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C 1806-2-3

:2012

(1)

目  次

ページ

序文  

1

1

  適用範囲  

1

2

  引用規格  

3

3

  用語及び定義  

3

4

  一般 

4

5

  EMC 試験計画  

4

5.1

  一般  

4

5.2

  試験中の供試装置(EUT)の構成  

4

5.3

  試験中の EUT の動作条件  

4

5.4

  性能評価基準の仕様  

4

5.5

  試験の記述  

4

6

  イミュニティ要求事項  

4

6.1

  試験中の条件  

4

6.2

  イミュニティ試験要求事項  

5

6.3

  偶発性の側面  

5

6.4

  性能評価基準  

5

7

  エミッション要求事項  

6

7.1

  測定中の条件  

6

7.2

  エミッション限度値  

6

8

  試験結果及び試験報告書  

6

9

  使用方法  

6

10

  附属書  

6

附属書 AA(規定)特定タイプのトランスデューサに対する追加要求事項及び除外事項−引張力及び圧縮

力の測定用トランスデューサ(“力”トランスデューサ)  

7

附属書 BB(規定)特定タイプのトランスデューサに対する追加要求事項及び除外事項−圧力測定用トラ

ンスデューサ(圧力トランスデューサ)  

11

附属書 CC(規定)特定タイプのトランスデューサに対する追加要求事項及び除外事項−温度計測用トラ

ンスデューサ(温度トランスデューサ)  

14

附属書 JA(参考)JIS と対応国際規格との対比表  

18


C 1806-2-3

:2012

(2)

まえがき

この規格は,

工業標準化法第 12 条第 1 項の規定に基づき,

一般社団法人日本電気計測器工業会

(JEMIMA)

及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出

があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が制定した日本工業規格である。

この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。

この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意

を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実

用新案権に関わる確認について,責任はもたない。

JIS C 1806

の規格群には,次に示す部編成がある。

JIS

C

1806-1

  第 1 部:一般要求事項

JIS

C

1806-2-1

  第 2-1 部:個別要求事項−EMC 防護が施されていない感受性の高い試験及び測定装

置の試験配置,動作条件及び性能評価基準

JIS

C

1806-2-2

  第 2-2 部:個別要求事項−低電圧配電システムで使用する可搬形試験,測定及びモニ

タ装置の試験配置,動作条件及び性能評価基準

JIS

C

1806-2-3

  第 2-3 部:個別要求事項−一体形又は分離形信号変換機能をもつトランスデューサの

試験配置,動作条件及び性能評価基準

JIS

C

1806-2-6

  第 2-6 部:個別要求事項−体外診断用医療機器


日本工業規格

JIS

 C

1806-2-3

:2012

計測,制御及び試験室用の電気装置−

電磁両立性要求事項−第 2-3 部:個別要求事項−

一体形又は分離形信号変換機能をもつ

トランスデューサの試験配置,

動作条件及び性能評価基準

Electrical equipment for measurement, control and laboratory use-

EMC requirements-Part 2-3: Particular requirements-

Test configuration, operational conditions and performance criteria for

transducers with integrated or remote signal conditioning

序文 

この規格は,2006 年に第 1 版として発行された IEC 61326-2-3 を基とし,技術的内容を変更して作成し

た日本工業規格であり,JIS C 1806-1(計測,制御及び試験室用の電気装置−電磁両立性要求事項−第 1

部:一般要求事項)と併読する規格である。

なお,この規格で点線の下線を施してある箇所は,対応国際規格を変更している事項である。変更の一

覧表にその説明を付けて,

附属書 JA に示す。

適用範囲 

この規格は,JIS C 1806-1:2010 の要求事項に加えて,一体形又は分離形信号変換機能をもつトランスデ

ューサのための,より詳細な試験配置,動作条件及び性能評価基準について規定する。

この規格は,補助的なエネルギーの供給を受けて,非電気量をプロセスに関連した電気信号に変換し,

かつ,

一つ以上のポートで信号を出力する能力によって特徴付けられるトランスデューサだけに適用する。

この規格は,電気化学的測定量及び生物学的測定量のためのトランスデューサも対象とする。

この規格で規定するトランスデューサは,交流若しくは直流電源及び/又は電池若しくは内部電源によ

って駆動する。

この規格が対象とするトランスデューサは,少なくとも次の項目からなる(

図 101 及び図 102 参照)。

−  非電気量を電気量に変換する一つ以上の構成要素

−  信号変換機能へ電気量を伝達するための伝送リンク

−  電気量をプロセスに関連する電気信号に変換する信号変換機能ユニット

−  上記の構成部品を全体又は部分ごとに囲うきょう体

この規格が対象とするトランスデューサは,次の項目を含む場合もある(

図 101 及び図 102 参照)。

−  通信制御ユニット


2

C 1806-2-3

:2012

−  表示ユニット

−  キー,ボタン,スイッチなどのような制御要素

−  明らかに入力信号に割り付けられるトランスデューサの出力信号(例えば,接点出力,警報出力)

−  一体形又は分離形信号変換機能をもつトランスデューサ

製造業者は,製品の使用が想定される環境を指定し,JIS C 1806-1 の対応する試験レベルを適用する。

特定のタイプのトランスデューサに対する追加要求事項及び除外事項は,この規格の

附属書 AA,附属

書 BB 及び附属書 CC に規定する。

 1

非電気量

2

電気量

3

伝送リンク

4

信号変換機能ユニット

5

通信制御ユニット

6

入出力ポート

7

供給電源

8

信号ポート

9

交流又は直流電源ポート

図 101−一体形信号変換機能をもつトランスデューサの例

 1

非電気量

2

電気量

3

伝送リンク

4

信号変換機能ユニット

5

通信制御ユニット

6

入出力ポート

7

供給電源

8

信号ポート

9

交流又は直流電源ポート

注記  対応国際規格では,伝送リンクラインの信号変換機能ユニット入力部分に,○記号が付加されていないが,

外部きょう体との絶縁を示す意味と理解し,この規格では追加した。

図 102−分離形信号変換機能をもつトランスデューサの例 

1

2

3

4

5

6

7

8

9

1

2

3

4

5

6

7

8

9


3

C 1806-2-3

:2012

注記  この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。

IEC 61326-2-3:2006

, Electrical equipment for measurement, control and laboratory use− EMC

requirements

−Part 2-3: Particular requirements−Test configuration, operational conditions and

performance criteria for transducers with integrated or remote signal conditioning

(MOD)

なお,対応の程度を表す記号“MOD”は,ISO/IEC Guide 21-1 に基づき,

“修正している”

ことを示す。

引用規格 

次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。

引用規格は,JIS C 1806-1 の箇条 によるほか,次による。

JIS C 1806-1:2010

  計測,制御及び試験室用の電気装置−電磁両立性要求事項−第 1 部:一般要求事

用語及び定義 

この規格で用いる主な用語及び定義は,JIS C 1806-1 の箇条 によるほか,次による。

3.101 

一体形信号変換機能をもつトランスデューサ(transducer with integrated signal conditioning)

きょう体内に信号変換に必要な全ての構成要素を一体化したトランスデューサ(

図 101 参照)。

3.102 

分離形信号変換機能をもつトランスデューサ(transducer with remote signal conditioning)

信号変換に関する構成要素を,分離したきょう体内に装備したトランスデューサ(

図 102 参照)。

3.103 

伝送リンク(transmission link)

分離形信号変換機能をもつトランスデューサの個別要素間の接続。

3.104 

(公称)レンジ[(nominal) range]

測定器の操作器を個別に設定することによって得られる表示値の範囲。

注記  公称レンジは,通常その下限値及び上限値によって表現する。その下限値がゼロの場合には,

公称レンジは上限値だけで表す(IEV 311-03-14 参照)

3.105 

(トランスデューサの)測定レンジ[measuring range (of a transducer)]

出力信号と入力信号との関係が精度の要求事項を満たす,二つの測定量で示す範囲(IEV 311-04-04 修正)

注記 4

mA

∼20 mA システムでは,出力電流 4 mA がその測定量の下限値を表し,20 mA がその上限

値を表す。

3.106 

スパン(span)

測定レンジでの上限値と下限値との数値的な差分(IEV 311-03-13 参照)

3.107 

固有不確かさ(intrinsic uncertainty)

基準条件下で使用した場合の測定器の不確かさ。


4

C 1806-2-3

:2012

注記  この用語は,不確かさの検討で用いる(IEV 311-03-09 参照)。

一般 

JIS C 1806-1

の箇条 による。

5 EMC

試験計画 

5.1 

一般 

JIS C 1806-1

の 5.1 による。

5.2 

試験中の供試装置(EUT)の構成 

次の事項を追加して JIS C 1806-1 の 5.2 を適用する。

EUT の動作を監視し,出力値を記録するためのシステムは,その EUT の EMC 特性を損なわないよう

に設計する。モニタシステムの入力インピーダンスは,製造業者が指定するトランスデューサの終端イン

ピーダンスに合わせる。モニタシステムと EUT との間の距離は,1.5 m  以上とすることが望ましい。

モニタシステムの測定不確かさ及び帯域幅は,トランスデューサの特性による。

伝送リンクは,入力ラインと出力ラインとで分離しているとみなす。

製造業者が指定するトランスデューサの環境条件で,指定する供給電圧を用いて試験する。

電源に接続した場合にも使用できる,電池で駆動するトランスデューサは,両方の動作モード(電池駆

動単独及び外部電源駆動)で試験する。

操作説明書に明記する外部保護装置,又は特定の保護手段を用いることを製造業者の設置説明書で指定

する場合,外部保護装置又は特定の保護手段を使用した状態の EUT に対して,この規格に規定する試験

要求事項を適用する。

5.3 

試験中の EUT の動作条件 

JIS C 1806-1

の 5.3 による。

5.4 

性能評価基準の仕様 

JIS C 1806-1

の 5.4 による。

5.5 

試験の記述 

JIS C 1806-1

の 5.5 による。

イミュニティ要求事項 

6.1 

試験中の条件 

次の事項を追加して JIS C 1806-1 の 6.1 を適用する。

トランスデューサの機能の定義に反する機能がポートになければ,試験中は全てのラインを接続してト

ランスデューサを動作させる。

代替ポート付きの構成では,その各々を個別に試験する。

トランスデューサは,通常の使用で,他のレンジが最悪のイミュニティ結果となることが知られていな

い限りは,最高感度のレンジ又はレンジの組合せに設定する。

通常条件下での指定する使用に従った動作機能だけを許容する。EMC 試験条件下で設定できないと定

義された機能は,適切な手段でシミュレートする。これは,トランスデューサの EMC 性能に影響を及ぼ

さない方法で行う。

測定及び電源回路は,製造業者の仕様に従って接地する。そのような仕様がなければ,回路を接地した


5

C 1806-2-3

:2012

試験,及び回路を接地しない試験のいずれも実施する。

6.2 

イミュニティ試験要求事項 

次の事項を追加して JIS C 1806-1 の 6.2 を適用する。

各試験後又は試験中に,トランスデューサの機能を試験する。

入出力ラインと同一のケーブル内に含まれる直流 75 V 以下又は交流 50 V 以下の電源入力は,入出力ラ

インとして試験する。

出力信号を重畳した,直流 75 V 以下又は交流 50 V 以下の電源入力(例えば,2 線式 4 mA∼20 mA の

電流ループ)も,入出力ラインとして試験する。

分離形信号変換機能をもつトランスデューサの伝送リンクは,入出力ラインとして試験する。

静電気放電イミュニティ(ESD)試験,電気的ファストトランジェント/バーストイミュニティ(EFT/B)

試験及びサージイミュニティ試験後には,絶縁抵抗の要求事項を確認する。製造業者の仕様を満たしてい

なければ,トランスデューサは,EMC 試験に不合格とみなす。

6.3 

偶発性の側面 

JIS C 1806-1

の 6.3 による。

6.4 

性能評価基準 

次の事項を追加して JIS C 1806-1 の 6.4 を適用する。

性能評価基準は,外部電磁妨害の影響下で,トランスデューサの機能を評価するために用いる。トラン

スデューサは,大形プロセスにおける一連の機能の一部となることもあるので,外部干渉要素に起因する

トランスデューサの機能不全によってプロセス全体に与える影響を予測することは,多くの困難を伴う。

したがって,製造業者が,電磁妨害の影響下でのトランスデューサの挙動を性能評価基準に記載すること

が,特に重要である。

妨害がトランスデューサの各機能に及ぼす許容可能な影響(性能評価基準)は,

表 101 による。

トランスデューサの主要機能は,

図 101 及び図 102 に示すように,非電気量をプロセス関連信号に変換

することである。プロセスに関連しない他の機能に対しては,異なる性能評価基準を用いてもよい。

 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 


6

C 1806-2-3

:2012

表 101−機能別性能評価基準 

機能

現象

JIS C 61000-4-3 

JIS C 61000-4-6 

JIS C 61000-4-8 

JIS C 61000-4-2 

JIS C 61000-4-4 

JIS C 61000-4-5 

JIS C 61000-4-11 

JIS C 61000-4-11 

主要機能

試験中の偏差は,製造業者が
指定し,文書化している固有

不確かさの限度値内でなけ
ればならない。

試験中の偏差は,製造業者が
指定し,文書化している追加

偏差の限度値内でなければ
ならない。

試験中の偏差は,製造業者が
指定し,文書化している固有

不確かさの限度値外であっ
てもよい。試験後,測定値は,
指定された固有不確かさの

範囲内でなければならない。

プロセスに関連する

通信

意図どおりの通信

試験中,通信への一時的な干

渉は許容する。ただし,干渉
が,いかなる機能不全をも引
き起こしてはならない。

試験中,いかなる機能不全を

も引き起こさない通信への
一時的な干渉は,許容する。

プロセスに関連しな
い通信

意図どおりの通信

試験中,通信への一時的な干
渉は許容する。ただし,干渉

が主要機能に影響を与えて
はならない。

試験中,いかなる機能不全を
も引き起こさない通信への

一時的な干渉は,許容する。

警報機能

いかなる機能不全も許容しない。

プロセスに関連しな
い限度値

製造業者が指定し文書化している許容範囲内でのいかなる
機能不全も許容しない。

試験中,一時的な機能喪失
は,許容する。

エミッション要求事項 

7.1 

測定中の条件 

次の事項を追加して JIS C 1806-1 の 7.1 を適用する。

箇条 及び箇条 に規定の“追加事項”を考慮する。

7.2 

エミッション限度値 

JIS C 1806-1

の 7.2 による。

試験結果及び試験報告書 

JIS C 1806-1

の箇条 による。

使用方法 

使用方法は JIS C 1806-1 の箇条 による。

10 

附属書 

JIS C 1806-1

附属書 によるほか,次の附属書を追加する。


7

C 1806-2-3

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附属書 AA

(規定)

特定タイプのトランスデューサに対する追加要求事項及び除外事項−

引張力及び圧縮力の測定用トランスデューサ(“力”トランスデューサ)

AA.1 

概要 

この規格の本体の要求事項に追加して,この附属書は,静的量の測定が可能な  “力”トランスデューサ

の個別 EMC 要求事項について規定する。

“力”トランスデューサは,少なくとも次の部分からなる。

−  機械的な力を入力量として記録するひずみ検出ユニット

−  機械的な入力量に比例した電気信号を発生するための一つ以上の変換器

−  電気信号をプロセスに適した信号に処理するための測定信号増幅器

AA.2 

試験配置 

“力”トランスデューサは,製造業者が指定する位置で試験する(

図 AA.1 参照)。

製造業者が設置位置を指定していない場合,トランスデューサは,力が垂直に加わるように設置する。

電源及び“力”トランスデューサの接地は,製造業者の仕様に従う。接地に関する仕様がない場合,直

流 70 V 未満の電源は接地し,トランスデューサは接地状態及び非接地状態の両方で試験する。

機能接地は,

“力”トランスデューサの機能接地専用端子だけに接続する。

ポートがプラグインコネクタの形状に作られており,そのポートにケーブルのシールドを接続するため

の端子がある場合,ケーブルのシールドは機能接地ポートへ接続する。ケーブルコネクタにシールドがあ

る場合は,そのままの接続とする。

トランスデューサをしっかり固定するための取付け部品及び取付け板には,導電性材料を用いてはなら

ない。ひずみ検出ユニットと分離形信号変換器との外縁距離

A

は,1 m  以下が望ましい(

図 AA.1 参照)。

注記  取付けねじ及び設置用附属品で製造業者がその“力”トランスデューサのために指定したもの

(例えば,

“力”印加部分)は,導電性材料でもよい。

 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 


8

C 1806-2-3

:2012

 1

ひずみ検出ユニット

2

分離形信号変換器

3

伝送リンク

4

交流又は直流電源ポート

5

入出力ポート

6

測定出力ポート

7

取付け部品

8

負荷ボタン

9

取付け板

F

引張力又は圧縮力

A

ひずみ検出ユニットと分離形信号変換器
との外縁距離(最大 1 m)

図 AA.1−分離形信号変換機能をもつ“力”トランスデューサの構成例 

AA.3 

動作条件 

EUT は,指定の定格電源電圧で動作させる。最大定格電源電圧が最小定格電源電圧の 2 倍を超える場

合,電源入力線に対して実施する EMC 試験は,最小定格電源電圧及び最大定格電源電圧の両方で実施す

る。

“力”トランスデューサは,静的,かつ,機械的な負荷によって試験する。

“力”トランスデューサに機械的な負荷を加えることができない試験環境では,トランスデューサに接

続した,適切な回路を用いて出力信号を生成してもよい。この回路は,トランスデューサ内の変換素子に

直接接続する。各々の回路動作の適用状態は,試験報告書に記載し,妥当性の根拠とする。

表 AA.1 に,可能な回路動作の例を記載する。 

表 AA.1−トランスデューサへの機械的負荷のシミュレーション用出力信号を生成する回路動作例 

トランスデューサ技術

シミュレーションに用いる回路動作

ひずみゲージ

固定抵抗器によって測定ブリッジを再調整する。

容量性素子

ハーフブリッジの場合は,

コンデンサ及び/又は固定抵抗によって測定ブリッジを再調整

する。

“力”は公称レンジの 30 %∼70 %とする。拡張された測定レンジの場合,主要機能の出力信号も動作

範囲の出力信号の 30 %∼70 %であることが望ましい。±符号付きレンジの場合は,ゼロ値(例えば 0.0 mA

又は 0.0 V)を  選択しないほうがよい。

警報機能は,実測値と設定する警報値との差異が,

表 AA.2 の主要機能に規定する偏差に対応するよう

に構成する。

次の二つの条件で試験する。

a)

警報値を実測値より大きく設定する。

6

F

1

2

3

4

5

7

8

9

A


9

C 1806-2-3

:2012

b)

警報値を実測値より小さく設定する。

警報機能の動作するしきい(閾)値が,定格試験値レンジの 30 %∼70 %の場合,警報機能はその他の

機能と同時に試験してもよい。

AA.4 

性能評価基準 

表 AA.2 に示す性能評価基準は,この規格の本体に示す仕様を補足又は置き換える。試験前の測定値と

試験中の測定値との間で観測される偏差は,

表 AA.3 及び表 AA.4 に規定する最大測定追加偏差(

f

z

)を超

えてはならない。

f

z

は,

[電磁(EM)現象の影響を考慮せずに]製造業者が指定する公称レンジ(3.104 参照)に関係する

トランスデューサの最大固有不確かさ(

f

y

)に依存する。

表 AA.2−機能別性能評価基準 

機能

現象

JIS C 61000-4-3 

JIS C 61000-4-6 

JIS C 61000-4-8 

JIS C 61000-4-2 

JIS C 61000-4-4 

JIS C 61000-4-5 

JIS C 61000-4-11 

JIS C 61000-4-11 

主要機能

表 AA.3 による

表 AA.4 による

表 101 による

プロセスに関連する通信

表 101 による

プロセスに関連しない通信

警報機能

プロセスに関連しない限度値

製造業者による指定がない限り,

表 AA.3 及び表 AA.4 に規定する限度値を適用する。

表 AA.3−最大固有不確かさ(f

y

)に対する連続妨害時の最大測定追加偏差(f

z

 

(妨害の影響がない条件下で)製造業者が指定する

最大固有不確かさ(f

y

%

試験中の最大測定追加偏差(f

z

%

f

y

<0.1

f

z

=0.1

0.1

f

y

≦1

f

z

f

y

f

y

>1

f

z

=1

注記  “(妨害の影響がない条件下で)”との表現を用いたが,対応国際規格では,

“no interference effects”と

なっている。しかし,no disturbance effects であると解釈した。

表 AA.3 の最大固有不確かさ(

f

y

)に対する最大測定追加偏差(

f

z

)を

図 AA.2 に示す。

 
 
 
 
 
 


10

C 1806-2-3

:2012

図 AA.2−最大固有不確かさ(f

y

)に対する,連続妨害時の最大測定追加偏差(f

z

 

表 AA.4−最大固有不確かさ(f

y

)に対する,過渡妨害時の最大測定追加偏差(f

z

 

(妨害の影響がない条件下で)製造業者が指定する

最大固有不確かさ(f

y

)%

試験中の最大測定追加偏差(f

z

%

f

y

<0.1

f

z

=0.5

0.1

f

y

≦1

f

z

=5 f

y

f

y

>1

f

z

=5

表 AA.4 の最大固有不確かさ(

f

y

)に対する最大測定追加偏差(

f

z

)を

図 AA.3 に示す。

0.1

0

1.0

0.5

5.0

1.0

0

0.5

f

z

f

y

4.0

3.0

2.0

製造業者が指定する最大固有不確かさ(%)

EM

試験信号(過渡妨害)に

起因する

最大測定追加偏差(%)

0.1

0

1.0

0.5

1.0

0.5

0

0.1

f

z

f

y

製造業者が指定する最大固有不確かさ(%)

EM

試験信号(連続妨害)に

起因する

最大測定追加偏差(%)


11

C 1806-2-3

:2012

図 AA.3−最大固有不確かさ(f

y

)に対する,過渡妨害時の最大測定追加偏差(f

z

 


12

C 1806-2-3

:2012

附属書 BB

(規定)

特定タイプのトランスデューサに対する追加要求事項及び除外事項−

圧力測定用トランスデューサ(圧力トランスデューサ)

BB.1 

概要 

この規格の本体の要求事項に追加して,この附属書は,圧力トランスデューサの個別 EMC 要求事項に

ついて規定する。

圧力トランスデューサは,少なくとも次の部分からなる。

−  プロセスへの圧力を密封するためのプロセス接続

−  圧力を電気的に処理できる量へ変換するためのセンサ

−  電気量をプロセスに対応する信号にフォーマット,線形化,増幅及び変換するための信号変換機能ユ

ニット

この附属書は,単に機械的原理で動作する圧力測定装置(例えば,リミットスイッチ付きのばねチュー

ブ圧力計)には適用しない。

BB.2 

試験配置 

全ての試験は,製造業者が指定する圧力トランスデューサの位置で行う(

図 BB.1 参照)。

位置の指定がない場合,試験は最も影響を受けやすいと考えられる位置で行い,その位置を試験報告書

に記載する。

圧力測定のための部材は,試験配置に可能な限り影響を与えないほうがよい。したがって,金属製圧力

アダプタの寸法は,EUT の寸法の 2 倍を超えないほうがよい。導電性のパイプ又は媒体が試験結果に影

響する場合,圧力接続,圧力コントローラ及び使用する媒体へのパイプは電気的に絶縁するのがよい。

製造業者が指定する全ての電気的な接続部材を,完全に組み立て,かつ,接続して試験を行う。

圧力トランスデューサ及び電源は,製造業者が指定する仕様に従って接地する。

製造業者が接地を指定していない場合,EUT は次のように準備する。

−  プロセス接続が金属製の場合,それを接地する。シーラントは,接地端子へ至る抵抗値を増大させて

はならない。

−  機能接地端子がある場合,その端子を接地する。

−  端子にケーブルシールド接続用オプションがある場合,シールド接続にそのオプションを使用するこ

とが望ましい。

−  電源はグラウンドから絶縁する。

 
 
 
 
 
 


13

C 1806-2-3

:2012

1

プロセス媒体

2

パイプ

3

圧力アダプタ

4

圧力トランスデューサ

5

接地接続部

6

絶縁スペーサ 
注記  絶縁スペーサの高さについては,関連の EMC 基本規格を参照する。

7

基準グラウンド

8

接続線

n

複数の接続線を示す

図 BB.1−圧力トランスデューサの構成例 

BB.3 

動作条件 

EUT は,指定の定格電源電圧で動作させる。最大定格電源電圧が最小定格電源電圧の 2 倍を超える場

合,電源入力線に対して実施する EMC 試験は,最小定格電源電圧及び最大定格電源電圧の両方で実施す

る。

圧力は,公称圧力レンジの 30 %∼70 %とする。測定レンジを拡張した場合は,主な機能出力信号も出

力信号動作範囲の 30 %∼70 %とすることが望ましい。±符号付きレンジの場合,ゼロ値(例えば,0.0 mA

又は 0.0 V)を選択しないほうがよい。

調整可能な圧力トランスデューサは,

製造業者の仕様に従って設定する。

製造業者の仕様書がない場合,

次の設定値を用いる。

−  最高感度の測定レンジ

−  最小の時定数又は応答時間

−  最高データ伝送速度

BB.4 

性能評価基準 

表 BB.1 に示す性能評価基準は,この規格の本体に示す仕様を補足又は置き換える。

試験前の測定値と試験中の測定値との間の偏差は,

表 BB.2 の最大測定追加偏差(

f

z

)を超えてはならな

い(

図 BB.2 も参照)。

f

z

は,

(EM 現象の影響を考慮せずに)製造業者が指定する公称レンジ(3.104 参照)に関係するトラン

スデューサの最大固有不確かさ(

f

y

)に依存する。

 
 
 
 
 
 
 
 

n

4

2

3

6

5

7

8

1


14

C 1806-2-3

:2012

表 BB.1−機能別性能評価基準 

機能

現象

JIS C 61000-4-2 

JIS C 61000-4-3 

JIS C 61000-4-4 

JIS C 61000-4-6 

JIS C 61000-4-8 

JIS C 61000-4-11

JIS C 61000-4-5 

主要機能

表 BB.2 による

表 101 による

プロセスに関連する通信

表 101 による

プロセスに関連しない通信

警報機能

プロセスに関連しない限度値

製造業者による指定がない限り,

表 BB.2 に規定する限度値を適用する。

表 BB.2−最大固有不確かさ(f

y

)に対する最大測定追加偏差(f

z

 

(妨害の影響がない条件下で)製造業者が指定する

最大固有不確かさ(f

y

)%

試験中の最大測定追加偏差(f

z

%

f

y

<0.2

f

z

=1

0.2

f

y

≦1

f

z

=5 f

y

f

y

>1

f

z

=5

注記  “(妨害の影響がない条件下で)”との表現を用いたが,対応国際規格では,“no interference effects”

となっている。しかし,no disturbance effects であると解釈した。

図 BB.2−最大固有不確かさ(f

y

)に対する最大測定追加偏差(f

z

 

0.2

0

1.0

0.5

5.0

1.0

0

f

z

f

y

4.0

3.0

2.0

製造業者が指定する最大固有不確かさ(%)

EM

試験信号に起因する

最大測定追加偏差(%)


15

C 1806-2-3

:2012

附属書 CC(規定)

特定タイプのトランスデューサに対する追加要求事項及び除外事項−

温度計測用トランスデューサ(温度トランスデューサ)

CC.1 

概要 

この規格の本体の要求事項に追加して,この附属書は,温度トランスデューサの個別 EMC 要求事項に

ついて規定する。

温度トランスデューサは,少なくとも次の部分からなる。

−  一つ以上の温度センサ(例えば,熱電対,PT-100)

−  電気入力信号をプロセスに対応する信号にフォーマット,線形化,増幅及び変換するための処理ユニ

ット

−  信号ポートに接続する信号伝達のための信号ケーブル(例えば,2 線式 4 mA∼20 mA リンク)

温度トランスデューサは,次の部分をもつ場合もある。

−  温度センサと処理ユニットとの間の一つ以上の伝送リンク

−  センサなどの別電源ポート

CC.2 

試験配置 

試験配置は,可能な限り実際の設置にする。温度トランスデューサへの特別な要求のために必要な試験

配置が基本規格で規定する試験配置と異なる場合は,試験報告書に記載し,妥当性の根拠とする。ケーブ

ルの種類は,製造業者の設置ガイドに従って選択する。特別なケーブルの指定がない限り,一般的なシー

ルドなし及びツイストなしのケーブルを試験配置に用いる。

EUT は,EM 現象の影響を非常に受けやすいことが想定されるため,アナログ信号出力については,製

造業者の仕様の範囲内で負荷を接続する。

温度トランスデューサが単一ユニット(センサと処理ユニットとが同一きょう体内にある)としてだけ

用いられ提供される場合,この構成で試験する(

図 CC.1 参照)。他の全ての場合,図 CC.2 の試験配置を

用いる。ケーブルの長さは,基本規格に従うものとする。製造業者が指定する全ての電気的な接続部材を,

完全に組み立て,かつ,接続して試験を行う。温度トランスデューサ及び電源は,製造業者が指定する仕

様に従って接地する。

室温は,基準測定量として用いるのがよい。トランスデューサの性能を評価するために,適切な温度範

囲内で,温度を一定にするように,注意を払う。これが不可能であれば(例えば,トランスデューサの測

定範囲によって)

,プロセス温度を代表する適切な媒体上にトランスデューサのセンサを装着するか,又は

別の温度測定によって室温を考慮する。類似の電磁気的挙動を確証するように高周波特性の同等性を証明

できれば,受動センサ又は熱電対の代替品(抵抗器及び/又は他の受動部品若しくは電池の回路網)を用

いることができる。

 
 
 
 


16

C 1806-2-3

:2012

2

3

4

5

1

1

温度トランスデューサ(トランスデューサの傾きは例)

2

補助装置(例えば,電源,信号評価又は信号の伝送用システム)

3

リンクケーブル。特に指定がなければ,シールドなし,ツイストなし

4

絶縁スペーサ(関連する EMC 基本規格に規定する寸法)

5

基準グラウンド

図 CC.1−一体形信号変換機能をもつ温度トランスデューサの構成例 

6

1

3

7

4

5

2

1

温度センサ

2

補助装置(例えば,電源,信号評価)

3

リンクケーブル(伝送リンク)

。特に指定がなければ,シールドなし,ツイストなし

4

絶縁スペーサ(関連する EMC 基本規格に規定する寸法)

5

基準グラウンド

6

トランスデューサの信号変換ユニット

7

リンクケーブル。特に指定がなければ,シールドなし,ツイストなし

図 CC.2−分離形信号変換機能をもつ温度トランスデューサの構成例 

CC.3 

動作条件 

EUT は,指定の定格電源電圧で動作させる。最大定格電源電圧が最小定格電源電圧の 2 倍を超える場

合,電源入力線に対して実施する EMC 試験は,最小定格電源電圧及び最大定格電源電圧の両方で実施す

る。

印加する温度において,出力信号が出力信号レンジの 40 %∼60 %になるようにトランスデューサを調

整する(例えば,4 mA∼20 mA システムの場合,50 %に調整すると 12 mA となる。

。±符号付き出力レ

ンジの場合には,ゼロ値(例えば,0.0 mA 又は 0.0 V)を選択してはならない。

製造業者の指定がない場合には,次のように設定する。

−  最高感度の測定レンジ(フルスケールの 20 %以上)

−  最小の時定数又は応答時間

−  最高データ処理率(デジタル信号処理及び伝送の場合)

警報機能が使用可能な場合には,実測値と設定する警報値との差が,

表 CC.1 の主要機能に規定する偏

差に対応するように構成する。

次の二つの状態を試験する。


17

C 1806-2-3

:2012

a)

調整警報値が実際の測定値より上の場合

b)

調整警報値が実際の測定値より下の場合

警報機能の動作するしきい(閾)値が選択した出力信号レンジの 40 %∼60 %の場合,警報機能はその

他の機能と同時に試験してもよい。

CC.4 

性能評価基準 

 CC.1 に示す性能評価基準は,この規格の本文中に記載の仕様を補足又は置き換える。

試験前の測定値と試験中の測定値との間の偏差は,

表 CC.2 及び  表 CC.3 に規定する最大測定追加偏差

f

z

)を超えてはならない。

f

z

は,

(電磁妨害の影響を考慮せずに)製造業者がこの試験用に選択した測定スパン(3.106 参照)のト

ランスデューサの最大固有不確かさ(

f

y

)に依存する。

表 CC.1−機能別性能評価基準 

機能

現象

JIS C 61000-4-3

c)

JIS C 61000-4-6

c)

JIS C 61000-4-4 

JIS C 61000-4-2 

JIS C 61000-4-5

a)

JIS C 61000-4-11

b)

主要機能

表 CC.2 による

表 CC.3 による

表 101 の 4 列目による

プロセスに関連する通信

表 101 の 2 列目による 表 101 の 3 列目による 表 101 の 4 列目による

プロセスに関連しない通信

警報機能

プロセスに関連しない限度値

a)

相間サージ電圧は,75 V を超える交流電源入力ポートだけに適用する。

b)

交流電源ポートだけに適用する。

c)

 EUT

の応答時間に特に注意することが望ましい。

製造業者が指定しない限り,

表 CC.2 及び表 CC.3 で規定する限度値を適用する。

表 CC.2−最大固有不確かさ(f

y

)に対する連続妨害時の最大測定追加偏差(f

z

 

(妨害の影響がない条件下で)製造業者が指定する

最大固有不確かさ(f

y

)%

試験中の最大測定追加偏差(f

z

%

f

y

<0.5

f

z

=1

0.5

f

y

≦2.5

f

z

=2 f

y

f

y

>2.5

f

z

=5

注記  “(妨害の影響がない条件下で)”との表現を用いたが,対応国際規格では,

“no interference effects”

となっている。しかし,no disturbance effects であると解釈した。

表 CC.2 で規定する,最大固有不確かさ(

f

y

)と最大測定追加偏差(

f

z

)との関係を,

図 CC.3 の a)に示

す。

 
 
 


18

C 1806-2-3

:2012

表 CC.3−最大固有不確かさ(f

y

)に対する過渡妨害時の最大測定追加偏差(f

z

 

(妨害の影響がない条件下で)製造業者が指定する

最大固有不確かさ(f

y

)%

試験中の最大測定追加偏差(f

z

%

f

y

<0.4

f

z

=2

0.4

f

y

≦2

f

z

=5 f

y

f

y

>2

f

z

=10

表 CC.3 で規定する,最大固有不確かさ(

f

y

)と最大測定追加偏差(

f

z

)との関係を,

図 CC.3 の b)に示

す。

a)

連続妨害の場合(

表 CC.2 参照)

b)

過渡妨害の場合(

表 CC.3 参照)

図 CC.3−測定スパンに関連する最大固有不確かさ(f

y

)に対する最大測定追加偏差(f

z

 

 
 
 
 
 
 
 

参考文献 IEC 

60050-300

,International Electrotechnical Vocabulary−Electrical and electronic measurements and

measuring instruments

−Part 311: General terms relating to measurements

−Part 312: General terms relating to electrical measurements

−Part 313: Types of electrical measuring instruments

b)

a)

9

f

z

f

y

0 0.2 0.4

0.6 0.8 1.0

2.0

3.0

0

1

2

3

4

5

6

7

8

10

EM

試験信号に起因する

最大測定追加偏差(%)


19

C 1806-2-3

:2012

−Part 314: Specific terms according to the type of instrument


20

C 1806-2-3

:2012

附属書 JA

(参考)

JIS

と対応国際規格との対比表

JIS C 1806-2-3:2012

  計測,制御及び試験室用の電気装置−電磁両立性要

求事項−第 2-3 部:個別要求事項−一体形又は分離形信号変換機能をも
つトランスデューサの試験配置,動作条件及び性能評価基準

IEC 61326-2-3:2006

  Electrical equipment for measurement, control and laboratory use−EMC

requirements

−Part 2-3: Particular requirements−Test configuration, operational conditions and

performance criteria for transducers with integrated or remote signal conditioning

 
(I)JIS

の規定 (II)

国 際 規
格番号

(III)

国際規格の規定 (IV)JIS と国際規格との技術的差異の箇条ごとの評価及び

その内容

(V)JIS

と国際規格との

技術的 差異 の理 由及び
今後の対策

箇条番号 
及び題名

内容

箇条 
番号

内容

箇 条 ご と
の評価

技術的差異の内容

1

適用範

図 102 において,伝送リンクラ
インの信号変換機能ユニット

入力部分に,○記号が付加され
ていないが,外部きょう体との
絶縁を示す意味と理解し,この

規格では追加した。

図 102 Remote

からの入力

信号

変更 Remote 側からの入力信号が信号変換機能ユニ

ット入力部分できょう体と短絡していない図

に変更した。

次回改 正時 に修 正案提
出。

3

用語及

び定義

3.103

3.107

3.104

3.108

変更

JIS

独自に付番変更。

3.103

∼3.107 に変更。

次回改 正時 に修 正案提
出。

6.4

性 能

評価基準

表 101 中の試験規格

表 101

IEC 

61000-4-11 

IEC 

61000-4-5 

変更

表 101 における現象別の欄はそれぞれに,性

能評価基準 A,B,C に対応して分類されてい
る。しかしながら,IEC 61000-4-5 は C の欄に
記載され,IEC 61000-4-11 は B 欄に記載され

ている。これらの試験規格を本来の要求(JIS 

C 1806-1

の要求)と整合させる変更を行った。

次回改 正時 に修 正案提

出。

表 AA.3

表 BB.2 
表 CC.2

“妨害の影響がない条件下”と

した。

AA.3

BB.2

CC.2

変更

実施している試験が干渉効果を与える試験で

は な い た め , 干 渉 効 果 ( 原 文 で は , no

interference effects

)は不適切と判断し,妨害の

影響と変更した。

次回改 正時 に修 正案提

出。

JIS

と国際規格との対応の程度の全体評価:IEC 61326-2-3:2006,MOD

18

C

 180

6-

2-

3


2

012


21

C 1806-2-3

:2012

注記 1  箇条ごとの評価欄の用語の意味は,次による。

    −  変更……………… 国際規格の規定内容を変更している。

注記 2  JIS と国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は,次による。

    −  MOD……………  国際規格を修正している。

19

C

 1

8

06
-2

-3


2

012