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C 2139-3-2:2018  

(1) 

目 次 

ページ 

序文  1 

1 適用範囲 1 

2 引用規格 1 

3 用語及び定義  2 

4 表面抵抗測定の意義  3 

5 試験方法 4 

5.1 一般的事項  4 

5.2 電圧  4 

5.3 試験装置  4 

5.4 測定回路  7 

5.5 校正  7 

5.6 試験片  8 

5.7 試験手順  8 

6 表面抵抗率の計算  8 

6.1 電極構成A,B,D及びEの計算式  8 

6.2 電極構成Cの計算式  9 

7 試験報告書  9 

8 繰返し精度及び再現精度  9 

附属書A(参考)試験片の寸法及び電極構成  10 

附属書JA(参考)この規格と旧規格との留意すべき基本的相違点  11 

附属書JB(参考)JISと対応国際規格との対比表  13 

 

 


 

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(2) 

まえがき 

この規格は,工業標準化法第12条第1項の規定に基づき,一般社団法人電気学会(IEEJ)及び一般財団

法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり,日本

工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が制定した日本工業規格である。 

これによって,JIS C 2139:2008は廃止され,その一部を分割して制定したJIS C 2139-3-1:2018及びこの

規格に置き換えられた。 

この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。 

この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意

を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実

用新案権に関わる確認について,責任はもたない。 

JIS C 2139の規格群には,次に示す部編成がある。 

JIS C 2139-3-1 第3-1部:直流電圧印加による抵抗特性の測定−体積抵抗及び体積抵抗率 

JIS C 2139-3-2 第3-2部:直流電圧印加による抵抗特性の測定−表面抵抗及び表面抵抗率 

JIS C 2139-3-3 第3-3部:直流電圧印加による抵抗特性の測定−絶縁抵抗 

 

 


 

 

日本工業規格          JIS 

 

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固体電気絶縁材料の誘電特性及び抵抗特性− 

第3-2部:直流電圧印加による抵抗特性の測定− 

表面抵抗及び表面抵抗率 

Dielectric and resistive properties of solid insulating materials- 

Part 3-2: Determination of resistive properties (DC methods)- 

Surface resistance and surface resistivity 

 

序文 

この規格は,2015年に第1版として発行されたIEC 62631-3-2を基とし,技術的内容を変更して作成し

た日本工業規格である。 

なお,この規格で点線の下線を施してある箇所は,対応国際規格を変更している事項である。変更の一

覧表にその説明を付けて,附属書JBに示す。また,附属書JAは対応国際規格にはない事項である。 

 

適用範囲 

この規格は,直流電圧の印加によって電気絶縁材料の表面抵抗及び表面抵抗率を測定するための試験方

法について規定する。 

注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。 

IEC 62631-3-2:2015,Dielectric and resistive properties of solid insulating materials−Part 3-2: 

Determination of resistive properties (DC methods)−Surface resistance and surface resistivity

(MOD) 

なお,対応の程度を表す記号“MOD”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“修正している”

ことを示す。 

 

引用規格 

次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの

引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。 

JIS C 2139-3-1 固体電気絶縁材料の誘電特性及び抵抗特性−第3-1部:直流電圧印加による抵抗特性

の測定−体積抵抗及び体積抵抗率 

注記 対応国際規格:IEC 62631-3-1:2016,Dielectric and resistive properties of solid insulating materials

−Part 3-1: Determination of resistive properties (DC methods)−Volume resistance and volume 

resistivity−General method(IDT) 

JIS C 2139-3-3 固体電気絶縁材料の誘電特性及び抵抗特性−第3-3部:直流電圧印加による抵抗特性

の測定−絶縁抵抗 


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注記 対応国際規格:IEC 62631-3-3:2015,Dielectric and resistive properties of solid insulating materials

−Part 3-3: Determination of resistive properties (DC methods)−Insulation resistance(MOD) 

JIS C 2142 固体電気絶縁材料−試験前及び試験時における標準状態 

注記 対応国際規格:IEC 60212,Standard conditions for use prior to and during the testing of solid 

electrical insulating materials(MOD) 

 

用語及び定義 

この規格で用いる主な用語及び定義は,次による。 

3.1 

電極構成(electrode arrangement) 

試験片の表面に導体を電極として形成又は装着したもの。 

注記 電極と試験片表面とが確実に接触するように,例えば導電性ペイント及び/又は適当な機械装

置を用いて,必要な接触荷重を得るなどの処理が必要である。 

3.1.1 

ばね荷重電極(spring loaded electrodes) 

先端のとがった細い導電性ばねを多数用いて,一定の間隔を設けた一対の平行線上に並べて構成したラ

イン電極。 

3.1.2 

ライン電極(line electrodes) 

導電性材料を用いて,試験片表面に一定の間隔を設けて形成した2本の平行線による電極。 

3.1.3 

同心円環電極(annular electrodes) 

中央の円板電極及び一定の間隔でその周りを囲む環状の電極によって構成した電極。 

注記 これは,JIS C 2139-3-1で規定するガード電極システムと同形である。表面抵抗の場合には,

対向電極(JIS C 2139-3-1の5.3.2の注記2参照)がその機能をもつ。 

3.2 

実測抵抗(measured resistance) 

試験片の表面に形成又は装着した電極間に印加した電圧と,その間に流れる十分な精度で測定した電流

との比。 

注記1 実測抵抗の測定は,不要な体積電流の影響を除くために,ガードを備えた3端子電極構成を

推奨する。 

注記2 実測抵抗を標準抵抗と比較するために,ホイートストンブリッジを用いてもよい。 

注記3 (この規格に関係しないため,対応国際規格の注記は不採用とした。) 

3.3 

表面抵抗,RS(surface resistance) 

この規格に規定する任意の電極構成で測定した抵抗値。用いる電極構成によって定まる実測抵抗RSA,

RSB,RSC,RSD又はRSEを表面抵抗と称する。 

注記1 RSは,Ωの単位で表す。 

注記2 この定義は,旧規格(JIS C 2139)と異なる。参考のために旧規格の定義を次に記載する。 

“試験片の一つの面上に置いた二つの電極間に印加した直流電圧を,規定の課電時間後に


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電極間を流れる電流で除した値。試験片と電極との接触部分で起こり得る分極現象は,無視

する。” 

3.4 

表面抵抗率,σ(surface resistivity) 

表面抵抗RSA,RSB,RSC,RSD又はRSEを正方形に換算した値で,それぞれσA,σB,σC,σD及びσEで表す。 

注記1 表面抵抗率σC,σD及びσEは,Ωの単位で表す。 

注記2 表面抵抗率は,しばしば正式には認められていない“Ω per square(Ω/□)”の単位で表し,

抵抗値の計算において電極の寸法を考慮していることを示す。 

注記3 測定に用いた電極の寸法が同等の場合にだけ,材料の比較に用いることができる。推奨寸法

は,5.3に記載がある。 

注記4 この定義は,旧規格(JIS C 2139)と異なる。参考のために旧規格の定義を次に記載する。 

“絶縁材料の表面層における直流電界の強さを,電極の単位長さ当たりの電流で除した値。

実際には,試験片表面上の正方形の面に換算した表面抵抗である。すなわち,電極長さと電

極間隙とを等しくした正方形の面で測定した表面抵抗に相当する。ここで,正方形の寸法の

大小は関係しない。” 

3.5 

ばね荷重電極間の表面抵抗,RSA(surface resistance between spring loaded electrodes) 

ばね荷重電極間の実測抵抗。 

3.6 

小形ライン電極間の表面抵抗,RSB(surface resistance between small line electrodes) 

小形ライン電極間の実測抵抗。 

3.7 

同心円環電極間の表面抵抗,RSC(surface resistance between annular electrodes) 

中央の円板電極と,それを囲む環状電極との間の実測抵抗。 

3.8 

ライン電極間の表面抵抗,RSD(surface resistance between line electrodes) 

ライン電極間の実測抵抗。 

3.9 

小形平板試験片用ライン電極間の表面抵抗,RSE(surface resistance between small line electrodes for small 

parts) 

小形平板試験片用のライン電極間の実測抵抗。 

 

表面抵抗測定の意義 

電気絶縁材料は,通常,電気部品と電気部品との間及び電気部品と大地との間を電気的に遮断するため

に用いる。また,固体電気絶縁材料は,電気部品の機械的支持の役割をもつ。このような目的に応じて,

固体電気絶縁材料は一般に,できるだけ大きな絶縁抵抗をもち,同時に十分な機械的特性,化学的特性及

び熱的耐久性を併せもつことを求められる。 

表面抵抗は,体積抵抗と同様に,絶縁抵抗の一部である。 

絶縁抵抗はJIS C 2139-3-3に従って,また,体積抵抗はJIS C 2139-3-1に従って測定する。 

表面抵抗は,材料及び製品の表面状態の電気抵抗に関する情報を与える。表面抵抗は,また,外部から


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の影響による抵抗の変化の監視も可能にする。ただし,表面抵抗は,材料本体の性質だけに依存するわけ

ではない。表面抵抗は,主に製造工程のパラメータ,環境条件,表面のエージングによる変化,汚損など

に依存する。 

特定の用途に応じて,電極構成を選択することができる(附属書JA参照)。 

 

試験方法 

5.1 

一般的事項 

この規格では,一般的な測定において共通に有益な事項を記載している。この規格に特定な材料に対す

る方法を記載している場合には,その特定な方法を用いる。 

特定の測定又は製品の要求に応じて表面抵抗を測定するためには,用途に適した形式の電極を用いるこ

とができる。例えば,曲面に対しては,小形ライン電極が有用である。ばね荷重電極は,製品に対する測

定が容易で,試験前に状態調節を行わなければならない材料の試験に適している。製品規格に規定がない

場合は,実際の使用条件を考慮して電極構成を選ぶ。 

電極によってその寸法が大きく変わる材料(例えば,軟質ゴム)の試験片には,上記のような電極の使

用は適切ではなく,異なる電極構成を用いる。 

電極に関して特に規定がない場合は,同心円環電極を推奨する(附属書JA参照)。 

5.2 

電圧 

推奨測定電圧は,10 V,100 V,500 V,1 000 V及び10 000 Vとする。ただし,上記以外の電圧を用い

てもよい。個別規格に規定がない場合は,100 Vを用いる。 

注記1 放電開始電圧を超えた場合に生じる部分放電は,測定誤差の原因となる。空気中では,340 V

以下で部分放電を生じることはない。 

注記2 電源電圧のリップルは重要である。100 Vにおけるリップル電圧のP-Pの許容値は,0.005 % (5 

mV)以下である。 

5.3 

試験装置 

5.3.1 

一般的事項 

表面抵抗を測定する場合には,試験装置の支持部品又はケーブル絶縁体の抵抗のような,電極構成に並

列に派生する抵抗によって悪影響を受けないように注意するのがよい。 

測定抵抗が1010 Ωを超える場合には,測定誤差を防ぐために,シールドケーブル及びシールドケースを

用いる。 

表面抵抗及び表面抵抗率の測定には,用途に適した電極構成を使用できる。表面抵抗率の評価は,用い

る電極構成によって異なる。 

5.3.2 

精度 

任意の適切な測定装置を用いてもよい。ただし,測定装置は,少なくとも総合的に未知抵抗を次の精度

で測定できるものとする。 

− 測定抵抗:1010 Ω未満の場合,±10 % 

− 測定抵抗:1010 Ω〜1014 Ωの場合,±20 % 

− 測定抵抗:1014 Ωを超える場合,±50 % 

5.3.3 

電源 

十分に安定な直流電圧電源が必要である。電池又は直流安定化電源が適切である。 


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5.3.4 

電極構成A−ばね荷重電極 

電極構成Aは,図1に示すように,長さ100 mmで10 mm間隔の2列の柔軟な金属のナイフエッジ列か

らなる。 

ガード電極はない。金属のナイフエッジ列は,長さ5 mm以下で,厚さ0.3 mmのばね片からなり,互い

に0.3 mm間隔で並べる。接触荷重は,試験片の表面に全てのばね片が接触するために十分な強さとする。

ただし,表面をきずつけることのない程度にとどめる。 

接触力を生成する金属片は,互いに十分に分離し,試験片に接触させる。 

 

単位 mm 

 

図1−電極構成A(ばね荷重電極の例) 

 

5.3.5 

電極構成B−小形ライン電極 

電極構成Bは,試験片表面に接着し,形成した2本の平行線電極からなる。ガード電極はない。この電

極には,例えば,導電性銀ペイントによる幅1.5 mmで長さ25 mmの2本の線電極を,2 mm間隔で形成し

て用いる。これらの電極は,試験片の状態調節を行う前に形成する。2本の線電極は,図2に示すような

導電体の刃をもつ2端子の集電電極装置を介して測定装置に接続する。 

 

① ガイドバー 

  (着脱可能) 

② 金属ナイフエッジ 
③ 試験片 


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図2−電極構成B用集電電極装置 

 

5.3.6 

電極構成C−同心円環電極 

電極構成Cは,図3に示すように,3個一組の電極で構成する。試験片の片面に,円環状の電極を装着

する。試験片の反対側の面には,円環電極の外周の円よりも大きいガード電極を装着する。状態調節の前

に,導電性ペイントで電極を接着し,形成してもよい(5.6.4参照)。 

 

 

図3−電極構成C(同心円環電極) 

 

特に規定がない場合,任意の電極寸法を用いてよい。よく用いる電極寸法を,表1に示す。比較試験に

は,表1の電極構成C1を推奨する。 

 

表1−電極構成Cでよく用いられる電極寸法 

単位 mm 

電極構成 

d1 

d2 

d3 

C1 

50 

60 

 80 

C2 

76 

88 

100 

C3 

25 

38 

 50 

 

電極構成Cでは,電極1と電極2との間の表面抵抗を測定する。電極3は接地する。 

凡例 
1 試験片(厚さ a) 
2 電極1 
3 測定領域 
4 電極2 
5 電極3(ガード電極) 


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材料が有限な導電率をもち,かつ,厚さが10 μm以下の材料の場合,電流計の入力抵抗が試験片の体積

抵抗よりも十分に小さくなっていることに留意する。 

5.3.7 

電極構成D−ライン電極 

電極構成Dは,試験片表面に接着し,形成した2本の平行線電極からなる。ガード電極はない。電極の

寸法は,電極構成Aと同じ電極の長さ及び電極間隔とする。 

この電極には,例えば,導電性銀ペイントによる幅1.5 mmで長さ100 mm±1 mmの2本の線電極を,

10 mm±0.5 mm間隔で用いる。これらの電極は,試験前に形成する。2本の線電極は,図2に示すような

導電体の刃をもつ2端子の集電電極装置を介して測定装置に接続する。 

5.3.8 

電極構成E−小形平板試験片用のライン電極 

電極構成Eは,3端子の平行線電極によって構成する。この電極には,例えば,導電性銀ペイントによ

る幅1〜2 mmで長さ50 mm±1 mmの線電極を,間隔5 mm±0.5 mmで用いる。これらの電極は,試験前

に形成する。2本の線電極は,図4 b)に示すように,3端子の集電電極装置を介して測定装置に接続する。 

注記 電極構成Eは,JIS K 7140-1で用いる小形平板試験片用(60 mm以上×60 mm以上)として推

奨する。 

5.4 

測定回路 

用いる電極構成によって,2端子測定又は3端子測定を行う(図4参照)。 

同心円環電極(電極構成C)及び平行線電極構成Eでは,ガードされた保護電極を用いるため,3端子

測定回路が必要である。 

その他の平行線電極(電極構成A,B及びD)では,2端子測定回路を用いる。 

 

 

図4−3端子及び2端子電極による測定時の接続図 

 

5.5 

校正 

測定装置は,測定する表面抵抗の値に応じて校正する。 

注記 100 TΩ(1014 Ω)までの値の校正用標準抵抗が市販されている。 


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5.6 

試験片 

5.6.1 

試験片の推奨寸法及び電極構成 

試験片の寸法は,用いる電極構成を形成又は装着するために十分なものである必要がある。製品による

推奨寸法を,附属書Aに示す。 

5.6.2 

試験片の作製 

試験片の作製方法及び形状は,供試材料の個別規格による。試験片の採取及び作製の間に,材料の状態

を変化させない。また,採取した試験片に損傷を与えない。 

試験片表面の電極に接触する部分を機械加工する場合には,機械加工の種類機械の型名を報告書に記載

する。試験片の形状は幾何学的に単純なものとする(管,測定する箇所の両面が平行な平板など)。 

製品から試験片を採取する場合は,可能な限り,製品の厚さのままとする。 

5.6.3 

試験片の個数 

試験片の個数は,関連する製品規格の規定による。特に数量の規定がない場合,3個以上の試験片を試

験する。 

5.6.4 

電極の装着 

導電性塗料の電極(電極構成B,C,D及びE)を用いる場合は,電極と試験片との接触面全体にわたっ

て適切な接触状態になるように注意する。状態調節のための適切な経過時間の後には,用いる電極材料は

表面抵抗の測定値に影響を与えないようにする。 

注記 導電性銀ペイント及び導電性カーボン塗料(suspensions of graphite)は適切な材料である。 

5.6.5 

試験片の状態調節及び前処理 

試験片の状態調節及びその他の前処理は,関連する製品規格の規定に従って実施する。 

製品規格がない場合には,JIS C 2142に従って,温度23 ℃及び相対湿度50 %の標準雰囲気Bの中で,

4日間以上状態調節する。 

特に規定がない場合,試験片はクリーニングしない。ただし,いかなる新しい汚損も避ける。 

5.7 

試験手順 

特に規定がない場合,測定はJIS C 2142に従って,温度23 ℃及び相対湿度50 %の標準雰囲気Bの中で

行う。 

試験片は,5.6.5に従って状態調節及び前処理を行う。処理後,直ちに電極を測定装置に接続する。 

引き続き,状態調節又は前処理終了後2分以内に,電極間の表面抵抗RSを測定する。特に規定がない場

合,電圧を印加してから1分経過後に測定する。 

 

表面抵抗率の計算 

6.1 

電極構成A,B,D及びEの計算式 

電極1と2との間の抵抗RSA,RSB,RSD及びRSEについてそれぞれ測定した表面抵抗RSは,Ωの単位で

示す。 

電極構成A,B,D及びEの場合,表面抵抗率σは,表面抵抗RS及び電極寸法から式(1)によって計算し,

Ωの単位で求める。電極の寸法が5.3.4,5.3.5,5.3.7及び5.3.8に規定する寸法と異なる場合でも,表面抵

抗率を算出することができる。 

SY

Y

R

g

l

  (1) 

ここに, 

l: 平行線電極の長さ 


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g: 平行線間の間隙 

 

添字Y: A,B,D及びEを代入 

個々の表面抵抗は電極に依存し,お互いに比較ができないため,測定値に添えて電極構成の種別を付し

て説明を加える。 

6.2 

電極構成Cの計算式 

接地したガード電極3を伴う電極1と2との間の表面抵抗RSCは,Ωの単位で示す。 

表面抵抗率σCは,表面抵抗RSC及び電極寸法から式(2)によって計算し,Ωの単位で求める。 

SC

1

2

1

2

C

πR

d

d

d

d

  (2) 

ここに, 

d1: 中央の円電極の直径 

 

d2: 円環電極の内周円の直径 

 

試験報告書 

試験報告書には,次の事項を記載する。 

a) 電極構成及び電極寸法 

b) 供試材料の名称,種類及び仕様。製造業者及び商品名を含む。 

c) 試験片の形状,寸法及び厚さ 

d) 試験電圧 

e) 試験装置の精度,必要と認めた場合,抵抗の測定値に応じた校正方法 

f) 

試験した材料の硬化条件及び前処理条件 

g) 試験片の状態調節及び試験時の気候条件 

h) 試験装置及び用いた機器の説明 

i) 

試験片の数 

j) 

試験実施日 

k) 表面抵抗及び表面抵抗率の各測定値及びそれらの中央値 

l) 

試験時の環境条件 

m) その他特記事項 

 

繰返し精度及び再現精度 

表面抵抗及び表面抵抗率の測定は,多くの要因に依存する。経験的に,再現精度(reproducability)は測

定値の50 %以上である。 

繰返し精度(repeatability)は,20 %〜50 %である。 

 


10 

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附属書A 

(参考) 

試験片の寸法及び電極構成 

 

試験片の寸法及び電極構成を,表A.1に示す。 

平たんなシートが得られない材料については,電極構成は受渡当事者間の合意によることを推奨する。 

 

表A.1−製品の種類による試験片の推奨寸法及び電極構成 

製品の種類 

推奨電極

構成 

参照規格 

試験片寸法の推奨値 

熱可塑性成形用樹脂 

C,E 

ISO 10350-1 

60 mm以上×60 mm以上 

熱硬化性成形用樹脂 

A,C,E 

ISO 14526規格群,ISO 14527規格群, 
ISO 14528規格群,ISO 14529規格群, 
ISO 14530規格群,ISO 15252規格群 

60 mm以上×60 mm以上 
100 mm以上×100 mm以上 

長繊維強化ポリエステル及びビ
ニルエステル成形用樹脂 
(SMC BMC) 

A,C 

EN 14598規格群 
ISO 10350-2 

100 mm以上×100 mm以上 

エポキシ含浸シート及び積層板 

A,C 

IEC 60893-2 

− 

管,丸棒及び角棒 

B,D 

IEC 61212-2 
IEC 62011-2 

− 

エラストマ材料 

− 

− 

 


11 

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附属書JA 

(参考) 

この規格と旧規格との留意すべき基本的相違点 

 

この規格の対応国際規格は,それ以前の国際規格(IEC 60093:1980)とは根本的に異なる試験方法の規

定を幾つか含んで改正された。改正後の規定は,これまでの学術的な厳密さを無視し,品質管理又は商取

引を対象に簡易化した試験方法を提供しようとするものである。これらの新たな規定は,上記の目的には

有効と思われるが,従来広く利用してきた手法とは本質的に相違し,表面抵抗及び表面抵抗率の用語の定

義についても,その内容が従来のものと著しく異なっている。そのため,この規格の使用に当たっては,

旧規格との違いに十分に留意する必要がある。主な留意点を,次に記載する。 

 

JA.1 表面抵抗及び測定電極構成について 

表面抵抗とは,“絶縁体の表面を流れる電流分についての電気抵抗”[電気学会電気専門用語集No.16

(絶縁材料)]であり,この定義は長年にわたり定着している。その一方で,厳密に表面電流だけの測定は

不可能であり,実際には表面に近い体積中を流れる電流分も含めて測定せざるを得ない(3.3参照)。旧規

格(JIS C 2139:2008及びその対応国際規格IEC 60093:1980)では,体積中の電流及びその他のう(迂)回

路を流れる電流(漂遊電流)を極力排除して,可能な限り従来の定義に近づけるような電極構成が用いら

れてきた。その電極構成は,この規格でも5.3.6(同心円環電極)に規定している。一方,5.3.4,5.3.5,5.3.7

及び5.3.8で新たに規定した電極構成(以下,新たに規定した電極構成という。)は,漂遊電流を排除する

ための電極及び回路をもたず,表面電流に漂遊電流を含めて得た抵抗値を,この規格で独自に表面抵抗と

定義している(3.5,3.6,3.8及び3.9参照)。 

同心円環電極(5.4)では,6.2の式(2)を用いて電極サイズの違いを補正できたが,新たに規定した電極

構成では,それぞれ漂遊電流の経路に違いがあるため,異なる電極構成による測定結果の対比は不可能と

している(6.1参照)。したがって,これまで用いられてきた同心円環電極による試験結果は,新たに規定

した電極構成の結果とは対比できないことに留意する。 

 

JA.2 表面抵抗率について 

表面抵抗率は,試験片表面上の仮想的な正方形の相対する一組の辺の間の抵抗としてしばしば定義され

ている。ここで“仮想的”とは,正方形の対辺の間の電流は,対辺に対して垂直な成分だけから成り,正

方形の外側の経路を通る電流成分(実際の場合には必ず存在する。)を含まないことを意味する。 

新たに規定した電極構成では,それぞれ固有のう(迂)回路による漂遊電流も含むため,対応国際規格

では,各電極構成に固有の表面抵抗率を個別に規定している。 

したがって,異なる電極構成によって得られた表面抵抗率の対比を行うことはできない。電極構成が同

じ場合にだけ,対比が可能である(3.4の注記3参照)。 

 

JA.3 電極構成の選択について 

新たに規定した電極構成は,対応国際規格群の制定に伴い廃止となったIEC 60167(Methods of test for the 

determination of the insulation resistance of solid insulating materials)で,“表面抵抗が主に問題になる場合に用

いる”と記載した電極構成,及びこれと類似の電極構成である。したがって,これらを用いる場合は,表


12 

C 2139-3-2:2018  

 

面抵抗以外の余分な値を含むことを理解して,簡易測定法として扱う必要がある。 

絶縁材料の物性に関わる,比較可能で,かつ,誤差の少ない数値を得るためには,5.3.6に規定する同心

円環電極の使用を推奨する。 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

参考文献  

[1] IEC 60050-121,International Electrotechnical Vocabulary−Part 121: Electromagnetism 

[2] IEC 60893-2,Industrial rigid laminated sheets based on thermosetting resins for electrical purposes−Part 2: 

Methods of test 

[3] IEC 61212-2,Insulating materials−Industrial rigid round laminated tubes and rods based on thermosetting 

resins for electrical purposes−Part 2: Methods of test 

[4] IEC 62011-2,Insulating materials−Industrial, rigid, moulded, laminated tubes and rods of rectangular and 

hexagonal cross-section, based on thermosetting resins for electrical purposes−Part 2: Methods of test 

[5] ISO 10350 (all parts),Plastics−Acquisition and presentation of comparable single-point data 

[6] ISO 10350-1,Plastics−Acquisition and presentation of comparable single-point data−Part 1: Moulding 

materials 

[7] ISO 10350-2,Plastics−Acquisition and presentation of comparable single-point data−Part 2: 

Long-fibre-reinforced plastics 

[8] ISO 14526 (all parts),Plastics−Phenolic powder moulding compounds (PF-PMCs) 

[9] ISO 14527 (all parts),Plastics−Urea-formaldehyde and urea/melamine-formaldehyde powder moulding 

compounds (UF- and UF/MF-PMCs) 

[10] ISO 14528 (all parts),Plastics−Melamine-formaldehyde powder moulding compounds (MF-PMCs) 

[11] ISO 14529 (all parts),Plastics−Melamine/phenolic powder moulding compounds (MP-PMCs) 

[12] ISO 14530 (all parts),Plastics−Unsaturated-polyester powder moulding compounds (UP-PMCs) 

[13] ISO 15252 (all parts),Plastics−Epoxy powder moulding compounds (EP-PMCs) 

[14] EN 14598 (all parts),Reinforced thermosetting moulding compounds−Specification for Sheet Moulding 

Compound (SMC) and Bulk Moulding Compound (BMC) 

[15] 一般社団法人電気学会,電気用語標準特別委員会,絶縁材料用語小委員会編著,電気学会電気専門

用語集No.16“絶縁材料”(コロナ社) 


13 

C 2139-3-2:2018  

 

附属書JB 

(参考) 

JISと対応国際規格との対比表 

 

JIS C 2139-3-2:2018 固体電気絶縁材料の誘電特性及び抵抗特性−第3-2部:直
流電圧印加による抵抗特性の測定−表面抵抗及び表面抵抗率 

IEC 62631-3-2:2015,Dielectric and resistive properties of solid insulating materials−Part 
3-2: Determination of resistive properties (DC methods)−Surface resistance and surface 
resistivity 

 

(I)JISの規定 

(II)国際 
規格番号 

(III)国際規格の規定 

(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条ごと
の評価及びその内容 

(V)JISと国際規格との技術的差
異の理由及び今後の対策 

箇条番号 
及び題名 

内容 

箇条 
番号 

内容 

箇条ごと 
の評価 

技術的差異の内容 

3.3 表面抵
抗 

表面抵抗の定義 

 

3.3 

JISとほぼ同じ。 

変更 

対応国際規格の注記1の“用いる電
極構成によって定まる実測抵抗

RSA,RSB,RSC,RSD又はRSEを表面

抵抗と称する。”を,本文に移動し
た。 

“実測抵抗RSA,RSB,RSC,RSD及
びRSE”は,3.3以降(3.5〜3.9及
び箇条6)では本文中で規定とし
て用いているため,本文に移動し
た。 
IECに修正を提案する予定。 

3.4 表面抵
抗率 

表面抵抗率の定義 

 

3.9 

JISとほぼ同じ。 

変更 

細分箇条を移動した。 

定義の細分箇条として,“表面抵
抗”の次に“表面抵抗率”を置く
方が自然かつ適切と判断した。 
IECに修正を提案する予定。 

3.5〜3.9 

用語“表面抵抗”の
定義 

 

3.4〜
3.8 

JISと同じ。 

変更 

細分箇条番号を移動した。 
技術的差異はない。 

上記の細分箇条の移動に伴い,移
動した。 
IECに修正を要求する予定。 

5.1 一般的
事項 

試験方法の一般的
事項の説明 

 

5.1 

JISとほぼ同じ。 

変更 

推奨する電極を,“small line 
electrode”ではなく,“同心円環電
極”とした。推奨電極構成が異なる。 

対応国際規格の記載は不適切と判
断した(附属書JA参照)。 
IECに変更を要求する予定。 

5.3.3 電源 

試験装置として用
いる電源の説明 

 

5.3.3 

JISとほぼ同じ。 

削除 

電源の安定度に関する対応国際規
格の記載を削除した。 

対応国際規格の記載内容は不適切
と判断し,IECに変更を要求する
予定。 

 

3

 

C

 2

1

3

9

-3

-2

2

0

1

8

 

 

 

 

 


14 

C 2139-3-2:2018  

 

(I)JISの規定 

(II)国際 
規格番号 

(III)国際規格の規定 

(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条ごと
の評価及びその内容 

(V)JISと国際規格との技術的差
異の理由及び今後の対策 

箇条番号 
及び題名 

内容 

箇条 
番号 

内容 

箇条ごと 
の評価 

技術的差異の内容 

附属書JA 
(参考) 
この規格と
旧規格との
留意すべき
基本的相違
点 

旧規格との留意す
べき基本的相違点
の説明 

 

− 

− 

追加 

対応国際規格を基に作成したこの
規格は,旧規格(JIS C 2139)と著
しく異なる規定があるため,重要な
相違点について記載した。 

旧規格(JIS C 2139)の規定事項
を用いていた使用者の注意を促す
目的で作成した。上記の件に対す
るIECの対応を待って今後の対策
を検討する。 

 

JISと国際規格との対応の程度の全体評価:IEC 62631-3-2:2015,MOD 

注記1 箇条ごとの評価欄の用語の意味は,次による。 

− 削除  国際規格の規定項目又は規定内容を削除している。 
− 追加  国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。 
− 変更  国際規格の規定内容を変更している。 

注記2 JISと国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は,次による。 

− MOD  国際規格を修正している。 

 

3

 

C

 2

1

3

9

-3

-2

2

0

1

8