提案する。

2.4.2

表面実装形などの小形の
NTC サーミスタの場合

 2.4.2

JIS

とほぼ同じ

追加

標題を追加した。

IEC

への提案を先取りした。

3

3

品質評価手順

変更

対応国際規格の箇条 3 の内容を,附属

書 Q に規定として移動した。

対 応 国 際 規 格 の 品 質 認 証 制 度

(IECQ)を用いる場合に適用する

ことを明記した。

4.1

試験及び測定手順の一般
事項

 4.1

JIS

とほぼ同じ

追加

対応国際規格の箇条 4 において細分
箇条に標題のない箇所があったため

標題を追加した。

IEC

への提案を先取りした。

44

C

 257

0-1


20
15


45

C 2570-1

:2015

(I)JIS の規定

(II) 
国際

規格

番号

(III)国際規格の規定

(IV)JIS と国際規格との技術的差異の箇条ごとの
評価及びその内容

(V)JIS と国際規格との技術的差
異の理由及び今後の対策

箇条番号

及び題名

内容

箇条

番号

内容

箇条ごと

の評価

技術的差異の内容

4.4.1

取付けの一般事項

4.4.1

JIS

とほぼ同じ

変更

追加

文章構成の変更及び内容を追加した

(以下,同様の変更をした。

IEC

への提案を先取りした。

規格使用者の利便性を考慮し,追
加。技術的差異はない(以下,同

様の変更をした。

4.8.1

絶縁抵抗値の一般事項

4.8.1 JIS とほぼ同じ

変更

追加

2006 年版で参考としていた内容を本
文へ追加した。 
項番のずれを修正した。

IEC

への提案を先取りした。

規格使用者の利便性を考慮し,追
加。技術的差異はない。

4.8.2 b)

測定方法 2

4.8.2

JIS

とほぼ同じ

削除

食塩水に関する記載を削除した。

食塩水を用いることはほぼないた

め,削除した。併せて,IEC に修

正の提案を検討する。

図 6 及び図 7

変更

図 6 及び図 7 では,それぞれの測定方
法の例図を修正した。

IEC

の例図の誤りと思われる。

IEC

に修正の提案を検討する。技

術的差異はない。

4.19

4.19

バンプに関する要求

事項

削除 4.20 に統合したため,4.19 の規定内容

を削除した。

4.19 で 引 用 さ れ て い る JIS C 
60068-2-29

が廃止されたため,こ

の規格でも 4.20 と統合した。

4.22

二液槽温度急変

4.22

JIS

とほぼ同じ

変更

二液槽温度急変を採用した。

用語の変更であり技術的差異はな

い。

4.23.2 
4.24.2

低温試験及び高温試験に

ついて

 4.23.2

4.24.2

JIS

とほぼ同じ

変更

対応国際規格で引用している試験 Aa

を試験 Ab に,試験 Ba を試験 Bb に,
試験 Bc を試験 Bd にそれぞれ変更し

た。

技術的差異はないが,試験番号が

変更されているため,IEC に修正
の提案を検討する。

4.27

固着性

4.27

JIS

とほぼ同じ

変更

表面実装形 NTC サーミスタに限定し

た。

他 の 形 状 に 適 用 し な い よ う に し

た。

4.28

耐プリント板曲げ性   4.28

JIS

とほぼ同じ

変更 4.27 と同じ 4.27 と同じ

4.28.4

耐プリント板曲げ性の最
終検査及び要求事項

 4.28.1

JIS

とほぼ同じ

変更

ゼロ負荷抵抗の測定方法について注
記として追加した。また,対応国際規

格の 4.28.1 は 2 か所あり,明らかに誤

記であるため修正した。

規格使用者の利便性を考慮し,追
加。技術的差異はない。

対応国際規格の誤記訂正。IEC 

修正の提案を検討する。

45

C

 257

0-1


20
15


46

C 2570-1

:2015

(I)JIS の規定

(II) 
国際

規格

番号

(III)国際規格の規定

(IV)JIS と国際規格との技術的差異の箇条ごとの
評価及びその内容

(V)JIS と国際規格との技術的差
異の理由及び今後の対策

箇条番号

及び題名

内容

箇条

番号

内容

箇条ごと

の評価

技術的差異の内容

附属書 A

(参考)

IEC

電子部品品質認証制

度(IECQ)などに用いる
場合の IEC 60410 の抜取

計画及び手順の説明

附 属

書 A

(規定)

JIS

とほぼ同じ

変更

規定を参考とした。

この規格として IEC 60410 を引用

しないため,規定を参考とした。

附属書 B

(規定)

附 属

書 B

(規定)

電子機器用コンデン

サ及び抵抗器のため
の個別規格を用意す

るための規則

削除

対応国際規格の附属書 B は,この規格

では不用のため不採用とし,本文を削
除した。

IEC/TC 40

を引用しているが,こ

の規格では引用しないため,本文
を削除した。

附属書 Q

(規定)

IEC

電子部品品質認証制

度(IECQ)に用いる場合
の品質評価手順

追加

対応国際規格の附属書 B の代わりに

附属書 Q を追加した。

IEC

への提案を先取りした。

附属書 JA

(参考)

直熱形 NTC サーミスタ

の図記号

追加

我が国で使用している図記号を追加

した。

我が国で使用している図記号を追

加した。

JIS

と国際規格との対応の程度の全体評価:IEC 60539-1:2008,MOD

注記 1

箇条ごとの評価欄の用語の意味は,次による。

−  削除  国際規格の規定項目又は規定内容を削除している。

−  追加  国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。

−  変更  国際規格の規定内容を変更している。

注記 2

JIS

と国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は,次による。

−  MOD  国際規格を修正している。

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C

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