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C1111:2006

(1)

まえがき

この規格は,工業標準化法第 14 条によって準用する第 12 条第 1 項の規定に基づき,社団法人日本電気

計測器工業会(JEMIMA)/財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格を改正す

べきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工業規格である。

これによって,JIS C 1111: 1989 は改正され,この規格に置き換えられる。

改正に当たっては,日本工業規格と国際規格との対比,国際規格に一致した日本工業規格の作成及び日

本工業規格を基礎にした国際規格原案の提案を容易にするために,IEC 60688:1992,Electrical measuring

transducers for converting a.c. electrical quantities to analogue or digital signals 並びに Amendment 1(1997)及び

Amendment 2(2001)を基礎として用いた。

この規格の一部が,技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の

実用新案登録出願に抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会

は,このような技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の実用新

案登録出願にかかわる確認について,責任はもたない。

JIS C 1111:2004

には,次に示す附属書がある。

附属書 1(参考)JIS と対応する国際規格との対比表


C 1111

:2006

(2)

目  次

ページ

序文 

1

1.

  適用範囲

1

2.

  引用規格

2

3.

  定義

2

3.1

  一般用語 

2

3.2

  測定量によるトランスデューサの種類 

3

3.3

  出力負荷によるトランスデューサの種類 

4

3.4

  公称値

4

3.5

  使用者による調整

5

3.6

  影響量及び標準状態

5

3.7

  誤差及び影響変動値

5

3.8

  精度,精度階級及び階級指数

5

4.

  階級指数,固有誤差の許容限度,補助電源及び標準状態

6

4.1

  階級指数 

6

4.2

  固有誤差 

6

4.3

  固有誤差の試験条件

6

4.4

  補助電源 

6

5.

  要求事項

8

5.1

  入力値

8

5.2

  アナログ出力信号

9

5.3

  ディジタル出力信号

9

5.4

  リプル(アナログ出力に適用

9

5.5

  応答時間 

9

5.6

  測定量の過入力による影響変動値 

10

5.7

  出力信号の限界値

10

5.8

  動作条件の限界

10

5.9

  測定範囲の限界

10

5.10

  保存及び輸送の条件の限界

10

5.11

  封印

10

5.12

  安定性

10

6.

  試験

10

6.1

  一般事項 

10

6.2

  補助電源の電圧による影響変動値 

11

6.3

  補助電源の周波数による影響変動値 

12

6.4

  周囲温度による影響変動値 

12


C 1111

:2006

(3)

6.5

  入力量の周波数による影響変動値 

12

6.6

  入力電圧による影響変動値 

13

6.7

  入力電流による影響変動値 

13

6.8

  力率による影響変動値 

13

6.9

  出力負荷による影響変動値 

14

6.10

  入力量のひずみによる影響変動値 

14

6.11

  外部磁界による影響変動値 

15

6.12

  不平衡電流による影響変動値

15

6.13

  測定素子間の相互作用による影響変動値

16

6.14

  自己加熱による影響変動値

16

6.15

  連続動作による影響変動値

16

6.16

  コモンモード干渉による影響変動値 

17

6.17

  シリーズモード干渉による影響変動値 

17

6.18

  許容過入力 

17

6.19

  電圧試験,絶縁試験及びその他の安全性に関する要求事項 

18

6.20

  インパルス電圧試験 

18

6.21

  高周波妨害試験

18

6.22

  温度上昇試験 

18

6.23

  その他の試験 

19

7.

  表示

19

7.1

  ケース上の表示

19

7.2

  トランスデューサの標準状態及び公称使用範囲に関する表示 

19

7.3

  接続及び端子の区別

20

7.4

  別資料に記載する情報 

21

附属書 1(参考)JIS と対応する国際規格との対比表

22


日本工業規格

JIS

 C

1111

:2006

交流入力トランスデューサ

Electrical measuring transducers for converting a.c. electrical quantities to

analogue or digital signals

序文  この規格は,1992 年に第 2 版として発行された IEC 60688,Electrical measuring transducers for

converting a.c. electrical quantities to analogue or digital signals 並びに Amendment 1(1997)及び Amendment

2(2001)を翻訳し,技術的内容を変更して作成した日本工業規格である。

なお,この規格で点線の下線を施してある箇所は,原国際規格を変更している事項である。変更の一覧

表をその説明を付けて,

附属書 1(参考)に示す。

1. 

適用範囲  この規格は,交流の電気的量を測定するための電気的な入力及び出力をもつ交流入力トラ

ンスデューサ(以下,トランスデューサという。

)について規定する。出力信号は,アナログの直流又はデ

ィジタルとする。伝送目的に使用するトランスデューサの出力は,外部装置と適合しなければならない。

この規格は,次のような交流の電気的量を出力信号に変換するトランスデューサに適用する。

−  電流

−  電圧

−  有効電力

−  無効電力

−  力率

−  位相角

−  周波数

測定範囲内では,出力信号は測定量の関数である。補助電源は使用してもよい。

この規格は,次のトランスデューサにも適用できる。

−  入力の公称周波数が,5 Hz∼1.5 kHz のもの。

−  測定用トランスデューサが,非電気的量の測定装置の一部となる場合であって,かつ,この規格の

適用範囲に含まれると見なされる場合。

−  テレメータ,プロセス制御などの用途及び限定された環境のもとで使用するトランスデューサ。

この規格は,次のことを目的とする。

−  電力測定技術,特にプロセス制御及びテレメータ装置に使われるトランスデューサに関する用語及

び定義を規定する。

−  トランスデューサの性能を評価するための試験方法を統一し,規定する。

−  トランスデューサの精度限界及び出力値を規定する。

備考  この規格の対応国際規格を,次に示す。


2

C 1111

:2006

なお,対応の程度を表す記号は,ISO/IEC Guide 21 に基づき,IDT(一致している)

,MOD

(修正している)

,NEQ(同等でない)とする。

IEC 60688:1992

,Electrical measuring transducers for converting a.c. electrical quantities to analogue or

digital signals 並びに Amendment 1(1997)及び Amendment 2(2001) (MOD)

2. 

引用規格  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成す

る。これらの引用規格のうちで,発行年を付記してあるものは,記載の年の版だけがこの規格の規定を構

成するものであって,その後の改正版・追補には適用しない。発効年を付記していない引用規格は,その

最新版(追補を含む。

)を適用する。

JIS C 60068-2-3

  環境試験方法−電気・電子−高温高湿(定常)試験方法

備考 IEC 

60068-2-3:1969

  Environmental testing Part 2: Tests−Test Ca:Damp heat,steady state が,こ

の規格と一致している。

JIS C 60068-2-6

  環境試験方法−電気・電子−正弦波振動試験方法

備考 IEC 

60068-2-6:1995

  Environmental testing−Part 2: Tests−Test Fc: Vibration (sinusoidal)が,

この

規格と一致している。

JIS C 60068-2-27

  環境試験方法−電気・電子−衝撃試験方法

備考 IEC 

60068-2-27:1987

  Environmental testing. Part 2: Tests. Test Ea and guidance: Shock が,この

規格と一致している。

JIS C 60068-2-31

  環境試験方法−電気・電子−面落下,角落下及び転倒(主として機器)試験方法

備考 IEC 

60068-2-31:1969

  Environmental testing. Part 2: Tests. Test Ec: Drop and topple, primarily for

equipment-type specimens が,この規格と一致している。

JIS C 1010-1

  測定,制御及び研究室用電気機器の安全性  第 1 部:一般要求事項

備考 IEC 

61010:2001

  Safety requirements for electrical equipment for measurement, control, and

laboratory use−Part 1: General requirements からの引用事項は,この規格の該当事項と同等で

ある。

JIS C 1102-1

  直動式指示電気計器  第 1 部:定義及び共通する要求事項.

備考 IEC 

60051-1:1997

  Direct acting indicating analogue electrical measuring instruments and their

accessories−Part 1: Definitions and general requirements common to all parts  が,この規格と一致

している。

IEC 60381-1:1982

  Analogue signals for process control systems. Part 1: Direct current signals

IEC 61000-4 series

  Electromagnetic compatibility(EMC)

3. 

定義  この規格で用いる主な用語の定義は,次による。

3.1 

一般用語

3.1.1 

交流入力トランスデューサ  (electrical measuring transducer)  測定のために,交流の測定量を,直

流電流,直流電圧又はディジィタル信号に変換する装置。

3.1.2 

補助電源(auxiliary supply)  トランスデューサを正常に動作させるために必要な,測定量以外の交

流電源又は直流電源。

3.1.3 

補助回路(auxiliary circuit)  通常,補助電源によってエネルギーを供給する回路。

備考  補助回路は,ときには入力量の一つからエネルギーを供給することもある。


3

C 1111

:2006

3.1.4 

ゼロオフセット付トランスデューサ[transducer with offset zero (live zero)]  測定量がゼロのとき,

ゼロでないあらかじめ定められた出力を与えるトランスデューサ。

3.1.5 

ゼロサプレス付トランスデューサ(transducer with suppressed zero)  ゼロを超えた測定量に対して,

ゼロに相当した信号を出力するトランスデューサ。

3.1.6 

ひずみ率(distortion factor)  非正弦波の実効値に対する含有高調波の実効値の比。

3.1.7 

出力負荷(output load)(アナログ信号に適用)  トランスデューサの出力端子の外側に接続される

回路及び装置の全抵抗。

3.1.8 

リプル含有量(アナログ出力信号の)ripple content(of an analogue output signal)]  定常入力状態

のときの出力変動分のピークピ一ク値を,基底値に対する百分率で表した値。

3.1.9 

出力信号(output signal)  測定量に対応したアナログ形式又はディジタル形式の出力。

3.1.10 

出力電力(output power)  トランスデューサの出力端子における電力。

3.1.11 

出力電流(電圧)[output current (voltage)](アナログ信号に適用)  トランスデューサから出力さ

れる測定量に対応した電流(電圧)。

3.1.12 

可逆出力電流(電圧)[reversible output current (voltage)](アナログ信号に適用)  測定量の符号

又は方向の変化に応じ,極性を反転する出力電流(電圧)

3.1.13 

トランスデューサの測定素子(measuring element of a transducer)  測定量又は測定量の一部を,相

当する信号に変換するトランスデューサのユニット又はモジュール。

3.1.14 

単素子トランスデューサ(single element transducer)  一つの測定素子をもつトランスデューサ。

3.1.15 

多素子トランスデューサ(multi-element transducer)  二つ以上の測定素子をもつトランスデューサ。

出力信号は,個々の素子による測定量に対応した信号を結合して出力する。

3.1.16 

複合トランスデューサ(multi-section transducer)  一つ以上の機能をもち,独立した測定回路を二

つ以上もったトランスデューサ。

3.1.17 

応答時間(response time)  測定量が,規定された値へ急に変化したときから,出力信号が最終の静

止値又は最終の静止値を中心とする規定の幅の中に収まるまでの時間。

3.1.18 

コンプライアンス電圧(精度の限界内の出力電圧)(compliance voltage)  出力負荷が規定の範囲を

もった電流出力トランスデューサにおいて,この規格に適合して動作できる出力端子の電圧値。

3.1.19 

(出力)シリーズモード干渉電圧[(output) series mode interference voltage]  出力端子と負荷との

間に直列に現れる不必要な交流電圧。

3.1.20 

(出力)コモンモード干渉電圧[(output) common mode interference voltage]  出力端子の各々と基

準点との間に存在する不必要な交流電圧。

3.1.21 

保存条件(storage condition)  トランスデューサを損傷なく,(非動作状態で)保存できる条件。温

度又は他の特定条件などの影響量の範囲で示す。

3.1.22 

安定性(stability)  すべての影響量を規定範囲に保持した状態で,規定された期間にわたって性能

特性を変化することなく維持できるトランスデューサの能力。

3.1.23 

短期間安定性(short-term stability)  24 時間を通じての安定性。

3.1.24 

長期間安定性(long-term stability)  1 年を通じての安定性。

3.1.25 

使用グループ(usage group)  特定の環境条件下で動作する,トランスデューサの分類。

3.2 

測定量によるトランスデューサの種類

3.2.1 

電圧トランスデューサ(voltage transducer)  交流電圧の測定用のトランスデューサ。

3.2.2 

電流トランスデューサ(current transducer)  交流電流の測定用のトランスデューサ。


4

C 1111

:2006

3.2.3 

有効電力(watt)トランスデューサ(active power (watt) transducer)  有効電力の測定用のトランスデ

ューサ。

3.2.4 

無効電力(var)トランスデューサ(reactive power (var) transducer)  無効電力の測定用のトランスデ

ューサ。

3.2.5 

周波数トランスデュ一サ(frequency transducer)  交流電気的量の周波数の測定用のトランスデュ

ーサ。

3.2.6 

位相角トランスデューサ(phase angle transducer)  同一周波数の二つの交流電気的量の位相角を測

定用のトランスデューサ。

3.2.7 

力率トランスデューサ(power factor transducer)  交流回路の力率の測定用のトランスデューサ。

3.3 

出力負荷によるトランスデューサの種類

3.3.1 

固定出力負荷トランスデューサ(fixed output load transducer):  出力負荷が公称値の規定の限度内

のときだけ,この規格に適合するトランスデューサ。

3.3.2 

可変出力負荷トランスデューサ(variable output load transducer)  出力負荷が特定の範囲の任意の

値のとき,この規格に適合するトランスデューサ。

3.4 

公称値

3.4.1 

公称値(nominal value)  トランスデューサの使用条件を示すための値。

備考  測定量の下限公称値及び上限公称値は,出力信号の下限公称値及び上限公称値に対応する。

3.4.2 

出力スパン(以下,“スパン”という。)(output span)  出力信号の上限公称値と下限公称値との代

数差。

3.4.3 

基底値(fiducial value)  トランスデューサの精度を規定するための基準の値。

基底値は,スパンとする。ただし,可逆で対称の出力信号をもつトランスデューサで,製造業者が基底

値をスパンの 1/2 と指定した場合は除く。

3.4.4 

回路絶縁電圧(公称回路電圧)(circuit insulation voltage)  トランスデューサが接続される回路の

対地最高回路電圧。この電圧で,電圧試験が決められる。

3.4.5 

公称力率(nominal power factor)  公称電力を得るために,  公称電圧と公称電流の積に乗じる係数。

A

V

W

×

=

ϕ

cos

ここに, cos

ϕ

公称力率

W

公称電力

V

公称電圧

A

公称電流

電流及び電圧が正弦波で,かつ,電流と電圧との位相差が

ϕ

のとき,公称力率は cos

ϕ

である。無効電力

トランスデューサについては,公称力率は sin

ϕ

(無効率)である。

3.4.6 

入力電流及び入力電圧の最大許容値(maximum permissible values of input current and voltage)  ト

ランスデューサが長時間損傷なく耐えられる製造業者によって指定された,電流値及び電圧値。

3.4.7 

出力(電流又は電圧)信号の限界値[limiting value of the output(current or voltage) signal]  いかな

る状態においても超えることのない出力(電流又は電圧)信号の,設計上の上限値。

3.4.8 

測定範囲(measuring range)  測定量の二つの値によって定まる範囲で,動作がこの規格の要求事項

に適合する範囲(JIS C1102-1  2.4.3 参照)。


5

C 1111

:2006

3.4.9 

測定電圧の公称値(nominal value of the measured voltage)  トランスデューサの電圧入力回路に接

続する外部回路(例えば,変圧器の二次巻線)の電圧公称値。

3.4.10 

測定電流の公称値(nominal value of the measured current)  トランスデューサの電流入力回路に接

続する外部回路(例えば,変流器の二次巻線)の電流公称値。

3.4.11 

測定量の公称値(nominal value of the measurand)  有効電力トランスデューサ及び無効電力トラン

スデューサの測定電圧,測定電流及び力率の各公称値に対応する測定量の値。

3.5 

使用者による調整  トランスデューサは,使用者が調整することを前提として,出荷してもよい(そ

の場合は,十分な安定性及び精度をもつ電源及び測定機器が必要なことを明示することが望ましい。

。こ

のようなトランスデューサに次の定義を適用する。

3.5.1 

校正値(calibration value)  特定の用途に対し,公称値を使用者による調整で変更した値。

3.5.2 

測定電圧の校正値(calibration value of the measured voltage)  トランスデューサの電圧入力回路に

加える電圧の値。

3.5.3 

測定電流の校正値(calibration value of the measured current)  トランスデューサの電流入力回路に

加える電流の値。

3.5.4 

測定量の校正値(calibration value of the measurand)  使用者による調整の結果として得られる測定

量の値。

3.5.5 

出力信号の校正値(calibration value of the output signal)  調整後の測定量の校正値に対応するトラ

ンスデューサの出力信号の値。

3.5.6 

調整範囲(adjustment range)  測定電流又は測定電圧の調整可能な範囲。

3.5.7 

変換係数(conversion coefficient)  測定量の値と対応する出力信号の値との関係。

3.6 

影響量及び標準状態

3.6.1 

影響量(influence quantity)  トランスデューサの性能に影響を与える可能性のある(測定量以外の)

量。

3.6.2 

標準状態(reference conditions)  トランスデューサの固有誤差に関する要求を満たす,規定された

状態。標準状態は,基準値又は基準範囲で規定する。

3.6.3 

基準値(reference value)  トランスデューサの固有誤差に関する要求を満たす,影響量の規定され

た単一の値。

3.6.4 

基準範囲(reference range)  トランスデューサの固有誤差に関する要求を満たす,影響量の値の規

定された範囲。

3.6.5 

公称使用範囲(nominal range of use)  トランスデューサの出力信号の変化が,規定の限度を超える

ことのない,影響量の値の規定された範囲。

3.7 

誤差及び影響変動値

3.7.1 

誤差(error)  出力信号の実際の値から計算上の値を減算し,代数的に表現した値。

3.7.2 

百分率誤差(error expressed as a percentage of the fiducial value)  誤差の基底値に対する百分率。

3.7.3 

固有誤差(intrinsic error)  トランスデューサの標準状態での誤差。

3.7.4 

影響変動値(variation due to an influence quantity)  一つの影響量を順次二つの異なる値にしたと

き,測定量の同じ値に対する出力信号の二つの値の差。

3.7.5 

百分率影響変動値(variation due to an influence quantity expressed as a percentage of the fiducial 

value)

  基底値に対する百分率で表した影響変動値。単に影響変動値ということもある。

3.8 

精度,精度階級及び階級指数


6

C 1111

:2006

3.8.1 

精度(accuracy)  トランスデューサの精度は,固有誤差の限度及び影響変動値の限度によって定義

する。

3.8.2 

精度階級(accuracy class)  トランスデューサの階級。その階級に属するすべてのトランスデューサ

の精度が同じ数字で示され,この規格のすべての要求に適合する。

3.8.3 

階級指数(class index)  精度階級を示す数字。

備考1.  階級指数は,影響変動値に対するのと同様に,固有誤差に対しても適用できる。

2. 

この規格をとおして“階級指数の X  %”とは,

“階級指数に対応する誤差の限度の X  %”を

意味する。

4. 

階級指数,固有誤差の許容限度,補助電源及び標準状態

4.1 

階級指数  トランスデューサの階級指数は,表 から選定する。

  1  階級指数と基底値の百分率で表した固有誤差との許容限度

階級指数 0.1

0.2

0.5

1

固有誤差の許容限度

±0.1 %

±0.2 %

±0.5 %

±1 %

備考  階級指数の 0.25,0.3,1.5,2,2.5,3 及び 5 は推奨しないが用いて

もよい。

4.2 

固有誤差  トランスデューサが標準状態にあるとき,出力信号の上限公称値と下限公称値との間の

いかなる点でも,百分率誤差は,

表 に示す固有誤差の限度を超えてはならない。

トランスデューサに補正表が付いている場合であっても,その数値を誤差の決定の際に計算に入れては

ならない。

4.3 

固有誤差の試験条件

4.3.1 

予備状態の前及び固有誤差の試験の前に,製造業者の指示に従って予備調整を実施する。トランス

デューサは,標準温度状態に放置されていなければならない。

4.3.2 

トランスデューサは,

表 に示す条件の回路に接続しておく。

4.3.3 

使用者が調整するための機構のあるトランスデューサでは,指定された予備状態の後に,製造業者

の指示に従って調整をする。

4.3.4 

各々の影響量についての標準状態は,

表 に示す。測定量についての標準状態は,表 に示す。

4.4 

補助電源  トランスデューサは,必要な場合,補助電源を用いてもよい。補助電源は,直流及び交

流に区分して規定する。


7

C 1111

:2006

  2  予備状態

条      件

数  値

電  圧(補助電源を含む)

公称値

電  流

公称値

周波数

基準値

力  率

基準値

回路に接続してから試験開始を
するまでの時間

30 分

  3  影響量の標準状態と試験時の許容限度

影  響  量

    特別な表示がない

    場合の標準状態

    単一基準値に適用する試験時の

    許容限度  (

1

)

周囲温度 
    使用グループ(6.1.2 参照)

I

II

III

表示すること 
 
20℃, 23℃又は 27  ℃ 
15∼30  ℃ 
  0∼45  ℃

 
 
±1  ℃ 

周波数の影響を受けにくいもの

公称値

±2  %





周波数の影響を受けやすいもの

表示すること

±0.1  %

入力量の波形

正弦波

製造業者が指定しない限り,ひずみ率の 100
倍が,階級指数を超えないこと

固定出力負荷トランスデューサ

公称値

±1  %



可変出力負荷トランスデューサ

公称範囲の中心値

±1  %

交流電圧

公称値

±2  %

直流電圧

公称値

±1  %

周波数

公称値

±1  %

補助電源

ひずみ率

0.05

外部磁界

なし

任意の方向で直流から 65 Hz までの 
周波数で 40 A/m  (

2

)

(

1

基準範囲で表示された場合,許容限度は認めない。

(

2

)  40 A/m

は,ほぼ地磁界の最大値である。


8

C 1111

:2006

  4  測定量に関する標準状態

標    準    状    態

測  定  量

電    圧

電    流

力率又は無効率

有効電力

公称電圧±2  %

公称電流までの任意の電流

cos

ϕ

=1.0∼0.8

遅相又は進相

無効電力

公称電圧±2  %

公称電流までの任意の電流

sin

ϕ

=1.0∼0.8

遅相又は進相  (

3

)

位相角又は力率

公称電圧±2  %

公称電流の 40∼100  %

周  波  数

公称電圧±2  %

多  相  の  量

対称電圧  (

4

)

対称電流  (

4

)

(

3

有効電力トランスデューサ及び無効電力トランスデューサは,通常は共に使用され,変流器及び変圧器に
接続される。ここでの sin

ϕ

=1.0∼0.8 は,試験を容易にするために用いることに注意しなければならない。

(

4

任意の二つの線間電圧の差,及び任意の二つの相電圧の差は,その平均(線間電圧及び相電圧それぞれの平

均)の 1  %を超えてはならない。各相の電流は,それらの電流の平均と 1  %を超える差があってはならな
い。各相の電流とそれに対応した相電圧との位相は,それらの位相の平均と 2  °を超える差があってはな
らない。

多素子トランスデューサの各測定素子間の相互の関係が明らかな場合は,単相で試験してもよい。

4.4.1 

直流電源

1) 

直流電源の電圧の値は,5.1.2 による。

2) 

電池電源は,接地又は非接地でもよい。トランスデューサは,適切な方法で電源と入力/出力回路間

の絶縁が確保されていなければならない(電圧試験の詳細は 6.19 参照)

3) 

トランスデューサは,直流電源に重畳される,最大 10 %ピークピーク値までのリプルに耐えなけれ

ばならない。

4) 

トランスデューサから電池へのノイズの帰還は,100 MHz までの全周波数において,規定された電

源抵抗で測定する場合,100 mV ピークピーク値に制限しなければならない。

さらに,トランスデュ一サに供給している電池が,電話装置にも使用されている場合,そのノイ

ズは,2 mV 評価雑音電圧を超えてはならない。

備考  評価雑音電圧の重み付け特性は,CCITT(国際電信電話諮間委員会)勧告 P 53 による。

4.4.2 

交流電源  交流電源の電圧の公称値は,5.1 による。この電圧は,別電源で用意するか又は測定電

圧から供給してもよい。

5. 

要求事項

5.1 

入力値  電圧,電流,周波数及び補助電源の公称値は,製造業者が指定しなければならない。

5.1.1 

使用者が調整可能なトランスデューサの調整範囲は,次による。

1) 

入力電圧  公称値の 80∼120  %


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C 1111

:2006

2) 

入力電流  公称値の 60∼130  %

これは上記公称値の範囲の測定量で,出力信号の公称値に調整することができるということを意味する。

5.1.2 

直流補助電源の推奨公称値は,24 V,48 V 又は 110 V とする。

5.2

アナログ出力信号  出力信号の下限公称値及び上限公称値並びにそのコンプライアンス電圧は,

5.2.1

及び 5.2.2 又は 5.2.5 から選定する。

5.2.1

出力電流  出力電流は,4∼20 mA 信号を優先する。

備考  “0 mA”状態は,特別な意味がある(IEC 60381-1 参照)。

その他の値:

0∼20 mA

0∼1 mA

0∼10 mA

−1∼0∼1 mA

−10∼0∼10 mA

5.2.2 

コンプライアンス電圧  コンプライアンス電圧は,次による。

 10

V

 15

V

5.2.3 

製造業者は,出力負荷及び入力の任意の状態で起こり得る出力電圧の最大値を,記述しなければな

らない。この電圧は,安全特別低電圧の限度を超えてはならない。

5.2.4 

出力電流が低い値のとき,障害が起こり得るなら,その注意事項を記載する。

5.2.5 

出力電圧  出力電圧は,次による。

0∼1 V

0∼10 V

−1∼0∼1 V

−10∼0∼10 V

備考  電圧出力は推奨しない。

5.3 

ディジタル出力信号  ディジタル出力信号は,伝送装置の規定だけでなく,トランスデューサの精

度及び応答時間に関する規定にも対応して選定する。

5.4

リプル(アナログ出力に適用)  出力信号のリプル含有量は,階級指数の 2 倍を超えてはならない。

5.5 

応答時間

5.5.1 

応答時間の試験をする前に,トランスデューサは標準状態に置かなければならない。補助回路は,

それが入力量の一つから印加され,かつ,別々に印加できない場合を除き,少なくとも予備状態の間,印

加しておかなければならない。

5.5.2 

応答時間は,製造業者が明示しなければならない。応答時間は,出力信号が基底値の 0 %から 90 %

に変化するステップ入力を加えて試験する。

5.5.3 

入力を減少させる試験が必要な場合は,出力信号が基底値の 100 %から 10 %に変化するステップ

入力を加える。

5.5.4 

幅(3.1.17 参照)は,出力信号の上限公称値の±1 %とする。

5.5.5 

周波数トランスデューサ及びゼロサプレス付トランスデューサの試験方法は,製造業者が明示する。


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C 1111

:2006

5.6 

測定量の過入力による影響変動値  製造業者と使用者との合意によって,トランスデューサが公称

値の 150  %の入力まで動作することを要求される場合には,入力の公称値の 100  %の固有誤差と 150  %

(標準状態で)における誤差との差は,階級指数の 50  %を超えてはならない。

有効電力トランスデューサ及び無効電力トランスデューサでは,公称値の 150  %は,電圧を公称値に保

ち,電流を増加することによって得る。

5.7

出力信号の限界値  出力信号は,上限公称値の 2 倍以内に制限しなければならない。

トランスデューサは,測定量が下限公称値と上限公称値との間にないとき,下限公称値と上限公称値と

の間に出力があってはならない。

5.8 

動作条件の限界  6.に示す公称使用範囲の限界とは,この範囲以内でトランスデューサがこの規格

の要求を満足するという意味である。トランスデューサは,この限界を超えて動作し得るが,使用者は次

のことを留意しなければならない。

−  精度は,維持されない可能性がある。

−  設計上の動作寿命は減少する可能性がある。

例えば,多くのトランスデューサは,−25  ℃又は+70  ℃付近の周囲温度でも動作するが,製造業者は,

精度及び寿命の両面で起こり得る低下について助言するのが望ましい。

5.9 

測定範囲の限界  測定範囲の限界が出力の下限公称値及び上限公称値と異なる場合は,測定範囲の

限界を表示しなければならない(7.1 i)  参照)

5.10 

保存及び輸送の条件の限界  製造業者が明示している場合を除き,トランスデューサは,−40  ℃∼

+70  ℃の温度範囲で,損傷することなく耐えなければならない。

標準状態に戻したとき,この規格の要求事項を満足しなければならない。

製造業者は,トランスデューサが損傷しないことを保証するために,必要な追加制限条件があれば明示

しなければならない。

5.11 

封印  トランスデューサが不用意に調整されることを防ぐために封印する場合は,封印を破らなけ

れば内部回路及びケース内部の部品に触れられないようにしなければならない。

5.12 

安定性  トランスデューサは,製造業者が指定した使用,輸送及び保存上の各条件に従っている場

合には,製造業者が指定した期間を通じて,各々の精度階級で規定された固有誤差の限度を満足しなけれ

ばならない。

備考  期間は一般的に 1 年を超えない。

6. 

試験

6.1 

一般事項

6.1.1 

影響変動値の試験  影響変動値は,個々の影響量について試験しなければならない。試験中は,他

のすべての影響量は標準状態に維持しなければならない。

すべての影響量は,試験手順,計算及び各使用グループごとに,階級指数の百分率で示した許容影響変

動値とともに,それぞれの項目で示す。すべての影響変動値試験で許容値を超えてはならない。

影響変動値は,出力の上限公称値と少なくとも別の一点において,試験しなければならない。有効電力

トランスデューサ及び無効電力トランスデューサについては,電圧及び力率を標準状態にして,電流の値

を変化させて試験する。

基準範囲が規定されている場合は,各々の基準範囲の限度及び基準範囲の限度に隣接した側の公称使用

範囲の任意の値に,影響量を変化させなければならない。


11

C 1111

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6.1.2 

環境条件  温度及び湿度の条件は,表 に示した使用グループにクラス分けする。

使用グループの定義は,次による。

使用グループ I:屋内用であり,研究室,工場などで一般にみられる条件下で,その装置が注意して

取り扱われる場所で使用されるもの。

使用グループ II:厳しい環境から保護された場所で,取り扱いがグループ I とグループ III の中間の条

件で使用されるもの。

使用グループ III:屋外用で,かつ,厳しい条件で使用されるもの。

  5  使用グループ

使用グループ

温度の公称使用範囲

相  対  湿  度

I

II

III

10∼.35  ℃

0∼45  ℃

−10∼55  ℃

93      %以下

備考  JIS C 60068-2-3 を参照した。

周囲温度は,トランスデューサが普通に動作する一つの代表点で測定する。この測定点は,トランスデ

ューサの近くで,通風があり,トランスデューサの発熱,太陽の照射熱及び他の熱源による著しい影響の

ない場所とする。

湿度は,環境条件が規定の限度内であれば影響量と考えなくてよい。

6.1.3 

計算  計算は,それぞれの項目に示す式によって行う。式の記号は,次による。

R

は,標準状態における出力信号の値。

X

(又は

Y

)は,影響量の極限で測定された出力信号の値。

F

は,基底値。

6.2 

補助電源の電圧による影響変動値

6.2.1 

適用  直流又は交流の補助電源を必要とするすべてのトランスデューサに適用する。ただし,補助

電源を入力電圧から供給する場合で,試験時に接続を分離できないものは除く。

6.2.2 

手順  補助電源電圧の公称値を加え,出力信号の値(R)を記録する。

測定量は一定で,補助電源電圧を 6.2.4 で示す範囲の下限に減少させ,出力信号の値(X)を記録する。

補助電源電圧を,6.2.4 で示す範囲の上限に増大させ,出力信号の値(Y)を記録する。

6.2.3 

計算  影響変動値は,次による。

                    影響変動値:

100

×

F

R

X

  及び

100

×

F

R

Y

6.2.4 

許容影響変動値  許容影響変動値は,次による。

交流補助電源

使用グループ

公称使用範囲

影響変動値

    I

  90∼110  %

   50 %

    II

  80∼120  %

   50 %

    III

  80∼120  %

   50 %

+2

−3


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:2006

直流補助電源

使用グループ        公称使用範囲        影響変動値

    I

  85∼125  %

   50 %

    II

  85∼125  %

   50 %

    III

  85∼125  %

   50 %

6.3 

補助電源の周波数による影響変動値

6.3.1 

適用  交流補助電源を必要とするすべてのトランスデューサに適用する。ただし,補助電源を入力

電圧から供給する場合で,試験時に接続を分離ができないものは除く。

6.3.2 

手順  補助電源の周波数の公称値を加え,出力信号の値(R)を記録する。

測定量は一定で,補助電源の周波数を 6.3.4 で示す範囲の下限に減少させ,このときの出力信号の値(X)

を記録する。

補助電源の周波数を 6.3.4 で示す範囲の上限に増大させ,このときの出力信号の値(Y)を記録する。

6.3.3 

計算  影響変動値の計算は,次による。

                    影響変動値:

100

×

F

R

X

  及び

100

×

F

R

Y

6.3.4 

許容影響変動値

使用グループ

公称使用範囲

影響変動値

    I

  90∼110  %

    50  %

    II

  90∼110  %

    50  %

    III

  90∼110  %

    50  %

6.4 

周囲温度による影響変動値

6.4.1

適用  すべてのトランスデューサに適用する。

6.4.2 

手順  基準温度で,ある一定の測定量における出力信号の値(R)を記録する。

周囲温度を 6.4.4 で示す上限に上昇させ,

状態が安定するまで十分な時間を与える

(通常 30 分間が適当)

このときの出力信号の値(X)を記録する。

周囲温度を 6.4.4 で示す下限に下降させ,状態が安定するまで十分な時間を与える。このときの出力信号

の値(Y)を記録する。

6.4.3 

計算  影響変動値の計算は,次による。

                    影響変動値:

100

×

F

R

X

  及び

100

×

F

R

Y

6.4.4 

許容影響変動値  許容影響変動値は,次による。

使用グループ

公称使用範囲

影響変動値

    I

  10∼35  ℃

  100  %

    II

    0∼45  ℃

  100  %

    III

−10∼55  ℃

  100  %

6.5 

入力量の周波数による影響変動値

6.5.1 

適用  周波数トランスデューサを除く,すべてのトランスデューサに適用する。周波数に敏感なト

ランスデューサ(例えば,移相回路をもつもの)は,例外として公称使用範囲を常に明示する。

6.5.2 

手順  入力周波数の公称値を加え,出力信号の値(R)を記録する。

測定量は一定で,周波数を 6.5.4 で示す範囲の下限に減少させ,このときの出力信号の値(X)を記録する。


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C 1111

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周波数を 6.5.4 で示す範囲の上限に増大させ,このときの出力信号の値(Y)を記録する。

6.5.3 

計算  影響変動値の計算は,次による。

                    影響変動値:

100

×

F

R

X

  及び

100

×

F

R

Y

6.5.4 

許容影響変動値  許容影響変動値は,次による。

使用グループ

公称使用範囲

影響変動値

    I

 90∼110  %

  100  %

    II

  90∼110  %

  100  %

    III

 90∼110  %

  100  %

周波数に敏感なもの    表示する

  100  %

6.6 

入力電圧による影響変動値

6.6.1 

適用  電圧トランスデューサ及び電流トランスデューサを除く,各種トランスデューサに適用する。

6.6.2 

手順  入力電圧の公称値を加え,出力信号の値(R)を記録する。

測定量は一定で,電圧を 6.6.4 で示す範囲の下限に減少させ,このときの出力信号の値(X)を記録する。

電圧を 6.6.4 で示す範囲の上限に増大させ,このときの出力信号の値(Y)を記録する。

6.6.3 

計算  影響変動値の計算は,次による。

                    影響変動値:

100

×

F

R

X

  及び

100

×

F

R

Y

6.6.4 

許容影響変動値  許容影響変動値は,次による。

使用グループ

公称使用範囲

影響変動値

    I

 90∼110  %

   50 %

    II

  80∼120  %

   50 %

    III

 80∼120  %

   50 %

6.7 

入力電流による影響変動値

6.7.1

適用  位相角トランスデューサ及び力率トランスデューサに適用する。

6.7.2 

手順  入力電流の公称値を加え,出力信号の値(R)を記録する。

測定量は一定で,入力電流を 6.7.4 で示す範囲の下限に減少させ,このときの出力信号の値(X)を記録す

る。

入力電流を 6.7.4 に示す範囲の上限に増大させ,出力信号(Y)を記録する。

6.7.3 

計算  影響変動値は,次による。

                    影響変動値:

100

×

F

R

X

  及び

100

×

F

R

Y

6.7.4 

許容影響変動値  許容影響変動値は,次による。

使用グループ

公称使用範囲

影響変動値

    I

 20∼120 %

  100 %

    II

  20∼120 %

  100 %

    III

 20∼120 %

  100 %

6.8 

力率による影響変動値

6.8.1 

適用  有効電力トランスデューサ及び無効電力トランスデューサに適用する。

6.8.2 

手順  力率 1.0 で入力電流の公称値の 50  %を加え,出力信号の値(R)を記録する。


14

C 1111

:2006

測定量は一定で,それぞれ,入力電流を公称値の 100%(10  %)に増加させ,0.5 の遅れ/進み力率にする。

出力信号の二つの値(X

Y)

を記録する。更に,入力電流を公称値の 5  %(力率 1.0)及び 10  %(力率 0.5)

で試験する。

無効電力トランスデューサを試験する場合は,力率を無効率(sin

ϕ

)に読み替える。

また,有効電力トランスデューサは力率 0,無効電力トランスデューサでは無効率 0 で誤差を試験する。

6.8.3 

計算  影響変動値の計算は,次による。

                    影響変動値:

100

×

F

R

X

  及び

100

×

F

R

Y

6.8.4

許容影響変動値  許容変動値は,次による。

使用グループ

公称使用範囲

影響変動値

    I

cos(sin)

ϕ

=0.5∼1∼0.5

   50 %

    II

cos(sin)

ϕ

=0.5∼1∼0.5

   50 %

    III

cos(sin)

ϕ

=0.5∼1∼0.5

   50 %

すべてのトランスデューサで力率 0(又は無効率 0)の誤差は,階級指数の 100 %を超えてはならない。

6.9 

出力負荷による影響変動値

6.9.1

適用  すべての可変出力負荷トランスデューサに適用する。

6.9.2 

手順  出力負荷の値は,公称範囲の中心値とし,出力信号の値(R)を記録する。

測定量は一定で,出力負荷の抵抗を 6.9.4 に示す下限値に減少させ,出力信号の値(X)を記録する。

出力負荷の抵抗を 6.9.4 に示す上限値に増大させ,出力信号の値(Y)を記録する。

6.9.3 

計算  影響変動値の計算は,次による。

                          影響変動値:

100

×

F

R

X

  及び

100

×

F

R

Y

6.9.4 

許容影響変動値  許容影響変動値は,次による。

使用グループ

公称使用範囲

影響変動値

    I

 10∼100  %

   50 %

    II

  10∼100  %

   50 %

    III

 10∼100  %

   50 %

6.10 

入力量のひずみによる影響変動値

6.10.1 

適用  製造業者がひずみ波形用としたすべてのトランスデューサに適用する。

6.10.2 

手順  ひずみのない入力量で適切な値を加え,出力信号の値(R)を記録する。実効値を同じに保ち

6.10.4

に示す第 3 高調波を加え,出力信号の値(X)を記録する。高調波と基本波との間の位相は,影響変動

値が最も大きくなるように加える。

有効電力トランスデューサ及び無効電力トランスデューサでは,この試験はひずみ電流波形の次に,ひ

ずみ電圧波形で行う。

有効電力トランスデューサ及び移相器をもたない無効電力トランスデューサの許容影響変動値は,

6.10.4

に示す。

移相器をもつ無効電力トランスデューサの許容影響変動値は,製造業者が明示する。

6.10.3 

計算  影響変動値の計算は,次による。

影響変動値:

100

×

F

R

X


15

C 1111

:2006

6.10.4

許容影響変動値  許容影響変動値は,次による。

使用グループ

公称使用範囲

影響変動値

    I

ひずみ率  0.2

  200  %

    II

ひずみ率  0.2

  200  %

    III

ひずみ率  0.2

  200  %

6.11 

外部磁界による影響変動値

6.11.1

適用  すべてのトランスデューサに適用する。

6.11.2 

手順  トランスデューサを平均直径 1 m,方形の断面で,かつ径方向の厚さが直径に比べて小さい

コイルの中心に置く。このコイルは 400 アンペアターンで,被測定トランスデューサがない場合,0.4 kA/m

の磁界が発生する。

磁界は,測定回路で使用するのと同じ種類・周波数の電流によって発生させ,影響変動値が最も大きく

なる位相及び方向とする。交流磁界の値は,実効値で示す。

250 mm を超える外形寸法のトランスデューサは,計器の最大寸法の 4 倍よりも大きな平均直径のコイ

ルで試験する。磁界の強さは,上記のものと同じとする。

備考  適切で均一な磁界を発生する他の装置を用いてもよい。

外部磁界がないときの出力信号の値(R)を記録する。

測定量は一定で,  外部磁界を印加したときの出力信号の値(X)を記録する。

6.11.3 

計算  影響変動値の計算は,次による。

影響変動値:

100

×

F

R

X

6.11.4

許容影響変動値  許容影響変動値は,次による

使用グループ

影響変動値

    I

  100  %

    II

  100  %

    III

  100  %

6.12 

不平衡電流による影響変動値

6.12.1 

適用  多素子有効電力トランスデューサ及び多素子無効電力トランスデューサに適用する。

6.12.2 

手順  電流は平衡とし,出力がスパンのほぼ中央となるように調整する。もし,出力のゼロがスパ

ンの中にある場合には,ゼロと上側の公称出力値との間の半分とする。

出力信号の値(R)を記録する。

一つの電流回路を外し,電圧を平衡に,かつ,対称に保ち,  他の電流回路を等しくし,測定量の初期値

を保つように調整する。

出力信号の値(X)を記録する。

6.12.3 

計算  影響変動値の計算は,次による。

影響変動値:

100

×

F

R

X

6.12.4 

許容影響変動値  許容影響変動値は,次による。

使用グループ

影響変動値

    I

  100  %


16

C 1111

:2006

    II

  100  %

    III

  100  %

6.13 

測定素子間の相互作用による影響変動値

6.13.1 

適用  多素子電力トランスデューサ及び多素子無効電力トランスデューサに適用する。ただし,三

つの電流回路で三相 4 線不平衡電力を測る二つの測定素子をもつトランスデューサ(2 1/2 素子と呼ばれる

こともある。

,及び交差結線方式の多素子無効電力トランスデューサは除く。

6.13.2 

手順  一つの電圧入力回路だけに公称電圧を印加する。他の測定回路の電流入力に順次公称電流を

加える。電圧及び電流の位相差を 360°変化させ,このときの出力信号と測定量ゼロに相当する出力信号

との差の最大値(X)を記録する。

なお,補助電源が電圧入力回路と共通の場合には,この回路に電圧を印加する。

6.13.3

計算  影響変動値の計算は,次による。

影響変動値:

100

×

F

X

6.13.4 

許容影響変動値  許容影響変動値は,次による。

使用グループ

影響変動値

    I

   50 %

    II

   50 %

    III

   50 %

6.14 

自己加熱による影響変動値

6.14.1

適用  すべてのトランスデューサに適用する。

6.14.2 

手順  トランスデューサは,周囲温度のもとで少なくとも 4 時間は通電しないでおく。その後,4.3.2

表 の 30 分間の通電はしない。)に従って通電する。

通電 1 分後から 3 分後までの間に出力信号の値(X)を記録する。さらに 30 分後から 35 分後までの間に出

力信号の値(R)を記録する。

6.14.3 

計算  影響変動値の計算は,次による。

影響変動値:

100

×


F

X

R

6.14.4 

許容影響変動値  許容影響変動値は,次による。

使用グループ

影響変動値

    I

  100  %

    II

  100  %

    III

  100  %

6.15 

連続動作による影響変動値

6.15.1

適用  すべてのトランスデューサに適用する。

6.15.2 

手順  トランスデューサを標準状態にし,少なくとも予備状態の時間は通電する。このときの出力

の値(R)を記録する。連続動作後の適切な時間(例えば,6 時間)に出力の値(X)を記録する。

6.15.3 

計算  影響変動値の計算は,次による。

影響変動値:

100

×

F

R

X


17

C 1111

:2006

6.15.4 

許容影響変動値  変動は許されるが,トランスデューサの出力は,その精度階級の規定を満足し続

けなければならない。

6.16 

コモンモード干渉による影響変動値

6.16.1

適用  アナログ出力信号をもつすべてのトランスデューサに適用する。

6.16.2 

手順  上限公称値に近い一定の測定量を加え,出力信号の値(R)を記録する。実効値 100 V の電圧

を 45∼65 Hz まで変化させながら,出力端子の片側と接地間に加える。出力信号の値(R)との差が最も大き

い出力信号の値(X)を記録する。

6.16.3 

計算  影響変動値の計算は,次による。

影響変動値:

100

×

F

R

X

6.16.4 

許容影響変動値  許容影響変動値は,次による。

使用グループ

影響変動値

    I

  100  %

    II

  100  %

    III

  100  %

6.17 

シリーズモード干渉による影響変動値

6.17.1

適用  アナログ電流出力をもつすべてのトランスデューサに適用する。

6.17.2 

手順  上限公称値に近い一定の測定値を加え,コンプライアンス電圧が最大値の 80 %となるよう

にして,出力信号の値(R)を記録する。

実効値 1 V の電圧を 45∼65 Hz に変化させながら,出力信号に直列に加える。出力信号の値(R)との差が

最も大きい出力信号の値(X)を記録する。

備考  シリーズモード干渉の電源の内部直流抵抗が大きすぎる場合は,特に固定出力負荷トランスデ

ューサについて,試験結果に影響を及ぼす可能性がある。

6.17.3 

計算  影響変動値の計算は,次による。

影響変動値:

100

×

F

R

X

6.17.4

許容影響変動値  許容変動値は,次による。

使用グループ

影響変動値

    I

  100  %

    II

  100  %

    III

  100  %

6.18 

許容過入力  6.18.1 及び 6.18.2 の試験を終了し,周囲温度の基準値で平衡状態に戻ったあと,トラン

スデューサは,その階級指数の要求を満たさなければならない。

6.18.1 

連続過入力  トランスデューサは,次の過入力を同時に 24 時間加え,耐えなければならない。

1) 

電圧入力は,補助電源を含めて,その電圧の公称値の 120 %を印加する。

2) 

電流入力は,電流の公称値の 120  %を通電する。

6.18.2 

短時間過入力  試験は標準状態で実施する。トランスデュ一サは,次の短時間過入力を加える。

1) 

電圧入力  測定電圧の公称値の 200  %の電圧を 1 秒間印加する。これを 10 秒間隔で 10 回繰り返す。

2) 

電流入力  測定電流の公称値の 10 倍の電流を 1 秒間通電する。これを 300 秒間隔で 5 回繰り返す。

試験回路は実質的に非誘導性なものとする。


18

C 1111

:2006

6.19

電圧試験,絶縁試験及びその他の安全性に関する要求事項  電圧試験,絶縁試験及びその他の安全

性に関する要求事項は,JIS C1010-1 による。

6.20 

インパルス電圧試験

6.20.1 

標準波形 1.2/50µs,

ピーク値 5 kV の正及び負の試験電圧をトランスデューサに次のように加える。

−  接地端子と他端子全部一括との間。ただし,出力回路は除く。

−  各回路の端子間に順次加え,他の全回路は接地する。ただし,出力端子間には印加しない。

正及び負それぞれ 3 回のインパルスを 5 秒間以上の間隔で加える。設計的に意図されていないフラッシ

オーバ(キャパシタンス放電)は,故障と判定する。

6.20.2 

インパルス電圧試験が終了後,トランスデューサは,その階級指数の要求性能を満たさなければな

らない。

6.20.3  40 V

を超える基準電圧をもった補助回路は,他の回路で実施したものと同じ条件のもとでインパ

ルス電圧試験を行う。

6.21 

高周波妨害試験  製造業者と使用者との合意によって,高周波妨害試験を実施する場合は,次によ

ることが望ましい。

6.21.1 

試験は,トランスデューサを標準状態で動作させ,次に規定するいずれかの波形の繰返し減衰振動

電圧を,a)  及び  b)  に従って 2 秒間印加する。

      波形 1    振動周波数                  :  1∼1.5 MHz

                1/2 減衰時間                  :  6 µs 以上

                繰返し頻度                  :  50 回以上/s

                試験回路出力インピーダンス  :  150∼200 Ω

      波形 2    振動周波数                  :  1 MHz

                1/2 減衰時間                  :  3∼6 サイクル(振動周波数基準)

                繰返し頻度                  :  6∼10 回/商用周波の 1 周期(非同期)

                試験回路出力インピーダンス  :  200 Ω±10 %

a)  2.5 kV

(第 1 波波高値)の試験電圧をコモンモードで次の印加箇所に加える。

−  接地端子と入力端子との間

−  出力回路を除く,すべての独立した回路の相互間(電源回路への適用は,製造業者と使用者との

合意による。

b)  1.0 kV

(第 1 波波高値)の試験電圧をシリーズモードで次の印加箇所に加える。

−  入力回路の各回路の端子間

−  補助電源回路の端子間(適用は,製造業者と使用者との合意による。

6.21.2 

試験後,トランスデューサは,階級指数に相当する要求を満たさなければならない。

なお,試験中の出力変化の許容限度は,製造業者と使用者との合意によって決定する。

6.22

温度上昇試験  トランスデューサを次の条件で通電する。

−  各電流回路は公称電流の 1.1 倍

−  各電圧回路は公称電圧の 1.2 倍

これらの条件は少なくとも 2 時間継続する。試験中トランスデューサは,強制通風が行われているとこ

ろ,太陽光に直接さらされるところなどに置いてはならない。

トランスデューサの温度上昇は,次の値を超えてはならない。

−  入力回路:60 K


19

C 1111

:2006

−  外部表面:25 K

6.23 

その他の試験  製造業者と使用者との合意によって,その他の試験が要求された場合は,次の規格

を基準とする。

−  振動:JIS C 60068-2-6

−  衝撃:JIS C 60068-2-27

−  落下及び転倒:JIS C 60068-2-31

−  電磁両立性(EMC):IEC 61000-4

7. 

表示

7.1 

ケース上の表示  トランスデューサには,外箱表面(又は見通せるところ)に次の事項を表示する。

表示は,読みやすく,かつ,容易に消えないものとする。記号は,

表 による。

a) 

製造業者名又は略号

b) 

形名

c) 

製造番号又は日付コード

d) 

階級指数(E-10 又は E-11)

e) 

測定量の種類及び回路数(記号 B−2,B−4 又は B−6 から B−10)

f) 

測定量の上限及び下限公称値

g) 

変成器と組み合せる場合,その変成比

h) 

規格を満足する出力電流(電圧)及び出力負荷の範囲(アナログ信号だけ)

i) 

該当する場合,測定範囲の限界(5.9 参照)

j) 

適用される場合,組み合わされる機器の製造番号

k)  (

5

)

l) 

補助電源の値

m) 

別資料があることを示す記号(記号 F-33)

n) 

調整データ用記入欄(該当する場合)

o) 

使用グループの記号 I,II 又は III

p) 

コモンモード電圧  (

6

)

q)

  測定カテゴリ(JIS C 1010-1  5.1.5 参照)

r) 

JIS C 1010-1

による汚染度

s) 

JIS C 1010-1

によって,他に要求される安全記号

カバーのような容易に取り外しができる個所に表示及び記号がある場合でも,製造番号は,トランスデ

ューサに付けなければならない。

入力と出力との間に非直線的関係があるトランスデューサは,記号 F−33 を付け,入力と出力間の実際

の関係を別資料に記載しなければならない。

(

5

)  IEC 60688

では,削除された。

(

6

)

ケース上に十分な場所がない場合は,別資料に記載する。


20

C 1111

:2006

  6  トランスデューサに表示するための記号

No.

項        目

記  号

  B                                    入力の種類及び測定回路の数

  B-1

直流回路(補助電源に対して)

  B-2

交流回路(単相)

  B-3

直流及び交流回路

  B-4

三相交流回路(一般記号)

  3

  B-6 3 線式回路用単測定素子

  3       1E

  B-7 4 線式回路用単測定素子

  3N      1E

  B-8

不平衡負荷 3 線式回路用 2 測定素子

  3        2E

  B-9

不平衡負荷 4 線式回路用 2 測定素子

  3N            2E

  B-10

不平衡負荷 4 線式回路用 3 測定素子

  3N            3E

  C      安  全(JIS C 1010-1 を参照)

  E      精度階級

  E-10

基底値がスパンに相当するときの階級指数(例 1)

      |1|

  E-11

基底値がスパンの半分に相当するときの階級指数(例 0.5)

  |0.5 / 0.5|

  F      一般記号

  F-31

接地端子(一般記号)

  F-33

別文書参照

  F-42

フレーム又はシャーシ端子

  F-43

保護接地端子

  F-44

ノイズレス接地端子

  F-45

測定回路接地(グランド)端子

  F-46

正極端子

+

  F-47

負極端子

7.2 

トランスデューサの標準状態及び公称使用範囲に関する表示

7.2.1 

基準値(又は基準範囲)及び公称使用範囲が,

表 3,表 及び箇条 6.に規定したものと異なる場合,

トランスデューサ上又は別資料に表示しなければならない。

7.2.2 

基準値又は基準範囲を表示するときは,アンダーラインで区別する。

7.2.3 

表 に温度を例に表示方法を示す。


21

C 1111

:2006

  7  温度についての標準状態及び公称使用範囲の表示例

意      味

  10 ... 23 ... 35  ℃

グループ I に従う

    0 ... 15 ... 30 ... 45  ℃

グループ II に従う

  −10 ... 0 ... 45 ... 55  ℃

グループ III に従う

    0 ... 25 ... 40  ℃

基準値:25  ℃

公称使用範囲:0∼40  ℃

  −5 ... 20 ... 30 ... 35  ℃

基準範囲:20∼30  ℃ 
公称使用範囲:−5∼35  ℃

備考  表示は,公称使用範囲の限度及び基準値(又は範囲)を増加する順

序で記入し,各数字の間を 3 個の点で分ける。

7.3 

接続及び端子の区別  トランスデューサを正しく使用するために必要な場合,接続図又は表を添付

し,正しい接続方法が分かるように端子を明りょう(瞭)に表示しなければならない。

測定回路の端子が接地電位又はその近くの電位に

(安全性又は機能的な理由のため)

接続するときには,

交流電源回路の中性線に接続する端子は,大文字の N を表示し,その他の場合は,記号 F-45(

表 6)を表

示する。

接地端子記号 F−31 及び/又は F−42∼F−45 の中から適切なものを使用し表示する。

7.4 

別資料に記載する情報  トランスデューサには,次の情報を別資料に記載しなければならない。

−  応答時間

−  外部磁界による影響変動値

−  直線でない場合の入力及び出力間の実際の関係


22

C 1111

:2006

附属書 1(参考)JIS と対応する国際規格との対比表

JIS C 1111

:2005  交流入力トランスデューサ

IEC 60688 :1992

Amd.1:1997,  Amd.2:2001  交流の電気的量をアナログ又

はディジタル信号に変換する電気測定用トランスデューサ

(Ⅰ) JIS の規定

(Ⅱ)  国際
規格番号

(Ⅲ)  国際規格の規定

(Ⅳ)  JIS と国際規格との技術的差異
の項目ごとの評価及びその内容 
  表示箇所:本体

  表示方法:点線の下線

(Ⅴ)  JIS と国際規格との技術的差異の理由
及び今後の対策

項目

番号

内容

項目

番号

内容

項 目 ご と

の評価

技術的差異の内容

1.  適用
範囲

交 流 の 電 気 的 量 を 測定 す
る た め の ト ラ ン ス デュ ー

IEC 

60688

1

JIS

に同じ

IDT

2.  引用
規格

JIS C 60068-2-3

JIS C 60068-2-6

JIS C 60068-2-27

JIS C 60068-2-31

JIS C 1010-1

JIS C 1102-1

IEC 60050(301

302303)

 :1983 
IEC 61000-4 

2

IEC 60068-2-3:1969

IEC 60068-2-6:1995

IEC 60068-2-27:1987

IEC 60068-2-31:1969

IEC 61010-1:2001

IEC 60051-1:1997

IEC 60050(301

302

    303):1983 
IEC 60255-4:1976

IEC 60521:1988

IEC 61000-4 

MOD

JIS

は IEC 60255-4

:1976 を削除 
IEC 60521:1988

を 削

本体中に引用のない規格を削除した。 
 
IEC 60521

は廃止されたため JIS から削

除した。

3.  定義  一般用語,種類,公称値,

影響量,誤差,精度など

3

JIS

に同じ

IDT

22

C1
1

1

1


2005

22

C1
1

1

1


2005


23

C 1111

:2006

(Ⅰ) JIS の規定

(Ⅱ)  国際
規格番号

(Ⅲ)  国際規格の規定

(Ⅳ)  JIS と国際規格との技術的差異
の項目ごとの評価及びその内容 
  表示箇所:本体

  表示方法:点線の下線

(Ⅴ)  JIS と国際規格との技術的差異の理由
及び今後の対策

項目 
番号

内容

項目 
番号

内容

項 目 ご と
の評価

技術的差異の内容

4.  階級
指 数 ,
固 有 誤

差 の 許

度 , 補

助 電 源
及 び 標
準状態

階級指数,固有誤差,補助
電源など

4 4.1 を除き JIS に同じ

4.1 を除き
IDT

4.1  階
級指数

4.1

IEC

に は, 階 級指 数

0.25,2,2.5,3,5 は
ない 

MOD/ 
追加

JIS

に階級指数 0.25,

2,2.5,3,5 を追加

日本で常用されている階級指数を追加
した。

5.  要求
事項

入力,出力,リプル,応答
時間,測定範囲の限界など

5

JIS

に同じ

IDT

6.  試験  影響変動値の試験,環境条

件など

6 6.20 及び 6.21 を除き

JIS

に同じ 

6.20 及び
6.21 を除
き IDT

6.20  イ
ン パ ル
ス 電 圧
試験

試験条件を規定

6.20

JIS

に同じであるが出

力回路も含まれる。 

MOD/ 
変更

出力回路除外を追加

試験方法を明確にした。また,出力回

路への印加は必要性がない。 

6.21  高
周 波 妨

害試験

試験条件を規定

6.21

IEC 61000-4

による試

験を規定

MOD/ 
変更

JIS

は日本で一般的な

試験方法を採用

IEC

は試験方法に IEC 61000-4 規格群

を引用しているが,同規格群は整備中

であり,判定基準も不明確のため,従
来から一般に使用されている試験方法
に変更した。 

7.  表示  表示,記号など

7

JIS

に同じ 

IDT

23

C1
1

1

1


2005

23

C1
1

1

1


2005


24

C 1111

:2006

JIS と国際規格との対応の程度の全体評価:MOD

備考1.  項目ごとの評価欄の記号の意味は,次のとおりである。

    ―  IDT………………  技術的差異がない。 
    ―  MOD/追加………  国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。 
    ―  MOD/変更………  国際規格の規定内容を変更している。

2.

JIS

と国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は,次のとおりである。

    ―  MOD……………  国際規格を修正している。

24

C1
1

1

1


2005

24

C1
1

1

1


2005