>サイトトップへ >このカテゴリの一覧へ

C 1515

:2004 (IEC 60942:2003)

(1)

まえがき

この規格は,工業標準化法第 14 条によって準用する第 12 条第 1 項の規定に基づき,社団法人日本騒音

制御工学会 (INCE/J)/財団法人日本規格協会 (JSA) から,

工業標準原案を具して日本工業規格を改正すべ

きとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工業規格である。

これによって,JIS C 1515 : 1991 は改正され,この規格に置き換えられる。

音響校正器の主な用途は,次の二つである。

a)

形式及び構成を指定したマイクロホンの音圧感度の決定。

b)

音響測定器又は音響測定システムの総合的な感度の確認又は調整。

音響校正器は,形式及び構成(保護グリッドの有無など)を指定したマイクロホンを結合した場合,一

つ以上の指定周波数で一つ以上の既知の音圧レベルの音を発生する機器である。音響校正器が発生する音

の音圧レベルは,静圧,周囲温度,相対湿度のような環境条件に依存することがある。

改正の主な点は,次のとおり。

−  許容限度値に測定の拡張不確かさの最大値を含めた。

−  形式評価試験報告書の様式を附属書(規定)として追加した。

−  クラスの表記を一部変更した。

−  クラスを指定するために用いるマイクロホンを国際規格を引用して規定した。

−  動作する環境条件の範囲をサウンドレベルメータのそれと整合させた。

−  等価自由音場音圧レベル及び等価ランダム入射音圧レベルの規定を削除した。

改正に当たっては,日本工業規格と国際規格との対比,国際規格に一致した日本工業規格の作成及び日

本工業規格を基礎にした国際規格原案の提案を容易にするために,IEC 60942 : 2003,Electroacoustics−

Sound calibrators

を基礎として用いた。IEC 60942 : 2003 は,IEC 専門委員会 29 :  電気音響と国際法定計量

機関  (OIML : International Organization of Legal Metrology)  が協調して作成した国際規格である。

この規格の一部が,技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の

実用新案登録出願に抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会

は,このような技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の実用新

案登録出願にかかわる確認について,責任はもたない。

JIS C 1515

には,次に示す附属書がある。

附属書 A(規定)  形式評価試験

附属書 B(規定)  定期試験

附属書 C(規定)  形式評価試験報告書の様式


C 1515

:2004 (IEC 60942:2003)

目  次

ページ

序文

1

1.

  適用範囲

1

2.

  引用規格

1

3.

  定義

2

4.

  基準環境条件

3

5.

  要求事項

3

5.1

  一般事項

3

5.2

  音圧レベル

5

5.3

  周波数

6

5.4

  静圧,周囲温度及び湿度の影響

7

5.5

  全ひずみ

8

5.6

  電源

8

5.7

  マイクロホンの仕様及び校正

8

5.8

  電磁両立性

9

6.

  機器への表示及び添付文書

10

6.1

  音響校正器への表示

10

6.2

  クラス LS の音響校正器の個別校正票

10

6.3

  取扱説明書

11

附属書 A(規定)形式評価試験

13

附属書 B(規定)定期試験

27

附属書 C(規定)形式評価試験報告書の様式

32

参考文献

76

 


日本工業規格

JIS

 C

1515

:2004

(IEC 60942

:2003

)

電気音響−音響校正器

Electroacoustics

Sound calibrators

序文  この規格は,2003 年に第 3 版として発行された IEC 60942 : 2003,Electroacoustics−Sound calibrators

を翻訳し,技術的内容及び規格票の様式を変更することなく作成した日本工業規格である。

なお,この規格で点線の下線を施してある“参考”は,原国際規格にはない事項である。

1.

適用範囲  この規格は,音響校正器の三つのクラス,クラス LS(実験室用標準),クラス 1 及びクラ

ス 2 の性能要求事項について規定する。クラス LS に対する許容限度値が最も小さく,クラス 2 に対する

許容限度値が最も大きい。クラス LS は,通常,実験室内でだけ使用する音響校正器,クラス 1 及びクラ

ス 2 は,現場で使用する音響校正器である。クラス 1 の音響校正器は,IEC 61672-1 に規定するクラス 1

の騒音計とともに用い,クラス 2 の音響校正器は,クラス 2 の騒音計とともに用いることを想定している。

クラス LS の音響校正器についてこの規格への適合性を評価する場合には,IEC 61094-1 に規定する標準

マイクロホンの使用を前提として,この規格の許容限度値を規定している。クラス 1 又はクラス 2 の音響

校正器についてこの規格への適合性を評価する場合には,IEC 61094-4 に規定する計測用マイクロホンの

使用を前提として,この規格の許容限度値を規定している。

複数の音圧レベル及び複数の周波数の音を発生する音響校正器は,この規格に適合すると取扱説明書に

記載された音圧レベル及び周波数のすべての組合せで,同じクラス表示をもつ。

サウンドレベルメータ全体の感度を調整するために用いられることのある,等価自由音場音圧レベル又

は等価ランダム入射(拡散音場)音圧レベルについての要求事項は,この規格では規定しない。

音響校正器は,トーンバーストを発生させるような,他の機能を内蔵してもよい。このような他の機能

についての要求事項は,この規格では規定しない。

備考  この規格の対応国際規格を,次に示す。

なお,対応の程度を表す記号は,ISO/IEC Guide 21 に基づき,IDT(一致している)

,MOD

(修正している)

,NEQ(同等でない)とする。

IEC 60942 : 2003

,Electroacoustics−Sound calibrators (IDT)

2.

引用規格  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成す

る。これらの引用規格は,記載の年の版だけがこの規格の規定を構成するものであって,その後の改正版・

追補には適用しない。

JIS C 1000-4-2

:1999  電磁両立性−第 4 部:試験及び測定技術−第 2 節:静電気放電イミュニティ試

備考  IEC 61000-4-2:1995  Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4 Testing and measurement

techniques

−Section 2 Electrostatic discharge immunity test からの引用事項は,この規格の該当事


2

C 1515

:2004 (IEC 60942:2003)

項と同等である。

JIS C 1000-4-3

:1997  電磁両立性  第 4 部:試験及び測定技術  第 3 節:放射無線周波電磁界イミュ

ニティ試験

備考  IEC 61000-4-3:1998  Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4 : Testing and measurement

techniques

−Section 3 : Radiated, radio-frequency, electromagnetic field immunity test, Edition 1.1 からの引

用事項は,この規格の該当事項と同等である。

JIS C 1000-6-1

:2003  電磁両立性−第 6 部:共通規格−第 1 部:住宅,商業及び軽工業環境における

イミュニティ

備考  IEC 61000-6-1:1997  Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 6 : Generic standards−Section 1 :

Immunity for residential, commercial and light-industrial environments

からの引用事項は,この規

格の該当事項と同等である。

JIS Z 8106

:2000  音響用語

備考  IEC 60050 (801):1994  International Electrotechnical Vocabulary (IEV)−Chaptar 801 : Acoustics

and electroacoustics

からの引用事項は,この規格の該当事項と同等である。

CISPR 22 : 1997  Information technology equipment

−Radio disturbance characteristic−Limits and methods

of measurement

CISPR/IEC 61000-6-3

:1996  Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 6 : Generic standards−Section 3 :

Emission standard for residential, commercial and light-industrial environments

IEC 61094-1

:2000  Measurement microphones−Part 1 : Specifications for laboratory standard microphones

IEC 61094-2

:1992  Measurement microphones−Part 2 : Primary method for pressure calibration of labolatory

standard microphones by the reciprocity technique

IEC 61094-4

:1995  Measurement microphones−Part 4 : Specifications for working standard microphones

IEC 61094-5

:2001  Measurement microphones−Part 5 : Methods for pressure calibration of working standarad

microphones by comparison

IEC 61672-1

  Electroacoustics−Sound level meters−Part 1 : Specifications

参考  電気音響−サウンドレベルメータ(騒音計)−第 1 部:仕様,として日本工業規格で制定さ

れる予定。

ISO 266

:1997  Acoustics−Preferred frequencies

ISO/IEC Guide

:1995  Guide to the expression of uncertainty in measurement

ISO Publication

:1993  ISBN 92-67--1075-1, International Vocabulary of Basic and General Terms in

Metrology

OIML International Recommendation R97

:1990  Barometers

3.

定義  この規格で用いる主な用語の定義は,JIS Z 8106 及び ISO Publication International Vocabulary of

Basic and General Terms in Metrology

によるほか,次による。その他の関連する用語の定義は,2.に掲げた

引用規格の定義による。

3.1

音響校正器  (sound calibrator)  形式及び構成を指定したマイクロホンに結合して用い,指定音圧レ

ベル及び指定周波数の正弦波音圧を発生する機器。


3

C 1515

:2004 (IEC 60942:2003)

3.2

指定音圧レベル  (specified sound pressure level)  形式及び構成を指定したマイクロホンに用いたとき

の,個々の音響校正器(クラス LS の場合)又は同一形式のすべての音響校正器(クラス 1 又はクラス 2

の場合)に有効な,基準環境条件で音響校正器が発生する音の音圧レベル。

3.3

公称音圧レベル  (nominal sound pressure level)  指定音圧レベルをデシベル単位で(表示のために)

丸めた,同一形式のすべての音響校正器に有効な近似値。

3.4

指定周波数  (specified frequency)  個々の音響校正器(クラス LS の場合)又は同一形式のすべての

音響校正器(クラス 1 又はクラス 2 の場合)に有効な,基準環境条件で音響校正器が発生する音の周波数。

3.5

公称周波数  (nominal frequency)  (表示のための)指定周波数の近似値。通常は ISO 266 に従い丸

めた値。

3.6

主音圧レベル  (principal sound pressure level)  試験のために取扱説明書に指定する音圧レベル。

備考  主音圧レベルは,音響校正器のこの規格の要求事項への適合性を評価するときに用いる。

3.7

主周波数  (principal frequency)  試験のために取扱説明書に指定する周波数。

備考  主周波数は,音響校正器のこの規格の要求事項への適合性を評価する場合に用いる。

3.8

反復  (replication)  音響校正器とマイクロホンとを完全に分離した後,再びマイクロホンを音響校正

器に結合することによる,測定の完全な繰返し。

3.9

全ひずみ  (total distortion)  百分率で表した,信号全体の実効値に対する全ひずみ成分の実効値の比。

3.10

基準の向き  (reference orientation)  音響校正器の空洞の開口部の主軸(空洞にマイクロホンを挿入

する軸)を無線周波電磁界のアンテナの主方向と一致するようにした,音響校正器の向き。空洞の開口部

は,アンテナと反対方向に向ける。

3.11

基準面  (reference plane)  マイクロホンと音響校正器との境界面。

3.12

マイクロホンの実効負荷容積  (effective load volume of a microphone)  基準環境条件での,基準面,

振動膜及び基準面でのマイクロホンの外側円筒の内面を境界とする容積にマイクロホンの等価容積(IEC 

61094-1

参照)を加えたものと等しい音響コンプライアンスをもつ空気の容積。

備考  実効負荷容積は,一般に,立方ミリメートルで表す。

4.

基準環境条件  音響校正器の性能を規定するための基準環境条件は,次による。

−  周囲温度 23

−  静圧

101.325 kPa

−  相対湿度 50

%

5.

要求事項

5.1

一般事項

5.1.1

この規格に適合する音響校正器は,5.に規定する性能を備えていなければならない。複数の形式の

マイクロホンに対応できるように,アダプタを備えてもよい。この規格では,このようなアダプタは,音

響校正器の一部分を構成するとみなす。

5.1.2

音響校正器は,利用可能な音圧レベルと周波数の少なくとも一つの組合せについて,この規格に適

合しなければならない。また,この規格に適合するすべての組合せは,同一のクラスに対して適合しなけ

ればならない。この規格で許容限度値を規定していない音圧レベル及び周波数の設定について,この規格

への適合性を宣言することはできない。


4

C 1515

:2004 (IEC 60942:2003)

5.1.3

クラス LS の音響校正器は,6.2 に規定する事項を記載した個別の校正票とともに提供されなけれ

ばならない。クラス 1 及びクラス 2 の音響校正器については,指定音圧レベル及び指定周波数が取扱説明

書に記載されていなければならない。

5.1.4

該当するクラスに適合させるために静圧についての補正が必要であるクラス LS 及びクラス 1 の音

響校正器には,それぞれのクラス表示に “C” の文字を付加しなければならない。クラス LS 及びクラス 1

の音響校正器は,該当するクラスに適合させるために,その他の環境条件についての補正を行ってはなら

ない。クラス 2 に適合させるためにいずれかの環境条件についての補正が必要である音響校正器には,そ

のクラス表示に “C” の文字を付加しなければならない。これらに該当する場合には,クラス LS/C,クラ

ス 1/C 及びクラス 2/C と表示する。環境条件を変化させたときに要求事項に適合させるために必要な補正

値については,これを取扱説明書に記載する。

5.1.5

この規格に適合するために静圧についての補正が必要なクラス 1 の音響校正器には,気圧計が附属

品として提供されなければならない。その気圧計は,音響校正器の要求事項への適合性に影響を与えるこ

となく静圧を測定できるものでなければならない。この規格に適合させるために静圧についての補正が必

要なクラス 2 の音響校正器には,補正量が十分に小さく±6.0 kPa の範囲内の静圧の変化に対して補正をし

なくてもこの規格に適合する場合を除き,気圧計(要求事項への適合性に影響を与えることなく静圧を測

定できるもの。

)が附属品として提供されなければならない。この場合,静圧の変化に対して適用する補正

値を取扱説明書に記載し,さらに,海面高さ以外の場所で音響校正器を動作させたときの補正値の計算方

法も記載しなければならない。

備考1.  クラス LS の音響校正器は,通常,実験室の中でだけ使用され,校正器のクラス表示に “C” が

付加されていても,その実験室では静圧を測定する適切な測定器が利用できると考えられる。

したがって,このクラスについては,気圧計を附属品とするような要求事項を規定しない。

2.

気圧計は,基準静圧を基準として,音圧レベルを直接補正できるデータで補正量を与えても

よい。

5.1.6

この規格に適合するために,周囲温度又は相対湿度についての補正が必要なクラス 2 の音響校正器

には,要求事項への適合性に影響を与えることなく,これらの環境条件を測定できる手段が附属品として

提供されなければならない。

5.1.7

音響校正器の構造及び材料は,動作の長期間安定性を保証するようなものであることが望ましい。

5.1.8

この規格に適合するために,音響校正器を特定の向きで使用しなければならない場合には,その向

きを音響校正器本体で識別できるようにする。それが困難な場合には,取扱説明書にその向きを記載し,

本体には,取扱説明書を参照するような表示をしなければならない。

参考  ここでいう“向き”とは,音響校正器が本来の性能を発揮することのできる向きであり,EMC

に関する試験のために 3.10 で定義する“向き”とは異なる。

5.1.9

性能に関するすべての要求事項は,マイクロホンと音響校正器とを結合させてから音圧レベル及び

周波数が安定化した後の音響校正器の動作に適用する。マイクロホンを結合した音響校正器の電源を投入

した後に安定化に要する時間を取扱説明書に記載しなければならない。この時間は,5.4 に規定するどの環

境条件においても,30 秒を超えてはならない。音響校正器及びマイクロホンは,結合する前に周囲の環境

条件と平衡な状態に達しているものとする。

備考  マイクロホンと音響校正器を結合させてから安定するまでの時間は,使用する音響校正器とマ

イクロホンの形式とに依存して変化することがある。

参考  ここでの安定化時間は,マイクロホンと音響校正器とが圧力平衡した後に電源を投入してから


5

C 1515

:2004 (IEC 60942:2003)

音圧レベル及び周波数が安定化するための時間である。

5.1.10

音響校正器の一部で使用者が調整してはいけない箇所は,封印又は表示によって保護しなければな

らない。

5.1.11

この規格の許容限度値には,ISO/IEC Guide : Guide to the expression of uncertainty in measurement の

指針に従い,約 95 %の信頼の水準に対応するように包含係数を 2 として計算した,測定の拡張不確かさを

含む。試験の際に認められる測定の拡張不確かさの最大値を,この規格の

附属書 及び附属書 に規定す

る。音響校正器の製造業者は,該当する許容限度値から測定の拡張不確かさの最大許容値を減ずることに

よって,設計及び製造において利用できる限界値を計算することができる。

5.1.12

この規格の要求事項への適合性は,試験機関の実際の測定の拡張不確かさで広げた測定結果,又は

測定結果と設計目標値との差の絶対値が該当するクラスの許容限度値内であることで実証される。法定計

量の目的において,この規格に規定する許容限度値は,形式評価,初期検査とそれに続く検査での最大許

容誤差に相当すると考えられる。

5.1.13

試験機関における実際の測定の拡張不確かさが,

附属書 及び附属書 に規定する値を超える場

合には,適合性の評価にその測定値を用いてはならない。

5.2

音圧レベル

5.2.1

一般事項

5.2.1.1

音響校正器が発生する音のすべての指定音圧レベルは,0.1 dB 以下の分解能で取扱説明書に記載

する。

5.2.1.2

この規格に規定するすべての要求事項及び許容限度値は,結合したマイクロホンの振動膜面上に

発生する音圧レベルに適用する。

5.2.1.3

音響校正器の主音圧レベルは,指定した形式及び構成のマイクロホンについて,20

µPa を基準と

して 90 dB 以上でなければならない。

5.2.2

発生音の音圧レベル  音響校正器が発生する音の音圧レベルは,20 秒の動作について平均して測

定する。文字 “C” が付加された音響校正器については,必要であれば,4.の基準環境条件での値となるよ

うに音圧レベルの測定値を補正する。実際の測定の不確かさを考慮して広げた指定音圧レベルからの偏差

は,

表 に規定する許容限度値を超えてはならない。これらの許容限度値は,97∼105 kPa,20∼26  ℃及

び相対湿度 40∼65 %の環境条件の範囲で行った測定値に適用する。

参考1.  表 に規定する許容限度値は,本来,基準環境条件での測定値に対して適用されるものであ

るが,上記の範囲内にあるいずれかの環境条件での測定値は,基準環境条件での測定値とみ

なすことができる。

2.

ここでは,音響校正器が発生する音の音圧レベルの測定値を補正するが,実際に音響校正器

を使用するときには,指定音圧レベルを補正することに相当する。

3.

この規格では,

“偏差”  とは,偏差の絶対値を表すものとする。

5.2.3

短時間レベル変動  音圧レベルの変動は, IEC 61672-1 に公称時定数 125 ms と規定する時間重み

付け特性 F で測定し,音響校正器の 20 秒の動作中に一定時間間隔で最低 10 回測定する。実際の測定の不

確かさを考慮して広げた測定値の最大値と最小値との差の半分は,

表 の短時間レベル変動限度値を超え

てはならない。これらの許容限度値は,97∼105 kPa,20∼26  ℃及び相対湿度 40∼65 %の環境条件の範囲

で行った測定値に適用する。

参考  表 に規定する許容限度値は,本来,基準環境条件での測定値に対して適用されるものである

が,上記の範囲内にあるいずれかの環境条件での測定値は,基準環境条件での測定値とみなす


6

C 1515

:2004 (IEC 60942:2003)

ことができる。

  1  基準環境条件近傍での音圧レベル及び短時間レベル変動の許容限度値

音圧レベルの許容限度値    dB

短時間レベル変動の許容限度値    dB

公称周波数範囲    Hz

クラス LS

クラス 1

クラス 2

クラス LS

クラス 1

クラス 2

  31.5 - <160

− 0.50 −

− 0.20 −

   160 - 1

250

0.20 0.40 0.75 0.05 0.10 0.20

>1

250 - 4

000

− 0.60 −

− 0.10 −

>4

000 - 8

000

− 0.80 −

− 0.10 −

  >8 000 - 16

000

− 1.00 −

− 0.10 −

備考1.  音圧レベルの許容限度値は,音響校正器が発生する音の音圧レベルの,測定の拡張不確かさで広げた指

定音圧レベルからの偏差に適用する。

2.

短時間レベル変動の許容限度値は,測定の拡張不確かさで広げた短時間レベル変動の対応する測定値に
適用する。

3.

クラス LS 又はクラス 2 の音響校正器について,表の公称周波数範囲の  “−”  印は,この規格で許容限
度値を規定していないことを示す。

5.2.4

電源供給電圧範囲での音圧レベル  音響校正器が発生する音の音圧レベルの,基準環境条件での公

称供給電圧での測定値に対する偏差を,

取扱説明書に指定する電源供給電圧の範囲にわたり 5.2.2 に従い測

定する。実際の測定の不確かさを考慮して広げた値は,

表 の限度値を超えてはならない。また,この範

囲内のすべての供給電圧で,測定音圧レベルの指定音圧レベルに対する偏差は,

表 の許容限度値を超え

てはならない。

  2  基準環境条件での電源供給電圧が音圧レベルに与える影響の許容限度値

許容限度値    dB

クラス LS

クラス 1

クラス 2

0.05 0.10 0.20

備考  許容限度値は,動作電圧範囲にわたる音響校正器が発生する音の音圧レベルの,測定の拡張不確

かさで広げた,公称供給電圧で測定した音圧レベルからの偏差に適用する。

5.3

周波数

5.3.1

一般事項

5.3.1.1

音響校正器が発生する音の主周波数は,160∼1 250 Hz の範囲内になければならない。指定周波

数は,ISO 266 の 3.1 に規定する厳密な周波数を求めるための式によって計算するか,計算された周波数を

示す ISO 266 

表 による。

5.3.1.2

主音圧レベルは,主周波数で発生できなければならない。

5.3.2

音響校正器が発生する音の周波数  実際の測定の不確かさを考慮して広げた,音響校正器が発生す

る音の周波数の指定周波数からの百分率で表した偏差は,

表 の許容限度値を超えてはならない。これら

の許容限度値は,97∼105 kPa,20∼26  ℃及び相対湿度 40∼65 %の環境条件の範囲で行った測定値に適用

する。

参考  表 に規定する許容限度値は,本来,基準環境条件での測定値に対して適用されるものである

が,上記の範囲内にあるいずれかの環境条件での測定値は,基準環境条件での測定値とみなす

ことができる。


7

C 1515

:2004 (IEC 60942:2003)

  3  基準環境条件近傍での周波数の許容限度値

許容限度値    %

クラス LS

クラス 1

クラス 2

1.0 1.0 2.0

備考1.  許容限度値は,音響校正器が発生する音の周波数の,実際の測定の不確かさを考慮して広げた

指定周波数からの百分率で表した偏差に適用する。

2.

許容限度値は,指定周波数に対する百分率で表している。 

5.4

静圧,周囲温度及び湿度の影響

5.4.1 97

∼105 kPa,20∼26  ℃及び相対湿度 40∼65 %の範囲外の環境条件において,音響校正器は,次に

規定する環境条件の範囲の組合せで,

表 及び表 の基準環境条件での測定値に対する許容限度値内で動

作しなければならず,

表 の許容限度値を超えてはならない。

クラス LS

静圧:

65

∼108 kPa

周囲温度:

+16∼+30  ℃

相対湿度: 25∼90 %

クラス 1

静圧:

65

∼108 kPa

周囲温度:

−10∼+50  ℃

相対湿度: 25∼90 %

ただし,+39  ℃以上で露点を超えるであろう周囲温度と相対湿度との組合せは,適合性評価試験から除

く。

クラス 2

静圧:

65

∼108 kPa

周囲温度:

0

∼+40  ℃

相対湿度: 25∼90 %

備考  クラス 1 及びクラス 2 の音響校正器における環境条件の範囲は, IEC 61672-1 に規定するクラ

ス 1 及びクラス 2 のサウンドレベルメータにおける範囲と同じである。

5.4.2

5.4.1

に規定する環境条件の該当する範囲において,

表 4,表 及び表 の要求事項に適合するが,

表 及び表 に適合させるためには,静圧についての補正が必要であるクラス LS 及びクラス 1 の音響校

正器は,クラス LS/C 又はクラス 1/C と表示しなければならない。同様に,5.4.1 に規定する環境条件の該

当する範囲において,

表 4,表 及び表 に適合するが,表 及び表 に適合させるためには,環境条件

のいずれかについての補正が必要であるクラス 2 の音響校正器は,

クラス 2/C と表示しなければならない。

補正値は,約 95 %の信頼の水準に対応する包含係数で求めた測定の拡張不確かさとともに,取扱説明書に

記載する。各クラスに適合するために必要な,環境条件の測定についての拡張不確かさの最大値も取扱説

明書に記載する。


8

C 1515

:2004 (IEC 60942:2003)

  4  規定する環境条件での音圧レベルの許容限度値

許容限度値    dB

公称周波数範囲    Hz

クラス LS

クラス 1

クラス 2

    31.5 - <160

− 0.50 −

   160 - 1

250

0.20 0.40 0.60

>1

250 - 4

000

− 0.60 −

>4

000 - 8

000

− 0.80 −

  >8 000 - 16

000

− 1.00 −

備考1.  許容限度値は,規定する環境条件(表 の環境条件を除く。

)にわたり音響校正器が発生する音の音圧

レベルの,測定の拡張不確かさで広げた基準環境条件での音圧レベルの測定値からの偏差に適用する。

2.

クラス LS 又はクラス 2 の音響校正器について,表の公称周波数範囲の  “−”  印は,この規格で許容限
度値を規定していないことを示す。 

  5  規定する環境条件での周波数の許容限度値

許容限度値    %

クラス LS

クラス 1

クラス 2

1.0 1.0 2.0

備考1.  許容限度値は,規定する環境条件(表 の環境条件を除く。

)にわたり音響校正器が発生する音

の周波数の,実際の測定の不確かさを考慮して広げた,基準環境条件での周波数の測定値から
の百分率で表した偏差に適用する。

2.

許容限度値は,指定周波数に対する百分率で表している。 

5.5

全ひずみ  実際の測定の不確かさを考慮して広げた,少なくとも 22.5 Hz∼20 kHz の周波数範囲の成

分を対象として測定された全ひずみは,5.4.1 の環境条件の該当する範囲で,

表 の最大値を超えてはなら

ない。

備考  ひずみ計は,信号の基本波成分の大きさに対する不要な成分の大きさの比を指示することがあ

る。この規格で規定する最大ひずみの限度値の場合には,基本波の実効値に対する全ひずみ成

分の実効値の比と信号全体の実効値に対する全ひずみ成分の比との間の差は,測定の不確かさ

に比べ無視できるほど小さい。

  6  全ひずみの最大値

許容限度値    %

公称周波数範囲    Hz

クラス LS

クラス 1

クラス 2

 31.5 - <160

− 4.0 −

  160 - 1

250

2.5 3.0 4.0

>1

250 - 16

000

− 4.0 −

備考1.  許容限度値は,測定の拡張不確かさで広げた,音響校正器が発生する音の全ひずみの最大値に適用する。

2.

クラス LS 又はクラス 2 の音響校正器について,表の公称周波数範囲の  “−”  印は,この規格で許容限
度値を規定していないことを示す。 

5.6

電源  供給電圧がこの規格に従って音響校正器を動作させるために十分な値であることを確認する

手段を備えるか,供給電圧がこの規格に従って音響校正器を動作させるために必要な値以下となったとき

に音を停止しなければならない。

5.7

マイクロホンの仕様及び校正


9

C 1515

:2004 (IEC 60942:2003)

5.7.1

マイクロホンの形式及びアダプタ

5.7.1.1

音響校正器の取扱説明書には,この規格に適合して音響校正器が動作するように設計されたマイ

クロホンの形状を IEC 61094-1 又は IEC 61094-4 の表示方法によって記載するか,

(可能な場合には更に)

製造業者の名称,形式及び構成(例えば,保護グリッドの有無)を記載する。必要なアダプタがある場合

には,取扱説明書に記載する。

5.7.1.2

クラス LS の音響校正器については,指定する形式及び構成のマイクロホンのうち少なくとも一

つは,IEC 61094-1 に規定する標準マイクロホンとする。

参考  JIS C 5515 に規定するⅠ形及びⅡ形の標準コンデンサマイクロホンは,それぞれ,IEC 61094-1

に規定する LS1 形及び LS2b 形の標準マイクロホンに相当するが,JIS C 5515 では IEC 61094-1

に規定する LS2a 形の標準マイクロホンに相当するものを規定していない。

5.7.1.3

クラス 1 及びクラス 2 の音響校正器については,指定する形式及び構成のマイクロホンのうち少

なくとも一つは,IEC 61094-4 に規定する計測用マイクロホンとする。

備考  IEC 61094-1 に規定する標準マイクロホンの要求事項に適合するマイクロホンは,また,IEC 

61094-4

に規定する計測用マイクロホンの要求事項にも適合する。

5.7.2

マイクロホンの感度レベル  指定する形式のマイクロホンについては,次のいずれかの方法によっ

て,マイクロホンの音圧感度レベルを校正できなければならない。

a)  IEC 61094-2

に規定する方法

b)  IEC 61094-5

に規定する方法又はこれに代わる比較方法

5.8

電磁両立性

5.8.1

一般事項  音響校正器は,この規格に規定する無線周波エミッション並びに静電気放電,電源周波

数磁界及び無線周波電磁界に対するイミュニティの要求事項について,適合しなければならない。

5.8.2

無線周波エミッション

5.8.2.1

音響校正器からの無線周波エミッションの電界強度の上限値は,30∼230 MHz の周波数範囲につ

いて距離 10 m で準せん頭値 30 dB(基準は 1

µV/m),230 MHz∼1 GHz の周波数範囲について距離 10 m で

準せん頭値 37 dB(基準は 1

µV/m)とする。

備考1.  電磁両立性についての多くの規格の中で異なる上限値が規定されている。この規格では,

CISPR 61000-6-3

表 の限度値を音響校正器の基礎的な要求事項として採用している。

2.

準せん頭値受信機の性能については,CISPR 16-1 の 4.1.2 に規定されている。

5.8.2.2

取扱説明書に,無線周波エミッションが最大となる音響校正器の動作モードを明記する。

5.8.3

静電気放電に対するイミュニティ

5.8.3.1

音響校正器は,接地電位に対し正及び負の電圧で,4 kV までの接触放電及び 8 kV までの気中放

電に耐えなければならなない。

備考  この要求事項は,JIS C 1000-6-1 の表 の 1.4 に規定されているとおりである。

5.8.3.2

JIS C 1000-6-1

に規定する性能判定基準 B をこれらの試験中及び試験後に適用する。

5.8.3.3

音響校正器は,静電気放電試験を終了した後も完全に動作し,かつ,試験開始以前と同一の状態

でなければならない。

5.8.4

電源周波数磁界及び無線周波電磁界に対するイミュニティ

5.8.4.1

音響校正器は,最低限,次の範囲の電源周波数磁界及び無線周波電磁界の強度についてイミュニ

ティを示さなければならない。

− 26

MHz

∼1 GHz の周波数範囲で,900 Hz の正弦波によって 80 %の振幅変調をした実効値 10 V/m(無


10

C 1515

:2004 (IEC 60942:2003)

変調時)までの電界強度

−  周波数が 50 Hz 及び 60 Hz で,実効値 80 A/m の一様な交流磁界強度

備考1.  この要求事項は,JIS C 1000-6-1 の表 の 1.1 及び JIS C 1000-6-2 の表 の 1.2 の要求事項に

次の変更を加えたものである。

−  無線周波電磁界の範囲を 26 MHz∼1 GHz の範囲に拡張した。

−  変調周波数を 1 kHz から 900 Hz に変更した。

−  電源周波数磁界強度を 80 A/m に増大した。

−  JIS C 1000-6-2 

表 1,備考 3.にある場の強度を減少させた要求事項を除外した。

2.

音響校正器が無変調時の実効値 10 V/m よりも高い電界強度において,この規格の仕様に適合

する場合には,その電界強度を取扱説明書に記載することが望ましい。

5.8.4.2

電源周波数磁界又は無線周波電磁界中に置いた場合,音響校正器の動作状態に変化があってはな

らない。このとき,音響校正器の基準の向きを磁界発生装置の方向に合わせ,マイクロホンを挿入する音

響校正器の開口部は,磁界発生装置の反対側に向ける。電源周波数磁界又は無線周波電磁界のあるときの

音響校正器が発生する音の音圧レベルの測定値の,実際の測定の拡張不確かさを考慮して広げた,

(電)磁

界のないときとの音圧レベルの測定値からの偏差は,クラス LS の音響校正器で 0.15 dB,クラス 1 の音響

校正器で 0.3 dB 及びクラス 2 の音響校正器で 0.5 dB を超えてはならない。複数の音圧レベル及び/又は複

数の周波数を備える音響校正器については,取扱説明書に音響校正器がこの規格に適合すると記載する,

それぞれの周波数と音圧レベルの組合せについて,この要求事項を適用する。

5.8.4.3

取扱説明書には,電源周波数磁界及び無線周波電磁界に対してイミュニティが最小(耐性が最大)

となる動作モード及び(あれば)接続機器の状態を記載する。

6.

機器への表示及び添付文書

6.1

音響校正器への表示  この規格に適合する音響校正器には,本体に表示のための部分を確保し,次

の最低限の事項を明記する。a)  及び b)  は,音響校正器本体に表示する。その他の事項は,音響校正器本

体に表示するか動作中に表示しなければならない。

a)

製造業者若しくは供給者の名称又は登録商標

b)

形式及び製造番号

c)

この規格の規格番号及び発効年

d)

機器のクラス,該当する場合には “C” の文字表示,及び適用する必要がある補正値に対するパラメ

ータ(例えば,静圧)を含む。

e)

クラスの要求事項に適合する音圧レベルと周波数とのすべての組合せ

f)

公称音圧レベル

g)

公称周波数

h)

マイクロホンを装着するために指定する向きがあり本体に表示が可能ならば,その向き

i)

電池駆動であれば,推奨する電池の種類

j)

附属している場合には,アダプタの形式

6.2

クラス LS の音響校正器の個別校正票  クラス LS の音響校正器には,個々の校正票を製造業者又は

供給者が添付する。

校正票には,

音響校正器がこの規格に適合するマイクロホンの形式及び構成について,

指定音圧レベル及び指定周波数を記載する。


11

C 1515

:2004 (IEC 60942:2003)

6.3

取扱説明書  音響校正器には,5.及び 6.1 で要求する事項を記載した取扱説明書を添付する。取扱説

明書には,次の事項も記載する。

a)

適用可能なマイクロホンの形式(及び使用するときの構成)並びに必要なアダプタの形式。それらを

使用したときに音響校正器を正しく機能させるための詳細も含む。

b)

形式及び構成を指定したマイクロホンを音響校正器に結合した場合の,クラス LS の音響校正器につ

いては,

少なくとも公称音圧レベル及び公称周波数。クラス 1 及びクラス 2 の音響校正器については,

指定音圧レベル及び指定周波数。

c)

この規格に適合するために特定の向きで音響校正器を用いなければならいときは,その向き。

d)

すべての指定音圧レベル及び指定周波数の組合せについて,マイクロホンを結合して電源を投入した

後,音圧レベル及び周波数が安定するまでの時間。加えて,マイクロホンと音響校正器の組合せにつ

いて,それらを結合した後,安定化に必要な時間。

e)

主音圧レベル。利用できる音圧レベルが一つの音響校正器については,それを主音圧レベルとする。

f)

主周波数。利用できる周波数が一つの音響校正器については,それを主周波数とする。

g)

音響校正器が動作するように設計された環境条件の範囲,及び適用するのであれば,5.4 に規定する補

正値。補正値には,約 95 %の信頼の水準に対応する測定の拡張不確かさの値も含む。気圧計を附属品

として提供する必要のない,文字 “C” を付加したクラス 2 の音響校正器については,海面高さ以外

の場所で音響校正器を動作させたときの補正値の計算方法。

h)

この規格に適合する音圧レベルと周波数の組合せ。

i)

各音圧レベルの設定において音響校正器を正しく動作させるために,周囲の音圧レベルが十分に低く

なっていることを確認するための推奨手順。

j)

クラス LS の音響校正器については,文字 “C” が付加されているものを含み,結合するマイクロホン

の実効負荷容積の変化による音響校正器が発生する音の音圧レベルの変化。

k)

該当する場合には,使用できる電池の種類,公称動作時間,電池状態表示器の説明と使い方,並びに

公称,最大及び最小供給電圧。該当する場合には,外部電源の接続方法。

l)

文字 “C” が付加されている音響校正器では,要求事項への適合性に影響を与えることなくこれらの

環境条件を測定するための測定の拡張不確かさの最大値。気圧計が附属品として提供されている場合

には,その気圧計を用いて測定した静圧の拡張不確かさ。

m)

気圧計が附属品として提供されていないクラス LS の校正器で静圧の補正が必要な場合,静圧を測定

するために必要な気圧計の詳細。

n)

通常の動作形態。

o)

該当する場合には,5.8 の電磁両立性の要求事項に適合して音響校正器とともに用いることができる,

ケーブル及び附属品。

p)

無線周波電磁界の影響を試験するための,基準の向き。

q)

この規格に適合する無変調時の実効値 10 V/m よりも高い電界強度でこの規格に適合する場合には,そ

の値。

r)

無線周波エミッションが最大となる状態,音圧レベル及び周波数の設定。

s)

電源周波数磁界及び無線周波電磁界に対するイミュニティが最小(耐性が最大)となる動作状態,並

びに該当する場合には,接続機器の状態。

t)

クラスの要求事項に適合しない音圧レベル及び周波数の組合せがある場合には,その組合せにおける

それらの音響特性及び設計目標に対して維持される公称許容限度値。


12

C 1515

:2004 (IEC 60942:2003)

備考  音響校正器がこの規格に規定していない付加的機能を備える場合には,その付加的機能につい

ての設計目標値及び測定の拡張不確かさを含む公称許容限度値を,その用途とともに記載する

ことが望ましい。


13

C 1515

:2004 (IEC 60942:2003)

附属書 A(規定)形式評価試験

A.0

序文

A.0.1

この附属書は,音響校正器について,この規格に規定するすべての要求事項への適合性を評価する

ための試験について規定する。これらの試験は,クラス LS,クラス 1 及びクラス 2 の音響校正器のいずれ

にも適用され,すべての試験機関において同一の方法によって確実に試験が行われることを目的とする。

試験に提出された音響校正器に適用可能な限り,この附属書に規定するすべての試験を実施する。

A.0.2

この規格への適合性は,試験機関の実際の測定の不確かさを考慮して広げた測定値又は測定値の設

計目標からの偏差が,許容限度値内にあることで実証される。これらの試験を行う機関は,ISO/IEC Guide : 

Guide to the expression of uncertainty in measurement

の指針に従い,すべての測定について測定の不確かさを

計算しなければならない。実際の測定の拡張不確かさは,95 %の信頼の水準に対応する包含係数を用いて

計算する。試験機関が 1 回しか測定を行わない場合,その試験機関は,総合的な測定の不確かさへの偶然

性による寄与を推定することになる。推定は,同種の音響校正器に対して過去に行われた何回かの測定に

基づいて求めてもよい。

備考 95 %の信頼の水準を維持するために他の包含係数を用いる必要がある分布でない限り,一般に,

95 %

の信頼の水準は,包含係数 2 で近似される。

A.0.3

この規格への適合性をこの附属書に従って評価するときの測定の拡張不確かさの最大許容値を,こ

の附属書に規定する。試験機関での実際の測定の拡張不確かさがこの最大許容値を超える場合には,この

規格への適合性の評価に,その測定結果を用いてはならない。

A.0.4

この附属書では,測定の拡張不確かさの最大許容値を表で与える。基準環境条件での音響校正器が

発生する音の音圧レベル及び短時間レベル変動については

表 A.1 に,周波数については表 A.2 に示す。規

定する範囲にわたる環境条件での音響校正器が発生する音の全ひずみについては,

表 A.3 に示す。規定す

る範囲にわたる環境条件での音響校正器が発生する音の音圧レベルについては

表 A.4 に,周波数について

表 A.5 に示す。

A.0.5

試験機関は,該当するパラメータについて最新の校正を行った機器を用いて測定する。必要であれ

ば,その校正は,国家標準へのトレーサビリティのあるものとする。

A.1

試験のための供試品

A.1.1

形式評価試験のために同一形式の 5 台の音響校正器を供試品として提出する。試験機関は,試験の

ために,少なくとも,そのうちの 2 台を供試品として選ぶ。その 2 台の供試品の少なくとも 1 台について,

この附属書の手順に従いすべての試験を行う。試験機関は,形式評価のために,第 2 の供試品についても

すべての試験が必要か,限定した試験だけで十分かを判断する。

備考  試験した供試品の数によっては,今後得られるであろう結果を考慮に入れて再検討するために,

形式証明の有効期間を 2 年に限定してもよい。

A.1.2

音響校正器は,該当するすべての附属品(アダプタ,気圧計など)とともに取扱説明書の写しを添

えて試験のために提出する。クラス LS の音響校正器には,個々の校正票を添える。

A.2

指定値


14

C 1515

:2004 (IEC 60942:2003)

A.2.1

主音圧レベルが,本体の 5.2.1.3 に適合していることを確認する。

A.2.2

主周波数が,本体の 5.3.1.1 に適合していることを確認する。

A.3

音響校正器への表示及び添付文書  音響校正器本体上の表示及び添付される取扱説明書に,本体の 6.1

及び本体の 6.3 に規定するすべての事項が記載されていることを確認する。クラス LS の音響校正器につい

ては,校正票が個々に添付され,本体の 6.2 に規定するすべての事項が記載されていることを確認する。

A.4

基準環境条件近傍での性能試験

A.4.1

一般事項

A.4.1.1  A.4

のすべての試験は,本体の 5.2.2 に規定する環境条件の範囲内で行う。

A.4.1.2

文字 “C” が付加され,静圧による補正が必要なクラス LS 及びクラス 1 の音響校正器では,測定

値を基準環境条件での値となるよう,静圧について取扱説明書に記載される補正値を適用する。気圧計が

音響校正器の附属品として提供される場合には,それによって静圧を測定した後,測定値を基準環境条件

での値となるよう,静圧について取扱説明書に記載される補正値を適用する。

A.4.1.3

文字 “C” が付加されたクラス 2 の音響校正器では,測定値を基準環境条件での値となるよう,

静圧,周囲温度及び相対湿度の該当するパラメータについて取扱説明書に記載される補正値を適用する。

使用環境条件を測定する手段が音響校正器の附属品として提供される場合には,それによって環境条件を

測定した後,測定値を基準環境条件での値となるよう,該当するパラメータについて取扱説明書に記載さ

れる補正値を適用する。

A.4.1.4  A.4.3.7

A.4.3.8A.4.5.2A.4.5.4 及び A.4.6.2 の試験を除き,すべての試験は,公称動作電圧か

らの偏差が 20 %以内で,指定する最大電圧及び最小電圧を逸脱しない範囲の動作電圧で行う。

A.4.2

向き  取扱説明書に音響校正器を特定の向きで用いるように指定されているならば,試験は,その

向きで行う。特定の向きが指定されていなければ,A.4.3.3 に規定する音圧レベルの測定は,少なくとも三

つの異なる向きで行う。

A.4.3

音圧レベル

A.4.3.1

この規格に適合すると取扱説明書に記載された各周波数で,取扱説明書で指定する主音圧レベル

について,20 秒間平均して,音響校正器が発生する音の音圧レベルを測定する。

A.4.3.2

クラス LS の校正器については,IEC 61094-1 に規定する標準マイクロホンを用いて測定する。ク

ラス 1 及びクラス 2 の音響校正器については,IEC 61094-4 に規定する計測用マイクロホンを用いて測定

する。

備考1.  IEC 61094-1 に規定する標準マイクロホンの要求事項に適合するマイクロホンは,また,IEC 

61094-4

に規定する計測用マイクロホンの要求事項にも適合する。

2.

音圧レベルの測定値は,挿入電圧法(IEC 61094-2 の 5.3 参照)又はマイクロホンの開放回路

電圧を測定する等価な方法によって求めることが望ましい。

3.

マイクロホンの形式を選択できる場合,IEC 61094-1 又は IEC 61094-4 に従い文字 P で表示さ

れる電気音響性能をもつ形式のものを選択することが望ましい。

A.4.3.3

音圧レベルは,反復を 2 回繰り返し合計 3 回測定する。測定値の算術平均値の,実際の測定の拡

張不確かさを考慮して広げた,対応する指定音圧レベルからの偏差は,本体の

表 の許容限度値を超えて

はならない。実際の測定の拡張不確かさは,

表 A.1 の最大許容値を超えてはならない。


15

C 1515

:2004 (IEC 60942:2003)

A.4.3.4

この規格に適合すると取扱説明書に記載された各周波数で,少なくとももう一つの同一形式の別

の標準マイクロホン又は計測用マイクロホンを用いて A.4.3.3 に従い音圧レベルの測定を繰り返す。

A.4.3.5

複数の音圧レベルを発生できる音響校正器については,この規格に適合すると取扱説明書に記載

された各周波数の各音圧レベルで,一つのマイクロホンを用いて A.4.3.3 に従い音響校正器が発生する音の

音圧レベルを測定する。

A.4.3.6

音響校正器を正常に動作させるために,マイクロホンに到達する周囲の音の音圧レベルが十分に

小さくなるよう,取扱説明書に記載された手順に従う。

A.4.3.7

音圧レベルの測定は,電源電圧を,音響校正器が備える電池状態表示器又は発生音停止機能が働

く最小動作電圧に対して偏差 5 %以内に設定し,マイクロホンを結合したまま(反復をせずに)

,一つのマ

イクロホンを用いて繰り返す。この規格に適合すると取扱説明書に記載された音圧レベルと周波数の次の

組合せについて測定する。

−  主音圧レベルと主周波数

−  最大音圧レベルとその音圧レベルで利用できる最低及び最高周波数

−  最小音圧レベルとその音圧レベルで利用できる最低及び最高周波数

−  最低周波数とその周波数で利用できる最小及び最大音圧レベル

−  最高周波数とその周波数で利用できる最小及び最大音圧レベル

A.4.3.8

基準環境条件の公称電源電圧で音響校正器を動作させたときのマイクロホンの出力電圧のレベル

に対する,動作電圧を減じて音響校正器を動作させたときの,マイクロホンの出力電圧のレベル変化を測

定する。各組合せについて,動作電圧を減じたときの音圧レベルの,実際の測定の拡張不確かさを考慮し

て広げた,基準環境条件の公称電源電圧での音圧レベルからの偏差は,本体の

表 の許容限度値を超えて

はならない。この偏差の,実際の測定の拡張不確かさは,0.04 dB を超えてはならない。また,測定した音

圧レベルの,実際の測定の拡張不確かさを考慮して広げた,指定音圧レベルからの偏差は,本体の

表 

許容限度値を超えてはならない。

備考  A.4.3.8 に規定する不確かさは,表 A.1 の測定の不確かさの最大許容値には既に含まれている。

A.4.3.9

音響校正器が外部電源に接続できるように設計されている場合には,音圧レベルの測定は,最大

許容供給電圧について,主音圧レベル及び主周波数でマイクロホンを結合したまま(反復をせずに)繰り

返す。基準環境条件の公称電源電圧で音響校正器を動作させたときのマイクロホンの出力電圧のレベルに

対する,最大許容供給電圧で音響校正器を動作させたときのマイクロホンの出力電圧のレベル変化を測定

する。最大動作電圧で測定した音圧レベルの,実際の測定の拡張不確かさを考慮して広げた,基準環境条

件の公称電源電圧での音圧レベルからの偏差は,本体の

表 の許容限度値を超えてはならない。この偏差

の,実際の測定の拡張不確かさは,0.04 dB を超えてはならない。また,測定した音圧レベルの,実際の測

定の拡張不確かさを考慮して広げた,指定音圧レベルからの偏差は,本体の

表 の許容限度値を超えては

ならない。

備考  A.4.3.9 に規定する不確かさは,表 A.1 の測定の不確かさの最大許容値には既に含まれている。

A.4.3.10  

同一クラスでこの規格に適合すると取扱説明書に記載されたマイクロホンの形式又はマイクロ

ホンの構成が A.4.3.2 に用いた以外にもある場合には,それらのマイクロホンの形式又は構成について,

A.4.3

の測定を繰り返す。マイクロホンの多様な形式の等価性について,信頼性,有効性が十分である,又

は補正が可能であると判断した場合には,試験機関は,これらの等価な形式の一つの代表的な形式及び構

成のマイクロホンで試験を行えば,

指定するすべての形式及びすべての構成での試験は行わなくてもよい。

A.4.4

音圧レベルの安定性−短時間レベル変動


16

C 1515

:2004 (IEC 60942:2003)

A.4.4.1

音響校正器の空洞内の音圧レベルの短時間レベル変動は,A.4.3.2 で用いたマイクロホンによって,

主音圧レベル及び主周波数で測定する。IEC 61672-1 に規定する時間重み付け特性 F を用いて,20 秒間の

動作中に一定間隔で最低 10 回の測定を行い,

音響校正器が発生する音の音圧レベルの最大値及び最小値を

求める。実際の測定の拡張不確かさを考慮して広げた,音圧レベルの測定値の最大値と最小値との差の半

分は,本体の

表 の許容限度値を超えてはならない。実際の測定の拡張不確かさは,表 A.1 の最大許容値

を超えてはならない

A.4.4.2

短時間レベル変動は,一つのマイクロホンで測定する。

A.4.4.3

複数の音圧レベルを発生できる音響校正器については,主周波数の,この規格に適合すると取扱

説明書に記載された最小音圧レベルで,A.4.4.1 及び A.4.4.2 に従い短時間レベル変動の測定を繰り返す。

表 A.1  基準環境条件近傍での音圧レベル及び短時間レベル変動の測定の拡張不確かさの最大許容値

音圧レベルの測定の不確かさ dB

短時間レベル変動の測定の不確かさ dB

公称周波数範囲 Hz

クラス LS

クラス 1

クラス 2

クラス LS

クラス 1

クラス 2

  31.5 - <160

− 0.20 −

− 0.10 −

160

- 1

250

0.10 0.15 0.35 0.02 0.03 0.05

>1 250 - 4 000

− 0.25 −

− 0.03 −

>4 000 - 8 000

− 0.35 −

− 0.03 −

  >8 000 - 16 000

− 0.50 −

− 0.03 −

備考  クラス LS 又はクラス 2 の音響校正器について,表の公称周波数範囲の  “−”  印は,この規格で許容限度

値を規定していないことを示す。

A.4.5

周波数

A.4.5.1

音響校正器が発生する音の周波数は,A.4.3.2 で用いたマイクロホンによって,この規格に適合す

ると取扱説明書に記載された各周波数について主音圧レベルで測定する。各周波数の測定値の,実際の測

定の拡張不確かさを考慮して広げた,対応する指定周波数からの百分率で表した偏差は,本体の

表 の許

容限度値を超えてはならない。実際の測定の拡張不確かさは,

表 A.2 の最大許容値を超えてはならない。

A.4.5.2

周波数の測定は,電源電圧を,音響校正器が備える電池状態表示器又は発生音停止機能が働く最

小動作電圧に対して偏差 5 %以内に設定し,繰り返す。この規格に適合すると取扱説明書に記載された音

圧レベルと周波数との次の組合せについて,測定する。

−  主音圧レベルと主周波数

−  最大音圧レベルとその音圧レベルで利用できる最低及び最高周波数

−  最小音圧レベルとその音圧レベルで利用できる最低及び最高周波数

−  最低周波数とその周波数で利用できる最小及び最大音圧レベル

−  最高周波数とその周波数で利用できる最小及び最大音圧レベル

A.4.5.3

実際の測定の拡張不確かさを考慮して広げた,各周波数の測定値の対応する指定周波数からの百

分率で表した偏差は,本体の

表 の許容限度値を超えてはならない。実際の測定の拡張不確かさは,音響

校正器のクラスについて

表 A.2 の最大許容値を超えてはならない。

A.4.5.4

音響校正器が外部電源に接続するように設計されている場合には,周波数の測定は,最大許容供

給電圧について,主音圧レベル及び主周波数で繰り返す。実際の測定の拡張不確かさを考慮して広げた,

測定値の対応する指定周波数からの百分率で表した偏差は,

本体の

表 の許容限度値を超えてはならない。

実際の測定の拡張不確かさは,

表 A.2 の最大許容値を超えてはならない。


17

C 1515

:2004 (IEC 60942:2003)

表 A.2  基準環境条件近傍での周波数の測定の拡張不確かさの最大許容値

周波数の測定の不確かさ    %

クラス LS

クラス 1

クラス 2

0.3 0.3 0.3

備考  許容限度値は,音響校正器が発生する音の周波数の,実際の測定の不確かさを考慮して広げた,

指定周波数からの百分率で表した偏差に適用する。

A.4.6

全ひずみ

A.4.6.1

音響校正器が発生する音の全ひずみは,この規格に適合すると取扱説明書に記載された最大及び

最小音圧レベルの各周波数で,A.4.3.2 に用いたマイクロホンによって,少なくとも 22.5 Hz∼20 kHz の周

波数範囲の成分を対象として測定する。

実際の測定の拡張不確かさを考慮して広げた全ひずみの測定値は,

本体の

表 の許容限度値を超えてはならない。実際の測定の拡張不確かさは,表 A.3 の最大許容値を超え

てはならない。

A.4.6.2

全ひずみの測定は,電源電圧を,音響校正器が備える電池状態表示器又は発生音停止機能が働く

最小動作電圧に対して偏差 5 %以内に設定し,繰り返す。この規格に適合すると取扱説明書で記載された

音圧レベルと周波数との次の組合せについて,測定する。

−  最大音圧レベルとその音圧レベルで利用できる最低及び最高周波数

−  最小音圧レベルとその音圧レベルで利用できる最低及び最高周波数

−  最低周波数とその周波数で利用できる最小及び最大音圧レベル

−  最高周波数とその周波数で利用できる最小及び最大音圧レベル

実際の測定の拡張不確かさを考慮して広げた全ひずみの測定値は,本体の

表 の許容限度値を超えては

ならない。実際の測定の拡張不確かさは,

表 A.3 の最大許容値を超えてはならない。

備考1.  全ひずみは,帯域除去フィルタ(ひずみ率計)又は適切な分析器を用いて測定することがで

きる。

2.

マイクロホンの形式を選択できる場合には,IEC 61094-1 又は IEC 61094-4 に従い,文字 P

で表示される電気音響性能をもつ形式のものを選択することが望ましい。

表 A.3  規定する環境条件での全ひずみの測定の拡張不確かさの最大許容値

全ひずみの測定の不確かさ    %

公称周波数範囲    Hz

クラス LS

クラス 1

クラス 2

  31.5 - <160

− 1.0 −

   160 - 1 250

0.5

0.5

1.0

>1 250 - 16 000

− 1.0 −

備考1.  上記の測定の不確かさは,ひずみの百分率で表している。

2.

クラス LS 又はクラス 2 の音響校正器について,表の公称周波数範囲の  “−”  印は,この規格で許容限

度値を規定していないことを示す。 

A.5

環境試験

A.5.1

一般事項

A.5.1.1

取扱説明書に,電池の特定の形式及び種類が指定されている場合には,環境試験は,その電池を

用いて行う。


18

C 1515

:2004 (IEC 60942:2003)

A.5.1.2

音響校正器が発生する音の音圧レベルに対する温度及び湿度の影響を試験する時間を短縮するた

めに,A.5.4 では,A.5.5A.5.6 及び A.5.7 に規定する試験を簡略化した方法を規定する。この短縮試験で

は,音響校正器が発生する音について,温度及び湿度を組み合わせた環境条件で測定する。短縮試験によ

るこの規格への適合性は,試験結果が,本体の

表 及び本体の表 よりも小さくした許容限度値内にある

ことで実証される。音響校正器が短縮試験のすべての項目で小さくした許容限度(A.5.4.7 参照)に適合す

る場合には,この規格に適合するものとみなし,A.5.5A.5.6 及び A.5.7 に規定する試験は必要としない。

音響校正器が A.5.4 の短縮試験のいずれかの項目で小さくした許容限度に適合しない場合には,本体の

表 4

及び本体の

表 の許容限度値内で適合するかどうかを実証するために,A.5.5A.5.6 及び A.5.7 のすべての

試験を行う。

A.5.1.3

文字 “C” が付加されたクラス LS 及びクラス 1 の音響校正器では,測定値を基準環境条件での値

となるよう,静圧について取扱説明書に記載される補正値を適用する。気圧計が音響校正器の附属品とし

て提供されている場合には,それによって静圧を測定する。

備考  気圧計は,測定値を補正するための補正値を直接表示するようなものであってもよい。

A.5.1.4

文字 “C” が付加されたクラス 2 の音響校正器では,測定値を基準環境条件での値となるよう,

静圧,周囲温度及び相対湿度の該当するパラメータについて取扱説明書に記載される補正値を適用する。

環境条件を測定する手段が音響校正器の附属品として提供される場合には,それによって環境条件を測定

する。

備考  “提供する手段”は,測定値を補正するための補正値を直接表示するようなものであってもよ

い。

A.5.2

静圧の影響

A.5.2.1

音響校正器が発生する音の音圧レベルを,主周波数及びこの規格に適合すると取扱説明書に記載

された主周波数より高いすべての周波数の主音圧レベルで,適用される静圧の範囲にわたり測定する。測

定は,必要とする範囲にわたり静圧及び温度係数が既知の,指定する形式及び構成の一つのマイクロホン

を用いて行う。測定中の周囲温度は,基準周囲温度の±2  ℃が望ましく,可能な限り一定に保つ。基準静

圧での相対湿度は,基準相対湿度に対して相対湿度の値で±20 %とする。

備考  ある容積内の湿潤空気について,ある量の湿潤空気を除去して静圧を減少させた場合,又はあ

る量の湿潤空気を追加して静圧を増加させた場合,水蒸気の量が容積内に占める割合は,減少

又は増加する。このため,相対湿度は,最初の状態に対し,減少又は増加する。実用的な理由

から,静圧の影響の試験では,静圧を変化させるために空気の量を除去又は追加することによ

って生じる相対湿度の変化は,補償しない。

A.5.2.2

音圧レベルの測定は,少なくとも五つの静圧で行い,静圧を変化させたときのマイクロホンの出

力電圧のレベルの,基準環境条件でのマイクロホンの出力電圧のレベルに対する偏差を求める。五つの静

圧には,基準静圧並びに最高及び最低静圧を含む。音響校正器を順応させるために,測定の前に各静圧で

少なくとも 10 分間放置する。静圧は,95 %の信頼の水準で求めた実際の拡張不確かさが 0.2 kPa を超えな

い測定が可能で,国家標準へのトレーサビリティのある校正を行った測定器を用いて測定する。

A.5.2.3

測定した音圧レベルは,該当する場合,A.5.1.3 又は A.5.1.4 に規定する方法によって,基準環境

条件での値となるように補正する。該当する場合,静圧,周囲温度及び相対湿度の変化による影響を考慮

して,音圧レベルを測定するマイクロホンの感度レベルを補正する。


19

C 1515

:2004 (IEC 60942:2003)

A.5.2.4

異なる静圧での音圧レベルの測定値(文字 “C” が付加された音響校正器で該当する場合は補正

した値)の,実際の測定の拡張不確かさを考慮して広げた,基準環境条件での測定値からの偏差が本体の

表 及び本体の表 の許容限度値内となる静圧の範囲は,少なくとも取扱説明書に記載する範囲でなけれ

ばならない。その範囲は,音響校正器のクラスについて本体の 5.4.1 に規定する範囲を含んでいなければ

ならない。実際の測定の拡張不確かさは,音響校正器のクラスについて,

表 A.4 の最大許容値を超えては

ならない。

表 A.4  規定する環境条件での音圧レベルの測定の拡張不確かさの最大許容値

音圧れ減るの測定の不確かさ  dB

公称周波数範囲    Hz

クラス LS

クラス 1

クラス 2

  31.5 - <160

− 0.25 −

    160 - 1

250

0.10 0.15 0.20

>1

250 - 4

000

− 0.30 −

>4

000 - 8

000

− 0.35 −

  >8 000 - 16

000

− 0.40 −

備考1.  測定の不確かさは,規定する環境条件にわたり音響校正器が発生する音の音圧レベルの,基準環境条

件での音圧レベルの測定値からの偏差を求める場合に適用する。

2.

この測定の不確かさには,該当する場合,製造業者が提供する補正値の不確かさも含む。

3.

この測定の不確かさには,

表 A.1 に規定する基準環境条件での測定の不確かさは含まない。

4.

クラス LS 又はクラス 2 の音響校正器について,表の公称周波数範囲の  “−”  印は,この規格で許容限

度値を規定していないことを示す。 

A.5.2.5

音響校正器が発生する音の全ひずみを,主周波数のこの規格に適合すると取扱説明書に記載する

最高音圧レベルで,最低静圧にして測定する。

A.5.3

温湿度の変化による影響の試験における順応

A.5.3.1

音響校正器が発生する音の音圧レベル,周波数及び全ひずみについての周囲温度及び相対湿度の

変化による影響を試験するために,音響校正器及び測定用のマイクロホンを,環境試験器内に置く。

A.5.3.2

周囲温度及び相対湿度の変化による影響の試験では,周囲の環境条件に順応させる間,測定用の

マイクロホンを音響校正器に結合させず,音響校正器の電源スイッチは切っておく。

A.5.3.3

測定に先立ち,音響校正器は電源を切り,基準環境条件近傍で安定化させるために 12 時間放置す

る。

A.5.3.4

この安定化の後,周囲温度及び相対湿度を組み合わせた影響の試験及び相対湿度だけの影響の試

験については,測定に先立ち,各測定条件に順応させるために少なくとも更に 7 時間音響校正器及びマイ

クロホンを放置する。周囲温度だけの影響の試験については,この付加的な順応時間は,少なくとも 3 時

間とする。

A.5.3.5

相対湿度に影響を与えることなくマイクロホンと音響校正器とを結合させる装置を試験機関が備

えている場合には,マイクロホンと音響校正器とを結合することによる圧力平衡に必要な時間を経過した

後,測定を行うことができる。このような装置がない場合には,測定を開始する前に,更に 3 時間の順応

時間が必要となる。

A.5.4

周囲温度及び相対湿度の影響の組合せによる短縮試験

A.5.4.1

主音圧レベル及び主周波数で音響校正器が発生する音の音圧レベル及び周波数を,各クラスにつ

いて,次の周囲温度及び相対湿度の組合せで測定する。

クラス LS


20

C 1515

:2004 (IEC 60942:2003)

−  基準環境条件

−  周囲温度 16  ℃及び相対湿度 25 %

−  周囲温度 30  ℃及び相対湿度 90 %

クラス 1

−  基準環境条件

−  周囲温度−10  ℃及び相対湿度 65 %

−  周囲温度 5  ℃及び相対湿度 25 %

−  周囲温度 40  ℃及び相対湿度 90 %

−  周囲温度 50  ℃及び相対湿度 50 %

クラス 2

−  基準環境条件

−  周囲温度 0  ℃及び相対湿度 30 %

−  周囲温度 40  ℃及び相対湿度 90 %

測定中,静圧は基準静圧の+2.0∼−4.0 kPa 以内で可能な限り一定に保つ。

規定する環境条件での温度及び湿度の許容限度値は,±2.5  ℃及び相対湿度の値で±10 %とする。測定

は,必要な範囲にわたり静圧温度及び相対湿度係数が既知の,指定する形式及び構成のマイクロホンの一

つを用いて行う。周囲温度及び相対湿度は,国家標準へのトレーサビリティのある校正をした温度計及び

湿度計を用いて測定する。これらは,適合性の評価に影響を与えないよう,十分な性能でその環境条件を

測定できるものでなければならない。これらの実際の測定の拡張不確かさは,0.5  ℃及び相対湿度の値で

5 %

を超えてはならない。

備考  規定する試験条件の許容限度値には,実際の測定の拡張不確かさを含む。

最初に基準環境条件で音圧レベル及び周波数を測定し,それに続き,規定する温度を下げていく順序で

測定を行う。その後,再び,基準環境条件で測定を行う。

備考  上記の周囲温度と相対湿度との組合せは,利用できる環境試験器で起こり得る露点を考慮して

選択したものである。また,この組合せは,クラス LS,クラス 1 及びクラス 2 の音響校正器の

一般的な適用範囲となる環境条件範囲を反映させたものでもある。

A.5.4.2

音響校正器が発生する音の音圧レベル及び周波数の測定は,周囲温度及び相対湿度を変化させた

ときのマイクロホンの出力信号の電圧のレベル及び周波数の,最初に行った基準環境条件でのマイクロホ

ンの出力信号の電圧のレベル及び周波数に対する偏差を求めて行う。

A.5.4.3

測定した音圧レベルは,該当する場合,A.5.1.3 又は A.5.1.4 に規定する方法によって,基準環境

条件での値となるように補正する。該当する場合,静圧,周囲温度及び相対湿度の変化による影響を考慮

して,音圧レベルを測定するマイクロホンの感度レベルを補正する。

A.5.4.4

複数の音圧レベル及び/又は複数の周波数を発生可能な音響校正器では,この規格に適合すると

取扱説明書に記載された音圧レベルと周波数との次の組合せについて,測定を繰り返す。

−  最大音圧レベルとその音圧レベルで利用できる最低及び最高周波数

−  最小音圧レベルとその音圧レベルで利用できる最低及び最高周波数

−  最低周波数とその周波数で利用できる最小及び最大音圧レベル

−  最高周波数とその周波数で利用できる最小及び最大音圧レベル


21

C 1515

:2004 (IEC 60942:2003)

A.5.4.5

複数の音圧レベル及び/又は複数の周波数を発生可能な音響校正器では,さらに,該当するクラ

スの A.5.4.1 に規定する最高及び最低温度とそれに対応する相対湿度の組合せで,この規格に適合すると取

扱説明書に記載された音圧レベルと周波数との次の組合せについて,測定を繰り返す。

−  主音圧レベルと主周波数

−  最大音圧レベルとその音圧レベルで利用できる最低及び最高周波数

−  最小音圧レベルとその音圧レベルで利用できる最低及び最高周波数

−  最低周波数とその周波数で利用できる最小及び最大音圧レベル

−  最高周波数とその周波数で利用できる最小及び最大音圧レベル

A.5.4.6

音響校正器が発生する音の音圧レベル及び周波数の測定は,周囲温度及び相対湿度を変化させた

ときのマイクロホンの出力信号の電圧のレベル及び周波数の,基準温度及び基準相対湿度でのマイクロホ

ンの出力信号の電圧のレベル及び周波数からの偏差を求めて行う。

A.5.4.7

音圧レベルの測定値(文字 “C” が付加された音響校正器で該当する場合は補正した値)の,実

際の測定の拡張不確かさを考慮して広げた,基準環境条件での最初の測定値からの偏差は,本体の

表 

許容限度値をクラス LS 及びクラス 1 の音響校正器については 0.05 dB,クラス 2 の音響校正器については

0.10 dB

だけ小さくした範囲内に入っていなければならない。周波数の測定値の,実際の測定の拡張不確か

さを考慮して広げた,基準環境条件での最初の測定値に対する偏差は,クラス LS,クラス 1 及びクラス 2

の音響校正器について,本体の

表 の許容限度値を小さくした,それぞれ,0.8 %,0.8 %及び 1.6 %の範囲

内に入っていなければならない。実際の測定の拡張不確かさは,

表 A.4 及び表 A.5 の最大許容値を超えて

はならない。

表 A.5  規定する環境条件での周波数の測定の拡張不確かさの最大許容値

周波数の測定の不確かさ    %

クラス LS

クラス 1

クラス 2

0.3 0.3 0.3

備考  許容限度値は,指定周波数に対する百分率で表している。 

A.5.5

周囲温度の影響

A.5.5.1  A.5.4

に規定する試験の結果によって必要である場合には,主音圧レベル及び主周波数で,該当す

る周囲温度の範囲にわたり,音響校正器が発生する音の音圧レベル及び周波数を測定する。音響校正器が

複数の音圧レベル及び/又は複数の周波数を発生可能な音響校正器では,この規格に適合すると取扱説明

書に記載された音圧レベルと周波数との次の組合せについて,測定を繰り返す。

−  最大音圧レベルとその音圧レベルで利用できる最低及び最高周波数

−  最小音圧レベルとその音圧レベルで利用できる最低及び最高周波数

−  最低周波数とその周波数で利用できる最小及び最大音圧レベル

−  最高周波数とその周波数で利用できる最小及び最大音圧レベル

音圧レベル及び周波数は,必要な範囲にわたり静圧,温度及び相対湿度係数が,既知の指定する形式及

び構成のマイクロホンの一つを用いて測定を行う。測定中,静圧は基準静圧の+2.0∼−4.0 kPa 以内,相

対湿度は基準相対湿度に対して相対湿度の値で±20 %で可能な限り一定に保つ。


22

C 1515

:2004 (IEC 60942:2003)

A.5.5.2

音響校正器が発生する音の音圧レベル及び周波数の測定は,周囲温度を変化させたときのマイク

ロホンの出力信号の電圧のレベル及び周波数の,基準環境条件でのマイクロホンの出力信号の電圧のレベ

ル及び周波数からの偏差を求めて行う。測定は,最低五つの周囲温度で行う。これらの周囲温度には,基

準周囲温度,並びに各クラスにおける最低及び最高周囲温度を含み,20∼26  ℃の範囲外にある他の二つの

周囲温度を含む。

周囲温度は,

国家標準へのトレーサビリティのある校正をした温度計を用いて測定する。

その温度計は,適合性の評価に影響を与えないよう,十分な性能で周囲温度を測定できるものでなければ

ならない。実際の測定の拡張不確かさは,0.5  ℃を超えてはならない。

備考1.  周囲温度を変化させたたびに,A.5.5.1 に規定する許容範囲内に相対湿度が維持されているか

どうかを監視することが重要である。

2.

環境試験器内温度の急激な変化は避けることが望ましい。

3.

機器の温度が変化することによって結露が生じないように注意を払うことが望ましい。

4.

試験機関が 3 時間の順応時間が不十分であると判断する場合には,この時間を延長してもよ

い。

A.5.5.3

測定した音圧レベルは,該当する場合,A.5.1.3 又は A.5.1.4 に規定する方法によって,基準環境

条件での値となるように補正する。該当する場合,静圧,周囲温度及び相対湿度の変化による影響を考慮

して,音圧レベルを測定するマイクロホンの感度レベルを補正する。

A.5.5.4

次の周囲温度範囲は,音響校正器の各クラスについて,本体の 5.4.1 に規定する範囲を含み,少な

くとも取扱説明書に記載する範囲と同じでなければならない。

−  音圧レベルの測定値(文字 “C” が付加された音響校正器で該当する場合には,補正した値)の,実

際の測定の拡張不確かさを考慮して広げた,基準環境条件での音圧レベルの測定値からの偏差が,本

体の

表 の許容限度値内である。

−  周波数の測定値の,実際の測定の拡張不確かさを考慮して広げた,基準環境条件での周波数の測定値

からの百分率で表した偏差が,本体の

表 の許容限度値内である。

実際の測定の拡張不確かさは,それぞれ

表 A.4 及び表 A.5 の最大許容値を超えてはならない。

A.5.6

相対湿度の影響

A.5.6.1  A.5.4

に規定する試験の結果によって必要である場合には,主音圧レベル及び主周波数で,該当す

る相対湿度の範囲にわたり,音響校正器が発生する音の音圧レベルを測定する。音響校正器が複数の音圧

レベル及び/又は複数の周波数を発生可能な音響校正器では,この規格に適合すると取扱説明書に記載さ

れた音圧レベルと周波数との次の組合せについて測定を繰り返す。

−  最大音圧レベルとその音圧レベルで利用できる最低,主及び最高周波数

−  最低周波数とその周波数で利用できる最高音圧レベル

−  最高周波数とその周波数で利用できる最高音圧レベル

音圧レベル及び周波数は,必要な範囲にわたり静圧,温度及び相対湿度係数が既知の,指定する形式及

び構成のマイクロホンの一つを用いて測定を行う。測定中,静圧は基準静圧の+2∼−4.0 kPa 以内,周囲

温度は基準周囲温度の±2  ℃で可能な限り一定に保つ。


23

C 1515

:2004 (IEC 60942:2003)

A.5.6.2

音響校正器が発生する音の音圧レベル及び周波数の測定は,相対湿度を変化させたときのマイク

ロホンの出力信号の電圧のレベル及び周波数の,基準環境条件でのマイクロホンの出力信号の電圧のレベ

ル及び周波数からの偏差を求めて行う。測定は,最低五つの相対湿度で行う。これらには,基準相対湿度,

並びに本体の 5.4.1 に規定する最低及び最高相対湿度を含み,相対湿度で 40∼65 %の範囲外にある他の二

つの相対湿度を含む。相対湿度は,国家標準へのトレーサビリティのある校正をした湿度計を用いて測定

する。その湿度計は,適合性の評価に影響を与えないよう,十分な性能で相対湿度を測定できるものでな

ければならない。実際の測定の拡張不確かさは,相対湿度の値で 5 %を超えてはならない。

A.5.6.3

測定した音圧レベルは,該当する場合,A.5.1.3 又は A.5.1.4 に規定する方法によって,基準環境

条件での値となるように補正する。該当する場合,静圧,周囲温度及び相対湿度の変化による影響を考慮

して,音圧レベルを測定するマイクロホンの感度レベルを補正する。

A.5.6.4

次の相対湿度範囲は,音響校正器の各クラスについて本体の 5.4.1 に規定する範囲を含み,少なく

とも取扱説明書に記載する範囲と同じでなければならない。

−  音圧レベルの測定値(文字 “C” が付加された音響校正器で該当する場合には,補正した値)の,実

際の測定の拡張不確かさを考慮して広げた,基準環境条件での音圧レベルの測定値からの偏差が,本

体の

表 の許容限度値内である。

−  周波数の測定値の,実際の測定の拡張不確かさを考慮して広げた,基準環境条件での周波数の測定値

からの百分率で表した偏差が,本体の

表 の許容限度値内である。

実際の測定の拡張不確かさは,

表 A.4 及び表 A.5 の最大許容値を超えてはならない。

A.5.7

組み合わせた周囲温度及び相対湿度の影響

A.5.7.1  A.5.4

に規定する試験の結果によって必要である場合には,主音圧レベル,主周波数で音響校正器

が発生する音の音圧レベル及び周波数を,各クラスについて次の周囲温度及び相対湿度の組合せで測定す

る。

クラス LS

−  基準周囲温度及び基準相対湿度

−  周囲温度 16  ℃及び相対湿度 25 %

−  周囲温度 30  ℃及び相対湿度 90 %

クラス 1

−  基準周囲温度及び基準相対湿度

−  周囲温度−10  ℃及び相対湿度 65 %

−  周囲温度 40  ℃及び相対湿度 90 %

クラス 2

−  基準周囲温度及び基準相対湿度

−  周囲温度 0  ℃及び相対湿度 30 %

−  周囲温度 40  ℃及び相対湿度 90 %

公称周囲温度及び公称相対湿度の許容限度値は,それぞれ,±2.5  ℃及び相対湿度の値で±10 %とする。

A.5.7.2

測定は,必要な範囲にわたり静圧,温度及び相対湿度係数が既知の,指定する形式及び構成のマ

イクロホンの一つを用いて行う。測定中,静圧は基準静圧の+2.0∼−4.0 kPa の範囲で可能な限り一定に

保つ。実際の測定の拡張不確かさは,0.5  ℃及び相対湿度の値で 5 %を超えてはならない。

備考  規定する試験条件の許容限度値には,実際の測定の拡張不確かさを含む。


24

C 1515

:2004 (IEC 60942:2003)

A.5.7.3

音響校正器が発生する音の音圧レベル及び周波数の測定は,周囲温度及び相対湿度を変化させた

ときのマイクロホンの出力信号の電圧のレベル及び周波数の,基準環境条件でのマイクロホンの出力信号

の電圧のレベル及び周波数からの偏差を求めて行う。周囲温度及び相対湿度は,国家標準へのトレーサビ

リティのある校正をした温度計及び湿度計を用いて測定する。これらは,適合性の評価に影響を与えない

よう,十分な性能で試験環境条件を測定できるものでなければならない。

A.5.7.4

測定した音圧レベルは,該当する場合,A.5.1.3 又は A.5.1.4 に規定する方法によって,基準環境

条件での値となるように補正する。該当する場合,静圧,周囲温度及び相対湿度の変化による影響を考慮

して,音圧レベルを測定するマイクロホンの感度レベルを補正する。

A.5.7.5

音圧レベルの測定値(文字 “C” が付加された音響校正器で該当する場合は補正した値)の,実

際の測定の拡張不確かさを考慮して広げた,基準環境条件での測定値からの偏差は,本体の

表 の許容限

度値内に入っていなければならない。周波数の測定値の,実際の測定の拡張不確かさを考慮して広げた,

基準環境条件での測定値からの偏差は,本体の

表 の許容限度値内に入っていなければならない。実際の

測定の拡張不確かさは,

表 A.4 及び表 A.5 の最大許容値を超えてはならない。

A.6

電磁両立性

A.6.1

一般事項

A.6.1.1

音響校正器の個々の構成にとって不可能でない限り,A.6 に規定する試験を行う。A.6 に規定する

試験が不可能な場合には,等価な別の試験で代用する。

A.6.1.2

試験中,音響校正器は,行われる試験に対して適切であると取扱説明書に指定する動作モードに

設定する。適切な電池又は外部電源を用いて,音響校正器を動作させる。

A.6.1.3

試験を行うために必要な装置及び試験方法の詳細については,ほとんどが他の規格に規定されて

おり,A.6 では付加的な要求事項を規定する。関連するすべての試験については,本体の 2.に示す規格を

引用する。

A.6.1.4

電磁場及び静電場のパラメータの測定の不確かさは,該当する規格に規定される。音響校正器を試

験する機関の実際の測定の拡張不確かさは,A.6 に規定する最大許容値を超えてはならない。

A.6.2

無線周波エミッション

A.6.2.1

音響校正器は,調査する周波数範囲で無線周波数電磁界のエミッションが最大になるとして取扱

説明書に指定する構成及び設定とする。

A.6.2.2

無線周波エミッションの測定は,CISPR 22 の 6.及び 10.の規定に従って行う。エミッションのす

べての測定値は,CISPR/IEC 61000-6-3 の table 1 のエンクロージャポートについての要求事項に適合しな

ければならない。

A.6.2.3

音響校正器は,まず,取扱説明書に指定する基準の向きで試験する。指定する一つの形式のマイ

クロホンを,音響校正器に結合しておく。

A.6.2.4  A.6.2.1

及び A.6.2.3 の構成を維持したままで,音響校正器を少なくとも他の一つの向きにして無

線周波エミッションを測定する。その向きは,使用する無線周波電磁界測定システムで利用できる位置の

制約の中で,基準の向きに対して互いに直交する向きとする。

A.6.2.5

音響校正器の位置を固定するための器具など(該当するなら,マイクロホン及びケーブルを含む。

は,音響校正器からの無線周波エミッションの測定に著しい影響を与えるものであってはならない。


25

C 1515

:2004 (IEC 60942:2003)

A.6.2.6

音響校正器がケーブルを接続するコネクタを備えている場合には,無線周波エミッションのすべ

ての試験は,接続可能なすべてのケーブルを接続して行う。音響校正器の製造業者がそのケーブルで音響

校正器に接続する機器を提供していなければ,すべてのケーブルは終端せずに放置し,CISPR 22 の 8.に従

い配置する。音響校正器の製造業者が音響校正器に接続する機器を提供している場合には,そのすべての

機器をケーブルで互いに接続して試験する。

A.6.3

静電気放電に対するイミュニティ

A.6.3.1

静電気放電についての試験に必要な装置及び方法は,JIS C 1000-4-2 に規定されている。

A.6.3.2

音響校正器に機器を接続できるコネクタがあるが通常の動作モードでは接続する必要がなければ,

静電気放電試験中,ケーブルは接続しない。コネクタ又は音響校正器の外側表面から窪んでいるピンに対

して,放電は行わない。

A.6.3.3

試験中に音響校正器の位置を固定するための器具などは,静電気放電試験で必要な音響校正器の

部分を隠してはならない。また,音響校正器の試験に影響を与えるものであってはならない。指定する一

つの形式のマイクロホンを音響校正器に結合し,音響校正器を,主音圧レベルの主周波数での通常使用状

態となるように取扱説明書に従って設定する。

A.6.3.4

音響校正器の該当する部分に対して,要求されるすべての極性及び電圧の接触放電及び気中放電

を,それぞれ 10 回ずつ印加する。

備考  放電の印加を繰り返す前に行われた試験の影響を除去するために,音響校正器は完全に除電さ

れていることを確認することが望ましい。

A.6.3.5

放電の後,音響校正器は,放電前と同じ動作状態に復帰していなければならない。試験を通して,

性能の非量的変化は許容する。

A.6.3.6

取扱説明書に放電試験後の性能の劣化又は機能の損失を記載したとしても,この性能の劣化又は

機能の損失には,恒久的な動作の制約を含んではならない。

A.6.4

電源周波数磁界及び無線周波電磁界に対するイミュニティ

A.6.4.1

無線周波電磁界についての試験に必要な装置及び方法は,JIS C 1000-4-3 に規定されている。

A.6.4.2

最初に,マイクロホン又は“リモートマイクロホン”アダプタを音響校正器に結合して,取扱説

明書に指定する基準の向きで試験を行う。音響校正器は,主音圧レベル及び主周波数で動作するように設

定する。電磁界が存在しないときの発生音の音圧レベルを記録する。

備考  マイクロホンへの電磁界の影響を可能な限り除去するために,非金属性の管を含む“リモート

マイクロホン”アダプタを,対象とする音響校正器の置かれた場所よりも電界強度が小さい場

所に設置したマイクロホンと音響校正器との間に挿入してもよい。

A.6.4.3

無線周波電磁界に対するイミュニティの試験は,JIS C 1000-4-3 の 8.に従い,連続掃引周波数又

は離散周波数で行う。離散周波数について JIS C 1000-4-3 に規定する 1 %の増分は,500 MHz 未満の周波

数については 4 %まで,その他のすべての周波数については 2 %まで増やしてもよい。各周波数での照射

時間は,試験対象音響校正器に対して十分なものとする。限られた数の離散周波数での試験は,音響校正

器が規定範囲内のすべての周波数でこの規格に適合していることを十分に証明するものではない。

備考  JIS C 1000-4-3 に規定する 1 %の離散周波数の増分は,他の規格の要求事項に対する適合性を評

価する場合に必要なことがある。


26

C 1515

:2004 (IEC 60942:2003)

A.6.4.4

音響校正器がケーブルを接続するコネクタを備えている場合には,無線周波電磁界に対するイミ

ュニティのすべての試験は,接続可能なすべてのケーブルを接続して行う。音響校正器の製造業者がその

ケーブルで音響校正器に接続する機器を提供していなければ,すべてのケーブルは終端せずに放置し,

CISPR 22

の 8.に従い配置する。

音響校正器の製造業者が音響校正器に接続する機器を提供している場合に

は,そのすべての機器をケーブルで互いに接続して試験する。

A.6.4.5

マイクロホンが電源周波数磁界の影響を受けないような方法でマイクロホンを音響校正器に結合

して,本体の 5.8.4.1 の規定に従い,電源周波数磁界の試験を行う。取扱説明書に指定する形式の一つのマ

イクロホンを用いる。

A.6.4.6  A.6.4.2

及び A.6.4.4 の構成を維持したままで,音響校正器を少なくとも他の一つの向きにして試

験する。その向きは,使用する無線周波電磁界放射システムで利用できる位置の制約の中で,基準の向き

に対して互いに直交する向きとする。

A.6.4.7

試験中にマイクロホンに到達する周囲騒音の音圧レベルを十分に低くして,音響校正器が意図し

た動作をするように,取扱説明書に記載する手順に従う。試験中,音響校正器は,完全に動作を維持し,

試験開始前と同一状態を保持しなければならない。

電源周波数磁界又は無線周波電磁界のあるときの音響校正器が発生する音の音圧レベルの測定値の,実

際の測定の拡張不確かさを考慮して広げた,

(電)磁界のないときとの音圧レベルの測定値からの偏差は,

本体の 5.8.4.2 の要求事項を超えてはならない。実際の測定の拡張不確かさは,すべてのクラスについて,

0.05 dB

を超えてはならない。この不確かさには,

(電)磁界の測定による寄与は含まない。

A.6.4.8

主音圧レベル及び主周波数以外の音圧レベル及び/又は周波数で,この規格に適合していると取

扱説明書に記載する場合には,電源周波数磁界及び無線周波電磁界に対するイミュニティの試験は,次に

従い繰り返す。

−  単一周波数で複数の音圧レベルを発生可能な音響校正器については,この規格に適合すると取扱説明

書に記載されたすべての音圧レベルで試験する。

−  単一音圧レベルで複数の周波数を発生可能な音響校正器については,この規格に適合すると取扱説明

書に記載されたすべての周波数で試験する。

−  複数の周波数で複数の音圧レベルを発生可能な音響校正器については,この規格に適合すると取扱説

明書に記載された最小音圧レベルを,この規格に適合すると取扱説明書に記載されたすべての周波数

で試験する。

−  複数の周波数で複数の音圧レベルを発生可能な音響校正器については,この規格に適合すると取扱説

明書に記載されたすべての音圧レベルを主周波数で試験する。

A.6.4.9

それぞれの場合について,電源周波数磁界又は無線周波電磁界のあるときの音響校正器が発生す

る音の音圧レベルの測定値の,実際の測定の拡張不確かさを考慮して広げた,

(電)磁界のないときとの音

圧レベルの測定値からの偏差は,本体の 5.8.4.2 の要求事項を超えてはならない。実際の測定の拡張不確か

さは,すべてのクラスについて,0.05 dB を超えてはならない。この不確かさには,

(電)磁界の測定によ

る寄与は含まない。


27

C 1515

:2004 (IEC 60942:2003)

附属書 B(規定)定期試験

B.0

序文

B.0.1

この附属書は,定期試験で行われる試験について規定し,クラス LS,クラス 1 及びクラス 2 の音響

校正器のいずれにも適用される。適用可能な限り,この附属書に規定するすべての試験を実施する。

B.0.2

この規格への適合性は,試験機関の実際の測定の不確かさを考慮して広げた測定値又は測定値の設

計目標からの偏差が,許容限度値内にあることで実証される。これらの試験を行う機関は,ISO/IEC Guide :

Guide to the expression of uncertainty in measurement

の指針に従い,すべての測定について測定の不確かさを

計算しなければならない。実際の測定の拡張不確かさは,95 %の信頼の水準に対応する包含係数を用いて

計算する。試験機関が 1 回しか測定を行わない場合,その試験機関は,総合的な測定の不確かさへの偶然

性による寄与を推定することになる。推定は,同種の音響校正器に対して過去に行われた何回かの測定に

基づいて求めてもよい。

備考 95 %の信頼の水準を維持するために他の包含係数を用いる必要がある分布でない限り,一般に,

95 %

の信頼の水準は,包含係数 2 で近似される。

B.0.3

この附属書に規定する試験によってこの規格への適合性を評価するときの測定の拡張不確かさの最

大許容値は,

附属書 と同じである。試験機関での実際の測定の拡張不確かさがこの最大許容値を超える

場合には,この規格への適合性の評価に,その測定結果を用いてはならない。

B.0.4

法定計量の目的で行う定期試験は,

附属書 に規定する試験に相当する。これらの試験は,初期検

査及びそれに続く検査の両方に適用する。

附属書 の試験に合格した後,国内法規などに基づき,望まし

い場合には,音響校正器に検定証印の表示を行ってもよい。

B.0.5

試験機関は,該当するパラメータについて最新の校正を行った機器を用いて測定する。必要であれ

ば,その校正は,国家標準へのトレーサビリティのあるものとする。

B.1

試験のための供試品  音響校正器は,試験機関が必要とする場合には,附属品(アダプタ,気圧計な

ど)とともに取扱説明書の写しを添えて試験のために提出する。クラス LS の音響校正器には,個々の校

正票を添える。

B.2

事前検査  測定に先立ち,音響校正器及びすべての附属品を目視検査し,正常に動作することを確認

する。取扱説明書に規定する方法によって,音響校正器の電源電圧が取扱説明書に規定する動作範囲内で

あることを確かめる。

B.3

性能試験

B.3.1

向き  取扱説明書に音響校正器を特定の向きで用いるように指定されている場合には,試験は,そ

の向きで行う。

B.3.2

環境条件

B.3.2.1   B.3

のすべての試験は,80∼105 kPa,20∼26  ℃  及び相対湿度 25∼70 %の環境条件の範囲内で行

う。


28

C 1515

:2004 (IEC 60942:2003)

B.3.2.2  

文字 “C” が付加されたクラス LS 及びクラス 1 の音響校正器では,該当する場合,測定値を基準

環境条件での値となるよう,静圧について取扱説明書に記載される補正値を適用する。気圧計が音響校正

器の附属品として提供される場合には,それによって静圧を測定する。

備考  気圧計は,基準静圧を基準として,音圧レベルを直接補正できるデータで補正量を与えてもよ

い。

B.3.2.3

文字 “C” が付加されたクラス 2 の音響校正器では,該当する場合,測定値を基準環境条件での

値となるよう,静圧,周囲温度及び相対湿度の該当するパラメータについて取扱説明書に記載される補正

値を適用する。使用環境条件を測定する手段が音響校正器の附属品として提供される場合には,それによ

って環境条件を測定する。

備考  “提供する手段”は,基準静圧を基準として,音圧レベルを直接補正できるデータで補正量を

与えてもよい。

B.3.3

附属品  音響校正器に気圧計が附属品として提供される場合には,音響校正器が発生する音の音圧

レベルの測定に先立ち,指示値を校正された精密気圧計と比較して気圧計の検査を行い読値を記録する。

音響校正器の取扱説明書に静圧測定に関する許容限度値が記載されている場合には,静圧の読値は,取扱

説明書の許容限度値内でなければならない。

備考  気圧計の一つの静圧だけでの検査は,その他の静圧での性能について情報を得ることができな

い。提供される気圧計の指示値を,校正された精密気圧計と該当する静圧範囲にわたって比較

するのがよい。OIML 国際勧告 R97 に適切な試験手順が記載されている。

B.3.4

音圧レベル

B.3.4.1  

音響校正器にマイクロホンを結合し,マイクロホン及び音響校正器が安定化するよう取扱説明書に

指定する時間をおく。その後,主音圧レベル及び主周波数について,20 秒間平均して,音響校正器が発生

する音の音圧レベルを測定する。クラス LS の校正器については,IEC 61094-1 に規定する標準マイクロホ

ンを用いて測定する。クラス 1 及びクラス 2 の音響校正器については,IEC 61094-4 に規定する計測用マ

イクロホンを用いて測定する。

備考  IEC 61094-1 に規定する標準マイクロホンの要求事項に適合するマイクロホンは,また,IEC 

61094-4

に規定する計測用マイクロホンの要求事項にも適合する。

B.3.4.2 

音響校正器を正常に動作させるために,マイクロホンに到達する周囲の音の音圧レベルが十分小さ

くなるよう,取扱説明書に記載された手順に従う。

B.3.4.3 

音圧レベルの測定は,次の方法のいずれかによって行う。

B.3.4.3.1 

マイクロホン法  試験対象音響校正器が発生する音の音圧レベルを,校正されたマイクロホン又

はマイクロホンシステムを用いて測定する。挿入電圧法(IEC 61094-2 参照)又はマイクロホンの開放回

路電圧を測定する等価な方法を用いてもよい。

備考  試験機関は,国家標準への二つの独立したトレーサビリティ体系を維持することが望ましい。

一つは,マイクロホン又はマイクロホンシステムによるものであり,もう一つは,音響校正器

のような試験機関独自の校正された装置によるものである。この附属書に従う試験の前後に,

校正されたマイクロホン又はマイクロホンシステムの性能を,試験機関独自の装置を用いて検

証することが望ましい。

B.3.4.3.2 

音響校正器比較法  試験対象音響校正器が発生する音の音圧レベルを,校正された音響校正器が

発生する音の音圧レベルと比較して測定する。

備考1.  試験機関は,国家標準への二つの独立したトレーサビリティ体系を維持することが望ましい。


29

C 1515

:2004 (IEC 60942:2003)

一つは,校正された音響校正器によるものであり,もう一つは,別の音響校正器若しくはマ

イクロホン又はマイクロホンシステムのような試験機関独自の装置によるものである。この

附属書に従う試験の前後に,校正された音響校正器の性能を,試験機関独自の装置を用いて

検証することが望ましい。

2.

校正された音響校正器が,試験対象音響校正器と同一の音圧レベル及び周波数の音を発生で

きない場合には,試験機関は,対象とするすべての周波数で,測定システムのレベル直線性

と周波数特性とを確保する必要がある。

B.3.4.4 

測定

B.3.4.4.1

  B.3.4.3.1 又は B.3.4.3.2 に規定するいずれかの方法によって,主周波数の主音圧レベルは,反復

を 2 回繰り返し合計 3 回測定する。

測定値の算術平均値の,

実際の測定の拡張不確かさを考慮して広げた,

対応する指定音圧レベルからの偏差は,本体の

表 の許容限度値を超えてはならない。実際の測定の拡張

不確かさは,

表 A.1 の最大許容値を超えてはならない。

B.3.4.4.2

  複数の周波数の音を発生できる音響校正器では,この規格に適合すると取扱説明書に記載され

た最高及び最低周波数で,主音圧レベルの測定を繰り返す。

B.3.4.4.3

  この規格に適合すると取扱説明書に記載されたすべての音圧レベル及び周波数の組合せについ

て,音圧レベルの測定を,マイクロホンを結合したまま(反復をせずに)

,繰り返す。各測定値の,実際の

測定の拡張不確かさを考慮して広げた対応する指定音圧レベルからの偏差は,本体の

表 の許容限度値を

超えてはならない。実際の測定の拡張不確かさは,

表 A.1 の最大許容値を超えてはならない。

備考1.  試験は,通常,一つの形式のマイクロホンだけで行う。

2.

同一音響校正器の連続した定期試験で用いるマイクロホンの形式は,以前の試験と同一のも

のを用いることが望ましい。感度調整が備えられていない音響校正器では,この試験手順に

よって長期安定性に関する情報を得ることができる。

B.3.5

周波数  音響校正器が発生する音の周波数は,B.3.4 で用いたマイクロホンによって,主音圧レベル

で,この規格に適合すると取扱説明書に記載された各周波数について測定する。各周波数の測定値の,実

際の測定の拡張不確かさを考慮して広げた対応する指定周波数からの百分率で表した偏差は,本体の

表 3

の許容限度値を超えてはならない。実際の測定の拡張不確かさは,

表 A.2 の最大許容値を超えてはならな

い。

B.3.6

全ひずみ  音響校正器が発生する音の全ひずみは,この規格に適合すると取扱説明書に記載された

最大及び最小音圧レベルの各周波数で,B.3.4 で用いたマイクロホンによって,少なくとも 22.5 Hz∼20 kHz

の周波数範囲の成分を対象として測定する。実際の測定の拡張不確かさを考慮して広げた全ひずみの測定

値は,

表 の最大値を超えてはならない。実際の測定の拡張不確かさは,表 A.3 の最大許容値を超えては

ならない。

備考1.  全ひずみは,帯域除去フィルタ(ひずみ率計)又は適切な分析器を用いて測定することがで

きる。

2.

マイクロホンの形式を選択できる場合には,IEC 61094-1 又は IEC 61094-4 に従い,文字 P

で表示される電気音響性能をもつ形式のものを選択することが望ましい。


30

C 1515

:2004 (IEC 60942:2003)

B.4

指定以外の形式のマイクロホンに対する音響校正器の校正  B.3 は,特定の形式のマイクロホンを用

いて,定期試験において,音響校正器のこの規格への適合性を評価するのに必要な試験を述べている。規

格への適合性の評価に加えて,音圧レベル,周波数及び全ひずみの測定値を明記して,特定の形式以外の

マイクロホンに対する音響校正器の校正が必要となることもある。この場合,その形式のマイクロホンを

用いて B.3 に規定する方法で測定を行う。音響校正器の校正に追加されたマイクロホンの形式は,特定の

形式の音響校正器に対して用いることを意図したものでなければならない。用いた測定方法,得られた測

定値及び実際の測定の拡張不確かさを試験報告書に記載する。

B.5

試験報告書  B.5 は規定ではなく,推奨事項である。試験機関の発行する報告書の内容は,国内法規

などに依存して様々である。しかしながら,音響校正器の試験の後,試験機関は,少なくとも次の事項を

記載した試験報告書を発行することが望ましい。

a)

試験を実施した機関の名称及び所在地。

b)

音響校正器の製造業者又は供給者の名称及び音響校正器の形式。

c)

音響校正器の製造番号と使用したアダプタ。

d)

使用したマイクロホンの製造業者又は供給者の名称,並びにマイクロホンの形式及び構成。

e)

定期試験に提出された音響校正器の形式が,この規格の

附属書 に規定する形式評価試験に合格して

いることを公に示す文書の提示の有無。

f)

音響校正器が,この規格の

附属書 の規定に従い試験されたという記述。

g)

音響校正器の形式が,この規格の

附属書 に規定する形式評価試験に合格している文書が公に示され

ており,

附属書 に規定する試験に合格した場合には,“形式評価試験の証明に責を負う試験機関が,

この音響校正器の形式が JIS C 1515 : 2004 (IEC 60942 : 2003)  の

附属書 に規定する形式評価試験に

合格していることを公に示しており,試験に供された音響校正器は,JIS C 1515 : 2004 (IEC 60942 :

2003)

のクラス X のすべての要求事項に適合していると考えられる。

”という記述。この結論を得る

根拠となる,公示された文書を明示することが望ましい。

h)

音響校正器の形式が,この規格の

附属書 に規定する形式評価試験に合格している文書が示されてい

ないが,

附属書 に規定する試験に合格した場合には,“試験に供された音響校正器は,試験を実施

した環境条件において,音圧レベル,周波数及び全ひずみについての定期試験を規定した JIS C 1515 :

2004 (IEC 60942 : 2003)

附属書 に規定するクラス X の要求事項への適合性を示した。しかし,形

式評価試験の証明に責を負う試験機関が,この音響校正器の形式が JIS C 1515 : 2004 (IEC 60942 :

2003)

附属書 に規定する形式評価試験に合格していることを公に示していることが確認できない

ため,この音響校正器の JIS C 1515 : 2004 (IEC 60942 : 2003)  の要求事項への適合性について一般的な

結論を出すことはできない。

”という記述。

i)

定期試験を行った年月日。

j)

測定に用いた方法。

k)

測定の拡張不確かさを添えた平均音圧レベルの測定値。文字 “C” が付加された音響校正器では,基

準環境条件での値に補正した値。補正した場合には,環境条件による補正に用いた補正値の根拠(取

扱説明書又は,例えば,気圧計というような機器)

l)

測定の拡張不確かさを添えた周波数及び全ひずみの測定値。

m)

試験時の環境条件。

n)

音響校正器又は提供される気圧計に調整を加えた場合には,調整を加える前に観測された指示値又は


31

C 1515

:2004 (IEC 60942:2003)

音圧レベルの測定値。

o)

試験を行った条件で,該当するクラスについて音響校正器がこの規格の

附属書 の要求事項に適合し

なかった場合には,不適合であったことを示す記述。

p)

該当する場合,B.4 に従い追加した,特定の形式以外のマイクロホンに対する,測定の拡張不確かさ

を添えた音圧レベル,周波数及び全ひずみの値。


32

C 1515

:2004 (IEC 60942:2003)

附属書 C(規定)形式評価試験報告書の様式

C.0

序文

C.0.1

法定計量制度のもとで試験に提出された音響校正器は,この規格の要求事項に適合しなければなら

ない。

C.0.2

法定計量の目的で行う形式評価試験の最大許容誤差  (maximum permissible error)  は,この規格に規

定する許容限度値に相当する。

C.0.3

この附属書は,形式証明のために提出された音響校正器の試験結果の提示方法を,様式を標準化し

た形式評価試験報告書として規定する。形式評価試験は,この規格の

附属書 に規定されており,形式証

明に当たっては,該当するすべての試験を行わなければならない。

C.0.4

試験機関は,形式評価試験に適合した音響校正器の形式を公に示すことが望ましい。

C.1

表示  この規格の附属書 の試験に合格した後,国内法規などに基づき,本体の 6.1 に規定する表示

に加え,音響校正器に形式証明の表示を行ってもよい。

C.2

試験のための提出物

C.2.1

形式評価試験に提出する同一形式の音響校正器の台数は,A.1.1 に従う。試験機関は,試験のために,

少なくともそのうちの 2 台を供試品として選ぶ。その 2 台の供試品の少なくとも 1 台について,この附属

書の手順に従いすべての試験を行う。試験機関は,形式評価のために,第 2 の供試品についてもすべての

試験が必要か,限定した試験だけで十分かを判断する。

備考  試験した供試品の数によっては,今後得られるであろう結果を考慮に入れて再検討するために,

形式証明の有効期間を 2 年に限定してもよい。

C.2.2

音響校正器は,取扱説明書に記載するすべての附属品(アダプタ,気圧計など)とともに提出する。

C.2.3

クラス LS の音響校正器には,

本体の 6.2 に規定するすべての事項を記載した個別の校正票を添える。

C.2.4

音響校正器には,取扱説明書を添える。

C.3

形式評価試験報告書

C.3.1

この規格の

附属書 による音響校正器の形式評価試験についての,形式評価試験報告書の様式を

C.3.4

以降に示す。形式評価試験報告書は二つの部からなる。第 1 部は,報告の概要と適合性に関する記述

からなり,この規格に規定する事項がすべて明示されているかも検証する。第 2 部には,試験結果の詳細

を記載する。報告書のこれら二つの部は,同じ国の異なる機関によって作成されてもよい。また,第 2 部

のすべての試験を一つの機関で行う必要はなく,複数の機関が分担して行うことも可能である。いずれの

場合であっても,それぞれの機関は,それぞれが行った部分の形式評価試験報告書について責を負う。試

験を行ったそれぞれの機関の正式名称及び所在地を明記しなければならない。第 2 部については,形式評

価試験報告書の中で,それぞれの試験を行った機関を明確にする。

C.3.2  C.3.4

以降に示す内容に加え,次の事項を形式評価試験報告書の各ページの上部余白に記載する。

−  JIS C 1515 : 2004 (IEC 60942 : 2003)

附属書 の引用

−  報告書としてのページ番号


33

C 1515

:2004 (IEC 60942:2003)

−  測定者名又はそれを示す略記号など

−  試験を行った年月日

−  報告書の識別番号

それぞれの表に,試験対象音響校正器の製造番号,アダプタ及び試験に使用したマイクロホンの情報を

明記する。

C.3.3

該当する場合には,試験対象音響校正器の各試料ごとにページを分けて記載する。

C.3.4

第 2 部の表は,記載されるべき結果の詳細を示す。例えば,複数の音圧レベル及び/又は複数の周

波数の音を発生できる音響校正器の周波数及び音圧レベルに対応させるために,試験対象音響校正器によ

っては,適宜,表を拡張するか複製することが必要となる。


34

C 1515

:2004 (IEC 60942:2003)

音響校正器

形式評価試験報告書

報告書番号 ............................

音響校正器の形式識別子 ............................

音響校正器の性能及び試験に関する要求事項は,JIS C 1515 : 2004 (IEC 60942 : 2003)  に規定される。こ

の形式評価試験報告書は,音響校正器が規定する性能に適合していることを示す形式証明のために行われ

た検査及び試験について,その内容と結果を記載するためのものである。

形式評価試験報告書は二つの部からなる。第 1 部は,報告の概要と適合性に関する記述からなり,この

規格に規定する事項がすべて明示されているかを検証する。

第 1 部には,次の凡例に従い記載する。

X

適合

X

不適合

n/a n/a

非適用

第 2 部には,試験結果の詳細を記載する。

この報告書の第 部及び形式証明の責任機関

名称...........................................................................................................................................................

所在地.......................................................................................................................................................

署名...........................................................................................................................................................

この報告書の第 部の責任機関

名称..........................................................................................................................................................

所在地.......................................................................................................................................................

署名...........................................................................................................................................................

第 2 部のすべての試験が一つの機関で行われなかった場合には,試験を行った各機関について上記の必

要事項を複製し,形式評価試験報告書の中で,それぞれの試験を行った機関を明確にする。

報告書作成年月日: ...........................................


35

C 1515

:2004 (IEC 60942:2003)

第 

形式に関する一般事項

申請番号: .......................................................................................................................................................

製造業者の名称:............................................................................................................................................

製造業者の所在地: .......................................................................................................................................

申請者の名称: ...............................................................................................................................................

申請者の所在地: ...........................................................................................................................................

音響校正器の形式: .......................................................................................................................................

製造業者が指定する JIS C 1515 : 2004 (IEC 60942 : 2003)  に規定するクラス: ..................................

供試品の数(少なくとも 5 台):.................................................................................................................

次の表は,製造業者が JIS C 1515 : 2004 (IEC 60942 : 2003)  に規定するクラスに適合すると取扱説明書に

記載した周波数,音圧レベル及びマイクロホンの構成又は形式を示す。

公称周波数

Hz

指定周波数

Hz

マイクロホンの構成

又は形式

公称音圧レベル

dB re 20

µPa

指定音圧レベル

dB re 20

µPa


36

C 1515

:2004 (IEC 60942:2003)

概要

試験番号

JIS C 1515 : 2004

(細々分した)箇条

項目

試験報告書

のページ

備考*

5. 

一般事項

6.1 

音響校正器への表示

6.2 

クラス LS に対する個別校正票

6.3 

取扱説明書

1

A.4.3 

音圧レベル**

 

2

A.4.4 

音圧レベルの安定性−短時間レベル変動

3

A.4.5 

周波数

4

A.4.6 

全ひずみ

5

A.5.2 

静圧の影響

6

A.5.4 

周囲温度及び相対湿度の影響の組合せによ
る短縮試験

7

A.5.5 

周囲温度の影響

8

A.5.6 

相対湿度の影響

9

A.5.7 

組み合わせた周囲温度及び相対湿度の影響

10

A.6.2 

無線周波エミッション

11

A.6.3 

静電気放電に対するイミュニティ

12

A.6.4 

電源周波数磁界及び無線周波電磁界に対す
るイミュニティ

注*

関連する備考が記載された報告書のページを記入する。

**

この報告書では,音圧レベルを表すために SPL の略号を使用する。


37

C 1515

:2004 (IEC 60942:2003)

一般事項

JIS C 1515 : 2004

(細々分した)箇条

項目

備考

5.1.3 

クラス LS の音響校正器で校正票の有無

5.1.7 

設計及び材料

5.2.1.3 

主音圧レベルが 20

µPa を基準として少なくとも 90 dB

以上

5.3.1.1 

主周波数が 160∼1 250 Hz の範囲内

5.3.1.2 

主音圧レベルが主周波数で利用可能

音響校正器の表示

JIS C 1515 : 2004

(細々分した)箇条

銘板又は表示

備考

6.1 a)

製造業者又は供給者の名称又は登録商標

6.1 b)

形式及び製造番号

6.1 c)

この規格の規格番号及び発効年

6.1 d)

機器のクラス 
該当する場合には “C” の文字表示,及び適用する必要

がある補正値に対するパラメータ

6.1 e)

クラスの要求事項に適合する音圧レベルと周波数との

すべての組合せ

6.1 f)

公称音圧レベル

6.1 g)

公称周波数

6.1 h)

指定する向きがあり本体に表示が可能ならば,その向き

6.1 i)

電池駆動であれば,推奨する電池の種類

6.1 j)

附属している場合には,アダプタの形式


38

C 1515

:2004 (IEC 60942:2003)

取扱説明書

JIS C 1515 : 2004

(細々分した)箇条

記載事項

備考

6.3 a)

適用可能なマイクロホンの形式及び使用するときの構

成,並びに必要なアダプタの形式 
それらを使用したときに音響校正器を正しく機能させ
るための指示

6.3 b)

クラス LS では公称音圧レベル及び公称周波数 
クラス 1 及びクラス 2 では少なくとも 0.1 dB の分解能
で表した指定音圧レベル及び指定周波数

6.3 c)

特定の向きで音響校正器を用いなければならいときは,
その向き

6.3 d)

指定する音圧レベル及び周波数が安定するまでの時間 
マイクロホンと音響校正器とを結合した後,安定化に必

要な時間

6.3 e)

主音圧レベル

6.3 f)

主周波数

6.3 g)

音響校正器が動作するとして指定された環境条件の範

囲及び該当する場合は補正値(測定の拡張不確かさを含
む。

気圧計を附属品として供給しないクラス 2/C の音響校

正では,海面高さ以外の場所での補正値の計算方法

6.3 h)

この規格に適合する音圧レベルと周波数との組合せ

6.3 i)

各音圧レベルの設定において音響校正器を正しく動作
させるために,周囲の音圧レベルが十分に低くなってい

ることを確認するための推奨手順

6.3 j)

クラス LS 及びクラス LS/C では,結合するマイクロホ
ンの実効負荷容積の変化による音響校正器が発生する

音の音圧レベルの変化

6.3 k) 

該当する場合には,使用できる電池の種類,公称動作時

間,電池状態表示器の説明と使い方 
公称,最大及び最小供給電圧 
該当する場合には,外部電源の接続方法


39

C 1515

:2004 (IEC 60942:2003)

JIS C 1515 : 2004

(細々分した)箇条

記載事項

備考

6.3 l)

文字 “C” が付加されている音響校正器では,要求事項
への適合性に影響を与えることなくこれらの環境条件

を測定するための測定の拡張不確かさの最大値 
気圧計が附属品として提供されている場合,その気圧計
を用いて測定した静圧の拡張不確かさ。

6.3 m)

気圧計が附属品として提供されていないクラス LS の校
正器で静圧の補正が必要な場合,静圧を測定するために
必要な気圧計の詳細

6.3 n)

通常の動作形態

6.3 o)

電磁両立性の要求事項に適合して音響校正器とともに
用いることができる,ケーブル及び附属品

6.3 p)

無線周波電磁界の影響を試験するための,基準の向き

6.3 q)

JIS C 1515

に適合し,さらに,無変調時の実効値 10 V/m

よりも高い電界強度でこの規格に適合する場合には,そ

の値

6.3 r)

無線周波エミッションが最大となる状態,音圧レベル及

び周波数の設定

6.3 s)

電源周波数磁界及び無線周波電磁界に対するイミュニ

ティが最小(耐性が最大)となる動作状態,並びに該当
する場合には,接続機器の状態

6.3 t)

クラスの要求事項に適合しない音圧レベル及び周波数
の組合せがある場合には,その組合せにおけるそれらの
音響特性及び設計目標に対して維持される公称許容限

度値


40

C 1515

:2004 (IEC 60942:2003)

第 

試験の詳細

形式に関する一般事項は,この報告書の第 1 部に記載されている。

試験に関する個々の事項の詳細を,この第 2 部に記載する。

試験のために提出された音響校正器の試料

音響校正器の試料

音響校正器の

製造番号

気圧計の形式/製造

番号(該当する場合)

すべての試験のため

に選択した試料*

限定した試験のため

に選択した試料

1

2

3

4

5

注*

選択した試料を示すために,表の該当する欄に X を記入する。

提出されたアダプタ*

アダプタ 1

アダプタ 2

アダプタ 3

音響校正器の

試料

IEC

のマイク

ロホンの分類

アダプタの

形式

IEC

のマイク

ロホンの分類

アダプタの

形式

IEC

のマイク

ロホンの分類

アダプタの

形式

1

2

3

4

5

注*

マイクロホンは,IEC 61094 シリーズに従い分類する。


41

C 1515

:2004 (IEC 60942:2003)

提出された附属品

附属品の種類

製造業者

形式

製造番号

(該当する場合)

主音圧レベル: ................................................................ dB re 20

µPa

主周波数: ......................................................................... Hz

音響校正器が動作すると指定された静圧範囲: ...................  ∼ .................. (kPa)

文字 “C” が付加された音響校正器で,提供されている静圧の補正値: .................................................

音響校正器が動作すると指定された温度範囲: ...................  ∼ ................... (℃)

文字 “C” が付加された音響校正器(温度はクラス 2 の場合だけ)で,

提供されている温度の補正値: ..................................................................................................................

音響校正器が動作すると指定された相対湿度範囲: ...................  ∼ ................... (%)

文字 “C” が付加された音響校正器(相対湿度はクラス 2 の場合だけ)で,

提供されている相対湿度の補正値: .........................................................................................................

向き: .........................................................

安定化時間: .........................................................

電池:  種類 .....................................  公称電圧 ..................................... V  個数 .....................................

形式評価試験報告書の第 2 部に記載する各 12 の試験について,関連する表に示される許容限度値は,JIS 

C 1515 : 2004 (IEC 60942 : 2003)

の 5.に規定する許容限度値でなければならない。測定の拡張不確かさの最

大許容値は,JIS C 1515 : 2004 (IEC 60942 : 2003)  の

附属書 に規定する最大許容値でなければならない。


42

C 1515

:2004 (IEC 60942:2003)

試験に用いたマイクロホン

各試験で用いたマイクロホンを示すために,表の該当する欄に X を記入する。

マイクロホン識別番号

1 2 3 4 5 6

製造業者

形式

製造番号

IEC 61094

シリーズによる

マイクロホンの分類

校正の方法

(必要であれば)圧力係数

(dB/kPa)

(必要であれば)温度係数

(dB/

℃)

(必要であれば)相対湿度

係数 (dB/%)

試験番号 1 
音圧レベル

試験番号 2 
音圧レベルの安定性−短時

間レベル変動

試験番号 3

周波数

試験番号 4

全ひずみ

試験番号 5 
静圧の影響

試験番号 6 
周囲温度及び相対湿度を組

み合わせた短縮試験

試験番号 7

周囲温度の影響

試験番号 8

相対湿度の影響


43

C 1515

:2004 (IEC 60942:2003)

マイクロホン識別番号

1 2 3 4 5 6

試験番号 9 
組み合わせた周囲温度と相

対湿度の影響

試験番号 10

無線周波エミッション

試験番号 11

静電気放電に対するイミュ
ニティ

試験番号 12 
電源周波数磁界及び無線周
波電磁回に対するイミュニ

ティ

マイクロホン識別番号 1 及びマイクロホン識別番号 2 は,同じ形式でなければならない。


44

C 1515

:2004 (IEC 60942:2003)

試験番号 1

基準環境条件近傍での音圧レベル(JIS C 1515 : 2004 の 5.2.2 及び A.4.3.1A.4.3.4

主音圧レベル

マイクロホン識別番号 1

周波数の設定

Hz

指定 SPL

dB re 20

µPa

SPL

の測定値

の平均*

dB re 20

µPa

実際の測定の
拡張不確かさ

dB

SPL

の測定値

の,実際の測定

の拡張不確か

さで広げた,指

定 SPL からの

偏差

dB

許容限度値

dB

測定の拡張不
確かさの最大

許容値

dB

注*

音響校正器のクラス表示に文字 “C” が付加され,基準環境条件への補正が必要な場合には,補正した値。

マイクロホン識別番号 2

周波数の設定

Hz

指定 SPL

dB re 20

µPa

SPL

の測定値

の平均*

dB re 20

µPa

実際の測定の

拡張不確かさ

dB

SPL

の測定値

の,実際の測定

の拡張不確か

さで広げた,指

定 SPL からの

偏差

dB

許容限度値

dB

測定の拡張不

確かさの最大

許容値

dB

注*

音響校正器のクラス表示に文字 “C” が付加され,基準環境条件への補正が必要な場合には,補正した値。


45

C 1515

:2004 (IEC 60942:2003)

その他の音圧レベル(JIS C 1515 : 2004 の 5.2.2 及び A.4.3.5

それぞれの音圧レベルについて表を複製する。

マイクロホン識別番号 1

周波数の設定

Hz

指定 SPL

dB re 20

µPa

SPL

の測定値

の平均*

dB re 20

µPa

実際の測定の
拡張不確かさ

dB

SPL

の測定値

の,実際の測定

の拡張不確か

さで広げた,指

定 SPL からの

偏差

dB

許容限度値

dB

測定の拡張不
確かさの最大

許容値

dB

注*

音響校正器のクラス表示に文字 “C” が付加され,基準環境条件への補正が必要な場合には,補正した値。

測定中の静圧範囲 .................... ∼ .................... kPa

測定中の温度範囲 .................... ∼ .................... ℃

測定中の相対湿度範囲 .................... ∼ ....................%

備考:


46

C 1515

:2004 (IEC 60942:2003)

動作電圧を減少させたときの音圧レベルへの影響(JIS C 1515 : 2004 の 5.2.4 及び A.4.3.7

減少させた動作電圧(最低動作電圧に対して偏差 5 %以内).................... V

マイクロホン識別番号 1

SPL

と周波数

の設定

公称動作電圧

でのマイクロ
ホンの出力電

圧の測定値

V

減少させた動

作電圧でのマ
イクロホンの
出力電圧の測

定値

V

実際の測定の

拡張不確かさ

dB

減少させた動

作電圧での

SPL

の,実際の

拡張不確かさ

で広げた,公称

動作電圧での

SPL

からの偏

差*

dB

許容限度値

dB

測定の拡張不

確かさの最大

許容値

dB

主 SPL+ 
主周波数

最大 SPL+

その SPL 設定
の最低周波数

最大 SPL+ 
その SPL 設定
の最高周波数

最小 SPL+ 
その SPL 設定

の最低周波数

最小 SPL+

その SPL 設定
の最高周波数

最低周波数+

そ の 周 波 数 設
定の最小 SPL

最低周波数+ 
そ の 周 波 数 設
定の最大 SPL

最高周波数+ 
そ の 周 波 数 設

定の最小 SPL

最高周波数+

そ の 周 波 数 設
定の最大 SPL

注*

音響校正器のクラス表示に文字 “C” が付加され,基準環境条件への補正が必要な場合には,補正した値。

備考  音圧レベルと周波数とのすべての組合せが必要となるのは,複数の音圧レベルと複数の周波数とで音を発生さ

せることのできる音響校正器だけであり,ほとんどの場合,表のすべての欄に記入する必要はない。 

これらの結果は,減少させた動作電圧においても

表 の許容限度値内であるかどうかの判定にも用いる。


47

C 1515

:2004 (IEC 60942:2003)

外部電源で動作させたときの音圧レベルへの影響(JIS C 1515 : 2004 の 5.2.4 及び A.4.3.9

マイクロホン識別番号 1

SPL

と周波数

の設定

公称動作電圧
でのマイクロ

ホンの出力電

圧の測定値

V

最大許容動作
電圧でのマイ

クロホンの出
力電圧の測定

V

実際の測定の
拡張不確かさ

dB

外部電源で動
作させたとき

の SPL の,実

際の拡張不確

かさで広げた,

公称動作電圧

での SPL の偏

差*

dB

許容限度値

dB

測定の拡張不
確かさの最大

許容値

主 SPL+

主周波数

注*

音響校正器のクラス表示に文字 “C” が付加され,基準環境条件への補正が必要な場合には,補正した値。

これらの結果は,最大許容動作電圧においても

表 の許容限度値内であるかどうかの判定にも用いる。

測定中の静圧範囲 .................... ∼ .................... kPa

測定中の温度範囲 .................... ∼ .................... ℃

測定中の相対湿度範囲 .................... ∼ .................... %

備考:

その他のマイクロホン形式(JIS C 1515 : 2004 の A.4.3.10

マイクロホンの多様な形式の等価性について,信頼性,有効性が十分である,又は補正が可能であると

判断されない限り,その他のすべてのマイクロホンの形式について,

試験番号 の試験を繰り返さなけれ

ばならない。試験を繰り返す場合,

試験番号 の表を複製する必要がある。


48

C 1515

:2004 (IEC 60942:2003)

試験番号 2

基準環境条件近傍での音圧レベルの安定性  短時間レベル変動

JIS C 1515 : 2004 の 5.2.3A.4.4.1 及び A.4.4.3

主音圧レベル及び主周波数

20

秒間に 10 回測定する。

マイクロホン識別番号 1

測定したマイク
ロホンの出力電

圧の最大値

V

測定したマイク
ロホンの出力電

圧の最小値

V

実際の測定の拡

張不確かさ

dB

実際の測定の不

確かさで広げた,

SPL

の差の半分

dB

許容限度値

dB

測定の拡張不確
かさの最大許容

dB

これらの結果は,20 秒間でのすべての音圧レベルの測定値が,

表 の許容限度値内であるかどうかの判

定にも用いる。


49

C 1515

:2004 (IEC 60942:2003)

最小音圧レベル及び主周波数

20

秒間に 10 回測定する。

マイクロホン識別番号 1

測定したマイク

ロホンの出力電

圧の最大値

V

測定したマイク

ロホンの出力電

圧の最小値

V

実際の測定の拡

張不確かさ

dB

実際の測定の不

確かさで広げた,

SPL

の差の半分

dB

許容限度値

dB

測定の拡張不確

かさの最大許容

dB

これらの結果は,20 秒間でのすべての音圧レベルの測定値が,

表 の許容限度値内であるかどうかの判

定にも用いる。

測定中の静圧範囲 .................... ∼ .................... kPa

測定中の温度範囲 .................... ∼ .................... ℃

測定中の相対湿度範囲 .................... ∼ .................... %

備考:


50

C 1515

:2004 (IEC 60942:2003)

試験番号 3

周波数(JIS C 1515 : 2004 の 5.3.2 及び A.4.5.1

主音圧レベル

マイクロホン識別番号 1

指定周波数

Hz

周波数の測定値

Hz

実際の測定の拡

張不確かさ

%

周波数の測定値

の,実際の拡張不

確かさで広げた,

指定周波数から
の百分率で表し

た偏差

%

許容限度値

%

測定の拡張不確
かさの最大許容

%


51

C 1515

:2004 (IEC 60942:2003)

動作電圧を減少させたときの周波数への影響(JIS C 1515 : 2004 の 5.3.2 及び A.4.5.2

減少させた動作電圧(最低動作電圧に対して偏差 5 %以内).................... V

マイクロホン識別番号 1

SPL

と周波数

の設定

指定周波数

Hz

減少させた動

作電圧での周
波数の測定値

Hz

実際の測定の

拡張不確かさ

%

減少させた動

作電圧での周
波数の測定値

の,実際の拡張

不確かさで広

げた,指定周波

数からの百分

率で表した偏

%

許容限度値

%

測定の拡張不

確かさの最大

許容値

%

主 SPL+ 
主周波数

最大 SPL+ 
その SPL 設定
の最低周波数

最大 SPL+ 
その SPL 設定

の最高周波数

最小 SPL+

その SPL 設定
の最低周波数

最小 SPL+ 
その SPL 設定
の最高周波数

最低周波数+ 
そ の 周 波 数 設
定の最小 SPL

最低周波数+ 
そ の 周 波 数 設

定の最大 SPL

最高周波数+

そ の 周 波 数 設
定の最小 SPL

最高周波数+ 
そ の 周 波 数 設
定の最大 SPL

備考  音圧レベルと周波数とのすべての組合せが必要となるのは,複数の音圧レベルと複数の周波数とで音を発生さ

せることのできる音響校正器だけであり,ほとんどの場合,表のすべての欄に記入する必要はない。 


52

C 1515

:2004 (IEC 60942:2003)

外部電源で動作させたときの周波数への影響  (JIS C 1515 : 2004 の 5.3.2 及び A.4.5.4)

マイクロホン識別番号 1

SPL

と周波数

の設定

指定周波数

Hz

最大許容動作
動作電圧での

周波数の測定

Hz

実際の測定の
拡張不確かさ

%

最大許容動作
電圧での周波

数の測定値の,

実際の拡張不
確かさで広げ

た,指定周波数

からの百分率
で表した偏差

%

許容限度値

%

測定の拡張不
確かさの最大

許容値

%

主 SPL+

主周波数

測定中の静圧範囲 .................... ∼ .................... kPa

測定中の温度範囲 .................... ∼ .................... ℃

測定中の相対湿度範囲 .................... ∼ .................... %

備考:


53

C 1515

:2004 (IEC 60942:2003)

試験番号 4

全ひずみ(JIS C 1515 : 2004 の 5.5 及び A.4.6.1

最大音圧レベル

マイクロホン識別番号 1

周波数の設定

Hz

ひずみの測定値

%

実際の測定の拡

張不確かさ

%

実際の測定の拡
張不確かさで広

げた,ひずみの測

定値

%

全ひずみの最大
値の許容限度値

%

測定の拡張不確
かさの最大許容

%

最小音圧レベル

マイクロホン識別番号 1

周波数の設定

Hz

ひずみの測定値

%

実際の測定の拡

張不確かさ

%

実際の測定の拡

張不確かさで広

げた,ひずみの測

定値

%

全ひずみの最大

値の許容限度値

%

測定の拡張不確

かさの最大許容

%


54

C 1515

:2004 (IEC 60942:2003)

動作電圧を減少させたときの全ひずみへの影響(JIS C 1515 : 2004 の 5.5 及び A.4.6.2)

減少させた動作電圧(最低動作電圧に対して偏差 5 %以内).................... V

マイクロホン識別番号 1

SPL

と周波数の

設定

ひずみの測定値

%

実際の測定の拡

張不確かさ

%

実際の測定の拡

張不確かさで広

げた,ひずみの測

定値

%

全ひずみの最大

値の許容限度値

%

測定の拡張不確

かさの最大許容

最大 SPL+

その SPL 設定の
最低周波数

最大 SPL+

その SPL 設定の
最高周波数

最小 SPL+ 
その SPL 設定の
最低周波数

最小 SPL+ 
その SPL 設定の

最高周波数

最低周波数+

そ の 周 波 数 設 定
の最小 SPL

最低周波数+

そ の 周 波 数 設 定
の最大 SPL

最高周波数+ 
そ の 周 波 数 設 定
の最小 SPL

最高周波数+ 
そ の 周 波 数 設 定

の最大 SPL

備考  音圧レベルと周波数とのすべての組合せが必要となるのは,複数の音圧レベルと複数の周波数とで音を発生さ

せることのできる音響校正器だけであり,ほとんどの場合,表のすべての欄に記入する必要はない。

測定中の静圧範囲 .................... ∼ .................... kPa

測定中の温度範囲 .................... ∼ .................... ℃

測定中の相対湿度範囲 .................... ∼ .................... %

備考:


55

C 1515

:2004 (IEC 60942:2003)

試験番号 5

静圧の影響(JIS C 1515 : 2004 の 5.4 及び A.5.2

主音圧レベル及び主周波数

音圧レベル

設定目標静圧

kPa

静圧の測定値

kPa

マイクロホン

の出力電圧の

測定値

V

実際の測定の

拡張不確かさ

dB

基準環境条件

に補正した

SPL

の,実際に

測定の拡張不

確かさで広げ

た,基準環境条

件で最初に測

定した SPL か

らの偏差*

dB

許容限度値

dB

測定の拡張不

確かさの最大

許容値

dB

65.0

101.3

108.0

注*

適用する補正は,静圧,周囲温度及び相対湿度を変化させたことによるマイクロホン感度の変化を考慮するも
のである。文字 “C” を付加したクラス LS 又はクラス 1 の音響校正器で該当する場合には,音響校正器の発生
する音に対する静圧の影響を考慮するために,更に補正を適用する。文字 “C” を付加したクラス 2 の音響校正

器で該当する場合には,音響校正器の出力に対する静圧,周囲温度又は相対湿度の影響を考慮するために,更
に補正を適用する。

**

許容限度値は,

表 又は表 から該当するものを適用する。

主周波数より高い周波数の設定について,それぞれ上の表を複製する。


56

C 1515

:2004 (IEC 60942:2003)

全ひずみ

最大音圧レベル及び主周波数

設定目標静圧

kPa

静圧の測定値

kPa

ひずみの測定

%

実際の測定の
拡張不確かさ

%

実際の測定の
拡張不確かさ

で広げた,ひず

みの測定値

%

全ひずみの最
大値の許容限

度値

%

測定の拡張不
確かさの最大

許容値

65.0

測定に用いた気圧計 ...............................................................................................................................

(使用した機器の製造業者,形式及び製造番号を記載する。

測定の拡張不確かさ .................... kPa

測定に用いた温度計 ...............................................................................................................................

(使用した機器の製造業者,形式及び製造番号を記載する。

測定中の温度範囲 .................... ∼ .................... ℃

測定の拡張不確かさ .................... ℃

測定に用いた湿度計 ...............................................................................................................................

(使用した機器の製造業者,形式及び製造番号を記載する。

測定中の相対湿度範囲 .................... ∼ .................... %

測定の拡張不確かさ .................... %

備考:


57

C 1515

:2004 (IEC 60942:2003)

試験番号 6

周囲温度及び相対湿度の影響の組合せによる短縮試験

JIS C 1515 : 2004 の 5.4A5.3 及び A.5.4

主音圧レベル及び主周波数

音圧レベル

設定目標周
囲温度及び

相対湿度

℃及び%

周囲温度の

測定値

相対湿度の

測定値

%

マイクロホ
ンの出力電

圧の測定値

V

実際の測定
の拡張不確

かさ

dB

基準環境条
件に補正し

た SPL の,

実際に測定
の拡張不確

かさで広げ

た,基準環境

条件で最初

に測定した

SPL

からの

偏差*

dB

許容限度値

dB

測定の拡張
不確かさの

最大許容値

dB

23

℃+50 %

23

℃+50 %

注*

適用する補正は,静圧,周囲温度及び相対湿度を変化させたことによるマイクロホン感度の変化を考慮するも
のである。文字 “C” を付加したクラス LS 又はクラス 1 の音響校正器で該当する場合には,音響校正器の発生

する音に対する静圧の影響を考慮するために,更に補正を適用する。文字 “C” を付加したクラス 2 の音響校正
器で該当する場合には,音響校正器の出力に対する静圧,周囲温度又は相対湿度の影響を考慮するために,更
に補正を適用する。


58

C 1515

:2004 (IEC 60942:2003)

周波数

設定目標周
囲温度及び

相対湿度

℃及び%

周囲温度の

測定値

相対湿度の

測定値

%

周波数の測

定値

Hz

実際の測定
の拡張不確

かさ

%

周波数の測

定値の,実際

に測定の拡

張不確かさ

で広げた,基

準環境条件

で最初に測
定した周波
数からの百

分率で表し

た偏差

Hz

許容限度値

%

測定の拡張
不確かさの
最大許容値

%

23

℃+50 %

23

℃+50 %

測定に用いた気圧計 ...............................................................................................................................

(使用した機器の製造業者,形式及び製造番号を記載する。

測定中の静圧範囲 .................... ∼ .................... kPa

測定の拡張不確かさ .................... kPa

測定に用いた温度計 ...............................................................................................................................

(使用した機器の製造業者,形式及び製造番号を記載する。

測定の拡張不確かさ .................... ℃

測定に用いた湿度計 ...............................................................................................................................

(使用した機器の製造業者,形式及び製造番号を記載する。

測定の拡張不確かさ .................... %

備考:


59

C 1515

:2004 (IEC 60942:2003)

複数の音圧レベル及び複数の周波数を備える音響校正器の追加測定

JIS C 1515 : 2004 の 5.4A.5.3 及び A.5.4

基準環境条件

音圧レベル

SPL

及び周波数の設定

周囲温度の測定値

相対湿度の測定値

%

マイクロホンの出力電圧の

測定値

V

最大 SPL+

その SPL 設定の最低周波数

最大 SPL+ 
その SPL 設定の最高周波数

最小 SPL+ 
その SPL 設定の最低周波数

最小 SPL+ 
その SPL 設定の最高周波数

最低周波数+ 
その周波数設定の最小 SPL

最低周波数+ 
その周波数設定の最大 SPL

最高周波数+ 
その周波数設定の最小 SPL

最高周波数+ 
その周波数設定の最大 SPL

備考  音圧レベルと周波数とのすべての組合せが必要となるのは,複数の音圧レベルと複数の周波数とで音を発生さ

せることのできる音響校正器だけであり,ほとんどの場合,表のすべての欄に記入する必要はない。


60

C 1515

:2004 (IEC 60942:2003)

最高周囲温度及び最高相対湿度

最低周囲温度及び最低相対湿度

複数の音圧レベル及び複数の周波数で音を発生させることのできる音響校正器では,上記のそれぞれの

設定について次の表を複製する。

音圧レベル

SPL

と周波

数の設定

周囲温度の

測定値

相対湿度の

測定値

%

マイクロホ
ンの出力電
圧の測定値

V

実際の測定
の拡張不確

かさ

dB

基準環境条
件に補正し

た SPL の,

実際に測定
の拡張不確
かさで広げ

た,基準環境

条件で測定

した SPL か

らの偏差*

dB

許容限度値

dB

測定の拡張
不確かさの
最大許容値

dB

主 SPL+ 
主周波数

最大 SPL+

その SPL 設
定 の 最 低 周
波数

最大 SPL+ 
その SPL 設

定 の 最 高 周
波数

最小 SPL+ 
その SPL 設
定 の 最 低 周

波数

最小 SPL+

その SPL 設
定 の 最 高 周
波数

最 低 周 波 数
+ そ の 周 波
数 設 定 の 最

小 SPL

最 低 周 波 数

+ そ の 周 波
数 設 定 の 最
大 SPL


61

C 1515

:2004 (IEC 60942:2003)

SPL

と 周 波

数の設定

周囲温度の

測定値

相対湿度の

測定値

%

マイクロホ
ンの出力電

圧の測定値

V

実際の測定
の拡張不確

かさ

dB

基準環境条
件に補正し

た SPL の,

実際に測定
の拡張不確

かさで広げ

た,基準環境

条件で測定

した SPL か

らの偏差*

dB

許容限度値

dB

測定の拡張
不確かさの

最大許容値

dB

最 高 周 波 数
+ そ の 周 波

数 設 定 の 最
小 SPL

最 高 周 波 数

+ そ の 周 波
数 設 定 の 最
大 SPL

注*

適用する補正は,静圧,周囲温度及び相対湿度を変化させたことによるマイクロホン感度の変化を考慮するも

のである。文字 “C” を付加したクラス LS 又はクラス 1 の音響校正器で該当する場合には,音響校正器の発生
する音に対する静圧の影響を考慮するために,更に補正を適用する。文字 “C” を付加したクラス 2 の音響校正
器で該当する場合には,音響校正器の出力に対する静圧,周囲温度又は相対湿度の影響を考慮するために,更

に補正を適用する。

備考  音圧レベルと周波数とのすべての組合せが必要となるのは,複数の音圧レベルと複数の周波数とで音を発生さ

せることのできる音響校正器だけであり,ほとんどの場合,表のすべての欄に記入する必要はない。 


62

C 1515

:2004 (IEC 60942:2003)

基準環境条件

周波数

SPL

及び周波数の設定

周囲温度の測定値

相対湿度の測定値

%

周波数の測定値

Hz

最大 SPL+ 
その SPL 設定の最低周波数

最大 SPL+ 
その SPL 設定の最高周波数

最小 SPL+ 
その SPL 設定の最低周波数

最小 SPL+ 
その SPL 設定の最高周波数

最低周波数+ 
その周波数設定の最小 SPL

最低周波数+

その周波数設定の最大 SPL

最高周波数+

その周波数設定の最小 SPL

最高周波数+

その周波数設定の最大 SPL

備考  音圧レベルと周波数とのすべての組合せが必要となるのは,複数の音圧レベルと複数の周波数とで音を発生さ

せることのできる音響校正器だけであり,ほとんどの場合,表のすべての欄に記入する必要はない。


63

C 1515

:2004 (IEC 60942:2003)

最高周囲温度及び最高相対湿度

最低周囲温度及び最低相対湿度

複数の音圧レベルと複数の周波数とで音を発生させることのできる音響校正器では,上記のそれぞれの

設定について,次の表を複製する。

周波数

SPL

と周波

数の設定

周囲温度の

測定値

相対湿度の

測定値

%

周波数の測

定値

Hz

実際の測定
の拡張不確

かさ

%

周波数の測

定値の,実際

に測定の拡

張不確かさ

で広げた,基

準環境条件

での周波数
からの百分
率で表した

偏差

%

許容限度値

%

測定の拡張
不確かさの
最大許容値

%

主 SPL+ 
主周波数

最大 SPL+

その SPL 設
定 の 最 低 周
波数

最大 SPL+ 
その SPL 設

定 の 最 高 周
波数

最小 SPL+ 
その SPL 設
定 の 最 低 周

波数

最小 SPL+

その SPL 設
定 の 最 高 周
波数

最 低 周 波 数
+ そ の 周 波
数 設 定 の 最

小 SPL

最 低 周 波 数

+ そ の 周 波
数 設 定 の 最
大 SPL


64

C 1515

:2004 (IEC 60942:2003)

SPL

と 周 波

数の設定

周囲温度の

測定値

相対湿度の

測定値

%

周波数の測

定値

Hz

実際の測定
の拡張不確

かさ

%

周波数の測

定値の,実際

に測定の拡
張不確かさ

で広げた,基

準環境条件
での周波数
からの百分

率で表した

偏差

%

許容限度値

%

測定の拡張
不確かさの

最大許容値

%

最 高 周 波 数
+ そ の 周 波

数 設 定 の 最
小 SPL

最 高 周 波 数

+ そ の 周 波
数 設 定 の 最
大 SPL

備考  音圧レベルと周波数とのすべての組合せが必要となるのは,複数の音圧レベルと複数の周波数とで音を発生さ

せることのできる音響校正器だけであり,ほとんどの場合,表のすべての欄に記入する必要はない。 

測定に用いた気圧計 ................................................................................................................................

(使用した機器の製造業者,形式及び製造番号を記載する。

測定中の静圧範囲 .................... ∼ .................... kPa

測定の拡張不確かさ .................... kPa

測定に用いた温度計 ...............................................................................................................................

(使用した機器の製造業者,形式及び製造番号を記載する。

測定の拡張不確かさ .................... ℃

測定に用いた湿度計 ...............................................................................................................................

(使用した機器の製造業者,形式及び製造番号を記載する。

測定の拡張不確かさ .................... %

備考:


65

C 1515

:2004 (IEC 60942:2003)

試験番号 7

温度の影響(試験番号 の結果によって必要な場合にだけ行う)

JIS C 1515 : 2004 の 5.4A.5.3 及び A.5.5

主音圧レベル及び主周波数

最大音圧レベル及びその設定で利用できる最低周波数

最大音圧レベル及び主周波数

最大音圧レベル及びその設定で利用できる最高周波数

最小音圧レベル及びその設定で利用できる最低周波数

最小音圧レベル及び主周波数

最小音圧レベル及びその設定で利用できる最高周波数

最低周波数及びその設定で利用できる最小音圧レベル

最低周波数及び主音圧レベル

最低周波数及びその設定で利用できる最大音圧レベル

最高周波数及びその設定で利用できる最小音圧レベル

最高周波数及び主音圧レベル

最高周波数及びその設定で利用できる最大音圧レベル

複数の音圧レベルと複数の周波数とで音を発生させることのできる音響校正器では,上記のそれぞれの

設定について,次の表を複製する。

備考  音圧レベルと周波数とのすべての組合せが必要となるのは,複数の音圧レベルと複数の周波数

とで音を発生させることのできる音響校正器だけであり,ほとんどの場合,表を複製する必要

はない。

音圧レベル

設定目標周囲

温度

周囲温度の測

定値

マイクロホン
の出力電圧の

測定値

V

実際の測定の
拡張不確かさ

dB

基準環境条件

に補正した

SPL

の,実際に

測定の拡張不
確かさで広げ

た,基準環境条

件で測定した

SPL

からの偏

差*

dB

許容限度値

dB

測定の拡張不
確かさの最大

許容値

dB

最低温度

23.0

   

最高温度

注*

適用する補正は,静圧,周囲温度及び相対湿度を変化させたことによるマイクロホン感度の変化を考慮するも
のである。文字 “C” を付加したクラス LS 又はクラス 1 の音響校正器で該当する場合には,音響校正器の発生
する音に対する静圧の影響を考慮するために,更に補正を適用する。文字 “C” を付加したクラス 2 の音響校正

器で該当する場合には,音響校正器の出力に対する静圧,周囲温度又は相対湿度の影響を考慮するために,更
に補正を適用する。


66

C 1515

:2004 (IEC 60942:2003)

周波数

設定目標周囲

温度

周囲温度の測

定値

周波数の測定

Hz

実際の測定の
拡張不確かさ

%

周波数の測定

値の,実際に測

定の拡張不確

かさで広げた,

基準環境条件
で最初に測定

した周波数か
らの百分率で

表した偏差

Hz

許容限度値

%

測定の拡張不
確かさの最大

許容値

%

最低温度

23.0

最高温度

測定に用いた気圧計 ...............................................................................................................................

(使用した機器の製造業者,形式及び製造番号を記載する。

測定中の静圧範囲 .................... ∼ .................... kPa

測定の拡張不確かさ .................... kPa

測定に用いた温度計 ...............................................................................................................................

(使用した機器の製造業者,形式及び製造番号を記載する。

測定の拡張不確かさ .................... ℃

測定に用いた湿度計 ...............................................................................................................................

(使用した機器の製造業者,形式及び製造番号を記載する。

測定中の相対湿度範囲 .................... ∼ .................... %

測定の拡張不確かさ .................... %

備考:


67

C 1515

:2004 (IEC 60942:2003)

試験番号 8

相対湿度の影響(試験番号 の結果によって必要な場合にだけ行う)

JIS C 1515 : 2004 の 5.4A.5.3 及び A.5.6

主音圧レベル及び主周波数

最大音圧レベル及びその設定で利用できる最低周波数

最大音圧レベル及び主周波数

最大音圧レベル及びその設定で利用できる最高周波数

最低周波数及びその設定で利用できる最大音圧レベル

最高周波数及びその設定で利用できる最大音圧レベル

複数の音圧レベルと複数の周波数とで音を発生させることのできる音響校正器では,上記のそれぞれの

設定について,次の表を複製する。

備考  音圧レベルと周波数とのすべての組合せが必要となるのは,複数の音圧レベルと複数の周波数

とで音を発生させることのできる音響校正器だけであり,ほとんどの場合,表を複製する必要

はない。

音圧レベル

設定目標相対

湿度

%

相対湿度の測

定値

マイクロホン

の出力電圧の

測定値

V

実際の測定の

拡張不確かさ

dB

基準環境条件

に補正した

SPL

の,実際に

測定の拡張不

確かさで広げ

た,基準環境条

件で測定した

SPL

からの偏

差*

dB

許容限度値

dB

測定の拡張不

確かさの最大

許容値

dB

最低相対湿度

50

最高相対湿度

注*

適用する補正は,静圧,周囲温度及び相対湿度を変化させたことによるマイクロホン感度の変化を考慮するも
のである。文字 “C” を付加したクラス LS 又はクラス 1 の音響校正器で該当する場合には,音響校正器の発生
する音に対する静圧の影響を考慮するために,更に補正を適用する。文字 “C” を付加したクラス 2 の音響校正

器で該当する場合には,音響校正器の出力に対する静圧,周囲温度又は相対湿度の影響を考慮するために,更
に補正を適用する。


68

C 1515

:2004 (IEC 60942:2003)

周波数

設定目標相対

湿度

相対湿度の測

定値

周波数の測定

Hz

実際の測定の
拡張不確かさ

%

周波数の測定

値の,実際に測

定の拡張不確

かさで広げた,

基準環境条件
で最初に測定

した周波数か
らの百分率で

表した偏差

Hz

許容限度値

%

測定の拡張不
確かさの最大

許容値

%

最低相対湿度

50

最高相対湿度

測定に用いた気圧計 ...............................................................................................................................

(使用した機器の製造業者,形式及び製造番号を記載する。

測定中の静圧範囲 .................... ∼ .................... kPa

測定の拡張不確かさ .................... kPa

測定に用いた温度計 ...............................................................................................................................

(使用した機器の製造業者,形式及び製造番号を記載する。

測定中の周囲温度範囲 .................... ∼ .................... ℃

測定の拡張不確かさ .................... ℃

測定に用いた湿度計 ...............................................................................................................................

(使用した機器の製造業者,形式及び製造番号を記載する。

測定の拡張不確かさ .................... %

備考:


69

C 1515

:2004 (IEC 60942:2003)

試験番号 9

組み合わせた周囲温度及び相対湿度の影響(試験番号 の結果によって必要な場合に

だけ行う)(JIS C 1515 : 2004 の 5.4A.5.3 及び A.5.7

主音圧レベル及び主周波数

音圧レベル

設定目標周
囲温度及び

相対湿度

℃及び%

周囲温度の

測定値

相対湿度の

測定値

%

マイクロホ
ンの出力電

圧の測定値

V

実際の測定
の拡張不確

かさ

dB

基準環境条
件に補正し

た SPL の,

実際に測定
の拡張不確

かさで広げ

た,基準環境

条件で最初

に測定した

SPL

からの

偏差*

dB

許容限度値

dB

測定の拡張
不確かさの

最大許容値

dB

23

℃+50 %

注*

適用する補正は,静圧,周囲温度及び相対湿度を変化させたことによるマイクロホン感度の変化を考慮するも

のである。文字 “C” を付加したクラス LS 又はクラス 1 の音響校正器で該当する場合には,音響校正器の発生
する音に対する静圧の影響を考慮するために,更に補正を適用する。文字 “C” を付加したクラス 2 の音響校正
器で該当する場合には,音響校正器の出力に対する静圧,周囲温度又は相対湿度の影響を考慮するために,更

に補正を適用する。


70

C 1515

:2004 (IEC 60942:2003)

周波数

設定目標周
囲温度及び

相対湿度

℃及び%

周囲温度の

測定値

相対湿度の

測定値

%

周波数の測

定値

Hz

実際の測定
の拡張不確

かさ

%

周波数の測

定値の,実際

に測定の拡

張不確かさ

で広げた,基

準環境条件

で最初に測
定した周波
数からの百

分率で表し

た偏差

Hz

許容限度値

%

測定の拡張
不確かさの
最大許容値

%

23

℃+50 %

測定に用いた気圧計 ...............................................................................................................................

(使用した機器の製造業者,形式及び製造番号を記載する。

測定中の静圧範囲 .................... ∼ .................... kPa

測定の拡張不確かさ .................... kPa

測定に用いた温度計 ...............................................................................................................................

(使用した機器の製造業者,形式及び製造番号を記載する。

測定の拡張不確かさ .................... ℃

測定に用いた湿度計 ...............................................................................................................................

(使用した機器の製造業者,形式及び製造番号を記載する。

測定の拡張不確かさ .................... %

備考:


71

C 1515

:2004 (IEC 60942:2003)

試験番号 10

無線周波エミッション(JIS C 1515 : 2004 の 5.8.2A.6.1 及び A.6.2

音響校正器の構成: .....................................................................................................................................

音響校正器の設定: .................... dB  周波数  .................... Hz

接続ケーブル/機器: ..............................................................................................................................

測定距離: .................... m

基準の向き

周波数範囲

MHz

無線周波エミッションの電界

強度の測定値の最大値 
上記の距離で測定した

dB re 1

µV 準せん頭値ピーク

無線周波エミッションの電界

強度の測定値の最大値

10 m

の距離での

dB re 1

µV 準せん頭値ピーク*

無線周波エミッションの電界

強度の上限値

10 m

の距離での

dB re 1

µV 準せん頭値ピーク

 30

∼230

30

>230∼1

000

37

注*

測定した距離が 10 m の場合には,この欄は空白としてもよい。

基準の向きにおおむね直交する追加の向き

用いた向きの概要 ...................................................................................................................................

周波数範囲

MHz

無線周波エミッションの電界

強度の測定値の最大値 
上記の距離で測定した

dB re 1

µV 準せん頭値ピーク

無線周波エミッションの電界

強度の測定値の最大値

10 m

の距離での

dB re 1

µV 準せん頭値ピーク*

無線周波エミッションの電界

強度の上限値

10 m

の距離での

dB re 1

µV 準せん頭値ピーク

 30

∼230

30

>230∼1

000

37

注*

測定した距離が 10 m の場合には,この欄は空白としてもよい。

測定中の静圧範囲 .................... ∼ .................... kPa

測定中の温度範囲 .................... ∼ .................... ℃

測定中の相対湿度範囲 .................... ∼ .................... %

備考:


72

C 1515

:2004 (IEC 60942:2003)

試験番号 11

静電気放電に対するイミュニティ(JIS C 1515 : 2004 の 5.8.3A.6.1 及び A.6.3

主音圧レベル及び主周波数

接続ケーブル/機器: ...............................................................................................................................

放電の種類

放電の程度

kV

放電後,音響校正器は完全に動作し,

試験開始以前と同一の状態である。

Yes/No

+4

接触放電

−4

+8

気中放電

−8

測定中の静圧範囲 .................... ∼ .................... kPa

測定中の温度範囲 .................... ∼ .................... ℃

測定中の相対湿度範囲 .................... ∼ .................... %

備考:


73

C 1515

:2004 (IEC 60942:2003)

試験番号 12

電源周波数磁界及び無線周波電磁界に対するイミュニティ

JIS C 1515 : 2004 の 5.8.4A.6.1 及び A.6.4

主音圧レベル及び主周波数

複数の音圧レベルの音を単一周波数で発生させることのできる音響校正器:すべての SPL

単一の音圧レベルを複数の周波数で発生させることのできる音響校正器:すべての周波数

複数の音圧レベル及び複数の周波数で音を発生させることのできる音響校正器:

最小音圧レベルでのすべての周波数及び主周波数でのすべての音圧レベル

複数の音圧レベルと複数の周波数とで音を発生させることのできる音響校正器では,それぞれに要求さ

れる音圧レベルと周波数との組合せについて次の表を複製する。

動作モード: ..............................................................................................................................................

接続ケーブル/機器: ...............................................................................................................................

無線周波電磁界がないときの音圧レベル又はマイクロホンの出力電圧  ....................dB 又は V

基準の向き−

900 Hz

の正弦波によって 80 %の振幅変調をした実効値 10 V/m(無変調時)までの電界強度

周波数範囲

MHz

SPL

又はマイク

ロホンの出力電

圧の測定値

dB

又は V

実際の測定の拡

張不確かさ

dB

SPL

の測定値の,

実際の測定の拡

張不確かさで広

げた,無線周波電

磁界がないとき

の SPL からの偏

dB

許容限度値

dB

測定の拡張不確
かさの最大許容

dB

26

∼<500

500

∼1

000


74

C 1515

:2004 (IEC 60942:2003)

基準の向きにおおむね直交する追加の向き−

900 Hz

の正弦波によって 80 %の振幅変調をした実効値 10 V/m(無変調時)までの電界強度

用いた向きの概要 ....................................................................................................................................

周波数範囲

MHz

SPL

又はマイク

ロホンの出力電

圧の測定値

dB

又は V

実際の測定の拡

張不確かさ

dB

SPL

の測定値の,

実際の測定の拡
張不確かさで広

げた,無線周波電

磁界がないとき

の SPL からの偏

dB

許容限度値

dB

測定の拡張不確
かさの最大許容

dB

26

∼<500

500

∼1

000


75

C 1515

:2004 (IEC 60942:2003)

電源周波数磁界がないときの音圧レベル又はマイクロホンの出力電圧  ....................dB 又は V

基準の向き−

実効値 80 A/m の一様な交流磁界強度

周波数

Hz

SPL

又はマイク

ロホンの出力電

圧の測定値

dB

又は V

実際の測定の拡

張不確かさ

dB

SPL

の測定値の,

実際の測定の拡
張不確かさで広

げた,電源周波数

磁界がないとき

の SPL からの偏

dB

許容限度値

dB

測定の拡張不確

かさの最大許容

dB

50

60

基準の向きにおおむね直交する追加の向き−

実効値 80 A/m の一様な交流磁界強度

用いた向きの概要 ....................................................................................................................................

周波数

Hz

SPL

又はマイク

ロホンの出力電

圧の測定値

dB

又は V

実際の測定の拡

張不確かさ

dB

SPL

の測定値の,

実際の測定の拡
張不確かさで広

げた,電源周波数

磁界がないとき

の SPL からの偏

dB

許容限度値

dB

測定の拡張不確

かさの最大許容

dB

50

60

測定中の静圧範囲 .................... ∼ .................... kPa

測定中の温度範囲 .................... ∼ .................... ℃

測定中の相対湿度範囲 .................... ∼ .................... %

備考:


76

C 1515

:2004 (IEC 60942:2003)

参考文献

IEC 61000-6-2 : 1999

,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 6-2 : Generic standards−Immunity for

industrial environments

CISPR 16-1 : 1999

,Specification for radio disturbance and immunity measuring apparatus and methods−Part 1 :

Radio disturbance and immunity measuinrg apparatus