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B 9704-2:2008 (IEC 61496-2:2006)

(1)

目  次

ページ

序文

1

1  適用範囲

1

2  引用規格

2

3  用語及び定義

2

4  機能,設計及び環境に対する要求事項

4

4.1  機能要求事項

4

4.2  設計要求事項

7

4.3  環境要求事項

8

5  試験方法

9

5.1  一般事項

9

5.2  機能試験

9

5.4  環境試験

16

6  識別及び安全使用のためのマーキング

23

6.1  一般事項

23

7  附属文書

24

附属書 A(規定)ESPE のオプション機能

25

附属書 B(規定)ESPE 電気用品の単一障害一覧表(5.3 の危険側故障として考慮すべきもの)

26

附属書 D(規定)プリズム法による有効開口角(EAA)の検証

27

附属書 E(規定)ミラー法及びミスアライメント試験による光学性能の検証

31

附属書 F(参考)ビームの完全遮光原理に基づく AOPD の検出能力

35

附属書 JA(参考)AOPD を使う設備に適用する第 部及び第 部の箇条一覧

36


 
B 9704-2:2008 (IEC 61496-2:2006)

(2)

まえがき

この規格は,工業標準化法第 14 条によって準用する第 12 条第 1 項の規定に基づき,社団法人日本機械

工業連合会 (JMF) から,工業標準原案を具して日本工業規格を改正すべきとの申出があり,日本工業標準

調査会の審議を経て,厚生労働大臣及び経済産業大臣が改正した日本工業規格である。これによって,JIS 

B 9704-2 : 2000 は改正され,この規格に置き換えられた。

この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。

この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に

抵触する可能性があることに注意を喚起する。厚生労働大臣,経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,

このような特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に係る確認に

ついて,責任はもたない。

JIS B 9704 の規格群には,次に示す部編成がある。

JIS

B

9704-1  第 1 部:一般要求事項及び試験

JIS

B

9704-2  第 2 部:能動的光電保護装置を使う設備に対する要求事項

JIS

B

9704-3  第 3 部:拡散反射形能動的光電保護装置に対する要求事項


日本工業規格

JIS

 B

9704-2

:2008

(IEC 61496-2

:2006

)

機械類の安全性−電気的検知保護設備−

第 2 部:能動的光電保護装置を使う設備に

対する要求事項

Safety of machinery Electro-sensitive protective equipment

Part 2 : Particular requirements for equipment using active opto-electronic

protective devices (AOPDs)

序文

この規格は,2006 年に第 2 版として発行された IEC 61496-2 を基に,技術的内容及び対応国際規格の構

成を変更することなく作成した日本工業規格である。

なお,この規格で点線の下線を施してある参考事項,及び

附属書 JA は,対応国際規格にはない事項で

ある。

電気的検知保護設備(以下,ESPE という。

)は,人に傷害を及ぼすリスクをもつ機械類から人を保護す

るために,人が危険状態に至る前に機械を安全な状態に移行させる設備である。ESPE に対する一般要求

事項及び試験は,JIS B 9704-1(以下,第 1 部という。

)に規定する。

ESPE には異なる検出原理を用いる幾つかの種類がある。この規格は,機械から人を保護する ESPE のう

ち,能動的光電保護装置(以下,AOPD という。

)によって人を検出する ESPE の設計,構成及び試験に対

する要求事項を規定する。

この規格は,第 1 部と併読して用いる規格である。この規格は,AOPD を用いる ESPE に対して,第 1

部に関連する箇条の変更又は補足を指示する。この規格において特別の指示をしない第 1 部の箇条は,そ

のまま適用する。この規格において“追加”及び“置換え”と指示する箇所は,第 1 部の該当部分をその

ように改めて適用する。

附属書 JA は,AOPD を使う保護設備に適用する JIS B 9704 規格群の第 1 部及び

第 2 部の箇条のすべてを一覧で示す。

この規格は,AOPD を用いるタイプ 2 及びタイプ 4 の ESPE について規定する。タイプ 1 及びタイプ 3

の ESPE は,この規格では扱わない。

機械にはその機械特有の危険源がある。この規格は,特定の機械に対し ESPE をどのように使用するか

については規定しない。ESPE の使用法は,供給者,機械使用者及び監督機関が合意して決める事項であ

る。これに関連する指針としては,例えば,JIS B 9700-1 及び JIS B 9700-2 がある。

1

適用範囲

(置換え。第 1 部によらず,次による。

この規格は,安全関連システムの一部として特に人を検出することを目的にし,検知機能として AOPD

を用いる ESPE の設計,製造及び試験に対する要求事項について規定する。適切な安全関連性能を確実に



B 9704-2:2008 (IEC 61496-2:2006)

達成するための機能及び設計に対する要求事項に特に配慮している。ESPE には,

附属書 に規定する追

加の安全関連機能を任意に付加するものがある。

この規格は,特定の施設について検出区域の寸法,形状及び危険源に対する配置について規定するもの

ではなく,また,何が機械の危険源になるかについても規定しない。ESPE の機能に関する事項及び ESPE

と機械とのインタフェースに関する事項に限定して規定する。

400∼1 500 nm の波長以外の放射光を用いる AOPD は,この規格の対象外とする。

この規格は,人を保護する用途以外にも,例えば,機械,製品の機械的損傷に対する保護などに関連し

て利用することもできる。そのような用途では,例えば,検知機能によって認識する対象物の特質が人の

特質と異なるので,この規格以外に追加の要求事項が必要となる可能性がある。

この規格は,電磁両立性 (EMC) の放射に対する要求事項は扱わない。

注記  この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。

IEC 61496-2 : 2006,Safety of machinery−Electro-sensitive protective equipment−Part 2 : Particular

requirements for equipment using active opto-electronic protective devices (AOPDs) (IDT)

なお,対応の程度を表す記号 (IDT) は,ISO/IEC Guide 21 に基づき,一致していることを示

す。

2

引用規格

(追加)

JIS B 9715 : 2006  機械類の安全性−人体部位の接近速度に基づく保護設備の位置決め

注記  対応国際規格:ISO 13855 : 2002,Safety of machinery−Positioning of protective equipment with

respect to the approach speeds of parts of the human body (IDT)

JIS C 6802  レーザ製品の安全基準

注記  対応国際規格 :IEC 60825-1,Safety of laser products−Part 1 : Equipment classification,

requirements and user’s guide (IDT)

TS B 62046 : 2006  機械類の安全性−人を検出する保護設備の使用基準

注記  対応国際規格:IEC/TS 62046 : 2004,Safety of machinery−Application of protective equipment to

detect the presence of persons (IDT)

EN 471 : 2003,High-visibility warning clothing for professional use−Test methods and requirements

3

用語及び定義

(追加)

3.201

能動的光電保護装置[active opto-electronic protective device (AOPD)]

装置内で生成した光を光電式投光部から照射して,照射光が指定の検出区域内(光ビーム装置の場合は

光ビーム上)に存在する不透明物体によって遮光されたことを,受光部で検出する原理によって検出機能

を達成する装置。

注記  検出に用いるエネルギー(照射光)を,装置自体が発生するので“能動的”という。

3.202

ビーム中心線  (beam centre line)

AOPD において,投光部の光学中心と,正常運転時には投光部からの光に反応するように投光部に対向


3

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する受光部の光学中心とを結ぶ光路。

注記 1  光ビームの光軸は,必ずしもビーム中心線上にあるとは限らない。

注記 2  正常な運転の結果として,ビーム中心は物理的に移動することがある(例えば,電動ミラー

を使う場合)

注記 3  再帰反射技術を用いる AOPD においては,光路は,投受光部及び再帰反射器の配置で決まる。

3.203

有効開口角[effective aperture angle (EAA)]

その範囲内で AOPD が正常な運転を続けることができる,投光部及び受光部の,光学的最良アライメン

トからの最大偏位角。

3.204

光ビーム装置  (light beam device)

次のシングル光ビーム装置又はマルチ光ビーム装置。

シングル光ビーム装置  一対の投光部及び受光部から成り立ち,検出区域を供給者が指定しない

AOPD

マルチ光ビーム装置  複数対の投光部及び受光部から成り立ち,検出区域を供給者が指定しない

AOPD

3.205

光カーテン  (light curtain)

一対又は複数対の投光部及び受光部の組合せから成り立ち,供給者が指定する検出能力及び検出区域を

もつ AOPD。

注記  大きな検出能力をもつ光カーテンは,光グリッドと呼ばれることがある。

3.206

試験片  (test piece)

AOPD の検出能力を検証するために用いる不透明な円柱状物体。

3.207

モニタードブランキング  (monitored blanking)

検出区域内の定義された特定部分に物体が存在している間は,出力信号開閉器(以下,OSSD という。

がオフ状態にならず,物体が存在しない(又はサイズ若しくは位置が変化する)とき,OSSD がオフ状態

になるような検出能力及び/又は検出区域の構成。

3.3

検出能力  (detection capability)

(置換え。第 1 部によらず,次による。

試験片の直径を表す数値であって,次によって特徴付けられるもの。

−  光カーテンにおいては,この直径の試験片を検出区域に置いたとき検知器が作動(検出)する。

−  シングル光ビーム装置においては,この直径の試験片をビーム中心線上に置いたとき検知器が作動す

る。

−  マルチ光ビーム装置においては,この直径の試験片をいずれのビーム中心線上に置いたときにも検知

器が作動する。

注記 1  検出能力という用語は,規定された直径の試験片を検出できる能力という意味にも用いられ

る。



B 9704-2:2008 (IEC 61496-2:2006)

注記 2  “検出能力が大きい”ということは,“検出可能な物体サイズが大きい”ことをいうのであっ

て,

“検出能力が優れている”ことをいうのではない。

この規格では,検出確率は考慮しない。検出能力に相当する直径をもつ試験片は,指定の

条件下で 100 %検出されるものとする。

4

機能,設計及び環境に対する要求事項

(次を除いて,第 1 部の箇条 4.を適用する。

4.1

機能要求事項

4.1.2

検知機能

(置換え。第 1 部の 4.1.2 を次に置き換える。

4.1.2.1

一般事項

検知機能は,供給者が指定する検出区域内において有効に作動しなければならない。かぎ(鍵)

,パスワ

ード又は工具を用いずに検出区域,

検出能力,

又はブランキング機能を調整できるようにしてはならない。

光カーテンにおいては,4.2.13 に規定する試験片が検出区域内のどこに置かれても,静止状態(どのよ

うな角度でも)であっても,又は 0∼1.6 m/s の範囲内のいかなるスピードで(円柱軸が検出区域面に直角

に)動いていても,検知器が作動し,OSSD がオフ状態にならなければならない。

光ビーム装置においては,4.2.13 に規定する試験片が作動距離範囲

1)

のどこにあってもビーム中心線上

で試験片円柱軸がビーム軸と直角をなすように存在するときには検知器が作動し,OSSD がオフ状態にな

らなければならない。

1)

  作動距離とは,発光部と受光部との間隔のことをいう。AOPD が正常に作動できる最小(最大)

の間隔を最小(最大)作動距離という。作動距離の範囲とは,AOPD が正常に作動できる間隔

の最小値(最小作動距離)から最大値(最大作動距離)までの範囲のことである。

OSSD が一度オフ状態になった場合は,試験片が検出区域内(又は光ビーム上)にとどまる時間又は 80

ms のいずれか長い方の時間,OSSD はオフ状態を続けなければならない。

注記  4.1.2.1 の要求事項の目的は,人又は人の一部が検出区域又は光ビームを通過するときに OSSD

が確実にオフになることを保証することである。80 ms というオフ時間は,検出対象部分の寸

法を 150 mm,人の接近速度(歩行速度)を 1.6 m/s としたとき適切であるとされる値である。

供給者仕様が,1.6 m/s よりも速い速度で動く対象も検出できるとする AOPD の場合には,4.1.2.1 の要求

事項は,その仕様の最大速度まで満たさなければならない。

4.1.2.2

光学性能

AOPD は,次のように設計し,構成しなければならない。

a) AOPD の外部で光ビームが反射することによって AOPD が危険側故障を起こす可能性を制限する[例

えば,3 m までの作動範囲に対しては,

図 参照

2)

2)

  図の制限エリア内には反射面をなくし,制限エリア外に存在する反射面によって危険側故障

を起こさないようにするという意味である。

b)  ミスアライメント状態で正常運転できる可能性を制限する。

c)  波長 400∼1 500 nm の外乱光にさらされたときの誤作動を制限する。

d)  他の設備 (AOPD)  への影響を最小にするために投光ビームサイズを抑制する。

これらの要求を満足する一つの方法は,各投光部及び受光部の有効開口角(以下,EAA という。

)が

に示す値を超えないようにすることである。この方法を用いるときは,AOPD が 5.2.9.2 及び附属書 


5

B 9704-2:2008 (IEC 61496-2:2006)

試験に適合すれば要求事項が満たされたといえる。

上記の a),b),c)  及び d)  と同等の性能を得るために,EAA を制限する以外の技術手段もある。この場

合には,5.2.9.2 及び

附属書 の試験に適合すれば要求事項が満たされたといえる。

光学性能が満足されることを検証するには,5.2.9 及び 5.4 の該当する試験に合格しなければならない。

AOPD を反射面の近傍(例えば,図 の斜線部分)に設置して保護機能を発揮させようとする場合は,

その反射面からの反射光(バイパスビーム)を拾わないように AOPD を設計しなければならない。このよ

うな装置では,EAA を 2.5°より十分小さく(例えば,0.1°以下)することが必要となる。この場合には,

図 及び図 は適用せず,反射光から保護するための制限は製造業者の仕様による。

単位  mm

  ESPE のタイプ

d L 

  タイプ 4 131 250∼3 000

  タイプ 2 262 500∼3 000

図 1−反射バイパスビームのリスクから保護するための制限エリア



B 9704-2:2008 (IEC 61496-2:2006)

α:EAA の限度値  (°)

MP1 MP2 MP3 MP4

タイプ 2 の AOPD 5  10

19.3

27.7

タイプ 4 の AOPD 2.5 5

10

14.7

a)

 MP は,測定点を示す  (MP : measuring point)。

注記 1

 EAA は,

5.2.9.2

の試験手順に従って決定する。

注記 2

供給者が指定する作動距離の範囲内にある MP1∼MP4 の各測定点において測定する。指定する最小作

動距離が 3.0 m より大きい場合は,その最小作動距離だけで測定する。

  例えば,作動距離範囲が 1 m∼3.5 m である場合は,MP4 (0.5 m)  及び MP3 (0.75 m)  の測定はし

ない。MP2 (1.5 m)  及び MP1 (3.0 m)  で測定する。1.0 m でも測定することを推奨する。例えば,

作動距離範囲が 4 m∼10 m である場合は,4.0 m だけで測定する。

注記 3

 MP1,MP2,MP3,MP4 以外の距離に対する EAA 限度値は,次の式で計算できる。

α=arctan (d / L)

ここに,

d= 262 mm(タイプ 2 に対して)

d= 131 mm(タイプ 4 に対して)

L= 投光器と受光器間との距離(又は被試験装置と再帰反射器との距

離)

注記 4

再帰反射システムにあっては,α は上の表の値の半分とする。

図 2−有効開口角  (EAA)  の測定

4.1.2.3

再帰反射  (retro-reflective)  技術を用いる AOPD に対する追加要求事項

光ビームが検出区域を 2 回以上(同じ光路を)横切るような,再帰反射式 AOPD は,反射物体(例えば,

反射性の衣服)が検出区域のどこに置かれても危険側故障を起こしてはならない。また,容易に得られる

反射器(例えば,鏡)を用いることによって受光器に入光する反射バイパスビームを形成できてはならな

い。

注記 1  光ビームを戻すために鏡を使用するものは,再帰反射技術とはみなさない。

再帰反射とは,広い入射角にわたって,入射光の光路にほぼ沿う方向に,選択的に反射光

が戻るような反射をいう。再帰反射器とは,反射光の大部分が再帰反射によるような反射器

MP

a)

4


7

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をいう(JIS Z 8113 参照)

。この規格では,AOPD の構成品としての再帰反射器をいう。

シングル光ビーム装置においては,試験片(4.2.13 参照)の直径及び長さと同等以上の大きさをもつ反

射物体がビーム内の 5.2.1.1 に規定するどの位置に置かれたときでも,OSSD がオフ状態に移行しオフ状態

を続けなければならない。

ここでいう反射物体は,次による。

−  再帰反射物体

−  EN 471 のクラス 2 又は同等の再帰反射条件を満足する再帰反射物質。

注記 2  EN 471 の表 によれば,クラス 2 材料の再帰反射係数は,入射角 5°,観測角 0.2°(12′

)に

対して 330 cd lx m

2

である。

−  使用波長において 90 %以上の反射率をもつ鏡面(例えば,磨いたクロムめっき面,磨いたアルミニウ

ム面)

−  例えば,白紙のような拡散反射面。

再帰反射式の光カーテン及びマルチ光ビーム装置の OSSD は,通常の作動状態において,再帰反射器と

同等の反射器が投受光部の検知面の前のできるだけ近い位置に置かれたとき,オフ状態に移行し,オフ状

態を続けなければならない。

4.1.2.4

同じアセンブリ内に投光器及び受光器をもつ AOPD に対する追加要求事項

通常の作動状態において,試験片の直径及び長さと同等以上の大きさをもつ反射物体を,光学軸と直角

に,検出区域内のどこに置いたときにも,OSSD がオフ状態に移行し,オフ状態を続けなければならない。

注記 1  4.1.2.4 は,再帰反射技術を用いる AOPD には適用しない。

ここでいう反射物体は,次による。

−  EN 471 のクラス 2 又は同等の再帰反射条件を満足する再帰反射物質。

注記 2  EN 471 の表 によれば,クラス 2 材料の再帰反射係数は,入射角 5°,観測角 0.2°(12′

)に

対して 330 cd lx m

2

である。

−  使用波長において 90 %以上の反射率をもつ鏡面(例えば,磨いたクロムめっき面,磨いたアルミニウ

ム面)

−  例えば,白紙のような拡散反射面。

4.2

設計要求事項

4.2.2

障害検出に関する要求事項

4.2.2.3

タイプ の ESPE への要求事項

(置換え。第 1 部の 4.2.2.3 の第 1 段落を,次の文で置き換える。

タイプ 2 の ESPE は,危険側故障(例えば,検知器の検出能力喪失,仕様値を超える応答時間など)を

検出する周期テスト手段をもたなければならない。テストは,各光ビームが供給者の意図どおりに作動す

ることを検証するものでなければならない。周期テストを外部(例えば,機械)の安全関連制御システム

によって起動する場合は,ESPE に適切な入力部(例えば,端子)を設けなければならない。

4.2.12  AOPD 検出能力のインテグリティ

(追加)

AOPD の設計は,AOPD が次の一つ,二つ又はすべてを組み合わせた条件で作動するとき,AOPD の検

出能力が供給者の仕様を満足する(仕様値又はそれ以下のサイズの物体を検出できる)ようにしなければ

ならない。

−  供給者仕様内のすべての条件



B 9704-2:2008 (IEC 61496-2:2006)

−  第 1 部及びこの規格の 4.3 に規定する環境条件

−  アライメント及び/又は調整の限界点

通常の運転条件(第 1 部の 5.1.2.1 参照)下では,単一障害(

附属書 に規定)によっては AOPD 検出

能力の喪失は起こらないが,上記の条件が重なるとき検出能力の喪失が起こる場合は,その条件の組合せ

とその障害とを合わせて単一障害とみなし,AOPD は,4.2.2 の要求を満足するように単一障害に反応しな

ければならない。検出能力を決定する方法の例を,

附属書 に示す。

4.2.13  試験片

(追加)

試験片は,円柱状の不透明物体とし,最小有効長を 150 mm としなければならない。試験片の直径は,

供給者が指定する AOPD 検出能力より大きくしてはならない。

AOPD 検出能力が 40 mm を超えない光カーテン用の試験片は,供給者が用意し,試験片に次のマーキン

グをしなければならない。

− mm 表示の直径

−  試験片を用いる AOPD の名称及び形式

AOPD に二つ以上の検出能力が指定される場合,供給者は,各検出能力を検証する試験片を用意しなけ

ればならない。

検証は,検査によって行う。

4.2.14  波長

(追加)

AOPD は,400∼1 500 nm の範囲の波長で作動しなければならない。

4.2.15  放射強度

(追加)

AOPD が発生し,放出する光の放射強度は,いかなるときも JIS C 6802 の 8.2(レーザクラスの解説)

に規定するクラス 1M 装置の最大出力又は最大エネルギーレベルを超えてはならない。

注記  クラス 2M の使用については検討中である。

4.3

環境要求事項

(追加)

4.3.5

光干渉

ESPE は,次の干渉光を受けたときに正常運転を続けなければならない。

−  白熱光

−  フラッシングビーコン光

−  高周波電子式電源で作動する蛍光ランプ光

ESPE は,次の干渉光を受けたときに危険側故障を起こしてはならない。

−  白熱光(ハロゲン電球を用いた模擬昼光)

−  ストロボ光

−  高周波電子式電源で作動する蛍光ランプ光

−  タイプ 4 の ESPE に対しては,同一設計の他の投光部からの投光。

注記  同一設計装置の投光部からの干渉に対する,タイプ 2 の ESPE の要求事項は検討中である。

4.3.5 の要求事項は,ESPE を 5.4.6 によって試験したとき,満足しなければならない。

異常作動又は危険側故障を招くかもしれない他の種類の外部光源に対するイミュニティについての要求


9

B 9704-2:2008 (IEC 61496-2:2006)

事項は規定しない。ESPE に潜在する問題について製造業者が使用者に伝えるべき情報に関する要求事項

は,箇条 の af)  に規定する。

5

試験方法

(次を除いて,第 1 部の箇条 5.を適用する。

5.1

一般事項

(第 1 部の 5.1 に,次の規定を追加して適用する。

次の試験において,OSSD がオフに移行したとき,試験片が検出区域内(又は光ビーム上)にとどまる

時間又は 80 ms のいずれか長い方の時間オフ状態を維持することを検証しなければならない。AOPD が再

起動インタロックを備えている場合は,箇条 の試験を実施中,再起動インタロックを無効にしなければ

ならない。

5.1.1

型式試験

5.1.1.2

運転条件

(第 1 部の 5.1.1.2 に,次の規定を追加して適用する。

これらの試験において,光カーテン検出区域の面は,垂直又は水平のいずれか都合のよい方でよい。

結果が同じになることを示せる場合は,長い作動距離に対する試験を,ND フィルタを用いてシミュレ

ート(短い距離で試験)してもよい。

注記 ND フィルタ  (neutral density filter)  は,特定の波長領域内でほぼ一定の透過率を示す。これによ

って,分光分布を変えずに光の強度を減じることができる。

5.1.2

試験条件

5.1.2.2

測定精度

(第 1 部の 5.1.2.2 に,次の項目を追加して適用する。

−  角度測定に対して:  ±0.1°

−  光強度測定に対して:  ±10 %

5.2

機能試験

5.2.1

検知機能及び検出能力

(置換え。第 1 部の 5.2.1 を,次に置き換える。

5.2.1.1

検知機能

AOPD の作動原理,特に環境からの妨害に対する耐力を備えるために用いる技術を考慮して,次の試験

において,検知器が作動し続けること,及び(妥当ならば)OSSD がオフ状態になることを検証しなけれ

ばならない。

光カーテンでは:

−  検出区域の両端(可能な限り投光器及び受光器並びに再帰反射器に近い位置)及び中間点(

図 参照)

において,試験片の軸が角度 45°及び 90°(

図 及び図 参照)でビームを横切るように,検出区域

内で試験片をゆっくり動かす。

−  5.2.9.1 による分析の結果,検出区域内で最も不利であると考えられる角度及び/又は位置に試験片を

静止させる。

−  4.1.2.1 で規定する範囲(0∼1.6 m/s)内の最大速度,及びこの範囲において 5.2.9.1 による分析によっ

て最も不利と考えられる速度で,ビームを横切るように検出区域内で試験片を動かす。

− 150

mm の長さの試験片を,検出区域の極限位置(例えば,各コーナー),及び 5.2.9.1 による分析によ


10 
B 9704-2:2008 (IEC 61496-2:2006)

って最も不利と考えられる位置で,試験片の運動方向及び試験片の軸方向が検出面に対して直角にな

るように,検出区域内を 1.6 m/s の速度で動かす。

光ビーム装置では:

−  ビームの両端及び中間点で,試験片の軸がビーム軸と直角になるようにビーム内に試験片を置く。

− 150

mm の長さの試験片を,ビームの両端及び中間点において,及び 5.2.9.1 の分析によって最も不利

と考えられる作動距離で,試験片の運動方向及び試験片の軸がビーム内でビーム軸に対して直角にな

るように,検出区域内を 1.6 m/s の速度で動かす。

上記の試験は,AOPD の最小の指定作動距離又は 0.5 m の大きい方,及び最大の指定作動距離において

行わなければならない。

図 3−ビームに 45°をなす試験片の挿入

図 4−ビームに直角をなす試験片の挿入


11

B 9704-2:2008 (IEC 61496-2:2006)

図 5−試験片を投光器近傍,受光器(再帰反射器)近傍,及び中間点において

検出区域内で動かすことによる検知機能の検証

5.2.1.2

AOPD 検出能力のインテグリティ

AOPD の設計を系統的に分析して,また,必要ならば試験を行って,4.1.2 及び 4.2.12 に規定する条件の

すべての組合せ並びに 5.3(第 1 部)で規定する障害を考慮に入れて,AOPD の検出能力が常に維持される

こと,又は ESPE が危険側故障を起こさないことを検証しなければならない。

検出区域内のどこであっても,検出対象物が少なくとも一つの光ビームを完全に遮光するような幾何光

学設計

附属書 参照)を採用したことによって検出能力が達成されていることを明白に示せる場合には,

更なる分析及び試験は必要としない。ビームの完全遮光によって検出能力が達成される設計でない場合に

は,少なくとも次の追加試験を実施しなければならない。

a) AOPD を,供給者仕様に基づいてアライメント(位置合わせ)する。

b)  検出能力の 2 倍の大きさをもつ透過率 30 %の ND フィルタを検出区域内に置く。

c) AOPD を起動し,30 秒(5.2.9.1 の分析によって必要ならばもっと長く)待つ。OSSD がオン状態にあ

ることを確認する。もしオフ状態にあるなら,作動距離を短くして試験を再開しなければならない。

d) ND フィルタの前に試験片を挿入し,指定の応答時間以内に OSSD がオフになることを確認する。

e) ND フィルタを取り去り,OSSD がオフ状態を継続することを確認する。

f)  5.2.9.1 の分析において決定した幾つかの位置で試験を繰り返す。

系統的に分析した結果,5.4 のいずれの試験に,応答時間の測定を追加する必要があるかを確認しなけれ

ばならない。

5.2.1.3

再帰反射技術を用いる AOPD に対する追加試験

供給者が指定する最小及び最大の作動距離において,次の試験を実施しなければならない。

シングル光ビーム装置にあっては,試験片と同等以上の直径及び長さをもつ反射物体(4.1.2.3 で規定)

を光ビーム装置の光軸に直角に置いたとき,検知器が作動することを確認しなければならない。試験は,

投受光部の近傍,再帰反射器の 200 mm 手前,及びビーム中間点において実施しなければならない。

再帰反射技術を用いる光カーテン及びマルチ光ビーム装置にあっては,再帰反射器と同等の反射物体を

投受光部の検出面に接するように置いたとき,OSSD がオフになることを確認しなければならない。

光カーテンにあっては,次のとき,検知器が作動することを確認しなければならない。

a)  試験片と同等以上の大きさをもつ,反射率の高い円柱状物体を光カーテンの検出区域内に置いたとき,


12 
B 9704-2:2008 (IEC 61496-2:2006)

及び,

b)  4.1.2.3 に規定する反射物体を光カーテンの検出区域に挿入したとき。

これらの試験は,投受光部の近傍,再帰反射器の近傍及びビーム中間点において実施しなければならな

い。

5.2.1.4

同じアセンブリ内に投光部及び受光部をもつ AOPD に対する追加試験

AOPD の検出区域内に反射物体(4.1.2.4 に規定するもの)を置いたときに,検知器が作動することを検

証しなければならない。反射物体は,投光部及び受光部の近傍並びに検出区域内の中間点に置いて実施し

なければならない。

5.2.9

光学性能の検証

(追加)

5.2.9.1

光電サブシステムの分析

5.2.9.1.1  分析

光電サブシステムを系統的に分析して,次のことを決定しなければならない。

a)  投光部及び受光部のビーム中心線及び光軸

b)  投光部及び受光部の,光軸を外れたすべての方向における相対的放射強度及び受光感度

c)  用いるフィルタ技術及びその特性の確認

d)  検知機能の状態(検知又は非検知)判定条件

e)  マルチビーム装置におけるビームの相対的放射強度及び受光感度

f)  検出できない障害(4.2.2 に規定)が光電特性に及ぼす影響

g)  最悪条件での応答時間

h)  4.3 に規定する環境条件が光電特性に及ぼす影響

この分析の結果は,4.1.2.2 の要求事項を満足するかどうかを決定するために用いなければならない。

4.1.2.2 の要求事項を満足する場合には,この分析結果を,いずれの試験方法が検証のためにふさわしいか

を決定するために用いなければならない(

図 参照)。


13

B 9704-2:2008 (IEC 61496-2:2006)

a)

  5.2.9.2 の手順が問題なく完了すれば,サイドローブがないことが検証されたことになる。

図 6AOPD の分析及び試験のフローチャート

5.2.9.1.2  試験方法の選択

4.1.2.2 に規定する光学性能の検証は,AOPD の設計によっては別の方法によることができる。

検証方法の選択には,次の事項を考慮しなければならない。

−  投光強度(ビームの軸上及び軸外の強度指向性)

−  受光感度(ビームの軸上及び軸外の感度指向性)

・各ビームの光電特性の解析
・ビームの幾何学的解析

5.2.9.1 

いいえ

終わり

はい

試験に対する最小

必要条件を満たしているか?

5.2.9.1

AOPD

不合格

不合格

サイドローブ

及びミスアライメント試験

5.2.9.2 

a)

合格

これは

シングル光ビーム装置か?

いいえ

効開口角試験は

検証に対して適切か?

5.2.9.1.2 

いいえ

外部反射光試験

AOPD

不合格

不合格

プリズム試験

附属書 C

はい

不合格

AOPD

不合格

はい

AOPD

不合格

不合格

ミスアライメント試験

附属書 D

AOPD  合格

合格


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B 9704-2:2008 (IEC 61496-2:2006)

−  同類の光学部間のビーム方向及び配置関係(すなわち,一つの投光部と他の投光部との関係,又は一

つの受光部と他の受光部との関係)

すべての AOPD は,5.2.9.2 に規定するように,サイドローブからの保護及び総合ミスアライメントの試

験に合格しなければならない。

二つ以上のビームをもつ AOPD は,すべてのビームが要求事項を満足することを確認しなければならな

い。このための二つの検証方法を,

附属書 及び附属書 に規定する。AOPD の設計(及び 5.2.9.1.1 の分

析)によっては,他の方法が

附属書 及び附属書 の方法よりも適切となることもある。他の方法がこの

規格の試験方法と同等であることを示せる場合は,その方法を用いてもよい。

注記  このような方法には,例えば,追加又は代替の投光器又は受光器を用いる方法がある。

EAA を抑制することによって 4.1.2.2 の要求事項を満足する場合には,マルチビーム装置では各ビーム

が要求事項を満足することを確認しなければならない。各ビームの特性を検証する方法の一つに,各ビー

ムの前にくさび形プリズムを置く方法がある。精密なくさび形プリズムは,ビーム個々の特性を評価でき

るように試験下のビームを偏向させる。くさび形プリズムによる試験方法を,

附属書 に規定する。くさ

び形プリズムの試験に合格することによって,4.1.2.2 の a)  及び b)  を満足したとみなす。

4.1.2.2 の要求事項を満足するために他の方法(EAA の抑制によらない方法)を用いるときは,AOPD の

光学性能をミラー試験及びアライメント試験を用いて直接測定することができる。

ミラー試験においては,

ビーム個別の特性を評価するために小さなミラーを各ビーム近傍に置く。これらの試験手順を,

附属書 E

に規定する。

附属書 の試験に合格することによって,4.1.2.2 の a)  及び b)  を満足したとみなす。

5.2.9.2

サイドローブ及びミスアライメントの試験(EAA の測定)

投光部又は投受光部の光学的アライメントを,受光部又は再帰反射器に対して固定し,受光部又は再帰

反射器のミスアライメント角 (EAA) を測定しなければならない[

図 の 2)  参照]。受光部又は再帰反射

器の光学的アライメントを,投光部又は投受光部に対して固定し,投光部又は投受光部のミスアライメン

ト角 (EAA) を測定しなければならない[

図 の 1)  参照]。これらの測定は,図 に示すすべての距離に

おいて,次のように実施しなければならない。

AOPD を供給者が指定する最良の状態に位置合わせする。AOPD は,角度目盛付の回転テーブル上に設

定することが望ましい。

図 に示す回転軸において試験する。


15

B 9704-2:2008 (IEC 61496-2:2006)

1)  受光部を固定,投光部を回転

2)  投光部を固定,受光部を回転

注記

再帰反射器を用いる光カーテンにおいては,再帰反射器は固定して投受光部の EAA 試験だけ
を実施する。

a)

 DUT は,試験に供する装置  (device under test)

図 7−有効開口角  (EAA)  の測定方法

AOPD を起動し,次の手順を実施する。

a)  投光部又は投受光部を 90°位置まで時計方向に回転する。OSSD はオフにならなければならない。

b) AOPD 全体の電源をオフにし,再びオンにする。

注記 1  5.2.9.1 の分析に基づき,電源オフにしてから電源オンにするまで,及び電源オンにしてから

手順 c)  を始めるまで,一定時間(例えば,ゲインコントロール回路の整定時間)待つ必要が

ある。

c)  投光部又は投受光部の回転位置を,元の方向に OSSD がオンになるまで戻す。このときの角度及び距

離を記録する。続けて反時計方向に 90°まで回し,OSSD がオンからオフに変化する角度及び距離を

記録する。

d)  a)∼c)  と同じ手順を反時計方向で行う。

e)  a)∼d)  の手順を反対側のユニット(受光部又は受投光部)に対して行う。

最小作動距離の規定値が 3 m を超える場合は,その最小作動距離(

図 参照)における EAA を決定す

るために同様の試験を実施しなければならない。

手順 c)  で記録された角度 (EAA) が

図 に示す角度より小さければ試験は合格とする。

注記 2  長い距離まで作動する仕様の AOPD においては,結果が同じであることを示せる場合,ND

フィルタを用いて短い距離で試験してもよい。

注記 3  投光部のビーム指向性又は受光部の感度指向性が卵形,だ円形,長方形である場合,又は水


16 
B 9704-2:2008 (IEC 61496-2:2006)

平若しくは垂直以外の方向に伸びた指向性となるような設計においては,特別の注意が必要

である。

5.2.10  波長

(追加)

放射波長は,投光素子の試験成績書の検査又は実測試験のいずれかによって検証しなければならない。

5.2.11  放射強度

(追加)

放射強度は,JIS C 6802 による測定及び供給者の技術文書を検査することによって検証しなければなら

ない。

注記  この要求条件に対する簡単化した検証法は検討中である。

5.4

環境試験

(追加)

5.4.6

光干渉

5.4.6.1

一般事項

各試験は,作動距離 3 m(又は供給者が指定する作動距離で 3 m に最も近い値)において,かつ,最小

要求条件として示される条件

3)

の下で実施しなければならない。

3)

  5.4.6.25.4.6.8 は,最小要求条件の一部である。

次の場合には,追加試験を,異なる作動距離と環境条件との組合せの下で実施しなければならない。

−  検証試験のために特別の光源を必要とするような高いイミュニティレベルを供給者が指定していると

き,及び/又は,

−  5.2.1.2 又は 5.2.9.1 の分析結果によって追加試験が必要なとき。

B 試験及び C 試験の間,試験片は,干渉光を妨げないように検出区域に挿入しなければならない。

5.4.6.4 の試験のために,製造業者の指示に従ってシステムを最良にアライメントしなければならない。

5.4.6.55.4.6.6 及び 5.4.6.7 の試験においては,干渉光を受光部の光軸方向に(又は可能な限り光軸に近く)

向けて,投光部を正常作動可能な範囲の最大ミスアライメント角(最悪条件)に設定しなければならない。

この試験の設定は,

試験に供する AOPD の特性に合うように,

5.2.9.1 の分析及び 5.2.9.2 の試験法によって,

また,必要なら更なる分析及び特性解析によって決定しなければならない(例として,

図 8,図 9,図 10

図 11 及び図 12 を参照。)。

注記 1 AOPD の設計は多様化しているので,一つの試験法がすべての設計の AOPD に適用できるわ

けではない。

図 は,試験構成の一例を示している。

注記 2  試験は,試験結果が同じになるなら,長い距離における作動試験を図 に示すように ND フ

ィルタでシミュレートして短い距離で行ってもよい。

注記 3 ND フィルタを用いる場合は,すべての試験を,ND フィルタを取り付けた後に行わなければ

ならない。

試験の設定には,AOPD の受光部に到達する光の特性に対して,AOPD の作動に影響するどのような変

更も加えてはならない。反射器,鏡,フィルタ,ビーム分割器,窓などを用いる場合,光の特性(例えば,

分光分布,偏光)に対するどのような改変も,試験結果に重大な影響を及ぼさないことを検証しなければ

ならない。


17

B 9704-2:2008 (IEC 61496-2:2006)

注記 1  危険側故障試験を行うときは,受光部又は投受光部を,起こり得る最大ミスアライメントの状態で作

動させる。

注記 2 ND フィルタが偏光に影響する可能性に注意する。

図 8−光干渉試験(直接法)


18 
B 9704-2:2008 (IEC 61496-2:2006)

投光部と受光部との距離は,3 m とする。

光源と受光部との距離 は,下の表による。

距離 D(正確な距離は,光源タイプによる。

照度

備考

2 m

3 000 lx

危険側故障試験

3 m

1 500 lx

正常作動試験

図 9−光干渉試験(ハロゲン光源の場合)


19

B 9704-2:2008 (IEC 61496-2:2006)

投光部と受光部との距離は,3 m とする。 
光源と受光部との距離 は,下の表による。

距離 D(正確な距離は,光源タイプによる。

照度

注記

12 cm

3 000 lx

危険側故障試験

21 cm

1 500 lx

正常作動試験

図 10−光干渉試験(蛍光灯光源の場合)


20 
B 9704-2:2008 (IEC 61496-2:2006)

投光部と受光部との距離は,3 m とする。 
光源と受光部との距離 は,3 m とする。

図 11−光干渉試験(キセノンフラッシュビーコン光源の場合)


21

B 9704-2:2008 (IEC 61496-2:2006)

投光部と受光部との距離は,3 m とする。 
光源と受光部との距離 は,1 m(危険側故障試験に対して)とする。

図 12−光干渉試験(ストロボ光源の場合)

5.4.6.2

光源

光源には,次のものを用いなければならない。

a)  白熱灯光源  次の特性をもつ直線形ハロゲン(クォーツ)電球。

−  色温度:3 000∼3 200 K

−  入力電力:0.5∼1 kW の定格電力

−  定格電圧:100∼250 V の間の任意の電圧

−  供給電圧:48∼62 Hz までの正弦波交流で,定格電圧±5 %の範囲内の電圧

−  長さ:150∼250 mm(公称値)

ランプには,最小寸法が 200 mm×150 mm,波長 400∼1 500 nm にわたって偏差±5 %の範囲内の均一な

反射率をもつ,つや消し仕上げのパラボラ形反射器を付けなければならない。

注記  つや消しの前窓をもつランプを用いてもよい。この光源は,分光分布が分かっており,電源周

波数の 2 倍の周波数で現れる変調特性も予測可能であり,ほぼ均一な強度分布のビームを作り

出す。太陽光及び作業現場の白熱灯照明をシミュレートするときに用いられる。

b)  蛍光灯光源  次の特性をもつ直線形蛍光管。

−  寸法:T8×1 200 mm(公称径 25 mm)

−  定格電力:18∼20 W


22 
B 9704-2:2008 (IEC 61496-2:2006)

−  色温度:5 000∼6 000 K

次の仕様の電子安定器と組み合わせて用いる。

−  作動周波数:30∼40 kHz

−  蛍光管に対応する定格電力で,定格供給電圧±5 %の範囲内で,反射鏡又は拡散板なしで使用。

c)  フラッシュビーコン光源  次の特性をもつキセノンフラッシュ管(エンクロージャ・反射器・フィル

タなし)

−  フラッシュ持続時間:40∼1 200 µs(強度半減点までを測定)

−  フラッシュ周波数:0.5∼2 Hz

−  1 フラッシュの入力エネルギー:3∼5 J

d)  ストロボ光源  次の特性をもつキセノンフラッシュ管(エンクロージャ・反射器・フィルタなし)。

−  フラッシュ持続時間:5∼30 µs(強度半減点までを測定)

−  フラッシュ周波数:5∼200 Hz

−  1 フラッシュの入力エネルギー:0.05 J (200 Hz)∼0.5 J (5 Hz)

試験中,フラッシュ管の位置は固定する。

5.4.6.3

試験手順

注記  次の B 試験及び C 試験は,第 1 部の 5.2.3 に定義している。

試験手順 1

1) ESPE を正常運転状態にする。

2)  干渉光を点灯する。

3) B 試験を行う。

4) ESPE の電源を 5 秒間オフ後,電源を復帰させる(起動インタロックがあればリセットする。)。

5) B 試験を行う。

6)  干渉光を消灯する。

7) B 試験を行う。

試験手順 2

1) ESPE を正常運転状態にする。

2)  干渉光を点灯する。

3) C 試験を 1 分間繰り返し行う。

4) ESPE の電源を 5 秒間オフ後,電源を復帰させる(起動インタロックがあればリセットする。)。

5) C 試験を 1 分間繰り返し行う。

6)  干渉光を消灯する。

7) C 試験を 1 分間繰り返し行う。

試験手順 3

1) ESPE を正常運転状態にする。

2)  干渉光を点灯する。

3) C 試験を 3 分間繰り返し行う。

5.4.6.4

正常運転試験(最良アライメント時)

次の各干渉光を 1 個又は複数の受光部の光軸に向けて照射して,5.4.6.3 の試験手順 1 を実施する。ESPE

は,試験中正常運転を継続しなければならない。

−  受光部面の計測照度が 1 500 lx になるような 5.4.6.2 による白熱灯光源(

図 参照)。


23

B 9704-2:2008 (IEC 61496-2:2006)

−  受光部の EAA 内で 3 m の距離に 5.4.6.2 によるフラッシュビーコン光源(

図 11 参照)を置いて 1 分間

照射。

−  受光部面の計測照度が 1 500 lx になるような 5.4.6.2 による蛍光灯光源(

図 10 参照)。この試験は蛍光

管の中央及び両端(陽極及び陰極領域)からの光を用いる三つの形態で実施しなければならない。

注記  蛍光灯光源を用いる試験の目的の一つは,高い周波数で変調された放射光に対する AOPD の

妨害感受性を確認することである。

5.4.6.5

危険側故障試験−白熱光(3 000 lx で最悪アライメントの場合)

5.4.6.2 による白熱灯光源を 1 個又は複数の受光部の光軸に向けて,受光部面の計測照度が 3 000±300 lx

となるように照射して,5.4.6.3 の試験手順 2 を実施する。試験中,危険側故障があってはならない(

図 9

参照)

5.4.6.6

危険側故障試験−ストロボ光(最悪アライメントの場合)

5.4.6.2 によるストロボ光源を 1 個又は複数の受光部の光軸に向けて照射して,5.4.6.3 の試験手順 3 を実

施する。試験中,危険側故障があってはならない(

図 12 参照)。ストロボ光源のフラッシュ速度は,3 分

間に 5∼200 Hz まで直線的に増加させ,この 3 分間に C 試験を連続的に繰り返さなければならない。

5.4.6.7

危険側故障試験−蛍光灯光(3 000 lx で最悪アライメントの場合)

5.4.6.2 による蛍光灯光源を 1 個又は複数の受光部の光軸に向けて,受光部面の計測照度が 3 000 lx とな

るように照射したとき,危険側故障があってはならない(

図 10 参照)。この試験は,蛍光管の中央及び両

端(陽極及び陰極領域)からの光を用いる三つの形態で実施しなければならない。5.4.6.3 の試験手順 2 に

よる。

5.4.6.8

危険側故障試験−同一設計の投光部からの干渉光

同一設計の AOPD 投光部からの放射光が,直接又は再帰反射器(使用されている場合)を介して AOPD

受光部に向けられたとき,タイプ 4 の ESPE には危険側故障があってはならない。5.2.1.2 及び 5.2.9.1 の分

析によって決定される最悪条件に対応して,最小限 6 個の位置を選定して試験しなければならない。AOPD

は,供給者が指定する最大作動距離で作動させて試験しなければならない。5.4.6.3 の試験手順 3 を用いな

ければならない。試験片を検出区域に入れたとき,試験片を検出するか,又は OSSD がオフにならなけれ

ばならない。異なるコード,大きさ及び構成が可能であれば,それらを分析しなければならない。最悪の

組合せで危険側故障を試験しなければならない。

6

識別及び安全使用のためのマーキング

(次を除いて,第 1 部の箇条 6.を適用する。

6.1

一般事項

(第 1 部に,次の規定を追加して適用する。

b)  への追加

−  検出能力が異なる AOPD 部分がある場合は,これらの部分とその検出能力とを各 AOPD の外側にマー

キングして示さなければならない。マーキングできないとき(例えば,スペース不足)には,附属文

書中にその情報を含めなければならない。

−  最小及び最大の作動距離をマーキングしなければならない。

−  受光部及び投光部の取付けが正しくない場合(例えば,180°のミスアライメント)にも OSSD がオ

ン状態になり得る場合は,AOPD には互いに正しい取付け位置が明確に分かるようにマーキングしな

ければならない。


24 
B 9704-2:2008 (IEC 61496-2:2006)

−  光カーテンには,検出区域の限界点を明確にマーキングしなければならない。

−  ビーム中心線を示すマーキングをしなければならない。

注記  ビーム中心線は,AOPD の位置を決定する要素の一つである。

7

附属文書

(次を除いて,第 1 部の箇条 7.を適用する。

f)  [第 1 部の f)  に追加する。]

検出能力が異なる AOPD 部分がある場合は,異なる検出能力ごとに AOPD の試験片の大きさ及び検

出能力を,その検出能力を確認する手順及び検知機能の作動を視覚表示器によって確認する手順とと

もに示さなければならない。検出不可能な対象物の大きさに関する情報も含めなければならない。

i)

[第 1 部の i)  に追加する。

AOPD を据え付ける場合の注意事項の詳細。これには,その装置の EAA,又は機械上若しくは機械

の近傍にある反射面,又は作業中の工作物がもつ反射面によって AOPD 検出能力がどのような影響を

受けるかを詳細に示す据付図面も含める。

v)  [第 1 部の v)  に追加する。]

検知器の作動確認のために必要となる,検出区域への試験片挿入法の詳細を,AOPD の識別可能な

基準(例えば,ビーム中心線)から見たすべての可能な接近方向からの挿入について示さなければな

らない。

その限度まで検出能力が維持される,試験片又はその同等品の最大速度を示さなければならない。

AOPD が光カーテンの空間的位置を調整する手段をもつ場合には,調整の範囲及び対応する検出区

域の位置関係を附属文書の中に図式的に示さなければならない。光カーテンにおいては,投光部及び

受光部が,特に 180°のミスアライメントを起こさず互いに正しく取り付けられるように明示した図

面を提供しなければならない。

af)  [第 1 部の af)  に追加する。]

次の趣旨の記載を含めなければならない。

“他の形態の光放射が存在する特定の用途(例えば,クレーンのケーブルレス制御装置,溶接スパ

ッタからの放射,ストロボ光の影響)では,ESPE の危険側故障を確実に防止するために追加の安全

方策が必要になることがある。

am) (第 1 部の箇条 7.に追加する。)

ブランキングを用いるときは,JIS B 9715 による最小距離を計算するための情報。ブランキングを

用いるときは,最小距離と最低検出能力(最悪ケース時)との関係を吟味する必要があること(ブラ

ンキングなしの場合とは異なる最小距離にする必要があり得る。

)を説明しなければならない。

an)  (第 1 部の箇条 7.に追加する。)

検出区域のブランキングされたエリアを通して人が危険源に近づくことを防止する追加手段の説明

が TS B 62046 に示されている。

ao)  (第 1 部の箇条 7.に追加する。)

検出区域を設定した後,責任者が適切な試験片を用いてそれを検証することの勧告。


25

B 9704-2:2008 (IEC 61496-2:2006)

附属書 A

規定)

ESPE のオプション機能

序文

この附属書は,ESPE のオプション機能について規定する。

要求事項

第 1 部の

附属書 に,次の A.9 を追加して適用する。

A.9  ブランキング

機能要求事項

検出能力及び検出区域内のブランキング適用部分は,AOPD の他の安全関連機能と同じ障害検出要求事

項を満たさなければならない。

AOPD は,ブランキングしたビームが連続的に遮光されていることをモニタする機能(モニタードブラ

ンキング)を備えることができる。ブランキング機能を備える AOPD は,ブランキング機能を有効にした

状態で 5.4.6 の干渉試験の要求事項をすべて満たさなければならない。この要求は,すべてのブランキン

グモードについて適用する。ブランキングが作動中であることを示す表示器を備えなければならない。

注記  ブランキングに関する追加の要求事項は検討中である。


26 
B 9704-2:2008 (IEC 61496-2:2006)

附属書 B

規定)

ESPE 電気用品の単一障害一覧表

5.3

の危険側故障として考慮すべきもの)

序文

この附属書は,5.3(第 1 部)に従って障害状態の性能試験を行うときに危険側故障として考慮すべき ESPE

電気用品の単一障害について規定する。

要求事項

第 1 部の

附属書 を適用する。


27

B 9704-2:2008 (IEC 61496-2:2006)

附属書 D 

規定)

プリズム法による有効開口角(EAA)の検証

序文

この附属書は,プリズムを用いて AOPD の有効開口角 (EAA) を検証する方法について規定する。

D.1  一般事項

この試験は,マルチ光ビーム装置及び光カーテンシステムに適用しなければならない。この方法は,ビ

ームごとの特性を検証するために各ビームを分離することを基礎にしている(

図 D.1)。

注記 1  投光器の EAA が受光器の EAA と異なる場合には,この検証手順は,等価な方法を開発する

ための指針となる。その場合は,検証するシステムの設計に対して妥当な異なる EAA 限度

値を決定する必要がある。

AOPD は,回転テーブル上に(原点に)最適にアライメント(位置決め)しなければならない。試験に

図 の MP1 に適用するビーム偏向角をもつくさび形プリズムを用いなければならない。プリズムの高さ

図 D.2 の H)は,少なくとも一つのビームを十分カバーしなければならないが,検出能力に相当する寸

法を超えてはならない。D.2 のプリズム試験(

図 D.2)を,3 m 又は装置の作動距離範囲内の可能な限り 3 m

に近い値で行わなければならない(3 m 以外の距離で試験を行う場合は,

図 の式を用いて適切な偏向角

を計算しなければならない。

注記 2  5.2.9.1 の分析に基づいて,他の距離による試験が必要となることもある。

プリズム角

 β

は,

図 D.3 の式を用いて計算できる。

D.2  プリズム試験の手順

AOPD を起動して,次の手順を実施する。

1) OSSD の状態を確認する。オン状態になければならない。

2)  プリズム中心が,試験対象の投光部又は受光部の前になるようにプリズムを挿入する。

3) OSSD がオフ状態に移行し,オフ状態を続けなければならない。OSSD がオン状態にとどまっている

ときは,

回転テーブルをビーム偏向方向に OSSD がオフになるまで回転させる。

プリズムを取り除き,

OSSD がオンに戻ることを確認する。

4)  プリズムを 180°回転させ,同じ試験対象ビームの前に挿入する。OSSD がオフ状態に移行し,オフ

状態を続けることを確認する。OSSD がオン状態にとどまっているときは,回転テーブルをビーム偏

向方向に OSSD がオフになるまで回転させる。プリズムを取り除き,OSSD がオンに戻ることを確認

する。

5)  回転テーブルの位置を変えずに,プリズムを反対方向から OSSD がオフ状態に変化するまで挿入して

手順 3)  及び手順 4)  を繰り返す。OSSD がオフになる位置が見つからない場合は,試験対象ビームの

EAA が過大であることが確認されたことになる。

注記  上記の試験手順の目的は,いずれの方向からプリズムを挿入しても OSSD が状態変化するよう

な回転テーブルの位置がただ一つあることを見つけることである。このことによって,両方向

の EAA が同じであることが検証される。


28 
B 9704-2:2008 (IEC 61496-2:2006)

6)  回転テーブルをゼロ位置に戻し,各ビームに対して手順 1)∼5)  を繰り返す。プリズムの位置を変える

間 OSSD は状態を変化してもよい。

この試験手順は,少なくとも最初及び最後のビームについては,試験対象システムを 90°回転し,プリ

ズムを Y 軸(

図 D.2 参照)に沿って,挿入して繰り返さなければならない。5.2.9.1 の分析で,他の位置が

不利であることが示されるなら,他の位置でも繰り返さなければならない。

この試験は,投光器の前及び受光器の前の両方で行わなければならない。

注記 1  プリズムは,可能な限り光学系に近付ける。 
注記 2  大きな偏向角を得るためには,プリズムを組み合わせて用いる必要もあり得る。

図 D.1−各ビームの EAA を測定するプリズム試験


29

B 9704-2:2008 (IEC 61496-2:2006)

各ビームを個別に解析するために,は試験対象のビームだけを完全にカバーすることが望ましい。

図 D.2−プリズムによる EAA 試験


30 
B 9704-2:2008 (IEC 61496-2:2006)

図 D.3−くさび形プリズムの設計計算

くさび形プリズムの偏向角は,そのプリズムの機械的角度,用いるガラスの屈折率及び波長に

依存する。プリズム角は,次の式で与えられる。

)

1

(

=

n

α

β

ここに,

β

プリズム角

α: 偏向角

n: 屈折率

波長 880 nm に対するガラスの屈折率 1.51 を用いると,偏向角 2.5°に対するプリズム角は,

°

=

=

9

.

4

)

1

51

.

1

(

5

.

2

β

β

が一定

 (4.9

°

)

のとき,異なる波長に対する偏向角は次のようになる。

波長

屈折率

偏向角

α =

 β

(n−1)

440 nm

1.5

4.9 (1.5−1) = 2.45°

880 nm

1.51

4.9 (1.51−1) = 2.5°

1 500 nm

1.53

4.9 (1.53−1) = 2.6°

注記

波長が異なることによる測定誤差は,

400 nm

に対し−

0.05

°,

1 500 nm

に対し+

0.1

°

となる。


31

B 9704-2:2008 (IEC 61496-2:2006)

附属書 E

規定)

ミラー法及びミスアライメント試験による光学性能の検証

序文

この附属書は,ミラー法及びミスアライメント試験を用いて

AOPD

の光学性能を検証する方法を規定す

る。

E.1

不適切なアライメント及び外部反射光に対する保護

AOPD

が 4.1.2.2 の光学性能の要求事項を満足するために

EAA

を制限する方法を用いない場合,及び

5.2.9.1 の分析結果を考慮して必要な場合は,4.1.2.24.1.2.4 の要求事項を満足することを,設計分析とこ

の附属書の採用可能な試験とを組み合わせて検証しなければならない。

すべての設計技術を想定することはできないので,ここに示す試験手順は,特殊な設計に対しては適さ

ないこともあり得る。その場合は,試験法の変更が必要である。

E.2

ミスアライメント時に OSSD がオフ状態になることの検証

表 E.1 及び表 E.2 に示す許容角度,又は図 E.1 の計算式によって計算される角度を超えるミスアライメ

ントがあるとき,

OSSD

がオフ状態にとどまることを検証しなければならない(

図 E.1 参照)。

表 E.1−タイプ の ESPE に対する最大許容ミスアライメント角

  (

γ

)

光カーテンの寸法に対して規定)

単位  °

最外側ビームの中心線間の距離 (mm)

光カーテンの

作動距離 (m)

300

450

600

750

900

1 050

1 200

1 350

1 500

1 800

3.0 以下 
4.0 
5.0 
6.0

 51.8 
 71.4 
 93.6 
122.1

33.8 
45.8 
58.2 
71.4

25.2
33.9
42.8
51.9

20.1
27.0
33.9
41.0

16.7
22.4
28.1
33.9

141.3
 19.2
 24.4
 29.0

12.5
16.8
21.0
25.3

11.1 
14.9 
18.6 
22.4

10.0 
13.4 
16.8 
20.2

 8.3
11.2
14.0
16.8

表 E.2−タイプ の ESPE に対する最大許容ミスアライメント角

  (

γ

)

光カーテンの寸法に対して規定)

単位  °

最外側ビームの中心線間の距離 (mm)

光カーテンの 
作動距離 (m)

300

450

600

750

900

1 050

1 200

1 350

1 500

1 800

3.0 以下 
4.0 
5.0 
6.0

25.2 
33.8 
42.7 
51.8

16.7 
22.4 
28.1 
33.8

12.5
16.7
21.0
25.2

10.0
13.4
16.7
20.1

8.3

11.1
13.9
16.7

7.2
9.5

11.9
14.3

6.3
8.3

10.4
12.5

5.6 
7.4 
9.3

11.1

5.0 
6.7 
8.3

10.0

4.2
5.6
7.0
8.3

E.2.1

ミスアライメント試験の手順

供給者の説明書に従って

AOPD

を最適アライメントに設定し,

OSSD

がオン状態にあることを確認する。

図 E.1 に示すように,ミスアライメント角を

0

°から

OSSD

がオフになりオフにとどまる角度まで増大


32 
B 9704-2:2008 (IEC 61496-2:2006)

させる。そのような角度は,

表 E.1 及び表 E.2 に示す角より小さくなければならない。続けてミスアライ

メント角をゆっくりと

180

°まで増大させ,その間

OSSD

がオフにとどまらなければならない。γ

図 E.1

参照)が

160

°より大きい場合は,この試験を行う必要はない。

注記

5.2.9.1 の分析の結果によっては,(例えば,自動ゲインコントロールを許容するために)試験手

順の変更及び追加の試験が必要になることもある。

E.3

外部反射光に対する保護の検証

AOPD

を最悪アライメントに設定し,反射面を

AOPD

の近傍に置いたとき,危険側故障を生じないこと

を検証しなければならない。これは,各ビームについて,供給者仕様の範囲内の他のすべての条件で行わ

なければならない。

E.3.1

外部反射光影響試験の手順

この試験は,供給者が指定する作動距離の範囲内の

0.5 m

0.75 m

1.5 m

及び

3.0 m

の各作動距離で実

施しなければならない。最小作動距離の規定値が

3.0 m

を超える場合は,試験は最小作動距離で実施する。

試験は各ビーム中心線について繰り返さなければならない。

AOPD

を最悪アライメントに設定した後,試験対象装置の電源をオフにし,再びオンにする。

注記

電源オンにしてから,試験を始める前に一定時間(例えば,ゲインコントロール回路の整定時

間)待つ必要がある。

ビーム中心線に沿って(

図 E.2 に示す適切な距離に)ミラーを置き,投光器から受光器へ最大の光伝送

(ミラー反射光を含む。

)が達成されるようにミラーを傾けて,試験片をビーム中心線の中間点に置き,

C

試験を行う。ミラーは,平面で使用波長の反射率が

0.9

以上,大きさ

200 mm

×

200 mm

以上とする。

C

試験を行うとき,投光器から受光器への直接光は試験片で十分遮光されなければならないが,ミラー

による間接光(反射光)を試験片が遮光してはならない。


33

B 9704-2:2008 (IEC 61496-2:2006)

a = 作動距離 
b = 最外側ビームのビーム中心間距離 
R =  光スポットの半径 
γ = 回転角度(°)であって,次の式による。 
 

γ = 2 arcsin (R / 2b)

ただし,は次による。

タイプ 2 の AOPD:  a  ≦ 3 m のとき  R = 260 mm

a  > 3 m のとき  R = a×tan 5.0°

タイプ 4 の AOPD:  a  ≦ 3 m のとき  R = 130 mm

a  > 3 m のとき  R = a×tan 2.5°

図 E.1AOPD ミスアライメント試験


34 
B 9704-2:2008 (IEC 61496-2:2006)

ミラーの位置が検出区域内にあるような試験は除外する。

a)

  Z 軸の向きは図 D.2 を参照。

ミラー位置の表

タイプ 2 ESP

タイプ 4 ESPE

作動距離

a m

D mm

d mm

0.5  ∼ 3.0

262

131

  a  > 3.0

a×tan 5°

a×tan 2.5°

図 E.2−外部反射影響試験


35

B 9704-2:2008 (IEC 61496-2:2006)

附属書 F

参考)

ビームの完全遮光原理に基づく AOPD の検出能力

序文

この附属書は,ビームの完全遮光原理に基づく

AOPD

の検出能力について記載するものであって,規定

の一部ではない。ここでは,光カーテンの寸法から

AOPD

検出能力を決定する方法を示すが,この方法を

用いることを要求するものではない。

F.1

検出能力の決定法

光カーテンにあっては,供給者は,試験片が検出区域内のどこに置かれても少なくとも一つのビームを

完全に遮光すれば試験片は必ず検出されるという原理に基づいて検出能力を決定することができる。

光カーテンの寸法設計に基づき,最小検出能力 を決定するために,次の式を用いることができる。

dP+φ

例えば,

    レンズ直径

  (

φ

)

 6 mm

    ビーム間隔

  (

P

 )

 8 mm

とすれば,

mm

14

8

6

=

+

=

d

したがって,この例では検出能力は 14 mm になる。

注記  上記の計算例においては,ビーム中心線間隔が一定で,投光器及び受光器の光学素子の直径が

等しいことが必要である。光学素子の直径が異なる場合は,大きい方の直径を用いる。


36 
B 9704-2:2008 (IEC 61496-2:2006)

附属書 JA

参考)

AOPD を使う設備に適用する第 1 部及び第 2 部の箇条一覧

序文

この附属書は,AOPD を使う設備に適用する JIS B 9704 の第 1 部及び第 2 部の箇条を分かりやすく一覧

表にまとめたものであり,規定の一部ではない。

AOPD を使う保護設備に適用する要求事項は,第 1 部  (JIS B 9704-1 : 2006)  の規定をそのまま適用する

部分(この規格には記載されていない。

)と,この規格が規定するすべての部分とを加え合わせて完全な規

定となる。

JA.1

  一覧表

次の表は,AOPD を使う設備に適用する JIS B 9704 規格群の第 1 部及び第 2 部の箇条番号及び題名のす

べてを示す。網掛け部分が,AOPD を使う ESPE に適用する箇条である(題名だけの箇条は,規定を含ま

ないので網掛けしていない。

。最右列に示す-1 及び-2 は,それぞれ第 1 部及び第 2 部の意味である。

第 1 部の規定

第 2 部(この規格)の規定 AOPD に適用する部

序文 

序文 

-2 

1

適用範囲 

1

適用範囲(置換え)

-2 

2

引用規格 

2

引用規格(部分的追加)

-1 及び-2

3

定義 

3

用語及び定義 

3.13.2

-1 

3.3 

検出能力 

3.3 

検出能力(置換え)

-2 

3.43.33

-1 

3.201 

能動的光電保護装置(追加)

-2 

3.202 

ビーム中心線(追加)

-2 

3.203 

有効開口角(追加)

-2 

3.204 

光ビーム装置(追加)

-2 

3.205 

光カーテン(追加)

-2 

3.206 

試験片(追加)

-2

3.207 

モニタードブランキング(追加)  -2 

4

機能,設計及び環境に対する 
要求事項 

4

機能,設計及び環境に対する 
要求事項 

4.1 

機能要求事項 4.1 

機能要求事項 

4.1.1 

定常運転 

-1 

4.1.2 

検知機能 

4.1.2 

検知機能(置換え)

-2

4.1.2.1 

一般事項(置換えの細分箇条)

-2 

4.1.2.2 

光学性能(置換えの細分箇条)

-2 

4.1.2.3 

再帰反射技術を用いる AOPD 
対する追加要求事項(置換えの
細分箇条)

-2 

4.1.2.4 

同じアセンブリ内に投光器及び
受光器をもつ AOPD に対する追
加要求事項(置換えの細分箇条)

-2 

4.1.3 

ESPE のタイプ別 

-1 


37

B 9704-2:2008 (IEC 61496-2:2006)

第 1 部の規定

第 2 部(この規格)の規定 AOPD に適用する部

4.2 

設計要求事項 4.2 

設計要求事項 

4.2.1 

電源 

-1 

4.2.2 

障害検出に関する要求事項 4.2.2 障害検出に関する要求事項 

4.2.2.1 

一般事項 

-1 

4.2.2.2 

タイプ の ESPE への要求事項 

タイプ 1 は適用除外

4.2.2.3 

タイプ の ESPE への要求事項 

4.2.2.3 

タイプ の ESPE の要求事項 
(置換え)

-2 

4.2.2.4 

タイプ の ESPE への要求事項 

タイプ 3 は適用除外

4.2.2.5 

タイプ の ESPE への要求事項 

-1 

4.2.3 

ESPE の電気用品 

-1 

4.2.3.1 

一般事項 

-1 

4.2.3.2 

感電保護 

-1 

4.2.3.3 

電気用品の保護 

-1 

4.2.3.4 

環境汚損度 

-1 

4.2.3.5 

空間距離,沿面距離及び分離距
 

-1 

4.2.3.6 

配線 

-1 

4.2.4 

OSSD(出力信号開閉器) 

-1 

4.2.4.1 

一般事項 

-1 

4.2.4.2 

リレー式 OSSD 

-1 

4.2.4.3 

ソリッドステート式 OSSD 

-1 

4.2.4.4 

データ通信インタフェース 

-1 

4.2.5 

表示灯及びディスプレイ 

-1 

4.2.6 

調整手段 

-1 

4.2.7 

サブシステムの切り離し 

-1 

4.2.8 

非電気的構成品 

-1 

4.2.9 

共通原因故障 

-1 

4.2.10 

プログラマブル集積回路又は複
雑な集積回路 

-1 

4.2.11 

ソフトウェア,プログラミング,
集積回路機能設計 

-1 

4.2.11.1 

一般事項 

-1 

4.2.11.2 

要求事項 

-1 

4.2.12 

AOPD 検出能力のインテグリテ
ィ(追加)

-2 

4.2.13 

試験片(追加)

-2 

4.2.14 

波長(追加)

-2 

4.2.15 

放射強度(追加)

-2 

4.3 

環境要求事項 

4.3 

環境要求事項(追加)

-2 

4.3.1 

周囲温度範囲及び湿度 

-1 

4.3.2 

電気的妨害 

-1 

4.3.2.1 

電源電圧変動 

-1 

4.3.2.2 

瞬時停電 

-1 

4.3.2.3 

ファーストトランジェントのバ
ースト 

-1 

4.3.2.3.1 

一般要求事項 

-1 

4.3.2.3.2 

追加要求事項 

-1 


38 
B 9704-2:2008 (IEC 61496-2:2006)

第 1 部の規定

第 2 部(この規格)の規定 AOPD に適用する部

4.3.2.4 

ファーストトランジェントのサ
ージ 

-1 

4.3.2.4.1 

一般要求事項 

-1 

4.3.2.4.2 

追加要求事項 

-1 

4.3.2.5 

電磁界 

-1 

4.3.2.5.1 

一般要求事項 

-1

4.3.2.5.2 

追加要求事項 

-1 

4.3.2.6 

無線周波電磁界による伝導妨害 

-1 

4.3.2.6.1

一般要求事項 

-1 

4.3.2.6.2 

追加要求事項 

-1 

4.3.2.7 

静電気放電 

-1 

4.3.2.7.1 

一般要求事項 

-1 

4.3.2.7.2 

追加要求事項 

-1 

4.3.3 

機械的環境 

-1 

4.3.3.1 

振動 

-1 

4.3.3.2 

バンプ 

-1

4.3.4 

エンクロージャ 

-1 

4.3.5 

光干渉(追加)

-2 

5

試験方法 

5

試験 

5.1 

一般事項 

5.1 

一般事項(部分的追加)

-1 及び-2

5.1.1 

型式試験 5.1.1 

型式試験 

5.1.1.1 

試験用 ESPE 

-1 

5.1.1.2 

運転条件 

5.1.1.2 

運転条件(部分的追加)

-1 及び-2

5.1.1.3 

検出区域への侵入のシミュレー
ション 

-1 

5.1.2 

試験条件 5.1.2 

試験条件 

5.1.2.1 

試験環境 

-1 

5.1.2.2 

測定精度 

5.1.2.2 

測定精度(部分的追加)

-1 及び-2

5.1.3 

試験結果 

-1 

5.2 

機能試験 5.2 

機能試験 

5.2.1 

検知機能 

5.2.1 

検知機能及び検出能力 
(置換え)

-2 

5.2.1.1 

検知機能(置換えの細分箇条)

-2 

5.2.1.2 

AOPD 検出能力のインテグリテ
ィ(置換えの細分箇条)

-2 

5.2.1.3 

再帰反射技術を用いる AOPD 
対する追加試験(置換えの細分
箇条)

-2 

5.2.1.4 

同じアセンブリ内に投光部及び
受光部をもつ AOPD に対する追
加試験(置換えの細分箇条)

-2 

5.2.2 

応答時間 

-1 

5.2.3 

限定機能試験 

-1 

5.2.3.1 

一般事項 

-1 

5.2.3.2 

限定機能試験 A試験)

-1 

5.2.3.3 

限定機能試験 B試験) 

-1 

5.2.3.4 

限定機能試験 C試験) 

-1 

5.2.4 

周期テスト 

-1 


39

B 9704-2:2008 (IEC 61496-2:2006)

第 1 部の規定

第 2 部(この規格)の規定 AOPD に適用する部

5.2.5 

表示灯及びディスプレイ

-1 

5.2.6 

調整手段 

-1 

5.2.7 

構成部品の作動定格 

-1 

5.2.8 

OSSD(出力信号開閉器) 

-1 

5.2.8.1 

一般事項 

-1 

5.2.8.2 

リレー式 OSSD 

-1 

5.2.8.3 

ソリッドステート式 OSSD 

-1 

5.2.9 

光学性能の検証(追加)

-2 

5.2.9.1 

光電サブシステムの分析(追加)  -2 

5.2.9.1.1 

分析(追加)

-2 

5.2.9.1.2 

試験方法の選択(追加)

-2 

5.2.9.2 

サイドローブ及びミスアライメ
ントの試験(EAA の測定)

(追加)

-2

5.2.10 

波長(追加)

-2 

5.2.11 

放射強度(追加)

-2 

5.3 

障害状態の性能試験 

-1 

5.3.1 

一般事項 

-1 

5.3.2 

タイプ の ESPE の検証試験 

-1 

5.3.3 

タイプ の ESPE の検証試験 

-1 

5.3.4 

タイプ の ESPE の検証試験 

-1 

5.3.5 

タイプ の ESPE の検証試験 

-1 

5.4 

環境試験 5.4 

環境試験 

5.4.1 

定格電源電圧 

-1 

5.4.2 

周囲温度変化及び湿度 

-1

5.4.3 

電気的妨害の影響 

-1 

5.4.3.1 

電源電圧変動 

-1

5.4.3.2 

瞬時停電 

-1 

5.4.3.3 

ファーストトランジェントのバ
ースト 

-1 

5.4.3.3.1 

一般要求事項 

-1 

5.4.3.3.2 

追加試験 

-1 

5.4.3.4 

ファーストトランジェントのサ
ージ 

-1 

5.4.3.4.1 

一般要求事項 

-1 

5.4.3.4.2 

追加試験 

-1 

5.4.3.5 

電磁界 

-1 

5.4.3.5.1 

一般試験 

-1 

5.4.3.5.2 

追加試験 

-1 

5.4.3.6 

無線周波電磁界により誘起され
る伝導妨害 

-1 

5.4.3.6.1 

一般試験 

-1 

5.4.3.6.2 

追加試験 

-1 

5.4.3.7 

静電気放電 

-1 

5.4.3.7.1 

一般試験 

-1 

5.4.3.7.2 

追加試験 

-1 

5.4.4 

機械的影響 

-1 

5.4.4.1 

振動 

-1 

5.4.4.2 

バンプ 

-1 


40 
B 9704-2:2008 (IEC 61496-2:2006)

第 1 部の規定

第 2 部(この規格)の規定 AOPD に適用する部

5.4.5 

エンクロージャ 

-1 

5.4.6 

光干渉(追加)

-2 

5.4.6.1 

一般事項(追加)

-2 

5.4.6.2 

光源(追加)

-2 

5.4.6.3 

試験順序(追加)

-2 

5.4.6.4

正常運転試験(最良アライメン
ト時)(追加)

-2 

5.4.6.5 

危険側故障試験−白熱光(3 000 
lx 
で最悪アライメントの場合) 
(追加)

-2 

5.4.6.6 

危 険 側 故 障 試 験 − ス ト ロ ボ 光

最悪アライメントの場合)

(追加)

-2 

5.4.6.7 

危険側故障試験−蛍光灯光 
3 000 lx

で最悪アライメントの

場合)(追加)

-2 

5.4.6.8 

危険側故障−同一設計の投光部
からの干渉光(追加)

-2 

5.5 

プログラマブル集積回路又は複
雑な集積回路の妥当性確認 

-1 

5.5.1 

一般事項 

-1 

5.5.2 

複雑な集積回路又はプログラマ
ブル集積回路の妥当性確認 

-1 

5.5.3 

ソフトウェア,プログラミング,
集積回路機能設計の妥当性確認 

-1 

5.5.4 

試験結果分析報告 

-1 

6

識別と安全使用のためのマーキ
ング 

6

識別及び安全使用のためのマー
キング 

6.1 

一般事項 

6.1 

一般事項(部分的追加)

-1 及び-2

6.2 

外部電源から給電する ESPE 

-1 

6.3 

内部電源から給電する ESPE 

-1 

6.4 

調節 

-1 

6.5 

エンクロージャ 

-1 

6.6 

制御機器 

-1 

6.7 

端子表示 

-1 

6.8

マーキングの耐久性 

-1 

7

附属文書 

7

附属文書(部分的追加)

-1 及び-2

附属書 A

規定) 

ESPE のオプション機能 

附属書 A

規定)

ESPE のオプション機能 
(部分的追加)

-1 及び-2

附属書 B

規定) 

ESPE 電気用品の単一障害一覧
表(本体 5.3 の危険側故障として
考慮すべきもの) 

附属書 B

規定)

ESPE 電気用品の単一障害一覧
表(5.3 の危険側故障として考慮
すべきもの) 

-1 

附属書 C

参考) 

適合性評価 

-1 

附属書 D

規定)

プ リ ズ ム 法 に よ る 有 効 開 口 角 
(EAA)  の検証(追加) 

-2 

附属書 E

規定)

ミラー法及びミスアライメント
試験による光学性能の検証 
(追加)

-2 


41

B 9704-2:2008 (IEC 61496-2:2006)

第 1 部の規定

第 2 部(この規格)の規定 AOPD に適用する部

附属書 F

参考)

ビームの完全遮光原理に基づく
AOPD の検出能力(追加)

-2