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B 8392-7:2008 (ISO 8573-7:2003) 

(1) 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

目 次 

ページ 

序文 ··································································································································· 1 

1 適用範囲························································································································· 1 

2 引用規格························································································································· 1 

3 用語及び定義 ··················································································································· 1 

4 部分流量サンプリングによる微生物の確認方法 ······································································ 2 

5 操作条件························································································································· 3 

6 コロニーを形成できる微生物の判定 ····················································································· 3 

7 試験報告························································································································· 3 

附属書A(参考)圧縮空気中の微生物粒子含有量の決定―サンプル試験報告書 ································· 4 

附属書B(規定)量的サンプリング方法···················································································· 5 

附属書C(参考)エンドトキシンサンプリング ·········································································· 7 

附属書D(参考)培地及びペトリ皿の準備 ················································································ 8 

参考文献 ····························································································································· 9 

B 8392-7:2008 (ISO 8573-7:2003) 

(2) 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

まえがき 

この規格は,工業標準化法第12条第1項の規定に基づき,社団法人日本フルードパワー工業会(JFPA)

及び財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり,

日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が制定した日本工業規格である。 

この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。 

この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に

抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許

権,出願公開後の特許出願,実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に係る確認について,責任は

もたない。 

JIS B 8392の規格群には,次に示す部編成がある。 

JIS B 8392-1 圧縮空気−第1部:汚染物質及び清浄等級 

JIS B 8392-2 一般用圧縮空気−第2部:オイルミストの試験方法 

JIS B 8392-3 空気圧−第3部:湿度測定方法 

JIS B 8392-4 圧縮空気−第4部:固体粒子含有量の試験方法 

JIS B 8392-5 圧縮空気−第5部:オイル蒸気及び有機溶剤含有量の試験方法 

JIS B 8392-6 圧縮空気−第6部:ガス状汚染物質の試験方法 

JIS B 8392-7 圧縮空気−第7部:微生物汚染物質含有量の試験方法 

JIS B 8392-8 圧縮空気−第8部:質量濃度による固体粒子含有量の試験方法 

JIS B 8392-9 圧縮空気−第9部:質量濃度による水分含有量の試験方法 

  

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

日本工業規格          JIS 

B 8392-7:2008 

(ISO 8573-7:2003) 

圧縮空気− 

第7部:微生物汚染物質含有量の試験方法 

Compressed air- 

Part 7: Test method for viable microbiological contaminant content 

序文 

この規格は,2003年に第1版として発行されたISO 8573-7を基に,技術的内容及び対応国際規格の構

成を変更することなく作成した日本工業規格である。 

適用範囲 

この規格は,圧縮空気中に存在する固体粒子から,コロニーを形成できる微生物(例えば,酵母及びバ

クテリア)を区別する試験方法について規定し,空気汚染物質の試験方法の整合を目的とした一連の規格

の一つとして,サンプリング,培養及び微生物粒子数量の決定の手段を示す。また,この試験方法は,JIS 

B 8392-1による清浄等級の決定に適し,生菌及びコロニー形成単位を固体粒子と同じものとして扱うこと

が必要なとき,JIS B 8392-4と関連付けて使用することを意図している。 

注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。 

ISO 8573-7:2003,Compressed air−Part 7: Test method for viable microbiological contaminant content 

(IDT) 

なお,対応の程度を表す記号(IDT)は,ISO/IEC Guide 21に基づき,一致していることを示す。 

引用規格 

次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの

引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。 

JIS B 8392-1 圧縮空気−第1部:汚染物質及び清浄等級 

注記 対応国際規格:ISO 8573-1,Compressed air−Part 1: Contaminants and purity classes (IDT) 

JIS B 8392-4 圧縮空気−第4部:固体粒子含有量の試験方法 

注記 対応国際規格:ISO 8573-4,Compressed air−Part 4: Test methods for solid particle content (IDT) 

用語及び定義 

この規格で用いる主な用語及び定義は,次による。 

3.1 

微生物(microbiological organisms) 

コロニーを形成することができる,特徴をもった粒子。 

注記 これらは,細菌,酵母及び真菌と同一である。 

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B 8392-7:2008 (ISO 8573-7:2003) 

  

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3.2 

生菌の数量(number of viable micro-organisms) 

代謝活動のための能力をもった,微生物の数量。 

3.3 

培養数(culturable number) 

平板培地でコロニーが形成できる微生物,単細胞及びそれら集合体の数量。 

3.4 

コロニー形成単位(colony-forming unit)(CFU) 

培養数で表す単位。 

部分流量サンプリングによる微生物の確認方法 

部分流量サンプリングによる微生物の確認は,寒天培地を圧縮空気サンプルにさらして行う。量的な評

価は,附属書Bに規定する方法による。エンドトキシンサンプリングの詳細は附属書C,培地及びペトリ

皿の準備の詳細は附属書Dを参照する。 

衝突形エアテスタの一種であるスリットサンプラ(図1参照)は,部分的な流量サンプリングのために

JIS B 8392-4に規定する試験方法とともに用いなければならない。空気の等速サンプリングは,サンプラ

の製造業者が示すレンジ内まで流速を下げてから試験を行わなければならない。製造業者の推奨事項との

適合性,又はJIS B 8392-4に合致していることを確認するため,大気圧状態まで圧力を低下させて流量測

定を行わなければならない。流量を測定した後,寒天培地を圧縮空気サンプルにさらした時間を記録する。 

非微生物粒子を微生物粒子から区別するために,測定は4時間以内で行わなければならない。 

1 空気入口 
2 回転台上の平板培地 
3 空気出口 
4 空気の流れ 

図1−スリットサンプラ 

試験での正確な読みを得るために,粒子サイズ及び数量に対する液体の影響をできる限り排除すること

が必要である。ただし,微生物の生育性への影響を避けるためには,この規格以外の試験では適切とされ

ていても,空気の加熱又は乾燥によって水分を減じてはならない。 

B 8392-7:2008 (ISO 8573-7:2003) 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

水以外の液体の影響については,十分考慮しなければならない。 

注記 水以外の液体としては,サンプリング空気中に含まれるオイルなどがある。 

操作条件 

試験報告には,実際の試験条件を記載しなければならない(附属書A参照)。 

コロニーを形成できる微生物の判定 

培地でのサンプル培養後,コロニーを形成できる微生物の存在を確認するために,培地の表面を観察す

る(B.3参照)。 

試験報告 

固体粒子の中に,コロニーを形成できる微生物があることが確認された場合には,報告書中に固体粒子

に関わるJIS B 8392-4に従った記述に加え,その旨を記述しなければなければならない。 

“JIS B 8392-1に従った圧縮空気中の微生物に関する報告”という文言の後に,次の項目を加える。 

− 殺菌されている又は殺菌されていない 

− サンプリング日時 

− 測定日時 

− 測定場所 

試験報告の例を,附属書Aに示す。 

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B 8392-7:2008 (ISO 8573-7:2003) 

  

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附属書A 

(参考) 

圧縮空気中の微生物粒子含有量の決定― 

サンプル試験報告書 

この附属書は,本体の規定を補足するものであって,規定の一部ではない。 

JIS B 8392-4に従って固体粒子含有量が確定している場合には,試験報告書(表A.1参照)に基づいて,

検査した圧縮空気システムから採取された空気サンプル中に,コロニー形成単位として存在する微生物粒

子の識別結果を表示する。 

注記 寒天培地の情報については,B.3を参照する。 

表A.1−報告例 

(サンプル名) 

実側値,平均測定値(附属書B参照) 

微生物粒子 

CFU/m3 

参考状態a)において 

細菌 

100 

酵母 

14 

真菌 

徴候なし 

内生胞子細菌 

50 

試験場所の圧力 

MPa(絶対圧力) 

校正記録の年月日 

年  月  日 

注記 この試験報告では,相対湿度の体積への影響は無視できる。 
注a) 参考状態: 

温度  20 ℃ 
圧力  0.1 MPa(=1 bar) 

B 8392-7:2008 (ISO 8573-7:2003) 

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附属書B 

(規定) 

量的サンプリング方法 

序文 

この附属書は,スリットサンプラを使用した微生物のサンプリング方法,その後の培養方法及びコロニ

ー計数方法について規定する。 

B.1 

スリットサンプラによるサンプリング(図1参照) 

B.1.1 原理 

スリットサンプラ(衝突形エアテスタ)で微生物を捕捉する原理は,単純,かつ,信頼できる。空気源

から供給された圧縮空気は,湿った寒天培地の表面に向かって,特別に設計された継手を通り,狭いスリ

ットを通って加速される。このとき,空気分子は偏向させられるが,微生物は慣性によって寒天培地の表

面に衝突する。適切に培養された微生物はコロニーに増殖し,一つの微生物が一つのコロニーを発生させ

るという仮定のもとで計数される。 

スリットサンプラは,細菌,酵母又は真菌,更に特別な方法を伴って,ウイルス及びバクテリオファー

ジに使用することができる。半径方向に配置されたスリット(0.5 mm)の下で回転する大きな寒天面(例

えば,140 mmのペトリ皿)では,多数のコロニー(すなわち微生物)を数えることができる。 

B.1.2 無菌操作技術 

サンプリング方法には,無菌操作技術を導入し補完する。例えば,70 %エタノールのような殺菌薬剤の

使用を推奨する。スリットサンプラを使用していない期間(保管など)は,機器内での微生物の成長を避

けるよう注意しなければならない。周囲の環境から汚染の侵入をできるだけ防ぐため,試験機器の開放を

伴うすべての作業は素早く行う。また,気流の影響に対しても注意しなければならない。 

B.2 

サンプリング手順 

サンプリング手順は,次による。 

a) 配管を含むすべてのサンプリング機器は,使用直前に適切な洗浄剤によって殺菌する。 

b) 平板培地を置かずに,サンプリング空気をサンプリング装置及び接続された配管類に流す。これによ

って殺菌薬剤が蒸発し,スリットサンプラの調整操作が可能になる。 

c) 実際の測定の前後に,スリットサンプラを起動しないで,d)〜f)の工程を行うことによるブラインド

テストを実施する。その結果,使われた培地は,菌の繁殖を示してはならない。 

d) 寒天培地の入った140 mmペトリ皿を用意する(通称,標準寒天培地)。ペトリ皿は,その底にトレー

サビリティ情報(日付,開始時間,試験場所,コードなど)の付いたラベルをはらなければならない。

開始位置及び回転方向も表示する。 

e) スリットサンプラの空気取入れ口及びレベルインジケータが上向きにされていることを確認する。ス

リットサンプラのふたを持ち上げて,プレートホルダがマイクロスイッチに対して正確に置かれてい

ることを確認し,スリットサンプラの内側を消毒パッドでふく。 

f) 

ペトリ皿の放射状の直線が空気取入れ口スリットの真下に位置するように,ペトリ皿をスリットサン

プラに挿入する。ペトリ皿のふたを取り外し,それを滅菌プラスチック袋の中に保管する。 

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

g) 培地のふたを取り外したらすぐに,スリットサンプラのふたを素早く元に戻す。 

h) レベルインジケータのロックをゆるめ,注意深く寒天培地表面上まで下げる。インジケータの矢印が

移動溝の下端を直接指し示すように,空気取入れ口を下げる。レベルインジケータを再度その上側位

置まで上げて,ロックを締める。 

i) 

スタートボタンを押して,自動サンプリングを開始する。開始時間,サンプリング時間,試験設備及

びその他測定に影響を及ぼす可能性のある条件又は観察事項を記録する。 

j) 

パイロットランプが切れると,サンプリングは終了する。スタート/ストップボタンをオフ位置にし

て,空気取入れ口を上げる。 

k) スリットサンプラのふたをゆるめて注意深く持ち上げると同時に,ペトリ皿のふたを滅菌プラスチッ

ク袋から取り出して培地にかぶせる。寒天培地及びサンプルに支障をきたすことのないように,この

プロセスには十分な注意を払わなければならない。 

l) 

寒天培地をサンプリング装置から取り出して,スリットサンプラのふたを元に戻す。ペトリ皿をテー

プでシールして,滅菌プラスチック袋の中に戻し,次に袋をテープでシールする。 

m) 寒天培地を適切な温度で培養し,適切な時間が経過した後に観察する(B.3参照)。寒天培地表面の中

央及び外側端には,コロニーがあってはならない。 

注記 スタート/エンドラインには,対象外のコロニーが含まれている可能性がある。 

n) ペトリ皿ホルダの起動アームを,マイクロスイッチを越え復帰位置まで動かす。 

o) スリットサンプラの内側を消毒パッドでふき,スリットサンプラにふたをする。 

p) 新しいサンプリングを実行するときは,最初からこの手順を行う。 

偶発的な二次汚染の調査を可能にするために,平板寒天培地の製造業者から,サンプリング及び試験所

の場所まで培地の移動した軌跡を,同じ輸送手段を使ってトレースする。培地は,後で菌の成長が見られ

てはならない。 

B.3 

生菌汚染物質の培養 

一般に,培養に最適な温度は,微生物がサンプリング前に生息していた場所に近い温度であり,中温性

細菌又は糸状菌は,20 ℃〜30 ℃で培養する。特定の好熱性細菌に対しては,その他の温度が要求される

場合がある。菌類の培養期間は14日以内が標準的であるが,中温性細菌は2日から14日までさまざまで

ある。その他の微生物の培養温度は考慮する。 

選択培地(寒天培地)は,例えば,グラム陰性菌の分離のために使われ,計数は決まった時間内に行わ

なければならない(例:24時間)。 

B.4 

コロニー形成単位(CFU)の計数 

非選択培地は,培養開始後24時間で成長したコロニーの計数を行い,その後10日から14日間にわたり

24時間ごとに再計数する。培養期間中及びコロニー計数をしている間は,コロニーの過増殖による計数精

度の低下を防ぐために,定期的な観察を行わなければならない。 

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附属書C 
(参考) 

エンドトキシンサンプリング 

この附属書は,本体の規定を補足するものであって,規定の一部ではない。 

C.1 概要 

圧縮空気中のエンドトキシンのサンプリングは,未使用のプラスチックチューブ及びガラス容器だけで

はなく,作業者の経験と技量とが要求される難しいプロセスである。しかし,圧縮空気凝縮水中のグラム

陰性菌の量を計ることによって,圧縮空気中のエンドトキシンの存在を確認することが可能である。 

なお,それだけではなく,補足として凝縮水中の細菌,真菌及び酵母の測定を実施することが望ましい。 

C.2 サンプリング手順 

警告 圧縮空気中のわずか数ngのエンドトキシン(グラム陰性菌の死骸の一部)から,疾病を発症する

ことがある。 

凝縮水中のグラム陰性菌の測定手順は,次による。無菌の作業方法を常に採用しなければならない。適

切な寒天培地の付いた計量棒を用いる。サンプリング箇所は,調査する圧縮空気システムの中で凝縮水を

集めるのに適切な箇所でなければならない。 

a) サンプリングの前に,70 %エタノールでサンプリング箇所を消毒する。 

b) 寒天培地で被われた附属スライド付きバイアル瓶のふたを取り外す。 

c) 凝縮水サンプルを,サンプリング箇所から殺菌したバイアル瓶に採取する。 

d) 附属スライドの付いたふたを,サンプル中に10秒間浸す。両方の寒天表面を,凝縮水サンプルへ十分

に浸せき(漬)させることが重要である。 

e) スライドを,約3秒かけてゆっくりとサンプルから抜く。 

f) 

バイアル瓶から凝縮水サンプルを排水する。 

g) 接種(培地への植付け)後,スライドをバイアル瓶の中に注意して戻す。この段階では,スライドの

付いたバイアル瓶は試験結果に影響を及ぼすことなく,数時間保管したり輸送することができる。 

なお,サンプルスライドが入ったバイアル瓶を凍結させてはならない。 

h) スライドを27 ℃で14日間培養する。微生物が非常にゆっくりと増殖(成長)する場合は,培養期間

を1か月まで延長してもよい。 

i) 

培養後,バイアル瓶からスライドを注意深く取り除く。製造業者の指示に従って,成長及び色の反応

を検査する。 

細菌,酵母及び真菌の許容レベルは1 mLの凝縮水当たり10 000 CFUである。一つのグラム陰性菌が凝

縮水の中で見つかった場合は,エンドトキシンが圧縮空気中に存在するので,装置の湿った部分は洗浄及

び消毒をしなければならない。 

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附属書D 
(参考) 

培地及びペトリ皿の準備 

この附属書は,本体の規定を補足するものであって,規定の一部ではない。 

次の手順は,寒天培地及びぶどう糖濃度4 %のサブロー培地のいずれにも有効である。 

a) 製造業者が指定した量の粉末培地を計量し,水に溶かす。 

b) 培地を121 ℃で15分間,オートクレーブ滅菌する。 

c) おおよそ50 ℃まで冷却した後,pHを測定し,必要ならば塩酸又は水酸化ナトリウムを使い,指定さ

れたpHに調整する。 

d) 二つの滅菌した140 mmプラスチックペトリ皿に,培地を65 mLずつ注ぐ。 

e) 培地が冷めて固くなったら,ペトリ皿を滅菌処理した2枚の滅菌プラスチック袋に入れる。 

1) 単純な重ね折りシールの付いた1枚目の袋を閉じる。 

2) 溶着端の付いた2枚目の袋をシールする。 

f) 

容器には,日付,内容物及びバッチナンバを示すラベルをはる。 

B 8392-7:2008 (ISO 8573-7:2003) 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

参考文献 

[1] ISO 4833:2003,Microbiology of food and animal feeding stuffs−Horizontal method for the enumeration of 

microorganisms−Colony-count technique at 30 ℃  

[2] ISO 7218,Microbiology of food and animal feeding stuffs−General rules for microbiological examinations 

[3] ISO 7954,Microbiology−General guidance for enumeration of yeasts and moulds−Colony count technique 

at 25 ℃