>サイトトップへ >このカテゴリの一覧へ

C 2143-6

:2014 (IEC 60216-6:2006)

(1)

目  次

ページ

序文  

1

1

  適用範囲  

1

2

  引用規格  

2

3

  用語,定義,記号及び略語  

2

3.1

  用語,略号及び定義  

3

3.2

  記号及び略語  

6

4

  固定時間枠法の試験手順  

7

4.1

  原理及び目的  

7

5

  温度指数の測定  

7

5.1

  劣化処理手順  

7

5.2

  劣化処理時間及び劣化処理温度  

8

5.3

  試験片  

8

5.4

  特性試験  

9

5.5

  終点の選択  

9

5.6

  初期特性値の確定  

9

5.7

  劣化処理条件  

9

5.8

  劣化処理の手順  

10

6

  計算手順  

10

6.1

  一般原理  

10

6.2

  計算の精度  

11

6.3

  特性値に相当する温度の誘導  

11

6.4

  回帰分析(時間に対する温度)  

14

6.5

  統計検定  

15

6.6

  熱的耐久グラフ  

17

7

  計算及び結果の要求事項  

17

7.1

  熱的耐久性の計算  

17

7.2

  結果報告  

17

8

  試験報告  

18

9

  相対熱的耐久性指数の求め方  

18

9.1

  相対熱的耐久性指数を求める目的 

18

10

  追加記号  

18

11

  相対熱的耐久性指数の試験手順  

19

11.1

  照査標準電気絶縁材料の選択  

19

11.2

  劣化の程度を評価するための特性試験の選択  

19

11.3

  劣化処理手順  

19


C 2143-6

:2014 (IEC 60216-6:2006)  目次

(2)

ページ

12

  相対熱的耐久性指数の計算手順  

19

12.1

  一般原理  

19

12.2

  入力データ  

19

12.3

  相対熱的耐久性指数(RTE  

20

12.4

  信頼限界  

20

12.5

  外挿  

21

13

  相対熱的耐久性指数の結果及び報告  

21

13.1

  統計検定及び数値検定の結果  

21

13.2

  結果  

22

13.3

  試験報告  

22

附属書 A(規定)判定のフローチャート  

23

附属書 B(規定)判定表  

24

附属書 C(参考)統計表  

25

附属書 D(参考)推奨する劣化処理の時間及び温度  

29

附属書 E(参考)図  

31

附属書 F(規定)二つの回帰推定値の差の統計的有意性  

34

附属書 G(参考)コンピュータプログラム  

35


C 2143-6

:2014 (IEC 60216-6:2006)

(3)

まえがき

この規格は,工業標準化法第 12 条第 1 項の規定に基づき,一般社団法人電気学会(IEEJ)及び一般財団

法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり,日本

工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が制定した日本工業規格である。

この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。

この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意

を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実

用新案権に関わる確認について,責任はもたない。

JIS C 2143

の規格群には,次に示す部編成がある。

JIS

C

2143-1

  第 1 部:劣化処理手順及び試験結果の評価

JIS

C

2143-2

  第 2 部:熱的耐久性の測定−評価指標の選択

JIS

C

2143-3

  第 3 部:熱的耐久性の計算の手引き

JIS

C

2143-4-1

  第 4-1 部:劣化処理オーブン−シングルチャンバオーブン

JIS

C

2143-4-2

  第 4-2 部:劣化処理オーブン−300  ℃以下の精密オーブン

JIS

C

2143-4-3

  第 4-3 部:劣化処理オーブン−マルチチャンバオーブン

JIS

C

2143-5

  第 5 部:相対熱的耐久性指数(RTE)の求め方

JIS

C

2143-6

  第 6 部:固定時間枠法を用いる絶縁材料の熱的耐久性指数(温度指数及び相対熱的耐久

性指数)の求め方


日本工業規格

JIS

 C

2143-6

:2014

(IEC 60216-6

:2006

)

電気絶縁材料−熱的耐久性−

第 6 部:固定時間枠法を用いる絶縁材料の

熱的耐久性指数(温度指数及び相対熱的耐久性指数)

の求め方

Electrical insulating materials-Thermal endurance properties-

Part 6: Determination of thermal endurance indices (temperature index and

relative thermal endurance index) of an insulating material using

the fixed time frame method

序文 

この規格は,2006 年に第 2 版として発行された IEC 60216-6 を基に,技術的内容及び構成を変更するこ

となく作成した日本工業規格である。

なお,この規格で側線又は点線の下線を施してある参考事項は,対応国際規格にはない事項である。

適用範囲 

この規格は,固定時間枠法(fixed time frame method:FTFM)を用いて,電気絶縁材料の熱的耐久性と

して温度指数(TI)及び相対熱的耐久性指数(RTE)を求めるための試験手順及び計算手順について規定

する。

この規格(固定時間枠法)では,熱的耐久性を測定するための熱劣化処理を,幾つかの適切な水準の劣

化処理温度において,少数の固定した劣化処理時間を設定して行い,それぞれの設定した時間間隔の終わ

りで試験片の特性を測定する。JIS C 2143-1 の方法では,少数の熱劣化処理温度で,特性値が終点に到達

するまで特性試験を規定の時間間隔で行い,熱劣化処理を継続することが,この試験法と異なる。

固定時間枠法で用いることができる特性試験は,破壊試験に限られ,非破壊試験及び保証試験には適さ

ない。

固定時間枠法による温度指数及び相対熱的耐久性指数は,この規格で部分的に修正した JIS C 2143-1 

び JIS C 2143-5 の試験手順に従った試験データから求める。この規格の計算手順及び統計検定は,JIS C

2143-3

及び JIS C 2143-5 に修正を加えたものである。

注記  この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。

IEC 60216-6:2006

, Electrical insulating materials − Thermal endurance properties − Part 6:

Determination of thermal endurance indices (TI and RTE) of an insulating material using the fixed

time frame method(IDT)

なお,対応の程度を表す記号“IDT”は,ISO/IEC Guide 21-1 に基づき,

“一致している”こ


2

C 2143-6

:2014 (IEC 60216-6:2006)

とを示す。

引用規格 

次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの

引用規格のうちで,西暦年を付記してあるものは,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追補を含む。

は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は,その最新版(追補を含む。

)を適用する。

JIS C 2142

  固体電気絶縁材料−試験前及び試験時における標準状態

注記  対応国際規格:IEC 60212:2010,Standard conditions for use prior to and during the testing of solid

electrical insulating materials(MOD)

JIS C 2143-1

  電気絶縁材料−熱的耐久性−第 1 部:劣化処理手順及び試験結果の評価

注記  対応国際規格:IEC 60216-1:2001,Electrical insulating materials−Properties of thermal endurance

−Part 1: Ageing procedures and evaluation of test results(IDT)

JIS C 2143-2

  電気絶縁材料−熱的耐久性−第 2 部:熱的耐久性の測定−評価指標の選択 

注記  対応国際規格:IEC 60216-2,Electrical insulating materials−Thermal endurance properties−Part

2: Determination of thermal endurance properties of electrical insulating materials−Choice of test 
criteria(IDT)

JIS C 2143-3

  電気絶縁材料−熱的耐久性−第 3 部:熱的耐久性の計算の手引き 

注記  対応国際規格:IEC 60216-3:2006,Electrical insulating materials−Thermal endurance properties

−Part 3: Instructions for calculating thermal endurance characteristics(MOD)

JIS C 2143-4-1

  電気絶縁材料−熱的耐久性−第 4-1 部:劣化処理オーブン−シングルチャンバオーブ

 

注記  対応国際規格:IEC 60216-4-1,Electrical insulating materials−Thermal endurance properties−Part

4-1: Ageing ovens−Single-chamber ovens(MOD)

JIS C 2143-4-2

  電気絶縁材料−熱的耐久性−第 4-2 部:劣化処理オーブン−300  ℃以下の精密オーブ

 

注記  対応国際規格:IEC 60216-4-2,Electrical insulating materials−Thermal endurance properties−Part

4-2: Ageing ovens−Precision ovens for use up to 300  ℃(MOD)

JIS C 2143-4-3

  電気絶縁材料−熱的耐久性−第 4-3 部:劣化処理オーブン−マルチチャンバオーブン

注記  対応国際規格:IEC 60216-4-3,Electrical insulating materials−Thermal endurance properties−Part

4-3: Ageing ovens−Multi-chamber ovens(MOD)

JIS C 2143-5

  電気絶縁材料−熱的耐久性−第 5 部:相対熱的耐久性指数(RTE)の求め方 

注記  対応国際規格:IEC 60216-5,Electrical insulating materials−Thermal endurance properties−Part

5: Determination of relative thermal endurance index (RTE) of an insulating material(IDT)

IEC 60493-1:1974

,Guide for the statistical analysis of ageing test data−Part 1: Methods based on mean values

of normally distributed test results

用語,定義,記号及び略語 

この規格で用いる主な用語,定義,記号及び略語は,次による。


3

C 2143-6

:2014 (IEC 60216-6:2006)

3.1 

用語,略号及び定義 

3.1.1 

実績熱的耐久性指数,ATE(assessed thermal endurance index)

特定の用途において,そこまでの温度で照査標準電気絶縁材料が公知の十分な使用実績をもつ温度(℃)

の数値。

注記 1  特定の電気絶縁材料の実績熱的耐久性指数は,異なる使用状態では異なることがある。 

注記 2  実績熱的耐久性指数は,しばしば“絶対”熱的耐久性指数ということがある。

3.1.2 

劣化処理温度(ageing temperature)

熱的に劣化処理するために試験片グループを暴露する温度(℃)

3.1.3 

終点温度(end-point temperature)

試験片が規定時間の劣化処理によって終点に到達すると推定される温度(℃)

3.1.4 

評価対象電気絶縁材料(candidate material)

推定される熱的耐久性を確定するために評価試験を受ける電気絶縁材料。

3.1.5 

データグループの中央 次モーメント(central second moment of a data group)

データグループの要素の平均からの偏差の平方和をグループ中のデータ数で除したもの。

3.1.6 

95 %

信頼限界(95 % confidence limit)

試験データから計算され,統計分析によって推定される数量の真値について,上側又は下側の範囲を

95 %の信頼性で与える統計的パラメータ。

注記 1 95

%の信頼性とは,推定される量の真値が信頼限界の上側(又は下側)より大きい(又は小

さい)確率が 5 %だけであるという意味である。 

注記 2  信頼限界は 95 %に限らず,例えば,破壊試験データの直線性の検定では,95 %以外の信頼限

界を用いることがある。 

3.1.7 

照査標準電気絶縁材料(control material)

望ましくは使用経験をもとに得られた,既知の実績熱的耐久性指数をもち,評価対象電気絶縁材料との

比較評価試験に参照として用いる電気絶縁材料。

3.1.8 

相関係数(correlation coefficient)

二つのデータセットの要素間の関係の完全性を表す数。相関係数は,共分散をセットの分散の積の平方

根で除したものに等しい。

注記 1  その平方の値は,0(相関なし)と 1(完全な相関)との間である。

注記 2  この規格では,二つのデータセットとは独立変数の値,及び対応する従属変数グループの平

均値である。

3.1.9 

(相対熱的耐久性指数の)対比時間[correlation time(RTE)]


4

C 2143-6

:2014 (IEC 60216-6:2006)

照査標準電気絶縁材料が,その実績熱的耐久性指数に等しい温度(℃)で,終点に到達する推定時間。

3.1.10 

(温度指数の)対比時間[correlation time(TI)]

温度指数の計算に用いる,仮定上の終点到達時間。

注記  通常の値は,20 000 時間である。

3.1.11 

(データセットの)共分散[covariance(of data sets)]

一組の各要素がその他の要素に対応する等しい数の対応する要素からなるデータの二つのセットについ

て,そのセットの平均からの要素の偏差の積の合計を,自由度で除したもの。

3.1.12 

自由度(degrees of freedom)

データの数からパラメータの数を引いた数。

3.1.13 

破壊試験(destructive test)

特性測定によって試験片が不可逆的な変化を受け,同一試験片での繰り返し測定をすることができない

特性試験。

注記  破壊試験の一例としては,絶縁耐力の測定がある。非破壊試験の一例としては,誘電損失(tan

δ)の測定がある。

3.1.14 

終点ライン(end-point line)

特性−温度グラフにおいて,規定の特性変化(終点)を示す値で温度軸に平行に引いた直線。

3.1.15 

半減温度幅,HIC(halving interval)

温度指数に等しい温度と,半減温度(温度指数に等しい温度で得た終点到達時間の半分の時間に対応す

る温度)との温度間隔(K)の数値。

3.1.16 

回帰分析(regression analysis)

二つのデータグループの対応する要素間の関係を示す最適直線を想定し,その直線と一つのグループの

個々の要素との偏差平方和が最小になるように,最適直線を導く過程。

3.1.17 

回帰係数(regression coefficients)

回帰分析から導かれる最適直線の式の係数。

3.1.18 

相対熱的耐久性指数,RTE(relative thermal endurance index)

評価対象電気絶縁材料の推定終点到達時間が,照査標準電気絶縁材料の実績熱的耐久性指数で推定した

終点到達時間と同じになる温度(℃)の数値。

注記  この相対熱的耐久性指数の値は,評価対象電気絶縁材料で推定される寿命到達時間が,照査標

準電気絶縁材料がその実績熱的耐久性指数に等しい温度で推定される終点到達時間と等しいと

きの,温度(℃)の値である。


5

C 2143-6

:2014 (IEC 60216-6:2006)

3.1.19 

有意(significance)

統計学から導かれる関数値の特定の値より大きい確率。

注記  この値は,が累積分布関数値であるときに,

(1−p)に等しい。有意は,慣例的に有意水準(P

より上側の状態として表示される。

3.1.20 

標準偏差(standard deviation)

データグループ又はサブグループの分散の平方根。

3.1.21 

データグループ特性の真値の推定の標準誤差(standard error of an estimate of the true value of a data group

property)

グループ特性がその一部をなすと想定される,仮定的な抽出母集団の標準偏差。

注記  グループ平均の推定では,標準誤差はグループの標準偏差をグループ中のデータ数の平方根で

除したものに等しく,平均の真値の推定での不確かさを示す。この規格では,標準誤差は平均

値の信頼区間の計算及び二つの平均値の差の検定に用いる。

3.1.22 

温度指数,TI(temperature index)

20 000 時間(又はその他の規定する時間)における熱的耐久性の関係から導く温度(℃)の数値。

3.1.23 

(試験片の)温度グループ[temperature group(of specimens)]

同じオーブンの中で共に同じ温度に暴露する試験片のグループ。

注記  誤解のおそれがない場合,温度グループを,単に“グループ”といってよい。

3.1.24 

(試験片の)試験グループ[test group(of specimens)]

破壊試験で,温度グループの中から同じ時間に取り出す試験片のグループ。

注記  誤解のおそれがない場合,試験グループを,単に“グループ”といってよい。

3.1.25 

熱的耐久グラフ(thermal endurance graph)

熱的耐久性試験で,規定する終点到達時間の対数(縦軸)を,試験した熱力学的温度(絶対温度)の逆

数(横軸)を用いてプロットしたグラフ。

3.1.26 

熱的耐久グラフ用紙(thermal endurance graph paper)

縦軸に 10 倍ごとの対数時間目盛をもち,横軸に熱力学的温度(絶対温度)の逆数の目盛をもつグラフ用

紙。

注記  一般に縦軸は,常用対数を用いて 10 の累乗で目盛る(10 時間から 100 000 時間までをとること

が多い。

。通常,横軸は非均等な温度目盛(℃)で,温度が左から右に増す方向で目盛るのが

都合がよい。

3.1.27 

(試験片の)時間グループ[time group(of specimens)]

特性試験のために同じ時間で取り出す試験グループ。


6

C 2143-6

:2014 (IEC 60216-6:2006)

3.1.28 

データグループの分散(variance of a data group)

一つ以上のパラメータによって定義した照合水準からのデータ偏差の平方和を,自由度で除したもの。

注記  照合水準は,例えば,平均値(1 パラメータ)又は直線(ここでは,独立変数軸上の切片及び

勾配の 2 パラメータ)

3.2 

記号及び略語 

箇条 6,箇条 及び箇条 12 の計算に,次の記号及び略語を用いる。

記号及び略語

    説明

        箇条番号

a

  回帰係数:軸に対する回帰直線の切片

6.4.3

b

  回帰係数:軸に関係する回帰式の勾配

6.4.3

b

r

c

Yˆ

の計算で

b

から導かれるパラメータ

6.5.3

b

p

破壊試験計算での回帰係数

6.3.4

c

  χ

2

の計算におけるパラメータ

6.5.1

F

直線性検定における

F

分布した分散比

6.3.3

6.5.2

g

h

i

j  

回帰計算での指標添字

6.3

6.4

HIC

半減温度幅

7.1

k

劣化処理時間の数

6.1.1

N

  x

ij

の値の全数

6.4.2

n

i

温度グループ

i

の中の

x

ij

の値の数

6.1.1

P

統計検定式の値の有意水準

附属書 A,附属書 及び附属書 C

p

e

終点の特性値

6.3

p

gh

(時間グループ

i

を含む。

)温度グループ

g

の中の特性値

h

6.3

g

p

(時間グループ

i

を含む。

)温度グループ

g

中の特性値の平均

6.3

q

χ

2

計算での対数の底

6.5.1

r

時間グループ

i

の中の選定した温度グループの数

6.3.2

r

2

相関係数の平方

6.4.3

s

2

  x

の値の全体の(回帰を考えない)分散

6.5.2

2

1g

(時間グループ

i

を含む。

)温度グループ

g

の中の特性値の分散

6.3.2

2

a

s

受入可能な非直線性が認められる調整した s

2

の値

6.5.2

2

r

s

c

Y

ˆ

の計算で s

2

から導くパラメータ

6.5.3

t

スチューデントの 分布する確率変数

6.5.3

TC

TC

a

TI

又は

TI

a

の下側信頼限界(上記

2

a

参照)

7.1

t

p,N

確率 及び自由度 の 

6.5.3

x

ij

時間グループ の中の指標添字 における の値

6.3.4

x

の値の総平均

6.4.2

Xˆ

c

Xˆ

  x

の推定値及びその信頼限界

6.5.3

y

i

時間グループ

i

における

y

の値

6.1.1

  y

の値の総平均

6.4.2

Yˆ

c

Yˆ

  y

の推定値及びその信頼限界

6.5.3


7

C 2143-6

:2014 (IEC 60216-6:2006)

z

ij

ij

ϑ に関する熱力学的温度(

K

)の逆数

6.1.1

μ

2

(y)

y

の値の中央

2

次モーメント

6.4.2

ν

i

を含む。

)温度グルーブの中の特性値の数

6.3.2

χ

2

分散の同等性の(バートレットの)検定における

χ

2

分布する変数

6.5.1

ij

ϑ

時間グループ

i

の中の試験片グループ

j

についての劣化処理温度

6.1.1

Θ

0

273.15

K

0

℃に相当)

6.1.1

τ

i

時間グループ

i

についての劣化処理時間

6.1.1

固定時間枠法の試験手順 

4.1 

原理及び目的 

4.1.1 

固定時間枠法の手順の原理 

固定時間枠法は,熱的耐久性を測定するための熱劣化処理を,少数かつ固定した時間で行うとの考えに

基づいている。この試験方法では,それぞれの熱劣化処理時間において,選択した特性の測定値が終点に

到達できるように,熱劣化処理温度を十分広い範囲で設定する。

JIS C 2143-1

の固定温度枠法の手順との相違は,JIS C 2143-1 が少数の劣化処理温度を用いて,終点に到

達するまで間隔をおいて特性試験を行っていることである。

4.1.2 

固定時間枠法の手順の目的 

固定時間枠法の手順の目的は,次の利点をもたらすことである。

熱的耐久性の測定が,固定し,かつ,あらかじめ定めた時間で完了する。

このことによって,測定をより効率的に計画することが可能であるため,しばしば十分な商業的利益が

ある。基本的な温度指数の測定は,

5 000

時間以内で完了するが,固定温度枠法の場合は最も低く設定した

劣化処理温度では,終点に到達するまでに,この時間を大きく超える長い劣化処理時間が必要となる。

注記

固定時間枠法では,設定温度が異なる劣化処理オーブンを多数必要とすることに注意する必要

がある。

熱的耐久性の回帰に含まれるそれぞれの終点到達温度(すなわち,時間グループの平均)は,時間グル

ープで選択した温度の数による。選択する劣化処理温度の点数は,最低

3

点から時間グループに含まれる

温度の数(

表 D.0A 参照)までの間のいずれでもよい。

固定時間枠法の系統誤差の最大の原因は,温度誤差(実際の表示誤差又は温度分布誤差)であることか

ら,系統誤差はかなり低減できる。この温度誤差は,直線性の判断を誤らせ,測定結果の正確さ又は妥当

性を損なうことがある。

温度指数の測定 

5.1 

劣化処理手順 

それぞれの試験手順には,試験片の形状,寸法及び数,並びに暴露時間,温度指数に関連する特性,そ

の測定方法,終点及び試験データから求めた熱的耐久性の導き方を規定する。

選んだ特性は,できれば,実使用上意味のある形で電気絶縁材料の機能を反映することが望ましい。特

性の選定は,JIS C 2143-2 に規定がある。

均一な状態を得るために,オーブンから取り出した後及び測定の前の試験片の状態調節を規定する必要

がある。


8

C 2143-6

:2014 (IEC 60216-6:2006)

5.2 

劣化処理時間及び劣化処理温度 

ほとんどの場合,要求される熱的耐久性は

20 000

時間での耐久性を前提としている。ただし,それ以外

の長時間又は短時間での熱的耐久性に関する情報が必要なことがある。

20 000

時間よりも長い規定時間の

場合,この規格の要求事項又は推奨事項となっている時間(例えば,最長の劣化処理時間の

4

分の

1

とし

て規定される最低値

5 000

時間)を,規定時間の

20 000

時間に対する比で増加させる。

規定時間がより短い場合,必要があれば,関係する時間は同じ比で減少させる。

規定時間が非常に短い場合,より高い劣化処理温度が必要となり,また,劣化処理温度が,例えば,ガ

ラス転移温度又は部分溶融など,結果に非直線性をもたらすような転移点を含む温度領域になることがあ

るため,特別な注意が必要である。規定時間が非常に長い場合もまた非直線性をもたらすことがある。

推奨する劣化処理時間及び劣化処理温度については,

附属書 に記載する。

5.3 

試験片 

5.3.1 

準備 

劣化処理試験に用いる試験片は,

調査する母集団から無作為に抽出したもので構成し,

一様に取り扱う。

幾つかの材料では,試験片の調製条件が劣化特性に顕著に影響することがあるため,例えば,サンプリ

ング,対象のロールからのシートの切出し,異方性材料の規定の方向での切出し,成形,硬化,予備処理

などは,全ての試験片について同じ方法で行う。

個別材料規格又は特性試験方法の規格は,試験片の準備に必要な指針を全て含んでいる。

試験片の厚さは,熱的耐久性の測定に関する特性測定リストの中に詳しく規定している場合がある(JIS 

C 2143-2

を参照)

。規定がない場合は,厚さを報告する。幾つかの物理特性は,試験片の僅かな厚さの違

いであっても影響されやすい。このような場合,関連した個別材料規格中に要求がある場合は,それぞれ

の劣化処理周期の後の厚さを測定し,報告する必要がある。

また,劣化の速度が厚さで変化するため,厚さは重要である。厚さが異なる材料の劣化データは,必ず

しも比較できるとは限らない。したがって,一つの材料について,厚さが異なる試験片から求めた二つ以

上の熱的耐久性を評価してもよい。

試験片の寸法の許容差は,一般の試験で通常使用されるものと同じとする。寸法の許容差が通常使用の

ものより小さい試験片が必要な場合は,その特別な許容差を規定する。

試験片を測定(厚さ,寸法など)し選別することによって,試験片が均一な品質であること及び試験す

る材料の代表にふさわしいことを確認できる。

5.3.2 

試験片の数 

熱的耐久性試験結果の精度は,それぞれの温度で劣化処理する試験片の数に大きく依存する。

試験片の総数(

N

)は,次の式によって求める。

D

C

B

A

N

+

×

×

=

ここに,

A

一つの温度で同じ処理を受け,特性評価後に廃棄する試験グ
ループの中の試験片の数(通常

5

個)

B

処理の水準の数。すなわち,一つの時間での劣化処理温度の
総数。

C

劣化処理の時間水準の数。

D

初期特性値を確定するために用いるグループの試験片の数。
判定基準が,特性の初期水準からの変化率(百分率)の場合,
通常は

D

2A

とする。判定基準が絶対的な特性水準の場合,

初期値の報告の要求がなければ,

D

0

とする。


9

C 2143-6

:2014 (IEC 60216-6:2006)

追加の試験片を準備しておくこと,又は少なくともそれらの試験片が後で準備できるように,元の材料

バッチを保存しておくことが望ましい。これによって,不測の問題が発生した場合,いかなる追加試験片

の劣化処理の要求があっても,試験片のグループ間で起きる系統誤差が発生するリスクを最小にできる。

このような問題は,例えば,熱的耐久性の関係が直線から外れること,オーブンの熱的暴走によって試験

片が失われることなどで生じる。

5.4 

特性試験 

個別材料規格を利用する場合,通常は温度指数の値の受入れ可能な下限に関する特性試験としての要求

特性項目を規定している。このような個別材料規格が利用できない場合,特性の選択及び熱的耐久性の評

価に関する方法は,JIS C 2143-2 に規定がある。

このような方法を見つけることができない場合は,国際規格,国家規格,団体規格及び特別に考えられ

た方法をこの順序で用いることが望ましい。この場合,特性試験の内容を特性項目,測定方法及び終点を

含めて,報告書に記載する。

5.5 

終点の選択 

電気絶縁材料の熱的耐久性は,その実際の用途に関連した適切な電気絶縁材料を容易に選択できるよう

に,

(異なる特性項目及び/又は終点から導いた)

異なる特性で求めた耐久性データによって表す必要があ

る(JIS C 2143-2 を参照)

終点の選択は,次のいずれかの方法による。

a)

特性測定値の初期水準からの増加又は減少の百分率をとる方法  この方法は,材料の間の比較が可能

であるが,実用上要求される特性値については b)より相関が乏しい。

b)

特性の固定値をとる方法  この値は,実際の使用時の要求に関連して選ぶ。保証試験の終点は,主に

特性の固定値の形で規定する。

電気絶縁材料が劣化した場合,電気絶縁システムの実稼働中のストレスに耐える能力が低下する。終点

は,この能力の程度を示すように選択することが望ましい。試験の終点とする劣化の程度は,使用時に要

求される材料特性について,許容できる安全な値をとることが望ましい。

5.6 

初期特性値の確定 

初期特性値を測定する試験片は,劣化処理に用意した試験片から無作為に抽出した部分集合を構成する

ように選定する。この試験片は,特性値を測定する前に,試験のときの最も低い劣化処理温度(5.2 参照)

2

日間[

48

±

6

)時間]暴露して,状態調節を行う。

注記

かなり厚さのある試験片などでは,安定した値を得るために

3

日間以上の長い時間が必要とな

ることがある。

試験特性を測定する方法で,ほかに記載がない場合(例えば,試験方法を扱っている材料規格の一部分

又は JIS C 2143-2 に記載の方法)

,初期値は試験結果の算術平均とする。

5.7 

劣化処理条件 

5.7.1 

劣化処理オーブン 

劣化処理オーブンは,試験片を入れる処理空間部分では加熱劣化処理の期間を通して,温度を JIS C 

2143-4

規格群で規定する許容差内に維持する。ほかに規定がない場合は,JIS C 2143-4-1 を適用する。JIS 

C 2143-4-2

及び JIS C 2143-4-3 は,特別な場合に指定してもよい。

オーブン中の空気の循環及び換気は,熱劣化の速度が分解生成物の蓄積及び酸素の消耗による影響を受

けないよう,十分に行うことが望ましい(5.7.2 参照)


10

C 2143-6

:2014 (IEC 60216-6:2006)

5.7.2 

環境の条件 

ほかに規定がない場合,劣化処理は通常の試験室雰囲気で運転するオーブン中で行う。ただし,オーブ

ン中の湿度に非常に敏感な材料では,劣化処理オーブン中の相対湿度が JIS C 2142 の標準雰囲気

B

の相対

湿度と同じ値に保たれるとき,より信頼性のある結果が得られる。この場合又はその他の特別に規定した

環境条件は,報告する。

注記

多くの場合における,極端な湿度,化学的な汚染,振動などの特別な環境条件の影響は,絶縁

システム試験によって,より適切な評価が行われる。空気以外の雰囲気条件及び油などの液体

浸せきの周囲条件は重要ではあるが,この規格の範囲外である。

5.7.3 

特性測定の条件 

ほかに規定がない場合,試験片は測定に先立って状態調節を行い,個別材料規格で指定する状態の下で

測定する。

5.8 

劣化処理の手順 

附属書 で概要を例示すように,試験計画を策定する。

5.3.2

の規定に従って,必要な数の試験片を準備する。必要な場合は,5.6 の規定によって,特性の初期

値を測定する。試験計画に従って,無作為抽出で試験片を試験グループに分配する。適切な数のグループ

を,規定の温度のそれぞれのオーブンに収める。

注記

電気絶縁材料の熱的耐久性が

附属書 の基本的推奨事項に適合しない場合もあるので,表 D.0A

注記 に記載の推奨事項(試験片追加の準備)に留意することが望ましい。

それぞれの劣化処理時間の後に,

該当するそれぞれの劣化処理オーブンから無作為に

1

グループを選び,

取り出す。ほかに規定がない場合,室温まで冷却させる。規定がある場合は,規定の雰囲気中で規定の時

間を状態調節し,規定の試験手順で試験する。

データが得られ次第,箇条 の計算を行うことが望ましい。特に最も短い暴露時間については必要であ

る。

箇条 の規定によって,結果を評価する。

計算手順 

6.1 

一般原理 

6.1.1 

熱的耐久性の計算 

一般的な計算手順及び 6.4 で規定する指示は,IEC 60493-1

:1974

に記載の原理に基づいているが,この

規格では次のように一部修正している(IEC 60493-1

:1974

の 3.7.1 参照)

a)

規定の終点に到達する熱力学的(絶対)温度の逆数の平均(

x

)と劣化処理時間の対数(

y

)との関係

は,直線的である。

b)

直線関係からの

x

の値の偏差の値は,劣化処理時間によらず,分散は正規分布する。

一般の計算手順に用いるデータは,試験データから予備的な計算によって得る。計算データは,

z

y

n

及び

k

からなる。

ここに,

z

ij

劣化処理温度

ij

ϑ (℃)の熱力学的温度(

K

)の逆数:

(

)

0

1

Θ

z

ij

ij

+

=

ϑ

y

i

劣化処理時間(

τ

i

)の対数:

y

i

log τ

i

n

i

時間

τ

i

で劣化処理したグループ番号

i

中の

z

の値の数

k

劣化処理時間又は

x

の値のグループの数


11

C 2143-6

:2014 (IEC 60216-6:2006)

注記

計算を通して一貫していれば,対数の底には,いかなる数も用いてもよい。ほとんどのコンピ

ュータ言語及び計算機では,自然対数(底が

e

)を使用しているので自然対数を用いることが

望ましい。

6.1.2 

特性値−相当する温度変換(特性値から仮想の劣化処理温度を導く計算)

判定基準として破壊試験を用いる場合,それぞれの試験片は特性値を得ることによって破壊される。こ

のために,終点到達に必要となる時間及び/又は温度の値は,直接測定できない。終点到達時間を推定す

るため,終点の近傍で(一つの劣化処理時間について)次の仮定を置く。

a)

特性値の平均と熱力学的温度の逆数との間の関係は,おおよそ直線的である。

b)

この直線関係からのそれぞれの特性値の偏差の値は,温度に関係なく一定の分散で正規分布となる。

c)

個々の試験片に関して,特性値と劣化処理(熱力学的)温度との関係は,a)の関係で示す線に平行な

直線である。

これらの仮定を適用して,それぞれの劣化処理時間で求めたデータの劣化曲線を描く。それぞれの劣化

処理時間の曲線は,それぞれの試験片グループでの特性の平均値を劣化処理(熱力学的)温度の逆数に対

してプロットすることで求める。できることなら,グループ平均の一つ以上が終点レベルの上及び下にな

るよう,十分に高い温度及び低い温度で,劣化処理を行う。この曲線のおおよそ直線となる領域を,

3

ループ以上の平均を含むように)終点の近傍に引く(

図 E.1)。

注記

一般に横軸として,熱力学的温度(絶対温度)の逆数を等間隔に取り,その上に対応する温度

目盛(℃)を非等間隔で加える(

図 E.1 参照)。

選んだ領域の直線性からの偏差が,受入可能かどうかについて,統計検定(

F

−検定)を行う(6.3.3 

照)

受入可能な場合,

同じグラフ上に個々の試験片の特性を表す点を記入する。

劣化の線に平行な線を個々

の試験片のデータ点を通るように引く。したがって,それら試験片に関する の値の推定は,終点ライン

と線との交点に相当する熱力学的温度の逆数の値である(

図 E.1)。

幾つかの制限の下で,平均値から求めた直線部分を終点レベルまで外挿してもよい。

上記の操作は,6.3.2 及び 6.3.3 に規定する計算の中で数値的に実施できる。

6.2 

計算の精度 

多くの計算の段階が,数値自体に比べて一般にその値は小さいとはいえ,数値の差の合計又はこれらの

差の平方和を含んでいる。このような状況から,計算結果に有効数字

3

桁の精度を求める場合は,

6

桁以

上の有効数字の内部精度で計算を行う必要がある。計算において同じことの繰返しが単調に続くことを考

慮してコンピュータの利用が望ましい。この場合は,内部精度

10

桁以上の有効数字による計算が容易に行

える。

6.3 

特性値に相当する温度の誘導 

それぞれの時間

τ

i

で劣化処理した試験片のグループで,6.3.16.3.3 の手順を実施する。

6.3.1 

予備的な計算 

それぞれの劣化処理時間

τ

に対応する

y

の値を,式

(1)

によって計算する。

i

i

y

τ

log

=

  (1)

それぞれの劣化処理温度

ϑ に対応する

z

の値を,式

(2)

によって計算する。

0

1

Θ

z

ij

ij

+

= ϑ

  (2)

6.3.2 

回帰計算(温度に対する特性) 

それぞれの劣化処理温度で求めたデータグループについて,特性の平均値[式(3)参照]及び対応する z


12

C 2143-6

:2014 (IEC 60216-6:2006)

の値を計算する。これらの値を,特性値 を縦軸に,を横軸にとったグラフ上にプロットする(

図 E.1

参照)

目視によって,平均特性点を通るなめらかな曲線を当てはめる。

当てはめた曲線の中で,ほとんど直線とみなせる温度範囲を選ぶ(6.3.3 参照)

。その温度範囲は,3 点以

上の測定値を含み,終点ライン pp

e

の両側に 1 点以上があるようにする。これに当てはまらない場合で,

例えば,試験片の残りがないなどの理由によって,より高温での測定ができない場合は,6.3.3 の条件に従

って,僅かに外挿をしてもよい。

添え字 は,多数の複合した指標の組合せの混乱を防ぐために,6.3.2 及び 6.3.3 の中の表現から省いて

ある。6.3.2 及び 6.3.3 の計算は,それぞれの劣化処理時間からのデータについて,別々に行う。

選んだ平均値(及び対応する数値グループ)の数を r,それぞれの劣化処理温度の逆数を z

g

,更に個々

の特性値を p

gh

と置く。

ここに,

g: 温度

g

ϑ で劣化処理した選択したグループの指標添字:

g=1...r

h: グループ の中の特性値の指標添字:h=1...n

g

  n

g

:グループ の中の試験片の数

注記  ほとんどの場合,全ての温度で試験する試験片の数 n

g

は同じであるが,これは必要な条件では

ない。また,異なるグループで n

g

が異なる値についても計算が可能である。

それぞれの選んだ特性グループについて,平均値

g

及び分散

2

1g

を,式(3)及び式(4)によって計算する。

=

=

g

n

h

g

gh

g

n

p

p

1

(3)

1

2

1

2

2

1

=

g

g

g

n

h

gh

g

n

p

n

p

s

g

  (4)

ν

z

及び

p

を,式

(5)

∼式

(7)

によって計算する。

=

=

r

g

g

n

1

ν

  (5)

=

=

r

g

g

g

v

n

z

z

1

  (6)

=

v

n

p

p

g

g

   (7)

回帰式

z

b

a

p

p

p

+

=

の係数を,式

(8)

及び式

(9)

によって計算する。

z

b

p

a

p

p

=

  (8)





=

=

=

r

g

g

g

r

g

g

g

g

p

z

z

n

p

z

p

z

n

b

1

2

2

1

ν

ν

   (9)

特性グループの中のプールした分散を,式

(10)

によって計算する。


13

C 2143-6

:2014 (IEC 60216-6:2006)

( )

=

=

r

g

g

g

r

v

s

n

s

1

2

1

2

1

1

   (10)

回帰直線からの特性グループ平均の偏差の重み付き分散を,式

(11)

によって計算する。

(

)

=

2

2

2

2

r

p

p

n

s

g

g

g

  (11)

ここに,

g

p

p

g

z

b

a

p

+

=

ˆ

  (12)

これはまた,式

(13)

のように表せる。

2

1

1

2

2

2

2





=

=

=

r

p

z

p

z

n

b

p

p

n

s

r

g

g

g

g

p

r

g

g

g

ν

ν

  (13)

6.3.3 

直線性の検定 

(14)

の計算によって

F

を求め,有意水準

0.05

での非直線性に関する

F

検定を行う。

2

1

2

2

s

s

F

=

   (14)

計算した

F

の値が,自由度

f

n

r

2

及び

f

d

ν

r

について,表中の値

F

1

を超える場合は(

表 C.3 参照),

6.3.2

中の選択を変更して計算を繰り返す。

r

3

で有意水準

0.05

における

F

検定を満足できなかった場合は,計算した

F

の値を自由度

f

n

r

2

f

d

ν

r

の表中の値

F

2

とを比較することで有意水準

0.005

での

F

検定を行う(

表 C.4 参照)。

この水準での検定を満足する場合は,計算を続けてもよいが,7.2.2 の式

(48)

に従う温度指数

TI

の調整を

してはならない。

また,有意水準

0.005

F

−検定を満足できないか(すなわち,

F

F

2

,又は 6.3.2 でプロットした特性

点が全て終点ラインの同じ側である場合は,次の条件に従って外挿することができる。

全ての平均値

g

p

が終点の値

p

e

と同じ側にある場合で,値の範囲(

r

3

)について有意水準

0.05

F

定に合格する場合は,終点に最も近い平均値(一般に

r

p

)と終点の値

p

e

との間の差の絶対値が差(

r

p

p

1

の絶対値の

4

分の

1

より小さい場合は,外挿を行うことができる。

注記

図 E.1 で,

p

e

5 000

であった場合,計算は次のようになる。

1

p

は選択枠中で最も左側のグループの平均値,

r

p

は最も右側のグループの平均値である。条

件は次のようになる。

4

1

e

r

r

p

p

p

p

囲んでいる垂直の線は,内容の絶対値を意味している。

このような場合は,計算を続けることができるが,やはり 7.2.2 の式

(48)

に従った温度指数

TI

の調整を

してはならない。

6.3.4 

特性値に相当する終点温度の推定 

それぞれの選択したグループ

g

中のそれぞれの特性値

p

gh

について,相当する終点温度の逆数を,式

(15)

及び式

(16)

によって計算する。

(

)

p

gh

g

ij

b

p

p

z

x

e

=

   (15)

ここに,

j

劣化処理時間

τ

i

での推定

x

値グループ中の

x

値の順


14

C 2143-6

:2014 (IEC 60216-6:2006)

位数:

1...n

i

z

g

劣化処理温度の逆数

x

ij

n

i

値:

6.4

の計算に用いる終点温度の値の逆数

ν

=

i

n

   (16)

6.4 

回帰分析(時間に対する温度) 

注記

測定が相対熱的耐久性指数の測定の一部である場合(箇条 参照)

,幾つかの式の結果は照査標

準電気絶縁材料及び評価対象電気絶縁材料両方の入力データとして必要である。計算をコンピ

ュータプログラムで行う場合は,データファイルとしてそれらをサブルーチンに蓄えることが

有効である。

(19)

∼式

(21)

,式

(23)

,式

(25)

,式

(26)

,式

(33)

,又は式

(34)

及び式

(36)

の結果が必要である。

加えて,入力データを完全にするため最も長い劣化処理時間の対数値が必要である。

6.4.1 

グループの平均及び分散 

それぞれの劣化処理時間

τ

i

で得た

x

の値

x

ij

のグループの平均及び分散を,式

(17)

及び式

(18)

によって計算

する。

=

=

i

n

j

i

ij

i

n

x

x

1

   (17)

1

1

2

2

2

1

=

=

i

n

j

i

i

ij

i

n

x

n

x

s

i

   (18)

6.4.2 

全体の平均及び分散 

x

ij

の値の全数

N

x

の重み付き平均値

( )

i

x

,及び

y

の重み付き平均値

( )

y

を,式

(19)

∼式

(21)

によって計算

する。

=

=

k

i

i

n

N

1

  (19)

=

N

x

n

x

i

i

  (20)

=

N

y

n

y

i

i

  (21)

データグループの中のプールした分散を,式

(22)

によって計算する。

(

)

=

=

k

i

i

i

k

N

s

n

s

1

2

1

2

1

1

  (22)

y

の値の中央 2 次モーメントを,式(23)によって計算する。

( )

N

y

N

y

n

y

k

i

i

i



=

=1

2

2

2

μ

  (23)

6.4.3 

回帰 

回帰直線は,式(24)による。

by

a

x

+

=

  (24)


15

C 2143-6

:2014 (IEC 60216-6:2006)

回帰式の勾配は,式(25)によって計算する。





=

=

=

k

i

i

i

k

i

i

i

i

y

N

y

n

y

x

N

y

x

n

b

1

2

2

1

   (25)

y

軸上の切片は,式(26)による。

y

b

x

a

=

  (26)

相関係数の平方は,式(27)による。







=

=

=

=

k

i

i

i

k

i

i

i

k

i

i

i

i

y

N

y

n

x

N

x

n

y

x

N

y

x

n

r

1

2

2

1

2

2

2

1

2

  (27)

回帰直線からの

x

の平均値の偏差の分散を,式(28)又は式(29)によって計算する。

(

)

(

)

=

=

k

i

i

i

i

k

X

x

n

s

1

2

2

2

2

ˆ

i

i

by

a

X

+

=

ˆ

   (28)

( )

(

)



=

=

k

i

i

i

x

N

x

n

k

r

s

1

2

2

2

2

2

2

1

   (29)

6.5 

統計検定 

6.5.1 

分散同等性の検定 

バートレットの

χ

2

関数の値を,式(30)によって計算する。

(

)

(

)

=

=

k

i

i

i

s

n

s

k

N

c

1

2

1

q

2

1

q

2

log

1

log

q

ln

χ

   (30)

ここに,

(

) (

)

( )

1

3

1

1

1

1

1

k

k

N

n

c

k

i

i



+

=

   (31)

q は,この式で用いた対数の底である。この箇条以外での計算に用いたものと同じにする必要はない。

q=10 の場合は ln q=2.303 であり,q=e の場合は ln q=1 である。 
χ

2

の値を自由度 f=(k−1)の表(

表 C.1)中の値と比較する。

χ

2

の値が有意水準 0.05 の表中の値より大きい場合は,χ

2

の値及び表中で χ

2

より小さく,かつ,最も大き

い値の有意水準を報告する。

コンピュータプログラムを用いて χ

2

及びその有意水準を計算する場合は,それらを報告する。

6.5.2 

直線性の検定(F−検定) 

回帰直線からの偏差の分散

2

2

s

を,測定グループ 中のプールした分散

2

1

と比較し有意水準 0.05 で 

定する。

比を,式(32)によって計算する。


16

C 2143-6

:2014 (IEC 60216-6:2006)

2

1

2

2

s

s

F

=

   (32)

この値を表中の自由度

f

n

k

−2 と

f

d

N

k

の[

F

0

F

(0.95,

k

−2,

N

k

)]の表中の値(表 C.3)とを比

較する。

a)

F

F

0

の場合,プールした分散の推定値を,式(33)によって計算する。

(

) (

)

(

)

2

2

2

2

2

1

2

+

=

N

s

k

s

k

N

s

   (33)

b)

F

F

0

の場合,

2

1

s

( )

(

)

0

2

1

2

1

F

F

s

s

a

=

に調整し,

s

2

の調整した値を,式(34)によって計算する。

(

)

( )

(

)

(

)

2

2

2

2

a

2

1

2

a

+

=

N

s

k

s

k

N

s

  (34)

6.5.3 

x及びそれらの信頼限界の推定値 

有意水準

0.05

で自由度

N

2

での表中のスチューデントの

t

の値,

t

0.95,N

2

を求める(

表 C.2)。

a)

の推定値  推定が必要な時間

τ

に対応する

Y

値を計算する。

与えられた

Y

に対応する

X

の推定値

Xˆ

及びその上側

95 %

信頼限界

c

Xˆ

を,式

(35)

及び式

(36)

によって

計算する。

x

ts

X

X

+

= ˆ

ˆ

c

bY

a

X

=

ˆ

2

,

95

.

0

=

N

t

t

  (35)

(

)

( )





+

=

y

y

Y

N

s

s

x

2

2

2

2

1

μ

  (36)

ここに,

τ

log

=

Y

   (37)

Xˆ

及び

c

Xˆ

の値に対応する温度を,式

(38)

によって計算する。

0

1

Θ

=

ϑ

   (38)

熱的耐久グラフの信頼限界曲線に関しては(6.6 参照)

,対象範囲にわたって幾つかの

Y

値について

c

Xˆ

を計算し,グラフ上にプロットした点(

c

Xˆ

Y

)を通るなめらかな曲線を描く。

F

F

0

の場合は,

s

2

2

a

s

[式

(34)

]に置き換える。

b)

の推定値  終点温度

f

ϑ に対応する

Yˆ

の値及びその下側

95 %

信頼限界を,式

(39)

∼式

(42)

によって計

算する。

(

)

r

r

r

b

s

t

b

x

X

y

Y

+

=

c

ˆ

2

,

95

.

0

=

N

t

t

   (39)

(

)

0

1

Θ

X

f

+

=

ϑ

(

)

b

a

X

Y

=

ˆ

   (40)

( )

y

Nb

s

t

b

b

r

2

2

2

μ

=

  (41)

( )

( )



+

=

y

y

Y

b

b

N

s

s

r

r

2

2

2

2

ˆ

μ

  (42)

対応する

Y

の推定値及びその下側信頼限界から,推定時間及びその下側

95 %

信頼限界を,式

(43)

よって計算する。


17

C 2143-6

:2014 (IEC 60216-6:2006)

Yˆ

q

=

τ

c

Y

c

ˆ

q

=

τ

   (43)

ここに,

q

計算に用いた対数の底(6.1.1 

注記参照)。

6.6 

熱的耐久グラフ 

回帰直線が確定したときは,熱的耐久グラフ,すなわち,縦軸に

( )

τ

log

=

y

及び横軸に

(

)

0

1

Θ

x

+

=

ϑ

をと

ったグラフに回帰直線を描く。通常,

x

は右から左に増すようにプロットし,

ϑ に対応する温度(℃)の

値をこの軸の上に記す(

図 E.2 参照)。この目的のための専用のグラフ用紙を,入手できる。

この計算を実行するコンピュータプログラムに適切な不等間隔目盛プロットのサブルーチンを含ませる

ことができる。

注記

コンピュータプログラムについては,

附属書 に記載があり,対応国際規格には

CD-ROM

用意がある。

x

ij

のそれぞれの値及び 6.4.1 のように求めた平均値

i

x

を,式

(44)

で計算した

y

i

の値に対応してグラフ上に

プロットする。

i

i

y

τ

log

=

   (44)

下側

95 %

信頼曲線を引くことで,熱的耐久グラフが完成する(6.5.3 参照)

計算及び結果の要求事項 

7.1 

熱的耐久性の計算 

熱的耐久性は,回帰直線の式

(45)

を用いて計算する(係数

a

及び

b

は,6.4.3 に従って計算する。

(

)

b

a

x

y

=

   (45)

20 000

時間(

20 kh

)の終点到達時間

TI

20

に対応する温度(℃)を計算する。この温度の数値が,温度指

数(

TI

)である。

同じ方法で,

10 000

時間(

10 kh

)の終点到達時間

TI

10

に対応する温度(℃)を計算する。半減温度幅

HIC

は,式

(46)

から求める。

HIC = TI

10

TI

20

   (46)

6.5.3 a)

の方法で,

Y

log 20 000

における温度指数

TI

の下側

95 %

信頼限界

TC

を求める。調整した値

2

a

s

を用いた場合は

TC

a

を計算する。

(TI

TC)/HIC

又は

(TI

TC

a

)/HIC

を求める。

熱的耐久グラフにプロットする(6.6 参照)

7.2 

結果報告 

7.2.1 

統計検定の概要及び報告 

統計検定の判定表を,

附属書 に示す。附属書 で,見出欄の“検定”の条件に合わない場合は,右端

の欄に示すように処理する。条件に合う場合は,次の段階に示すように処理する。同様な手順を,熱的耐

久性計算の判定フローチャートに示す(

附属書 参照)。

7.2.2 

報告形式 

(TI

TC)/HIC

の値が≦

0.6

の場合,試験結果は JIS C 2143-1 の 6.8(試験報告書)に従って,式

(47)

の形

式で報告する。

TI (HIC): …(…)    (47)

0.6

(TI

TC)/HIC

1.6

で同時に

F

F

0

の場合(6.3.2 参照)

,式

(48)

によって

TI

a

を計算する。


18

C 2143-6

:2014 (IEC 60216-6:2006)

TI

a

 = TC + 0.6 HIC    (48)

この値を,

HIC

とともに

TI (HIC): …(…)

  の形式で報告する。

その他の全ての場合は,結果を式

(49)

の形式で報告する。

TI

g

 = ….. : HIC

g

 = …..

   (49)

試験報告 

試験報告には,次の事項を含める。

a)

試験片の寸法及び状態調節を含む試験した材料の記載

b)

試験した特性,選択した終点,及び必要があれば特性の初期値

c)

特性の測定に用いた試験方法(例えば,参照した規格など)

d)

試験方法に関連した情報,例えば,劣化処理雰囲気など

e)

個々の試験時間,劣化処理温度及び個々の特性値並びに劣化処理温度での特性の変化のグラフ

f)

熱的耐久グラフ

g)

7.2.2

で規定した形式に従った温度指数及び半減値幅

h)

6.5.1

で要求があった場合は,

χ

2

及び

P

の値

相対熱的耐久性指数の求め方 

9.1 

相対熱的耐久性指数を求める目的 

相対熱的耐久性指数を求める目的を,次に示す。

a)

劣化処理に関する適切な判定基準による熱的耐久性と実用特性との間に想定される関係を導く。また,

比較的使用経験の少ない電気絶縁材料の使用温度の予備的な評価に関する値として使用する(既知の

照査標準電気絶縁材料との比較による。箇条 11 及び箇条 12 参照。

注記

ほとんどの場合,試験データよりも長い時間又は低い温度への外挿が含まれる。外挿の範囲

が増すほど,結果の不確実性が急速に増すことから,劣化処理温度及び劣化処理時間を適切

に選び,外挿を最少にとどめることが望ましい。ただし,外挿がない場合でも,試験データ

のばらつき及び試験誤差に伴って,不確かさは残る。

b)

劣化処理過程での系統誤差の低減によって,熱的耐久性を求める精度を改善する。劣化処理の後で,

照査標準電気絶縁材料の結果が以前の経験から著しく異なる場合,それは材料の変化又は装置の変化

を意味している。これらは調査して,できる限り是正するのがよい。いかなる場合でも,照査標準電

気絶縁材料と評価対象電気絶縁材料とを同時に劣化処理することによって,少なくとも系統的な変化

を部分的に補正できる。変化の信頼性評価に用いる統計的手段を,

附属書 に示す。

10 

追加記号 

これらの記号は,3.2 に追加するもので,箇条 11∼箇条 13 にだけ関係する。

記号

    説明

    箇条番号

A

照査標準電気絶縁材料を表す下付き文字

ATE

既知の照査標準電気絶縁材料の熱的耐久特性

12.3

B

評価対象電気絶縁材料を表す下付き文字

HIC

B(c)

対比時間での評価対象電気絶縁材料の半減温度幅

13.1

N

D

評価対象電気絶縁材料と照査標準電気絶縁材料との統合データでの値の全数

12.4


19

C 2143-6

:2014 (IEC 60216-6:2006)

RTE

評価対象電気絶縁材料の推定した熱的耐久特性(対比時間での温度指数)

12.3

2

D

評価対象電気絶縁材料と照査標準電気絶縁材料との統合データの分散

12.4

s

D

相対熱的耐久性指数の標準誤差(

2

D

s

の平方根)

12.4

x

A

実績熱的耐久性指数の熱力学的温度の逆数

12.3

x

B

相対熱的耐久性指数の熱力学的温度の逆数

12.3

X

c(B)

x

B

の信頼限界

12.4

Y

c

対比時間の対数

12.3

τ

c

対比時間(照査標準電気絶縁材料の実績熱的耐久性指数に対応する時間)

12.3

τ

k

最も長い劣化処理時間

12.5

RTE

ϑ

推定した熱的耐久特性の値(℃)

12.3

( )

B

c

ϑ

推定した熱的耐久特性の(上側又は下側の)信頼限界

12.4

lc

ϑ

推定した熱的耐久特性の下側信頼限界

12.4

Δ

R

推定した熱的耐久特性の下側信頼区間

12.4

11 

相対熱的耐久性指数の試験手順 

11.1 

照査標準電気絶縁材料の選択 

照査標準電気絶縁材料に最も重要な必要条件は,対象とする用途について実績熱的耐久性指数の値が既

知なことである。実績熱的耐久性指数を,熱的耐久性手順によって測定した場合は,実際の使用経験によ

って証拠立てなければならない。実績熱的耐久性指数の根拠は,報告する。

両材料に予想される劣化の機構及び速度は,類似しており,かつ,用途に関連していなければならない。

11.2 

劣化の程度を評価するための特性試験の選択 

特性試験は,相対熱的耐久性指数を必要とする用途を考慮したものとする。照査標準電気絶縁材料及び

評価対象電気絶縁材料の両方に同じ試験及び終点を適用する。

11.3 

劣化処理手順 

両方の材料について,試験片の数及び種類,並びに劣化処理時間及び劣化処理温度は,箇条 による。

附属書 の推奨に従う場合は,最も低い劣化処理温度は両材料に期待する温度指数の値より低くする。

それぞれの劣化処理温度では,オーブンの積載量は,両材料の試験片の適切な数で構成する。試験片は

オーブン中に分布させ,両材料の試験片の劣化処理条件の間に系統的な差がないようにする。

12 

相対熱的耐久性指数の計算手順 

12.1 

一般原理 

計算の基礎は,両材料の熱的耐久性を計算することである[6.1.1 及び 9.1 の a)参照]

照査標準電気絶縁材料で得た熱的耐久性データから,その既知の温度特性に等しい温度指数における時

間を計算する(これが,

“対比時間”として参照される時間である。

。評価対象電気絶縁材料で得た熱的耐

久性データから,対比時間における温度指数を計算する。この値が,求める相対熱的耐久性指数である。

この結果に付随する信頼区間は,基本的な統計方法で計算する。

12.2 

入力データ 

照査標準電気絶縁材料及び評価対象電気絶縁材料の両材料について,温度指数の計算に

表 の中間値が

必要となる(6.4 参照)


20

C 2143-6

:2014 (IEC 60216-6:2006)

表 1−中間値 

中間値

記号

y−軸に関連する回帰線の勾配

b (25)

x−軸上の回帰線の切片

a (26)

の値の重み付き平均

y

 (21)

の値の 2 次中心モーメント

μ

2

(y) (23)

データ の値の重み付き平均

x

 (20)

データ の値の統合した全分散

s

2

 (33)又は(34)

の値の数

N (19)

半減温度幅 HIC

(46)

最も長い劣化処理時間

τ

k

12.3 

相対熱的耐久性指数(RTE 

実績熱的耐久性指数(

ATE

)の熱力学的温度の逆数を,式

(50)

によって計算する。

(

)

0

A

ATE

1

Θ

x

+

=

   (50)

対比時間

τ

c

及び

Y

c

を,式

(51)

によって計算する。

(

)

A

A

A

c

b

a

x

Y

=

c

q

c

Y

=

τ

  (51)

ここに,

q

計算に用いた対数の底(6.1.1 

注記参照)

評価対象電気絶縁材料について,対比時間における

x

の推定値を,式

(52)

によって計算する。

B

c

B

B

b

Y

a

x

+

=

   (52)

相対熱的耐久性指数の値は,式

(53)

によって計算する。

0

B

RTE

1

Θ

=

ϑ

   (53)

12.4 

信頼限界 

照査標準電気絶縁材料について,対比時間における

x

の推定値を,式

(54)

によって計算する。

A

c

A

A

b

Y

a

x

+

=

   (54)

注記

数値的に,

x

A

X

A

に等しい。ただし,後者はスカラー量(すなわち,非変数)であるが,前

者は任意で正規分布をする。相対熱的耐久性指数の分散は,

x

A

x

B

との差の分散によって決ま

る。

x

A

の分散を,式

(55)

によって計算する。

(

)

( )

A

2

2

c

2

2

A

1





+

=

y

y

Y

s

s

μ

   (55)

同様に,

x

B

の分散を,式

(56)

によって計算する。

(

)

( )

B

2

2

c

2

2

B

1





+

=

y

y

Y

s

s

μ

  (56)

分散の比 を,式(57)によって計算する。

2

A

2

B

s

s

>

の場合は,

2

A

2

B

s

s

F

=

2

A

2

B

s

≦ の場合は,

2

B

2

A

s

s

F

=

   (57)


21

C 2143-6

:2014 (IEC 60216-6:2006)

の値が,自由度 f

n

N

A

−2 及び f

d

N

B

−2 に関して

表 C.3 中の値より小さい場合は,分散は著しく異な

ると考えられる。このような場合,式(58)及び式(59)を用いるか,又は式(60)及び式(61)を用いて分散を合

一する。

統計的に分散が等しい場合:

(

)

(

)

(

)





+

+

+

=

B

A

B

A

B

2

B

A

2

A

2

D

1

1

4

2

2

N

N

N

N

N

s

N

s

s

   (58)

(

)

4

B

A

D

+

=

N

N

N

   (59)

統計的に分散が等しくない場合:

B

2

B

A

2

A

2

D

N

s

N

s

s

+

=

   (60)

( )

2

2

B

2

B

2

B

A

2

A

2

A

2

2

D

D



+



=

N

N

s

N

N

s

s

N

  (61)

2

番目の場合で,

N

D

が整数でない場合は,値を最も近い整数に丸める。

X

B

の信頼限界を,式

(62)

によって計算する。

( )

( )

D

B

B

c

D

s

t

X

X

N

±

=

   (62)

ここに,

( )

D

N

t

自由度

N

D

での

表 C.2 中の

t

の値

相対熱的耐久性指数の信頼限界は,式

(63)

による。

( )

( )

0

D

B

B

c

D

1

Θ

s

t

X

N

±

=

ϑ

   (63)

通常,

X

B

の上側信頼限界に対応する熱的耐久性指数の下側信頼限界

lc

ϑ が要求される。

下側信頼区間

Δ

R

は,式

(64)

によって計算する。

lc

RTE

ϑ

ϑ

=

Δ

R

  (64)

12.5 

外挿 

τ

c

/τ

k

として,外挿の計算をする。

13 

相対熱的耐久性指数の結果及び報告 

13.1 

統計検定及び数値検定の結果 

適用する項目及び試験基準を,次に示す。

a) 

熱的耐久性の直線性[JIS C 2143-3 の 6.3.2[直線性の検定(

F

検定)

]及び 6.3.3

X

及び

Y

の推定値

の信頼限界)

参照]

  照査標準電気絶縁材料及び評価対象電気絶縁材料の両方のデータは,

JIS C 2143-3

の要求を満たさなければならない。 

b) 

対比時間への外挿(12.5 参照)  対比時間と最大劣化時間との比として表される外挿は,

4

未満でな

ければならない。 

c) 

相対熱的耐久性指数の下側信頼区間(12.4 参照)

Δ

R

の値は,対比時間と同じ時間において,評価対

象電気絶縁材料の半減温度幅[

HIC

B(c)

[式

(65)

]より小さくなければならない[JIS C 2143-3 の 7.1

(熱的耐久性の計算)参照]

 


22

C 2143-6

:2014 (IEC 60216-6:2006)

( )

(

)

=

B

c

B

c

B

c

B

ln

1

2

ln

1

HIC

a

a

b

τ

τ

   (65)

13.2 

結果 

結果は,12.4 及び 12.5 の計算から求め,次のように表す。

a)

13.1

の三つの試験基準を満たす場合(13.1 参照)

,結果は相対熱的耐久性指数(

RTE

)の値である。結

果は,次の様式で表す。

JIS C 2143-6 による

RTE = xxx

b)

試験基準の一つを満足しない場合,結果は相対熱的耐久性指数(

RTE

)の下側

95 %

信頼限界とする。

結果は,次の様式で表す。

JIS C 2143-6 による

RTE = xxx

c)

二つ以上の試験基準を満足しない場合,JIS C 2143-6 の要求に従った結果は報告できない。結果は,

次の様式で表してもよい。

RTE = xxx.

(結果は,統計的分析による確証不能)

13.3 

試験報告 

試験報告には,次の事項を含める。

a)

試験結果

b)

照査標準電気絶縁材料の記載,その実績熱的耐久性指数及び実績熱的耐久性指数の根拠

c)

用いた特性試験及び終点

d)

照査標準電気絶縁材料及び評価対象電気絶縁材料の JIS C 2143-1 に従った熱的耐久性の報告

e)

13.2 c)

の場合は,統計的確証の失敗の詳細


23

C 2143-6

:2014 (IEC 60216-6:2006)

附属書 A

(規定)

判定のフローチャート

熱的耐久性指数の計算に用いた終点到達時間が

20 000

時間以外の場合(3.1.1 参照)は,この附属書及び

附属書 の中の

5 000

時間の値は用いた時間の

4

分の

1

で置き換える。

TI−TC≦0.6 HIC

平 均 終 点 到 達 温 度 の

推定値の計算 

選択時間の選択温度

での試験片グループ

(最長>5 000 h)

分散推定値の計算

s

1i

2

χ

2

s

1

2

s

2

2

計算

2

1

2

2

s

s

F

=

P(

χ

2

k−1)≧0.05

FF

0

s

2

(統合 s

1

2

及び s

2

2

TI,TC,HIC の計算

TI−TC≦1.6 HIC

χ

2

と の報告

s

1

2

の調整

0

2

1

a

2

1

)

(

F

F

s

s

=

s

2

[統合

a

2

1

)

(s

及び

2

2

s

TI,TC,HIC の計算

いいえ

いいえ

TI−TC≦0.6 HIC

外挿なし

全て FF

1

TI の調整

TI

a

=TC+0.6 HIC

報告

TI (HIC) : xxx (xx,x)

報告

TI

g

=xxx 

HIC

g

=xxx

又は 
TI を除く 
試験データ

いいえ

いいえ

いいえ

はい

いいえ

いいえ

はい

はい

はい

はい

はい

はい


24

C 2143-6

:2014 (IEC 60216-6:2006)

附属書 B

(規定)

判定表

熱的耐久性指数の計算に用いた終点到達時間が

20 000

時間以外の場合(3.1.1 参照)は,

附属書 及び

この附属書の中の

5 000

時間の値は用いた時間の

4

分の

1

で置き換える。

表 B.1−判定表 

段階

検定又は処理

参照

検定不合格時の処理

1

選択時間の選択温度での試験片グループ(最長>5 000 時間) 5.2 

2

平均終点到達温度の推定値の計算

6.4.1 

3

分散

2

1i

の推定値の計算

6.3

6.4.1  式(18)

χ

2

の計算

6.5.1 

2

1

の計算

6.4.2 

2

2

の計算

6.4.3 

4

の計算

6.5.2 

5

(

)

05

.

0

1

,

2

k

P

χ

6.5.1 

χ

2

及び を報告:

段階 6 へ

6

?  FF

0

6.5.2 

段階 14 へ

7

s

2

の計算(

2

1

2

2

とのプール)

6.5.2

の a)

TI,TC 及び HIC の計算

8

? TI−TC≦0.6HIC

7.2.2 

段階 10 へ

9 TI(HIC):...(..)を報告

7.2.2 

10

? TI−TC≦1.6HIC

7.2.2 

段階 18 へ

11

?  外挿なしのデータ処理か

6.3.4 

段階 18 へ

12

?  FF

1

の値が全てか

6.3.3 

段階 18 へ

13 TI(HIC):...(..)として TI

a

+0.6HIC を報告

7.2.2 

14

2

1

の調整:

( )

(

)

0

2

1

a

2

1

F

F

s

s

=

6.5.2 

15

s

2

の計算:

( )

a

2

1

s

2

2

とのプール]

6.5.2 

TI,TC 及び HIC の計算

16

? TI−TC

a

≦0.6HIC

7.2.2 

段階 18 へ

17 TI(HIC):...(..)を報告

7.2.2 

18 TI

g

=...,HIC

g

=...  又は TI を除く試験データを報告

7.2.2 

 


25

C 2143-6

:2014 (IEC 60216-6:2006)

附属書 C 
(参考)

統計表

表 C.1 に,有意水準(

P

)が

0.05

0.01

及び

0.005

における

χ

2

の値を示す。

表 C.1χ

2

分布表 

自由度

P=0.05

P=0.01

P=0.005

1 3.8 6.6 7.9 
2 6.0 9.2 10.6 
3 7.8 11.3 12.8 
4  9.5 13.3 14.9 
5 11.1 15.1 16.7 
6 12.6 16.8 18.5

表 C.2 に,有意水準(

P

)が

0.05

及び

0.005

におけるスチューデントの

t

の値を示す。

表 C.2 は,横方向の見出し欄は自由度(

f

)の数値,縦方向の見出し欄は有意水準(

P

)を示す。

表 C.2分布表 

10 11 12 13 14 15 16 17 18

P=0.05 1.812 1.796 1.782 1.771 1.761 1.753 1.746 1.740 1.734 
P=0.005 3.169 3.106 3.055 3.012 2.977 2.947 2.921 2.898 2.878

19 20 25 30 40 50 100 500

P=0.05 1.729 1.725 1.708 1.697 1.684 1.676 1.660 1.648 
P=0.005 2.861 2.845 2.787 2.750 2.704 2.678 2.626 2.586

 


26

C 2143-6

:2014 (IEC 60216-6:2006)

表 C.3 に,有意水準

0.05

F

の値を示す。

表 C.3 は,横方向の見出し欄は分子の自由度(

f

n

,縦方向の見出し欄は分母の自由度(

f

d

)を示す。

表 C.3分布表  P0.05 

1 2 3 4 5 6 7 8 9

10 4.965 4.103 3.708 3.478 3.326 3.217 3.135 3.072 3.02

11 4.844 3.982 3.587 3.357 3.204 3.095 3.012 2.948 2.896

12 4.747 3.885 3.49  3.259 3.106 2.996 2.913 2.849 2.796 
13 4.667 3.806 3.411 3.179 3.025 2.915 2.832 2.767 2.714 
14 4.6  3.739 3.344 3.112 2.958 2.848 2.764 2.699 2.646 
15 4.543 3.682 3.287 3.056 2.901 2.79  2.707 2.641 2.588 
16 4.494 3.634 3.239 3.007 2.852 2.741 2.657 2.591 2.538 
17 4.451 3.592 3.197 2.965 2.81  2.699 2.614 2.548 2.494 
18 4.414 3.555 3.16  2.928 2.773 2.661 2.577 2.51  2.456 
19 4.381 3.522 3.127 2.895 2.74  2.628 2.544 2.477 2.423 
20 4.351 3.493 3.098 2.866 2.711 2.599 2.514 2.447 2.393 
25 4.242 3.385 2.991 2.759 2.603 2.49  2.405 2.337 2.282 
30 4.171 3.316 2.922 2.69  2.534 2.421 2.334 2.266 2.211 
40 4.085 3.232 2.839 2.606 2.449 2.336 2.249 2.18  2.124 
50 4.034 3.183 2.79  2.557 2.4  2.286 2.199 2.13  2.073

100 3.936 3.087 2.696 2.463 2.305 2.191 2.103 2.032 1.975 
500 3.86  3.014 2.623 2.39  2.232 2.117 2.028 1.957 1.899

10 11 12 13 14 15 16 17 18

10 2.978 2.943 2.913 2.887 2.865 2.845 2.828 2.812 2.798

11 2.854 2.818 2.788 2.761 2.739 2.719 2.701 2.685 2.671

12 2.753 2.717 2.687 2.66  2.637 2.617 2.599 2.583 2.568 
13 2.671 2.635 2.604 2.577 2.554 2.533 2.515 2.499 2.484 
14 2.602 2.565 2.534 2.507 2.484 2.463 2.445 2.428 2.413 
15 2.544 2.507 2.475 2.448 2.424 2.403 2.385 2.368 2.353 
16 2.494 2.456 2.425 2.397 2.373 2.352 2.333 2.317 2.302 
17 2.45  2.413 2.381 2.353 2.329 2.308 2.289 2.272 2.257 
18 2.412 2.374 2.342 2.314 2.29 2.269 2.25 2.233 2.217 
19 2.378 2.34  2.308 2.28  2.256 2.234 2.215 2.198 2.182 
20 2.348 2.31  2.278 2.25  2.225 2.203 2.184 2.167 2.151 
25 2.236 2.198 2.165 2.136 2.111 2.089 2.069 2.051 2.035 
30 2.165 2.126 2.092 2.063 2.037 2.015 1.995 1.976 1.96 
40 2.077 2.038 2.003 1.974 1.948 1.924 1.904 1.885 1.868 
50 2.026 1.986 1.952 1.921 1.895 1.871 1.85  1.831 1.814

100 1.927 1.886 1.85  1.819 1.792 1.768 1.746 1.726 1.708 
500 1.85  1.808 1.772 1.74  1.712 1.686 1.664 1.643 1.625


27

C 2143-6

:2014 (IEC 60216-6:2006)

表 C.3分布表  P0.05(続き)

19 20 25 30 40 50 100 500

10 2.785  2.774  2.73  2.7

2.661 2.637 2.588 2.548

11 2.658 2.646 2.601 2.57  2.531 2.507 2.457 2.415

12 2.555 2.544 2.498 2.466 2.426 2.401 2.35  2.307 
13 2.471 2.459 2.412 2.38  2.339 2.314 2.261 2.218 
14 2.4

2.388  2.341  2.308  2.266 2.241 2.187 2.142

15

2.34 2.328 2.28 2.247 2.204 2.178 2.123 2.078

16 2.288 2.276 2.227 2.194 2.151 2.124 2.068 2.022 
17 2.243 2.23  2.181 2.148 2.104 2.077 2.02  1.973 
18 2.203 2.191 2.141 2.107 2.063 2.035 1.978 1.929 
19 2.168 2.155 2.106 2.071 2.026 1.999 1.94  1.891 
20 2.137 2.124 2.074 2.039 1.994 1.966 1.907 1.856 
25 2.021 2.007 1.955 1.919 1.872 1.842 1.779 1.725 
30 1.945 1.932 1.878 1.841 1.792 1.761 1.695 1.637 
40 1.853 1.839 1.783 1.744 1.693 1.66  1.589 1.526 
50 1.798 1.784 1.727 1.687 1.634 1.599 1.525 1.457

100 1.691 1.676 1.616 1.573 1.515 1.477 1.392 1.308 
500 1.607 1.592 1.528 1.482 1.419 1.376 1.275 1.159

表 C.4 に,有意水準

0.005

F

の値を示す。

表 C.4 は,横方向の見出し欄は分子の自由度(

f

n

,縦方向の見出し欄は分母の自由度(

f

d

)を示す。

表 C.4分布表  P0.005 

1 2 3 4 5 6 7 8 9

10 12.826 9.427 8.081 7.343 6.872 6.545 6.302 6.116 5.968

11 12.226  8.912  7.6

6.881  6.422 6.102 5.865 5.682 5.537

12 11.754  8.51  7.226  6.521  6.071 5.757 5.525 5.345 5.202 
13 11.374 8.186 6.926 6.233 5.791 5.482 5.253 5.076 4.935 
14 11.06  7.922  6.68  5.998  5.562 5.257 5.031 4.857 4.717 
15 10.798 7.701 6.476 5.803 5.372 5.071 4.847 4.674 4.536 
16 10.575 7.514 6.303 5.638 5.212 4.913 4.692 4.521 4.384 
17 10.384 7.354 6.156 5.497 5.075 4.779 4.559 4.389 4.254 
18 10.218 7.215 6.028 5.375 4.956 4.663 4.445 4.276 4.141 
19 10.073 7.093 5.916 5.268 4.853 4.561 4.345 4.177 4.043 
20 9.944 6.986 5.818 5.174 4.762 4.472 4.257 4.09  3.956 
25 9.475 6.598 5.462 4.835 4.433 4.15  3.939 3.776 3.645 
30 9.18  6.355 5.239 4.623 4.228 3.949 3.742 3.58  3.45 
40 8.828 6.066 4.976 4.374 3.986 3.713 3.509 3.35  3.222 
50 8.626 5.902 4.826 4.232 3.849 3.579 3.376 3.219 3.092

100 8.241 5.589 4.542 3.963 3.589 3.325 3.127 2.972 2.847 
500 7.95  5.355 4.33  3.763 3.396 3.137 2.941 2.789 2.665


28

C 2143-6

:2014 (IEC 60216-6:2006)

表 C.4分布表  P0.005(続き) 

10 11 12 13 14 15 16 17 18

10 5.847 5.746 5.661 5.589 5.526 5.471 5.422 5.379 5.34

11 5.418 5.32  5.236 5.165 5.103 5.049 5.001 4.959 4.921

12 5.085 4.988 4.906 4.836 4.775 4.721 4.674 4.632 4.595 
13 4.82  4.724 4.643 4.573 4.513 4.46  4.413 4.372 4.334 
14 4.603 4.508 4.428 4.359 4.299 4.247 4.2  4.159 4.122 
15 4.424 4.329 4.25  4.181 4.122 4.07  4.024 3.983 3.946 
16 4.272 4.179 4.099 4.031 3.972 3.92  3.875 3.834 3.797 
17 4.142 4.05  3.971 3.903 3.844 3.793 3.747 3.707 3.67 
18

4.03 3.938 3.86 3.793 3.734 3.683 3.637 3.597 3.56

19 3.933 3.841 3.763 3.696 3.638 3.587 3.541 3.501 3.465 
20 3.847 3.756 3.678 3.611 3.553 3.502 3.457 3.416 3.38 
25 3.537 3.447 3.37  3.304 3.247 3.196 3.151 3.111 3.075 
30 3.344 3.255 3.179 3.113 3.056 3.006 2.961 2.921 2.885 
40 3.117 3.028 2.953 2.888 2.831 2.781 2.737 2.697 2.661 
50 2.988 2.9  2.825 2.76  2.703 2.653 2.609 2.569 2.533

100 2.744 2.657 2.583 2.518 2.461 2.411 2.367 2.326 2.29 
500 2.562 2.476 2.402 2.337 2.281 2.23  2.185 2.145 2.108

19 20 25 30 40 50 100 500

10 5.305 5.274 5.153 5.071 4.966 4.902 4.772 4.666

11 4.886 4.855 4.736 4.654 4.551 4.488 4.359 4.252

12 4.561 4.53  4.412 4.331 4.228 4.165 4.037 3.931 
13 4.301 4.27  4.153 4.073 3.97 3.908 3.78 3.674 
14 4.089 4.059 3.942 3.862 3.76  3.698 3.569 3.463 
15 3.913 3.883 3.766 3.687 3.585 3.523 3.394 3.287 
16 3.764 3.734 3.618 3.539 3.437 3.375 3.246 3.139 
17 3.637 3.607 3.492 3.412 3.311 3.248 3.119 3.012 
18 3.527 3.498 3.382 3.303 3.201 3.139 3.009 2.901 
19 3.432 3.402 3.287 3.208 3.106 3.043 2.913 2.804 
20 3.347 3.318 3.203 3.123 3.022 2.959 2.828 2.719 
25 3.043 3.013 2.898 2.819 2.716 2.652 2.519 2.406 
30 2.853 2.823 2.708 2.628 2.524 2.459 2.323 2.207 
40 2.628 2.598 2.482 2.401 2.296 2.23  2.088 1.965 
50 2.5

2.47  2.353  2.272  2.164 2.097 1.951 1.821

100 2.257 2.227 2.108 2.024 1.912 1.84  1.681 1.529 
500 2.075 2.044 1.922 1.835 1.717 1.64 1.46 1.26


29

C 2143-6

:2014 (IEC 60216-6:2006)

附属書 D 
(参考)

推奨する劣化処理の時間及び温度

D.1

温度指数 TI の求め方

D.1.1

温度指数の対比時間が 20 000 時間の場合

温度指数を計算する時間が通常の

20 000

時間(7.1 参照)の場合,劣化処理温度

10

点及び処理時間

4

とすることが望ましい(

表 D.0A 参照)。

温度は,

10 K

間隔で

90 K

の範囲をカバーしており,最も低い温度は期待される温度指数に最も近い

10

の倍数に丸める。

表 D.0A の中で,それぞれの星印(*)は,該当するオーブンの中に入れる試験片の

1

グループを表している。

表 D.0A−劣化処理の時間及び温度の組合せ 

劣化処理時間

時間

温度

TI TI+10 TI+20 TI+30

TI+40

TI+50

TI+60

TI+70 TI+80 TI+90

5 040

2 016

1 008

552

注記 1  この表に記載の 4 点の劣化処理時間は,作業の利便性から推奨する 24 時間(1 日)又は 168 時間(1 週)

の倍数,かつ,対数とした場合におおよそ等間隔になる,500 時間,1 000 時間,2 000 時間及び 5 000
時間に近い 4 点としている。

注記 2  この表に示した劣化処理時間及び劣化処理温度の組合せは,温度指数の予測値が実際の値の±10 K 以内

で,かつ,半減温度幅の値が 8 K∼13 K の場合,回帰分析に用いるデータを適切に選択(6.1.2 及び 6.3.2
参照)できる劣化処理の範囲を満足できると思われる。

値がこの範囲外の場合,より高い温度の試験の追加が必要となることがある。このために追加が可能

なように,この表に示したものに追加のための試験片を用意しておくことが望ましい。

この例として,仮定の事例に基づき,実際の熱的耐久グラフに関係する劣化処理時間及び劣化処理温

度を示した

図 E.3 及び図 E.4 を参照。図 E.3 のデータでは,全ての劣化処理時間で,温度グループのお

およそ同数が“終点の温度”

,すなわち,回帰線との交点の上及び下にある。

図 E.4 のデータは,552 時

間及び 1 008 時間で外挿が必要となるため正確とはいえない。

D.1.2

温度指数の対比時間が 20 000 時間以外の場合 

対比時間(温度指数を計算する時間)が

20 000

時間を超える場合,最も長い劣化処理時間を対比時間の

おおよそ

4

分の

1

に等しくし,最も低い温度を温度指数に等しくするために(12.3 参照)

,時間数を

5

点ま

で及び温度を

11

点まで増すことが望ましい。それぞれの劣化処理時間で試験片を入れるオーブンは,

7

のままである(

図 E.5 参照)。

D.2

相対熱的耐久性指数 RTE の求め方 

表 D.0A の最も低い劣化処理温度は,照査標準電気絶縁材料及び評価対象電気絶縁材料について期待さ

れる温度指数の値の低い方とし,

1

桁目を四捨五入した

10 K

ごとの値とすることが望ましい。残りの温度

は,D.1.2 のように選ぶのがよい。

注記

照査標準電気絶縁材料及び評価対象電気絶縁材料の実際の温度指数の選んだ値が共に±

10 K


30

C 2143-6

:2014 (IEC 60216-6:2006)

で,両者の半減温度幅の値が

8 K

13 K

の場合は,これらの劣化処理時間及び温度の選択は妥

当である。


31

C 2143-6

:2014 (IEC 60216-6:2006)

附属書 E

(参考)

データは,

図 E.2 に相当するデータグループの劣化処理時間 2 016 時間についてのものである。回帰のために選

び出したデータは,内側の長方形で囲んだ枠の中のものである。

図 E.1−回帰直線を伴う特性−温度グラフ 

図 E.2−熱的耐久グラフ 


32

C 2143-6

:2014 (IEC 60216-6:2006)

(温度指数及び平均半減温度幅の期待値が適切な場合)

図 E.3TI 及び HIC を適切に予想した場合の劣化処理時間及び劣化処理温度 

(温度指数の期待値が低く半減温度幅の実際の値が大きかった場合)

より高い劣化処理温度が必要

図 E.4TI 及び HIC を過大に予想した場合の劣化処理時間及び劣化処理温度 


33

C 2143-6

:2014 (IEC 60216-6:2006)

対比時間=40 000 時間における追加の長期劣化処理時間 
10 000 時間での追加の劣化処理時間は,説明のために 40 000 時間の 4 分の 1 として選んだ。

図 E.5−対比時間を 40 kh にした場合の劣化処理時間及び劣化処理温度 


34

C 2143-6

:2014 (IEC 60216-6:2006)

附属書 F

(規定)

二つの回帰推定値の差の統計的有意性

熱的耐久性指数を数回求めた場合(すなわち,照査標準電気絶縁材料について何回か測定した場合)

,二

つの結果の間の差が許容できるかどうかは 12.4 の式を用いて評価する。

注記

次の検討の中で,添字

A

及び

B

は一つの材料についての二つのデータセットに関連している。

最初のデータセット(

A

)は実績熱的耐久性指数データとして,

2

番目のデータセット(

B

)は

評価対象電気絶縁材料のデータとして扱う。データセット

A

は,幾つかの他の値をプールした

値であってもよい。

評価の手順を,次に示す。

最初のデータセット(実績熱的耐久性指数)についての温度指数の値に対応する

x

の値[式

(50)

,対

比時間[式

(51)

]及び

x

A

の分散[式

(55)

]を計算する。

この対比時間に対応する

x

B

の値[式

(52)

]及びその分散[式

(56)

]を計算する。

差(

x

B

x

A

)の自由度の数[式

(58)

∼式

(61)

]を計算する。

この差についての

t

の値を次の式によって計算し,その値を

表 C.2 中のものと有意水準

0.05

で比較す

る。

( )

(

)

D

A

B

D

s

x

x

t

N

=

t

の値が

表 C.2 中の値より大きい場合は,結果の間の差が有意なことを意味している。このことは,照査

標準材料又は劣化処理条件の変化を意味している。これについては調査し,必要な場合は修正することが

望ましい。


35

C 2143-6

:2014 (IEC 60216-6:2006)

附属書 G 
(参考)

コンピュータプログラム

対応国際規格では,この規格中で用いる計算用プログラムを

CD-ROM

の形で提供している。対応国際規

格の

附属書 の記述はプログラムの解説であって,その実行には直接関係しないと判断したため,この規

格では不採用とした。

この

CD-ROM

は,一般財団法人日本規格協会から IEC 60216-6 を購入すると,入手することができる。

この規格には

CD-ROM

は添付しない。また,動作環境(

OS

,プログラム言語など)は,我が国の現状

に照らしてやや旧版に属するものを前提としている。現在は,最新の

OS

上で動作する市販の統計計算用

ソフトウェアが種々存在するため,比較的容易に計算を行うことが可能である。