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日本工業規格

JIS

 B

8310

-1985

ポンプの騒音レベル測定方法

Methods of A-weighted Sound Pressure Level Measurement for Pumps

1.

適用範囲  この規格は,ターボポンプ(水中モーターポンプを除く。),ロータリ形ポンプ,往復ポン

プ(油圧ポンプを除く。

)の各ポンプに適用し,ポンプ本体から放射する定常的な騒音の騒音レベル(

1

)

を測

定する方法について規定する。

(

1

)

定常的な騒音の騒音レベルとは,8dB 以内の変動で5分間以上継続し,その平均値が計測中ほぼ

一定とみなすことができるものをいう。

引用規格: 

JIS B 8301

  遠心ポンプ,斜流ポンプ及び軸流ポンプの試験及び検査方法

JIS B 8311

  往復ポンプの試験及び検査方法

JIS B 8312

  歯車ポンプ及びねじポンプの試験及び検査方法

JIS C 1502

  普通騒音計

JIS C 1505

  精密騒音計

JIS Z 8106

  音響用語(一般)

JIS Z 8731

  騒音レベル測定方法

2.

用語の意味  この規格で用いる主な用語の意味は,JIS Z 8106[音響用語(一般)]によるほか,次に

よる。

(1)

騒音レベル  JIS C 1502(普通騒音計),JIS C 1505(精密騒音計)に規定のもの,又はこれらと同等

以上の性能をもつ測定器で測定した値  [dB (A) ] (

2

)

(

2

)

騒音レベル L

A

は10log

10

 (p

A

2

/p

o

2

)

で定義された値。ここで,p

A

は JIS C 1502又は JIS C 1505に規

定してある A 特性で重みを付けた音圧の実効値,p

o

は基準音圧20

µPa (2×10

5

N/m

2

)

とする。

騒音レベル L

A

の単位はデシベル,単位記号は dB。ただし,この規格では A 特性で重みを付け

た値であることを明示するために dB (A)  と記す。

(2)

騒音のバンド音圧レベル  ある周波数範囲における騒音の成分を音圧レベル(

3

)

で表したもの。

(

3

)

音圧レベル L

p

は10log

10

 (p

2

/p

o

2

)

で定義された値。単位はデシベル,単位記号は dB。ここで は,

その音の音圧の実効値,p

o

は基準音圧20

µPa (2×10

5

N/m

2

)

とする。

(3)

暗騒音  測定対象音がないときの,その測定点における騒音。

(4)

音源  ケーシング,吸込口,吐出し口など,騒音を放射する源。

(5)

基準音源  測定周波数範囲で,十分かつ安定な出力と良好な全指向性をもつ小形の音源で,音場の確

認に使用するもの。

(6)

測定値  読取値に暗騒音の補正を行った値。


2

B 8310-1985

3.

測定項目  規定の運転条件において,ポンプの周囲の騒音レベル  [dB (A) ]  を測定する。

参考  騒音のバンド音圧レベルの測定が必要な場合には,後記の参考 による。

4.

測定条件

4.1

測定環境

4.1.1

測定場所  測定場所は,できるだけ床面以外のものからの音の反射がなく,また,次のいずれかの

条件を満足するものでなければならない。

(1)

反電動機側の一方向で,ポンプ本体表面から 1m と 2m の距離における騒音レベルの差,又は 0.5m と

1m

の距離における騒音レベルの差が 5dB 以上あること。

(2)

基準音源を供試ポンプ据え付け場所又はその近傍に置き,基準音源から 1m と 2m の距離における騒

音レベルの差,又は 0.5m と 1m の距離における騒音レベルの差が 5dB 以上あること。

このような条件を満足しない場合は,測定場所の状態(室内寸法,装置寸法,配置,配管,音場測

定結果など)を特記する。

4.1.2

暗騒音  暗騒音は,対象騒音の読取値より 10dB 以上低いことが望ましいが,やむを得ず指示の差

が 4∼9dB のときは,

表 によって補正する。

表 1  暗騒音の補正値[JIS Z 8731(騒音レベル測定方法)参照]

単位  dB

対象音があるときとないときとの指示の差

4

,5 6,7,8,9

補正値

−2

−1

4.2

運転条件  騒音の測定は,原則として規定回転数,規定吐出し量(

4

)

で行う。やむを得ず規定の条件

以外で測定する場合は,受渡当事者間の協定を行い,その運転条件を明記する。

(

4

)

規定回転数及び規定吐出し量の設定許容値は,それぞれ5%以内とする。

5.

測定器及び試験装置

5.1

測定器  測定器は,JIS C 1502 に規定の普通騒音計(又は JIS C 1505 の精密騒音計)又はこれと同

等以上の性能をもつ測定器(以下,総称して騒音計という。

)でなければならない。

5.2

試験装置  試験装置は,該当するポンプ試験方法に関する規格(

5

)

による。

なお,次の点に注意して設置する。

(

5

)  JIS B 8301

(遠心ポンプ,斜流ポンプ及び軸流ポンプの試験及び検査方法)

JIS B 8311

(往復ポンプの試験及び検査方法)

JIS B 8312

(歯車ポンプ及びねじポンプの試験及び検査方法)

(1)

工場試験では,吐出し弁の取付位置は,できるだけポンプから遠ざけることが望ましい。

(2)

試験用電動機及び変速装置で,その発生騒音が大きい場合には,それらの騒音を減らすような処置が

望ましい。ただし,大形電動機などでその処置が容易でない場合は,受渡し当事者間の協定による。

(3)

吸込配管及び吐出し配管からの発生騒音が大きい場合には,それらの騒音を減らすような処置が望ま

しい。

(4)

その他の試験設備からの発生騒音については,できるだけその影響を除くことが望ましい。

6.

測定方法

6.1

測定方法  測定方法は,次による。


3

B 8310-1985

(1)

騒音計の周波数補正回路は,A 特性を使用する。

(2)

単位は dB (A)  とする。

(3)

騒音試験に先立って,測定点の暗騒音を測定する。

(4)

騒音計のマイクロホンを,音源の方向に向ける。

(5)

騒音計の動特性は,原則として遅い動特性 (SLOW) を使用する。

(6)

騒音レベルの読取値は,指示値に最も近い整数値とする。

なお,指示値が変動する場合は,指針の振れの平均値をとる。

備考1.  騒音計は,測定の前後に校正を行う。

2.

測定は,床面以外の測定者自身を含むあらゆる固体表面からの反射の影響をできるだけ少な

くするように注意する。

6.2

測定位置  測定位置は,次による。

(1)

代表的なポンプの騒音測定位置を

図 110 に示す。他もこれに準じる。

(2)

電動機の周囲の騒音は,(3)及び(4)に準じて測定する。

(3)

マイクロホンの位置は,ポンプの幾何学的中心に向かった直線上でポンプ本体表面から 1m とする。

(4)

マイクロホン高さは,次による。

(a)

横軸ポンプについては,軸心高さ又はマイクロホン下の床面から 0.5m のいずれか高い方をとる。

(b)

立軸ポンプについては,槽内形の場合は吐出し管中心高さとし,槽外形の場合はポンプの幾何学的

中心高さとする。また,電動機側は,その幾何学的中心高さとする(

6

)

(

6

)

マイクロホン高さが著しく高くなり,測定に危険を伴う場合には,受渡し当事者間の協定

によって省略することができる。


4

B 8310-1985

図 1  片吸込渦巻ポンプ

図 2  両吸込渦巻ポンプ

備考1.

はポンプの騒音の測定位置及びマイクロホ

ンの方向を示す。

は電動機の周囲の騒音の測定位置及びマイ

クロホンの方向を示す。

2.

マイクロホン下の床面からの軸心高さが 0.5m
以下の場合には,マイクロホン高さは 0.5m と
する。

3.

※印は,

参考 のポンプ側バンド音圧レベル測

定位置を示す。

備考  図 の備考 1.3.による。


5

B 8310-1985

図 3  多段遠心ポンプ

備考1.

はポンプの騒音の測定位置及びマイクロホンの方向を示す。

は電動機の周囲の騒音の測定位置及びマイクロホンの方向を示す。

2.

マイクロホン下の床面からの軸心高さが 0.5m 以下の場合には,マイクロ
ホン高さは 0.5m とする。

3.

※印は,

参考 のポンプ側バンド音圧レベル測定位置を示す。


6

B 8310-1985

図 4  軸流又は斜流ポンプ

備考1.

はポンプの騒音の測定位置及びマイクロホンの方向を示す。

は電動機の周囲の騒音の測定位置及びマイクロホンの方向を示す。

2.

マイクロホン下の床面からの軸心高さが 0.5m 以下の場合には,マイクロホン高さは 0.5m とす

る。

3.

※印は,

参考 のポンプ側バンド音圧レベル測定位置を示す。

図 5  往復ポンプ

備考1.

はポンプの騒音の測定位置及びマイクロホンの方向を示す。

は電動機の周囲の騒音の測定位置及びマイクロホンの方向を示す。

2.

マイクロホン下の床面からの軸心高さが 0.5m 以下の場合には,マイクロ
ホン高さは 0.5m とする。

3.

※印は,

参考 のポンプ側バンド音圧レベル測定位置を示す。


7

B 8310-1985

図 6  立軸ポンプ(一床式)

備考1.

はポンプの騒音の測定位置及びマイクロホン

の方向を示す。

は電動機の周囲の騒音の測定位置及びマイク

ロホンの方向を示す。

2.

※印は,

参考 のポンプ側バンド音圧レベル測定

位置を示す。


8

B 8310-1985

図 7  立軸ポンプ(床式)

備考1.

はポンプの騒音の測定位置及びマイクロホンの方向を示す。

は電動機の周囲の騒音の測定位置及びマイクロホンの方向を

示す。

2.

※印は,

参考 のポンプ側バンド音圧レベル測定位置を示す。

3.

電動機架台のため上記位置で測定できない場合には,周方向に
ずらしてよい。


9

B 8310-1985

図 8  横軸形直動片吸込遠心ポンプ

備考1.

はポンプの騒音の測定位置及びマイクロホンの方向を示す。

は電動機の周囲の騒音の測定位置及びマイクロホンの方向を示す。

2.

マイクロホン下の床面からの軸心高さが 0.5m 以下の場合には,マイクロホン高さ

は 0.5m とする。

3.

※印は,

参考 のポンプ側バンド音圧レベル測定位置を示す。


10

B 8310-1985

図 9  インライン形直動片吸込遠心ポンプ 

備考1.

はポンプの騒音の測定位置及びマイクロホンの方向を示す。

2.  P

−1 の高さは吸込管と,吐出し管の中心高さとする。

なお,この高さは 0.5m 以下でもよい。

3.

横軸にして測定する場合には,

図 の測定位置による。


11

B 8310-1985

図 10  電動機防音カバー付の例 

備考1.

はポンプの騒音の測定位置及びマイクロホンの方向を示す。

は電動機の周囲の騒音の測定位置及びマイクロホンの方向を示

す。

2.

マイクロホン下の床面からの軸心高さが 0.5m 以下の場合には,マ

イクロホン高さは 0.5m とする。

3.

※印は,

参考 のポンプ側バンド音圧レベル測定位置を示す。

7.

記録方法及び様式

7.1

記録方法  測定結果には,測定値と測定位置を示し,代表騒音レベル(

7

)

も併せて表示する。

なお,電動機周囲の測定値と測定位置は,参考として表示する。

また,ポンプ形式,吐出し量,全揚程,回転数,電動機仕様,液質,測定器名称などを付記する。必要

がある場合は,測定場所の略図を示し,音場の測定結果とともに特記欄に付記する。

(

7

)

代表騒音レベルとは,次の式で表す値をいう。

n

L

An

A

A

L

L

L

10

1

.

0

1

.

0

1

.

0

10

A

log

10

)

10

10

10

(

log

10

2

1

ここに,

A

L

代表騒音レベル  [dB (A) ]

L

A1

L

A2

,…

L

An

測定値  [dB (A) ]

n

測定値の数

7.2

記録様式  記録様式は,表 による。


12

B 8310-1985

表 2  ポンプ騒音測定記録


13

B 8310-1985

参考 1  騒音・バンド音圧レベル測定方法

1.

測定位置  測定位置は,ポンプ側については本体図 110 で表示した規定位置に※印を付けた位置と

する。電動機側については,本体

図 110 の電動機側規定位置の中で,騒音レベルが最高の位置とする。

2.

測定器  測定器は,騒音計及びオクターブ又は

3

1

オクターブバンド分析器を用いる。バンド中心周波

数は,

参考 表による。

参考 表  オクターブ及び

3

1

オクターブバンド中心周波数 

単位  Hz

オクターブバンド

中心周波数

63

125

250

500

1 000

2 000

4 000

  8 000

50

l00

200

400

  800

1 600

3 150

  6 300

63

125

250

500

1 000

2 000

4 000

  8 000

3

1

オクターブバン

ド中心周波数

80

160

315

630

1 250

2 500

5 000

10 000

備考  騒音計及びオクターブ又は

3

1

オクターブバンド分析器は,JIS C 1502(普通騒音計)

JIS C 1505

(精密騒音計)及び JIS C 1513(オクターブ及び

1

/

3

オクターブバンド分析器)に規定のもの又

はこれと同等以上の性能をもつものとする。

3.

測定方法  測定方法は,次による。

(1)

騒音計の周波数補正回路は,平たん特性又は C 特性を使用する。

(2)

騒音計の動特性は,原則として遅い動特性 (SLOW) を使用する。

(3)

測定周波数範囲内での読取値と暗騒音のバンド音圧レベル差が 10dB 以上あることか望ましい。やむ

を得ずレベル差が 4∼9dB のときは,本体の

表 によって補正する。

備考  騒音レベル及びバンド音圧レベルの読取値は,指針の振れの平均値に最も近い整数値とする。

4.

測定結果の表示  測定結果は,測定位置とともに参考 図のように図示する。


14

B 8310-1985

参考 図  騒音のバンド音圧レベル記録様式


15

B 8310-1985

参考 2  音響パワーレベルの測定方法

ある音源の音響パワーレベル  (

L

w

)

とは,その音響出力  (

W

)

と基準の音響出力  (

W

o

)

との比の常用対数

の 10 倍をいう。すなわち

o

W

W

W

L

10

log

10

(単位 dB)

ここに,  W

o

は基準の音響出力すなわち 1 (pW)  とする。

備考  (  )は単位記号を表す。 

この測定方法に関しては,

ISO

として下記の

参考 

のようなものがあるが,ここではポンプの場合に

比較的実用的と考えられる

ISO 3744

ISO 3746

も比較を示す)及び

ISO DP 3747

(これは現在まだ正式の

ISO

規格にはなっていない。

)を参考のために抄訳して紹介する。

参考 表  音響パワーレベル測定方法規格一覧表

ISO

規格番号

精度・等級

試験環境

音源体積

騒音の種類

測定量

  3741

定常,広帯域

  3742

精密級

残響室

定常,純音性,

広帯域

オクターブ又は

3

1

オクターブバ

ンドパワーレベル

  3743

工業級

特殊残響室

試 験 室 容 積 の

1%

以 下 が 望 ま

しい

定常,広帯域,

狭帯域,純音性

A

特性パワーレベル及びオクタ

ーブバンドパワーレベル

  3744

工業級

屋外又は大きな

室内

最大寸法 15m 以

任意

  3745

精密級

無響室又は

半無響室

試 験 室 容 積 の

0.5%

以下が望ま

しい

任意

A

特性パワーレベル及びオクタ

ーブ又は

3

1

オクターブバンドパ

ワーレベル

  3746

簡易級

一般的環境

無制限

任意

A

特性パワーレベル

  DP  
  3747

簡易級,比較法

だけ

一般的環境,供

試音源は移せな

くてもよい

最大寸法 15m 以

定常,広帯域,

狭帯域,純音性

オクターブバンドパワーレベル,

自由音場に補正した規定点の音

圧レベル

備考  騒音データの主要な応用分野は,下記のとおりである  (ISO 3740)  。

騒音制御………精密級(工業級でも十分なことが多い) 
形式試験………工業級

                  形式が異なる機器間………工業級 
機器の騒音比較 
                  同形式の機器間……………簡易級

I.

ISO 3744 

: Acoustics

−Determination of sound power levels of noise sources-Engineering methods for free−

field conditions over a reflecting plane

(抄訳)

ISO 3744

:音響−騒音源の音響パワーレベル測定方法−半自由音場における工業的方法)

I.0.1

関連規格

(省略)

I.0.2

概要

(省略)

I.0.3

序文

  音源を囲む規定表面上の音圧レベル (sound pressure level) を測定し,これから,音響パワー

レベル  (sound power level)  を計算する方法を定めたものである。測定環境が

ISO 3744

の規定を満足しない

場合でも,

ISO 3746

(騒音源の音響パワーレベルの決定)の方法は使用できることが多い。

I.1

適用範囲

  (省略)


16

B 8310-1985

I.2

参考文献

  (省略)

I.3

用語の意味

I.4

測定環境

I.4.1

一般

  (省略)

I.4.2

測定環境の判定基準

付録 I. A

による。

I.4.3

暗騒音の判定基準

  各周波数バンドで対象とする音より最小 6dB,できれば 10dB 以上小さいこと

ISO 3746

では騒音レベルで最小 3dB)

I.5

測定器

  (省略)

I.6

供試品の据付けと運転

  (省略)

I.7

測定表面上の音圧レベル

I.7.1

測定表面

 (measurement surface)

I.7.1.1

仮定音源表面

 (reference surface)

  音源を囲む最小寸法の箱状の仮想直方体

I.7.1.2

座標系と代表長さ d

0

d

0

=[ (0.5 l

1

)

2

+ (0.5 l

2

)

2

l

3

2

]

1/2

参考図 I.1

参照)

I.7.1.3

測定表面の形状

(1)

半径 の半球(

参考図 I.2

及び

参考図 I.3

参照 r≧2 d

0

(2)

各面が仮定音源表面に平行でその間の距離が であるような直方体(

参考図 I.4

参照)

(3)

仮定音源表面との距離がどの位置でも になるようなコンフォーマル形状(

参考図 I.5

及び

参考図 I.6

参照)

備考

ISO 3746

では,半球と直方体だけを規定。

I.7.1.4

測定表面の選定

  半球測定表面を通常は優先的に選ぶが,環境などの都合により音源近くで測

定する必要があるときは,直方体測定表面又はコンフォーマル形状測定表面を用いる。この二つの表面で

はコンフォーマル形状の方が精度はよいが,マイクロフォンの位置決めに努力を要する。

I.7.1.5

半球測定表面上の基準測定点の位置

付録 I.B

参考図 I.2

及び

参考図 I.3

)に示す。

備考

ISO 3746

では,最大騒音レベルを示す点を含む 4 測定点(

参考図 I.7

参照)

I.7.1.6

直方体測定表面上の基準測定点の位置

付録 I.C

参考図 I.4

)に示す。

備考

ISO 3746

では,直上及び最大騒音レベルを示す点を含む 6 測定点(

参考図 I.8

参照)

I.7.1.7

コンフォーマル形状測定表面上の基準測定点の位置

付録 I.D

参考図 I.5

及び

参考図 I.6

)に示

す。

I.7.2

追加測定点の位置

  次の場合には,基準測定点の他に追加測定点を加えなければならない。

(1)

基準測定点で計測された音圧レベル読取値の幅(位置による最大読取値と最小読取値との差のデシベ

ル数)が測定点の数を超えたとき。

(2)

仮定音源表面の寸法のいずれかが 2 以上のとき。

(3)

音源が強い指向性を示すとき。

(4)

大きな音源の一部分だけから強い騒音の放射があるとき。

I.7.3

測定点を削減してもよい条件

  (省略)

I.7.4

測定条件

  (省略)

I.8

表面音圧レベル,音響パワーレベル及び指向係数の計算

  以下に示す式では,騒音レベル及び A 特

性パワーレベルの計算には dB (A)  ,バンド音圧レベルの計算には dB の単位記号を使用する。


17

B 8310-1985

I.8.1

測定表面上の平均音圧レベルの計算

ú

û

ù

ê

ë

é

å

n

i

L

n

L

1

1

.

0

10

pm

pi

10

1

log

10

pm

L

測定表面上の平均音圧レベル

 

L

pi

i

番目の測定点の A 特性音圧レベル又はバンド音圧レベル

I.8.2

表面音圧レベルの計算

K

L

L

pm

pf

pf

L

表面音圧レベル

 

K

環境補正値(測定表面上での平均)

I.8.3

音響パワーレベルの計算

)

/

(

log

10

0

10

pf

S

S

L

L

W

+

S

測定表面積 (m

2

)

S

0

1 (m

2

)

I.8.4

指向係数と指向指数の計算  (省略)

I.9

記録資料  (省略)

I.10

記録様式  (省略)

付録 I. A  測定環境の検定方法

I.A.1

序文  測定環境の音響的特性を評価する環境補正値 の決定方法には,次の 2 種類がある。

(1)

直接比較法  I.A.3 参照

(2)

残響法  I.A.4 参照

測定環境

A/S

補正の要否

備考

屋外

K

≦0.5dB とな

るので不要

アスファルト又はコンクリ
ートなどの地面で,規定範囲

内に障害物がないこと

10

A/S

不要

6

A/S≦10

この

付録 I.A の手順で の値

を決定  (K≦2dB)

屋内

A/S

≦6

誤差大,測定表面・環境又は
測定方法を変更すること

備考  A:測定室の全吸音力(残響法によって定める),S:測定表面の面積

I.A.2

環境条件  (省略)

I.A.3

直接比較法  (absolute comparison test)

I.A.3.1

算出方法  ISO 6926 に定められた基準音源 (reference sound source) を測定対象音源の位置に設置

し,この

参考 の I.7 及び I.8 の方法で音圧レベルの測定及び音響パワーレベルの計算(K=0 として)を

行う。

K

L

wo

L

wr

L

wo

参考 の I.7 及び I.8 の方法で,K=0 として求められた基準
音源の音響パワーレベル

L

wr

基準音源の呼び音響パワーレベル

I.A.3.2

測定室内における基準音源の据付け位置  (省略)


18

B 8310-1985

I.A.3.3

許容基準  環境補正値 の値は 2dB 以下でなければならない。

備考  ISO 3746 では 7dB (A)  未満。

I.A.4

残響法  (reverberation test)

I.A.4.1

算出方法 

÷

ø

ö

ç

è

æ +

S

A

K

/

4

1

log

10

10

S

測定表面積 (m

2

)

全吸音力 は,残響時間の測定[ISO/R 354 又は JIS A 1409(残響室法吸音率の測定方法)参照]によ

って算出する。

÷

ø

ö

ç

è

æ

T

V

A

16

.

0

V

測定室の容積 (m

3

)

T

残響時間 (s)

I.A.4.2

許容基準  A/S の値は,6 を超えていなければならない。

備考  ISO 3746 では 1 以上。

付録 I.B  半球表面上の測定点の位置  参考図 I.2,  参考図 I.3 及び参考表 I.5 に示す。No.1∼10 は基準測定

点,No.11∼20 は追加測定点である。

ISO 3746

の場合を

参考図 I.7 及び参考表 I.8 に示す。

付録 I.C  直方体表面上の測定点の位置  参考図 I.4 及び参考表 I.6 に示す。

ISO 3746

の場合を

参考図 I.8 に示す。

付録 I.D  コンフォーマル形状表面上の測定点の位置  参考図 I.5,参考図 I.6 及び参考表 I.7 に示す。

付録 I.E  適切な測定系の例 

付録 I.F  衝撃騒音の検出方法 

付録 I.G 半球表面上の測定位置を用いた指向係数と指向指数の計算 


19

B 8310-1985

参考図 I.1  仮定音源表面と代表長さ d

0

備考  この図は ISO 3744 にはないが,説明図として追加したものであ

る。


20

B 8310-1985

参考図 I.2  半球測定表面と基準測定点の位置

r

≧2 d

o

音源の幾何学的中心から床面までの距離の 4 倍

r

≧1m

r

は,この中で最も大きいものとするが,更に 1−2−4−6−8−10−12−14−16m の中から選ぶのが望ま

しい。

参考表 I.5  基準測定点の座標

No.

r

x

r

y

r

z

 1

−0.99

  0 0.15

 2

  0.50

−0.86 0.15

 3

  0.50

  0.86 0.15

 4

−0.45

  0.77 0.45

 5

−0.45

−0.77 0.45

 6

  0.89

  0 0.45

 7

  0.33

  0.57 0.75

 8

−0.66

  0 0.75

 9

  0.33

−0.57 0.75

10

  0

  0 1.00


21

B 8310-1985

参考図 I.3  半球表面上の測定点の位置(No.110 基準測定点,No.1120 追加測定点)


22

B 8310-1985

参考表 I.6  基準測定点の座標

 No.

x

y

z

 

1

a

  0

h

2

  0

b

h

3

a

  0

h

4

  0

b

h

5

a

b

c

6

a

b

c

7

a

b

c

8

a

b

c

9

  0

  0

c

a

=0.5 l

1

d

b

=0.5 l

2

d

c

l

3

d

h

C×c

C

=0.5 又は 0.5 l

3

/c

横軸の場合は,として軸心高
さをとる。 

参考図 I.4  直方体表面上の測定点の位置

直方体表面及びコンフォーマル表面の場合は は 1m が望ましく,最小でも 0.25m とする。かつ,0.25

−0.5−1−2−4−8m の中から選ぶことが望ましい。


23

B 8310-1985

参考図 I.5  仮定音源表面から距離 のコンフォーマル表面

参考表 I.7  基準測定点の座標

No.

x

y

z

 

1

      a

      0

h

1

2

      0

      b

h

1

3

    −a

      0

h

1

4

      0

    −b

h

1

5

a/2

      b

1

h

2

6

    −a/2

b

1

h

2

7

    −a/2

    −b

1

h

2

8

a/2

    −b

1

h

2

a

=0.5 l

1

d

b

=0.5 l

2

d

c

l

3

d

h

1

=0.25 (bcd)

h

2

=0.75 (b+cd)  ≦c

b

1

=0.5 (bcd)  ≦b

 


24

B 8310-1985

参考図 I.6  コンフォーマル表面上の測定点の位置


25

B 8310-1985

参考図 I.7  ISO 3746 による半球測定表面上の測定点の位置

r

は l

1

l

2

l

3

の中最大のものの 2 倍以上とし,これを等しいか,これを次に上回る次の整数値とする。1,

2

,4,6,8,10,12,14 又は 16m

参考表 I.8  測定点の座標

高さ

z

=0.6 r

No.

r

x

r

y

r

z

1

    0.8

    0.0 0.6

2

    0.0

    0.8 0.6

3

  −0.8

    0.0 0.6

4

    0.0

  −0.8 0.6

備考  参考図 I.7 及び参考表 I.8 の番号は,ISO 3744 又は ISO 3746 の番号とは合っていない。


26

B 8310-1985

参考図 I.8  ISO 3746 による直方体表面上の測定点の位置 

備考  この図の番号は,ISO 3744 又は ISO 3746 の番号とは合っていない。

II. ISO DP 3747 

: Acoustics

−Determination of sound power levels of noise sources−Survey method using a

reference sound source

(抄訳)

ISO DP 3747:音響−騒音源の音響パワーレベル測定方法−基準音源使用の簡易級方法)

備考  箇条番号及び図,表の番号は原 ISO 規格の番号と合わせたものとなっており,その頭に II.を付

けてある。

II.0.1

関連規格  (省略)

II.0.2

概要  (省略)

II.0.3

序文  この方法は,供試音源の測定を行う場所で,特性の知られた基準音源を用いて音圧レベル測

定を行うことによって測定場所の影響による補正値を求め,これを供試音源の測定値に適用して,測定場

所の影響を差し引いた音圧レベルを求め,この結果から音響パワーレベルを算出するものである。

II.1

適用範囲

II.1.2.2

音源の大きさ  最大寸法が 15m 以下のものに適用

II.2

参考文献

II.3

用語の意味

II.3.1

基準音源  (reference sound source)   定常の広帯域騒音を出す音源で十分な音響パワーレベルを有

し,半自由音場で高精度で校正されたもの  (ISO 6926)  。

II.4

測定環境


27

B 8310-1985

II.4.2

暗騒音に対する基準  定常暗騒音の A 特性騒音レベルは,測定する騒音源及び基準音源の A 特性

騒音レベルのいずれよりも 3dB 以上小さくなくてはならない。

II.5

測定器

II.5.3

基準音源  ISO 6926 の全規程に合うものであること。

II.6

供試品の据付けと運転

II.6.2

基準音源  供試音源は移動できないことが多いので,この規格では基準音源を供試音源の上又は横

に並置する方法を含んでいる。

II.7

測定表面上の音圧レベル

II.7.1

仮定音源表面と測定表面(参考図 II.1II.10)  仮定音源表面 (reference surface) −音源を囲む最

小寸法の仮想直方体(1 面又はそれ以上の反射面に接する)

測定表面 (measurement surface) −面積 の仮想表面で音源と仮定音源表面を含み,一つ又はそれ以上の

反射面で終わる。仮定音源表面との間隔 は一般には 1m とし,1m 未満にはしない。

II.7.2

マイクロホン位置

II.7.2.1

概要  (省略)

II.7.2.2

マイクロホン位置の数

II.7.2.2.1

  1

反射面の場合  最小 5(4 基準測定点+1 上部測定点)大形音源の場合(水平寸法 1.0m を超過

するもの)には測定表面の頂部の角の部分で 4 測定点を追加(

参考図 II.6)。

II.7.2.2.2

  1

以上の反射面の場合

II.7.2.2.2.1

  4

面(2 反射面)  各自由表面の中心に 1,各面の頂点に各 1(

参考図 II.7

II.7.2.2.2.2

  3

面(3 反射面)  各自由表面の中心に 1,各面の頂点に 1(

参考図 II.8

II.7.2.2.2.3

  2

面(4 反射面)  各自由表面の中心に 1,2 自由表面の交線の中心に 1(

参考図 II.9

II.7.2.2.2.4

  1

面(5 反射面)  (

参考図 II.10

II.7.2.2.2.5

  0

面(6 反射面)  (

参考図 II.10

II.7.3

基準音源 (RSS) の位置

II.7.3.1

供試機械の頂部,仮定音源表面の高さ l

3

が 1.5 を超えないときは,優先的にここを選定。

II.7.3.1.1

仮定音源表面の寸法 l

1

l

2

のいずれもが 2 を超えないときは RSS は仮定音源表面の上面 1 か所

だけとする(

参考図 II.11)。

II.7.3.1.2

幅 l

2

は 2 を超えないが長さ l

1

が 2 より大きい場合は,

RSS

の位置は少なくとも 2 か所とする。

仮定音源表面の上面の l

1

方向の中心線上に RSS の位置を等間隔に配置し,その間隔が 2 以上にはならな

いようにする(

参考図 II.13)。

II.7.3.1.3

幅 l

2

,長さ l

1

が 2 を超えるときは,RSS の位置は少なくとも 4 か所とする。これは仮定音源表

面の上面の端近くの 2 線上に配置し,相互に 2 以上は離れないようにする(

参考図 II.14)。

II.7.3.2

供試機械の側面  供試機械の上に設置できない場合だけに適用。仮定音源表面の高さ l

3

が 1.5  d

以上の場合だけに適用。

II.7.3.2.1

 RSS

の地面からの高さは,H=0.5 (l

3

d)  (

参考図 II.12

II.7.3.2.2

 RSS

の位置は最少 4 か所とし,仮定音源表面の各側面の中央とする。

II.7.3.2.3

長さ l

1

又は幅 l

2

が 3 を超える場合,RSS の位置は少なくとも 2 か所とする。これらの位置は

d

を超える側面で上述の高さの直線上に規則的に(例えば l/4,3l/4 など)配置する。

II.7.3.2.4

供試機械のマイクロホンを設置しない側面については RSS の位置は 1 か所とする。


28

B 8310-1985

II.7.4

測定法  供試機械運転中に各マイクロホン位置で A 特性音圧レベルの測定を行う。また,供試機械

停止中及び RSS がそれぞれ定位置で動作しているときの A 特性音圧レベルも測定する。RSS と供試音源

のスペクトルが類似していない場合(

附属書 II.A 参照),各オクターブハンドの音圧レベルも測定する。

次のデータを入手する。

(a)

供試音源が運転中の各マイクロホン位置における音圧レベル:L

pi (ST) 

(i はマイクロホン位置を示す。

(b)

各マイクロホン位置における暗騒音:L

pi

(B)

(c)

各 RSS 位置での RSS 発生音を各マイクロホン位置で測定した音圧レベル:L

pij (RSS)

(供試機械は停

止中)

(j は RSS 位置を示す。

II.7.5

暗騒音に対する補正  (省略)

II.7.6

環境補正値  (environmental correction)  K

i

(a)

 RSS

位置が 1 か所の場合

pr

(RSS)

p

L

L

K

(RSS)

p

L

=10 log

10

ú

û

ù

ê

ë

é

å

n

i

L

n

1

0

.

1

(RSS)

pil

10

1

L

pil

(RSS)

II.7.4

に II.7.5 の補正を行ったもの

0

10

wr

pr

log

10

S

S

L

L

(dB)

S

測定表面の面積

S

o

=1 (m

2

)

L

wr

RSS

の校正した PWL

(b)

 RSS

位置が 1 か所を超える場合

K

i

pr

(RSS)

pi

L

L

(RSS)

pi

L

あるマイクロホン位置 での全 RSS 位置からの平均音

ú

ú
û

ù

ê

ê
ë

é

å

m

j

L

m

L

1

1

.

0

10

(RSS)

pi

(RSS)

pij

10

1

log

10

(RSS)

pij

L

II.7.4

に II.7.5 の補正を行ったもの

II.8

音響パワーレベルの計算

II.8.1

測定表面上での平均音圧レベルの計算

ú

û

ù

ê

ë

é

å

N

i

L

N

L

1

1

.

0

10

pA

pAi

10

1

log

10

pA

L

測定表面上での平均 A 特性音圧レベル

L

pAi

i

番目の測定点における A 特性音圧レベル

N

測定位置の全数


29

B 8310-1985

II.8.2

環境補正した表面音圧レベルの計算

K

L

L

pA

pAf

pAf

L

表面音圧レベル

K

反射音の影響による測定表面上での平均環境補正値

K

は,次によって計算する。

å

N

i

K

N

K

1

i

1

II.8.3

音響パワーレベルの計算

  供試機械の A 特性音響パワーレベル L

wA

は,次によって計算する。

0

10

pAf

wA

log

10

S

S

L

L

+

II.9

記録資料

  (省略)

II.10

報告資料

  (省略)

付録 II.A

スペクトル形状の相似性の決定法

参考図 II.1II.5 に用いる記号 


30

B 8310-1985

参考図 II.1  面からなる測定表面の代表例

参考図 II.2  面からなる測定表面の代表例


31

B 8310-1985

参考図 II.3

については上面(又は下面)図と側面図を示す。

参考図 II.3  面からなる測定表面の代表例 

参考図 II.6  基準  ()  と追加  ()  マイクロホン位置 

面からなる測定表面の場合)


32

B 8310-1985

参考図 II.7  基準  ()  と追加  ()  マイクロホン位置 

面からなる測定表面の場合)

参考図 II.8  基準  ()  と追加  ()  マイクロホン位置 

面からなる測定表面の場合)


33

B 8310-1985

参考図 II.11  基準音源の基準位置 

l

3

1.5 の場合

参考図 II.12  基準音源の基準位置

l

3

1.5 d 

h

0.5 (l

3

d)  の場合 


34

B 8310-1985

参考図 II.13  長い供試音源  (L

1

d)  の場合の基準音源の位置例

参考図 II.14  平たんで幅広く長い供試音源  (L

2

d)  の場合の基準音源の位置例

参考図 II.15  長い供試音源  (L

1

>5 d

で L

3

1.5 

(高い供試音源)の場合の基準音源の位置例 

参考図 II.13II.15

2d

L

1

L

2

<5の場合,供試音源位置は L

1

又は L

2

4

1

4

3

の 2 か所だけと

する。