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C 1806-2-2

:2010

(1)

目  次

ページ

序文 

1

1

  適用範囲

1

2

  引用規格

2

3

  用語及び定義 

2

4

  一般

2

5

  EMC 試験計画

2

5.1

  一般

2

5.2

  試験中の EUT の構成 

2

5.3

  試験中の EUT の動作条件

4

5.4

  性能評価基準の仕様

4

5.5

  試験の記述 

4

6

  イミュニティ要求事項 

4

6.1

  試験中の条件 

4

6.2

  イミュニティ試験要求事項 

4

6.3

  偶発性の側面 

5

6.4

  性能評価基準 

5

7

  エミッション要求事項 

5

8

  試験結果及び試験報告書 

5

9

  使用法

5

附属書 JA(参考)JIS と対応国際規格との対比表 

6


C 1806-2-2

:2010

(2)

まえがき

この規格は,工業標準化法第 12 条第 1 項の規定に基づき,社団法人日本電気計測器工業会(JEMIMA)

及び財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があ

り,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が制定した日本工業規格である。

この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。

この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に

抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許

権,出願公開後の特許出願,実用新案権及び出願公開後の実用新案登録出願にかかわる確認について,責

任はもたない。

JIS C 1806

の規格群には,次に示す部編成がある。

JIS

C

1806-1

  第 1 部:一般要求事項

JIS

C

1806-2-1

  第 2-1 部:個別要求事項−EMC 防護が施されていない感受性の高い試験及び測定装置

の試験配置,動作条件及び性能評価基準

JIS

C

1806-2-2

  第 2-2 部:個別要求事項−低電圧配電システムで使用する可搬形試験,測定及びモニ

タ装置の試験配置,動作条件及び性能評価基準

JIS

C

1806-2-6

  第 2-6 部:個別要求事項−体外診断用医療機器(予定)


   

日本工業規格

JIS

 C

1806-2-2

:2010

計測,制御及び試験室用の電気装置−

電磁両立性要求事項−第 2-2 部:個別要求事項−

低電圧配電システムで使用する可搬形試験,

測定及びモニタ装置の試験配置,

動作条件及び性能評価基準

Electrical equipment for measurement, control and laboratory use-

EMC requirements-Part 2-2: Particular requirements-

Test configurations, operational conditions and performance criteria for

portable test, measuring and monitoring equipment

used in low-voltage distribution systems

序文 

この規格は,2005 年に第 1 版として発行された IEC 61326-2-2 を基に,技術的内容及び構成を変更して

作成した日本工業規格である。

なお,この規格で点線の下線を施してある箇所は,対応国際規格を変更している事項である。変更の一

覧表にその説明を付けて,

附属書 JA に示す。

適用範囲 

JIS C 1806-1

の適用範囲に加えて,この規格は,次のすべてに該当する装置のための,より詳細な試験

配置,動作条件及び性能評価基準について規定する。

−  低電圧配電系の保護手段について試験,計測又はモニタするために使用する装置

−  電池及び/又は被測定回路から電力を供給する装置

−  携帯形装置

このような装置の例として,IEC 61557(all parts)で定義する検電器,マルチメータ,絶縁抵抗計,接

地連続性テスタ,接地抵抗計,ループインピーダンス計,漏電遮断器テスタ(RCD 試験器)及び検相器が

あるが,これらに限定しない。

注記 1  IEC 61557-8 及び IEC 61557-9 の適用範囲内の装置のための電磁両立性(EMC)への個別要

求事項は,IEC 61326-2-4 による。

製造業者は,製品が使用される予定の環境を指定する及び/又は JIS C 1806-1 の適切な試験レベル仕様

を選択する。

注記 2  この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。


2

C 1806-2-2

:2010

   

IEC 61326-2-2:2005

,Electrical equipment for measurement, control and laboratory use−EMC

requirements−Part 2-2: Particular requirements−Test configurations, operational conditions

and performance criteria for portable test, measuring and monitoring equipment used in

low-voltage distribution systems(MOD)

なお,対応の程度を表す記号“MOD”は,ISO/IEC Guide 21-1 に基づき,

“修正している”

ことを示す。

2

  引用規格

次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの

引用規格のうちで,西暦年を付記してあるものは,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追補を含む。

は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は,その最新版(追補を含む。

)を適用する。

JIS C 1806-1:2010

  計測,制御及び試験室用の電気装置−電磁両立性要求事項−第 1 部:一般要求事

注記  対応国際規格:IEC 61326-1:2005,Electrical equipment for measurement, control and laboratory

use−EMC requirements−Part 1: General requirements(MOD)

JIS C 60050-161:1997

  EMC に関する IEV 用語

注記  対応国際規格:IEC 60050-161:1990,International Electrotechnical Vocabulary (IEV)−Chapter

161: Electromagnetic compatibility(IDT)

JIS C 61000-4-3:2005

  電磁両立性−第 4-3 部:試験及び測定技術−放射無線周波電磁界イミュニティ

試験

JIS C 61000-4-6

  電磁両立性−第 4-6 部:試験及び測定技術−無線周波電磁界によって誘導する伝導

妨害に対するイミュニティ

注記  対応国際規格:IEC 61000-4-6,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-6: Testing and

measurement techniques−Immunity to conducted disturbances, induced by radio-frequency fields

(MOD)

IEC 61557 (all parts)

,Electrical safety in low voltage distribution systems up to 1 000 V a.c. and 1 500 V d.c.

−Equipment for testing, measuring or monitoring of protective measures

用語及び定義 

この規格で用いる主な用語及び定義は,JIS C 1806-1 及び JIS C 60050-161 による。

一般 

JIS C 1806-1

の箇条 による。

5 EMC

試験計画 

5.1 

一般 

JIS C 1806-1

の 5.1 による。

5.2 

試験中の EUT の構成 

次の事項を追加して JIS C 1806-1 を適用する。


3

C 1806-2-2

:2010

5.2.4.101  

試験及び測定用の I/O ポート 

試験及び測定用の I/O ポートは,製造業者が推奨する試験リード,又は EUT に附属の試験リードを接続

する。試験リードの指定がない場合は,標準的な試験リードを使用する。試験リードは,各動作モードの

標準的な構成で接続し配置する(

図 101 参照)。

附属の試験リード,又は推奨の試験リードの長さが 1 m を超える場合,EUT 用試験又は測定対象が EUT

まで 1 m の水平距離になるように試験リードを束ねることが望ましい(

図 101 参照)。

試験リードは,試験机の上で水平距離約 0.1 m 離して配置する(

図 102 及び図 103 参照)。

図 101JIS C 61000-4-3 に基づいた携帯機器の試験,測定及びモニタ装置に対する試験セットアップ 

EUT 用試験対象信号の発生又はモニタに必要な補助装置(AE)は,図 101 に従って,JIS C 61000-4-6

図 A.3(EM クランプの詳細構造)に示すような EM クランプ 2 個及び/又は更に減結合回路網を経由し

て接続する。

電圧測定の場合,

図 102 に示すように試験リードの一つは,1 000 Ω±100 Ω の抵抗(EUT 用試験対象)

で構成する。電流測定の場合,

図 103 に示すように試験リードは,100 Ω±10 Ω の抵抗(EUT 用試験対象)

の両端に接続する。

その他の測定の場合,製造業者が EUT 用試験対象を指定し,かつ,試験報告書に記載する。


4

C 1806-2-2

:2010

   

a)

   

減結合回路網(必要な場合)

b)

例えば,電圧源

図 102−電圧測定用接続詳細例 

a)

減結合回路網(必要な場合)

b)

例えば,電流源

図 103−電流測定用接続詳細例 

5.3 

試験中の EUT の動作条件 

次の事項を追加して JIS C 1806-1 を適用する。

5.3.101 

動作条件 

EUT は,最大感度のレンジ又はレンジの組合せに設定する。ただし,通常の用途における最悪のイミュ

ニティ結果をもたらすレンジがほかに分かっていれば,そのレンジに設定する。多機能装置は,各機能を

別々に試験する。

5.4 

性能評価基準の仕様 

JIS C 1806-1

の 5.4 による。

5.5 

試験の記述 

JIS C 1806-1

の 5.5 による。

イミュニティ要求事項 

6.1 

試験中の条件 

JIS C 1806-1

の 6.1 による。

6.2 

イミュニティ試験要求事項 

JIS C 1806-1

の 6.2 を,次に置き換える。

6.2 

イミュニティ試験要求事項 

6.2.1 

静電気放電(ESD 


5

C 1806-2-2

:2010

試験値は,JIS C 1806-1 

附属書 A(可搬形の試験及び計測装置に対するイミュニティ試験要求事項)

に従って,性能評価基準は B とする。

静電気放電は,EUT のハウジング,端子及び結合板に印加するが,シールドしたポート又はケーブルコ

ネクタ[例えば,BNC,D-sub,IEEE 488 (GPIB),RS232,IEEE 1284-B(パラレルプリンタポート)など]

の内部のピンには,印加してはならない。

6.2.2 

放射無線周波電磁界 

試験値は,JIS C 1806-1 

附属書 に従って,80 MHz から始める。装置きょう体の最大寸法が 0.3 m 未

満の場合,試験は

図 101 に従って一方向だけ実行し,かつ,試験報告書に記載する。

6.3 

偶発性の側面 

JIS C 1806-1

の 6.3 による。

6.4 

性能評価基準 

JIS C 1806-1

の 6.4 による。ただし,JIS C 1806-1 の 6.4.1 を次に置き換える。

6.4.1 

性能評価基準 

試験実施中,仕様範囲内の正常な動作。取扱説明書の技術データに記載した最大固有誤差を外れる変動

は,あってもよい。変動は固有誤差の 5 倍までに制限するが,フルスケールの 50 %と 100 %との間で測定

したとき,測定値の±20 %を超えてはならない。

エミッション要求事項 

JIS C 1806-1

の箇条 による。

試験結果及び試験報告書 

JIS C 1806-1

の箇条 による。

使用法 

JIS C 1806-1

の箇条 による。

参考文献 IEEE 488,IEEE Standard for Higher Performance Protocol for the Standard Digital Interface for

Programmable Instrumentation 

IEEE 1284

,IEEE Standard Signaling Method for a Bidirectional Parallel Peripheral Interface for

Personal Computers

IEC 61326-2-4:2006

, Electrical equipment for measurement, control and laboratory use− EMC

requirements−Part 2-4: Particular requirements−Test configurations, operational conditions and

performance criteria for insulation monitoring devices according to IEC 61557-8 and for equipment

for insulation fault location according to IEC 61557-9


附属書 JA

(参考)

JIS

と対応国際規格との対比表

JIS C 1806-2-2:2010

  計測,制御及び試験室用の電気装置−電磁両立性要求事項−

第 2-2 部:個別要求事項−低電圧配電システムで使用する可搬形試験,測定及びモ
ニタ装置の試験配置,動作条件及び性能評価基準

IEC 61326-2-2:2005

  Electrical equipment for measurement, control and laboratory

use − EMC requirements − Part 2-2: Particular requirements − Test configurations, 
operational conditions and performance criteria for portable test, measuring and 
monitoring equipment used in low-voltage distribution systems

(I)JIS の規定

(III)国際規格の規定

(IV)JIS と国際規格との技術的差異の箇条
ごとの評価及びその内容

箇 条 番 号
及び題名

内容

(II) 
国際規格
番号

箇条番号

内容

箇 条 ご と
の評価

技術的差異の内容

(V)JIS と国際規格との技術的差異
の理由及び今後の対策

5.2.4.101

図番号

5.2.4.101
Figure 1 
Figure 2 
Figure 3

変更

対応する図番号を図 1∼図 3 で

はなく,図 101∼図 103 に変更
した。

試 験 及 び 測 定 用 の
I/O ポート

追加

記述内容を具体的に示すため, 
“図 101 参照”

“図 102 及び図

103 参照”を追加した。

JIS

使用者の可読性を向上するた

め,参照図名を追加。

図 101  均一電磁界
面の位置

 Figure 1

上面図において EUT の中
心位置に均一電磁界面が

記載されている。

変更

JIS C 61000-4-3

に従い,均一

電磁界面を EUT の前面位置に

移動。

試験実施時の混乱を未然に防止す
る目的で変更。今後の ISO 規格改

定時に変更提案を実施。

JIS

と国際規格との対応の程度の全体評価:IEC 61326-2-2:2005,MOD

注記 1  箇条ごとの評価欄の用語の意味は,次による。

    −  追加……………… 国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。

    −  変更……………… 国際規格の規定内容を変更している。

注記 2  JIS と国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は,次による。

    −  MOD……………  国際規格を修正している。

6

C

 180

6-2

-2


20
10