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C 2151

:2006

(1) 

まえがき

この規格は,工業標準化法第 14 条によって準用する第 12 条第 1 項の規定に基づき,電気機能材料工業

会(JEIA)/財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格を改正すべきとの申出が

あり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工業規格である。これによって,

JIS C 2151:1990

は改正され,この規格に置き換えられる。

改正に当たっては,日本工業規格と国際規格との対比,国際規格に一致した日本工業規格の作成及び日

本工業規格を基礎にした国際規格原案の提案を容易にするために,IEC 60674-2:1988,Specification for

plastic films for electrical purposes

−Part 2: Methods of test を基礎として用いた。

この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に

抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許

権,出願公開後の特許出願,実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に係る確認について,責任は

もたない。

JIS C 2151

には,次に示す附属書がある。

附属書 1(参考)摩擦係数の試験方法

附属書 2(参考)表面抵抗及び体積抵抗率の試験方法

附属書 3(参考)JIS と対応する国際規格との対比表


目  次

ページ

序文

1

1.

  適用範囲

1

2.

  引用規格

1

3.

  試験に関する一般注意事項

2

4.

  厚さ

3

4.1

  マイクロメータ法

3

4.2

  質量法

3

4.3

  ロールの平均質量法

3

5.

  密度

3

6.

  幅

3

7.

  巻取り性(曲がり及びたるみ)

3

7.1

  原理

3

7.2

  はじめに

3

7.3

  

3

7.4

  

6

8.

  摩擦係数

7

9.

  ぬれ張力(ポリオレフィンフィルム)

7

9.1

  原理及び注意事項

7

9.2

  器具

7

9.3

  混合試薬

7

9.4

  試験片

8

9.5

  測定条件

8

9.6

  手順

8

9.7

  評価

9

9.8

  結果

9

10.

  引張特性

9

10.1

  試験片

9

10.2

  試験速度

9

10.3

  結果

9

11.

  端裂抵抗

9

11.1

  

9

11.2

  

9

12.

  引裂抵抗

10

13.

  フィルムの剛性

10

14.

  表面抵抗

11


C 2151

:2006  目次

(3) 

ページ

15.

  体積抵抗率

11

15.1

  法:電極法

11

15.2

  法:巻回式コンデンサ法,又は 法では測定できない薄いフィルム用の方法

11

16.

  誘電正接及び誘電率

12

16.1

  

12

16.2

  

15

17.

  絶縁破壊の強さ

15

17.1

  交流試験

15

17.2

  直流試験

15

18.

  電気的欠陥

16

18.1

  法(長尺で幅が狭いフィルムの試験)

16

18.2

  法(幅が広いフィルムの試験)

17

18.3

  法(ロール状フィルムの試験)

18

18.4

  法(ローラ電極ギャップ法)

19

19.

  表面放電による耐絶縁破壊

20

20.

  電解腐食

20

21.

  寸法変化

20

21.1

  試験片

20

21.2

  手順

21

21.3

  結果

21

22.

  張力下昇温寸法安定性

21

22.1

  試験片

21

22.2

  手順

21

22.3

  結果

21

23.

  圧力下昇温寸法安定性

21

23.1

  装置及び器具

21

23.2

  試験片

21

23.3

  手順

21

23.4

  結果

22

24.

  昇温貫通抵抗

22

25.

  揮発分(加熱減量)

22

25.1

  試験片

22

25.2

  手順

22

25.3

  結果

22

26.

  熱的耐久性

22

27.

  燃焼性

22

27.1

  装置

22

27.2

  試験片

23

27.3

  前処理条件

23


C 2151

:2006  目次

ページ

27.4

  手順

23

27.5

  結果の判定

24

28.

  湿潤雰囲気での水分の吸収

24

28.1

  装置

24

28.2

  試験片

24

28.3

  手順

24

28.4

  結果

24

29.

  液体の吸収

24

29.1

  原理

24

29.2

  装置

25

29.3

  試験片

25

29.4

  手順

25

29.5

  計算

25

29.6

  結果

25

30.

  イオン性不純物

25

31.

  絶縁ワニスの影響

26

31.1

  手順

26

31.2

  結果

26

32.

  液状の重合性樹脂混和物の影響

26

32.1

  手順

26

32.2

  結果

26

附属書 1(参考)摩擦係数の試験方法

27

附属書 2(参考)表面抵抗及び体積抵抗率の試験方法

30

附属書 3(参考)JIS と対応する国際規格との対比表

36

 


日本工業規格

JIS

 C

2151

:2006

電気用プラスチックフィルム試験方法

Testing methods of plastic films for electrical purposes

序文  この規格は,1988 年に第 1 版として発行された IEC 60674-2,Specification for plastic films for electrical

purposes

−Part 2: Methods of test 及び Amendment 1(2001)を翻訳し,技術的内容を変更して作成した日本工

業規格である。ただし,追補(Amendment)については,編集し,一体とした。

なお,この規格で側線又は点線の下線を施してある箇所は,原国際規格を変更した事項である。変更の

一覧表をその説明を付けて,

附属書 3(参考)に示す。

1.

適用範囲  この規格は,電気機器,電子機器,電線,その他一般の電気絶縁,コンデンサなどに用い

られる電気用プラスチックフィルム(以下,フィルムという。

)の試験方法について規定する。

備考  この規格の対応国際規格を,次に示す。

なお,対応の程度を表す記号は,ISO/IEC Guide 21 に基づき,IDT(一致している)

,MOD

(修正している)

,NEQ(同等でない)とする。

IEC 60674-2:1988

,Specification for plastic films for electrical purposes−Part 2: Methods of test 及び

Amendment 1(2001) (MOD)

2.

引用規格  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成す

る。これらの引用規格のうちで,発行年を付記してあるものは,記載の年の版だけがこの規格の規定を構

成するものであって,その後の改正版・追補には適用しない。発効年又は発行年を付記していない引用規

格は,その最新版(追補を含む。

)を適用する。

JIS C 2107

  電気絶縁用粘着テープ試験方法

備考  IEC 60454-2:1994  Specification for pressure-sensitive adhesive tapes for electrical purposes−Part

2: Methods of test

からの引用事項は,この規格の該当事項と同等である。

JIS C 2110

  固体電気絶縁材料の絶縁耐力の試験方法

備考   IEC 60243:1967  Recommended methods of test for electric strength of solid insulating materials at

power frequencies

からの引用事項は,この規格の該当事項と同等である。

JIS C 2120

  電気絶縁用ワニスクロス類試験方法

備考  IEC 60394-2:1972  Varnished fabrics for electrical purposes−Part 2: Methods of test からの引用

事項は,この規格の該当事項と同等である。

JIS K 7112

  プラスチック−非発泡プラスチックの密度及び比重の測定方法

備考  ISO 1183:1987  Plastics−Methods of determining the density and relative density of non-cellular

plastics

からの引用事項は,この規格の該当事項と同等である。

JIS K 7127

  プラスチック−引張特性の試験方法−第 3 部:フィルム及びシートの試験条件


2

C 2151

:2006

備考  ISO 527-3:1995  Plastics−Determination of tensile properties−Part 3: Test conditions for films

and sheets

が,この規格と一致している。

JIS K 7128-1

  プラスチック−フィルム及びシートの引裂強さ試験方法−第 1 部:トラウザー引裂法

備考  ISO 6383-1:1983  Plastics−Film and sheeting−Determination of tear resistance−Part 1: Trouser

tear method

が,この規格と一致している。

JIS K 7128-2

  プラスチック−フィルム及びシートの引裂強さ試験−第 2 部:エルメンドルフ引裂法

備考  ISO 6383-2:1983   Plastics − Film and sheeting − Determination of tear resistance − Part 2:

Elmendorf method

が,この規格と一致している。

JIS K 7130

  プラスチック−フィルム及びシート−厚さ測定方法

備考  JIS K 7130  プラスチック−フィルム及びシート−厚さ測定方法の 3.(機械的走査による厚

さの測定方法  A 法)

4.(試料の質量法による厚さの試験方法 B1 法)及び 5.(ロール製品

の質量法による平均厚さ及びイールドの測定方法 B2 法)の項目は,次の国際規格の各項目

とそれぞれ同等である。

ISO 4591:1992

  Plastics−Film and sheeting−Determination of average thickness of sample and

average thickness and yield of a roll, by gravimetric techniques (gravimetric thickness)

ISO 4593:1993

  Plastics−Film and sheeting−Determination of thickness by mechanical scanning

IEC 60093:1980

  Methods of test for volume resistivity and surface resistivity of solid electrical insulating

materials

IEC 60212:1971

  Standard conditions for use prior to and during the testing of solid electrical insulating

materials

IEC 60216-1:2001

  Electrical insulating materials − Properties of thermal endurance − Part 1: Ageing

procedures and evaluation of test results

IEC 60216-2:1990

  Guide for the determination of thermal endurance properties of electrical insulating

materials

−Part 2: Choice of criteria

IEC 60250:1969

  Recommended methods for the determination of the permittivity and dielectric dissipation

factor of electrical insulating materials at power, audio and radio frequencies including metre wavelengths

IEC 60343:1991

  Recommended test methods for determining the relative resistance of insulating materials to

breakdown by surface discharges

IEC 60426:1973

  Test methods for determining electrolytic corrosion with insulating materials

IEC 60589:1977

  Methods of test for the determination of ionic impurities in electrical insulating materials by

extraction with liquids

IEC 60648:1979

  Method of test for coefficients of friction of plastic film and sheeting for use as electrical

insulation

IEC 60674-3

  Plastic films for electrical purposes−Part 3: Specifications for individual materials

ISO 4592:1992

  Plastics−Film and sheeting−Determination of length and width

3.

試験に関する一般注意事項

3.1

試験片を採取する前に,試験をするロールから少なくとも最初の 3 層のフィルムを切り捨てる。

3.2

試験片を採取する前に,試料ロールは,温度 23  ℃±2 K で相対湿度(50±5)%の標準雰囲気に 24

時間以上置く。特に規定がない場合,試験片は,これと同じ標準雰囲気中で 1 時間調整した後試験する。


3

C 2151

:2006

4.

厚さ  厚さの測定方法は,IEC 60674-3 の各シート又は個別材料規格の規定に従って,次のいずれか

による。

4.1

マイクロメータ法  機械的走査による厚さの測定は,次による。

4.1.1

原理  この方法は,精密マイクロメータを用いて 1 枚ものの試験片の厚さを測定する JIS K 7130

の A 法を基にしている。

4.1.2

試験片及び測定位置  試験片は,試料の幅方向から,幅約 100 mm の細長い試験片を 3 枚切り取る。

試験片は,しわ又は他の欠点があってはならない。

厚さは,測定面が平面又は球面のマイクロメータを用い,JIS K 7130 の A 法によって測定する。

測定箇所は,試験片の長さ方向にほぼ等間隔に 9 点とする。幅が 300 mm 以下の試験片の場合は,試験

片の長さ方向に沿って 50 mm 間隔で測定する。トリミングをしていないロールでは,縁から 50 mm 以内

の値を読んではならない。

4.1.3

結果  厚さは,各試験片についてすべての測定値の中央値,最大値及び最小値を報告する。

4.2

質量法  試料の質量法による厚さの測定は,JIS K 7130 の B1 法による。平均厚さは,質量,面積及

び密度から計算によって求める。

4.3

ロールの平均質量法  ロールの平均質量法による厚さの測定は,JIS K 7130 の B2 法による。平均厚

さは,ロールの長さ,平均幅及び正味質量の測定値並びにフィルムの密度から計算によって求める。

5.

密度  密度の測定方法は,JIS K 7112 による。特別な方法は,IEC 60674-3 の各シート又は個別材料

規格の規定による。

6.

幅  幅の求め方は,長さ 5 m の試料を用いるほかは,ISO 4592 による。フィルムを 1 時間置いた後,

長さに沿って等間隔に 5 か所の幅を測定する。

測定した各幅を記録し,フィルムの幅として中央値を報告する。

7.

巻取り性(曲がり及びたるみ)

7.1

原理  巻取り性は,ロール状で供給するフィルムに現れた“ゆが(歪)み”で評価する。フィルム

には,適切な巻取り性を損なう可能性があるゆがみが次の二つの形で現れる。

a)

“曲がり”を示すフィルムは,フィルムエッジが真っすぐではない(

図 参照)。

b)

“たるみ”をもつフィルムは,フィルムを引っ張ったとき,フィルムの一部分がその範囲の通常のフ

ィルムのレベル以下にたるむ(

図 及び図 参照)。

参考  曲がり及びたるみの用語については,JIS C 2150 も参照。

7.2

はじめに  曲がり及びたるみの測定法は,法及び 法の二つの方法を規定する。

A

法は,ゆがみが主として曲がりとして現れる 150 mm 以下の幅の狭いフィルムに適している。また,

この方法は,B 法で測定した場合に,フィルムを伸ばすのに非常に大きい張力が必要となるような厚いフ

ィルムのたるみの測定に適している。

B

法は,ゆがみが主にたるみであることが明らかな 150 mm 以上の幅の広いフィルムに適している。

7.3

A

7.3.1

原理  曲がりの評価は,ある一定の長さのフィルムを巻き戻して平面上に置き,そのフィルムの両

エッジについて直線からの偏差をそれぞれ測定する(

図 参照)。

たるみの評価は,ある一定の長さのフィルムを巻き戻し,規定の条件の下で 2 本の平行な棒に直角方向


4

C 2151

:2006

に載せ,均一な懸垂線からの偏差を測定する(

図 参照)。たるみの評価のための装置として巻取機のロー

ラを用いることができるが,結果に疑義がある場合は,7.3.3.1 に規定する装置を用いる。

単位  mm

  1  曲がりの測定

単位  mm

  2  たるみの測定

7.3.2

曲がりの測定

7.3.2.1

装置  装置は,次による。

a)

テーブル  幅が試験するフィルムの最大幅より十分大きく,長さが 1 500 mm±15 mm で,両端の平行

度が 0.1  度以内(又は,テーブルの幅 1 m 当たり 1.8 mm 以内)のもの。適切な材質で表面をなし(梨)

地仕上げをした(研磨仕上げをしていない)平らで水平なもの。

テーブルの長さがこれより長い場合は,テーブルの表面に 1 500 mm±15 mm 間隔で平行な 2 本の標

線を明確に描く。標線の平行度は,0.1  度以内(標線の長さ 1 m 当たり 1.8 mm 以内)とする。


5

C 2151

:2006

b)

ブラシ  テーブル表面に載せたフィルムを平らにするための柔らかいブラシ。

c)

直定規  長さが 1 525 mm 以上の鋼製のもの。

d)

物差し  長さが 150 mm で 1 mm 間隔の目盛が付いた鋼製もの。

7.3.2.2

試験片  試験片は,ロールから新しく長さ約 2 m のものを 3 枚とる。試験片を取り出すときは,

巻き戻すのに必要な最小限の張力でゆっくり引き出す。

7.3.2.3

手順  試験片を,図 に示すようにテーブルの上に長手方向に置く。一方の端から,フィルムに

軽い力で柔らかくブラシをかけ,テーブルとフィルムとの間に空気だ(溜)まりができるだけ残らないよ

うに密着させる。

直定規のエッジをフィルムの一方のエッジに添わせて置き,直線からフィルムエッジまでの偏差がよく

観察できるようにする。鋼製の直定規は,テーブルの両端(又は,標線上)でフィルムのエッジに一致す

るように調節する。基準位置の間のおよそ中央で,鋼製の物差しを用いて鋼製の直定規とフィルムのエッ

ジとの偏差 d

1

を 1 mm まで測定する。

同じ方法で,フィルムのもう一方のエッジと直定規との偏差 d

2

を測定する。

試験片の曲がりの値は,基準線の間隔の中央で,フィルム両側におけるミリメートルで表した直定規の

エッジとフィルムのエッジとの偏差の和(d

1

d

2

)とする。さらに,他の 2 枚の試験片についてこの方法

を繰り返す。

7.3.2.4

結果  曲がりは,3 個の測定値の中央値とし,他の 2 個の値も報告する。

7.3.3

たるみの測定

7.3.3.1

装置  装置は,次による。

a)

ローラを取り付けた架台  自由に回転する 2 本の金属製ローラ及びこの 2 本のローラを平行に支える

堅固な架台。各ローラは,直径が 100 mm±10 mm で,長さが試験するフィルムの最大幅が十分に載

せられるもの。  2 本のローラの軸は同一水平面にあり,互いに 1 500 mm±15 mm の間隔を置いて 0.1

度以内(すなわち,ローラの長さ 1 m について 1.8 mm 以内)で平行な状態に固定する(

図 参照)。

参考  2 本の金属ローラには,フィルムの片側の端を合わせるための基準線を付けておくと便利であ

る。

ローラは,円筒度 0.1 mm 以内の円筒状とし,表面は適切な  なし地仕上げ(研磨仕上げではない)

のものとする。架台には,一方のローラ(第 1 ローラ)のすぐ下に試験するフィルムロールを載せる

ための装置(脱着軸)を取り付ける。この装置は,次による。

1)

フィルムロールを載せる脱着軸は,第 1 ローラの軸と 1  度以内で平行とする。

2)

フィルムの側部の位置が自由に調整できる。

3)

巻き戻し張力を調整しながらフィルムロールからフィルムを引き出せるようにする。

b)

フィルムに張力を加える装置  架台の反対側の端で,2 本目のローラ(第 2 ローラ)から自由に垂れ

下がったフィルムにおもり又はばね付きクランプを固定できるようにする。おもり又はばね荷重,及

びフィルム上での荷重の位置は,IEC 60674-3 又は個別材料規格に規定する条件で,フィルムの幅方

向にできるだけ均一に張力を加えられるように調節できるものとする。

c)

寸法測定器具  2 本のローラ間の中央部でローラに平行な線に沿って,2 本のローラ間の平面と下に下

がったフィルムとの距離を測定するための器具(

図 参照)。測定に用いる器具は,長さ 1 525 mm 以

上の鋼製直定規及び 1 mm 目盛の付いた長さ 150 mm の鋼製物差しとする。又は,フィルムの位置を

自動的に又は半自動的に示すような複雑な器具を用いてもよい。


6

C 2151

:2006

7.3.3.2

試験片  試験の直前に,ロールから最初の 3 層のフィルムを切り捨てる。試験片は,巻き戻すの

に必要な最小限の張力でゆっくりとロールから新しく約 2 m の長さを引き出したものとする。

7.3.3.3

手順  装置の 2 本のローラ上に試験片を長さ方向に載せる。フィルムの自由端には張力を加える

装置を取り付ける。張力は,IEC 60674-3 又は個別材料規格に規定する値に調節する。フィルムが第 2 の

ローラを通過する最終的な位置は,フィルムが 2 本のローラの中間でほぼ水平になるように調節する。

鋼製直定規及び目盛付きの鋼製物差し,又は他の適切な器具を用いて,2 本のローラの中央部で幅方向

に沿ってフィルムを確認し,周辺の通常のフィルム表面より下がっている,すべてのたるみの中での最大

深さを 1 mm まで測定し(

図 参照),その試験片のたるみの値として報告する。

さらに,2 枚の試験片について 7.3.3.2 の手順から繰り返す。

7.3.3.4

結果  たるみの値は,3 個の測定値の中央値とし,他の 2 個の値も報告する。

7.4

B

7.4.1

原理  この方法は,たるみ及び曲がりの総量を伸長率として 1 回の測定で評価できる。フィルムを

ある一定の長さ巻き戻し,規定の条件で 2 本の平行な棒の上にこれに直行するように載せる。目に見える

たるみ及び曲がりがなくなるまでフィルムを引っ張り,この状態に至るのに必要な伸びを測定する。伸び

の評価のための装置として巻取機のローラを用いることができるが,結果に疑義がある場合は,7.4.2 に規

定する装置を用いる。

7.4.2

装置  装置は,次による。

a)

ローラを取り付けた架台  ローラを取り付けた架台は,7.3.3.1 a)  による。

b)

フィルムに張力を加える装置  架台の反対側の端で,第 2 ローラから自由に垂れ下がったフィルムに

おもり又はばね付きクランプを固定できるようにする。おもり又はばねによる荷重,及びフィルム上

での荷重の位置は,フィルムの幅方向にできるだけ均一に張力を加えられるように調節できるものと

する。

c)

寸法測定器具  長さ 1 525 mm 以上の鋼製の直定規及び長さ 2 m 以上で 1 mm 目盛付きの柔軟性のある

鋼製物差し(例えば,鋼製の巻尺など)

d)

適切な粘着ラベル

7.4.3

試験片  ロールから最初の 3 層のフィルムを切り捨てる。試験片は,巻き戻すのに必要な最小限の

張力でゆっくりとロールから新しく約 2 m の長さを引き出したものとする。

7.4.4

手順  ロールから引き出した試験片を装置の 2 本のローラ上に長さ方向に載せる。フィルムに手で

軽く張力を加え,第 2 ローラ側のフィルムの端を動かし,フィルムが 2 本のローラの間でできるだけ平ら

になるようにする。そのままフィルムの端を張力を加える装置でクランプ締めする。張力は,1.0 MN/m

2

±0.2 MN/m

2

に調整する(フィルムの公称厚さ及び幅に基づく。

フィルム全幅の中で最もたるみの少ない,エッジにほぼ平行な直線上に 1.0∼1.1 m の間隔で二つの基準

マークを付ける(

  3 参照)。基準マークは,フィルムの表面にはり付けた 2 枚の粘着ラベルの特定の端

にするとよい。

柔軟性のある鋼製の物差しでマーク間の距離を±0.5 mm 以内で測定する。

フィルムに加える張力を,次を満足するまで上げる。

a)

フィルムが目で見て平たんになる。

b)

フィルムの各エッジが直定規と比較して,スパン中央で 0.5 mm 以内の程度に真っすぐになる。

c)

直定規と比較して,どの位置でもたるみが 7.5 mm を超えない。

この張力における基準マーク間距離を,鋼製物差しで測定し,マーク間の伸び分の元の距離に対する百


7

C 2151

:2006

分率をフィルムの伸長率(たるみ及び曲がりの総量)として表す。

さらに,2 枚の試験片について 7.4.3 の手順から繰り返す。

  3  伸長率の測定

7.4.5

結果  たるみ及び曲がりの総量は,3 個の測定値の中央値とし,他の 2 個の値も報告する。

8.

摩擦係数  摩擦係数の求め方は,IEC 60648 による。

この方法は,フィルム及びシートを規定の条件でそれ自体又は他の物質の上を滑らせたときの,フィル

ム及びシートの始動時及び滑り時の摩擦を測定するものである。この方法には,固定そりと動く平面との

組合せ,又は固定平面と動くそりとの組合せがある。いずれの方法でも,試験片の表面摩擦係数が求めら

れる。

参考  IEC 60648 による摩擦係数の試験方法の概要は,附属書 1(参考)を参照。

9.

ぬれ張力(ポリオレフィンフィルム)

9.1

原理及び注意事項  ぬれ張力の測定は,徐々に表面張力を増加させた一連の有機液体混合物の滴が,

ある濃度に到達したときフィルムの表面をぬらす能力をもつという現象に基づいている。

フィルムのぬれ張力は,空気−フィルム及びフィルム−液体両者の界面の表面エネルギーが影響するの

で,液体試薬中又はフィルム表面上に表面を活性化する不純物がわずかでもあると測定結果に影響を与え

ることがある。したがって,試験するフィルムの表面に触れたり表面を摩擦してはならない。器具はすべ

て清浄にして,混合試薬の純度は注意深く管理することが重要である。

参考  ポリオレフィンフィルム以外のフィルムは,この方法で測定できない場合がある。

9.2

器具  器具は,次による。

a)

長さ約 150 mm の綿棒,又はこれと同等なもの。

b)

容量 50 ml のビュレット 2 個。

c)

ふた及びラベルが付いた容量 100 ml の容器(クリーニング後蒸留水で洗浄したもの。

9.3

混合試薬  測定を行う範囲にわたってぬれ張力を整数値として得るために,表 に示す比率で試薬

級のホルムアミド(HCONH

2

)と試薬級のエチレングリコールモノエチルエーテル(CH

3

CH

2

−O−CH

2

 CH

2

−OH)とを混合した混合試薬を準備する。


8

C 2151

:2006

必要な場合は,

表 に示す各混合試薬に着色度の高い染料を極く微量添加してもよい。用いる染料は,

フィルム表面上で滴が明りょうに見えるような色がよい。また,染料は,混合試薬のぬれ張力に著しく影

響しないようなものとする。

備考1.  混合試薬の表面張力は,一週間ごとに確認することが望ましい。試験室で通常用いられてい

る他の表面張力測定法でもよい。

2.

この混合試薬は,比較的安定であるが,温度 30  ℃以上及び相対湿度 70%以上にさらすこと

は避けることが望ましい。

3.

エチレングリコールモノエチルエーテル及びホルムアミドは,共に毒性があり十分に注意し

て取り扱わなければならない。安全に関する取扱基準を遵守すべきである。

  ホルムアミドは,殊に目に触れると危険なので,混合試薬の調製時は安全めがねを着用す

る。

  1  ポリエチレン及びポリプロピレンフィルムのぬれ張力測定に用いる

エチレングリコールモノエチルエーテル,ホルムアミド混合試薬の濃度

ホルムアミド体積分率

エチレングリコールモノエチルエーテル体積分率

ぬれ張力

mN/m

0 100.0

30

 2.5

 97.5

31

10.5

89.5

32

19.0

81.0

33

26.5

73.5

34

35.0

65.0

35

42.5

57.5

36

48.5

51.5

37

54.0

46.0

38

59.0

41.0

39

63.5

36.5

40

67.5

32.5

41

71.5

28.5

42

74.7

25.3

43

78.0

22.0

44

80.3

19.7

45

83.0

17.0

46

87.0

13.0

48

90.7

  9.3

50

93.7

  6.3

52

96.3

  3.7

54

99.0

  1.0

56

9.4

試験片  試験片は,ロールの全幅をカバーするように採取し,フィルムの幅方向の 1/4,1/2,3/4 の

位置で試験する。

これら 3 点の測定値の差が 2.0 mN/m を超える場合は,フィルムが均一に処理されていないことを示す

ので,上記の測定をロールの長さ方向の距離を置いた 3 か所で行う(合計測定数は 9 になる。

フィルム試料の試験を行う場所を素手で触れたり,持つことがないよう特に注意する。

9.5

測定条件  試験は,IEC 60212 の標準雰囲気 B(温度 23  ℃,相対湿度 50%RH)で行う。

9.6

手順  混合試薬の一つで綿棒の先を湿らせる。混合試薬を付け過ぎると,結果に影響を及ぼすおそ


9

C 2151

:2006

れがあるので,混合試薬の量は最小限にとどめる。

選択した箇所について試験片の約 6.5 cm

2

の広さに軽く混合試薬を塗布する。この範囲を完全に覆うため

に,広めに塗布するようなことはしてはいけない。フィルムの上を覆った連続した液体が小滴に分裂する

までの時間を記録する。混合試薬の連続した被覆が 2 秒以上続く場合,次に高い表面張力をもつ混合試薬

に進み,連続した試薬の被覆が 2 秒以下で小滴に分裂する場合は,次に低い表面張力をもつ混合試薬に進

む。混合試薬の汚染をさけるために,その都度新しい綿棒を用いる。9.7 に従って正しい混合試薬が選択で

きるまで,この手順を繰り返す。

この試験では,段々とより低い表面張力の混合試薬へ移行して行くと,時々誤った結果が得られる可能

性があることが経験から分かっている。したがって,測定するときは順次より高い表面張力の混合試薬へ

と移行してフィルムのぬれ張力を調べることを推奨する。

9.7

評価  混合試薬の連続した被覆面が 2 秒間そのままの状態であるとき,その混合試薬は試験片を湿

潤させているとする。混合試薬の連続した被覆面の周囲が収縮することは湿潤不足を表すものではなく,2

秒以内に小滴に分裂することが湿潤不足を表す。極端な被覆面の周囲の収縮は,フィルム表面にあまりに

も多く試薬が塗布されたために生じたおそれがある。塗布した混合試薬が 2 秒間にできるだけ近くそのま

まの状態を保ったとき,その塗布した混合試薬の表面張力(mN/m)を試験片のぬれ張力とする。

9.8

結果  試験結果の測定値の差が 2.0 mN/m 以下の場合は,3 点のぬれ張力試験結果の中央値を報告す

る。不均一に処理されたフィルムで測定数が 9 になった場合は,中央値及び個々の値を報告する。

10.

引張特性  引張特性は,JIS K 7127 による。

一般に規定されている引張特性は,破断時の応力及び破断時の伸びであるが,ときには 1%割線弾性率

(secant modulus)が規定される場合もある。

10.1

試験片  試験片は,JIS K 7127 の 6.(試験片)による。試験片は,幅 10∼25 mm,長さ 150 mm 以

上で 50 mm 以上離して標線を付けたものとする。

試験片は,IEC 60674-3 の各シート又は個別材料規格で規定する方向の各々について,5 枚とする。

10.2

試験速度  試験速度は,測定中試験機のつかみが離れる速度とし,IEC 60674-3 の各シート又は個別

材料規格で規定する速度とする。

10.3

結果  結果は,各試験方向の各特性について 5 個の測定値の中央値とし,最大値及び最小値も報告

する。

11.

端裂抵抗  端裂抵抗は,次のいずれかによる。

11.1  A

法  A 法は,JIS C 2120 による。

11.2  B

11.2.1

装置  装置は,次による。

a)

試験機  試験機は,定速緊張形引張試験機(測定値が容量の 15∼85%の範囲内にあるもの。)又はこ

れと同等なもの。

b)

試験金具  試験金具は,図  4 に示す試験金具 B とする。 V 形切込板の厚さは 1.00 mm±0.05 mm とし,

V

の部分の断面は,半径 0.5 mm の半円形とする。


10

C 2151

:2006

単位  mm

 A

  V 形切込板

D

  柄部

 B

  押さえ板

E

  ねじ

 C

  孔部

F

  試験片

  4  端裂抵抗測定用試験金具 B 及び試験片

11.2.2

試験片  試験片は,幅 20 mm,長さ約 200 mm とし,フィルムの縦方向及び横方向から各々全幅に

わたって 5 枚とる。

11.2.3

手順

a)

引張試験機の上部に試験金具の切込板の中心線を上下つかみの中心に一致させ,切込みの頂点と下部

つかみとの間隔が約 50 mm になるように柄を取り付ける。

b)

試験片を試験金具の孔部に通してフィルム面が接するように二つに折り合わせて試験機の下部つかみ

に挟み固定する。

c) 1

分間に約 200 mm の速さで引っ張り,引き裂けたときの力をニュートン単位で読み取る。

11.2.4

結果  フィルムの縦方向及び横方向の各々5 個の測定値の平均値及び最低値を報告する。

12.

引裂抵抗  引裂抵抗は,JIS K 7128-1(トラウザー引裂法)又は JIS K 7128-2(エルメンドルフ引裂法)

による。いずれの試験方法を用いるかは,IEC 60674-3 の各シート又は個別材料規格の規定による。

13.

フィルムの剛性  この方法は,試験片が自重で曲がるような角度固定屈曲試験機を用いて,材料の柔

軟性を測定する方法である。水平に置いた台(plat form)の一端に,長方形の試験片を台の端面に直角に


11

C 2151

:2006

保持する。その長方形の試験片を,台から規定長さ張り出すように,台に取り付け,この張り出し部分が

水平から 41  度 30  分の角度に下がるまでの時間を記録する。

14.

表面抵抗  表面抵抗は,IEC 60093 による。

参考  旧 JIS による方法を参考として附属書 2(参考)に記載する。

15.

体積抵抗率

15.1  A

法:電極法  A 法:電極法は,IEC 60093 による。電極は,ガード電極のある直径 25 mm の電極

及びガード電極のない直径 40 mm 以上の電極とする。

試験は,次の条件の中から,IEC 60674-3 の各シート又は個別材料規格に規定する条件で行う。

a)  IEC 60212

の標準乾燥条件(温度 18∼28  ℃,相対湿度 1.5%未満)

b)  IEC 60212

表 の標準条件 B(温度 23  ℃,相対湿度 50%)

c)

IEC 60212

表 から選択した乾燥高温条件

参考  旧 JIS による方法を参考として附属書 2(参考)に記載する。

15.2  B

法:巻回式コンデンサ法,又は 法では測定できない薄いフィルム用の方法

15.2.1

原理  この方法は,コンデンサ誘電体の体積抵抗率

ρ

が次の関係式によって時定数(tC×R)から

計算できるという原理を用いている。

0

ε

ε

ρ

×

×

=

R

C

ここに,

C: 静電容量(F)

R: 抵抗値(

Ω)

ρ

体積抵抗率(

Ω・m)

ε

比誘電率

ε

 0

8.85

×10

-12

(F・m

-1

15.2.2

試験片  試験片は,硬質絶縁体の心にフィルムとアルミニウムはく(箔)とを交互に巻き付けたコ

ンデンサとする。有効電極幅 40∼70 mm,マージン幅 3 mm としたアルミニウムはくはみ出し形のものと

する。誘電体は,フィルム 1 層だけとする。1 kHz で測定した静電容量は,0.5 µF±0.1 µF とする。予備加

熱又は真空処理が必要な場合は,IEC 60674-3 又は個別材料規格の規定による。

参考  アルミニウムはく巻回法試験片の構造として,巻き付ける前のフィルムとアルミニウムはくと

を重ね合わせた状態を

参考図 に示す。

参考図 1  アルミニウムはく巻回法試験片の構造

15.2.3

手順  3 個の試験片を 15.2.2 のとおり巻き付けて作製し,必要なすべての処理を行う。さらに,標

準乾燥状態(温度 18∼28  ℃,相対湿度 1.5%未満)に 6 時間放置した後,2 分間抵抗値(厚さ 4 µm を超

えるフィルムでは 100 V±10 V,

厚さ 4 µm 以下のフィルムでは 25 V/µm±4 V/µm)

を測定し,

その後 1.6 kHz

以下の周波数で静電容量 を測定する。


12

C 2151

:2006

誘電率は,16.によって測定するか,又は,理論値を用いてもよい。

ρ

の値は,15.2.1 の式によって求める。

15.2.4

結果  体積抵抗率は,3 個の測定値の中央値とする。測定温度も報告する。また,誘電率を実測し

たか又は理論値を用いたかも報告する。

備考  キャパシタの充電電流によって生じる誤差を許容できる程度まで減少させるために,試験片の

静電容量 の時定数及び電流計の入力抵抗 が,通電時間及び見かけの漏れ電流の減衰の時定

数に比べて小さいことが必要である。通電時間が 2 分間の場合,大部分のフィルムでは C×r

の値は 2 秒未満である。試験片が 0.5 µF 以下である場合,の値は 4 M

 Ω未満である必要があ

る。直読メグオームメータによっては,この点において不適当なものがある。

16.

誘電正接及び誘電率  誘電正接及び誘電率の試験は,50 Hz から 100 MHz までの周波数範囲を対象と

し,次に示す二つの方法のいずれかによる。

16.1  A

法  IEC 60674-3 の各シート又は個別材料規格に規定がない場合,試験は,受渡当事者間で協定し

た周波数及び温度 23  ℃±2 K で行う。また,次に規定する事項以外は,IEC 60250 による平らな試験片で

行う。

厚いフィルムを低い周波数で測定する場合は,フィルム 1 枚の層で作製した試験片で測定することが普

通である。しかし,非常に薄いフィルムを 1 MHz 以上の周波数で測定する場合は,多数のフィルムを重ね

た試験片を用いることによって,更に便利に,正確に測定できることが知られている。その場合は,圧力

をかけて,重ねたシートから空気を押し出す。試験片の平均厚さは,材料の密度,試験片の面積及び積み

重ねた試験片の質量から求める。

16.1.1

試料及び試験片の取扱い  サンプリングは,個別材料規格による。材料の状態及び条件は,変更し

てはならない。

試料及び試験片は,汚染,きず及び指紋が付かないように注意して取り扱う。

個別材料規格で特に規定がない場合,3 個以上の試験片を用いる。

16.1.2

測定前の試験片のコンディショニング  測定前の試験片のコンディショニングは,個別材料規格又

は受渡当事者間の協定による。

備考1.  フィルムの材料の特性は,実際上は湿度によって影響されることがある。固体の電気絶縁材

料の試験前及び試験中の標準の環境条件は,IEC 60212 による。

2.

フィルムの材料の特性は,熱,機械的なストレス,放射線,エックス線などによっても影響

されることがある。コンディショニングの方法は,これらの効果の大きさを評価した上で用

いることが望ましい。

3.

試験片は,受理状態及び乾燥雰囲気中でコンディショニングした後の二つの状態で測定する

ことを推奨する。

印刷及び真空処理は,材料の吸湿量に大きな影響がある。このため,印刷,蒸着又はスパッタリングに

よって電極を作製した試験片は,電極を作製した後にコンディショニングを行う。このような種類の電極

は,透湿性が低いので,関連する個別材料規格に規定する時間で試験片がコンディショニングの環境と平

衡になっているかどうかを確認することが望ましい。

備考  このことは,更に長くコンディショニングした後の測定値と比較することで可能である。

16.1.3

接触電極による測定  約 50 kHz までの周波数で薄いフィルムの測定をする場合は,3 端子の電極

配置を用いる。典型的な例を

図 に示す。高周波数で測定する場合は,2 端子の配置を用いる(図 参照)。


13

C 2151

:2006

密着電極は,試験片表面とよく接触し,電極の電気抵抗又は試験片の汚れによって,感知できる誤差が

生じないような材料によって構成する。

1

測定装置への接続(シールド) 4

密着電極

2

裏打ち電極 5

シールド

3

ガード電極 6

試験片

  5  3 端子の電極配置

 1

測定装置への接続

 2

直径が同じで同心の円形の電極

 3

フィルム試験片

  6  2 端子の電極配置

備考  密着電極による誘電正接の誤差は周波数とともに大きくなるので,高周波数での誘電正接は,

非接触電極法を用いると精度よく測定できる。

電極の材質は,試験条件の下で耐食性のあるものとする。これらは適切な裏打電極と併せて用いる。

非常に薄いフィルム(2 µm 以下)を測定するときは,裏打電極の位置決めで試料に損傷を与えないよう

に間にアルミニウムはくを挟んで裏打電極を置く。

電極の材料が結果に影響しているかどうかを確認することを推奨する。そのためには,別の異なる種類

の電極を用いて得られた結果と比較するのがよい。

16.1.4

電極材料

16.1.4.1

蒸着又はスパッタリング金属  試料の材質が真空処理又はイオン照射で重大な影響を受けない

限り,蒸着又はスパッタリング金属が最も推奨できる電極である。電極の金属としてアルミニウム,銀,

又は金を用いる。金属層の厚さが約 150 nm の場合に電気的特性の点で最も良い結果が得られ,金属層形

成時に材料に与えるストレスが最も小さい。マスクを用いると外形が明りょうで再現性のよい電極が得ら

れる。


14

C 2151

:2006

蒸着法で電極を作る場合は,蒸着の前に,真空容器の中の圧力を 5 mPa 以下にする。蒸着中,金属膜の

成長速度は約 1 nm/s がよい。電極に用いる材料の蒸発量に対する金属層の形成量の割合は,短期間であり

通常は制御できない。

スパッタリング法で電極を作る場合は,試験片のストレス及び品質,並びにスパッタリングした電極の

特性は,選定したガス,反応容器内のガス圧力,用いた電圧及び反応容器中での試験片の位置に影響され

る。条件は,用いたスパッタリング装置によって最適なものとする。

金属蒸着した試験片を金属蒸着の後すぐに測定できない場合,例えば,ある時間コンディショニング雰

囲気に置かなければならない場合は,電極の腐食による影響ができるだけ少なくなるよう注意する。この

ためには金蒸着電極を推奨する。このことはポリプロピレンのような誘電正接の小さい材料には特に重要

である。

16.1.4.2

導電性銀ペイント  電極として,市販の適切な高導電性の銀ペイントを用いてよい。ただし,ペ

イント中の溶剤が試料の特性に影響しないことを確認しておくことが望ましい。マスキングを用いると,

常に同じ面積の電極を作ることができる。

16.1.4.3

金属はく  薄い金属はく電極は,鉛,すず,アルミニウム,銀又は金で作ることができる。試料

の表面にこれら金属はく電極を少量のワセリン又はシリコーングリスではり付けることができる。

備考  シリコーングリスは,ある周波数及び温度で非常に高い誘電正接を示すため,低い誘電正接の

材料の測定には推奨できない。シリコーングリスは,ワセリンが非常に低粘度になる高い温度

の場合に,主に用いる。分子量が大きく,誘電正接の小さいオレフィングリスが更に適してい

ることが分かっている。

電極は,空気及びしわを除くために滑らかに圧力を加える。余分のグリスは,ティッシュで拭き取る。

グリスの層はできるだけ薄く,試験片の厚さに対して無視できるようにする。

16.1.5

非接触電極による測定  外界温度近くでの測定において,試料が非常に薄い場合,低誘電正接のも

のである場合又は高い周波数での測定の場合,固定又はマイクロメータ制御非接触電極を用いることによ

って,正確に測定することができる。

a)

空気中  空気中での測定は,IEC 60250 の 4.1.2.2.1(空気中,マイクロメータ調節式平行電極)によ

る。試験片に電極を形成する必要はない。

b)

液体置換  液体置換での測定は,IEC 60250 の 4.1.2.2.2(液体置換法)による。

16.1.6

試験の手順

a)

適切な電極を付け,16.1.2 によって測定前のコンディショニングを行う。

b)

誘電率及び誘電正接の測定は,材料の仕様書及び用いる測定方法の仕様に従って行う。

c)

遮へいした囲いの中で試験片を測定する。

d)

誘電率及び誘電正接は,測定方法の仕様に従って計算する。

e)

推奨する試験周波数は,48∼62 Hz,1 kHz,10 kHz 又は 1 MHz である。

f)

結果として,測定値の平均を計算する。

16.1.7

報告  報告には,次の事項を含める。

a)

製造業者名,材料の名称,及び表面処理の詳細

b)

試料の厚さ

c)

電極の種類

d)

測定前のコンディショニングの詳細,及びクリーニングの手順

e)

試験条件,すなわち,温度及び相対湿度


15

C 2151

:2006

f)

用いた電圧

g)

周波数

h)

誘電率

i)

誘電損失

16.2  B

法  誘電損失及び誘電率は,受渡当事者間で協定した周波数,及び温度 23  ℃± 2 K で巻回式コ

ンデンサによって測定する。実際の温度を報告する。巻回式コンデンサは,薄い(25 µm 以下)フィルム

の誘電損失の測定にだけ適用できる。コンデンサの巻の間から含まれている空気を熱及び/又は真空処理

によって取り除くことによって,より正確な結果が得られる。

試料のコンディショニング,電極の材料,電極の形状,試験の手順及び試験報告は,15.2 による。

16.2.1  5

×10

-4

以上での誘電正接  試験片は,15.2 による。

16.2.2  5

×10

-4

未満での誘電正接  受渡当事者間の協定によって,次の方法を付け加えたコンデンサを用

いてもよい。

a)

大きなマンドレルに巻いた後,コンデンサをマンドレルから外し,誘電率が変化しないような圧力で

押しつぶす。

備考  両端のアルミニウムはくのはみだし量は,強く締め付けて接続できる長さが必要である。

b)

コンデンサを最終の形に固定する前に,吸湿分を除くために室温で 3∼4 時間真空乾燥する。

17.

絶縁破壊の強さ

17.1

交流試験  交流試験は,JIS C 2110 による。油中又は気中で,JIS C 2110 の 7.1 (1)(板,シート,紙,

織物及びフィルムの場合)の電極を用い,JIS C 2110 の 8.1(短時間破壊試験方法)に規定する電圧を印加

して試験する。

17.2

直流試験  直流試験は,次のいずれかによる。

17.2.1

巻回式コンデンサ法  IEC 60674-3 の各シート及び個別材料規格に規定がない場合,試験用コンデ

ンサは,15.2 によって作製し,絶縁破壊電圧 1 kV 当たり 1 mm の端部のずらしをとる。

コンデンサに対して充電電流が 100 µA±20 µA となるように直流電圧を上昇していく。

到達電圧の最大値は,計器で表示し,また,その値を保持するのが望ましい。この計器は上昇電圧に対

して,フルスケールの 1%未満の誤差で表示できるものとする。これには,自動記録計を用いると便利で

ある。

試験は 21 回行う。21 個の結果の中央値及び IEC 60674-3 の各シート又は個別製品規格で規定する電圧

以下で発生した絶縁破壊の数を報告する。

17.2.2

平板電極法  平板電極法は,次による。

17.2.2.1

装置

a)

電源  直流電源装置は,リップル含有率 1%以下,直流電圧安定度±3%以内であり,規定の速度で電

圧を上昇させたときの到達電圧の最大値をその全目盛の 1%未満の誤差で表示できるものとする。そ

の計器は,試験片の絶縁破壊後も表示値を保持できるものが望ましい。

b)

電極  上部電極は,周辺に R3.0 mm の丸みをもった直径 25 mm のよく磨いたきずのない黄銅製円柱で,

質量は 500 g±50 g とする。

下部電極は,

  7 に示すように約 150 mm×150 mm,厚さ約 3 mm の金属製平板の上にショア硬さ

60

∼70,寸法約 150 mm×150 mm,厚さ約 2 mm の弾性体を載せ,これに厚さ 6 µm 以上,幅約 80 mm

のアルミニウムはくを巻き付けたものとする。


16

C 2151

:2006

                                                    単位  mm

  7  下部電極

17.2.2.2

試験片  試験片は,約 150 mm×150 mm のもの 50 個とする。

約 150 mm×150 mm の試験片が取れない場合は,切断前のフィルムからとる。

17.2.2.3

手順  試験片を下部電極の上に置き,試験片のほぼ中央に上部電極を置く。100∼500 V/s で電圧

を上昇させ,破壊時の電圧を読む。

この操作を試験片 50 個について行う。

a)

計算  計算は,試験結果の内,高い方の値及び低い方の値各 5 点を除き,残り 40 点の平均値及び最小

値を求める。

参考  通常,巻回式コンデンサ法と平板電極法との測定結果は異なる。

18.

電気的欠陥  電気的欠陥を計数する方法は,次のいずれかによる。計数結果は,経験的にはポアソン

形の分布則に従っていることが知られている。したがって,個別材料規格の規格値を決める場合は,用い

る統計的手法に配慮が必要である。

18.1  A

法(長尺で幅が狭いフィルムの試験)

18.1.1

試験装置  試験装置を図 に示す。回転するローラをアース電極とする。他の電極は,幅 10∼20 mm

で厚さ約 6 µm の軟質アルミニウムはくとする。ローラは,直径 15 mm で表面を研磨した耐食性の鋼製と

し,容易に回転できるものとする。アルミニウムはくは,ローラの周りに約 10  度で湾曲していて,アル

ミニウムはくにはその幅 10 mm 当たり約 40 g の荷重を加える。クリップを付けたおもりを用いて荷重を

加えるとよい。荷重によってアルミニウムはくはフィルムへ圧着される。アルミニウムはくは,フィルム

より狭くし,また,両側ともにフィルムがアルミニウムはくよりも少なくとも 2.5 mm 外側に出るように

設定する。


17

C 2151

:2006

 1

試験片

4

おもり

 2

ローラ

5

留め金具

 3

アルミニウムはく

  8  長尺で幅が狭いフィルムの試験装置

直流発生器は,互いに近接して発生する欠陥が検出できるように,絶縁破壊の 0.1 秒後には元の試験電

圧に回復するように設計する。

フィルムの欠陥によって発生する電気的インパルスを計数するための適切な装置を用いる。

18.1.2

手順  フィルムを,ローラに約 90  度巻き付けて 5 m/min の一定の速さで走行させる。

アルミニウムはくとロールとの間に,フィルムの厚さ 1 µm 当たり 100 V の直流電圧を印加する。電圧

は,フィルムが走行中に設定できるようにする(フィルムが動いていないときに設定した電圧は,フィル

ムが動くと,フィルムによって電荷が持ち去られるため低下してしまう。

。フィルムをローラとアルミニ

ウムはくとの間で走行させ,フィルムの欠陥によって発生する電気的インパルスを計数する。

18.1.3

結果  計数した欠陥数を試験した面積で除して,A 法による平方メートル当たりの欠陥数として表

す。

次の事項を併せて報告する。

a)

アルミニウムはくの幅(mm)

b)

試験したフィルムの長さ(m)

18.2  B

法(幅が広いフィルムの試験)

  危険についての注意:この試験片に蓄えられるエネルギーは,約 1 J である。

18.2.1

試験装置  試験装置の概略を図 に示す。約 270 mm×160 mm の電気的絶縁体の上に,寸法 250 mm

×140 mm の金属化フィルム(

1

)

を金属化した面を上に向けて置く。この金属化フィルムの自由端をアース

に接続する。寸法 180 mm×180 mm の試験片を採り,金属化フィルムの 250 mm の辺の両側は 20 mm ずつ

余るように,140 mm の辺の一端を合わせるように載せる。別の幅 140 mm の金属化フィルムを金属化した

面が下になるようにして試験片の上に置き,その上に寸法 140 mm×140 mm で厚さ約 4 mm の軟質ゴムシ

ートを置く。上側の金属化フィルムを軟質ゴムシートの周辺に折り返した後,寸法 140 mm×140 mm で重

さ約 650 g の金属板で荷重を加える。試験電圧を金属板に印加する。

注(

1

)

例えば,アルミニウムを真空蒸着した厚さ 30 µm のポリエチレンテレフタレート(PET)フィ

ルム。


18

C 2151

:2006

単位  mm

 1

絶縁性の材料 5

軟らかいゴム

 2

金属化フィルム 6

金属板

 3

試験片 7

接触端子

 4

金属化フィルム 8

試験電圧への接続

  9  幅が広いフィルムの試験装置

18.2.2

手順  印加する電圧は,ゼロから始めて,0.5 kV/s の速さで上昇させる。試験電圧(直流又は交流

のピーク電圧)は,試験片の厚さ 1 µm 当たり 100 V とする。その電圧で 1 分間保持する。その後,装置

から試験片を取り出し,試験した範囲の周辺約 20 mm を除いた残り 100 cm

2

の範囲内の茶色のはん点とし

て認められる欠陥の数を数える。

試験は,試験するロールの幅に対して均等に採った 10 枚の試験片について行う。

18.2.3

結果  10 個の試験片で求めた欠陥の数をフィルムの面積で除して,B 法による平方メートル当た

りの欠陥数として報告する。試験電圧の種類も報告する。

18.3  C

法(ロール状フィルムの試験)

18.3.1

装置  装置は,次による。

18.3.1.1

巻き戻し機構  装置の概略を図 10 に示す。試験するフィルムは,二つのゴム被覆したローラ R4

及び R5 で送られるアルミニウムはく電極 1 及び電極 2 と同じ速度で巻き戻す。これら電極の厚さは 5∼6

µm

で,電極 1 の幅は電極 2 の幅より約 20 mm 狭い。これらは,それぞれ二つの電極ローラ R1 及び R2 に

よって欠陥測定装置に接続する。欠陥の検出は,直径 24 mm の石英ローラ R3 の上で行う。アルミニウム

はく電極 1 は,このローラに接線上で接触しており,一方電極 2 はこのローラに 180 度巻き付くようにす

る。その結果試験フィルムには,線状に接触した部分にだけ試験電圧が印加される。

巻き戻し機構全体は,じんあい(塵埃)から保護するため適切なキャビネットに入れる。キャビネット

は,その扉を開けたとき,試験電圧を遮断する機構を備える。


19

C 2151

:2006

R1

,R2

接触ローラ(金属)

R3

測定ローラ(石英)

R4

,R5

駆動ローラ(ゴム)

 10  ロール状フィルムの試験装置

18.3.1.2

電源  電圧調整ができる直流発生装置。絶縁破壊時の制限抵抗は,試験電圧に関係なく 10 k

Ωと

する。絶縁破壊が起こったとき,電圧が 0.5  秒以内に初期値に回復できるもの。

18.3.1.3

欠陥計数器  1 秒間に 3 個以上のパルスを計数できる適切なパルス計数器。

18.3.1.4

タイムスイッチ  付加装置として,規定の長さのフィルムの試験が終了したとき,装置を止める

タイムスイッチ。

18.3.2

手順

a)

巻き戻しの速さを 2 m/min に調整する。

b)

電圧を IEC 60674-3 の各シート又は個別材料規格に規定する値に調整する(通常,試験するフィルム

の厚さに対して 315 V/µm)

c)

IEC 60674-3

の各シート又は個別材料規格に面積の規定がない場合,試験する面積は 10 m

2

とする。

d)

計数器の読みを記録する。

18.3.3

結果  欠陥の数を平方メートルで表した面積で除して,C 法による平方メートル当たりの欠陥数と

して表す。

これに加えて,次の事項を報告する。

a)

試験したフィルムの長さ及び幅。

b)

電界強度(kV/mm 又は V/µm)

18.4  D

法(ローラ電極ギャップ法)

18.4.1

装置  装置は,次による。

a)

巻戻し機  巻戻し機は,供給ロールを掛ける巻出し軸,電極ローラ部,フィルムが電極ローラに規定

の抱き角度で入るようにする補助ローラ及びフィルム巻取り機構から構成する(

 11 参照)。


20

C 2151

:2006

 11  ローラ電極ギャップ法の試験装置

b)

電源  電源は,18.3.1.2 による。

c)

電極  上部電極は,金属製の板状又はローラで R  2∼50 mm の曲面があり,下部電極ローラとのギャ

ップは,0.1 mm±0.05 mm に調整できるようにする(

図 12 参照)。

備考  上部電極の形状及び の値は,受渡当事者間で取り決めるのがよい。

下部電極は,回転する金属製の直径約 100 mm のローラとし,アースに接続する。

 12  電極ローラ部

d)

欠陥計数器  欠陥計数器は,18.3.1.3 による。

18.4.2

手順  フィルムの速度を 20 m/min に合わせる。実際にフィルムに加わる電圧が個別材料規格で規

定する電圧になるように電源電圧を調節する。

試験を行う面積は,有効電極面積で 5 m

2

以上とする。

18.4.3

結果  欠陥の数を平方メートルで表した面積で除して,D 法による平方メートル当たりの欠陥数と

して表す。

19.

表面放電による耐絶縁破壊  表面放電による耐絶縁破壊は,IEC 60343 による。

20.

電解腐食  電解腐食は,IEC 60426 に規定する方法のいずれかによる。特別な方法は,IEC 60674-3 

各シート又は個別材料規格の規定による。

21.

寸法変化  寸法変化は,次による。

21.1

試験片  試験片は,次のいずれかによる。

a)

約 100 mm×100 mm のもの 2 個とする。  各試験片に,縦方向又は横方向を示す印を付ける。幅が 100

mm

より狭いフィルムについては原幅で長さ 100 mm とする。


21

C 2151

:2006

b)

幅約 20 mm,長さ約 150 mm とし,縦方向及び横方向から各 5 個とする。各試験片には,試験片の中

央部を中心にして間隔 100 mm±2 mm の標線を付ける。

21.2

手順  約 100 mm×100 mm の試験片の場合は,試験片の長さ及び幅を 0.1 mm の精度で測定する。幅

約 20 mm,長さ約 150 mm の試験片の場合は,標線の間隔を 0.1 mm の精度で測定する。

試験片を熱風循環式の恒温槽内に IEC 60674-3 又は個別材料規格で規定する時間及び温度で無荷重の状

態でつり下げる。

室温まで冷却した後,初めに測定したときと同じ部分について長さ及び幅を測定する。

21.3

結果  各試験片の寸法変化率は,縦方向及び横方向について寸法変化の初期値に対する百分率とし

て計算する。各方向の寸法変化率は,その方向での測定値の平均とする。

参考  寸法変化率は,次の式で計算する。

100

0

0

×

=

L

L

L

S

ここに,

S:  寸法変化率(%)

L

0

:  試験前の寸法(mm)

L:  試験後の寸法(mm)

22.

張力下昇温寸法安定性

22.1

試験片  試験片は,フィルムのロールの縦方向及び可能な場合は横方向からも,幅 15 mm の試験片

を切り取る。幅の狭いテープの場合,試験片の幅はその原幅とする。試験片の長さは,試験装置に合わせ

る。試験片の長さ方向のおよそ中央部に 20 mm の間隔で全幅にわたる 2 本の標線を付ける。

22.2

手順  試験片を恒温槽中につり下げ,2.5 N/mm

2

の引張荷重を加える。試験片の標線の背面(不透明

なフィルムの場合には横に沿わせて)に測定長さの変化を 1 mm 以下まで読み取れるスケールを設置する。

試験片の標線の近くに熱電対を取り付ける。開始時の温度を 30  ℃以下とし,恒温槽の温度を 50 K/h±1

K/h

の一定速度で上昇させる。荷重を加えた状態での測定長さが,初期長さに対して 40%増加するか,又

は試験片が切断したときの温度を読み取る。つかみの所で切断した試験片についての試験結果は除外し再

試験を行う。

フィルムのロールの縦方向について 3 個,

及び可能ならば横方向についても 3 個の試験片で試験を行う。

22.3

結果  3 個の各々の温度の値の中央値を“張力下昇温寸法安定性”とする。

温度に対する測定長さの変化をグラフにプロットするのがよい。試験片が 40%の伸びに達する前に切断

した場合には,このことを温度とともに報告する。

23.

圧力下昇温寸法安定性

23.1

装置及び器具  装置及び器具は,次による。

a

)

直径 1 mm のニッケル線 2 本を角度 90 度で交差している状態にし,この状態を保ったまま載せておく

ことができる耐熱性の絶縁板。さらに,直行しているニッケル線を抑えるための耐熱性の絶縁板。

b

)

振動の少ない熱風循環式恒温槽。

c

)

直流電圧 40 V を発生させる電源装置,及び試験中に短絡が起きたときにそれを検出する表示装置。

23.2

試験片  試験片は, 30 mm×30 mm のもの 3 個とする。

23.3

手順  熱風循環式恒温槽内に 23.1 a)  の器具を置く。  器具の 2 本のニッケル線の間に試験片を挿入

し,衝撃を与えないように上部の絶縁板を載せ,絶縁板の質量を含めて 30 N になるように荷重を加える。


22

C 2151

:2006

2

本のニッケル線に直流電圧約 40 V を印加する。30  ℃から昇温速度 50 K/h±1 K/h で昇温させる。ニッケ

ル線の交差する部分の試験片のごく近傍で温度を測定する。温度が上がりニッケル線がフィルムを貫通し

線間の短絡が起こり,表示装置が試験片の破壊を示したとき,直ちにその温度を読み取る。

23.4

結果  3 個の各々の温度(℃)の中央値を“圧力下昇温寸法安定性”とする。

24.

昇温貫通抵抗  昇温貫通抵抗は,JIS C 2107 による。

この方法は,直径 1.5 mm の球がフィルムを貫通する温度を電気的接触によって測定する。

25.

揮発分(加熱減量)

25.1

試験片  3 個の試験片を試験する。各試験片は,50 mm×50 mm とし,質量が 300 mg 以上になる枚

数とする。フィルムの幅が 50 mm 以下の場合,試験片は,質量が 300 mg 以上になるような長さとする。

25.2

手順  試験片を恒温槽中で IEC 60674-3 又は個別材料規格に規定する前処理温度及び時間で乾燥す

る。前処理中及び次の加熱操作中,試験片は,互いに重ならないように配置する。

前処理後,試験片をデシケータ中で室温まで冷却して質量 m

1

をはかる。

その試験片を IEC 60674-3 の各シート又は個別材料規格で規定する温度及び時間で加熱し,その後,デ

シケータ中で室温まで冷却して質量 m

2

をはかる。

25.3

結果  揮発分は,次の式によって求める。

100

1

2

1

×

=

m

m

m

a

ここに,

a:  揮発分(%)

m

1

:  加熱前の質量(g)

m

2

:  加熱後の質量(g)

結果は,3 個の測定値の中央値とする。他の 2 個の値も報告する。

26.

熱的耐久性  熱的耐久性は,IEC 60216-1 及び IEC 60216-2 による。試験方法及び終点の判定基準は,

IEC 60674-3

又は個別材料規格の規定による。

27.

燃焼性  この試験は,垂直位置で試験片の燃焼性を試験し,その結果から材料の級別を行うことを目

的とする試験である。この試験は,厚さ 0.25 mm 以下の薄い材料に適用できる。この材料には炎で収縮し

たり,ねじれたりするものも含む。

27.1

装置  装置は,次による。

a

)

通気のない試験室,囲い又は実験用燃焼室

b

)

内径 9 mm で,筒の長さ 100 mm のブンゼンバーナ又はチリルバーナ

c

)

試験片をクリップその他の方法で垂直に保持する支持具

d

)

メタンガス(工業用)及びガスを均一な流速で供給するための調節器及び流量計(熱量 9 000 kcal/m

3

の天然ガスも同様な結果が得られると考えられる。

e

)

ストップウォッチ又は類似の適切な器具

f

)

脱脂綿

g

)

無水塩化カルシウム入りデシケータ

h

) 23

℃±2 K,相対湿度(50±5)%に調節した部屋又は恒温恒湿槽


23

C 2151

:2006

i

) 70

℃±1 K の換気装置付き恒温槽

j

)

直径 9.5 mm±0.5 mm のマンドレル

27.2

試験片  試験片は,5 個とする。

試験片は,幅 50 mm,長さ 200 mm とする。

この方法で試験する試験片の厚さは,0.25 mm 以下とする。

試験片の一端から 125 mm の箇所に幅方向に標線を付ける。

次に試験片を直径 9.5 mm±0.5 mm のマンドレルに標線を外側にして,長さ 200 mm の円筒を作るように

巻き付ける。

円筒状試験片の 125 mm 標線上の一方の端末に沿って幅 75 mm の粘着テープを巻き付けて端部を固定す

る。マンドレルから円筒状の試験片を引き抜く。

27.3

前処理条件  ひとそろいの試験片は,次の条件で前処理を行う。

a

)

試験前に,5 個一組の試験片を,温度 23  ℃±2 K,相対湿度(50±5)%で 48 時間以上処理する。

b

) 5

個一組の試験片を,温度 70  ℃±1 K で 168 時間換気装置付き恒温槽内で加熱した後,4 時間冷却す

る。

27.4

手順  試験は,通気のない室内,囲い又は実験用燃焼室で行う。

耐熱性のガラス窓及び試験の後で燃焼生成物を除去するための排出ファンの付いた,密閉した実験用燃

焼室を推奨する。

支持具は,試験片の長辺軸を垂直にし,上端 6 mm 長にわたって試験片を保持する。試験片の下端は,

バーナの上端から 9.5 mm で,大きさ 50 mm×50 mm,厚さ 6 mm の乾燥した脱脂綿を水平に置いた層より

300 mm

上になるようにする。

取り付けた円筒状の試験片は,その上端を解放しておく。

次いで,バーナは,試験片から十分離して置き,点火し,高さ 20 mm±1 mm の青色炎を得るように調

節する。この青色炎は,黄色い先端高さ 20 mm の炎を得るようにガス流量と空気量とを調節し,次いで黄

色い先端が消えるまで空気量を増やすことによって得られる。炎の高さを再度測定し,必要な場合は補正

する。

炎を試験する試験片の下端の中心と同心に置き,そこで 3 秒間保持する。

炎を試料から 150 mm 以上の距離に離し,試験片が連続して燃焼する時間を記録する。

燃焼が終わったとき,直ちに試験片の下に再度炎を置く。3 秒後炎を再び離し,有炎状態及び燃焼状態

の持続時間を記録する。

炎を当てている間に,試料が溶融物又は燃焼生成物を発生する場合は,バーナ管の中に落下物が入るこ

とを防ぐために,バーナを 45 度の角度まで傾け,わずかに試験片の横の方へ移動してもよい。

試験の間に,試験片が燃焼しながら炎から離れていく場合は,バーナを手で持ち,試験片の下端とバー

ナ管の先端を 9.5 mm の距離に保持する。溶融物の糸状のものは,無視する。

試験の間,次のことを観察し記録する。

a

) 1

回目にバーナを当てた後の有炎燃焼時間

b

) 2

回目にバーナを当てた後の有炎燃焼時間

c

)

試験片が脱脂綿を着火させる有炎燃焼微片を発生したかどうか。

d

) 2

回目にバーナを当てた後の,すべての燃焼時間

e

)

試験片が,125 mm の標線まで完全に燃えたかどうか。


24

C 2151

:2006

27.5

結果の判定  試験結果に従って,材料は表 で規定する VTF0,VTF1 及び VTF2 のクラスに分類す

る。

試験を通じて,次の a)又は b)の場合は,更に新しい 5 個の試験片で試験してもよい。

a

) 5

個の試験片の内一つが基準 A,C,D 又は E を満たさない。

b

)

基準 B で,燃焼時間の合計が規格値を 5 秒以上超えない。

2

度目の試験をした試験片は,すべてその試験片が分類されるクラスの規格を満たさなければならない。

  2  自己消炎性に関連する材料の分類

基準 VTF0

VTF1

VTF2

A

バーナを当てた後の有炎燃焼時間 10 秒以下

30

秒以下 30 秒以下

B 5

試験片すべてに 10 回バーナを当てた後の合計の燃焼時間 50 秒以下

250

秒以下 250 秒以下

C 125

mm

の標線まで燃焼した試験片の数 0

0

0

D

試験片から 300 mm 下に置いた脱脂綿に有炎着火できる微小片の発生

0 0 (

)

E 2

度目にバーナを取り去ってからの無炎燃焼の時間 30 秒以下

60

秒以下 60 秒以下

注*

有炎小片が短時間燃焼し,脱脂綿に着火してもよい。

28.

湿潤雰囲気での水分の吸収

28.1

装置  装置は,次による。

a

)

精度 0.1 mg の化学はかり

b

)

ひょう量瓶

c

)

IEC 60674-3

又は個別材料規格で規定する温度に保持できる恒温槽

d

)

デシケータ

e

)

中を相対湿度(93±2)%に保持できる容器

28.2

試験片  試験片は,3 個とする。試験片は,50 mm×50 mm のフィルムとし,質量が 300 mg 以上に

なる枚数とする。幅が 50 mm より小さいフィルムの場合は,試験片は,質量が 300 mg 以上になるような

長さとする。

28.3

手順

28.3.1

受理時の材料の吸水  受理状態で 3 個の試験片の質量をはかる。

これら試験片を,IEC 60674-3 の規定及び IEC 60212 

表 から選んだ時間,相対湿度(93±2)%の雰

囲気に置く。規定の時間経過後,直ちにそれぞれの試験片をひょう量瓶に入れて質量をミリグラムの単位

まではかる。それぞれの試験片の質量の増加分を計算する。

28.3.2

乾燥した材料の吸水  3 個の試験片を IEC 60674-3 の各シート又は個別材料規格に規定する温度の

恒温槽中で 24 時間乾燥し,

五酸化りんの入ったデシケータ中に少なくとも 1 時間置いて室温まで冷却する。

各試験片を密閉したひょう量瓶の中に入れて質量をミリグラムの単位まではかる。

これら試験片を,IEC 60674-3 の規定及び IEC 60212 

表 から選んだ時間,相対湿度(93±2)%の雰

囲気に置く。規定の時間経過後,直ちにそれぞれの試験片をひょう量瓶に入れて質量をミリグラムの単位

まではかる。それぞれの試験片の質量の増加分を計算する。

28.4

結果  要求に従って,受理状態又は乾燥状態いずれかについて 3 個の計算値の中央値を取り,初期

の質量に対する質量増加量の百分率を報告する。

29.

液体の吸収

29.1

原理  この方法は,フィルムが吸収した液体の質量を基にした間接法であり,吸収した液体による


25

C 2151

:2006

体積の増加は,フィルム及び液体の密度を用いて計算する。

29.2

装置  装置は,次による。

a

)

フィルムを約 50 mm×50 mm の正方形に切ることのできるナイフエッジが付いたポンチ,又はテンプ

レート及び鋭いナイフ若しくはかみそり。

b

)

精度 0.1 mg の化学はかり。

c

)

IEC 60674-3

の各シート又は個別材料規格で規定する試験温度に±1 K 以内で調節できる恒温槽。

d

)

直径 100 mm 以上の円形ガラス皿及び適切なガラスのふた。

e

)

試験片の表面から速やかに液体をふき取るのに適した厚さ 0.1∼0.15 mm のつや出しされていない吸

収性の紙。

f

)

ひょう量瓶

g

)

密度計又はピクノメータ

29.3

試験片  試験片は,3 個とする。試験片は,50 mm×50 mm のフィルムとし,質量が 300 mg 以上に

なる枚数とする。幅が 50 mm より小さいフィルムの場合は,試験片は,質量が 300 mg 以上になる長さと

する。

29.4

手順  規定の温度の恒温槽の中に,含浸させる液体を深さ 10 mm 以上まで入れたガラス皿を置く。

3

個の試験片の質量 を,温度 23  ℃±1 K で 0.1 mg の単位まではかる。

含浸させる液体が試験温度に達したら,3 個の質量をはかった試験片を互いに離して液体に浸せきさせ,

時間を記録する。

IEC 60674-3

の各シート又は個別材料規格で規定する時間経過した後,試験片を恒温槽から取り出し直

ちに試験片を別々に吸収性の紙の間に置き,きれいな紙で試験片の両面の液体を速やかに完全に数回ふき

取り,室温で試験片の質量 m

0

をはかる。

試験片を恒温槽から取り出してから,15 分以内にふき取り及び計量を終了する(

2

)

温度 23  ℃±1 K におけるフィルムの密度 は,5.によって測定する。

密度計を用いて温度 23  ℃±1 K における液体の密度 d

L

を測定する。

注(

2

)

含浸した液体は,室温でもある程度揮発するので,この時間を超えないのがよい。

29.5

計算  液体の吸収率は,次の式によって求める。

100

L

0

×

×

=

d

d

m

m

m

b

ここに,

b:  液体の吸収率(%)

m

0

:  浸せき後の試験片の質量(g)

m:  試験片の質量(g)

d: 23 ℃±1 K におけるプラスチックフィルムの密度(g/cm

3

d

L

: 23

℃±1 K における液体の密度(g/cm

3

29.6

結果  液体の吸収率は,3 個の計算値の中央値とする。

30.

イオン性不純物  イオン性不純物は,IEC 60589 による。

この方法は,イオン性の可溶性有機物及び/又は無機物の存在を,抽出液の体積導電率の増加によって

測定する。


26

C 2151

:2006

31.

絶縁ワニスの影響  絶縁ワニスの影響は,試験片を液体の絶縁ワニスに浸せきする前及び浸せき後に,

次の特性を測定する。

a

)

外観,例えば平たん性,透明性及び色相

b

)

厚さ(50 mm×50 mm の 5 個の試験片のそれぞれの中央で測定した値の中央値)

c

)

引張強さ及び破断時の伸び(縦方向における 5 個の測定値の中央値)

31.1

手順  液体のワニスに浸せきする前に試験片の特性を測定する。

使用状態の絶縁ワニスを適切な密封したガラス容器に入れ,

ワニスごとに定められた温度まで,

例えば,

液体バス又はホットキャビネットで加熱する。

液体ワニスがこの温度に達したとき,直ちに 5 個の試験片をワニスに浸せきする。そのとき,試験片が

互いに又は容器の壁と接触しないようにする。容器を再び密封する。定められた温度で 4 時間±15 分浸せ

き後,試験片を容器から 1 枚ずつ取り出し数秒間ワニス溶剤で洗浄し,ろ紙で軽くふく。洗浄及びふきの

作業は共に 60 秒以内に終了する。浸せき容器から取り出した試験片について,浸せきする前と同じ測定を

行う。測定は,浸せき容器から取り出して 3 分以内に完了する。

31.2

結果  ワニス浸せき後の試験結果の比較は,どのような変化が生じたかで決定する。試験結果とし

て絶縁ワニスによる次の変化を使用したワニスとともに報告する。

a

)

外観,例えば平たん性,透明性及び色相

b

)

厚さ変化の百分率(中央値)

c

)

引張強さ変化の百分率(中央値)

d

)

破断時伸びの変化の百分率(中央値)

32.

液状の重合性樹脂混和物の影響  液状の重合性樹脂混和物の影響は,試験片を樹脂混和物に浸せきす

る前及び浸せき後に,次の特性を測定する。

a

)

外観,例えば平たん性,透明性及び色相

b

)

厚さ(50 mm×50 mm の 5 個の試験片のそれぞれの中央で測定した値の中央値)

c

)

引張強さ及び破断時の伸び(縦方向における 5 個の測定値の中央値)

32.1

手順  手順は,31.1 よる。樹脂混和物に浸せきする温度及び時間は,用いる樹脂混和物の諸特性に

よる。ただし,浸せき時間は 4 時間を超えてはならない。指定時間後に試験片を取り出すが,取出しは,

樹脂混和物のゲル化が起こる前とする。取り出した試験片をトルエンで数秒間洗浄する。

32.2

結果  試験結果は,31.2 に従って評価する。液状の重合性樹脂混和物に浸せきした温度及び時間を

付記する。


27

C 2151

:2006

附属書 1(参考)摩擦係数の試験方法

この

附属書は,本体の 8.  摩擦係数の項目で引用している IEC 60648 の概要を参考として記載するもの

で,規定の一部ではない。

1.

適用範囲  この試験方法は,規定の条件でのプラスチックフィルム及びプラスチックシートの静摩擦

係数及び動摩擦係数の測定方法について記載する。

2.

装置  装置は,附属書 図 によるほか,次による。

a

)

そり  一辺が 63.5 mm の正方形,厚さが約 6 mm の金属ブロックで一方の端に適切なねじ丸環を付け

たもの。

厚さ 250 µm 以下のフィルムの場合には,そりに厚さ 3.2 mm の中密度フォームラバーを巻き付け,

その上に試験片を取り付ける。

厚さ 250 µm を超えるフィルムの場合には,そのまま取り付ける。

そり及び試験片の全質量は 200 g±5 g とする。

b

)

平板  寸法が約 150 mm×300 mm×1 mm で表面が平滑なプラスチック,木又は金属の板。

c

)

摩擦力測定装置  摩擦力を測定値の±5%で測定可能なもの。

d

)

支持台  約 200 mm×380 mm の木製又は金属製のもので,水平に保持する。

e

)

そり又は平板の駆動装置  1 分間に 150 mm±30 mm の均一な速度で,そり又は平板を引っ張る駆動装

置とし,次による。

1

)

附属書 図 の a)又は b)の装置を用いる場合には,スプリングゲージのスケールを補正する。平板

の 150 mm の箇所にマークを付けて駆動装置の速度を照合できるようにする。

2

)

附属書 図 の c),d)又は e)の装置を用いる場合には,引張試験機を使用し,クロスヘッドの動き

が 1 分間に 150 mm±30 mm になるようにする。

3.

試験片  試験片は,平板用試験片及びそり用試験片とし,次による。

a

)

平板用試験片及びそり用試験片は,試料からそれぞれ 5 枚を切り取る。

b

)

平板用試験片は,フィルムの縦方向 250 mm,横方向 130 mm とする。

c

)

そり用試験片は,厚さが約 250 µm 以下のフィルムでは,約 120 mm×120 mm とする。厚さが約 250 µm

を超えるフィルムでは 63.5 mm×63.5 mm とする。

4.

試験条件  試験条件は,次による。

a

)

試験片は,測定前に設定温度 23  ℃±2 K,設定相対湿度(50±5)%で,かつ,それぞれの変動が±1

K

,±2%の雰囲気で 40 時間以上調整する。

b

)

測定は,設定温度 23  ℃±2 K,設定相対湿度(50±5)%で,かつ,それぞれの変動が±1 K,±2%

の雰囲気で行う。


28

C 2151

:2006

5.

手順

a

)

平板用試験片は,

平板の移動方向に位置する先端部を両面接着テープで平板にはり付ける。

このとき,

フィルムと平板の縦方向とを一致させる。

b

)

そり用試験片は,ねじ丸環側の先端部を両面粘着テープを用いてそりの裏側にはり付ける。

c

)

試験片をはったそりのねじ丸環にナイロンフィラメントをつなぎ,それをスプリングゲージ又は荷重

を感知する装置(

附属書 図 の D 又は E)に接続する。

d

)

駆動機構を作動させる。そりが動き出す最初の最大値を静摩擦力(スケールの読み)として読み取る。

e

)

二つの表面がお互いの上を約 130 mm 一様に滑る間の平均値を,動摩擦力(スケールの読み)として

読み取る。

f

)

そりが 130 mm 以上動いたら,装置を止めて出発位置に戻す。

g

)

試験片をそり及び平板から外し,新しい試験片を取り付ける。同じ試験片で 2 回以上試験をしてはな

らない。

6.

計算  計算は,次による。

6.1

静摩擦係数  静摩擦係数は,次の式によって算出し,平均値で表す。

B

A

s

s

=

µ

ここに,

µ

s

静摩擦係数

A

s

最初に動いたときのスケールの読み(g)

B: そりの質量(g)

6.2

動摩擦係数  動摩擦係数は,次の式によって算出し,平均値で表す。

B

A

k

k

=

µ

ここに,

µ

k

動摩擦係数

A

k

フィルム表面が一様に滑っている間の平均スケールの読み

(g)

B: そりの質量(g)


29

C 2151

:2006

A

  そり

H

  定速駆動ロール

B

  平板

I

  ナイロンフィラメント

C

  支持板

J

  低摩擦滑車

D

  ひずみゲージ

K

  ウォームスクリュー

E

  スプリングゲージ

L

  半ねじ

F

  定速鎖駆動装置

M

  同期電動機

G

  定速引張試験機クロスヘッド

附属書   1  摩擦係数測定装置


30

C 2151

:2006

附属書 2(参考)表面抵抗及び体積抵抗率の試験方法

この附属書は,基礎として用いた IEC 規格にはないが,旧 JIS には規定していた試験方法について,こ

の規格の本体で規定する試験方法への移行過程を考慮し,参考として記載するものであり,規定の一部で

はない。

1.

表面抵抗

1.1

電極  電極は,次による。

a

)

電極材料は,導電性塗料,吹付け金属,蒸着金属,スパッタリング金属,コロイド状黒鉛,導電性ゴ

ムなどとする。

b

)

電極は,

附属書 図 のとおりとし,a)  の電極材料の中から適切なものを用いて試験片の表面に形成

する。

なお,すべての電極は,同じ材料とし,中心を合わせる。

c

)

補助電極は,黄銅製の円板を用いる。

単位  mm

附属書   1  表面抵抗測定用電極配置

1.2

試験片  試験片は,試料から約 100 mm×100 mm に切り取る。

1.3

試験条件  試験条件は,次による。

a

)

試験片の前処理条件は,

附属書 表 から選択する。

b

)

測定雰囲気は,前処理条件と同じとする。


31

C 2151

:2006

附属書   1  前処理条件及び測定雰囲気

温度

温度の許容差

K

相対湿度

時間

h

20

±2 65±5

23

±2 50±5

23

±2 1.5 以下

24

以上

1.4

試験電圧  試験電圧は,安定な直流とし,100 V,500 V 及び 1 000 V を標準とする。ただし,電圧

特性の測定に,又は測定の感度を上げるために,50 V,250 V,2 500 V,5 000 V 及び 15 000 V の電圧を用

いてもよい。

1.5

接続回路  接続回路は,附属書   2に示す電圧電流計法,ホイートストンブリッジを用いる比

較法又はエレクトロメータを用いる比較法とする。

附属書   2  電圧電流計 n 法の接続回路

附属書   3  ホイートストンブリッジ比較法の接続回路

附属書   4  エレクトロメータ比較法の接続回路


32

C 2151

:2006

1.6

手順

a

)

よく磨いた黄銅製平板(補助電極)の上に,電極を付けた試験片を置く。

b

)

主電極及び対電極の上にそれぞれ黄銅製円板(補助電極)を置き,表面抵抗の接続回路に入れる。

c

) 1

分間充電後の抵抗を測定する。

1.7

計算  表面抵抗は,電圧電流計法,ホイートストンブリッジ比較法、又はエレクトロメータ比較法

に応じ,次の式によって計算する。

a

)

電圧電流計法の場合には,次の式によって求める。

N

N

N

S

R

V

R

V

R

=

                      ただし,R

N

R

S

ならば,次の近似式を用いてもよい。

N

N

S

V

R

V

R

=

ここに,  R

S

:  表面抵抗(

Ω)

R

N

:  標準抵抗(

Ω)

V

N

:  標準抵抗 R

N

にかかる電圧(V)

V:  印加電圧(V)

b

)

ホイートストンブリッジ比較法の場合には,次の式によって求める。

A

N

B

S

R

R

R

R

×

=

ここに,  R

S

:  表面抵抗(

Ω)

R

N

:  標準抵抗(

Ω)

R

A

:  可変抵抗(

Ω)

R

B

:  固定抵抗(

Ω)

c

)

エレクトロメータ比較法の場合には,次の式によって求める。

÷÷ø

ö

ççè

æ

=

1

1

2

N

S

I

I

R

R

                      ただし,   >100 ならば,次の近似式を用いてもよい。

1

2

N

S

I

I

R

R

=

ここに,  R

S

:  表面抵抗(

Ω)

R

N

:  標準抵抗(

Ω)

I

1

:  スイッチ K を開放して表面抵抗 R

S

及び標準抵抗 R

N

に電圧を印

加したときに流れる電流(A)

I

2

:  スイッチ K を閉じて標準抵抗 R

N

に電圧を印加したときに流れ

る電流(A)

1.8

表面抵抗率の計算  表面抵抗率の計算は,1.7 によって得られた値を用いて次の式によって求め,中

央値をとる。

S

S

)

(

R

d

D

d

D

π

+

=

ρ

1

2

I

I


33

C 2151

:2006

ここに,

ρ

S

表面抵抗率(

Ω)

d: 主電極の外径(m)

D: 対電極の内径(m)

R

S

表面抵抗(

Ω)

π:

円周率 3.14

また,試験条件,電極の形及び印加電圧を記録する。

2.

体積抵抗率  円平板電極法による体積抵抗率の求め方は,次による。

2.1

電極  電極は,次による。

a

)

電極材料は,1.1 a)  による。

b

)

電極は,

附属書  2 図 のとおりとし,a)の電極材料の中から適切なものを用いて試験片の表面に形成

する。

なお,すべての電極は,同じ材料とし,中心を合わせる。

単位  mm

附属書   5  体積抵抗率測定用電極配置

c

)

補助電極は,1.1 c)  による。

2.2

試験片  試験片は,1.2 による。

2.3

厚さの測定  厚さの測定は,電極を置く場所をあらかじめ定めておき,本体の 4.1 又は 4.2 によってそ

の場所内の 5 か所の点について行い,その平均値を厚さとする。

2.4

試験条件  試験条件は,1.3 による。

2.5

試験電圧  試験電圧は,1.4 による。

2.6

接続回路  接続回路は,附属書   6に示す電圧電流計法,ホイートストンブリッジ比較法又は

エレクトロメータ比較法の接続回路とする。


34

C 2151

:2006

附属書   6  電圧電流計法の接続回路

附属書   7  ホイートストンブリッジ比較法の接続回路

附属書   8  エレクトロメータ比較法の接続回路

2.7

手順

a

)

よく磨いた黄銅製平板の上に,電極を付けた試験片を置く。

b

)

主電極及びガード電極の上に,それぞれ黄銅製の円板を置き,体積抵抗の接続回路に入れる。

c

) 1

分間充電後の抵抗を測定する。

2.8

体積抵抗の計算  体積抵抗は,電圧電流計法,ホイートストンブリッジ比較法又はエレクトロメー

タ比較法に応じ,次の式によって計算する。

a

)

電圧電流計法の場合には,次の式によって求める。


35

C 2151

:2006

N

N

N

V

R

V

R

V

R

=

                      ただし,R

N

R

V

の場合は,次の近似式を用いてもよい。

N

N

V

V

R

V

R

=

ここに,

V:  印加電圧(V)

R

V

:  体積抵抗(

Ω)

R

N

:  標準抵抗(

Ω)

V

N

:  標準抵抗 R

N

にかかる電圧(V)

b

)

ホイートストンブリッジ比較法の場合には,次の式によって求める。

A

N

B

V

R

R

R

R

×

=

ここに,  R

V

:  体積抵抗(

Ω)

R

N

:  標準抵抗(

Ω)

R

A

:  可変抵抗(

Ω)

R

B

:  固定抵抗(

Ω)

c

)

エレクトロメータ比較法の場合には,次の式によって求める。

÷÷ø

ö

ççè

æ

=

1

1

2

N

V

I

I

R

R

                    ただし,   >100 の場合は,次の近似式を用いてもよい。

÷÷ø

ö

ççè

æ

=

1

2

N

V

I

I

R

R

ここに,  R

V

:  体積抵抗(

Ω)

R

N

:  標準抵抗(

Ω)

I

1

:  スイッチ K を開放して体積抵抗 R

V

及び標準抵抗 R

N

に電圧を印

加したときに流れる電流(A)

I

2

:  スイッチ K を閉じて,標準抵抗 R

N

に電圧を印加したときに流

れる電流(A)

2.9

体積抵抗率の計算    体積抵抗率は,2.8 によって得られた値を用いて,次の式によって求め,中央

値をとる。

V

2

V

4

R

t

d

π

ρ =

ここに,

ρ

V

体積抵抗率(

Ω・m)

d: 主電極の外径(m)

t: 電極の厚さ(m)

R

V

体積抵抗(

Ω)

π:

円周率 3.14

また,試験温度,電極の形及び電圧を記録する。 

関連規格  JIS C 2150  電気用プラスチックフィルム通則

1

2

I

I


36

C 2151

:2006

附属書 3(参考)JIS と対応する国際規格との対比表

JIS C 2151

:2006  電気用プラスチックフィルム試験方法

IEC 60674-2

:1988  電気用プラスチックフィルムの規格−第 2 部:試験方法及び Amendment 1:2001

(Ⅰ)JIS の規定

(Ⅲ)国際規格の規定

(

Ⅳ)JIS と国際規格との技術的差異の項目

ごとの評価及びその内容

表示箇所:本体 
表示方法:側線又は点線の下線

項目番号

内容

(Ⅱ)国
際 規 格

番号

項目

番号

内容

項目ごとの

評価

技術的差異の内容

(

Ⅴ)JIS と国際規格との技術

的差異の理由及び今後の対策

1.

適用範囲

電気用プラスチックフ

ィルムの試験方法を規
定。

IEC 

60674-2

1

JIS

に同じ。 IDT

2.

引用規格 19 規格を規定。

序文に 20 規格を記載。 IDT

3.

試 験 に 関

する一般注意
事項

試験片の前処理及び試

験条件を規定。

 2

JIS

に同じ。 IDT

4.

厚さ

4.1

マイクロ

メータ法

JIS K 7130

の A 法によ

る。

 3

3.1

ISO 4593

による。

IDT

4.2

質量法

JIS K 7130

の B1 法によ

る。

 3.2

ISO 4591

による。 IDT

4.3

ロールの

平均質量法

JIS K 7130

の B2 法によ

る。

 3.3

ISO 4591

による。 IDT

3.4

厚さ変動のプロファイル:検
討中。

MOD/

削除

項目を削除した。

検討中であり,規定内容がな
い。

5.

密度

JIS K 7112

による。

ISO 1183

による。 IDT

6.

ISO 4592

による。

5

JIS

に同じ。 IDT

7.

巻取り性

7.3 A

曲がり及びたるみ測定

 6

6.3

JIS

に同じ。

IDT

36

C

 2151


2006


37

C 2151

:2006

(Ⅰ)JIS の規定

(Ⅲ)国際規格の規定

(

Ⅳ)JIS と国際規格との技術的差異の項目

ごとの評価及びその内容 
表示箇所:本体

表示方法:側線又は点線の下線

項目番号

内容

(Ⅱ)国
際 規 格
番号

項目

番号

内容

項目ごとの

評価

技術的差異の内容

(

Ⅴ)JIS と国際規格との技術

的差異の理由及び今後の対策

7.4 B

曲がり及びたるみ測定

6.4  JIS

に同じ。 IDT

7

表面粗さ:検討中 MOD/削除

項目を削除した。

検討中であり,規定内容がな
い。

8.

摩擦係数

IEC 60648

による。

JIS

に同じ。 IDT

9.

ぬれ張力

結果の報告:測定値の差

を 2.0 mN/m 以下と規
定。

 9

結果の報告:測定値の差を 2.0

mN/m

未満と規定。

MOD/

変更

測定値の差を 2.0 mN/m 以下

と変更した。

9.4

試験片の項では,2.0 mN/m

を超えるとなっており原規格
では 2.0 mN/m の場合が含ま
れない。IEC 規格の修正を提

案する。

10.

引張特性

JIS K 7127

による。

10

ISO 527-3

による。 IDT

11.

端裂抵抗

11.1 A

JIS C 2120

による。

 11

JIS

に同じ。

MOD/

選択

11.2 B

旧 JIS(JIS C 2318:1975)
の方法を規定。 

 

異なる形 状の試験 金具を 規
定。

我が国で広く用いられている
方法である。IEC 規格の修正
提案する。

12.

引裂抵抗

JIS K 7128-1

又は JIS K 

7128-2

による。

 12

ISO 6383-2

又は ISO 6383-1

による。

IDT

13.

フィルム

の剛性

フィルムが自重で一定
角度に曲がる時間によ
る。

 13

JIS

に同じ。 IDT

14.

表面抵抗

IEC 60093

による。

14

JIS

に同じ。 IDT

15.

体積抵抗

15.1 A

平板電極による方法。

 15

15.1

IEC 60093

による。

IDT

15.2 B

巻回コンデンサによる
方法。

 15.2

JIS

に同じ。 IDT

37

C

 2151


2006


38

C 2151

:2006

(Ⅰ)JIS の規定

(Ⅲ)国際規格の規定

(

Ⅳ)JIS と国際規格との技術的差異の項目

ごとの評価及びその内容 
  表示箇所:本体

  表示方法:側線又は点線の下線

項目番号

内容

(Ⅱ) 
国 際 規
格番号

項目

番号

内容

項目ごとの

評価

技術的差異の内容

(

Ⅴ)JIS と国際規格との技術

的差異の理由及び今後の対策

16.

誘電正接

及び誘電率

16.1 A

IEC 60250

による。

 16

16.1

JIS

に同じ。

IDT

16.2 B

巻回コンデンサによる

方法。

 16.2

JIS

に同じ。 

IDT

17

含 浸 状 態 に お け る 誘 電 正
接:要求事項ではない。試験
の詳細は,当事者間の合意に

よる。

MOD/

削除

項目を削除した。

規定内容がない。

17.

絶縁破壊

の強さ

17.1

交 流 試

JIS C 2110

による。油中

及び気中での試験。

 18

18.1

IEC 60243

による。油中での

試験。

MOD/

選択

気中での 試験を選 択でき る
とした。

我が国で多くの実績がある。

IEC

規格の修正を提案する。

17.2

直 流 試

17.2.1

巻回式

コンデンサ法

巻回コンデンサによる

方法。

18.2

JIS

に同じ。

MOD/

選択

17.2.2

平板電

極法

直径 25mm の上部電極

とアルミニウムはくの
下部電極による方法。

平板電極 法を選択 できる と

した。

簡便な測定法として実績があ

る。IEC 規格の修正を提案す
る。

18.

電気的欠

18.1 A

長尺で幅の狭いフィル

ムの試験方法。

 19

19.1

JIS

に同じ。

MOD/

選択

D

法を選択できるとした。

18.2 B

幅が広いフィルムの試

験方法。

 19.2

JIS

に同じ。

38

C

 2151


2006


39

C 2151

:2006

(Ⅰ)JIS の規定

(Ⅲ)国際規格の規定

(Ⅳ)JIS と国際規格との技術的差異の項目
ごとの評価及びその内容 
表示箇所:本体

表示方法:側線又は点線の下線

項目番号

内容

(Ⅱ) 
国 際 規
格番号

項目

番号

内容

項目ごとの

評価

技術的差異の内容

(Ⅴ)JIS と国際規格との技
術的差異の理由及び今後の対

18.3 C

ロール状フィルムの試
験。

 19.3

JIS

に同じ。

18.4 D

ローラ電極ギャップ法。  

 

簡便な測定法として実績があ
り,選択できることとした。

IEC

規格の修正を提案する。

19.

表面放電

による耐絶縁
破壊

IEC 60343

による。 

 20

JIS

に同じ。 

IDT

20.

電解腐食

IEC 60426

による。

21

JIS

に同じ。 IDT

22

融点:検討中。 MOD/削除

項目を削除した。

検討中であり,規定内容がな
い。

21.

寸法変化

100 mm

×100 mm の試

験片でフィルムの寸法

を測定。又は,20 mm×

150 mm

の試験片に間隔

100 mm

の標線を付け,

標線間の寸法を測定。

 23

100

mm

×100 mm の試験片で

フィルムの寸法変化を測定。

MOD/

選択 20

mm

×150 mm の試験片を

用いる B 法を選択できるとし

た。

国内で簡便な試験方法として
実績がある。IEC へ提案する。

22.

張力下昇

温寸法安定性

試験片の標線の長さが

40

%増加したときの温

度を測定。

 24

JIS

に同じ。 IDT

23.

圧力下昇

温寸法安定性

荷重をかけた直交する
金属線間のフィルムが
破壊する温度を測定。

 25

JIS

に同じ。 IDT

24.

昇温貫通

抵抗

JIS C 2107

による。

26

IEC 60454-2

による。 IDT

25.

揮発分

(加熱減量)

規定温度で過熱したと
きの質量減少を測定。

 27

JIS

に同じ。 IDT

39

C

 2151


2006


40

C 2151

:2006

(Ⅰ)JIS の規定

(Ⅲ)国際規格の規定

(

Ⅳ)JIS と国際規格との技術的差異の項目

ごとの評価及びその内容 
表示箇所:本体

表示方法:側線又は点線の下線

項目番号

内容

(Ⅱ) 
国 際 規
格番号

項目

番号

内容

項目ごとの

評価

技術的差異の内容

(

Ⅴ)JIS と国際規格との技術

的差異の理由及び今後の対策

26.

熱 的 耐 久

IEC 60216-1

及び IEC 

60216-2

による。

 28

IEC 60216-1

及 び

IEC 

60216-2

による。

IDT

27.

燃焼性

垂直での燃焼性の試験
方法。

 29

JIS

に同じ。 

IDT

28.

湿潤雰囲

気での水分の

吸収

相対湿度(93±2)%に
規定時間置いたときの

質量の増加を測定。

 30

JIS

に同じ。 IDT

29.

液体の吸

規定条件で浸せき後の

質量増加を測定。

 31

JIS

に同じ。 IDT

30.

イオン性

不純物

IEC 60589

による。

32

JIS

に同じ。 IDT

31.

絶縁ワニ

スの影響

規定時間浸せき後,外
観,及び引張特性の変化

を測定する。

 33

JIS

に同じ。 IDT

32.

液状の重

合性樹脂混和
物の影響

規定時間浸せき後,外

観,及び引張特性の変化
を測定する。

 34

JIS

に同じ。 IDT

JIS

と国際規格との対応の程度の全体評価:MOD

備考1.  項目ごとの評価欄の記号の意味は,次のとおりである。

−IDT  技術的差異がない。 
−MOD/削除 国際規格の規定項目又は規定内容を削除している。 
−MOD/変更 国際規格の規定内容を変更している。

−MOD/選択 国際規格の規定内容と別の選択肢がある。

2.  JIS

と国際規格との対応の程度の全体評価の記号の意味は,次のとおりである。

−MOD 国際規格を修正している。

40

C

 2151


2006