B 7997-2：2020
（1）
目 次
ページ
1 適用範囲························································································································· 1
2 引用規格························································································································· 1
3 用語及び定義 ··················································································································· 1
4 測定原理及び用途 ············································································································· 1
4.1 測定原理 ······················································································································ 1
4.2 用途 ···························································································································· 2
5 計測器の測定レンジ ·········································································································· 2
6 計測器の性能 ··················································································································· 2
7 構成及び構造 ··················································································································· 3
7.1 構成 ···························································································································· 3
7.2 構造 ···························································································································· 3
7.3 使用温度範囲 ················································································································ 3
8 試験······························································································································· 4
8.1 試験条件 ······················································································································ 4
8.2 試験粉体 ······················································································································ 4
8.3 校正 ···························································································································· 4
8.4 相関係数 ······················································································································ 4
8.5 振動安定性 ··················································································································· 4
8.6 温度安定性 ··················································································································· 4
8.7 電源電圧安定性 ············································································································· 4
8.8 繰返し性 ······················································································································ 5
8.9 ゼロドリフト ················································································································ 5
8.10 スパンドリフト ············································································································ 5
8.11 応答時間 ····················································································································· 5
8.12 絶縁抵抗 ····················································································································· 5
8.13 耐電圧 ························································································································ 5
9 検査······························································································································· 5
10 報告書 ·························································································································· 5
11 表示 ····························································································································· 5
附属書A（参考）オパシティメータ ························································································· 7
附属書B（参考）ゼロ校正及びスパン校正の例 ·········································································· 10
附属書C（参考）計測器の健全性の確認例 ··············································································· 11
附属書D（参考）計測器の性能試験検査に関する報告書の例························································ 12
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まえがき
この規格は，産業標準化法に基づき，日本産業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が制定した日本
産業規格である。
この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本産業標準調査会は，このような特許権，出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について，責任はもたない。
日本産業規格 JIS
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排ガス中のダスト濃度自動計測器−
第2部：光透過方式
Automated concentration monitoring instrument of dust in flue gas-
Part 2: Light transmission method
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適用範囲
この規格は，排ガス中に光（入射光）を照射したとき，ダストによって光が減衰することを利用するこ
とによって，主に低濃度から高濃度領域までのダスト濃度を測定する目的に使用する光透過方式のダスト
濃度自動計測器（以下，計測器という。）について規定する。
注記 この規格では，低濃度は10 mg/m3以下，中濃度は50 mg/m3以下，及び高濃度は50 mg/m3超え
をいう。また，この規格に示すダスト濃度は，標準状態［273.15 K（0 ℃），101.32 kPa］かつ乾
き状態に換算した値である。
2
引用規格
次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。
JIS B 7996 排ガス中のダスト濃度自動計測器の性能評価方法
JIS K 0211 分析化学用語（基礎部門）
JIS K 0215 分析化学用語（分析機器部門）
JIS Z 8103 計測用語
JIS Z 8808 排ガス中のダスト濃度の測定方法
JIS Z 8852 排ガス中のダスト濃度の連続測定方法
JIS Z 8901 試験用粉体及び試験用粒子
3
用語及び定義
この規格で用いる主な用語及び定義は，JIS B 7996，JIS K 0211，JIS K 0215，JIS Z 8103，JIS Z 8808，
JIS Z 8852及びJIS Z 8901による。
4
測定原理及び用途
4.1
測定原理
ダクト内を流れる排ガス中のダストに光を照射したとき，ダストによって遮光され，光が減衰する。こ
の状態でダスト濃度と入射光の減衰量とが，相関関係にあることを利用した計測器が光透過式ダスト濃度
計である。
ランベルト・ベールの法則を適用して，ダスト濃度Cを，式(1)及び式(2)で求める。
2
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kCD
I
I
Log
=
0
10
······································································· (1)
kD
I
I
Log
C =
0
10
·········································································· (2)
ここに，
C： ダスト濃度（mg/m3）
I： 透過光強度
I0： 入射光強度
D： 測定距離（m）
k： 定数
なお，類似の原理の製品であるオパシティメータの説明を，附属書Aに示す。
注記1 ここに示すダスト濃度は，標準状態ではなく，実際の排ガスの温度及び圧力状態での値であ
る。
図1−計測器の原理概念図
注記2 低濃度領域を測定する場合，排ガス中のダストによって減衰された光を検出するために，一
般的にある程度の測定距離が必要であり，測定距離が短い施設に適用するため，マルチパス
を導入するなどの工夫が必要となる場合がある。
4.2
用途
この計測器は，主に工場，火力発電所及び廃棄物焼却施設で使用する燃料の燃焼及びその他の燃焼に伴
って排出される排ガス中のダスト濃度を長期間かつ連続的に測定し，排出量監視又はプラント制御を目的
として使用する。
5
計測器の測定レンジ
計測器の測定レンジは，通常，0 mg/m3〜100 mg/m3とし，それ以外のレンジは，用途に合わせて適切な
ものを選ぶ。
6
計測器の性能
計測器は，箇条8によって試験を行ったとき，表1の性能を満足しなければならない。
3
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表1−計測器の性能
項目
性能
試験方法
相関係数
0.9以上
8.4
振動安定性
0 mg/m3〜100 mg/m3 a)
の測定レンジ
試験前の指示値に対してフルスケール
の±2 %
8.5
温度安定性
10 ℃当たりフルスケールの±2 %
8.6
電源電圧安定性
フルスケールの±2 %
8.7
繰返し性
フルスケールの±2 %
8.8
ゼロドリフト
フルスケールの±2 %
8.9
スパンドリフト
フルスケールの±2 %
8.10
応答時間
60 s以内
8.11
絶縁抵抗
5 MΩ以上
8.12
耐電圧
異常がない
8.13
注a) 0 mg/m3〜100 mg/m3の測定レンジに対するスパン等価入力を設定できない場合は，100 mg/m3
未満の測定レンジでスパン等価入力を導入し，スパン設定を行い，そのフルスケールの±2 %
を性能値としてもよい。
7
構成及び構造
7.1
構成
計測器の基本的な構成は，JIS B 7996のB.2（計測器の構成），B.3（試料採取部）及びB.4（計測部）に
よる。
7.2
構造
計測器の構造は，次による。
a) 組立及び各部の仕上りが良好かつ堅ろうな構造とする。
b) 通常の運転状態で危険性がなく，安全で円滑に作動する構造とする。
c) 各部は，容易に機械的故障及び電気的故障を起こさず，危険性のない構造とする。
d) 結露などによって計測器の作動に支障を生じない構造とする。
e) 光源，ヒータなどの発熱体に接する部分は，熱による変形及び機能低下を生じない構造とする。
f)
保守及び点検時の作業がしやすく，危険のない構造とする。
g) 外郭は，外来固形物及び／又は水の侵入に対して，測定値への影響がない構造とする。
なお，保護等級の指定がある場合は，受渡当事者間の協定による。
h) 計測器に記録された設定値などを無権限者が変更できないような保護機能をもつ構造とする。また，
受渡当事者間の協定によって，使用者側が保護機能を用意することも可能とする。
例 パスワード，メーカモードのロック機能，鍵又は特殊ビスなどによる操作部のガードなど
i)
設置場所において，計測器のゼロ校正及びスパン校正が確認できる構造とする。その具体的な例を，
附属書Bに示す。
j)
設置場所において，計測器の健全性が確認できる構造とする。その具体的な確認例を，附属書Cに示
す。
7.3
使用温度範囲
計測器の使用温度範囲は，製造業者が決めた値とするが，受渡当事者間の協定によって使用温度範囲を
定めてもよい。
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8
試験
8.1
試験条件
試験条件は，JIS Z 8808のA.3.1.1（試験条件）によるほか，製造業者の指示による。ただし，計測器の
暖機時間は，製造業者の指示書による。
8.2
試験粉体
試験粉体は，JIS Z 8901の試験用粉体10種（フライアッシュ）が望ましい。
8.3
校正
試験を実施する前に，次によって計測器の校正を行う。
a) ゼロ校正 投光器からの入射光が遮光されずに100 %受光器に達する状態で指示値をゼロに合わせる。
b) スパン校正 測定距離に応じた対数変換を行い，フルスケールを設定する。詳細は，製造業者の指示
書に従って設定する。
8.4
相関係数
相関係数の求め方は，次による。
a) 試験ダクトを使用した相関係数の求め方 試験ダクトを使用して相関係数を求める場合は，JIS B
7996の4.4.1.1（試験ダクトを使用した相関係数の求め方）による。
b) 実煙道を使用した相関係数の求め方 実煙道を使用して相関係数を求める場合は，JIS Z 8852による。
8.5
振動安定性
振動安定性の試験方法は，次による。ただし，構造上，この試験が適用できない計測器の場合は，製品
仕様の取決め時にそのことを申告し，受渡当事者間の協定によって別の試験方法を取り決めてもよい。
a) 試験条件
1) 加振力 0.98 m/s2（0.1 G）
2) 加振方向 X，Y及びZの3方向
3) 周波数サイクル 10 Hz〜150 Hzの範囲で変動させる。
4) 時間 10 Hzから150 Hzまで周波数を上げるのに10分間程度，及び150 Hzから10 Hzまで周波数
を下げるのに10分間程度を1サイクルとして，1方向ごとに2サイクル行う。
b) 固定方法 計測器本体を，振動試験台座に固定する。
c) 振動試験機 a) 及びb) の条件を実現できる試験機を使用しなければならない。
d) 試験手順 計測器の試験前の指示値を一定の値に設定し，2サイクル終了後に試験前の指示値からの
最大変化値を求め，式(3)によって変化率を算出する。これをX，Y及びZの3方向ごとに実施する。
なお，試験前の指示値は，測定レンジの中央値付近に設定することが望ましい。
100
0
j
×
=aΔa
A
············································································ (3)
ここに，
Aj： 加振方向（j）での変化率（%）
a0： 測定レンジの最大値
Δa： 指示値からの最大変化値
j： X，Y又はZの3方向のいずれかの加振方向
8.6
温度安定性
温度安定性の試験方法は，JIS B 7996の4.4.2（温度安定性）による。
8.7
電源電圧安定性
電源電圧安定性の試験方法は，JIS B 7996の4.4.3（電源電圧安定性）による。
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8.8
繰返し性
繰返し性の試験方法は，JIS B 7996の5.2.1（繰返し性）による。
8.9
ゼロドリフト
ゼロドリフトの試験方法は，JIS B 7996の5.2.2（ゼロドリフト）による。
8.10
スパンドリフト
スパンドリフトの試験方法は，JIS B 7996の5.2.3（スパンドリフト）による。
8.11
応答時間
応答時間の試験方法は，JIS B 7996の5.2.4（応答時間）による。
8.12
絶縁抵抗
絶縁抵抗の試験方法は，JIS B 7996の5.2.5（絶縁抵抗）による。
8.13
耐電圧
耐電圧の試験方法は，JIS B 7996の5.2.6（耐電圧）による。
9
検査
検査は，形式検査と性能試験検査とに区別する。形式検査は箇条8によって試験したとき，箇条6及び
箇条7に規定する全ての要求事項に適合したものを合格とする。
なお，性能試験検査の項目は，次のとおりとする。
a) 繰返し性
b) ゼロドリフト
c) スパンドリフト
d) 応答時間
e) 絶縁抵抗
f)
耐電圧
10
報告書
性能試験検査に関する報告書には，次の事項を記載する。
なお，性能試験検査に関する報告書の例を，附属書Dに示す。
a) 規格番号
b) 試験実施年月日
c) 計測器の名称，形式名及び製造番号
d) 製造業者名及び／又はその略号
e) 試験条件（温度，相対湿度，気圧，電源電圧及び電源周波数）
f)
試験結果（繰返し性，ゼロドリフト，スパンドリフト，応答時間，絶縁抵抗及び耐電圧）
g) 試験実施者及び試験実施場所
h) その他必要な事項
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表示
この規格で規定する全ての要求事項に適合した計測器には，見やすい箇所に容易に消えない方法で次の
事項を表示しなければならない。ただし，これらの表示は，1か所にまとめて表示しなくてもよい。
a) 規格番号
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b) 計測器の名称及び製造業者が指定する形式名
例 光透過方式ダスト濃度自動計測器 ABC1000
c) 測定濃度範囲
d) 使用温度範囲
e) 定格電圧，定格周波数及び容量
f)
製造業者名又はその略号
g) 製造年月又はその略号
h) 製造番号
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附属書A
（参考）
オパシティメータ
A.1 一般
この附属書では，光透過式の計測器の類似の原理の製品であるオパシティメータについて記載する。光
透過方式の計測器は，投光器から照射された光がダクト内を流れる排ガス中のダストによって減衰され，
受光器に到達する光の減衰率（0 %〜100 %）を測定して，この減衰率を質量濃度（mg/m3）に変換する。
この計測器と同じ方式で測定するが，質量濃度に変換する前の減衰率（%）をそのまま計測値として表示
するものをオパシティメータという。
A.2 原理
オパシティSは，式(A.1)で表される。
100
1
0
×
−
=
I
I
S
····································································· (A.1)
ここに，
I0： 入射光強度
I： 透過光強度
S： オパシティ（%）
すなわち，投光器から照射された光がダストなどによる減衰がなく受光器に100 %の強度で到達した状
態が0 %となり，完全に光が遮断された状態が100 %となる。
A.3 性能
オパシティメータは，測定レンジを0 %〜100 %として箇条8によって試験を行ったとき，表A.1の性能
を満足することが望ましい。
表A.1−オパシティメータの性能
項目
性能
試験方法
振動安定性
（0±2）%
8.5
温度安定性
10 ℃当たり（0±2）%
8.6
電源電圧安定性
（0±2）%
8.7
繰返し性
（0±2）%
8.8
ゼロドリフト
（0±2）%
8.9
スパンドリフト
（100±2）%
8.10
応答時間
60 s以内
8.11
絶縁抵抗
5 MΩ以上
8.12
耐電圧
異常がない
8.13
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A.4 オパシティメータのゼロ校正及びスパン校正の例
設置場所におけるオパシティメータのゼロ校正及びスパン校正の例を，図A.1に示す。
a) 実測状態の例
ゼロ校正は，投光器からの入射光が遮光されずに100 %受光器に達する状態で行う。残留排ガスなどがある場合は，
誘引ファンなどで排出した後，変換器の指示値をゼロに合わせる。
b) ゼロ校正の例
図A.1−オパシティメータのゼロ校正及びスパン校正の例
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スパン校正は，基本的に工場出荷時に行われているので，外部から校正を行う機能がないものが多い。
スパンを確認する方法としては，レンジが0 %〜100 %の場合は，投光器からの光を100 %遮断する遮光フィルタに
よって容易にスパンを確認することができる。受光器側に遮光フィルタを収納するスペースが必要となる。
拡大レンジの場合（例えば，0 %〜20 %）のスパンは，製造業者の指示書に従う。
c) スパン校正の確認状態
図A.1−オパシティメータのゼロ校正及びスパン校正の例（続き）
A.5 オパシティメータの健全性確認
オパシティメータの健全性を確認する方法の具体例を，図A.2に示す。
工場出荷時に附属している減光フィルタを使用して計器の健全性を確認することができる。
長期間稼働後に，減光フィルタによる指示値を確認して，工場出荷時との誤差を比較することで健全性が判断でき
る。受光器側には減光フィルタを収納するスペースが必要となる。
健全性の確認の前に必ずゼロ校正を行う。
図A.2−オパシティメータの健全性の確認例
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附属書B
（参考）
ゼロ校正及びスパン校正の例
設置場所における計測器のゼロ校正及びスパン校正の具体例を，図B.1に示す。
a) 実測状態の例
ゼロ校正：投光器からの入射光が遮光されずに100 %受光器に達する状態で行う。残留排ガスなどがある場合は，誘
引ファンなどで排出した後，変換器の指示値をゼロに合わせる。
スパン校正：工場出荷時又は試運転時において設定される。
スパンの確認を行う場合は，製造業者の指示書に従って行う。
b) ゼロ校正及びスパン校正の例
図B.1−計測器のゼロ校正及びスパン校正の例
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附属書C
（参考）
計測器の健全性の確認例
設置場所における計測器の健全性を確認する方法の具体例を，図C.1に示す。
工場出荷時に附属している減光フィルタを使用して計器の健全性を確認することができる。
長期間稼働後，減光フィルタによる指示値を確認して，工場出荷時又は試運転時との誤差を比較することで健全性
が判断できる。
減光フィルタは測定距離により減光率が異なるので，製造業者の指示書によって確認をする。受光器側には減光フ
ィルタを収納するスペースが必要となる。
健全性の確認の前に必ずゼロ校正を行う。
図C.1−計測器の健全性の確認例
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附属書D
（参考）
計測器の性能試験検査に関する報告書の例
計測器の性能試験検査に関する報告書の例を，表D.1に示す。
表D.1−計測器の性能試験検査に関する報告書の例
規格番号 JIS B 7997-2
試験者：
報告書番号：
報告日： 年 月 日
試験実施者：
承認者：
試験実施年月日： 年 月 日
試験実施場所：
製造業者名及び／又はその略号：
計測器の名称：
形式名：
製造番号：
試験条件 温度： ℃ 相対湿度： %
気圧： kPa
電源電圧： 電源周波数：
測定レンジ：0 mg/m3〜100 mg/m3
検査項目
判定基準
結果
判定
繰返し性
フルスケールの±2 %
ゼロドリフト
フルスケールの±2 %
スパンドリフト
フルスケールの±2 %
応答時間
60 s以内
絶縁抵抗
5 MΩ以上
耐電圧
異常のないこと
（その他必要な事項）