>サイトトップへ >このカテゴリの一覧へ

C 1010-2-30

:2014

(1)

目  次

ページ

序文  

1

1

  適用範囲  

1

2

  引用規格  

2

3

  用語及び定義  

2

3.5

  安全性に関する用語  

2

4

  試験 

2

5

  表示及び文書  

2

6

  感電に対する保護  

4

6.6

  外部回路への接続  

4

6.9

  感電に対する保護の構造的要求事項  

5

7

  機械的なハザードに対する保護  

6

8

  機械的ストレスに対する耐性  

6

9

  火の燃え広がりに対する保護  

6

10

  機器の温度限度及び耐熱性  

6

11

  流体に起因するハザードに対する保護  

6

12

  レーザを含む放射,音圧及び超音波圧に対する保護  

6

13

  漏えい(洩)ガス,漏えい物,爆発及び爆縮に対する保護  

6

14

  部品及びサブアセンブリ  

6

14.101

  主電源の測定に用いる測定回路で,過渡過電圧制限デバイスとして用いる回路又は部品  

6

15

  インタロックによる保護  

7

16

  用途に起因するハザード  

7

17

  リスクアセスメント  

7

101

  測定回路  

7

101.1

  一般  

7

101.2

  電流測定回路  

8

101.3

  入力とレンジとの誤った組合せに対する保護  

8

附属書  

11

附属書 K(規定)6.7 で対象となっていない絶縁についての要求事項  

11

附属書 L(参考)定義された用語の索引  

16

附属書 AA(規定)測定カテゴリ  

17

附属書 BB(参考)特定の環境下で実施する測定に起因するハザード  

19

参考文献  

21

附属書 JA(参考)JIS と対応国際規格との対比表  

22


C 1010-2-30

:2014

(2)

まえがき

この規格は,

工業標準化法第 12 条第 1 項の規定に基づき,

一般社団法人日本電気計測器工業会

(JEMIMA)

及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出

があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が制定した日本工業規格である。

この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。

この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意

を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実

用新案権に関わる確認について,責任はもたない。

JIS C 1010

の規格群には,次に示す部編成がある。

JIS

C

1010-1

  第 1 部:一般要求事項

JIS

C

1010-2-30

  第 2-30 部:試験及び測定回路に対する個別要求事項

JIS

C

1010-2-32

  第 2-32 部:電気的測定及び試験のための手持形及び手で操作する電流センサに対す

る個別要求事項

JIS

C

1010-2-101

  第 2-101 部:特定要求事項−体外診断用医療機器 

JIS

C

1010-31

  第 31 部:電気的測定及び試験のための手持形プローブアセンブリに対する安全要求事


日本工業規格

JIS

 C

1010-2-30

:2014

測定用,制御用及び試験室用電気機器の安全性−

第 2-30 部:試験及び測定回路に対する個別要求事項

Safety requirements for electrical equipment for

measurement, control, and laboratory use-

Part 2-30: Particular requirements for testing and measuring circuits

序文 

この規格は,2010 年に第 1 版として発行された IEC 61010-2-030 を基に,技術的内容及び構成を変更し

て作成した日本工業規格である。

なお,この規格で点線の下線を施してある箇所は,対応国際規格を変更している事項である。変更の一

覧表にその説明を付けて,

附属書 JA に示す。また,この規格は,JIS C 1010-1 と併読する規格である。た

だし,この規格の中で対応する JIS C 1010-1 の内容と異なる場合には,この規格を優先する。

<>内の文章は,規定項目ではなく,追加,削除,置換などを指示する項目である。

適用範囲 

適用範囲は,JIS C 1010-1 の箇条 によるほか,次による。

1.1.1 

適用範囲に含む機器 

JIS C 1010-1 の 1.1.1 を次に置き換える。>

この規格は,外部デバイス又は回路に接続する測定器の試験及び測定回路の安全性に関する要求事項に

ついて規定する。

試験及び測定回路には,試験用及び測定用電気機器,工業プロセス制御用電気機器又は試験室用電気機

器の一部としての測定回路を含む。機器内の試験及び測定回路は,その回路と操作者との間に追加の保護

手段が必要となる。

注記 1  試験及び測定回路の例を次に示す。

−  他の機器の回路内の電圧測定

−  熱電対を介する外部デバイスの温度測定

−  ひずみゲージを介する外部デバイスにかかる力の測定

−  新規設計を解析するための回路への電圧の印加

注記 2  この規格の適用範囲に含まれない試験及び測定回路は,JIS C 1010-1 の要求事項を適用する。

注記 3  試験及び測定回路を含む機器は,主電源,通信網などの危険な導体での試験及び測定に使用

することもある。さまざまな試験及び測定によって生じるハザードを考察するため,

附属書

BB

を参照する。


2

C 1010-2-30

:2014

注記 4  この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。

IEC 61010-2-030:2010

,Safety requirements for electrical equipment for measurement, control, and

laboratory use−Part 2-030: Particular requirements for testing and measuring circuits(MOD)

なお,対応の程度を表す記号“MOD”は,ISO/IEC Guide 21-1 に基づき,

“修正している”

ことを示す。

引用規格 

引用規格は,JIS C 1010-1 の箇条 によるほか,次による。

JIS C 1010-1

  測定用,制御用及び試験室用電気機器の安全性−第 1 部:一般要求事項

用語及び定義 

用語及び定義は,JIS C 1010-1 の箇条 によるほか,次による。

3.5 

安全性に関する用語 

JIS C 1010-1 の 3.5 に次を追加する。>

3.5.101 

測定カテゴリ(measurement category)

試験及び測定回路を接続することを意図した主電源回路の種類による試験及び測定回路の分類(

附属書

AA

参照)

注記  測定カテゴリは,過電圧カテゴリ,短絡電流レベル,試験又は測定を行う建造物設備の場所及

び建造物設備内でのエネルギー制限又は過渡状態中での保護の形態を考慮して決める。その他

の情報は

附属書 AA を参照する。

試験 

試験は,JIS C 1010-1 の箇条 による。

表示及び文書 

表示及び文書は,JIS C 1010-1 の箇条 によるほか,次による。

5.1.5 

端子,接続及び操作デバイス 

JIS C 1010-1 の 5.1.5 に次を追加する。>

5.1.5.101 

測定回路端子 

5.1.5.101.1 

一般 

5.1.5.101.4

で除外できる場合を除き,表示は次の a)c)  によらなければならない。

a)

測定回路端子には,定格対地間電圧を表示する。

b)

一組の測定回路端子には,該当する定格電圧又は定格電流を表示する。

c)

一組の測定回路端子には,適用可能な場合に,5.1.5.101.2 及び 5.1.5.101.3 に従って該当する測定カテ

ゴリの記号又は

表 に示す番号 14 の記号(

)を表示する。

注記 1  測定回路端子は,通常,複数の端子で構成する。一組の端子には,測定回路端子に対する定

格電圧若しくは定格電流又はその両方を指定していることがあり,また,個々の端子には,

定格対地間電圧を指定していることもある。一部の機器では,定格対地間電圧とは異なる測

定の定格電圧(端子間の電圧)を指定していることもある。表示は,誤解を避けるために,


3

C 1010-2-30

:2014

明瞭であることが望ましい。

電流測定回路端子が,内部保護のない変流器(101.2 参照)への接続の可能性がある場合には,

表 に示

す番号 14 の記号を表示しなければならない。

表示は,端子に隣接していなければならない。ただし,十分な面積がない場合(例えば,多点入力機器)

には,表示は,定格銘板若しくは目盛板上にあってもよく,又は端子に

表 に示す番号 14 の記号を表示

してもよい。

注記 2  任意の一組の測定回路端子に対する表 に示す番号 14 の記号は,記号が端子に接近している

場合に,二つ以上表示する必要はない。

適合性は,検査によって,かつ該当する場合には,5.1.5.101.2 及び 5.1.5.101.3 の規定,並びに 5.1.5.101.4

の例外事項によって確認する。

5.1.5.101.2 

測定カテゴリ IIIII 又は IV を定格とする測定回路端子 

測定カテゴリ II,III 又は IV の範囲内の測定に対応した定格の測定回路端子には,該当する測定カテゴ

リを表示しなければならない。測定カテゴリの表示は,該当する“CAT II”

“CAT III”又は“CAT IV”で

なければならない。

注記  二つ以上の測定カテゴリ及び定格対地間電圧を表示してもよい(5.1.5.101.1 の注記 参照)。

適合性は,検査によって確認する。

5.1.5.101.3 6.3.1

のレベルを超える電圧への接続に対応した定格の測定回路端子 

測定カテゴリ II,III 又は IV の範囲内の測定に対応した定格でない測定回路端子で,6.3.1 のレベルを超

える電圧へ接続する定格の場合には,

表 に示す番号 14 の記号を表示しなければならない[5.4.1 bb)  も

参照]

適合性は,検査によって確認する。

5.1.5.101.4 

低電圧測定回路端子,永続接続測定回路端子又は専用測定回路端子 

次の a)c)  のいずれかの場合は,測定回路端子に定格を表示する必要はない。

a)

測定回路端子が,永続的に接続されるものであり,かつ,接触可能でないとき[5.4.3 aa)  及び 5.4.3 bb)

参照]

b)

測定回路端子が,他の機器の特定の端子に単独に接続する専用端子であるとき。

c)

測定回路端子の定格電圧が 6.3.1 のレベル未満であることが,他の表示から明白であるとき。

注記  入力が 6.3.1 のレベル未満であることが明白である表示の例には,次のものなどがある。

−  単一レンジの電圧計若しくは電流計のフルスケールの値,又は多レンジマルチメータの

最大表示

−  電圧選択スイッチの最大レンジ表示

−  文書で交流 33 V 未満に相当する値であると説明した場合の定格電圧又は定格電力

(dB,

mW 又は W などで表示)

5.4.1 

一般 

JIS C 1010-1 の 5.4.1 に次を追加する。>

aa)

測定回路が測定カテゴリ II,III 又は IV の定格である場合には,該当する測定カテゴリについての情

報(5.1.5.101.2 参照)

bb)

測定カテゴリ II,III 又は IV の定格ではなく,そのような回路に誤って接続する可能性のある測定回

路に対して,主電源回路の測定にその機器を用いてはならないという警告及び過渡過電圧を含む詳細

な定格(更なる情報については,AA.2.4 を参照)


4

C 1010-2-30

:2014

注記  同一の測定回路で複数の測定カテゴリをもつ機器がある。そのような機器は,その機器を用

いることを意図した測定カテゴリ及びその機器を用いてはならない測定カテゴリを文書に

明確に指定する必要がある。

5.4.3 

機器の設置 

JIS C 1010-1 の 5.4.3 に次を追加する。>

aa)

測定カテゴリ II,III 又は IV を定格とする永続的に接続する測定回路端子に対して,該当する測定カ

テゴリ,定格電圧及び定格電流に関する情報(5.1.5.101 参照)

bb)

測定カテゴリ II,III 又は IV を定格としない永続的に接続する測定回路端子に対して,該当する定格

電圧,定格電流及び定格過渡過電圧に関する情報(5.1.5.101 参照)

感電に対する保護 

感電に対する保護は,JIS C 1010-1 の箇条 によるほか,次による。

6.1.2 

例外 

JIS C 1010-1 の 6.1.2 に次を追加する。>

aa)

工具を用いる必要がない端子類を含む,ロックタイプ及びねじ止めタイプ測定回路端子。

6.5.2.1 

一般 

JIS C 1010-1 の 6.5.2.1 の適合性の記述を次に置き換える。>

適合性は,6.5.2.26.5.2.6 及び 6.5.2.101 によって確認する。

6.5.2.3 

保護導体端子 

JIS C 1010-1 の 6.5.2.3 の h) 2)  を次の h) 2)  に置き換える。>

h) 2)

どのような開閉又は遮断デバイスによっても,保護接続を遮断してはならない。試験及び測定回路

で間接接続として用いるデバイス(6.5.2.101 参照)は,保護接続の部分であると認める。

JIS C 1010-1 の 6.5.2 に次を追加する。>

6.5.2.101 

試験及び測定回路での間接接続 

間接接続は,故障の結果,接触可能な導電性部分が危険な活電状態になる場合に,保護導体端子と接触

可能な導電性部分との間の接続を確実にする。間接接続となるデバイスは,次の a)  又は b)  のいずれかに

よる。

a)

そのデバイスの破損を防止するために過電流保護を備えており,当該デバイスにかかる電圧が 6.3.2 a)

の該当する規定値を超えると導電性になる電圧制限デバイス。

適合性は,機器を正常使用状態で主電源に接続しておき,接触可能な導電性部分を主電源供給端子

に接続することによって確認する。接触可能な導電性部分と保護導体端子との間の電圧は,0.2 秒を超

えて 6.3.2 a)  の該当値を超えてはならない。

b)

接触可能な導電性部分と保護導体端子との間にかかる電圧が 6.3.2 a)  の該当する規定値に達したと

き,すぐに主電源の全ての極を遮断し,接触可能な導電性部分を保護導体端子に接続する電圧検知引

き外しデバイス。

適合性は,接触可能な導電性部分と保護導体端子との間に 6.3.2 a)  のレベルの該当電圧を加えるこ

とによって確認する。引き外し動作は,0.2 秒以内に行われなければならない。

6.6 

外部回路への接続 

JIS C 1010-1 の 6.6 に次を追加する。>

6.6.101 

測定回路端子 


5

C 1010-2-30

:2014

最大定格電圧を機器上の他の測定回路端子に入力した場合に,危険な活電状態になり得るかん(嵌)合

しない測定回路端子の導電性部分は,テストフィンガを最も条件が悪い位置で端子の外部部分に接触した

とき,最接近部から

表 101 の空間距離及び沿面距離以上で分離しなければならない。JIS C 1010-1 の図 1

を参照する。

表 101−危険な導電性活電部分がある測定回路端子に対する空間距離及び沿面距離 

端子の導電性部分の電圧(U

空間距離及び沿面距離

V r.m.s.

V d.c.

mm

33≦U≦300 70≦U≦414 0.8

300<U≦600 414<U≦848 1.0 
600<U≦1 000

848<U≦1 414

2.6

注記  空間距離及び沿面距離は,強化絶縁に対する計算によって求める。この値は過渡過

電圧がかかることを考慮していない。

適合性は,検査及び測定によって確認する。

6.6.102 

特定測定回路端子 

特定測定回路端子に接続する意図の部品,センサ及びデバイスは,最大定格電圧を他のどの測定回路端

子に入力しても,正常状態又は単一故障状態のいずれにおいても,接触可能でないか,又は危険な活電状

態であってはならない。

注記  特定測定回路端子には,半導体測定用,容量測定用及び熱電対ソケット用端子を含む。ただし,

それらに限定しない。

適合性は,検査及び測定によって確認する。該当する場合は,特定測定回路端子に接続する意図の部品,

センサ及びデバイスを接続し,次の a)c)  の電圧を他の測定回路端子に入力しても,6.3.1 及び 6.3.2 のレ

ベルを超えないことを確認するために,6.3 の限度値を測定する。

a)

あらゆる定格主電源周波数での最大定格交流電圧

b)

最大定格直流電圧

c)

最大定格測定周波数での最大定格交流電圧

6.9 

感電に対する保護の構造的要求事項 

JIS C 1010-1 の 6.9 に次を追加する。>

6.9.101 

オーバレンジの表示 

機器に表示した数値(例えば,電圧)を操作者が信頼することによってハザードになり得る場合には,

機器の設定したレンジの正の最大値を超える数値,又は負の最小値未満の数値のいずれでも,表示器には

曖昧さのないように表示しなければならない。

注記  別個の明瞭なオーバレンジ表示がないときに,曖昧になる表示の例には次の a)c)などがある。

a)

レンジの上下限の位置にストッパが付いたアナログメータ

b)

真の値がレンジの最大値を超えたときに低い値を示すディジタルメータ(例えば,1 001.5 V

を 001.5 V と表示する。

c)

真の値がレンジの最大値より高いときでも,レンジの最大値である記録紙の端で線を記録

するチャートレコーダ

適合性は,検査及びオーバレンジの値を発生させて確認する。


6

C 1010-2-30

:2014

機械的なハザードに対する保護 

機械的なハザードに対する保護は,JIS C 1010-1 の箇条 による。

機械的ストレスに対する耐性 

機械的ストレスに対する耐性は,JIS C 1010-1 の箇条 による。

火の燃え広がりに対する保護 

火の燃え広がりに対する保護は,JIS C 1010-1 の箇条 による。

10 

機器の温度限度及び耐熱性 

機器の温度限度及び耐熱性は,JIS C 1010-1 の箇条 10 による。

11 

流体に起因するハザードに対する保護 

流体に起因するハザードに対する保護は,JIS C 1010-1 の箇条 11 による。

12 

レーザを含む放射,音圧及び超音波圧に対する保護 

レーザを含む放射,音圧及び超音波圧に対する保護は,JIS C 1010-1 の箇条 12 による。

13 

漏えい(洩)ガス,漏えい物,爆発及び爆縮に対する保護 

漏えい(洩)ガス,漏えい物,爆発及び爆縮に対する保護は,JIS C 1010-1 の箇条 13 による。

14 

部品及びサブアセンブリ 

部品及びサブアセンブリは,JIS C 1010-1 の箇条 14 によるほか,次による。

JIS C 1010-1 の箇条 14 に次を追加する。>

14.101 

主電源の測定に用いる測定回路で,過渡過電圧制限デバイスとして用いる回路又は部品 

主電源の測定に用いる測定回路に,過渡過電圧の制御を用いている場合は,あらゆる過電圧制限部品又

は回路は,起こり得る過渡過電圧を制限するための適切な耐性がなければならない。

適合性は,複合インパルス発生器(IEC 61180-1 参照)からの 1 分の間隔をおいた

表 102 の該当するイ

ンパルス電圧で,正極性 5 回及び負極性 5 回のインパルスを印加することによって確認する。発生器は,

出力インピーダンス(ピーク開回路電圧をピーク短絡電流で除したもの)が,測定カテゴリ III 及び IV に

対して 2

Ω,測定カテゴリ II に対しては 12 Ωで,1.2/50 µs の開回路電圧波形及び 8/20 µs の短絡電流波形

を発生できるものとする。出力インピーダンスを上げる必要がある場合は,抵抗器を直列に追加してもよ

い。回路が正常な使用状態で動作している間に,主電源に重畳して,試験インパルスを印加する。重畳さ

れる主電源電圧は,測定する主電源の最大定格ライン対中性点間電圧である。

試験電圧は,電圧制限デバイスがある,主電源の測定に用いる端子の各組間に印加する。

試験中,部品が破裂又は過熱しても,いかなるハザードも生じてはならない。破裂が起きた場合には,

部品のいかなる部分も,安全に関連する絶縁を橋絡してはならない。部品が過熱した場合には,その部品

が他の材料を自己発火点まで熱してはならない。主電源設備の回路遮断器のトリップは,故障の兆候であ

る。


7

C 1010-2-30

:2014

表 102−インパルス電圧 

測定する主電源の公称ライン

対中性点間電圧(U

交流実効値又は直流

V

インパルス電圧

V

測定カテゴリ II

測定カテゴリ III

測定カテゴリ IV

U

≦50 500

800  500

50<U≦100

a)

800

1 500

2 500

100<U≦150

1 500

2 500

4 000

150<U≦300

2 500

4 000

6 000

300<U≦600

4 000

6 000

8 000

600<U≦1 000

6 000

8 000

12 000

a)

  我が国では,公称電圧が 100 V の場合に,150 V までのインパルス電圧を適用する。

15 

インタロックによる保護 

インタロックによる保護は,JIS C 1010-1 の箇条 15 による。

16 

用途に起因するハザード 

用途に起因するハザードは,JIS C 1010-1 の箇条 16 による。

17 

リスクアセスメント 

リスクアセスメントは,JIS C 1010-1 の箇条 17 による。

JIS C 1010-1 に次を追加する。>

101 

測定回路 

101.1 

一般 

機器は,次の a)e)  に示すように,測定回路の正常な使用及び合理的に予見可能な誤使用に起因するハ

ザードに対する保護を備えなければならない。

a)

ハザードになり得る場合は,電流測定回路は,レンジ切り替え中,又は内部保護のない変流器の使用

中に,被測定電流を中断しない(101.2 参照)

b)

あらゆる設定可能なレンジ及び機能で,端子の仕様範囲内である電気的量をその端子又は他の互換性

のある端子に印加したとき,ハザードにならない(101.3 参照)

c)

機器と他のデバイス又は附属品との間のあらゆる相互接続は,文書又は表示がその相互接続を禁じて

いても,その機器を測定目的で使用している間は,ハザードにならない(6.6 参照)

d)

一つ以上の機能接地端子がある測定回路に対し,リスクアセスメント(箇条 16 及び箇条 17 参照)で,

保護導体端子を外してその機器を動作させた場合に,及び操作者が意図せずに機能接地端子に他の端

子のための定格電圧を接続した場合に,結果として起き得るハザードを指定する。

注記  オシロスコープ及びスペクトラムアナライザは,測定回路に機能接地端子が付いていること

がある機器の例である。機能接地端子を接地電位から浮かすことができるように,操作者は

保護導体端子を外すことがよくある。これによって操作者はフローティング測定ができるが

ハザードを招く。操作者が注意せず機能接地端子に危険な活電電圧を接続する場合には,そ

の測定機器のシャシも危険な活電電圧に接続することになり,操作者又は近くにいる人がシ

ャシから感電することがある。


8

C 1010-2-30

:2014

e)

合理的に予見可能な誤使用に起因し得る他のハザードは,リスクアセスメントによって指定する(箇

条 16 及び箇条 17 参照)

適合性は,6.6,箇条 16,箇条 17101.2 及び 101.3 の該当する規定に従って確認する。

101.2 

電流測定回路 

電流測定回路は,レンジを切り換えた場合に,ハザードになる中断が発生しないように設計しなければ

ならない。

適合性は,検査及び疑わしい場合には切換えデバイスで最大定格電流を 6 000 回切り換えることによっ

て,確認する。

内部保護のない変流器への接続を意図した電流測定回路は,操作中に電流測定回路の中断からハザード

になることを防止するために,適切に保護しなければならない。

適合性は,

検査,

最大定格電流の 10 倍で 1 秒間の過負荷試験及び切換えデバイスで最大定格電流を 6 000

回切り換えることによって,確認する。試験中に,ハザードになり得るいかなる中断もあってはならない。

101.3 

入力とレンジとの誤った組合せに対する保護 

101.3.1 

一般 

正常状態及び合理的に予見可能な誤使用の場合は,機能とレンジ設定とのあらゆる組合せで,測定回路

端子の最大定格電圧又は電流が他のあらゆる互換性のある端子に印加されたとき,いかなるハザードも生

じてはならない。

注記 1  入力とレンジとの誤った組合せは,たとえ文書又は表示がそのような誤使用を禁じていても,

合理的に予見可能な誤使用の事例である。典型的な事例は,電流又は抵抗用の測定入力に高

電圧を不注意に接続することである。起こり得るハザードには,感電,発煙,発火,アーク,

爆発などがある。

注記 2  明らかに類似の種類ではない端子,及びプローブ又は附属品のコネクタを保持しない端子は,

試験する必要はない。

機器は,ハザードに対する保護を備えなければならない。次の a)  又は b)  のいずれかの方法を用いなけ

ればならない。

a)

ハザードが生じる前に短絡電流を遮断するために,認証された過電流保護デバイスを用いる。この場

合は,101.3.2 の要求事項を適用する。

b)

ハザードが生じるのを防止するために,認証されていない電流制限デバイス,インピーダンス又は両

者の組合せを用いる。この場合は,101.3.3 の要求事項を適用する。

適合性は,該当する場合には,検査,機器の設計評価,並びに 101.3.2 及び 101.3.3 によって確認する。

101.3.2 

認証された過電流保護デバイスによる保護 

次の a)c)  の要求事項を満たしている場合には,独立した機関が認証している過電流保護デバイスは,

適切であるとみなす。

a)

過電流保護デバイスの交流及び直流定格電圧は,その機器のあらゆる測定回路端子の最大定格交流電

圧及び最大定格直流電圧と,同等以上の大きさである。

b)

過電流保護デバイスの定格時間−電流特性(応答速度)は,定格入力電圧,端子及びレンジ選択の起

こり得る組合せで,ハザードを発生させないものである。

注記  実際には,保護される部品及びプリント配線板の配線のような回路部品は,過電流保護デバ

イスを通過するエネルギーに耐えることができるように選択するのが望ましい。

c)

過電流保護デバイスの交流及び直流定格遮断容量は,それぞれ起こり得る交流及び直流短絡電流より


9

C 1010-2-30

:2014

大きい。

起こり得る交流及び直流短絡電流は,あらゆる端子に対する最大定格電圧を過電流保護された測定

回路のインピーダンスで除すことによって計算する。このとき,101.3.4 によるテストリードのインピ

ーダンスも考慮する。

起こり得る交流短絡電流は,

表 AA.1 の該当する値を超える必要はない。

さらに,機器内の過電流保護デバイス及びそれに続く測定回路内の保護デバイスの周囲には,保護デバ

イスが開放になった後にアークを防止するのに十分に大きい空隙がなければならない。

適合性は,過電流保護デバイスの定格の検査及び次の試験によって確認する。

保護デバイスがヒューズである場合には,それを開回路になったヒューズで置き換える。保護デバイス

が回路遮断器である場合には,回路遮断器をその開位置にセットする。あらゆる端子に対する最大定格電

圧の 2 倍の電圧を,過電流から保護した測定回路の端子類に 1 分間印加する。試験電圧源は 500 VA を供

給することができなくてはならない。試験中及び試験後に,機器にはいかなる損傷も生じてはならない。

101.3.3 

認証されていない電流制限デバイス又はインピーダンスによる保護 

電流制限用に用いるデバイスは,合理的に予見可能な誤使用の場合における,短絡電流によって生じる

エネルギーに耐え,消費し,又は遮断することが安全にできなければならない。

電流制限用に用いるインピーダンスは,次の a)  若しくは b)  の又はその両方満たさなければならない。

a)

適切な単一部品で,関連するハザードに対する保護の安全性及び信頼性が保証されるように,組み立

て,選択し,かつ,試験してある。特に,その部品は,次の 1)3)  である。

1)

合理的に予見可能な誤使用中に発生し得る最大電圧に対する定格を満たす。

2)

抵抗の場合は,合理的に予見可能な誤使用から生じ得る電力消費又はエネルギー消費の 2 倍の定格

を満たす。

3)

部品の端子間は,

附属書 の該当する強化絶縁の空間距離及び沿面距離に対する要求を満たす。

b)

次の 1)3)  を満たす部品の組合せである。

1)

合理的に予見可能な誤使用中に発生し得る最大電圧に耐える。

2)

合理的に予見可能な誤使用から生じ得る電力又はエネルギーを消費できる。

3)

部品の組合せの終端間は,

附属書 の該当する強化絶縁の空間距離及び沿面距離に対する要求を満

たす。

適合性は,検査及び次の試験によって確認し,試験は装置の同一ユニットに対し 3 回繰り返す。試験の

結果,いずれかの部品の温度が上昇した場合には,試験を繰り返す前にその部品を冷却してもよい。電流

制限用に用いるデバイスが損傷した場合には,試験を繰り返す前にそのデバイスを交換する。

起こり得る交流及び直流短絡電流は,あらゆる端子に対する最大定格電圧を電流制限する測定回路のイ

ンピーダンスで除することによって計算する。このとき,101.3.4 によるテストリードのインピーダンスも

考慮する。起こり得る交流短絡電流は,

表 AA.1 の値を超えないことが望ましい。

あらゆる端子における最大定格電圧に等しい電圧を,

測定回路端子間に 1 分間印加する。

試験電圧源は,

流れることがある該当する交流又は直流短絡電流以上を供給できなくてはならない。機能又はレンジの設

定が入力回路の電気的特性に何らかの影響を与える場合には,機能又はレンジの設定をあらゆる位置で組

み合わせて試験を繰り返す。試験中及び試験後に,いかなるハザードも生じてはならず,また,感電,発

熱,アーク及び発火に対し保護するための,インピーダンス制限デバイス,並びに外装及びプリント配線

板の配線を含めた他のあらゆる部品は,発火,アーク,爆発及び損傷の痕跡があってはならない。電流制

限用に用いるデバイスにいかなる損傷があっても,機器の他の部分が試験中に影響を受けない場合には,


10

C 1010-2-30

:2014

無視する。

試験中,試験電圧源の電圧出力を測定する。試験源の電圧が 10 ms を超え 20 %を超えて減少する場合に

は,試験の結論を出さず,より低いインピーダンス源で試験を繰り返す。

注記  この試験は,非常に危険である。試験を実施する要員を保護するために,防護壁及び他の対策

を行うことが望ましい。

101.3.4 101.3.2

及び 101.3.3 の試験のためのテストリード 

101.3.2

及び 101.3.3 の試験のためのテストリードは,次の a)e)  の仕様を満たさなければならない。

a)

長さ:1 m

b)

導体の断面積:1.5 mm

2

,銅より線

注記 1 16

AWG(American Wire Gauge)の断面積の導体は許容できる。

c)

測定回路端子と互換性がある機器コネクタ

d)

適切なねじ端子内への裸線を介する試験電圧源への接続,はめ筒コネクタ(ツイストオンコネクタ)

又は低インピーダンス接続を備えた同等の手段

e)

可能な限りまっすぐにしたもの

注記 2  これらの仕様に合うテストリードは,1 本当たり約 15 mΩ,又は対当たり約 30 mΩ の直流

抵抗になる。101.3.2 及び 101.3.3 で起こり得る故障電流の計算のため,テストリードのイ

ンピーダンスとして 30 mΩ を用いてよい。

製造業者が提供するテストリードを機器に永続的に接続してある場合には,製造業者が提供する附属の

テストリードを改造せずに用いなければならない。


11

C 1010-2-30

:2014

附属書

附属書は JIS C 1010-1 の附属書によるほか,次による。

附属書 K

(規定)

6.7

で対象となっていない絶縁についての要求事項

K.3 6.7

K.1

及び K.2 に規定していない回路の絶縁 

JIS C 1010-1 の K.3 のタイトルを次に置き換える。>

K.3 6.7

K.1

及び K.2 に規定していない回路,及び測定カテゴリが適用されない測定回路における絶縁 

JIS C 1010-1 

附属書 に次を追加する。>

K.101 

測定カテゴリ IIIII 及び IV の測定回路に対する絶縁についての要求事項 

K.101.1 

一般 

測定回路は,測定又は試験中に測定回路を接続する回路から,動作電圧及び過渡ストレスを受ける。主

電源の測定に測定回路を用いる場合は,過渡ストレスは,設備内の測定を行う場所によって見積もること

ができる。他の電気的信号を測定するのに測定回路を用いる場合は,過渡ストレスが測定機器の能力を超

えないことを確実にするために,操作者は過渡ストレスを考慮することが望ましい。

注記  主電源に接続するために測定回路を用いる場合は,アークせん(閃)光爆発のリスクがある。

測定カテゴリは,アークせん光に与える有効エネルギー量を規定する。アークせん光が起こる

状況では,アークせん光からの衝撃及びやけどに関するハザードを減少させるために,製造業

者が特定する付加的予防策を使用者文書に記載することが望ましい

附属書 AA 及び附属書 BB

参照)

K.101.2 

空間距離 

被測定回路から電力の供給を受ける意図の機器に対し,主電源回路の空間距離は,定格測定カテゴリの

要求事項に従って設計しなければならない。ただし,より低い測定カテゴリ(K.102 参照)に一致するレ

ベルに過渡を軽減するために,過電圧制限デバイスを用いてよい。追加の表示要求は,5.1.5.2 及び 5.1.5.101

である。

測定カテゴリ II,III 及び IV に対する空間距離は,

表 K.101 による。

注記 1  主電源の公称電圧は,附属書 を参照する。

2 000 m を超える高度で動作する定格の機器の場合は,空間距離は,表 K.1 の該当する係数を乗じる。

基礎絶縁,補強絶縁及び強化絶縁に対する最小空間距離は,汚染度 2 で 0.2 mm,汚染度 3 で 0.8 mm で

ある。

注記 2  他の測定回路に対する空間距離は,K.3 に従って計算する。


12

C 1010-2-30

:2014

表 K.101−測定カテゴリ IIIII 及び IV に対する空間距離 

測定する主電源の公称ライ

ン対中性点間電圧(U

交流実効値又は直流

基礎絶縁及び補強絶縁

強化絶縁

測定カテゴリ

II

測定カテゴリ

III

測定カテゴリ

IV

測定カテゴリ

II

測定カテゴリ

III

測定カテゴリ

IV

V

mm  mm mm mm mm mm

U

≦50

0.04 0.1 0.5 0.1 0.3

1.5

50<U≦100

a)

0.1 0.5

1.5

0.3

1.5

3.0

100<U≦150

0.5 1.5

3.0

1.5

3.0

6.0

150<U≦300 1.5  3.0 5.5 3.0 5.9

10.5

300<U≦600 3.0  5.5 8  5.9

10.5

14.3

600<U≦1 000

5.5

8

14

10.5

14.3

24.3

a)

  我が国では,公称電圧が 100 V の場合に,150 V までの空間距離を適用する。

適合性は,検査,測定,又は要求する空間距離に対する

表 K.16 の該当する試験電圧を用いた 5 秒間の

6.8.3.1

の交流電圧試験,若しくは 6.8.3.3 のインパルス電圧試験によって確認する。

K.101.3 

沿面距離 

K.2.3

の要求事項を適用する。

適合性は,K.2.3 によって確認する。

K.101.4 

固体絶縁 

K.101.4.1 

一般 

固体絶縁は,全ての定格環境条件(1.4 参照)において,機器の意図する寿命まで正常な使用で起こり得

る電気的及び機械的ストレスに耐えなければならない。

注記 1  製造業者は,絶縁材料の選択時に,機器の期待寿命を考慮することが望ましい。

適合性は,次の a)  及び b)  の試験によって確認する。

a)

適切なライン対中性点間電圧に対する

表 K.102∼表 K.104 の該当する試験電圧を用いた 5 秒間の

6.8.3.1

の交流電圧試験,又は 6.8.3.3 のインパルス電圧試験

b)

適切なライン対中性点間電圧又は直流電圧に対する

表 K.105 の該当する試験電圧を用いた 1 分間の

6.8.3.1

の交流電圧試験,又は直流だけのストレスを受ける回路では 6.8.3.2 の 1 分間直流電圧試験

注記 2  二つの異なる電圧試験は,次の理由から測定回路に対して要求している。

試験 a)  は,過渡過電圧の影響を確認する。

試験 b)  は,固体絶縁の長期ストレスの影響を確認する。

固体絶縁は,該当する場合には,次の 1)4)  の要求事項も満たさなければならない。

1)

外装又は保護用バリアとして用いる固体絶縁は,箇条 の要求事項

2)

成型部分及び含浸部分は,K.101.4.2 の要求事項

3)

プリント配線板の絶縁層は,K.101.4.3 の要求事項

4)

薄膜絶縁は,K.101.4.4 の要求事項

適合性は,該当する場合には,K.101.4.2K.101.4.4,及び箇条 によって確認する。


13

C 1010-2-30

:2014

表 K.102−測定カテゴリ II の測定回路における固体絶縁の電気的強度を試験するための電圧 

測定する主電源の公称ライ

ン対中性点間電圧(U

交流実効値又は直流

試験電圧

5 秒間交流電圧試験

V r.m.s.

インパルス電圧試験

V peak

基礎絶縁及
び補強絶縁

強化絶縁

基礎絶縁及 
び補強絶縁

強化絶縁

V

        U≦150 840

1 390

1 550

2 500

 150<U≦300 1

390

2 210

2 500

4 000

 300<U≦600

2 210

3 510

4 000

6 400

 600<U≦1 000

3 310

5 400

6 000

9 600

表 K.103−測定カテゴリ III の測定回路における固体絶縁の電気的強度を試験するための電圧 

測定する主電源の公称ライ

ン対中性点間電圧(U

交流実効値又は直流

試験電圧

5 秒間交流電圧試験

V r.m.s.

インパルス電圧試験

V peak

基礎絶縁及

び補強絶縁

強化絶縁

基礎絶縁及

び補強絶縁

強化絶縁

V

U

≦150

1 390

2 210

2 500

4 000

150<U≦300

2 210

3 510

4 000

6 400

300<U≦600

3 310

5 400

6 000

9 600

600<U≦1 000

4 260

7 400

8 000

12 800

表 K.104−測定カテゴリ IV の測定回路における固体絶縁の電気的強度を試験するための電圧 

測定する主電源の公称ライ

ン対中性点間電圧(U

交流実効値又は直流

試験電圧

5 秒間交流電圧試験

V r.m.s.

インパルス電圧試験

V peak

基礎絶縁及

び補強絶縁

強化絶縁

基礎絶縁及

び補強絶縁

強化絶縁

V

U

≦150

2 210

3 510

4 000

6 400

150<U≦300

3 310

5 400

6 000

9 600

300<U≦600

4 260

7 400

8 000

12 800

600<U≦1 000

6 600

11 940

12 000

19 200

表 K.105−測定回路における固体絶縁の長期間ストレスを試験するための電圧 

測定する主電源の公称ライ

ン対中性点間電圧(U

交流実効値又は直流

試験電圧

1 分間交流電圧試験

V r.m.s.

1 分間直流電圧試験

V d.c.

基礎絶縁及

び補強絶縁

強化絶縁

基礎絶縁及

び補強絶縁

強化絶縁

V

U

≦150

1 350

2 700

1 900

3 800

150<U≦300

1 500

3 000

2 100

4 200

300<U≦600

1 800

3 600

2 550

5 100

600<U≦1 000

2 200

4 400

3 100

6 200

K.101.4.2 

成型部分及び含浸部分 

基礎絶縁,補強絶縁及び強化絶縁のために,一体成型した同じ二つの層間にある導体は,成型した後,


14

C 1010-2-30

:2014

表 K.9 の該当する最小距離以上で分離しなければならない(図 K.1 の 参照)。

適合性は,検査,分離部分の測定又は製造業者の仕様の検査のいずれかによって確認する。

K.101.4.3 

プリント配線板の絶縁層 

基礎絶縁,補強絶縁及び強化絶縁のために,同じ二つの層間にある導体は,

表 K.9 の該当する最小距離

以上で分離しなければならない(

図 K.2 の 参照)。

適合性は,検査,分離部分の測定又は製造業者の仕様の検査のいずれかによって確認する。

プリント配線板の絶縁層の強化絶縁は,それぞれの層に,適切な電気的強度がなければならない。次の

a)

c)  のいずれかの方法を用いなければならない。

a)

絶縁の厚さは,

表 K.9 の値以上である。

適合性は,検査,分離部分の測定又は製造業者の仕様の検査のいずれかによって確認する。

b)

絶縁は,プリント配線板材料の二つ以上の分離層で構成し,各分離層の電気的強度に対する材料製造

業者による定格は,

表 K.102∼表 K.104 の基礎絶縁に対する該当する試験電圧以上である。

適合性は,製造業者の仕様の検査によって確認する。

c)

絶縁は,プリント配線板材料の二つ以上の分離層で構成し,組み合わせた分離層の電気的強度に対す

る材料製造業者による定格は,

表 K.102∼表 K.104 の強化絶縁に対する該当する試験電圧以上である。

適合性は,製造業者の仕様の検査によって確認する。

K.101.4.4 

薄膜絶縁 

基礎絶縁,補強絶縁及び強化絶縁のために,同じ二つの層間にある導体は,K.101.2 及び K.101.3 の該当

する空間距離及び沿面距離以上で分離しなければならない(

図 K.3 の 参照)。

適合性は,検査,分離部分の測定又は製造業者の仕様の検査のいずれかによって確認する。

薄膜絶縁の層からなる強化絶縁は,適切な電気的強度もなければならない。次の a)c)  のいずれかの方

法を用いなければならない。

a)

絶縁の厚さは,

表 K.9 の値以上である。

適合性は,検査,分離部分の測定又は製造業者の仕様の検査のいずれかによって確認する。

b)

絶縁は,薄膜材料の二つ以上の分離層で構成し,各分離層の電気的強度に対する材料製造業者による

定格は,

表 K.102∼表 K.104 の基礎絶縁に対する該当する試験電圧以上である。

適合性は,製造業者の仕様の検査によって確認する。

c)

絶縁は,薄膜材料の三つ以上の分離層で構成し,いずれの二つの分離層も,適切な電気的強度を示す

ために試験してある。

適合性は,測定回路の定格電圧及び測定カテゴリに基づく

表 K.102∼表 K.104 の強化絶縁に対する

該当する試験電圧を,三つの層のうちの二つに印加する 1 分間の 6.8.3.1 の交流電圧試験によって確認

する。

注記  この試験の目的のために,二層だけの材料で構成する特別なサンプルを組み立ててもよい。

K.102 

過電圧制限デバイスの使用による測定カテゴリの低減 

回路又は部品の組合せで回路内の過渡過電圧を制限することがある。このような用途に使用できる部品

には,バリスタ及びガス封入サージアレスタを含む。

過電圧制限デバイス又は回路が,それに続く回路が短縮した空間距離を採り得るように,過渡過電圧を

低減することを意図している場合に,次の a)  及び b)  の観点を考慮して,リスクアセスメント(箇条 17

参照)を行わなければならない。


15

C 1010-2-30

:2014

a)

回路は,単一故障状態下でも,過渡過電圧をより低い測定カテゴリに減じる。

b)

回路は,繰返しの過渡過電圧に耐えた後でも,意図するように動作する。

測定カテゴリ及びライン対中性点間電圧に従って発生し得る最大過渡過電圧は,

表 K.106 を参照する。

適合性は,リスクが削減されたか,又は許容可能なリスクだけが残っているかを確証するために,リス

クアセスメント文書の評価によって確認する。

表 K.106−最大過渡過電圧 

ライン対中性点間電圧(U

交流実効値又は直流

V

最大過渡過電圧

V peak

測定カテゴリ II

a)

測定カテゴリ III

a)

測定カテゴリ IV

a)

50 500

800

500

100

b)

800

1 500

2 500

150

1 500

2 500

4 000

300

2 500

4 000

6 000

600

4 000

6 000

8 000

1 000

6 000

8 000

12 000

a)

  測定カテゴリ II,III 及び IV は,交流実効値 1 000 V までの主電源の測定にだけ適用する。

b)

  我が国では,公称電圧が 100 V の場合に,150 V までの最大過渡過電圧を適用する。


16

C 1010-2-30

:2014

附属書 L

(参考)

定義された用語の索引

<次の用語をリストに追加する。>

測定カテゴリ(measurement category)  3.5.101


17

C 1010-2-30

:2014

JIS C 1010-1 

附属書に附属書 AA 及び附属書 BB を追加する。>

附属書 AA

(規定)

測定カテゴリ

AA.1 

一般 

この規格の目的のために,次の測定カテゴリを用いる。測定カテゴリは,JIS C 60664-1 若しくは JIS C 

1010-1

に従う過電圧カテゴリ,又は JIS C 60364-4-44 に従うインパルス電圧(過電圧カテゴリ)と同一で

はない。

注記 1  JIS C 60664-1 及び JIS C 60364-4-44 のカテゴリは,低電圧主電源供給システム内で用いられ

る構成部材及び機器の絶縁協調を達成するために作成されている。

注記 2  測定カテゴリは,低電圧主電源供給システムにおける測定場所に基づく。

AA.2 

測定カテゴリ 

AA.2.1 

測定カテゴリ II 

測定カテゴリ II は,低電圧主電源供給システムの使用点(コンセント及び類似の箇所)に直接接続する

試験及び測定回路に適用する(

表 AA.1 及び図 AA.1 参照)。

注記  家電製品,携帯器具及び類似の機器の主電源回路での測定がその例である。

AA.2.2 

測定カテゴリ III 

測定カテゴリ III は,

建造物の低電圧主電源供給システムの配電部分に接続する試験及び測定回路に適用

する(

表 AA.1 及び図 AA.1 参照)。

より大きな短絡電流から生じるハザードに起因するリスクを回避するために,追加の絶縁及び他の装備

を必要とする。

注記 1  固定設備での配電盤(二次側メータを含む。),回路遮断器,配線,付帯するケーブル,バス

バー,接続ボックス,スイッチ及びコンセントでの測定,並びに,固定設備に永続接続する

産業用機器及び据付けのモータのような他の機器での測定がその例である。

注記 2  固定設備の一部である機器に対し,その設備のヒューズ又は回路遮断器は,短絡電流に対し

て適切な保護を提供するとみなす。

AA.2.3 

測定カテゴリ IV 

測定カテゴリ IV は,建造物の低電圧主電源供給システムの供給源に接続する試験及び測定回路に適用

する(

表 AA.1 及び図 AA.1 参照)。

高エネルギーレベルによる大きな短絡電流のために,この場所で行う測定は,極めて危険である。あら

ゆる短絡の危険を回避するために,細心の予防措置を講じなければならない。

注記  建造物設備内の主電源ヒューズ又は回路遮断器の前に装備するデバイスでの測定がその例であ

る。

AA.2.4 

定格測定カテゴリのない機器 

多くの試験及び測定回路は,主電源に直接接続するようになっていない。測定回路には非常に低いエネ

ルギーへの使用を意図したものもあるが,大きい短絡電流又は高い開放電圧のために,非常に大容量の有

効エネルギーを受けるおそれもある。測定回路に対し規定された標準的な過渡レベルはない。絶縁要求事


18

C 1010-2-30

:2014

項及び短絡電流要求事項を決めるために,測定回路における動作電圧,ループインピーダンス,一時的過

電圧及び過渡過電圧の分析が必要となる。

注記  熱電対測定回路,高周波測定回路,自動車テスタ,装置を主電源に接続する前に低電圧主電源

供給システムの特性を測定するために用いるテスタ類がその例である。

O

:主電源に直接接続しない他の回路

CAT II

:測定カテゴリ II

CAT III

:測定カテゴリ III

CAT IV

:測定カテゴリ IV

図 AA.1−測定回路の場所を特定するための例 

表 AA.1−測定カテゴリの特性 

測定カテゴリ

短絡電流(代表値)

kA

a)

建造物設備の場所

II

<10

低電圧主電源供給システムの主電源コンセント及
び類似の箇所に接続する回路

III

<50

建造物の低電圧主電源供給システムの配電部分

IV 50≦

建造物の低電圧主電源供給システムの供給源

a)

  短絡電流は,ライン対中性点間電圧 1 000 V 及び最小ループインピーダンスに対し計算する。ルー

プインピーダンス(設置インピーダンス)の値は,試験リードの抵抗及び測定機器内部へのインピ
ーダンスを考慮しない。短絡電流は,設備の特性によって変化する。


19

C 1010-2-30

:2014

附属書 BB

(参考)

特定の環境下で実施する測定に起因するハザード

BB.1 

一般 

この附属書は,特定の環境下で電気的な量を測定することを意図する機器に対して考慮することが望ま

しいハザードについて,機器の製造業者にガイドを提供するものである。ハザードリストが,全てを網羅

したものであるとみなしてはならない。

他のハザードは,

特定の環境及び他の環境で間違いなく存在する。

BB.2 

主電源回路 

試験及び測定回路は,測定又は試験中に接続する回路から動作電圧及び過渡ストレスを受ける。主電源

を測定に測定回路を用いる場合は,測定を行う設備内の場所によって,過渡ストレスを推定することがで

きる。

活電状態の主電源の測定に測定回路を用いる場合は,アークせん光爆発のリスクがある。測定カテゴリ

附属書 AA 参照)は,アークせん光に与える有効エネルギー量を規定している。アークせん光が起こり

得る場合には,取扱説明書では,アークせん光からの衝撃及びやけどに関するハザードを軽減するために

付加的予防策を指定する必要がある。

BB.3 

感電 

主電源回路は,感電のハザードになる。電圧及び電流は許容限度(6.3 参照)を超え,かつ,測定を行う

ために,回路への接近が通常,必要になる。製造業者は,操作者に感電のハザードを知らせる適切な情報

を提供し,この規格及び他の関連規格(例えば,電圧プローブアセンブリに対する JIS C 1010-31)の設計

要求事項を満たすことを保証することが望ましい。

BB.4 

アークせん光 

アークせん光は,プローブチップ又は低インピーダンス測定回路のような導体が一時的に二つの高エネ

ルギー導体を橋絡し,次に離すか又は取り去るときに起こる。これが,空気をイオン化するアークになり

得る。イオン化した空気は導電性であり,導体の近傍で継続して電流が流れる。十分な有効エネルギーが

ある場合には,空気のイオン化は拡がり続け,空気中を流れる電流は増え続ける。その結果は爆発に似て

おり,操作者又は近くにいる人を重傷又は死に至らしめるおそれがある。アークせん光を引き起こすおそ

れのある電圧及びエネルギーレベルについては,

附属書 AA の測定カテゴリの記述を参照する。

BB.5 

やけど 

二つの高エネルギーの導体を接続するどのような導体(装飾金属のような)も,その導体を介して流れ

る電流で熱くなるおそれがある。これは,その導体付近の皮膚にやけどをもたらし得る。

BB.6 

電気通信網 

電気通信網に連続的に存在する電圧及び電流は,危険な活電状態とみなすレベル未満である。しかし,

リング電圧(受話器が着呼の合図を示すために電気通信線に重畳する電圧)は,通常は交流 90 V 近辺で危


20

C 1010-2-30

:2014

険な活電状態とみなす。着呼中に,技術者がその導体に接触する場合には,その技術者は感電を被り得る。

EN 41003:1999

は,電気通信網に接続する機器に対する安全要求事項を規定している。それは,電気通

信導体への接触による感電の可能性を取り扱っており,コネクタによる接近制限によって,リスクは無視

できるレベルまで軽減すると結論づけている。しかし,試験又は測定の過程で導体が完全に接触可能にな

っている場合には,感電の可能性がある。

電気通信網の試験及び測定のために用いられる機器の製造業者は,リング電圧のハザードを知り,ハザ

ードを軽減する適切な方法(可能な場合は,その導体への接近制限による。他の場合は,操作者に対する

適切な指示及び警告による。

)を採ることが望ましい。危険な活電電圧で用いられる電圧プローブに対しバ

リアを規定する JIS C 1010-31 も参照する。

BB.7 

誘導性回路における電流測定 

電流測定デバイスを誘導性回路に直列に挿入する場合は,その回路が突然,開回路になったとき(例え

ば,プローブが離れ落ちる又はヒューズが溶断する。

,ハザードになるおそれがある。そのような突然の

できごとは,想定しない開回路間に誘導性電圧スパイクを生じさせる。このスパイクは,回路の動作電圧

の大きさの何倍にもなり,かつ,絶縁破壊又は操作者に感電をもたらし得る。

製造業者は,電流測定デバイスを誘導性回路に直列に用いない,又は直列に用いることが必要な場合に

は,電圧スパイクによる感電のハザードを緩和するために予防策を採ることを確実にするための指示を操

作者に提供することが望ましい。

BB.8 

電池で駆動する回路 

電池類は,電池又は電池に関連する回路の試験者に電気的ハザード,爆発のハザード又は火災のハザー

ドになり得る。予備電源用又はモータを動作するために用いる電池類が,その例である。

感電のハザード,電池の端子類の短絡による爆発のハザード又は充電サイクル中に電池から放出したガ

スへのアーク着火による爆発のハザードが生じるおそれがある。

BB.9 

高い周波数での測定 

測定機器には,被測定回路への接続が誘導性結合によるものがある。誘導性結合を用いる幾つかの電流

プローブの例については,JIS C 1010-2-32 を参照する。この場合の測定回路の挙動は,被測定信号の周波

数に依存する。測定デバイスを設計よりも高い周波数を測定するために用いる場合は,流れる電流は,測

定デバイスの幾つかの導電性部分の非常な発熱を引き起こし得る。

製造業者は,そのようなデバイスの使用に対する適切な指示を提供することが望ましい。

BB.10 

機能接地端子付きの測定回路を用いる測定 

オシロスコープ及びスペクトラムアナライザは,測定回路に機能接地端子が付いていることがある機器

の例である。合理的に予見可能な誤使用の例として,機能接地端子を接地電位から浮かすことができるよ

うに,操作者が保護接地端子を外すことがある。これによって操作者はフローティング測定ができるがハ

ザードを招く。操作者が注意せず危険な活電電圧に機能接地端子を接続した場合には,測定機器のシャシ

も危険な活電電圧に接続することになり,操作者又は近くにいる人がシャシから感電することがある。


21

C 1010-2-30

:2014

参考文献

参考文献は,JIS C 1010-1 によるほか,次による。

JIS C 1010-2-32

  測定,制御及び研究室用電気機器の安全性−第 2-32 部:電気的測定及び試験のための手

持形及び手で操作する電流センサに対する個別要求事項

注記  対応国際規格:IEC 61010-2-032,Safety requirements for electrical equipment for measurement,

control, and laboratory use−Part 2-032: Particular requirements for hand-held and hand-manipulated 
current sensors for electrical test and measurement(IDT)

EN 41003:1999

,Particular safety requirements for equipment to be connected to telecommunications networks


22

C 1010-2-30

:2014

附属書 JA

(参考)

JIS

と対応国際規格との対比表

JIS C 1010-2-30:2014

  測定用,制御用及び試験室用電気機器の安全性−第 2-30 部:

試験及び測定回路に対する個別要求事項

IEC 61010-2-030:2010

Safety requirements for electrical equipment for

measurement, control, and laboratory use−Part 2-030: Particular requirements for 
testing and measuring circuits

(I)JIS の規定

(II)

国際規格

番号

(III)国際規格の規定

(IV)JIS と国際規格との技術的差異の箇条

ごとの評価及びその内容

(V)JIS と国際規格との技術的差

異の理由及び今後の対策

箇 条 番 号

及び題名

内容

箇条番号

内容

箇 条 ご と

の評価

技術的差異の内容

5  表 示 及
び文書

5.4.3  機器の設置

5.4.3  最大定格動作電圧及び最

大定格電流

変更

“定格電圧及び定格電流”に変
更した。

間違いを修正した。IEC 規格の見
直しの際,修正を提案する。

最大定格動作電圧,最大

定格電流及び最大定格過

渡過電圧

変更

“定格電圧,定格電流及び定格

過渡過電圧”に変更した。

間違いを修正した。IEC 規格の見

直しの際,修正を提案する。

14  部品及
び サ ブ ア

センブリ

表 102  インパルス
電圧

表 102

JIS

とほぼ同じ

追加

“我が国では,公称電圧が 100 
V の場合に,150 V までのイン
パルス電圧を適用する。

”を追

加した。

我が国の配電事情を考慮した。

101  測 定
回路

101.3.1  一般   101.3.1

端子

変更

“コネクタ”に変更した。

間違いを修正した。IEC 規格の見
直しの際,修正を提案する。

101.3.2  認証された
過 電 流 保 護 デ バ イ

スによる保護

 101.3.2

最大定格動作電圧

変更

“最大定格電圧”に変更した

間違いを修正した。IEC 規格の見

直しの際,修正を提案する。

101.3.3  認証されて
い な い 電 流 制 限 デ

バ イ ス 又 は イ ン ピ

ー ダ ン ス に よ る 保

 101.3.3

感電に対する保護

変更

“ハザードに対する保護”に変
更した。

CORRIGENDUM 1 による。

追加

“エネルギー消費”を追加した

間違いを修正した。IEC 規格の見

直しの際,修正を提案する。

追加

“沿面距離”を追加した。

間違いを修正した。IEC 規格の見

直しの際,修正を提案する。

 

22

C

 101

0-2

-30

2

014


23

C 1010-2-30

:2014

(I)JIS の規定

(II) 
国際規格

番号

(III)国際規格の規定

(IV)JIS と国際規格との技術的差異の箇条
ごとの評価及びその内容

(V)JIS と国際規格との技術的差
異の理由及び今後の対策

箇 条 番 号

及び題名

内容

箇条番号

内容

箇 条 ご と

の評価

技術的差異の内容

101  測 定
回路 
(続き)

101.3.3  認証されて
い な い 電 流 制 限 デ
バ イ ス 又 は イ ン ピ

ー ダ ン ス に よ る 保

護(続き)

 101.3.3

追加

“エネルギー”を追加した

間違いを修正した。IEC 規格の見

直しの際,修正を提案する。

各部品の端子間

変更

“部品の組合せの終端間”に変
更した。

CORRIGENDUM 1 による。

最大定格動作電圧

変更

“最大定格電圧”に変更した

間違いを修正した。IEC 規格の見

直しの際,修正を提案する。

101.3.4 101.3.2 及び
101.3.3 の試験のた
めのテストリード

101.3.4

短絡電流

変更

“故障電流”に変更した

間違いを修正した。IEC 規格の見

直しの際,修正を提案する。 

附属書 K

(規定)

K.101.2  空間距離

K.101.2 JIS とほぼ同じ

追加

“基礎絶縁,補強絶縁及び強化

絶縁に対する”を追加した。

JIS C 1010-1

に合わせた。技術的

差異はない。

表 K.101  測 定 カ テ

ゴリ II,III 及び IV
に対する空間距離

表 K.101

JIS

とほぼ同じ

追加

“我が国では,公称電圧が 100 
V の場合に,150 V までの空間
距離を適用する。

”を追加した。

我が国の配電事情を考慮した。

K.101.4.1  一般

K.101.4.1

直流だけのストレスを受

ける主電源回路

変更

“直流だけのストレスを受け

る回路”に変更した。

間違いを修正した。IEC 規格の見

直しの際,修正を提案する。

成型部分

変更

“成型部分及び含浸部分”に変

更した。

K.101.4.2 のタイトルに合わせた。
技術的差異はない。

プリント配線板の内層

変更

“プリント配線板の絶縁層”に
変更した。

適切な表現に変更した。技術的差
異はない。

表 K.102  測 定 カ テ

ゴリ II の測定回路

に お け る 固 体 絶 縁
の 電 気 的 強 度 を 試

験するための電圧

表 K.102

変更

表の数値を変更した。 CORRIGENDUM

1 による。

 K.101.4.2

成 型 部 分

及び含浸部分

 K.101.4.2

その部分の測定

変更

“分離部分の測定”に変更し

た。

JIS C 1010-1

に合わせた。技術的

差異はない。

 K.101.4.3

プ リ ン ト

配線板の絶縁層

 K.101.4.3

プリント配線板の内部絶
縁層

変更

“プリント配線板の絶縁層”に
変更した。

適切な表現に変更した。技術的差
異はない。

その部分の測定

変更

“分離部分の測定”に変更し

た。

JIS C 1010-1

に合わせた。技術的

差異はない。

23

C

 101

0-2

-30

2

014


24

C 1010-2-30

:2014

(I)JIS の規定

(II) 
国際規格

番号

(III)国際規格の規定

(IV)JIS と国際規格との技術的差異の箇条
ごとの評価及びその内容

(V)JIS と国際規格との技術的差
異の理由及び今後の対策

箇 条 番 号

及び題名

内容

箇条番号

内容

箇 条 ご と

の評価

技術的差異の内容

附属書 K

(規定)

K.101.4.4  薄膜絶縁

K.101.4.4

その部分の測定

変更

“分離部分の測定”に変更し

た。

JIS C 1010-1

に合わせた。技術的

差異はない。

(続き)

表 K.106  最 大 過 渡
過電圧

表 K.106

JIS

とほぼ同じ

追加

“我が国では,公称電圧が 100 
V の場合に,150 V までの最大
過渡過電圧を適用する。

”を追

加した。

我が国の配電事情を考慮した。

附属書 
AA 
(規定)

AA.2.1  測定カテゴ
リ II

 AA.2.1

削除

“設備のこの部分は,変圧器と
測定回路の接続点との間に,三

段階以上の過電流保護デバイ

スが備えられていることが期
待される。

”を削除した。

間違いを修正した。IEC 規格の見
直しの際,修正を提案する。

AA.2.2 測 定 カテゴ
リ III

AA.2.2

削除

“設備のこの部分は,変圧器と

測定回路の接続点との間に,二

段階以上の過電流保護デバイ
スが備えられていることが期

待される。

”を削除した。

間違いを修正した。IEC 規格の見

直しの際,修正を提案する。

AA.2.3 測 定 カテゴ
リ IV

AA.2.3

削除

“設備のこの部分は,変圧器と

測定回路の接続点との間に,一
段階以上の過電流保護デバイ

スが備えられていることが期

待される。

”を削除した。

間違いを修正した。IEC 規格の見

直しの際,修正を提案する。

附属書 BB
(参考)

BB.9  高い周波数で
の測定

BB.9

より高い周波数での測定

削除

“より”を削除した。

適切な表現に変更した。技術的差
異はない。

JIS

と国際規格との対応の程度の全体評価:IEC 61010-2-030:2010,MOD

24

C

 101

0-2

-30

2

014


25

C 1010-2-30

:2014

注記 1  箇条ごとの評価欄の用語の意味は,次による。

    −  削除……………… 国際規格の規定項目又は規定内容を削除している。 
    −  追加……………… 国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。

    −  変更……………… 国際規格の規定内容を変更している。

注記 2  JIS と国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は,次による。

    −  MOD……………  国際規格を修正している。

25

C

 101

0-2

-30

2

014