>サイトトップへ >このカテゴリの一覧へ

C 1806-3-1

:2014 (IEC 61326-3-1:2008)

(1)

目  次

ページ

序文  

1

1

  適用範囲 

1

2

  引用規格 

2

3

  用語及び定義  

3

4

  一般事項 

5

5

  EMC 試験計画  

6

5.1

  一般事項  

6

5.2

  試験中の供試装置の構成  

6

5.3

  試験中の EUT の動作条件  

7

5.4

  性能評価基準の仕様  

7

5.5

  試験の記述  

7

6

  性能評価基準  

7

6.1

  性能評価基準 A及び C  

7

6.2

  性能評価基準 FS  

7

6.3

  性能評価基準 FS の適用  

8

7

  イミュニティ要求事項  

8

8

  安全用途を意図する機能がある EUT に対する試験セットアップ及び試験の考え方  

13

8.1

  安全関連システムでの使用を意図する安全関連システム及び装置の試験 

13

8.2

  安全関連システムでの使用を意図した装置に対する試験の考え方  

14

8.3

  安全関連システムに対する試験の考え方  

14

8.4

  試験構成  

15

8.5

  監視  

15

9

  試験結果及び試験報告書  

15

附属書 A(参考)電磁現象の評価  

19

附属書 B(参考)イミュニティ試験中に許容できる影響  

23

附属書 JA(参考)対応国際規格の序文  

28

参考文献  

31


C 1806-3-1

:2014 (IEC 61326-3-1:2008)

(2)

まえがき

この規格は,

工業標準化法第 12 条第 1 項の規定に基づき,

一般社団法人日本電気計測器工業会

(JEMIMA)

及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出

があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が制定した日本工業規格である。

この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。

この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意

を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実

用新案権に関わる確認について,責任はもたない。

JIS C 1806

の規格群には,次に示す部編成がある。

JIS

C

1806-1

  第 1 部:一般要求事項

JIS

C

1806-2-1

  第 2-1 部:個別要求事項−EMC 防護が施されていない感受性の高い試験及び測定装置

の試験配置,動作条件及び性能評価基準

JIS

C

1806-2-2

  第 2-2 部:個別要求事項−低電圧配電システムで使用する可搬形試験,測定及びモニ

タ装置の試験配置,動作条件及び性能評価基準

JIS

C

1806-2-3

  第 2-3 部:個別要求事項−一体形又は分離形信号変換機能をもつトランスデューサの

試験配置,動作条件及び性能評価基準

JIS

C

1806-2-6

  第 2-6 部:個別要求事項−体外診断用医療機器

JIS

C

1806-3-1

  第 3-1 部:安全関連システム及び安全関連機能(機能安全)の遂行を意図した装置に

対するイミュニティ要求事項−一般工業用途


日本工業規格

JIS

 C

1806-3-1

:2014

(IEC 61326-3-1

:2008

)

計測,制御及び試験室用の電気装置−

電磁両立性要求事項−

第 3-1 部:安全関連システム及び安全関連機能

(機能安全)の遂行を意図した装置に対する

イミュニティ要求事項−一般工業用途

Electrical equipment for measurement, control and laboratory use-

EMC requirements-Part 3-1: Immunity requirements for safety-related

systems and for equipment intended to perform safety-related functions

(functional safety) -General industrial applications

序文 

この規格は,2008 年に第 1 版として発行された IEC 61326-3-1 を基に,技術的内容及び構成を変更する

ことなく作成した日本工業規格である。

なお,この規格で点線の下線を施してある参考事項は,対応国際規格にはない事項である。また,

附属

書 JA には対応国際規格の“イントロダクション(図 を含む。)”を記載している。

適用範囲 

この規格は,JIS C 1806-1 の箇条 1(適用範囲)を適用する。ただし,その範囲は,JIS C 0508 規格群で

SIL

(安全度水準)1∼3 として規定している安全機能の遂行を意図した工業用システム及び装置に限定す

る。

この規格が対象とする電磁環境は,JIS C 61000-6-2 で工業地域として規定している,又は JIS C 1806-1

の 3.7(工業地域)で規定している,屋内及び屋外の工業的環境である。例えば,プロセス工業又は防爆機

器を必要とする環境のような,電磁環境での使用を意図した装置及びシステムは,この規格の適用範囲か

ら除外する。

JIS C 0508

規格群又は JIS C 0511 規格群に従い,

“実績による使用(proven-in-use)

”とみなす装置及び

システムは,この規格の適用範囲から除外する。

建造物用の火災警報システム及び保安警報システムは,この規格の適用範囲から除外する。

注記  この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。

IEC 61326-3-1:2008

, Electrical equipment for measurement, control and laboratory use− EMC

requirements

−Part 3-1: Immunity requirements for safety-related systems and for equipment

intended to perform safety-related functions (functional safety)

−General industrial applications


2

C 1806-3-1

:2014 (IEC 61326-3-1:2008)

(IDT)

なお,対応の程度を表す記号“IDT”は,ISO/IEC Guide 21-1 に基づき,

“一致している”こ

とを示す。

引用規格 

次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの

引用規格は,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追補を含む。

)は適用しない。

JIS C 0508

(規格群)  電気・電子・プログラマブル電子安全関連系の機能安全

注記  対応国際規格:IEC 61508(all parts),Functional safety of electrical/electronic/programmable

electronic safety-related systems

(IDT)

JIS C 0511

(規格群)  機能安全−プロセス産業分野の安全計装システム

注記  対応国際規格:IEC 61511(all parts),Functional safety−Safety instrumented systems for the process

industry sector

(IDT)

JIS C 1806-1:2010

  計測,制御及び試験室用の電気装置−電磁両立性要求事項−第 1 部:一般要求事

注記  対応国際規格:IEC 61326-1:2005,Electrical equipment for measurement, control and laboratory use

−EMC requirements−Part 1: General requirements(MOD)

JIS C 60050-161:1997

  EMC に関する IEV 用語

注記  対 応 国 際 規 格 : IEC 60050-161 , International Electrotechnical Vocabulary − Chapter 161:

Electromagnetic compatibility

(IDT)

JIS C 61000-4-2:2012

  電磁両立性−第 4-2 部:試験及び測定技術−静電気放電イミュニティ試験

注記  対応国際規格:IEC 61000-4-2:2001,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-2: Testing and

measurement techniques

−Electrostatic discharge immunity test(MOD)

JIS C 61000-4-3:2012

  電磁両立性−第 4-3 部:試験及び測定技術−放射無線周波電磁界イミュニティ

試験

注記  対応国際規格:IEC 61000-4-3:2006,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-3: Testing and

measurement techniques

−Radiated, radio-frequency, electromagnetic field immunity test(IDT)

JIS C 61000-4-4:2007

  電磁両立性−第 4-4 部:試験及び測定技術−電気的ファストトランジェント/

バーストイミュニティ試験

注記  対応国際規格:IEC 61000-4-4:2004,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-4: Testing and

measurement techniques

−Electrical fast transient/burst immunity test(MOD)

JIS C 61000-4-5:2009

  電磁両立性−第 4-5 部:試験及び測定技術−サージイミュニティ試験

注記  対応国際規格:IEC 61000-4-5:2005,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-5: Testing and

measurement techniques

−Surge immunity test(IDT)

JIS C 61000-4-6:2006

  電磁両立性−第 4-6 部:試験及び測定技術−無線周波電磁界によって誘導する

伝導妨害に対するイミュニティ

注記  対応国際規格:IEC 61000-4-6:2004,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-6: Testing and

measurement techniques

−Immunity to conducted disturbances, induced by radio-frequency fields

(MOD)

JIS C 61000-4-8:2003

  電磁両立性−第 4 部:試験及び測定技術−第 8 節:電源周波数磁界イミュニテ


3

C 1806-3-1

:2014 (IEC 61326-3-1:2008)

ィ試験

注記  対応国際規格:IEC 61000-4-8:1993,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-8: Testing and

measurement techniques

−Power frequency magnetic field immunity test 及び Amendment 1:2000

(MOD)

JIS C 61000-4-11:2008

  電磁両立性−第 4-11 部:試験及び測定技術−電圧ディップ,短時間停電及び

電圧変動に対するイミュニティ試験

注記  対応国際規格:IEC 61000-4-11:2004,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-11: Testing

and measurement techniques

−Voltage dips, short interruptions and voltage variations immunity tests

(IDT)

JIS C 61000-4-16:2004

  電磁両立性−第 4 部:試験及び測定技術−第 16 節:直流から 150 kHz までの

伝導コモンモード妨害に対するイミュニティ試験

注記  対応国際規格:IEC 61000-4-16:1998,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-16: Testing

and measurement techniques

−Test for immunity to conducted, common mode disturbances in the

frequency range 0 Hz to 150 kHz

及び Amendment 1:2001(MOD)

JIS C 61000-6-2:2008

  電磁両立性−第 6-2 部:共通規格−工業環境におけるイミュニティ

注記  対応国際規格:IEC 61000-6-2:2005,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 6-2: Generic

standards

−Immunity for industrial environments(MOD)

IEC 61000-4-29:2000

,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-29: Testing and measurement techniques

−Voltage dips, short interruptions and voltage variations on d.c. input power port immunity tests

ISO/IEC Guide 51:1999

,Safety aspects−Guidelines for their inclusion in standards

用語及び定義 

この規格で用いる主な用語及び定義は,JIS C 1806-1 及び JIS C 60050-161 によるほか,次による。

注記  JIS C 60050-161 及びこの規格には含まないが,試験の実施に必要なその他の用語及び定義は,

JIS C 61000

規格群の EMC 基本規格(以下,基本規格という。

)による。

3.1 

危険側故障(dangerous failure)

安全関連系を危険な方向すなわち機能喪失の状態にする可能性をもつ故障。

注記  その可能性が現実化するかどうかは,システムのチャネル構成法に依存する場合がある。安全

性向上のために多チャネルをもつシステムでは,危険側ハードウェア故障がシステム全体を危

険,すなわち機能喪失の状態にすることはあまりない(JIS C 0508-4 の 3.6.7

3.2 

装置(equipment)

サブシステム,機器,器具,その他の組立製品の変化する広範な組合せ。この規格では,装置という用

語をより一般的なものとして用いる。

3.3 

被制御系装置[equipment under control(EUC)]

製造,プロセス,輸送,医療又は他の業務に用いられる装置,機械,機器又はプラント。

注記 EUC 制御系は,EUC から分離かつ区別する。


4

C 1806-3-1

:2014 (IEC 61326-3-1:2008)

3.4 

機能安全(functional safety)

EUC

及び EUC 制御系の全体に関する安全のうち,E/E/PE 安全関連系,他技術安全関連系,及び外的リ

スク軽減設備の正常な機能に依存する部分(JIS C 0508-4 の 3.1.9

3.5 

危害(harm)

身体への傷害,又は所有物のき(毀)損若しくは環境破壊の結果として,直接又は間接的に生じる人の

健康逸失(ISO/IEC Guide 51 の 3.3

3.6 

潜在危険(hazard)

危害の潜在的な源。

注記  この用語は,(火災又は爆発のように)短時間で生じる人への危険とともに,(例えば,中毒性

物質の放出による。

)長期にわたる健康への影響も含む(ISO/IEC Guide 51 の 3.5 を修正。

3.7 

安全側故障(safe failure)

安全関連系を潜在的に危険な方向,すなわち,機能失敗の状態にする可能性がない故障。

注記  安全性向上のために多チャネルをもつシステムでは,安全側ハードウェア故障が誤ったシャッ

トダウンとなることはあまりない(JIS C 0508-4 の 3.6.8

3.8 

安全機能(safety function)

E/E/PE

安全関連系,他技術安全関連系,又は外的リスク軽減設備によって遂行する機能。この機能は,

特定の危険事象に対して EUC に関わる安全な状態を達成又は保持する(JIS C 0508-4 の 3.5.1

3.9 

プログラマブル電子の[programmable electronic(PE)]

ハードウェア,ソフトウェア及び入出力装置からなるコンピュータ技術に基づくこと。

注記  この用語は,1 個以上の中央演算処理装置(CPU),関連する記憶装置などからなるマイクロ電

子機器を含む。

例  次に示すものは,全てプログラマブル電子機器である。

−  マイクロプロセッサ

−  マイクロコントローラ

−  プログラマブルコントローラ

−  特定用途向け集積回路(ASIC)

−  プログラマブル論理コントローラ(PLC)

−  その他のコンピュータ関連デバイス(例えば,スマート・センサ,送信機,アクチュエータ

など)

JIS C 0508-4 の 3.2.5

3.10 

電気・電子・プログラマブル電子の(E/E/PE)(electrical/electronic/programmable electronic)

電気(E)及び/又は電子(E)及び/又はプログラマブル電子(PE)技術に基づくこと。

注記  この用語は,電気的原理で作動する全ての機器又はシステムを含む。

例  電気・電子・プログラマブル電子機器の例を,次に示す。


5

C 1806-3-1

:2014 (IEC 61326-3-1:2008)

−  電気機械機器(電気機器の例)

−  半導体非プログラマブル電子機器(電子機器の例)

−  コンピュータ技術に基づく電子機器(プログラマブル電子機器の例)

JIS C 0508-4 の 3.2.6

3.11 

直流配電網(DC distribution network)

あらゆる種類の装置への接続を意図する,ある設備又は建造物における局所的直流配電網。

注記  単一の装置だけにつながる局所的又は遠隔の電池への接続は,直流配電網とはみなさない。

3.12 

システム(この規格での意味)(system)

特別な業務を遂行するために設置して動作する,一つの機能ユニットを形作る器具と能動部品との組合

せ。

注記  安全関連システムは次の両者を満たす特別に設計した装置である。

−  制御対象装置において,安全状態を達成するか又は保持するのに必要な要求された安全機能

を実装する。

−  それ自身において,又は他の安全関連装置若しくは外部のリスク軽減施設とともに,安全要

求事項に必要な安全信頼度を達成することを意図している(JIS C 0508-4 の 3.4.1

3.13 

供試装置,EUT(EUT)

イミュニティ試験対象の装置(機器,器具及びシステム)

3.14 

補助装置[auxiliary equipment(AE)]

EUT

の正常な動作に必須な信号を供給するための装置,及び EUT の性能を検証する装置。

一般事項 

JIS C 1806-1

の要求事項に加えて,この規格では,JIS C 0508 規格群に従う安全機能の遂行を意図した

工業用途のシステム及び装置のための追加要求事項を規定する。これらの追加要求事項は,装置及びシス

テムの安全に関連しない機能には適用しない。

注記 1  電気及び電子システムの機能安全を達成するための,全体的な設計プロセス及び必要な設計

の要点は,JIS C 0508 規格群に規定されている。これは,電磁妨害に対するシステムの信頼

性(JIS C 0508-2 の 7.4.5.1)を実現する設計の要求事項を含んでいる。

JIS C 1806-1

のイミュニティ要求事項は,安全に関連しない用途で使用する装置に対して,適切なイミ

ュニティレベルを保証するよう選択している。しかし,要求されるイミュニティレベルはいかなる場所で

も起こり得るが,極めて低い発生確率で起きる極端な場合は含んでいない。

より高い妨害レベルの発生の可能性は,JIS C 1806-1 では考えられていない,また統計的にも考慮して

いない。したがって,この規格では,電磁現象が引き起こす危険側故障を回避するためのシステム的対応

策として,より厳しいイミュニティ試験レベルを規定する。結果として,例えば,作動要求時の失敗確率

などのハードウェアの安全度の定量化に当たって,電磁現象の影響を考慮する必要はない。より厳しいイ

ミュニティ試験レベルは,必要な場合には現象ごとに決定する。

より厳しいイミュニティ試験レベルは,機能安全の側面だけに関連し,信頼性及び可用性の評価の側面

には適用できない。より厳しいイミュニティ試験レベルは,特別な機能安全の性能評価基準(性能評価基


6

C 1806-3-1

:2014 (IEC 61326-3-1:2008)

準 FS)をもつ安全関連機能だけに適用する。より厳しいイミュニティ試験レベルは,最大試験値の限度値

として設定する。この規格に適合するには,より高い値での更なる試験は要求しない。

注記 2  特定の機能の実装を意図した安全関連システムは,JIS C 0508 規格群で要求する安全要求仕

様(SRS)を満たすことが望ましい。SRS は意図する用途の全ての関連要求事項を規定して

いる。そのシステムでの使用を意図する装置は,SRS から導き出される関連要求事項を満た

すことになっている。

注記 3  JIS C 1806-1 及びこの規格には,対応国際規格としてそれぞれ IEC 61326-1 及び IEC 

61326-3-1

があるほか,この規格が関連する国際規格として IEC 61326-3-2 がある。JIS C 

1806-1

,この規格及び IEC 61326-3-2 の相互関係を,

附属書 JA に示している。

5 EMC

試験計画 

5.1 

一般事項 

EMC

試験計画は,試験実施前に立案する。試験計画には,5.25.5 に規定する内容を含まなければなら

ない。

特定の器具の電気的特性及び使用方法を考慮すると,幾つかの試験は適切ではないので,必要ではない

と判断してもよい。そのような場合には,試験を行わないことを EMC 試験計画に記録する。

5.2 

試験中の供試装置の構成 

5.2.1 

一般事項 

計測,制御及び試験室用装置は,定まった構成でシステムを構築するとは限らない。装置内の様々なサ

ブアセンブリの種類,使用数量及び設置は,システムごとに異なっている。

EMC

条件を現実的にシミュレートするために,装置は,製造業者が指定する典型的な組合せでなければ

ならない。EMC 試験は,製造業者が指定する通常条件に従って,形式試験として行う。

5.2.2 EUT

の構成要素 

EMC

に潜在的に関連し,かつ,EUT を構成する全ての機器,ラック,モジュール,ボードなどを試験

計画に記載する。

5.2.3 EUT

の組合せ 

EUT

の内部及び外部の構成が変化する場合には,形式試験は,製造業者が想定する最も影響を受けやす

い構成で試験する。全ての種類のモジュールは,1 回以上の試験を行う。これらの選択理由を EMC 試験計

画に記載する。最も影響を受けやすい装置構成を構築する場合には,装置の要素間のあらゆる電磁的な相

互作用の可能性を考慮する。

5.2.4 I/O

ポート 

複数の I/O ポートがあり,それら全てが同一種類かつ同一機能の場合,他のケーブルを接続することに

よって試験結果が大きく影響されないことを示せば,

その一つのポートにケーブルを接続するだけでよい。

I/O

ポートの選択理由は,EMC 試験計画に記載する。

5.2.5 

補助装置 

実際の動作状態をシミュレートするために,EUT に種々の補助装置を使用する場合には,それぞれの種

類に対して一つ以上ずつ補助装置を選択する。補助装置として,シミュレータを用いてもよい。

5.2.6 

ケーブル配線及び接地(グラウンド) 

ケーブル及び接地(グラウンド)は製造業者の仕様に従って EUT に接続する。追加の接地接続をしては

ならない。


7

C 1806-3-1

:2014 (IEC 61326-3-1:2008)

5.3 

試験中の EUT の動作条件 

5.3.1 

動作モード 

代表的な動作モードは,EUT の全機能ではなく,最も典型的な機能だけを試験することを考慮して選択

する。意図する用途で,推定できる最悪の動作モードを選択する。

5.3.2 

環境条件 

特別な試験要求事項がない場合には,試験は,製造業者が指定する環境(例えば,周囲温度,湿度,大

気圧など)動作範囲内,並びに電源電圧及び電源周波数の定格範囲内で行う。

5.3.3 

試験中の EUT のソフトウェア 

異なる動作モードをシミュレートするために使用するソフトウェアは,文書化する。このソフトウェア

は,意図する用途で推定できる最悪の動作モードをシミュレートしなければならない。

5.4 

性能評価基準の仕様 

各ポート及び試験の性能評価基準は,可能な限り定量的に指定する。

5.5 

試験の記述 

適用するそれぞれの試験は,EMC 試験計画で指定する。試験項目,試験方法,試験の特性及び試験セッ

トアップは,

表 1a∼表 1f に引用している基本規格に規定している。規格の内容は,試験計画に転記する

必要はない。ただし,この規格では,試験の遂行に実際に必要な追加情報を示す。EMC 試験計画は,詳細

に実施方法を指定しなければならない場合がある。

注記  この規格は,試験目的のために全ての既知の妨害事象を規定するものではなく,最も重要と考

えられる妨害事象だけを規定している。詳細は,

附属書 を参照。

性能評価基準 

性能評価基準は,EUT が電磁現象にさらされた場合,その反応を記載し評価するために用いる。機能安

全については,特に“性能評価基準 FS”を考慮する。

6.1 

性能評価基準 A及び 

性能評価基準 A,B 及び C は,次による。

−  性能評価基準 A:試験実施中,仕様範囲内の正常な動作。

−  性能評価基準 B:試験実施中,性能の一時的低下,又は自己回復する機能若しくは性能の喪失。

−  性能評価基準 C:試験実施中,性能の一時的低下,又は操作者の介在を要するか若しくはシステムリ

セットが起こる機能若しくは性能の喪失。

注記  これらの性能評価基準は,JIS C 1806-1 に記載してある。

JIS C 1806-1

と同じ性能評価基準 A,B 及び C は,機能安全側面に関連せず,そのため,より厳しい試

験レベルの性能評価基準として用いないほうがよい。したがって,特に機能安全側面を考慮した基準とし

ては,これらに代わって特別な“性能評価基準 FS”を,用いる機能安全側面を考慮して規定している。

6.2 

性能評価基準 FS 

性能評価基準 FS は,次による。

安全用途を意図する EUT の機能は,次のいずれかとする。

−  仕様の範囲外でも,影響を受けない。

−  検知可能な,EUT の指定の状態を維持するか,又は所定時間内に指定の状態を達成できるように,妨

害に対して EUT が反応する場合には,一時的に又は永続的に妨害を受けてもよい。

− EUT が指定の状態を維持するか,又は所定時間内に指定の状態を達成できる場合,構成部品の破損が


8

C 1806-3-1

:2014 (IEC 61326-3-1:2008)

あってもよい。

安全用途を意図しない機能は,一時的又は永続的に妨害を受けてもよい。

注記  指定の状態が通常の動作範囲外,又は検知可能な状態のいずれでもよい。

6.3 

性能評価基準 FS の適用 

性能評価基準 FS は,安全を意図する EUT の機能だけに適用できる。いかなる現象に対しても性能評価

基準 FS が関連する。連続的な電磁現象と,過渡的な電磁現象との間に,要求事項の差異はない。

安全機能又は安全機能の部分を遂行している又は遂行を意図する装置は,指定するように動作しなけれ

ばならない。安全関連系の指定した挙動は,その装置及び関連の被制御系関連装置の安全な状態を達成す

るか,又は維持することを意図している。これを達成するために,全ての考慮条件下で,その装置の挙動

が明確でなければならない。

システムの安全要求仕様(SRS)では,妨害を受けない機能と,故障又はフォールトの発生の場合に要

求される挙動との両方を,指定する。SRS は,時間的制約も指定する場合がある。要求される機能的な挙

動及び関連する時間的制約は,基本規格又は JIS C 1806-1 に規定するような性能評価基準 A,B 及び C の

一般的な仕様と異なっていてもよい。

装置又はシステムの一部が,安全用途を意図する機能と,安全用途を意図しない機能との両方を遂行す

る場合には,機能安全に対する要求事項は,その安全用途を意図する機能だけに適用する。

イミュニティ要求事項 

JIS C 1806-1

の要求事項に追加するイミュニティ試験要求事項を,

表 1a∼表 1f に示す。安全用途を意図

する機能,及び安全用途を意図しない機能について,電磁妨害を許容する場合の影響の全体像を,

表 

示す。

表 1a∼表 1f に規定する電磁現象には,統計的な方法においてだけ,装置の動作状態に関連する場合が

ある(例えば,デジタル回路又はデジタル信号伝送の瞬時の状態におけるインパルスの瞬間など。

。電磁

妨害に対するイミュニティに関して,より高い SIL を意図する安全関連のシステム及び装置に対する信頼

水準を高めるためには,対応する基本 EMC 規格の試験性能要求事項と比較して,より多くのノイズ源を

含む電磁現象に対するイミュニティ試験を実施する必要がある。これは,より長い試験時間又はより多く

のノイズを印加することによって実現できる(

表 1a∼表 1f の注を参照。)。


9

C 1806-3-1

:2014 (IEC 61326-3-1:2008)

表 1a−工業地域で使用する装置に対するイミュニティ試験要求事項−きょう体ポート

番号

現象

基本規格

安全用途を意図する機能に対する試験

試験値

性能評価基準

1.1

静電気放電(ESD)

JIS C 61000-4-2 

6 kV/8 kV

接触及び気中

a) b)

 FS

1.2

放射無線周波電磁界

JIS C 61000-4-3 

20 V/m

(80 MHz∼1 GHz)

c)

10 V/m

(1.4 GHz∼2 GHz)

c)

3 V/m

(2.0 GHz∼2.7 GHz)

c)

FS

1.3

電源周波数磁界

JIS C 61000-4-8 

30 A/m

d)

より厳しい試験レベルは適用しない。 
表 A.1 の番号 6 参照。

FS

a)

 ESD

の制御手順に従って作業する作業者以外の人がアクセス可能な装置の部分に対し,

JIS C 61000-4-2

で規

定する環境に従って,試験値を適用する。適切に訓練を受けた人だけにアクセスを制限した装置には,これ

らの試験値を適用しない。

b)

 SIL

3

の用途で用いることを意図した装置の場合,最高レベルでの放電回数は,基本規格で規定する回数の 3

倍にする。

c)

これらのより厳しい数値は,通常,移動体通信に用いる

表 で規定する周波数範囲に適用する。ただし,移

動体通信を近くで用いることを避けるための信頼できる対策方法が分かっている場合は除く。ISM 周波数

は,個々に考慮しなければならない。

d)

磁気に感受性の高いデバイスを内蔵する装置の場合に適用する。

表 1b−工業環境で使用する装置に対するイミュニティ試験要求事項−入出力交流電源ポート 

番号

現象

基本規格

安全用途を意図する機能に対する試験

試験値

性能評価基準

2.1

バースト

JIS C 61000-4-4 

3 kV

(5/50 ns,5 kHz)

a)

 FS

2.2

サージ

JIS C 61000-4-5 

2 kV

b)

/4 kV

c) d) 

注記 参照

FS

2.3

無線周波伝導妨害

JIS C 61000-4-6 

10 V

(150 kHz∼80 MHz)

e)

 FS

2.4

電圧ディップ

JIS C 61000-4-11 

1

サイクルの間 0 %

10/12

f)

サイクルの間 40 %

25/30

e)

サイクルの間 70 %

FS

FS

FS

2.5

短時間停電

JIS C 61000-4-11 

250/300

f)

サイクルの間 0 %

FS

2.6

伝導性コモンモード

電圧

JIS C 61000-4-16

注記 参照

1.5 kHz

∼15 kHz,1 V∼10 V,20 dB/decade

15 kHz

∼150 kHz,10 V

FS

注記 1  規定するイミュニティレベルは,外部保護デバイスを用いて達成してもよい。 
注記 2  設計上及び設置指示書(例えば,JIS B 9960-1 に従った指示)で,この現象の発生が避けられる装置には,

この試験を適用する必要はない。

a)

 SIL

3

の用途で用いることを意図した装置の場合,最高レベルでの試験持続時間は,基本規格で規定する時

間の 5 倍にする。

b)

線間に適用する。

c)

線と接地(グラウンド)との間に適用する。

d)

 SIL

3

の用途で用いることを意図した装置の場合,最高レベルでの放電回数は,基本規格で規定する回数の

3

倍にする。

e)

これらのより厳しい数値は,通常,移動体通信に用いる

表 で規定する周波数範囲に適用する。ただし,移

動体通信を近くで用いることを避けるための信頼できる対策方法が分かっている場合は除く。ISM 周波数
は,個々に考慮しなければならない。

f)

“10/12 サイクル”の表記は,50 Hz に対しては 10 サイクル,60 Hz に対しては 12 サイクルを意味する(25/30

サイクル及び 250/300 サイクルも同様)


10

C 1806-3-1

:2014 (IEC 61326-3-1:2008)

表 1c−工業地域で使用する装置に対するイミュニティ試験要求事項−入出力直流電源ポート 

現象

基本規格

安全用途の意図する機能に対する試験

試験値

性能評価

基準

3.1

バースト

JIS C 61000-4-4 

3 kV

(5/50 ns,5 kHz)

a)

FS

3.2

サージ

JIS C 61000-4-5 

1 kV

b)

/2 kV

c)d)

 FS

3.3

無線周波伝導妨害

JIS C 61000-4-6 

10 V

(150 kHz∼80 MHz)

e)

 FS

3.4

伝導性コモンモード

電圧

JIS C 61000-4-16 

注記参照

1.5 kHz

∼15 kHz,1 V∼10 V,20 dB/decade

15 kHz

∼150 kHz,10 V

直流,

3

2

16

Hz

,50/60 Hz,10 V 連続,100 V 短期間(1 s)

150/180 Hz

,10 V 連続

FS

3.5

電圧ディップ

IEC 61000-4-29 

10 ms

間 U

T

の 40 %

FS

3.6

短時間停電

IEC 61000-4-29 

20 ms

間 U

T

の 0 %

FS

直流配電回路網に接続しない装置又はシステムの部分間の直流接続は,入出力信号ポート又は制御ポートとして

扱う(

表 1d 及び表 1e 参照)。

注記  設計上及び設置指示書(例えば,JIS B 9960-1 に従う指示)で,この現象の発生が避けられる装置には,この

試験を適用する必要はない。

a)

 SIL

3

の用途で用いることを意図した装置の場合,最高レベルでの試験持続時間は,基本規格で規定する時間

の 5 倍にする。

b)

線間に適用する。

c)

線と接地(グラウンド)との間に適用する。

d)

 SIL

3

の用途で用いることを意図した装置の場合,最高レベルでの放電回数は,基本規格で規定する回数の 3

倍にする。

e)

これらのより厳しい数値は,通常,移動体通信に用いる

表 で規定する周波数範囲に適用する。ただし,移動

体通信を近くで用いることを避けるための信頼できる対策方法が分かっている場合は除く。ISM 周波数は,

個々に考慮しなければならない。


11

C 1806-3-1

:2014 (IEC 61326-3-1:2008)

表 1d−工業地域で使用する装置に対するイミュニティ試験要求事項−入出力信号ポート又は制御ポート 

番号

現象

基本規格

安全用途を意図する機能に対する試験

試験値

性能評価基準

4.1

バースト

JIS C 61000-4-4 

2 kV

(5/50 ns,5 kHz)

a) b)

 FS

4.2

サージ

JIS C 61000-4-5 

2 kV

c) d) e)

注記 参照

FS

4.3

無線周波伝導妨害

JIS C 61000-4-6 

10 V

(150 kHz∼80 MHz)

f)

 FS

4.4

伝導性コモンモード

電圧

d) g)

JIS C 61000-4-16

注記 参照

1.5 kHz

∼15 kHz,1 V∼10 V,20 dB/decade

15 kHz

∼150 kHz,10 V

直流,

3

2

16

Hz

,50/60 Hz,10 V 連続,

100 V

短期間(1 s)

150/180 Hz

,10 V 連続

FS

注記 1  規定するイミュニティレベルは,外部保護デバイスを用いて達成してもよい。 
注記 2  設計上及び設置指示書(例えば,JIS B 9960-1 に従った指示)でこの現象の発生が避けられる装置には,こ

の試験を適用する必要はない。

a)

 3

m

を超える線の場合に適用する。

b)

 SIL

3

の用途で用いることを意図した装置の場合,最高レベルでの試験持続時間は,基本規格で規定する時間

の 5 倍にする。

c)

線と接地(グラウンド)との間に適用する。

d)

長距離線の場合に適用する(JIS C 1806-1 の 3.6 参照)

e)

 SIL

3

の用途で用いることを意図した装置の場合,最高レベルでの放電回数は,基本規格で規定する回数の 3

倍にする。

f)

これらのより厳しい数値は,通常,移動体通信に用いる

表 で規定する周波数範囲に適用する。ただし,移

動体通信を近くで用いることを避けるための信頼できる対策方法が分かっている場合は除く。ISM 周波数は,

個々に考慮しなければならない。

g)

接地したシステム又は装置の場合だけに,それぞれに適用する。


12

C 1806-3-1

:2014 (IEC 61326-3-1:2008)

表 1e−工業環境で使用する装置に対するイミュニティ試験要求事項− 

電源系統に直接接続する入出力信号ポート又は制御ポート 

番号

現象

基本規格

安全用途を意図する機能に対する試験

試験値

性能評価基準

5.1

バースト

JIS C 61000-4-4 

3 kV

(5/50 ns,5 kHz)

a)

 FS

5.2

サージ

JIS C 61000-4-5 

2 kV

b)

/4 kV

c)d)

注記 参照

FS

5.3

無線周波伝導妨害

JIS C 61000-4-6 

10 V

(150 kHz∼80 MHz)

e)

 FS

5.4

伝導性コモンモード
電圧

JIS C 61000-4-16 

注記 参照 

1.5 kHz

∼15 kHz,1 V∼10 V,20 dB/ decade

15 kHz

∼150 kHz,10 V

直流,

3

2

16

Hz

,50/60 Hz,10 V 連続,

100 V

短期間(1 s)

150/180 Hz

,10 V 連続

FS

注記 1  規定するイミュニティレベルは,外部保護デバイスを用いて達成してもよい。 
注記 2  設計上及び設置指示書(例えば,JIS B 9960-1 に従った指示)でこの現象の発生が避けられる装置には,こ

の試験を適用する必要はない。

a)

 SIL3

の用途で用いることを意図した装置の場合,最高レベルでの試験持続時間は,基本規格で規定する時間

の 5 倍にする。

b)

線間に適用する。

c)

線と接地(グラウンド)との間に適用する。

d)

 SIL3

の用途で用いることを意図した装置の場合,最高レベルでの放電回数は,基本規格で規定する回数の 3

倍にする。

e)

これらのより厳しい数値は,通常,移動体通信に用いる

表 で規定する周波数範囲に適用する。ただし,移

動体通信を近くで用いることを避けるための信頼できる対策方法が分かっている場合は除く。ISM 周波数は,

個々に考慮しなければならない。

表 1f−工業環境で使用する装置に対するイミュニティ試験要求事項−機能接地ポート 

番号

現象

基本規格

安全用途を意図する機能に対する試験

試験値

性能評価基準

6.1

バースト

JIS C 61000-4-4 

2 kV

(5/50 ns,5 kHz)

a)

 FS

a)

 SIL3

の用途で用いることを意図した装置の場合,最高レベルでの試験持続時間は,基本規格で規定する時

間の 5 倍にする。


13

C 1806-3-1

:2014 (IEC 61326-3-1:2008)

表 2−電磁界試験のために選択した周波数

中心周波数

MHz

周波数範囲

MHz

用途

 84.000

83.996

∼ 84.004

ISM

イギリスだけ

− 137

∼ 174

Div. Mobile

及び SRD

168.000 167.992

∼ 168.008

ISM

イギリスだけ

− 390

∼ 430

TETRA

− 430

∼ 470

アマチュア無線

433.920 433.05

∼ 434.79

ISM

地域  1 だけ

896.000 886.000

∼ 906.000

ISM

イギリスだけ

897.500 880

∼ 915

GSM

915.000 902

∼ 928

ISM

地域  2 だけ

− 925

∼ 960

GSM

1 745.750

1 710

∼ 1 785

GSM

− 1

805

∼ 1 880

GSM

− 1

900

∼ 2 025

UMTS

− 2

110

∼ 2 200

UMTS

2 450

2 400

∼ 2 500

ISM

− 2

500

∼ 2 690

UMTS

注記  略称は次のとおり。 
GSM

:Global System for Mobile Communication

ISM

:Industrial, Scientific and Medical

SRD

:Short Range Devices

TETRA

:Terrestrial Trunked Radio

UMTS

:Universal Mobile Telecommunications System

地域 1  ヨーロッパ  アフリカ  ロシア

地域 2  南北アメリカ

表 3−伝導性無線周波試験のために選択された周波数 

中心周波数

MHz

周波数範囲

MHz

用途

3.39 3.370

∼ 3.410

ISM

オランダだけ

6.780 6.765

∼ 6.795

ISM

13.560 13.553

∼ 13.567

ISM

27.120 26.957

∼ 27.283

ISM/CB/SRD

40.680 40.66

∼ 40.70

ISM/SRD

注記  略称は次のとおり。 
CB

:Citizens' Band

ISM

:Industrial, Scientific and Medical

SRD

:Short Range Devices

安全用途を意図する機能がある EUT に対する試験セットアップ及び試験の考え方 

8.1 

安全関連システムでの使用を意図する安全関連システム及び装置の試験 

安全関連システムは,複合的かつ拡張された設備で構成できる場合,及び機器の様々な配置で構成でき

る場合がある。箇条 の表中で示す様々な基本規格を用いた実用的な方法では,実際の安全関連システム

のイミュニティ試験を行うことは難しい。したがって,対応するイミュニティ試験は,8.2 で規定するよ

うに,できる限り個々の装置で実行する。


14

C 1806-3-1

:2014 (IEC 61326-3-1:2008)

物理的に小さな安全関連システムの場合には,対応するイミュニティ試験は,8.3 で規定する内容を安全

関連システム全体に適用することができる。

8.2 

安全関連システムでの使用を意図した装置に対する試験の考え方 

機能安全では,例えば,センサ,ロジックソルバ及びアクチュエータで構成されるシステム全体での正

しい機能を要求するとしても,それらの機器を個別に試験することができる。安全関連システムに実装す

ることを意図した個々の機器は,明確に仕様を指定しなければならない。この仕様は,意図する機能,及

び故障時に許容する動作を含む。この規格で規定するイミュニティ試験の目的は,考慮する電磁現象に対

して,その仕様を満足することを証明することである。

安全関連システムでの使用を意図した装置は,安全関連機能だけを記載した仕様書を必要とする。安全

関連システムでどのような使われ方をするかに依存するため,妨害を受けた機能が危険となるかどうかは

分からない。したがって,試験時の EUT の挙動をあらかじめ指定する。妨害を受けない状態の機能からの

偏移は,検出できなければならず,かつ,試験報告書に記載する。

性能評価基準 FS は,安全関連用途での使用を意図した装置に対して,追加要求事項を規定している。

この場合,EMC 製品群規格で規定する性能評価基準,及びこの規格で規定する性能評価基準 FS の両方を

適用する。EMC 製品群規格で規定する性能評価基準と,この規格で規定する性能評価基準 FS とは,別々

に考慮する。機能別の性能評価基準の一般的適用方法を,

表 に示す。

表 4−安全関連システムでの使用を意図した装置に適用する性能評価基準及び試験中に観測される動作 

指定する機能

安全用途を意図する機能

安全用途を意図しない機能

EMC

試験 EMC 安全試験 EMC 試験 EMC 安全試験

関連する製品群規格に従った,次の

いずれかの性能評価基準。 
−  性能評価基準 A 
−  性能評価基準 B,観測した偏移,

及び復帰時間の記録

−  性能評価基準 C,観測した動作

が検知可能で記録しなければな

らない。

性能評価基準 FS

関連する製品群規格に従った,次の

いずれかの性能評価基準。

−  性能評価基準 A 
−  性能評価基準 B

−  性能評価基準 C

判定は不要

注記 1  性能評価基準 A,B 及び C は,JIS C 1806-1 のような関連する規格で規定している。 
注記 2  イミュニティ試験中の許容される影響についての詳細は,表 B.1 及び表 B.2 を参照。

図 に,安全関連システムでの使用を意図した装置の試験セットアップの典型的な構成を示す。この構

成で,イミュニティ試験は考慮された装置だけに適用する。試験中に EUT を動作するために使用する他の

全ての機器は,あらゆる電磁的影響を受けないように分離する。

図 に,安全関連システムでの使用を意図した装置を単独で試験する場合の試験セットアップの典型的

な構成を示す。この構成で,イミュニティ試験は考慮された装置だけに適用する。試験中に EUT を動作す

るために使用する他の全ての機器は,あらゆる電磁的影響を受けないように分離する。

8.3 

安全関連システムに対する試験の考え方 

安全関連システムに対して,その意図した機能及び可能な安全状態を指定する。イミュニティ試験は,

システムが,全体として性能評価基準 FS(箇条 参照)による要求事項を満たし,指定の動作をするかど

うかを確認するために行う。

機能安全に対する性能評価基準は,安全関連システムに対して追加要求事項を規定している。EMC 製品


15

C 1806-3-1

:2014 (IEC 61326-3-1:2008)

群規格で規定する性能評価基準と,この規格で規定する性能評価基準 FS とは,別々に考慮する。関連す

る性能評価基準の適用を

表 B.2 に示す。表 B.2 には,電磁現象別にどの影響が許容されるのかを示してい

る。

図 に,安全関連システムに対する試験セットアップの典型的な構成を示す。この構成で,イミュニテ

ィ試験は,全体の安全関連システムに適用する。この図は,電磁妨害の影響を受けないシステムによって,

試験中に EUT を監視する必要があることを示している。

8.4 

試験構成 

EUT

は,その機能がこの規格に適合していることを示すために試験する。EUT が安全関連システム全体

でない場合,EUT のインタフェースは,安全システムをシミュレートする他の要素(センサ,ロジックソ

ルバ,アクチュエータなど)

,又は実際の要素の特性をシミュレートする他の負荷に接続することが望まし

い。

EUT

は,その EUT の機能及び安全用途を意図した EUT の指定する機能を実行するために,必要な安全

システムの機器と,協調しなければならない。

EUT

の機能及び安全用途を意図した機能を実行するために,必要な補助装置は,電磁妨害から十分に保

護した環境内に配置しなければならない(

図 参照)。試験中,補助装置は電磁妨害にさらしてはならな

い。

EUT

の機能に必要な I/O ポートは,EUT の機能及び安全用途を意図した機能を実行するために,必要な

安全システムの機器の適切なポートに接続しなければならない。

使用しない EUT の電源線及び I/O ポートは,製造業者が指定する方法で終端する。

試験セットアップでは,EUT 又は安全システムの製造業者が指定するケーブルだけを使用する。

8.5 

監視 

試験中,安全用途を意図した EUT の指定する機能を,監視する。

モニタシステムは,EUT が意図したように機能するか,又は EUT の観測可能な指定の状態が,所定時

間内に達成されるかどうかを,監視しなければならない。

したがって,モニタシステムは,当てはまる場合に次の事項を観測する。

− EUT と,EUT の機能及び安全用途を意図した機能を実行するために必要な機器との間のデータ通信。

−  安全用途を意図した機能をもつ出力の状態。

試験結果及び試験報告書 

試験結果は,試験の再現性を提供するために十分な詳細内容を記載した,理解しやすい試験報告書にま

とめなければならない。

試験報告書は,次に示す情報を含まなければならない。

− EUT の説明

− EMC 試験計画

−  試験データ及び結果

−  試験装置及び試験セットアップ

−  試験中に観測した動作


16

C 1806-3-1

:2014 (IEC 61326-3-1:2008)

A

モニタシステム

B

モニタ出力

C

試験対象でない安全関連システムの一部

D

保護された環境と,保護されていない環境 
との間のシールド箇所での減結合回路網

E EUT

F

絶縁支持台

G

グラウンド面

H

電磁妨害から保護された環境

I

安全関連システム(破線部分)

1

ケーブルのシールドの接地点

2

監視用シールド信号線

3

監視用非シールド信号線

4

インタフェース用終端器 
(製造業者が指定する場合には接地する。

5

指定がある場合のグラウンド面への接地接続

図 2−試験中の代表的な安全関連システムに組み込まれる装置に対する試験セットアップの典型的な構成 


17

C 1806-3-1

:2014 (IEC 61326-3-1:2008)

A

B

C

D

1

2

3

4

5

E

F

G

6

A

モニタシステム

B

安全関連出力インタフェース

C

保護された環境と,保護されていない環境 
との間のシールド箇所での減結合回路網

D EUT

E

絶縁支持台

F

グラウンド面

G

電磁妨害から保護された環境

1

ケーブルのシールドの接地点

2

安全目的の出力シールド信号線

3

安全目的の出力非シールド信号線

4

安全に関連しない監視用信号線

5

インタフェース用終端器

(製造業者が指定する場合には接地する。

6

指定がある場合のグラウンド面への接地接続

図 3−安全関連システムで使用する装置を単独で試験する場合の試験セットアップの典型的な構成 


18

C 1806-3-1

:2014 (IEC 61326-3-1:2008)

A

B

C

D

1

2

3

4

5

E

F

G

6

A

モニタシステム

B

モニタ出力

C

保護された環境と,保護されていない環境

との間のシールド箇所での減結合回路網

D EUT

E

絶縁支持台

F

グラウンド面

G

電磁妨害から保護された環境

1

ケーブルのシールドの接地点

2

監視用シールド信号線

3

監視用非シールド信号線

4

安全に関連しない監視用信号線

5

インタフェース用終端器 
(製造業者が指定する場合には接地する。

6

指定がある場合のグラウンド面への接地接続

図 4−安全関連システムの試験セットアップの典型的な構成 


19

C 1806-3-1

:2014 (IEC 61326-3-1:2008)

附属書 A

(参考)

電磁現象の評価

特に安全機能不全の結果は深刻なことがあり得るので,EMC と安全との関係は十分な考察が望まれる。

安全関連装置及びシステムのための EMC 要求事項は,関連団体間の広範囲な議論だけによって構成でき

る。IEC 61508 及び IEC 61000-1-2 のような IEC 規格,及び技術仕様書は,EMC 及び機能安全に関与して

いるが,それらの両方共技術報告書 IEC/TR 61000-2-5 を参照している。

E/E/PE

システムで機能安全を達成するための要求事項の目的は,IEC 61508 に従って,SIL で示す値ま

で安全機能の危険側故障の最大確率を抑えることにある。

これは,E/E/PE システムが,SIL で示す値よりも大きい確率で意図する機能を十分に実現するか,又は

フォールトの場合には,定められたフォールトに対して所定の応答をすることを意味する。

この目的を達成するために,IEC 61508 は,システムの動作中に起こることがある故障を回避するか,

又はフォールトを制御するために,特定の技術及び手段の適用を要求している。

これらの要求事項は,故障を引き起こし得るあらゆる発生源に関係する。IEC 61508 は,EMC に関係す

る IEC 61000 規格群を参照し,関連団体が EMC 仕様を発行することを求めている。

EMC

仕様は,IEC/TR 61000-2-5 に基づく。よく知られた電磁現象は,様々な種類の環境について IEC/TR 

61000-2-5

に規定されている。関連現象及び適切な試験レベルの選択は,関連団体に任されている。

安全側面は,通常使用に対する EMC 要求事項によってカバーされない。例えば,JIS C 61000-6-2 に示

すような通常使用に対する EMC 要求事項は,

通常の状態の下で十分な動作を支援する目的である一方で,

装置又は制御下の装置の安全性を確かなものにする安全要求事項の目的でもある。

EMC

のイミュニティレベルを導き出すための古典的アプローチは,

図 A.1 によって示すことができる

(より詳細は,IEC/TR 61000-1-1 及び IEC/TR 61000-2-5 参照。

。図中の左側の曲線は,電磁妨害レベルに

導く個々の発生源からのエミッションに起因する電磁妨害の発生確率密度を示している。


20

C 1806-3-1

:2014 (IEC 61326-3-1:2008)

確率密

両立性レベル

個々の装置の

エミッション限度値

約 5 %

妨害レベル

装置の

イミュニティ

レベル

想定

レベル

イミュニティ

試験レベル

妨害レベル

図 A.1−エミッション,イミュニティ及び両立性レベル(独立変数の関数としての,

単一の放射源と感受体のエミッション及びイミュニティレベルの例)(IEC/TR 61000-1-1 参照) 

右側の曲線は,電磁妨害に対する装置のイミュニティ挙動を示す。イミュニティレベルは,通常,離散

的な定量値である。それにもかかわらず,装置のイミュニティ挙動は確率曲線で表される結果となる。こ

の曲線は,装置がしばしば要求されたイミュニティよりも高いイミュニティをもつという事実を表す(イ

ミュニティは,通常,要求されたレベルに関して試験するだけで,そのレベルを超えて試験しない。

。さ

らに,装置自体の許容差,装置の製造工程の許容差,試験装置及び試験実施による不確かさのような,不

確かさのために実際のイミュニティに変動があるという事実を表す。

そのような潜在的障害状態の定量的記述については,両立性レベルが導入され,妨害の記述のために一

種の基準レベルになっている。様々な電磁現象に対する両立性レベルは,例えば,IEC/TR 61000-2-5 に規

定してあり,それらは,イミュニティレベルを導き出すための出発点として使用することができる。もち

ろん,イミュニティレベルの実際の値は,考慮している電磁環境に大きく依存する。したがって,各々の

場所において,累積するエミッションによる妨害レベルが,この同じ場所に位置する各々のデバイス,装

置及びシステムのイミュニティレベルよりも十分に低くなるように,エミッション及びイミュニティのレ

ベルを制御するときに限って,EMC を達成することができる。しかし,両立性レベルは,現象,時間又は

場所への依存性に注意が必要である。

図 A.1 の曲線の形状から,両立性レベルと適用するイミュニティレベルとのマージンを増やすことが,

障害状態の発生確率を減らすことになり,よりよいイミュニティにつながって,全体として EMC の“よ

りよい”状態になると結論付けることができる。したがって,考慮することが望ましいほとんどの電磁現

象について,通常の EMC に対し使用するイミュニティ試験レベルと比較して,より厳しいものを使用し

なければならない。

実用的には,純粋な EMC 目的のイミュニティレベルは,妨害レベルを示す領域とイミュニティレベル


21

C 1806-3-1

:2014 (IEC 61326-3-1:2008)

を示す領域との潜在的な重複が,それらの領域の数パーセント(

図 A.1 では典型的に約 5 %)の範囲内で

あるように決められている。

この手法は,経済的・技術的な観点から導き出されており,規定のイミュニティレベルは,電磁障害を

回避するために十分高くない場合があり得る。

5 %

の重複は,これらの装置が使用される場合に,電磁障害が設備の 5 %で起こることを必ずしも意味し

ない。

IEC/TR 61000-1-1

の A.6 で説明しているように,

結果的に生じる電磁障害の確率は,

通常はるかに低い。

図 A.1 の曲線は,妨害レベル及びイミュニティレベルの確率の原理的な分布,並びに両立性レベル及び

イミュニティ試験レベルの位置を示す。これらの曲線は,現象,時間及び/又は場所に依存している。し

たがって,特定の設備及び現象での確率密度曲線の知見は,他の電磁現象及び設備へは転用できない。

そのような確率的な曲線の実際の知見は,ほとんどの電磁現象において十分ではない。

詳細な情報は,幾つかの現象だけに(例えば,雷保護及び落雷の場所に関する項目)有効である。しか

し,その場合でも,その分野の現象そのものの分野(例えば,落雷に関する等雷雨日数線)に知見がある

程度あっても,これらの現象が装置に及ぼす電磁障害の知見は多くない。

一般的な確率曲線の場合については,確率密度は数パーセント又は数十パーセントの値をもっているこ

とがよく知られている。しかし,SIL によって定義される確率の必要条件をみた場合,十分であると考え

ることはできない。

安全の分野では,安全関連システムの技術者は,毎時 10

5

∼10

9

の危険な失敗確率,又は 10

5

以下の

危険な失敗確率を,電磁妨害波の発生及び障害に関連するレベルの発生の両方について考慮しなければな

らない。

これらの境界条件から,ほとんどの場合,装置内の妨害の両立性レベルと安全関連システム内の個々の

装置のイミュニティレベルとの間に,明確な相関関係を見つけるための,信頼性の高い,明白で,証明可

能な方法はないと,結論付けられる場合がある。

適切なイミュニティレベルを導き出すための唯一の実用的な方法は,安全関連システムが使用されるこ

とを意図した特定の電磁環境の評価及び技術的な議論によってイミュニティレベルを決定することである

と思われる。IEC/TR 61000-2-5 で与えられるような両立性レベルは,イミュニティ要求を導き出すための

基礎として使用することができる。

この分野での最悪の場合の仕様を回避するために,このアプローチを適用し,かつ,EMC 及び機能安全

の専門家の知識を考慮した提案を,

表 A.1 に示している。表中でコラム“安全用途の EUT の機能に対する

試験レベルの差異”の欄は,これらの試験基準が通常機能の試験レベルとどのように関連しているかにつ

いて情報を提供する。それらは,通常機能(例えば,JIS C 1806-1 に規定している工業地域用)に対する

試験レベルにある係数を乗じること,又は対象の基本規格で規定する試験レベルより一つ高いレベルを適

用することによって導き出される。両方の場合とも,安全機能のための試験レベルは,技術的に裏打ちさ

れた IEC/TR 61000-2-5 で示す基準に基づいて決められた。


22

C 1806-3-1

:2014 (IEC 61326-3-1:2008)

表 A.1−工業用途における機能安全に関する電磁現象及び試験レベルの典型的な考慮事項

番号

現象

基本規格

安全用途の EUT の

機能に対する試験

レベルの差異

コメント

1

静電気放電

(ESD)

JIS C 61000-4-2 

あり

JIS C 61000-4-2

一部は一段高いレ
ベル

ESD

の制御手順に従って作業する作業者以外

の人がアクセス可能な装置の部分に,JIS C 

61000-4-2

で規定する環境に従って試験レベル

を適用する。

なし

機器へのアクセスは,適切に訓練を受けた人

だけに制限する。

2

放射無線

周波電磁界

JIS C 61000-4-3 

あり

倍率 2∼3

より厳しいレベルは,通常,移動体通信に用

いる周波数範囲に適用する。ただし,移動体

通信を近くで用いることを避けるための信頼
できる対策方法が分かっている場合は除く。

ISM

周波数は,個々に考慮しなければならな

い。

3

バースト

JIS C 61000-4-4 

あり 
倍率 1.5∼2

4

サージ

JIS C 61000-4-5 

あり 
倍率 1∼2

外部保護デバイスは,必要なイミュニティを
達成させるためにあってもよい。

5

無線周波

伝導妨害

JIS C 61000-4-6 

あり

倍率 3

より厳しいレベルは,通常,移動体通信に用

いる周波数範囲に適用する。ただし,移動体

通信を近くで用いることを避けるための信頼
できる対策方法が分かっている場合は除く。

ISM

周波数は,個々に考慮しなければならな

い。

6

電源周波数磁界

JIS C 61000-4-8 

なし

共通規格で指定された除外事項に従う。

一般的に安全マージンはない。

IEC/TS 61000-6-5

又は変電所のような環境で

は安全マージンが必要になる場合がある。

7

電圧

ディップ

JIS C 61000-4-11 

なし

ディップ,停電,電圧変動ごとに決定する。

電圧変動は,機能的な側面とみなし,EMC と
は関連しない。

8

短時間停電

JIS C 61000-4-11 

なし

ディップ,停電,電圧変動ごとに決定する。
電圧変動は,機能的な側面とみなし,EMC と

は関連しない。

9

伝導性コモンモ

ード電圧

JIS C 61000-4-16 

あり

あり。ただし,短時間電源周波数現象だけ。

電源の定格電圧に制限する。

10

電圧

ディップ

IEC 61000-4-29 

なし

ディップ,停電,電圧変動ごとに決定する。

電圧変動は,機能的な側面とみなし,EMC と
は関連しない。

11

短時間停電

IEC 61000-4-29 

なし

ディップ,停電,電圧変動ごとに決定する。

電圧変動は,機能的な側面とみなし,EMC と

は関連しない。


23

C 1806-3-1

:2014 (IEC 61326-3-1:2008)

附属書 B

(参考)

イミュニティ試験中に許容できる影響

イミュニティ試験中に許容できる影響は,異なる機能,すなわち,安全用途への使用を意図した機能及

び意図しない機能ごとに,

表 B.1 及び表 B.2 に示す。8 通りの起こり得る影響の発生を考慮している。表

B.1

では装置で懸念される状況を提示し,

表 B.2 では安全関連システム全体の状況を提示している。

これらの表は,この規格で許容できる影響を決めた理念を示している。許容できる影響は,次を考慮す

ることによって決まる。

−  機能の分類(安全用途への使用を意図した機能,又は意図しない機能)

−  試験の分類(通常の EMC 試験,又は EMC 安全試験)


表 B.1−イミュニティ試験中に許容できる,装置の機能への影響

妨害中の影響

安全用途への使用を意図する機能

安全用途への使用を意図しない機能

通常の EMC 試験レベル EMC 安全試験レベル

通常の EMC 試験レベル

連続的な

電磁現象

過渡的な

電磁現象

連続的な

電磁現象

過渡的な

電磁現象

連続的な

電磁現象

短時間の

過渡的な

電磁現象

長時間の

過渡的な

電磁現象

1

妨害を受けない機能。

常 に 許 容 で き

る。

常 に 許 容 で き

る。

常 に 許 容 で き

る。

常 に 許 容 で き

る。

常 に 許 容 で き

る。

常 に 許 容 で き

る。

常 に 許 容 で き

る。

2

再現性のある一時的な性能低下。
性能低下に関する情報を提供する

(性能低下は自動診断によって検

出できる必要はない。

指定範囲内だけ
許容できる。

許容できる。

許容できる。

許容できる。

指定範囲内だけ
許容できる。

許容できるが,
情報を提供する

必要はない。

許容できるが,
情報を提供する

必要はない。

3

一時的な機能喪失。試験後は意図

した動作をする(自己回復)

さらに,故障は自動診断によって

検出できる(故障に関する情報を

提供する。

許 容 で き な い

(機能を損なわ
ないことが望ま

し い , 通 常 の

EMC

挙 動 な の

で,妨害を受け

ない通常の動作

が 要 求 さ れ
る。

許容できる。

許容できる。

許容できる。

許容できない。

許容できる。

許容できる。

4

一時的な機能喪失,試験後は意図

した動作をする(自己回復)

さらに,故障は自動診断(EUT 内
部又は外部)によって検出できな

い。

許容できない。

許 容 で き な い

( FS 固 有 側 面

が優先する。

許容できない。  許容できない。

許容できない。

許容できる。

許容できる。

5

回復のためにオペレータの介入又

はリセットが必要な,一時的な機

能喪失。 
さらに,故障は,診断などによっ

て検知できる(故障に関する情報

を提供する。

許 容 で き な い

( 通 常 の EMC

要 求 が 優 先 す
る,すなわち機

能を損なわない

こ と が 望 ま し
い。

許容できる。

許容できる。

許容できる。

許容できない。

許容できない。

許容できる。

24

C

 180

6-3

-1


20
14
 (I

EC

 6

1326

-3

-1


2

008

)


表 B.1−イミュニティ試験中に許容できる,装置の機能への影響(続き)

妨害中の影響

安全用途への使用を意図する機能

安全用途への使用を意図しない機能

通常の EMC 試験レベル EMC の安全試験レベル

通常の EMC 試験レベル

連続的な

電磁現象

過渡的な

電磁現象

連続的な

電磁現象

過渡的な

電磁現象

連続的な

電磁現象

短時間の

過渡的な

電磁現象

長時間の

過渡的な

電磁現象

6

回復のためにオペレータの介入又

はリセットが必要な,一時的な機
能喪失。

さらに,故障は自動診断(EUT 内

部又は外部)によって検出できな
い。

許容できない。

許 容 で き な い

(安全側故障は
除く。

許 容 で き な い

(安全側故障は
除く。

許 容 で き な い

(安全側故障は
除く。

許容できない。

許容できない。

許容できる。

7 5

と同様。ただし,復帰しない(損

傷を含む。

許 容 で き な い

( 通 常 の EMC

要 求 が 優 先 す
る。

許 容 で き な い

( 通 常 の EMC

要 求 が 優 先 す
る。

許容できる。

許容できる。

許容できない。

許容できない。

許容できない。

8 6

と同様。ただし,復帰しない(損

傷を含む。

許容できない。

許容できない。

許 容 で き な い
(安全側故障は

除く。

許 容 で き な い
(安全側故障は

除く。

許容できない。

許容できない。

許容できない。

注記 ESD,バースト及びサージは短時間の過渡的な電磁現象とみなす。また,電源ディップ及び短時間停電は長時間の過渡的な電磁現象とみなす。

25

C

 180

6-3

-1


20
14
 (I

EC

 6

1326

-3

-1


2

008

)


表 B.2−イミュニティ試験中にシステムの機能に対し許容できる影響 

試験中の影響

安全関連機能

安全に関連しない機能

通常の EMC 試験レベル EMC 安全試験レベル

通常の EMC 試験レベル

連続的な

電磁現象

過渡的な

電磁現象

連続的な

電磁現象

過渡的な

電磁現象

連続的な

電磁現象

短時間の

過渡的な

電磁現象

長時間の

過渡的な

電磁現象

1

妨害を受けない機能。

常 に 許 容 で き

る。

常 に 許 容 で き

る。

常 に 許 容 で き

る。

常 に 許 容 で き

る。

常 に 許 容 で き

る。

常 に 許 容 で き

る。

常 に 許 容 で き

る。

2

一時的な機能喪失。 
試験後は意図した動作をする(自

己回復)

さらに,指定したフォールトに対
する動作が遂行される。

許 容 で き な い
(機能を損なわ

ないことが望ま

し い 。 通 常 の

EMC

挙 動 な の

で,妨害を受け

ない通常の動作
が 要 求 さ れ

る。

許容できる。

許容できる。

許容できる。

許容できない。

許容できる。

許容できる。

3

一時的な機能喪失。

試験後は意図した動作をする(自

己回復)

さらに,指定したフォールトに対

する動作が遂行されない。

許容できない。

許 容 で き な い

( FS 固 有 側 面

が優先する。

許容できない。  許容できない。

許容できない。

許容できる。

許容できる。

4

回復のためにオペレータの介入又

はリセットが必要な,一時的な機
能喪失。

さらに,指定したフォールトに対

する動作が遂行される。

許 容 で き な い

( 通 常 の EMC
要 求 が 優 先 す

る。すなわち機

能を損なっては
ならない。

許容できる。

許容できる。

許容できる。

許容できない。

許容できない。

許容できる。

5

回復のためにオペレータの介入又
はリセットが必要な,一時的な機

能喪失。

さらに,指定したフォールトに対
する動作が遂行されない。

許容できない。

許 容 で き な い
(安全側故障を

除く。

許 容 で き な い
(安全側故障を

除く。

許 容 で き な い
(安全側故障を

除く。

許容できない。

許容できない。

許容できる。

26

C

 180

6-3

-1


20
14
 (I

EC

 6

1326

-3

-1


2

008

)


表 B.2−イミュニティ試験中にシステムの機能に対し許容できる影響(続き) 

試験中の影響

安全関連機能

安全に関連しない機能

通常の EMC 試験レベル EMC 安全試験レベル

通常の EMC 試験レベル

連続的な

電磁現象

過渡的な

電磁現象

連続的な

電磁現象

過渡的な

電磁現象

連続的な

電磁現象

短時間の

過渡的な

電磁現象

長時間の

過渡的な

電磁現象

6 4

と同様。

ただし ,回復 しない (損傷 を含
む。

許 容 で き な い

( 通 常 の EMC
要 求 が 優 先 す

る。

許 容 で き な い

( 通 常 の EMC
要 求 が 優 先 す

る。

許容できる。

許容できる。

許容できない。

許容できない。

許容できない。

7 5

と同様。

ただし ,復帰 しない (損傷 を含
む。

許容できない。

許容できない。

許 容 で き な い

(安全側故障は
除く。

許 容 で き な い

(安全側故障は
除く。

許容できない。

許容できない。

許容できない。

注記 ESD,バースト及びサージは短時間の過渡的な電磁現象とみなす。また,電源ディップ及び短時間停電は長時間の過渡的な電磁現象とみなす。

27

C

 180

6-3

-1


20
14
 (I

EC

 6

1326

-3

-1


2

008

)


28

C 1806-3-1

:2014 (IEC 61326-3-1:2008)

附属書 JA

(参考)

対応国際規格の序文

機能安全は,EUC 及び EUC 制御システムの全体に関する安全のうち,電気的安全関連システムの正常

な機能に依存する部分である。機能安全を達成するためには,安全機能の遂行に関連する安全関連システ

ムの全ての装置が,関連する全ての条件下で指定のとおりに動作しなければならない。

E/E/PE

安全関連システムの機能安全に対する基本安全規格は,JIS C 0508 規格群である。そこでは,機

能安全を達成するための全体的要求事項を規定している。電磁妨害に対する十分なイミュニティは,その

要求事項の一つである。

JIS C 0508

規格群の概念は,アプリケーションの考慮と安全関連電気電子システムの設計とを区別する

ことである。両者間のインタフェースは,安全要求仕様(SRS)である。SRS は,次のように,意図した

用途(アプリケーション)の全ての関連要求事項を指定する。

a)

意図した用途のリスクアセスメントに基づく,安全機能(その機能は,リスクの軽減を意図した)の

定義。

b)

意図した用途のリスクアセスメントに基づく,各安全機能に対する適切な安全度水準(SIL)

c)

JIS C 0508-2

が要求する,システムが動作を意図した(電磁環境を含む。

)環境の定義。

したがって,JIS C 0508 規格群が要求するように,電磁現象に対するイミュニティに関し,電磁環境及

び電磁現象を SRS で考慮することが,極めて重要な出発点である。指定の安全機能の実装を意図した安全

関連システムは,SRS を満たさなければならず,各装置の対応するイミュニティ要求事項を,SRS から導

き出されなければならない。そのイミュニティ要求事項が,結果的に装置要求仕様になる。電磁環境に関

し,SRS 及び装置要求仕様は,その装置の全動作寿命にわたる,実際の環境における予見可能な電磁的脅

威の的確な評価に基づくのが望ましい。ゆえに,装置のイミュニティ要求事項は,その装置が意図する使

用電磁環境の特性に依存する。

したがって,装置の製造業者は,その装置が装置要求仕様を満たすことを実証しなければならず,シス

テム組立業者は,そのシステムが SRS を満たすことを実証しなければならない。また,適切な方法を適用

して証を作成しなければならない。ただし,装置の製造業者及びシステム組立業者は,アプリケーション

の他の側面を考慮する必要はない。例えば,安全関連システムの故障に関連するアプリケーションのリス

クを考慮する必要はない。目標は,システム内の全ての装置が,機能安全側面を考慮して SRS が指定する

水準まで拡張した,特別な性能評価基準(例えば,性能評価基準 FS)に適合することであり,要求される

SIL

とは無関係である。

電磁環境に取組みイミュニティ要求事項を導く方法に,基本的に次の二つの方法がある。

(A)

システム及び装置の適切なイミュニティレベルを導くとき,いかなる特定の制限もなしに一般的な電

磁環境(例えば,工業環境)を考慮して,起こり得る全ての電磁現象とそれらの最大の大きさを考慮

する。これは,この規格が規定するレベルを決めるときに用いた方法であり,導いたレベルは,機能

安全を考慮しないイミュニティレベルに比べ,幾つかの電磁現象については拡張したイミュニティレ

ベルになる。

(B)

例えば,特定の装備及び低減措置の適用によって,電磁現象及びそれらの大きさが一定限度しか起き

ないように,電磁環境を制御する。そして,これらの現象と制限された大きさを考慮して,適切なイ


29

C 1806-3-1

:2014 (IEC 61326-3-1:2008)

ミュニティレベルを決める。これらのレベルは,機能安全を考慮しないレベルよりも,必ずしも高く

はない。対応する手段によって,より高い大きさが通常はないことが,実証されているからである。

これは,IEC 61326-3-2 で考慮した方法である。

一般工業環境に関して方法(A)を適用することは,そこで予測される電磁現象及びその大きさの適切な知

識を要する。この目的のため,及び JIS C 0508 規格群によってもそれが要求されているために,IEC/TR

61000-2-5

の電磁環境データを用いる。IEC/TR 61000-2-5 は,どの電磁環境を予測するかの情報を提供し,

かつ,両立性レベルの観点からそれらの大きさを記述している。両立性レベルは,容認可能な電磁両立性

がそこに存在する妨害レベルとみなし得るので,JIS C 1806-1JIS C 1806-2 規格群,又は共通規格 JIS C 

61000-6-2

のような安全に関連しない規格が規定する通常のイミュニティ要求事項の基礎として,両立性レ

ベルを用いる。電磁両立性を達成するために適用するこの通常の方法は,技術的又は経済的妥協に基づい

ていて,ある程度の有害な障害事例を許容する。しかし,この方法は,安全関連システム及びそれらに用

いる装置の場合には十分ではない。イミュニティレベルは,考慮中の電磁環境で予測される全ての電磁現

象及び最大レベルを考慮に入れて決めなければならず,このため,多くの電磁現象で,通常レベルに比べ

て拡張したレベルを用いる。

方法(A)に従い,この規格は,安全関連システム及び安全関連システムで用いることを意図した装置に適

用する,特定の電磁イミュニティ要求事項を規定する。これらの要求事項は,JIS C 1806-1 のある要求事

項を補足し,選択した電磁現象及び規定したイミュニティ試験レベルは,ほとんどの工業用途の環境条件

に匹敵するはずである。

JIS C 1806-1

JIS C 1806-2 規格群,この規格及び IEC 61326-3-2 の相互関係を

図 JA.1 に示す。

この規格における拡張規定試験レベルは,ほとんどの工業用途の環境で予測される最大レベルから導き

出した。これらの拡張試験レベルは,

(起こり得る)電磁環境に関連する。試験レベルと使用中の失敗確率

との間に実際的に立証可能な関係がないために,拡張試験レベルは,安全関連システムに要求される SIL

に分析的手法で関連付けることはできない。電磁現象の影響は,決定論的影響と考えられ,そしてそれら

の性質上,しばしば共通原因事象をもたらす。

装置の設計特性は,要求される SIL を考慮しなければならず,かつ,危険な決定論的原因故障を回避す

るように設計しなければならない。電磁妨害に対する十分なイミュニティは,電磁側面を考慮した,設計,

低減策及び構造技術によってだけ確保され得る。しかしそれは,この規格の適用範囲ではない。

したがって,要求の SIL の性能を達成する道筋は,一方では設計特性を取り入れ,かつ,他方では試験

結果における信頼水準を上げるために試験性能パラメータを適切にすることが望ましい。


注記 1  JIS C 0511-1 に従う実績による使用(proven in use)とみなす装置に対する機能安全要求事項は,この規格及び IEC 61326-3-2 の適用範囲から除く。
注記 2 EMC 試験という用語は,関連する規格(例えば,JIS C 1806-1JIS C 1806-2 規格群又は JIS C 61000-6-2)の試験レベルを指す。 
注記 3  このフローチャートは,試験の順序について要求事項を規定していない。 
注記 4  安全関連用途に用いる装置に対しては,表 にある追加要求事項を参照。 

図 JA.1JIS C 1806-1JIS C 1806-2 規格群,この規格及び IEC 61326-3-2 の相互関係 

関連する JIS C 1806-1 又は JIS C 1806-2 規格群に

従って,全ての機能に試験,試験レベル及び性能

評価基準を適用する。

EMC

試験の

試験結果

意図した用途に適さな
い装置

意図した用途に適した装置

一般工業用途における

安全関連用途に適した装置

特定の電磁環境の工業用途における安

全関連用途に適した装置

EMC

安全試験の

試験結果

この規格に従って,安全機能に試験,試
験レベル及び性能評価基準を適用する。

意図した工業地域の

決定

試験不合格

はい

いいえ

安全関連用途

JIS C 0508 規格群)で用いる

装置か?

注記 参照

試験不合格

試験不合格

EMC

安全性能評価基準

に従い試験合格

性能評価基準に従い試験合格

注記 参照

この規格による

IEC 61326-3-2

による

安全関連用途に適さな
い装置

IEC 61326-3-2

に従って,

安全機能に試験,

試験レベル及び性能評価基準を適用す
る。

EMC

安全試験の

試験結果

EMC

安全性能評価基準

に従い試験合格

安全関連用途に適さな
い装置

開始

試験合格

30

C 18

06-

3-

1


20
14
 (IEC

 61

326

-3

-1


2

0

08)


31

C 1806-3-1

:2014 (IEC 61326-3-1:2008)

参考文献

JIS B 9960-1:2008

  機械類の安全性−機械の電気装置−第 1 部:一般要求事項

注記  対応国際規格:IEC 60204-1:2005,Safety of machinery−Electrical equipment of machines−Part 1:

General requirements

(MOD)

JIS C 0508-2:2000

  電気・電子・プログラマブル電子安全関連系の機能安全−第 2 部:電気・電子・プ

ログラマブル電子安全関連系に対する要求事項

注記  対応国際規格:IEC 61508-2:2000,Functional safety of electrical/electronic/programmable electronic

safety-related systems

− Part 2: Requirements for electrical/electronic/programmable electronic

safety-related systems

(IDT)

JIS C 0508-4:2012

  電気・電子・プログラマブル電子安全関連系の機能安全−第 4 部:用語の定義及び

略語

注記  対応国際規格:IEC 61508-4:2010,Functional safety of electrical/electronic/programmable electronic

safety-related systems

−Part 4: Definitions and abbreviations(IDT)

JIS C 1806-2-1:2010

  計測,制御及び試験室用の電気装置−電磁両立性要求事項−第 2-1 部:個別要求事

項−EMC 防護が施されていない感受性の高い試験及び測定装置の試験配置,動作条件及び性能評価

基準

注記  対応国際規格:IEC 61326-2-1:2005,Electrical equipment for measurement, control and laboratory use

−EMC requirements−Part 2-1: Particular requirements−Test configurations, operational conditions

and performance criteria for sensitive test and measurement equipment for EMC unprotected

applications

(IDT)

JIS C 1806-2-2:2010

  計測,制御及び試験室用の電気装置−電磁両立性要求事項−第 2-2 部:個別要求事

項−低電圧配電システムで使用する可搬形試験,測定及びモニタ装置の試験配置,動作条件及び性

能評価基準

注記  対応国際規格:IEC 61326-2-2:2005,Electrical equipment for measurement, control and laboratory use

−EMC requirements−Part 2-2: Particular requirements−Test configurations, operational conditions

and performance criteria for portable test, measuring and monitoring equipment used in low-voltage

distribution systems

(MOD)

JIS C 1806-2-3:2012

  計測,制御及び試験室用の電気装置−電磁両立性要求事項−第 2-3 部:個別要求事

項−一体形又は分離形信号変換機能をもつトランスデューサの試験配置,動作条件及び性能評価基

注記  対応国際規格:IEC 61326-2-3:2006,Electrical equipment for measurement, control and laboratory use

−EMC requirements−Part 2-3: Particular requirements−Test configuration, operational conditions

and performance criteria for transducers with integrated or remote signal conditioning

(MOD)

IEC/TR 61000-1-1:1992

,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 1: General−Section 1: Application and

interpretation of fundamental definitions and terms

IEC 61000-1-2:2001

, Electromagnetic compatibility (EMC) − Part 1-2: General − Methodology for the

achievement of the functional safety of electrical and electronic equipment with regard to electromagnetic

phenomena


32

C 1806-3-1

:2014 (IEC 61326-3-1:2008)

IEC/TR 61000-2-5:1995

,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 2: Environment−Section 5: Classification

of electromagnetic environments

IEC/TS 61000-6-5:2001

,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 6-5: Generic standards−Immunity for

power station and substation environments

IEC 61326-2-4:2006

,Electrical equipment for measurement, control and laboratory use−EMC requirements−

Part 2-4: Particular requirements

−Test configurations, operational conditions and performance criteria for

insulation monitoring devices according to IEC 61557-8 and for equipment for insulation fault location

according to IEC 61557-9

IEC 61326-2-5:2006

,Electrical equipment for measurement, control and laboratory use−EMC requirements−

Part 2-5: Particular requirements

−Test configurations, operational conditions and performance criteria for

field devices with interfaces according to IEC 61784-1, CP 3/2

IEC 61326-3-2:2008

,Electrical equipment for measurement, control and laboratory use−EMC requirements−

Part 3-2: Immunity requirements for safety-related systems and for equipment intended to perform

safety-related functions (functional safety)

− Industrial applications with specified electromagnetic

environment

JAEKEL, Bernd: “Considerations on immunity test levels and methods with regard to functional safety”, in

LEWANDOWSKI, G. and JANISZEWSKI, JM (ed.). Electromagnetic Compatibility 2006, Wroclaw:

Oficyna Wydawnicza Politechniki Wroclawskiej, 2006, p.187-192, ISBN 83-7085-947-X