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C 2136

:2004

(1)

まえがき

この規格は,工業標準化法第 12 条第 1 項の規定に基づき,社団法人電気学会(IEEJ)/財団法人日本規

格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり,日本工業標準調

査会の審議を経て,経済産業大臣が制定した日本工業規格である。

制定に当たっては,日本工業規格と国際規格との対比,国際規格に一致した日本工業規格の作成及び日

本工業規格を基礎にした国際規格原案の提案を容易にするために,IEC 60587 : 1984,Test methods for

evaluating resistance to tracking and erosion of electrical insulating materials used under severe ambient conditions

を基礎として用いた。

この規格の一部が,技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の

実用新案登録出願に抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会

は,このような技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の実用新

案登録出願にかかわる確認について,責任はもたない。

JIS C 2136 : 2004

には,次に示す附属書がある。

附属書(参考)JIS と対応する国際規格との対比表


C 2136

:2004

(2)

目  次

ページ

序文 

1

1.

  適用範囲

1

2.

  定義

1

2.1

  トラック 

2

2.2

  トラッキング 

2

2.3

  侵食(電気的)

2

2.4

  トラック時間 

2

3.

  試験片

2

3.1

  寸法

2

3.2

  準備

2

4.

  試験装置

2

4.1

  電気回路 

2

4.2

  電極

4

4.3

  汚損液

6

4.4

  計時装置 

7

4.5

  深さ計

7

5.

  手順

7

5.1

  試験の準備 

7

5.2

  電圧の印加 

7

6.

  試験報告

8

6.1

  供試材料の種類及び名称 

8

6.2

  試験片の詳細 

8

6.3

  電極配置に対する試験片の向き

8

6.4

  電圧の印加方法及び採用した終点基準 

8

6.5

  5.2.1 及び 5.2.2 による階級の分類

8

附属書(参考)JIS と対応する国際規格との対比表 

9

 


日本工業規格

JIS

 C

2136

:2004

過酷な環境条件下における電気絶縁材料の耐トラッ

キング性及び耐侵食性試験方法

Test methods for evaluating resistance to tracking and erosion of electrical

insulating materials used under severe ambient conditions

序文  この規格は,1984 年に第 2 版として発行された IEC 60587: 1984, Test methods for evaluating resistance

to tracking and erosion of electrical insulating materials used under severe ambient conditions

を翻訳し,技術的内

容を変更して作成した日本工業規格である。

なお,この規格で点線の下線を施してある箇所は,原国際規格を変更している事項である。変更の一覧

表をその説明を付けて,

附属書(参考)に示す。

1.

適用範囲  この規格は,過酷な環境条件下において商用周波数電圧(48∼62 Hz)が加わる電気絶縁材

料の耐トラッキング性及び耐侵食性の試験方法について規定する。

この規格は,平面試験片と汚損液とを用いる一定電圧トラッキング法(方法 1)及び段階昇圧トラッキ

ング法(方法 2)の二つの試験方法について規定する。

備考1.  試験条件は,劣化作用を加速するように設定されているが,実使用状態で直面するすべての

条件を再現しているわけではない。

4.

で規定する試験装置ではトラックは,下部電極を基点として発生する。試験の終点を決める基準とし

て次の終点基準 A 及び終点基準 B を用いる。ただし,終点基準 A を優先して用いるものとする。終点基

準 B は,関連する材料規格で要求されている場合に限り用いてもよい。

  終点基準 A:試験片を通って高電圧回路中を流れる電流値が 60 mA を超え,2s 以上持続したときを終

点とする。その時点で過電流検出装置が回路を遮断する。

備考  これによる場合には,複数の試験片を同時に試験する自動化装置を使うことができる。

  終点基準 B:トラックが,下部電極から 25 mm 離れた試験片上のマーク(

図 及び図 3b 参照)に達

した時点を終点とする。

備考  これによる場合は,目視観察し,手動で試験を中止する必要がある。

2. 

この規格の対応国際規格を,次に示す。

なお,対応の程度を示す記号は,ISO/IEC Guuide 21 に基づき,IDT(一致している)

,MOD

(修正している)

,NEQ(同等でない)とする。

IEC 60587:1984, Test methods for evaluating resistance to tracking and erosion of electrical insulating

materials used under severe ambient conditions (MOD)

2.

定義  この規格で用いる主な用語の定義は,次による。

2.1

トラック  絶縁材料の表面が局所的に劣化して形成された,部分的な導電性経路。


2

C 2136

:2004

2.2

トラッキング  絶縁材料の汚損された表面又は表面に近接して生じた放電の作用で,トラックが形

成される過程。

2.3

侵食(電気的)  放電の作用による絶縁材料の損耗。

2.4

トラック時間  特定の試験条件においてトラックが形成されるまでの時間。

3.

試験片

3.1

寸法  傾斜して設置する試験片の大きさは,横 50 mm 以上,縦 120 mm 以上とする。厚さは 6 mm

とするのがよい。異なる厚さを用いてもよいが,試験報告書にそのことを記述する。

図 に示すように,

試験片には電極を取り付けるための孔あけを行う。

3.2

準備  特に規定がない限り,試験片の表面は,例えば,#2000 の研磨紙で表面の光沢がなくなるまで

研磨する。研磨は,脱イオン水又は蒸留水を注水しながら,細かいシリコンカーバイド研磨紙を用いて行

う。研磨の程度は,湿潤状態では表面全体が均一にぬれ,乾燥状態では均一につや消しの状態になるまで

行うのがよい。研磨を行わない場合には,表面のクリーニングの方法を試験報告書に記述する。

終点基準 B(1.  参照)で用いる試験片には,下部電極から上に 25 mm 離れた位置の両側端面に目印(

1

及び

図 3b  参照)を付ける。

単位  mm

  1  電極取付け孔をあけた試験片

4.

試験装置

4.1

電気回路  回路の概略を,図 2a に示す。高電圧で試験を行うため,接地された防護用の囲いを設け

る。回路は,次のように構成する。


3

C 2136

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4.1.1

出力電圧の変動を±5  %に安定化した周波数 48∼62 Hz の電源で,約 6 kV まで可変昇圧でき,試

験片 1 個につき 0.1 A 以上の定格電流を流せるもの。試験電圧は,方法 1 の場合には 2.5 kV,3.5 kV 及び

4.5 kV

とするのがよい。

備考  一つの電源で複数の試験片の試験を行う場合には,各試験片ごとに回路遮断装置又はそれと同

様の装置を装着するのがよい(4.1.4  参照)

4.1.2

抵抗値の誤差が±10  %で,容量が 200 W 以上の抵抗器を,それぞれの試験片と直列に電源の高電

圧側に挿入する。その抵抗器の抵抗値は,

表 による。

  1  試験条件

試験電圧

kV

方法 1 の優先電圧

kV

汚損液の流量

ml/min

直列抵抗の抵抗値

k

Ω

1.0

∼1.75

2.0

∼2.75

3.0

∼3.75

4.0

∼4.75

5.0

∼6.0

2.5

3.5

4.5

0.075

0.15

0.30

0.60

0.90

10

10

22

33

33

参考  IEC 60587 では,試験電圧 1.0∼1.75 kV に対応する直列抵抗器の抵抗値が 1 kΩとなっているが,系列から見て

10 k

Ωの誤りと判断して 10 kΩに変更した。

4.1.3

目盛の精度が 1.5  %の電圧計。

4.1.4

高電圧回路に 60 mA±6 mA 以上の電流が 2 s±0.2 s 持続したときに作動する過電流遅延リレー(例

えば,

図 2b 参照)又はこれに代わる装置。

S:電源スイッチ

VT:可変変圧器

T:高電圧変圧器

R:直流抵抗器

V:電圧計

Sp:試験片

F:過電流検出装置,ヒューズ又はリレー

 2a  回路概略図


4

C 2136

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電源スイッチ(図 2 a の S)へ

Re:整流器

Tr:変圧器(巻線比 300/900)

R1:リレー(2 500 Ω/11 000 ターン)

C:コンデンサ(200

µF)

 2b  過電流遅延リレー回路(図 2a の F)の代表例

4.2

電極  すべての電極,電極固定用ねじ,その他の電極固定用附属品は,ステンレス鋼製とする。電

極の構成を,

図 3a に示す。

備考  電極は,それぞれの試験の前に清掃し,必要があれば交換する。

4.2.1

上部電極を,

図 に示す。

4.2.2

下部電極を,

図 に示す。

単位  mm

 3a  電極の装置


5

C 2136

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単位  mm

 3b  試験片の組立概念図

単位  mm

  4  上部電極(ステンレ鋼製,厚さ 0.5 mm


6

C 2136

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単位  mm

  5  下部電極(ステンレス鋼製,厚さ 0.5 mm

単位  mm

  6  ろ紙(上部電極 1 個に付き 8 枚使用)

4.3

汚損液

4.3.1

特に規定がない限り,質量分率 0.1 %±0.002  %の分析用純度の NH

4

Cl

(塩化アンモニウム)及び

質量分率 0.02%±0.002  %のイソオクチルフェノキシポリエトキシエタノール(非イオン性界面活性剤)

の蒸留水又は脱イオン水溶液。

汚損液の抵抗率は,23  ℃±1  ℃において 3.95  Ωm±0.05  Ωm とする。

汚損液は,調製後 4 週間以内のものを用いる。また,一連の試験実施前に抵抗率を確認する。

4.3.2

図 に概略寸法を示す厚さ 0.2 mm±0.02 mm のろ紙 8 枚を重ねたパッドを上部電極と試験片との

間に挟み,汚損液の貯留場とする。

4.3.3

電圧を印加する前に,このろ紙のパッドに汚損液の供給を開始し,上部電極から下部電極に向かっ

て均一な流れを形成する。

備考  このためには,汚損液を一定の大きさの液滴として,毎分一定数をろ紙のパッドに滴下する。

参考  IEC 60587 の備考に記載されている二通りの汚損液の注入方法のうち,チューブの先端をろ紙

の間に挿入し,ステンレス鋼製クリップでとめる方法については,チューブの汚損液を経由し


7

C 2136

:2004

て感電の危険があるため,この備考から削除した。

4.3.4

汚損液の流量は,印加電圧に応じて

表 の規定値の±10 %とする。ろ紙に注入される液量は,2 min

の測定値とする。

4.4

計時装置  約±1 min/h の精度の計時装置。

備考  例えば,計数器付きの 1 min パルス発生器が適切である。

4.5

深さ計  精度±0.01 mm の深さ計。触針の先端は,半径 0.25 mm の半球とする。

5.

手順

5.1

試験の準備

5.1.1

特に規定がない限り,試験は周囲温度 23  ℃±5  ℃で各材料から採取した 5 個の試験片について行

う。

5.1.2

上下の電極を 50 mm±0.5 mm 間隔で装着した試験片を,

図 3b  に示すように,平たんな試験面を

下向きにして,水平から 45°

±2°傾斜させて固定する。

備考  試験ごとに新しいろ紙のパッドを用いる。

5.1.3

ろ紙のパッドに汚損液の供給を開始し,ろ紙全体を完全にぬれた状態にする。汚損液の流れを調節

し,

表 に規定する流量となるように校正する。少なくとも 10 min の間汚損液の流れを観察し,汚損液が

試験片の上下の電極間の表面を定常的に流下していることを確認する。また,汚損液は上部電極の下端の

切欠き部だけから流出し,ろ紙パッドの側面及び上端から漏出していてはならない。

5.2

電圧の印加

5.2.1

方法 1:一定電圧トラッキング法  汚損液が表 に規定する流量で定常的に流れる状態で,電源を

投入し,推奨電圧 2.5 kV,3.5 kV 又は 4.5 kV まで電圧を上昇させ,計時装置を始動させる。電圧は,6 h

の間一定に保つ。

より高い電圧又はより低い電圧で試験を繰り返す必要がある場合には,それぞれの電圧ごとに,5 個一

組の試験片に対して試験を行う。同時に 5 個試験しても別々に 5 個試験してもよい。

一定耐トラッキング電圧とは,

5

個の試験片のすべてが破壊することなしに 6 h 耐えたときの最も高い電

圧値をいう。

材料の階級の分類は,次による。

a)

クラス 1A0 又は 1B0  1.の終点基準 A 又は終点基準 B で,2.5 kV で 6 h 以内に終点に達する試験片が

1

個以上ある場合。

b)

クラス 1A2.5 又は 1B2.5  5 個の試験片のすべてが 2.5 kV に耐え,更に,3.5 kV で 6 h 以内に終点に達

する試験片が 1 個以上ある場合。

c)

クラス 1A3.5 又は 1B3.5  5 個の試験片のすべてが 3.5 kV に耐え,更に,4.5 kV で 6 h 以内に終点に達

する試験片が 1 個以上ある場合。

d)

クラス 1A4.5 又は 1B4.5  5 個の試験片のすべてが 4.5 kV に耐える場合。

いずれの場合にも,侵食の最大深さを報告する。


8

C 2136

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5.2.2

方法 2:段階昇圧トラッキング法  試験開始時の電圧としては,250 V の倍数で,かつ,3 段階目

の電圧印加よりも前に 1.の終点基準 A による終点

(電流が 60 mA を超過)

に到達しないような値を選ぶ(予

備的な試験を必要とする場合がある。

。汚損液を規定の流量で定常的に流した状態で,電源を投入し,先

に定めた試験開始電圧まで上昇させる。この電圧を 1 h 保持し,続いて 250 V ステップで 1 h ずつ保持しな

がら,終点基準 A に到達するまで昇圧する。電圧の上昇に応じて,汚損液の流量及び直列抵抗の値を

表 1

に従って増加する。段階耐トラッキング電圧とは,5 個の試験片のすべてが破壊することなしに 1 h 耐えた

ときの最も高い電圧値をいう。

材料の階級の分類は,次による。

クラス 2Ax,ここに x は,試験した材料が耐えた最高電圧をキロボルト (kV) の単位で表した値である。

備考1.  有効に劣化を引き起こすためのシンチレーションを発生させることが必要である。発生しな

い場合には,汚損液の流れの状態及び汚損液の抵抗率を注意深く確認する。

シンチレーションとは,電圧を印加してから数分以内に,くし(櫛)状の下部電極の歯の

すぐ上の部分に生じる黄色又は白(ある種の材料ではしばしば青)の微小なアークをいう。

これらの放電は,最終的に小さな“輝点(hot spot)

”を形成して沈静する前の段階では,し

ばしば一つの歯から別の歯へ移行することはあるが,本質的には継続的に発生する。この“輝

点”は試験片の表面を焼損して最終的にはトラッキング破壊を引き起こすことがある。二つ

の電極の間の表面を素早く移動する形式の放電がトラッキングを生成することはまれである。

有効なシンチレーションの状態は,オシロスコープによって観測することができる。その

場合の信号は,過電流検出装置及び直列に挿入した抵抗(例えば,330  Ω,2 W)の両端か

ら取り出す。適切なシンチレーションは,商用周波数電圧の電流波形の各半サイクルに頻繁

に現れる形の定まらないひずみとして観測される。

2.

トラックが上部電極に到達する以前であっても,生成した導電性のトラック及び表面に残存

する汚損液の流れを通して 60 mA の電流が流れたときには,過電流検出装置は作動する。

3.

侵食深さの測定は,試験片材料の健全な部分を削らないように注意しながら,絶縁材料の分

解生成物及び破片を削り取った後に実施する。

6.

試験報告書  試験報告書には,次の事項を含める。

6.1

供試材料の種類及び名称

6.2

試験片の詳細  製法及び寸法,クリーニングの方法及び使用した溶剤,実施した場合には,表面処

理,事前の状態調節及び厚さを報告する。

6.3

電極配置に対する試験片の向き(すなわち,機械加工の方向に対する平行,直角又は偏向角度,そ

の他)

6.4

電圧の印加方法及び採用した終点基準

6.5

5.2.1

及び 5.2.2 による階級の分類


9

C 2136

:2004

附属書(参考)JIS と対応する国際規格との対比表

JIS C 2136

:2004  傾斜平面耐トラッキング侵食性試験方法

IEC 60587

:1984  傾斜平面耐トラッキング侵食性試験方法

(

Ⅰ) JIS の規定

(

Ⅱ)  国際

規格番号

(

Ⅲ)  国際規格の規定

(

Ⅳ)  JIS と国際規格との技術的差異

の項目ごとの評価及びその内容

  表示箇所:本体 
  表示方法:点線の下線

(

Ⅴ)  JIS と国際規格との技術的差異の理由

及び今後の対策

項目

番号

内容

項目

番号

内容

項 目 ご と

の評価

技術的差異の内容

1.

適用 範

過酷な条件下での,傾斜平

面 耐 ト ラ ッ キ ン グ 侵食 性
の 二 通 り の 試 験 方 法を 規
定する。

 1.

JIS

に同じ。 IDT

2.

定義 2.1 トラック

2.2

トラッキング

2.3

侵食(電気的)

2.4

トラック時間

2.

JIS

に同じ。 IDT

3.

試験片 3.1 寸法

3.2

準備

  試験片の表面を,#2000

の 研 磨 紙 で 光 沢 が なく な
るまで研磨する。

3.

JIS

に同じ。

試 験 片 の 表 面 を 軽 く

研磨する。

IDT

MOD/

規 定 が 極 め て あ い ま

いなので,試験片表面
に 通 常 実 施 さ れ て い
る 処 理 方 法 を 具 体 的

に規定した。

IEC

に対して修正を提案する。

 
 

9

C

2136:2004


10

C 2136

:2004

(

Ⅰ) JIS の規定

(

Ⅱ)  国際

規格番号

(

Ⅲ)  国際規格の規定

(

Ⅳ)  JIS と国際規格との技術的差異

の項目ごとの評価及びその内容 
  表示箇所:本体 
  表示方法:点線の下線

(

Ⅴ)  JIS と国際規格との技術的差異の理由

及び今後の対策

項目 
番号

内容

項目 
番号

内容

項 目 ご と
の評価

技術的差異の内容

4.

試験 装

4.1

電気回路

  試験電圧 1.0∼1.75 kV に
対 応 す る 直 列 抵 抗 の抵 抗

値:10 kΩ

  電流値:60 mA±6 mA

  持続時間:2 s±0.2 s

4.2

電極

4.3

汚損液

  ろ紙の厚さ:0.2 mm±

0.02 mm

  汚損液の供給方法:汚損
液 を ろ 紙 の パ ッ ド に滴 下
する方法を備考に記載。

  汚損液の流量,±10  %
とする。

4.4

計時装置

4.5

深さ計

4.

試験電圧 1.0∼1.75 kV
に 対 応 す る 直 列 抵 抗

の抵抗値:1 kΩ

電流値の公差なし。

持続時間に公差なし。

JIS

に同じ。

ろ 紙 の 厚 さ : 規 定 な
し。 
汚 損 液 を チ ュ ー ブ を

通 し て ろ 紙 の パ ッ ド
に 直 接 供 給 す る 方 法
及 び 滴 下 す る 方 法 の

二通りを備考に記載。

流量の公差なし。

JIS

に同じ。

JIS

に同じ。

MOD/

MOD/

MOD/

IDT

MOD/

MOD/

MOD/

IDT

IDT

試験電圧 1.0∼1.75 kV
に 対 応 す る 直 列 抵 抗

の抵抗値:1 kΩは明ら
かな誤りと判断し,10

k

Ωとした。

電 流 値 に 公 差 の 規 定
が必要。 
持 続 時 間 に 公 差 の 規

定が必要。

厚さを規定した。

汚 損 液 を チ ュ ー ブ を

通 し て ろ 紙 の パ ッ ド
に 直 接 供 給 す る 方 法
は,チューブ内の汚損

液 を 経 由 し て 感 電 の
危 険 性 が あ る た め 備
考から削除し,参考を

追加した。 
流 量 の 設 定 目 標 を 明
確にした。

IEC

に対して修正を提案する。

IEC

に対して修正を提案する。

IEC

に対して修正を提案する

IEC

に対して修正を提案する。

IEC

に対して,この項目を削除するよ

う提案する。

IEC

に対して修正を提案する。

10

C

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C 2136

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(

Ⅰ) JIS の規定

(

Ⅱ)  国際

規格番号

(

Ⅲ)  国際規格の規定

(

Ⅳ)  JIS と国際規格との技術的差異

の項目ごとの評価及びその内容 
  表示箇所:本体

  表示方法:点線の下線

(

Ⅴ)  JIS と国際規格との技術的差異の理由

及び今後の対策

項目

番号

内容

項目

番号

内容

項 目 ご と

の評価

技術的差異の内容

5.

手順 5.1

試験の準備

  試験片の傾斜角度:45°

±2°

5.2

電圧の印加

  試験片数:5 個,試験は,

同時でも別々でもよい。

5.

角度の公差なし。

試験片数:5 個一組。

MOD/

MOD/

角度の公差が必要。

同 時 に 試 験 し な く て

も よ い こ と を 明 確 に
する。

IEC

に対して修正を提案する。

IEC

に対して修正を提案する。

6.

試験 報

告書

報告事項 5 項目。 6.  JIS に同じ。 IDT

JIS

と国際規格との対応の程度の全体評価:MOD

備考1.  項目ごとの評価欄の記号の意味は,次のとおりである。

    ―  IDT………………  技術的差異がない。

    ―  MOD/削除………  国際規格の規定項目又は規定内容を削除している。 
    ―  MOD/追加………  国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。 
    ―  MOD/変更………  国際規格の規定内容を変更している。

2.

JIS

と国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は,次のとおりである。

    ―  MOD……………  国際規格を修正している。

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C

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