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C 2139-3-3:2018  

(1) 

目 次 

ページ 

序文  1 

1 適用範囲 1 

2 引用規格 1 

3 用語及び定義  2 

4 絶縁抵抗測定の意義  6 

5 試験方法 6 

5.1 一般的事項  6 

5.2 試験条件  6 

5.3 試験装置  7 

5.4 校正  7 

5.5 試験片  7 

5.6 電極の装着  8 

5.7 試験手順  10 

5.8 絶縁抵抗の値の求め方  10 

6 試験報告書  10 

7 再現精度及び繰返し精度  10 

附属書JA(参考)JISと対応国際規格との対比表  12 

 

 


 

C 2139-3-3:2018  

(2) 

まえがき 

この規格は,工業標準化法第12条第1項の規定に基づき,一般社団法人電気学会(IEEJ)及び一般財団

法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり,日本

工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が制定した日本工業規格である。 

これによって,JIS C 2140:2009は廃止され,この規格に置き換えられた。 

この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。 

この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意

を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実

用新案権に関わる確認について,責任はもたない。 

JIS C 2139の規格群には,次に示す部編成がある。 

JIS C 2139-3-1 第3-1部:直流電圧印加による抵抗特性の測定−体積抵抗及び体積抵抗率 

JIS C 2139-3-2 第3-2部:直流電圧印加による抵抗特性の測定−表面抵抗及び表面抵抗率 

JIS C 2139-3-3 第3-3部:直流電圧印加による抵抗特性の測定−絶縁抵抗 

 

 


 

 

日本工業規格          JIS 

 

C 2139-3-3:2018 

 

固体電気絶縁材料の誘電特性及び抵抗特性− 

第3-3部:直流電圧印加による抵抗特性の測定− 

絶縁抵抗 

Dielectric and resistive properties of solid insulating materials- 

Part 3-3: Determination of resistive properties (DC methods)- 

Insulation resistance 

 

序文 

この規格は,2015年に第1版として発行されたIEC 62631-3-3を基とし,技術的内容を変更して作成し

た日本工業規格である。 

なお,この規格で側線又は点線の下線を施してある箇所は,対応国際規格を変更している事項である。

変更の一覧表にその説明を付けて,附属書JAに示す。 

 

適用範囲 

この規格は,直流電圧の印加によって電気絶縁材料又は電気絶縁システムの絶縁抵抗を測定するための

試験方法について規定する。 

注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。 

IEC 62631-3-3:2015,Dielectric and resistive properties of solid insulating materials−Part 3-3: 

Determination of resistive properties (DC methods)−Insulation resistance(MOD) 

なお,対応の程度を表す記号“MOD”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“修正している”

ことを示す。 

 

引用規格 

次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの

引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。 

JIS B 1352 テーパピン 

注記 対応国際規格:ISO 2339,Taper pins, unhardened(MOD) 

JIS B 4410 テーパピンリーマ 

注記 対応国際規格:ISO 3465,Hand taper pin reamers(MOD) 

JIS C 2142 固体電気絶縁材料−試験前及び試験時における標準状態 

注記 対応国際規格:IEC 60212,Standard conditions for use prior to and during the testing of solid 

electrical insulating materials(MOD) 

JIS C 2143-4-1 電気絶縁材料−熱的耐久性−第4-1部:劣化処理オーブン−シングルチャンバオーブ


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ン 

注記 対応国際規格:IEC 60216-4-1,Electrical insulating materials−Thermal endurance properties−Part 

4-1: Ageing ovens−Single-chamber ovens(MOD) 

 

用語及び定義 

この規格で用いる主な用語及び定義は,次による。 

3.1 

電極構成(electrode arrangement) 

試験片の表面及びバルク(bulk volume)に接触する2個の金属導体による構成。 

3.1.1 

テーパピン電極(tapered pin electrodes) 

テーパピン電極を用いる電極構成(図1参照)。 

3.1.2 

金属棒電極(bar electrodes) 

金属の棒を用いる電極構成(図2参照)。 

3.1.2A 

ライン電極(line electrodes) 

導電性材料を用いて,試験片表面に一定の間隔を設けて形成した2本の平行線による電極構成(図2A

参照)。 

注記 この電極構成は,JIS C 2139-3-2の5.3.5,5.3.7及び5.3.8に規定の各種“ライン電極”と同じ

である。また,旧規格(JIS C 2140:2009)の6.3(導電性塗料電極)に規定されていた電極と同

じである。 

3.2 

実測抵抗(measured resistance) 

試験片に接触した電極間に印加した直流電圧の,その電極間に流れる十分な精度で測定した電流に対す

る比。 

注記1 被測定抵抗と標準抵抗とを比較するために,ホイートストンブリッジを用いてもよい。ただ

し,ホイートストンブリッジは,現在は用いられていない。 

注記2 (この規格に関係しないため,対応国際規格の注記は不採用とした。) 

3.3 

絶縁抵抗,RI(insulation resistance) 

この規格に規定する任意の電極構成で求めた実測抵抗。用いる電極構成に応じて,絶縁抵抗をRIT,RIB

又はRILと区別する。 

注記1 RIは,Ωの単位で表す。 

注記2 この定義は,旧規格(JIS C 2140:2009)と異なる。参考のために,旧規格の定義を次に記載

する。 

“試験片に接触した又は埋め込まれた二つの電極間に印加した直流電圧の,電圧の印加か

ら規定の時間を経過した後の全電流に対する比。絶縁抵抗の値は,試験片の体積抵抗及び表

面抵抗の両方に依存する。” 

 


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単位 mm 

 

a) 平板試験片 

 

 

b) 管状試験片及び棒状試験片 

図1−テーパピン電極の構成 

 


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単位 mm 

 

a) 金属支持板付きの場合(試験片:テープなど) 

 

 

b) 金属支持板なしの場合(試験片:短冊状など) 

図2−金属棒電極の構成 


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単位 mm 

 

a) 平板試験片の場合 

 

 

b) 管状試験片の場合 

図2A−ライン電極の構成例 


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絶縁抵抗測定の意義 

電気絶縁材料は,通常,電気部品と電気部分との間及び電子部品と大地との間を電気的に遮断するため

に用いる。また,固体電気絶縁材料は,電気部品の機械的支持の役割をもつ。このような目的に応じて,

固体電気絶縁材料は一般に,できるだけ大きな絶縁抵抗をもち,同時に十分な機械的特性,化学的特性及

び熱的耐久性を併せもつことを求められる。 

絶縁抵抗RIは,この規格では,テーパピン電極間の絶縁抵抗RIT,金属棒電極間の絶縁抵抗RIB及びライ

ン電極間の絶縁抵抗RILの三つを別々に定義する。 

注記1 一つの試験片の場合も同じ材料の別の試験片の場合も,異なる電極構成でそれぞれ得たRIT,

RIB及びRILの測定値を相互に比較することはできない。 

RIT,RIB及びRILは,いずれの場合も電気絶縁材料及びその材料で製造した製品の総合的な絶縁抵抗の特

性を表す技術的に有用な量とみなすことができる。 

注記2 旧規格では,ライン電極間で測定した抵抗を絶縁抵抗と定義していた。この抵抗は,JIS C 

2139-3-2ではライン電極間の表面抵抗RSDと規定している。 

比較可能な測定結果を得るためには,この規格に規定するとおり,一定の幾何学的電極構成の条件の下

で測定を行う。このような条件の下では,異なる絶縁材料又はその製品の比較に用いてもよい。ただし,

簡易なクラス分けを可能にする程度であることを配慮する。 

注記3 この規格に規定する絶縁抵抗RIは,電気機器内部の電気絶縁材料によって隔離した導体間の

抵抗と同じではない。しかし,基本的な設計指針としては有用である。 

 

試験方法 

5.1 

一般的事項 

絶縁抵抗の測定は注意深く実施し,材料固有の電気的特性と同様に,測定回路の電気的特性にも適切な

配慮が必要である。 

試験を行うためには,多くの場合,高電圧を扱う必要がある。感電には十分に注意する。 

分極現象が測定に影響することがある。したがって,同一試験片で十分な時間間隔を空けずに2回続け

て測定した絶縁抵抗の値は採用しない。 

注記 絶縁抵抗が1012 Ω以下の材料の場合,時間間隔は1時間程度で十分である。 

5.2 

試験条件 

5.2.1 

電圧 

測定に用いる電圧は,10 V,100 V,500 V,1 000 V又は10 000 Vのいずれかを推奨する。ただし,他

の電圧値を用いてもよい。個別規格に規定がない場合は,100 Vを使用する。 

注記1 材料固有の放電開始電圧を超える場合,部分放電によって測定誤差を生じることがある。空

気中では,340 V以下では部分放電は起こらない。 

注記2 電源電圧のリップルは重要である。100 Vに対して,P-P値は0.005 %(5 mV)以下が適切で

ある。 

5.2.2 

電極材料 

5.2.2.0A テーパピン電極及び金属棒電極の材料 

テーパピン電極及び金属棒電極の材料には,ステンレス鋼を用いる。ただし,試験結果が同等と認めら

れる場合は,他の材料を用いてもよい。 

注記 使用するステンレス鋼は,JIS G 4305:2012のSUS304が適切である。 


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硬い絶縁材料の測定に金属棒電極を用いる場合は,適切な接触を得るために,すずはく(すず99 %)を

金属棒電極に巻き付けて使用する。 

5.2.2.0B ライン電極の材料 

ライン電極の形成には,導電性塗料を使用する。現在市販されている自然乾燥用又は低温焼付け用の高

導電性銀ペイントは,その塗膜がいずれも十分に多孔質であり,かつ,塗膜を通して水分の透過及び拡散

ができるので,導電性塗料電極の形成後に状態調節をしてもよい。ただし,塗料の溶剤が試験片の電気的

特性に大きな影響を与えないことを確認しておく必要がある。 

5.3 

試験装置 

5.3.1 

一般的事項 

絶縁抵抗を測定する場合には,試験装置の支持部品又はケーブル絶縁体の抵抗のような,電極構成に並

列に派生する抵抗によって悪影響を受けないように注意するのがよい。 

測定抵抗が1010 Ωを超える場合には,測定誤差を防ぐために,シールドケーブル及びシールドケースを

用いる。 

5.3.2 

測定精度 

任意の適切な試験装置を用いてもよい。ただし,測定機器は,少なくとも総合的に未知抵抗を次の精度

で測定できるものとする。 

− 抵抗値が1010 Ω未満の場合,±10 % 

− 抵抗値が1010 Ω〜1014 Ωの場合,±20 % 

− 抵抗値が1014 Ωを超える場合,±50 % 

5.3.3 

電源 

十分に安定な直流電圧電源が必要である。電池又は直流安定化電源が適切である。 

5.4 

校正 

測定装置は,測定する絶縁抵抗の値に応じて校正する。 

注記 100 TΩ(1014 Ω)までの値の校正用標準抵抗が市販されている。 

5.5 

試験片 

5.5.1 

試験片の寸法 

絶縁抵抗は,絶縁材料のバルク及び表面の特性が共に影響し,かつ,バルクと表面との影響の度合いが

異なるため,試験片の寸法によって測定結果は変化する。 

疑義がある場合には,受渡当事者間で寸法について一致を図る必要がある。関連製品規格に特に規定が

ない場合,試験片は,5.5.2又は5.5.3に示す寸法を推奨する。 

5.5.2 

テーパピン電極間の絶縁抵抗測定用試験片 

5.5.2.1 

シート材料 

シート材料の試験片の寸法は,60 mm以上×15 mm以上×シートの厚さとする[図1 a)及び図3参照]。 

5.5.2.2 

管状及び棒状の材料 

製品の片方の断面から他方の断面までの長さは,60 mm以上とする(図1参照)。 

管状の材料の場合には,外径が110 mmを超えるものは,管壁から60 mm以上×15 mm以上×管壁の厚

さを採取して用いてもよい。ただし,試験片の採取が困難な場合には,管のままで試験を行うのがよい。 

5.5.2.3 

その他の形状の材料 

適切に試験片を採取して用いる。 


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5.5.3 

金属棒電極間の絶縁抵抗測定用試験片 

5.5.3.1 

テープ,短冊状及び細い棒状の材料 

製品から長さ50 mm以上,幅25.5 mm以下の試験片を採取して用いる。 

5.5.3.2 

その他の形状の材料 

適切に試験片を採取して用いる。 

5.5.3A ライン電極間の絶縁抵抗測定用試験片 

平板試験片及び管状試験片の例を,図2Aに示す。ただし,受渡当事者間の合意がある場合,曲面上な

どその他の様々な形状の試験片表面にライン電極を形成して絶縁抵抗を測定してもよい。 

5.5.4 

試験片の作製 

製品からの試験片の採取,加工及び成形は,材料の個別規格の規定による。試験片の採取及び加工時に,

材料の条件を変化させない。また,採取した試験片に損傷を与えない。 

試験片の電極が接触する部分を機械加工する場合は,加工に用いた機械加工の種類を試験報告書に記載

する。試験片の形状は幾何学的に単純なものとする(管,測定する箇所の両面が平行な平板など)。 

テーパピン電極間の絶縁抵抗を測定する場合は,2個の試験孔を直径50.1

0

+ mmのドリル刃であける。強

化材料には,焼結金属製のドリル刃を用いるのがよい。 

製品から試験片を採取する場合は,可能な限り,製品の厚さ又は直径を変えない。 

5.5.5 

試験片の個数 

試験片の個数は,関連する製品規格の規定による。特に規定がない場合は,3個以上の試験片を試験す

る。 

5.5.6 

試験片の状態調節及び前処理 

試験片の状態調節及びその他の前処理は,関連する製品規格に従って実施する。製品規格がない場合は,

JIS C 2142に従って,23 ℃及び相対湿度50 %の標準雰囲気Bの中で,4日間以上状態調節する。 

テーパピン電極の場合には,ピンを挿さずに状態調節する。 

特に規定がない場合,試験片はクリーニングしない。ただし,いかなる新たな汚損も避ける。 

5.6 

電極の装着 

5.6.1 

テーパピン電極の装着 

5.6.1.1 

一般的事項 

JIS B 1352に従って,直径5 mmでテーパ1:50の金属テーパピン2本を平行に配置し,試験片に挿入

する電極として用いる。 

個別規格に規定がない場合は,試験片表面に垂直にテーパピン電極を挿入するために,直径5 mmで穴

の中心間の距離25 mm±1 mmの二つの穴をドリルであける。 

テーパピンが試験片の穴にしっかり密着しないおそれがある場合は,これらの穴を,試験片の厚さの約

2/3又は深さ10 mmの深い方の穴を表面に垂直にあけてもよい。この場合,穴にグラファイト又は導電

性銀ペイントを塗布するとよい。 

これらの穴は,注型試験片中にも作製してもよい。二つの穴は,JIS B 4410に規定する公称5 mmのテ

ーパピンリーマを互いに逆向きに用いて,ピンがしっかり密着するように作製する。 

試験片の状態調節及び/又はその他の前処理が済んだ後に,テーパピンを二つの穴にしっかりと密着す

るように挿入する。 


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5.6.1.2 

シート材料 

二つの穴は,試験片の長尺方向の中心線上に,図3のようにドリルであける[図1 a)及び図3参照]。 

5.6.1.3 

管状及び棒状の材料 

二つの穴は,試験する領域の長尺方向の中心線上に,中心線に対して対称となるようにドリルであける

[図1 b)及び図3参照]。 

 

単位 mm 

 

図3−テーパピン電極間の絶縁抵抗RI測定用試験片 

 

5.6.1.4 

その他の形状の材料 

二つの穴の,中心間が規定値の間隔を取れる箇所にドリルであける。 

5.6.2 

金属棒電極の装着 

5.6.2.1 

一般的事項 

金属棒電極は,ねじ及びナットで固定した10 mm×10 mm×50 mmの2個のクランプで構成する(図2

参照)。金属棒電極は,試験片に内側のエッジ間の距離が25 mmとなるように固定する。 

これらの電極のために,金属製の支持板の使用を推奨する。この支持板は,体積抵抗率が1012 Ωm以上

の絶縁材料によって電極に接続する。 

金属製の支持板を使用しない場合には,体積抵抗率が1012 Ωm以上の絶縁材料の板に試験片を置いて測

定する。 

注記 例えば,ポリテトラフルオロエチレン(PTFE)のような絶縁材料が有用である。 

5.6.2.2 

テープ,短冊状及び細い棒状の材料の場合 

金属棒電極と接する試験片表面の部分とを十分に密着させる。試験片が硬い場合には,金属棒電極と試

験片表面との間にすずはくを挟む(5.2.2参照)。ただし,すずはくは,金属棒電極からはみ出さないよう

にする。 

状態調節及び/又はその他の前処理を済ませた後,試験片を金属棒電極の間に装着する。金属棒電極の

4本のねじを,試験片が損傷しないように,注意深く,かつ,適切に接触するように対角順に締める。 

5.6.2.3 

その他の形状の材料の場合 

受渡当事者間の協議によって実施する。 


10 

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5.7 

試験手順 

特に取決めがない場合,JIS C 2142に従って,23 ℃及び相対湿度50 %の標準雰囲気Bの中で測定する。 

絶縁抵抗の温度依存性を測定する場合は,JIS C 2143-4-1に規定するオーブンの中で測定する。 

5.5.6の規定に従って,試験片の状態調節及び前処理を行う。これらの処理の後,直ちに電極を装着する。 

試験片は,絶縁材料の下敷きの上に置く。 

その後,状態調節又は前処理から2分以内に,電極間の絶縁抵抗RIを測定する。特に規定がない場合,

電圧印加してから1分後に測定する。 

5.8 

絶縁抵抗の値の求め方 

5.8.1 

テーパピン電極間の絶縁抵抗 

RIT=RI 

テーパピン電極間の絶縁抵抗RITの値は,Ωの単位で示す。 

5.8.2 

金属棒電極間の絶縁抵抗 

RIB=RI 

金属棒電極間の絶縁抵抗RIBの値は,Ωの単位で表す。 

5.8.2A ライン電極間の絶縁抵抗 

RIL=RI 

ライン電極間の絶縁抵抗RILの値は,Ωの単位で示す。 

 

試験報告書 

試験報告書には,次の事項を記載する。 

− 供試材料の名称,種類,及び仕様。製造業者及び商品名を含む。 

− 試験片の形状,寸法及び厚さ(試験片を管など大形の製品から採取した場合はその旨も記載) 

− 試験電圧 

− 試験装置の精度,必要と認めた場合,抵抗の測定値に応じた校正方法 

− 試験した材料の硬化条件,及び前処理条件 

− 試験片の状態調節及び試験時の雰囲気 

− 試験の準備状況及び試験に用いた機器の説明 

− 試験片の数 

− 試験実施日 

− 電極構成(テーパピン電極,金属棒電極又はライン電極) 

− テーパピン電極,金属棒電極又はライン電極で測定した試験片ごとの個々の絶縁抵抗の測定値及びそ

れらの中央値 

− 試験時の環境条件 

− その他特記事項 

 

再現精度及び繰返し精度 

絶縁抵抗の測定は,多くの要因に依存する。経験的に,再現精度(reproducability)は測定値の50 %以上

である。 

繰返し精度(repeatability)は20 %〜50 %である。 

 


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参考文献  

[1] JIS C 2139-3-2 固体電気絶縁材料の誘電特性及び抵抗特性−第3-2部:直流電圧印加による抵抗特

性の測定−表面抵抗及び表面抵抗率 

[2] JIS G 4305:2012 冷間圧延ステンレス鋼板及び鋼帯 


12 

C 2139-3-3:2018  

 

附属書JA 

(参考) 

JISと対応国際規格との対比表 

 

JIS C 2139-3-3:2018 固体電気絶縁材料の誘電特性及び抵抗特性−第3-3部:直
流電圧印加による抵抗特性の測定−絶縁抵抗 

IEC 62631-3-3:2015,Dielectric and resistive properties of solid insulating materials−Part 
3-3: Determination of resistive properties (DC methods)−Insulation resistance 

 

(I)JISの規定 

(II)国際 
規格番号 

(III)国際規格の規定 

(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条ごと
の評価及びその内容 

(V)JISと国際規格との技術的差
異の理由及び今後の対策 

箇条番号 
及び題名 

内容 

箇条 
番号 

内容 

箇条ごと 
の評価 

技術的差異の内容 

3.1.2A 

ライン電極 

 

− 

− 

追加 

“ライン電極”の用語を追加した。 
また,注記として,JIS C 2139-3-2
に規定の“ライン電極”及び旧規格
(JIS C 2140:2009)の6.3に規定の
電極と同じである旨を記載した。 

絶縁抵抗の測定で我が国で広く用
いている電極構成を追加した。ま
た,対応国際規格では,この項目
及び内容を別規格(IEC 
82631-3-2)に移動したが,規格の
使用者に対する注意喚起として,
記載した。 
IECに追加を提案する予定。 

 

図2A追加 

 

− 

− 

追加 

ライン電極の図を追加した[旧規格
(JIS C 2140:2009)の図3を使
用。]。 

3.1.2Aの追加に伴い,ライン電極
の構成例の図を追加した。 
IECに追加を提案する予定。 

絶縁抵抗測定の意
義 

 

JISとほぼ同じ。 

追加 

ライン電極間の絶縁抵抗RILを追加
した。 

3.1.2Aの追加による。IECに追加
を提案する予定。 

削除 

第3段落の最後の文を削除した。 

自明の事項で,改めて記載するま
でもないと判断した。 
IECに削除を提案する予定。 

5.2.2 

電極材料 

 

− 

− 

追加 

電極材料を“テーパピン電極及び金
属棒電極(5.2.2.0A)”と“ライン電
極の材料(5.2.2.0B)”とに分けて記
載した。 

3.1.2Aの追加に伴い,5.2.2の中に
二つの細分箇条を設けた。 
IECに追加を提案する予定。 

 

 

2

 

C

 2

1

3

9

-3

-3

2

0

1

8

 

 

 

 

 


13 

C 2139-3-3:2018  

 

(I)JISの規定 

(II)国際 
規格番号 

(III)国際規格の規定 

(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条ごと
の評価及びその内容 

(V)JISと国際規格との技術的差
異の理由及び今後の対策 

箇条番号 
及び題名 

内容 

箇条 
番号 

内容 

箇条ごと 
の評価 

技術的差異の内容 

5.2.2.0A 

テーパピン電極及
び金属棒電極 

 

5.2.2 

JISとほぼ同じ。 

削除 

対応国際規格の“ステンレス鋼の組
成表”(Table 1)を削除した。 

この規格には金属電極材料(ステ
ンレス鋼)の詳細な組成の情報は
不要と判断した。 
IECに削除を提案する予定。 

変更 

対応国際規格のステンレス鋼につ
いての規格及び呼称の詳細な情報
を,JIS G 4305の呼称に変更した。 

対応国際規格に記載の詳細な情報
は不要と判断し,JIS G 4305の呼
称を記載した。 
IECに提案の予定なし。 

5.2.2.0B 

ライン電極 

 

− 

− 

追加 

電極形成用の材料として,ライン電
極の材料の追加を記載した。 

3.1.2Aの追加による。 
IECに追加を提案する予定。 

5.3.3 

電源 

 

5.3.3 

JISとほぼ同じ。 

変更 

電源に関する安定性に関する要求
事項を,部分的に削除し適切に変更
した。技術的差異はない。 

IECに変更を提案する予定。 

5.5.3A 

ライン電極間の絶
縁抵抗測定用試験
片 

 

− 

− 

追加 

ライン電極間の絶縁抵抗測定用試
験片を追加した。3.1.2Aの追加に伴
う細分箇条の追加。 

3.1.2Aの追加による。 
IECに追加を提案する予定。 

5.6.2.2 

テープ,短冊状及び
細い棒状の材料 

 

5.6.2.2 JISとほぼ同じ。 

削除 

第2段落の最後の記載を削除。 

意味不明のため。 
IECに削除を提案する予定。 

5.8.2A 

ライン電極間の絶
縁抵抗 

 

− 

− 

追加 

ライン電極の絶縁抵抗の求め方を
追加した。 

3.1.2Aの追加による。 
IECに追加を提案する予定。 

 

JISと国際規格との対応の程度の全体評価:IEC 62631-3-3:2015,MOD 

注記1 箇条ごとの評価欄の用語の意味は,次による。 

− 削除  国際規格の規定項目又は規定内容を削除している。 
− 追加  国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。 
− 変更  国際規格の規定内容を変更している。 

注記2 JISと国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は,次による。 

− MOD  国際規格を修正している。 

 

2

 

C

 2

1

3

9

-3

-3

2

0

1

8